JP2012225855A - Visual inspection device of minute workpiece - Google Patents

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a visual inspection device constituted so that minute works are conveyed at high speed while being aligned at predetermined intervals so that it is easy to inspect the minute works, and work adsorption mistakes are hard to be generated.SOLUTION: A visual inspection device of minute works is constituted so that a first indexer 4 approaches works 20 aligned and conveyed by a feeder 3 from an upper part behind, adsorbs and fixes the works 20 so as to be scooped up by performing air adsorption when the works are passed, and conveys the works to be directly transferred, and a visual inspection is performed while transferring the works 20 without reducing work conveyance speed and without narrowing their intervals by eliminating a relay guide member which once decelerates or stops the works 20.

Description

本発明は、微小ワークの外観検査装置に関する。   The present invention relates to an appearance inspection apparatus for a minute work.

携帯情報端末やデジタルカメラなどの電子機器は、実装部品を多数高密度実装することで、小型・薄型化を実現している。高密度実装にともない、その寸法はさらに小型・薄型化が進んでおり、これらの実装部品は通称、微小ワークと呼ばれている。なお、本明細書では、半導体素子、水晶振動子、水晶素子(SMD水晶素子)、SAWフィルタ素子、チップコンデンサ、抵抗、コイル、端子、基板、シート、フィルム等の多面体形状の実装部品を微小ワークと表現するか、または一部省略してワークと表現している。   Electronic devices such as portable information terminals and digital cameras have been made smaller and thinner by mounting many mounting components at high density. With high-density mounting, the dimensions are further reduced in size and thickness, and these mounted parts are commonly called micro workpieces. In this specification, a polyhedral mounting component such as a semiconductor element, a crystal resonator, a crystal element (SMD crystal element), a SAW filter element, a chip capacitor, a resistor, a coil, a terminal, a substrate, a sheet, or a film is used as a micro work. Or a part of the work is omitted.

微小ワークは、一旦、バルクケースにまとめてバラ状に包装される場合が多く、バルクケースからランダムな状態で取り出されたワークは、整列搬送されながら外観検査され、外観判別(良否選別やクラス分け)されて次工程に移される。次工程としては、ワークの電気検査工程、ワークの基板実装工程、ワークをテーピングやマガジン詰め等を行う包装工程などがある。   In many cases, micro workpieces are once packed together in a bulk case and packaged in a rose shape. The workpieces taken out from the bulk case in a random state are inspected for appearance while being aligned and transported to determine the appearance (classification / classification and classification). ) And moved to the next step. The next process includes a work electrical inspection process, a work board mounting process, a packaging process in which the work is taped, packed in a magazine, and the like.

近年、外観検査における撮像カメラと画像処理技術は、その高速・高精度化がめざましく、微小ワークの外観検査を高速かつ高精度に行なう上での障害とはならず、ますますその余裕度が増してきている。いっぽうで、微小ワークの全表面、例えば直方体であれば6面すべてを高精度に外観検査するためには、これら微小ワークを整列しかつ一定間隔を離して画像処理部に搬送しなければならないが、従来の搬送機構では、すでに処理速度の限界に達してきている。つまり、微小ワークを5,000[個/分]以上の速度で良否判定し外観判別しようとしても、微小ワークを安定してインデクサに受け渡すことができなくなっている。それゆえこのインデクサへの受渡しの問題を解消しない限り、外観検査装置全体の機能向上を望めなくなってきている。なお、ここで、インデクサとは、円板形状で、その回転軸が水平方向に配されたワーク搬送機構であり、円板形状の外周に所定間隔で形成された吸着口によってワークをエア吸着して回転軸で回転し搬送する搬送機構のことである。   In recent years, imaging cameras and image processing technologies for visual inspection have been dramatically improved in speed and accuracy, and are not an obstacle to high-speed and high-precision visual inspection of minute workpieces. It is coming. On the other hand, in order to accurately inspect the entire surface of a minute workpiece, for example, all six surfaces of a rectangular parallelepiped, these minute workpieces must be aligned and transported to the image processing unit at a predetermined interval. In the conventional transport mechanism, the limit of the processing speed has already been reached. In other words, even if it is determined whether the minute work is good or bad at a speed of 5,000 [pieces / minute] or more to determine the appearance, the minute work cannot be stably delivered to the indexer. Therefore, unless the problem of delivery to the indexer is solved, it is not possible to improve the function of the entire appearance inspection apparatus. Here, the indexer is a work conveyance mechanism having a disk shape and a rotating shaft arranged in the horizontal direction, and the work is air adsorbed by suction holes formed at predetermined intervals on the outer circumference of the disk shape. It is a transport mechanism that rotates and transports around a rotating shaft.

既知の整列搬送機構や整列搬送機構を備えた外観検査装置(以下、省略して外観検査装置と表記する)では、ワーク間隔が狭くなるフィーダからワーク間隔が大きくなるインデクサへの確実なワークの受渡しために、その中継個所にワークをいったん減速あるいは停止させる中継ガイド部材を介している。   In a visual inspection device (hereinafter abbreviated as visual inspection device) equipped with a known alignment transport mechanism or alignment transport mechanism, reliable workpiece transfer from a feeder with a narrow workpiece interval to an indexer with a large workpiece interval For this purpose, a relay guide member that temporarily decelerates or stops the workpiece is provided at the relay location.

特許文献1には、整列フィーダと、中継ガイド手段と、第1及び第2ロータ(第1及び第2インデクサに相当)とを備えたチップ部品の自動分離供給装置が記載されており、上記中継ガイド手段が非振動部で構成されているとの記述がある(その請求項3)。 特許文献2には、第1及び第2フィーダのそれぞれの上方に各々の周面が位置するよう立設させた円形の第1及び第2テーブル(第1及び第2インデクサに相当)を備えた外観検査装置が記載されており、第1フィーダの先端部が無振動状態とされているとの記述がある(その段落0016)。 特許文献3には、ワークを整列搬送するフィーダと、フィーダから整列搬送されるワークを中継して搬送する搬送溝を有する無振動中継台と、無振動中継台からワークを受け取り回転搬送する第1の回転インデクサと、第1の回転インデクサの下方側に配され回転搬送する第2の回転インデクサを備えた外観検査装置が記載されている。   Patent Document 1 describes an automatic separation and supply device for chip parts, which includes an alignment feeder, a relay guide means, and first and second rotors (corresponding to first and second indexers). There is a description that the guide means is composed of a non-vibrating portion (claim 3). Patent Document 2 includes circular first and second tables (corresponding to first and second indexers) that are erected so that the respective peripheral surfaces are positioned above the first and second feeders. An appearance inspection device is described, and there is a description that the tip of the first feeder is in a non-vibrating state (paragraph 0016). Patent Document 3 discloses a feeder that aligns and conveys workpieces, a non-vibration relay base that has a conveyance groove that relays and conveys workpieces that are aligned and conveyed from the feeder, and a first device that receives and rotates and conveys workpieces from the non-vibration relay stand. And a second rotation indexer that is disposed below the first rotation indexer and that is rotated and conveyed are described.

特許第3817926号公報Japanese Patent No. 3817926 特許第4219142号公報Japanese Patent No. 4219142 特許第3814278号公報Japanese Patent No. 3814278

しかしながら、従来の外観検査装置では、ワークを高速搬送することが困難である。つまり、ワーク間隔が狭くなるフィーダからワーク間隔が大きくなるインデクサへの確実なワークの受渡しのために、その中継個所にワークをいったん減速あるいは停止させる中継ガイド部材を介しているために、ワークの受渡し速度を上げようとすると、この受渡し部がボトルネックとなり、高速搬送し難い構成である。また、装置トラブルによって何らかの停止原因が発生してインデクサ部が停止したとしても、フィーダがその構造上緊急停止できないため、その受渡し部にワークが溜ってしまい、これを除去しないと再運転できないという装置操作上の煩わしさがある。   However, it is difficult for a conventional visual inspection apparatus to transport a workpiece at high speed. In other words, the workpiece is delivered because a relay guide member that temporarily decelerates or stops the workpiece at the relay point is used for reliable delivery of the workpiece from the feeder where the workpiece interval becomes narrower to the indexer where the workpiece interval becomes larger. When trying to increase the speed, this delivery section becomes a bottleneck, and it is difficult to carry at high speed. In addition, even if the indexer unit stops due to some cause of stoppage due to device trouble, the feeder cannot be stopped urgently due to its structure, so that work will accumulate in the delivery unit, and it will not be possible to restart without removing this There is annoying operation.

また、従来の外観検査装置では、中継ガイド部材を介しているが故に、フィーダと第1インデクサを非同期としている。例えば、振動式フィーダとした場合、ワーク搬送速度は、搬送面の振動状態(振動周波数、振幅、振動波形)、搬送面の表面状態、搬送面の傾斜角度、ワーク形状、ワーク表面状態、湿度、温度、その他の影響を受けて変動する。そして、ワーク搬送速度がばらつくことで、個々のワーク間の間隔(ワーク間隔)がばらついてしまい、撮像タイミングが合わなくなる。そこで、中継ガイド部材を介している方式では、後続のワークが先頭のワークを押出すやり方によってワーク間の隙間(またはワーク間隔)をいったんゼロとし、ワーク搬送速度が、中継ガイドに乗っているワークの個数分に応じた値に平均化されることを期待して中継ガイド部材を設置している。このため、中継ガイド部材を介している方式で仮に同期制御したとしても、フィーダ側の搬送速度を減速させ、その後の受渡しで急加速することに変わりはなく、せっかく発生したワークの隙間をなくしており、高速化に不利な構成となっている。   Further, in the conventional appearance inspection apparatus, since the relay guide member is interposed, the feeder and the first indexer are asynchronous. For example, in the case of a vibratory feeder, the workpiece conveyance speed includes the conveyance surface vibration state (vibration frequency, amplitude, vibration waveform), conveyance surface surface state, conveyance surface inclination angle, workpiece shape, workpiece surface state, humidity, Fluctuates due to temperature and other effects. Since the workpiece conveyance speed varies, the interval between individual workpieces (work interval) varies, and the imaging timing does not match. Therefore, in the method using the relay guide member, the gap between the workpieces (or the workpiece interval) is once set to zero by the method in which the subsequent workpiece pushes out the leading workpiece, and the workpiece conveyance speed is the workpiece on the relay guide. The relay guide member is installed with the expectation that it will be averaged to a value corresponding to the number of pieces. For this reason, even if synchronous control is performed using a method via a relay guide member, the feeding speed on the feeder side is decelerated and then suddenly accelerated by subsequent delivery, and the gap between the generated workpieces is eliminated. This is a disadvantageous configuration for speeding up.

特に、特許文献1と2記載の外観検査装置のように、下側に配されたフィーダから上側に配されたインデクサ(第1インデクサ)へと微小ワークを受渡して搬送する方式の場合は、ワークの吸着ミスが生じ易い。つまり、ワークをフィーダからインデクサへ確実に受渡しするには、インデクサの吸着口のサイズはワークを吸着して持ち上げるだけの大きさが必要となるが、ワーク受渡しの中継個所にワークをいったん減速あるいは停止させる中継ガイド部材を介しているために、フィーダ上のワークの間隔がなくなっていることから、インデクサの吸着口に前後のワークの境目が直面すると前後2個のワークを吸着してしまうという不具合が発生する。   In particular, in the case of a method of transferring and transferring a minute work from a feeder arranged on the lower side to an indexer (first indexer) arranged on the upper side as in the appearance inspection apparatus described in Patent Documents 1 and 2, Adsorption mistakes are likely to occur. In other words, to reliably deliver the workpiece from the feeder to the indexer, the size of the indexer suction port needs to be large enough to attract and lift the workpiece, but once the workpiece is decelerated or stopped at the workpiece delivery relay point Since there is no gap between the workpieces on the feeder because the relay guide member is used, the front and rear workpieces are sucked when the front and rear workpiece boundaries are confronted with the suction port of the indexer. appear.

上述した従来技術の問題点に鑑みて、本発明の目的は、微小ワークを検査し易いように所定間隔に揃えながら高速搬送することが可能であるとともに、ワーク吸着ミスが生じ難い構成の外観検査装置を提供することにある。   In view of the above-described problems of the prior art, an object of the present invention is to perform an appearance inspection with a configuration that enables high-speed conveyance while aligning a predetermined interval so that a minute workpiece can be easily inspected, and is unlikely to cause a workpiece suction error. To provide an apparatus.

本発明の微小ワークの外観検査装置は、ワークを整列搬送するフィーダと、円板形状の外周に所定間隔で形成された吸着口によってフィーダ上のワークをエア吸着して回転軸で回転して搬送するインデクサと、搬送中のワークを撮像するため複数個所に配された撮像カメラと、これら撮像カメラから送出された撮像信号によって搬送中のワークを良否判定する判定回路と、前記インデクサに近接配置された良否選別部と、当該良否選別部に設けられた複数の排出口から良否判定されたワークをそれぞれ対応させて排出する排出手段と、これらを制御する制御回路を備え、前記フィーダによるワーク搬送軌道とインデクサの回転軌道との近接点において前記フィーダによるワーク搬送方向と前記インデクサによるワーク搬送方向とが一致するように前記インデクサが配されて回転する構成とされ、前記インデクサが回転しその吸着口が前記フィーダによって整列搬送されたワークに接近し当該ワークを追い越す際にエア吸着して搬送し、前記フィーダと前記インデクサとで搬送されるワークを複数個所に配された前記撮像カメラが撮像して撮像信号を送出し、前記判定回路が送出された撮像信号から対象となるワークを良否判定し、前記排出手段が良否判定されたワークを前記排出口からそれぞれ対応させて排出することを特徴とする。   The micro-work appearance inspection apparatus according to the present invention air-sucks the work on the feeder by a feeder that aligns and transports the work and suction holes formed at a predetermined interval on the outer periphery of the disk shape, and rotates and rotates on a rotating shaft. An indexer, an imaging camera arranged at a plurality of locations for imaging the workpiece being conveyed, a determination circuit for determining whether the workpiece being conveyed is good or bad by an imaging signal sent from these imaging cameras, and the indexer A workpiece transfer trajectory provided by the feeder, and a discharge circuit that discharges the workpieces determined to pass or fail from the plurality of discharge ports provided in the pass / fail sorting unit, and a control circuit that controls them. The workpiece transfer direction by the feeder and the workpiece transfer direction by the indexer coincide with each other at a point close to the rotation path of the indexer. The indexer is arranged and rotated, and when the indexer rotates and the suction port approaches the work aligned and transported by the feeder and passes the work, the air is adsorbed and transported. The imaging camera arranged at a plurality of locations picks up the workpiece conveyed by the indexer and sends an imaging signal. The judging circuit judges the quality of the target workpiece from the imaging signal sent, and the discharging means It is characterized in that the workpieces judged to be good or bad are discharged in correspondence with the discharge ports, respectively.

本発明によれば、前記インデクサの吸着口が前記フィーダによって整列搬送されたワークに接近し当該ワークを追い越す際にエア吸着し吸着固定しながら搬送し受け渡すことから、前記ワークはフィーダからインデクサへと直接受渡しされ、ワークをいったん減速あるいは停止させる中継ガイド部材をなくすことで、ワーク搬送速度を落とさずに、その間隔を狭めることなくワークを受渡しながら外観検査する。そして、前記ワークを受渡す際の搬送方向がほぼ平行であるためワーク受渡しの際の衝撃力を極力抑えることができ、微小ワークを安定して、かつ高速に処理することができる。また、前記フィーダより搬送されるワーク間隔を前記吸着口のサイズ程度以上としておくことで、前後2個のワークを吸着してしまうという不具合が発生せず、ワーク吸着ミスが生じ難い構成となる。   According to the present invention, when the suction port of the indexer approaches the work aligned and transported by the feeder and passes the work, the work is transferred from the feeder to the indexer while sucking and fixing the air. By eliminating the relay guide member that once decelerates or stops the work, the appearance inspection is performed while delivering the work without reducing the interval without reducing the work conveyance speed. And since the conveyance direction at the time of the said workpiece | work delivery is substantially parallel, the impact force at the time of workpiece | work delivery can be suppressed as much as possible, and a minute workpiece can be processed stably and at high speed. In addition, by setting the interval between the workpieces conveyed from the feeder to be equal to or larger than the size of the suction port, there is no problem of sucking two front and rear workpieces, and a workpiece suction error is unlikely to occur.

本発明では、前記インデクサは、前記フィーダの直上に配置される。前記インデクサを前記フィーダの直上に配置することで、前記インデクサの吸着口が前記フィーダによって整列搬送されたワークに背後上方から接近し当該ワークを追い越す際にエア吸着して掬い上げるようにして吸着固定して搬送し受け渡すことから、搬送中の前記ワークに無理な力がかかることなく、より確実なワークの受渡しができる。なお、前記インデクサを前記フィーダの直上に配置するとは、前記フィーダによって整列搬送されるワークの上方に前記インデクサの吸着口が位置することであり、真上のみならず、斜め上方をも含んで直上と表現している。   In the present invention, the indexer is disposed immediately above the feeder. By placing the indexer directly above the feeder, the indexer suction port approaches the work aligned and transported by the feeder from the upper rear and sucks and fixes the air when it is overtaken. Thus, since the workpiece is conveyed and delivered, the workpiece can be delivered more reliably without applying an excessive force to the workpiece being conveyed. Note that the arrangement of the indexer directly above the feeder means that the suction port of the indexer is positioned above the workpiece aligned and conveyed by the feeder, and includes not only directly above but also diagonally above. It expresses.

本発明の微小ワークの外観検査装置は、ワークを整列搬送するフィーダと、円板形状の外周に所定間隔で形成された第1の吸着口によってフィーダ上のワークをエア吸着して第1の回転軸で回転し搬送する第1のインデクサと、円板形状の外周に所定間隔で形成された第2の吸着口によって第1のインデクサ上のワークをエア吸着し第2の回転軸で逆回転し搬送する第2のインデクサと、搬送中のワークを撮像するため複数個所に配された撮像カメラと、これら撮像カメラから送出された撮像信号によって搬送中のワークを良否判定する判定回路と、前記第2のインデクサに近接配置された良否選別部と、当該良否選別部に設けられた複数の排出口から良否判定されたワークをそれぞれ対応させて排出する排出手段と、これらを制御する制御回路を備え、前記フィーダによるワーク搬送軌道と前記第1のインデクサの回転軌道との近接点において前記フィーダによるワーク搬送方向と前記第1のインデクサによるワーク搬送方向とが一致するように前記第1のインデクサが配されて回転し、前記第1のインデクサの回転軌道と前記第2のインデクサの回転軌道との近接点において前記第1のインデクサによるワーク搬送方向と前記第2のインデクサによるワーク搬送方向とが一致するように前記第2のインデクサが配されて逆回転する構成とされ、前記第1のインデクサが回転しその第1の吸着口が前記フィーダによって整列搬送されたワークに接近し当該ワークを追い越す際にエア吸着して搬送し、前記第2のインデクサが逆回転しその第2の吸着口が前記第1のインデクサによって整列搬送されたワークに接近し当該ワークを追い越す際にエア吸着して搬送し、前記第1のインデクサと前記第2のインデクサとで搬送されるワークを複数個所に配された前記撮像カメラが撮像して撮像信号を送出し、前記判定回路が送出された撮像信号から対象となるワークを良否判定し、前記排出手段が良否判定されたワークを前記排出口からそれぞれ対応させて排出することを特徴とする。   The apparatus for inspecting appearance of a minute workpiece according to the present invention performs a first rotation by air-sucking the workpiece on the feeder by a feeder that aligns and conveys the workpiece and a first suction port formed on a disk-shaped outer periphery at a predetermined interval. The work on the first indexer is air-sucked by the first indexer that rotates and conveys the shaft and the second suction ports formed on the outer periphery of the disk shape at predetermined intervals, and reversely rotates on the second rotating shaft. A second indexer for conveying; imaging cameras disposed at a plurality of locations for imaging the workpiece being conveyed; a determination circuit for determining whether or not the workpiece being conveyed is acceptable by imaging signals sent from the imaging cameras; A pass / fail screening unit disposed in proximity to the indexer of 2, a discharge unit that discharges the work determined to be pass / fail from each of the plurality of discharge ports provided in the pass / fail screening unit, and a control for controlling these units The first indexer so that the workpiece conveyance direction by the feeder coincides with the workpiece conveyance direction by the first indexer at a proximity point between the workpiece conveyance trajectory by the feeder and the rotation orbit of the first indexer. An indexer is disposed and rotated, and a workpiece transfer direction by the first indexer and a workpiece transfer direction by the second indexer at a point close to the rotation track of the first indexer and the rotation track of the second indexer. The second indexer is arranged so as to rotate in reverse so that the first indexer rotates, and the first indexer rotates so that the first suction port approaches the workpiece aligned and transported by the feeder and moves the workpiece. When the vehicle is overtaken, air is adsorbed and conveyed, and the second indexer rotates in the reverse direction, and the second suction port is driven by the first indexer. The imaging camera is arranged such that the workpieces conveyed by the first indexer and the second indexer are arranged at a plurality of locations when the workpieces approached and conveyed are adsorbed and conveyed when passing the workpieces. The imaging circuit sends out an imaging signal, the determination circuit determines whether the target workpiece is good or bad from the imaging signal sent, and the discharging means discharges the workpiece determined to be good or bad in correspondence with each from the discharge port. Features.

本発明によれば、前記第1のインデクサの吸着口が前記フィーダによって整列搬送されたワークに接近し当該ワークを追い越す際にエア吸着し吸着固定しながら搬送し受け渡すことから、前記ワークはフィーダから第1のインデクサへと直接受渡しされ、ワークをいったん減速あるいは停止させる中継ガイド部材をなくすことで、ワーク搬送速度を落とさずに、その間隔を狭めることなくワークを受渡しながら外観検査する。より具体的には、前記第1のインデクサが回転しその第1の吸着口が前記フィーダによって整列搬送されたワークに接近し当該ワークを追い越す際にエア吸着して搬送し、前記第2のインデクサが逆回転しその第2の吸着口が前記第1のインデクサによって整列搬送されたワークに接近し当該ワークを追い越す際にエア吸着して搬送し、前記第1のインデクサと前記第2のインデクサとで搬送されるワークを複数個所に配された前記撮像カメラが撮像して撮像信号を送出し、前記判定回路が送出された撮像信号から対象となるワークを良否判定し、前記排出手段が良否判定されたワークを前記排出口からそれぞれ対応させて排出することで、微小ワークを検査し易いように前記フィーダによって所定間隔に揃えながら高速搬送し、ワーク搬送速度を落とさずに、その間隔を狭めることなく前記フィーダから第1のインデクサへの確実なワークの受渡しをすることが可能となる。そして、前記ワークを受渡す際の搬送方向がほぼ平行であるためワーク受渡しの際の衝撃力を極力抑えることができ、微小ワークを安定して、かつ高速に処理することができる。また、前記フィーダより搬送されるワーク間隔を前記第1の吸着口のサイズ程度以上としておくことで、前後2個のワークを吸着してしまうという不具合が発生せず、ワーク吸着ミスが生じ難い構成となる。   According to the present invention, when the suction port of the first indexer approaches the work aligned and transported by the feeder and passes the work, it is transported and delivered while adsorbing air and sucking and fixing. The intermediate guide member which is directly delivered to the first indexer and temporarily decelerates or stops the workpiece is eliminated, and the appearance inspection is performed while delivering the workpiece without reducing the interval without reducing the workpiece conveyance speed. More specifically, when the first indexer rotates and the first suction port approaches the workpiece aligned and conveyed by the feeder and passes the workpiece, the first indexer adsorbs and conveys the air, and the second indexer. Is rotated in reverse and the second suction port approaches the work aligned and transported by the first indexer and passes the work by adsorbing air, and the first indexer and the second indexer, The imaging cameras arranged at a plurality of locations pick up images of the workpieces conveyed and send out imaging signals, and the judgment circuit judges the quality of the target workpieces from the imaging signals sent out, and the discharging means judges the quality The discharged workpieces are discharged from the discharge ports in correspondence with each other, so that the workpiece can be conveyed at high speed while being aligned at a predetermined interval by the feeder so that the minute workpiece can be easily inspected. Without reducing the degree, it is possible to passing reliable work from the feeder without the first indexer narrowing the interval. And since the conveyance direction at the time of the said workpiece | work delivery is substantially parallel, the impact force at the time of workpiece | work delivery can be suppressed as much as possible, and a minute workpiece can be processed stably and at high speed. Further, by setting the interval between the workpieces conveyed from the feeder to be equal to or larger than the size of the first suction port, there is no problem of sucking two workpieces in the front and rear, and a workpiece suction error is unlikely to occur. It becomes.

本発明では、前記第1のインデクサは、前記フィーダの直上に配置される。前記第1のインデクサを前記フィーダの直上に配置することで、前記第1のインデクサの吸着口が前記フィーダによって整列搬送されたワークに背後上方から接近し当該ワークを追い越す際にエア吸着して掬い上げるようにして吸着固定して搬送し受け渡すことから、搬送中の前記ワークに無理な力がかかることなく、より確実なワークの受渡しができる。なお、前記第1のインデクサを前記フィーダの直上に配置するとは、前記フィーダによって整列搬送されるワークの上方に前記第1のインデクサの吸着口が位置することであり、真上のみならず、斜め上方をも含んで直上と表現している。   In the present invention, the first indexer is disposed immediately above the feeder. By disposing the first indexer immediately above the feeder, the suction port of the first indexer approaches the work aligned and conveyed by the feeder from the upper rear side and sucks air when it passes the work. Since the workpiece is sucked and fixed so as to be raised and conveyed and delivered, the workpiece can be delivered more reliably without applying an excessive force to the workpiece being conveyed. Note that the arrangement of the first indexer immediately above the feeder means that the suction port of the first indexer is located above the workpiece aligned and conveyed by the feeder, and not only directly above but also diagonally. It is expressed as just above including the upper part.

前記第2のインデクサは、前記第1のインデクサによって整列搬送されたワークを受け渡すことができる位置であって、前記撮像カメラや前記良否選別部と干渉しない位置であれば、特に配置制限がなく、例えば、前記第2のインデクサを前記第1のインデクサの直上(真上や斜め上方)に配置したり、真横に配置したりすることができる。前記第1のインデクサを前記フィーダの直上に配置し、前記第2のインデクサを前記第1のインデクサの直上に配置する構成とすれば、装置の設置床面積が少なくて済み、省スペースが図られる。   The second indexer is not particularly limited as long as the second indexer is a position where the work aligned and conveyed by the first indexer can be delivered and does not interfere with the imaging camera and the pass / fail screening unit. For example, the second indexer can be disposed immediately above (directly above or obliquely above) the first indexer, or can be disposed directly beside. If the first indexer is disposed directly above the feeder and the second indexer is disposed directly above the first indexer, the installation floor area of the apparatus can be reduced, and space can be saved. .

前記排出手段としては、エア噴射流を利用したものや、エア吸着を利用したものなどが挙げられる。例えば、前記判定回路の良否判定信号を受けた前記制御回路が、前記インデクサ(第1のインデクサや第2のインデクサ)上でワーク解放用の噴射口へのエア噴射流を制御して個々のワークを選別し分離回収する構成とすれば、ワークの分離回収が簡易かつ確実にできる。前記排出手段としては、例えば前記インデクサ(第1のインデクサや第2のインデクサ)の内部に微小ワークを解放するための噴射配管を設けてエア噴射流を利用することや、また例えば微小ワークをエア吸着するための吸着配管を前記インデクサ(第1のインデクサや第2のインデクサ)に近接配置することなどが挙げられる。   Examples of the discharging means include those using an air jet flow and those using air adsorption. For example, the control circuit that has received the pass / fail determination signal from the determination circuit controls the air injection flow to the work release opening on the indexer (the first indexer or the second indexer). If the structure is selected and separated and collected, the workpiece can be separated and collected easily and reliably. As the discharge means, for example, an injection pipe for releasing a minute work is provided in the indexer (first indexer or second indexer) and an air injection flow is used, or for example, a minute work is aired. For example, an adsorption pipe for adsorbing may be disposed close to the indexer (first indexer or second indexer).

ここで、前記フィーダのワーク搬送速度を符号V1とし、前記第1のインデクサのワーク搬送速度を符号V2とし、前記第2のインデクサのワーク搬送速度を符号V3とすると、これら搬送速度V1,V2,V3の関係を従来の外観検査装置に当てはめて考えると、搬送速度V3が搬送速度V2と同じか大きな値に設定され(V3≧V2)、搬送速度V2が搬送速度V1と同じか大きな値に設定される(V2≧V1)。   Here, when the workpiece conveying speed of the feeder is denoted by reference numeral V1, the workpiece conveying speed of the first indexer is denoted by reference numeral V2, and the workpiece conveying speed of the second indexer is denoted by reference numeral V3, these conveying speeds V1, V2, and so on. When the relationship of V3 is applied to the conventional appearance inspection apparatus, the conveyance speed V3 is set to the same or larger value as the conveyance speed V2 (V3 ≧ V2), and the conveyance speed V2 is set to the same or larger value as the conveyance speed V1. (V2 ≧ V1).

本発明は、前記インデクサのワーク搬送速度が前記フィーダのワーク搬送速度よりも大きく設定されており、前記制御回路が前記インデクサと前記フィーダとを同期制御することを特徴とする。 また本発明は、前記第1のインデクサのワーク搬送速度が前記フィーダのワーク搬送速度よりも大きく設定されており、前記制御回路が前記第1のインデクサと前記フィーダを同期制御することを特徴とする。   The present invention is characterized in that the work transfer speed of the indexer is set to be higher than the work transfer speed of the feeder, and the control circuit controls the indexer and the feeder synchronously. Further, the present invention is characterized in that a work transfer speed of the first indexer is set larger than a work transfer speed of the feeder, and the control circuit controls the first indexer and the feeder synchronously. .

本発明によれば、前記インデクサ(第1のインデクサ)のワーク搬送速度が前記フィーダのワーク搬送速度よりも大きく設定されており、前記制御回路が前記インデクサ(第1のインデクサ)と前記フィーダとを同期制御することで、ピッキングミスのない正確なワークの受渡しが容易となる。なお、前記フィーダが振動型の場合には、そのワーク搬送速度が変動することがあり、その場合は、時間当たりのワーク搬送個数からワーク搬送速度を算出する方法や、前記フィーダのワーク搬送速度の最大値を採用するなどしてもよい。   According to the present invention, the work transfer speed of the indexer (first indexer) is set to be larger than the work transfer speed of the feeder, and the control circuit connects the indexer (first indexer) and the feeder. Synchronous control facilitates accurate workpiece delivery without picking mistakes. When the feeder is a vibration type, the workpiece conveyance speed may fluctuate. In this case, the method of calculating the workpiece conveyance speed from the number of workpiece conveyance per hour, the workpiece conveyance speed of the feeder, The maximum value may be adopted.

ここで、前記第2のインデクサの第2の吸着口の間隔と前記第1のインデクサの第1の吸着口の間隔との関係を従来の外観検査装置に当てはめて考えると、前記第2の吸着口の間隔が前記第1の吸着口の間隔と同じか大きな値に設定される。   Here, when the relationship between the distance between the second suction ports of the second indexer and the distance between the first suction ports of the first indexer is applied to a conventional appearance inspection apparatus, the second suction is considered. The interval between the mouths is set to the same or larger value as the interval between the first suction ports.

本発明は、前記第2の吸着口の間隔が前記第1の吸着口の間隔よりも大きく設定されるとともに、前記第2のインデクサのワーク搬送速度が前記第1のインデクサのワーク搬送速度よりも大きく設定されており、前記制御回路が前記第2のインデクサ,前記第1のインデクサ,及び前記フィーダを同期制御することを特徴とする。   In the present invention, the interval between the second suction ports is set to be larger than the interval between the first suction ports, and the workpiece conveyance speed of the second indexer is higher than the workpiece conveyance speed of the first indexer. It is set large, and the control circuit controls the second indexer, the first indexer, and the feeder synchronously.

本発明によれば、前記第2の吸着口の間隔が前記第1の吸着口の間隔よりも大きく設定されるとともに、前記第2のインデクサのワーク搬送速度が前記第1のインデクサのワーク搬送速度よりも大きく設定されていることで、前記第2のインデクサへと受渡されたワークの間隔がさらに大きくなり、前記撮像カメラによって前記ワークの正面、背面、右側面、左側面などを多面的(多角度的)に撮像することが容易となる。そして、前記制御回路が前記第2のインデクサ,前記第1のインデクサ,及び前記フィーダを同期制御することで、ピッキングミスのない正確なワークの受渡しが容易となり、複数の撮像カメラからの撮像データを照合させることが容易となる。例えば、前記ワークが直方体であり、その6面すべてを高精度に外観検査するには、前記第1のインデクサによって搬送中のワークの底面を撮像し、前記第2のインデクサによって搬送中のワークの上面、正面、背面、右側面、及び左側面を撮像することが好ましく、本発明によれば、同一のワークを複数の撮像カメラ、例えば6台の撮像カメラで撮像した撮像データを正確に照合させることができる。   According to the present invention, the interval between the second suction ports is set to be larger than the interval between the first suction ports, and the workpiece conveyance speed of the second indexer is set to the workpiece conveyance speed of the first indexer. The distance between the workpieces delivered to the second indexer is further increased, and the front, back, right side, left side, etc. of the workpiece are multifaceted (multiple (multiple) by the imaging camera. It becomes easy to take an image in an angular manner. The control circuit synchronously controls the second indexer, the first indexer, and the feeder, thereby facilitating accurate delivery of workpieces without picking mistakes, and capturing imaging data from a plurality of imaging cameras. It is easy to match. For example, in order to accurately inspect the appearance of all six surfaces of the workpiece with a rectangular parallelepiped, the bottom surface of the workpiece being conveyed is imaged by the first indexer, and the workpiece being conveyed by the second indexer is imaged. It is preferable to image the upper surface, the front surface, the back surface, the right side surface, and the left side surface. According to the present invention, image data obtained by capturing the same workpiece with a plurality of image capturing cameras, for example, 6 image capturing cameras, are accurately collated. be able to.

本発明は、前記フィーダで搬送されるワークを非接触で検出するセンサが配されており、このセンサからの検出信号を受けた前記制御回路が前記フィーダで搬送されるワークの時間当たりの搬送個数から前記フィーダのワーク搬送速度を算出することを特徴とする。   In the present invention, a sensor that detects a workpiece conveyed by the feeder in a non-contact manner is provided, and the control circuit that receives a detection signal from the sensor conveys the workpiece conveyed by the feeder per unit time. From the above, the workpiece conveying speed of the feeder is calculated.

本発明によれば、前記フィーダで搬送されるワークを前記センサが非接触で検出し、このセンサからの検出信号を受けた前記制御回路が前記フィーダで搬送されるワークの時間当たりの搬送個数から前記フィーダのワーク搬送速度を算出することで、ワークの流れを直接測定して速度制御することとなり、より精度の高い正確な制御ができる。前記センサとしては、非接触式センサであればよく、例えば、光センサ、赤外線センサ、磁気センサ、超音波センサ等が挙げられる。   According to the present invention, the sensor detects the workpiece conveyed by the feeder in a non-contact manner, and the control circuit that receives the detection signal from the sensor determines the number of workpieces conveyed by the feeder per time. By calculating the work transfer speed of the feeder, the flow of the work is directly measured and the speed is controlled, and more accurate and accurate control can be performed. The sensor may be a non-contact type sensor, and examples thereof include an optical sensor, an infrared sensor, a magnetic sensor, and an ultrasonic sensor.

前記フィーダとしては、直進式フィーダ、回転円板式フィーダ、または回転円板と無限軌道ベルトを組み合わせたベルト式フィーダなどが挙げられる。特に、振動型フィーダ、例えば振動型直進式フィーダにおいて、前記センサを用いた速度制御が効果的である。   Examples of the feeder include a linear feeder, a rotating disk feeder, and a belt feeder that combines a rotating disk and an endless track belt. In particular, speed control using the sensor is effective in a vibratory feeder, for example, a vibratory linear feeder.

本発明は、前記フィーダが直進式フィーダであり、前記フィーダ出口の下方側には、トラブルによってワークの受け渡し部にワークが溜まらないようにするために、前記フィーダから前記インデクサ又は前記第1のインデクサへの受渡し位置を通過し落下したワークを回収するスロープ付きの回収ガイドが付設されていることを特徴とする。   In the present invention, the feeder is a rectilinear feeder, and the indexer or the first indexer is provided from the feeder to the lower side of the feeder outlet so that the workpiece does not collect in the workpiece transfer section due to a trouble. A collection guide with a slope for collecting a workpiece that has passed through the delivery position and dropped is provided.

本発明によれば、例えば、何らかの装置トラブルによって装置が停止するなどして前記直進式フィーダから前記インデクサ(前記第1のインデクサ)への受渡し位置を通過したワークがあったとしても、そのワークを回収するスロープ付きの回収ガイドが付設されていることで、そのワークを前記フィーダに溜らせることなく、これを確実にかつ簡単に回収するために、再運転時の操作が、従来に比べて飛躍的に簡単にできる。   According to the present invention, for example, even if there is a workpiece that has passed the delivery position from the linear feeder to the indexer (the first indexer) because the device has stopped due to some device trouble, By attaching a collection guide with a slope to collect, the operation at the time of re-operation is leap forward compared to the conventional way in order to collect the work reliably and easily without collecting it in the feeder. Easily.

本発明は、前記フィーダが回転円板式フィーダまたは回転円板と無限軌道ベルトを組み合わせたベルト式フィーダのいずれかであることを特徴とする。   The present invention is characterized in that the feeder is either a rotating disk feeder or a belt feeder combining a rotating disk and an endless track belt.

本発明によれば、前記フィーダが回転円板式フィーダまたは回転円板と無限軌道ベルトを組み合わせたベルト式フィーダのいずれかとすることで、前記フィーダによるワーク搬送速度が安定し前記制御回路により速度制御することが容易である。そして、前記制御回路が前記第2のインデクサ,前記第1のインデクサ,及び前記フィーダを同期回転させることで、前記フィーダから前記第2のインデクサまでの確実なワークの搬送が可能となり、前記ワークのピッキングミスをなくすことが容易となる。   According to the present invention, when the feeder is either a rotating disk feeder or a belt feeder that combines a rotating disk and an endless track belt, the workpiece conveyance speed by the feeder is stabilized, and the speed is controlled by the control circuit. Is easy. The control circuit synchronously rotates the second indexer, the first indexer, and the feeder, so that the workpiece can be reliably conveyed from the feeder to the second indexer. It is easy to eliminate picking mistakes.

本発明によれば、微小ワークをいったん減速あるいは停止させる中継ガイド部材をなくした構成となっており、前記ワークはフィーダからインデクサへと直接受渡しされる。すなわち、前記インデクサ(第1のインデクサ)の吸着口が前記フィーダによって整列搬送されたワークに接近し当該ワークを追い越す際にエア吸着して掬い上げるようにして吸着固定して搬送し受け渡すことから、前記ワークはフィーダからインデクサへと直接受渡しされ、ワーク搬送速度を落とさずに、その間隔を狭めることなくワークを受渡しながら外観検査する。本発明によれば、前記制御回路が前記第2のインデクサ,前記第1のインデクサ,及び前記フィーダを同期制御することで、ピッキングミスのない正確なワークの受渡しが容易となる。本発明によれば、前記第2の吸着口の間隔が前記第1の吸着口の間隔よりも大きく設定されていることで、前記第1のインデクサから前記第2のインデクサへと受渡されたワークの間隔がさらに大きくなり、前記撮像カメラによって前記ワークの正面、背面、右側面、左側面などを多面的(多角度的)に撮像することが容易となる。したがって、微小ワークを検査し易いように所定間隔に揃えながら高速搬送するとともに、ワーク吸着ミスが生じ難い構成の外観検査装置が実現する。   According to the present invention, the relay guide member for once decelerating or stopping the minute workpiece is eliminated, and the workpiece is directly delivered from the feeder to the indexer. That is, when the suction port of the indexer (first indexer) approaches the work aligned and transported by the feeder and overtakes the work, it is sucked and fixed so as to be transported and delivered. The workpiece is directly delivered from the feeder to the indexer, and the appearance is inspected while delivering the workpiece without reducing the interval without reducing the workpiece conveyance speed. According to the present invention, the control circuit synchronously controls the second indexer, the first indexer, and the feeder, thereby facilitating accurate workpiece transfer without picking mistakes. According to the present invention, since the interval between the second suction ports is set to be larger than the interval between the first suction ports, the workpiece transferred from the first indexer to the second indexer. And the imaging camera makes it easy to capture the front, back, right side, left side, and the like of the workpiece in a multi-faceted (multi-angle) manner. Accordingly, it is possible to realize an appearance inspection apparatus having a configuration in which a minute work is easily conveyed while being conveyed at a high speed while being aligned at a predetermined interval, and a work adsorption error is unlikely to occur.

本発明を適用した第1の実施形態の微小ワークの外観検査装置を例示する側面図である。It is a side view which illustrates the external appearance inspection apparatus of the micro workpiece | work of 1st Embodiment to which this invention is applied. 上記実施形態の外観検査装置におけるフィーダから第1のインデクサへの受渡し部を示す図であり、(a)は側面図であり、(b)はB方向から見た矢視図であり、(c)は点線Cで囲んだ部分を拡大して示す図である。It is a figure which shows the delivery part to the 1st indexer from the feeder in the external appearance inspection apparatus of the said embodiment, (a) is a side view, (b) is an arrow view seen from the B direction, (c ) Is an enlarged view of a portion surrounded by a dotted line C. FIG. 上記実施形態の外観検査装置における第1のインデクサから第2のインデクサへの受渡し部を示す図であり、(a)は側面図であり、(b)は点線Cで囲んだ部分を拡大して示す図である。It is a figure which shows the delivery part from the 1st indexer to the 2nd indexer in the external appearance inspection apparatus of the said embodiment, (a) is a side view, (b) expands the part enclosed with the dotted line C. FIG. 上記実施形態の外観検査装置におけるフィーダを振動型直進式フィーダとした構成例を示す図であり、(a)は側面図であり、(b)は正面図である。It is a figure which shows the structural example which made the feeder in the external appearance inspection apparatus of the said embodiment the vibration type linear advance feeder, (a) is a side view, (b) is a front view. 上記実施形態の外観検査装置におけるフィーダから第1のインデクサへの受渡し状態を示す図であり、ワーク搬送速度とワーク間隔が比較的大きい場合の例である。It is a figure which shows the delivery state from the feeder to the 1st indexer in the external appearance inspection apparatus of the said embodiment, and is an example in case a workpiece conveyance speed and a workpiece | work interval are comparatively large. 上記実施形態の外観検査装置におけるフィーダから第1のインデクサへの受渡し状態を示す図であり、ワーク搬送速度とワーク間隔が比較的小さい場合の例である。It is a figure which shows the delivery state from the feeder in a visual inspection apparatus of the said embodiment to a 1st indexer, and is an example in case a workpiece conveyance speed and a workpiece | work space | interval are comparatively small. 上記実施形態の外観検査装置におけるフィーダから第1のインデクサへの受渡し状態を示す図であり、ワーク搬送速度が一定でワーク間隔変動する場合の例である。It is a figure which shows the delivery state from the feeder to the 1st indexer in the external appearance inspection apparatus of the said embodiment, and is an example in case a workpiece conveyance speed is constant and a workpiece | work interval fluctuates. 本発明を適用した第2の実施形態の微小ワークの外観検査装置を示す図であり、(a)は側面図であり、(b)は点線Cで囲んだ部分を拡大して示す図である。It is a figure which shows the external appearance inspection apparatus of the micro workpiece | work of 2nd Embodiment to which this invention is applied, (a) is a side view, (b) is a figure which expands and shows the part enclosed with the dotted line C. . 本発明を適用した第3の実施形態の微小ワークの外観検査装置を例示する図であり、(a)は平面図であり、(b)はB方向から見た矢視図である。It is a figure which illustrates the external appearance inspection apparatus of the micro workpiece | work of 3rd Embodiment to which this invention is applied, (a) is a top view, (b) is the arrow line view seen from the B direction. 上記実施形態の外観検査装置における第1のインデクサを傾斜させた構成例を示す図であり、(a)は平面図であり、(b)はB方向から見た矢視図である。It is a figure which shows the structural example which inclined the 1st indexer in the external appearance inspection apparatus of the said embodiment, (a) is a top view, (b) is the arrow line view seen from the B direction. 本発明を適用した第4の実施形態の微小ワークの外観検査装置を例示する図であり、(a)は平面図であり、(b)はB方向から見た矢視図である。It is a figure which illustrates the external appearance inspection apparatus of the micro workpiece | work of 4th Embodiment to which this invention is applied, (a) is a top view, (b) is the arrow line view seen from the B direction. 本発明を適用した第5の実施形態の微小ワークの外観検査装置を例示する図であり、(a)は平面図であり、(b)はB方向から見た矢視図であり、(c)はE方向から見た側面図である。It is a figure which illustrates the external appearance inspection apparatus of the micro workpiece of 5th Embodiment to which this invention is applied, (a) is a top view, (b) is an arrow view seen from the B direction, (c ) Is a side view seen from the E direction. 微小ワークを例示する斜視図である。It is a perspective view which illustrates a minute work.

(ワークの形態)
図13は、本発明に係る微小ワークの外観検査装置にて整列搬送されながら外観検査される多面体形状のワーク20(21,22,23)を例示する斜視図である。符号20Hはワーク20の高さを表し、符号20Wはワーク20の巾を表し、符号20Lはワーク20の全長を表す。また、符号201はワーク20の平面を表し、符号202はワーク20の右側面を表し、符号203はワーク20の底面を表し、符号204はワーク20の左側面を表し、符号205はワーク20の正面を表し、符号206はワーク20の背面を表す。図13(a)に示すワーク21は、チップキャパシタやチップインダクタなど直方体形状のワークである。チップキャパシタ21の寸法としては、例えば、20Hが0.5mm、20Wが0.5mm、20Lが1.0mmの部品が知られている。図13(b)に示すワーク22は、半導体素子など四角形で薄板形状のワークである。半導体素子22の寸法としては、例えば、20Hが0.05mm、20Wが1.0mm、20Lが2.0mmの部品が知られている。図13(c)に示すワーク23は、実装型LEDなど長方形状の部品に凸状部が形成されたワークである。実装型LED23の寸法としては、例えば、20Hが0.2mm、20Wが0.8mm、20Lが1.6mmの部品が知られている。図13(d)に示すワーク24は、チップキャパシタやチップ発振子など円筒形状(円柱形状)のワークであるチップキャパシタ24の寸法としては、例えば、20Hが1.0mm、20Lが1.6mmの部品が知られている。ワーク20としては、チップキャパシタ、半導体素子、水晶素子、SAWフィルタ素子、チップ抵抗、チップコイル、実装型LED、チップIC、パッド、端子、スペーサ等の実装部品が挙げられる。
(Work form)
FIG. 13 is a perspective view exemplifying a polyhedral workpiece 20 (21, 22, 23) to be visually inspected while being aligned and conveyed by the micro workpiece visual inspection apparatus according to the present invention. Reference numeral 20H represents the height of the workpiece 20, reference numeral 20W represents the width of the workpiece 20, and reference numeral 20L represents the total length of the workpiece 20. Reference numeral 201 represents the plane of the workpiece 20, reference numeral 202 represents the right side surface of the workpiece 20, reference numeral 203 represents the bottom surface of the workpiece 20, reference numeral 204 represents the left side surface of the workpiece 20, and reference numeral 205 represents the workpiece 20. The front side represents the front side, and the reference numeral 206 represents the back side of the workpiece 20. A workpiece 21 shown in FIG. 13A is a rectangular parallelepiped workpiece such as a chip capacitor or a chip inductor. As the dimensions of the chip capacitor 21, for example, a component having 20 H of 0.5 mm, 20 W of 0.5 mm and 20 L of 1.0 mm is known. A workpiece 22 shown in FIG. 13B is a rectangular and thin workpiece such as a semiconductor element. As the dimensions of the semiconductor element 22, for example, a component having 20 mm of 0.05 mm, 20 W of 1.0 mm and 20 L of 2.0 mm is known. A work 23 shown in FIG. 13C is a work in which a convex part is formed on a rectangular part such as a mounting type LED. As dimensions of the mounting type LED 23, for example, 20H is 0.2 mm, 20W is 0.8 mm, and 20L is 1.6 mm. The workpiece 24 shown in FIG. 13D is a cylindrical capacitor (columnar) workpiece such as a chip capacitor or a chip oscillator. For example, 20H is 1.0 mm and 20L is 1.6 mm. Parts are known. Examples of the work 20 include mounting components such as a chip capacitor, a semiconductor element, a crystal element, a SAW filter element, a chip resistor, a chip coil, a mounting LED, a chip IC, a pad, a terminal, and a spacer.

これらのワーク20は、サイズが小さくて脆いこと等から実装前に電気検査を行なうことが困難であるが、不良のワークを実装すると基板不良となることから、実装前での外観検査が必要になる。また、電子部品全般としても、実装後の歩留りを高めるためには、実装前での外観検査を行うことが好ましい。   These workpieces 20 are difficult to conduct an electrical inspection before mounting due to their small size and fragility, etc., but if a defective workpiece is mounted, a substrate failure will occur, so an appearance inspection before mounting is required. Become. In addition, as for electronic components in general, it is preferable to perform an appearance inspection before mounting in order to increase the yield after mounting.

(第1の実施の形態)
本発明を適用した第1の実施形態の微小ワークの外観検査装置1を例示する側面図を図1に示す。図2は上記実施形態の外観検査装置1におけるフィーダ3から第1のインデクサ4への受渡し部を示す図であり、図2(a)は側面図であり、図2(b)は符号Bで示す矢印方向から見た矢視図であり、図2(c)は点線Cで囲んだ部分を拡大して示す図である。図3は上記実施形態の外観検査装置1における第1のインデクサ4から第2のインデクサ5への受渡し部を示す図であり、図3(a)は側面図であり、図3(c)は点線Cで囲んだ部分を拡大して示す図である。
(First embodiment)
FIG. 1 is a side view illustrating the appearance inspection apparatus 1 for a microwork according to the first embodiment to which the present invention is applied. FIG. 2 is a diagram showing a delivery unit from the feeder 3 to the first indexer 4 in the appearance inspection apparatus 1 according to the embodiment, FIG. 2A is a side view, and FIG. FIG. 2C is an enlarged view of a portion surrounded by a dotted line C. FIG. FIG. 3 is a view showing a delivery section from the first indexer 4 to the second indexer 5 in the appearance inspection apparatus 1 of the above embodiment, FIG. 3A is a side view, and FIG. It is a figure which expands and shows the part enclosed with the dotted line C. FIG.

本実施形態の微小ワークの外観検査装置1は、チップキャパシタ等の微小ワーク20を載置して所定間隔(符号p1)で搬送方向(符号xa方向)に整列搬送するフィーダ3と、円板形状の外周に所定間隔(符号p2)で形成された第1の吸着口(符号41)によってフィーダ3上のワーク20をエア吸着して第1の回転軸45で回転し搬送する第1のインデクサ4と、円板形状の外周に所定間隔(符号p3)で形成された第2の吸着口(符号51)によって第1のインデクサ4上のワーク20をエア吸着し第2の回転軸55で逆回転し(第1のインデクサ4の回転方向ccwと逆方向の回転方向cwに回転し)搬送する第2のインデクサ5とを備える(図1から3)。   The microworkpiece appearance inspection apparatus 1 according to this embodiment includes a feeder 3 on which a microworkpiece 20 such as a chip capacitor is placed and aligned and conveyed in a conveyance direction (code xa direction) at a predetermined interval (code p1), and a disk shape. The first indexer 4 that air-sucks the work 20 on the feeder 3 by the first suction ports (reference numeral 41) formed on the outer periphery of the feeder at a predetermined interval (reference numeral p2), rotates the first rotary shaft 45, and conveys it. The workpiece 20 on the first indexer 4 is adsorbed by the second suction port (reference numeral 51) formed on the outer periphery of the disk shape at a predetermined interval (reference numeral p3), and reversely rotated by the second rotation shaft 55. And a second indexer 5 that conveys (rotates in a rotation direction cw opposite to the rotation direction ccw of the first indexer 4) (FIGS. 1 to 3).

ここでは、フィーダ3によるワーク搬送速度を符号V1とし、第1のインデクサ4によるワーク搬送速度を符号V2とし、第2のインデクサ5によるワーク搬送速度を符号V3とする。本実施形態では、第1のインデクサ4のワーク搬送速度V2がフィーダ3のワーク搬送速度V1よりも大きく設定されており(V2>V1)、制御回路7が第2のインデクサ5,第1のインデクサ4,及びフィーダ3を同期制御する。   Here, the workpiece conveying speed by the feeder 3 is denoted by reference numeral V1, the workpiece conveying speed by the first indexer 4 is denoted by reference numeral V2, and the workpiece conveying speed by the second indexer 5 is denoted by numeral V3. In the present embodiment, the work transport speed V2 of the first indexer 4 is set to be higher than the work transport speed V1 of the feeder 3 (V2> V1), and the control circuit 7 has the second indexer 5 and the first indexer. 4 and the feeder 3 are synchronously controlled.

本実施形態では、第2のインデクサ5の直径と第1のインデクサ4の直径が等しく設定される(図1)。そして、第2のインデクサ5が第1のインデクサ4の真上に近接配置され、第2の回転軸55と第1の回転軸45とが平行に配されている(図1)。図3(b)に示すように、前記第2のインデクサ5の吸着口間隔p3は、第1のインデクサ4の吸着口間隔p2よりも大きい値に設定されている(p3>p2)。そして、第1のインデクサ4から第2のインデクサ5へとワークを1対1で受け渡すために、第2のインデクサ5のワーク搬送速度V3を第1のインデクサ5のワーク搬送速度V2で除した値(V3/V2)と、第2のインデクサ5の吸着口間隔p3を第1のインデクサ4の吸着口間隔p2で除した値(p3/p2)とが等しい値に設定される((V3/V2)=(p3/p2))。   In the present embodiment, the diameter of the second indexer 5 and the diameter of the first indexer 4 are set to be equal (FIG. 1). And the 2nd indexer 5 is adjoined just above the 1st indexer 4, and the 2nd rotating shaft 55 and the 1st rotating shaft 45 are distribute | arranged in parallel (FIG. 1). As shown in FIG. 3B, the suction port interval p3 of the second indexer 5 is set to a value larger than the suction port interval p2 of the first indexer 4 (p3> p2). Then, in order to transfer the work one-to-one from the first indexer 4 to the second indexer 5, the work conveyance speed V3 of the second indexer 5 is divided by the work conveyance speed V2 of the first indexer 5. The value (V3 / V2) and the value (p3 / p2) obtained by dividing the suction port interval p3 of the second indexer 5 by the suction port interval p2 of the first indexer 4 are set to the same value ((V3 / V2) = (p3 / p2)).

本実施形態では、ワーク20の搬送路を形成するフィーダ3の上面、第1のインデクサ4の外周面、及び第2のインデクサ5の外周面にはそれぞれ断面がV字形状の溝(V溝)が形成されており(図2(b)を参照)、直方体形状のワーク21(20)の二側面を沿わせて搬送する。これらV溝の開口角度は、90度に設定されている。   In the present embodiment, grooves having a V-shaped cross section (V-groove) are formed on the upper surface of the feeder 3 that forms the conveyance path of the workpiece 20, the outer peripheral surface of the first indexer 4, and the outer peripheral surface of the second indexer 5, respectively. Is formed (see FIG. 2B) and conveyed along two side surfaces of the rectangular parallelepiped workpiece 21 (20). The opening angle of these V grooves is set to 90 degrees.

本実施形態では、直方体形状のワーク21(20)の六面を撮像するために6つの撮像カメラ61,62,63,64,65,66が所定箇所に配されている(図1)。図1に示す例では、直方体形状のワーク21(20)の第4面(符号204)と第3面(符号203)をフィーダ3の上面のV溝に沿わせて搬送させ、第1のインデクサ4の外周面のV溝に受け渡し(図2(b))、第1のインデクサ4の右横方向の手前45度の位置に配された撮像カメラ64にてワーク21の第4面204を撮像し、第1のインデクサ4の右横方向の向う45度の位置に配された撮像カメラ63にてワーク21の第3面203を撮像し、第1のインデクサ4から第2のインデクサ5の外周面のV溝に受け渡し、第1のインデクサ4の左横方向の手前45度の位置に配された撮像カメラ61にてワーク21の第1面201を撮像し、第1のインデクサ4の左横方向の向う45度の位置に配された撮像カメラ62にてワーク21の第2面202を撮像し、第1のインデクサ4の左横方向の下45度の位置に配された撮像カメラ66にてワーク21の第6面206を撮像し、第1のインデクサ4の左横方向の上45度の位置に配された撮像カメラ65にてワーク21の第5面205を撮像する。前記撮像カメラ61−66はCCDカメラであるが、被対象物の像を電子データに変換できればCCDカメラに限定されるものではなく、例えばCMOSカメラとしてもよい。   In the present embodiment, six imaging cameras 61, 62, 63, 64, 65, 66 are arranged at predetermined positions in order to image six surfaces of the rectangular parallelepiped workpiece 21 (20) (FIG. 1). In the example shown in FIG. 1, the fourth surface (reference numeral 204) and the third surface (reference numeral 203) of the rectangular parallelepiped work 21 (20) are conveyed along the V groove on the upper surface of the feeder 3, and the first indexer 4 is transferred to the V-groove on the outer peripheral surface (FIG. 2B), and the fourth surface 204 of the workpiece 21 is imaged by the imaging camera 64 disposed at a position of 45 degrees in the right lateral direction of the first indexer 4. Then, the third surface 203 of the workpiece 21 is imaged by the imaging camera 63 arranged at a position of 45 degrees facing the right lateral direction of the first indexer 4, and the outer periphery of the first indexer 4 to the second indexer 5 is captured. The first surface 201 of the workpiece 21 is imaged by the imaging camera 61 that is transferred to the V-groove of the surface and disposed at a position 45 degrees in front of the left lateral direction of the first indexer 4, and the left lateral of the first indexer 4 Work 2 with an imaging camera 62 arranged at a 45 degree position. The second surface 202 of the first indexer 4 is imaged, and the sixth surface 206 of the work 21 is imaged by the imaging camera 66 arranged at a position 45 degrees below the left lateral direction of the first indexer 4. The fifth surface 205 of the workpiece 21 is imaged by the imaging camera 65 arranged at an upper 45 degree position in the left lateral direction. The imaging cameras 61 to 66 are CCD cameras. However, the imaging cameras 61 to 66 are not limited to CCD cameras as long as they can convert an object image into electronic data, and may be CMOS cameras, for example.

前記撮像カメラ61−66からの撮像信号は判定回路71に送出され、判定回路71によって良否判定されたワーク20は、制御回路7によって前記第2のインデクサ上でワーク解放用の噴射口へのエア噴射流を制御することで、第2のインデクサ5に近接配置された良否選別部82の判別排出口821,822,823,824から判別され排出される。本実施形態では、図示しないが、前記排出手段としてエア噴射流を利用しており、制御回路7が、第2のインデクサ5上でワーク20解放用の噴射口へのエア噴射流を制御して個々のワーク20を選別し分離回収する構成となっている。例えば、判別排出口824を第1の不良排出用とし、判別排出口823を第2の不良排出用とし、判別排出口822を良品排出用とし、判別排出口821を強制排出用とする。   The imaging signals from the imaging cameras 61-66 are sent to the determination circuit 71, and the work 20 determined by the determination circuit 71 is passed through the control circuit 7 on the second indexer to the air for releasing the work. By controlling the jet flow, it is discriminated and discharged from the discriminating discharge ports 821, 822, 823, and 824 of the pass / fail screening unit 82 disposed close to the second indexer 5. In this embodiment, although not shown, an air jet flow is used as the discharge means, and the control circuit 7 controls the air jet flow to the jet opening for releasing the workpiece 20 on the second indexer 5. Each workpiece 20 is selected and separated and recovered. For example, the discrimination discharge port 824 is used for first defect discharge, the discrimination discharge port 823 is used for second defect discharge, the discrimination discharge port 822 is used for non-defective product discharge, and the discrimination discharge port 821 is used for forced discharge.

図1に示す例では、さらに強制排出部81を第1のインデクサ4に近接配置しており、万が一、第1のインデクサ4から第2のインデクサ5へと受渡し損なったワークがあったとしても、強制排出口811から強制排出される。   In the example shown in FIG. 1, the forced discharge unit 81 is further arranged close to the first indexer 4. Even if there is a workpiece that has failed to be transferred from the first indexer 4 to the second indexer 5, It is forcibly discharged from the forced discharge port 811.

前記制御回路7は、判定回路71を内蔵し、前記排出手段に加えてフィーダ3、第1のインデクサ4、及び第2のインデクサ5を制御しており、例えば制御用PC(パソコン)が適用される。   The control circuit 7 includes a determination circuit 71, and controls the feeder 3, the first indexer 4 and the second indexer 5 in addition to the discharging means. For example, a control PC (personal computer) is applied. The

本実施形態では、前記フィーダ3が直進式フィーダであり、フィーダ3出口の下方側には、トラブルによってワークの受け渡し部にワーク20が溜まらないようにするために、前記フィーダ3から第1のインデクサ4への受渡し位置を通過し落下したワーク20を回収するスロープ付きの回収ガイド9が付設されている(図1)。図1に示す回収ガイド9は、その右端に前記フィーダ3の右端を通過し落下したワーク20を回収する滑り台形状のスロープが一体的に形成された直進式フィーダとなっており、落下したワーク20を前記フィーダ3の搬送方向xaと反対方向(符号xb方向)に搬送し、ワーク20を回収する。回収されたワーク20は再び、フィーダ3の搬送ラインに合流する。   In the present embodiment, the feeder 3 is a linear feeder, and a first indexer is provided from the feeder 3 on the lower side of the feeder 3 outlet so that the workpiece 20 does not collect in the workpiece transfer section due to a trouble. A collection guide 9 with a slope for collecting the workpiece 20 that has passed through the delivery position 4 and dropped is attached (FIG. 1). The collection guide 9 shown in FIG. 1 is a linear feeder that is integrally formed with a slide-like slope that collects the workpiece 20 that has passed through the right end of the feeder 3 and dropped at the right end of the collection guide 9. Is conveyed in the direction opposite to the conveying direction xa of the feeder 3 (in the direction of the sign xb), and the workpiece 20 is collected. The collected workpieces 20 join again to the feeder 3 conveyance line.

本実施形態によれば、例えば、何らかの装置トラブルによって装置が停止するなどして前記直進式フィーダ3から前記第1のインデクサ4への受渡し位置を通過したワークがあったとしても、そのワークを回収するスロープ付きの回収ガイド9が付設されていることで、そのワークを前記フィーダ3に溜らせることなく、これを確実にかつ簡単に回収するために、再運転時の操作が、従来に比べて飛躍的に簡単にできる。   According to the present embodiment, for example, even if there is a workpiece that has passed through the delivery position from the linear feeder 3 to the first indexer 4 due to some device trouble or the like, the workpiece is recovered. Since the collection guide 9 with the slope to be attached is attached, the operation at the time of re-operation is compared with the conventional one in order to collect the workpiece reliably and easily without collecting the workpiece in the feeder 3. It can be dramatically simplified.

図4は、上記実施形態の外観検査装置1におけるフィーダ3を振動型直進式フィーダとした構成例を示す図であり、図4(a)は側面図であり、図4(b)は正面図である。フィーダ3を振動型直進式フィーダとすることで、装置を小型化することが容易となる。なお図4では説明の都合上、振動型直進式フィーダ3上で微小ワーク20が跳ねないように制限する上側カバーを省略して表記しており、実機では、第1のインデクサ4がピックアップ位置より手前で吸着開始しないために上側カバーが付設されている。   FIGS. 4A and 4B are diagrams illustrating a configuration example in which the feeder 3 in the appearance inspection apparatus 1 according to the embodiment is a vibratory linear advance feeder, FIG. 4A is a side view, and FIG. 4B is a front view. It is. By using the feeder 3 as a vibration type linear feeder, it becomes easy to reduce the size of the apparatus. In FIG. 4, for convenience of explanation, the upper cover that restricts the minute workpiece 20 from jumping on the vibration type linear feeder 3 is omitted, and in the actual machine, the first indexer 4 is located from the pickup position. An upper cover is attached to prevent the suction from starting.

図4に示す外観検査装置1では、振動型直進式フィーダ3で搬送されるワーク20を非接触で検出するセンサ311,312が、フィーダ3の上方に所定間隔で配されており、これらのセンサ311,312からの検出信号を受けた制御回路7が第1のインデクサ4のワーク搬送速度を同期制御する構成となっている。本実施形態によれば、ワークの流れを直接測定して同期制御することができ、より精度の高い正確な同期制御となる。前記センサ311,312としては、非接触式センサであればよく、例えば、光センサ、赤外線センサ、磁気センサ、超音波センサ等が挙げられる。   In the appearance inspection apparatus 1 shown in FIG. 4, sensors 311 and 312 that detect the workpiece 20 conveyed by the vibration type linear feeder 3 in a non-contact manner are arranged above the feeder 3 at predetermined intervals. The control circuit 7 receiving the detection signals from 311 and 312 is configured to synchronously control the work conveyance speed of the first indexer 4. According to the present embodiment, the workpiece flow can be directly measured and synchronously controlled, so that accurate synchronous control with higher accuracy can be achieved. The sensors 311 and 312 may be non-contact sensors, and examples thereof include an optical sensor, an infrared sensor, a magnetic sensor, and an ultrasonic sensor.

本実施形態によれば、第1のインデクサ4の第1の吸着口41がフィーダ3によって整列搬送されたワーク20に背後上方から接近し当該ワークを追い越す際にエア吸着して掬い上げるようにして吸着固定して搬送し受け渡すことから、前記ワーク20はフィーダ3から第1のインデクサ4へと直接受渡しされ、ワーク搬送速度を落とさずに、その間隔を狭めることなくワーク20を受渡しながら外観検査することができる。そして、本実施形態では、前記ワーク20を受渡す際の搬送方向がほぼ平行であるためワーク受渡しの際の衝撃力を極力抑えることができ、微小ワーク20を安定して、かつ高速に処理することができる。   According to the present embodiment, when the first suction port 41 of the first indexer 4 approaches the work 20 aligned and conveyed by the feeder 3 from the upper rear side and overtakes the work, the air is adsorbed and scooped up. Since the workpiece 20 is transferred by suction and fixed and transferred, the workpiece 20 is directly transferred from the feeder 3 to the first indexer 4, and the workpiece 20 is transferred without reducing the interval of the workpiece without reducing the workpiece transfer speed. can do. And in this embodiment, since the conveyance direction at the time of delivering the said workpiece | work 20 is substantially parallel, the impact force at the time of workpiece delivery can be suppressed as much as possible, and the minute workpiece 20 is processed stably and at high speed. be able to.

上記実施形態では、第2のインデクサ5を第1のインデクサ4の真上に配置する例で説明したが、第2のインデクサ5は、第1のインデクサ4によって整列搬送されたワーク20を受け渡すことができる位置であって、撮像カメラ61−66や強制排出部81や良否選別部82と干渉しない位置であれば、特に配置制限がなく、例えば、第2のインデクサ5を第1のインデクサ4の斜め上方に配置したり、真横に配置したりすることができる。   In the above-described embodiment, the example in which the second indexer 5 is arranged directly above the first indexer 4 has been described. However, the second indexer 5 delivers the workpiece 20 that is aligned and conveyed by the first indexer 4. The position of the second indexer 5 is not particularly limited as long as it is a position that can interfere with the imaging camera 61-66, the forced ejection unit 81, and the pass / fail sorting unit 82. For example, the second indexer 5 is replaced with the first indexer 4 It can arrange | position to the diagonally upper direction of this, or can arrange | position just beside.

(本発明のワーク受渡し)
上記第1の実施形態の微小ワークの外観検査装置1におけるフィーダ3から第1のインデクサ4への受渡しについて、図5から図7に示す例に沿って、以下に説明する。図5は、ワーク搬送速度とワーク間隔が比較的大きい場合の例であり、図6はワーク搬送速度とワーク間隔が比較的小さい場合の例であり、図7はワーク搬送速度が一定でワーク間隔変動する場合の例である。図5から図7に示す例では、何らかの装置トラブルによって装置が一旦停止し前記直進式フィーダ3の先端(図5ではフィーダ3の右端)までワーク20が搬送された状態で運転を再開したときのワーク受渡しの流れを説明している。
(Work delivery of the present invention)
The delivery from the feeder 3 to the first indexer 4 in the fine workpiece appearance inspection apparatus 1 of the first embodiment will be described below along the example shown in FIGS. FIG. 5 shows an example in which the workpiece conveyance speed and the workpiece interval are relatively large, FIG. 6 shows an example in which the workpiece conveyance speed and the workpiece interval are relatively small, and FIG. 7 shows a workpiece conveyance speed at a constant workpiece interval. This is an example in the case of fluctuation. In the example shown in FIG. 5 to FIG. 7, when the apparatus is temporarily stopped due to some apparatus trouble and the operation is resumed with the workpiece 20 being conveyed to the tip of the linear feeder 3 (the right end of the feeder 3 in FIG. 5). Explains the flow of workpiece delivery.

(ワーク受渡し例1)
図5は、ワーク搬送速度とワーク間隔が比較的大きい場合の例である。図5(a)は、再起動直後等で全ワーク非吸着の状態となっており、ワーク20は、その順番を表すために右から左に向かって順に符号251,252,253,…としており、吸着口41は、その順番を表すために右から左に向かって順に符号450,451,452,453,…としている。ここでは、基準となるワーク搬送速度を符号V0とし、フィーダ3によるワーク搬送速度を符号V1とし、第1のインデクサ4によるワーク搬送速度を符号V2としている。
(Work delivery example 1)
FIG. 5 shows an example in which the workpiece conveyance speed and the workpiece interval are relatively large. FIG. 5A shows a state in which all workpieces are not attracted immediately after restarting or the like, and the workpieces 20 are denoted by reference numerals 251, 252, 253,. The suction ports 41 are denoted by reference numerals 450, 451, 452, 453,... In order from the right to the left in order to indicate the order. Here, the reference workpiece conveyance speed is denoted by reference numeral V0, the workpiece conveyance speed by the feeder 3 is denoted by reference numeral V1, and the workpiece conveyance speed by the first indexer 4 is denoted by reference numeral V2.

図5に示す例では、フィーダ3によるワーク搬送速度V1が基準速度V0の2.5倍であるとし(V1=2.5*V0)、第1のインデクサ4によるワーク搬送速度V2が基準速度V0の3.0倍であるとしており(V2=3.0*V0)、第1のインデクサ4によるワーク搬送速度V2は、フィーダ3によるワーク搬送速度V1よりも大きい値に設定されている(V2>V1)。そして、フィーダ3のワーク間隔p1は、ワーク長さd0の2.5倍で一定しているとし(p1=2.5*d0)、第1のインデクサ4の吸着口間隔p2は、フィーダ3のワーク間隔p1よりも大きい値に設定されている(p2>p1)。第1のインデクサ4の周速度は一定としている。   In the example shown in FIG. 5, it is assumed that the workpiece transfer speed V1 by the feeder 3 is 2.5 times the reference speed V0 (V1 = 2.5 * V0), and the workpiece transfer speed V2 by the first indexer 4 is the reference speed V0. 3 (V2 = 3.0 * V0), and the work transport speed V2 by the first indexer 4 is set to a value larger than the work transport speed V1 by the feeder 3 (V2>). V1). The workpiece interval p1 of the feeder 3 is assumed to be constant at 2.5 times the workpiece length d0 (p1 = 2.5 * d0), and the suction port interval p2 of the first indexer 4 is equal to that of the feeder 3. A value larger than the workpiece interval p1 is set (p2> p1). The peripheral speed of the first indexer 4 is constant.

この例では、フィーダ3の右端位置に向かい合う吸着口(符号451)の直前から2つ手前の吸着口(符号453)までの範囲がワーク20をピックアップするピックアップ区間dpとなっており(図5(a))、このピックアップ区間dpはワーク長さd0の6倍に設定され(dp=6*d0)、また、ピックアップ区間dpの後半部分の範囲が吸引先行区間dnとなっており、この吸引先行区間dnはワーク長さd0の3倍に設定されている(dp=3*d0)。そして、ピックアップ区間dpを含む前方側で第2のインデクサ5へと受け渡すまでの範囲が吸引区間dqとなっている。図5では、前記吸着口450,451,452,…が吸引作動していることをハッチングで図示しており、ハッチングされていない箇所は吸引停止状態となっている。吸着口41の口径はワーク20の吸着面よりも小さければ動作に支障がなく、吸着口41の口径は例えば0.2mmである。 なお図5では説明の都合上、第1のインデクサ4を直線状に図示しているが、実際には円板形状となっている。また、実機では、第1のインデクサ4がピックアップ位置より手前で吸着開始しないために上側カバーが付設されている。   In this example, the range from immediately before the suction port (reference numeral 451) facing the right end position of the feeder 3 to the second previous suction port (reference numeral 453) is a pickup section dp for picking up the workpiece 20 (FIG. 5 ( a)) The pickup section dp is set to 6 times the workpiece length d0 (dp = 6 * d0), and the second half of the pickup section dp is the suction preceding section dn. The section dn is set to 3 times the workpiece length d0 (dp = 3 * d0). The range from the front side including the pickup section dp to the delivery to the second indexer 5 is the suction section dq. In FIG. 5, the suction ports 450, 451, 452,... Are in a suction operation, and the portions that are not hatched are in a suction stop state. If the diameter of the suction port 41 is smaller than the suction surface of the workpiece 20, the operation is not hindered, and the diameter of the suction port 41 is, for example, 0.2 mm. In FIG. 5, for convenience of explanation, the first indexer 4 is shown in a straight line shape, but it is actually a disk shape. Further, in the actual machine, an upper cover is attached so that the first indexer 4 does not start sucking before the pickup position.

再起動直後は、全てのワーク20が非吸着の状態となっており(図5(a))、フィーダ3の右端のワーク251とその左側のワーク252,253,254,…を吸引すべく、吸着口453とその右側の吸着口452,451,…を吸引開始しつつ、フィーダ3と第1のインデクサ4を同時に起動させる。図5(a)に示す例では、吸着口451は、ワーク251よりも前方にあるため、ワーク251は吸着されずに落下し、回収ガイド9によって回収される(図1参照)。そして、吸着口452は、ワーク252よりも後方にあるため、追い越す際にエア吸着して搬送し(図5(b))、吸着口453は、ワーク253よりも後方にあるため、追い越す際にエア吸着して搬送し(図5(b))、吸着口454は、ワーク254よりも後方にあるため、追い越す際にエア吸着して搬送し(図5(c))、以後、定常運転状態となり、吸着口455は、ワーク255よりも後方にあるため、追い越す際にエア吸着して搬送する(図5(d))。   Immediately after the restart, all the workpieces 20 are in a non-adsorbing state (FIG. 5A), and the workpiece 251 at the right end of the feeder 3 and the workpieces 252, 253, 254,. The feeder 3 and the first indexer 4 are simultaneously activated while the suction port 453 and suction ports 452, 451,. In the example shown in FIG. 5A, the suction port 451 is located in front of the work 251, so that the work 251 falls without being sucked and is collected by the collection guide 9 (see FIG. 1). Since the suction port 452 is behind the work 252, air is attracted and conveyed when overtaking (FIG. 5B), and since the suction port 453 is behind the work 253, Since the suction port 454 is behind the work 254, it is sucked and transported when passing (FIG. 5 (c)), and thereafter the steady operation state. Since the suction port 455 is behind the workpiece 255, it is sucked and transported when overtaking (FIG. 5D).

本実施例によれば、微小ワーク20を検査し易いようにフィーダ3によって所定間隔p1に揃えながら高速搬送し、その搬送速度V1を落とさずに、そのワーク間隔p1を狭めることなくフィーダ3から第1のインデクサ4への確実なワーク20の受渡しがなされる。そして、ワーク20を受渡す際の搬送方向がほぼ平行であるためワーク受渡しの際の衝撃力を極力抑えることができ、微小ワーク20を安定して、かつ高速に処理することができる。本実施形態では、前記フィーダ3より搬送されるワーク間隔p1が、第1の吸着口41のサイズ程度以上に設定しており、前後2個のワーク20を吸着してしまうという不具合は発生せず、ワーク吸着ミスが生じ難い構成となっている。図5に示す例では、何らかの装置トラブルによって装置が停止し前記直進式フィーダ3の右端までワーク20が搬送された状態で運転を再開したときのワーク受渡しの流れを説明したが、この場合でも先頭のワーク251以外は吸着ミスがなく、微小ワーク20を安定して、かつ高速に処理することができる。当然ながら、直進式フィーダ3の先端付近までワーク20が搬送されていない状態であれば、ワーク20の吸着ミスが全くない定常運転状態で、微小ワーク20を安定して、かつ高速に処理することができる。   According to the present embodiment, in order to easily inspect the minute workpiece 20, the feeder 3 conveys the workpiece at a high speed while keeping the predetermined interval p1 at the predetermined interval p1, and without reducing the conveyance velocity V1, the feeder 3 can reduce the workpiece interval p1. The workpiece 20 is reliably delivered to the one indexer 4. And since the conveyance direction at the time of delivering the workpiece | work 20 is substantially parallel, the impact force at the time of workpiece | work delivery can be suppressed as much as possible, and the minute workpiece 20 can be processed stably and at high speed. In the present embodiment, the work interval p1 conveyed from the feeder 3 is set to be equal to or larger than the size of the first suction port 41, and there is no problem of sucking the two front and rear works 20 together. The work suction error is unlikely to occur. In the example shown in FIG. 5, the flow of the workpiece delivery when the device is stopped due to some device trouble and the operation is resumed with the workpiece 20 being conveyed to the right end of the linear feeder 3 has been described. Other than the workpiece 251, there is no adsorption mistake, and the minute workpiece 20 can be processed stably and at high speed. Of course, if the workpiece 20 is not conveyed to the vicinity of the front end of the linear feeder 3, the minute workpiece 20 can be processed stably and at high speed in a steady operation state where there is no adsorption error of the workpiece 20. Can do.

(ワーク受渡し例2)
図6は、ワーク搬送速度とワーク間隔が比較的小さい場合の例である。図6(a)は、再起動直後等で全ワーク非吸着の状態となっており、ワーク20は、その順番を表すために右から左に向かって順に符号251,252,253,…としており、吸着口41は、その順番を表すために右から左に向かって順に符号450,451,452,453,…としている。ここでは、基準となるワーク搬送速度を符号V0とし、フィーダ3によるワーク搬送速度を符号V1とし、第1のインデクサ4によるワーク搬送速度を符号V2としている。
(Work delivery example 2)
FIG. 6 shows an example in which the workpiece conveyance speed and the workpiece interval are relatively small. FIG. 6A shows a state in which all the workpieces are not attracted immediately after restarting, and the workpiece 20 is denoted by reference numerals 251, 252, 253,. The suction ports 41 are denoted by reference numerals 450, 451, 452, 453,... In order from the right to the left in order to indicate the order. Here, the reference workpiece conveyance speed is denoted by reference numeral V0, the workpiece conveyance speed by the feeder 3 is denoted by reference numeral V1, and the workpiece conveyance speed by the first indexer 4 is denoted by reference numeral V2.

図6に示す例では、フィーダ3によるワーク搬送速度V1が基準速度V0の1.5倍であるとし(V1=1.5*V0)、第1のインデクサ4によるワーク搬送速度V2が基準速度V0の3.0倍であるとしており(V2=3.0*V0)、第1のインデクサ4によるワーク搬送速度V2は、フィーダ3によるワーク搬送速度V1よりも大きい値に設定されている(V2>V1)。そして、フィーダ3のワーク間隔p1は、ワーク長さd0の1.5倍で一定しているとし(p1=1.5*d0)、第1のインデクサ4の吸着口間隔p2は、フィーダ3のワーク間隔p1よりも大きい値に設定されている(p2>p1)。第1のインデクサ4の周速度は一定としている。   In the example shown in FIG. 6, it is assumed that the workpiece conveyance speed V1 by the feeder 3 is 1.5 times the reference speed V0 (V1 = 1.5 * V0), and the workpiece conveyance speed V2 by the first indexer 4 is the reference speed V0. 3 (V2 = 3.0 * V0), and the work transport speed V2 by the first indexer 4 is set to a value larger than the work transport speed V1 by the feeder 3 (V2>). V1). The workpiece interval p1 of the feeder 3 is assumed to be constant at 1.5 times the workpiece length d0 (p1 = 1.5 * d0), and the suction port interval p2 of the first indexer 4 is equal to that of the feeder 3. A value larger than the workpiece interval p1 is set (p2> p1). The peripheral speed of the first indexer 4 is constant.

この例では、フィーダ3の右端位置に向かい合う吸着口(符号451)の直前から2つ手前の吸着口(符号453)までの範囲がワーク20をピックアップするピックアップ区間dpとなっており(図6(a))、このピックアップ区間dpはワーク長さd0の6倍に設定され(dp=6*d0)、また、ピックアップ区間dpの後半部分の範囲が吸引先行区間dnとなっており、この吸引先行区間dnはワーク長さd0の3倍に設定されている(dp=3*d0)。そして、ピックアップ区間dpを含む前方側で第2のインデクサ5へと受け渡すまでの範囲が吸引区間dqとなっている。図6では、前記吸着口450,451,452,…が吸引作動していることをハッチングで図示しており、ハッチングされていない箇所は吸引停止状態となっている。吸着口41の口径はワーク20の吸着面よりも小さければ動作に支障がなく、吸着口41の口径は例えば0.2mmである。 なお図6では説明の都合上、第1のインデクサ4を直線状に図示しているが、実際には円板形状となっている。また、実機では、第1のインデクサ4がピックアップ位置より手前で吸着開始しないために上側カバーが付設されている。   In this example, the range from immediately before the suction port (reference numeral 451) facing the right end position of the feeder 3 to the second previous suction port (reference numeral 453) is a pickup section dp for picking up the workpiece 20 (FIG. 6 ( a)) The pickup section dp is set to 6 times the workpiece length d0 (dp = 6 * d0), and the second half of the pickup section dp is the suction preceding section dn. The section dn is set to 3 times the workpiece length d0 (dp = 3 * d0). The range from the front side including the pickup section dp to the delivery to the second indexer 5 is the suction section dq. In FIG. 6, the suction ports 450, 451, 452,... Are shown in hatching, and portions that are not hatched are in a suction stop state. If the diameter of the suction port 41 is smaller than the suction surface of the workpiece 20, the operation is not hindered, and the diameter of the suction port 41 is, for example, 0.2 mm. In FIG. 6, for convenience of explanation, the first indexer 4 is shown in a straight line shape, but it is actually a disc shape. Further, in the actual machine, an upper cover is attached so that the first indexer 4 does not start sucking before the pickup position.

再起動直後は、全てのワーク20が非吸着の状態となっており(図6(a))、フィーダ3の右端のワーク251とその左側のワーク252,253,254,…を吸引すべく、吸着口453とその右側の吸着口452,451,…を吸引開始しつつ、フィーダ3と第1のインデクサ4を同時に起動させる。図6(a)に示す例では、吸着口451は、ワーク251よりも前方にあるため、ワーク251は吸着されずに落下し、回収ガイド9によって回収される(図1参照)。そして、吸着口452は、ワーク252よりも後方にあるため、追い越す際にエア吸着して搬送し(図6(b))、ワーク253は吸着されずに落下し、回収ガイド9によって回収されるが(図1参照)、吸着口453は、ワーク254よりも後方にあるため、追い越す際にエア吸着して搬送し(図6(b))、吸着口454は、ワーク255よりも後方にあるため、追い越す際にエア吸着して搬送し(図6(c))、吸着口455は、ワーク256よりも後方にあるため、追い越す際にエア吸着して搬送し(図5(e))、吸着口456は、ワーク257よりも後方にあるため、追い越す際にエア吸着して搬送し(図5(f))、以後、定常運転状態となり、吸着口457は、ワーク258よりも後方にあるため、追い越す際にエア吸着して搬送する(図5(g))。 本実施例によれば、微小ワーク20を検査し易いようにフィーダ3によって所定間隔p1に揃えながら高速搬送し、その搬送速度V1を落とさずに、そのワーク間隔p1を狭めることなくフィーダ3から第1のインデクサ4への確実なワーク20の受渡しがなされる。   Immediately after the restart, all the workpieces 20 are in a non-adsorbing state (FIG. 6A), and the workpiece 251 at the right end of the feeder 3 and the workpieces 252, 253, 254,. The feeder 3 and the first indexer 4 are simultaneously activated while the suction port 453 and suction ports 452, 451,. In the example shown in FIG. 6A, the suction port 451 is in front of the work 251, so that the work 251 falls without being sucked and is collected by the collection guide 9 (see FIG. 1). Since the suction port 452 is located behind the work 252, the air is sucked and conveyed when overtaking (FIG. 6B), and the work 253 falls without being sucked and is collected by the collection guide 9. However, since the suction port 453 is behind the work 254, the air suction is carried when overtaking (FIG. 6B), and the suction port 454 is behind the work 255. Therefore, air is adsorbed and conveyed when overtaking (FIG. 6C), and the suction port 455 is behind the work 256, and therefore, air adsorbed and conveyed when overtaking (FIG. 5E), Since the suction port 456 is behind the work 257, it is sucked and transported when overtaking (FIG. 5 (f)), and thereafter enters a steady operation state, and the suction port 457 is behind the work 258. Because of this, air adsorbs when overtaking Conveying (FIG 5 (g)). According to the present embodiment, in order to easily inspect the minute workpiece 20, the feeder 3 conveys the workpiece at a high speed while keeping the predetermined interval p1 at the predetermined interval p1, and without reducing the conveyance velocity V1, the feeder 3 can reduce the workpiece interval p1. The workpiece 20 is reliably delivered to the one indexer 4.

(ワーク受渡し例2)
図7は、ワーク搬送速度が一定でワーク間隔変動する場合の例である。図7(a)は、再起動直後等で全ワーク非吸着の状態となっており、ワーク20は、その順番を表すために右から左に向かって順に符号251,252,253,…としており、吸着口41は、その順番を表すために右から左に向かって順に符号450,451,452,453,…としている。ここでは、基準となるワーク搬送速度を符号V0とし、フィーダ3によるワーク搬送速度を符号V1とし、第1のインデクサ4によるワーク搬送速度を符号V2としている。
(Work delivery example 2)
FIG. 7 shows an example in which the workpiece conveyance speed is constant and the workpiece interval varies. FIG. 7A shows a state in which all workpieces are not attracted immediately after restarting or the like, and the workpieces 20 are denoted by reference numerals 251, 252, 253,. The suction ports 41 are denoted by reference numerals 450, 451, 452, 453,... In order from the right to the left in order to indicate the order. Here, the reference workpiece conveyance speed is denoted by reference numeral V0, the workpiece conveyance speed by the feeder 3 is denoted by reference numeral V1, and the workpiece conveyance speed by the first indexer 4 is denoted by reference numeral V2.

図7に示す例では、フィーダ3によるワーク搬送速度V1が基準速度V0の2.0倍であるとし(V1=2.0*V0)、第1のインデクサ4によるワーク搬送速度V2が基準速度V0の3.0倍であるとしており(V2=3.0*V0)、第1のインデクサ4によるワーク搬送速度V2は、フィーダ3によるワーク搬送速度V1よりも大きい値に設定されている(V2>V1)。そして、フィーダ3のワーク間隔p11,p12,p13は、順にワーク長さd0の2.5倍,2.0倍,1.5倍に周期的に変動しているとし(p11=2.5*d0、p12=2.0*d0、p13=1.5*d0)、第1のインデクサ4の吸着口間隔p2は、フィーダ3のワーク間隔p11よりも大きい値に設定されている(p2>p11)。第1のインデクサ4の周速度は一定としている。   In the example shown in FIG. 7, it is assumed that the workpiece conveyance speed V1 by the feeder 3 is 2.0 times the reference speed V0 (V1 = 2.0 * V0), and the workpiece conveyance speed V2 by the first indexer 4 is the reference speed V0. 3 (V2 = 3.0 * V0), and the work transport speed V2 by the first indexer 4 is set to a value larger than the work transport speed V1 by the feeder 3 (V2>). V1). The workpiece intervals p11, p12, and p13 of the feeder 3 are periodically changed to 2.5 times, 2.0 times, and 1.5 times the workpiece length d0 in order (p11 = 2.5 *). d0, p12 = 2.0 * d0, p13 = 1.5 * d0), and the suction port interval p2 of the first indexer 4 is set to a value larger than the workpiece interval p11 of the feeder 3 (p2> p11). ). The peripheral speed of the first indexer 4 is constant.

この例では、フィーダ3の右端位置に向かい合う吸着口(符号451)の直前から2つ手前の吸着口(符号453)までの範囲がワーク20をピックアップするピックアップ区間dpとなっており(図7(a))、このピックアップ区間dpはワーク長さd0の6倍に設定され(dp=6*d0)、また、ピックアップ区間dpの後半部分の範囲が吸引先行区間dnとなっており、この吸引先行区間dnはワーク長さd0の3倍に設定されている(dp=3*d0)。そして、ピックアップ区間dpを含む前方側で第2のインデクサ5へと受け渡すまでの範囲が吸引区間dqとなっている。図7では、前記吸着口450,451,452,…が吸引作動していることをハッチングで図示しており、ハッチングされていない箇所は吸引停止状態となっている。吸着口41の口径はワーク20の吸着面よりも小さければ動作に支障がなく、吸着口41の口径は例えば0.2mmである。 なお図7では説明の都合上、第1のインデクサ4を直線状に図示しているが、実際には円板形状となっている。また、実機では、第1のインデクサ4がピックアップ位置より手前で吸着開始しないために上側カバーが付設されている。   In this example, the range from immediately before the suction port (reference numeral 451) facing the right end position of the feeder 3 to the second previous suction port (reference numeral 453) is a pickup section dp for picking up the workpiece 20 (FIG. 7 ( a)) The pickup section dp is set to 6 times the workpiece length d0 (dp = 6 * d0), and the second half of the pickup section dp is the suction preceding section dn. The section dn is set to 3 times the workpiece length d0 (dp = 3 * d0). The range from the front side including the pickup section dp to the delivery to the second indexer 5 is the suction section dq. In FIG. 7, the suction ports 450, 451, 452,... Are illustrated as hatched, and the portions that are not hatched are in a suction stop state. If the diameter of the suction port 41 is smaller than the suction surface of the workpiece 20, the operation is not hindered, and the diameter of the suction port 41 is, for example, 0.2 mm. In FIG. 7, for convenience of explanation, the first indexer 4 is shown in a straight line, but it is actually a disk shape. Further, in the actual machine, an upper cover is attached so that the first indexer 4 does not start sucking before the pickup position.

再起動直後は、全てのワーク20が非吸着の状態となっており(図7(a))、フィーダ3の右端のワーク251とその左側のワーク252,253,254,…を吸引すべく、吸着口453とその右側の吸着口452,451,…を吸引開始しつつ、フィーダ3と第1のインデクサ4を同時に起動させる。図7(a)に示す例では、吸着口451は、ワーク251よりも前方にあるため、ワーク251は吸着されずに落下し、回収ガイド9によって回収される(図1参照)。そして、吸着口452は、ワーク252よりも後方にあるため、追い越す際にエア吸着して搬送し(図7(b))、ワーク253は吸着されずに落下し、回収ガイド9によって回収されが(図1参照)、吸着口453は、ワーク254よりも後方にあるため、追い越す際にエア吸着して搬送し(図7(c))、以後、定常運転状態となり、吸着口454は、ワーク254よりも後方にあるため、追い越す際にエア吸着して搬送する(図7(d))。 本実施例によれば、微小ワーク20を検査し易いようにフィーダ3によって高速搬送し、その搬送速度V1を落とさずに、その最大ワーク間隔p11を狭めることなくフィーダ3から第1のインデクサ4への確実なワーク20の受渡しがなされる。   Immediately after the restart, all the workpieces 20 are in a non-adsorption state (FIG. 7A), and in order to suck the workpiece 251 at the right end of the feeder 3 and the workpieces 252, 253, 254,. The feeder 3 and the first indexer 4 are simultaneously activated while the suction port 453 and suction ports 452, 451,. In the example shown in FIG. 7A, the suction port 451 is in front of the work 251, so that the work 251 falls without being sucked and is collected by the collection guide 9 (see FIG. 1). Since the suction port 452 is behind the work 252, air is attracted and conveyed when overtaking (FIG. 7B), and the work 253 falls without being picked up and is collected by the collection guide 9. (Refer to FIG. 1) Since the suction port 453 is behind the workpiece 254, air is adsorbed and conveyed when overtaking (FIG. 7C), and thereafter, the steady operation state is established. Since it is behind 254, air is adsorbed and transported when overtaking (FIG. 7D). According to the present embodiment, the micro workpiece 20 is conveyed at high speed by the feeder 3 so as to be easily inspected, and the feeder 3 is moved from the feeder 3 to the first indexer 4 without reducing the conveyance speed V1 without reducing the maximum workpiece interval p11. The reliable delivery of the workpiece 20 is performed.

上述のとおり、図5から図7に例示するように、微小ワーク20の時間当りの平均搬送個数がほぼ一定であれば、ワーク20の間隔p1が変動しても、ワーク20は第1のインデクサ4へ安定して受渡しされることがわかる。また仮に微小ワーク20の供給数が第1のインデクサ4への搬送個数よりも相対的に増大することがあっても、そのワークが第1のインデクサ4の吸着固定済みの微小ワーク20に干渉することなく、そのまま受渡し位置を通過した後、回収ガイド9によって回収される(図1参照)。また仮に微小ワーク20の供給数が第1のインデクサ4の搬送個数よりも相対的に減少することがあっても、第1のインデクサ4の吸着口41に微小ワーク20が欠落する箇所が発生するだけで、その後の外観検査に障害を与えることはない。中継ガイド部材を介している従来方式では微小ワーク20の時間当りの供給数が変動した場合、特に供給過多となった場合には微小ワーク20が滞留し、搬送経路に詰まるというような障害が発生するが、本実施形態の外観検査装置1では、このような問題は、まったく発生しない。   As described above, as illustrated in FIGS. 5 to 7, if the average number of transported micro workpieces 20 per hour is substantially constant, the workpiece 20 is the first indexer even if the interval p1 of the workpieces 20 fluctuates. It can be seen that it is delivered to 4 stably. Even if the supply number of the minute workpieces 20 is relatively larger than the number of conveyance to the first indexer 4, the workpieces interfere with the minute workpieces 20 on which the first indexer 4 has been sucked and fixed. Without passing through the delivery position, it is collected by the collection guide 9 (see FIG. 1). Even if the supply number of the minute workpieces 20 is relatively smaller than the conveyance number of the first indexer 4, a portion where the minute workpieces 20 are missing occurs at the suction port 41 of the first indexer 4. Just do not disturb the subsequent visual inspection. In the conventional method using the relay guide member, when the number of micro workpieces 20 supplied per hour fluctuates, particularly when the supply is excessive, the micro workpiece 20 stays and a failure such as clogging of the transport path occurs. However, such a problem does not occur at all in the appearance inspection apparatus 1 of the present embodiment.

(第2の実施の形態)
図8(a)は、本発明を適用した第2の実施形態の微小ワークの外観検査装置1を例示する側面図であり、図8(b)は点線Cで囲んだ部分を拡大して示す図である。ここで、同一の符号は同じ機能を表しており、その説明を適宜省略する。ここでは、第2のインデクサ5の直径が第1のインデクサ4の直径の2倍に設定される。第1のインデクサ4にはその内部に微小ワーク20を吸着するための第1の吸着口41が所定間隔p2で形成され、第2のインデクサ5にはその内部に微小ワーク20を吸着するための第2の吸着口51が所定間隔p3で形成され、第1の吸着口41の吸着口数と第2の吸着口51の吸着口数とが等しく設定される。そして、第2の吸着口51に近接して、吸着されたワーク20を解放するための解放噴射配管52が形成されている(図8(b))。第2のインデクサ5は、これら解放噴射配管52を有するため、第1のインデクサ4に比べその吸着口の間隔p3を大きくすることが第2のインデクサ5を製作する上で有利となる。またこのように吸着口の間隔p3が大きくなると、微小ワーク20の搬送方向の前側表面と後側表面を撮像する際に、隣の微小ワークが撮像領域に入らなくなるために撮像品質を確保するうえで有利となる。
(Second Embodiment)
FIG. 8A is a side view illustrating the appearance inspection apparatus 1 for a microwork according to the second embodiment to which the present invention is applied. FIG. 8B is an enlarged view of a portion surrounded by a dotted line C. FIG. Here, the same reference numerals represent the same functions, and description thereof will be omitted as appropriate. Here, the diameter of the second indexer 5 is set to be twice the diameter of the first indexer 4. The first indexer 4 is formed with first suction ports 41 for adsorbing the minute work 20 in the interior thereof at a predetermined interval p2, and the second indexer 5 is for adsorbing the minute work 20 inside the first indexer 4. The second suction ports 51 are formed at a predetermined interval p3, and the number of suction ports of the first suction port 41 and the number of suction ports of the second suction port 51 are set equal. And the release injection piping 52 for releasing the adsorbed workpiece | work 20 is formed in the vicinity of the 2nd adsorption port 51 (FIG.8 (b)). Since the second indexer 5 has these release injection pipes 52, it is advantageous to manufacture the second indexer 5 that the interval p3 between the suction ports is larger than that of the first indexer 4. In addition, when the suction hole interval p3 is increased in this way, when imaging the front surface and the rear surface in the conveyance direction of the micro workpiece 20, the adjacent micro workpiece does not enter the imaging area, so that the imaging quality is ensured. Is advantageous.

上記実施形態の構成で、第2のインデクサ5の回転速度を第1のインデクサ4の回転速度と等しくして、第2の吸着口51と第1の吸着口41とがその近接点位置で互いに向い合うように同期して回転制御させると、微小ワーク20にかかる衝撃が極力抑えられた状態で、第1のインデクサ4から第2のインデクサ5へと受渡される。微小ワーク20はフィーダ3から第1のインデクサ4へと受渡され、そして第2のインデクサ5へと受渡され、撮像カメラ61−66で撮像され、良否選別部82で選別回収されるまで円滑に搬送されるため、ワーク姿勢を安定させた状態で、高速で処理することができる。前記第2のインデクサ5の直径は、第1のインデクサ4の直径の2倍や整数倍などに限定されるわけではなく、また、前記第2のインデクサ5の吸着口数は、第1のインデクサ4の吸着口数の1倍や整数分の1などに限定されるわけではない。つまり、第1のインデクサ4の吸着口41と第2のインデクサ5の吸着口51とがその近接点位置で互いに向い合うように同期回転させればよいので、前記第2のインデクサ5の直径や吸着口数は検査条件やワーク20の形状等に応じて、任意に設定することが可能である。   In the configuration of the above embodiment, the rotation speed of the second indexer 5 is made equal to the rotation speed of the first indexer 4 so that the second suction port 51 and the first suction port 41 are located at the proximity point positions. When the rotation control is performed so as to face each other, the impact applied to the minute workpiece 20 is transferred from the first indexer 4 to the second indexer 5 in a state where the impact is suppressed as much as possible. The minute work 20 is delivered from the feeder 3 to the first indexer 4 and then delivered to the second indexer 5, picked up by the imaging camera 61-66, and smoothly conveyed until it is sorted and collected by the pass / fail sorting unit 82. Therefore, high-speed processing can be performed in a state where the workpiece posture is stabilized. The diameter of the second indexer 5 is not limited to twice or an integer multiple of the diameter of the first indexer 4, and the number of suction ports of the second indexer 5 is the first indexer 4. It is not limited to 1 times the number of adsorption holes or 1 / integer. That is, since the suction port 41 of the first indexer 4 and the suction port 51 of the second indexer 5 may be synchronously rotated so as to face each other at the proximity point position, the diameter of the second indexer 5 and the like The number of suction ports can be arbitrarily set according to the inspection conditions, the shape of the workpiece 20, and the like.

上記実施形態では、第2のインデクサ5を第1のインデクサ4の真上に配置する例で説明したが、第2のインデクサ5と第1のインデクサ4の位置関係としては、第2のインデクサ5を第1のインデクサ4の真上に配置する構成以外に、斜め上方に配置する構成や、真横に配置する構成とすることも可能である。   In the above embodiment, the example in which the second indexer 5 is arranged directly above the first indexer 4 has been described. However, the positional relationship between the second indexer 5 and the first indexer 4 is the second indexer 5. In addition to the configuration in which the first indexer 4 is disposed directly above, a configuration in which the first indexer 4 is disposed obliquely upward or a configuration in which the first indexer 4 is disposed on the side is also possible.

(第3の実施の形態)
図9(a)は、本発明を適用した第3の実施形態の微小ワークの外観検査装置1を例示する平面図であり、図9(b)はB方向から見た矢視図(側面図)である。ここで、同一の符号は同じ機能を表しており、その説明を適宜省略する。また、上記実施形態と同じ構成部材については一部省略して図示している。本実施形態では、フィーダ3が、回転円板式フィーダとなっている。微小ワーク20は、水平に配置された回転円板35の上をその上下面が水平状態で搬送され、正立した第1のインデクサ4へと受渡しされる。ここでは、第1のインデクサ4を正立させた状態で円板式フィーダ3から微小ワーク20を受渡すため、第1のインデクサ4の吸着口41の形状を図9(b)に示すように左右非対称としている。そして、第1のインデクサ4から微小ワーク20を受渡すため、第2のインデクサ5の吸着口51の形状を第1のインデクサ4のそれと逆の非対称の構成としている。またこれらの構成に合せるために撮像装置を、搬送される微小ワークの表面のほぼ法線方向に光軸が一致するように配置している。
(Third embodiment)
FIG. 9A is a plan view illustrating the appearance inspection apparatus 1 for a microwork according to the third embodiment to which the present invention is applied, and FIG. 9B is a view as viewed from the direction B (side view). ). Here, the same reference numerals represent the same functions, and description thereof will be omitted as appropriate. In addition, the same constituent members as those in the above embodiment are partly omitted. In the present embodiment, the feeder 3 is a rotating disk feeder. The minute work 20 is transported to the upright first indexer 4 after the upper and lower surfaces of the minute work 20 are conveyed horizontally on the rotating disk 35 arranged horizontally. Here, in order to deliver the minute work 20 from the disc-type feeder 3 in a state where the first indexer 4 is upright, the shape of the suction port 41 of the first indexer 4 is changed to the left and right as shown in FIG. It is asymmetric. In order to deliver the minute work 20 from the first indexer 4, the shape of the suction port 51 of the second indexer 5 is an asymmetric configuration opposite to that of the first indexer 4. In order to match these configurations, the imaging device is arranged so that the optical axis coincides with the normal direction of the surface of the minute work to be conveyed.

図10(a)は、上記実施形態の外観検査装置1における第1のインデクサ4を傾斜させた構成例を示す平面図であり、図10(b)はB方向から見た矢視図(側面図)である。本実施例では、第1のインデクサ4の吸着口41には断面V字形状の溝が形成されており、円板式フィーダ3の回転円板35から微小ワーク20を受渡すため、第1のインデクサ4及び第2のインデクサ5を含めた外観検査装置下流部全体を垂直線から角度θ1が45度の角度で傾斜させて配置している。   FIG. 10A is a plan view showing a configuration example in which the first indexer 4 in the appearance inspection apparatus 1 of the above embodiment is inclined, and FIG. 10B is an arrow view (side view) seen from the B direction. Figure). In the present embodiment, the suction port 41 of the first indexer 4 is formed with a groove having a V-shaped cross section, and the first indexer 4 is transferred from the rotating disk 35 of the disc-type feeder 3. The entire downstream portion of the appearance inspection apparatus including the 4 and the second indexer 5 is disposed so that the angle θ1 is inclined at an angle of 45 degrees from the vertical line.

本実施形態によれば、回転円板式フィーダ3とすることで、微小ワーク20をその上下面が水平状態で搬送することができ、例えば図13(b)に示すような四角形で薄板形状のワーク22や、図13(c)に示すような長方形状の部品に凸状部が形成されたワーク23を搬送することが容易である。そして、前記制御回路7が第2のインデクサ5,第1のインデクサ4,及び回転円板式フィーダ3を同期回転させることで、回転円板式フィーダ3から第2のインデクサ5までの確実なワークの搬送が可能となり、前記ワーク20のピッキングミスも生じ難い。   According to the present embodiment, by using the rotating disk feeder 3, the micro work 20 can be transported with its upper and lower surfaces being in a horizontal state. For example, a rectangular and thin work as shown in FIG. 13B. 22 or a workpiece 23 in which a convex part is formed on a rectangular part as shown in FIG. Then, the control circuit 7 synchronously rotates the second indexer 5, the first indexer 4, and the rotating disk feeder 3, thereby reliably transporting the work from the rotating disk feeder 3 to the second indexer 5. And picking mistakes of the workpiece 20 are unlikely to occur.

(第4の実施の形態)
図11(a)は、本発明を適用した第4の実施形態の微小ワークの外観検査装置1を例示する平面図であり、図11(b)はB方向から見た矢視図(側面図)である。ここで、同一の符号は同じ機能を表しており、その説明を適宜省略する。また、上記実施形態と同じ構成部材については一部省略して図示している。本実施形態では、フィーダ3が、回転円板36と無限軌道ベルトT2を組み合わせたベルト式フィーダとなっている。無限軌道ベルトT2の上面には断面V字形状の溝が形成されており、回転円板36と駆動用円板T1とに掛け渡されており、テンショナT3にて無限軌道ベルトT2のテンションが調整される。微小ワーク20は、水平に配された無限軌道ベルトT2のV字形状の溝に沿って搬送され、正立した第1のインデクサ4へと受渡しされる。
(Fourth embodiment)
FIG. 11A is a plan view illustrating an appearance inspection apparatus 1 for a microwork according to a fourth embodiment to which the present invention is applied, and FIG. 11B is an arrow view (side view) viewed from the B direction. ). Here, the same reference numerals represent the same functions, and description thereof will be omitted as appropriate. In addition, the same constituent members as those in the above embodiment are partly omitted. In the present embodiment, the feeder 3 is a belt-type feeder in which the rotating disk 36 and the endless track belt T2 are combined. A groove having a V-shaped cross section is formed on the upper surface of the endless track belt T2, and is spanned between the rotating disc 36 and the drive disc T1, and the tensioner T3 adjusts the tension of the endless track belt T2. Is done. The micro work 20 is transported along the V-shaped groove of the endless track belt T <b> 2 arranged horizontally, and delivered to the upright first indexer 4.

本実施形態では、回転円板36の円板上整列部の外周部に、その上面部にV溝のあるベルトT2を密接させ、円板上整列部で押出して整列させた微小ワーク20をそのまま第1のインデクサ4へ受渡しする構成となっており、微小ワーク20が円板から脱出し、接線方向に搬送方向が変化した場合に発生する微小ワーク20の速度低下とそれに伴う姿勢悪化が発生し難い。また微小ワーク20をV溝に沿って安定した状態で第1のインデクサ4に受渡すことができるという利点がある。既知の微小ワークの外観検査装置では、このようにベルト上を搬送される微小ワークをそのベルトの搬送途中で受渡すということは構造上できなかった。そして、前記制御回路7が第2のインデクサ5,第1のインデクサ4,及びベルト式フィーダ3を同期運転させることで、ベルト式フィーダ3から第2のインデクサ5までの確実なワークの搬送が可能となり、前記ワーク20のピッキングミスも生じ難い。   In the present embodiment, the micro work 20 that has the belt T2 having a V-groove on the upper surface thereof is closely contacted with the outer peripheral portion of the on-disk alignment portion of the rotating disk 36 and is extruded and aligned at the on-disk alignment portion. It is configured to deliver to the first indexer 4, and the speed of the micro work 20 is reduced when the micro work 20 comes out of the disk and the conveying direction is changed in the tangential direction, and the posture deteriorates accordingly. hard. Further, there is an advantage that the minute work 20 can be delivered to the first indexer 4 in a stable state along the V-groove. In the known inspection apparatus for minute workpieces, it is structurally impossible to deliver the minute workpieces conveyed on the belt in the middle of conveyance of the belt. The control circuit 7 allows the second indexer 5, the first indexer 4, and the belt type feeder 3 to operate synchronously, so that the workpiece can be reliably conveyed from the belt type feeder 3 to the second indexer 5. Thus, picking mistakes of the workpiece 20 are unlikely to occur.

(第5の実施の形態)
図12(a)は、本発明を適用した第3の実施形態の微小ワークの外観検査装置1を例示する平面図であり、図12(b)はB方向から見た矢視図(側面図)であり、図12(c)はE方向から見た側面図である。ここで、同一の符号は同じ機能を表しており、その説明を適宜省略する。また、上記実施形態と同じ構成部材については一部省略して図示している。本実施形態では、フィーダ3が、回転円板式フィーダとなっている。回転円板37の上面の外周付近には断面V字形状の溝が形成されており、回転円板37の外周には、ワーク20が遠心力で外に出ないようにガイド39が配されている。そして、回転円板37上の整列部で押出して整列させた微小ワーク20をそのまま第1のインデクサ4へ受渡しする構成となっている。
(Fifth embodiment)
FIG. 12A is a plan view illustrating an appearance inspection apparatus 1 for a micro workpiece according to a third embodiment to which the present invention is applied, and FIG. 12B is a view as viewed from the B direction (side view). 12 (c) is a side view seen from the E direction. Here, the same reference numerals represent the same functions, and description thereof will be omitted as appropriate. In addition, the same constituent members as those in the above embodiment are partly omitted. In the present embodiment, the feeder 3 is a rotating disk feeder. A groove having a V-shaped cross section is formed in the vicinity of the outer periphery of the upper surface of the rotating disk 37, and a guide 39 is disposed on the outer periphery of the rotating disk 37 so that the workpiece 20 does not come out due to centrifugal force. Yes. Then, the micro work 20 extruded and aligned by the alignment portion on the rotating disk 37 is transferred to the first indexer 4 as it is.

図12(c)に示す例では、直方体形状のワーク21(20)の第4面(符号204)と第3面(符号203)を回転円板式フィーダ3の上面のV溝に沿わせて搬送させ、垂直線から45度の角度で傾斜させ、かつ、第1のインデクサ4への受渡しの基準線から角度θ2の角度手前の位置(θ2が20度から70度の範囲内)に配された撮像カメラ63、64にてワーク21の第3面203、第4面204を撮像し、第1のインデクサ4の外周面のV溝に受け渡し(図12(b))、第1のインデクサ4の右斜め上方で垂直線から20度から70度手前の角度で、左右横方向の手前45度の位置に配された撮像カメラ61、62にてワーク21の第1面201、第2面202を撮像し、第1のインデクサ4の右斜め上下45度の位置に配された撮像カメラ65、66にてワーク21の第5面205、第6面206を撮像する。   In the example shown in FIG. 12 (c), the fourth surface (reference numeral 204) and the third surface (reference numeral 203) of the rectangular parallelepiped work 21 (20) are conveyed along the V groove on the upper surface of the rotary disk feeder 3. And inclined at an angle of 45 degrees from the vertical line, and arranged at a position just before the angle θ2 from the reference line for delivery to the first indexer 4 (θ2 is in the range of 20 degrees to 70 degrees). The third surface 203 and the fourth surface 204 of the workpiece 21 are imaged by the imaging cameras 63 and 64 and transferred to the V groove on the outer peripheral surface of the first indexer 4 (FIG. 12B). The first surface 201 and the second surface 202 of the workpiece 21 are moved by the imaging cameras 61 and 62 disposed obliquely upward and to the right and at an angle of 20 to 70 degrees from the vertical line and at a position of 45 degrees in the lateral direction. The image was taken and arranged at a position 45 degrees diagonally up and down to the right of the first indexer 4 The 5th surface 205 and the 6th surface 206 of the workpiece | work 21 are imaged with the imaging cameras 65 and 66. FIG.

本実施形態では、ワークフィーダとしてV溝付円板式フィーダ3を採用し、これによって、搬送される微小チップの姿勢がより安定する。つまり、V溝付円板式フィーダ3では微小ワーク20を整列部によって外に流しつつ、ガイド39を利用して回転円板37の外周近傍のV溝部分に誘導すると、ワーク20の自重と搬送中の遠心力および振動でV溝底部に滑落し易く、いったんV溝底部に滑落するとフィーダ3との接触面積が大きくなるため、フィーダ3との間で滑りが生じ難く、安定して搬送される。円板式フィーダ3から第1のインデクサ4への受渡し部では、受渡し容易とするために回転円板37の外周側のガイド39の一部が欠けているが、ワーク20がV溝に嵌合している状態であることから、高速でワーク20を搬送したとしても、遠心力で外周から脱落する虞はない。そして、第1のインデクサ4が、ワーク20を上方進行方向へ掬い上げて、一定ピッチで吸着把持する際には、対象となるワークを一定速度で供給できることが、安定したピックアップに貢献している。なお、第1のインデクサ4がピックアップミスした微小ワークがあったとしても、V溝に残ったワークは、そのまま回転して次のピックアップの対象となり、V溝から脱落したものは、別途回収されて、次のピックアップの対象となり得る。   In the present embodiment, the V-grooved disk type feeder 3 is adopted as the work feeder, and thereby the posture of the conveyed microchip is further stabilized. In other words, in the V-grooved disc type feeder 3, when the micro workpiece 20 is caused to flow outward by the alignment portion and guided to the V-groove portion near the outer periphery of the rotating disc 37 using the guide 39, the weight of the workpiece 20 is being conveyed and being conveyed. It is easy to slide down to the bottom of the V groove due to the centrifugal force and vibration, and once it slides down to the bottom of the V groove, the contact area with the feeder 3 becomes large. In the delivery portion from the disc type feeder 3 to the first indexer 4, a part of the guide 39 on the outer peripheral side of the rotating disc 37 is missing for easy delivery, but the work 20 is fitted in the V groove. Therefore, even if the workpiece 20 is transported at a high speed, there is no possibility of dropping off from the outer periphery due to centrifugal force. When the first indexer 4 scoops up the workpiece 20 in the upward traveling direction and suctions and grips the workpiece 20 at a constant pitch, the target workpiece can be supplied at a constant speed, which contributes to stable pickup. . Even if the first indexer 4 has a small workpiece missed in pick-up, the workpiece remaining in the V-groove is rotated as it is to be picked up next, and the one dropped from the V-groove is collected separately. Can be the target of the next pickup.

本実施形態によれば、V溝付円板式フィーダ3のV溝を搬送中に解放された上方の二面の外観検査を実施可能となるため、インデクサ4をひとつ使用するだけで、微小ワークの六面すべての外観検査を実施することができ、その際、円板式フィーダ3とインデクサ4がある一定の位置関係をもって同期回転するように制御することによって、円板式フィーダ3の撮像位置(角度がθ2)にあった微小ワーク20がインデクサ4のどの位置に吸着固定されるかが決定する。このことによってインデクサ4上の他の画像処理結果と合せて、対象となるワーク20の良否選別をおこなうことができる。したがって、小型で高速な外観検査装置1となる。   According to the present embodiment, since it is possible to carry out the appearance inspection of the upper two surfaces released during the conveyance of the V-groove of the V-grooved disk type feeder 3, the use of only one indexer 4 makes it possible to Appearance inspection can be performed on all six surfaces. At that time, by controlling the disc-type feeder 3 and the indexer 4 to rotate synchronously with a certain positional relationship, the imaging position (the angle of the disc-type feeder 3 is determined). It is determined at which position of the indexer 4 the minute work 20 in θ2) is attracted and fixed. As a result, it is possible to select the quality of the target workpiece 20 together with other image processing results on the indexer 4. Therefore, the appearance inspection apparatus 1 is small and fast.

以上、本発明は、上述した実施の形態に限定されるものではない。例えば前記ベルト式フィーダ3のV溝付ベルトT2上で搬送されるワーク20を撮像カメラで撮像し外観検査することも可能である。第1のインデクサ4と第2のインデクサ5は正立や45度傾斜に限られず、水平状態とすることも可能である。前記フィーダ3,第1のインデクサ4,及び第2のインデクサ5の組み合わせは、上述した実施の形態に限られず、それらの組み合わせは任意に設定することができる。前記フィーダ3は、2種以上のフィーダを複合させてもよい。前記インデクサは、1つでもよいし、2つでもよいし、3つ以上を組み合わせてもよい。第1のインデクサ4と第2のインデクサ5は、既知のパーツフィーダに組み合わせて使用しても優れた作用効果を発揮する。このように、本発明は、その趣旨を逸脱しない範囲で適宜変更が可能であることは言うまでもない。   As described above, the present invention is not limited to the embodiment described above. For example, it is also possible to inspect the appearance of the work 20 conveyed on the V-grooved belt T2 of the belt-type feeder 3 with an imaging camera. The 1st indexer 4 and the 2nd indexer 5 are not restricted to erect or 45 degree | times inclination, but can also be made into a horizontal state. The combination of the feeder 3, the first indexer 4, and the second indexer 5 is not limited to the above-described embodiment, and the combination thereof can be arbitrarily set. The feeder 3 may be a composite of two or more types of feeders. The indexer may be one, two, or a combination of three or more. The first indexer 4 and the second indexer 5 exhibit excellent operational effects even when used in combination with known parts feeders. Thus, it goes without saying that the present invention can be modified as appropriate without departing from the spirit of the present invention.

1 微小ワークの外観検査装置、
20 微小ワーク(チップ部品)、
3 フィーダ、
4 第1のインデクサ、
41 第1の吸着口、
5 第2のインデクサ、
51 第2の吸着口、
p2、p3 吸着口間隔、
61,61,63,64,65,66 撮像カメラ、
7 制御回路、
71 判定回路、
82 良否選別部、
9 回収ガイド

1 Microscopic work visual inspection device,
20 Micro work (chip parts),
3 Feeder,
4 First indexer,
41 1st suction port,
5 Second indexer,
51 second suction port,
p2, p3 suction port interval,
61, 61, 63, 64, 65, 66 imaging camera,
7 Control circuit,
71 judgment circuit,
82 pass / fail screening section,
9 Collection guide

Claims (8)

ワークを整列搬送するフィーダと、円板形状の外周に所定間隔で形成された吸着口によってフィーダ上のワークをエア吸着して回転軸で回転して搬送するインデクサと、搬送中のワークを撮像するため複数個所に配された撮像カメラと、これら撮像カメラから送出された撮像信号によって搬送中のワークを良否判定する判定回路と、前記インデクサに近接配置された良否選別部と、当該良否選別部に設けられた複数の排出口から良否判定されたワークをそれぞれ対応させて排出する排出手段と、これらを制御する制御回路を備え、
前記フィーダによるワーク搬送軌道とインデクサの回転軌道との近接点において前記フィーダによるワーク搬送方向と前記インデクサによるワーク搬送方向とが一致するように前記インデクサが配されて回転する構成とされ、
前記インデクサが回転しその吸着口が前記フィーダによって整列搬送されたワークに接近し当該ワークを追い越す際にエア吸着して搬送し、前記フィーダと前記インデクサとで搬送されるワークを複数個所に配された前記撮像カメラが撮像して撮像信号を送出し、前記判定回路が送出された撮像信号から対象となるワークを良否判定し、前記排出手段が良否判定されたワークを前記排出口からそれぞれ対応させて排出することを特徴とする微小ワークの外観検査装置。
A feeder that aligns and conveys workpieces, an indexer that air-sucks the workpieces on the feeder by suction holes formed at predetermined intervals on the outer periphery of the disk shape, and rotates and rotates the rotating shaft, and images the workpieces being conveyed Therefore, the imaging cameras arranged at a plurality of locations, the determination circuit for determining the quality of the workpiece being conveyed by the imaging signals sent from these imaging cameras, the quality screening unit disposed in proximity to the indexer, and the quality screening unit Equipped with discharge means for discharging the work judged to be good or bad from the plurality of discharge ports provided, and a control circuit for controlling these,
The indexer is arranged and rotated so that the workpiece transfer direction by the feeder and the workpiece transfer direction by the indexer coincide with each other at a proximity point between the workpiece transfer track by the feeder and the rotation track of the indexer,
When the indexer rotates and the suction port approaches the work aligned and conveyed by the feeder and overtakes the work, the air is adsorbed and conveyed, and the work conveyed by the feeder and the indexer is arranged at a plurality of locations. The imaging camera picks up an image and sends out an image pickup signal. The determination circuit determines whether the target work is good or bad from the picked-up image signal, and the discharge means associates the work determined as good or bad from the discharge port. A device for inspecting the appearance of minute workpieces characterized by
前記インデクサのワーク搬送速度が前記フィーダのワーク搬送速度よりも大きく設定されており、前記制御回路が前記インデクサと前記フィーダとを同期制御することを特徴とする請求項1記載の微小ワークの外観検査装置。   2. The appearance inspection of a micro work according to claim 1, wherein a work transport speed of the indexer is set to be higher than a work transport speed of the feeder, and the control circuit controls the indexer and the feeder synchronously. apparatus. ワークを整列搬送するフィーダと、円板形状の外周に所定間隔で形成された第1の吸着口によってフィーダ上のワークをエア吸着して第1の回転軸で回転し搬送する第1のインデクサと、円板形状の外周に所定間隔で形成された第2の吸着口によって第1のインデクサ上のワークをエア吸着し第2の回転軸で逆回転し搬送する第2のインデクサと、搬送中のワークを撮像するため複数個所に配された撮像カメラと、これら撮像カメラから送出された撮像信号によって搬送中のワークを良否判定する判定回路と、前記第2のインデクサに近接配置された良否選別部と、当該良否選別部に設けられた複数の排出口から良否判定されたワークをそれぞれ対応させて排出する排出手段と、これらを制御する制御回路を備え、
前記フィーダによるワーク搬送軌道と前記第1のインデクサの回転軌道との近接点において前記フィーダによるワーク搬送方向と前記第1のインデクサによるワーク搬送方向とが一致するように前記第1のインデクサが配されて回転し、前記第1のインデクサの回転軌道と前記第2のインデクサの回転軌道との近接点において前記第1のインデクサによるワーク搬送方向と前記第2のインデクサによるワーク搬送方向とが一致するように前記第2のインデクサが配されて逆回転する構成とされ、
前記第1のインデクサが回転しその第1の吸着口が前記フィーダによって整列搬送されたワークに接近し当該ワークを追い越す際にエア吸着して搬送し、前記第2のインデクサが逆回転しその第2の吸着口が前記第1のインデクサによって整列搬送されたワークに接近し当該ワークを追い越す際にエア吸着して搬送し、前記第1のインデクサと前記第2のインデクサとで搬送されるワークを複数個所に配された前記撮像カメラが撮像して撮像信号を送出し、前記判定回路が送出された撮像信号から対象となるワークを良否判定し、前記排出手段が良否判定されたワークを前記排出口からそれぞれ対応させて排出することを特徴とする微小ワークの外観検査装置。
A feeder that aligns and conveys the workpiece, and a first indexer that rotates the first rotation shaft to convey the workpiece on the feeder by means of first suction ports formed at predetermined intervals on the outer periphery of the disk shape, and conveys the workpiece. A second indexer that air-sucks a work on the first indexer by a second suction port formed at a predetermined interval on the outer periphery of the disk shape, and reversely rotates and transports the work on the second rotating shaft; Imaging cameras arranged at a plurality of locations for imaging the workpiece, a determination circuit for determining whether the workpiece being conveyed is acceptable based on imaging signals sent from these imaging cameras, and a pass / fail screening unit disposed in proximity to the second indexer And a discharge means for discharging the work determined to pass or fail from the plurality of discharge ports provided in the pass / fail screening section, and a control circuit for controlling these,
The first indexer is arranged so that the workpiece conveyance direction by the feeder and the workpiece conveyance direction by the first indexer coincide with each other at a proximity point between the workpiece conveyance track by the feeder and the rotation track of the first indexer. So that the workpiece conveyance direction by the first indexer and the workpiece conveyance direction by the second indexer coincide with each other at a point close to the rotation orbit of the first indexer and the rotation orbit of the second indexer. And the second indexer is arranged to rotate in reverse.
When the first indexer rotates and the first suction port approaches the work aligned and transported by the feeder and passes the work, the first indexer sucks and transports the air, and the second indexer rotates in the reverse direction. When the two suction ports approach the work aligned and transported by the first indexer and overtake the work, they are sucked and transported by the air, and the work transported by the first indexer and the second indexer is The imaging cameras arranged at a plurality of locations pick up images and send out image pickup signals. The determination circuit determines the quality of the target work from the image pickup signals sent out, and the discharge means determines the quality of the work determined as good or bad. A device for inspecting the appearance of minute workpieces, characterized in that they are discharged from the outlets correspondingly.
前記第1のインデクサのワーク搬送速度が前記フィーダのワーク搬送速度よりも大きく設定されており、前記制御回路が前記第1のインデクサと前記フィーダを同期制御することを特徴とする請求項3記載の微小ワークの外観検査装置。   The workpiece transfer speed of the first indexer is set to be higher than the workpiece transfer speed of the feeder, and the control circuit controls the first indexer and the feeder synchronously. Small workpiece appearance inspection device. 前記第2の吸着口の間隔が前記第1の吸着口の間隔よりも大きく設定されるとともに、前記第2のインデクサのワーク搬送速度が前記第1のインデクサのワーク搬送速度よりも大きく設定されており、前記制御回路が前記第2のインデクサ,前記第1のインデクサ,及び前記フィーダを同期制御することを特徴とする請求項3または4記載の微小ワークの外観検査装置。   The interval between the second suction ports is set to be larger than the interval between the first suction ports, and the workpiece conveyance speed of the second indexer is set to be larger than the workpiece conveyance speed of the first indexer. 5. The apparatus for inspecting appearance of a minute workpiece according to claim 3, wherein the control circuit synchronously controls the second indexer, the first indexer, and the feeder. 前記フィーダで搬送されるワークを非接触で検出するセンサが配されており、このセンサからの検出信号を受けた前記制御回路が前記フィーダで搬送されるワークの時間当たりの搬送個数から前記フィーダのワーク搬送速度を算出することを特徴とする請求項1から5のいずれか一項記載の微小ワークの外観検査装置。   A sensor for detecting the workpiece conveyed by the feeder in a non-contact manner is provided, and the control circuit that receives the detection signal from the sensor determines the number of workpieces conveyed by the feeder from the number of workpieces conveyed by the feeder per time. 6. The apparatus for inspecting appearance of a minute workpiece according to claim 1, wherein a workpiece conveyance speed is calculated. 前記フィーダが直進式フィーダであり、前記フィーダ出口の下方側には、トラブルによってワークの受け渡し部にワークが溜まらないようにするために、前記フィーダから前記インデクサ又は前記第1のインデクサへの受渡し位置を通過し落下したワークを回収するスロープ付きの回収ガイドが付設されていることを特徴とする請求項1から6のいずれか一項記載の微小ワークの外観検査装置。   The feeder is a linear feeder, and a delivery position from the feeder to the indexer or the first indexer is provided on the lower side of the feeder outlet so that the workpiece does not collect in the workpiece delivery section due to a trouble. 7. A microworkpiece appearance inspection apparatus according to any one of claims 1 to 6, further comprising a collection guide with a slope for collecting the work that has passed through and dropped. 前記フィーダが回転円板式フィーダまたは回転円板と無限軌道ベルトを組み合わせたベルト式フィーダのいずれかであることを特徴とする請求項1から6のいずれか一項記載の微小ワークの外観検査装置。   The appearance inspection apparatus for a minute workpiece according to any one of claims 1 to 6, wherein the feeder is any one of a rotating disk feeder or a belt feeder obtained by combining a rotating disk and an endless track belt.
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