JP2012218375A - Liquid ejection device, inspection method and program - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、液体吐出装置における吐出部を検査する技術に関する。 The present invention relates to a technique for inspecting a discharge section in a liquid discharge apparatus.
液体吐出装置の一つであるインクジェットプリンターは、インクを吐出する複数の吐出部を備え、各吐出部では、ノズルに連通するキャビティーにインクが貯留され、キャビティーに設けられた駆動素子の駆動によりノズルからインクが吐出される。このような液体吐出装置の吐出部では、キャビティー内のインクに気泡が混入した場合や、キャビティー内のインクが増粘した場合には、ノズルが目詰まりし、ノズルからのインクの吐出を良好に行うことができなくなるおそれがある。 An ink jet printer, which is one of liquid ejection devices, includes a plurality of ejection units that eject ink. In each ejection unit, ink is stored in a cavity communicating with a nozzle, and a drive element provided in the cavity is driven. As a result, ink is ejected from the nozzles. In such a discharge unit of the liquid discharge device, when bubbles are mixed in the ink in the cavity or the ink in the cavity is thickened, the nozzle is clogged and the ink is discharged from the nozzle. There is a risk that it cannot be performed well.
ノズルの目詰まりから吐出部を回復させる回復処理（メンテナンス処理）として、フラッシング処理や吸引処理が知られている。フラッシング処理は、キャビティー内のインクをノズルから吐出して除去する処理であり、吸引処理は、キャビティー内のインクをノズルから吸引して除去する処理である。 Flushing processing and suction processing are known as recovery processing (maintenance processing) for recovering the discharge portion from nozzle clogging. The flushing process is a process for removing ink in the cavity by discharging it from the nozzle, and the suction process is a process for removing the ink in the cavity by sucking from the nozzle.
従来、吐出部の回復処理に関し、回復処理の自動的な実施の可否をユーザーによって選択可能にする技術（例えば、特許文献１を参照）や、駆動素子の駆動によりキャビティー内のインクに残留する残留振動に基づいて待機時の吐出部を定期的に検査し、その検査結果に応じて回復処理を実施する技術（例えば、特許文献２を参照）が提案されていた。 Conventionally, with regard to the recovery process of the ejection unit, a technique (for example, refer to Patent Document 1) that allows the user to select whether or not the recovery process can be automatically performed, or driving of the drive element remains in the ink in the cavity. There has been proposed a technique (for example, refer to Patent Document 2) in which a standby discharge unit is periodically inspected based on residual vibration and a recovery process is performed according to the inspection result.
しかしながら、従来、吐出部の検査を実施する検査時機について十分な検討がなされていなかった。例えば、検査時機の間隔が長すぎると、吐出部を所望の状態に維持できなくなるおそれがあり、検査時機の間隔が短すぎると、検査に要する時間が増大してしまうという問題があった。 However, conventionally, sufficient examination has not been made on the inspection time for performing the inspection of the discharge portion. For example, if the interval between inspection times is too long, there is a possibility that the discharge part cannot be maintained in a desired state. If the interval between inspection times is too short, there is a problem that the time required for inspection increases.
本発明は、上記した課題を踏まえ、吐出部の状態に応じて吐出部の検査時機を調整することができる技術を提供することを目的とする。 In view of the above-described problems, an object of the present invention is to provide a technique capable of adjusting the inspection timing of the discharge unit according to the state of the discharge unit.
本発明は、上述の課題の少なくとも一部を解決するためになされたものであり、以下の形態または適用例として実現することが可能である。 SUMMARY An advantage of some aspects of the invention is to solve at least a part of the problems described above, and the invention can be implemented as the following forms or application examples.
［適用例１］ 適用例１の液体吐出装置は、キャビティーに連通するノズルから前記キャビティー内の液体を駆動素子の駆動により吐出する吐出部と、前記キャビティー内の液体の振動であって前記駆動素子の駆動により残留する残留振動を検出する検出部と、前記残留振動に基づいて前記吐出部を検査する検査部と、前記検査部による検査結果に基づいて、前記検査部による次回の検査の検査時機を設定する検査設定部とを備えることを特徴とする。適用例１の液体吐出装置によれば、吐出部の状態に応じて吐出部の検査時機を調整することができる。 [Application Example 1] The liquid discharge apparatus according to Application Example 1 includes a discharge unit that discharges liquid in the cavity from a nozzle communicating with the cavity by driving a driving element, and vibration of the liquid in the cavity. A detection unit that detects residual vibration remaining due to driving of the drive element, an inspection unit that inspects the ejection unit based on the residual vibration, and a next inspection by the inspection unit based on an inspection result by the inspection unit And an inspection setting unit for setting the inspection timing. According to the liquid ejection apparatus of Application Example 1, the inspection timing of the ejection unit can be adjusted according to the state of the ejection unit.
［適用例２］ 適用例１の液体吐出装置において、前記検査設定部は、前記検査時機に応じた前記検査部による検査結果に基づいて判断される前記吐出部の状態に応じて、前記検査時機を設定しても良い。適用例２の液体吐出装置によれば、検査時機に応じた吐出部の検査結果に基づいて吐出部の検査時機を調整することができる。
［適用例３］ 適用例１または適用例２の液体吐出装置は、更に、前記検査部による検査結果に基づいて前記吐出部を整備する整備部を備え、前記検査設定部は、前記整備部による前記吐出部の整備中における前記検査部による検査結果に基づいて判断される前記整備部の処理量に応じて、前記検査時機を設定するとしても良い。適用例３の液体吐出装置によれば、吐出部を整備中における吐出部の検査結果に基づいて吐出部の検査時機を調整することができる。
Application Example 2 In the liquid ejection apparatus according to Application Example 1, the inspection setting unit may perform the inspection timing according to a state of the ejection unit determined based on an inspection result by the inspection unit corresponding to the inspection timing. May be set. According to the liquid ejection device of Application Example 2, it is possible to adjust the inspection timing of the ejection unit based on the inspection result of the ejection unit according to the inspection timing.
Application Example 3 The liquid ejection device according to Application Example 1 or Application Example 2 further includes a maintenance unit that maintains the discharge unit based on an inspection result by the inspection unit, and the inspection setting unit is based on the maintenance unit. The inspection timing may be set in accordance with a processing amount of the maintenance unit determined based on an inspection result by the inspection unit during maintenance of the discharge unit. According to the liquid ejection device of Application Example 3, the inspection timing of the ejection unit can be adjusted based on the inspection result of the ejection unit during maintenance of the ejection unit.
［適用例４］ 適用例１ないし適用例３のいずれかの液体吐出装置は、更に、前記吐出部から前記液体を吐出させずに前記残留振動を発生させる態様で前記駆動素子の駆動を制御する駆動制御部を備えても良い。適用例４の液体吐出装置によれば、液体の消費量を抑制することができる。 Application Example 4 The liquid ejection device according to any one of Application Example 1 to Application Example 3 further controls driving of the drive element in such a manner that the residual vibration is generated without ejecting the liquid from the ejection unit. A drive control unit may be provided. According to the liquid ejection device of the application example 4, it is possible to suppress the liquid consumption.
［適用例５］ 適用例１ないし適用例４のいずれかの液体吐出装置は、更に、前記検査部による検査結果に基づいて、前記検査部による次回の検査において前記残留振動を発生させる際に前記吐出部から前記液体を吐出させるか否かを判断する吐出判断部を備えても良い。適用例５の液体吐出装置によれば、吐出部の状態に応じて吐出部の検査時機を調整した上で、吐出部の状態に応じた吐出部の検査を実施することができる。 Application Example 5 In the liquid ejection device according to any one of Application Examples 1 to 4, when the residual vibration is generated in the next inspection by the inspection unit based on the inspection result by the inspection unit, You may provide the discharge judgment part which judges whether the said liquid is discharged from a discharge part. According to the liquid discharge apparatus of Application Example 5, the discharge unit inspection according to the state of the discharge unit can be performed after adjusting the inspection timing of the discharge unit according to the state of the discharge unit.
［適用例６］ 適用例６の検査方法は、キャビティーに連通するノズルから前記キャビティー内の液体を駆動素子の駆動により吐出する吐出部を検査する検査方法であって、前記キャビティー内の液体の振動であって前記駆動素子の駆動により残留する残留振動を検出する検出工程と、前記残留振動に基づいて前記吐出部を検査する検査工程と、前記検査工程による検査結果に基づいて、前記検査工程による次回の検査の検査時機を設定する検査設定工程とを備えることを特徴とする。適用例６の検査方法によれば、吐出部の状態に応じて吐出部の検査時機を調整することができる。 [Application Example 6] The inspection method of Application Example 6 is an inspection method for inspecting a discharge portion that discharges liquid in the cavity by driving a drive element from a nozzle communicating with the cavity. Based on a detection process for detecting residual vibration that is a vibration of liquid and remaining due to driving of the drive element, an inspection process for inspecting the discharge unit based on the residual vibration, and an inspection result by the inspection process, And an inspection setting step for setting an inspection timing for the next inspection by the inspection step. According to the inspection method of Application Example 6, it is possible to adjust the inspection timing of the discharge unit according to the state of the discharge unit.
［適用例７］ 適用例７のプログラムは、キャビティーに連通するノズルから前記キャビティー内の液体を駆動素子の駆動により吐出する吐出部を検査する機能をコンピューターに実現させるためのプログラムであって、前記キャビティー内の液体の振動であって前記駆動素子の駆動により残留する残留振動を検出する検出機能と、前記残留振動に基づいて前記吐出部を検査する検査機能と、前記検査機能による検査結果に基づいて、前記検査機能による次回の検査の検査時機を設定する検査設定機能とを実現させることを特徴とする。適用例７のプログラムによれば、吐出部の状態に応じて吐出部の検査時機を調整することができる。 Application Example 7 The program of Application Example 7 is a program for causing a computer to realize a function of inspecting a discharge unit that discharges liquid in the cavity by driving a drive element from a nozzle communicating with the cavity. A detection function for detecting a residual vibration that is a vibration of the liquid in the cavity and remains due to the driving of the drive element; an inspection function for inspecting the discharge unit based on the residual vibration; and an inspection by the inspection function Based on the result, an inspection setting function for setting an inspection timing for the next inspection by the inspection function is realized. According to the program of the application example 7, the inspection timing of the discharge unit can be adjusted according to the state of the discharge unit.
本発明の形態は、液体吐出装置、検査方法およびプログラムに限るものではなく、インクジェットプリンターを始めとする液体吐出装置の具体的な形態の他、液体中や気体中に固体が分散した状態の流体を吐出する吐出装置など他の形態に適用することもできる。また、本発明は、前述の形態に何ら限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲内において様々な形態で実施し得ることは勿論である。 The form of the present invention is not limited to the liquid ejecting apparatus, the inspection method, and the program. In addition to the specific form of the liquid ejecting apparatus including the ink jet printer, the fluid in a state where the solid is dispersed in the liquid or gas The present invention can also be applied to other forms such as a discharge device that discharges water. Further, the present invention is not limited to the above-described embodiments, and it is needless to say that the present invention can be implemented in various forms without departing from the spirit of the present invention.
以上説明した本発明の構成および作用を一層明らかにするために、以下本発明を適用した液体吐出装置について説明する。 In order to further clarify the configuration and operation of the present invention described above, a liquid ejection apparatus to which the present invention is applied will be described below.
Ａ．第１実施例：
Ａ１．プリンターの構成：
図１は、プリンター１０の構成を示す説明図である。プリンター１０は、液体を吐出する液体吐出装置の一つであるインクジェットプリンターであり、液体としてインクを吐出することによって、文字、図形および画像などのデータを、紙やラベルなどの印刷媒体９０に印刷する。プリンター１０は、制御部１００と、ユーザーインターフェイス１８０と、通信インターフェイス１９０と、ヘッドユニット２００とを備える。
A. First embodiment:
A1. Printer configuration:
FIG. 1 is an explanatory diagram illustrating the configuration of the
プリンター１０のユーザーインターフェイス１８０は、ディスプレーや操作ボタンを備え、プリンター１０のユーザーとの間で情報のやり取りを行う。通信インターフェイス１９０は、プリンター１０と電気的に接続可能なパーソナルコンピューター、デジタルスチルカメラ、メモリーカードなどの外部機器との間で情報のやり取りを行う。プリンター１０のヘッドユニット２００は、インクを吐出するインク吐出機構を備える。なお、インク吐出機構の詳細については後述する。
The
プリンター１０の制御部１００は、プリンター１０の各部を制御する。例えば、制御部１００は、通信インターフェイス１９０を介して入力されるデータに基づいて、ヘッドユニット２００および印刷媒体９０を相対的に移動させながら、ヘッドユニット２００からインク滴を吐出させる印刷制御を行う。これによって、印刷媒体９０に対する印刷が実現される。
The
本実施例では、制御部１００は、ＣＰＵ（Central Processing Unit）、ＲＯＭ（Read Only Memory）、ＲＡＭ（Random Access Memory）、および入出力インターフェイスなどを備える装置であり、制御部１００による各種の機能は、ＣＰＵがコンピュータープログラムに基づいて動作することによって実現される。なお、制御部１００による機能の少なくとも一部は、制御部１００が備える電気回路がその回路構成に基づいて動作することによって実現されても良い。
In this embodiment, the
本実施例では、ヘッドユニット２００は、キャリッジ２１０と、インクカートリッジ２２０と、ヘッド２８０とを備える。ヘッドユニット２００のキャリッジ２１０は、制御部１００とフレキシブルケーブル１７０を介して接続され、インクカートリッジ２２０およびヘッド２８０を搭載した状態で移動可能に構成されている。ヘッドユニット２００のインクカートリッジ２２０は、インクを内部に収容し、そのインクをヘッド２８０に供給する。本実施例では、インクの色（ブラック、シアン、マゼンタおよびイエロの４色）毎に用意された複数のインクカートリッジ２２０がキャリッジ２１０に搭載されている。ヘッドユニット２００のヘッド２８０は、印刷媒体９０に対向する部位であり、インクカートリッジ２２０からヘッド２８０に供給されたインクは、ヘッド２８０から印刷媒体９０に向けて液滴状に吐出される。
In this embodiment, the
本実施例では、プリンター１０は、ヘッドユニット２００および印刷媒体９０を相対的に移動させるために、主走査送り機構および副走査送り機構を備える。プリンター１０の主走査送り機構は、キャリッジモーター３１２および駆動ベルト３１４を備え、駆動ベルト３１４を介してキャリッジモーター３１２の動力をヘッドユニット２００に伝達することによって、ヘッドユニット２００を主走査方向に往復移動させる。プリンター１０の副走査送り機構は、搬送モーター３２２およびプラテン３２４を備え、搬送モーター３２２の動力をプラテン３２４に伝達することによって、主走査方向に交差する副走査方向に印刷媒体９０を搬送する。主走査送り機構のキャリッジモーター３１２、および副走査送り機構の搬送モーター３２２は、制御部１００からの制御信号に基づいて動作する。
In the present embodiment, the
本実施例の説明では、ヘッドユニット２００を往復移動させる主走査方向に沿った座標軸にＸ軸を設定し、印刷媒体９０を搬送する副走査方向に沿った座標軸にＹ軸を設定し、重力方向の下方から上方に向かう座標軸にＺ軸を設定した。Ｘ軸、Ｙ軸およびＺ軸は、それぞれ相互に直交する座標軸である。
In the description of the present embodiment, the X axis is set as the coordinate axis along the main scanning direction in which the
図２は、ヘッドユニット２００におけるヘッド２８０の構造を示す説明図である。図２には、印刷媒体９０側から見たヘッド２８０を図示した。ヘッドユニット２００のヘッド２８０は、インクを吐出する複数のノズル４８を備える。本実施例では、インクの色（ブラック、シアン、マゼンタおよびイエロの４色）毎にｎ個（例えば３６０個）のノズル４８が設けられ、各色のノズル４８は、主走査方向（Ｘ軸方向）に、ブラック、シアン、マゼンタ、イエロの順に配置されている。各色のｎ個のノズル４８は、相互に副走査方向（Ｙ軸方向）にずらして配列され、本実施例では、副走査方向（Ｙ軸方向）におけるノズル４８同士の間隔を狭めるため、副走査方向（Ｙ軸方向）に沿って二列に分けて交互に配列されている。
FIG. 2 is an explanatory diagram showing the structure of the
本実施例の説明では、ヘッドユニット２００におけるノズルを総称する場合には符号「４８」を用い、ブラックのノズルを特定する場合には符号「４８ｋ」、シアンのノズルを特定する場合には符号「４８ｃ」、マゼンタのノズルを特定する場合には符号「４８ｍ」、イエロのノズルを特定する場合には符号「４８ｙ」をそれぞれ使用する。更に、個々のノズルを特定する場合には、ノズル番号を付加した符号を用いる。例えば、図２に示すように、イエロの１番目のノズルには符号「４８ｙ（１）」、イエロの２番目のノズルには符号「４８ｙ（２）」、イエロの３番目のノズルには符号「４８ｙ（３）」、・・・、イエロの（ｎ−１）番目のノズルには符号「４８ｙ（ｎ−１）」、イエロのｎ番目のノズルには符号「４８ｙ（ｎ）」を用いる。
In the description of this embodiment, the reference numeral “48” is used when generically referring to the nozzles in the
図３は、ヘッドユニット２００におけるインク吐出機構を示す説明図である。図３には、ヘッド２８０を重力方向（Ｚ軸方向）に沿って切断した断面を図示した。ヘッドユニット２００のインク吐出機構は、導入路４０と、リザーバー４２と、供給口４４と、キャビティー４６と、ノズル４８と、駆動素子６６と、振動板６７とを備える。
FIG. 3 is an explanatory diagram showing an ink ejection mechanism in the
インク吐出機構の導入路４０およびリザーバー４２は、インクの色毎に設けられ、インクカートリッジ２２０からノズル４８へとインクを流す流路の一部を形成する。インクカートリッジ２２０からヘッドユニット２００に供給されたインクは、導入路４０を通じてリザーバー４２に貯留される。
The
インク吐出機構における供給口４４、キャビティー４６、駆動素子６６および振動板６７の各部は、ヘッド２８０に形成された複数のノズル４８の各々に対応して設けられ、ノズル４８と共に吐出部２７０を構成する。つまり、ヘッドユニット２００は、ノズル４８の数に対応した複数の吐出部２７０を備える。吐出部２７０は、駆動素子６６の駆動により、キャビティー４６内のインクを、キャビティー４６に連通するノズル４８から吐出する。
Each part of the
吐出部２７０の供給口４４およびキャビティー４６は、インクカートリッジ２２０からノズル４８へとインクを流す流路の一部を形成する。供給口４４は、リザーバー４２とキャビティー４６との間を連通する流路であり、供給口４４を通じてリザーバー４２からキャビティー４６にインクが供給される。キャビティー４６は、ノズル４８に連通する流路であり、供給口４４およびノズル４８よりも十分に大きな流路断面を有し、吐出前のインクを貯留する。
The
吐出部２７０の駆動素子６６は、振動板６７を介してキャビティー４６に設けられ、吐出部２７０の振動板６７は、キャビティー４６における流路壁面の一部を形成する。本実施例では、駆動素子６６は、二つの電極６６２，６６６の間に圧電体６６４を積層し電極６６６側に振動板６７を設けたユニモルフ型圧電アクチュエーターであるが、他の実施形態において、積層型圧電アクチュエーターを駆動素子６６に適用しても良い。駆動素子６６は、駆動信号の印加に基づいて重力方向（Ｚ軸方向）に撓み、振動板６７を変位させる。これによって、キャビティー４６の容積を拡張してリザーバー４２からインクを引き込んだ後、キャビティー４６の容積を縮小してノズル４８からインク滴を吐出することが可能である。
The
図１の説明に戻り、本実施例では、プリンター１０は、ヘッドユニット２００のヘッド２８０を整備するメンテナンス機構（整備部）として、ヘッドワイパー３３０と、ヘッドキャップ３４０とを備える。プリンター１０のヘッドワイパー３３０は、ヘッド２８０を拭き取ることによって、ヘッド２８０に付着したインクを除去する。
Returning to the description of FIG. 1, in this embodiment, the
プリンター１０のヘッドキャップ３４０は、ヘッドユニット２００の待機期間中にヘッド２８０に取り付きノズル４８を封止することによって、吐出部２７０におけるインクの乾燥を防止する。吐出部２７０のノズル４８が目詰まりした場合には、ヘッドキャップ３４０は、フラッシング処理や吸引処理などの回復処理（メンテナンス処理）に用いられる。ヘッドキャップ３４０は、フラッシング処理では、ヘッド２８０に対峙して吐出部２７０のノズル４８から吐出されるインク滴を受け止め、吸引処理では、ヘッド２８０に取り付いた状態で、劣化したインクをノズル４８から吸引する。ヘッドキャップ３４０を用いた回復処理によって、気泡や増粘で劣化したインクで目詰まりした吐出部２７０は、インクを適切に吐出可能な状態へと回復させることができる。
The
図４は、制御部１００およびヘッドユニット２００の電気的構成を示す説明図である。制御部１００は、検査部１０２と、記憶部１０４と、タイマー１０６と、検査設定部１０８とを備え、ヘッドユニット２００は、シフトレジスター５２と、ラッチ回路５４と、レベルシフター５６と、スイッチ５８と、共通電路６２，６８と、複数のスイッチ６４と、検出部２９０とを備える。
FIG. 4 is an explanatory diagram showing the electrical configuration of the
ヘッドユニット２００のシフトレジスター５２は、複数の吐出部２７０における各駆動素子６６の動作を指示する指示データを保持する記憶装置である。制御部１００からのシフト入力信号ＳＩには、各駆動素子６６に対応する指示データがクロック信号ＳＣＫに同期して順次出力され、シフトレジスター５２には、シフト入力信号ＳＩおよびクロック信号ＳＣＫに基づいて、各駆動素子６６に対応する指示データが順次格納される。本実施例では、各駆動素子６６に対応する指示データは、２ビットのデータであり、［０，０］、［０，１］、［１，０］、［１，１］のいずれかを示す。
The
ヘッドユニット２００のラッチ回路５４は、制御部１００からのラッチ信号ＬＡＴに基づいて、シフトレジスター５２に格納されている各駆動素子６６の指示データを保持し、各指示データに応じた論理信号をレベルシフター５６に出力する。ラッチ信号ＬＡＴは、シフトレジスター５２に各駆動素子６６の指示データの全てが格納されるタイミングで制御部１００から出力される。本実施例では、ラッチ回路５４は、［０，０］の指示データに応じてＬｏレベルの論理信号を出力し、［０，１］の指示データに応じてＬｏレベルに続いてＨｉレベルの論理信号を出力し、［１，０］の指示データに応じてＨｉレベルに続いてＬｏレベルの論理信号を出力し、［１，１］の指示データに応じてＨｉレベルの論理信号を出力する。
Based on the latch signal LAT from the
ヘッドユニット２００のレベルシフター５６は、ラッチ回路５４から出力される論理信号に応じて、各駆動素子６６に接続された複数のスイッチ６４の各々に、各スイッチ６４をオン・オフ可能なレベルの電圧を出力する。本実施例では、レベルシフター５６は、ラッチ回路５４からのＬｏレベルの論理信号に応じてスイッチ６４をオフにするレベルの電圧を出力し、ラッチ回路５４からのＨｉレベルの論理信号に応じてスイッチ６４をオンにするレベルの電圧を出力する。
The
ヘッドユニット２００における複数のスイッチ６４は、共通電路６２と各駆動素子６６との間の電気的な接続をオン・オフする。ヘッドユニット２００の共通電路６２には、駆動素子６６を駆動する駆動信号ＣＯＭが制御部１００から入力される。スイッチ６４によって駆動素子６６が共通電路６２に電気的に接続されたオン状態では、駆動信号ＣＯＭが駆動素子６６の電極６６２側に印加され、スイッチ６４によって駆動素子６６が共通電路６２から電気的に切り離されたオフ状態では、駆動信号ＣＯＭは駆動素子６６に印加されない。本実施例では、スイッチ６４は、トランスミッションゲートによるアナログスイッチである。
The plurality of
ヘッドユニット２００のスイッチ５８は、各駆動素子６６の電極６６６側に電気的に接続された共通電路６８をグランド（接地ライン）に接続する。本実施例では、共通電路６８とグランドとの間には、スイッチ５８と電気的に並列に抵抗５９が接続されており、制御部１００から出力される検出実施信号ＤＳＥＬに基づいて、スイッチ５８が共通電路６８をグランドから電気的に切り離している間、検出部２９０は、抵抗５９に流れる電流に基づく電圧変化をオペアンプで増幅することによって、共通電路６８から出力される電気信号ＨＧＮＤを検出する。これによって、検出部２９０は、共通電路６８の電気信号ＨＧＮＤとグランドとの間の電圧変化に基づいて、各駆動素子６６から共通電路６８に印加される起電力を効果的に検出することができる。
The
図５は、制御部１００およびヘッドユニット２００における各種信号の一例を示す説明図である。図５には、上段から順に、ラッチ信号ＬＡＴ、切替信号ＣＨ、駆動信号ＣＯＭ、および検出実施信号ＤＳＥＬの各時間変化を図示し、その下段に、シフト入力信号ＳＩの指示データに応じて駆動素子６６に印加される印加電圧の時間変化を図示した。
FIG. 5 is an explanatory diagram illustrating an example of various signals in the
ラッチ信号ＬＡＴは、駆動周期ＴＤに応じて立ち上がる論理信号であり、制御部１００からラッチ回路５４に入力される。駆動周期ＴＤは、各吐出部２７０における駆動素子６６を駆動して印刷媒体９０上に１画素を生成する期間に相当する。
The latch signal LAT is a logic signal that rises according to the driving cycle TD, and is input from the
切替信号ＣＨは、ラッチ信号ＬＡＴに基づいてヘッドユニット２００において生成される信号であり、ラッチ信号ＬＡＴの立ち上がりから規定時間の経過に応じて立ち上がる論理信号である。ラッチ回路５４は、ラッチ信号ＬＡＴの立ち上がりから切替信号ＣＨの立ち上がりまでの第１期間Ｔ１の間、シフトレジスター５２から受け取った２ビットの指示データにおける１ビット目に応じた論理信号を出力し、切替信号ＣＨの立ち上がりからラッチ信号ＬＡＴの次の立ち上がりまでの第２期間Ｔ２の間、指示データの２ビット目に応じた論理信号を出力する。
The switching signal CH is a signal generated in the
駆動信号ＣＯＭは、駆動周期ＴＤに同期して周期的に出力される電圧信号であり、制御部１００から共通電路６２およびスイッチ６４を通じて駆動素子６６に供給される。駆動信号ＣＯＭは、第１期間Ｔ１では、中間電圧Ｖｃを維持した状態から、中間電圧Ｖｃよりも高い電圧Ｖ１にまで立ち上がった後、中間電圧Ｖｃよりも低い電圧Ｖ２にまで立ち下がり、再び中間電圧Ｖｃになる。その後の第２期間Ｔ２では、駆動信号ＣＯＭは、中間電圧Ｖｃから、中間電圧Ｖｃよりも高い電圧Ｖ１にまで立ち上がった後、中間電圧Ｖｃを維持した状態になる。第１期間Ｔ１における駆動信号ＣＯＭは、吐出部２７０のノズル４８からインク滴を吐出させる印加レベルの信号である。第２期間Ｔ２における駆動信号ＣＯＭは、ノズル４８からインク滴を吐出させることなく残留振動を発生させる印加レベルの信号である。
The drive signal COM is a voltage signal that is periodically output in synchronization with the drive cycle TD, and is supplied from the
検出実施信号ＤＳＥＬは、残留振動に基づいて吐出部２７０を検査する場合に、第２期間Ｔ２において駆動信号ＣＯＭが電圧Ｖ１から中間電圧Ｖｃに復帰したタイミングから、第２期間Ｔ２が終了する前のタイミングまでの間に立ち下がる論理信号である。検出実施信号ＤＳＥＬが立ち下がると、ヘッドユニット２００のスイッチ５８は、共通電路６８をグランドから電気的に切り離し、ヘッドユニット２００の検出部２９０は、共通電路６８の電気信号ＨＧＮＤを検出する。
When the
シフト入力信号ＳＩの指示データが［０，０］の場合、駆動素子６６に印加される印加電圧は、駆動周期ＴＤの間、中間電圧Ｖｃを維持した状態となる。これによって、その駆動素子６６に対応する吐出部２７０においてインク滴は吐出されず、残留振動も発生しない。シフト入力信号ＳＩの指示データ［０，０］は、印刷時に画素を形成しない吐出部２７０や、残留振動に基づいた検査の実施対象ではない吐出部２７０に対して設定される。
When the instruction data of the shift input signal SI is [0, 0], the applied voltage applied to the
シフト入力信号ＳＩの指示データが［０，１］の場合、駆動素子６６に印加される印加電圧は、第１期間Ｔ１において中間電圧Ｖｃを維持した後、第２期間Ｔ２において電圧Ｖ１に立ち上がる。これによって、その駆動素子６６に対応する吐出部２７０において、インク滴を吐出することなく残留振動を発生させることができる。シフト入力信号ＳＩの指示データ［０，１］は、画素を形成することなく検査を実施する際に、残留振動に基づいた検査の実施対象となる吐出部２７０に対して設定される。
When the instruction data of the shift input signal SI is [0, 1], the applied voltage applied to the driving
シフト入力信号ＳＩの指示データが［１，０］の場合、駆動素子６６に印加される印加電圧は、第１期間Ｔ１において電圧Ｖ１および電圧Ｖ２に変化した後、第２期間Ｔ２において中間電圧Ｖｃを維持した状態となる。これによって、その駆動素子６６に対応する吐出部２７０においてインク滴が吐出される。シフト入力信号ＳＩの指示データ［１，０］は、印刷時に画素を形成する吐出部２７０に対して設定される。
When the instruction data of the shift input signal SI is [1, 0], the applied voltage applied to the driving
シフト入力信号ＳＩの指示データが［１，１］の場合、駆動素子６６に印加される印加電圧は、第１期間Ｔ１において電圧Ｖ１および電圧Ｖ２に変化した後、第２期間Ｔ２において電圧Ｖ１に変化する。これによって、その駆動素子６６に対応する吐出部２７０において、インク滴を吐出させつつ、吐出部２７０の検査に適した残留振動を発生させることができる。シフト入力信号ＳＩの指示データ［１，１］は、画素を形成しつつ検査を実施する際に、残留振動に基づいた検査の実施対象となる吐出部２７０に対して設定される。
When the instruction data of the shift input signal SI is [1, 1], the applied voltage applied to the driving
図４の説明に戻り、ヘッドユニット２００の検出部２９０は、吐出部２７０におけるキャビティー４６内のインクの振動であって駆動素子６６の駆動により残留する残留振動に応じた電気信号ＳＷを検出する。本実施例では、駆動素子６６は、残留振動を感知して残留振動に応じた電気信号ＳＷを出力する感知部として機能し、共通電路６８には、残留振動に伴う起電力によって各駆動素子６６から出力される電気信号ＳＷが印加される。これによって、検出部２９０は、共通電路６８の電気信号ＨＧＮＤを検出することによって、残留振動に応じた電気信号を検出することができる。本実施例では、検出部２９０は、制御部１００から出力される検出実施信号ＤＳＥＬに基づいて、共通電路６８の電気信号ＨＧＮＤを検出し、その検出結果として残留振動の検出値を示す検出信号ＰＯＵＴを制御部１００に出力する。
Returning to the description of FIG. 4, the
制御部１００の検査部１０２は、ヘッドユニット２００の検出部２９０によって検出された残留振動に基づいて吐出部２７０を検査する。本実施例では、検査部１０２は、ヘッドユニット２００の検出部２９０から出力される検出信号ＰＯＵＴに基づいて、吐出部２７０の状態としてノズル４８の目詰まり（インクの気泡混入および増粘）を検査する。本実施例では、検査部１０２による吐出部２７０の検査は、検査設定部１０８によって設定される検査時機に応じて実施されると共に、吐出部２７０の回復処理中にも吐出部２７０の回復を確認するために実施される。
The
制御部１００の記憶部１０４には、検査時機データ１３０および評価基準値１４０が記憶されている。記憶部１０４の検査時機データ１３０は、検査部１０２による次回の検査の検査時機を示し、検査部１０２による検査結果に基づいて検査設定部１０８によって更新される。本実施例では、検査時機データ１３０の初期値は、プリンター１０の工場出荷時に記憶部１０４に記憶される。記憶部１０４の評価基準値１４０は、吐出部２７０の状態を示す状態量に関する基準値や、吐出部２７０の状態回復に要する回復処理量に関する基準値を示し、検査設定部１０８による検査時機データ１３０の更新に用いられる。本実施例では、評価基準値１４０は、プリンター１０の工場出荷時に記憶部１０４に記憶される。検査時機データ１３０および評価基準値１４０の詳細については後述する。
The
制御部１００の検査設定部１０８は、検査部１０２の検査結果に基づいて、検査部１０２による次回の検査の検査時機を設定する。本実施例では、検査設定部１０８は、検査時機に応じた検査部１０２による検査結果、および回復処理中における検査部１０２による検査結果に基づいて、検査部１０２による次回の検査時機を設定する。本実施例では、検査設定部１０８は、記憶部１０４の検査時機データ１３０を更新することによって、検査部１０２による次回の検査時機を設定する。
The
本実施例では、検査設定部１０８は、次回の検査時機として、次回の検査を行うまで待機する期間の長さを設定し、その期間の経過を契機に検査部１０２が吐出部２７０の検査を行う。他の実施形態において、検査設定部１０８は、次回の検査時機として、次回の検査を行う必要がない期間の長さを設定し、その期間の経過後、所定の条件を契機に検査部１０２が吐出部２７０の検査を行うとしても良い。
In the present embodiment, the
制御部１００のタイマー１０６は、制御部１００において実施される制御処理を管理するために時間を計測（カウント）する。
The
図６は、残留振動に応じた電気信号ＳＷの変化の一例を示す説明図である。図６には、縦軸に電圧、横軸に時間を設定して、電気信号ＳＷｇ，ＳＷｂ，ＳＷｖを図示した。図６の電気信号ＳＷｇは、インクを吐出可能な状態にある単独の吐出部２７０における残留振動に応じた電気信号ＳＷを示す。
FIG. 6 is an explanatory diagram illustrating an example of a change in the electrical signal SW according to the residual vibration. In FIG. 6, the electric signals SWg, SWb, and SWv are illustrated with the voltage on the vertical axis and the time on the horizontal axis. The electric signal SWg in FIG. 6 indicates the electric signal SW corresponding to the residual vibration in the
ここで、吐出部２７０における振動板６７を想定した単振動の計算モデルに圧力Ｐを与えた時のステップ応答を体積速度ｕについて計算すると、次の数式１が得られる。
Here, when the step response when the pressure P is applied to the simple vibration calculation model assuming the
上記の数式１において、流路抵抗ｒは、供給口４４、キャビティー４６およびノズル４８などの流路形状やこれら流路におけるインクの粘度に依拠し、イナータンスｍは、供給口４４、キャビティー４６およびノズル４８などの流路内におけるインクの質量に依拠し、コンプライアンスｃは、振動板６７の伸縮性に依拠する。
In the
図６の電気信号ＳＷｂは、キャビティー４６内のインクに気泡が発生したためにインクを吐出できない状態にある単独の吐出部２７０における残留振動に応じた電気信号ＳＷを示す。キャビティー４６内のインクに気泡が発生するとキャビティー４６内のインクが少なくなるため、主にイナータンスｍが減少する。イナータンスｍが減少すると、前述の数式１に示すように、角速度ωが大きくなる。そのため、図６に示すように、電気信号ＳＷｂの振動周期は、電気信号ＳＷｇよりも短くなり、電気信号ＳＷｂにおける最初の半周期を示す時間ｔｆ＿ｂは、電気信号ＳＷｇにおける最初の半周期を示す時間ｔｆ＿ｇよりも短くなる。
The electric signal SWb in FIG. 6 indicates the electric signal SW corresponding to the residual vibration in the
図６の電気信号ＳＷｖは、キャビティー４６内のインクが増粘したためにインクを吐出できない状態にある単独の吐出部２７０における残留振動に応じた電気信号ＳＷを示す。キャビティー４６内のインクが増粘すると流路抵抗ｒが増加する。流路抵抗ｒが増加すると、前述の数式１に示すように、角速度ωが小さくなる。そのため、図６に示すように、電気信号ＳＷｖの振動周期は、電気信号ＳＷｇよりも長くなり、電気信号ＳＷｂにおける最初の半周期を示す時間ｔｆ＿ｖは、電気信号ＳＷｇにおける最初の半周期を示す時間ｔｆ＿ｇよりも長くなる。また、電気信号ＳＷｖの減衰量は、電気信号Ｓｗｇよりも大きくなり、第２半周期の最低振幅と第３半周期の最高振幅との差（ピーク・トゥー・ピーク）を示すＰＰ振幅Ｖｐｐに関し、電気信号ＳＷｖのＰＰ振幅Ｖｐｐ＿ｖは、電気信号ＳｗｇのＰＰ振幅Ｖｐｐ＿ｇよりも小さな値となる。
The electric signal SWv in FIG. 6 indicates the electric signal SW corresponding to the residual vibration in the
図７は、電気信号ＳＷのＰＰ振幅Ｖｐｐが変化する様子の一例を示す説明図である。図７には、縦軸にＰＰ振幅Ｖｐｐ、横軸に経過時間を設定して、電気信号ＳＷのＰＰ振幅Ｖｐｐが変化する様子を図示した。図７に示すＰＰ振幅Ｖｐｐの変化は、温度２５℃および湿度４０％の環境下で、ヘッド２８０をヘッドキャップ３４０から開放し続けた状態のものである。
FIG. 7 is an explanatory diagram showing an example of how the PP amplitude Vpp of the electrical signal SW changes. FIG. 7 illustrates how the PP amplitude Vpp of the electric signal SW changes with the PP amplitude Vpp on the vertical axis and the elapsed time on the horizontal axis. The change in the PP amplitude Vpp shown in FIG. 7 is a state in which the
図７に示すように、ＰＰ振幅Ｖｐｐは、ヘッドキャップ３４０の開放から時間の経過に伴って低下し、特に、ヘッドキャップ３４０の開放直後から２０秒を経過する辺りにかけて比較的急速に低下し、その低下度合は時間の経過に伴って徐々に小さくなる。このＰＰ振幅Ｖｐｐの低下は、キャビティー４６内のインクの水分がノズル４８を通じて大気中に放出され、キャビティー４６内のインクの粘度が増加することに起因するものと考えられる。
As shown in FIG. 7, the PP amplitude Vpp decreases with the passage of time from the opening of the
図８は、電気信号ＳＷのＰＰ振幅Ｖｐｐがフラッシング処理によって回復する様子の一例を示す説明図である。図８には、縦軸にＰＰ振幅Ｖｐｐ、横軸にフラッシング処理の実施回数を設定して、フラッシング処理によって電気信号ＳＷのＰＰ振幅ＶｐｐがＰＰ振幅Ｖｐｐ＿ｖからＰＰ振幅Ｖｐｐ＿ｇにまで回復する様子を図示した。図８のＰＰ振幅Ｖｐｐ＿ｇは、インクを吐出可能な状態における電気信号ＳＷｇのＰＰ振幅を示し、図８のＰＰ振幅Ｖｐｐ＿ｖは、インクが増粘した状態における電気信号ＳＷｖのＰＰ振幅を示す。 FIG. 8 is an explanatory diagram showing an example of how the PP amplitude Vpp of the electrical signal SW is recovered by the flushing process. FIG. 8 illustrates how the PP amplitude Vpp is set on the vertical axis and the number of times the flushing process is performed on the horizontal axis, and the PP amplitude Vpp of the electric signal SW is recovered from the PP amplitude Vpp_v to the PP amplitude Vpp_g by the flushing process. did. The PP amplitude Vpp_g in FIG. 8 indicates the PP amplitude of the electric signal SWg in a state where ink can be ejected, and the PP amplitude Vpp_v in FIG. 8 indicates the PP amplitude of the electric signal SWv in a state where ink is thickened.
図８の評価試験では、吐出部２７０が、インクが増粘した状態（図６の電気信号ＳＷｖ）から、インクを吐出可能な状態（図６の電気信号ＳＷｇ）になるまで、フラッシング処理を繰り返し実施した。フラッシング処理を繰り返し実施することによって、増粘したインクがキャビティー４６内からノズル４８を通じて排出されるため、図８に示すように、ＰＰ振幅Ｖｐｐは、ＰＰ振幅Ｖｐｐ＿ｖからＰＰ振幅Ｖｐｐ＿ｇへと徐々に回復する。図８の例では、ＰＰ振幅Ｖｐｐ＿ｖからＰＰ振幅Ｖｐｐ＿ｇまでの回復に要したフラッシング処理の実施回数は４２回であった。
In the evaluation test of FIG. 8, the flushing process is repeated until the
Ａ２．プリンターの動作：
図９は、プリンター１０における制御部１００が実行する待機処理（ステップＳ１００）を示すフローチャートである。待機処理（ステップＳ１００）は、ヘッドユニット２００の待機期間中に吐出部２７０の検査および回復を実施する処理である。本実施例では、待機処理（ステップＳ１００）は、制御部１００のＣＰＵがコンピュータープログラムに基づいて動作することによって実現される。本実施例では、制御部１００は、電源投入や印刷終了から所定の時間が経過すると待機処理（ステップＳ１００）を開始し、待機処理（ステップＳ１００）中に印刷指示が入力されると、印刷処理を実行するために待機処理（ステップＳ１００）を中断する。
A2. Printer behavior:
FIG. 9 is a flowchart illustrating a standby process (step S100) executed by the
検査処理（ステップＳ１００）を開始すると、制御部１００は、ヘッド２８０にヘッドキャップ３４０を取り付けることによってヘッド２８０をキャッピングする制御を行う（ステップＳ１１０）。具体的には、制御部１００は、ヘッドユニット２００をヘッドキャップ３４０に対峙する位置に移動させた後、ヘッドユニット２００のヘッド２８０に当接する位置までヘッドキャップ３４０を移動させる。
When the inspection process (step S100) is started, the
ヘッド２８０をキャッピングした後（ステップＳ１１０）、制御部１００は、記憶部１０４の検査時機データ１３０に基づいて、吐出部２７０を検査する次回の検査時機として、次回の検査を行うまで待機する時間を、タイマー１０６でカウントすべきタイマーカウント値に設定する（ステップＳ１２０）。
After capping the head 280 (step S110), the
タイマーカウント値を設定した後（ステップＳ１２０）、制御部１００は、プリンター１０の制御モードを省電力モードに移行する（ステップＳ１２２）。省電力モードでは、制御部１００は、少なくとも待機処理（ステップＳ１００）を継続可能な範囲でプリンター１０の各部に供給される電源を遮断する制御を行う。
After setting the timer count value (step S120), the
省電力モードに移行した後（ステップＳ１２２）、制御部１００は、タイマー１０６によるカウントを開始する（ステップＳ１２４）。その後、次回の検査時機を示すタイマーカウント値をタイマー１０６がカウントし終えると（ステップＳ１２６：「ＹＥＳ」）、制御部１００は、省電力モードを終了し（ステップＳ１２８）、検査部１０２として動作することによって吐出性能検査処理（ステップＳ２００）を実行する。吐出性能検査処理（ステップＳ２００）において、制御部１００は、ヘッドユニット２００における複数の吐出部２７０を残留振動に基づいて検査する。
After shifting to the power saving mode (step S122), the
図１０は、吐出性能検査処理（ステップＳ２００）の詳細を示すフローチャートである。吐出性能検査処理（ステップＳ２００）を開始すると、制御部１００は、複数の吐出部２７０の一つを検査対象として選定する（ステップＳ２２０）。検査対象の吐出部２７０を選定した後（ステップＳ２２０）、制御部１００は、駆動制御部として動作することによって、検査対象の吐出部２７０における駆動素子６６を駆動する（ステップＳ２３０）。
FIG. 10 is a flowchart showing details of the ejection performance inspection process (step S200). When the ejection performance inspection process (step S200) is started, the
具体的には、制御部１００は、検査対象である吐出部２７０に対応するシフト入力信号ＳＩの指示データに［０，１］を設定し、その他の吐出部２７０に対応するシフト入力信号ＳＩの指示データに［０，０］を設定して、シフト入力信号ＳＩおよびクロック信号ＳＣＫと共に、図５に示すように、ラッチ信号ＬＡＴ、駆動信号ＣＯＭおよび検出実施信号ＤＳＥＬをヘッドユニット２００に出力する。これによって、検査対象の吐出部２７０における駆動素子６６から残留振動に応じた電気信号ＳＷが共通電路６８に印加される。その際に、ヘッドユニット２００の検出部２９０によって検出される共通電路６８の電気信号ＨＧＮＤは、検査対象の吐出部２７０における残留振動に応じた電気信号ＳＷとなり、検出部２９０は、その検出結果として電気信号ＳＷの検出値を示す検出信号ＰＯＵＴを制御部１００に出力する。
Specifically, the
検査対象の駆動素子６６を駆動した後（ステップＳ２３０）、制御部１００は、ヘッドユニット２００の検出部２９０から出力される検出信号ＰＯＵＴを通じて、電気信号ＳＷの検出値を取得する（ステップＳ２４０）。本実施例では、制御部１００は、残留振動に応じた電気信号ＳＷの検出値として、電気信号ＳＷにおける最初の半周期を示す時間ｔｆ、および電気信号ＳＷにおける第２半周期の最低振幅と第３半周期の最高振幅との差を示すＰＰ振幅Ｖｐｐを取得する。
After driving the
残留振動の検出値を取得した後（ステップＳ２４０）、制御部１００は、電気信号ＳＷの検出値に基づいて、検査対象の吐出部２７０の状態を判定する（ステップＳ２５０）。具体的には、制御部１００は、残留振動の検出値として取得した時間ｔｆおよびＰＰ振幅Ｖｐｐが、各検出値の下限閾値から上限閾値までの許容範囲内である場合、検査対象の吐出部２７０がインクを吐出可能な状態（目詰まり無しの状態）にあると判定する。本実施例では、制御部１００は、時間ｔｆが下限閾値よりも小さい場合、インクに気泡が発生したためにインクを吐出できない状態（気泡による目詰まり状態）と判定し、時間ｔｆが上限閾値よりも大きく、かつＰＰ振幅Ｖｐｐが下限閾値よりも小さい場合、インクが増粘したためにインクを吐出できない状態（増粘による目詰まり状態）と判定する。
After acquiring the residual vibration detection value (step S240), the
検査対象の吐出部２７０の状態を判定した後（ステップＳ２５０）、制御部１００は、その判定結果を記憶部１０４に保存する（ステップＳ２６０）。本実施例では、制御部１００は、吐出部２７０の目詰まり状態の有無を判定結果として保存し、目詰まり状態により吐出部２７０の吐出性能が劣化している場合には、その劣化要因（気泡混入または増粘）、および吐出部２７０の状態が劣化した度合を示す状態劣化量についても判定結果として保存する。本実施例では、判定結果として保存される吐出部２７０の状態劣化量は、電気信号ＳＷｇに示したインクを吐出可能な状態から時間ｔｆおよびＰＰ振幅Ｖｐｐの各値が変化した変化量を示す。
After determining the state of the
判定結果を保存した後（ステップＳ２６０）、制御部１００は、ヘッド２８０における複数の吐出部２７０の全てを検査するまで、検査対象の選定（ステップＳ２２０）からの処理を繰り返し実行する（ステップＳ２７０：「ＮＯ」）。ヘッド２８０における複数の吐出部２７０の全てを検査すると（ステップＳ２７０：「ＹＥＳ」）、制御部１００は、吐出性能検査処理（ステップＳ２００）を終了する。
After storing the determination result (step S260), the
図９の説明に戻り、検査時機データ１３０に基づく検査時機に応じて吐出性能検査処理（ステップＳ２００）を実行した後、制御部１００は、吐出部２７０の吐出機能を回復させる回復処理（ステップＳ３００）を実行する必要があるか否かを、吐出性能検査処理（ステップＳ２００）の検査結果に基づいて判断する（ステップＳ２９０）。本実施例では、制御部１００は、ヘッド２８０における複数の吐出部２７０の少なくとも一つが目詰まり状態（気泡混入または増粘）である場合に回復処理（ステップＳ３００）を実行する。他の実施形態において、制御部１００は、目詰まり状態の吐出部２７０の個数、その劣化要因、ユーザーによる設定条件などに応じて、回復処理（ステップＳ３００）の必要性を判断しても良い。
Returning to the description of FIG. 9, after executing the discharge performance inspection process (Step S200) according to the inspection time based on the
回復処理（ステップＳ３００）を実行する必要がある場合（ステップＳ２９０：「ＹＥＳ」）、制御部１００は、整備部として動作することによって回復処理（ステップＳ３００）を実行する。回復処理（ステップＳ３００）において、制御部１００は、ヘッドキャップ３４０を用いたフラッシング処理や吸引処理を制御する。
When it is necessary to execute the recovery process (step S300) (step S290: “YES”), the
図１１は、回復処理（ステップＳ３００）の詳細を示すフローチャートである。回復処理（ステップＳ３００）を開始すると、制御部１００は、回復処理（ステップＳ３００）に要する時間を計測するために、タイマー１０６によるカウントを開始する（ステップＳ３１０）。
FIG. 11 is a flowchart showing details of the recovery process (step S300). When the recovery process (step S300) is started, the
その後、制御部１００は、目詰まり状態の吐出部２７０の劣化要因を判断する（ステップＳ３２０）。本実施例では、目詰まり状態の吐出部２７０が複数ある場合、制御部１００は、状態劣化量がより大きな吐出部２７０を優先して劣化要因を判断する。制御部１００は、吐出部２７０の劣化要因が増粘である場合（ステップＳ３２０：「（ａ）増粘」）にはフラッシング処理を開始し（ステップＳ３１２）、吐出部２７０の劣化要因が気泡混入である場合（ステップＳ３２０：「（ｂ）気泡」）には吸引処理を開始する（ステップＳ３１４）。
Thereafter, the
フラッシング処理または吸引処理を開始した後（ステップＳ３１２，Ｓ３１４）、制御部１００は、フラッシング処理または吸引処理による吐出部２７０の回復状況を確認するために吐出性能検査処理（ステップＳ３２０）を実行する。回復処理（ステップＳ３００）における吐出性能検査処理（ステップＳ３２０）の詳細は、検査時機データ１３０に基づく検査時機に応じた図１０の吐出性能検査処理（ステップＳ２００）と同様である。
After starting the flushing process or the suction process (steps S312 and S314), the
制御部１００は、吐出性能検査処理（ステップＳ３２０）の検査結果に基づいて、目詰まり状態と判定された吐出部２７０の全ての回復を確認するまで、フラッシング処理または吸引処理を継続して実行する（ステップＳ３３０：「ＮＯ」）。目詰まり状態と判定された吐出部２７０の全ての回復を確認すると（ステップＳ３３０：「ＹＥＳ」）、制御部１００は、実行中のフラッシング処理または吸引処理を停止すると共に（ステップＳ３４０）、タイマー１０６によるカウントを停止する（ステップＳ３５０）。
The
その後、制御部１００は、目詰まり状態と判定された吐出部２７０の回復に要した回復処理量を、回復処理結果として記憶部１０４に保存する（ステップＳ３６０）。本実施例では、回復処理結果として保存される回復処理量は、回復処理（ステップＳ３００）においてタイマー１０６によってカウントされたカウント値を示す。
Thereafter, the
回復処理結果を保存した後（ステップＳ３６０）、制御部１００は、回復処理（ステップＳ３００）を終了する。
After saving the recovery process result (step S360), the
図９の説明に戻り、回復処理（ステップＳ３００）の必要性がある場合（ステップＳ２９０：「ＹＥＳ」）には回復処理（ステップＳ３００）を実行した後、回復処理（ステップＳ３００）の必要性がない場合（ステップＳ２９０：「ＮＯ」）には吐出性能検査処理（ステップＳ２００）を実行した後、制御部１００は、検査設定部１０８として動作することによって検査時機設定処理（ステップＳ４００）を実行する。検査時機設定処理（ステップＳ４００）において、制御部１００は、吐出部２７０の検査結果に基づいて、吐出部２７０を検査する次回の検査の検査時機を設定する。
Returning to the description of FIG. 9, when there is a need for the recovery process (step S300) (step S290: “YES”), after the recovery process (step S300) is executed, there is a need for the recovery process (step S300). If not (step S290: “NO”), after executing the ejection performance inspection process (step S200), the
図１２は、検査時機設定処理（ステップＳ４００）の詳細を示すフローチャートである。検査時機設定処理（ステップＳ４００）を開始すると、制御部１００は、吐出性能検査処理（ステップＳ２００）の後に回復処理（ステップＳ３００）を実施したか否かを判断する（ステップＳ４１０）。
FIG. 12 is a flowchart showing details of the inspection timing setting process (step S400). When the inspection timing setting process (step S400) is started, the
回復処理（ステップＳ３００）を実施していない場合（ステップＳ４１０：「ＮＯ」）、制御部１００は、吐出部２７０の状態量の基準値を、記憶部１０４の評価基準値１４０から読み出す（ステップＳ４２２）。その後、制御部１００は、吐出性能検査処理（ステップＳ２００）の検査結果である吐出部２７０の状態劣化量について、評価基準値１４０から読み出した基準値に対する偏差を示す状態偏差量を算出する（ステップＳ４２４）。
When the recovery process (step S300) is not performed (step S410: “NO”), the
回復処理（ステップＳ３００）を実施した場合（ステップＳ４１０：「ＹＥＳ」）、制御部１００は、吐出部２７０の回復処理量の基準値を、記憶部１０４の評価基準値１４０から読み出す（ステップＳ４３２）。その後、制御部１００は、回復処理（ステップＳ３００）の回復処理結果である吐出部２７０の回復処理量について、評価基準値１４０から読み出した基準値に対する偏差を示す回復偏差量を算出する（ステップＳ４３４）。
When the recovery process (step S300) is performed (step S410: “YES”), the
状態偏差量または回復偏差量を算出した後（ステップＳ４２４，Ｓ４３４）、制御部１００は、次の数式２に示すＰＩＤ演算に基づいて、次回の検査を行うまで待機する期間の長さを示す待機時間Ｔを、次回の検査時機として算出する（ステップＳ４４０）。
After calculating the state deviation amount or the recovery deviation amount (steps S424 and S434), the
ｅ：偏差量（状態偏差量または回復偏差量）
Ｋｐ：比例定数
Ｋｉ：積分定数
Ｋｄ：微分定数
de/dt:単位時間当たりの偏差の変化量
Ｔｉ：積分時間
e: Deviation (state deviation or recovery deviation)
Kp: proportional constant Ki: integral constant Kd: differential constant
de / dt: Deviation change amount per unit time Ti: Integration time
次回の検査時機を算出した後（ステップＳ４４０）、制御部１００は、次回の検査時機を示す待機時間Ｔを、記憶部１０４の検査時機データ１３０として保存する（ステップＳ４５０）。これによって、記憶部１０４の検査時機データ１３０は更新される。次回の検査時機を保存すると（ステップＳ４５０）、制御部１００は、検査時機設定処理（ステップＳ４００）を終了する。
After calculating the next inspection time (step S440), the
図９の説明に戻り、検査時機設定処理（ステップＳ４００）を実行した後、制御部１００は、ヘッドユニット２００の待機を終了する場合には待機処理（ステップＳ１００）を終了し（ステップＳ４９０：「ＹＥＳ」）、ヘッドユニット２００の待機を継続する場合には（ステップＳ４９０：「ＮＯ」）、タイマー１０６に対する次回の検査時機の設定（ステップＳ１２０）からの処理を繰り返し実行する。
Returning to the description of FIG. 9, after executing the inspection timing setting process (step S <b> 400), the
図１３は、待機処理（ステップＳ１００）において設定される検査時機の推移の一例を示す説明図である。図１３には、縦軸にＰＰ振幅Ｖｐｐ、横軸に時間を設定して、検査時機の推移と残留振動のＰＰ振幅Ｖｐｐとの関係を図示した。図１３のＰＰ振幅Ｖｐｐ＿ｇは、インクを吐出可能な状態における電気信号ＳＷｇのＰＰ振幅を示し、図１３のＰＰ振幅Ｖｐｐ＿ｒｖは、評価基準値１４０として記憶部１０４に記憶されているＰＰ振幅に関する状態量の基準値を示す。
FIG. 13 is an explanatory diagram showing an example of the transition of the inspection timing set in the standby process (step S100). FIG. 13 illustrates the relationship between the transition of the inspection timing and the PP amplitude Vpp of the residual vibration, with the PP amplitude Vpp on the vertical axis and the time on the horizontal axis. The PP amplitude Vpp_g in FIG. 13 indicates the PP amplitude of the electric signal SWg in a state where ink can be ejected, and the PP amplitude Vpp_rv in FIG. 13 is a state quantity related to the PP amplitude stored in the
図１３に示す例では、待機処理（ステップＳ１００）の開始時点Ｒｃｖ１０では、残留振動のＰＰ振幅Ｖｐｐは、回復処理（ステップＳ３００）によってＰＰ振幅Ｖｐｐ＿ｇの値にまで回復した状態であり、次回の検査時機には待機時間Ｔｓｂ１１を設定する。 In the example shown in FIG. 13, at the start time Rcv10 of the standby process (step S100), the PP amplitude Vpp of the residual vibration has been recovered to the value of the PP amplitude Vpp_g by the recovery process (step S300). A standby time Tsb11 is set as the occasion.
開始時点Ｒｃｖ１０から待機時間Ｔｓｂ１１が経過すると、１回目の吐出性能検査処理（ステップＳ２００）を実施する（検査時点Ｉｓｐ１１）。この検査時点Ｉｓｐ１１では、１回目の吐出性能検査処理（ステップＳ２００）の検査結果から吐出部２７０の状態劣化量Ｄｍ１１を得る。検査時点Ｉｓｐ１１では、残留振動のＰＰ振幅Ｖｐｐは、開始時点Ｒｃｖ１０よりも小さいが、基準値であるＰＰ振幅Ｖｐｐ＿ｒｖよりも大きいため、回復処理（ステップＳ３００）を実施しない。その後の検査時機設定処理（ステップＳ４００）では、基準値であるＰＰ振幅Ｖｐｐ＿ｒｖからの状態劣化量Ｄｍ１１の偏差を示す状態偏差量Ｄｖ１１を算出し、その状態偏差量Ｄｖ１１からＰＩＤ演算に基づいて待機時間Ｔｓｂ１２を設定する。本実施例では、検査時点Ｉｓｐ１１で設定される待機時間Ｔｓｂ１２は、開始時点Ｒｃｖ１０で設定された待機時間Ｔｓｂ１１よりも長い時間である。
When the standby time Tsb11 elapses from the start time Rcv10, the first discharge performance inspection process (step S200) is performed (inspection time Isp11). At this inspection time point Isp11, the state deterioration amount Dm11 of the
検査時点Ｉｓｐ１１から待機時間Ｔｓｂ１２が経過すると、２回目の吐出性能検査処理（ステップＳ２００）を実施する（検査時点Ｉｓｐ１２）。この検査時点Ｉｓｐ１２では、２回目の吐出性能検査処理（ステップＳ２００）の検査結果から吐出部２７０の状態劣化量Ｄｍ１２を得る。検査時点Ｉｓｐ１２では、残留振動のＰＰ振幅Ｖｐｐは、検査時点Ｉｓｐ１１よりも小さいが、基準値であるＰＰ振幅Ｖｐｐ＿ｒｖよりも大きいため、回復処理（ステップＳ３００）を実施しない。その後の検査時機設定処理（ステップＳ４００）では、基準値であるＰＰ振幅Ｖｐｐ＿ｒｖからの状態劣化量Ｄｍ１２の偏差を示す状態偏差量Ｄｖ１２を算出し、その状態偏差量Ｄｖ１２からＰＩＤ演算に基づいて待機時間Ｔｓｂ１３を設定する。本実施例では、検査時点Ｉｓｐ１２で設定される待機時間Ｔｓｂ１３は、検査時点Ｉｓｐ１１で設定された待機時間Ｔｓｂ１２よりも長い時間である。
When the standby time Tsb12 elapses from the inspection time point Isp11, the second ejection performance inspection process (step S200) is performed (inspection time point Isp12). At this inspection time point Isp12, the state deterioration amount Dm12 of the
検査時点Ｉｓｐ１２から待機時間Ｔｓｂ１３が経過すると、３回目の吐出性能検査処理（ステップＳ２００）を実施する（検査時点Ｉｓｐ１３）。この検査時点Ｉｓｐ１３では、３回目の吐出性能検査処理（ステップＳ２００）の検査結果から吐出部２７０の状態劣化量Ｄｍ１３を得る。検査時点Ｉｓｐ１３では、残留振動のＰＰ振幅Ｖｐｐは、基準値であるＰＰ振幅Ｖｐｐ＿ｒｖよりも小さいため、回復処理（ステップＳ３００）を実施する。
When the standby time Tsb13 elapses from the inspection time point Isp12, a third ejection performance inspection process (step S200) is performed (inspection time point Isp13). At this inspection time point Isp13, the state deterioration amount Dm13 of the
検査時点Ｉｓｐ１３に続いて回復処理（ステップＳ３００）を終えた回復時点Ｒｃｖ１４では、残留振動のＰＰ振幅Ｖｐｐは、回復処理（ステップＳ３００）によってＰＰ振幅Ｖｐｐ＿ｇの値にまで回復し、その回復に要した経過時間を示す回復処理量Ｔｒｃ１４を回復処理結果として得る。その後の検査時機設定処理（ステップＳ４００）では、基準値である回復処理量Ｔｒｃ＿ｒｖからの回復処理量Ｔｒｃ１４の偏差を示す回復偏差量Ｄｖ１４を算出し、その回復偏差量Ｄｖ１４からＰＩＤ演算に基づいて待機時間Ｔｓｂ１５を設定する。なお、回復処理量Ｔｒｃ＿ｒｖは、評価基準値１４０として記憶部１０４に記憶されている回復処理量の基準値を示す。本実施例では、回復時点Ｒｃｖ１４で設定される待機時間Ｔｓｂ１５は、検査時点Ｉｓｐ１２で設定された待機時間Ｔｓｂ１３よりも短い時間である。
At the recovery time Rcv14 when the recovery process (step S300) is completed following the inspection time Isp13, the PP amplitude Vpp of the residual vibration is recovered to the value of the PP amplitude Vpp_g by the recovery process (step S300), and is required for the recovery. A recovery processing amount Trc14 indicating the elapsed time is obtained as a recovery processing result. In the subsequent inspection timing setting process (step S400), a recovery deviation amount Dv14 indicating a deviation of the recovery processing amount Trc14 from the recovery processing amount Trc_rv, which is the reference value, is calculated, and standby is performed from the recovery deviation amount Dv14 based on the PID calculation. Time Tsb15 is set. Note that the recovery processing amount Trc_rv indicates the reference value of the recovery processing amount stored in the
本実施例では、回復時点Ｒｃｖ１４において回復処理量Ｔｒｃ１４に基づいて待機時間Ｔｓｂ１５を算出したが、他の実施形態において、検査時点Ｉｓｐ１１，Ｉｓｐ１２と同様に、検査時点Ｉｓｐ１３における状態劣化量Ｄｍ１３から状態偏差量Ｄｖ１３を算出して待機時間Ｔｓｂ１５を算出しても良いし、回復処理量Ｔｒｃ１４および状態偏差量Ｄｖ１３の両方を考慮して待機時間Ｔｓｂ１５を算出しても良い。 In this embodiment, the standby time Tsb15 is calculated based on the recovery processing amount Trc14 at the recovery time point Rcv14. However, in other embodiments, the state deviation from the state deterioration amount Dm13 at the inspection time point Isp13 is similar to the inspection time points Isp11 and Isp12. The waiting time Tsb15 may be calculated by calculating the amount Dv13, or the waiting time Tsb15 may be calculated in consideration of both the recovery processing amount Trc14 and the state deviation amount Dv13.
図１４は、待機処理（ステップＳ１００）において設定される検査時機の推移の一例を示す説明図である。図１４には、縦軸にＰＰ振幅Ｖｐｐ、横軸に時間を設定して、検査時機の推移と残留振動のＰＰ振幅Ｖｐｐとの関係を図示した。図１４のＰＰ振幅Ｖｐｐ＿ｇは、インクを吐出可能な状態における電気信号ＳＷｇのＰＰ振幅を示し、図１４のＰＰ振幅Ｖｐｐ＿ｒｖは、評価基準値１４０として記憶部１０４に記憶されているＰＰ振幅に関する状態量の基準値を示す。
FIG. 14 is an explanatory diagram showing an example of the transition of the inspection timing set in the standby process (step S100). FIG. 14 illustrates the relationship between the transition of the inspection timing and the PP amplitude Vpp of the residual vibration, with the PP amplitude Vpp on the vertical axis and the time on the horizontal axis. The PP amplitude Vpp_g in FIG. 14 indicates the PP amplitude of the electric signal SWg in a state where ink can be ejected, and the PP amplitude Vpp_rv in FIG. 14 is a state quantity related to the PP amplitude stored in the
図１４に示す例では、待機処理（ステップＳ１００）の開始時点Ｒｃｖ３０では、残留振動のＰＰ振幅Ｖｐｐは、回復処理（ステップＳ３００）によってＰＰ振幅Ｖｐｐ＿ｇの値にまで回復した状態であり、次回の検査時機には待機時間Ｔｓｂ３１を設定する。 In the example shown in FIG. 14, at the start time Rcv30 of the standby process (step S100), the PP amplitude Vpp of the residual vibration is recovered to the value of the PP amplitude Vpp_g by the recovery process (step S300). A standby time Tsb31 is set as the occasion.
開始時点Ｒｃｖ３０から待機時間Ｔｓｂ３１が経過すると、１回目の吐出性能検査処理（ステップＳ２００）を実施する（検査時点Ｉｓｐ３１）。この検査時点Ｉｓｐ３１では、残留振動のＰＰ振幅Ｖｐｐは、基準値であるＰＰ振幅Ｖｐｐ＿ｒｖよりも小さいため、１回目の回復処理（ステップＳ３００）を実施する。 When the standby time Tsb31 elapses from the start time Rcv30, the first ejection performance inspection process (step S200) is performed (inspection time Isp31). Since the PP amplitude Vpp of the residual vibration is smaller than the reference value PP amplitude Vpp_rv at the inspection time point Isp31, the first recovery process (step S300) is performed.
検査時点Ｉｓｐ３１に続いて回復処理（ステップＳ３００）を終えた回復時点Ｒｃｖ３２では、残留振動のＰＰ振幅Ｖｐｐは、１回目の回復処理（ステップＳ３００）によってＰＰ振幅Ｖｐｐ＿ｇの値にまで回復し、その回復に要した経過時間を示す回復処理量Ｔｒｃ３２を回復処理結果として得る。本実施例では、回復時点Ｒｃｖ３２における回復処理量Ｔｒｃ３２は、基準値である回復処理量Ｔｒｃ＿ｒｖよりも大きい。その後の検査時機設定処理（ステップＳ４００）では、基準値である回復処理量Ｔｒｃ＿ｒｖからの回復処理量Ｔｒｃ３２の偏差を示す回復偏差量Ｄｖ３２を算出し、その回復偏差量Ｄｖ３２からＰＩＤ演算に基づいて待機時間Ｔｓｂ３３を設定する。本実施例では、回復時点Ｒｃｖ３２で設定される待機時間Ｔｓｂ３３は、開始時点Ｒｃｖ３０で設定された待機時間Ｔｓｂ３１よりも短い時間である。 At the recovery time Rcv32 where the recovery processing (step S300) is completed following the inspection time Isp31, the PP amplitude Vpp of the residual vibration is recovered to the value of the PP amplitude Vpp_g by the first recovery processing (step S300). The recovery processing amount Trc32 indicating the elapsed time required for the recovery processing is obtained as the recovery processing result. In the present embodiment, the recovery processing amount Trc32 at the recovery time point Rcv32 is larger than the recovery processing amount Trc_rv that is the reference value. In the subsequent inspection timing setting process (step S400), a recovery deviation amount Dv32 indicating a deviation of the recovery processing amount Trc32 from the recovery processing amount Trc_rv, which is the reference value, is calculated, and standby is performed from the recovery deviation amount Dv32 based on the PID calculation. Time Tsb33 is set. In the present embodiment, the standby time Tsb33 set at the recovery time Rcv32 is shorter than the standby time Tsb31 set at the start time Rcv30.
回復時点Ｒｃｖ３２から待機時間Ｔｓｂ３３が経過すると、２回目の吐出性能検査処理（ステップＳ２００）を実施する（検査時点Ｉｓｐ３３）。この検査時点Ｉｓｐ３３では、残留振動のＰＰ振幅Ｖｐｐは、基準値であるＰＰ振幅Ｖｐｐ＿ｒｖよりも小さいため、２回目の回復処理（ステップＳ３００）を実施する。 When the standby time Tsb33 elapses from the recovery time Rcv32, the second ejection performance inspection process (step S200) is performed (inspection time Isp33). Since the PP amplitude Vpp of the residual vibration is smaller than the reference value PP amplitude Vpp_rv at the inspection time point Isp33, the second recovery process (step S300) is performed.
検査時点Ｉｓｐ３３に続いて回復処理（ステップＳ３００）を終えた回復時点Ｒｃｖ３４では、残留振動のＰＰ振幅Ｖｐｐは、２回目の回復処理（ステップＳ３００）によってＰＰ振幅Ｖｐｐ＿ｇの値にまで回復し、その回復に要した経過時間を示す回復処理量Ｔｒｃ３４を回復処理結果として得る。本実施例では、回復時点Ｒｃｖ３４における回復処理量Ｔｒｃ３４は、回復時点Ｒｃｖ３２における回復処理量Ｔｒｃ３２よりは小さくなったが、基準値である回復処理量Ｔｒｃ＿ｒｖよりも大きい。その後の検査時機設定処理（ステップＳ４００）では、基準値である回復処理量Ｔｒｃ＿ｒｖからの回復処理量Ｔｒｃ３４の偏差を示す回復偏差量Ｄｖ３４を算出し、その回復偏差量Ｄｖ３４からＰＩＤ演算に基づいて待機時間Ｔｓｂ３５を設定する。本実施例では、回復時点Ｒｃｖ３４で設定される待機時間Ｔｓｂ３５は、回復時点Ｒｃｖ３２で設定された待機時間Ｔｓｂ３３よりも短い時間である。 At the recovery time Rcv34 when the recovery process (step S300) is completed following the inspection time Isp33, the PP amplitude Vpp of the residual vibration is recovered to the value of the PP amplitude Vpp_g by the second recovery process (step S300). A recovery processing amount Trc34 indicating the elapsed time required for the recovery processing is obtained as a recovery processing result. In this embodiment, the recovery processing amount Trc34 at the recovery time point Rcv34 is smaller than the recovery processing amount Trc32 at the recovery time point Rcv32, but is larger than the recovery processing amount Trc_rv that is the reference value. In the subsequent inspection timing setting process (step S400), a recovery deviation amount Dv34 indicating a deviation of the recovery processing amount Trc34 from the recovery processing amount Trc_rv, which is the reference value, is calculated, and standby is performed from the recovery deviation amount Dv34 based on the PID calculation. Time Tsb35 is set. In the present embodiment, the standby time Tsb35 set at the recovery time Rcv34 is shorter than the standby time Tsb33 set at the recovery time Rcv32.
回復時点Ｒｃｖ３４から待機時間Ｔｓｂ３５が経過すると、３回目の吐出性能検査処理（ステップＳ２００）を実施する（検査時点Ｉｓｐ３５）。この検査時点Ｉｓｐ３５では、残留振動のＰＰ振幅Ｖｐｐは、基準値であるＰＰ振幅Ｖｐｐ＿ｒｖと同等であるため、３回目の回復処理（ステップＳ３００）を実施する。 When the standby time Tsb35 has elapsed from the recovery time Rcv34, the third ejection performance inspection process (step S200) is performed (inspection time Isp35). Since the PP amplitude Vpp of the residual vibration is equal to the reference value PP amplitude Vpp_rv at the inspection time point Isp35, the third recovery process (step S300) is performed.
検査時点Ｉｓｐ３５に続いて回復処理（ステップＳ３００）を終えた回復時点Ｒｃｖ３６では、残留振動のＰＰ振幅Ｖｐｐは、３回目の回復処理（ステップＳ３００）によってＰＰ振幅Ｖｐｐ＿ｇの値にまで回復し、その回復に要した経過時間を示す回復処理量Ｔｒｃ３６を回復処理結果として得る。本実施例では、回復時点Ｒｃｖ３６における回復処理量Ｔｒｃ３６は、回復時点Ｒｃｖ３４における回復処理量Ｔｒｃ３４よりは小さくなり、基準値である回復処理量Ｔｒｃ＿ｒｖと同等である。そのため、基準値である回復処理量Ｔｒｃ＿ｒｖからの回復処理量Ｔｒｃ３６の偏差を示す回復偏差量Ｄｖ３６は「０」となり、その後の検査時機設定処理（ステップＳ４００）で算出される待機時間Ｔｒｃ３７は、回復時点Ｒｃｖ３４で設定された待機時間Ｔｓｂ３５と同等の値になる。 At the recovery time Rcv36 where the recovery process (step S300) is completed following the inspection time Isp35, the PP amplitude Vpp of the residual vibration is recovered to the value of the PP amplitude Vpp_g by the third recovery process (step S300). A recovery processing amount Trc36 indicating the elapsed time required for the recovery processing is obtained as a recovery processing result. In this embodiment, the recovery processing amount Trc36 at the recovery time point Rcv36 is smaller than the recovery processing amount Trc34 at the recovery time point Rcv34, and is equivalent to the recovery processing amount Trc_rv that is the reference value. Therefore, the recovery deviation amount Dv36 indicating the deviation of the recovery processing amount Trc36 from the recovery processing amount Trc_rv that is the reference value becomes “0”, and the standby time Trc37 calculated in the subsequent inspection timing setting processing (step S400) is recovered. It becomes a value equivalent to the standby time Tsb35 set at the time point Rcv34.
Ａ３．効果：
以上説明した第１実施例のプリンター１０によれば、吐出性能検査処理（ステップＳ２００，Ｓ３２０）の検査結果に基づいて、次回の吐出性能検査処理（ステップＳ２００）の検査時機を設定する検査時機設定処理（ステップＳ４００）を行うことから、吐出部２７０の状態に応じて吐出部２７０の検査時機を調整することができる。
A3. effect:
According to the
また、検査時機に応じた実施される吐出性能検査処理（ステップＳ２００）の検査結果に基づいて判断される吐出部２７０の状態量に応じて、次回の検査時機を設定することにより（ステップＳ４２４）、検査時機に応じた吐出部２７０の検査結果に基づいて吐出部２７０の検査時機を調整することができる。
Further, by setting the next inspection time according to the state quantity of the
また、回復処理（ステップＳ３００）における吐出性能検査処理（ステップＳ３２０）の検査結果に基づいて判断される回復処理量に応じて、次回の検査時機を設定することにより（ステップＳ４３４）、回復処理（ステップＳ３００）における吐出性能検査処理（ステップＳ３２０）の検査結果に基づいて吐出部２７０の検査時機を調整することができる。
Further, by setting the next inspection timing according to the recovery processing amount determined based on the inspection result of the ejection performance inspection processing (step S320) in the recovery processing (step S300), the recovery processing (step S434) is performed. The inspection timing of the
また、吐出部２７０からインクを吐出させずに残留振動を発生させる態様で駆動素子６６の駆動を制御するため（ステップＳ２３０）、インクの消費量を抑制することができる。
In addition, since the drive of the
Ｂ．第２実施例：
第２実施例のプリンター１０は、次回の検査時機の設定手法が異なる点を除き、第１実施例と同様である。第１実施例では、回復処理（ステップＳ３００）を実施した場合に、その回復処理量に基づいて次回の検査時機を設定したが、第２実施例では、回復処理（ステップＳ３００）を実施した場合であっても吐出部２７０の状態劣化量に基づいて次回の検査時機を設定する。
B. Second embodiment:
The
図１５は、第２実施例の待機処理（ステップＳ１００）において設定される検査時機の推移の一例を示す説明図である。図１５には、縦軸にＰＰ振幅Ｖｐｐ、横軸に時間を設定して、検査時機の推移と残留振動のＰＰ振幅Ｖｐｐとの関係を図示した。図１５のＰＰ振幅Ｖｐｐ＿ｇは、インクを吐出可能な状態における電気信号ＳＷｇのＰＰ振幅を示し、図１５のＰＰ振幅Ｖｐｐ＿ｒｖは、評価基準値１４０として記憶部１０４に記憶されているＰＰ振幅に関する状態量の基準値を示す。
FIG. 15 is an explanatory diagram illustrating an example of the transition of the inspection timing set in the standby process (step S100) of the second embodiment. FIG. 15 illustrates the relationship between the transition of the inspection timing and the PP amplitude Vpp of the residual vibration, with the PP amplitude Vpp on the vertical axis and the time on the horizontal axis. The PP amplitude Vpp_g in FIG. 15 indicates the PP amplitude of the electrical signal SWg in a state where ink can be ejected, and the PP amplitude Vpp_rv in FIG. 15 is a state quantity related to the PP amplitude stored in the
図１５に示す例では、待機処理（ステップＳ１００）の開始時点Ｒｃｖ２０では、残留振動のＰＰ振幅Ｖｐｐは、回復処理（ステップＳ３００）によってＰＰ振幅Ｖｐｐ＿ｇの値にまで回復した状態であり、次回の検査時機には待機時間Ｔｓｂ２１を設定する。 In the example shown in FIG. 15, at the start time Rcv20 of the standby process (step S100), the PP amplitude Vpp of the residual vibration is recovered to the value of the PP amplitude Vpp_g by the recovery process (step S300). A standby time Tsb21 is set as the occasion.
開始時点Ｒｃｖ２０から待機時間Ｔｓｂ２１が経過すると、１回目の吐出性能検査処理（ステップＳ２００）を実施する（検査時点Ｉｓｐ２１）。この検査時点Ｉｓｐ２１では、１回目の吐出性能検査処理（ステップＳ２００）の検査結果から吐出部２７０の状態劣化量Ｄｍ２１を得る。検査時点Ｉｓｐ２１では、残留振動のＰＰ振幅Ｖｐｐは、基準値であるＰＰ振幅Ｖｐｐ＿ｒｖよりも小さいため、１回目の回復処理（ステップＳ３００）を実施する。
When the standby time Tsb21 elapses from the start time Rcv20, the first ejection performance inspection process (step S200) is performed (inspection time Isp21). At this inspection time point Isp21, the state deterioration amount Dm21 of the
検査時点Ｉｓｐ２１に続いて回復処理（ステップＳ３００）を終えた回復時点Ｒｃｖ２２では、残留振動のＰＰ振幅Ｖｐｐは、１回目の回復処理（ステップＳ３００）によってＰＰ振幅Ｖｐｐ＿ｇの値にまで回復する。その後の検査時機設定処理（ステップＳ４００）では、基準値であるＰＰ振幅Ｖｐｐ＿ｒｖからの状態劣化量Ｄｍ２１の偏差を示す状態偏差量Ｄｖ２１を算出し、その状態偏差量Ｄｖ２１からＰＩＤ演算に基づいて待機時間Ｔｓｂ２３を設定する。本実施例では、回復時点Ｒｃｖ２２で設定される待機時間Ｔｓｂ２３は、開始時点Ｒｃｖ２０で設定された待機時間Ｔｓｂ２１よりも短い時間である。 At the recovery time Rcv22 where the recovery process (step S300) is completed following the inspection time Isp21, the PP amplitude Vpp of the residual vibration is recovered to the value of the PP amplitude Vpp_g by the first recovery process (step S300). In the subsequent inspection timing setting process (step S400), a state deviation amount Dv21 indicating a deviation of the state deterioration amount Dm21 from the PP amplitude Vpp_rv which is the reference value is calculated, and the standby time is calculated from the state deviation amount Dv21 based on the PID calculation. Tsb23 is set. In this embodiment, the standby time Tsb23 set at the recovery time point Rcv22 is shorter than the standby time Tsb21 set at the start time point Rcv20.
回復時点Ｒｃｖ２２から待機時間Ｔｓｂ２３が経過すると、２回目の吐出性能検査処理（ステップＳ２００）を実施する（検査時点Ｉｓｐ２３）。この検査時点Ｉｓｐ２３では、２回目の吐出性能検査処理（ステップＳ２００）の検査結果から吐出部２７０の状態劣化量Ｄｍ２３を得る。検査時点Ｉｓｐ２３の状態劣化量Ｄｍ２３は、検査時点Ｉｓｐ２１の状態劣化量Ｄｍ２１よりも小さい。検査時点Ｉｓｐ２３における残留振動のＰＰ振幅Ｖｐｐは、基準値であるＰＰ振幅Ｖｐｐ＿ｒｖよりも小さいため、２回目の回復処理（ステップＳ３００）を実施する。
When the standby time Tsb23 has elapsed from the recovery time Rcv22, the second ejection performance inspection process (step S200) is performed (inspection time Isp23). At this inspection time point Isp23, the state deterioration amount Dm23 of the
検査時点Ｉｓｐ２３に続いて回復処理（ステップＳ３００）を終えた回復時点Ｒｃｖ２４では、残留振動のＰＰ振幅Ｖｐｐは、２回目の回復処理（ステップＳ３００）によってＰＰ振幅Ｖｐｐ＿ｇの値にまで回復する。その後の検査時機設定処理（ステップＳ４００）では、基準値であるＰＰ振幅Ｖｐｐ＿ｒｖからの状態劣化量Ｄｍ２３の偏差を示す状態偏差量Ｄｖ２３を算出し、その状態偏差量Ｄｖ２３からＰＩＤ演算に基づいて待機時間Ｔｓｂ２５を設定する。本実施例では、回復時点Ｒｃｖ２４で設定される待機時間Ｔｓｂ２５は、回復時点Ｒｃｖ２２で設定された待機時間Ｔｓｂ２３よりも短い時間である。 At the recovery time Rcv24 when the recovery process (step S300) is completed following the inspection time Isp23, the PP amplitude Vpp of the residual vibration is recovered to the value of the PP amplitude Vpp_g by the second recovery process (step S300). In the subsequent inspection timing setting process (step S400), a state deviation amount Dv23 indicating a deviation of the state deterioration amount Dm23 from the PP amplitude Vpp_rv which is the reference value is calculated, and the standby time is calculated from the state deviation amount Dv23 based on the PID calculation. Tsb25 is set. In this embodiment, the standby time Tsb25 set at the recovery time point Rcv24 is shorter than the standby time Tsb23 set at the recovery time point Rcv22.
回復時点Ｒｃｖ２４から待機時間Ｔｓｂ２５が経過すると、３回目の吐出性能検査処理（ステップＳ２００）を実施する（検査時点Ｉｓｐ２５）。この検査時点Ｉｓｐ２５では、３回目の吐出性能検査処理（ステップＳ２００）の検査結果から吐出部２７０の状態劣化量Ｄｍ２５を得る。検査時点Ｉｓｐ２５の状態劣化量Ｄｍ２５は、検査時点Ｉｓｐ２３の状態劣化量Ｄｍ２３よりも小さい。検査時点Ｉｓｐ２３における残留振動のＰＰ振幅Ｖｐｐは、基準値であるＰＰ振幅Ｖｐｐ＿ｒｖと同等であるため、３回目の回復処理（ステップＳ３００）を実施する。
When the standby time Tsb25 has elapsed from the recovery time Rcv24, a third ejection performance inspection process (step S200) is performed (inspection time Isp25). At this inspection time point Isp25, the state deterioration amount Dm25 of the
検査時点Ｉｓｐ２５に続いて回復処理（ステップＳ３００）を終えた回復時点Ｒｃｖ２６では、残留振動のＰＰ振幅Ｖｐｐは、３回目の回復処理（ステップＳ３００）によってＰＰ振幅Ｖｐｐ＿ｇの値にまで回復する。基準値であるＰＰ振幅Ｖｐｐ＿ｒｖからの状態劣化量Ｄｍ２５の偏差を示す状態偏差量Ｄｖ２５は「０」であるため、その後の検査時機設定処理（ステップＳ４００）で算出される待機時間Ｔｒｃ２７は、回復時点Ｒｃｖ２４で設定された待機時間Ｔｓｂ２５と同等の値になる。 At the recovery time Rcv26 where the recovery process (step S300) is completed following the inspection time Isp25, the PP amplitude Vpp of the residual vibration is recovered to the value of the PP amplitude Vpp_g by the third recovery process (step S300). Since the state deviation amount Dv25 indicating the deviation of the state deterioration amount Dm25 from the PP amplitude Vpp_rv which is the reference value is “0”, the standby time Trc27 calculated in the subsequent inspection timing setting process (step S400) is the recovery time point. It becomes a value equivalent to the standby time Tsb25 set by Rcv24.
以上説明した第２実施例のプリンター１０によれば、吐出性能検査処理（ステップＳ２００）の検査結果に基づいて、次回の吐出性能検査処理（ステップＳ２００）の検査時機を設定する検査時機設定処理（ステップＳ４００）を行うことから、第１実施例と同様に、吐出部２７０の状態に応じて吐出部２７０の検査時機を調整することができる。
According to the
Ｃ．その他の実施形態：
以上、本発明の実施の形態について説明したが、本発明はこうした実施の形態に何ら限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲内において様々な形態で実施し得ることは勿論である。
C. Other embodiments:
As mentioned above, although embodiment of this invention was described, this invention is not limited to such embodiment at all, Of course, it can implement with various forms within the range which does not deviate from the meaning of this invention. is there.
例えば、上述の実施例では、吐出部２７０における残留振動を感知する感知部として駆動素子６６を利用したが、他の実施形態において、駆動素子６６とは別に、残留振動を感知する専用のセンサーを適用しても良い。
For example, in the above-described embodiment, the driving
また、制御部１００は、検査部１０２による検査結果に基づいて、検査部１０２による次回の検査において残留振動を発生させる際に吐出部２７０からインクを吐出させるか否かを判断する吐出判断部として動作しても良い。これによって、吐出部２７０の状態に応じて吐出部２７０の検査時機を調整した上で、吐出部２７０の状態に応じた吐出部２７０の検査を実施することができる。
Further, the
また、上述の実施例では、インク滴を吐出させることなく残留振動を発生させる印加レベルで駆動素子６６を駆動させて残留振動を検出したが、他の実施形態において、インク滴を吐出させる印加レベルで駆動素子６６を駆動させて残留振動を検出しても良い。
Further, in the above-described embodiment, the residual vibration is detected by driving the
また、上述の実施例では、印刷媒体９０に対する印刷とは異なるタイミングで吐出性能検査処理（ステップＳ２００）を実施したが、他の実施形態において、印刷媒体９０に対する印刷を実行中に、残留振動に応じた電気信号ＳＷに基づいて吐出部２７０を検査しても良い。
In the above-described embodiment, the ejection performance inspection process (step S200) is performed at a timing different from that for printing on the print medium 90. However, in another embodiment, residual vibration occurs during printing on the print medium 90. The
また、上述の実施例では、残留振動における最初の半周期を示す時間ｔｆおよびＰＰ振幅Ｖｐｐに基づいて吐出性能検査処理（ステップＳ２００）を実施したが、他の実施形態において、残留振動の周期、位相および振幅の少なくとも一つに基づいて吐出性能検査処理（ステップＳ２００）を実施しても良い。 In the above-described embodiment, the ejection performance inspection process (step S200) is performed based on the time tf indicating the first half cycle of the residual vibration and the PP amplitude Vpp. However, in other embodiments, the period of the residual vibration, The ejection performance inspection process (step S200) may be performed based on at least one of the phase and the amplitude.
上述した実施例では、液体吐出装置の一例として、インクを吐出するインクジェットプリンターについて説明したが、本発明の液体吐出装置が吐出する液体は、インクに限るものではなく、各種の液体の他、液体中や気体中に固体が分散した状態の流体であっても良い。例えば、本発明は、インクジェット方式のプリンターに限るものではなく、他の方式のプリンターに適用することもできる。また、液晶ディスプレー、有機ＥＬ(Electro Luminescence)ディスプレー、および面発光ディスプレー(Field Emission Display、ＦＥＤ)等の製造に用いられ、電極材や色材などの材料を分散や溶解の状態で含む液状体を吐出する吐出装置に適用することもできる。また、バイオチップの製造に用いられ、生体有機物を含有する液体を吐出する吐出装置に適用することもできる。また、精密ピペットとして用いられ、試料となる液体を吐出する吐出装置に適用することもできる。また、時計やカメラ等の精密機械にピンポイントで潤滑油を吐出する吐出装置や、光通信素子に用いられる微小半球レンズ（光学レンズ）を形成するために紫外線硬化性樹脂を始めとする透明樹脂液を吐出する吐出装置に適用することもできる。また、ウェハーをエッチングするためのエッチング液を吐出する吐出装置や、トナーを始めとする粉体を吐出する吐出装置に適用することもできる。 In the above-described embodiments, the ink jet printer that ejects ink has been described as an example of the liquid ejecting apparatus. However, the liquid ejected by the liquid ejecting apparatus of the present invention is not limited to ink. It may be a fluid in which a solid is dispersed in or inside a gas. For example, the present invention is not limited to an ink jet printer, and can be applied to other printers. Also used in the manufacture of liquid crystal displays, organic EL (Electro Luminescence) displays, and surface emission displays (Field Emission Displays, FEDs), etc., and liquid materials containing materials such as electrode materials and color materials in a dispersed or dissolved state. The present invention can also be applied to a discharge device that discharges. Further, the present invention can be applied to a discharge device that is used for manufacturing a biochip and discharges a liquid containing a biological organic material. Further, it can be applied to a discharge device that is used as a precision pipette and discharges a liquid as a sample. Transparent resins such as ultraviolet curable resins are used to form a dispensing device that dispenses lubricant oil to precision machines such as watches and cameras, and micro hemispherical lenses (optical lenses) used in optical communication elements. The present invention can also be applied to a discharge device that discharges liquid. Further, the present invention can be applied to a discharge device that discharges an etching solution for etching a wafer or a discharge device that discharges powder such as toner.
１０…プリンター
４０…導入路
４２…リザーバー
４４…供給口
４６…キャビティー
４８，４８ｋ，４８ｃ，４８ｍ，４８ｙ…ノズル
５２…シフトレジスター
５４…ラッチ回路
５６…レベルシフター
５８…スイッチ
５９…抵抗
６２…共通電路
６４…スイッチ
６６…駆動素子
６７…振動板
６８…共通電路
９０…印刷媒体
１００…制御部
１０２…検査部
１０４…記憶部
１０６…タイマー
１０８…検査設定部
１３０…検査時機データ
１４０…評価基準値
１７０…フレキシブルケーブル
１８０…ユーザーインターフェイス
１９０…通信インターフェイス
２００…ヘッドユニット
２１０…キャリッジ
２２０…インクカートリッジ
２７０…吐出部
２８０…ヘッド
２９０…検出部
３１２…キャリッジモーター
３１４…駆動ベルト
３２２…搬送モーター
３２４…プラテン
３３０…ヘッドワイパー
３４０…ヘッドキャップ
６６２…電極
６６４…圧電体
６６６…電極
DESCRIPTION OF
Claims (7)
前記キャビティー内の液体の振動であって前記駆動素子の駆動により残留する残留振動を検出する検出部と、
前記残留振動に基づいて前記吐出部を検査する検査部と、
前記検査部による検査結果に基づいて、前記検査部による次回の検査の検査時機を設定する検査設定部と
を備える液体吐出装置。 A discharge section that discharges the liquid in the cavity from the nozzle communicating with the cavity by driving a drive element;
A detection unit for detecting a residual vibration caused by driving of the driving element, which is vibration of the liquid in the cavity;
An inspection unit for inspecting the discharge unit based on the residual vibration;
A liquid ejection apparatus comprising: an inspection setting unit that sets an inspection timing for a next inspection by the inspection unit based on an inspection result by the inspection unit.
更に、前記検査部による検査結果に基づいて前記吐出部を整備する整備部を備え、
前記検査設定部は、前記整備部による前記吐出部の整備中における前記検査部による検査結果に基づいて判断される前記整備部の処理量に応じて、前記検査時機を設定する、液体吐出装置。 The liquid ejection device according to claim 1 or 2, wherein
Furthermore, a maintenance part for maintaining the discharge part based on the inspection result by the inspection part is provided,
The liquid ejection apparatus, wherein the inspection setting unit sets the inspection time according to a processing amount of the maintenance unit determined based on an inspection result by the inspection unit during maintenance of the discharge unit by the maintenance unit.
前記キャビティー内の液体の振動であって前記駆動素子の駆動により残留する残留振動を検出する検出工程と、
前記残留振動に基づいて前記吐出部を検査する検査工程と、
前記検査工程による検査結果に基づいて、前記検査工程による次回の検査の検査時機を設定する検査設定工程と
を備える検査方法。 An inspection method for inspecting a discharge part that discharges the liquid in the cavity by driving a drive element from a nozzle communicating with the cavity,
A detection step of detecting residual vibrations due to the vibration of the liquid in the cavity and remaining due to the driving of the driving element;
An inspection step of inspecting the discharge unit based on the residual vibration;
An inspection setting step of setting an inspection timing for a next inspection by the inspection step based on an inspection result by the inspection step.
前記キャビティー内の液体の振動であって前記駆動素子の駆動により残留する残留振動を検出する検出機能と、
前記残留振動に基づいて前記吐出部を検査する検査機能と、
前記検査機能による検査結果に基づいて、前記検査機能による次回の検査の検査時機を設定する検査設定機能と
を実現させるためのプログラム。 A program for causing a computer to realize a function of inspecting a discharge unit that discharges liquid in the cavity by driving a drive element from a nozzle communicating with the cavity,
A detection function for detecting residual vibration which is vibration of the liquid in the cavity and remains due to driving of the driving element;
An inspection function for inspecting the discharge unit based on the residual vibration;
A program for realizing an inspection setting function for setting an inspection timing for a next inspection by the inspection function based on an inspection result by the inspection function.
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