JP2013005896A - X線ct装置 - Google Patents
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- 238000002347 injection Methods 0.000 claims description 19
- 239000007924 injection Substances 0.000 claims description 19
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 18
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 claims description 5
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 claims description 5
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims description 4
- 238000002591 computed tomography Methods 0.000 description 47
- 239000002872 contrast media Substances 0.000 description 13
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 11
- 230000014509 gene expression Effects 0.000 description 10
- 238000000034 method Methods 0.000 description 8
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 6
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 238000010186 staining Methods 0.000 description 3
- 238000013480 data collection Methods 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000009977 dual effect Effects 0.000 description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- 230000035699 permeability Effects 0.000 description 2
- 206010020751 Hypersensitivity Diseases 0.000 description 1
- 210000000577 adipose tissue Anatomy 0.000 description 1
- 208000026935 allergic disease Diseases 0.000 description 1
- 230000007815 allergy Effects 0.000 description 1
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 1
- 238000010835 comparative analysis Methods 0.000 description 1
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 1
- 210000003734 kidney Anatomy 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 230000008569 process Effects 0.000 description 1
- 238000004088 simulation Methods 0.000 description 1
- 238000002603 single-photon emission computed tomography Methods 0.000 description 1
- 238000003325 tomography Methods 0.000 description 1
- 230000001131 transforming effect Effects 0.000 description 1
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Abstract
【解決手段】予備スキャンによる投影データを基に、第1X線管電圧による第1断層像と第1X線管電圧より低い第2X線管電圧による第2断層像とを再構成し、第1および第2断層像における画素値を用いて本スキャンにおけるスキャン条件の候補と、その候補のスキャン条件でスキャンしたときの、断層像のコントラストノイズ比を表す予測値と被検体の被曝線量を表す予測値とを、第1X線管電圧を含むスキャン条件の候補と、第2X線管電圧を含むスキャン条件の候補とについて、それぞれ決定する。そして、決定されたスキャン条件の各候補について、少なくとも、X線管電圧、コントラストノイズ比を表す予測値、および被曝線量を表す予測値を表示する。
【選択図】 図2
Description
noise ratio)で得られ、かつ、被検体の被曝線量が極力小さくなるようなスキャン条件を設定しようとする。
2 入力装置
3 中央処理装置
5 データ収集バッファ
6 モニタ
7 記憶装置
10 撮影テーブル
12 クレードル
15 回転部
20 走査ガントリ
21 X線管
22 X線コントローラ
23 コリメータ
24 X線検出器
25 DAS
26 回転部コントローラ
29 制御コントローラ
30 スリップリング
40 被検体
41 第1断層像
42 第2断層像
81 X線
100 X線CT装置
Claims (13)
- 本スキャンの前に、第1X線管電圧によるX線と前記第1X線管電圧より低い第2X線管電圧によるX線とを用いて被検体の予備スキャンを行うスキャン手段と、
前記予備スキャンにより得られた投影データに基づいて、前記第1X線管電圧による第1断層像と前記第2X線管電圧による第2断層像とを再構成する再構成手段と、
前記本スキャンにおけるスキャン条件候補と、該スキャン条件候補でスキャンしたときに得られる断層像のコントラストノイズ比を表す予測値と、該スキャン条件候補でスキャンしたときの前記被検体の被曝線量を表す予測値とを、前記第1X線管電圧を用いるスキャン条件候補と、前記第2X線管電圧を用いるスキャン条件候補とについて、それぞれ求める手段であって、前記コントラストノイズ比を表す予測値を、前記第1および第2断層像における画素値を用いて求める手段と、
前記求められた各スキャン条件候補について、少なくとも、X線管電圧、コントラストノイズ比を表す予測値、および被曝線量を表す予測値を表示する表示手段とを備えたX線CT装置。 - 前記本スキャンにおけるスキャン条件候補を求める手段は、第2X線管電圧を用いるスキャン条件候補であって、前記第1X線管電圧を用いるスキャン条件候補でスキャンしたときに得られる断層像のコントラストノイズ比を表す予測値または被検体の被曝線量を表す予測値に対し、コントラストノイズ比を表す予測値が同じになる或いはコントラストノイズ比が高くなるような予測値となる、または、被曝線量を表す予測値が同じになる或いは被曝が少なくなるような予測値となるスキャン条件候補を求める手段を有している請求項1に記載のX線CT装置。
- 前記本スキャンにおけるスキャン条件候補を求める手段は、前記第1X線管電圧と所望のX線管電流とを用いるスキャン条件候補を、第1候補として求める請求項1または請求項2に記載のX線CT装置。
- 前記所望のX線管電流は、CT自動露出機構を用いて得られたX線管電流である請求項3に記載のX線CT装置。
- 前記本スキャンにおけるスキャン条件候補を求める手段は、前記第2X線管電圧を用いるスキャン条件候補であって、X線管電流が前記第1候補のときと同じになるようなスキャン条件候補を、第2候補として求める請求項3または請求項4に記載のX線CT装置。
- 前記本スキャンにおけるスキャン条件候補を求める手段は、前記第2X線管電圧を用いるスキャン条件候補であって、コントラストノイズ比を表す予測値が前記第1候補のときと同じになるようなスキャン条件候補を、第3候補として求める請求項3から請求項5のいずれか一項に記載のX線CT装置。
- 前記本スキャンにおけるスキャン条件候補を求める手段は、前記第2X線管電圧を用いるスキャン条件候補であって、被曝線量を表す予測値が前記第1候補のときと同じになるようなスキャン条件候補を、第4候補として求める請求項3から請求項6のいずれか一項に記載のX線CT装置。
- 前記本スキャンにおけるスキャン条件候補を求める手段は、
操作者の操作に応じてまたは前記第1および第2断層像の解析結果に基づいて、前記第1および第2断層像の各々に対し、相対的に高い画素値を含む第1関心領域と相対的に低い画素値を含む第2関心領域とを設定する設定手段を有しており、
前記第1および第2関心領域の画素値を用いて前記コントラストノイズ比の予測値を求める請求項1から請求項7のいずれか一項に記載のX線CT装置。 - 前記再構成手段は、時系列的な複数の第1および第2断層像を再構成し、
前記設定手段は、操作者の操作に応じてまたは前記複数の第1および第2断層像の解析結果に基づいて、前記複数の第1および第2断層像の中から、特定の部位の画素値が実質的にピークに達しているタイミングにおける第1および第2断層像を選択し、該選択された第1および第2断層像に対して前記第1および第2関心領域を設定する請求項8に記載のX線CT装置。 - 前記予備スキャンは、X線管電圧を1または数ビュー単位で前記第1X線管電圧および第2X線管電圧を含む複数のX線管電圧に切り換えながらX線を照射するスキャンである請求項1から請求項9のいずれか一項に記載のX線CT装置。
- 前記予備スキャンおよび本スキャンは、造影スキャンである請求項1から請求項10のいずれか一項に記載のX線CT装置。
- 前記予備スキャンは、テストインジェクションスキャンを兼ねている請求項11に記載のX線CT装置。
- 前記第1X線管電圧は、実質的に120kVpである請求項1から請求項12のいずれか一項に記載のX線CT装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2011139892A JP2013005896A (ja) | 2011-06-23 | 2011-06-23 | X線ct装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2011139892A JP2013005896A (ja) | 2011-06-23 | 2011-06-23 | X線ct装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2013005896A true JP2013005896A (ja) | 2013-01-10 |
Family
ID=47673805
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2011139892A Ceased JP2013005896A (ja) | 2011-06-23 | 2011-06-23 | X線ct装置 |
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