JP2012208024A5 - 蛍光体の蛍光スペクトルの測定方法及び測定装置、蛍光体並びに発光装置の製造方法 - Google Patents
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試料の形状としては、特に限定はされないが、板状に成形された板状試料等が例示できる。
また、本発明の蛍光体は、上述した蛍光体の蛍光スペクトルの測定方法によって蛍光スペクトルを測定することにより選別された蛍光体であることを特徴とする。
また、本発明の発光装置の製造方法は、上述した蛍光体の蛍光スペクトルの測定方法によって複数の蛍光体の蛍光スペクトルをそれぞれ測定し、測定した蛍光スペクトルが同じである各蛍光体を、発光素子と封止材中に分散された状態の蛍光体とを用いる発光装置に該蛍光体として選定して実装することを特徴とする。
また、本発明の蛍光体は、上述した蛍光体の蛍光スペクトルの測定方法によって蛍光スペクトルを測定することにより選別された蛍光体であることを特徴とする。
また、本発明の発光装置の製造方法は、上述した蛍光体の蛍光スペクトルの測定方法によって複数の蛍光体の蛍光スペクトルをそれぞれ測定し、測定した蛍光スペクトルが同じである各蛍光体を、発光素子と封止材中に分散された状態の蛍光体とを用いる発光装置に該蛍光体として選定して実装することを特徴とする。
Claims (10)
- 封止材中に分散させて発光装置に用いられる蛍光体の蛍光スペクトルの測定方法であって、
前記封止材中に前記蛍光体を分散させた試料(11)を作製し、
前記試料(11)に照射光(i)を透過するように照射し、
前記試料(11)から前記照射光(i)が透過した側へ放出される、前記蛍光体による蛍光(p)のスペクトルを測定することを特徴とする蛍光体の蛍光スペクトルの測定方法。 - 前記蛍光(p)を積分球(20)の内部空間(22)に導いて前記内部空間(22)における前記スペクトルを測定する請求項1記載の蛍光体の蛍光スペクトルの測定方法。
- 前記積分球(20)の上部に設けられた平らな載置面(23)に前記試料(11)を載置し、前記載置面(23)に形成された入射口(21)を通して前記蛍光(p)を前記内部空間(22)に導く請求項2記載の蛍光体の蛍光スペクトルの測定方法。
- 前記試料(11)は、板状に成形された板状試料(11)である請求項1〜3のいずれか一項に記載の蛍光体の蛍光スペクトルの測定方法。
- 封止材中に分散させて発光装置に用いられる蛍光体の蛍光スペクトルの測定装置(10)であって、
前記封止材中に前記蛍光体を分散させた試料(11)に照射光(i)を透過するように照射する光源部(16)と、
前記試料(11)から前記照射光(i)が透過する側へ放出される、前記蛍光体による蛍光(p)のスペクトルを測定する検出器(26)とを備えていることを特徴とする蛍光体の蛍光スペクトルの測定装置。 - 前記蛍光体の蛍光スペクトルの測定装置(10)は、前記蛍光(p)を内部空間(22)へと導く入射口(21)が形成された積分球(20)を備え、
前記検出器(26)は、前記内部空間(22)における前記スペクトルを測定する請求項5記載の蛍光体の蛍光スペクトルの測定装置。 - 前記積分球(20)は、上部に前記試料(11)を載置する平らな載置面(23)が設けられ、前記載置面(23)に前記入射口(21)が形成されている請求項6記載の蛍光体の蛍光スペクトルの測定装置。
- 前記試料(11)は、板状に成形された板状試料(11)である請求項5〜7のいずれか一項に記載の蛍光体の蛍光スペクトルの測定装置。
- 請求項1〜4のいずれか一項に記載の蛍光体の蛍光スペクトルの測定方法によって蛍光スペクトルを測定することにより選定された蛍光体。
- 請求項1〜4のいずれか一項に記載の蛍光体の蛍光スペクトルの測定方法によって複数の蛍光体の蛍光スペクトルをそれぞれ測定し、測定した蛍光スペクトルが同じである各蛍光体を、発光素子と封止材中に分散された状態の蛍光体とを用いる発光装置に該蛍光体として選定して実装することを特徴とする発光装置の製造方法。
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