JP2012526975A - 超音波による非破壊検査用試験プローブ群と同様の試験プローブおよび試験装置 - Google Patents
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Abstract
【選択図】なし
Description
・超音波振動子が適用されるあるいは適用されるべき、平面として受け入れられた遅延線本体の表面領域からの、対応する(二次元だが三次元に及ぶ)超音波振動子の空間的に分解されたずれ。
・試験片内へのプリセット斜角導入の場合の、試験片に結合後の超音波音場が試験材料内で主伝播方向に対して回転対称である、対応する振動子の周辺ライン。
Claims (24)
- 超音波音場を生成するための超音波振動子(20)を備え、前記超音波振動子は遅延線本体(12)に音響学的に結合され、前記遅延線本体は試験片の表面領域上の前記試験片への超音波音場の結合を目的として取り付けられるために提供される超音波による前記試験片の非破壊検査用試験プローブ(10)において、
a.前記試験プローブ(10)によって生成された超音波音場が、前記試験片への結合後に、その中心ビームに対して基本的に回転対称であり、
b.前記超音波振動子(20)が配置される前記遅延線本体(12)の表面領域が平面ではない、
ことを特徴とする超音波による非破壊検査用試験プローブ(10)。 - 前記試験片への音波の斜角導入のために提供されることを特徴とする請求項1に記載の試験プローブ(10)。
- 前記遅延線本体(12)の結合表面領域(14)が湾曲していることを特徴とする請求項1に記載の試験プローブ(10)。
- 前記超音波振動子(20)の周辺ラインが、回転対称、特に円形ではなく、あるいは正多角形であることを特徴とする請求項1に記載の試験プローブ(10)。
- 前記超音波振動子(20)が配置される前記遅延線本体(12)の表面領域のデザインが、主伝播方向に位置する点が存在するように選択され、そこで前記中心ビームと周辺ビームとの間のランタイムの差がT/2であり、Tは超音波のサイクル持続時間であることを特徴とする請求項1に記載の試験プローブ(10)。
- 前記超音波振動子(20)が配置される前記遅延線本体(12)の表面領域が、導入面で非線形の輪郭を有し、特にS字形の輪郭を有することを特徴とする請求項1に記載の試験プローブ(10)。
- 前記超音波振動子(20)が配置される前記遅延線本体(12)の表面領域が、関数によって導入面に垂直に記述され、前記関数は絶対最小値を有することを特徴とする請求項1に記載の試験プローブ(10)。
- 前記関数が、上方が開放された放物線に本質的に対応することを特徴とする請求項7に記載の試験プローブ(10)。
- 前記超音波振動子(20)が、独立して制御可能な個別の振動子の大多数を有することを特徴とする請求項1に記載の試験プローブ(10)。
- 前記個別の振動子が同相制御される場合に、音波音場の回転対称性が存在することを特徴とする請求項9に記載の試験プローブ(10)。
- 前記遅延線本体(12)の結合表面領域(14)が平面であることを特徴とする請求項1に記載の試験プローブ(10)。
- 前記遅延線本体(12)の結合表面領域(14)が平面ではないことを特徴とする請求項1に記載の試験プローブ(10)。
- 超音波による試験片の非破壊検査用試験装置であって、
a.超音波音場の生成のための超音波振動子(20)を有する試験プローブ(11)と、
i.前記試験プローブは、遅延線本体(12)に音響学的に結合され、前記遅延線本体は試験片の表面上の試験片への超音波音場の結合を目的として取り付けられるために提供され、
ii.前記試験プローブは、独立して制御可能な個別の振動子の大多数を有し、
b.前記試験プローブ(10)によって生成される超音波音場が、前記試験片への結合後に、その中心ビームに対して基本的に回転対称になるように、正確な位相で前記超音波振動子(20)の個別の振動子を制御するために備え付けられる制御ユニット(50)と
を備えることを特徴とする超音波による非破壊検査用試験装置。 - 前記超音波振動子(20)の前記個別の振動子を、前記試験プローブ(10)によって生成される超音波音場の主伝播方向が変化されるように正確な位相で制御するために、前記制御ユニットがさらに備え付けられることを特徴とする請求項13に記載の試験装置。
- 前記遅延線本体(12)の結合表面領域(14)が平面ではないことを特徴とする請求項13に記載の試験装置。
- 前記超音波振動子(20)の前記個別の振動子が二次元配列の形に並べられることを特徴とする請求項13に記載の試験装置。
- 前記超音波振動子(20)が配置される前記遅延線本体(12)の表面が平面であることを特徴とする請求項13に記載の試験装置。
- 前記超音波振動子(20)の前記個別の振動子が直線配列の形に並べられることを特徴とする請求項13に記載の試験装置。
- 直線配列の縦軸が導入面に位置することを特徴とする請求項18に記載の試験装置。
- その部材がいくつかの導入角度の下での音波導入のために提供される試験プローブ群において、試験片内のすべての試験プローブの中心ビームに関連する近接場の終端が、他の試験プローブの中心ビームに関連する前記他の試験プローブによって生成される超音波音場に基本的に一致することを特徴とする試験プローブ群。
- 部材群がいくつかの角度の下での斜角導入のために提供されることを特徴とする請求項20に記載の試験プローブ群。
- 請求項1から10の一つ以上に係るいくつかの試験プローブを備えることを特徴とする請求項21に記載の試験プローブ群。
- 試験材料内の中心ビーム方向での近接場の終端までの音響経路が、基本的に一群の試験プローブで一致することを特徴とする請求項20に記載の試験プローブ群。
- 請求項1に記載の試験プローブ、請求項13に係る試験装置、または、請求項20に係る試験プローブ群の、DGS法による試験片内の反射物の大きさを決定するための応用。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE102009003131.6 | 2009-05-14 | ||
DE102009003131 | 2009-05-14 | ||
PCT/EP2010/056614 WO2010130819A2 (en) | 2009-05-14 | 2010-05-12 | Test probe as well as family of test probes for the non-destructive testing of a workpiece by means of ultrasonic sound and testing device |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2012526975A true JP2012526975A (ja) | 2012-11-01 |
Family
ID=43085393
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2012510310A Pending JP2012526975A (ja) | 2009-05-14 | 2010-05-12 | 超音波による非破壊検査用試験プローブ群と同様の試験プローブおよび試験装置 |
Country Status (8)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8955384B2 (ja) |
EP (2) | EP2430435B1 (ja) |
JP (1) | JP2012526975A (ja) |
CN (1) | CN102439436B (ja) |
CA (1) | CA2761865A1 (ja) |
ES (1) | ES2761264T3 (ja) |
HK (1) | HK1168419A1 (ja) |
WO (1) | WO2010130819A2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2016501375A (ja) * | 2012-12-06 | 2016-01-18 | ゼネラル・エレクトリック・カンパニイ | Dgsサイジングのためのプローブ方法 |
Families Citing this family (18)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102011053942A1 (de) * | 2011-09-26 | 2013-03-28 | Ge Sensing & Inspection Technologies Gmbh | Verfahren zur zerstörungsfreien Prüfung eines Prüflings hoher Materialstärke mittels Ultraschall, die Verwendung eines Prüfkopfs zur Ausführung des Verfahrens, ein Ultraschallprüfkopf, eine Ansteuereinheit für einen Ultraschallprüfkopf und eine Vorrichtung für die zerstörungsfreie Prüfung eines Prüflings hoher Materialstärke mittels Ultraschall |
DE102012112119A1 (de) | 2012-12-11 | 2014-06-26 | Ge Sensing & Inspection Technologies Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur oberflächennahen zerstörungsfreien Prüfung eines rotationssymmetrischen Werkstücks mit abschnittsweise wechselndem Durchmesser mittels Ultraschall |
DE102012112120A1 (de) | 2012-12-11 | 2014-06-26 | Ge Sensing & Inspection Technologies Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur oberflächennahen zerstörungsfreien Prüfung eines rotationssymmetrischen Werkstücks mit abschnittsweise wechselndem Durchmesser mittels Ultraschall |
DE102012112121B4 (de) | 2012-12-11 | 2023-02-09 | Baker Hughes Digital Solutions Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur zerstörungsfreien Prüfung eines rotationssymmetrischen Werkstücks, welches Abschnitte verschiedener Durchmesser aufweist |
DE102014104909A1 (de) | 2014-01-31 | 2015-08-06 | Ge Sensing & Inspection Technologies Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur zerstörungsfreien Prüfung eines Prüflings mittels Ultraschall unter Berücksichtigung der frequenzabhängigen Schallschwächung |
DE102014104914A1 (de) | 2014-01-31 | 2015-08-20 | Ge Sensing & Inspection Technologies Gmbh | Vorrichtung und Verfahren zur zerstörungsfreien Prüfung eines Prüflings mittels Ultraschall nach der Vergleichskörpermethode |
DE102014101227A1 (de) | 2014-01-31 | 2015-08-06 | Ge Sensing & Inspection Technologies Gmbh | Vorrichtung und Verfahren zur zerstörungsfreien Prüfung eines Prüflings mittels Ultraschall nach der AVG-Methode |
DE102014102374B4 (de) * | 2014-02-24 | 2016-01-14 | Areva Gmbh | Verfahren zur Prüfung eines Werkstücks mittels Ultraschall |
US9671374B2 (en) * | 2015-03-04 | 2017-06-06 | The Boeing Company | Ultrasound probe assembly, system, and method that reduce air entrapment |
CN105092700B (zh) * | 2015-06-23 | 2018-06-19 | 邯钢集团邯宝钢铁有限公司 | 一种轧辊的冷作硬化接触疲劳显微裂纹检测方法 |
CN105181799B (zh) * | 2015-08-13 | 2018-02-13 | 河海大学常州校区 | 圆柱曲面工件的横向缺陷检测装置及方法 |
US10345271B2 (en) * | 2016-08-10 | 2019-07-09 | Spirit Aerosystems, Inc. | Modular film-covered elastomeric inspection device |
CN106680377B (zh) * | 2016-12-22 | 2019-08-20 | 中航复合材料有限责任公司 | 一种用于复合材料结构筋条区检测的超声阵列换能器 |
DE102018005540B4 (de) * | 2018-07-13 | 2022-06-09 | Pepperl+Fuchs Ag | 1D-Ultraschallwandler-Einheit |
JP7094192B2 (ja) * | 2018-10-17 | 2022-07-01 | 日立Geニュークリア・エナジー株式会社 | 超音波検査システム |
CN110779990B (zh) * | 2019-10-10 | 2022-06-17 | 中国工程物理研究院机械制造工艺研究所 | 一种材料内部多缺陷的激光超声三维定位定量检测方法 |
TWI783491B (zh) * | 2021-05-21 | 2022-11-11 | 友達光電股份有限公司 | 超音波偵測裝置 |
CN114062500B (zh) * | 2021-11-18 | 2023-09-19 | 中国航空制造技术研究院 | 复合材料工字梁的超声检测*** |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5832158A (ja) * | 1981-08-19 | 1983-02-25 | Babcock Hitachi Kk | 超音波探傷装置 |
JPS6327748A (ja) * | 1986-07-21 | 1988-02-05 | Mitsubishi Electric Corp | 超音波探触子 |
JP2005121660A (ja) * | 2003-10-16 | 2005-05-12 | General Electric Co <Ge> | 体積超音波検査のための2次元フェーズドアレイ及びその使用方法 |
JP2006047328A (ja) * | 2005-10-24 | 2006-02-16 | Sumitomo Metal Ind Ltd | 超音波探傷方法 |
JP2006194591A (ja) * | 2005-01-11 | 2006-07-27 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | 超音波探傷装置 |
Family Cites Families (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB978183A (en) * | 1963-06-28 | 1964-12-16 | Zeiss Jena Veb Carl | Improvements in or relating to sound transducers for nondestructive testing of materials and ultrasonic diagnosis |
US4195530A (en) * | 1978-08-14 | 1980-04-01 | Republic Steel Corporation | Ultrasonic inspection |
DE2920142C2 (de) * | 1979-05-18 | 1982-11-25 | Krautkrämer, GmbH, 5000 Köln | Ultraschall-Prüfanlage zur Ermittlung von Fehlern in Rohren |
DE4109625A1 (de) * | 1991-03-23 | 1992-09-24 | Krautkraemer Gmbh | Ultraschall-messverfahren fuer den wanddickenverlauf einer schweissnaht eines rohres |
US6216538B1 (en) * | 1992-12-02 | 2001-04-17 | Hitachi, Ltd. | Particle handling apparatus for handling particles in fluid by acoustic radiation pressure |
US5511425A (en) | 1993-12-09 | 1996-04-30 | Krautkramer-Branson, Inc. | Flaw detector incorporating DGS |
JP3331177B2 (ja) * | 1998-07-29 | 2002-10-07 | 旭光学工業株式会社 | セクタースキャン型体腔内超音波プローブ |
FR2849056B1 (fr) | 2002-12-19 | 2007-07-13 | Centre Nat Rech Scient | Mannuronane c5-epimerases d'algues brunes, procedes d'obtention et utilisations |
JP4412281B2 (ja) * | 2003-01-17 | 2010-02-10 | 東京電力株式会社 | 超音波探触子 |
US20070068253A1 (en) * | 2005-09-15 | 2007-03-29 | General Electric Company | Uni-index variable angle phased array probe |
EP2031385B1 (en) * | 2006-06-13 | 2015-11-18 | Nippon Steel & Sumitomo Metal Corporation | Ultrasonic flaw detecting method, manufacturing method for welded steel pipe, and ultrasonic flaw detecting apparatus |
US7757558B2 (en) * | 2007-03-19 | 2010-07-20 | The Boeing Company | Method and apparatus for inspecting a workpiece with angularly offset ultrasonic signals |
US8049494B2 (en) * | 2007-05-21 | 2011-11-01 | Olympus Ndt | Flexible array probe for the inspection of a contoured surface with varying cross-sectional geometry |
DE102008037173A1 (de) | 2008-01-04 | 2009-07-09 | Ge Inspection Technologies Gmbh | Verfahren für die zerstörungsfreie Prüfung eines Prüflings mittels Ultraschall sowie Vorrichtungen hierzu |
DE102008002445B4 (de) | 2008-01-04 | 2017-12-28 | Ge Inspection Technologies Gmbh | Verfahren für die zerstörungsfreie Prüfung eines Prüflings mittels Ultraschall sowie Vorrichtung hierzu |
DE102008002450B4 (de) | 2008-04-11 | 2022-06-23 | Waygate Technologies Usa, Lp | Verfahren für die zerstörungsfreie Prüfung eines Prüflings mittels Ultraschall sowie Vorrichtung hierzu |
DE102008002860A1 (de) * | 2008-05-28 | 2009-12-03 | Ge Inspection Technologies Gmbh | Verfahren zur zerstörungsfreien Prüfung von Gegenständen mittels Ultraschall |
-
2010
- 2010-05-12 JP JP2012510310A patent/JP2012526975A/ja active Pending
- 2010-05-12 WO PCT/EP2010/056614 patent/WO2010130819A2/en active Application Filing
- 2010-05-12 ES ES10718617T patent/ES2761264T3/es active Active
- 2010-05-12 EP EP10718617.3A patent/EP2430435B1/en active Active
- 2010-05-12 CA CA2761865A patent/CA2761865A1/en not_active Abandoned
- 2010-05-12 CN CN201080020683.7A patent/CN102439436B/zh not_active Expired - Fee Related
- 2010-05-12 EP EP19191643.6A patent/EP3605084A1/en active Pending
- 2010-05-12 US US13/319,615 patent/US8955384B2/en active Active
-
2012
- 2012-09-14 HK HK12109079.1A patent/HK1168419A1/xx not_active IP Right Cessation
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5832158A (ja) * | 1981-08-19 | 1983-02-25 | Babcock Hitachi Kk | 超音波探傷装置 |
JPS6327748A (ja) * | 1986-07-21 | 1988-02-05 | Mitsubishi Electric Corp | 超音波探触子 |
JP2005121660A (ja) * | 2003-10-16 | 2005-05-12 | General Electric Co <Ge> | 体積超音波検査のための2次元フェーズドアレイ及びその使用方法 |
JP2006194591A (ja) * | 2005-01-11 | 2006-07-27 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | 超音波探傷装置 |
JP2006047328A (ja) * | 2005-10-24 | 2006-02-16 | Sumitomo Metal Ind Ltd | 超音波探傷方法 |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2016501375A (ja) * | 2012-12-06 | 2016-01-18 | ゼネラル・エレクトリック・カンパニイ | Dgsサイジングのためのプローブ方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US8955384B2 (en) | 2015-02-17 |
WO2010130819A9 (en) | 2011-04-07 |
WO2010130819A2 (en) | 2010-11-18 |
ES2761264T3 (es) | 2020-05-19 |
HK1168419A1 (en) | 2012-12-28 |
CN102439436B (zh) | 2014-10-08 |
CA2761865A1 (en) | 2010-11-18 |
EP3605084A1 (en) | 2020-02-05 |
EP2430435A2 (en) | 2012-03-21 |
EP2430435B1 (en) | 2019-09-25 |
CN102439436A (zh) | 2012-05-02 |
US20120060612A1 (en) | 2012-03-15 |
WO2010130819A3 (en) | 2011-06-03 |
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Date | Code | Title | Description |
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A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20130731 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20140107 |
|
RD05 | Notification of revocation of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7425 Effective date: 20140313 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821 Effective date: 20140313 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20140405 |
|
RD02 | Notification of acceptance of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422 Effective date: 20140405 |
|
RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424 Effective date: 20140410 |
|
RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424 Effective date: 20140410 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20140905 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20150105 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20150105 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20150310 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20150310 |
|
A911 | Transfer of reconsideration by examiner before appeal (zenchi) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911 Effective date: 20150422 |
|
A912 | Removal of reconsideration by examiner before appeal (zenchi) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A912 Effective date: 20150612 |