JP2012218375A - Liquid ejection device, inspection method and program - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、液体吐出装置における吐出部を検査する技術に関する。 The present invention relates to a technique for inspecting a discharge section in a liquid discharge apparatus.
液体吐出装置の一つであるインクジェットプリンターは、インクを吐出する複数の吐出部を備え、各吐出部では、ノズルに連通するキャビティーにインクが貯留され、キャビティーに設けられた駆動素子の駆動によりノズルからインクが吐出される。このような液体吐出装置の吐出部では、キャビティー内のインクに気泡が混入した場合や、キャビティー内のインクが増粘した場合には、ノズルが目詰まりし、ノズルからのインクの吐出を良好に行うことができなくなるおそれがある。 An ink jet printer, which is one of liquid ejection devices, includes a plurality of ejection units that eject ink. In each ejection unit, ink is stored in a cavity communicating with a nozzle, and a drive element provided in the cavity is driven. As a result, ink is ejected from the nozzles. In such a discharge unit of the liquid discharge device, when bubbles are mixed in the ink in the cavity or the ink in the cavity is thickened, the nozzle is clogged and the ink is discharged from the nozzle. There is a risk that it cannot be performed well.
ノズルの目詰まりから吐出部を回復させる回復処理(メンテナンス処理)として、フラッシング処理や吸引処理が知られている。フラッシング処理は、キャビティー内のインクをノズルから吐出して除去する処理であり、吸引処理は、キャビティー内のインクをノズルから吸引して除去する処理である。 Flushing processing and suction processing are known as recovery processing (maintenance processing) for recovering the discharge portion from nozzle clogging. The flushing process is a process for removing ink in the cavity by discharging it from the nozzle, and the suction process is a process for removing the ink in the cavity by sucking from the nozzle.
従来、吐出部の回復処理に関し、回復処理の自動的な実施の可否をユーザーによって選択可能にする技術(例えば、特許文献1を参照)や、駆動素子の駆動によりキャビティー内のインクに残留する残留振動に基づいて待機時の吐出部を定期的に検査し、その検査結果に応じて回復処理を実施する技術(例えば、特許文献2を参照)が提案されていた。 Conventionally, with regard to the recovery process of the ejection unit, a technique (for example, refer to Patent Document 1) that allows the user to select whether or not the recovery process can be automatically performed, or driving of the drive element remains in the ink in the cavity. There has been proposed a technique (for example, refer to Patent Document 2) in which a standby discharge unit is periodically inspected based on residual vibration and a recovery process is performed according to the inspection result.
しかしながら、従来、吐出部の検査を実施する検査時機について十分な検討がなされていなかった。例えば、検査時機の間隔が長すぎると、吐出部を所望の状態に維持できなくなるおそれがあり、検査時機の間隔が短すぎると、検査に要する時間が増大してしまうという問題があった。 However, conventionally, sufficient examination has not been made on the inspection time for performing the inspection of the discharge portion. For example, if the interval between inspection times is too long, there is a possibility that the discharge part cannot be maintained in a desired state. If the interval between inspection times is too short, there is a problem that the time required for inspection increases.
本発明は、上記した課題を踏まえ、吐出部の状態に応じて吐出部の検査時機を調整することができる技術を提供することを目的とする。 In view of the above-described problems, an object of the present invention is to provide a technique capable of adjusting the inspection timing of the discharge unit according to the state of the discharge unit.
本発明は、上述の課題の少なくとも一部を解決するためになされたものであり、以下の形態または適用例として実現することが可能である。 SUMMARY An advantage of some aspects of the invention is to solve at least a part of the problems described above, and the invention can be implemented as the following forms or application examples.
[適用例1] 適用例1の液体吐出装置は、キャビティーに連通するノズルから前記キャビティー内の液体を駆動素子の駆動により吐出する吐出部と、前記キャビティー内の液体の振動であって前記駆動素子の駆動により残留する残留振動を検出する検出部と、前記残留振動に基づいて前記吐出部を検査する検査部と、前記検査部による検査結果に基づいて、前記検査部による次回の検査の検査時機を設定する検査設定部とを備えることを特徴とする。適用例1の液体吐出装置によれば、吐出部の状態に応じて吐出部の検査時機を調整することができる。 [Application Example 1] The liquid discharge apparatus according to Application Example 1 includes a discharge unit that discharges liquid in the cavity from a nozzle communicating with the cavity by driving a driving element, and vibration of the liquid in the cavity. A detection unit that detects residual vibration remaining due to driving of the drive element, an inspection unit that inspects the ejection unit based on the residual vibration, and a next inspection by the inspection unit based on an inspection result by the inspection unit And an inspection setting unit for setting the inspection timing. According to the liquid ejection apparatus of Application Example 1, the inspection timing of the ejection unit can be adjusted according to the state of the ejection unit.
[適用例2] 適用例1の液体吐出装置において、前記検査設定部は、前記検査時機に応じた前記検査部による検査結果に基づいて判断される前記吐出部の状態に応じて、前記検査時機を設定しても良い。適用例2の液体吐出装置によれば、検査時機に応じた吐出部の検査結果に基づいて吐出部の検査時機を調整することができる。
[適用例3] 適用例1または適用例2の液体吐出装置は、更に、前記検査部による検査結果に基づいて前記吐出部を整備する整備部を備え、前記検査設定部は、前記整備部による前記吐出部の整備中における前記検査部による検査結果に基づいて判断される前記整備部の処理量に応じて、前記検査時機を設定するとしても良い。適用例3の液体吐出装置によれば、吐出部を整備中における吐出部の検査結果に基づいて吐出部の検査時機を調整することができる。
Application Example 2 In the liquid ejection apparatus according to Application Example 1, the inspection setting unit may perform the inspection timing according to a state of the ejection unit determined based on an inspection result by the inspection unit corresponding to the inspection timing. May be set. According to the liquid ejection device of Application Example 2, it is possible to adjust the inspection timing of the ejection unit based on the inspection result of the ejection unit according to the inspection timing.
Application Example 3 The liquid ejection device according to Application Example 1 or Application Example 2 further includes a maintenance unit that maintains the discharge unit based on an inspection result by the inspection unit, and the inspection setting unit is based on the maintenance unit. The inspection timing may be set in accordance with a processing amount of the maintenance unit determined based on an inspection result by the inspection unit during maintenance of the discharge unit. According to the liquid ejection device of Application Example 3, the inspection timing of the ejection unit can be adjusted based on the inspection result of the ejection unit during maintenance of the ejection unit.
[適用例4] 適用例1ないし適用例3のいずれかの液体吐出装置は、更に、前記吐出部から前記液体を吐出させずに前記残留振動を発生させる態様で前記駆動素子の駆動を制御する駆動制御部を備えても良い。適用例4の液体吐出装置によれば、液体の消費量を抑制することができる。 Application Example 4 The liquid ejection device according to any one of Application Example 1 to Application Example 3 further controls driving of the drive element in such a manner that the residual vibration is generated without ejecting the liquid from the ejection unit. A drive control unit may be provided. According to the liquid ejection device of the application example 4, it is possible to suppress the liquid consumption.
[適用例5] 適用例1ないし適用例4のいずれかの液体吐出装置は、更に、前記検査部による検査結果に基づいて、前記検査部による次回の検査において前記残留振動を発生させる際に前記吐出部から前記液体を吐出させるか否かを判断する吐出判断部を備えても良い。適用例5の液体吐出装置によれば、吐出部の状態に応じて吐出部の検査時機を調整した上で、吐出部の状態に応じた吐出部の検査を実施することができる。 Application Example 5 In the liquid ejection device according to any one of Application Examples 1 to 4, when the residual vibration is generated in the next inspection by the inspection unit based on the inspection result by the inspection unit, You may provide the discharge judgment part which judges whether the said liquid is discharged from a discharge part. According to the liquid discharge apparatus of Application Example 5, the discharge unit inspection according to the state of the discharge unit can be performed after adjusting the inspection timing of the discharge unit according to the state of the discharge unit.
[適用例6] 適用例6の検査方法は、キャビティーに連通するノズルから前記キャビティー内の液体を駆動素子の駆動により吐出する吐出部を検査する検査方法であって、前記キャビティー内の液体の振動であって前記駆動素子の駆動により残留する残留振動を検出する検出工程と、前記残留振動に基づいて前記吐出部を検査する検査工程と、前記検査工程による検査結果に基づいて、前記検査工程による次回の検査の検査時機を設定する検査設定工程とを備えることを特徴とする。適用例6の検査方法によれば、吐出部の状態に応じて吐出部の検査時機を調整することができる。 [Application Example 6] The inspection method of Application Example 6 is an inspection method for inspecting a discharge portion that discharges liquid in the cavity by driving a drive element from a nozzle communicating with the cavity. Based on a detection process for detecting residual vibration that is a vibration of liquid and remaining due to driving of the drive element, an inspection process for inspecting the discharge unit based on the residual vibration, and an inspection result by the inspection process, And an inspection setting step for setting an inspection timing for the next inspection by the inspection step. According to the inspection method of Application Example 6, it is possible to adjust the inspection timing of the discharge unit according to the state of the discharge unit.
[適用例7] 適用例7のプログラムは、キャビティーに連通するノズルから前記キャビティー内の液体を駆動素子の駆動により吐出する吐出部を検査する機能をコンピューターに実現させるためのプログラムであって、前記キャビティー内の液体の振動であって前記駆動素子の駆動により残留する残留振動を検出する検出機能と、前記残留振動に基づいて前記吐出部を検査する検査機能と、前記検査機能による検査結果に基づいて、前記検査機能による次回の検査の検査時機を設定する検査設定機能とを実現させることを特徴とする。適用例7のプログラムによれば、吐出部の状態に応じて吐出部の検査時機を調整することができる。 Application Example 7 The program of Application Example 7 is a program for causing a computer to realize a function of inspecting a discharge unit that discharges liquid in the cavity by driving a drive element from a nozzle communicating with the cavity. A detection function for detecting a residual vibration that is a vibration of the liquid in the cavity and remains due to the driving of the drive element; an inspection function for inspecting the discharge unit based on the residual vibration; and an inspection by the inspection function Based on the result, an inspection setting function for setting an inspection timing for the next inspection by the inspection function is realized. According to the program of the application example 7, the inspection timing of the discharge unit can be adjusted according to the state of the discharge unit.
本発明の形態は、液体吐出装置、検査方法およびプログラムに限るものではなく、インクジェットプリンターを始めとする液体吐出装置の具体的な形態の他、液体中や気体中に固体が分散した状態の流体を吐出する吐出装置など他の形態に適用することもできる。また、本発明は、前述の形態に何ら限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲内において様々な形態で実施し得ることは勿論である。 The form of the present invention is not limited to the liquid ejecting apparatus, the inspection method, and the program. In addition to the specific form of the liquid ejecting apparatus including the ink jet printer, the fluid in a state where the solid is dispersed in the liquid or gas The present invention can also be applied to other forms such as a discharge device that discharges water. Further, the present invention is not limited to the above-described embodiments, and it is needless to say that the present invention can be implemented in various forms without departing from the spirit of the present invention.
以上説明した本発明の構成および作用を一層明らかにするために、以下本発明を適用した液体吐出装置について説明する。 In order to further clarify the configuration and operation of the present invention described above, a liquid ejection apparatus to which the present invention is applied will be described below.
A.第1実施例:
A1.プリンターの構成:
図1は、プリンター10の構成を示す説明図である。プリンター10は、液体を吐出する液体吐出装置の一つであるインクジェットプリンターであり、液体としてインクを吐出することによって、文字、図形および画像などのデータを、紙やラベルなどの印刷媒体90に印刷する。プリンター10は、制御部100と、ユーザーインターフェイス180と、通信インターフェイス190と、ヘッドユニット200とを備える。
A. First embodiment:
A1. Printer configuration:
FIG. 1 is an explanatory diagram illustrating the configuration of the
プリンター10のユーザーインターフェイス180は、ディスプレーや操作ボタンを備え、プリンター10のユーザーとの間で情報のやり取りを行う。通信インターフェイス190は、プリンター10と電気的に接続可能なパーソナルコンピューター、デジタルスチルカメラ、メモリーカードなどの外部機器との間で情報のやり取りを行う。プリンター10のヘッドユニット200は、インクを吐出するインク吐出機構を備える。なお、インク吐出機構の詳細については後述する。
The
プリンター10の制御部100は、プリンター10の各部を制御する。例えば、制御部100は、通信インターフェイス190を介して入力されるデータに基づいて、ヘッドユニット200および印刷媒体90を相対的に移動させながら、ヘッドユニット200からインク滴を吐出させる印刷制御を行う。これによって、印刷媒体90に対する印刷が実現される。
The
本実施例では、制御部100は、CPU(Central Processing Unit)、ROM(Read Only Memory)、RAM(Random Access Memory)、および入出力インターフェイスなどを備える装置であり、制御部100による各種の機能は、CPUがコンピュータープログラムに基づいて動作することによって実現される。なお、制御部100による機能の少なくとも一部は、制御部100が備える電気回路がその回路構成に基づいて動作することによって実現されても良い。
In this embodiment, the
本実施例では、ヘッドユニット200は、キャリッジ210と、インクカートリッジ220と、ヘッド280とを備える。ヘッドユニット200のキャリッジ210は、制御部100とフレキシブルケーブル170を介して接続され、インクカートリッジ220およびヘッド280を搭載した状態で移動可能に構成されている。ヘッドユニット200のインクカートリッジ220は、インクを内部に収容し、そのインクをヘッド280に供給する。本実施例では、インクの色(ブラック、シアン、マゼンタおよびイエロの4色)毎に用意された複数のインクカートリッジ220がキャリッジ210に搭載されている。ヘッドユニット200のヘッド280は、印刷媒体90に対向する部位であり、インクカートリッジ220からヘッド280に供給されたインクは、ヘッド280から印刷媒体90に向けて液滴状に吐出される。
In this embodiment, the
本実施例では、プリンター10は、ヘッドユニット200および印刷媒体90を相対的に移動させるために、主走査送り機構および副走査送り機構を備える。プリンター10の主走査送り機構は、キャリッジモーター312および駆動ベルト314を備え、駆動ベルト314を介してキャリッジモーター312の動力をヘッドユニット200に伝達することによって、ヘッドユニット200を主走査方向に往復移動させる。プリンター10の副走査送り機構は、搬送モーター322およびプラテン324を備え、搬送モーター322の動力をプラテン324に伝達することによって、主走査方向に交差する副走査方向に印刷媒体90を搬送する。主走査送り機構のキャリッジモーター312、および副走査送り機構の搬送モーター322は、制御部100からの制御信号に基づいて動作する。
In the present embodiment, the
本実施例の説明では、ヘッドユニット200を往復移動させる主走査方向に沿った座標軸にX軸を設定し、印刷媒体90を搬送する副走査方向に沿った座標軸にY軸を設定し、重力方向の下方から上方に向かう座標軸にZ軸を設定した。X軸、Y軸およびZ軸は、それぞれ相互に直交する座標軸である。
In the description of the present embodiment, the X axis is set as the coordinate axis along the main scanning direction in which the
図2は、ヘッドユニット200におけるヘッド280の構造を示す説明図である。図2には、印刷媒体90側から見たヘッド280を図示した。ヘッドユニット200のヘッド280は、インクを吐出する複数のノズル48を備える。本実施例では、インクの色(ブラック、シアン、マゼンタおよびイエロの4色)毎にn個(例えば360個)のノズル48が設けられ、各色のノズル48は、主走査方向(X軸方向)に、ブラック、シアン、マゼンタ、イエロの順に配置されている。各色のn個のノズル48は、相互に副走査方向(Y軸方向)にずらして配列され、本実施例では、副走査方向(Y軸方向)におけるノズル48同士の間隔を狭めるため、副走査方向(Y軸方向)に沿って二列に分けて交互に配列されている。
FIG. 2 is an explanatory diagram showing the structure of the
本実施例の説明では、ヘッドユニット200におけるノズルを総称する場合には符号「48」を用い、ブラックのノズルを特定する場合には符号「48k」、シアンのノズルを特定する場合には符号「48c」、マゼンタのノズルを特定する場合には符号「48m」、イエロのノズルを特定する場合には符号「48y」をそれぞれ使用する。更に、個々のノズルを特定する場合には、ノズル番号を付加した符号を用いる。例えば、図2に示すように、イエロの1番目のノズルには符号「48y(1)」、イエロの2番目のノズルには符号「48y(2)」、イエロの3番目のノズルには符号「48y(3)」、・・・、イエロの(n−1)番目のノズルには符号「48y(n−1)」、イエロのn番目のノズルには符号「48y(n)」を用いる。
In the description of this embodiment, the reference numeral “48” is used when generically referring to the nozzles in the
図3は、ヘッドユニット200におけるインク吐出機構を示す説明図である。図3には、ヘッド280を重力方向(Z軸方向)に沿って切断した断面を図示した。ヘッドユニット200のインク吐出機構は、導入路40と、リザーバー42と、供給口44と、キャビティー46と、ノズル48と、駆動素子66と、振動板67とを備える。
FIG. 3 is an explanatory diagram showing an ink ejection mechanism in the
インク吐出機構の導入路40およびリザーバー42は、インクの色毎に設けられ、インクカートリッジ220からノズル48へとインクを流す流路の一部を形成する。インクカートリッジ220からヘッドユニット200に供給されたインクは、導入路40を通じてリザーバー42に貯留される。
The
インク吐出機構における供給口44、キャビティー46、駆動素子66および振動板67の各部は、ヘッド280に形成された複数のノズル48の各々に対応して設けられ、ノズル48と共に吐出部270を構成する。つまり、ヘッドユニット200は、ノズル48の数に対応した複数の吐出部270を備える。吐出部270は、駆動素子66の駆動により、キャビティー46内のインクを、キャビティー46に連通するノズル48から吐出する。
Each part of the
吐出部270の供給口44およびキャビティー46は、インクカートリッジ220からノズル48へとインクを流す流路の一部を形成する。供給口44は、リザーバー42とキャビティー46との間を連通する流路であり、供給口44を通じてリザーバー42からキャビティー46にインクが供給される。キャビティー46は、ノズル48に連通する流路であり、供給口44およびノズル48よりも十分に大きな流路断面を有し、吐出前のインクを貯留する。
The
吐出部270の駆動素子66は、振動板67を介してキャビティー46に設けられ、吐出部270の振動板67は、キャビティー46における流路壁面の一部を形成する。本実施例では、駆動素子66は、二つの電極662,666の間に圧電体664を積層し電極666側に振動板67を設けたユニモルフ型圧電アクチュエーターであるが、他の実施形態において、積層型圧電アクチュエーターを駆動素子66に適用しても良い。駆動素子66は、駆動信号の印加に基づいて重力方向(Z軸方向)に撓み、振動板67を変位させる。これによって、キャビティー46の容積を拡張してリザーバー42からインクを引き込んだ後、キャビティー46の容積を縮小してノズル48からインク滴を吐出することが可能である。
The
図1の説明に戻り、本実施例では、プリンター10は、ヘッドユニット200のヘッド280を整備するメンテナンス機構(整備部)として、ヘッドワイパー330と、ヘッドキャップ340とを備える。プリンター10のヘッドワイパー330は、ヘッド280を拭き取ることによって、ヘッド280に付着したインクを除去する。
Returning to the description of FIG. 1, in this embodiment, the
プリンター10のヘッドキャップ340は、ヘッドユニット200の待機期間中にヘッド280に取り付きノズル48を封止することによって、吐出部270におけるインクの乾燥を防止する。吐出部270のノズル48が目詰まりした場合には、ヘッドキャップ340は、フラッシング処理や吸引処理などの回復処理(メンテナンス処理)に用いられる。ヘッドキャップ340は、フラッシング処理では、ヘッド280に対峙して吐出部270のノズル48から吐出されるインク滴を受け止め、吸引処理では、ヘッド280に取り付いた状態で、劣化したインクをノズル48から吸引する。ヘッドキャップ340を用いた回復処理によって、気泡や増粘で劣化したインクで目詰まりした吐出部270は、インクを適切に吐出可能な状態へと回復させることができる。
The
図4は、制御部100およびヘッドユニット200の電気的構成を示す説明図である。制御部100は、検査部102と、記憶部104と、タイマー106と、検査設定部108とを備え、ヘッドユニット200は、シフトレジスター52と、ラッチ回路54と、レベルシフター56と、スイッチ58と、共通電路62,68と、複数のスイッチ64と、検出部290とを備える。
FIG. 4 is an explanatory diagram showing the electrical configuration of the
ヘッドユニット200のシフトレジスター52は、複数の吐出部270における各駆動素子66の動作を指示する指示データを保持する記憶装置である。制御部100からのシフト入力信号SIには、各駆動素子66に対応する指示データがクロック信号SCKに同期して順次出力され、シフトレジスター52には、シフト入力信号SIおよびクロック信号SCKに基づいて、各駆動素子66に対応する指示データが順次格納される。本実施例では、各駆動素子66に対応する指示データは、2ビットのデータであり、[0,0]、[0,1]、[1,0]、[1,1]のいずれかを示す。
The
ヘッドユニット200のラッチ回路54は、制御部100からのラッチ信号LATに基づいて、シフトレジスター52に格納されている各駆動素子66の指示データを保持し、各指示データに応じた論理信号をレベルシフター56に出力する。ラッチ信号LATは、シフトレジスター52に各駆動素子66の指示データの全てが格納されるタイミングで制御部100から出力される。本実施例では、ラッチ回路54は、[0,0]の指示データに応じてLoレベルの論理信号を出力し、[0,1]の指示データに応じてLoレベルに続いてHiレベルの論理信号を出力し、[1,0]の指示データに応じてHiレベルに続いてLoレベルの論理信号を出力し、[1,1]の指示データに応じてHiレベルの論理信号を出力する。
Based on the latch signal LAT from the
ヘッドユニット200のレベルシフター56は、ラッチ回路54から出力される論理信号に応じて、各駆動素子66に接続された複数のスイッチ64の各々に、各スイッチ64をオン・オフ可能なレベルの電圧を出力する。本実施例では、レベルシフター56は、ラッチ回路54からのLoレベルの論理信号に応じてスイッチ64をオフにするレベルの電圧を出力し、ラッチ回路54からのHiレベルの論理信号に応じてスイッチ64をオンにするレベルの電圧を出力する。
The
ヘッドユニット200における複数のスイッチ64は、共通電路62と各駆動素子66との間の電気的な接続をオン・オフする。ヘッドユニット200の共通電路62には、駆動素子66を駆動する駆動信号COMが制御部100から入力される。スイッチ64によって駆動素子66が共通電路62に電気的に接続されたオン状態では、駆動信号COMが駆動素子66の電極662側に印加され、スイッチ64によって駆動素子66が共通電路62から電気的に切り離されたオフ状態では、駆動信号COMは駆動素子66に印加されない。本実施例では、スイッチ64は、トランスミッションゲートによるアナログスイッチである。
The plurality of
ヘッドユニット200のスイッチ58は、各駆動素子66の電極666側に電気的に接続された共通電路68をグランド(接地ライン)に接続する。本実施例では、共通電路68とグランドとの間には、スイッチ58と電気的に並列に抵抗59が接続されており、制御部100から出力される検出実施信号DSELに基づいて、スイッチ58が共通電路68をグランドから電気的に切り離している間、検出部290は、抵抗59に流れる電流に基づく電圧変化をオペアンプで増幅することによって、共通電路68から出力される電気信号HGNDを検出する。これによって、検出部290は、共通電路68の電気信号HGNDとグランドとの間の電圧変化に基づいて、各駆動素子66から共通電路68に印加される起電力を効果的に検出することができる。
The
図5は、制御部100およびヘッドユニット200における各種信号の一例を示す説明図である。図5には、上段から順に、ラッチ信号LAT、切替信号CH、駆動信号COM、および検出実施信号DSELの各時間変化を図示し、その下段に、シフト入力信号SIの指示データに応じて駆動素子66に印加される印加電圧の時間変化を図示した。
FIG. 5 is an explanatory diagram illustrating an example of various signals in the
ラッチ信号LATは、駆動周期TDに応じて立ち上がる論理信号であり、制御部100からラッチ回路54に入力される。駆動周期TDは、各吐出部270における駆動素子66を駆動して印刷媒体90上に1画素を生成する期間に相当する。
The latch signal LAT is a logic signal that rises according to the driving cycle TD, and is input from the
切替信号CHは、ラッチ信号LATに基づいてヘッドユニット200において生成される信号であり、ラッチ信号LATの立ち上がりから規定時間の経過に応じて立ち上がる論理信号である。ラッチ回路54は、ラッチ信号LATの立ち上がりから切替信号CHの立ち上がりまでの第1期間T1の間、シフトレジスター52から受け取った2ビットの指示データにおける1ビット目に応じた論理信号を出力し、切替信号CHの立ち上がりからラッチ信号LATの次の立ち上がりまでの第2期間T2の間、指示データの2ビット目に応じた論理信号を出力する。
The switching signal CH is a signal generated in the
駆動信号COMは、駆動周期TDに同期して周期的に出力される電圧信号であり、制御部100から共通電路62およびスイッチ64を通じて駆動素子66に供給される。駆動信号COMは、第1期間T1では、中間電圧Vcを維持した状態から、中間電圧Vcよりも高い電圧V1にまで立ち上がった後、中間電圧Vcよりも低い電圧V2にまで立ち下がり、再び中間電圧Vcになる。その後の第2期間T2では、駆動信号COMは、中間電圧Vcから、中間電圧Vcよりも高い電圧V1にまで立ち上がった後、中間電圧Vcを維持した状態になる。第1期間T1における駆動信号COMは、吐出部270のノズル48からインク滴を吐出させる印加レベルの信号である。第2期間T2における駆動信号COMは、ノズル48からインク滴を吐出させることなく残留振動を発生させる印加レベルの信号である。
The drive signal COM is a voltage signal that is periodically output in synchronization with the drive cycle TD, and is supplied from the
検出実施信号DSELは、残留振動に基づいて吐出部270を検査する場合に、第2期間T2において駆動信号COMが電圧V1から中間電圧Vcに復帰したタイミングから、第2期間T2が終了する前のタイミングまでの間に立ち下がる論理信号である。検出実施信号DSELが立ち下がると、ヘッドユニット200のスイッチ58は、共通電路68をグランドから電気的に切り離し、ヘッドユニット200の検出部290は、共通電路68の電気信号HGNDを検出する。
When the
シフト入力信号SIの指示データが[0,0]の場合、駆動素子66に印加される印加電圧は、駆動周期TDの間、中間電圧Vcを維持した状態となる。これによって、その駆動素子66に対応する吐出部270においてインク滴は吐出されず、残留振動も発生しない。シフト入力信号SIの指示データ[0,0]は、印刷時に画素を形成しない吐出部270や、残留振動に基づいた検査の実施対象ではない吐出部270に対して設定される。
When the instruction data of the shift input signal SI is [0, 0], the applied voltage applied to the
シフト入力信号SIの指示データが[0,1]の場合、駆動素子66に印加される印加電圧は、第1期間T1において中間電圧Vcを維持した後、第2期間T2において電圧V1に立ち上がる。これによって、その駆動素子66に対応する吐出部270において、インク滴を吐出することなく残留振動を発生させることができる。シフト入力信号SIの指示データ[0,1]は、画素を形成することなく検査を実施する際に、残留振動に基づいた検査の実施対象となる吐出部270に対して設定される。
When the instruction data of the shift input signal SI is [0, 1], the applied voltage applied to the driving
シフト入力信号SIの指示データが[1,0]の場合、駆動素子66に印加される印加電圧は、第1期間T1において電圧V1および電圧V2に変化した後、第2期間T2において中間電圧Vcを維持した状態となる。これによって、その駆動素子66に対応する吐出部270においてインク滴が吐出される。シフト入力信号SIの指示データ[1,0]は、印刷時に画素を形成する吐出部270に対して設定される。
When the instruction data of the shift input signal SI is [1, 0], the applied voltage applied to the driving
シフト入力信号SIの指示データが[1,1]の場合、駆動素子66に印加される印加電圧は、第1期間T1において電圧V1および電圧V2に変化した後、第2期間T2において電圧V1に変化する。これによって、その駆動素子66に対応する吐出部270において、インク滴を吐出させつつ、吐出部270の検査に適した残留振動を発生させることができる。シフト入力信号SIの指示データ[1,1]は、画素を形成しつつ検査を実施する際に、残留振動に基づいた検査の実施対象となる吐出部270に対して設定される。
When the instruction data of the shift input signal SI is [1, 1], the applied voltage applied to the driving
図4の説明に戻り、ヘッドユニット200の検出部290は、吐出部270におけるキャビティー46内のインクの振動であって駆動素子66の駆動により残留する残留振動に応じた電気信号SWを検出する。本実施例では、駆動素子66は、残留振動を感知して残留振動に応じた電気信号SWを出力する感知部として機能し、共通電路68には、残留振動に伴う起電力によって各駆動素子66から出力される電気信号SWが印加される。これによって、検出部290は、共通電路68の電気信号HGNDを検出することによって、残留振動に応じた電気信号を検出することができる。本実施例では、検出部290は、制御部100から出力される検出実施信号DSELに基づいて、共通電路68の電気信号HGNDを検出し、その検出結果として残留振動の検出値を示す検出信号POUTを制御部100に出力する。
Returning to the description of FIG. 4, the
制御部100の検査部102は、ヘッドユニット200の検出部290によって検出された残留振動に基づいて吐出部270を検査する。本実施例では、検査部102は、ヘッドユニット200の検出部290から出力される検出信号POUTに基づいて、吐出部270の状態としてノズル48の目詰まり(インクの気泡混入および増粘)を検査する。本実施例では、検査部102による吐出部270の検査は、検査設定部108によって設定される検査時機に応じて実施されると共に、吐出部270の回復処理中にも吐出部270の回復を確認するために実施される。
The
制御部100の記憶部104には、検査時機データ130および評価基準値140が記憶されている。記憶部104の検査時機データ130は、検査部102による次回の検査の検査時機を示し、検査部102による検査結果に基づいて検査設定部108によって更新される。本実施例では、検査時機データ130の初期値は、プリンター10の工場出荷時に記憶部104に記憶される。記憶部104の評価基準値140は、吐出部270の状態を示す状態量に関する基準値や、吐出部270の状態回復に要する回復処理量に関する基準値を示し、検査設定部108による検査時機データ130の更新に用いられる。本実施例では、評価基準値140は、プリンター10の工場出荷時に記憶部104に記憶される。検査時機データ130および評価基準値140の詳細については後述する。
The
制御部100の検査設定部108は、検査部102の検査結果に基づいて、検査部102による次回の検査の検査時機を設定する。本実施例では、検査設定部108は、検査時機に応じた検査部102による検査結果、および回復処理中における検査部102による検査結果に基づいて、検査部102による次回の検査時機を設定する。本実施例では、検査設定部108は、記憶部104の検査時機データ130を更新することによって、検査部102による次回の検査時機を設定する。
The
本実施例では、検査設定部108は、次回の検査時機として、次回の検査を行うまで待機する期間の長さを設定し、その期間の経過を契機に検査部102が吐出部270の検査を行う。他の実施形態において、検査設定部108は、次回の検査時機として、次回の検査を行う必要がない期間の長さを設定し、その期間の経過後、所定の条件を契機に検査部102が吐出部270の検査を行うとしても良い。
In the present embodiment, the
制御部100のタイマー106は、制御部100において実施される制御処理を管理するために時間を計測(カウント)する。
The
図6は、残留振動に応じた電気信号SWの変化の一例を示す説明図である。図6には、縦軸に電圧、横軸に時間を設定して、電気信号SWg,SWb,SWvを図示した。図6の電気信号SWgは、インクを吐出可能な状態にある単独の吐出部270における残留振動に応じた電気信号SWを示す。
FIG. 6 is an explanatory diagram illustrating an example of a change in the electrical signal SW according to the residual vibration. In FIG. 6, the electric signals SWg, SWb, and SWv are illustrated with the voltage on the vertical axis and the time on the horizontal axis. The electric signal SWg in FIG. 6 indicates the electric signal SW corresponding to the residual vibration in the
ここで、吐出部270における振動板67を想定した単振動の計算モデルに圧力Pを与えた時のステップ応答を体積速度uについて計算すると、次の数式1が得られる。
Here, when the step response when the pressure P is applied to the simple vibration calculation model assuming the
上記の数式1において、流路抵抗rは、供給口44、キャビティー46およびノズル48などの流路形状やこれら流路におけるインクの粘度に依拠し、イナータンスmは、供給口44、キャビティー46およびノズル48などの流路内におけるインクの質量に依拠し、コンプライアンスcは、振動板67の伸縮性に依拠する。
In the
図6の電気信号SWbは、キャビティー46内のインクに気泡が発生したためにインクを吐出できない状態にある単独の吐出部270における残留振動に応じた電気信号SWを示す。キャビティー46内のインクに気泡が発生するとキャビティー46内のインクが少なくなるため、主にイナータンスmが減少する。イナータンスmが減少すると、前述の数式1に示すように、角速度ωが大きくなる。そのため、図6に示すように、電気信号SWbの振動周期は、電気信号SWgよりも短くなり、電気信号SWbにおける最初の半周期を示す時間tf_bは、電気信号SWgにおける最初の半周期を示す時間tf_gよりも短くなる。
The electric signal SWb in FIG. 6 indicates the electric signal SW corresponding to the residual vibration in the
図6の電気信号SWvは、キャビティー46内のインクが増粘したためにインクを吐出できない状態にある単独の吐出部270における残留振動に応じた電気信号SWを示す。キャビティー46内のインクが増粘すると流路抵抗rが増加する。流路抵抗rが増加すると、前述の数式1に示すように、角速度ωが小さくなる。そのため、図6に示すように、電気信号SWvの振動周期は、電気信号SWgよりも長くなり、電気信号SWbにおける最初の半周期を示す時間tf_vは、電気信号SWgにおける最初の半周期を示す時間tf_gよりも長くなる。また、電気信号SWvの減衰量は、電気信号Swgよりも大きくなり、第2半周期の最低振幅と第3半周期の最高振幅との差(ピーク・トゥー・ピーク)を示すPP振幅Vppに関し、電気信号SWvのPP振幅Vpp_vは、電気信号SwgのPP振幅Vpp_gよりも小さな値となる。
The electric signal SWv in FIG. 6 indicates the electric signal SW corresponding to the residual vibration in the
図7は、電気信号SWのPP振幅Vppが変化する様子の一例を示す説明図である。図7には、縦軸にPP振幅Vpp、横軸に経過時間を設定して、電気信号SWのPP振幅Vppが変化する様子を図示した。図7に示すPP振幅Vppの変化は、温度25℃および湿度40%の環境下で、ヘッド280をヘッドキャップ340から開放し続けた状態のものである。
FIG. 7 is an explanatory diagram showing an example of how the PP amplitude Vpp of the electrical signal SW changes. FIG. 7 illustrates how the PP amplitude Vpp of the electric signal SW changes with the PP amplitude Vpp on the vertical axis and the elapsed time on the horizontal axis. The change in the PP amplitude Vpp shown in FIG. 7 is a state in which the
図7に示すように、PP振幅Vppは、ヘッドキャップ340の開放から時間の経過に伴って低下し、特に、ヘッドキャップ340の開放直後から20秒を経過する辺りにかけて比較的急速に低下し、その低下度合は時間の経過に伴って徐々に小さくなる。このPP振幅Vppの低下は、キャビティー46内のインクの水分がノズル48を通じて大気中に放出され、キャビティー46内のインクの粘度が増加することに起因するものと考えられる。
As shown in FIG. 7, the PP amplitude Vpp decreases with the passage of time from the opening of the
図8は、電気信号SWのPP振幅Vppがフラッシング処理によって回復する様子の一例を示す説明図である。図8には、縦軸にPP振幅Vpp、横軸にフラッシング処理の実施回数を設定して、フラッシング処理によって電気信号SWのPP振幅VppがPP振幅Vpp_vからPP振幅Vpp_gにまで回復する様子を図示した。図8のPP振幅Vpp_gは、インクを吐出可能な状態における電気信号SWgのPP振幅を示し、図8のPP振幅Vpp_vは、インクが増粘した状態における電気信号SWvのPP振幅を示す。 FIG. 8 is an explanatory diagram showing an example of how the PP amplitude Vpp of the electrical signal SW is recovered by the flushing process. FIG. 8 illustrates how the PP amplitude Vpp is set on the vertical axis and the number of times the flushing process is performed on the horizontal axis, and the PP amplitude Vpp of the electric signal SW is recovered from the PP amplitude Vpp_v to the PP amplitude Vpp_g by the flushing process. did. The PP amplitude Vpp_g in FIG. 8 indicates the PP amplitude of the electric signal SWg in a state where ink can be ejected, and the PP amplitude Vpp_v in FIG. 8 indicates the PP amplitude of the electric signal SWv in a state where ink is thickened.
図8の評価試験では、吐出部270が、インクが増粘した状態(図6の電気信号SWv)から、インクを吐出可能な状態(図6の電気信号SWg)になるまで、フラッシング処理を繰り返し実施した。フラッシング処理を繰り返し実施することによって、増粘したインクがキャビティー46内からノズル48を通じて排出されるため、図8に示すように、PP振幅Vppは、PP振幅Vpp_vからPP振幅Vpp_gへと徐々に回復する。図8の例では、PP振幅Vpp_vからPP振幅Vpp_gまでの回復に要したフラッシング処理の実施回数は42回であった。
In the evaluation test of FIG. 8, the flushing process is repeated until the
A2.プリンターの動作:
図9は、プリンター10における制御部100が実行する待機処理(ステップS100)を示すフローチャートである。待機処理(ステップS100)は、ヘッドユニット200の待機期間中に吐出部270の検査および回復を実施する処理である。本実施例では、待機処理(ステップS100)は、制御部100のCPUがコンピュータープログラムに基づいて動作することによって実現される。本実施例では、制御部100は、電源投入や印刷終了から所定の時間が経過すると待機処理(ステップS100)を開始し、待機処理(ステップS100)中に印刷指示が入力されると、印刷処理を実行するために待機処理(ステップS100)を中断する。
A2. Printer behavior:
FIG. 9 is a flowchart illustrating a standby process (step S100) executed by the
検査処理(ステップS100)を開始すると、制御部100は、ヘッド280にヘッドキャップ340を取り付けることによってヘッド280をキャッピングする制御を行う(ステップS110)。具体的には、制御部100は、ヘッドユニット200をヘッドキャップ340に対峙する位置に移動させた後、ヘッドユニット200のヘッド280に当接する位置までヘッドキャップ340を移動させる。
When the inspection process (step S100) is started, the
ヘッド280をキャッピングした後(ステップS110)、制御部100は、記憶部104の検査時機データ130に基づいて、吐出部270を検査する次回の検査時機として、次回の検査を行うまで待機する時間を、タイマー106でカウントすべきタイマーカウント値に設定する(ステップS120)。
After capping the head 280 (step S110), the
タイマーカウント値を設定した後(ステップS120)、制御部100は、プリンター10の制御モードを省電力モードに移行する(ステップS122)。省電力モードでは、制御部100は、少なくとも待機処理(ステップS100)を継続可能な範囲でプリンター10の各部に供給される電源を遮断する制御を行う。
After setting the timer count value (step S120), the
省電力モードに移行した後(ステップS122)、制御部100は、タイマー106によるカウントを開始する(ステップS124)。その後、次回の検査時機を示すタイマーカウント値をタイマー106がカウントし終えると(ステップS126:「YES」)、制御部100は、省電力モードを終了し(ステップS128)、検査部102として動作することによって吐出性能検査処理(ステップS200)を実行する。吐出性能検査処理(ステップS200)において、制御部100は、ヘッドユニット200における複数の吐出部270を残留振動に基づいて検査する。
After shifting to the power saving mode (step S122), the
図10は、吐出性能検査処理(ステップS200)の詳細を示すフローチャートである。吐出性能検査処理(ステップS200)を開始すると、制御部100は、複数の吐出部270の一つを検査対象として選定する(ステップS220)。検査対象の吐出部270を選定した後(ステップS220)、制御部100は、駆動制御部として動作することによって、検査対象の吐出部270における駆動素子66を駆動する(ステップS230)。
FIG. 10 is a flowchart showing details of the ejection performance inspection process (step S200). When the ejection performance inspection process (step S200) is started, the
具体的には、制御部100は、検査対象である吐出部270に対応するシフト入力信号SIの指示データに[0,1]を設定し、その他の吐出部270に対応するシフト入力信号SIの指示データに[0,0]を設定して、シフト入力信号SIおよびクロック信号SCKと共に、図5に示すように、ラッチ信号LAT、駆動信号COMおよび検出実施信号DSELをヘッドユニット200に出力する。これによって、検査対象の吐出部270における駆動素子66から残留振動に応じた電気信号SWが共通電路68に印加される。その際に、ヘッドユニット200の検出部290によって検出される共通電路68の電気信号HGNDは、検査対象の吐出部270における残留振動に応じた電気信号SWとなり、検出部290は、その検出結果として電気信号SWの検出値を示す検出信号POUTを制御部100に出力する。
Specifically, the
検査対象の駆動素子66を駆動した後(ステップS230)、制御部100は、ヘッドユニット200の検出部290から出力される検出信号POUTを通じて、電気信号SWの検出値を取得する(ステップS240)。本実施例では、制御部100は、残留振動に応じた電気信号SWの検出値として、電気信号SWにおける最初の半周期を示す時間tf、および電気信号SWにおける第2半周期の最低振幅と第3半周期の最高振幅との差を示すPP振幅Vppを取得する。
After driving the
残留振動の検出値を取得した後(ステップS240)、制御部100は、電気信号SWの検出値に基づいて、検査対象の吐出部270の状態を判定する(ステップS250)。具体的には、制御部100は、残留振動の検出値として取得した時間tfおよびPP振幅Vppが、各検出値の下限閾値から上限閾値までの許容範囲内である場合、検査対象の吐出部270がインクを吐出可能な状態(目詰まり無しの状態)にあると判定する。本実施例では、制御部100は、時間tfが下限閾値よりも小さい場合、インクに気泡が発生したためにインクを吐出できない状態(気泡による目詰まり状態)と判定し、時間tfが上限閾値よりも大きく、かつPP振幅Vppが下限閾値よりも小さい場合、インクが増粘したためにインクを吐出できない状態(増粘による目詰まり状態)と判定する。
After acquiring the residual vibration detection value (step S240), the
検査対象の吐出部270の状態を判定した後(ステップS250)、制御部100は、その判定結果を記憶部104に保存する(ステップS260)。本実施例では、制御部100は、吐出部270の目詰まり状態の有無を判定結果として保存し、目詰まり状態により吐出部270の吐出性能が劣化している場合には、その劣化要因(気泡混入または増粘)、および吐出部270の状態が劣化した度合を示す状態劣化量についても判定結果として保存する。本実施例では、判定結果として保存される吐出部270の状態劣化量は、電気信号SWgに示したインクを吐出可能な状態から時間tfおよびPP振幅Vppの各値が変化した変化量を示す。
After determining the state of the
判定結果を保存した後(ステップS260)、制御部100は、ヘッド280における複数の吐出部270の全てを検査するまで、検査対象の選定(ステップS220)からの処理を繰り返し実行する(ステップS270:「NO」)。ヘッド280における複数の吐出部270の全てを検査すると(ステップS270:「YES」)、制御部100は、吐出性能検査処理(ステップS200)を終了する。
After storing the determination result (step S260), the
図9の説明に戻り、検査時機データ130に基づく検査時機に応じて吐出性能検査処理(ステップS200)を実行した後、制御部100は、吐出部270の吐出機能を回復させる回復処理(ステップS300)を実行する必要があるか否かを、吐出性能検査処理(ステップS200)の検査結果に基づいて判断する(ステップS290)。本実施例では、制御部100は、ヘッド280における複数の吐出部270の少なくとも一つが目詰まり状態(気泡混入または増粘)である場合に回復処理(ステップS300)を実行する。他の実施形態において、制御部100は、目詰まり状態の吐出部270の個数、その劣化要因、ユーザーによる設定条件などに応じて、回復処理(ステップS300)の必要性を判断しても良い。
Returning to the description of FIG. 9, after executing the discharge performance inspection process (Step S200) according to the inspection time based on the
回復処理(ステップS300)を実行する必要がある場合(ステップS290:「YES」)、制御部100は、整備部として動作することによって回復処理(ステップS300)を実行する。回復処理(ステップS300)において、制御部100は、ヘッドキャップ340を用いたフラッシング処理や吸引処理を制御する。
When it is necessary to execute the recovery process (step S300) (step S290: “YES”), the
図11は、回復処理(ステップS300)の詳細を示すフローチャートである。回復処理(ステップS300)を開始すると、制御部100は、回復処理(ステップS300)に要する時間を計測するために、タイマー106によるカウントを開始する(ステップS310)。
FIG. 11 is a flowchart showing details of the recovery process (step S300). When the recovery process (step S300) is started, the
その後、制御部100は、目詰まり状態の吐出部270の劣化要因を判断する(ステップS320)。本実施例では、目詰まり状態の吐出部270が複数ある場合、制御部100は、状態劣化量がより大きな吐出部270を優先して劣化要因を判断する。制御部100は、吐出部270の劣化要因が増粘である場合(ステップS320:「(a)増粘」)にはフラッシング処理を開始し(ステップS312)、吐出部270の劣化要因が気泡混入である場合(ステップS320:「(b)気泡」)には吸引処理を開始する(ステップS314)。
Thereafter, the
フラッシング処理または吸引処理を開始した後(ステップS312,S314)、制御部100は、フラッシング処理または吸引処理による吐出部270の回復状況を確認するために吐出性能検査処理(ステップS320)を実行する。回復処理(ステップS300)における吐出性能検査処理(ステップS320)の詳細は、検査時機データ130に基づく検査時機に応じた図10の吐出性能検査処理(ステップS200)と同様である。
After starting the flushing process or the suction process (steps S312 and S314), the
制御部100は、吐出性能検査処理(ステップS320)の検査結果に基づいて、目詰まり状態と判定された吐出部270の全ての回復を確認するまで、フラッシング処理または吸引処理を継続して実行する(ステップS330:「NO」)。目詰まり状態と判定された吐出部270の全ての回復を確認すると(ステップS330:「YES」)、制御部100は、実行中のフラッシング処理または吸引処理を停止すると共に(ステップS340)、タイマー106によるカウントを停止する(ステップS350)。
The
その後、制御部100は、目詰まり状態と判定された吐出部270の回復に要した回復処理量を、回復処理結果として記憶部104に保存する(ステップS360)。本実施例では、回復処理結果として保存される回復処理量は、回復処理(ステップS300)においてタイマー106によってカウントされたカウント値を示す。
Thereafter, the
回復処理結果を保存した後(ステップS360)、制御部100は、回復処理(ステップS300)を終了する。
After saving the recovery process result (step S360), the
図9の説明に戻り、回復処理(ステップS300)の必要性がある場合(ステップS290:「YES」)には回復処理(ステップS300)を実行した後、回復処理(ステップS300)の必要性がない場合(ステップS290:「NO」)には吐出性能検査処理(ステップS200)を実行した後、制御部100は、検査設定部108として動作することによって検査時機設定処理(ステップS400)を実行する。検査時機設定処理(ステップS400)において、制御部100は、吐出部270の検査結果に基づいて、吐出部270を検査する次回の検査の検査時機を設定する。
Returning to the description of FIG. 9, when there is a need for the recovery process (step S300) (step S290: “YES”), after the recovery process (step S300) is executed, there is a need for the recovery process (step S300). If not (step S290: “NO”), after executing the ejection performance inspection process (step S200), the
図12は、検査時機設定処理(ステップS400)の詳細を示すフローチャートである。検査時機設定処理(ステップS400)を開始すると、制御部100は、吐出性能検査処理(ステップS200)の後に回復処理(ステップS300)を実施したか否かを判断する(ステップS410)。
FIG. 12 is a flowchart showing details of the inspection timing setting process (step S400). When the inspection timing setting process (step S400) is started, the
回復処理(ステップS300)を実施していない場合(ステップS410:「NO」)、制御部100は、吐出部270の状態量の基準値を、記憶部104の評価基準値140から読み出す(ステップS422)。その後、制御部100は、吐出性能検査処理(ステップS200)の検査結果である吐出部270の状態劣化量について、評価基準値140から読み出した基準値に対する偏差を示す状態偏差量を算出する(ステップS424)。
When the recovery process (step S300) is not performed (step S410: “NO”), the
回復処理(ステップS300)を実施した場合(ステップS410:「YES」)、制御部100は、吐出部270の回復処理量の基準値を、記憶部104の評価基準値140から読み出す(ステップS432)。その後、制御部100は、回復処理(ステップS300)の回復処理結果である吐出部270の回復処理量について、評価基準値140から読み出した基準値に対する偏差を示す回復偏差量を算出する(ステップS434)。
When the recovery process (step S300) is performed (step S410: “YES”), the
状態偏差量または回復偏差量を算出した後(ステップS424,S434)、制御部100は、次の数式2に示すPID演算に基づいて、次回の検査を行うまで待機する期間の長さを示す待機時間Tを、次回の検査時機として算出する(ステップS440)。
After calculating the state deviation amount or the recovery deviation amount (steps S424 and S434), the
e:偏差量(状態偏差量または回復偏差量)
Kp:比例定数
Ki:積分定数
Kd:微分定数
de/dt:単位時間当たりの偏差の変化量
Ti:積分時間
e: Deviation (state deviation or recovery deviation)
Kp: proportional constant Ki: integral constant Kd: differential constant
de / dt: Deviation change amount per unit time Ti: Integration time
次回の検査時機を算出した後(ステップS440)、制御部100は、次回の検査時機を示す待機時間Tを、記憶部104の検査時機データ130として保存する(ステップS450)。これによって、記憶部104の検査時機データ130は更新される。次回の検査時機を保存すると(ステップS450)、制御部100は、検査時機設定処理(ステップS400)を終了する。
After calculating the next inspection time (step S440), the
図9の説明に戻り、検査時機設定処理(ステップS400)を実行した後、制御部100は、ヘッドユニット200の待機を終了する場合には待機処理(ステップS100)を終了し(ステップS490:「YES」)、ヘッドユニット200の待機を継続する場合には(ステップS490:「NO」)、タイマー106に対する次回の検査時機の設定(ステップS120)からの処理を繰り返し実行する。
Returning to the description of FIG. 9, after executing the inspection timing setting process (step S <b> 400), the
図13は、待機処理(ステップS100)において設定される検査時機の推移の一例を示す説明図である。図13には、縦軸にPP振幅Vpp、横軸に時間を設定して、検査時機の推移と残留振動のPP振幅Vppとの関係を図示した。図13のPP振幅Vpp_gは、インクを吐出可能な状態における電気信号SWgのPP振幅を示し、図13のPP振幅Vpp_rvは、評価基準値140として記憶部104に記憶されているPP振幅に関する状態量の基準値を示す。
FIG. 13 is an explanatory diagram showing an example of the transition of the inspection timing set in the standby process (step S100). FIG. 13 illustrates the relationship between the transition of the inspection timing and the PP amplitude Vpp of the residual vibration, with the PP amplitude Vpp on the vertical axis and the time on the horizontal axis. The PP amplitude Vpp_g in FIG. 13 indicates the PP amplitude of the electric signal SWg in a state where ink can be ejected, and the PP amplitude Vpp_rv in FIG. 13 is a state quantity related to the PP amplitude stored in the
図13に示す例では、待機処理(ステップS100)の開始時点Rcv10では、残留振動のPP振幅Vppは、回復処理(ステップS300)によってPP振幅Vpp_gの値にまで回復した状態であり、次回の検査時機には待機時間Tsb11を設定する。 In the example shown in FIG. 13, at the start time Rcv10 of the standby process (step S100), the PP amplitude Vpp of the residual vibration has been recovered to the value of the PP amplitude Vpp_g by the recovery process (step S300). A standby time Tsb11 is set as the occasion.
開始時点Rcv10から待機時間Tsb11が経過すると、1回目の吐出性能検査処理(ステップS200)を実施する(検査時点Isp11)。この検査時点Isp11では、1回目の吐出性能検査処理(ステップS200)の検査結果から吐出部270の状態劣化量Dm11を得る。検査時点Isp11では、残留振動のPP振幅Vppは、開始時点Rcv10よりも小さいが、基準値であるPP振幅Vpp_rvよりも大きいため、回復処理(ステップS300)を実施しない。その後の検査時機設定処理(ステップS400)では、基準値であるPP振幅Vpp_rvからの状態劣化量Dm11の偏差を示す状態偏差量Dv11を算出し、その状態偏差量Dv11からPID演算に基づいて待機時間Tsb12を設定する。本実施例では、検査時点Isp11で設定される待機時間Tsb12は、開始時点Rcv10で設定された待機時間Tsb11よりも長い時間である。
When the standby time Tsb11 elapses from the start time Rcv10, the first discharge performance inspection process (step S200) is performed (inspection time Isp11). At this inspection time point Isp11, the state deterioration amount Dm11 of the
検査時点Isp11から待機時間Tsb12が経過すると、2回目の吐出性能検査処理(ステップS200)を実施する(検査時点Isp12)。この検査時点Isp12では、2回目の吐出性能検査処理(ステップS200)の検査結果から吐出部270の状態劣化量Dm12を得る。検査時点Isp12では、残留振動のPP振幅Vppは、検査時点Isp11よりも小さいが、基準値であるPP振幅Vpp_rvよりも大きいため、回復処理(ステップS300)を実施しない。その後の検査時機設定処理(ステップS400)では、基準値であるPP振幅Vpp_rvからの状態劣化量Dm12の偏差を示す状態偏差量Dv12を算出し、その状態偏差量Dv12からPID演算に基づいて待機時間Tsb13を設定する。本実施例では、検査時点Isp12で設定される待機時間Tsb13は、検査時点Isp11で設定された待機時間Tsb12よりも長い時間である。
When the standby time Tsb12 elapses from the inspection time point Isp11, the second ejection performance inspection process (step S200) is performed (inspection time point Isp12). At this inspection time point Isp12, the state deterioration amount Dm12 of the
検査時点Isp12から待機時間Tsb13が経過すると、3回目の吐出性能検査処理(ステップS200)を実施する(検査時点Isp13)。この検査時点Isp13では、3回目の吐出性能検査処理(ステップS200)の検査結果から吐出部270の状態劣化量Dm13を得る。検査時点Isp13では、残留振動のPP振幅Vppは、基準値であるPP振幅Vpp_rvよりも小さいため、回復処理(ステップS300)を実施する。
When the standby time Tsb13 elapses from the inspection time point Isp12, a third ejection performance inspection process (step S200) is performed (inspection time point Isp13). At this inspection time point Isp13, the state deterioration amount Dm13 of the
検査時点Isp13に続いて回復処理(ステップS300)を終えた回復時点Rcv14では、残留振動のPP振幅Vppは、回復処理(ステップS300)によってPP振幅Vpp_gの値にまで回復し、その回復に要した経過時間を示す回復処理量Trc14を回復処理結果として得る。その後の検査時機設定処理(ステップS400)では、基準値である回復処理量Trc_rvからの回復処理量Trc14の偏差を示す回復偏差量Dv14を算出し、その回復偏差量Dv14からPID演算に基づいて待機時間Tsb15を設定する。なお、回復処理量Trc_rvは、評価基準値140として記憶部104に記憶されている回復処理量の基準値を示す。本実施例では、回復時点Rcv14で設定される待機時間Tsb15は、検査時点Isp12で設定された待機時間Tsb13よりも短い時間である。
At the recovery time Rcv14 when the recovery process (step S300) is completed following the inspection time Isp13, the PP amplitude Vpp of the residual vibration is recovered to the value of the PP amplitude Vpp_g by the recovery process (step S300), and is required for the recovery. A recovery processing amount Trc14 indicating the elapsed time is obtained as a recovery processing result. In the subsequent inspection timing setting process (step S400), a recovery deviation amount Dv14 indicating a deviation of the recovery processing amount Trc14 from the recovery processing amount Trc_rv, which is the reference value, is calculated, and standby is performed from the recovery deviation amount Dv14 based on the PID calculation. Time Tsb15 is set. Note that the recovery processing amount Trc_rv indicates the reference value of the recovery processing amount stored in the
本実施例では、回復時点Rcv14において回復処理量Trc14に基づいて待機時間Tsb15を算出したが、他の実施形態において、検査時点Isp11,Isp12と同様に、検査時点Isp13における状態劣化量Dm13から状態偏差量Dv13を算出して待機時間Tsb15を算出しても良いし、回復処理量Trc14および状態偏差量Dv13の両方を考慮して待機時間Tsb15を算出しても良い。 In this embodiment, the standby time Tsb15 is calculated based on the recovery processing amount Trc14 at the recovery time point Rcv14. However, in other embodiments, the state deviation from the state deterioration amount Dm13 at the inspection time point Isp13 is similar to the inspection time points Isp11 and Isp12. The waiting time Tsb15 may be calculated by calculating the amount Dv13, or the waiting time Tsb15 may be calculated in consideration of both the recovery processing amount Trc14 and the state deviation amount Dv13.
図14は、待機処理(ステップS100)において設定される検査時機の推移の一例を示す説明図である。図14には、縦軸にPP振幅Vpp、横軸に時間を設定して、検査時機の推移と残留振動のPP振幅Vppとの関係を図示した。図14のPP振幅Vpp_gは、インクを吐出可能な状態における電気信号SWgのPP振幅を示し、図14のPP振幅Vpp_rvは、評価基準値140として記憶部104に記憶されているPP振幅に関する状態量の基準値を示す。
FIG. 14 is an explanatory diagram showing an example of the transition of the inspection timing set in the standby process (step S100). FIG. 14 illustrates the relationship between the transition of the inspection timing and the PP amplitude Vpp of the residual vibration, with the PP amplitude Vpp on the vertical axis and the time on the horizontal axis. The PP amplitude Vpp_g in FIG. 14 indicates the PP amplitude of the electric signal SWg in a state where ink can be ejected, and the PP amplitude Vpp_rv in FIG. 14 is a state quantity related to the PP amplitude stored in the
図14に示す例では、待機処理(ステップS100)の開始時点Rcv30では、残留振動のPP振幅Vppは、回復処理(ステップS300)によってPP振幅Vpp_gの値にまで回復した状態であり、次回の検査時機には待機時間Tsb31を設定する。 In the example shown in FIG. 14, at the start time Rcv30 of the standby process (step S100), the PP amplitude Vpp of the residual vibration is recovered to the value of the PP amplitude Vpp_g by the recovery process (step S300). A standby time Tsb31 is set as the occasion.
開始時点Rcv30から待機時間Tsb31が経過すると、1回目の吐出性能検査処理(ステップS200)を実施する(検査時点Isp31)。この検査時点Isp31では、残留振動のPP振幅Vppは、基準値であるPP振幅Vpp_rvよりも小さいため、1回目の回復処理(ステップS300)を実施する。 When the standby time Tsb31 elapses from the start time Rcv30, the first ejection performance inspection process (step S200) is performed (inspection time Isp31). Since the PP amplitude Vpp of the residual vibration is smaller than the reference value PP amplitude Vpp_rv at the inspection time point Isp31, the first recovery process (step S300) is performed.
検査時点Isp31に続いて回復処理(ステップS300)を終えた回復時点Rcv32では、残留振動のPP振幅Vppは、1回目の回復処理(ステップS300)によってPP振幅Vpp_gの値にまで回復し、その回復に要した経過時間を示す回復処理量Trc32を回復処理結果として得る。本実施例では、回復時点Rcv32における回復処理量Trc32は、基準値である回復処理量Trc_rvよりも大きい。その後の検査時機設定処理(ステップS400)では、基準値である回復処理量Trc_rvからの回復処理量Trc32の偏差を示す回復偏差量Dv32を算出し、その回復偏差量Dv32からPID演算に基づいて待機時間Tsb33を設定する。本実施例では、回復時点Rcv32で設定される待機時間Tsb33は、開始時点Rcv30で設定された待機時間Tsb31よりも短い時間である。 At the recovery time Rcv32 where the recovery processing (step S300) is completed following the inspection time Isp31, the PP amplitude Vpp of the residual vibration is recovered to the value of the PP amplitude Vpp_g by the first recovery processing (step S300). The recovery processing amount Trc32 indicating the elapsed time required for the recovery processing is obtained as the recovery processing result. In the present embodiment, the recovery processing amount Trc32 at the recovery time point Rcv32 is larger than the recovery processing amount Trc_rv that is the reference value. In the subsequent inspection timing setting process (step S400), a recovery deviation amount Dv32 indicating a deviation of the recovery processing amount Trc32 from the recovery processing amount Trc_rv, which is the reference value, is calculated, and standby is performed from the recovery deviation amount Dv32 based on the PID calculation. Time Tsb33 is set. In the present embodiment, the standby time Tsb33 set at the recovery time Rcv32 is shorter than the standby time Tsb31 set at the start time Rcv30.
回復時点Rcv32から待機時間Tsb33が経過すると、2回目の吐出性能検査処理(ステップS200)を実施する(検査時点Isp33)。この検査時点Isp33では、残留振動のPP振幅Vppは、基準値であるPP振幅Vpp_rvよりも小さいため、2回目の回復処理(ステップS300)を実施する。 When the standby time Tsb33 elapses from the recovery time Rcv32, the second ejection performance inspection process (step S200) is performed (inspection time Isp33). Since the PP amplitude Vpp of the residual vibration is smaller than the reference value PP amplitude Vpp_rv at the inspection time point Isp33, the second recovery process (step S300) is performed.
検査時点Isp33に続いて回復処理(ステップS300)を終えた回復時点Rcv34では、残留振動のPP振幅Vppは、2回目の回復処理(ステップS300)によってPP振幅Vpp_gの値にまで回復し、その回復に要した経過時間を示す回復処理量Trc34を回復処理結果として得る。本実施例では、回復時点Rcv34における回復処理量Trc34は、回復時点Rcv32における回復処理量Trc32よりは小さくなったが、基準値である回復処理量Trc_rvよりも大きい。その後の検査時機設定処理(ステップS400)では、基準値である回復処理量Trc_rvからの回復処理量Trc34の偏差を示す回復偏差量Dv34を算出し、その回復偏差量Dv34からPID演算に基づいて待機時間Tsb35を設定する。本実施例では、回復時点Rcv34で設定される待機時間Tsb35は、回復時点Rcv32で設定された待機時間Tsb33よりも短い時間である。 At the recovery time Rcv34 when the recovery process (step S300) is completed following the inspection time Isp33, the PP amplitude Vpp of the residual vibration is recovered to the value of the PP amplitude Vpp_g by the second recovery process (step S300). A recovery processing amount Trc34 indicating the elapsed time required for the recovery processing is obtained as a recovery processing result. In this embodiment, the recovery processing amount Trc34 at the recovery time point Rcv34 is smaller than the recovery processing amount Trc32 at the recovery time point Rcv32, but is larger than the recovery processing amount Trc_rv that is the reference value. In the subsequent inspection timing setting process (step S400), a recovery deviation amount Dv34 indicating a deviation of the recovery processing amount Trc34 from the recovery processing amount Trc_rv, which is the reference value, is calculated, and standby is performed from the recovery deviation amount Dv34 based on the PID calculation. Time Tsb35 is set. In the present embodiment, the standby time Tsb35 set at the recovery time Rcv34 is shorter than the standby time Tsb33 set at the recovery time Rcv32.
回復時点Rcv34から待機時間Tsb35が経過すると、3回目の吐出性能検査処理(ステップS200)を実施する(検査時点Isp35)。この検査時点Isp35では、残留振動のPP振幅Vppは、基準値であるPP振幅Vpp_rvと同等であるため、3回目の回復処理(ステップS300)を実施する。 When the standby time Tsb35 has elapsed from the recovery time Rcv34, the third ejection performance inspection process (step S200) is performed (inspection time Isp35). Since the PP amplitude Vpp of the residual vibration is equal to the reference value PP amplitude Vpp_rv at the inspection time point Isp35, the third recovery process (step S300) is performed.
検査時点Isp35に続いて回復処理(ステップS300)を終えた回復時点Rcv36では、残留振動のPP振幅Vppは、3回目の回復処理(ステップS300)によってPP振幅Vpp_gの値にまで回復し、その回復に要した経過時間を示す回復処理量Trc36を回復処理結果として得る。本実施例では、回復時点Rcv36における回復処理量Trc36は、回復時点Rcv34における回復処理量Trc34よりは小さくなり、基準値である回復処理量Trc_rvと同等である。そのため、基準値である回復処理量Trc_rvからの回復処理量Trc36の偏差を示す回復偏差量Dv36は「0」となり、その後の検査時機設定処理(ステップS400)で算出される待機時間Trc37は、回復時点Rcv34で設定された待機時間Tsb35と同等の値になる。 At the recovery time Rcv36 where the recovery process (step S300) is completed following the inspection time Isp35, the PP amplitude Vpp of the residual vibration is recovered to the value of the PP amplitude Vpp_g by the third recovery process (step S300). A recovery processing amount Trc36 indicating the elapsed time required for the recovery processing is obtained as a recovery processing result. In this embodiment, the recovery processing amount Trc36 at the recovery time point Rcv36 is smaller than the recovery processing amount Trc34 at the recovery time point Rcv34, and is equivalent to the recovery processing amount Trc_rv that is the reference value. Therefore, the recovery deviation amount Dv36 indicating the deviation of the recovery processing amount Trc36 from the recovery processing amount Trc_rv that is the reference value becomes “0”, and the standby time Trc37 calculated in the subsequent inspection timing setting processing (step S400) is recovered. It becomes a value equivalent to the standby time Tsb35 set at the time point Rcv34.
A3.効果:
以上説明した第1実施例のプリンター10によれば、吐出性能検査処理(ステップS200,S320)の検査結果に基づいて、次回の吐出性能検査処理(ステップS200)の検査時機を設定する検査時機設定処理(ステップS400)を行うことから、吐出部270の状態に応じて吐出部270の検査時機を調整することができる。
A3. effect:
According to the
また、検査時機に応じた実施される吐出性能検査処理(ステップS200)の検査結果に基づいて判断される吐出部270の状態量に応じて、次回の検査時機を設定することにより(ステップS424)、検査時機に応じた吐出部270の検査結果に基づいて吐出部270の検査時機を調整することができる。
Further, by setting the next inspection time according to the state quantity of the
また、回復処理(ステップS300)における吐出性能検査処理(ステップS320)の検査結果に基づいて判断される回復処理量に応じて、次回の検査時機を設定することにより(ステップS434)、回復処理(ステップS300)における吐出性能検査処理(ステップS320)の検査結果に基づいて吐出部270の検査時機を調整することができる。
Further, by setting the next inspection timing according to the recovery processing amount determined based on the inspection result of the ejection performance inspection processing (step S320) in the recovery processing (step S300), the recovery processing (step S434) is performed. The inspection timing of the
また、吐出部270からインクを吐出させずに残留振動を発生させる態様で駆動素子66の駆動を制御するため(ステップS230)、インクの消費量を抑制することができる。
In addition, since the drive of the
B.第2実施例:
第2実施例のプリンター10は、次回の検査時機の設定手法が異なる点を除き、第1実施例と同様である。第1実施例では、回復処理(ステップS300)を実施した場合に、その回復処理量に基づいて次回の検査時機を設定したが、第2実施例では、回復処理(ステップS300)を実施した場合であっても吐出部270の状態劣化量に基づいて次回の検査時機を設定する。
B. Second embodiment:
The
図15は、第2実施例の待機処理(ステップS100)において設定される検査時機の推移の一例を示す説明図である。図15には、縦軸にPP振幅Vpp、横軸に時間を設定して、検査時機の推移と残留振動のPP振幅Vppとの関係を図示した。図15のPP振幅Vpp_gは、インクを吐出可能な状態における電気信号SWgのPP振幅を示し、図15のPP振幅Vpp_rvは、評価基準値140として記憶部104に記憶されているPP振幅に関する状態量の基準値を示す。
FIG. 15 is an explanatory diagram illustrating an example of the transition of the inspection timing set in the standby process (step S100) of the second embodiment. FIG. 15 illustrates the relationship between the transition of the inspection timing and the PP amplitude Vpp of the residual vibration, with the PP amplitude Vpp on the vertical axis and the time on the horizontal axis. The PP amplitude Vpp_g in FIG. 15 indicates the PP amplitude of the electrical signal SWg in a state where ink can be ejected, and the PP amplitude Vpp_rv in FIG. 15 is a state quantity related to the PP amplitude stored in the
図15に示す例では、待機処理(ステップS100)の開始時点Rcv20では、残留振動のPP振幅Vppは、回復処理(ステップS300)によってPP振幅Vpp_gの値にまで回復した状態であり、次回の検査時機には待機時間Tsb21を設定する。 In the example shown in FIG. 15, at the start time Rcv20 of the standby process (step S100), the PP amplitude Vpp of the residual vibration is recovered to the value of the PP amplitude Vpp_g by the recovery process (step S300). A standby time Tsb21 is set as the occasion.
開始時点Rcv20から待機時間Tsb21が経過すると、1回目の吐出性能検査処理(ステップS200)を実施する(検査時点Isp21)。この検査時点Isp21では、1回目の吐出性能検査処理(ステップS200)の検査結果から吐出部270の状態劣化量Dm21を得る。検査時点Isp21では、残留振動のPP振幅Vppは、基準値であるPP振幅Vpp_rvよりも小さいため、1回目の回復処理(ステップS300)を実施する。
When the standby time Tsb21 elapses from the start time Rcv20, the first ejection performance inspection process (step S200) is performed (inspection time Isp21). At this inspection time point Isp21, the state deterioration amount Dm21 of the
検査時点Isp21に続いて回復処理(ステップS300)を終えた回復時点Rcv22では、残留振動のPP振幅Vppは、1回目の回復処理(ステップS300)によってPP振幅Vpp_gの値にまで回復する。その後の検査時機設定処理(ステップS400)では、基準値であるPP振幅Vpp_rvからの状態劣化量Dm21の偏差を示す状態偏差量Dv21を算出し、その状態偏差量Dv21からPID演算に基づいて待機時間Tsb23を設定する。本実施例では、回復時点Rcv22で設定される待機時間Tsb23は、開始時点Rcv20で設定された待機時間Tsb21よりも短い時間である。 At the recovery time Rcv22 where the recovery process (step S300) is completed following the inspection time Isp21, the PP amplitude Vpp of the residual vibration is recovered to the value of the PP amplitude Vpp_g by the first recovery process (step S300). In the subsequent inspection timing setting process (step S400), a state deviation amount Dv21 indicating a deviation of the state deterioration amount Dm21 from the PP amplitude Vpp_rv which is the reference value is calculated, and the standby time is calculated from the state deviation amount Dv21 based on the PID calculation. Tsb23 is set. In this embodiment, the standby time Tsb23 set at the recovery time point Rcv22 is shorter than the standby time Tsb21 set at the start time point Rcv20.
回復時点Rcv22から待機時間Tsb23が経過すると、2回目の吐出性能検査処理(ステップS200)を実施する(検査時点Isp23)。この検査時点Isp23では、2回目の吐出性能検査処理(ステップS200)の検査結果から吐出部270の状態劣化量Dm23を得る。検査時点Isp23の状態劣化量Dm23は、検査時点Isp21の状態劣化量Dm21よりも小さい。検査時点Isp23における残留振動のPP振幅Vppは、基準値であるPP振幅Vpp_rvよりも小さいため、2回目の回復処理(ステップS300)を実施する。
When the standby time Tsb23 has elapsed from the recovery time Rcv22, the second ejection performance inspection process (step S200) is performed (inspection time Isp23). At this inspection time point Isp23, the state deterioration amount Dm23 of the
検査時点Isp23に続いて回復処理(ステップS300)を終えた回復時点Rcv24では、残留振動のPP振幅Vppは、2回目の回復処理(ステップS300)によってPP振幅Vpp_gの値にまで回復する。その後の検査時機設定処理(ステップS400)では、基準値であるPP振幅Vpp_rvからの状態劣化量Dm23の偏差を示す状態偏差量Dv23を算出し、その状態偏差量Dv23からPID演算に基づいて待機時間Tsb25を設定する。本実施例では、回復時点Rcv24で設定される待機時間Tsb25は、回復時点Rcv22で設定された待機時間Tsb23よりも短い時間である。 At the recovery time Rcv24 when the recovery process (step S300) is completed following the inspection time Isp23, the PP amplitude Vpp of the residual vibration is recovered to the value of the PP amplitude Vpp_g by the second recovery process (step S300). In the subsequent inspection timing setting process (step S400), a state deviation amount Dv23 indicating a deviation of the state deterioration amount Dm23 from the PP amplitude Vpp_rv which is the reference value is calculated, and the standby time is calculated from the state deviation amount Dv23 based on the PID calculation. Tsb25 is set. In this embodiment, the standby time Tsb25 set at the recovery time point Rcv24 is shorter than the standby time Tsb23 set at the recovery time point Rcv22.
回復時点Rcv24から待機時間Tsb25が経過すると、3回目の吐出性能検査処理(ステップS200)を実施する(検査時点Isp25)。この検査時点Isp25では、3回目の吐出性能検査処理(ステップS200)の検査結果から吐出部270の状態劣化量Dm25を得る。検査時点Isp25の状態劣化量Dm25は、検査時点Isp23の状態劣化量Dm23よりも小さい。検査時点Isp23における残留振動のPP振幅Vppは、基準値であるPP振幅Vpp_rvと同等であるため、3回目の回復処理(ステップS300)を実施する。
When the standby time Tsb25 has elapsed from the recovery time Rcv24, a third ejection performance inspection process (step S200) is performed (inspection time Isp25). At this inspection time point Isp25, the state deterioration amount Dm25 of the
検査時点Isp25に続いて回復処理(ステップS300)を終えた回復時点Rcv26では、残留振動のPP振幅Vppは、3回目の回復処理(ステップS300)によってPP振幅Vpp_gの値にまで回復する。基準値であるPP振幅Vpp_rvからの状態劣化量Dm25の偏差を示す状態偏差量Dv25は「0」であるため、その後の検査時機設定処理(ステップS400)で算出される待機時間Trc27は、回復時点Rcv24で設定された待機時間Tsb25と同等の値になる。 At the recovery time Rcv26 where the recovery process (step S300) is completed following the inspection time Isp25, the PP amplitude Vpp of the residual vibration is recovered to the value of the PP amplitude Vpp_g by the third recovery process (step S300). Since the state deviation amount Dv25 indicating the deviation of the state deterioration amount Dm25 from the PP amplitude Vpp_rv which is the reference value is “0”, the standby time Trc27 calculated in the subsequent inspection timing setting process (step S400) is the recovery time point. It becomes a value equivalent to the standby time Tsb25 set by Rcv24.
以上説明した第2実施例のプリンター10によれば、吐出性能検査処理(ステップS200)の検査結果に基づいて、次回の吐出性能検査処理(ステップS200)の検査時機を設定する検査時機設定処理(ステップS400)を行うことから、第1実施例と同様に、吐出部270の状態に応じて吐出部270の検査時機を調整することができる。
According to the
C.その他の実施形態:
以上、本発明の実施の形態について説明したが、本発明はこうした実施の形態に何ら限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲内において様々な形態で実施し得ることは勿論である。
C. Other embodiments:
As mentioned above, although embodiment of this invention was described, this invention is not limited to such embodiment at all, Of course, it can implement with various forms within the range which does not deviate from the meaning of this invention. is there.
例えば、上述の実施例では、吐出部270における残留振動を感知する感知部として駆動素子66を利用したが、他の実施形態において、駆動素子66とは別に、残留振動を感知する専用のセンサーを適用しても良い。
For example, in the above-described embodiment, the driving
また、制御部100は、検査部102による検査結果に基づいて、検査部102による次回の検査において残留振動を発生させる際に吐出部270からインクを吐出させるか否かを判断する吐出判断部として動作しても良い。これによって、吐出部270の状態に応じて吐出部270の検査時機を調整した上で、吐出部270の状態に応じた吐出部270の検査を実施することができる。
Further, the
また、上述の実施例では、インク滴を吐出させることなく残留振動を発生させる印加レベルで駆動素子66を駆動させて残留振動を検出したが、他の実施形態において、インク滴を吐出させる印加レベルで駆動素子66を駆動させて残留振動を検出しても良い。
Further, in the above-described embodiment, the residual vibration is detected by driving the
また、上述の実施例では、印刷媒体90に対する印刷とは異なるタイミングで吐出性能検査処理(ステップS200)を実施したが、他の実施形態において、印刷媒体90に対する印刷を実行中に、残留振動に応じた電気信号SWに基づいて吐出部270を検査しても良い。
In the above-described embodiment, the ejection performance inspection process (step S200) is performed at a timing different from that for printing on the print medium 90. However, in another embodiment, residual vibration occurs during printing on the print medium 90. The
また、上述の実施例では、残留振動における最初の半周期を示す時間tfおよびPP振幅Vppに基づいて吐出性能検査処理(ステップS200)を実施したが、他の実施形態において、残留振動の周期、位相および振幅の少なくとも一つに基づいて吐出性能検査処理(ステップS200)を実施しても良い。 In the above-described embodiment, the ejection performance inspection process (step S200) is performed based on the time tf indicating the first half cycle of the residual vibration and the PP amplitude Vpp. However, in other embodiments, the period of the residual vibration, The ejection performance inspection process (step S200) may be performed based on at least one of the phase and the amplitude.
上述した実施例では、液体吐出装置の一例として、インクを吐出するインクジェットプリンターについて説明したが、本発明の液体吐出装置が吐出する液体は、インクに限るものではなく、各種の液体の他、液体中や気体中に固体が分散した状態の流体であっても良い。例えば、本発明は、インクジェット方式のプリンターに限るものではなく、他の方式のプリンターに適用することもできる。また、液晶ディスプレー、有機EL(Electro Luminescence)ディスプレー、および面発光ディスプレー(Field Emission Display、FED)等の製造に用いられ、電極材や色材などの材料を分散や溶解の状態で含む液状体を吐出する吐出装置に適用することもできる。また、バイオチップの製造に用いられ、生体有機物を含有する液体を吐出する吐出装置に適用することもできる。また、精密ピペットとして用いられ、試料となる液体を吐出する吐出装置に適用することもできる。また、時計やカメラ等の精密機械にピンポイントで潤滑油を吐出する吐出装置や、光通信素子に用いられる微小半球レンズ(光学レンズ)を形成するために紫外線硬化性樹脂を始めとする透明樹脂液を吐出する吐出装置に適用することもできる。また、ウェハーをエッチングするためのエッチング液を吐出する吐出装置や、トナーを始めとする粉体を吐出する吐出装置に適用することもできる。 In the above-described embodiments, the ink jet printer that ejects ink has been described as an example of the liquid ejecting apparatus. However, the liquid ejected by the liquid ejecting apparatus of the present invention is not limited to ink. It may be a fluid in which a solid is dispersed in or inside a gas. For example, the present invention is not limited to an ink jet printer, and can be applied to other printers. Also used in the manufacture of liquid crystal displays, organic EL (Electro Luminescence) displays, and surface emission displays (Field Emission Displays, FEDs), etc., and liquid materials containing materials such as electrode materials and color materials in a dispersed or dissolved state. The present invention can also be applied to a discharge device that discharges. Further, the present invention can be applied to a discharge device that is used for manufacturing a biochip and discharges a liquid containing a biological organic material. Further, it can be applied to a discharge device that is used as a precision pipette and discharges a liquid as a sample. Transparent resins such as ultraviolet curable resins are used to form a dispensing device that dispenses lubricant oil to precision machines such as watches and cameras, and micro hemispherical lenses (optical lenses) used in optical communication elements. The present invention can also be applied to a discharge device that discharges liquid. Further, the present invention can be applied to a discharge device that discharges an etching solution for etching a wafer or a discharge device that discharges powder such as toner.
10…プリンター
40…導入路
42…リザーバー
44…供給口
46…キャビティー
48,48k,48c,48m,48y…ノズル
52…シフトレジスター
54…ラッチ回路
56…レベルシフター
58…スイッチ
59…抵抗
62…共通電路
64…スイッチ
66…駆動素子
67…振動板
68…共通電路
90…印刷媒体
100…制御部
102…検査部
104…記憶部
106…タイマー
108…検査設定部
130…検査時機データ
140…評価基準値
170…フレキシブルケーブル
180…ユーザーインターフェイス
190…通信インターフェイス
200…ヘッドユニット
210…キャリッジ
220…インクカートリッジ
270…吐出部
280…ヘッド
290…検出部
312…キャリッジモーター
314…駆動ベルト
322…搬送モーター
324…プラテン
330…ヘッドワイパー
340…ヘッドキャップ
662…電極
664…圧電体
666…電極
DESCRIPTION OF
Claims (7)
前記キャビティー内の液体の振動であって前記駆動素子の駆動により残留する残留振動を検出する検出部と、
前記残留振動に基づいて前記吐出部を検査する検査部と、
前記検査部による検査結果に基づいて、前記検査部による次回の検査の検査時機を設定する検査設定部と
を備える液体吐出装置。 A discharge section that discharges the liquid in the cavity from the nozzle communicating with the cavity by driving a drive element;
A detection unit for detecting a residual vibration caused by driving of the driving element, which is vibration of the liquid in the cavity;
An inspection unit for inspecting the discharge unit based on the residual vibration;
A liquid ejection apparatus comprising: an inspection setting unit that sets an inspection timing for a next inspection by the inspection unit based on an inspection result by the inspection unit.
更に、前記検査部による検査結果に基づいて前記吐出部を整備する整備部を備え、
前記検査設定部は、前記整備部による前記吐出部の整備中における前記検査部による検査結果に基づいて判断される前記整備部の処理量に応じて、前記検査時機を設定する、液体吐出装置。 The liquid ejection device according to claim 1 or 2, wherein
Furthermore, a maintenance part for maintaining the discharge part based on the inspection result by the inspection part is provided,
The liquid ejection apparatus, wherein the inspection setting unit sets the inspection time according to a processing amount of the maintenance unit determined based on an inspection result by the inspection unit during maintenance of the discharge unit by the maintenance unit.
前記キャビティー内の液体の振動であって前記駆動素子の駆動により残留する残留振動を検出する検出工程と、
前記残留振動に基づいて前記吐出部を検査する検査工程と、
前記検査工程による検査結果に基づいて、前記検査工程による次回の検査の検査時機を設定する検査設定工程と
を備える検査方法。 An inspection method for inspecting a discharge part that discharges the liquid in the cavity by driving a drive element from a nozzle communicating with the cavity,
A detection step of detecting residual vibrations due to the vibration of the liquid in the cavity and remaining due to the driving of the driving element;
An inspection step of inspecting the discharge unit based on the residual vibration;
An inspection setting step of setting an inspection timing for a next inspection by the inspection step based on an inspection result by the inspection step.
前記キャビティー内の液体の振動であって前記駆動素子の駆動により残留する残留振動を検出する検出機能と、
前記残留振動に基づいて前記吐出部を検査する検査機能と、
前記検査機能による検査結果に基づいて、前記検査機能による次回の検査の検査時機を設定する検査設定機能と
を実現させるためのプログラム。 A program for causing a computer to realize a function of inspecting a discharge unit that discharges liquid in the cavity by driving a drive element from a nozzle communicating with the cavity,
A detection function for detecting residual vibration which is vibration of the liquid in the cavity and remains due to driving of the driving element;
An inspection function for inspecting the discharge unit based on the residual vibration;
A program for realizing an inspection setting function for setting an inspection timing for a next inspection by the inspection function based on an inspection result by the inspection function.
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP5765030B2 JP5765030B2 (en) | 2015-08-19 |
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