JP2013161499A - Optical pickup device - Google Patents

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an optical pickup device that allows for miniaturization of a photodetector while smoothly suppressing leakage of stray light to a sensor and can properly receive laser beams each reflected by a disk when a semiconductor laser including three light-emitting parts is used.SOLUTION: A semiconductor laser 101 comprises light-emitting parts 101a, 101b and 101c which radiate BD light, DVD light and CD light, respectively. The light-emitting part 101a and the light-emitting parts 101b, 101c are formed on different substrates for one another. A spectroscopic element 113 diffracts the BD light and guides it to different four positions on a light-receiving surface of a photodetector 116, and a sensor for the BD light is disposed on the four positions. A DOE 114 diffracts the BD light so that BD light not diffracted by the spectroscopic element 113 and thus advancing straight coincides with the optical axis of the DVD light on the light-receiving surface of the photodetector 116. A four-division sensor disposed at the positions where the BD light and the optical axis of the DVD light coincide with each other, receives both the BD light and the DVD light.

Description

本発明は、光ピックアップ装置に関するものであり、特に、複数の記録層が積層された記録媒体に対してレーザ光を照射する互換型の光ピックアップ装置に用いて好適なものである。   The present invention relates to an optical pickup device, and is particularly suitable for use in a compatible optical pickup device that irradiates a recording medium on which a plurality of recording layers are laminated with laser light.

近年、光ディスクの大容量化に伴い、記録層の多層化が進んでいる。一枚のディスク内に複数の記録層を含めることにより、ディスクのデータ容量を顕著に高めることができる。記録層を積層する場合、これまでは片面2層が一般的であったが、最近では、さらに大容量化を進めるために、片面に3層以上の記録層が配されたディスクも実用化されている。ここで、記録層の積層数を増加させると、ディスクの大容量化を促進できる。しかし、その一方で、記録層間の間隔が狭くなり、層間クロストークによる信号劣化が増大する。   In recent years, with the increase in capacity of optical discs, the number of recording layers has been increasing. By including a plurality of recording layers in one disc, the data capacity of the disc can be remarkably increased. In the past, when recording layers were stacked, two single-sided layers were common, but recently, in order to further increase the capacity, a disc having three or more recording layers on one side has been put to practical use. ing. Here, when the number of recording layers is increased, the capacity of the disk can be increased. However, on the other hand, the interval between the recording layers is narrowed, and signal deterioration due to interlayer crosstalk increases.

記録層を多層化すると、記録/再生対象とされる記録層(ターゲット記録層)からの反射光が微弱となる。このため、ターゲット記録層の上下にある記録層から、不要な反射光(迷光)が光検出器に入射すると、検出信号が劣化し、フォーカスサーボおよびトラッキングサーボに悪影響を及ぼす惧れがある。したがって、このように記録層が多数配されている場合には、適正に迷光を除去して、光検出器からの信号を安定化させる必要がある。   When the recording layer is multilayered, the reflected light from the recording layer (target recording layer) to be recorded / reproduced becomes weak. For this reason, when unnecessary reflected light (stray light) is incident on the photodetector from the recording layers above and below the target recording layer, the detection signal may be deteriorated, which may adversely affect the focus servo and tracking servo. Therefore, when a large number of recording layers are arranged in this way, it is necessary to properly remove stray light and stabilize the signal from the photodetector.

以下の特許文献1には、記録層が多数配されている場合に、適正に迷光を除去し得る光ピックアップ装置の新たな構成が示されている。この構成によれば、光検出器の受光面上に、信号光のみが存在する方形状の領域(信号光領域)を作ることができる。ディスクからの反射光は、信号光領域の頂角付近に照射される。信号光領域の頂角付近に、光検出器のセンサを配置することで、検出信号に対する迷光による影響を抑制することができる。   Patent Document 1 below discloses a new configuration of an optical pickup device that can appropriately remove stray light when a large number of recording layers are arranged. According to this configuration, a rectangular region (signal light region) where only signal light exists can be formed on the light receiving surface of the photodetector. The reflected light from the disk is irradiated near the apex angle of the signal light region. By arranging the sensor of the photodetector near the apex angle of the signal light region, the influence of stray light on the detection signal can be suppressed.

特開2009−211770号公報JP 2009-2111770 A

しかしながら、上記光ピックアップ装置では、光検出器の受光面上に配置されるセンサレイアウトが大きくなるため、光検出器が大型になるとの問題が生じる。また、上記光ピックアップ装置において、3つの発光部を有する半導体レーザが用いられる場合、ディスクによって反射されたそれぞれのレーザ光を適正に受光するために、センサレイアウトを調整する必要がある。   However, in the above optical pickup device, the sensor layout disposed on the light receiving surface of the photodetector becomes large, which causes a problem that the photodetector becomes large. Further, when a semiconductor laser having three light emitting units is used in the optical pickup device, it is necessary to adjust the sensor layout in order to properly receive each laser beam reflected by the disk.

本発明は、このような点に鑑みてなされたものであり、センサへの迷光の漏れ込みを円滑に抑制しながら、光検出器を小型化でき、さらに、3つの発光部を有する半導体レーザが用いられる場合にディスクによって反射されたそれぞれのレーザ光を適正に受光することが可能な光ピックアップ装置を提供することを目的とする。   The present invention has been made in view of the above-described points, and can reduce the size of the photodetector while smoothly suppressing the leakage of stray light to the sensor. Further, a semiconductor laser having three light emitting units is provided. An object of the present invention is to provide an optical pickup device capable of appropriately receiving each laser beam reflected by a disk when used.

本発明の主たる態様は、光ピックアップ装置に関する。この態様に係る光ピックアップ装置は、第1、第2および第3のレーザ発光部が同一パッケージに配置されたレーザ光源と、前記第1、第2および第3のレーザ発光部からそれぞれ出射された第1、第2および第3のレーザ光をそれぞれ第1、第2および第3のディスク上に収束させるとともに、前
記第1、第2および第3のディスクによってそれぞれ反射された前記第1、第2および第3のレーザ光を光検出器に導く光学系と、前記光学系に配置され、前記第1、第2および第3のディスクによってそれぞれ反射された前記第1、第2および第3のレーザ光が入射されるとともに、第1の方向における前記第1、第2および第3のレーザ光の収束により第1の焦線を生成し、且つ、前記第1の方向に垂直な第2の方向における前記第1、第2および第3のレーザ光の収束により第2の焦線を生成する非点収差素子と、前記光学系に配置され、前記第1のディスクによって反射された前記第1のレーザ光が入射されるとともに、回折作用によって、2つの第1の領域および2つの第2の領域に入射した前記第1のレーザ光を、それぞれ、前記光検出器の受光面上において、異なる4つの位置に導く分光素子と、を備える。前記分光素子は、前記2つの第1の領域にそれぞれ入射する前記第1のレーザ光に、同じ方向の分光作用を付与し、前記2つの第2の領域にそれぞれ入射する前記第1のレーザ光に、前記第1の領域によって付与される分光作用の方向に垂直な方向の分光作用を付与する。ここで、前記2つの第1の領域は、前記第1の方向と前記第2の方向にそれぞれ平行で且つ互いにクロスする2つの直線の交点を前記第1のレーザ光の光軸に整合させたとき、前記2つの直線によって作られる一組の対頂角が並ぶ第3の方向に配置され、前記2つの第2の領域は、他の一組の対頂角が並ぶ第4の方向に配置される。また、前記第1のディスク上に配されたトラックの前記分光素子上の方向は、前記光検出器の受光面上において前記第3の方向に平行である。前記光検出器は、前記2つの第1の領域に入射した前記第1のレーザ光が導かれる位置に配置された第1のセンサ部と、前記2つの第2の領域に入射した前記第1のレーザ光が導かれる位置に配置された第2のセンサ部と、前記第2および第3のレーザ光がそれぞれ導かれる位置に配置された第3および第4のセンサ部と、を有する。
A main aspect of the present invention relates to an optical pickup device. In the optical pickup device according to this aspect, the first, second, and third laser light emitting units are emitted from the laser light source in which the first, second, and third laser light emitting units are arranged in the same package, respectively. The first, second, and third laser beams are focused on the first, second, and third disks, respectively, and the first, second, and third disks that are reflected by the first, second, and third disks, respectively. An optical system for guiding the second and third laser beams to a photodetector, and the first, second and third disks disposed in the optical system and reflected by the first, second and third disks, respectively. A laser beam is incident, a first focal line is generated by convergence of the first, second, and third laser beams in a first direction, and a second perpendicular to the first direction is generated. Said first, first in direction And an astigmatism element that generates a second focal line by convergence of the third laser beam, and the first laser beam that is disposed in the optical system and reflected by the first disk is incident thereon. A spectroscopic element for guiding the first laser light incident on the two first regions and the two second regions to four different positions on the light receiving surface of the photodetector, respectively, by diffraction action; . The spectroscopic element imparts a spectral action in the same direction to the first laser beams respectively incident on the two first regions, and the first laser beams incident on the two second regions, respectively. In addition, a spectral action in a direction perpendicular to the direction of the spectral action provided by the first region is applied. Here, in the two first regions, the intersection of two straight lines that are parallel to and cross each other in the first direction and the second direction are aligned with the optical axis of the first laser beam. In some cases, the set of vertical angles formed by the two straight lines are arranged in a third direction, and the two second regions are arranged in a fourth direction in which the other set of vertical angles are arranged. The direction of the track arranged on the first disk on the spectroscopic element is parallel to the third direction on the light receiving surface of the photodetector. The photodetector includes a first sensor unit disposed at a position to which the first laser light incident on the two first regions is guided, and the first sensor incident on the two second regions. The second sensor unit is disposed at a position where the laser beam is guided, and the third and fourth sensor units are disposed at positions where the second and third laser beams are respectively guided.

本発明によれば、センサへの迷光の漏れ込みを円滑に抑制しながら、光検出器を小型化でき、さらに、3つの発光部を有する半導体レーザが用いられる場合にディスクによって反射されたそれぞれのレーザ光を適正に受光することが可能な光ピックアップ装置を提供することができる。   According to the present invention, the photodetector can be miniaturized while smoothly suppressing the leakage of stray light to the sensor. Further, when a semiconductor laser having three light emitting units is used, An optical pickup device capable of appropriately receiving laser light can be provided.

本発明の効果ないし意義は、以下に示す実施の形態の説明により更に明らかとなろう。ただし、以下の実施の形態は、あくまでも、本発明を実施する際の一つの例示であって、本発明は、以下の実施の形態によって何ら制限されるものではない。   The effects and significance of the present invention will become more apparent from the following description of embodiments. However, the following embodiment is merely an example for carrying out the present invention, and the present invention is not limited by the following embodiment.

実施の形態に係る技術原理(レーザ光の収束状態)を説明する図である。It is a figure explaining the technical principle (convergence state of a laser beam) which concerns on embodiment. 実施の形態に係る技術原理(光束領域の分布状態)を説明する図である。It is a figure explaining the technical principle (distribution state of a light beam area | region) which concerns on embodiment. 実施の形態に係る技術原理(信号光と迷光の分布)を説明する図である。It is a figure explaining the technical principle (distribution of signal light and stray light) concerning an embodiment. 実施の形態に係る技術原理(信号光領域の生成方法)を説明する図である。It is a figure explaining the technical principle (generation method of a signal light area) concerning an embodiment. 実施の形態に係る技術原理に基づくセンサと信号生成方法を説明する図である。It is a figure explaining the sensor and signal generation method based on the technical principle which concerns on embodiment. 実施例に係る光ピックアップ装置の光学系を示す図である。It is a figure which shows the optical system of the optical pick-up apparatus which concerns on an Example. 実施例に係る分光素子の構成を説明する図である。It is a figure explaining the structure of the spectroscopic element which concerns on an Example. 実施例に係るDOEによる回折作用を説明する図である。It is a figure explaining the diffraction effect by DOE concerning an example. 実施例に係る光検出器の受光面上のセンサレイアウトを示す図である。It is a figure which shows the sensor layout on the light-receiving surface of the photodetector which concerns on an Example. 実施例に係る0次回折光、+1次回折光、−1次回折光の照射領域を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows the irradiation area | region of the 0th-order diffracted light which concerns on an Example, + 1st-order diffracted light, and -1st-order diffracted light. 実施例に係る分光素子およびDOEの設置部分を示す図である。It is a figure which shows the spectroscopic element which concerns on an Example, and the installation part of DOE. 変更例に係る分光素子の構成を示す図および光検出器の受光面上のセンサレイアウトを示す図である。It is a figure which shows the structure of the spectroscopic element which concerns on the example of a change, and the figure which shows the sensor layout on the light-receiving surface of a photodetector. 変更例に係る半導体レーザの構成を示す図および光検出器の受光面上のセンサレイアウトを示す図である。It is a figure which shows the structure of the semiconductor laser which concerns on the example of a change, and the figure which shows the sensor layout on the light-receiving surface of a photodetector. 変更例に係る信号光領域の生成方法を説明する図である。It is a figure explaining the production | generation method of the signal light area | region which concerns on the example of a change. 変更例に係る分光素子の構成を示す図および光検出器の受光面上のセンサレイアウトを示す図である。It is a figure which shows the structure of the spectroscopic element which concerns on the example of a change, and the figure which shows the sensor layout on the light-receiving surface of a photodetector.

以下、本発明の実施の形態につき図面を参照して説明する。   Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.

<技術的原理>
まず、図1(a)ないし図5(c)を参照して、本実施の形態に適用される技術的原理について説明する。
<Technical principle>
First, the technical principle applied to this embodiment will be described with reference to FIGS. 1 (a) to 5 (c).

図1(a)、(b)は、レーザ光の収束状態を説明する図である。図1(a)は、ターゲット記録層によって反射されたレーザ光(以下、「信号光」という)、ターゲット記録層よりも深い層によって反射されたレーザ光(以下、「迷光1」という)、ターゲット記録層よりも浅い層によって反射されたレーザ光(以下、「迷光2」という)の収束状態を示す図である。図1(b)は、本原理に用いるアナモレンズの構成を示す図である。   FIGS. 1A and 1B are diagrams for explaining the convergence state of laser light. FIG. 1A shows a laser beam reflected by a target recording layer (hereinafter referred to as “signal light”), a laser beam reflected by a layer deeper than the target recording layer (hereinafter referred to as “stray light 1”), a target. It is a figure which shows the convergence state of the laser beam (henceforth "stray light 2") reflected by the layer shallower than a recording layer. FIG. 1B is a diagram showing a configuration of an anamorphic lens used in the present principle.

図1(b)を参照して、アナモレンズは、レンズ光軸に平行に入射するレーザ光に対し、曲面方向と平面方向に収束作用を付与する。ここで、曲面方向と平面方向は、互いに直交している。また、曲面方向は、平面方向に比べ曲率半径が小さく、アナモレンズに入射するレーザ光を収束させる効果が大きい。   Referring to FIG. 1B, the anamorphic lens imparts a converging action in the curved surface direction and the planar direction to the laser light incident in parallel to the lens optical axis. Here, the curved surface direction and the planar direction are orthogonal to each other. Further, the curved surface direction has a smaller radius of curvature than the planar direction, and has a large effect of converging the laser light incident on the anamorphic lens.

なお、ここでは、アナモレンズにおける非点収差作用を簡単に説明するために、便宜上、“曲面方向”と“平面方向”と表現しているが、実際には、レンズ光軸上の互いに異なる位置に焦線を結ぶ作用がアナモレンズによって生じれば良く、図1(b)中の“平面方向”におけるアナモレンズの形状を平面に限定するものではない。なお、アナモレンズに収束状態でレーザ光が入射する場合は、“平面方向”におけるアナモレンズの形状は直線状(曲率半径=∞)となり得る。   Here, for the sake of simple explanation of the astigmatism action in the anamorphic lens, for the sake of convenience, they are expressed as “curved surface direction” and “planar direction”, but in actuality, they are located at different positions on the lens optical axis. The action of connecting the focal lines may be generated by the anamorphic lens, and the shape of the anamorphic lens in the “planar direction” in FIG. 1B is not limited to a plane. When laser light is incident on the anamorphic lens in a convergent state, the shape of the anamorphic lens in the “plane direction” can be a straight line (curvature radius = ∞).

図1(a)を参照して、アナモレンズによって収束させられた信号光は、曲面方向および平面方向の収束により、それぞれ異なる位置で焦線を結ぶ。曲面方向の収束による焦線位置(P02)は、平面方向の収束による焦線位置(P03)よりも、アナモレンズに近い位置となり、信号光の収束位置(P01)は、曲面方向および平面方向の収束による焦線位置(P02)、(P03)の中間位置となる。信号光のビームは、収束位置(P01)において最小錯乱円となる。なお、収束位置(P01)において、アナモレンズに入射するレーザ光の光軸に垂直な面を、以下、「面P0」と称する。   Referring to FIG. 1A, the signal light converged by the anamorphic lens forms focal lines at different positions due to convergence in the curved surface direction and the planar direction. The focal line position (P02) due to the convergence in the curved surface direction is closer to the anamorphic lens than the focal line position (P03) due to the convergence in the planar direction, and the convergence position (P01) of the signal light is the convergence in the curved surface direction and the planar direction. Is the intermediate position between the focal line positions (P02) and (P03). The signal light beam becomes a circle of least confusion at the convergence position (P01). A surface perpendicular to the optical axis of the laser light incident on the anamorphic lens at the convergence position (P01) is hereinafter referred to as “surface P0”.

アナモレンズによって収束させられた迷光1についても同様に、曲面方向の収束による焦線位置(P12)は、平面方向の収束による焦線位置(P13)よりも、アナモレンズに近い位置となる。アナモレンズは、迷光1の平面方向の収束による焦線位置(P13)が、信号光の収束位置(P01)よりも、アナモレンズに近い位置となるよう設計されている。   Similarly, for the stray light 1 converged by the anamorphic lens, the focal line position (P12) due to convergence in the curved surface direction is closer to the anamorphic lens than the focal line position (P13) due to convergence in the plane direction. The anamorphic lens is designed such that the focal line position (P13) due to the convergence of the stray light 1 in the planar direction is closer to the anamorphic lens than the convergence position (P01) of the signal light.

アナモレンズによって収束させられた迷光2についても同様に、曲面方向の収束による焦線位置(P22)は、平面方向の収束による焦線位置(P23)よりも、アナモレンズに近い位置となる。アナモレンズは、迷光2の曲面方向の収束による焦線位置(P22)が、信号光の収束位置(P01)よりも、アナモレンズから遠い位置となるよう設計されている。   Similarly, for the stray light 2 converged by the anamorphic lens, the focal line position (P22) due to convergence in the curved surface direction is closer to the anamorphic lens than the focal line position (P23) due to convergence in the plane direction. The anamorphic lens is designed such that the focal line position (P22) due to the convergence of the stray light 2 in the curved surface direction is farther from the anamorphic lens than the convergence position (P01) of the signal light.

以上を考慮して、面P0上における信号光および迷光1、2の光束領域の関係について検討する。   Considering the above, the relationship between the light flux areas of the signal light and the stray lights 1 and 2 on the plane P0 will be examined.

図2(a)は、アナモレンズに入射するレーザ光に設定された4つの光束領域f1〜f4を示す図である。この場合、光束領域f1〜f4を通る信号光は、面P0上において、図2(b)のように分布する。また、光束領域f1〜f4を通る迷光1は、面P0上において、図2(c)のように分布する。光束領域f1〜f4を通る迷光2は、面P0上において、図2(d)のように分布する。なお、図2(b)〜(d)には、信号光のビーム径の大きさを示す円が実線で示されており、図2(c)、(d)に示すように、迷光1、2は信号光に比べて大きく広がっている。   FIG. 2A is a diagram showing four light flux regions f1 to f4 set for the laser light incident on the anamorphic lens. In this case, the signal light passing through the light flux regions f1 to f4 is distributed on the surface P0 as shown in FIG. Further, the stray light 1 passing through the light flux regions f1 to f4 is distributed on the plane P0 as shown in FIG. The stray light 2 passing through the light beam regions f1 to f4 is distributed on the plane P0 as shown in FIG. In FIGS. 2B to 2D, a circle indicating the size of the beam diameter of the signal light is indicated by a solid line, and as shown in FIGS. 2C and 2D, the stray light 1, 2 is greatly expanded compared to the signal light.

ここで、面P0上における信号光と迷光1、2を光束領域毎に取り出すと、各光の分布は、図3(a)〜(d)のようになる。この場合、各光束領域を通る信号光には、同じ光束領域を通る迷光1および迷光2の何れも重ならない。このため、各光束領域を通る信号光と迷光1、2を異なる方向に離散させた後に、信号光のみをセンサにて受光するように構成すると、対応するセンサには信号光のみが入射し、迷光の入射を抑止することができる。これにより、迷光による検出信号の劣化を回避することができる。   Here, when the signal light and the stray lights 1 and 2 on the plane P0 are extracted for each light flux region, the distribution of each light is as shown in FIGS. In this case, neither the stray light 1 nor the stray light 2 that passes through the same light flux region overlaps the signal light that passes through each light flux region. For this reason, if the signal light passing through each light flux region and the stray light 1 and 2 are separated in different directions and then configured to receive only the signal light by the sensor, only the signal light is incident on the corresponding sensor, The incidence of stray light can be suppressed. Thereby, degradation of the detection signal due to stray light can be avoided.

このように、光束領域f1〜f4を通る光を分散させて面P0上において離間させることにより、信号光のみを取り出すことができる。本実施の形態は、この原理を基盤とするものである。   In this way, only the signal light can be extracted by dispersing the light passing through the light flux regions f1 to f4 and separating them on the surface P0. The present embodiment is based on this principle.

図4(a)は、光束領域f1〜f4を通るレーザ光(信号光と迷光1、2)を面P0上において離間させるために、各光束領域を通るレーザ光の進行方向に付与するベクトルを示す図である。図4(a)は、アナモレンズ入射時の進行方向にレーザ光を見た図である。   FIG. 4A shows a vector to be given in the traveling direction of the laser light passing through each light flux region in order to separate the laser light (signal light and stray light 1 and 2) passing through the light flux regions f1 to f4 on the plane P0. FIG. FIG. 4A is a view of the laser beam viewed in the traveling direction when the anamorphic lens is incident.

光束領域f1〜f4を通るレーザ光の進行方向は、それぞれ、ベクトルV1〜V4が付与されることにより変化する。ベクトルV1〜V4の方向は、平面方向と曲面方向に対して、それぞれ、45度の傾きを持っている。ベクトルV1、V2の方向は同じであり、ベクトルV3、V4の方向は同じである。また、ベクトルV1、V4の大きさは同じであり、ベクトルV2、V3の大きさは同じである。ベクトルV1の大きさはベクトルV2よりも大きく、ベクトルV4の大きさはベクトルV3よりも大きい。ベクトルV1〜V4の大きさは、これらベクトルが付与される前のレーザ光の進行方向(アナモレンズ入射時の進行方向)に対する角度として規定される。   The traveling directions of the laser light passing through the light beam regions f1 to f4 change by applying the vectors V1 to V4, respectively. The directions of the vectors V1 to V4 have an inclination of 45 degrees with respect to the plane direction and the curved surface direction, respectively. The directions of the vectors V1 and V2 are the same, and the directions of the vectors V3 and V4 are the same. The vectors V1 and V4 have the same size, and the vectors V2 and V3 have the same size. The size of the vector V1 is larger than the vector V2, and the size of the vector V4 is larger than the vector V3. The magnitudes of the vectors V1 to V4 are defined as angles with respect to the traveling direction of the laser light before the vectors are applied (the traveling direction when the anamorphic lens is incident).

図4(a)に示すように進行方向が変化されると、光束領域f1〜f4を通るレーザ光(信号光と迷光1、2)は、面P0上において、図4(b)に示すように照射される。なお、図4(b)には、進行方向が変化される前のレーザ光の光軸を示す中心Oが、併せて示されている。ベクトルV1〜V4を調節することにより、面P0上において、図4(b)に示すように各光束領域を通る信号光と迷光1、2を分布させることができる。   When the traveling direction is changed as shown in FIG. 4A, the laser light (signal light and stray light 1 and 2) passing through the light flux regions f1 to f4 is shown on the plane P0 as shown in FIG. 4B. Is irradiated. FIG. 4B also shows the center O indicating the optical axis of the laser light before the traveling direction is changed. By adjusting the vectors V1 to V4, the signal light and the stray lights 1 and 2 passing through the respective light flux regions can be distributed on the plane P0 as shown in FIG. 4B.

この場合、光束領域f1、f2を通るレーザ光(信号光)の照射領域は、これら2つの照射領域のみが存在する直方形(信号光領域1)の対角位置にある頂角に位置付けられ、光束領域f3、f4を通るレーザ光(信号光)の照射領域は、これら2つの照射領域のみが存在する直方形(信号光領域2)の対角位置にある頂角に位置付けられる。   In this case, the irradiation region of the laser light (signal light) passing through the light flux regions f1 and f2 is positioned at the apex angle at the diagonal position of the rectangular shape (signal light region 1) in which only these two irradiation regions exist, The irradiation region of the laser light (signal light) passing through the light beam regions f3 and f4 is positioned at an apex angle that is at a diagonal position of a rectangular shape (signal light region 2) where only these two irradiation regions exist.

ここで、上記原理に基づくセンサと信号生成方法について説明する。   Here, a sensor and a signal generation method based on the above principle will be described.

図5(a)は、ディスクからの反射光に設定された8つの光束領域a1〜a8を示す図
であり、図5(b)は、従来の非点収差法に基づく信号光の照射領域とセンサを示す図である。図5(b)に示すセンサは、図1(a)の構成において面P0上に配され、図5(b)には、光束領域a1〜a8を通る信号光が、面P0上において、それぞれ照射される照射領域A1〜A8が示されている。
FIG. 5A is a diagram showing eight light flux areas a1 to a8 set in the reflected light from the disk, and FIG. 5B shows the signal light irradiation area based on the conventional astigmatism method. It is a figure which shows a sensor. The sensor shown in FIG. 5B is arranged on the surface P0 in the configuration of FIG. 1A, and in FIG. 5B, the signal light passing through the light flux regions a1 to a8 is respectively on the surface P0. Irradiation areas A1 to A8 to be irradiated are shown.

また、図5(a)において、トラック溝による信号光の0次回折像と1次回折像の重なり(トラック像)の方向は、平面方向および曲面方向に対して45度の傾きを持っており、上下方向となっている。これにより、図5(b)において、信号光のトラック像の方向は、左右方向となる。図5(a)〜(c)には、トラック像の境界が点線で示されている。   In FIG. 5A, the direction of the 0th-order diffraction image and the first-order diffraction image of the signal light by the track groove (track image) has an inclination of 45 degrees with respect to the plane direction and the curved surface direction. The vertical direction. Thereby, in FIG. 5B, the direction of the track image of the signal light is the left-right direction. 5A to 5C, the boundary of the track image is indicated by a dotted line.

なお、トラック溝による信号光の0次回折像と1次回折像の重なり状態は、波長/(トラックピッチ×対物レンズNA)で求められることが知られている。図5(a)に示すように光束領域a2、a3、a6、a7に1次回折像が収まる条件は、2>波長/(トラックピッチ×対物レンズNA)>√2となる。   It is known that the overlapping state of the 0th-order diffraction image and the 1st-order diffraction image of the signal light by the track groove is obtained by wavelength / (track pitch × objective lens NA). As shown in FIG. 5A, the condition that the first-order diffraction image fits in the light flux regions a2, a3, a6, and a7 is 2> wavelength / (track pitch × objective lens NA)> √2.

図5(b)を参照して、従来の非点収差法では、光検出器の受光面上に4つのセンサSa〜Sdから構成される4分割センサが配される。なお、ここで、センサSa〜Sdは、便宜上、さらに平面方向または曲面方向に2分割されているものとする。すなわち、センサSaは、センサS1、S2に分割され、センサSbは、センサS3、S4に分割され、センサScは、センサS5、S6に分割され、センサSdは、センサS7、S8に分割されている。この場合、センサS1〜S8による検出信号をS1〜S8で表すと、フォーカスエラー信号FEとプッシュプル信号PPは、それぞれ、以下の式(1)、(2)の演算により取得することができる。   Referring to FIG. 5B, in the conventional astigmatism method, a quadrant sensor composed of four sensors Sa to Sd is arranged on the light receiving surface of the photodetector. Here, the sensors Sa to Sd are further divided into two in the plane direction or the curved surface direction for convenience. That is, the sensor Sa is divided into sensors S1 and S2, the sensor Sb is divided into sensors S3 and S4, the sensor Sc is divided into sensors S5 and S6, and the sensor Sd is divided into sensors S7 and S8. Yes. In this case, when the detection signals from the sensors S1 to S8 are represented by S1 to S8, the focus error signal FE and the push-pull signal PP can be obtained by the following expressions (1) and (2), respectively.

FE=(S3+S4+S7+S8)−(S1+S2+S5+S6) …(1)
PP=(S1+S2+S3+S4)−(S5+S6+S7+S8) …(2)
FE = (S3 + S4 + S7 + S8)-(S1 + S2 + S5 + S6) (1)
PP = (S1 + S2 + S3 + S4)-(S5 + S6 + S7 + S8) (2)

次に、上記図4(b)に示した信号光を受光するためのセンサと信号生成方法について説明する。   Next, a sensor and a signal generation method for receiving the signal light shown in FIG. 4B will be described.

図5(c)は、図4(a)に示すように進行方向が変化された信号光を受光するためのセンサを示す図である。図5(c)において、センサS1〜S8は面P0上に配され、トラック像の方向は左右方向となる。   FIG. 5C is a diagram showing a sensor for receiving the signal light whose traveling direction is changed as shown in FIG. In FIG. 5C, the sensors S1 to S8 are arranged on the surface P0, and the direction of the track image is the left-right direction.

図4(a)に示すように進行方向が変化させられると、図5(a)に示す光束領域a1〜a8を通る信号光は、それぞれ、図5(c)に示す照射領域A1〜A8に照射される。したがって、図5(c)に示すように、信号光の照射領域A1〜A8の位置に、センサS1〜S8を配置すれば、図5(b)の場合と同様、フォーカスエラー信号FEとプッシュプル信号PPを、上記式(1)、(2)の演算により取得することができる。   When the traveling direction is changed as shown in FIG. 4 (a), the signal light passing through the light flux regions a1 to a8 shown in FIG. 5 (a) is respectively applied to the irradiation regions A1 to A8 shown in FIG. 5 (c). Irradiated. Therefore, as shown in FIG. 5C, if the sensors S1 to S8 are arranged at the positions of the signal light irradiation areas A1 to A8, the focus error signal FE and the push-pull as in the case of FIG. 5B. The signal PP can be obtained by the calculations of the above formulas (1) and (2).

以上のように、本原理によれば、従来の非点収差法に基づく場合と同様の演算処理にて、迷光の影響が抑制されたフォーカスエラー信号とプッシュプル信号(トラッキングエラー信号)を生成することができる。   As described above, according to the present principle, the focus error signal and the push-pull signal (tracking error signal) in which the influence of stray light is suppressed are generated by the same arithmetic processing based on the conventional astigmatism method. be able to.

<実施例>
本実施例は、BD(Blu-ray Disc)、DVD(Digital Versatile Disc)およびCD(Compact Disc)に対応可能な互換型の光ピックアップ装置に本発明を適用したものである。上記原理は、BD用の光学系にのみ適用される。なお、BD用の光学系には1ビーム方式が適用され、CD用の光学系とDVD用の光学系には、従来の3ビーム方式(インライ
ン方式)が適用される。
<Example>
In the present embodiment, the present invention is applied to a compatible optical pickup device that can handle BD (Blu-ray Disc), DVD (Digital Versatile Disc), and CD (Compact Disc). The above principle is applied only to the optical system for BD. The 1-beam method is applied to the optical system for BD, and the conventional 3-beam method (in-line method) is applied to the optical system for CD and the optical system for DVD.

図6(a)、(b)は、本実施例に係る光ピックアップ装置1の光学系を示す図である。図6(a)は、立ち上げミラー109よりもディスク側の構成を省略した光学系の平面図、図6(b)は、立ち上げミラー109、110以降の光学系を側面から透視した図である。   6A and 6B are diagrams illustrating an optical system of the optical pickup device 1 according to the present embodiment. FIG. 6A is a plan view of the optical system in which the configuration on the disk side of the rising mirror 109 is omitted, and FIG. 6B is a perspective view of the optical system after the rising mirrors 109 and 110 from the side. is there.

図6(a)、(b)に示すように、光ピックアップ装置1は、半導体レーザ101と、1/2波長板102と、回折格子103と、偏光ビームスプリッタ(PBS)104と、フロントモニタ105と、コリメータレンズ106と、駆動機構107と、1/4波長板108と、立ち上げミラー109、110と、対物レンズ111、112と、分光素子113と、回折光学素子(DOE)114と、アナモレンズ115と、光検出器116を備えている。これら光学系の各部は、光ピックアップ装置1のハウジングに設置されている。   As shown in FIGS. 6A and 6B, the optical pickup device 1 includes a semiconductor laser 101, a half-wave plate 102, a diffraction grating 103, a polarization beam splitter (PBS) 104, and a front monitor 105. A collimator lens 106, a drive mechanism 107, a quarter-wave plate 108, rising mirrors 109 and 110, objective lenses 111 and 112, a spectroscopic element 113, a diffractive optical element (DOE) 114, and an anamorphic lens. 115 and a photodetector 116. Each part of these optical systems is installed in the housing of the optical pickup device 1.

半導体レーザ101は、波長400nm程度のレーザ光(以下、「BD光」という)と、波長650nm程度のレーザ光(以下、「DVD光」という)と、波長780nm程度のレーザ光(以下、「CD光」という)を同一方向に出射する。   The semiconductor laser 101 includes a laser beam with a wavelength of about 400 nm (hereinafter referred to as “BD light”), a laser beam with a wavelength of about 650 nm (hereinafter referred to as “DVD light”), and a laser beam with a wavelength of about 780 nm (hereinafter referred to as “CD light”). Light)) in the same direction.

図6(c)に示すように、半導体レーザ101は、一つのパッケージに、BD光、DVD光、CD光をそれぞれ出射する発光部101a、101b、101cを備える。発光部101b、101cは、基板101e上に間隔がw2となるように一体的に形成されている。発光部101aは、基板101eとは異なる基板101d上に、発光部101a、101bの間隔がw1となるように形成されている。基板101d、101eは、サブマウント101f上に設置されている。発光部101a〜101cは、一直線上に並ぶように形成されている。また、光学系の光軸は、DVD光の光軸に整合するように調整されている。また、本実施例では、w1、w2は何れも90μmに設計されている。   As shown in FIG. 6C, the semiconductor laser 101 includes light emitting units 101a, 101b, and 101c that emit BD light, DVD light, and CD light, respectively, in one package. The light emitting units 101b and 101c are integrally formed on the substrate 101e so that the interval is w2. The light emitting unit 101a is formed on a substrate 101d different from the substrate 101e so that the interval between the light emitting units 101a and 101b is w1. The substrates 101d and 101e are installed on the submount 101f. The light emitting portions 101a to 101c are formed so as to be aligned on a straight line. The optical axis of the optical system is adjusted so as to match the optical axis of the DVD light. In this embodiment, both w1 and w2 are designed to be 90 μm.

ここで、発光部101aと、発光部101b、101cは、それぞれ、半導体製造プロセスによって、基板101d、101e上に形成される。このため、基板101dにおける発光部101aの位置精度と、基板101eにおける発光部101b、101cの位置精度は、十分に高められたものとなる。しかしながら、発光部が形成された基板101d、101eは、電極、接合層等を介して、サブマウント101f上に接合される。このため、サブマウント101fにおける基板101d、101eの位置精度は低くなる。以上のような理由により、w2には、−1〜+1μm程度の誤差しか含まれないが、w1には、−10〜+10μm程度の誤差が生じてしまう。   Here, the light emitting unit 101a and the light emitting units 101b and 101c are formed on the substrates 101d and 101e, respectively, by a semiconductor manufacturing process. For this reason, the positional accuracy of the light emitting unit 101a on the substrate 101d and the positional accuracy of the light emitting units 101b and 101c on the substrate 101e are sufficiently enhanced. However, the substrates 101d and 101e on which the light emitting portions are formed are bonded onto the submount 101f via electrodes, bonding layers, and the like. For this reason, the positional accuracy of the substrates 101d and 101e in the submount 101f is lowered. For the reasons as described above, w2 includes only an error of about −1 to +1 μm, but w1 has an error of about −10 to +10 μm.

1/2波長板102は、半導体レーザ101から出射されたBD光、DVD光、CD光の偏光方向が、PBS104に対してS偏光からややずれた方向となるように、BD光、DVD光、CD光の偏光方向を調整する。回折格子103は、2段ステップ型の回折格子であり、BD光、DVD光、CD光を、それぞれ、メインビームと2つのサブビームに分割する。回折格子103は、CD光のメインビームおよび2つのサブビームと、DVD光のメインビームおよび2つのサブビームが、それぞれ、CDとDVDのトラックに沿うよう配置される。なお、本実施例では、BD光のメインビームのみが記録または再生に用いられ、BD光のサブビームは、記録または再生動作には用いられない。以下では、BD光のメインビームを単にBD光と称する。   The half-wave plate 102 is configured so that the polarization direction of the BD light, DVD light, and CD light emitted from the semiconductor laser 101 is slightly shifted from the S polarization with respect to the PBS 104. Adjust the polarization direction of CD light. The diffraction grating 103 is a two-step diffraction grating, and divides BD light, DVD light, and CD light into a main beam and two sub beams, respectively. The diffraction grating 103 is arranged so that the main beam and two sub beams of CD light, and the main beam and two sub beams of DVD light are along the tracks of CD and DVD, respectively. In this embodiment, only the main beam of BD light is used for recording or reproduction, and the sub-beam of BD light is not used for recording or reproduction operation. Hereinafter, the main beam of BD light is simply referred to as BD light.

BD光、DVD光、CD光は、それぞれ、一部がPBS104を透過し、大部分がPBS104によって反射される。このようにBD光、DVD光、CD光の一部がPBS104を透過するよう、1/2波長板102が配置される。PBS104を透過したBD光、
DVD光、CD光は、フロントモニタ105に照射される。フロントモニタ105は、受光光量に応じた信号を出力する。フロントモニタ105からの信号は、半導体レーザ101の出射パワー制御に用いられる。
Each of the BD light, DVD light, and CD light is transmitted through the PBS 104, and most of the light is reflected by the PBS 104. In this way, the half-wave plate 102 is arranged so that a part of the BD light, DVD light, and CD light is transmitted through the PBS 104. BD light transmitted through PBS 104,
DVD light and CD light are applied to the front monitor 105. The front monitor 105 outputs a signal corresponding to the amount of received light. A signal from the front monitor 105 is used for emission power control of the semiconductor laser 101.

コリメータレンズ106は、PBS104側から入射するBD光、DVD光、CD光を平行光に変換する。駆動機構107は、収差補正の際に、制御信号に応じてコリメータレンズ106を光軸方向に移動させる。駆動機構107は、コリメータレンズ106を保持するホルダ107aと、ホルダ107aをコリメータレンズ106の光軸方向に送るためのギア107bとを備え、ギア107bは、モータ107cの駆動軸に連結されている。   The collimator lens 106 converts BD light, DVD light, and CD light incident from the PBS 104 side into parallel light. The drive mechanism 107 moves the collimator lens 106 in the optical axis direction according to the control signal when correcting the aberration. The drive mechanism 107 includes a holder 107a for holding the collimator lens 106 and a gear 107b for sending the holder 107a in the optical axis direction of the collimator lens 106, and the gear 107b is connected to the drive shaft of the motor 107c.

コリメータレンズ106により平行光とされたBD光、DVD光、CD光は、1/4波長板108に入射する。1/4波長板108は、コリメータレンズ106側から入射するBD光、DVD光、CD光を円偏光に変換するとともに、立ち上げミラー109側から入射するBD光、DVD光、CD光を、コリメータレンズ106側から入射する際の偏光方向に直交する直線偏光に変換する。これにより、ディスクからの反射光は、PBS104をZ軸正方向に透過する。   The BD light, DVD light, and CD light that have been converted into parallel light by the collimator lens 106 are incident on the quarter-wave plate 108. The quarter wavelength plate 108 converts the BD light, DVD light, and CD light incident from the collimator lens 106 side into circularly polarized light, and converts the BD light, DVD light, and CD light incident from the rising mirror 109 side to the collimator. The light is converted into linearly polarized light orthogonal to the polarization direction when entering from the lens 106 side. Thereby, the reflected light from the disk passes through the PBS 104 in the positive direction of the Z axis.

立ち上げミラー109は、ダイクロイックミラーであり、BD光を透過するとともに、DVD光とCD光を対物レンズ111に向かう方向(Y軸正方向)に反射する。立ち上げミラー110は、BD光を対物レンズ112に向かう方向(Y軸正方向)に反射する。   The rising mirror 109 is a dichroic mirror and transmits BD light and reflects DVD light and CD light in a direction toward the objective lens 111 (Y-axis positive direction). The rising mirror 110 reflects the BD light in the direction toward the objective lens 112 (Y-axis positive direction).

対物レンズ111は、DVD光とCD光を、それぞれ、DVDとCDに対して適正に収束させるよう構成されている。また、対物レンズ112は、BD光をBDに適正に収束させるよう構成されている。対物レンズ111、112は、ホルダ121に保持された状態で、対物レンズアクチュエータ122により、フォーカス方向(Y軸方向)およびトラッキング方向(X軸方向)に駆動される。   The objective lens 111 is configured to properly converge the DVD light and the CD light with respect to the DVD and the CD, respectively. The objective lens 112 is configured to properly converge the BD light onto the BD. The objective lenses 111 and 112 are driven in the focus direction (Y axis direction) and the tracking direction (X axis direction) by the objective lens actuator 122 while being held by the holder 121.

分光素子113は、上記原理に基づいて、回折作用により、図4(a)に示すような各光束領域を通るBD光を、面P0に相当する光検出器116の受光面上において図4(b)に示すように分布させる。分光素子113の構成については、追って、図7(a)〜(c)を参照して説明する。   Based on the above principle, the spectroscopic element 113 causes the BD light that passes through each light flux region as shown in FIG. 4A to diffract on the light receiving surface of the photodetector 116 corresponding to the surface P0, as shown in FIG. Distribute as shown in b). The configuration of the spectroscopic element 113 will be described later with reference to FIGS.

DOE114は、分光素子113を透過したBD光の光軸を、回折作用により、光検出器116の受光面上において、DVD光のメインビームの光軸と一致させる。DOE114の構成については、追って、図8を参照して説明する。   The DOE 114 causes the optical axis of the BD light transmitted through the spectroscopic element 113 to coincide with the optical axis of the main beam of the DVD light on the light receiving surface of the photodetector 116 by diffraction. The configuration of the DOE 114 will be described later with reference to FIG.

アナモレンズ115は、図1(a)に示すアナモレンズに相当し、DOE114側から入射するBD光、DVD光、CD光に非点収差を導入する。アナモレンズ115を透過したBD光、DVD光、CD光は、光検出器116に入射する。光検出器116は、各光を受光するための複数のセンサを有している。光検出器116上のセンサレイアウトについては、追って、図9を参照して説明する。   The anamorphic lens 115 corresponds to the anamorphic lens shown in FIG. 1A, and introduces astigmatism into BD light, DVD light, and CD light incident from the DOE 114 side. The BD light, DVD light, and CD light transmitted through the anamorphic lens 115 enter the photodetector 116. The photodetector 116 has a plurality of sensors for receiving each light. The sensor layout on the photodetector 116 will be described later with reference to FIG.

図7(a)は、分光素子113をPBS104側から見たときの平面図である。図7(b)は、分光素子113に入射するレーザ光を、分光素子113の回折領域H11〜H15の境界線に対応するよう区分した光束領域a11〜a15を示す図である。なお、図7(a)には、平面方向と、曲面方向と、分光素子113に入射するレーザ光のトラック像の方向が示されており、図7(b)には、トラック像の境界が点線で示されている。   FIG. 7A is a plan view of the spectroscopic element 113 when viewed from the PBS 104 side. FIG. 7B is a diagram illustrating light flux regions a11 to a15 obtained by dividing the laser light incident on the spectroscopic element 113 so as to correspond to the boundary lines of the diffraction regions H11 to H15 of the spectroscopic element 113. 7A shows the plane direction, the curved surface direction, and the direction of the track image of the laser light incident on the spectroscopic element 113, and FIG. 7B shows the boundary of the track image. Shown in dotted lines.

分光素子113は、正方形の輪郭を有する透明板にて形成され、光入射面に2段ステップ型の回折パターン(回折ホログラム)が形成されている。分光素子113の光入射面は
、図7(a)に示すように、5つの回折領域H11〜H15に区分されている。なお、回折領域H15は、後述のように、BD光の迷光による検出信号の劣化を低減させる程度に大きく、且つ、BD光に基づくトラッキングエラー信号が適正に得られる程度に小さく設定される。
The spectroscopic element 113 is formed of a transparent plate having a square outline, and a two-step diffraction pattern (diffraction hologram) is formed on the light incident surface. The light incident surface of the spectroscopic element 113 is divided into five diffraction regions H11 to H15 as shown in FIG. As will be described later, the diffraction region H15 is set large enough to reduce the deterioration of the detection signal due to stray light of the BD light and small enough to properly obtain the tracking error signal based on the BD light.

回折領域H11〜H15は、光束領域a11〜a15を通るレーザ光を、回折作用により0次回折光、+1次回折光、−1次回折光に分割する。光束領域a11〜a15を通るレーザ光の+1次回折光は、実線の矢印(V11〜V15)の方向に回折される。また、光束領域a11〜a15を通るレーザ光の−1次回折光は、点線の矢印(V11m〜V15m)の方向に回折される。光束領域a11〜a15を通るレーザ光の0次回折光は、回折されずに回折領域H11〜H15を透過する。   The diffraction regions H11 to H15 divide the laser light passing through the light beam regions a11 to a15 into 0th-order diffracted light, + 1st-order diffracted light, and −1st-order diffracted light by a diffraction action. The + 1st order diffracted light of the laser light passing through the light flux regions a11 to a15 is diffracted in the direction of solid arrows (V11 to V15). Further, the −1st order diffracted light of the laser light passing through the light flux regions a11 to a15 is diffracted in the direction of dotted arrows (V11m to V15m). The 0th-order diffracted light of the laser light that passes through the light flux regions a11 to a15 passes through the diffraction regions H11 to H15 without being diffracted.

また、図7(a)には、回折領域H11〜H15によりレーザ光に付与される回折の方向と大きさ(回折角)が、ベクトルV11〜V15およびベクトルV11m〜V15mで示されている。回折領域H11〜H15により生じる+1次回折光の進行方向は、それぞれ、これら回折領域H11〜H15に入射する前のレーザ光の進行方向にベクトルV11〜V15を付与したものとなる。また、回折領域H11〜H15により生じる−1次回折光の進行方向は、それぞれ、これら回折領域H11〜H15に入射する前のレーザ光の進行方向にベクトルV11m〜V15mを付与したものとなる。   In FIG. 7A, the directions and magnitudes (diffraction angles) of the diffraction imparted to the laser light by the diffraction regions H11 to H15 are indicated by vectors V11 to V15 and vectors V11m to V15m. The traveling directions of the + 1st order diffracted light generated by the diffraction regions H11 to H15 are obtained by adding vectors V11 to V15 to the traveling directions of the laser beams before entering the diffraction regions H11 to H15, respectively. Further, the traveling directions of the −1st order diffracted light generated by the diffraction regions H11 to H15 are obtained by adding the vectors V11m to V15m to the traveling directions of the laser beams before entering the diffraction regions H11 to H15, respectively.

ベクトルV11〜V14は、図4(a)のベクトルV1〜V4と同様に設定される。すなわち、ベクトルV11、V12の方向は同じであり、ベクトルV13、V14の方向は同じである。また、ベクトルV11、V14の大きさは同じであり、ベクトルV12、V13の大きさは同じである。ベクトルV11の大きさは、ベクトルV12よりも大きく、ベクトルV14の大きさはベクトルV13よりも大きい。ベクトルV11m〜V14mは、それぞれ、ベクトルV11〜V14に対して反対方向であり、等しい大きさを有する。   The vectors V11 to V14 are set in the same manner as the vectors V1 to V4 in FIG. That is, the directions of the vectors V11 and V12 are the same, and the directions of the vectors V13 and V14 are the same. The vectors V11 and V14 have the same size, and the vectors V12 and V13 have the same size. The size of the vector V11 is larger than the vector V12, and the size of the vector V14 is larger than the vector V13. The vectors V11m to V14m are opposite to the vectors V11 to V14, respectively, and have the same size.

なお、本実施例では、回折領域H11〜H14により生じるBD光の回折光は、ベクトルV11〜V14により互いに異なる方向に曲げられ、DOE114により進行方向が変化させられた後、アナモレンズ115により非点収差作用を受ける。これにより、光検出器116の受光面上における回折光の照射領域の位置は、上記原理に基づく位置から僅かにずれることになる。そこで、本実施例では、上記原理と同様、回折光が後述するセンサBa1〜Ba4、Bs1〜Bs4に照射されるよう、ベクトルV11〜V14の方向および大きさが僅かに調整されている。これにより、上記原理と同様、回折光の照射位置が所望の位置に位置付けられる。請求項1に記載の“同じ方向”は、このようにベクトルV11〜V14の方向が僅かに調整されていることも含むものである。   In this embodiment, the diffracted light of the BD light generated by the diffraction regions H11 to H14 is bent in different directions by the vectors V11 to V14, and the traveling direction is changed by the DOE 114, and then astigmatism is caused by the anamorphic lens 115. Affected. Thereby, the position of the irradiation region of the diffracted light on the light receiving surface of the photodetector 116 is slightly shifted from the position based on the above principle. Therefore, in this embodiment, as in the above principle, the directions and sizes of the vectors V11 to V14 are slightly adjusted so that diffracted light is irradiated to sensors Ba1 to Ba4 and Bs1 to Bs4 described later. Thereby, like the above principle, the irradiation position of the diffracted light is positioned at a desired position. The “same direction” described in claim 1 includes that the directions of the vectors V11 to V14 are slightly adjusted as described above.

また、本実施例では、図4(a)の場合に比べ、回折領域H15により、光束領域a15を通るレーザ光の進行方向が変えられる。回折領域H15により付与されるベクトルV15、V15mの方向は平面方向に平行で且つ互いに反対向きであり、また、ベクトルV15、V15mの大きさは、互いに等しい。   Further, in this embodiment, the traveling direction of the laser light passing through the light beam region a15 is changed by the diffraction region H15 as compared with the case of FIG. The directions of the vectors V15 and V15m given by the diffraction region H15 are parallel to the plane direction and opposite to each other, and the sizes of the vectors V15 and V15m are equal to each other.

なお、ベクトルV11〜V15、V11m〜V15mの方向は、各回折領域に設定される回折パターンの向きによって設定され、ベクトルV11〜V15、V11m〜V15mの大きさは、各回折領域に設定される回折パターンのピッチによって設定される。   The directions of the vectors V11 to V15 and V11m to V15m are set according to the direction of the diffraction pattern set in each diffraction region, and the magnitudes of the vectors V11 to V15 and V11m to V15m are diffractions set in each diffraction region. It is set by the pitch of the pattern.

図7(c)は、回折領域H11〜H15のステップ高さと回折効率との関係を示す図である。   FIG. 7C is a diagram showing the relationship between the step height of the diffraction regions H11 to H15 and the diffraction efficiency.

分光素子113に入射するBD光、DVD光、CD光の回折効率は、回折領域H11〜
H15に設定された2段ステップ型の回折パターンのステップ高さによって変化する。本実施例のステップ高さは、図7(c)中に示す“設定値”に設定される。これにより、BD光の0次回折光と+1次回折光の回折効率は、それぞれ、約80%と約10%となり、DVD光とCD光の0次回折光の回折効率は、90%以上となる。なお、−1次回折光の回折効率は、+1次回折光の回折効率と略同じである。
The diffraction efficiencies of BD light, DVD light, and CD light incident on the spectroscopic element 113 are as follows.
It changes depending on the step height of the two-step diffraction pattern set to H15. The step height of this embodiment is set to the “set value” shown in FIG. Thereby, the diffraction efficiencies of the 0th-order diffracted light and the + 1st-order diffracted light of the BD light are about 80% and about 10%, respectively, and the diffraction efficiencies of the 0th-order diffracted light of the DVD light and the CD light are 90% or more. The diffraction efficiency of the −1st order diffracted light is substantially the same as the diffraction efficiency of the + 1st order diffracted light.

こうして、分光素子113に入射したBD光は、上記回折効率でもって0次回折光、+1次回折光、−1次回折光に分割される。また、分光素子113に入射したCD光とDVD光は、大半が分光素子113による回折作用を受けずに、分光素子113を透過する。   Thus, the BD light incident on the spectroscopic element 113 is divided into 0th-order diffracted light, + 1st-order diffracted light, and −1st-order diffracted light with the above-described diffraction efficiency. Further, most of the CD light and DVD light incident on the spectroscopic element 113 are transmitted through the spectroscopic element 113 without being diffracted by the spectroscopic element 113.

図8は、DOE114による回折作用を説明する図である。なお、図8では、分光素子113により生じるBD光、DVD光、CD光の+1次回折光と−1次回折光、および、BD光の2つのサブビームは、便宜上、図示省略されている。   FIG. 8 is a diagram for explaining the diffraction action by the DOE 114. In FIG. 8, the BD light, DVD light, CD light + 1st order diffracted light and −1st order diffracted light, and two sub-beams of BD light generated by the spectroscopic element 113 are not shown for convenience.

DOE114は、BD光に対しては+1次の回折効率が高く、DVD光とCD光に対しては0次の回折効率が高くなるよう設計された波長選択性の回折格子である。すなわち、DOE114は、回折作用により、主としてBD光の進行方向のみを変化させる。DOE114の入射面と出射面および光検出器116の受光面は、XY平面に平行となっている。   The DOE 114 is a wavelength selective diffraction grating designed to have high + 1st order diffraction efficiency for BD light and high 0th order diffraction efficiency for DVD light and CD light. That is, the DOE 114 mainly changes only the traveling direction of the BD light by the diffraction action. The entrance surface and the exit surface of the DOE 114 and the light receiving surface of the photodetector 116 are parallel to the XY plane.

BD光の0次回折光と、DVD光の3つのビームと、CD光の3つのビームは、DOE114の入射面に垂直に入射する。DVD光とCD光の光軸は、DOE114によって曲げられることなく略透過し、受光面に対して垂直に入射する。このとき、DVD光の3つのビームと、CD光の3つのビームの並び方向はY軸方向となっている。他方、BD光の0次回折光の光軸は、DOE114によってDVD光のメインビームの光軸に近づく方向に曲げられる。これにより、BD光の0次回折光の光軸は、DVD光のメインビームの光軸と一致することになる。   The 0th-order diffracted light of BD light, the three beams of DVD light, and the three beams of CD light are perpendicularly incident on the incident surface of the DOE 114. The optical axes of the DVD light and the CD light are substantially transmitted without being bent by the DOE 114, and enter perpendicularly to the light receiving surface. At this time, the alignment direction of the three beams of DVD light and the three beams of CD light is the Y-axis direction. On the other hand, the optical axis of the 0th-order diffracted light of the BD light is bent by the DOE 114 in a direction approaching the optical axis of the main beam of the DVD light. As a result, the optical axis of the 0th-order diffracted light of the BD light coincides with the optical axis of the main beam of the DVD light.

本実施例では、光検出器116の受光面上に、DVD光の3つのビームを受光するための3つの4分割センサと、CD光の3つのビームを受光するための3つの4分割センサが配されている。また、上記のようにしてBD光の0次回折光の光軸が、DVD光のメインビームの光軸と一致するため、DVD光のメインビームを受光するための4分割センサにより、BD光のメインビームの0次回折光が受光される。   In this embodiment, three quadrant sensors for receiving three beams of DVD light and three quadrant sensors for receiving three beams of CD light are provided on the light receiving surface of the photodetector 116. It is arranged. In addition, since the optical axis of the 0th-order diffracted light of the BD light coincides with the optical axis of the main beam of the DVD light as described above, the main part of the BD light is received by the four-divided sensor for receiving the DVD main light beam. The 0th-order diffracted light of the beam is received.

図9は、光検出器116の受光面上のセンサレイアウトを示す図である。   FIG. 9 is a diagram showing a sensor layout on the light receiving surface of the photodetector 116.

光検出器116は、BD光を受光するためのセンサBa1〜Ba4、Bs1〜Bs4と、BD光を用いて分光素子113の位置調整を行うための4分割センサBzと、DVD用の4分割センサD1〜D3と、CD用の4分割センサC1〜C3を有する。   The photodetector 116 includes sensors Ba1 to Ba4 and Bs1 to Bs4 for receiving BD light, a four-divided sensor Bz for adjusting the position of the spectroscopic element 113 using the BD light, and a four-divided sensor for DVD. D1 to D3 and four-divided sensors C1 to C3 for CD.

センサBa1〜Ba4、Bs1〜Bs4は、分光素子113に入射したBD光(信号光)から、回折領域H11〜H14の回折作用によって生じる+1次回折光を受光する。センサBa1〜Ba4、Bs1〜Bs4は、それぞれ、上記原理で示した図5(c)のセンサS1〜S8と同様に配置される。4分割センサBzは、分光素子113に入射したBD光(信号光と迷光1、2)から、回折領域H15の回折作用によって生じる+1次回折光を受光する。   The sensors Ba1 to Ba4 and Bs1 to Bs4 receive the + 1st order diffracted light generated by the diffractive action of the diffraction regions H11 to H14 from the BD light (signal light) incident on the spectroscopic element 113. The sensors Ba1 to Ba4 and Bs1 to Bs4 are respectively disposed in the same manner as the sensors S1 to S8 of FIG. The quadrant sensor Bz receives the + 1st order diffracted light generated by the diffraction action of the diffraction region H15 from the BD light (signal light and stray light 1 and 2) incident on the spectroscopic element 113.

光束領域a11〜a14を通るBD光(信号光)の+1次回折光は、それぞれ、照射領域A11〜A14に照射される。照射領域A11に照射されるBD光は、センサBa1、Ba4によって受光され、照射領域A12に照射されるBD光は、センサBa2、Ba3
によって受光され、照射領域A13に照射されるBD光は、センサBs3、Bs4によって受光され、照射領域A14に照射されるBD光は、センサBs1、Bs2によって受光される。
+ 1st order diffracted light of BD light (signal light) passing through the light flux regions a11 to a14 is irradiated to the irradiation regions A11 to A14, respectively. The BD light irradiated on the irradiation area A11 is received by the sensors Ba1 and Ba4, and the BD light irradiated on the irradiation area A12 is detected by the sensors Ba2 and Ba3.
Is received by the sensors Bs3 and Bs4, and the BD light applied to the irradiation area A14 is received by the sensors Bs1 and Bs2.

光束領域a15を通るBD光(信号光と迷光1、2)の+1次回折光は、照射領域A15に照射される。照射領域A15に照射されるBD光は、中心Oに対して右上に位置する4分割センサBzによって受光される。4分割センサBzは、センサBz1〜Bz4から構成されており、上下左右の方向に対して45度傾けて配置されている。また、4分割センサBzの分割線が、中心Oと4分割センサBzの中心BzOとを結ぶ一点鎖線の直線と重なるよう、4分割センサBzが配置されている。センサBz1〜Bz4の検出信号は、分光素子113のZ軸方向の位置調整と、中心Oを中心とする回転方向の位置調整に用いられる。   The + 1st order diffracted light of the BD light (signal light and stray light 1 and 2) passing through the light flux region a15 is irradiated to the irradiation region A15. The BD light irradiated to the irradiation area A15 is received by the four-divided sensor Bz located on the upper right side with respect to the center O. The four-divided sensor Bz is composed of sensors Bz1 to Bz4, and is inclined by 45 degrees with respect to the vertical and horizontal directions. Further, the four-divided sensor Bz is arranged so that the dividing line of the four-divided sensor Bz overlaps with a one-dot chain line connecting the center O and the center BzO of the four-divided sensor Bz. The detection signals of the sensors Bz1 to Bz4 are used for position adjustment of the spectroscopic element 113 in the Z-axis direction and position adjustment in the rotation direction centered on the center O.

回折領域H11〜H14のピッチは、照射領域A11〜A14が、図9に示すように、センサBa1〜Ba4、Bs1〜Bs4に位置付けられるよう設定される。また、回折領域H15のピッチは、照射領域A15が、4分割センサBzの中心BzOに位置付けられるよう設定されている。   The pitch of the diffraction regions H11 to H14 is set so that the irradiation regions A11 to A14 are positioned on the sensors Ba1 to Ba4 and Bs1 to Bs4 as shown in FIG. Further, the pitch of the diffraction area H15 is set so that the irradiation area A15 is positioned at the center BzO of the four-divided sensor Bz.

4分割センサD1〜D3は、分光素子113による回折作用を受けずに分光素子113を透過したDVD光の3つのビームを受光する。4分割センサC1〜C3は、分光素子113による回折作用を受けずに分光素子113を透過したCD光の3つのビームを受光する。4分割センサD1、C1は、それぞれ、DVD光とCD光のメインビームを受光し、図6(c)に示す発光部101b、101cの間隔w2に応じた間隔で配置されている。   The four-divided sensors D1 to D3 receive three beams of DVD light transmitted through the spectroscopic element 113 without being diffracted by the spectroscopic element 113. The four-divided sensors C1 to C3 receive three beams of CD light that has passed through the spectroscopic element 113 without being diffracted by the spectroscopic element 113. The four-divided sensors D1 and C1 receive the main beam of DVD light and CD light, respectively, and are arranged at intervals corresponding to the interval w2 between the light emitting units 101b and 101c shown in FIG.

また、4分割センサD1は、センサD11〜D14から構成されている。さらに、4分割センサD1は、後述のように、分光素子113による回折作用を受けずに分光素子113を透過したBD光(信号光と迷光1、2)の受光にも共用される。なお、中心Oは、DVD光のメインビームの光軸が、光検出器116の受光面と交わる点であり、4分割センサD1の中心(分割線の交点)と一致する。   The quadrant sensor D1 includes sensors D11 to D14. Further, as will be described later, the four-divided sensor D1 is also used to receive BD light (signal light and stray light 1 and 2) that has passed through the spectroscopic element 113 without being diffracted by the spectroscopic element 113. The center O is the point where the optical axis of the main beam of DVD light intersects with the light receiving surface of the photodetector 116, and coincides with the center of the four-divided sensor D1 (intersection of the dividing lines).

図10は、光検出器116の受光面上に分布するBD光(信号光と迷光1、2)の、分光素子113による0次回折光、+1次回折光、−1次回折光の照射領域を示す模式図である。破線は+1次回折光を示し、長鎖線は0次回折光を示し、点線は−1次回折光を示している。また、図10には、図9に示すセンサが併せて示されている。   FIG. 10 is a schematic diagram showing irradiation areas of 0th-order diffracted light, + 1st-order diffracted light, and −1st-order diffracted light by the spectroscopic element 113 of BD light (signal light and stray light 1 and 2) distributed on the light receiving surface of the photodetector 116. FIG. The broken line indicates the + 1st order diffracted light, the long chain line indicates the 0th order diffracted light, and the dotted line indicates the −1st order diffracted light. FIG. 10 also shows the sensor shown in FIG.

本実施例のように、分光素子113の回折領域H11〜H15に2段ステップ型の回折パターンが形成されると、BD光(信号光と迷光1、2)の+1次回折光と−1次回折光の照射領域は、中心Oを点対称の中心として分布し、0次回折光の照射領域は中心Oに分布する。このとき、センサBa1〜Ba4、Bs1〜Bs4には、BD光(信号光)の+1次回折光のみが照射される。なお、本実施例では、BD光(信号光と迷光1、2)については、0次回折光と+1次回折光のみが利用され、−1次回折光は利用されない。   When a two-step diffraction pattern is formed in the diffraction regions H11 to H15 of the spectroscopic element 113 as in the present embodiment, the + 1st order diffracted light and the −1st order diffracted light of the BD light (signal light and stray light 1 and 2) are formed. Are distributed with the center O as the center of point symmetry, and the irradiation region of the 0th-order diffracted light is distributed at the center O. At this time, only the + 1st order diffracted light of the BD light (signal light) is irradiated to the sensors Ba1 to Ba4 and Bs1 to Bs4. In the present embodiment, for the BD light (signal light and stray light 1 and 2), only the 0th order diffracted light and the + 1st order diffracted light are used, and the −1st order diffracted light is not used.

また、分光素子113に入射するBD光(信号光と迷光1、2)の中央部分は、4分割センサBz近傍に飛ばされるため、センサBa1〜Ba4、Bs1〜Bs4の近傍に分布するBD光(迷光1、2)の+1次回折光の照射領域は、センサBa1〜Ba4、Bs1〜Bs4に掛かりにくくなっている。すなわち、センサBa1、Ba4の上端付近に分布する迷光1、2の照射領域は、それぞれ、左端と右端が、回折領域H15により除かれた形状となっている。同様に、センサBa2、Ba3の下端付近と、センサBs1、Bs2の右端付近と、センサBs3、Bs4の左端付近に分布する迷光1、2の照射領域は、回折領域H15に応じて端部が除かれた形状となっている。これにより、対物レンズ112
がBDの径方向に移動して、対物レンズ112の光軸がBD光の光軸からシフトしても、センサBa1〜Ba4、Bs1〜Bs4に、BD光(迷光1、2)の+1次回折光が入射し難くなる。また、センサBa1〜Ba4、Bs1〜Bs4の位置が、光検出器116の受光面上でずれても、これらセンサに、BD光(迷光1、2)の+1次回折光が入射し難くなる。
Further, since the central portion of the BD light (signal light and stray light 1 and 2) incident on the spectroscopic element 113 is skipped in the vicinity of the four-divided sensor Bz, the BD light distributed in the vicinity of the sensors Ba1 to Ba4 and Bs1 to Bs4 ( The irradiation region of the + 1st order diffracted light of the stray light 1, 2) is less likely to be applied to the sensors Ba1 to Ba4 and Bs1 to Bs4. That is, the irradiation areas of the stray lights 1 and 2 distributed near the upper ends of the sensors Ba1 and Ba4 have shapes in which the left end and the right end are respectively removed by the diffraction area H15. Similarly, the stray light 1 and 2 irradiation areas distributed near the lower ends of the sensors Ba2 and Ba3, near the right ends of the sensors Bs1 and Bs2, and near the left ends of the sensors Bs3 and Bs4 are excluded at the ends according to the diffraction area H15. It has become a shape. Accordingly, the objective lens 112
Moves in the radial direction of the BD and the optical axis of the objective lens 112 shifts from the optical axis of the BD light, the + 1st order diffracted light of the BD light (stray light 1 and 2) is transmitted to the sensors Ba1 to Ba4 and Bs1 to Bs4. Becomes difficult to enter. Further, even if the positions of the sensors Ba1 to Ba4 and Bs1 to Bs4 are shifted on the light receiving surface of the photodetector 116, the + 1st order diffracted light of the BD light (stray light 1 and 2) becomes difficult to enter the sensors.

なお、BD光の2つのサブビーム(信号光と迷光1、2)は、図10に示すBD光(信号光と迷光1、2)と同様に光検出器116の受光面上に分布するが、本実施例では、かかる2つのサブビームは使用しない。なお、かかる2つのサブビームによる照射領域は、図10に示すメインビームによる照射領域の上側(Y軸正方向)と下側(Y軸負方向)に位置付けられ、センサBa1〜Ba4、Bs1〜Bs4と4分割センサD1には略掛からない。   Note that the two sub-beams (signal light and stray light 1 and 2) of the BD light are distributed on the light receiving surface of the photodetector 116 in the same manner as the BD light (signal light and stray light 1 and 2) shown in FIG. In this embodiment, such two sub-beams are not used. Note that the irradiation region by the two sub beams is positioned on the upper side (Y-axis positive direction) and the lower side (Y-axis negative direction) of the irradiation region by the main beam shown in FIG. 10, and sensors Ba1 to Ba4, Bs1 to Bs4, The quadrant sensor D1 is not substantially hooked.

ここで、本実施例におけるフォーカスエラー信号と、トラッキングエラー信号と、RF信号について説明する。   Here, the focus error signal, tracking error signal, and RF signal in the present embodiment will be described.

BD用のフォーカスエラー信号FEは、センサBa1〜Ba4、Bs1〜Bs4の検出信号を、それぞれ、Ba1〜Ba4、Bs1〜Bs4と表すと、上記式(1)と同様、以下の式(3)の演算により取得することができる。   The focus error signal FE for BD represents the detection signals of the sensors Ba1 to Ba4 and Bs1 to Bs4 as Ba1 to Ba4 and Bs1 to Bs4, respectively, as in the above expression (1). It can be obtained by calculation.

FE=(Ba1+Ba3+Bs1+Bs3)
−(Ba2+Ba4+Bs2+Bs4) …(3)
FE = (Ba1 + Ba3 + Bs1 + Bs3)
-(Ba2 + Ba4 + Bs2 + Bs4) (3)

また、BD用のトラッキングエラー信号TEは、乗数ktを用いて、以下の式(4)の演算により取得することができる。   Further, the tracking error signal TE for BD can be obtained by the following equation (4) using the multiplier kt.

TE=(Ba1+Ba4)−(Ba2+Ba3)
−kt×{(Bs1+Bs4)−(Bs2+Bs3)} …(4)
TE = (Ba1 + Ba4) − (Ba2 + Ba3)
−kt × {(Bs1 + Bs4) − (Bs2 + Bs3)} (4)

このように乗数ktを用いたトラッキングエラー信号TEの演算手法は、本件出願人が先に出願した特開2010−102813号公報に記載されている。   The calculation method of the tracking error signal TE using the multiplier kt as described above is described in Japanese Patent Application Laid-Open No. 2010-102813 filed earlier by the present applicant.

また、BD用のRF信号は、以下の式(5)の演算により取得することができる。   Moreover, the RF signal for BD can be acquired by the calculation of the following formula (5).

RF=D11+D12+D13+D14 …(5)   RF = D11 + D12 + D13 + D14 (5)

なお、4分割センサD1に入射するBD光の0次回折光には、信号光だけでなく迷光1、2も含まれる。しかしながら、4分割センサD1に入射するBD光の0次回折光のうち、迷光の割合は1/10程度であるため、BD用のRF信号の取得においては、迷光による影響が特に問題となることは無い。   Note that the 0th-order diffracted light of the BD light incident on the quadrant sensor D1 includes not only signal light but also stray light 1 and 2. However, since the ratio of stray light out of the 0th-order diffracted light of the BD light incident on the four-divided sensor D1 is about 1/10, the influence of stray light is a particular problem in obtaining a BD RF signal. No.

また、DVD用のフォーカスエラー信号、トラッキングエラー信号およびRF信号は、4分割センサD1〜D3の検出信号に基づいて生成され、CD用のフォーカスエラー信号、トラッキングエラー信号およびRF信号は、4分割センサC1〜C3の検出信号に基づいて生成される。DVDおよびCD用のフォーカスエラー信号とトラッキングエラー信号の生成には、3ビーム方式(インライン方式)による演算処理が用いられる。   Further, the focus error signal, tracking error signal and RF signal for DVD are generated based on the detection signals of the four-divided sensors D1 to D3, and the focus error signal, tracking error signal and RF signal for CD are divided into four-divided sensors. It is generated based on the detection signals C1 to C3. For generating a focus error signal and a tracking error signal for DVD and CD, arithmetic processing by a three-beam method (inline method) is used.

ここで、図6(c)を参照して説明したように、BD光を出射する発光部101aと、DVD光を出射する発光部101bとの間隔w1には大きな誤差が生じ易い。このため、光ピックアップ装置1の光学系が設計位置に適正に配置されたとしても、光検出器116
の受光面上において、図8に示すようにBD光の光軸が、DVD光のメインビームの光軸と一致しない惧れがある。この場合、図10に示すように、センサBa1〜Ba4、Bs1〜Bs4と、4分割センサD1、Bzに、BD光(信号光)が適正に位置付けられなくなる。このように、受光面上においてBD光の照射位置がずれると、センサBa1〜Ba4、Bs1〜Bs4と、4分割センサD1、Bzから出力されるBD光の検出信号の精度が低下してしまう。
Here, as described with reference to FIG. 6C, a large error is likely to occur in the interval w1 between the light emitting unit 101a that emits BD light and the light emitting unit 101b that emits DVD light. For this reason, even if the optical system of the optical pickup device 1 is properly arranged at the design position, the photodetector 116 is used.
As shown in FIG. 8, the optical axis of the BD light may not match the optical axis of the main beam of the DVD light. In this case, as shown in FIG. 10, the BD light (signal light) cannot be properly positioned on the sensors Ba1 to Ba4, Bs1 to Bs4 and the four-divided sensors D1 and Bz. As described above, when the irradiation position of the BD light is shifted on the light receiving surface, the accuracy of the detection signals of the BD light output from the sensors Ba1 to Ba4 and Bs1 to Bs4 and the four-divided sensors D1 and Bz is deteriorated.

そこで、本実施例では、まず、DVD光とCD光を用いて、光検出器116の位置調整が行われる。この調整では、光検出器116の受光面上において、DVD光とCD光のメインビームの照射位置が、それぞれ4分割センサD1、C1の中心に位置付けられるよう、XY平面内における光検出器116の位置が調整される。この場合、図6(c)に示した間隔w2のバラつきが小さいため、かかる調整により、DVD光とCD光は、それぞれ、4分割センサD1〜D3、C1〜C3に適正に位置付けられる。   Therefore, in this embodiment, first, the position of the photodetector 116 is adjusted using DVD light and CD light. In this adjustment, on the light receiving surface of the photodetector 116, the irradiation position of the main beam of DVD light and CD light is positioned at the center of the four-divided sensors D1 and C1, respectively. The position is adjusted. In this case, since the variation of the interval w2 shown in FIG. 6C is small, the DVD light and the CD light are appropriately positioned on the four-divided sensors D1 to D3 and C1 to C3, respectively, by such adjustment.

しかしながら、このように光検出器116の位置調整が行われても、図6(c)に示した間隔w1のバラつきが大きいため、光検出器116の受光面上におけるBD光(信号光と迷光1、2)の照射位置は、しばしば、センサBa1〜Ba4、Bs1〜Bs4と、4分割センサD1、Bzから外れてしまう。このため、センサBa1〜Ba4、Bs1〜Bs4と、4分割センサD1、Bzから出力されるBD光の検出信号の精度が低下する惧れがある。   However, even if the position adjustment of the photodetector 116 is performed in this way, the variation in the interval w1 shown in FIG. 6C is large, and therefore BD light (signal light and stray light on the light receiving surface of the photodetector 116). 1 and 2) often deviate from the sensors Ba1 to Ba4, Bs1 to Bs4 and the four-divided sensors D1 and Bz. For this reason, there exists a possibility that the precision of the detection signal of BD light output from sensor Ba1-Ba4, Bs1-Bs4, and 4-part dividing sensor D1, Bz may fall.

かかる問題を解消するために、本実施例では、上述の光検出器116の調整の後、DOE114のZ軸方向の位置を調整することにより、光検出器116の受光面上において、BD光の0次回折光のX軸方向の照射位置を調整する。また、DOE114のXY平面内における回転方向の位置を調整して、DOE114の回折方向を調整することにより、光検出器116の受光面上において、BD光の0次回折光の回転方向の照射位置を調整する。   In order to solve such a problem, in this embodiment, after the adjustment of the photodetector 116 described above, the position of the DOE 114 in the Z-axis direction is adjusted, so that the BD light on the light receiving surface of the photodetector 116 is adjusted. The irradiation position in the X-axis direction of 0th-order diffracted light is adjusted. Further, by adjusting the rotational direction position of the DOE 114 in the XY plane and adjusting the diffraction direction of the DOE 114, the irradiation position of the rotational direction of the 0th-order diffracted light of the BD light on the light receiving surface of the photodetector 116 is adjusted. adjust.

このように、DOE114の位置調整が行われた後、4分割センサBzの検出信号を用いて、分光素子113のZ軸方向の位置調整と、中心Oを中心とする回転方向の位置調整と、XY平面内の位置調整が行われる。こうして、光検出器116の受光面上において、BD光の照射位置が、適正な位置に位置付けられることとなる。   Thus, after the position adjustment of the DOE 114 is performed, the position adjustment of the spectroscopic element 113 in the Z-axis direction, the position adjustment of the rotation direction around the center O, using the detection signal of the four-divided sensor Bz, Position adjustment in the XY plane is performed. In this way, the irradiation position of the BD light is positioned at an appropriate position on the light receiving surface of the photodetector 116.

図11は、光ピックアップ装置1のハウジング上の、分光素子113とDOE114の設置部分を示す図である。ハウジングには、光ピックアップ装置1の光学系を構成する各光学部材が設置される。図11は、光ピックアップ装置1を、裏側(図6(a)とは反対側)から見た状態を示している。   FIG. 11 is a diagram illustrating an installation portion of the spectroscopic element 113 and the DOE 114 on the housing of the optical pickup device 1. Each optical member constituting the optical system of the optical pickup device 1 is installed in the housing. FIG. 11 shows a state in which the optical pickup device 1 is viewed from the back side (the side opposite to FIG. 6A).

分光素子113とDOE114は、それぞれ、ホルダL1、L2を介して、ハウジングに形成された設置部G1、G2に取り付けられる。ホルダL1、L2は、同様の形状を有している。設置部G1、G2は、XY平面に対して対称に形成されている。   The spectroscopic element 113 and the DOE 114 are attached to installation portions G1 and G2 formed in the housing via holders L1 and L2, respectively. The holders L1 and L2 have the same shape. The installation parts G1 and G2 are formed symmetrically with respect to the XY plane.

ホルダL1、L2は、それぞれ、XZ平面に平行な面L11、L21を有している。面L11、L21には、それぞれ、2つの切欠L11a、L21aが形成されている。ホルダL1は、面L11のZ軸正方向側の端部からY軸正方向側に延びた、XY平面に平行な面L12を有しており、ホルダL2は、面L21のZ軸負方向側の端部からY軸正方向側に延びた、XY平面に平行な面L22を有している。面L12、L22には、それぞれ、レーザ光をZ軸方向に通すための孔L12a、L22aが形成されている。面L12のZ軸正方向側の面には、分光素子113が固定され、面L22のZ軸負方向側の面には、DOE114が固定される。   The holders L1 and L2 respectively have surfaces L11 and L21 that are parallel to the XZ plane. Two notches L11a and L21a are formed in the surfaces L11 and L21, respectively. The holder L1 has a surface L12 parallel to the XY plane extending from the end of the surface L11 on the Z-axis positive direction side to the Y-axis positive direction side, and the holder L2 is on the Z-axis negative direction side of the surface L21. A surface L22 that extends in the Y axis positive direction side and is parallel to the XY plane. Holes L12a and L22a for passing laser light in the Z-axis direction are formed in the surfaces L12 and L22, respectively. The spectroscopic element 113 is fixed to the surface of the surface L12 on the Z axis positive direction side, and the DOE 114 is fixed to the surface of the surface L22 on the Z axis negative direction side.

設置部G1、G2には、それぞれ、分光素子113が固定された面L12を収容するための収容部G11と、DOE114が固定された面L22を収容するための収容部G21が形成されている。また、設置部G1、G2には、それぞれ、ハウジングの裏面よりもY軸負方向側に棚部G12、G22が形成されている。また、設置部G1の棚部G12のY軸負方向側には、レーザ光をZ軸方向に通すための孔G13が形成されており、設置部G2の棚部G22のY軸負方向側には、レーザ光をZ軸方向に通すための孔G23が形成されている。また、設置部G1のX軸正方向側と負方向側には、2つの凹部G14が形成されており、設置部G2のX軸正方向側と負方向側には、2つの凹部G24が形成されている。また、ハウジングには、収容部G11、G21をZ軸方向に繋ぐ孔G3が形成されている。   In the installation portions G1 and G2, a housing portion G11 for housing the surface L12 to which the spectroscopic element 113 is fixed and a housing portion G21 for housing the surface L22 to which the DOE 114 is fixed are formed. Further, in the installation portions G1 and G2, shelf portions G12 and G22 are formed on the Y-axis negative direction side from the rear surface of the housing, respectively. In addition, a hole G13 for passing laser light in the Z-axis direction is formed on the Y-axis negative direction side of the shelf G12 of the installation part G1, and on the Y-axis negative direction side of the shelf G22 of the installation part G2. Is formed with a hole G23 for passing the laser beam in the Z-axis direction. Further, two concave portions G14 are formed on the X axis positive direction side and the negative direction side of the installation portion G1, and two concave portions G24 are formed on the X axis positive direction side and the negative direction side of the installation portion G2. Has been. In addition, a hole G3 that connects the accommodating portions G11 and G21 in the Z-axis direction is formed in the housing.

DOE114の位置調整を行う場合、まず、光ピックアップ装置1が設置された光ディスク装置のターンテーブルにBD−ROMと同様のテストディスクを装着し、発光部101aからBD光を発光させる。続いて、DOE114が固定されたホルダL2を、2つの切欠L21aをジグで挟むことにより保持する。そして、ジグを操作して、DOE114を収容部G21に収容させた状態で、DOE114の位置を調整する。すなわち、DOE114のZ軸方向の位置を調整することにより、光検出器116の受光面上において、BD光の0次回折光のX軸方向の照射位置を調整する。また、DOE114のXY平面内における回転方向の位置を調整して、DOE114の回折方向を調整することにより、光検出器116の受光面上において、BD光の0次回折光の回転方向の照射位置を調整する。これにより、BD光の0次回折光が、4分割センサD1に位置付けられるようになる。   When adjusting the position of the DOE 114, first, a test disk similar to the BD-ROM is mounted on the turntable of the optical disk apparatus in which the optical pickup device 1 is installed, and BD light is emitted from the light emitting unit 101a. Subsequently, the holder L2 to which the DOE 114 is fixed is held by sandwiching the two notches L21a with a jig. And the position of DOE114 is adjusted in the state which operated the jig and accommodated DOE114 in the accommodating part G21. That is, by adjusting the position of the DOE 114 in the Z-axis direction, the irradiation position of the zero-order diffracted light of the BD light in the X-axis direction is adjusted on the light receiving surface of the photodetector 116. Further, by adjusting the rotational direction position of the DOE 114 in the XY plane and adjusting the diffraction direction of the DOE 114, the irradiation position of the rotational direction of the 0th-order diffracted light of the BD light on the light receiving surface of the photodetector 116 is adjusted. adjust. As a result, the 0th-order diffracted light of the BD light is positioned at the 4-part dividing sensor D1.

DOE114の位置が決定すると、このときのDOE114の位置をジグによって維持した状態で、2つの凹部G24にUV接着剤を塗布する。そして、塗布したUV接着剤が硬化するようにUV照射を行って、設置部G2に対してホルダL2を固定する。こうして、DOE114の設置が完了する。   When the position of the DOE 114 is determined, a UV adhesive is applied to the two concave portions G24 while maintaining the position of the DOE 114 at this time by a jig. And UV irradiation is performed so that the apply | coated UV adhesive may harden | cure, and the holder L2 is fixed with respect to the installation part G2. Thus, the installation of the DOE 114 is completed.

続いて、分光素子113の位置調整が、上記DOE114の位置調整と同様に行われる。すなわち、分光素子113が固定されたホルダL1を、2つの切欠L11aをジグで挟むことにより保持する。そして、ジグを操作して、分光素子113を収容部G11に収容させた状態で、分光素子113の位置を調整する。分光素子113の位置が決定すると、このときの分光素子113の位置をジグによって維持した状態で、2つの凹部G14にUV接着剤を塗布する。そして、UV照射を行って、設置部G2に対してホルダL1を固定する。こうして、分光素子113の設置が完了する。   Subsequently, the position adjustment of the spectroscopic element 113 is performed in the same manner as the position adjustment of the DOE 114. That is, the holder L1 to which the spectroscopic element 113 is fixed is held by sandwiching the two notches L11a with a jig. Then, the position of the spectroscopic element 113 is adjusted while the spectroscopic element 113 is accommodated in the accommodating portion G11 by operating the jig. When the position of the spectroscopic element 113 is determined, UV adhesive is applied to the two recesses G14 in a state where the position of the spectroscopic element 113 at this time is maintained by a jig. And UV irradiation is performed and the holder L1 is fixed with respect to the installation part G2. Thus, the installation of the spectroscopic element 113 is completed.

<実施例の効果>
本実施例によれば、以下の効果が奏され得る。
<Effect of Example>
According to the present embodiment, the following effects can be achieved.

図10に示すように、センサBa1〜Ba4、Bs1〜Bs4には、BD光の信号光のみが照射され、BD光の迷光は照射されないため、上記式(3)、(4)に示すように、センサBa1〜Ba4、Bs1〜Bs4からの出力信号によってフォーカスエラー信号とトラッキングエラー信号を生成することにより、フォーカスエラー信号とトラッキングエラー信号に対する迷光の影響を抑制することができる。   As shown in FIG. 10, since the sensors Ba1 to Ba4 and Bs1 to Bs4 are irradiated only with the signal light of BD light and not the stray light of BD light, as shown in the above formulas (3) and (4). By generating the focus error signal and the tracking error signal from the output signals from the sensors Ba1 to Ba4 and Bs1 to Bs4, the influence of stray light on the focus error signal and the tracking error signal can be suppressed.

また、図7(a)のベクトルV11〜V14のようにBD光を回折させることにより、BD光の+1次回折光を受光するセンサBa1、Ba4とセンサBa2、Ba3を、互いに一辺が向き合うように近づけながらコンパクトに配置することができ、また、センサBs1、Bs2とセンサBs4、Bs3を、互いに一辺が向き合うように近づけながらコンパクトに配置することができる。さらに、センサBa1〜Ba4からなるセンサ群とセン
サBs1〜Bs4からなるセンサ群を、L字状に配置することができる。これにより、BD光の+1次回折光を受光するセンサレイアウトをコンパクトにすることができ、光検出器116の全体のセンサレイアウトをコンパクトにすることができる。
Further, by diffracting the BD light as in vectors V11 to V14 in FIG. 7A, the sensors Ba1 and Ba4 and the sensors Ba2 and Ba3 that receive the + 1st order diffracted light of the BD light are brought close to each other so that one side faces each other. The sensors Bs1, Bs2 and the sensors Bs4, Bs3 can be arranged compactly while being close to each other so that one side faces each other. Furthermore, the sensor group composed of the sensors Ba1 to Ba4 and the sensor group composed of the sensors Bs1 to Bs4 can be arranged in an L shape. Thereby, the sensor layout which receives the + 1st order diffracted light of BD light can be made compact, and the whole sensor layout of the photodetector 116 can be made compact.

また、このようにセンサBa1〜Ba4が固まって配置され、また、センサBs1〜Bs4が固まって配置されるため、DVD光を受光する4分割センサD1〜D3と、CD光を受光する4分割センサC1〜C3の配置を容易かつ自由度高く行うことができ、センサレイアウトの設計を容易に行うことができる。   In addition, since the sensors Ba1 to Ba4 are arranged in a solid manner and the sensors Bs1 to Bs4 are arranged in a solid manner, the four-divided sensors D1 to D3 that receive DVD light and the four-divided sensors that receive CD light are arranged. The arrangement of C1 to C3 can be easily performed with a high degree of freedom, and the sensor layout can be easily designed.

また、DOE114を用いてBD光の0次回折光の光軸とDVD光の0次回折光の光軸とを整合させたため、DVD光を受光する4分割センサD1〜D3およびCD光を受光する4分割センサC1〜C3と、BD光の+1次回折光を受光するセンサBa1〜Ba3、Bs1〜Bs4を、図9のX軸方向に近づけることができ、光検出器116の全体のセンサレイアウトをさらにコンパクトにすることができる。   Further, since the optical axis of the 0th-order diffracted light of the BD light and the optical axis of the 0th-order diffracted light of the DVD light are matched using the DOE 114, the 4-split sensors D1 to D3 that receive the DVD light and the 4-split that receives the CD light. The sensors C1 to C3 and the sensors Ba1 to Ba3 and Bs1 to Bs4 that receive the + 1st order diffracted light of the BD light can be brought closer to the X-axis direction in FIG. 9, thereby further reducing the overall sensor layout of the photodetector 116. can do.

また、DVD光のメインビームを受光する4分割センサD1がBD光の0次回折光を受光するために共用されているため、光検出器116上に設置するセンサの数を少なくすることができ、センサレイアウトを簡素化とコストの低減を図ることができる。   In addition, since the quadrant sensor D1 that receives the main beam of the DVD light is shared to receive the 0th-order diffracted light of the BD light, the number of sensors installed on the photodetector 116 can be reduced, The sensor layout can be simplified and the cost can be reduced.

さらに、図11に示す構成により、DOE114の位置が調整されるため、半導体レーザ101において、BD光の発光点とDVD光の発光点との間隔w1にバラつきがあっても、光検出器116上において、BD光を、DVD光のメインビームを受光する4分割センサD1に適正に照射することができる。   Further, since the position of the DOE 114 is adjusted by the configuration shown in FIG. 11, even if the interval w1 between the light emission point of the BD light and the light emission point of the DVD light varies in the semiconductor laser 101, In FIG. 4, the BD light can be appropriately irradiated to the quadrant sensor D1 that receives the main beam of the DVD light.

また、図4(b)に示すようにBD光の照射領域を分布させるために、2段ステップ型の回折パターンが形成された分光素子113が用いられた。このように2段ステップ型の回折パターンが形成されると、図10に示すように広範囲に亘って照射領域が分布することとなる。しかしながら、本実施例によれば、照射領域を全て含むように光検出器116の受光面上にセンサを設置する必要がない。すなわち、本実施例では、BD光(信号光)を受光するための光検出器116上のセンサは、中心Oに分布する信号光(0次回折光)と、中心Oの上側と右側に分布する信号光(+1次回折光)と、右上に分布する信号光(+1次回折光)の照射領域のみを含むように設置される。これにより、本実施例のように、安価な2段ステップ型が形成された分光素子113が用いられても、光検出器116をコンパクトに構成することが可能となる。   Further, as shown in FIG. 4B, in order to distribute the irradiation region of the BD light, the spectroscopic element 113 on which a two-step type diffraction pattern is formed was used. When a two-step diffraction pattern is formed in this way, the irradiation area is distributed over a wide range as shown in FIG. However, according to the present embodiment, it is not necessary to install a sensor on the light receiving surface of the photodetector 116 so as to include the entire irradiation region. That is, in this embodiment, the sensor on the photodetector 116 for receiving the BD light (signal light) is distributed on the signal light (0th-order diffracted light) distributed at the center O and on the upper side and the right side of the center O. It is installed so as to include only the irradiation region of the signal light (+ 1st order diffracted light) and the signal light distributed on the upper right (+ 1st order diffracted light). As a result, the photodetector 116 can be configured in a compact manner even if the spectroscopic element 113 formed with an inexpensive two-step type is used as in this embodiment.

なお、図4(b)に示すように照射領域を分布させるために、ブレーズ型の回折パターンが形成された分光素子を用いることもできる。しかしながら、ブレーズ型の回折パターンが形成された分光素子は、本実施例のように2段ステップ型の回折パターンが形成された分光素子113に比べて高価である。本実施例では、安価な2段ステップ型の回折パターンが形成された分光素子113を用いることで、光ピックアップ装置1にかかるコストを低く抑えることができる。   In addition, in order to distribute an irradiation area | region as shown in FIG.4 (b), the spectroscopic element in which the blaze | braze type | mold diffraction pattern was formed can also be used. However, the spectroscopic element on which the blaze type diffraction pattern is formed is more expensive than the spectroscopic element 113 on which the two-step type diffraction pattern is formed as in this embodiment. In this embodiment, the cost for the optical pickup device 1 can be reduced by using the spectral element 113 on which an inexpensive two-step diffraction pattern is formed.

また、DVD光とCD光には、0次回折光を用いた従来の3ビーム方式(インライン方式)が適用されているため、BD光を受光するためのセンサBa1〜Ba4、Bs1〜Bs4と比べて、DVD光とCD光を受光するための4分割センサD1〜D3、C1〜C3をコンパクトにすることができる。これにより、光検出器116をコンパクトに構成することができる。   In addition, since the conventional three-beam method (in-line method) using 0th-order diffracted light is applied to DVD light and CD light, compared to sensors Ba1 to Ba4 and Bs1 to Bs4 for receiving BD light. The quadrant sensors D1 to D3 and C1 to C3 for receiving DVD light and CD light can be made compact. Thereby, the photodetector 116 can be configured compactly.

<変更例>
以上、本発明の実施の形態について説明したが、本発明は、上記実施の形態に何ら制限
されるものではなく、また、本発明の実施の形態も上記以外に種々の変更が可能である。
<Example of change>
Although the embodiments of the present invention have been described above, the present invention is not limited to the above-described embodiments, and various modifications other than those described above can be made to the embodiments of the present invention.

たとえば、上記実施の形態では、分光素子113がアナモレンズ115の前段に配置されたが、分光素子113をアナモレンズ115の後段に配置しても良く、あるいは、アナモレンズ115の入射面または出射面に、分光素子113と同様の回折作用をレーザ光に付与する回折パターンを一体的に配しても良い。なお、分光素子113がアナモレンズ115の後段に配置される場合、上記実施の形態のように、分光素子113とアナモレンズ115の配置順に応じて、各回折領域により付与されるベクトルを、図8(a)に示す原理上のベクトルから調整する必要はない。   For example, in the above embodiment, the spectroscopic element 113 is disposed at the front stage of the anamorphic lens 115, but the spectroscopic element 113 may be disposed at the rear stage of the anamorphic lens 115, or the spectroscopic element 113 may be disposed on the incident surface or the output surface of the anamorphic lens 115. A diffraction pattern that imparts the same diffraction action as that of the element 113 to the laser light may be integrally provided. In the case where the spectroscopic element 113 is arranged at the subsequent stage of the anamorphic lens 115, the vectors given by the respective diffraction regions are shown in FIG. 8A according to the arrangement order of the spectroscopic element 113 and the anamorphic lens 115 as in the above embodiment. It is not necessary to adjust from the theoretical vector shown in FIG.

なお、分光素子113は、アナモレンズ115の後段に配置するよりも前段に配置する方が望ましい。すなわち、分光素子113をアナモレンズ115の前段に配置すると、後段に配置する場合に比べて、分光素子113から光検出器116までの距離を長くすることができる。このため、分光素子113の回折角を大きく設定しなくても、図10に示すように、光検出器116上でBD光(信号光)の+1次回折光を、中心Oから離れた位置に照射させることができる。   Note that it is preferable that the spectroscopic element 113 is disposed in the preceding stage rather than in the subsequent stage of the anamorphic lens 115. That is, if the spectroscopic element 113 is disposed in the front stage of the anamorphic lens 115, the distance from the spectroscopic element 113 to the photodetector 116 can be increased as compared with the case where the spectroscopic element 113 is disposed in the subsequent stage. For this reason, even if the diffraction angle of the spectroscopic element 113 is not set large, as shown in FIG. 10, the + 1st-order diffracted light of the BD light (signal light) is irradiated to a position away from the center O as shown in FIG. Can be made.

また、上記実施の形態では、DOE114は、PBS104と光検出器116に隣り合わない位置に設置されたが、これに限らず、DOE114は、PBS104のZ軸正方向側にPBS104と隣り合うように設置されても良く、光検出器116のZ軸負方向側に光検出器116と隣り合うように設置されても良い。   Moreover, in the said embodiment, although DOE114 was installed in the position which is not adjacent to PBS104 and the photodetector 116, it is not restricted to this, DOE114 is adjacent to PBS104 on the Z-axis positive direction side of PBS104. It may be installed, or may be installed adjacent to the photodetector 116 on the negative Z-axis side of the photodetector 116.

また、上記実施の形態では、分光素子113の中央に回折領域H15が設けられたが、図12(a)のように、回折領域H15が省略されても良い。この場合、図10のセンサBa1〜Ba4の周りの迷光1、2において、迷光の欠け部分が無くなるため、センサBa1、Ba4の上端付近と、センサBa2、Ba3の下端付近と、センサBs1、Bs2の右端付近と、センサBs3、Bs4の左端付近には、BD光(迷光1、2)の+1次回折光が掛かり易くなる。しかしながら、BD光(信号光)の+1次回折光と、BD光(迷光1、2)の+1次回折光との照射領域がずれているため、センサBa1〜Ba4、Bs1〜Bs4の検出信号の精度が維持され得る。   Moreover, in the said embodiment, although the diffraction area H15 was provided in the center of the spectroscopic element 113, as shown to Fig.12 (a), the diffraction area H15 may be abbreviate | omitted. In this case, in the stray light 1 and 2 around the sensors Ba1 to Ba4 in FIG. 10, stray light lacking portions are eliminated. Near the right end and near the left ends of the sensors Bs3 and Bs4, the + 1st order diffracted light of the BD light (stray light 1 and 2) is likely to be applied. However, since the irradiation regions of the + 1st order diffracted light of the BD light (signal light) and the + 1st order diffracted light of the BD light (stray light 1 and 2) are shifted, the accuracy of the detection signals of the sensors Ba1 to Ba4 and Bs1 to Bs4 is improved. Can be maintained.

また、上記実施の形態では、回折領域H15の外側近傍に形成されている回折領域の境界は、平面方向と曲面方向に対して45度の角度をなす直線とされたが、これに限らず、たとえば平面方向と曲面方向に対して45度以外の角度をなす直線であっても良い。また、分光素子113の外側近傍に形成されている回折領域の境界は、左右方向の直線とされたが、これに限らず、たとえば平面方向と曲面方向に対して45度の角度をなす直線であっても良い。   Further, in the above embodiment, the boundary of the diffraction region formed near the outside of the diffraction region H15 is a straight line that forms an angle of 45 degrees with respect to the plane direction and the curved surface direction. For example, it may be a straight line having an angle other than 45 degrees with respect to the plane direction and the curved surface direction. The boundary of the diffraction region formed near the outside of the spectroscopic element 113 is a straight line in the left-right direction. However, the boundary is not limited to this, for example, a straight line that forms an angle of 45 degrees with respect to the plane direction and the curved surface direction. There may be.

また、上記実施の形態では、BD光の0次回折光が、DVD光のメインビームを受光するための4分割センサD1によって受光されたが、図12(b)に示すように、別途、BD光の0次回折光を受光するための4分割センサB1を配置しても良い。この場合も、BD光の0次回折光が、4分割センサB1に位置づけられるよう、DOE114の位置が調整される。ただし、図12(b)の構成では、別途、BD光の0次回折光を受光するための4分割センサB1が配置されるため、上記実施の形態に比べて、光検出器116のセンサレイアウトが大きくなり、また、センサの数が増加する。   In the above embodiment, the 0th-order diffracted light of the BD light is received by the four-divided sensor D1 for receiving the main beam of the DVD light. However, as shown in FIG. A quadrant sensor B1 for receiving 0th-order diffracted light may be arranged. Also in this case, the position of the DOE 114 is adjusted so that the 0th-order diffracted light of the BD light is positioned in the 4-split sensor B1. However, in the configuration of FIG. 12B, a quadrant sensor B1 for receiving the 0th-order diffracted light of the BD light is separately arranged, so that the sensor layout of the photodetector 116 is larger than that in the above embodiment. It becomes larger and the number of sensors increases.

なお、図12(b)の構成において、BD光の0次回折光がRF信号の生成のみに用いられる場合、BD光の0次回折光を受光するセンサは、必ずしも、4分割センサでなくてもよく、分割されていない単一の受光面を有するセンサでも良い。また、半導体レーザ101において、BD光の発光点とDVD光の発光点との間隔w1のバラつきが、DVD光
の発光点とCD光の発光点との間隔w2のバラつき程度に抑制される場合には、DOE114を省略し、BD光の0次回折光をそのまま4分割センサB1で受光しても良い。
In the configuration of FIG. 12B, when the 0th-order diffracted light of the BD light is used only for the generation of the RF signal, the sensor that receives the 0th-order diffracted light of the BD light does not necessarily have to be a quadrant sensor. Alternatively, a sensor having a single light receiving surface that is not divided may be used. Further, in the semiconductor laser 101, when the variation in the interval w1 between the light emission point of the BD light and the light emission point of the DVD light is suppressed to the extent of the variation in the distance w2 between the light emission point of the DVD light and the light emission point of the CD light. May omit the DOE 114 and receive the 0th-order diffracted light of the BD light as it is with the quadrant sensor B1.

また、上記実施の形態では、BD光の0次回折光を受光する4分割センサD1からの信号を用いてRF信号が生成されたが、BD光の+1次回折光を受光するセンサBa1〜Ba4、Bs1〜Bs4からの信号を用いてRF信号が生成されても良い。この場合、BD光の+1次回折光の回折効率を高めるため、分光素子113は、図7(c)の特性図において、ステップ高さが0.3をやや超える程度に設定されるのが望ましい。また、図12(a)のように分光素子113から回折領域H15を省略して、BD光の+1次回折光の信号光に欠けが生じないようにするのが望ましい。この構成では、センサBa1〜Ba4、Bs1〜Bs4からの信号を加算することにより、RF信号が生成される。   In the above-described embodiment, the RF signal is generated using the signal from the quadrant sensor D1 that receives the 0th-order diffracted light of the BD light. However, the sensors Ba1 to Ba4 and Bs1 that receive the + 1st-order diffracted light of the BD light. An RF signal may be generated using a signal from ~ Bs4. In this case, in order to increase the diffraction efficiency of the + 1st order diffracted light of the BD light, it is desirable that the spectroscopic element 113 is set to have a step height slightly exceeding 0.3 in the characteristic diagram of FIG. In addition, as shown in FIG. 12A, it is desirable to omit the diffraction region H15 from the spectroscopic element 113 so that the signal light of the + 1st order diffracted light of the BD light is not chipped. In this configuration, an RF signal is generated by adding signals from the sensors Ba1 to Ba4 and Bs1 to Bs4.

また、上記実施の形態では、図6(c)に示すように、発光部101a〜101cと基板101d、101eが配置されたが、Z軸方向における発光部101a〜101cと基板101d、101eの並び順は、これに限られない。   In the above embodiment, the light emitting units 101a to 101c and the substrates 101d and 101e are arranged as shown in FIG. 6C. However, the light emitting units 101a to 101c and the substrates 101d and 101e are arranged in the Z-axis direction. The order is not limited to this.

図13(a)は、図6(c)に示す半導体レーザ101の構成から、基板101eに設置された発光部101b、101cの位置が入れ替えられた状態を示す図である。この場合、光学系の光軸は、CD光の光軸に整合するよう調整される。また、光検出器116の受光面上のセンサレイアウトは、図13(b)に示すように設定される。すなわち、図9において、4分割センサD1〜D3と、4分割センサC1〜C3の位置が入れ替わったものとなる。   FIG. 13A is a diagram showing a state in which the positions of the light emitting units 101b and 101c installed on the substrate 101e are switched from the configuration of the semiconductor laser 101 shown in FIG. 6C. In this case, the optical axis of the optical system is adjusted to match the optical axis of the CD light. The sensor layout on the light receiving surface of the photodetector 116 is set as shown in FIG. That is, in FIG. 9, the positions of the four-divided sensors D1 to D3 and the four-divided sensors C1 to C3 are interchanged.

図13(c)は、図13(a)に示す半導体レーザ101の構成から、基板101d、101eの位置が入れ替えられた状態を示す図である。この場合、光学系の光軸は、DVD光の光軸に整合するよう調整される。また、光検出器116の受光面上のセンサレイアウトは、図13(d)に示すように設定される。すなわち、図9において、4分割センサD1〜D3の左側に配された4分割センサC1〜C3が、4分割センサD1〜D3の右側に配されたものとなる。   FIG. 13C is a diagram showing a state in which the positions of the substrates 101d and 101e are changed from the configuration of the semiconductor laser 101 shown in FIG. In this case, the optical axis of the optical system is adjusted to match the optical axis of the DVD light. The sensor layout on the light receiving surface of the photodetector 116 is set as shown in FIG. That is, in FIG. 9, the four-divided sensors C1 to C3 arranged on the left side of the four-divided sensors D1 to D3 are arranged on the right side of the four-divided sensors D1 to D3.

また、図4(a)では、ベクトルV1、V4をそれぞれベクトルV2、V3よりも大きくしたが、ベクトルV1〜V4の大きさはこれに限らず、たとえば、図14(a)のように、ベクトルV01〜V04の大きさを同じにしても良い。こうすると、信号光と迷光は、図14(b)のように分布し、信号光に迷光が重ならないようにすることができる。この場合、分光素子113は、図15(a)に示すように、ベクトルV11〜V14の大きさが等しくなるよう修正され、光検出器116のセンサレイアウトは、図15(b)のように修正される。また、ベクトルV1、V4がそれぞれベクトルV2、V3よりも小さくなるよう、分光素子113が構成されても良い。   In FIG. 4A, the vectors V1 and V4 are larger than the vectors V2 and V3, respectively. However, the sizes of the vectors V1 to V4 are not limited to this, and for example, as shown in FIG. You may make the magnitude | size of V01-V04 the same. Thus, the signal light and the stray light are distributed as shown in FIG. 14B, and the stray light can be prevented from overlapping the signal light. In this case, the spectroscopic element 113 is corrected so that the magnitudes of the vectors V11 to V14 are equal as shown in FIG. 15A, and the sensor layout of the photodetector 116 is corrected as shown in FIG. 15B. Is done. Further, the spectroscopic element 113 may be configured such that the vectors V1 and V4 are smaller than the vectors V2 and V3, respectively.

また、上記実施の形態では、BD光がDOE114により曲げられ、DVD光とCD光がDOE114を直進するよう、DOE114が設定されたが、これに限らず、DVD光とCD光がDOE114により曲げられ、BD光がDOE114を直進するよう、DOE114が設定されても良い。この場合も、光検出器116の受光面上に図9に示すようなセンサレイアウトが設定され、4分割センサD1により、DVD光のメインビームとBD光の0次回折光が受光される。または、このようにDVD光とCD光が曲げられる場合も、図12(b)の場合と同様、各光を異なるセンサで受光するようにしても良い。   In the above embodiment, the DOE 114 is set so that the BD light is bent by the DOE 114 and the DVD light and the CD light travel straight through the DOE 114. However, the present invention is not limited to this, and the DVD light and the CD light are bent by the DOE 114. The DOE 114 may be set so that the BD light travels straight through the DOE 114. Also in this case, a sensor layout as shown in FIG. 9 is set on the light receiving surface of the photodetector 116, and the main beam of the DVD light and the 0th-order diffracted light of the BD light are received by the quadrant sensor D1. Alternatively, when the DVD light and the CD light are bent as described above, each light may be received by different sensors as in the case of FIG.

この他、本発明の実施の形態は、特許請求の範囲に示された技術的思想の範囲内において、適宜、種々の変更が可能である。   In addition, the embodiment of the present invention can be variously modified as appropriate within the scope of the technical idea shown in the claims.

1 … 光ピックアップ装置
101 … 半導体レーザ(レーザ光源)
101a … 発光部(第1のレーザ発光部)
101b … 発光部(第2のレーザ発光部)
101c … 発光部(第3のレーザ発光部)
101d … 基板(第1の基板)
101e … 基板(第2の基板)
111、112 … 対物レンズ(光学系)
113 … 分光素子
114 … DOE(光軸調整素子)
115 … アナモレンズ(非点収差素子)
116 … 光検出器
H13、H14 … 回折領域(第1の領域)
H11、H12 … 回折領域(第2の領域)
Bs1〜Bs4 … センサ(第1のセンサ部)
Ba1〜Ba4 … センサ(第2のセンサ部)
D1〜D3 … 4分割センサ(第3のセンサ部)
C1〜C3 … 4分割センサ(第4のセンサ部)
G2 … 設置部(調整部)
L2 … ホルダ(調整部)
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Optical pick-up apparatus 101 ... Semiconductor laser (laser light source)
101a ... Light emitting part (first laser light emitting part)
101b... Light emitting part (second laser light emitting part)
101c ... Light emitting part (third laser light emitting part)
101d ... Substrate (first substrate)
101e ... Substrate (second substrate)
111, 112 ... Objective lens (optical system)
113 ... Spectroscopic element 114 ... DOE (optical axis adjusting element)
115 ... Anamo lens (astigmatism element)
116: photodetectors H13, H14: diffraction region (first region)
H11, H12 ... Diffraction region (second region)
Bs1 to Bs4 ... Sensor (first sensor unit)
Ba1 to Ba4 ... Sensor (second sensor unit)
D1 to D3: 4-part sensor (third sensor unit)
C1 to C3: 4-part sensor (fourth sensor unit)
G2 ... Installation part (adjustment part)
L2 ... Holder (adjustment part)

Claims (6)

第1、第2および第3のレーザ発光部が同一パッケージに配置されたレーザ光源と、
前記第1、第2および第3のレーザ発光部からそれぞれ出射された第1、第2および第3のレーザ光をそれぞれ第1、第2および第3のディスク上に収束させるとともに、前記第1、第2および第3のディスクによってそれぞれ反射された前記第1、第2および第3のレーザ光を光検出器に導く光学系と、
前記光学系に配置され、前記第1、第2および第3のディスクによってそれぞれ反射された前記第1、第2および第3のレーザ光が入射されるとともに、第1の方向における前記第1、第2および第3のレーザ光の収束により第1の焦線を生成し、且つ、前記第1の方向に垂直な第2の方向における前記第1、第2および第3のレーザ光の収束により第2の焦線を生成する非点収差素子と、
前記光学系に配置され、前記第1のディスクによって反射された前記第1のレーザ光が入射されるとともに、回折作用によって、2つの第1の領域および2つの第2の領域に入射した前記第1のレーザ光を、それぞれ、前記光検出器の受光面上において、異なる4つの位置に導く分光素子と、を備え、
前記分光素子は、前記2つの第1の領域にそれぞれ入射する前記第1のレーザ光に、同じ方向の分光作用を付与し、前記2つの第2の領域にそれぞれ入射する前記第1のレーザ光に、前記第1の領域によって付与される分光作用の方向に垂直な方向の分光作用を付与し、
前記2つの第1の領域は、前記第1の方向と前記第2の方向にそれぞれ平行で且つ互いにクロスする2つの直線の交点を前記第1のレーザ光の光軸に整合させたとき、前記2つの直線によって作られる一組の対頂角が並ぶ第3の方向に配置され、前記2つの第2の領域は、他の一組の対頂角が並ぶ第4の方向に配置され、
前記第1のディスク上に配されたトラックの前記分光素子上の方向は、前記光検出器の受光面上において前記第3の方向に平行であり、
前記光検出器は、前記2つの第1の領域に入射した前記第1のレーザ光が導かれる位置に配置された第1のセンサ部と、前記2つの第2の領域に入射した前記第1のレーザ光が導かれる位置に配置された第2のセンサ部と、前記第2および第3のレーザ光がそれぞれ導かれる位置に配置された第3および第4のセンサ部と、を有する、
ことを特徴とする光ピックアップ装置。
A laser light source in which the first, second and third laser light emitting units are arranged in the same package;
The first, second, and third laser beams respectively emitted from the first, second, and third laser light emitting units are converged on the first, second, and third disks, respectively, and the first An optical system for guiding the first, second, and third laser beams reflected by the second and third disks, respectively, to a photodetector;
The first, second, and third laser beams disposed in the optical system and reflected by the first, second, and third disks, respectively, are incident, and the first, A first focal line is generated by the convergence of the second and third laser beams, and the first, second, and third laser beams are converged in a second direction perpendicular to the first direction. An astigmatism element for generating a second focal line;
The first laser beam disposed in the optical system and reflected by the first disk is incident, and the first laser beam incident on two first regions and two second regions by diffraction action Each having a spectral element that guides one laser beam to four different positions on the light receiving surface of the photodetector,
The spectroscopic element imparts a spectral action in the same direction to the first laser beams respectively incident on the two first regions, and the first laser beams incident on the two second regions, respectively. A spectral action in a direction perpendicular to the direction of the spectral action provided by the first region,
When the two first regions are aligned with an optical axis of the first laser beam when an intersection of two straight lines that are parallel to and cross each other in the first direction and the second direction, respectively, A set of vertical angles formed by two straight lines are arranged in a third direction, and the two second regions are arranged in a fourth direction where the other set of vertical angles are arranged,
The direction of the track arranged on the first disk on the spectroscopic element is parallel to the third direction on the light receiving surface of the photodetector,
The photodetector includes a first sensor unit disposed at a position to which the first laser light incident on the two first regions is guided, and the first sensor incident on the two second regions. A second sensor unit disposed at a position where the laser beam is guided, and a third sensor unit and a fourth sensor unit disposed at positions where the second and third laser beams are respectively guided.
An optical pickup device characterized by that.
請求項1に記載の光ピックアップ装置において、
前記分光素子は、前記2つの第1の領域にそれぞれ入射する前記第1のレーザ光に、同じ方向且つ互いに異なる大きさの分光作用を付与し、前記2つの第2の領域にそれぞれ入射する前記第1のレーザ光に、前記第1の領域によって付与される分光作用の方向に垂直な方向で且つ互いに異なる大きさの分光作用を付与する、
ことを特徴とする光ピックアップ装置。
The optical pickup device according to claim 1,
The spectroscopic element imparts spectroscopic effects in the same direction and different sizes to the first laser beams respectively incident on the two first regions, and is incident on the two second regions, respectively. Providing the first laser beam with a spectral action having a magnitude different from each other in a direction perpendicular to the direction of the spectral action provided by the first region;
An optical pickup device characterized by that.
請求項1または2に記載の光ピックアップ装置において、
前記第1のレーザ発光部は、前記パッケージに設置された第1の基板に形成され、前記第2および第3のレーザ発光部は、前記パッケージに設置された第2の基板に形成されている、
ことを特徴とする光ピックアップ装置。
The optical pickup device according to claim 1 or 2,
The first laser emitting unit is formed on a first substrate installed in the package, and the second and third laser emitting units are formed on a second substrate installed in the package. ,
An optical pickup device characterized by that.
請求項3に記載の光ピックアップ装置において、
前記第1の基板に形成された前記第1のレーザ発光部から出射されたレーザ光または前記第2の基板に形成された前記第2および第3のレーザ発光部から出射されたレーザ光の進行方向を変化させて、前記各レーザ光を、前記第1ないし第4のセンサ部のうち対応するセンサ部に導くための光軸調整素子をさらに備える、
ことを特徴とする光ピックアップ装置。
The optical pickup device according to claim 3,
Progress of laser light emitted from the first laser light emitting unit formed on the first substrate or laser light emitted from the second and third laser light emitting units formed on the second substrate. It further includes an optical axis adjusting element for changing the direction and guiding each of the laser beams to the corresponding sensor unit among the first to fourth sensor units.
An optical pickup device characterized by that.
請求項4に記載の光ピックアップ装置において、
前記光軸調整素子は、前記分光素子によって回折されずに前記分光素子を通り抜けた前記第1のレーザ光が、前記第3のセンサ部に照射されるよう配置される、
ことを特徴とする光ピックアップ装置。
The optical pickup device according to claim 4,
The optical axis adjusting element is arranged so that the first sensor light that has passed through the spectroscopic element without being diffracted by the spectroscopic element is irradiated to the third sensor unit.
An optical pickup device characterized by that.
請求項4または5に記載の光ピックアップ装置において、
前記光学系を収容するハウジングに対する前記光軸調整素子の位置を調整するための調整部をさらに備える、
ことを特徴とする光ピックアップ装置。
The optical pickup device according to claim 4 or 5,
An adjustment unit for adjusting the position of the optical axis adjustment element with respect to the housing that houses the optical system;
An optical pickup device characterized by that.
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