JP2012207976A - Current detection device, overcurrent protective device and current detection method - Google Patents

Current detection device, overcurrent protective device and current detection method Download PDF

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a current detection device, an overcurrent protective device and a current detection method, which are capable of flexibly correcting a temperature characteristic with a simple configuration, and in which an overcurrent protective characteristic can be obtained highly accurately.SOLUTION: A current detection device comprises: a switching element connected via wires between a power source and a load; and a current detection part which outputs a detection current corresponding to a load current supplied from the power source to the load via the switching element, based on a differential voltage of the switching element. The current detection part includes a temperature characteristic correction thermistor element of which the temperature coefficient can correct the temperature characteristic of a resistance component inherent in the switching element.

Description

本発明は、電流検出装置、過電流保護装置および電流検出方法に関し、特に電線や車両に搭載されている電装品を過電流から保護するための電流検出装置、過電流保護装置および電流検出方法に関するものである。   The present invention relates to a current detection device, an overcurrent protection device, and a current detection method, and more particularly to a current detection device, an overcurrent protection device, and a current detection method for protecting electrical components mounted on electric wires and vehicles from overcurrent. Is.

車両に搭載されている電装品に電線を介して電力を供給する電源供給装置(一般的にはジャンクションボックスやリレーボックス等と呼ばれている。)には、スイッチング素子や、電線や電装品を過電流による焼損等から保護するために、ヒューズが設けられている。ヒューズを備えた装置では、ヒューズの交換等の整備を行う必要がある。このため、ヒューズを交換しやすい場所に設置する必要があった。また、従来からスイッチング素子としてリレーが多く用いられているが、サイズや部品発熱が大きく装置の小型化が困難といった課題があった。
さらに、電線線径やスイッチング素子は、過電流保護回路の保護特性を考慮した、適正な線径やサイズを選択する必要があるが、ヒューズとのマッチング(ラインナップ、ばらつき、経年劣化、温度特性等)によって、電線線径を太くしたり、スイッチング素子を大型化する必要があった。
A power supply device (generally called a junction box or a relay box) that supplies electric power to electric components mounted on a vehicle via electric wires has a switching element, electric wires and electric components. A fuse is provided to protect against burnout due to overcurrent. In an apparatus equipped with a fuse, it is necessary to perform maintenance such as replacement of the fuse. For this reason, it was necessary to install the fuse in a place where it can be easily replaced. Conventionally, a relay is often used as a switching element, but there is a problem that it is difficult to reduce the size of the apparatus due to large size and heat generation of components.
In addition, it is necessary to select the appropriate wire diameter and size for the wire diameter and switching element in consideration of the protection characteristics of the overcurrent protection circuit, but matching with the fuse (lineup, variation, aging, temperature characteristics, etc.) ), It is necessary to increase the wire diameter or increase the size of the switching element.

そこで、近年、ヒューズやリレーの代わりにトランジスタ素子を用いた過電流保護回路が提案されている(特許文献1参照)。この過電流保護回路は、電源と電装品との間に接続されたトランジスタ素子を備え、トランジスタ素子のソース電極とドレイン電極との間の電圧変化に基づいて過電流が発生したか否かを判定する。そして、過電流保護回路は、過電流が発生したと判定した場合、トランジスタ素子をオフすることによって電源と電装品との間の接続を遮断することにより、電装品を過電流から非破壊で保護する。このような過電流保護回路によれば、過電流が発生し、保護機能が動作した場合であってもトランジスタ素子の整備を行う必要がない。従って、トランジスタ素子を用いた過電流保護回路を備えた電源供給装置は、設置場所が限定されることもない。また、ヒューズの削減、スイッチング素子の小型・低損失化によって装置の小型化が可能になる。
さらに、従来のヒューズより保護特性のばらつきを抑制することができれば、より小さな線径の電線を選択すること、すなわち電線細径化をすることが可能となる。しいてはワイヤーハーネスの軽量化をすることができる。
Therefore, in recent years, an overcurrent protection circuit using a transistor element instead of a fuse or a relay has been proposed (see Patent Document 1). This overcurrent protection circuit has a transistor element connected between the power supply and electrical components, and determines whether or not an overcurrent has occurred based on a voltage change between the source electrode and drain electrode of the transistor element To do. When the overcurrent protection circuit determines that an overcurrent has occurred, the transistor element is turned off to cut off the connection between the power supply and the electrical component, thereby protecting the electrical component from overcurrent in a nondestructive manner. To do. According to such an overcurrent protection circuit, it is not necessary to prepare the transistor element even when an overcurrent occurs and the protection function is activated. Therefore, the installation location of the power supply device including the overcurrent protection circuit using the transistor element is not limited. In addition, the size of the device can be reduced by reducing fuses and reducing the size and loss of switching elements.
Furthermore, if variation in the protective characteristics can be suppressed as compared with the conventional fuse, it is possible to select a wire having a smaller wire diameter, that is, to reduce the wire diameter. As a result, the weight of the wire harness can be reduced.

ここで、過電流発生の判定を行うためのドレイン−ソース間電圧は、通電電流値とトランジスタ素子の抵抗値によって発生するため、一定の通電電流であってもトランジスタ素子の抵抗値の温度依存特性を反映した温度依存特性を有する。
このようにドレイン−ソース間電圧が温度依存特性を有する場合、その温度依存性によって正常な電流を過電流と判定してしまうおそれがある場合、その温度依存性をも考慮した電線を選択する必要がでてくる。このことはすなわち電線線径の増大につながる。したがって、規定の過電流値に対して電線線径の増大とならない、より正確な判定をおこなうために判定の閾値電圧(過電流判定電圧)を温度に応じて変化させることが好ましい。
Here, since the drain-source voltage for determining the occurrence of overcurrent is generated by the energization current value and the resistance value of the transistor element, the temperature dependence characteristic of the resistance value of the transistor element even if the energization current is constant. It has a temperature dependent characteristic reflecting the above.
When the drain-source voltage has a temperature-dependent characteristic in this way, if there is a possibility that a normal current is determined to be an overcurrent due to the temperature dependence, it is necessary to select an electric wire that also considers the temperature dependence. Comes out. This leads to an increase in the wire diameter. Therefore, it is preferable to change the threshold voltage for determination (overcurrent determination voltage) according to the temperature in order to perform more accurate determination without increasing the wire diameter with respect to the specified overcurrent value.

そこで、特許文献2、3には、温度センサを用いてトランジスタ素子の温度を検出し、その検出温度に応じてCPU等によって過電流判定電圧を補正する方法が開示されている。   Therefore, Patent Documents 2 and 3 disclose a method of detecting the temperature of a transistor element using a temperature sensor and correcting the overcurrent determination voltage by a CPU or the like according to the detected temperature.

また、特許文献4、5には、過電流保護のためのトランジスタ素子と同様の温度特性を有するトランジスタ素子をセンストランジスタ素子として用いて、過電流発生の判定を行うためのドレイン−ソース間電圧の温度依存性を相殺する方法が開示されている。この方法によれば、過電流判定電圧の補正を行うこと無しに、搭載温度環境が変化する場合においてもより正確な判定を行うことができる。
なお、電線の限界電流値(電線発煙特性)も温度特性を有し、温度によって変化する。また、負荷の中には、正常な負荷電流にも温度依存性を有するものがある(デフォッガ、ヒーター等)。したがって、上記場合は、過電流保護特性について、電線、負荷の温度特性を考慮したうえで、温度特性を任意に設定することで、より正確な過電流判定をすることができる場合もある。それによって電線細径化やトランジスタ素子の小型化を実現できる場合がある。
In Patent Documents 4 and 5, a transistor element having a temperature characteristic similar to that of a transistor element for overcurrent protection is used as a sense transistor element, and a drain-source voltage for determining the occurrence of overcurrent is disclosed. A method for offsetting temperature dependence is disclosed. According to this method, it is possible to perform more accurate determination even when the mounting temperature environment changes without correcting the overcurrent determination voltage.
In addition, the electric current limit current value (wire smoke generation characteristic) also has a temperature characteristic and changes depending on the temperature. In addition, some loads have a temperature dependence even on a normal load current (defogger, heater, etc.). Therefore, in the above case, the overcurrent protection characteristic may be determined more accurately by arbitrarily setting the temperature characteristic in consideration of the temperature characteristics of the electric wire and the load. As a result, it may be possible to reduce the wire diameter and the transistor element.

特開2009−142146号公報JP 2009-142146 A 特開2000−299631号公報JP 2000-299631 A 特開2003−61392号公報JP 2003-61392 A 特開平10−32476号公報JP-A-10-32476 特開平3−151670号公報Japanese Patent Laid-Open No. 3-151670 特許第4471314号公報Japanese Patent No. 44471314

しかしながら、CPU等によって過電流判定電圧を補正する方法は、回路構成が複雑化し、装置の大型化やコストUPのおそれがあるという問題がある。また、センストランジスタ素子を用いる方法は、そのセンストランジスタ自身が、電流検出を目的として特別に製作されたものであり、汎用的に使用できるもの(汎用品、標準部品)とはいえず、従来のトランジスタより、構造が複雑で、装置の大型化やコストUPを招くものである。   However, the method of correcting the overcurrent determination voltage by the CPU or the like has a problem that the circuit configuration is complicated, and there is a risk that the apparatus becomes large and the cost increases. In addition, the method using the sense transistor element is that the sense transistor itself is specially manufactured for the purpose of current detection and cannot be used universally (general-purpose product, standard component). The structure is more complicated than that of a transistor, resulting in an increase in size and cost of the device.

本発明は、上記に鑑みてなされたものであって、簡易な構成でより好適に過電流保護特性の温度特性の補正を行うことができ、精度の高い過電流保護特性を得ることができる電流検出装置、過電流保護装置および電流検出方法を提供することを目的とする。
さらに、本発明は、電線の許容電流値や負荷電流の温度特性にあわせて、保護特性の温度特性を設定することができ、電線の細径化やスイッチング素子の小型化をすることができる電流検出装置、過電流保護装置および電流検出方法を提供することを目的とする。
The present invention has been made in view of the above, and it is possible to more suitably correct the temperature characteristic of the overcurrent protection characteristic with a simple configuration, and to obtain a highly accurate overcurrent protection characteristic. An object is to provide a detection device, an overcurrent protection device, and a current detection method.
Furthermore, according to the present invention, the temperature characteristic of the protective characteristic can be set in accordance with the allowable current value of the electric wire and the temperature characteristic of the load current, and the electric current that can reduce the diameter of the electric wire and the switching element can be reduced. An object is to provide a detection device, an overcurrent protection device, and a current detection method.

上述した課題を解決し、目的を達成するために、本発明に係る電流検出装置は、電源と負荷との間に電線を介して接続したスイッチング素子と、前記電源から前記スイッチング素子を介して前記負荷に供給される負荷電流に対応する検出電流を、前記スイッチング素子の差電圧に基づいて出力する電流検出部と、を備え、前記電流検出部は、前記スイッチング素子がもつ抵抗成分の温度特性を補正する温度係数を有する温度特性補正サーミスタ素子を備えることを特徴とする。   In order to solve the above-described problems and achieve the object, a current detection device according to the present invention includes a switching element connected via a wire between a power source and a load, and the power source through the switching element. A current detection unit that outputs a detection current corresponding to a load current supplied to a load based on a differential voltage of the switching element, and the current detection unit has a temperature characteristic of a resistance component of the switching element. A temperature characteristic correction thermistor element having a temperature coefficient to be corrected is provided.

また、本発明に係る過電流保護装置は、上記発明の電流検出装置と、前記検出電流をもとに、前記スイッチング素子に過電流が流れたと判定した場合に前記スイッチング素子をオフ状態にするスイッチング素子制御部と、を備えることを特徴とする。   The overcurrent protection device according to the present invention includes the current detection device according to the invention described above, and a switching that turns off the switching element when it is determined that an overcurrent has flowed through the switching element based on the detection current. And an element control unit.

また、本発明に係る電流検出方法は、電源から電線とスイッチング素子とを介して負荷に供給される負荷電流に対応する検出電流を、前記スイッチング素子の差電圧に基づいて出力する電流検出工程を含み、前記電流検出工程は、所定の温度係数を有するサーミスタ素子によって前記検出電流の温度特性を補正することを特徴とする。   Further, the current detection method according to the present invention includes a current detection step of outputting a detection current corresponding to a load current supplied from a power source to a load via an electric wire and a switching element based on a voltage difference between the switching elements. And the current detection step includes correcting the temperature characteristic of the detection current by a thermistor element having a predetermined temperature coefficient.

本発明によれば、簡易な構成でより好適に過電流保護特性の温度特性の補正を行うことができ、精度の高い過電流保護特性を得ることができ、電線の許容電流値や負荷電流の温度特性にあわせて、最適な保護特性の温度特性を設定することができ、電線の細径化やスイッチング素子の小型化をすることができるという効果を奏する。   According to the present invention, it is possible to more suitably correct the temperature characteristic of the overcurrent protection characteristic with a simple configuration, to obtain a highly accurate overcurrent protection characteristic, and to determine the allowable current value of the wire and the load current. According to the temperature characteristic, the temperature characteristic of the optimum protection characteristic can be set, and there is an effect that the diameter of the electric wire can be reduced and the switching element can be reduced in size.

図1は、実施の形態に係る過電流保護装置の構成を模式的に示す図である。FIG. 1 is a diagram schematically illustrating the configuration of the overcurrent protection device according to the embodiment. 図2は、図1に示すスイッチング素子およびPTCサーミスタ素子の配置を示す模式図である。FIG. 2 is a schematic diagram showing the arrangement of the switching elements and PTC thermistor elements shown in FIG. 図3は、図1に示す電流検出部が出力する検出電流Isの温度特性の例を示す図である。FIG. 3 is a diagram illustrating an example of temperature characteristics of the detection current Is output from the current detection unit illustrated in FIG. 1. 図4は、図1に示す過電流保護装置によって実現される温度相当電圧VTjの例を示す図である。FIG. 4 is a diagram showing an example of the temperature equivalent voltage V Tj realized by the overcurrent protection device shown in FIG. 図5は、スイッチング素子およびPTCサーミスタ素子の配置の別の態様を示す模式図である。FIG. 5 is a schematic diagram showing another aspect of the arrangement of the switching elements and the PTC thermistor elements.

以下に、図面を参照して本発明に係る電流検出装置、過電流保護装置および電流検出方法の実施の形態を詳細に説明する。なお、この実施の形態によりこの発明が限定されるものではない。なお、図面において、同一または対応する要素には適宜同一の符号を付している。   Embodiments of a current detection device, an overcurrent protection device, and a current detection method according to the present invention will be described below in detail with reference to the drawings. Note that the present invention is not limited to the embodiments. In the drawings, the same or corresponding elements are denoted by the same reference numerals as appropriate.

(実施の形態)
図1は、本発明の実施の形態に係る過電流保護装置の構成を模式的に示す図である。図1に示すように、電源供給装置100は、スイッチング素子10と、電流検出部20と、電流演算部30と、温度模擬部40と、スイッチング素子制御部50と、を備えている。なお、スイッチング素子10と電流検出部20とが電流検出装置を構成している。
(Embodiment)
FIG. 1 is a diagram schematically showing a configuration of an overcurrent protection device according to an embodiment of the present invention. As shown in FIG. 1, the power supply apparatus 100 includes a switching element 10, a current detection unit 20, a current calculation unit 30, a temperature simulation unit 40, and a switching element control unit 50. The switching element 10 and the current detection unit 20 constitute a current detection device.

スイッチング素子10は、寄生ダイオード10aを有するnチャネル型のMOSFETである。スイッチング素子10は、ドレイン端子側が電源Pと接続し、ソース端子側が負荷Lと接続するように、電線Wを介して電源Pと負荷Lとの間に接続している。また、スイッチング素子10のゲート端子はスイッチング素子制御部50に接続している。   The switching element 10 is an n-channel MOSFET having a parasitic diode 10a. The switching element 10 is connected between the power source P and the load L via the electric wire W so that the drain terminal side is connected to the power source P and the source terminal side is connected to the load L. The gate terminal of the switching element 10 is connected to the switching element control unit 50.

電流検出部20は、PTC(Positive Temperature Coefficient)サーミスタ素子21と、オペアンプ22と、スイッチング素子23とを備えている。PTCサーミスタ素子21は、温度の上昇に対して電気抵抗値が増大するサーミスタ素子であり、スイッチング素子23と並列接続している。オペアンプ22は、その反転入力端子がPTCサーミスタ素子21を介して電源Pに接続し、非反転入力端子がスイッチング素子10と負荷Lとの間の電線Wに接続している。スイッチング素子23は、pチャネル型のMOSFETで構成され、寄生ダイオード23aを有する。スイッチング素子10のドレイン端子はPTCサーミスタ素子21を介して電源Pに接続し、ゲート端子はオペアンプ22の出力端子に接続している。   The current detection unit 20 includes a PTC (Positive Temperature Coefficient) thermistor element 21, an operational amplifier 22, and a switching element 23. The PTC thermistor element 21 is a thermistor element whose electrical resistance value increases with an increase in temperature, and is connected in parallel with the switching element 23. The operational amplifier 22 has an inverting input terminal connected to the power source P via the PTC thermistor element 21 and a non-inverting input terminal connected to the electric wire W between the switching element 10 and the load L. The switching element 23 is composed of a p-channel MOSFET and has a parasitic diode 23a. The drain terminal of the switching element 10 is connected to the power source P through the PTC thermistor element 21, and the gate terminal is connected to the output terminal of the operational amplifier 22.

図2は、図1に示すスイッチング素子10およびPTCサーミスタ素子21の配置を示す模式図である。図2に示すように、スイッチング素子10は、MOSFETのチップが収容されたケース11と、ドレイン端子12と、ゲート端子13と、ソース端子14とを備えている。スイッチング素子10は、放熱板としての機能も有するドレイン端子12を介して基板15に実装されている。なお、基板15上には、熱伝導体である銅パターンからなるヒートスプレッダ15aが形成されており、ドレイン端子12はヒートスプレッダ15a上に位置している。   FIG. 2 is a schematic diagram showing the arrangement of the switching element 10 and the PTC thermistor element 21 shown in FIG. As shown in FIG. 2, the switching element 10 includes a case 11 in which a MOSFET chip is accommodated, a drain terminal 12, a gate terminal 13, and a source terminal 14. The switching element 10 is mounted on the substrate 15 via a drain terminal 12 that also functions as a heat sink. On the substrate 15, a heat spreader 15a made of a copper pattern as a heat conductor is formed, and the drain terminal 12 is located on the heat spreader 15a.

PTCサーミスタ素子21は、基板15のヒートスプレッダ15aに一方の端子が接続するように実装され、かつスイッチング素子10の近傍に配置されている。したがって、PTCサーミスタ素子21は、ヒートスプレッダ15aを介してスイッチング素子10と電気的に接続し、かつ熱的に結合している。また、PTCサーミスタ素子21のもう一方の端子は、基板15上に形成された幅の細い配線パターン15bを介してオペアンプ22の反転入力端子と接続している。また、スイッチング素子10およびPTCサーミスタ素子21は、絶縁性および熱伝導性を有する被覆材料Aにて覆われている。被覆材料Aはたとえば樹脂材料に熱伝導性フィラーを配合したものである。   The PTC thermistor element 21 is mounted so that one terminal is connected to the heat spreader 15 a of the substrate 15, and is disposed in the vicinity of the switching element 10. Therefore, the PTC thermistor element 21 is electrically connected to the switching element 10 via the heat spreader 15a and is thermally coupled. The other terminal of the PTC thermistor element 21 is connected to the inverting input terminal of the operational amplifier 22 through a narrow wiring pattern 15 b formed on the substrate 15. The switching element 10 and the PTC thermistor element 21 are covered with a coating material A having insulating properties and thermal conductivity. The coating material A is, for example, a resin material blended with a heat conductive filler.

図1に戻って、電流演算部30は、その入力側が電流検出部20のスイッチング素子23のソース端子に接続している。電流演算部30は、入力された電流を2乗した演算電流を出力する。なお、電流演算部30は、トランスリニア回路を用いたアナログ回路で構成することができる。   Returning to FIG. 1, the current calculation unit 30 has its input side connected to the source terminal of the switching element 23 of the current detection unit 20. The current calculation unit 30 outputs a calculation current obtained by squaring the input current. The current calculation unit 30 can be configured by an analog circuit using a translinear circuit.

温度模擬部40は、電流源41と、熱等価回路部42とを備えている。電流源41は、入力側が電流演算部30の出力側に接続し、出力側が熱等価回路部42に接続している。熱等価回路部42は、オン状態でスイッチング素子10に流れる負荷電流Iloadによる消費電力に相当する発熱の時間的な変化を模擬するための電気的等価回路であり、スイッチング素子10における過渡的な熱変動を表現するように構成されている。熱等価回路部42は、並列接続したコンデンサ42aと抵抗42bとからなるCR時定数回路として構成されている。なお、熱等価回路部42は図1に示したものに限らず、特許文献1に開示された種々の構成を適用することができる。   The temperature simulation unit 40 includes a current source 41 and a heat equivalent circuit unit 42. The current source 41 has an input side connected to the output side of the current calculation unit 30, and an output side connected to the heat equivalent circuit unit 42. The thermal equivalent circuit unit 42 is an electrical equivalent circuit for simulating temporal changes in heat generation corresponding to power consumption due to the load current Iload flowing in the switching element 10 in the on state. It is configured to express fluctuations. The thermal equivalent circuit unit 42 is configured as a CR time constant circuit including a capacitor 42a and a resistor 42b connected in parallel. The thermal equivalent circuit section 42 is not limited to that shown in FIG. 1, and various configurations disclosed in Patent Document 1 can be applied.

スイッチング素子制御部50は、制御信号入力端子51を備えている。スイッチング素子制御部50は、温度模擬部40の熱等価回路部42とスイッチング素子10のゲート端子とに接続している。   The switching element control unit 50 includes a control signal input terminal 51. The switching element control unit 50 is connected to the thermal equivalent circuit unit 42 of the temperature simulation unit 40 and the gate terminal of the switching element 10.

つぎに、この電源供給装置100の動作について、負荷Lを操作するための操作スイッチをオフにしている場合と、操作スイッチをオンにした場合とに分けて説明する。   Next, the operation of the power supply apparatus 100 will be described separately for the case where the operation switch for operating the load L is turned off and the case where the operation switch is turned on.

(負荷Lを操作するための操作スイッチをオフにしている場合)
この場合、スイッチング素子制御部50には制御信号入力端子53からLowレベルの制御信号が入力される。このとき、スイッチング素子制御部50は駆動電圧信号をスイッチング素子10のゲート端子に出力しない。その結果、スイッチング素子10はオフ状態に維持される。したがって、電源Pから負荷Lに電流は供給されないので、負荷Lは駆動しない。
(When the operation switch for operating the load L is turned off)
In this case, a low level control signal is input to the switching element control unit 50 from the control signal input terminal 53. At this time, the switching element control unit 50 does not output a drive voltage signal to the gate terminal of the switching element 10. As a result, the switching element 10 is maintained in the off state. Accordingly, since no current is supplied from the power source P to the load L, the load L is not driven.

(負荷Lを操作するための操作スイッチをオンにした場合)
この場合、スイッチング素子制御部50には制御信号入力端子53からHighレベルの制御信号が入力される。これによって、スイッチング素子制御部50は駆動電圧信号をスイッチング素子10のゲート端子に出力する。これによって、スイッチング素子10はオン状態になる。その結果、スイッチング素子10のドレイン−ソース間には電流が流れ、電源Pから負荷Lに電線Wを介して負荷電流Iloadが供給され、負荷Lは駆動する。
(When the operation switch for operating the load L is turned on)
In this case, a high level control signal is input to the switching element control unit 50 from the control signal input terminal 53. As a result, the switching element control unit 50 outputs a drive voltage signal to the gate terminal of the switching element 10. As a result, the switching element 10 is turned on. As a result, a current flows between the drain and source of the switching element 10, the load current Iload is supplied from the power supply P to the load L via the electric wire W, and the load L is driven.

このとき、電流検出部20では、スイッチング素子10の差電圧であるドレイン−ソース間電圧VdsとPTCサーミスタ素子21の端子間電圧Vsとが等しくなるように、オペアンプ22の出力でスイッチング素子23のゲート電位を制御している。これによって、PTCサーミスタ素子21には、電線Wに流れる負荷電流Iloadに比例した値の検出電流Isが流れるようになっている。ここで、Is=Iload×Ron/Rsで表される。Ronは所定の温度でのスイッチング素子10のオン抵抗であり、Rsは所定の温度でのPTCサーミスタ素子21の電気抵抗値である。電流検出部20は、この検出電流Isを、負荷電流Iloadに対応する電流として出力する。   At this time, in the current detection unit 20, the gate of the switching element 23 is output from the operational amplifier 22 so that the drain-source voltage Vds, which is the differential voltage of the switching element 10, and the terminal voltage Vs of the PTC thermistor element 21 are equal. The potential is controlled. As a result, the detection current Is having a value proportional to the load current Iload flowing through the electric wire W flows through the PTC thermistor element 21. Here, Is = Iload × Ron / Rs. Ron is the ON resistance of the switching element 10 at a predetermined temperature, and Rs is the electric resistance value of the PTC thermistor element 21 at the predetermined temperature. The current detection unit 20 outputs the detection current Is as a current corresponding to the load current Iload.

ここで、Ron、Rs、Isについて具体的に説明する。まず、Ronは、スイッチング素子10のMOSFETのジャンクション温度でのオン抵抗である。Rsは、PTCサーミスタ素子21の温度での電気抵抗値である。図2に示すように、PTCサーミスタ素子21は、スイッチング素子10の近傍に配置され、かつヒートスプレッダ15aを介してスイッチング素子10と熱的に結合している。その結果、MOSFETのジャンクション温度とPTCサーミスタ素子21の温度とは近い値になるので、PTCサーミスタ素子21は過電流から保護すべきスイッチング素子10のMOSFETの温度をより正確に検出することができる。   Here, Ron, Rs, and Is will be specifically described. First, Ron is the on-resistance at the junction temperature of the MOSFET of the switching element 10. Rs is an electrical resistance value at the temperature of the PTC thermistor element 21. As shown in FIG. 2, the PTC thermistor element 21 is disposed in the vicinity of the switching element 10 and is thermally coupled to the switching element 10 via a heat spreader 15a. As a result, since the junction temperature of the MOSFET and the temperature of the PTC thermistor element 21 are close to each other, the PTC thermistor element 21 can detect the temperature of the MOSFET of the switching element 10 to be protected from overcurrent more accurately.

また、図2に示すように、PTCサーミスタ素子21のもう一方の端子は、幅の細い配線パターン15bを介してオペアンプ22の反転入力端子と電気的に接続している。配線パターン15bは、幅が細く、ヒートスプレッダ15aよりも熱抵抗が大きいため、ヒートスプレッダ15aから配線パターン15b側には熱が放出されにくくなっている。このような熱の放出を抑制することによって、MOSFETのジャンクション温度とPTCサーミスタ素子21の温度とがさらに近い値になり、さらに正確な温度検出が可能になる。   Further, as shown in FIG. 2, the other terminal of the PTC thermistor element 21 is electrically connected to the inverting input terminal of the operational amplifier 22 through a narrow wiring pattern 15b. Since the wiring pattern 15b is narrow and has a higher thermal resistance than the heat spreader 15a, it is difficult for heat to be released from the heat spreader 15a to the wiring pattern 15b. By suppressing the release of such heat, the junction temperature of the MOSFET and the temperature of the PTC thermistor element 21 become closer to each other, and more accurate temperature detection becomes possible.

また、電流検出部20では、PTCサーミスタ素子21を使用しているため、その電気抵抗値Rsの値を自由度高く選択して使用できる。したがって、検出電流Isも自由度高く設定できるので、電流検出部20およびその下流に位置する電流演算部30、温度模擬部40、およびスイッチング素子制御部50を自由度高く、たとえば小型化、低コスト化、または低消費電力化を実現するように構成することができる。   Further, since the current detection unit 20 uses the PTC thermistor element 21, the electric resistance value Rs can be selected with a high degree of freedom. Therefore, since the detection current Is can also be set with a high degree of freedom, the current detection unit 20 and the current calculation unit 30, the temperature simulation unit 40, and the switching element control unit 50 located downstream thereof can be set with a high degree of freedom. Or low power consumption can be realized.

また、PTCサーミスタ素子21の温度係数を適宜に設定することによって、簡易な構成でありながら検出電流Isの温度特性を自由度高く設定することができる。   In addition, by appropriately setting the temperature coefficient of the PTC thermistor element 21, the temperature characteristic of the detection current Is can be set with a high degree of freedom while having a simple configuration.

図3は、電流検出部20が出力する検出電流Isの温度特性の例を示す図である。なお、図3に示す温度特性は、スイッチング素子10を構成するMOSFETとしてオン抵抗Ronの温度係数が約4500ppm/℃のものを使用し、Iload=15Aとして計算している。図3において、線L1は、PTCサーミスタ素子21の電気抵抗値Rsの温度係数を1000ppm/℃に設定した場合の検出電流Isの温度特性を示している。同様に、線L2、L3は、PTCサーミスタ素子21の電気抵抗値Rsの温度係数をそれぞれ2700ppm/℃、4200ppm/℃に設定した場合の検出電流Isの温度特性を示している。   FIG. 3 is a diagram illustrating an example of a temperature characteristic of the detection current Is output from the current detection unit 20. Note that the temperature characteristics shown in FIG. 3 are calculated assuming that Iload = 15 A using a MOSFET that constitutes the switching element 10 having a temperature coefficient of about 4500 ppm / ° C. of the on-resistance Ron. In FIG. 3, a line L1 shows the temperature characteristic of the detected current Is when the temperature coefficient of the electric resistance value Rs of the PTC thermistor element 21 is set to 1000 ppm / ° C. Similarly, lines L2 and L3 indicate the temperature characteristics of the detection current Is when the temperature coefficient of the electric resistance value Rs of the PTC thermistor element 21 is set to 2700 ppm / ° C. and 4200 ppm / ° C., respectively.

線L1の場合、Isの温度係数は約4500ppm/℃となり、MOSFETの抵抗成分であるオン抵抗と同等の温度係数となる。また、線L2の場合、Isの温度係数は約1500ppm/℃となり、従来車両に搭載されている電源供給装置において通常使用されているヒューズの温度特性(たとえば約−1500ppm/℃)の逆特性と同等の温度係数となる。線L3の場合、Isの温度係数は略0ppm/℃となり、温度依存性がほとんど無い特性となり、Isの温度依存性をキャンセルすることができる。また、PTCサーミスタ素子21の温度係数の設定によっては、Isの温度特性を、負荷Lの温度特性と同等、電線Wの温度特性と同等、もしくは負荷Lの温度特性と電線Wの温度特性との間の温度特性に補正することもできる。このように、PTCサーミスタ素子21の温度係数を適宜に設定することによって、検出電流Isの温度特性を自由度高く設定することができる。   In the case of the line L1, the temperature coefficient of Is is about 4500 ppm / ° C., which is the same temperature coefficient as the on-resistance which is the resistance component of the MOSFET. Further, in the case of the line L2, the temperature coefficient of Is is about 1500 ppm / ° C., which is opposite to the temperature characteristic (for example, about −1500 ppm / ° C.) of a fuse normally used in a power supply device mounted on a conventional vehicle. The temperature coefficient is equivalent. In the case of the line L3, the temperature coefficient of Is is approximately 0 ppm / ° C., which is a characteristic having almost no temperature dependence, and the temperature dependence of Is can be canceled. Further, depending on the setting of the temperature coefficient of the PTC thermistor element 21, the Is temperature characteristic is equivalent to the temperature characteristic of the load L, the same as the temperature characteristic of the electric wire W, or the temperature characteristic of the load L and the temperature characteristic of the electric wire W. It is also possible to correct the temperature characteristics in between. Thus, the temperature characteristic of the detection current Is can be set with a high degree of freedom by appropriately setting the temperature coefficient of the PTC thermistor element 21.

なお、電流検出部20では、PTCサーミスタ素子21からの電流は差動増幅器であるオペアンプ22の反転入力端子に入力し、スイッチング素子10からの電流はオペアンプ22の非反転入力端子に入力する。その結果、スイッチング素子10を構成するMOSFETのオン抵抗Ronの温度係数と、PTCサーミスタ素子21の電気抵抗値Rsの温度係数とがいずれも正値であっても、検出電流Isは両値の差分的な特性を示す。   In the current detection unit 20, the current from the PTC thermistor element 21 is input to the inverting input terminal of the operational amplifier 22 that is a differential amplifier, and the current from the switching element 10 is input to the non-inverting input terminal of the operational amplifier 22. As a result, even if the temperature coefficient of the on-resistance Ron of the MOSFET constituting the switching element 10 and the temperature coefficient of the electrical resistance value Rs of the PTC thermistor element 21 are both positive values, the detected current Is is the difference between the two values. Characteristics.

つぎに、電流演算部30では、入力された検出電流Isを2乗演算した演算電流Iout(=Is)を出力する。 Next, the current calculation unit 30 outputs a calculation current Iout (= Is 2 ) obtained by squaring the input detection current Is.

つぎに、温度模擬部40では、演算電流Ioutが入力されて、スイッチング素子10の温度を示す温度相当電圧を出力する。温度模擬部40では、まず、電流源41が、電流演算部30が出力する演算電流Ioutを熱等価回路部42に流す。   Next, the temperature simulation unit 40 receives the calculation current Iout and outputs a temperature equivalent voltage indicating the temperature of the switching element 10. In the temperature simulation unit 40, first, the current source 41 flows the calculation current Iout output from the current calculation unit 30 to the heat equivalent circuit unit 42.

熱等価回路部42では、コンデンサ42aと抵抗42bとの接続点の電位であり、スイッチング素子10の温度に相当する温度相当値を、スイッチング素子10の温度を示す温度相当電圧VTjとして出力する。 The thermal equivalent circuit unit 42 outputs a temperature equivalent value corresponding to the temperature of the switching element 10 as a temperature equivalent voltage V Tj indicating the temperature of the switching element 10, which is a potential at the connection point between the capacitor 42 a and the resistor 42 b.

つぎに、スイッチング素子制御部50は、スイッチング素子10に過電流が流れたかどうかを判定する。この判定は、たとえばスイッチング素子制御部50が比較器を備えることによって実現される。判定を比較器によって実現する場合を以下に説明する。まず、比較器の非反転入力端子から温度相当電圧VTjが入力され、反転入力端子には過電流判定電圧Vrefが入力される。過電流判定電圧Vrefは、スイッチング素子10の過電流限界特性に基づいて、スイッチング素子10が焼損等に到らない温度に対応する電圧に設定することが好ましい。スイッチング素子10が焼損等に到らない温度とは、たとえば、スイッチング素子10を構成するMOSFETの接合温度である150℃または175℃より小さい温度である。なお、電線Wが焼損等に到らない温度とは、電線Wの発煙温度および被覆の溶解温度である150℃〜160℃より小さい温度である。 Next, the switching element control unit 50 determines whether or not an overcurrent flows through the switching element 10. This determination is realized, for example, when the switching element control unit 50 includes a comparator. A case where the determination is realized by a comparator will be described below. First, the temperature equivalent voltage VTj is input from the non-inverting input terminal of the comparator, and the overcurrent determination voltage Vref is input to the inverting input terminal. The overcurrent determination voltage Vref is preferably set to a voltage corresponding to a temperature at which the switching element 10 does not burn out based on the overcurrent limit characteristic of the switching element 10. The temperature at which the switching element 10 does not burn out is, for example, a temperature lower than 150 ° C. or 175 ° C., which is the junction temperature of the MOSFET constituting the switching element 10. The temperature at which the electric wire W does not burn out is a temperature lower than 150 ° C. to 160 ° C., which is the fuming temperature of the electric wire W and the melting temperature of the coating.

ここで、温度相当電圧VTjは、温度模擬部40が、入力された演算電流Iout(=Is)に基づいて出力したものである。したがって、温度相当電圧VTjは、電流検出部20において設定された検出電流Isの温度特性に相当する温度特性を有するものである。 Here, the temperature equivalent voltage V Tj is output by the temperature simulation unit 40 based on the input calculation current Iout (= Is 2 ). Therefore, the temperature-equivalent voltage V Tj has a temperature characteristic corresponding to the temperature characteristic of the detection current Is set in the current detection unit 20.

すなわち、この電源供給装置100では、過電流判定電圧Vrefを補正する代わりに、過電流判定電圧Vrefと比較すべき温度相当電圧VTjのほうに所望の温度特性を持たせて、スイッチング素子10の温度特性の補正を行っている。その結果、電源供給装置100は、CPU等を用いる複雑な回路構成無しに、簡易な構成で、かつ自由度高く、所望の温度特性の補正を実現することができる。また、電源供給装置100は、このような簡易な構成で温度特性の補正を行うので、その補正精度を高くすることができる。 That is, in this power supply apparatus 100, instead of correcting the overcurrent determination voltage Vref, the temperature equivalent voltage V Tj to be compared with the overcurrent determination voltage Vref is given a desired temperature characteristic, so that the switching element 10 The temperature characteristics are corrected. As a result, the power supply apparatus 100 can realize correction of desired temperature characteristics with a simple configuration and a high degree of freedom without a complicated circuit configuration using a CPU or the like. Moreover, since the power supply apparatus 100 corrects the temperature characteristics with such a simple configuration, the correction accuracy can be increased.

以下、過電流の判定について、温度相当電圧VTjが過電流判定電圧Vref以下の場合と、温度相当電圧VTjが過電流判定電圧Vrefを超えた場合とに分けて説明する。 Hereinafter, the determination of the overcurrent will be described separately in the case the temperature equivalent voltage V Tj is below the overcurrent determination voltage Vref, the the case where the temperature equivalent voltage V Tj exceeds the overcurrent determination voltage Vref.

(温度相当電圧VTjが過電流判定電圧Vref以下の場合)
この場合は、スイッチング素子10には過電流が流れていないと判定する場合である。このとき、スイッチング素子制御部50は、駆動電圧信号をスイッチング素子10のゲート端子に出力し続ける。したがって、この場合はスイッチング素子10はオン状態のままであり、電源Pから負荷Lに電線Wを介して負荷電流Iloadが供給され続け、負荷Lは駆動を続ける。
(When temperature equivalent voltage VTj is equal to or lower than overcurrent determination voltage Vref)
In this case, it is determined that no overcurrent flows through the switching element 10. At this time, the switching element control unit 50 continues to output the drive voltage signal to the gate terminal of the switching element 10. Therefore, in this case, the switching element 10 remains on, the load current Iload continues to be supplied from the power source P to the load L via the electric wire W, and the load L continues to be driven.

(温度相当電圧VTjが過電流判定電圧Vrefを超えた場合)
この場合は、過電流が発生し、スイッチング素子10に過電流が流れると判定する場合である。温度相当電圧VTjが過電流判定電圧Vrefを超えると、スイッチング素子制御部50は、駆動電圧信号をスイッチング素子10のゲート端子に印加することを停止する。これによって、スイッチング素子10はオン状態からオフ状態にスイッチングされる。したがって、電源Pから負荷Lへの電流の供給が遮断され、負荷Lの駆動が停止される。その結果、スイッチング素子10は過電流から保護される。
(When the temperature equivalent voltage VTj exceeds the overcurrent determination voltage Vref)
In this case, it is determined that an overcurrent occurs and the overcurrent flows through the switching element 10. When the temperature equivalent voltage VTj exceeds the overcurrent determination voltage Vref, the switching element control unit 50 stops applying the drive voltage signal to the gate terminal of the switching element 10. Thereby, the switching element 10 is switched from the on state to the off state. Accordingly, the supply of current from the power source P to the load L is cut off, and the driving of the load L is stopped. As a result, the switching element 10 is protected from overcurrent.

以上のようにして、この電源供給装置100では、簡易な構成で自由度高く温度特性の補正をすることができるので、スイッチング素子10を過電流からより適切に保護することができる。   As described above, the power supply device 100 can correct temperature characteristics with a high degree of freedom with a simple configuration, so that the switching element 10 can be more appropriately protected from overcurrent.

つぎに、電源供給装置100によって実現される過電流保護特性の例を説明する。図4は、電源供給装置100によって実現される過電流保護特性の例を示す図である。   Next, an example of overcurrent protection characteristics realized by the power supply device 100 will be described. FIG. 4 is a diagram illustrating an example of overcurrent protection characteristics realized by the power supply device 100.

図4において、横軸は電源供給装置100の環境温度Ta[℃]を示し、縦軸は負荷電流Iload[A]を示している。また、線L4は、電線Wが断面積0.5sqのCHFUSである場合の、発煙が発生する負荷電流Iloadでの温度特性の一例を示している。線L5は、低背ヒューズ(定格電流10A)の溶断が発生する負荷電流Iloadの値の温度特性の一例を示している。線L6は、負荷Lがリアガラスのくもりを取るためのデフォッガである場合の、熱飽和領域における負荷電流Iloadの温度特性の一例を示している。なお、図示していないが、スイッチング素子10が破壊する負荷電流Iloadの値の温度特性も、線L4と同様の曲線で示される。   In FIG. 4, the horizontal axis indicates the environmental temperature Ta [° C.] of the power supply apparatus 100, and the vertical axis indicates the load current Iload [A]. A line L4 shows an example of a temperature characteristic at a load current Iload that generates smoke when the electric wire W is CHFUS having a cross-sectional area of 0.5 sq. A line L5 shows an example of a temperature characteristic of the value of the load current Iload at which the low-profile fuse (rated current 10A) is blown. Line L6 shows an example of the temperature characteristic of the load current Iload in the thermal saturation region when the load L is a defogger for removing the cloud of the rear glass. Although not shown, the temperature characteristic of the value of the load current Iload that is destroyed by the switching element 10 is also indicated by a curve similar to the line L4.

線L7は、PTCサーミスタ素子21の電気抵抗値の温度係数を4200ppm/℃に設定した場合の過電流保護特性であって、温度相当電圧VTjが過電流判定電圧Vrefを超えて供給が遮断されるときの負荷電流Iloadの値の温度特性の一例を示している。また、線L8は、PTCサーミスタ素子21の電気抵抗値の温度係数を2700ppm/℃に設定した場合の過電流保護特性であって、温度相当電圧VTjが過電流判定電圧Vrefを超えて供給が遮断されるときの負荷電流Iloadの値の温度特性の一例を示している。 The line L7 is an overcurrent protection characteristic when the temperature coefficient of the electrical resistance value of the PTC thermistor element 21 is set to 4200 ppm / ° C., and the temperature equivalent voltage V Tj exceeds the overcurrent determination voltage Vref and the supply is cut off An example of the temperature characteristic of the value of the load current Iload at the time is shown. The line L8 is an overcurrent protection characteristic when the temperature coefficient of the electrical resistance value of the PTC thermistor element 21 is set to 2700 ppm / ° C., and the temperature equivalent voltage VTj exceeds the overcurrent determination voltage Vref and is supplied. An example of the temperature characteristic of the value of the load current Iload when being interrupted is shown.

図4に示すように、この電源供給装置100では、PTCサーミスタ素子21の電気抵抗値の温度係数を変更することによって、簡単な構成で過電流保護特性の温度特性を補正することができる。そして、たとえば、過電流保護特性は、線L8で示されるような温度特性とすることによって、線L4で示される保護すべき電線Wの発煙の温度特性、またはスイッチング素子10の破壊の温度特性などの、過電流限界特性と同等の温度特性に近づけることができる。   As shown in FIG. 4, in the power supply device 100, the temperature characteristic of the overcurrent protection characteristic can be corrected with a simple configuration by changing the temperature coefficient of the electrical resistance value of the PTC thermistor element 21. For example, the overcurrent protection characteristic is a temperature characteristic as indicated by the line L8, so that the temperature characteristic of the smoke of the electric wire W to be protected indicated by the line L4 or the temperature characteristic of the destruction of the switching element 10 is obtained. It is possible to approach the temperature characteristic equivalent to the overcurrent limit characteristic.

このように、過電流保護特性を、保護すべき対象の過電流限界特性に近づけることによって、保護対象の設計が同一であっても、より一層大きい電流を保護対象に流すことができる。換言すれば、同じ大きさの電流を流す場合であっても、スイッチング素子10の場合は従来よりも放熱構造を小型、簡略化でき、電線Wの場合は従来よりも細径化できる。したがって、この電源供給装置100を使用すれば、従来と同じ大きさの電流を流す場合であっても、スイッチング素子10および電線Wの小型化等が容易になる。   In this way, by bringing the overcurrent protection characteristic closer to the overcurrent limit characteristic of the target to be protected, even larger currents can be passed through the protection target even if the design of the protection target is the same. In other words, even when the same current flows, the heat dissipation structure can be made smaller and simplified in the case of the switching element 10 than in the conventional case, and the diameter can be made smaller in the case of the electric wire W than in the conventional case. Therefore, if this power supply apparatus 100 is used, the switching element 10 and the electric wire W can be easily downsized even when a current of the same magnitude as in the conventional case flows.

また、過電流保護特性は、線L5で示されるような温度特性とすることによって、ヒューズの溶断特性の温度特性に近づけた温度特性とすることができる。このように、電源供給装置100の過電流保護特性をヒューズの特性に近づけると、ヒューズを使用した従来の電源供給装置に置き換えて電源供給装置100を使用することが一層容易になる。なお、線L7、L8で示す温度特性は、過電流判定電圧Vrefを縦軸方向にシフトすることによって、線L4、L5により一層近づけることができる。   Further, the overcurrent protection characteristic can be set to a temperature characteristic close to the temperature characteristic of the fusing characteristic of the fuse by setting the temperature characteristic as indicated by the line L5. As described above, when the overcurrent protection characteristic of the power supply device 100 is close to the characteristics of the fuse, it becomes easier to use the power supply device 100 instead of the conventional power supply device using the fuse. The temperature characteristics indicated by the lines L7 and L8 can be made closer to the lines L4 and L5 by shifting the overcurrent determination voltage Vref in the vertical axis direction.

また、図4に示すように、電源供給装置100の過電流保護特性を線L7と線L8との間の特性に設定し、線L6で示される負荷Lの特性と交差しないようにすることによって、負荷Lの正常な動作を阻害すること無しに、適切な過電流保護特性を実現することができる。また、さらには、図3の線L3で示す場合と同様に、PTCサーミスタ素子21の電気抵抗値の温度係数の適宜の設定によって、過電流保護特性の温度依存性をキャンセルすることもできる。   Further, as shown in FIG. 4, by setting the overcurrent protection characteristic of the power supply device 100 to a characteristic between the line L7 and the line L8 so as not to intersect the characteristic of the load L indicated by the line L6. An appropriate overcurrent protection characteristic can be realized without hindering the normal operation of the load L. Further, similarly to the case indicated by the line L3 in FIG. 3, the temperature dependence of the overcurrent protection characteristic can be canceled by appropriately setting the temperature coefficient of the electric resistance value of the PTC thermistor element 21.

なお、上記実施の形態では、図2に示すように、スイッチング素子10およびPTCサーミスタ素子21とは、基板15の同一面側に実装されているが、スイッチング素子10の実装面の裏面にPTCサーミスタ素子21を実装してもよい。   In the above embodiment, as shown in FIG. 2, the switching element 10 and the PTC thermistor element 21 are mounted on the same surface side of the substrate 15, but the PTC thermistor is mounted on the back surface of the mounting surface of the switching element 10. The element 21 may be mounted.

図5は、スイッチング素子10およびPTCサーミスタ素子21の配置の別の態様を示す模式図である。図5は、スイッチング素子10を実装した基板16を、スイッチング素子10の実装面の裏面側から見た図である。基板16の、スイッチング素子10の実装面の裏面側には、ヒートスプレッダ16aが形成されている。スイッチング素子10のドレイン端子12とヒートスプレッダ16aとは多数のスルーホール16cで電気的に接続し、かつ熱的に結合している。   FIG. 5 is a schematic diagram showing another aspect of the arrangement of the switching element 10 and the PTC thermistor element 21. FIG. 5 is a view of the substrate 16 on which the switching element 10 is mounted as viewed from the back side of the mounting surface of the switching element 10. A heat spreader 16 a is formed on the back surface side of the mounting surface of the switching element 10 of the substrate 16. The drain terminal 12 of the switching element 10 and the heat spreader 16a are electrically connected through a large number of through holes 16c and are thermally coupled.

PTCサーミスタ素子21は、ヒートスプレッダ16aに一方の端子が接続するように実装され、スイッチング素子10のドレイン端子12の直ぐ裏側に配置されている。また、ヒートスプレッダ16a上には、たとえば半田材のような熱伝導性が高い熱接合材16dがPTCサーミスタ素子21を3方から囲むように形成されている。したがって、PTCサーミスタ素子21は、ヒートスプレッダ16a、スルーホール16c、および熱接合材16dを介してスイッチング素子10と電気的に接続し、かつ熱的に結合している。また、PTCサーミスタ素子21のもう一方の端子は、基板16上に形成された幅の細い配線パターン16bを介してオペアンプ22の反転入力端子と接続している。したがって、図2の場合と同様に、スイッチング素子10のMOSFETのジャンクション温度とPTCサーミスタ素子21の温度とが近い値になり、正確な温度検出が可能になる。   The PTC thermistor element 21 is mounted so that one terminal is connected to the heat spreader 16a, and is disposed immediately behind the drain terminal 12 of the switching element 10. On the heat spreader 16a, a heat bonding material 16d having a high thermal conductivity such as a solder material is formed so as to surround the PTC thermistor element 21 from three directions. Accordingly, the PTC thermistor element 21 is electrically connected to and thermally coupled to the switching element 10 via the heat spreader 16a, the through hole 16c, and the thermal bonding material 16d. The other terminal of the PTC thermistor element 21 is connected to the inverting input terminal of the operational amplifier 22 through a narrow wiring pattern 16 b formed on the substrate 16. Therefore, as in the case of FIG. 2, the junction temperature of the MOSFET of the switching element 10 and the temperature of the PTC thermistor element 21 are close to each other, and accurate temperature detection is possible.

なお、上記実施の形態では、電流演算部が検出電流に基づく2乗演算を行った演算電流を温度模擬部に出力している。しかしながら、電流演算部を設けずに、電流検出部が検出電流を温度模擬部に直接入力し、温度模擬部はこの検出電流をもとに温度相当電圧を出力するようにしてもよい。また、スイッチング素子制御部は、電流検出部からの検出電流を直接入力し、この検出電流をもとに過電流判定を行うように構成してもよい。この場合、電流演算部および温度模擬部を設けなくてもよい。   In the above embodiment, the current calculation unit outputs the calculation current obtained by performing the square calculation based on the detected current to the temperature simulation unit. However, the current detection unit may directly input the detection current to the temperature simulation unit without providing the current calculation unit, and the temperature simulation unit may output a temperature equivalent voltage based on the detection current. In addition, the switching element control unit may be configured to directly input the detection current from the current detection unit and perform overcurrent determination based on the detection current. In this case, the current calculation unit and the temperature simulation unit may not be provided.

また、上記実施の形態では、電流検出部に設けられた電流検出用抵抗素子として、温度特性補正サーミスタ素子であるPTCサーミスタ素子を備えている。しかしながら、温度特性補正サーミスタ素子は温度模擬部に備えられてもよい。なお、使用する温度特性補正サーミスタ素子としては、設ける場所に応じてPTCサーミスタ素子またはNTC(Negative Temperature Coefficient)サーミスタ素子を適宜選択して、その電気抵抗値および温度係数を設定して所望の温度特性の補正を実現すればよい。たとえば、図1に示す温度模擬部40が備える抵抗42aをNTCサーミスタ素子に置き換えて、所望の温度特性の補正を実現してもよい。   Moreover, in the said embodiment, the PTC thermistor element which is a temperature characteristic correction | amendment thermistor element is provided as a resistance element for a current detection provided in the electric current detection part. However, the temperature characteristic correction thermistor element may be provided in the temperature simulation unit. As a temperature characteristic correction thermistor element to be used, a PTC thermistor element or an NTC (Negative Temperature Coefficient) thermistor element is appropriately selected according to a place to be provided, and an electric resistance value and a temperature coefficient are set to obtain a desired temperature characteristic. It is sufficient to realize the correction. For example, the resistance 42a included in the temperature simulation unit 40 shown in FIG. 1 may be replaced with an NTC thermistor element to realize a desired temperature characteristic correction.

また、熱等価回路部は、スイッチング素子等の保護対象の温度環境や温度特性等に応じて、熱等価部の数や構成を適宜設定することが好ましい。   Moreover, it is preferable that the number of heat equivalent parts and a structure are suitably set for a heat equivalent circuit part according to temperature environment, temperature characteristics, etc. of protection objects, such as a switching element.

また、上記実施の形態により本発明が限定されるものではない。上述した各構成要素を適宜組み合わせて構成したものも本発明に含まれる。その他、上記実施の形態に基づいて当業者等によりなされる他の実施の形態、実施例及び運用技術等は全て本発明に含まれる。   Further, the present invention is not limited by the above embodiment. What was comprised combining each component mentioned above suitably is also contained in this invention. In addition, other embodiments, examples, operational techniques, and the like made by those skilled in the art based on the above-described embodiments are all included in the present invention.

10、23 スイッチング素子
10a、23a 寄生ダイオード
11 ケース
12 ドレイン端子
13 ゲート端子
14 ソース端子
15、16 基板
15a、16a ヒートスプレッダ
15b、16b 配線パターン
16c スルーホール
16d 熱接合材
20 電流検出部
21 PTCサーミスタ素子
22 オペアンプ
30 電流演算部
40 温度模擬部
41 電流源
42熱等価回路部
42a コンデンサ
42b 抵抗
50 スイッチング素子制御部
51 制御信号入力端子
100 電源供給装置
A 被覆材料
L 負荷
L1〜L8 線
P 電源
W 電線
DESCRIPTION OF SYMBOLS 10, 23 Switching element 10a, 23a Parasitic diode 11 Case 12 Drain terminal 13 Gate terminal 14 Source terminal 15, 16 Substrate 15a, 16a Heat spreader 15b, 16b Wiring pattern 16c Through hole 16d Thermal bonding material 20 Current detection part 21 PTC thermistor element 22 Operational amplifier 30 Current calculation unit 40 Temperature simulation unit 41 Current source 42 Thermal equivalent circuit unit 42a Capacitor 42b Resistance 50 Switching element control unit 51 Control signal input terminal 100 Power supply device A Coating material L Load L1 to L8 Line P Power supply W Electric wire

Claims (14)

電源と負荷との間に電線を介して接続したスイッチング素子と、
前記電源から前記スイッチング素子を介して前記負荷に供給される負荷電流に対応する検出電流を、前記スイッチング素子の差電圧に基づいて出力する電流検出部と、
を備え、前記電流検出部は、前記スイッチング素子がもつ抵抗成分の温度特性を補正する温度係数を有する温度特性補正サーミスタ素子を備えることを特徴とする電流検出装置。
A switching element connected via a wire between the power source and the load;
A current detection unit that outputs a detection current corresponding to a load current supplied from the power source to the load via the switching element based on a differential voltage of the switching element;
The current detection unit includes a temperature characteristic correction thermistor element having a temperature coefficient for correcting a temperature characteristic of a resistance component of the switching element.
請求項1に記載の電流検出装置と、
前記検出電流をもとに、前記スイッチング素子に過電流が流れたと判定した場合に前記スイッチング素子をオフ状態にするスイッチング素子制御部と、
を備えることを特徴とする過電流保護装置。
A current detection device according to claim 1;
Based on the detected current, a switching element control unit that turns off the switching element when it is determined that an overcurrent has flowed through the switching element;
An overcurrent protection device comprising:
前記温度特性補正サーミスタ素子の温度係数は、
前記スイッチング素子の抵抗成分の温度係数と同等であることを特徴とする請求項2に記載の過電流保護装置。
The temperature coefficient of the temperature characteristic correction thermistor element is:
The overcurrent protection device according to claim 2, wherein the overcurrent protection device is equivalent to a temperature coefficient of a resistance component of the switching element.
前記温度特性補正サーミスタ素子の温度係数は、
前記検出電流の温度特性が、ヒューズ溶断特性の温度特性の逆特性と同等となるように設定されていることを特徴とする請求項2に記載の過電流保護装置。
The temperature coefficient of the temperature characteristic correction thermistor element is:
The overcurrent protection device according to claim 2, wherein the temperature characteristic of the detection current is set to be equivalent to a reverse characteristic of the temperature characteristic of the fuse blown characteristic.
前記温度特性補正サーミスタ素子の温度係数は、
前記検出電流の温度特性が、前記スイッチング素子の過電流限界特性と同等の温度特性に補正するように設定されていることを特徴とする請求項2に記載の過電流保護装置。
The temperature coefficient of the temperature characteristic correction thermistor element is:
The overcurrent protection device according to claim 2, wherein the temperature characteristic of the detected current is set to be corrected to a temperature characteristic equivalent to the overcurrent limit characteristic of the switching element.
前記温度特性補正サーミスタ素子の温度係数は、
前記検出電流の温度特性が、前記負荷の温度特性と同等、前記電線の温度特性と同等、もしくは前記負荷の温度特性と前記電線の温度特性との間の温度特性に補正するように設定されていることを特徴とする請求項2に記載の過電流保護装置。
The temperature coefficient of the temperature characteristic correction thermistor element is:
The temperature characteristic of the detection current is set to be equal to the temperature characteristic of the load, equal to the temperature characteristic of the electric wire, or to be corrected to a temperature characteristic between the temperature characteristic of the load and the temperature characteristic of the electric wire. The overcurrent protection device according to claim 2, wherein
前記温度特性補正サーミスタ素子は、前記スイッチング素子の近傍に配置されていることを特徴とする請求項2〜6のいずれか一つに記載の過電流保護装置。   The overcurrent protection device according to claim 2, wherein the temperature characteristic correction thermistor element is disposed in the vicinity of the switching element. 前記温度特性補正サーミスタ素子は、熱伝導体を介して前記スイッチング素子と熱的に結合していることを特徴とする請求項2〜7のいずれか一つに記載の過電流保護装置。   The overcurrent protection device according to claim 2, wherein the temperature characteristic correction thermistor element is thermally coupled to the switching element through a thermal conductor. 前記熱伝導体は、ヒートスプレッダであることを特徴とする請求項8に記載の過電流保護装置。   The overcurrent protection device according to claim 8, wherein the heat conductor is a heat spreader. 前記電流検出部は、差動増幅器を備え、前記温度特性補正サーミスタ素子は、前記差動増幅器の入力側に接続されることを特徴とする請求項請求項2〜9のいずれか一つに記載の過電流保護装置。   The said current detection part is provided with a differential amplifier, The said temperature characteristic correction | amendment thermistor element is connected to the input side of the said differential amplifier, The any one of Claims 2-9 characterized by the above-mentioned. Overcurrent protection device. 前記温度特性補正サーミスタ素子は、前記熱伝導体よりも熱抵抗が大きい電気的配線によって、前記電流検出部内の他の素子に接続していることを特徴とする請求項8または9に記載の過電流保護装置。   10. The excessive temperature characteristic correction device according to claim 8, wherein the temperature characteristic correction thermistor element is connected to another element in the current detection unit by an electrical wiring having a thermal resistance larger than that of the thermal conductor. Current protection device. 前記スイッチング素子と前記温度特性補正サーミスタ素子とが、絶縁性および熱伝導性を有する被覆材料にて覆われていることを特徴とする請求項2〜11のいずれか一つに記載の過電流保護装置。   The overcurrent protection according to any one of claims 2 to 11, wherein the switching element and the temperature characteristic correction thermistor element are covered with a coating material having insulating properties and thermal conductivity. apparatus. 前記検出電流をもとに、前記スイッチング素子の温度を示す温度相当電圧を出力する温度模擬部を備え、
前記スイッチング素子制御部は、前記温度相当電圧が入力され、前記温度相当電圧が過電流判定電圧を超えた場合に前記スイッチング素子をオフ状態にすることを特徴とする請求項2〜12のいずれか一つに記載の過電流保護装置。
A temperature simulation unit that outputs a temperature-equivalent voltage indicating the temperature of the switching element based on the detection current,
13. The switching element control unit according to claim 2, wherein when the temperature-corresponding voltage is input and the temperature-corresponding voltage exceeds an overcurrent determination voltage, the switching element control unit turns off the switching element. The overcurrent protection device according to one.
電源から電線とスイッチング素子とを介して負荷に供給される負荷電流に対応する検出電流を、前記スイッチング素子の差電圧に基づいて出力する電流検出工程を含み、前記電流検出工程は、所定の温度係数を有するサーミスタ素子によって前記検出電流の温度特性を補正することを特徴とする電流検出方法。   A current detection step of outputting a detection current corresponding to a load current supplied to the load from the power source via the electric wire and the switching element based on a differential voltage of the switching element, wherein the current detection step includes a predetermined temperature A current detection method comprising correcting a temperature characteristic of the detection current by a thermistor element having a coefficient.
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20150048792A1 (en) * 2013-08-15 2015-02-19 John William Alford Cord Reel Variable Current Thermal Management and Damage Detection
KR20190080764A (en) 2017-12-28 2019-07-08 르네사스 일렉트로닉스 가부시키가이샤 Power conversion device and semiconductor device
US20190344678A1 (en) * 2013-08-15 2019-11-14 John Alford Cord Reel Variable Current Thermal Management and Damage Detection
JP2020202606A (en) * 2019-06-06 2020-12-17 三菱電機株式会社 Power conversion device

Citations (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH11326400A (en) * 1998-05-07 1999-11-26 Mitsubishi Electric Corp Overcurrent detection device
JP2000513816A (en) * 1997-02-10 2000-10-17 ダイムラークライスラー アクチエンゲゼルシャフト Apparatus and method for measuring temperature
JP2000299631A (en) * 1999-04-12 2000-10-24 Yazaki Corp Device and method for controlling power supply
JP2000307402A (en) * 1999-04-22 2000-11-02 Matsushita Electric Works Ltd Current detecting circuit
JP2001204143A (en) * 2000-01-17 2001-07-27 Mitsumi Electric Co Ltd Temperature detecting circuit and charging/discharging circuit
JP2002290222A (en) * 2001-03-28 2002-10-04 Auto Network Gijutsu Kenkyusho:Kk Load drive circuit
JP2003061392A (en) * 2001-08-17 2003-02-28 Hitachi Car Eng Co Ltd Motor vehicle controller
JP2003189598A (en) * 2001-12-13 2003-07-04 Matsushita Electric Ind Co Ltd Switching power unit
WO2004068709A1 (en) * 2003-01-16 2004-08-12 Shindengen Electric Manufacturing Co.,Ltd. Switching circuit
JP2006136086A (en) * 2004-11-04 2006-05-25 Hitachi Ltd Current detection method, current detector, power converter using current detector and vehicle using power converter
US20070274015A1 (en) * 2006-05-24 2007-11-29 Intersil Americas Inc. DC-DC converters having improved current sensing and related methods
JP2008263760A (en) * 2007-04-13 2008-10-30 Yazaki Corp Overcurrent protector
JP2009113676A (en) * 2007-11-07 2009-05-28 Nsk Ltd Electric power steering device
JP2009142146A (en) * 2007-11-16 2009-06-25 Furukawa Electric Co Ltd:The Power supply device and power supply feeding method
JP2009226984A (en) * 2008-03-19 2009-10-08 Autonetworks Technologies Ltd Electric wire protection method and electric wire protection device
JP2009230421A (en) * 2008-03-21 2009-10-08 Denso Corp Circuit for providing load current
JP2010043930A (en) * 2008-08-12 2010-02-25 Tateyama Kagaku Kogyo Kk Noncontact temperature sensor
JP2010251757A (en) * 2009-04-13 2010-11-04 Korea Inst Of Mach & Materials Highly dense and nano crystal grained spinel negative temperature coefficient thermistor thick film and method for preparing the same

Patent Citations (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000513816A (en) * 1997-02-10 2000-10-17 ダイムラークライスラー アクチエンゲゼルシャフト Apparatus and method for measuring temperature
JPH11326400A (en) * 1998-05-07 1999-11-26 Mitsubishi Electric Corp Overcurrent detection device
JP2000299631A (en) * 1999-04-12 2000-10-24 Yazaki Corp Device and method for controlling power supply
JP2000307402A (en) * 1999-04-22 2000-11-02 Matsushita Electric Works Ltd Current detecting circuit
JP2001204143A (en) * 2000-01-17 2001-07-27 Mitsumi Electric Co Ltd Temperature detecting circuit and charging/discharging circuit
JP2002290222A (en) * 2001-03-28 2002-10-04 Auto Network Gijutsu Kenkyusho:Kk Load drive circuit
JP2003061392A (en) * 2001-08-17 2003-02-28 Hitachi Car Eng Co Ltd Motor vehicle controller
JP2003189598A (en) * 2001-12-13 2003-07-04 Matsushita Electric Ind Co Ltd Switching power unit
WO2004068709A1 (en) * 2003-01-16 2004-08-12 Shindengen Electric Manufacturing Co.,Ltd. Switching circuit
JP2006136086A (en) * 2004-11-04 2006-05-25 Hitachi Ltd Current detection method, current detector, power converter using current detector and vehicle using power converter
US20070274015A1 (en) * 2006-05-24 2007-11-29 Intersil Americas Inc. DC-DC converters having improved current sensing and related methods
JP2008263760A (en) * 2007-04-13 2008-10-30 Yazaki Corp Overcurrent protector
JP2009113676A (en) * 2007-11-07 2009-05-28 Nsk Ltd Electric power steering device
JP2009142146A (en) * 2007-11-16 2009-06-25 Furukawa Electric Co Ltd:The Power supply device and power supply feeding method
JP2009226984A (en) * 2008-03-19 2009-10-08 Autonetworks Technologies Ltd Electric wire protection method and electric wire protection device
JP2009230421A (en) * 2008-03-21 2009-10-08 Denso Corp Circuit for providing load current
JP2010043930A (en) * 2008-08-12 2010-02-25 Tateyama Kagaku Kogyo Kk Noncontact temperature sensor
JP2010251757A (en) * 2009-04-13 2010-11-04 Korea Inst Of Mach & Materials Highly dense and nano crystal grained spinel negative temperature coefficient thermistor thick film and method for preparing the same

Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20150048792A1 (en) * 2013-08-15 2015-02-19 John William Alford Cord Reel Variable Current Thermal Management and Damage Detection
US9238416B2 (en) * 2013-08-15 2016-01-19 Telefonix, Incorporated Cord reel variable current thermal management and damage detection
US20160318412A1 (en) * 2013-08-15 2016-11-03 John Alford Cord Reel Variable Current Thermal Management and Damage Detection
US10214114B2 (en) * 2013-08-15 2019-02-26 Konnectronix, Inc. Cord reel variable current thermal management and damage detection
US20190344678A1 (en) * 2013-08-15 2019-11-14 John Alford Cord Reel Variable Current Thermal Management and Damage Detection
US10906417B2 (en) * 2013-08-15 2021-02-02 Konnectronix, Inc. Cord reel variable current thermal management and damage detection
US11505074B2 (en) * 2013-08-15 2022-11-22 Konnectronix, Inc. Cord reel variable current thermal management and damage detection
KR20190080764A (en) 2017-12-28 2019-07-08 르네사스 일렉트로닉스 가부시키가이샤 Power conversion device and semiconductor device
EP3537603A1 (en) 2017-12-28 2019-09-11 Renesas Electronics Corporation Power conversion device and semiconductor device
US11029740B2 (en) 2017-12-28 2021-06-08 Renesas Electronics Corporation Power conversion device and semiconductor device
JP2020202606A (en) * 2019-06-06 2020-12-17 三菱電機株式会社 Power conversion device

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