JP2013138280A - 放射線画像撮影装置および放射線画像撮影システム - Google Patents

Abstract

【課題】装置に既設の機能部を用いて、装置自体で的確に放射線の照射開始を検出することが可能な放射線画像撮影装置を提供する。
【解決手段】放射線画像撮影装置１の制御手段２２は、放射線画像撮影前に、走査駆動手段１５のゲートドライバー５ｂに接続されている全ての走査線５のうち予め指定された単数または複数の走査線５ｄに対してゲートドライバー１５ｂからオン電圧を印加させて照射開始検出用データｄを読み出す読み出し処理と、ゲートドライバー１５ｂから予め指定された複数の走査線５ｄ以外の単数または複数の走査線５にオン電圧を順次印加して行う各放射線検出素子７のリセット処理とを繰り返し行わせ、読み出した照射開始検出データｄに基づいて放射線の照射が開始されたことを検出する。
【選択図】図３

Description

本発明は、放射線画像撮影装置および放射線画像撮影システムに係り、特に、装置自体で放射線の照射開始を検出して放射線画像撮影を行う放射線画像撮影装置およびそれを用いた放射線画像撮影システムに関する。

照射されたＸ線等の放射線の線量に応じて検出素子で電荷を発生させて電気信号に変換するいわゆる直接型の放射線画像撮影装置や、照射された放射線をシンチレーター等で可視光等の他の波長の電磁波に変換した後、変換され照射された電磁波のエネルギーに応じてフォトダイオード等の光電変換素子で電荷を発生させて電気信号（すなわち画像データ）に変換するいわゆる間接型の放射線画像撮影装置が種々開発されている。なお、本発明では、直接型の放射線画像撮影装置における検出素子や、間接型の放射線画像撮影装置における光電変換素子を、あわせて放射線検出素子という。

このタイプの放射線画像撮影装置はＦＰＤ（Flat Panel Detector）として知られており、従来は支持台（或いはブッキー装置）と一体的に形成されていたが（例えば特許文献１参照）、近年、放射線検出素子等をハウジングに収納し、持ち運び可能とした可搬型の放射線画像撮影装置が開発され、実用化されている（例えば特許文献２、３参照）。

このような放射線画像撮影装置では、例えば後述する図７等に示すように、通常、複数の放射線検出素子７が、検出部Ｐ上に二次元状（マトリクス状）に配列され、各放射線検出素子７にそれぞれ薄膜トランジスター（Thin Film Transistor。以下、ＴＦＴという。）８で形成されたスイッチ手段が接続されて構成される。そして、走査駆動手段１５のゲートドライバー１５ｂから各走査線５にオン電圧やオフ電圧が印加され、各ＴＦＴ８のオン／オフ動作が行われて、各放射線検出素子７内への電荷の蓄積や、各放射線検出素子７から各信号線６への電荷の放出等が行われる。

従来の放射線画像撮影では、放射線画像撮影装置と放射線発生装置との間で信号や情報等のやり取りを行いながら、すなわち両者が連携して放射線画像撮影を行うように構成されていた。しかし、放射線画像撮影装置と放射線発生装置との製造元が異なっているような場合には、上記のように両者の間で信号等のやり取りを的確に行うことができない場合もある。

そして、そのような場合には、放射線画像撮影装置自体で放射線が照射されたことを検出して、各放射線検出素子７内に、放射線の照射により各放射線検出素子７内で発生した電荷を的確に蓄積させるとともに、放射線の照射後は、それらの電荷を画像データＤとして読み出すように構成することが必要となる。

放射線画像撮影装置自体で放射線の照射を検出する方法としては、例えば特許文献３に記載されているように放射線画像撮影装置にＸ線センサーを設けて、その出力値によって放射線が照射されたか否かを判定するように構成したり、或いは、例えば特許文献４に記載されているように、放射線画像撮影装置に放射線が照射されると装置内の配線（例えば後述するバイアス線９や結線１０等）中を流れる電流が増加することを利用して、放射線画像撮影装置内に電流検出手段を設けて、電流検出手段からの出力を監視することによって放射線画像撮影装置自体で放射線の照射を検出するように構成することが可能である。

特開平９−７３１４４号公報 特開２００６−０５８１２４号公報 特開平６−３４２０９９号公報 特開２００９−２１９５３８号公報

しかしながら、上記のように、放射線画像撮影装置にＸ線センサーや電流検出手段を新たに設けるように構成した場合、例えば、放射線画像撮影装置内にＸ線センサーを配置するためのスペースを新たに設ける必要が生じたり、或いは、電流検出手段で生じたノイズのために、読み出された画像データＤのＳ／Ｎ比が悪化する等の、必ずしも解決が容易でない新たな問題が生じる。

そこで、放射線画像撮影装置を、このようなＸ線センサーや電流検出手段によらず、例えば放射線画像撮影装置内に設けられている既設の機能部を用いて装置自体で放射線の照射開始を的確に検出することができるように構成することが望まれている。

本発明は、上記の問題点を鑑みてなされたものであり、装置に既設の機能部を用いて、装置自体で的確に放射線の照射開始を検出することが可能な放射線画像撮影装置を提供することを目的とする。

また、本発明者らが開発した新たな放射線の照射開始の検出方法では、各放射線検出素子７から読み出される画像データＤ中に、放射線画像を生成するために用いることができない画像データＤが線状に生じてしまう。すなわち線欠陥が必然的に発生する。そのため、それを的確に画像補正して、放射線画像を的確に生成することが求められる。

そこで、本発明は、上記の放射線画像撮影装置を用いた放射線画像撮影システムにおいて、上記の検出方法を採用した場合に生じる画像データＤ中の線欠陥を的確に画像補正することが可能な放射線画像撮影システムを提供することをも目的とする。

前記の問題を解決するために、本発明の放射線画像撮影装置は、
互いに交差するように配設された複数の走査線および複数の信号線と、前記複数の走査線および複数の信号線により区画された各小領域に二次元状に配列された複数の放射線検出素子とを備える検出部と、
前記各走査線にオン電圧とオフ電圧とをそれぞれ切り替えて印加するゲートドライバーを備える走査駆動手段と、
前記各走査線に接続され、オン電圧が印加されると前記放射線検出素子に蓄積された電荷を前記信号線に放出させるスイッチ手段と、
前記放射線検出素子から放出された前記電荷を画像データに変換して読み出す読み出し回路と、
少なくとも前記走査駆動手段および前記読み出し回路を制御して前記放射線検出素子からの前記画像データの読み出し処理を行わせる制御手段と、
を備え、
前記制御手段は、
放射線画像撮影前に、前記走査駆動手段の前記ゲートドライバーに接続されている全ての前記走査線のうち予め指定された単数または複数の前記走査線に対して前記ゲートドライバーからオン電圧を印加させて照射開始検出用データを読み出す読み出し処理と、前記ゲートドライバーから前記予め指定された複数の走査線以外の単数または複数の前記走査線にオン電圧を順次印加して行う前記各放射線検出素子のリセット処理とを繰り返し行わせ、
読み出した前記照射開始検出データに基づいて放射線の照射が開始されたことを検出することを特徴とする。

また、本発明の放射線画像撮影システムは、
通信手段を備える上記の放射線画像撮影装置と、
前記通信手段を介して前記放射線画像撮影装置から送信されてきた前記画像データに基づいて放射線画像を生成する画像処理装置と、
を備え、
前記画像処理装置は、前記放射線画像撮影装置において前記予め指定された複数の走査線に接続されている前記各放射線検出素子から読み出された前記画像データを、前記検出部上で当該複数の走査線にそれぞれ隣接する前記走査線に接続されている前記各放射線検出素子から読み出された前記画像データを用いて画像補正することを特徴とする。

本発明のような方式の放射線画像撮影装置および放射線画像撮影システムによれば、放射線画像撮影装置に既に設けられている走査駆動手段や読み出し回路等の各機能部を用い、放射線画像撮影前に読み出された照射開始検出用データに基づいて、放射線画像撮影装置自体で放射線の照射開始を的確に検出することが可能となる。

そのため、前述したように、放射線画像撮影装置にＸ線センサーや電流検出手段を新たに設けなくてもよくなり、例えば、放射線画像撮影装置内にＸ線センサーを配置するためのスペースを新たに設けたり、或いは、電流検出手段で生じたノイズのために画像データＤのＳ／Ｎ比が悪化する等の問題が生じることを的確に防止することが可能となる。

また、上記の検出方法を採用した場合に生じる画像データＤ中の線欠陥を的確に画像補正することが可能となる。

本実施形態に係る放射線画像撮影装置の断面図である。 放射線画像撮影装置の基板の構成を示す平面図である。 放射線画像撮影装置の等価回路を表すブロック図である。 検出部を構成する１画素分についての等価回路を表すブロック図である。 画像データの読み出し処理における電荷リセット用スイッチ、パルス信号、ＴＦＴのオン／オフのタイミングを表すタイミングチャートである。 撮影室等に構築された本実施形態に係る放射線画像撮影システムの構成例を示す図である。 回診車上に構築された本実施形態に係る放射線画像撮影システムの構成例を示す図である。 検出ラインに接続されている各放射線検出素子から照射開始検出用データが読み出される状態を説明する図である。 読み出される照射開始検出用データを時系列的にプロットしたグラフである。 本実施形態において照射開始検出用データの読み出し処理と各放射線検出素子のリセット処理とを交互に行わせる場合に各走査線にオン電圧を印加するタイミング等を表すタイミングチャートである。 図１０とは別の構成例において各走査線にオン電圧を印加するタイミング等を表すタイミングチャートである。 図１０や図１１の後、電荷蓄積状態に移行して画像データの読み出し処理を行うまでに各走査線にオン電圧を印加するタイミング等を表すタイミングチャートである。 画像データ中に１本の線状に現れる第１の線欠陥を表す図である。 放射線源から照射される放射線の線量率の時間的推移を表すグラフであり、（Ａ）線量率が照射開始直後に瞬時に立ち上がる場合を表し、（Ｂ）線量率が時間に比例して増加した後一定になる場合を表す。 画像データ中に線欠陥が連続して現れ得る第２の線欠陥を表す図である。 真の各画像データの例を表す図および走査線ごとの平均値のプロファイルの例を表すグラフである。 欠損が生じていない大きな値の真の画像データの影響で欠損を生じている真の画像データの範囲が分かりづらくなった走査線ごとの平均値のプロファイルの例を表すグラフである。 （Ａ）被写体領域認識処理で抽出される真の画像データの例を表す図であり、（Ｂ）抽出された真の画像データの分布の例を表すグラフであり、（Ｃ）決定された被写体が撮影されている領域の例を表す図である。 欠損を生じている真の画像データの範囲を特定する方法の一例を説明するグラフである。 欠損を生じている真の画像データの範囲の中で平均値の差分の絶対値が閾値未満になることがあり得ることを説明するグラフである。 欠損を生じている真の画像データの範囲として特定した平均値以外の各平均値を近似した直線の例を表すグラフである。 （Ａ）正規化される前の真の各画像データの平均値のプロファイルの例、および（Ｂ）正規化された後の真の各画像データの平均値のプロファイルの例を表すグラフである。 図２２（Ｂ）のうち線欠陥が現れている可能性がある走査線を以外の除く検出ライン前後の各走査線における各平均値を近似する直線等を表すグラフである。 図２３の直線に対する実際の平均値の各走査線５ごとの低下率を表すグラフである。 検出ラインを含む走査線の所定本数を替えた場合の各近似直線を表すグラフである。 図２５の各近似直線の中から抽出された近似直線の例を表すグラフである。 修復される前と修復された後の真の画像データの走査線ごとの平均値をそれぞれ表すグラフである。

以下、本発明に係る放射線画像撮影装置および放射線画像撮影システムの実施の形態について、図面を参照して説明する。

なお、以下では、放射線画像撮影装置として、シンチレーター等を備え、放射された放射線を可視光等の他の波長の電磁波に変換して電気信号を得るいわゆる間接型の放射線画像撮影装置について説明するが、本発明は、シンチレーター等を介さずに放射線を放射線検出素子で直接検出する、いわゆる直接型の放射線画像撮影装置に対しても適用することができる。

また、放射線画像撮影装置がいわゆる可搬型である場合について説明するが、支持台等と一体的に形成された、いわゆる専用機型の放射線画像撮影装置に対しても、本発明を適用することが可能である。

［放射線画像撮影装置］
まず、本実施形態に係る放射線画像撮影装置について説明する。図１は、本実施形態に係る放射線画像撮影装置の断面図であり、図２は、放射線画像撮影装置の基板の構成を示す平面図である。

放射線画像撮影装置１は、図１に示すように、放射線が照射される側の面である放射線入射面Ｒを有するカーボン板等で形成された筐体２内に、シンチレーター３や基板４等で構成されるセンサーパネルＳＰが収納されて構成されている。また、図１では図示を省略するが、本実施形態では、筐体２には、画像データＤ等を無線方式で後述するコンソール５８（図６や図７参照）に送信する通信手段であるアンテナ装置４１（後述する図３参照）が設けられている。

また、図１では図示を省略するが、本実施形態では、放射線画像撮影装置１は、筐体２の側面等にコネクターを備えており、コネクターを介して有線方式で信号やデータ等をコンソール５８等に送信することができるようになっている。そのため、このコネクターも放射線画像撮影装置１の通信手段として機能するようになっている。

図１に示すように、筐体２内には、基台３１が配置されており、基台３１の放射線入射面Ｒ側（以下、簡単に上面側という。）に図示しない鉛の薄板等を介して基板４が設けられている。そして、基板４の上面側には、照射された放射線を可視光等の光に変換するシンチレーター３がシンチレーター基板３４上に設けられ、シンチレーター３が基板４側に対向する状態で設けられている。

また、基台３１の下面側には、電子部品３２等が配設されたＰＣＢ基板３３やバッテリー２４等が取り付けられている。このようにして、基台３１や基板４等でセンサーパネルＳＰが形成されている。また、本実施形態では、センサーパネルＳＰと筐体２の側面との間に緩衝材３５が設けられている。

本実施形態では、基板４はガラス基板で構成されており、図２に示すように、基板４の上面（すなわちシンチレーター３に対向する面）４ａ上には、複数の走査線５と複数の信号線６とが互いに交差するように配設されている。また、基板４の面４ａ上の複数の走査線５と複数の信号線６により区画された各小領域ｒには、放射線検出素子７がそれぞれ設けられている。

このように、走査線５と信号線６で区画された各小領域ｒに二次元状（マトリクス状）に配列された複数の放射線検出素子７が設けられた小領域ｒの全体、すなわち図２に一点鎖線で示される領域が検出部Ｐとされている。本実施形態では、放射線検出素子７はフォトダイオードが用いられているが、例えばフォトトランジスター等を用いることも可能である。

ここで、放射線画像撮影装置１の回路構成について説明する。図３は本実施形態に係る放射線画像撮影装置１の等価回路を表すブロック図であり、図４は検出部Ｐを構成する１画素分についての等価回路を表すブロック図である。

各放射線検出素子７の第１電極７ａには、スイッチ手段であるＴＦＴ８のソース電極８ｓ（図３や図４の「Ｓ」参照）が接続されている。また、ＴＦＴ８のドレイン電極８ｄおよびゲート電極８ｇ（図３や図４の「Ｄ」および「Ｇ」参照）は信号線６および走査線５にそれぞれ接続されている。

そして、ＴＦＴ８は、後述する走査駆動手段１５から走査線５を介してゲート電極８ｇにオン電圧が印加されるとオン状態となり、ソース電極８ｓやドレイン電極８ｄを介して放射線検出素子７内に蓄積されている電荷を信号線６に放出させる。また、走査線５を介してゲート電極８ｇにオフ電圧が印加されるとオフ状態となり、放射線検出素子７から信号線６への電荷の放出を停止して、放射線検出素子７内に電荷を蓄積させるようになっている。

また、本実施形態では、図２や図３に示すように、基板４上で１列の各放射線検出素子７ごとに１本の割合で各放射線検出素子７の第２電極７ｂにそれぞれバイアス線９が接続されており、各バイアス線９は基板４の検出部Ｐの外側の位置で結線１０に結束されている。そして、結線１０は入出力端子１１（パッドともいう。図２参照）を介してバイアス電源１４（図３や図４参照）に接続されており、バイアス電源１４から結線１０や各バイアス線９を介して各放射線検出素子７の第２電極７ｂに逆バイアス電圧が印加されるようになっている。

一方、各走査線５は、それぞれ入出力端子１１を介して走査駆動手段１５のゲートドライバー１５ｂにそれぞれ接続されている。走査駆動手段１５では、配線１５ｃを介して電源回路１５ａからゲートドライバー１５ｂにオン電圧とオフ電圧が供給されるようになっており、ゲートドライバー１５ｂで走査線５の各ラインＬ１〜Ｌｘに印加する電圧をオン電圧とオフ電圧との間でそれぞれ切り替えるようになっている。

また、各信号線６は、各入出力端子１１を介して読み出しＩＣ１６内に内蔵された各読み出し回路１７にそれぞれ接続されている。本実施形態では、読み出し回路１７は、主に増幅回路１８と相関二重サンプリング回路１９等で構成されている。読み出しＩＣ１６内には、さらに、アナログマルチプレクサー２１と、Ａ／Ｄ変換器２０とが設けられている。なお、図３や図４では、相関二重サンプリング回路１９はＣＤＳと表記されている。

本実施形態では、増幅回路１８は、オペアンプ１８ａと、オペアンプ１８ａにそれぞれ並列にコンデンサー１８ｂおよび電荷リセット用スイッチ１８ｃが接続され、オペアンプ１８ａ等に電力を供給する電源供給部１８ｄを備えたチャージアンプ回路で構成されている。そして、増幅回路１８のオペアンプ１８ａの入力側の反転入力端子には信号線６が接続されており、増幅回路１８の入力側の非反転入力端子には基準電位Ｖ_０が印加されるようになっている。

また、増幅回路１８の電荷リセット用スイッチ１８ｃは、制御手段２２に接続されており、制御手段２２によりオン／オフが制御されるようになっている。また、オペアンプ１８ａと相関二重サンプリング回路１９との間には、電荷リセット用スイッチ１８ｃと連動して開閉するスイッチ１８ｅが設けられており、スイッチ１８ｅは、電荷リセット用スイッチ１８ｃがオン／オフ動作と連動してオフ／オン動作するようになっている。

各放射線検出素子７からの画像データＤの読み出し処理の際には、図５に示すように、増幅回路１８の電荷リセット用スイッチ１８ｃがオフ状態とされた状態で、各放射線検出素子７のＴＦＴ８にオン電圧が印加されてオン状態とされると、各放射線検出素子７内から信号線６に電荷がそれぞれ放出されて、各読み出し回路１７の増幅回路１８のコンデンサー１８ｂに流れ込んで蓄積される。そして、増幅回路１８では、コンデンサー１８ｂに蓄積された電荷量に応じた電圧値がオペアンプ１８ａの出力側から出力されるようになっている。

相関二重サンプリング回路１９は、各放射線検出素子７から電荷が流れ込む前後の増幅回路１８からの出力値の増加分をアナログ値の画像データＤとして下流側に出力する。そして、出力された各画像データＤがアナログマルチプレクサー２１を介してＡ／Ｄ変換器２０に順次送信され、Ａ／Ｄ変換器２０でデジタル値の画像データＤに順次変換されて記憶手段２３に出力されて順次保存される。このようにして画像データＤの読み出し処理が行われるようになっている。

制御手段２２は、図示しないＣＰＵ（Central Processing Unit）やＲＯＭ（Read Only Memory）、ＲＡＭ（Random Access Memory）、入出力インターフェース等がバスに接続されたコンピューターや、ＦＰＧＡ（Field Programmable Gate Array）等により構成されている。専用の制御回路で構成されていてもよい。

そして、制御手段２２は、走査駆動手段１５や読み出し回路１７を制御して上記のように画像データＤの読み出し処理を行わせるなど、放射線画像撮影装置１の各機能部の動作等を制御するようになっている。また、図３や図４に示すように、制御手段２２には、ＳＲＡＭ（Static ＲＡＭ）やＳＤＲＡＭ（Synchronous ＤＲＡＭ）等で構成される記憶手段２３が接続されている。

また、本実施形態では、制御手段２２には、前述したアンテナ装置４１が接続されており、さらに、走査駆動手段１５や読み出し回路１７、記憶手段２３、バイアス電源１４等の各機能部に必要な電力を供給するバッテリー２４が接続されている。

なお、放射線画像撮影装置１における放射線の照射開始の検出処理のための構成や制御等については、本実施形態に係る放射線画像撮影システム５０について説明した後で説明する。

［放射線画像撮影システム］
次に、本実施形態に係る放射線画像撮影システム５０について説明する。図６は、本実施形態に係る放射線画像撮影システム５０の構成例を示す図である。図６では、放射線画像撮影システム５０が撮影室Ｒ１内等に構築されている場合が示されている。

撮影室Ｒ１には、ブッキー装置５１が設置されており、ブッキー装置５１は、そのカセッテ保持部（カセッテホルダーともいう。）５１ａに上記の放射線画像撮影装置１を装填して用いることができるようになっている。なお、図６では、ブッキー装置５１として、立位撮影用のブッキー装置５１Ａと臥位撮影用のブッキー装置５１Ｂが設置されている場合が示されているが、例えば一方のブッキー装置５１のみが設けられていてもよい。

図６に示すように、撮影室Ｒ１には、被写体を介してブッキー装置５１に装填された放射線画像撮影装置１に放射線を照射する放射線源５２Ａが少なくとも１つ設けられている。本実施形態では、放射線源５２Ａの位置を移動させたり、放射線の照射方向を変えることで、立位撮影用のブッキー装置５１Ａと臥位撮影用のブッキー装置５１Ｂのいずれにも放射線を照射することができるようになっている。

撮影室Ｒ１には、撮影室Ｒ１内の各装置等や撮影室Ｒ１外の各装置等の間の通信等を中継するための中継器（基地局等ともいう。）５４が設けられている。なお、本実施形態では、中継器５４には、放射線画像撮影装置１が無線方式で画像データＤや信号等の送受信を行うことができるように、無線アンテナ（アクセスポイントともいう。）５３が設けられている。

また、中継器５４は、放射線発生装置５５やコンソール５８と接続されており、中継器５４には、放射線画像撮影装置１やコンソール５８等から放射線発生装置５５に送信するＬＡＮ（Local Area Network）通信用の信号等を放射線発生装置５５用の信号等に変換し、また、その逆の変換も行う図示しない変換器が内蔵されている。

前室（操作室等ともいう。）Ｒ２には、本実施形態では、放射線発生装置５５の操作卓５７が設けられており、操作卓５７には、放射線技師等の操作者が操作して放射線発生装置５５に対して放射線の照射開始等を指示するための曝射スイッチ５６が設けられている。放射線発生装置５５は、操作者により曝射スイッチ５６が操作されると、放射線源５２から放射線を照射させるようになっている。また、適切な線量の放射線が照射されるように放射線源５２を調整する等の種々の制御を行うようになっている。

図６に示すように、本実施形態では、コンピューター等で構成されたコンソール５８が前室Ｒ２に設けられている。なお、コンソール５８を撮影室Ｒ１や前室Ｒ２の外側や別室等に設けるように構成することも可能であり、適宜の場所に設置される。

また、コンソール５８には、ＣＲＴ（Cathode Ray Tube）やＬＣＤ（Liquid Crystal Display）等を備えて構成される表示部５８ａが設けられており、また、図示しないマウスやキーボード等の入力手段を備えている。また、コンソール５８には、ＨＤＤ（Hard Disk Drive）等で構成された記憶手段５９が接続され、或いは内蔵されている。

一方、放射線画像撮影装置１は、図７に示すように、ブッキー装置５１には装填されずに、いわば単独の状態で用いることもできるようになっている。例えば、患者Ｈが病室Ｒ３のベッドＢから起き上がれず、撮影室Ｒ１に行くことができないような場合には、図７に示すように、放射線画像撮影装置１を病室Ｒ３内に持ち込み、ベッドＢと患者の身体との間に差し込んだり患者の身体にあてがったりして用いることができる。

また、放射線画像撮影装置１を病室Ｒ３等で用いる場合、前述した撮影室Ｒ１に据え付けられた放射線発生装置５５に代えて、図７に示すように、いわゆるポータブルの放射線発生装置５５が例えば回診車７１に搭載される等して病室Ｒ３に持ち込まれる。この場合、ポータブルの放射線発生装置５５の放射線５２Ｐは、任意の方向に放射線を照射できるように構成されており、ベッドＢと患者の身体との間に差し込まれたり患者の身体にあてがわれたりした放射線画像撮影装置１に対して、適切な距離や方向から放射線を照射することができるようになっている。

また、この場合、無線アンテナ５３が設けられた中継器５４が放射線発生装置５５内に内蔵されており、上記と同様に、中継器５４が放射線発生装置５５とコンソール５８との間の通信や、放射線画像撮影装置１とコンソール５８との間の通信や画像データＤの送信等を中継するようになっている。

なお、図６に示すように、放射線画像撮影装置１を、撮影室Ｒ１の臥位撮影用のブッキー装置５１Ｂ上に横臥した患者（図示省略）の身体と臥位撮影用のブッキー装置５１Ｂとの間に差し込んだり、臥位撮影用のブッキー装置５１Ｂ上で患者の身体にあてがったりして用いることも可能であり、その場合は、ポータブルの放射線５２Ｐや、撮影室Ｒ１に据え付けられた放射線源５２Ａのいずれを用いることも可能である。

本実施形態では、コンソール５８は画像処理装置としても機能するようになっており、放射線画像撮影装置１から画像データＤ等が送信されてくると、それらに基づいてオフセット補正やゲイン補正、欠陥画素補正、撮影部位に応じた階調処理等の精密な画像処理を行って、放射線画像を生成するようになっている。

［放射線画像撮影装置における検出処理のための構成や制御等について］
次に、本実施形態に係る放射線画像撮影装置１における放射線の照射開始の検出処理のための構成や制御等について説明する。また、本実施形態に係る放射線画像撮影装置１の作用についてもあわせて説明する。

本実施形態では、制御手段２２は、放射線画像撮影前に、走査駆動手段１５のゲートドライバー１５ｂ（図３参照）に接続されている全ての走査線５のうち、予め指定された単数または複数の走査線５（以下、検出ライン５ｄという。）に対して、ゲートドライバー１５ｂからオン電圧を印加させて照射開始検出用データｄを読み出す読み出し処理を行う。

また、この読み出し処理と、ゲートドライバー１５ｂから上記の検出ライン５ｄ以外の単数または複数の走査線５にオン電圧を順次印加して行う各放射線検出素子７のリセット処理を繰り返し行わせ、読み出した照射開始検出用データｄに基づいて放射線の照射が開始されたことを検出するようになっている。以下、具体的に説明する。

なお、以下では、検出ライン５ｄとして、放射線画像撮影装置１の検出部Ｐ上の全ての走査線５のうち複数の走査線５が予め指定される場合について説明するが、例えば、検出ライン５ｄとして、検出部Ｐの中央部分等の１本の走査線５のみを予め指定するように構成することも可能である。

また、以下では、各放射線検出素子７のリセット処理と照射開始検出用データｄの読み出し処理とを交互に繰り返し行わせる場合について説明するが、例えば、リセット処理を数回行った後で読み出し処理を行う順番で繰り返す（すなわち例えばリセット処理、リセット処理、読み出し処理の順を繰り返す）ように構成することも可能であり、照射開始検出用データｄの読み出し処理と各放射線検出素子７のリセット処理を任意のタイミングで行わせるように構成することが可能である。

本実施形態では、検出ライン５ｄは、図８に示すように、放射線画像撮影装置１の検出部Ｐ上の全ての走査線５のうち、例えば１００本等の所定の本数の走査線５ごとに、予め指定されるようになっている。図２や図３等に示したように、１つの放射線検出素子７ごとに１本の走査線５が設けられており、１つの放射線検出素子７の検出部Ｐの平面上での大きさは決まっているため、上記のように、何本の走査線５ごとに検出ライン５ｄを指定するかによって、検出ライン５ｄの実空間上での間隔が決まる。

そして、本実施形態では、制御手段２２は、放射線画像撮影前に、この各検出ライン５ｄに対して、ゲートドライバー１５ｂからオン電圧を同時に印加させる。すると、図８に示すように、各検出ライン５ｄに接続されている各放射線検出素子７（図８では図示省略）からそれぞれ電荷が信号線６に放出されて読み出し回路１７の増幅回路１８のコンデンサー１８ｂに流れ込むため、照射開始検出用データｄとして、各放射線検出素子７から放出された電荷の合計値に相当するデータが読み出される。

本実施形態では、照射開始検出用データｄに対して、例えば図９に示すように閾値ｄthが設けられており、制御手段２２は、読み出される照射開始検出用データｄが閾値ｄthを越えたか否かを判断するようになっている。

読み出される照射開始検出用データｄは、放射線画像撮影装置１に対して放射線が照射される以前は、各放射線検出素子７で発生するいわゆる暗電荷（暗電流ともいう。）の合計値に相当する比較的小さな値になる。しかし、放射線画像撮影装置１に対して放射線の照射が開始されると、各放射線検出素子７内で放射線の照射に起因して電荷が発生し、それが照射開始検出用データｄとして読み出されるため、照射開始検出用データｄの値がそれ以前の値に比べて格段に大きくなり、閾値ｄthを越える（図９の時刻ｔ１参照）。

このように、制御手段２２で、読み出し処理ごとに読み出される照射開始検出用データｄの値を監視し、その値が閾値ｄthを越えたことをもって放射線の照射開始を検出するように構成することで、放射線画像撮影装置１に対して放射線の照射が開始されたことを放射線画像撮影装置１自体で的確に検出することが可能となる。

一方、検出ライン５ｄに接続されている各放射線検出素子７からの電荷の読み出し検出処理の邪魔にならないようにするために、検出ライン５ｄ以外の走査線５に常時オフ電圧を印加するように構成すると、検出ライン５ｄ以外の走査線５に接続されている各ＴＦＴ８は常時オフ状態となる。

しかし、このような状態が続くと、検出ライン５ｄ以外の走査線５に各ＴＦＴ８を介して接続されている各放射線検出素子７内では、暗電荷が蓄積され続ける状態になる。そして、各放射線検出素子７内に蓄積される暗電荷の量が増えると、放射線の照射により各放射線検出素子７内で発生する有用な電荷を蓄積できる容量が減ってしまい、各放射線検出素子７におけるダイナミックレンジが狭くなる（或いは極端な場合にはダイナミックレンジがなくなる）等の問題が発生する。

そこで、本実施形態では、図１０に示すように、上記の検出ライン５ｄからの照射開始検出用データｄの読み出し処理と交互に、ゲートドライバー１５ｂから上記の検出ライン５ｄ以外の走査線５にオン電圧を順次印加して各放射線検出素子７のリセット処理を行わせるように構成されている。

その際、図１０に示したように、検出ライン５ｄ以外の走査線５に対して１本ずつオン電圧を印加し、オン電圧を印加する走査線５をシフトさせていくように構成することも可能であり、また、例えば図１１に示すように、検出ライン５ｄ以外の走査線５に対して複数本ずつオン電圧を同時に印加し、オン電圧を印加する各走査線５をそれぞれシフトさせていくように構成することも可能である。

図１１のように構成すると、検出ライン５ｄ以外の走査線５に接続されている各放射線検出素子７においてリセット処理が行われる周期が短くなるため、各放射線検出素子７内に蓄積される暗電荷の量を低減させることが可能となるといったメリットがある。一方、後述するように、上記のように各放射線検出素子７のリセット処理を行うことによって線欠陥が発生し、図１１のように構成した場合には発生する線欠陥（すなわち後述する第２の線欠陥）の本数が多くなるが、図１０のように構成すれば、発生する線欠陥の本数を低減させることが可能となるといったメリットがある。

なお、図１０や図１１では、検出ライン５ｄが５本の走査線５（ラインＬ１〜Ｌｘ。図３参照）ごとに１本ずつ設定されている場合が示されているが、これは図を分かり易く示すためのものであり、実際には数十本から数百本の走査線５ごとに１本ずつ検出ライン５ｄが設定される。

また、図１０や図１１において、図の下方の「ｄ」はその期間中に検出ライン５ｄからの照射開始検出用データｄの読み出し処理が行われ、「Ｒ」はその期間中に各放射線検出素子７のリセット処理が行われることを表している。さらに、照射開始検出用データｄの読み出し処理の際に各放射線検出素子７内から電荷が信号線６に放出されるため、検出ライン５ｄでは各放射線検出素子７のリセット処理を行う必要がないが（図１０や図１１参照）、検出ライン５ｄでも各放射線検出素子７のリセット処理を行うように構成することも可能である。

上記のように構成すれば、検出ライン５ｄにおいて照射開始検出用データｄの読み出し処理を行うことで、放射線画像撮影装置１自体で放射線の照射が開始されたことを的確に検出することが可能となるとともに、検出ライン５ｄ以外の走査線５に接続されている各放射線検出素子７については各放射線検出素子７のリセット処理が適切に行われるため、各放射線検出素子７内で発生する暗電荷等の残存電荷を的確に各放射線検出素子７内から除去することが可能となる。

なお、図８や図１０、図１１に示すように、検出ライン５ｄ（すなわち予め指定された複数の走査線５）は、走査線５の最初のラインＬ１や最終ラインＬｘ（図３参照）のように、検出部Ｐ上における末端部分の走査線５を含まないように予め指定されることが望ましい。これについては、後述する画像補正の説明の際に説明する。

また、上記の説明では、照射開始検出用データｄの読み出し処理を、各読み出し回路１７ごとに行うことを前提として説明したが、実際には、読み出し回路１７の個数（すなわち信号線の本数）は数千から数万にのぼり、それらについてそれぞれ上記の処理を行うように構成すると、放射線の照射開始の検出処理が非常に重い処理になってしまう。

そのため、例えば、読み出しＩＣ１６（図３や図４参照）内に例えば１２８個や２５６個等の多数の読み出し回路１７が形成されていることを利用して、各読み出し回路１７で読み出された照射開始検出用データｄ等の、読み出しＩＣ１６ごとの平均値や合計値、中間値等を算出し、読み出しＩＣ１６ごとの平均値等が閾値を越えたか否かを判断することによって放射線の照射開始を検出するように構成することが可能である。

また、例えば、さらに照射開始検出用データｄ等の読み出しＩＣ１６ごとの平均値等の中から最大値と最小値を抽出し、それらの差分値を算出し、その差分値が設定された閾値を越えたか否かを判断して放射線の照射開始の検出処理を行うように構成することも可能である。

上記のように構成すれば、放射線の照射開始の検出処理の対象となるデータや数値の数が少なくなり、放射線の照射開始の検出処理を軽い処理とすることが可能となる。そのため、検出処理に要する時間が短くなり、リアルタイムで放射線画像撮影装置１に対する放射線の照射開始を検出することが可能となる。

なお、放射線の照射開始の検出処理について、さらなる改良を加えることが可能であることは言うまでもない。

例えば、放射線画像撮影装置１に線量率（すなわち単位時間当たりの線量）が小さい放射線が照射された場合、放射線画像撮影装置１に対する放射線の照射が開始されて、読み出される照射開始検出用データｄ等が増加しても閾値ｄth（図９参照）等を越えず、結局、放射線の照射開始を検出することができなくなる虞れがある。

そこで、そのような場合には、上記のようにして読み出される照射開始検出用データｄをそのまま放射線の照射開始の検出処理に用いるのではなく、それらを照射開始検出用データｄの読み出し処理ごとに積算し、その積算値を放射線の照射開始の検出処理に用いるように構成することが可能である。

しかし、読み出される照射開始検出用データｄには、通常、暗電荷等の何らかのオフセット分が重畳されており、０ではない正の値のデータが読み出される。そのため、それらを単に加算し続けるように構成すると、いずれ照射開始検出用データｄ等の積算値が設定された閾値を越えてしまい、放射線画像撮影装置１に放射線が照射されていないにもかかわらず、制御手段２２が放射線の照射開始を検出してしまうことになる。

そこで、例えば、照射開始検出用データｄの読み出し処理を行うごとに、その回の読み出し処理の直前の読み出し処理で読み出された照射開始検出用データｄとの差分Δｄの算出する処理を、照射開始検出用データｄの読み出し処理ごとに行うように構成することが可能である。

この場合、例えば、前回の読み出し処理で読み出された照射開始検出用データｄをｄoldと表すと、差分Δｄは、下記（１）式に従って算出される。
Δｄ＝ｄ−ｄold …（１）

そして、このようにして差分Δｄを算出するごとに、算出した差分Δｄを、それまでの差分の積算値ΣΔｄに加算し、当該差分Δｄを加算した差分の積算値ΣΔｄが、設定された閾値Σthを越えた時点で放射線の照射が開始されたことを検出するように構成することが可能である。

また、上記のように、読み出した照射開始検出用データｄとその直前に読み出した照射開始検出用データｄとの差分Δｄを時間的に積算する代わりに、以下のように構成することも可能である。

すなわち、照射開始検出用データｄの読み出し処理を行うごとに、その回の読み出し処理を含む所定回数分（例えば１０回等）の過去の読み出し処理で読み出された照射開始検出用データｄの平均すなわち移動平均ｄmaを算出する。

また、その回の読み出し処理で読み出した照射開始検出用データｄと、前回の読み出し処理の際に算出した移動平均ｄma（すなわち前回の読み出し処理を含む所定回数分の過去の読み出し処理で読み出された照射開始検出用データｄ等の移動平均ｄma）との差分Δｄを、下記（２）式に従って算出する。
Δｄ＝ｄ−ｄma …（２）

そして、このようにして差分Δｄを算出するごとに、算出した差分Δｄを、それまでの差分の積算値ΣΔｄに加算し、当該差分Δｄを加算した差分の積算値ΣΔｄが、設定された閾値Σthを越えた時点で放射線の照射が開始されたことを検出するように構成することが可能である。

放射線の照射開始の検出方法として、上記のような方法を採用すると、放射線画像撮影装置１に放射線が照射されないうちは、読み出される照射開始検出用データｄがゆらいで、照射開始検出用データｄの値が、前回読み出された照射開始検出用データｄoldや移動平均ｄmaよりも大きくなったり小さくなったりする。

そのため、上記（１）、（２）式に従って算出される差分Δｄは正の値になったり負の値になったりする。そのため、積算値ΣΔｄは０に近い値で推移する状態になる。

しかし、放射線画像撮影装置１に対する放射線の照射が開始されると、読み出される照射開始検出用データｄの値が、前回読み出された照射開始検出用データｄoldや移動平均ｄmaよりも大きな値になるため、それらの差分Δｄは正の値になる。そのため、積算値ΣΔｄは増加していく状態になる。

放射線画像撮影装置１に強い放射線すなわち線量率が大きな放射線が照射された場合には、例えば図９に示したように、読み出される照射開始検出用データｄの値がそれ以前に読み出された照射開始検出用データｄの値よりも格段に大きくなる。そして、移動平均ｄmaよりも格段に大きな値になる。

そのため、その回の読み出し処理で読み出された照射開始検出用データｄと、前回読み出された照射開始検出用データｄoldや移動平均ｄmaとの差分Δｄが大きな値になるため、それを前回までの積算値に加算して算出される今回の読み出し処理での積算値ΣΔｄも一気に増加する状態になる。

一方、放射線画像撮影装置１に照射される放射線の線量率が小さい場合には、上記のように積算値ΣΔｄが一気に増加することはないが、読み出される照射開始検出用データｄの値が、前回読み出された照射開始検出用データｄoldや前回までの移動平均ｄmaよりも大きな値になる場合が多くなるため、それらの差分Δｄは正の値になる場合が多くなる。そのため、この場合は、積算値ΣΔｄは徐々に増加していく状態になる。

そのため、上記の方法を用いると、放射線画像撮影装置１に対する放射線の照射が開始されないうちは積算値ΣΔｄが閾値Σthを越えることはないが、放射線の照射が開始されると、積算値ΣΔｄが増加していき、閾値Σthを越えるようになる。そのため、上記のように構成することで、放射線画像撮影装置１に照射される放射線の線量が非常に小さい場合でも、放射線画像撮影装置１に対する放射線の照射開始を的確に検出することが可能となる。

［検出後の各処理について］
上記のようにして、読み出された照射開始検出用データｄに基づいて放射線画像撮影装置１に対する放射線の照射開始を検出すると、制御手段２２は、図１２に示すように、走査駆動手段１５のゲートドライバー１５ｂから走査線５の全てのラインＬ１〜Ｌｘにオフ電圧を印加させて、各ＴＦＴ８をオフ状態とさせる。そして、放射線の照射により各放射線検出素子７内で発生した電荷を各放射線検出素子７内に蓄積させる電荷蓄積状態に移行させるようになっている。

続いて、制御手段２２は、電荷蓄積状態を所定時間継続させた後、ゲートドライバー１５ｂから走査線５の各ラインＬ１〜Ｌｘにオン電圧を順次印加させて、各放射線検出素子７から本画像としての画像データＤをそれぞれ読み出す画像データＤの読み出し処理を行うようになっている。なお、図１２では、本画像としての画像データＤが本画像データＤと記載されている。

また、読み出される画像データＤには、電荷蓄積状態の期間を挟んでＴＦＴ８がオフ状態とされていた間に各放射線検出素子７内に蓄積された暗電荷に起因するオフセット分が重畳されている。

そこで、後の画像処理で、画像データＤからこの暗電荷に起因するオフセット分を差し引いて、放射線の照射により各放射線検出素子７内で発生した電荷のみに基づく真の画像データＤ^＊を算出することができるようにするために、放射線画像撮影装置１では、放射線画像撮影の前や後に、画像データＤに重畳される暗電荷に起因するオフセット分をオフセットデータＯとして読み出すオフセットデータＯの読み出し処理が行われるように構成される。

そして、本実施形態では、このオフセットデータＯの読み出し処理を、本画像としての画像データＤの読み出し処理（図１２参照）までの一連の処理シーケンスを繰り返して行うようになっている。

すなわち、制御手段２２は、図１２に示したように、本画像としての画像データＤの読み出し処理を終了すると、図示を省略するが、図１２に示した処理シーケンスと同様に、照射開始検出用データｄの読み出し処理と各放射線検出素子７のリセット処理とを交互に繰り返し行わせる。そして、電荷蓄積状態に移行させた後、本画像としての画像データＤの読み出し処理と同じタイミングでゲートドライバー１５ｂから走査線５の各ラインＬ１〜Ｌｘにオン電圧を順次印加させて、各放射線検出素子７からオフセットデータＯをそれぞれ読み出すようになっている。

なお、オフセットデータＯの読み出し処理では、放射線画像撮影装置１に放射線は照射されない。そのため、放射線の照射開始の検出処理を行う必要がないため、オフセットデータＯの読み出し処理の前に、検出ライン５ｄにおいて照射開始検出用データｄの読み出し処理を行う代わりに、図１２に示したタイミングと同じオン電圧の印加タイミングで検出ライン５ｄにおいても各放射線検出素子７のリセット処理を行うように構成することも可能である。

以上のように、本実施形態に係る放射線画像撮影装置１によれば、放射線画像撮影装置１に既に設けられている走査線５や信号線６、走査駆動手段１５、読み出し回路１７等の各機能部を用い、放射線画像撮影前に読み出された照射開始検出用データｄに基づいて、放射線画像撮影装置１自体で放射線の照射開始を的確に検出することが可能となる。

そのため、前述したように、放射線画像撮影装置１にＸ線センサーや電流検出手段を新たに設けなくてもよくなり、例えば、放射線画像撮影装置１内にＸ線センサーを配置するためのスペースを新たに設けたり、或いは、電流検出手段で生じたノイズのために画像データＤのＳ／Ｎ比が悪化する等の問題が生じることを的確に防止することが可能となる。

［線欠陥を修復するための画像補正処理について］
次に、後述するように本実施形態に係る放射線画像撮影装置１の上記の検出方法を採用した場合に必然的に生じる画像データＤ中の線欠陥を修復するための画像補正処理について説明する。

なお、この画像補正処理を、画像処理装置であるコンソール５８で行うように構成してもよく、また、放射線画像撮影装置１自体で制御手段２２が行うように構成することも可能である。

また、この画像補正処理を画像処理装置であるコンソール５８で行う場合には、放射線画像撮影装置１から、上記のようにして読み出した画像データＤやオフセットデータＯを画像処理装置であるコンソール５８に送信するように構成される。また、放射線画像撮影装置１自体で画像補正処理を行うように構成する場合には、画像補正処理を終えたデータが画像処理装置であるコンソール５８に送信されるように構成される。

さらに、本実施形態では、画像処理装置では、線欠陥に対する画像補正処理が行われた後のデータに対してゲイン補正や欠陥画素補正、階調処理等の所定の画像処理を行って放射線画像を生成するようになっているが、この所定の画像処理は公知の技術であり、説明を省略する。

ここで、画像データＤ中に発生する線欠陥およびそれに対する画像補正の仕方について説明する。本実施形態では、画像データＤには、少なくとも以下の２種類の線欠陥が発生し得る。

［第１の線欠陥］
本実施形態では、上記のように、読み出した照射開始検出用データｄが増加することに基づいて放射線の照射開始を検出する。しかし、このように、読み出した照射開始検出用データｄが増加するということは、結局、検出ライン５ｄに接続されている各放射線検出素子７内で放射線の照射により発生した有用な電荷の一部、すなわち本画像としての画像データＤとして読み出されるべき電荷の一部が、放射線画像撮影前に照射開始検出用データｄとして各放射線検出素子７内から失われてしまうことを意味する。

そのため、本実施形態では、例えば図１３に斜線を付して示すように、画像データＤ中の検出ライン５ｄに対応する部分に、１本の線欠陥、すなわち正常でない画像データＤが１本の線状に並んだ状態が必然的に発生する。このような線欠陥を、以下、第１の線欠陥という。そして、このような第１の線欠陥は、画像データＤ中の各検出ライン５ｄに対応する各部分にそれぞれ発生する。

そして、本実施形態では、図８等に示したように、照射開始検出用データｄは、複数の検出ライン５ｄに接続されている各放射線検出素子７から信号線６に放出された電荷の合計値に相当するデータとして読み出される。そのため、照射開始検出用データｄの読み出し処理で、個々の放射線検出素子７から、どれだけの電荷が失われたかは分からない。

［第１の線欠陥に対する画像補正１］
そこで、例えば、後の本画像としての画像データＤの読み出し処理で、各検出ライン５ｄに接続されている個々の放射線検出素子７からそれぞれ読み出された画像データＤに基づいて、各画像データＤの相対的な比率を算出する。そして、照射開始検出用データｄを、その相対的な比率でそれぞれ按分することによって、照射開始検出用データｄにおける個々の放射線検出素子７の寄与分（すなわち個々の放射線検出素子７から失われた電荷に相当するデータ量）を推定するように構成することが可能である。

これは、検出ライン５ｄに接続されている各放射線検出素子７から読み出されるべき本画像としての画像データＤを、放射線の照射開始の検出時に読み出された照射開始検出用データｄと、その後、実際に当該各放射線検出素子７について読み出された画像データＤとに基づいて画像補正して修復する方法である。

［第１の線欠陥に対する画像補正２］
また、検出ライン５ｄに接続されている各放射線検出素子７については、当該各放射線検出素子７から読み出された画像データＤを無効とするとするように構成することも可能である。

このように構成する場合、検出ライン５ｄにおいては画像データＤを読み出す必要がない。そのため、図１２に示したように、本画像としての画像データＤの読み出し処理において、検出ライン５ｄにもオン電圧を印加して画像データＤを読み出すように構成する代わりに、図示を省略するが、検出ライン５ｄにはオン電圧を印加せず、検出ライン５ｄをとばして他の各走査線５にオン電圧を順次印加して画像データＤの読み出し処理を行うように構成することも可能である。

そして、この場合、図１３に示したように、検出部Ｐ上で当該各検出ライン５ｄにそれぞれ隣接する走査線５ａ、５ｂに接続されている各放射線検出素子５から読み出された画像データＤを用いて画像補正するように構成することが可能である。

具体的には、検出ライン５ｄ上の１つの放射線検出素子７に対して、図１３における上下方向に隣接する放射線検出素子７や斜め上側や斜め下側の各放射線検出素子７など、当該放射線検出素子７の近傍の各放射線検出素子７から読み出された欠陥を生じていない各画像データＤに基づいて、検出ライン５ｄ上の当該放射線検出素子７から読み出されるべき画像データＤを生成して画像補正するように構成することも可能である。

なお、このようにして第１の線欠陥を画像補正するように構成する場合、図１３に示したように、検出ライン５ｄに対して走査線５ａや走査線５ｂが隣接していることが必要となる。そして、検出ライン５ｄに、図３に示した走査線５の最初のラインＬ１や最終ラインＬｘを含めてしまうと、走査線５の最初のラインＬ１や最終ラインＬｘには隣接する走査線５が１本しかなく、上記のような画像補正処理を行うことができなくなる。

そこで、上記のようにして第１の線欠陥を画像補正するように構成する場合には、前述したように（図８や図１０、図１１参照）、検出ライン５ｄには、走査線５の最初のラインＬ１や最終ラインＬｘのように検出部Ｐ上における末端部分の走査線５を含まないように予め指定されることが望ましい。

また、上記のように構成すると、例えば画像データＤ等に基づいて生成された放射線画像を医療における診断用等に用いる際に、仮に、第１の線欠陥中に病変部が撮影されていると、第１の線欠陥部分の画像データＤを無効とするため、第１の線欠陥の部分の病変部の情報が失われてしまう。しかし、病変部は、通常、複数の走査線５に跨って撮影される。

そのため、第１の線欠陥中に病変部が撮影されている場合には、それに隣接する走査線５の画像データＤにも病変部が撮影されている。そのため、上記のように画像補正することで、画像補正によって病変部の情報が画像データＤ中から失われてしまうことを適切に防止することが可能となる。

［第２の線欠陥］
一方、本実施形態では、上記の第１の線欠陥のほかに、別の理由で第２の線欠陥が発生する可能性がある。

図１２に示した例で言えば、検出ライン５ｄに接続されている各放射線検出素子７から読み出された照射開始検出用データｄに基づいて放射線の照射開始が検出される前に、実際には、すでに放射線源５２（図６や図７参照）から放射線画像撮影装置１に対して放射線の照射が開始されている場合がある。

その際、放射線源５２から照射される放射線の強度ｕが、例えば図１４（Ａ）に示すように瞬時に立ち上がらずに、図１４（Ｂ）に示すように放射線の強度ｕの立ち上がりが遅い場合等には、読み出される照射開始検出用データｄが図９に示したように瞬時に増加せずに徐々に増加する状態になる。そのため、放射線源５２から実際に放射線の照射が開始されてから多少遅延した時点で放射線画像撮影装置１により放射線の照射開始が検出される場合がある。

このような場合、放射線源５２から実際に放射線の照射が開始されてから放射線画像撮影装置１により放射線の照射開始が検出されるまでの間に、各放射線検出素子７のリセット処理（図１２等における「Ｒ」参照）が行われてしまう。そして、このように実際の放射線の照射開始後に各放射線検出素子７のリセット処理が行われることにより、上記と同様に、放射線の照射により各放射線検出素子７内で発生した有用な電荷の一部、すなわち本画像としての画像データＤとして読み出されるべき電荷の一部が、各放射線検出素子７内から失われてしまうことを意味する。

そして、この場合は、放射線源５２から実際に放射線の照射が開始されてから放射線画像撮影装置１により放射線の照射開始が検出されるまでの間に、各放射線検出素子７のリセット処理のためにゲートドライバー１５ｂからオン電圧が印加された全ての走査線５に接続されている各放射線検出素子７について線欠陥が生じる。

このような線欠陥を、以下、第２の線欠陥という。そして、このような第２の線欠陥では、例えば図１５に斜線を付して示すように、画像データＤ中の、上記の各走査線５に対応する部分に線欠陥が連続的に現れる状態になる。

なお、前述した第１の線欠陥は必然的に現れるが、第２の線欠陥は、放射線源５２から照射される放射線の強度ｕが図１４（Ａ）に示したように瞬時に立ち上がる場合には、放射線画像撮影装置１に対する放射線の照射が開始されるタイミングに応じて、現れる線欠陥が１本のみである場合がある。

また、放射線源５２から照射される放射線の強度ｕが瞬時に立ち上がる場合に、偶々、放射線の照射開始が検出された照射開始検出用データｄの読み出し処理と、その直前の各放射線検出素子７のリセット処理との間で実際の放射線の照射が開始される場合には、上記の第２の線欠陥が現れない場合もあり得る。

上記のように線欠陥が連続的に現れ得る第２の線欠陥に対して、上記の第１の線欠陥に対する画像補正のように、線欠陥を生じている走査線５に検出部Ｐ上で隣接する走査線５に接続されている各放射線検出素子７から読み出された画像データＤを用いて画像補正することも考えられなくはない。

しかし、例えば画像データＤ等に基づいて生成された放射線画像を医療における診断用等に用いる際に、仮に、連続的に発生している線欠陥の部分に病変部が撮影されていて、それに隣接する部分には病変部が撮影されていない場合、上記の第１の線欠陥に対する画像補正のように、線欠陥の部分の画像データＤを無効とし、それに隣接する部分の画像データＤで線欠陥の部分の画像データＤを画像補正すると、線欠陥の部分に撮影されていた病変部の情報が全く失われてしまう状態になる。

これでは、このような放射線画像撮影装置１により撮影された放射線画像の有効性や信頼性が低下することになり、少なくとも第２の線欠陥に対しては、上記の第１の線欠陥と同じ画像補正処理を適用することは避けるべきであると考えられる。そのため、少なくとも第２の線欠陥に対しては、上記の第１の線欠陥とは別の画像補正処理の方法を適用することが望ましい。

［第２の線欠陥に対する画像補正１］
以下、本実施形態における第２の線欠陥に対して適用される画像補正処理の１つの方法について説明する。

前述したように、本実施形態に係る放射線画像撮影装置１は、放射線発生装置５５（図６や図７参照）との間で信号等のやり取りを行わないため、放射線画像撮影装置１自体では、放射線発生装置５５の放射線源５２から実際にどのタイミングで放射線画像撮影装置１に対して放射線の照射が開始されたかを認識することができない。

そのため、どの範囲の走査線５について、それらに接続されている各放射線検出素子７から読み出された画像データＤを画像補正すればよいかが分からない。そのため、画像データＤを解析して画像補正すべき画像データＤの範囲、すなわち走査線５の範囲を特定することが必要となる。

そこで、例えば、以下のようにして、画像補正すべき画像データＤの範囲、すなわち走査線５の範囲を特定することが可能である。なお、画像データＤそのものを画像補正処理の対象とするように構成することも可能であるが、以下では、下記（３）式に従って各放射線検出素子７ごとに画像データＤからオフセットデータＯを減算して算出される真の画像データＤ^＊を対象として上記の範囲を特定する場合について説明する。
Ｄ^＊＝Ｄ−Ｏ …（３）

本実施形態では、算出した真の画像データＤ^＊を、真の各画像データＤ^＊に対応する放射線画像撮影装置１の信号線６（図２や図３等参照）の延在方向に並べてプロットした場合に形成される真の画像データＤ^＊のプロファイルを解析して、欠損を生じている真の画像データＤ^＊の範囲を特定するようになっている。

ここで、各放射線検出素子７を、当該放射線検出素子７が接続されている信号線６のライン番号ｍと走査線５のライン番号ｎとを用いて（ｍ，ｎ）で表し、各放射線検出素子（ｍ，ｎ）から読み出された画像データＤから算出された真の画像データＤ^＊をＤ^＊（ｍ，ｎ）と表す。

上記のようにして算出した真の画像データＤ^＊（ｍ，ｎ）の中から、ある信号線６（この信号線６のライン番号をＭとする。）に接続されている各放射線検出素子（Ｍ，ｎ）から読み出された画像データＤ等に基づいて算出された真の画像データＤ^＊（Ｍ，ｎ）を抽出する。

そして、抽出した真の画像データＤ^＊（Ｍ，ｎ）を走査線５のライン番号ｎの順にプロットすると真の画像データＤ^＊（Ｍ，ｎ）のプロファイルが得られる。これが、放射線画像撮影装置１のライン番号Ｍの信号線６に関する、信号線６の延在方向における真の画像データＤ^＊（Ｍ，ｎ）のプロファイルになる。そして、このようにして形成される真の画像データＤ^＊のプロファイルを解析すれば、欠損を生じている真の画像データＤ^＊の範囲（すなわち線欠陥の範囲）を特定することができる。

しかし、上記のようにして算出した真の画像データＤ^＊にもばらつきが生じている場合がある。そのため、抽出した真の画像データＤ^＊（Ｍ，ｎ）を走査線５のライン番号ｎの順にプロットすると、プロファイルにもばらつきが生じてしまい、プロファイルに基づいて上記の範囲を特定しようとしても、範囲が適切に特定できなくなる場合があり得る。

そこで、本実施形態では、上記のようにして算出した真の画像データＤ^＊（ｍ，ｎ）について、放射線画像撮影装置１の走査線５の延在方向に並ぶ真の画像データＤ^＊（ｍ，ｎ）の平均値Ｄ^＊ave(n)、すなわち同じ走査線５のライン番号ｎの真の画像データＤ^＊（ｍ，ｎ）の平均値Ｄ^＊ave(n)を走査線５ごとに算出する。

そして、この平均値Ｄ^＊ave(n)を、上記と同様にして、図１６に示すように放射線画像撮影装置１の信号線６の延在方向に並べてプロットした場合に形成される平均値Ｄ^＊ave(n)のプロファイルを解析して、欠損を生じている真の画像データＤ^＊の範囲を特定するようになっている。

なお、真の画像データＤ^＊ではなく画像データＤ自体を対象としてプロファイルを解析する場合も、同様にして、同じ走査線５のライン番号ｎの画像データＤ（ｍ，ｎ）の平均値Ｄave(n)を走査線５ごとに算出してプロファイルを形成することが望ましい。

このように真の画像データＤ^＊（ｍ，ｎ）（或いは画像データＤ（ｍ，ｎ）。以下同じ。）の走査線５ごとの平均値Ｄ^＊ave(n)を算出すると、真の各画像データＤ^＊（ｍ，ｎ）に含まれるばらつきが相殺される。そのため、図１６に示すようにばらつきのないプロファイルが得られるため、欠損を生じている真の画像データＤ^＊の範囲を的確に特定することが可能となる。

なお、図１６の右側のグラフでは、欠損を生じている真の画像データＤ^＊の範囲の近傍の部分の平均値Ｄ^＊ave(n)のプロファイルのみが拡大されて示されている。また、平均値Ｄ^＊ave(n)のプロファイルを解析して欠損を生じている真の画像データＤ^＊の範囲を特定する場合には、以下の点に注意することが望ましい。

放射線が被写体を介さずに放射線画像撮影装置１に直接到達した部分の放射線検出素子７に対応する真の画像データＤ^＊は、真の画像データＤ^＊がとり得る値の上限値に近い値になる。それに対し、被写体が撮影されている部分の真の画像データＤ^＊は、通常、それより小さな値になる。

また、本実施形態では、読み出し回路１７（図３や図４参照）で読み出し得る最大の電荷量よりも多くの電荷量を、放射線検出素子７内に蓄積できるように構成されている。

そして、上記のように、放射線画像撮影前の各放射線検出素子７のリセット処理で放射線検出素子７から電荷の一部が流出したとしても、放射線が被写体を介さずに直接到達した部分の放射線検出素子７では、その後、大きな量の電荷が放射線検出素子７内で発生して、読み出し回路１７で読み出し得る最大の電荷量以上の電荷が放射線検出素子７内に蓄積される状態になり得る。

そのため、放射線が直接到達した部分の放射線検出素子７では、放射線画像撮影前のリセット処理等で放射線検出素子７から電荷の一部が流出したとしても、結局、読み出される画像データＤは、読み出し回路１７が出力し得る上限値或いはそれに近い値になる場合がある。

すなわち、放射線が直接到達した部分の放射線検出素子７では、放射線画像撮影前のリセット処理等で放射線検出素子７から電荷の一部が流出したとしても、読み出される画像データＤを見る限り、欠損を生じていない大きな値の画像データＤが読み出される場合がある。

そのため、このような画像データＤから算出される真の画像データＤ^＊も、真の画像データＤ^＊がとり得る値の上限値に近い値になり、しかも、その真の画像データＤ^＊は欠損を生じていない大きな値のデータになる場合がある。

そして、このような欠損が生じていない大きな値の真の画像データＤ^＊（ｍ，ｎ）を、上記のように真の画像データＤ^＊（ｍ，ｎ）の走査線５ごとの平均値Ｄ^＊ave(n)の算出の対象に含めてしまうと、欠損が生じていない大きな値の真の画像データＤ^＊（ｍ，ｎ）の影響が大きくなる。

そして、走査線５ごとの平均値Ｄ^＊ave(n)のプロファイルが、例えば図１７に示すように、欠損を生じている真の画像データＤ^＊の範囲が分かりづらいプロファイルになり、プロファイルを解析しても、欠損を生じている真の画像データＤ^＊の範囲を的確に特定することが困難になる場合がある。

そこで、本実施形態では、放射線が被写体を介さずに直接到達した部分の放射線検出素子７に対応する真の画像データＤ^＊を特定して、当該放射線検出素子７に対応する真の画像データＤ^＊を、上記の平均値Ｄ^＊ave(n)の算出の対象から除外するようになっている。放射線が被写体を介さずに直接到達した部分の放射線検出素子７に対応する真の画像データＤ^＊の特定は、例えば以下のようにして行われる。

上記のように、放射線が被写体を介さずに直接到達した部分の放射線検出素子７に対応する真の画像データＤ^＊が、真の画像データＤ^＊がとり得る上限値やそれに近い値であることを利用して、例えば予め真の画像データＤ^＊がとり得る上限値やそれに近い値を閾値として定め、閾値以上の真の画像データＤ^＊については一律に上記の平均値Ｄ^＊ave(n)の算出の対象から除外するように構成することが可能である。

例えば、真の画像データＤ^＊が０〜６５５３５（＝２^１６−１）の値をとり得る場合、閾値を例えば６４０００に設定すれば、６４０００以上の値の真の画像データＤ^＊は、一律に上記の平均値Ｄ^＊ave(n)の算出の対象から除外されるように構成される。

また、もう１つの方法として、例えば、画像処理装置としてのコンソール５８で放射線画像を生成するために行われる、被写体が撮影されている領域の認識処理（以下、被写体領域認識処理という。）の結果を用いるように構成することも可能である。

被写体領域認識処理では、例えば図１８（Ａ）に示すように、真の各画像データＤ^＊（ｍ，ｎ）の中から、例えばライン番号Ｎの走査線５に接続されている各放射線検出素子（ｍ，Ｎ）に対応する真の画像データＤ^＊（ｍ，Ｎ）を抽出する。そして、抽出した真の画像データＤ^＊（ｍ，Ｎ）を信号線６のライン番号ｍの順にプロットする。

すると、図１８（Ｂ）に示すように、放射線が被写体を介さずに放射線画像撮影装置１に直接到達した部分の放射線検出素子７に対応する真の画像データＤ^＊は、真の画像データＤ^＊がとり得る値の上限値或いはそれに近い値になるが、被写体が撮影されている部分の真の画像データＤ^＊はそれより小さな値になる。

そこで、このプロファイルを解析することで、ライン番号Ｎの走査線５に接続されている各放射線検出素子（ｍ，Ｎ）に対応する真の各画像データＤ^＊（ｍ，Ｎ）について、図１８（Ｂ）に示すように、被写体が撮影されている領域Ｒｏ(N)が決まる。そして、この処理を、各走査線５ごとに行うことで、図１８（Ｃ）に示すように、全ての真の画像データＤ^＊における被写体が撮影されている領域Ｒｏを決定して認識することができる。

本実施形態では、被写体領域認識処理では、このようにして、全ての真の画像データＤ^＊において被写体が撮影されている領域Ｒｏが認識されるように構成されている。

そこで、この被写体領域認識処理の結果を用い、被写体が撮影されている領域Ｒｏ以外の領域に属する真の画像データＤ^＊（ｍ，ｎ）を、上記の平均値Ｄ^＊ave(n)の算出の対象から除外するように構成することが可能である。

そして、上記のようにして真の画像データＤ^＊（ｍ，ｎ）の走査線５ごとの平均値Ｄ^＊ave(n)を算出すると（図１６参照）、続いて、平均値Ｄ^＊ave(n)のプロファイルを解析して、欠損を生じている真の画像データＤ^＊の範囲（すなわち線欠陥の範囲）を特定するようになっている。

このプロファイル中で、欠損を生じている真の画像データＤ^＊の平均値Ｄ^＊ave(n)は、欠損を生じていない真の画像データＤ^＊の平均値Ｄ^＊ave(n)の全体的な推移のトレンドから外れる状態になる。そこで、本実施形態では、例えば以下のようにして欠損を生じている真の画像データＤ^＊の範囲を特定するようになっている。

放射線の照射により各放射線検出素子７内に蓄積される電荷の量は、実際に放射線の照射が開始されてから時間が経つに従って多くなる。そのため、放射線の照射により各放射線検出素子７内に蓄積される電荷の放射線検出素子７からの流出量は、実際に放射線源５２からの放射線の照射が開始された直後にリセット処理が行われた各放射線検出素子７からの流出量よりも、その後、放射線画像撮影装置１の制御手段２２が放射線の照射開始を検出する直前にリセット処理が行われた各放射線検出素子７からの流出量の方が多いはずである。

そして、放射線画像撮影装置１が放射線の照射開始を検出した後は、ゲートドライバー１５ｂから各走査線５に対してオフ電圧が印加されて各ＴＦＴ８がオフ状態とされて電荷蓄積状態に移行するため（図１２参照）、各放射線検出素子７からの電荷の流出はない。

そのため、図１６や図１９に示すように、放射線画像撮影装置１が放射線の照射開始を検出する前後の真の画像データＤ^＊の平均値Ｄ^＊ave(n)同士の間には大きな差が生じることになる。そこで、真の画像データＤ^＊の平均値Ｄ^＊ave(n)のプロファイルを解析して、放射線画像撮影装置１が放射線の照射開始を検出する直前に各放射線検出素子７のリセット処理が行われてオン電圧が印加された走査線５（以下、この走査線５を直前ラインという。図１９におけるＮａ参照）を特定することが可能である。

また、放射線画像撮影装置１で、各放射線検出素子７のリセット処理を行う際にオン電圧を印加した走査線５のライン番号ｎを記録するように構成し、放射線の照射開始を検出する直前にオン電圧を印加した走査線５（すなわち直前ライン）のライン番号ｎ等の情報を記憶するように構成することも可能である。画像補正処理を画像処理装置（本実施形態ではコンソール５８）で行う場合には、放射線画像撮影装置１から画像処理装置に上記の情報が送信される。図１９に示すように、以下、この直前ラインのライン番号をＮａとする。

そして、上記のようにして直前ラインＮａを特定すると、続いて、図１９に示すように、真の画像データＤ^＊の平均値Ｄ^＊ave(n)のプロファイルにおいて、この放射線の照射開始が検出された際にオン電圧が印加されていたライン番号Ｎａの走査線５（すなわち直前ライン）から順に、それ以前にオン電圧が印加されたライン番号Ｎａ−１、Ｎａ−２、…の各ライン番号に対応する平均値Ｄ^＊ave(n)を見ていく。

そして、まず、Ｄ^＊ave(Na)とＤ^＊ave(Na-1)の差分ΔＤ^＊aveの絶対値を算出し、差分ΔＤ^＊aveの絶対値が、予め０に近い小さな値に設定された閾値未満であるか否かを判断する。図１９の例では、Ｄ^＊ave(Na)とＤ^＊ave(Na-1)の差分ΔＤ^＊aveの絶対値は閾値以上であるから、続いて、Ｄ^＊ave(Na-1)とＤ^＊ave(Na-2)の差分ΔＤ^＊aveの絶対値を算出し、差分ΔＤ^＊aveの絶対値が閾値未満であるか否かを判断する。

この処理を繰り返していくと、図１９の例では、Ｄ^＊ave(Na-1)とＤ^＊ave(Na-2)の差分ΔＤ^＊aveの絶対値も、Ｄ^＊ave(Na-2)とＤ^＊ave(Na-3)の差分ΔＤ^＊aveの絶対値も、ともに閾値以上になるが、閾値以上Ｄ^＊ave(Na-3)とＤ^＊ave(Na-4)の差分ΔＤ^＊aveの絶対値が初めて閾値未満になる。

そして、この場合は、ライン番号Ｎａ−３の走査線５にオン電圧が印加されて行われた各放射線検出素子７のリセット処理と、ライン番号Ｎａ−２の走査線５にオン電圧が印加されて行われた各放射線検出素子７のリセット処理との間のタイミングで、放射線源５２（図６や図７参照）から実際に放射線画像撮影装置１に放射線が照射されたと判断することができる。

そこで、この場合は、ライン番号Ｎａ−２の走査線５を、画像データＤに欠損が生じ始めた最初の走査線５として認識する。そして、この場合は、欠損を生じている真の画像データＤ^＊の範囲（すなわち線欠陥の範囲）を、ライン番号Ｎａ−２、Ｎａ−１、Ｎａの３本の走査線５に接続されている各放射線検出素子７に対応する真の画像データＤ^＊として特定する。

すなわち、真の各画像データＤ^＊（ｍ，ｎ）のうち、真の画像データＤ^＊（ｍ，Ｎａ−２）、Ｄ^＊（ｍ，Ｎａ−１）、Ｄ^＊（ｍ，Ｎａ）が欠損を生じている真の画像データＤ^＊の範囲として特定される。

なお、図２０に矢印Ａで示すように、欠損を生じている真の画像データＤ^＊の範囲（図中の２本の一点鎖線の間の範囲）の中でも、平均値Ｄ^＊ave(n)の差分ΔＤ^＊aveの絶対値が閾値未満になることがあり得る。

そのため、上記のように、走査線５のライン番号ｎを繰り下げながら上記の差分ΔＤ^＊aveを算出していき、平均値Ｄ^＊ave(n)同士の差分ΔＤ^＊aveの絶対値が閾値未満になっても差分ΔＤ^＊aveの算出や差分ΔＤ^＊aveの絶対値と閾値との比較を続行するように構成する。

そして、絶対値が閾値未満になる差分ΔＤ^＊aveが連続して現れる状態になったことが確認された時点で、欠損を生じている真の画像データＤ^＊の範囲から外れたと判断して、欠損を生じている真の画像データＤ^＊の範囲の検索処理を終了する。

一方、上記のようにして、欠損を生じている真の画像データＤ^＊の範囲（上記の例ではライン番号Ｎａ−２〜Ｎａの３本の走査線５の範囲）を特定すると、続いて、特定した範囲の真の画像データＤ^＊を修復する。

例えば、図１９に示した例で言えば、欠損を生じている真の画像データＤ^＊の範囲として特定した平均値Ｄ^＊ave(Na-2)〜Ｄ^＊ave(Na)より図中で左側の平均値Ｄ^＊ave(Na-3)や平均値Ｄ^＊ave(Na-4)或いは図中でさらに左側の各平均値Ｄ^＊ave(n)を含む範囲の各平均値Ｄ^＊ave(n)を、例えば図２１に示すように直線Ｌapで直線近似する。すなわち、
Ｄ^＊ap＝ａ×ｎ＋ｂ …（４）
の形に直線近似する。

そして、平均値Ｄ^＊ave(Na-2)、Ｄ^＊ave(Na-1)、Ｄ^＊ave(Na)は、欠損を生じていなければ、本来的には、Ｎａ−２、Ｎａ−１、Ｎａをそれぞれ上記（４）式に代入して得られるａ×（Ｎａ−２）＋ｂ、ａ×（Ｎａ−１）＋ｂ、ａ×Ｎａ＋ｂであるはずであると考える。

そして、ライン番号Ｎａ−２の走査線５に接続されている各放射線検出素子（ｍ，Ｎａ−２）に対応する真の各画像データＤ^＊（ｍ，Ｎａ−２）に対して、｛ａ×（Ｎａ−２）＋ｂ｝／Ｄ^＊ave(Na-2)を乗算し、すなわち、
Ｄ^＊（ｍ，Ｎａ−２）×｛ａ×（Ｎａ−２）＋ｂ｝／Ｄ^＊ave(Na-2) …（５）
の演算を行って、ライン番号Ｎａ−２の走査線５に接続されている各放射線検出素子（ｍ，Ｎａ−２）に対応する真の各画像データＤ^＊を修復する。

ライン番号Ｎａ−１、Ｎａの各走査線５に接続されている各放射線検出素子（ｍ，Ｎａ−１）、（ｍ，Ｎａ）に対応する真の各画像データＤ^＊（ｍ，Ｎａ−１）、Ｄ^＊（ｍ，Ｎａ）についても同様に、
Ｄ^＊（ｍ，Ｎａ−１）×｛ａ×（Ｎａ−１）＋ｂ｝／Ｄ^＊ave(Na-1) …（６）
Ｄ^＊（ｍ，Ｎａ）×｛ａ×（Ｎａ）＋ｂ｝／Ｄ^＊ave(Na) …（７）
の演算を行って、ライン番号Ｎａ−１、Ｎａの各走査線５に接続されている各放射線検出素子（ｍ，Ｎａ−１）、（ｍ，Ｎａ）に対応する真の各画像データＤ^＊を画像補正する。

このようにして、欠損を生じている真の画像データＤ^＊の範囲（すなわち第２の線欠陥が発生している範囲）として特定した範囲の真の画像データＤ^＊を、直線近似等の方法を用いてそれぞれ的確に修復することが可能となる。以上のようにして、第２の線欠陥に対する画像補正を行うように構成することが可能である。

［第２の線欠陥に対する画像補正２］
また、もう１つの画像補正の方法として、例えば、予め、欠損を生じている真の画像データＤ^＊の範囲に対応する放射線画像撮影装置１の各走査線５（すなわち上記の例ではライン番号Ｎａ−２〜Ｎａの各走査線５）のうち、欠損が生じ始めた最初の走査線５（すなわち上記の例ではライン番号Ｎａ−２の走査線５）から修復対象の走査線５までの本数と、当該修復対象の走査線５に接続されている各放射線検出素子７に対応する真の画像データＤ^＊に乗算すべき係数との関係の情報を有しておくように構成する。

すなわち、例えば、欠損が生じ始めた最初の走査線５から１本目の走査線５（すなわち上記の例ではライン番号Ｎａ−２の走査線５）では、当該走査線５に接続されている各放射線検出素子７に対応する真の画像データＤ^＊に乗算すべき係数を例えば１．１とする。また、欠損が生じ始めた最初の走査線５から２本目の走査線５（すなわち上記の例ではライン番号Ｎａ−１の走査線５）では、当該走査線５に接続されている各放射線検出素子７に対応する真の画像データＤ^＊に乗算すべき係数を例えば１．２とする。

さらに、欠損が生じ始めた最初の走査線５から３本目の走査線５（すなわち上記の例ではライン番号Ｎａの走査線５（すなわち直前ライン））では、当該走査線５に接続されている各放射線検出素子７に対応する真の画像データＤ^＊に乗算すべき係数を例えば１．３とする。このような関係の情報を、放射線画像撮影装置１や画像処理装置が予め有しておくように構成する。

なお、この関係は、予め実験を行う等して求めておく。また、この関係は、上記のように欠損が生じ始めた最初の走査線５から何本目の走査線５までの情報を有しておくかは、放射線画像撮影装置１における放射線の照射開始の検出感度等に応じて適宜決められる。

そして、上記のようにして真の画像データＤ^＊や平均値Ｄ^＊ave(n)のプロファイルを解析して、欠損が生じ始めた最初の走査線５や欠損を生じている真の画像データＤ^＊の範囲を特定すると、上記の情報を参照して、特定した範囲の真の各画像データＤ^＊に対して、当該真の画像データＤ^＊に対応する放射線検出素子７が接続されている走査線５に割り当てられている上記の係数をそれぞれ乗算する。

このようにして、欠損を生じている真の画像データＤ^＊の範囲として特定した範囲の真の画像データＤ^＊を、上記の走査線５と係数の関係の情報を用いてそれぞれ的確に修復することが可能となる。

［第２の線欠陥に対する画像補正３］
また、上記の手法の他にも、例えば、より厳密な画像補正処理を行って、欠損を生じている真の画像データＤ^＊を修復するように構成することも可能である。

例えば、上記の図１６以降の各図に示した真の画像データＤ^＊（ｍ，ｎ）（或いは画像データＤ（ｍ，ｎ）自体。以下同様）の走査線５ごとの平均値Ｄ^＊ave(n)の算出処理では、上記のように、放射線が被写体を介さずに直接到達した部分の放射線検出素子７に対応する真の画像データＤ^＊を特定し（図１８（Ａ）〜（Ｃ）参照）、そのような放射線検出素子７に対応する真の画像データＤ^＊を除外して、平均値Ｄ^＊ave(n)の算出を行った。

しかし、それでもなお、走査線５ごとの平均値Ｄ^＊ave(n)は、値が大きな真の画像データＤ^＊の影響を強く受ける。すなわち、被写体である患者の身体は、通常、その中心部付近で分厚く、周縁部に向かうに従って厚みが薄くなる。そのため、被写体の中心部付近よりも周縁部の方が、放射線の透過量が多くなり、その部分に対応する真の画像データＤ^＊の方が中心部の真の画像データＤ^＊よりも値が大きくなる。

そのため、上記のように真の画像データＤ^＊（ｍ，ｎ）の走査線５ごとの平均値Ｄ^＊ave(n)を単純に算出すると、被写体の周縁部分の真の画像データＤ^＊（ｍ，ｎ）の影響が色濃く反映された平均値Ｄ^＊ave(n)になってしまう。そして、値が大きい被写体の周縁部分の真の画像データＤ^＊（ｍ，ｎ）に比較的大きなばらつきが生じると、走査線５ごとの平均値Ｄ^＊ave(n)のプロファイルに真の画像データＤ^＊（ｍ，ｎ）のばらつきが反映されてしまい、例えば図１６や図１９等に示したように線欠陥の部分での平均値Ｄ^＊ave(n)の低下が明確に現れない状態になってしまう場合がある。

そこで、以下で説明する厳密な画像補正処理の例では、真の画像データＤ^＊そのものの値を用いる代わりに、真の画像データＤ^＊をそれぞれ基準値で除算して算出される正規化された真の画像データＤ^＊norを用いて、欠損を生じている真の画像データＤ^＊（或いは画像データＤ）の範囲を特定するように構成される。

その場合、基準値としては、例えば、上記の被写体領域認識処理により認識した被写体が撮影されている領域Ｒｏ（例えば図１８（Ｃ）参照）内の任意の行、すなわち領域Ｒｏ中で任意のｎを有する真の画像データＤ^＊（ｍ，ｎ）の行（以下、この行を基準ラインという。）の真の画像データＤ^＊（ｍ，ｎ）を用いることができる。

すなわち、例えば、領域Ｒｏのうち、走査線５の延在方向（すなわち同１８（Ｃ）における横方向）における長さが最も長い位置（例えば同図では図中の上端部分（すなわちｎ＝１の部分））の行を基準ラインとし、その基準ライン上の真の各画像データＤ^＊（ｍ，１）を各基準値とすることが可能である。

また、例えば、直前ライン（図１９の走査線５のラインＮａ等参照）の近傍の走査線５に対応する行を基準ラインとし、その走査線５に接続されている各放射線検出素子７から読み出された画像データＤに基づいて算出された真の各画像データＤ^＊（ｍ，ｎ）を各基準値とすることも可能である。

なお、この場合、直前ラインＮａの近傍の走査線５のうち、図１９に示したライン番号がＮａ−２〜Ｎａの走査線５のような走査線５は、まさにこれから行われる厳密な画像処理の対象となる走査線５であるから、基準ラインとして選択されるべきでない。そのため、上記の場合、直前ラインＮａよりもライン番号ｎが大きい走査線５（例えば図１９ではＮａより大きないずれかのライン番号ｎの走査線５）を基準ラインとし、それに接続されている各放射線検出素子７から読み出された各画像データＤ（ｍ，ｎ）に基づいて算出された真の各画像データＤ^＊（ｍ，ｎ）を各基準値として用いることが望ましい。

そして、正規化処理は、上記のようにして設定された各基準値、すなわち基準ラインの走査線５に接続されている各放射線検出素子７から読み出された画像データＤ（ｍ，ｎ）に基づいて算出された真の各画像データＤ^＊（ｍ，ｎ）で、同じ列の（すなわち同じｍを有する）他の行の真の画像データＤ^＊（ｍ，ｎ）をそれぞれ除算することにより行われる。

すなわち、ある真の画像データＤ^＊（ｍ，ｎ）を正規化する場合には、各基準値のうち、当該真の画像データＤ^＊（ｍ，ｎ）と同じｍ（すなわち信号線６のライン番号ｍ）を有する真の画像データＤ^＊（ｍ，ｎ）で当該真の画像データＤ^＊（ｍ，ｎ）を除算する。他の列の真の画像データＤ^＊（Ｍ，ｎ）（Ｍ≠ｍ）を正規化する場合には、各基準値のうち、当該真の画像データＤ^＊（Ｍ，ｎ）と同じＭを有する真の画像データＤ^＊（Ｍ，ｎ）で当該真の画像データＤ^＊（Ｍ，ｎ）をそれぞれ除算する。

このようにして、領域Ｒｏ内の真の各画像データＤ^＊（ｍ，ｎ）について、各基準値と真の各画像データＤ^＊（ｍ，ｎ）とからそれぞれ正規化された真の各画像データＤ^＊nor（ｍ，ｎ）が算出される。なお、上記の方法では、基準ライン上の真の各画像データＤ^＊（ｍ，ｎ）はそれぞれ自らの値によって除算されて正規化されるため、基準ライン上の正規化された真の各画像データＤ^＊nor（ｍ，ｎ）はそれぞれ１になる。

そして、上記と同様にして、正規化された真の各画像データＤ^＊nor（ｍ，ｎ）について、放射線画像撮影装置１の走査線５ごとの平均値Ｄ^＊nor_ave(n)を算出し、それらを放射線画像撮影装置１の信号線６の延在方向に並べてプロットした場合に形成される平均値Ｄ^＊nor_ave(n)のプロファイルを解析して、欠損を生じている真の画像データＤ^＊の範囲を特定するように構成される。

このように、正規化された真の各画像データＤ^＊nor（ｍ，ｎ）について走査線５ごとに平均値Ｄ^＊nor_ave(n)を算出することで、真の各画像データＤ^＊nor（ｍ，ｎ）ごとの値のばらつきの相対的な重みが均等になる。そのため、例えば、上記のように、被写体の中心部付近よりも周縁部の方が真の画像データＤ^＊（ｍ，ｎ）のばらつきが相対的に大きくなって線欠陥の部分での平均値Ｄ^＊ave(n)の低下（例えば図１６や図１９参照）が明確に現れなくなることを的確に防止することが可能となる。

例えば、図１６や図１９に示した例とは別の例であるが、正規化される前の真の各画像データＤ^＊（ｍ，ｎ）の平均値Ｄ^＊ave(n)のプロファイルが例えば図２２（Ａ）に示すようなプロファイルであった場合、正規化された後の真の各画像データＤ^＊nor（ｍ，ｎ）の平均値Ｄ^＊nor_ave(n)のプロファイルは、例えば図２２（Ｂ）に示すようなプロファイルになる。

以下、このようにして算出された正規化された真の各画像データＤ^＊nor（ｍ，ｎ）の平均値Ｄ^＊nor_ave(n)のプロファイル（図２２（Ｂ）参照）を解析して、欠損を生じている真の画像データＤ^＊の範囲を特定し、それらを修復する手法の一例について説明する。

まず、図２３に示すように、正規化された真の各画像データＤ^＊nor（ｍ，ｎ）の平均値Ｄ^＊nor_ave(n)のプロファイルのうち、線欠陥が現れている可能性がある走査線５の部分ＬＤすなわち直前ラインＮａおよびライン番号がＮａより小さい所定本数の走査線５（すなわち直前ラインＮａより先にオン電圧が印加された所定本数の走査線５）を含む部分ＬＤを除く、直前ラインＮａ前後の所定本数の各走査線５における各平均値Ｄ^＊nor_ave(n)を近似する第１の近似直線Ｌap１を算出する。

そして、直前ラインのライン番号Ｎａを含む各ライン番号ｎごとに、実際の平均値Ｄ^＊nor_ave(n)を、当該平均値Ｄ^＊nor_ave(n)に対応する第１の近似直線Ｌap１上の値で除算した値をプロットすると、例えば図２４に示すようなグラフになる。これらの除算した値は、第１の近似直線Ｌap１に対する実際の平均値Ｄ^＊nor_ave(n)の低下率ＤＳ(n)である。

なお、図２４や以下の各図では、直前ラインＮａやライン番号がＮａより小さい各走査線５に関する部分のみが示されている。また、以下の処理では、この低下率ＤＳ(n)を用いて処理を行う場合について説明するが、第１の近似直線Ｌap１で近似せず、正規化された真の各画像データＤ^＊nor（ｍ，ｎ）の平均値Ｄ^＊nor_ave(n)をそのままで用いて処理を行うように構成することも可能である。

また、直前ラインＮａよりライン番号が１５〜５程度小さい走査線５の部分で低下率ＤＳ(n)が１より若干小さくなっているが、これは、骨や臓器等の何らの対象が撮影されている部分であるためと考えられる。すなわち、この部分は、下記に示すような線欠陥が現れた部分ではない。

上記のようにして各走査線５ごとに低下率ＤＳ(n)を算出すると、続いて、算出した低下率ＤＳ(n)に対して、直前ラインＮａの低下率ＤＳ(Na)と、放射線画像撮影装置１における放射線の照射開始の検出処理の際に直前ラインＮａよりも前にオン電圧が印加されて各放射線検出素子７のリセット処理が行われた所定本数の各走査線５（すなわち直前ラインＮａよりライン番号が小さい所定本数の各走査線５）の各低下率ＤＳ(n)とを第２の近似直線Ｌap２で直線近似する。なお、以下、第２の近似直線Ｌap２を、簡単に近似直線Ｌap２という。

そして、図２５に示すように、上記の走査線５の所定本数を替えて、それぞれ近似直線Ｌap２で近似する。具体的には、いま仮に、所定本数を４本とすると、その場合、欠損を生じている真の画像データＤ^＊の範囲（すなわち線欠陥の範囲）が、ライン番号がＮａ−３〜Ｎａの４本の走査線５にそれぞれ接続されている各放射線検出素子７から読み出された画像データＤに基づいて算出された真の画像データＤ^＊であると仮定されたことになる。

そして、このようにして選択されたライン番号Ｎａ−３〜Ｎａの４本の走査線５の各低下率ＤＳ(Na-3)〜ＤＳ(Na)を、例えば最小二乗法等を用いて近似直線Ｌap２で直線近似する。正確には、この場合は、図２５等のグラフ上で、（Ｎａ−３，ＤＳ(Na-3)）、（Ｎａ−２，ＤＳ(Na-2)）、（Ｎａ−１，ＤＳ(Na-1)）、（Ｎａ，ＤＳ(Na)）の４点を近似直線Ｌap２で直線近似する。

また、ライン番号Ｎａ−３〜Ｎａの各走査線５に対応する近似直線Ｌap２上の各値を、それぞれ例えばＬap２(Na-3)〜Ｌap２(Na)とすると、それらの各値Ｌap２(Na-3)〜Ｌap２(Na)の各逆数１／Ｌap２(Na-3)〜１／Ｌap２(Na)が、上記の修復すべき範囲として仮定されたライン番号ｎがＮａ−３〜Ｎａの各走査線５にそれぞれ接続されている各放射線検出素子７から読み出された画像データＤに基づいて算出された真の各画像データＤ^＊をそれぞれ修復するための各修復係数であると考えられる。

そこで、ライン番号ｎがＮａ−３〜Ｎａの各走査線５の各低下率ＤＳ(Na-3)〜ＤＳ(Na)に、それぞれ各修復係数１／Ｌap２(Na-3)〜１／Ｌap２(Na)を乗算する。すると、修復された各低下率ＤＳ(Na-3)／Ｌap２(Na-3)〜ＤＳ(Na)／Ｌap２(Na)は、それぞれ１に近い値に修復されているはずである。

そして、欠損を生じている真の画像データＤ^＊の範囲（すなわち線欠陥の範囲）として仮定されたライン番号がＮａ−３〜Ｎａの４本の走査線５については、修復された各低下率ＤＳ(Na-3)／Ｌap２(Na-3)〜ＤＳ(Na)／Ｌap２(Na)と１との二乗誤差（すなわち差の二乗）をそれぞれ算出する。一方、それ以外の走査線５については、元の各低下率ＤＳ(n)と１との二乗誤差をそれぞれ算出する。

そして、それらの二乗誤差の合計値を算出する。このようにして算出された二乗誤差の合計値が、所定本数を４本とした場合に近似された近似直線Ｌap２に対する値となる。そのため、所定本数が４本の場合の近似直線Ｌap２に、算出された二乗誤差の合計値が割り当てられる。

このようにして、欠損を生じている真の画像データＤ^＊の範囲（すなわち線欠陥の範囲）として仮定する走査線５の所定本数を２本、３本、４本、…と替えて、図２５に示すように、それぞれ近似直線Ｌap２で近似する。

そして、近似直線Ｌap２を算出するごとに、上記と同様にして、上記の範囲の走査線５については修復された各低下率と１との二乗誤差をそれぞれ算出し、それ以外の走査線５については、元の各低下率ＤＳ(n)と１との二乗誤差をそれぞれ算出する。そして、二乗誤差の合計値を算出して、近似直線Ｌap２にそれぞれ割り当てる。

そして、図２６に示すように、各近似直線Ｌap２のうち、上記の二乗誤差の合計値が最小となる近似直線Ｌap２^＊を抽出する。そして、抽出された近似直線Ｌap２^＊が、図２６に示すように例えばライン番号がＮａ−５からＮａまでの各走査線５を対象として近似した近似直線であれば、欠損を生じている真の画像データＤ^＊の範囲（すなわち線欠陥の範囲）は、ライン番号がＮａ−５からＮａまでの各走査線５にそれぞれ接続されている各放射線検出素子７から読み出された画像データＤに基づいて算出された真の画像データＤ^＊であるとして特定することができる。

また、この場合、上記のように、ライン番号Ｎａ−５〜Ｎａの各走査線５に対応する、抽出された近似直線Ｌap２^＊上の各値Ｌap２^＊(Na-5)〜Ｌap２^＊(Na)の各逆数１／Ｌap２^＊(Na-5)〜１／Ｌap２^＊(Na)が、それぞれ、ライン番号Ｎａ−５〜Ｎａの各走査線５に接続されている各放射線検出素子７から読み出された画像データＤに基づく真の画像データＤ^＊に対する各修復係数になる。

そこで、ライン番号Ｎａ−５〜Ｎａの各走査線５に接続されている各放射線検出素子７ごとの真の画像データＤ^＊に、それぞれ対応する修復係数１／Ｌap２^＊(Na-5)〜１／Ｌap２^＊(Na)を乗算して、修復すべき範囲内の真の各画像データＤ^＊をそれぞれ修復して画像補正する。

具体的には、ライン番号ｎがＮａ−５である各放射線検出素子７（ｍ，Ｎａ−５）ごとの真の画像データＤ^＊（ｍ，Ｎａ−５）には修復係数１／Ｌap２^＊(Na-5)を乗算し、同様に、ライン番号ｎがＮａ−４〜Ｎａである真の各画像データＤ^＊（ｍ，Ｎａ−４）〜Ｄ^＊（ｍ，Ｎａ）には修復係数１／Ｌap２^＊(Na-4)〜１／Ｌap２^＊(Na)をそれぞれ乗算することにより、修復すべき範囲内の真の各画像データＤ^＊をそれぞれ修復して画像補正することができる。

このようにして修復すべき範囲内の真の各画像データＤ^＊をそれぞれ修復するように構成することにより、例えば図２７に示すように、修復すべき範囲内の真の各画像データＤ^＊に対してより厳密な画像処理を行って、真の各画像データＤ^＊をそれぞれ的確に修復することが可能となる。

なお、上記の図２５や図２６に示した真の画像データＤ^＊の修復手法の例では、各走査線５ごとの低下率ＤＳ(n)等を近似直線Ｌap２で直線近似する場合について説明した。これは、実際には、図１４（Ａ）に示したように、放射線源５２（図６や図７参照）から放射線画像撮影装置１に対して放射線を照射する際に、放射線の線量率ｕが、放射線の照射開始直後に瞬時に立ち上がることが前提とされている。

すなわち、この場合、放射線の照射開始からの線量率ｕが一定であるため、放射線画像撮影装置１の各放射線検出素子７内に発生する電荷が時間ｔに比例して増加する。そして、時間ｔに比例して増加する電荷が、放射線の照射が開始された後の各放射線検出素子７のリセット処理で各放射線検出素子７から放出されるために第２の線欠陥が生じる。

そのため、図２６等に示したように、線欠陥の部分における真の画像データＤ^＊の減少（図２６の場合はそれに対応する低下率ＤＳ(n)の減少）を、近似直線Ｌap２等で近似するという仮定が成り立ったのである。

しかし、放射線源５２における放射線の照射開始からの放射線の立ち上がり特性は多様であり、必ずしも図１４（Ａ）に示したように、放射線の線量率ｕが放射線の照射開始直後に瞬時に立ち上がるとは限らない。

そこで、放射線の線量率ｕが放射線の照射開始直後に瞬時に立ち上がらない放射線源５２を用いる場合には、線欠陥の部分における真の画像データＤ^＊の減少（或いはそれに対応する低下率ＤＳ(n)等の変化）を、上記のように近似直線Ｌap２で近似する代わりに、放射線源５２における放射線の照射開始からの放射線の立ち上がり特性に基づいて適切な関数を設定し、設定した関数で近似して、真の各画像データＤ^＊をそれぞれ修復することが望ましい。

上記のように、放射線画像撮影装置１の各放射線検出素子７内に発生する電荷は、放射線画像撮影装置１に照射される放射線の線量率ｕの時間的な積分値に応じて増加する。

そのため、上記の関数を設定する際には、放射線源５２から照射される放射線の線量率ｕが例えば図１４（Ｂ）に示したように変化する場合には、放射線の線量率ｕが増加している最中に各放射線検出素子７のリセット処理が行われた可能性がある走査線５については二次関数で、また、線量率ｕが一定になった後で各放射線検出素子７のリセット処理が行われた可能性がある走査線５については一次関数（すなわち直線）で近似するように構成することが可能である。

また、放射線源５２から照射される放射線の線量率ｕの時間的変動が別の形態になる場合には、線量率ｕの時間的な積分値もそれにあわせて変わる。このように、放射線源５２における放射線の照射開始からの放射線の立ち上がり特性に基づいて適切な関数を設定し、設定した関数で近似して、真の各画像データＤ^＊をそれぞれ修復して画像補正することが望ましい。

なお、このように構成する際、施設に複数の放射線源５２が設けられている場合には、各放射線源５２ごとに放射線の照射開始からの放射線の立ち上がり特性を検出する等して、各放射線源５２ことに上記の関数（近似直線である場合を含む。）を設定しておくことが望ましい。そして、放射線画像撮影装置１や画像処理装置は、画像データＤがどの放射線源５２から放射線が照射されて得られたものであるかに基づいて、その放射線源５２に対応する関数を適用して、上記の修復処理を行うように構成される。

上記の第２の線欠陥に対する画像補正１〜３のようにして第２の線欠陥を修復して画像補正するように構成すると、第２の線欠陥を生じている真の画像データＤ^＊に、それぞれ走査線５のライン番号ｎごとに割り出された修復係数が乗算されることになる。

その場合、各走査線５ごとの、真の画像データＤ^＊の走査線５の延在方向のプロファイルは例えば図１８（Ｂ）に示したようなプロファイルになるが、そのようなプロファイルの真の画像データＤ^＊に対してそれぞれ当該走査線５について割り出された修復係数が乗算される。そのため、例えば図１８（Ｂ）の真の画像データＤ^＊のプロファイルが全体的に大きくなるだけであり、プロファイルにおける凹凸は維持される（すなわち凹凸が平坦化される訳ではない）。

そのため、この第２の線欠陥の部分に患者の病変部が撮影されているような場合に、上記のように真の画像データＤ^＊に修復係数を乗算しても、それによって病変部の情報が真の画像データＤ^＊から失われることはない。すなわち、病変部とその周囲との輝度の差は維持される。

そのため、上記のように第２の線欠陥を画像補正するように構成すれば、画像補正された真の画像データＤ^＊に基づいて生成された放射線画像中からは、線欠陥が適切に修復されて除去されるとともに、第２の線欠陥の部分に病変部が撮影されている場合には、その病変部が、放射線画像中から失われてしまうことなく、放射線画像中に適切に撮影された状態になる。

上記の第２の線欠陥に対する画像補正１〜３を採用すれば、このような放射線画像が生成されるように画像データＤや真の画像データＤ^＊を修復して画像補正することが可能となる。

以上のように、本実施形態に係る放射線画像撮影システム５０によれば、放射線画像撮影装置１で前述したような放射線の照射開始の検出方法を採用した場合に画像データＤ中に必然的に現れる第１の線欠陥や、画像データＤ中に線欠陥が連続して現れる可能性がある第２の線欠陥を的確に修復して画像補正することが可能となる。

そして、このようにして適切に修復し画像補正された画像データＤや真の画像データＤ^＊に基づいて放射線画像を生成することで、線欠陥等のない適切な放射線画像を生成することが可能となる。

そして、線欠陥中に病変部が写り込んでいる場合には、病変部の情報が失われることなく画像データＤや真の画像データＤ^＊を修復することが可能となる。そのため、上記のようにして画像補正された画像データＤや真の画像データＤ^＊を用いて放射線画像を生成すれば、病変部の情報が放射線画像中から失われることなく適切に撮影された放射線画像を生成することが可能となる。

なお、本発明が上記の実施形態に限定されず、本発明の趣旨を逸脱しない限り、適宜変更可能であることは言うまでもない。

１ 放射線画像撮影装置
５ 走査線
５ａ、５ｂ 隣接する走査線
５ｄ 検出ライン（予め指定された複数の走査線）
６ 信号線
７ 放射線検出素子
８ ＴＦＴ（スイッチ手段）
１５ 走査駆動手段
１５ｂ ゲートドライバー
１７ 読み出し回路
２２ 制御手段
４１ アンテナ装置（通信手段）
５０ 放射線画像撮影システム
５８ コンソール（画像処理装置）
Ｄ 画像データ
ｄ 照射開始検出用データ
Ｌ１ 走査線５の最初のライン（検出部上における末端部分の走査線）
Ｌｘ 走査線５の最終ライン（検出部上における末端部分の走査線）
Ｐ 検出部
ｒ 小領域

Claims (7)

1. 互いに交差するように配設された複数の走査線および複数の信号線と、前記複数の走査線および複数の信号線により区画された各小領域に二次元状に配列された複数の放射線検出素子とを備える検出部と、
   前記各走査線にオン電圧とオフ電圧とをそれぞれ切り替えて印加するゲートドライバーを備える走査駆動手段と、
   前記各走査線に接続され、オン電圧が印加されると前記放射線検出素子に蓄積された電荷を前記信号線に放出させるスイッチ手段と、
   前記放射線検出素子から放出された前記電荷を画像データに変換して読み出す読み出し回路と、
   少なくとも前記走査駆動手段および前記読み出し回路を制御して前記放射線検出素子からの前記画像データの読み出し処理を行わせる制御手段と、
   を備え、
   前記制御手段は、
   放射線画像撮影前に、前記走査駆動手段の前記ゲートドライバーに接続されている全ての前記走査線のうち予め指定された単数または複数の前記走査線に対して前記ゲートドライバーからオン電圧を印加させて照射開始検出用データを読み出す読み出し処理と、前記ゲートドライバーから前記予め指定された複数の走査線以外の単数または複数の前記走査線にオン電圧を順次印加して行う前記各放射線検出素子のリセット処理とを繰り返し行わせ、
   読み出した前記照射開始検出データに基づいて放射線の照射が開始されたことを検出することを特徴とする放射線画像撮影装置。
2. 前記予め指定された複数の走査線は、前記検出部上に設けられた前記走査線のうち、所定の本数の前記走査線ごとに予め指定されることを特徴とする請求項１に記載の放射線画像撮影装置。
3. 前記予め指定された複数の走査線は、前記検出部上における末端部分の前記走査線を含まないように予め指定されることを特徴とする請求項１または請求項２に記載の放射線画像撮影装置。
4. 前記制御手段は、前記予め指定された複数の走査線に接続されている前記各放射線検出素子から読み出された前記画像データを、前記検出部上で当該複数の走査線にそれぞれ隣接する前記走査線に接続されている前記各放射線検出素子から読み出された前記画像データを用いて画像補正することを特徴とする請求項１から請求項３のいずれか一項に記載の放射線画像撮影装置。
5. 前記制御手段は、前記検出部上の前記信号線の延在方向における前記画像データのプロファイルを解析して、放射線が照射されている間に前記各放射線検出素子のリセット処理が行われたことにより欠損を生じている前記画像データの範囲を特定し、特定した前記範囲の前記画像データを画像補正することを特徴とする請求項４に記載の放射線画像撮影装置。
6. 通信手段を備える請求項１から請求項３のいずれか一項に記載の放射線画像撮影装置と、
   前記通信手段を介して前記放射線画像撮影装置から送信されてきた前記画像データに基づいて放射線画像を生成する画像処理装置と、
   を備え、
   前記画像処理装置は、前記放射線画像撮影装置において前記予め指定された複数の走査線に接続されている前記各放射線検出素子から読み出された前記画像データを、前記検出部上で当該複数の走査線にそれぞれ隣接する前記走査線に接続されている前記各放射線検出素子から読み出された前記画像データを用いて画像補正することを特徴とする放射線画像撮影システム。
7. 前記画像処理装置は、前記放射線画像撮影装置の前記検出部上の前記信号線の延在方向における前記画像データのプロファイルを解析して、放射線が照射されている間に前記各放射線検出素子のリセット処理が行われたことにより欠損を生じている前記画像データの範囲を特定し、特定した前記範囲の前記画像データを画像補正することを特徴とする請求項６に記載の放射線画像撮影システム。

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