JP2013130397A - 光軸位置補正装置およびイメージング装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】光軸位置補正装置11は、光源2からのビームを反射させる第1ミラー111と、反射したビームの一部を反射させる第1ビームスプリッタ112と、通過したビームの光軸の位置を検出する第1検出器113と、反射したビームを反射させる第2ミラー114と、反射したビームの一部を反射させる第2ビームスプリッタ115と、通過したビームの光軸の位置を検出する第2検出器116と、第1、第2ミラー111、114の向きを制御するフィードバック回路117とを備え、第1検出器113、第2検出器116で検出されるビームの位置が予め定められた位置になった場合には、第2ビームスプリッタ115で反射したビームの光軸の位置が予め定められた位置に一致するように構成されている。
【選択図】図2
Description
ここで、fはビームの周波数、Tは透過率、Aは吸収率、αは吸収係数、Lは検体Dを構成する該当成分の硬さ、Cは同成分の濃度である。
2 光源
3 制御装置
11 光軸位置補正装置
12 パルス発生器
13 集光レンズ
14 コリメートレンズ
15 画像化装置
111 第1ミラー
112 第1ビームスプリッタ
113 第1検出器
114 第2ミラー
115 第2ビームスプリッタ
116 第2検出器
117 フィードバック回路
D 検体
Claims (2)
- 光源から出力されるビームを反射させる第1ミラーと、
前記第1ミラーで反射したビームの一部を反射し一部を通過させる第1ビームスプリッタと、
前記第1ビームスプリッタを通過したビームの光軸の位置を検出する第1検出器と、
前記第1ビームスプリッタで反射したビームを反射させる第2ミラーと、
前記第2ミラーで反射したビームの一部を反射し一部を通過させる第2ビームスプリッタと、
前記第2ビームスプリッタを通過したビームの光軸の位置を検出する第2検出器と、
前記第1、第2検出器で検出されるビームの位置が予め定められた位置に一致するように前記第1、第2ミラーの向きを制御するフィードバック回路と
を備え、
前記第1、第2検出器で検出されるビームの位置が予め定められた位置になった場合には、前記第2ビームスプリッタで反射したビームの光軸の位置が予め定められた位置に一致するように構成されている
ことを特徴とする光軸位置補正装置。 - 光源から出力されるビームを光学的に処理し処理後のビームを出力する光軸位置補正装置と、
前記光軸位置補正装置から出力されるビームにより得られる光を検体に照射する手段と、
前記検体を経た光により画像を生成する手段と
を備え、
前記光軸位置補正装置は、
前記光源から出力されるビームを反射させる第1ミラーと、
前記第1ミラーで反射したビームの一部を反射し一部を通過させる第1ビームスプリッタと、
前記第1ビームスプリッタを通過したビームの光軸の位置を検出する第1検出器と、
前記第1ビームスプリッタで反射したビームを反射させる第2ミラーと、
前記第2ミラーで反射したビームの一部を反射し一部を通過させる第2ビームスプリッタと、
前記第2ビームスプリッタを通過したビームの光軸の位置を検出する第2検出器と、
前記第1、第2検出器で検出されるビームの位置が予め定められた位置に一致するように前記第1、第2ミラーの向きを制御するフィードバック回路と
を備え、
前記光軸位置補正装置は、
前記第2ビームスプリッタで反射したビームを出力するようになっており、
前記第1、第2検出器で検出されるビームの位置が予め定められた位置になった場合には、前記第2ビームスプリッタで反射したビームの光軸の位置が予め定められた位置に一致するように構成されている
ことを特徴とするイメージング装置。
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Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02271315A (ja) * | 1989-04-12 | 1990-11-06 | Ricoh Co Ltd | 光軸補正装置 |
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2011
- 2011-12-20 JP JP2011277921A patent/JP5979774B2/ja active Active
Patent Citations (5)
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