JP2012181032A - End face inspection method and end face inspection apparatus - Google Patents

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英一 大▲美▼
Junichi Matsumura
淳一 松村
Takeshi Tsuneyoshi
豪 常吉
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  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To enable precise identification of a defective part such as a burr facing upward or downward along a cut end face of a laminated body.SOLUTION: An end face inspection method comprises: photographing an end face of a laminated body; obtaining an area of the laminated body from photographed image data; performing rectangle approximation on the area of the laminated body through using the image data of the area; taking a difference of the rectangle from the area of the laminated body; identifying a defective part of an application material thorough comparison of a remaining area with a predetermined reference value; calculating, from the photographed image data, an area of a core material thinner than a total thickness of the laminated body; removing a predetermined thickness of the core material from the calculated area of the core material as a noise; and identifying a defective part of the core material.

Description

従来、芯材に活物質を塗布した積層体として、二次電池の電極板が知られている。金属薄または金属板に活物質を塗布し、所定の枚葉状に切断した電極板を製造する過程で、電極板の端面で発生する欠けやバリを検査している。具体的には、光の照射により発光する背景色調板上に枚葉の電極板を載置し、照明装置によって電極板の表面に向けて光を照射しながら当該電極板の表面をカメラで撮影する。   Conventionally, an electrode plate of a secondary battery is known as a laminate in which an active material is applied to a core material. Chips and burrs generated on the end face of the electrode plate are inspected in the process of manufacturing an electrode plate cut into a predetermined sheet by applying an active material to a thin metal plate or metal plate. Specifically, a single electrode plate is placed on a background color tone plate that emits light, and the surface of the electrode plate is photographed with a camera while irradiating light toward the surface of the electrode plate with a lighting device. To do.

取得した画像データに微分フィルタをかけて背景色調板、芯材および活物質からの光の反射度合いの変化を微分処理し、画像データにおける濃淡レベルの変化によって電極板の輪郭を強調している。その後、ノイズ処理を行って当該輪郭抽出データと予め定めた既定値と比較する。当該既定値の範囲内に輪郭抽出データが収まっているかどうかによって、電極板の欠けやバリを検出している（特許文献１）。   The obtained image data is subjected to a differential filter to differentiate the change in the degree of reflection of light from the background color tone plate, the core material and the active material, and the contour of the electrode plate is emphasized by the change in the gray level in the image data. Thereafter, noise processing is performed to compare the contour extraction data with a predetermined value. The chipping and burrs of the electrode plate are detected depending on whether or not the contour extraction data is within the predetermined value range (Patent Document 1).

特開平１０−４０３８３号公報Japanese Patent Laid-Open No. 10-40383

従来の検査方法を利用してバリの発生した電極板を除去して製造した二次電池であるにも関わらず、不良品が発生している。そこで、当該不良品の発生原因を鋭意検討したところ、次のような新たな知見を発明者等は得た。   In spite of the secondary battery manufactured by removing the electrode plate in which burrs are generated using a conventional inspection method, defective products are generated. Therefore, the inventors have earnestly examined the cause of the defective product, and the inventors have obtained the following new knowledge.

すなわち、従来の検査方法では電極板を平面視したときに、その幅方向からはみ出るバリを検出するのに有効に機能している。しかしながら、電極板を平面視したとき、バリは幅方向のみならなす、その先端が上側または下側に向いているものも含まれる。これら上下向きのバリを従来の検査では検出することができなかった。それ故に、絶縁物であるセパレータを介在させて複数枚の電極板を多層にしたとき、上下向きのバリがセパレータに突き刺さって貫通し、セパレータを介して交互に積層された正極と負極の電極板が短絡していることが分かった。   That is, the conventional inspection method functions effectively to detect burrs protruding from the width direction when the electrode plate is viewed in plan. However, when the electrode plate is viewed in plan, the burr is formed only in the width direction, and includes a tip whose tip is directed upward or downward. These vertical burrs could not be detected by conventional inspection. Therefore, when a plurality of electrode plates are made multilayer by interposing an insulating separator, positive and negative electrode plates in which vertical burrs pierce and penetrate the separator and are alternately stacked via the separators Was found to be short-circuited.

さらに、電極板のみならず、活物質表面の凹凸差の大きい箇所では、芯材と同様に上向きのバリ状になっており、当該活物質が積層時に押しつぶされ、粉塵となって二次電池内を汚染していた。   Furthermore, not only on the electrode plate, but also on the active material surface where there is a large difference in irregularities, it is burr-shaped upward like the core material. Was contaminated.

本発明はこのような事情に鑑みてなされたものであって、芯材または芯材に塗布物質が塗布された積層体の端面で発生しているバリを精度良く検出することのできる端面検査方法および端面検査装置を提供することを主たる目的としている。   The present invention has been made in view of such circumstances, and is an end surface inspection method capable of accurately detecting burrs generated on the end surface of a core material or a laminate in which a coating substance is applied to the core material. The main object is to provide an end face inspection apparatus.

この発明は、このような目的を達成するために、次のような構成をとる。
すなわち、第１の発明は、芯材に塗布物質を塗布して形成した積層体の端面を検査する端面検査方法であって、
前記端面を撮影する撮影過程と、
前記撮影過程で取得した画像データから前記積層体の領域を求める第１領域抽出過程と、
前記第１領域抽出過程で求めた積層体の領域の画像データを利用して当該領域に近似する矩形を求める矩形近似過程と、
前記積層体の領域から前記矩形の領域の差分をとり、余った領域を予め決めた基準値との比較から塗布物質の欠陥部位を求める第１欠陥部位算出過程と、
前記撮影過程で取得した画像データから前記積層体の総厚みよりも薄い芯材の領域を抽出する第２領域抽出過程と、
前記第２領域抽出過程で求めた芯材の領域から予め決めた芯材の厚み分をノイズとみなして除去し、芯材の欠陥部位を抽出する第２欠陥部位算出過程と、
を備えたことを特徴とする。 In order to achieve such an object, the present invention has the following configuration.
That is, the first invention is an end face inspection method for inspecting an end face of a laminate formed by applying a coating substance to a core material,
A shooting process of shooting the end face;
A first region extraction step for obtaining a region of the laminate from the image data acquired in the photographing step;
A rectangle approximation process for obtaining a rectangle that approximates the area using the image data of the area of the laminate obtained in the first area extraction process;
Taking the difference of the rectangular region from the region of the laminated body, a first defect site calculation process for obtaining a defect site of the coating material from a comparison with a predetermined reference value for the remaining region;
A second region extraction step of extracting a region of the core material thinner than the total thickness of the laminate from the image data acquired in the photographing step;
A second defect site calculation process of extracting a core material thickness portion determined in advance from the core material area determined in the second region extraction process as noise, and extracting a defect site of the core material;
It is provided with.

（作用・効果） この方法によれば、積層体の断面、端面の領域と当該領域を形成する画像データを利用して矩形を近似し、実際の積層体の領域と当該矩形の差分をとる。差分により余った領域と予め決めた基準値との比較から積層体（塗布物質）で発生しているバリなどの欠陥部位を検出することができる。すなわち、積層体を構成する塗布物質の端面を正面視したとき、積層体の表裏面側に向かって発生している上向きおよび下向きのバリなどの欠陥部位を精度よく検出することができる。   (Operation / Effect) According to this method, a rectangle is approximated by using the cross section of the laminate, the region of the end face, and image data forming the region, and the difference between the actual laminate region and the rectangle is obtained. It is possible to detect a defective part such as a burr generated in the laminated body (coating material) from a comparison between a region remaining due to the difference and a predetermined reference value. That is, when the end surface of the coating substance constituting the laminate is viewed from the front, it is possible to accurately detect the defect sites such as upward and downward burrs generated toward the front and back sides of the laminate.

芯材は、積層体の総厚みよりも薄く、積層体の長手中心に沿って存在している。また、検出対象の欠陥部位は、積層体の表裏面に向かう上下向きの部位なので、当該欠陥部位は、実際の芯材よりもその厚みが大きく表示される。それ故に、予め決まっている芯材の厚み分をノイズとみなして画像データから除去することにより、欠陥部位のみを抽出することができる。   The core material is thinner than the total thickness of the laminated body and exists along the longitudinal center of the laminated body. Moreover, since the defect site | part of detection object is a site | part facing upwards and downwards toward the front and back of a laminated body, the said defect site | part is displayed larger than the actual core material. Therefore, it is possible to extract only a defective portion by considering a predetermined thickness of the core material as noise and removing it from the image data.

したがって、芯材よりも大きい厚みの積層体の領域から塗布物質に発生している欠陥部位を求めるための演算処理よりも、芯材に発生している欠陥部位を求める演算処理を簡素化することができる。その結果、塗布物質の欠陥部位を求める方法と同じ方法で芯材を求める場合に比べて演算処理を高速化することができる。   Therefore, it is possible to simplify the calculation process for obtaining the defect site occurring in the core material, rather than the calculation process for obtaining the defect site occurring in the coating substance from the region of the laminate having a thickness larger than that of the core material. Can do. As a result, the calculation processing can be speeded up as compared with the case of obtaining the core material by the same method as the method of obtaining the defective part of the coating substance.

上記方法において、矩形近似過程で求めた矩形と積層体の領域と合わせ込むフィッティング過程を含み、
前記第１欠陥部位算出過程は、前記積層体の領域からフィッティング後の前記矩形の領域の差分をとり、余った領域を予め決めた基準値との比較から塗布物質の欠陥部位を求めることが好ましい。 In the above method, including a fitting process for combining the rectangle obtained in the rectangular approximation process and the region of the laminate,
In the first defect site calculation process, it is preferable that a difference between the rectangular regions after fitting is taken from the region of the laminated body, and a defective region of the coating material is obtained by comparing the surplus region with a predetermined reference value. .

この方法によれば、実際の積層体の領域に矩形をフィッティングさせるので、バリを精度よく検出することができる。つまり、本来矩形内に収まっていなければならない、積層体の端面形状からはみ出る部位が求められる。当該部位をバリなどの芯材および塗布物質の欠陥部位とみなすことができる。   According to this method, since the rectangle is fitted to the area of the actual laminate, burrs can be detected with high accuracy. That is, the part which protrudes from the end surface shape of a laminated body which must be originally contained in the rectangle is calculated | required. Such a part can be regarded as a defect part of a core material such as a burr and a coating substance.

また、上記方法において、第１領域抽出過程で求めた積層体領域と矩形近似過程で求めた矩形領域の差分をとり、余った領域の面積に応じて積層体の長手方向に沿って画像を所定数に分割する分割過程を含み、
前記分割した画像ごとに矩形近似過程から第２１欠陥部位算出過程を繰り返して塗布物質の欠陥部位を求めることが好ましい。 Further, in the above method, the difference between the laminate area obtained in the first area extraction process and the rectangular area obtained in the rectangular approximation process is taken, and an image is predetermined along the longitudinal direction of the laminate according to the area of the remaining area. Including the division process of dividing into numbers,
It is preferable to obtain the defective part of the coating substance by repeating the twenty-first defect part calculation process from the rectangular approximation process for each of the divided images.

この方法によれば、積層体を長手方向に分割してから再度矩形近似をするので、矩形を長方形または正方形に近い形状として求めることができる。すなわち、積層体が長手方向に波打っている場合や湾曲している場合に発生しがちな誤差を無くすことができ、欠陥部位をより精度よく求めることができる。   According to this method, since the laminated body is divided in the longitudinal direction and then rectangle approximation is performed again, the rectangle can be obtained as a rectangle or a shape close to a square. That is, it is possible to eliminate an error that tends to occur when the laminated body is wavy or curved in the longitudinal direction, and a defective portion can be obtained more accurately.

また、上記方法において、第２欠陥部位算出過程は、求めた芯材の画像を画素単位で削除してゆく収縮処理および収縮処理後の画像に画素単位で増加させる膨張処理を順に行い、欠陥部位のみを求めることが好ましい。   Further, in the above method, the second defect site calculation process sequentially performs a contraction process that deletes the obtained core image in units of pixels and an expansion process that increases the image after the contraction process in units of pixels, It is preferable to seek only.

この方法によれば、収縮処理により実際の芯材の画像が除去されてゆき、芯材よりも厚みが大きく映り込んでいる欠陥部位のみが残る。収縮処理後の画像に対して膨張処理することにより、残った欠陥部位の画像のみ明確に抽出することができる。   According to this method, the image of the actual core material is removed by the contraction process, and only the defective portion that is reflected in the thickness larger than the core material remains. By performing the expansion process on the image after the contraction process, only the image of the remaining defective part can be clearly extracted.

また、上記方法において、第１領域抽出過程の後に、芯材および積層体のうち少なくとも積層体の領域を強調する領域強調処理過程を備えることが好ましい。   Moreover, in the said method, it is preferable to provide the area | region emphasis process process which emphasizes the area | region of at least a laminated body among a core material and a laminated body after a 1st area | region extraction process.

この方法によれば、正確に取得しきれていない画像データ部分を補完し、芯材および積層体の領域を強調することができる。   According to this method, it is possible to complement the image data portion that has not been accurately acquired and to emphasize the core material and the layered body region.

なお、上記方法において、所定幅にスリットされた帯状の積層体の切断端面を検査するのに適用させることができる。   In addition, in the said method, it can be applied to test | inspect the cut end surface of the strip | belt-shaped laminated body slit by predetermined width.

また、この発明は、このような目的を達成するために、次のような構成をとる。   The present invention has the following configuration in order to achieve such an object.

すなわち、芯材に塗布物質を塗布して形成した積層体の端面を検査する端面検査装置であって、
前記積層体の端面に向けて光を照射する照射ユニットと、
光の照射された芯材の端面を撮影する撮影ユニットと、
前記撮影ユニットで取得した画像データを利用して芯材および積層体の欠陥部位を検査する画像処理ユニットとを備え、
前記画像処理ユニットは、撮影ユニットで取得した画像データを記憶する記憶部と、
前記記憶部から画像データを読み出し、当該画像データから前記積層体および芯材の領域を求める領域抽出部と、
前記積層体の領域の画像データを利用して当該領域に近似する矩形を求める矩形近似部と、
前記積層体の領域から前記矩形の領域の差分をとり、余った領域を予め決めた基準値との比較から塗布物質の欠陥部位を求める第１欠陥部位算出部と
前記芯材の領域から予め決めた芯材の厚み分をノイズとみなして除去し、芯材の欠陥部位を求める第２欠陥部位算出部と、
を備えたことを特徴とする。 That is, an end surface inspection device that inspects an end surface of a laminate formed by applying a coating substance to a core material,
An irradiation unit for irradiating light toward an end face of the laminate;
A photographing unit for photographing the end surface of the core material irradiated with light;
An image processing unit for inspecting a defective portion of the core material and the laminate using the image data acquired by the imaging unit;
The image processing unit includes a storage unit that stores image data acquired by the photographing unit;
A region extraction unit that reads out image data from the storage unit and obtains the region of the laminate and the core from the image data;
A rectangular approximation unit that obtains a rectangle that approximates the area using image data of the area of the laminate,
A difference between the rectangular region and the rectangular region is taken, and a surplus region is determined in advance from a comparison with a predetermined reference value. A second defect portion calculation unit for determining the thickness portion of the core material as noise and removing it, and obtaining a defect portion of the core material;
It is provided with.

この構成によれば、上記方法を好適に実施することができる。   According to this configuration, the above method can be suitably implemented.

なお、当該構成において、画像処理ユニットは、矩形近似部で求めた矩形を積層体の領域に合わせ込むフィッティング部を備え、
前記第１欠陥部位算出部は、前記積層体の領域ごとにフィッティングにより求めた矩形の領域との差分をとり、余った領域を予め決めた基準値との比較から塗布物質の欠陥部位を求めることが好ましい。 In this configuration, the image processing unit includes a fitting unit that matches the rectangle obtained by the rectangular approximation unit with the region of the stacked body,
The first defect site calculation unit calculates a difference from the rectangular region obtained by fitting for each region of the stacked body, and obtains a defective region of the coating material from a comparison with a predetermined reference value for the remaining region. Is preferred.

この構成によれば、積層体が湾曲または波打っている場合、近似した矩形も湾曲の傾きに応じて傾く。このとき、実際の積層体および芯材の画像領域の四隅に近似した矩形の四隅は重ならない。しかしながら、フィッティングした矩形は重なる。したがって、画像領域全体から欠陥部位をより精度よく検出することができる。   According to this configuration, when the laminated body is curved or wavy, the approximate rectangle also tilts according to the tilt of the curve. At this time, the four corners of the rectangle approximate to the four corners of the actual laminated body and the image area of the core do not overlap. However, the fitted rectangles overlap. Therefore, a defective part can be detected from the entire image region with higher accuracy.

さらに、画像処理ユニットは、積層体の領域と矩形領域の差分をとり、余った領域の面積に応じて積層体の長手方向に沿って画像を所定数に分割する分割判定部を備えることが好ましい。   Furthermore, the image processing unit preferably includes a division determination unit that takes a difference between the area of the stacked body and the rectangular area and divides the image into a predetermined number along the longitudinal direction of the stacked body in accordance with the area of the remaining area. .

この構成によれば、表示されている積層体を長手方向に沿って複数個に画像に分割することにより、当該積層体の領域にフィッティングさせる近似矩形を長方形または正方形に近づけることができる。したがって、積層体が湾曲または波打っている場合であっても、その端面に発生している欠陥部位をより精度よく検出することができる。 According to this configuration, by dividing the displayed laminated body into a plurality of images along the longitudinal direction, the approximate rectangle to be fitted to the area of the laminated body can be approximated to a rectangle or a square. Therefore, even when the laminated body is curved or wavy, a defective portion occurring on the end face can be detected with higher accuracy.

また、この構成において、領域抽出部で求めた芯材および積層体の画像のうち少なくとも積層体の領域を強調する領域強調部を備えることが好ましい。   Further, in this configuration, it is preferable to include a region enhancement unit that emphasizes at least the region of the laminated body among the core material and the laminated body image obtained by the region extraction unit.

この構成によれば、正確に取得しきれていない画像データ部分を補完し、芯材および積層体の輪郭を強調することができる。   According to this configuration, it is possible to complement image data portions that have not been acquired accurately and to enhance the outlines of the core material and the laminate.

本発明の端面検査方法および端面検査装置によれば、積層体を構成する芯材と塗布物質の端面に沿って上向きおよび下向きのバリなどの欠陥部位を精度よく検出することができる。   According to the end face inspection method and the end face inspection apparatus of the present invention, it is possible to accurately detect a defect portion such as upward and downward burrs along the end surface of the core material and the coating material constituting the laminate.

本実施例に係る端面検査装置の概略構成図である。It is a schematic block diagram of the end surface inspection apparatus which concerns on a present Example. 電極板の端面検査を示す図１のＡ−Ａ矢視断面図である。It is AA arrow sectional drawing of FIG. 1 which shows the end surface test | inspection of an electrode plate. 実施例装置の概略構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows schematic structure of an Example apparatus. 実施例装置による検査処理を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the test | inspection process by an Example apparatus. 塗布物質の欠陥部位を求めるフローチャートである。It is a flowchart which calculates | requires the defect site | part of a coating substance. 芯材の欠陥部位を求めるフローチャートである。It is a flowchart which calculates | requires the defect site | part of a core material. 電極板を撮像した画像である。It is the image which imaged the electrode plate. 二値化処理後の塗布物質を強調した領域画像である。It is the area | region image which emphasized the coating substance after the binarization process. 塗布物質の矩形近似処理の模式図である。It is a schematic diagram of the rectangle approximation process of a coating substance. 塗布物質のフィッティング処理の模式図である。It is a schematic diagram of the fitting process of a coating substance. 分割後の塗布物質の矩形近似処理の模式図である。It is a schematic diagram of the rectangle approximation process of the coating substance after a division | segmentation. 分割後の塗布物質のフィッティング処理の模式図である。It is a schematic diagram of the fitting process of the coating substance after a division | segmentation. 分割画像の塗布物質から欠陥部位を求める模式図である。It is a schematic diagram which calculates | requires a defect site | part from the coating substance of a divided image. 芯材の領域画像である。It is an area | region image of a core material. 芯材の収縮処理した画像である。It is the image which the core material contracted. 膨張処理によって鮮明化した欠陥部位の画像である。It is the image of the defect site | part clarified by the expansion process.

以下、図面を参照して本発明の一実施例を説明する。なお、本実施例では、図３に示すように、二次電池（例えば、リチウムイオン電池など）に利用する芯材４の両面に塗布物質５（例えば、活物質など）の塗布された正極または負極用の電極板３を利用している。ボビンに巻回された長尺の当該電極板３を長手方向に沿って所定幅に切断した当該端面に発生しているバリなどの欠陥部位を検査する装置を例に採って説明する。   An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. In this embodiment, as shown in FIG. 3, a positive electrode in which a coating material 5 (for example, an active material) is applied on both surfaces of a core material 4 used for a secondary battery (for example, a lithium ion battery) or the like. A negative electrode plate 3 is used. An apparatus for inspecting a defect portion such as a burr generated on the end face obtained by cutting the long electrode plate 3 wound around a bobbin into a predetermined width along the longitudinal direction will be described as an example.

図１は、本発明の実施例に係る端面検査装置の概略構成を示す図である。   FIG. 1 is a diagram showing a schematic configuration of an end surface inspection apparatus according to an embodiment of the present invention.

この端面検査装置は、光学ユニット１と画像処理装置２などから構成されている。   This end face inspection apparatus is composed of an optical unit 1, an image processing apparatus 2, and the like.

光学ユニット１は、ガイドローラ６によって所定のテンションの付与された電極板３の端面に向けて配備された光学カメラ７、電極板３の撮影領域に向けて光を照射する照射ユニット８および電極板３を挟んで光学カメラ７に対向配備された背景板９などから構成されている。   The optical unit 1 includes an optical camera 7 disposed toward an end face of the electrode plate 3 to which a predetermined tension is applied by a guide roller 6, an irradiation unit 8 that irradiates light toward an imaging region of the electrode plate 3, and an electrode plate 3 is composed of a background plate 9 and the like disposed opposite to the optical camera 7.

背景板９としては、撮影対象物に応じて、反射用の白色板または光を吸収する黒色板などを適宜に変更する。なお、本実施例では黒色板を利用している。   As the background plate 9, a white plate for reflection or a black plate that absorbs light is appropriately changed according to the object to be photographed. In this embodiment, a black plate is used.

画像処理装置２は、図３に示すように、撮影条件などを設定入力する操作部１０、設定入力画像や撮影した画像を表示する表示部１１および電極板３の端面に発生している欠陥部位を求める画像処理ユニット１２などを備えている。   As shown in FIG. 3, the image processing apparatus 2 includes an operation unit 10 for setting and inputting imaging conditions and the like, a display unit 11 for displaying a setting input image and a captured image, and a defective portion generated on the end face of the electrode plate 3. The image processing unit 12 for obtaining

画像処理ユニット１２は、記憶部１３、領域抽出部１４、領域強調部１５、矩形近似部１６、分割判定部１７、第１欠陥部位算出部１８および第２欠陥部位算出部１９を備えている。なお、当該画像処理ユニット１２を構成する各部の機能については、図４から図６に示すフローチャートを利用し、以下の当該実施例装置の動作説明において詳述する。   The image processing unit 12 includes a storage unit 13, a region extraction unit 14, a region enhancement unit 15, a rectangular approximation unit 16, a division determination unit 17, a first defect site calculation unit 18, and a second defect site calculation unit 19. The function of each part constituting the image processing unit 12 will be described in detail in the following description of the operation of the apparatus of the present embodiment using the flowcharts shown in FIGS.

＜ステップＳ１＞ 条件設定
検査対象の電極板３の全長、幅、芯材４および塗布物質５の厚みなどが、操作部１０から入力または表示部１１に表示されている情報から選択される。また、芯材４および塗布物質５の欠陥部位の判定に利用する基準値や設定値なども予め設定入力される。これら設定条件は、記憶部１３に格納される。 <Step S <b>1> Condition Setting The total length and width of the electrode plate 3 to be inspected, the thickness of the core material 4 and the coating substance 5, and the like are selected from information input from the operation unit 10 or displayed on the display unit 11. In addition, a reference value and a set value used for determining a defective portion of the core material 4 and the coating material 5 are set and inputted in advance. These setting conditions are stored in the storage unit 13.

＜ステップＳ２＞ 画像取得
条件設定が完了し、電極板３の搬送と同時に光学カメラ７が電極板３の端面の撮影を開始する。撮影された図７に示す画像の当該画像データは、リアルタイムに記憶部１３に記憶されてゆく。記憶された画像データは、領域抽出部１４によって読み出され、二値化処理される。その後、当該二値化処理された画像データに基づいて、第１領域抽出側と第２領域抽出側の２つの処理が並列で実行される。そこで、先ず、第１領域抽出の処理について説明する。なお、第１領域抽出側の処理系統では、電極板３の外形から塗布物質５に発生しているバリを検出している。 <Step S2> Image acquisition The condition setting is completed, and the optical camera 7 starts photographing the end face of the electrode plate 3 simultaneously with the conveyance of the electrode plate 3. The image data of the photographed image shown in FIG. 7 is stored in the storage unit 13 in real time. The stored image data is read out by the region extraction unit 14 and binarized. Thereafter, two processes on the first area extraction side and the second area extraction side are executed in parallel based on the binarized image data. First, the first region extraction process will be described. In the processing system on the first region extraction side, burrs generated in the coating material 5 are detected from the outer shape of the electrode plate 3.

＜ステップＳ３＞ 第１領域抽出
領域抽出部１４は、先ず、電極板３の領域、すなわち、塗布物質５の領域を求める。例えば、画像に表示される撮影対象物は、背景板９および電極板３である。また、電極板３は、芯材４と塗布物質５から構成されている。これら３つの物質は、反射率が異なる。つまり、金属薄である芯材４の輝度が最も高く、塗布物質５、背景板９の順に輝度が低くなってゆく。そこで、二値化処理の画像データにおいて、０から２５５階調の範囲で各物質の濃淡レベルに応じたものを実験などのよって予め基準値を求めておき、取得した実画像データと基準値を比較し、図８に示すように、塗布物質５の領域のみを求める。 <Step S3> First Region Extraction First, the region extraction unit 14 obtains a region of the electrode plate 3, that is, a region of the coating substance 5. For example, the photographing objects displayed in the image are the background plate 9 and the electrode plate 3. The electrode plate 3 includes a core material 4 and a coating material 5. These three materials have different reflectivities. That is, the brightness of the core material 4 that is a thin metal is the highest, and the brightness decreases in the order of the coating substance 5 and the background plate 9. Therefore, in the binarized image data, a reference value is obtained in advance by an experiment or the like corresponding to the density level of each substance in the range of 0 to 255 gradations, and the obtained actual image data and the reference value are obtained. In comparison, as shown in FIG. 8, only the region of the coating substance 5 is obtained.

＜ステップＳ４＞ 領域強調処理
領域強調部１５は、求めた塗布物質５の領域画素に対して膨張および収縮させるクロージング処理を少なく１回行う。このとき、塗布物質５の端面に凹凸または切断時の粉塵の付着による光の拡散によって生じる輝度ムラなどの影響で欠損する画素が補完される。したがって、図８に示すように、連続的に繋がった塗布物質５の領域が強調される。なお、当該領域強調処理は、クロージング処理以外にフィルタリング処理を利用してもよい。 <Step S <b>4> Region Enhancement Processing The region enhancement unit 15 performs the closing processing for expanding and contracting the obtained region pixel of the coating substance 5 at least once. At this time, pixels that are deficient due to unevenness of brightness caused by light diffusion due to unevenness or dust adhering at the time of cutting on the end surface of the coating substance 5 are complemented. Therefore, as shown in FIG. 8, the area | region of the coating substance 5 connected continuously is emphasized. The region enhancement process may use a filtering process in addition to the closing process.

＜ステップＳ５＞ 矩形近似処理
矩形近似部１６は、塗布物質５の輪郭座標を利用して最小二乗法により、図９に示すように、実際の輪郭画像に近似させた矩形２０を求める。 <Step S5> Rectangle Approximation Processing The rectangle approximation unit 16 obtains a rectangle 20 approximated to an actual contour image as shown in FIG. 9 by the least square method using the contour coordinates of the coating substance 5.

＜ステップＳ１０＞ 第１欠陥部位算出
当該ステップＳ１０では、塗布物質５の欠陥部位を求める。当該欠陥部位を求めるために、図５に示すように、以下のステップＳ１３からステップＳ１８の処理が繰り返し実行される。 <Step S10> First Defect Site Calculation In step S10, the defect site of the coating substance 5 is obtained. In order to obtain the defective part, as shown in FIG. 5, the following processing from step S13 to step S18 is repeatedly executed.

＜ステップＳ１１＞ 比較処理
ステップＳ４で求めた塗布物質５の領域とステップＳ５で求めた矩形領域の差分をとる。 <Step S11> Comparison Processing The difference between the area of the coating substance 5 obtained in step S4 and the rectangular area obtained in step S5 is taken.

＜ステップＳ１２＞ 分割判定
分割判定部１７は、ステップＳ６で差分し、余った領域、すなわち、図１０に示す近似矩形からはみ出るハッチング部分の面積を算出する。当該面積に応じて電極板３の画像を長手方向に最適となる分割数を求める。例えば、実験などにより予め決めた設定値で当該面積を除算し、その値を四捨五入したときの値が２以上であれば、分割有りと判定し、２未満であれば分割不要と判定する。なお、当該判定は設定条件などによって適宜変更される。例えば、分割演算結果が“０”または“１”となるように設定し、“０”の場合には分割無とし、“１”の場合は分割有と判定していもよい。 <Step S12> Division Determination The division determination unit 17 calculates the area of the hatched portion that is different in Step S6 and that is left out, that is, the hatched portion that protrudes from the approximate rectangle shown in FIG. The optimum number of divisions in the longitudinal direction of the image of the electrode plate 3 is determined according to the area. For example, the area is divided by a preset value determined by experiment or the like, and when the value is rounded to 2 or more, it is determined that there is division, and if it is less than 2, it is determined that division is unnecessary. Note that the determination is appropriately changed depending on setting conditions and the like. For example, the division calculation result may be set to “0” or “1”, and “0” may be determined as no division, and “1” may be determined as being divided.

すなわち、余った領域の面積が大きい場合ほど、電極板３が湾曲している。したがって、後の矩形近似処理の際に、求める矩形と実際の塗布部材５の輪郭とが略一致するような値を設定値とする。   That is, the electrode plate 3 is curved as the area of the surplus region is larger. Therefore, in the subsequent rectangle approximation process, a value is set such that the obtained rectangle and the actual contour of the application member 5 substantially match.

判定の結果、分割が必要な場合はステップＳ１３にすすむ。分割が不要な場合はステップＳ１４にすすむ。   As a result of the determination, if division is necessary, the process proceeds to step S13. If division is unnecessary, the process proceeds to step S14.

＜ステップＳ１３＞ 分割処理
ステップＳ１２で求めた分割数に応じて、画像データを分割する。 <Step S13> Division Processing The image data is divided according to the number of divisions obtained in step S12.

＜ステップＳ１４＞ 矩形近似処理
矩形近似処理部１６は、分割画像ごとに矩形近似処理を実行する。本実施例では３分割され、図１１に示すように、その左側の画像から塗布物質５の領域に近似する矩形領域２１を求める。例えば、塗布物質５の領域の輪郭座標を利用して最小二乗法により実際の塗布物質５の領域に近似させた矩形領域２１を求める。 <Step S14> Rectangle Approximation Processing The rectangle approximation processing unit 16 executes rectangle approximation processing for each divided image. In this embodiment, a rectangular area 21 that is divided into three parts and approximates the area of the coating substance 5 is obtained from the image on the left side as shown in FIG. For example, the rectangular region 21 approximated to the actual region of the coating material 5 is obtained by the least square method using the contour coordinates of the region of the coating material 5.

＜ステップＳ１５＞ フィッティング処理
矩形近似処理が完了すると、図１２に示すように、分割画像内の塗布物質５の領域の四隅と近似矩形の四隅とが一致するようにフィッティング処理を行う。 <Step S15> Fitting Process When the rectangle approximation process is completed, as shown in FIG. 12, the fitting process is performed so that the four corners of the region of the coating substance 5 in the divided image coincide with the four corners of the approximate rectangle.

＜ステップＳ１６＞ 欠陥部位算出
第１欠陥部位算出部１８は、図１３に示すように、分割された塗布物質５の領域とフィッティング後の矩形領域の差分をとり、矩形領域からはみ出る部分２１を塗布物質５の欠陥部位候補として求める。
＜ステップＳ１７＞ 欠陥判定処理
欠陥部位算出が完了した後、算出した欠陥部位候補に対し、予め決めた欠陥基準値との比較から欠陥の判定を行う。この判定により、最終的に致命的となり得る欠陥部位２１のみを算出する。ここで、致命的な欠陥部位２１とは、電極板３をセパレータを介して積層したとき、セパレータを貫通しきる恐れのある高さに設定される。したがって、セパレータの厚みなどのよって適宜に変更される。 <Step S16> Defect Site Calculation As shown in FIG. 13, the first defect site calculation unit 18 takes the difference between the divided area of the coating material 5 and the rectangular area after fitting, and applies the portion 21 that protrudes from the rectangular area. It is determined as a candidate defect site for substance 5.
<Step S17> Defect Determination Processing After the defect portion calculation is completed, the defect determination is performed by comparing the calculated defect portion candidate with a predetermined defect reference value. Based on this determination, only the defective part 21 that can ultimately be fatal is calculated. Here, the fatal defect portion 21 is set to a height that may penetrate the separator when the electrode plate 3 is laminated via the separator. Therefore, it is appropriately changed depending on the thickness of the separator.

＜ステップＳ１８＞ 分割数＝計数値
欠陥部位算出部１８は、ステップＳ１２で求めた分割数に達したかどうかを判別する。所定数に達すれば、ステップＳ３０にすすむ。所定数に達していなければ、所定数に達するまでステップＳ１４からの処理が繰り返される。 <Step S18> Number of divisions = count value The defective part calculation unit 18 determines whether or not the number of divisions obtained in step S12 has been reached. If the predetermined number is reached, the process proceeds to step S30. If the predetermined number has not been reached, the processing from step S14 is repeated until the predetermined number is reached.

次に、第２領域抽出の処理について説明する。なお、第２領域抽出側の処理系統では、芯材４に発生しているバリなどの欠陥部位を抽出している。   Next, the second region extraction process will be described. In the processing system on the second region extraction side, defective parts such as burrs generated in the core material 4 are extracted.

＜ステップＳ２０＞ 第２領域抽出
領域抽出部１４は、取得した画像データと予め決めた芯材４の基準値を比較し、図１４に示すように、芯材４の領域を求める。 <Step S20> Second Region Extraction The region extraction unit 14 compares the acquired image data with a predetermined reference value of the core material 4, and obtains the region of the core material 4 as shown in FIG.

＜ステップＳ２１＞ 第２欠陥部位算出
当該ステップＳ２１では、芯材４の欠陥部位を求めるために、図６に示すように、以下のステップＳ２２からステップＳ２６の処理が実行される。 <Step S21> Second Defect Site Calculation In step S21, the following steps S22 to S26 are performed as shown in FIG.

＜ステップＳ２２＞ 収縮処理
芯材４の厚みは数十から数百μｍなので、画面に映り込む領域は、図１４に示すように、光の拡散などによって途切れた細いパターンとして映り込んでいる。本実施例では、欠陥部位のない良品の芯材４の厚みが数画素程度で映し出されるように設定されている。第２欠陥部位算出部１９は、欠陥部位のない良品の芯材４の画像をノイズとみなし当該画像に対して収縮処理を行う。したがって、厚みが数画素程度の芯材４は、当該収縮処理を繰り返すことにより収縮されつつ、ひいては除去されてゆく。このとき、欠陥部位２３は、芯材４の厚みよりも厚みの大きな画像として映り込んでいるので、収縮処理後であっても、図１５に示すように、収縮はされつつも画像データとして残っている。 <Step S22> Shrinkage Processing Since the thickness of the core material 4 is several tens to several hundreds of μm, the region reflected on the screen is reflected as a thin pattern interrupted by light diffusion or the like as shown in FIG. In the present embodiment, the thickness of the non-defective core material 4 having no defect portion is set so as to be projected with about several pixels. The second defective part calculation unit 19 regards the image of the non-defective core material 4 having no defective part as noise, and performs a contraction process on the image. Therefore, the core material 4 having a thickness of about several pixels is removed while being contracted by repeating the contraction process. At this time, since the defect portion 23 is reflected as an image having a thickness larger than the thickness of the core material 4, even after the shrinking process, as shown in FIG. ing.

＜ステップＳ２３＞ 所定数＝計数値
第２欠陥部位算出部１９は、予め決めた芯材４の厚みに相当する画素数を除去しきる回数に達しかどうか判別する。判別の結果、所定回数に達すれば次のステップＳ２４にすすむ。所定回数に達していなければ、ステップＳ２２の処理が繰り返される。 <Step S23> Predetermined number = count value The second defect portion calculation unit 19 determines whether or not the number of pixels corresponding to a predetermined thickness of the core material 4 has been removed. As a result of the determination, if the predetermined number of times is reached, the process proceeds to the next step S24. If the predetermined number of times has not been reached, the process of step S22 is repeated.

＜ステップＳ２４＞ 膨張処理
第２欠陥部位算出部１９は、収縮処理後に残った画素に対して膨張処理をする。例えば、収縮処理を行った回数まで膨張処理を繰り返すか、あるいは識別し易いサイズになる所定回数まで実行する。したがって、図１６に示すように、欠陥部位２３のみが強調されて表示部１１に表示される。 <Step S24> Expansion Processing The second defect site calculation unit 19 performs expansion processing on the pixels remaining after the contraction processing. For example, the expansion process is repeated up to the number of times the contraction process has been performed, or is executed up to a predetermined number of times that makes the size easy to identify. Therefore, as shown in FIG. 16, only the defective part 23 is highlighted and displayed on the display unit 11.

＜ステップＳ２５＞ 所定数＝計数値
第２欠陥部位算出部１９は、予め決めた膨張処理の回数に達しかどうか判別する。判別の結果、所定回数に達すれば次のステップＳ３０にすすむ。所定回数に達していなければ、ステップＳ２４の処理が繰り返される。 <Step S25> Predetermined number = count value The second defect portion calculation unit 19 determines whether or not the number of expansion processes determined in advance has been reached. As a result of the determination, if the predetermined number of times is reached, the process proceeds to the next step S30. If the predetermined number has not been reached, the process of step S24 is repeated.

＜ステップＳ２６＞ 欠陥判定処理
膨張処理の終了後に算出した欠陥部位候補に対し、予め決めた欠陥基準値との比較から欠陥の判定を行う。この判定により、最終的に致命的となり得る欠陥部位２４のみを算出する。ここで、致命的な欠陥部位２４とは、電極板３をセパレータを介して積層したとき、塗布物質５の厚み分を超えてセパレータを貫通しきる恐れのある高さに設定される。したがって、塗布物質５の厚みおよびセパレータの厚みなどのよって適宜に変更される。 <Step S26> Defect Determination Process A defect is determined from a comparison with a predetermined defect reference value for a defect site candidate calculated after the expansion process is completed. Based on this determination, only the defective part 24 that can ultimately be fatal is calculated. Here, the fatal defect portion 24 is set to a height that may penetrate the separator beyond the thickness of the coating material 5 when the electrode plate 3 is laminated via the separator. Therefore, the thickness is appropriately changed depending on the thickness of the coating material 5 and the thickness of the separator.

＜ステップＳ３０＞ 処理長さの判定
ステップＳ１からステップＳ２６までの一巡の処理が完了すると、予め設定した電極板５の処理長さに達したどうかを判定する。所定長さに達すれば、処理を完了する。所定長さに達していなければステップＳ１からの処理が繰り返される。 <Step S30> Determination of processing length When one round of processing from step S1 to step S26 is completed, it is determined whether or not the processing length of the preset electrode plate 5 has been reached. When the predetermined length is reached, the process is completed. If the predetermined length has not been reached, the processing from step S1 is repeated.

上述のように、二次電池の端面の領域と当該領域を形成する輪郭座標から矩形を近似し、実際の二次電池の領域と当該矩形をフィッティングさせることにより、本来矩形内に収まっていなければならない、芯材４および塗布物質５の両断面形状からはみ出る上向きおよび下向きの部位をバリなどの欠陥部位として検出することができる。   As described above, by approximating a rectangle from the area of the end face of the secondary battery and the contour coordinates that form the area, and fitting the rectangle to the actual area of the secondary battery, the original area must be within the rectangle. The upward and downward portions protruding from both cross-sectional shapes of the core material 4 and the coating material 5 can be detected as defective portions such as burrs.

また、テンション不足などにより二次電池が長手方向（搬送方向）に湾曲または波打っている場合であっても、撮影した画像データを所定数に分割してから矩形近似をするので、湾曲などによる誤差を抑えることができ、欠陥部位をより精度よく求めることができる。   Even if the secondary battery is curved or undulated in the longitudinal direction (conveying direction) due to insufficient tension, etc., the captured image data is divided into a predetermined number and then approximated to a rectangle. An error can be suppressed and a defective part can be obtained more accurately.

さらに、二次電池の電極板３の総厚みに対して芯材４の厚みは小さいので、画面に映り込む細いパターンを収縮処理のみによってノイズとして除去し、芯材４より厚みの大きい欠陥部位のみを抽出することができる。当該収縮処理後の画像を膨張することにより、欠陥部位を鮮明に表示させることができる。   Further, since the thickness of the core material 4 is smaller than the total thickness of the electrode plate 3 of the secondary battery, the thin pattern reflected on the screen is removed as noise only by the shrinking process, and only the defective portion having a thickness larger than that of the core material 4 is removed. Can be extracted. By expanding the image after the contraction process, the defective part can be clearly displayed.

したがって、芯材４の欠陥部位を求める演算処理が、塗布物質５の欠陥部位を求める演算処理よりも簡素化されているので、トータルの演算時間を短くすることができる。   Therefore, the calculation process for obtaining the defective part of the core material 4 is simplified as compared with the calculation process for obtaining the defective part of the coating substance 5, so that the total calculation time can be shortened.

本発明は上述した実施例のものに限らず、次のように変形実施することもできる。   The present invention is not limited to the embodiment described above, and can be modified as follows.

（１）上記実施例装置は、領域強調部１５を利用して塗布物質５の領域を強調していたが、撮像対象の領域が二値化処理で精度よく求めることができる場合、当該機能を利用しなくてもよい。   (1) The above-described embodiment apparatus emphasizes the region of the coating substance 5 using the region emphasizing unit 15. However, when the region to be imaged can be accurately obtained by binarization processing, the function is provided. You do not have to use it.

（２）上記実施例装置では、領域抽出部１４によって読み出された画像データを二値化処理し、領域抽出を行っているが、読み出された画像データに対し、フィルタ処理などを用いてエッジ強度画像を求め、当該エッジ強度画像に対して二値化処理を行い領域抽出を行ってもよい。   (2) In the above-described embodiment apparatus, the image data read out by the area extracting unit 14 is binarized and the area is extracted. However, the read image data is subjected to filter processing or the like. An edge strength image may be obtained, and binarization processing may be performed on the edge strength image to extract a region.

（３）上記実施例装置において、芯材４の欠陥部位を求める前に、芯材４の画像を縮小して画素数を減らした後に収縮処理を行ってもよい。また、欠陥部位の抽出が完了した後に、膨張処理を行い、さらに当該画像を所定倍率まで拡大する。この方法によれば、収縮処理の回数を減らすことができる。   (3) In the above-described embodiment device, before obtaining the defective portion of the core material 4, the contraction process may be performed after the image of the core material 4 is reduced to reduce the number of pixels. Further, after the extraction of the defective part is completed, an expansion process is performed, and the image is further enlarged to a predetermined magnification. According to this method, the number of contraction processes can be reduced.

したがって、この場合、矩形近似処理も含めて上記実施例よりも処理速度が速くなる。   Therefore, in this case, the processing speed is faster than that of the above embodiment including the rectangular approximation processing.

（４）上記実施例装置では、第2領域抽出後、分割処理を行っていないが、分割処理を行ってもよい。   (4) Although the division processing is not performed after the second region is extracted in the above-described embodiment apparatus, the division processing may be performed.

なお、第２領域抽出後に分割処理を行う場合、芯材４の画像が湾曲して傾いているときに求めた矩形も画面に対して傾いている。したがって、当該傾きを補正した後に、収縮処理および膨張処理を行うことが好ましい。   Note that when the division process is performed after the second region is extracted, the rectangle obtained when the image of the core material 4 is curved and tilted is also tilted with respect to the screen. Therefore, it is preferable to perform the contraction process and the expansion process after correcting the inclination.

この方法によれば、より精度よく欠陥部位を求めることができる。   According to this method, a defective part can be obtained with higher accuracy.

（５）上記実施例装置では、縮小処理、膨張処理を繰り返し行うことで、欠陥部位を求めているが、縮小処理、膨張処理を行う際に画像の上下方向を長くした矩形構造要素により縮小処理、膨張処理を行ってもよい。例えば、画像の上下方向の画素数３〜５個画素、幅方向を１個画素を単位として収縮する。膨張も同じ画素数を単位とする。この方法によれば、縮小処理、膨張処理の回数を減らすことができる。   (5) In the above-described embodiment apparatus, the defective portion is obtained by repeatedly performing the reduction process and the expansion process. However, the reduction process is performed by the rectangular structure element in which the vertical direction of the image is elongated when performing the reduction process and the expansion process. The expansion process may be performed. For example, the image is contracted in units of 3 to 5 pixels in the vertical direction and one pixel in the width direction. Expansion is also in units of the same number of pixels. According to this method, the number of times of reduction processing and expansion processing can be reduced.

（６）上記実施例装置では、塗布物質５の領域の面積と矩形の領域の差分によって欠陥部位を求めているが、座標ごとに偏差を求め、当該偏差の絶対値と予め決めた基準値との比較によって求めてもよい。この場合、基準値は、塗布物質５の厚み＋許容誤差に設定することができる。   (6) In the above-described embodiment apparatus, the defect site is obtained by the difference between the area of the coating substance 5 and the rectangular area. The deviation is obtained for each coordinate, and the absolute value of the deviation and a predetermined reference value are obtained. You may obtain | require by comparison of. In this case, the reference value can be set to the thickness of the coating substance 5 + an allowable error.

（７）上記実施例装置において、ステップＳ３の第１領域抽出とステップＳ２０の第２領域抽出を並列処理せずにステップＳ３の後にステップＳ２０を挿入し、シリアル処理してもよい。同様に、ステップＳ１０の第１欠陥部位算出とステップＳ２１の第２欠陥部位算出を並列処理せずに図４のステップＳ１０の後にステップＳ２１を挿入し、シリアル処理してもよい。   (7) In the above-described embodiment device, the first area extraction in step S3 and the second area extraction in step S20 may be serially processed by inserting step S20 after step S3 without parallel processing. Similarly, step S21 may be inserted after step S10 of FIG. 4 and serially processed without parallel processing of the first defect portion calculation of step S10 and the second defect portion calculation of step S21.

（８）上記実施例装置は、枚葉に切断した二次電池にも利用することができる。   (8) The above-described embodiment device can also be used for a secondary battery cut into pieces.

１ … 光学ユニット
２ … 画像処理装置
３ … 電極板
４ … 芯材
５ … 塗布物質
１２ … 画像処理ユニット
１３ … 記憶部
１４ … 領域抽出部
１５ … 領域強調部
１６ … 矩形近似部
１７ … 分割判定部
１８ … 第１欠陥部位算出部
１９ … 第２欠陥部位算出部
２０，２１…矩形領域
２２，２３…欠陥部位 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Optical unit 2 ... Image processing apparatus 3 ... Electrode board 4 ... Core material 5 ... Coating substance 12 ... Image processing unit 13 ... Memory | storage part 14 ... Area extraction part 15 ... Area emphasis part 16 ... Rectangular approximation part 17 ... Division | segmentation determination part DESCRIPTION OF SYMBOLS 18 ... 1st defect site | part calculation part 19 ... 2nd defect site | part calculation part 20, 21 ... Rectangular area | region 22, 23 ... Defect site | part

Claims (10)

芯材に塗布物質を塗布して形成した積層体の端面を検査する端面検査方法であって、
前記端面を撮影する撮影過程と、
前記撮影過程で取得した画像データから前記積層体の領域を求める第１領域算出抽出過程と、
前記第１領域抽出過程で求めた積層体の領域の画像データを利用して当該領域に近似する矩形を求める矩形近似過程と、
前記積層体の領域から前記矩形の領域の差分をとり、余った領域を予め決めた基準値との比較から塗布物質の欠陥部位を求める第１欠陥部位算出過程と、
前記撮影過程で取得した画像データから前記積層体の総厚みよりも薄い芯材の領域を抽出する第２領域抽出過程と、
前記第２領域抽出過程で求めた芯材の領域から予め決めた芯材の厚み分をノイズとみなして除去し、芯材の欠陥部位を求める第２欠陥部位算出過程と、
を備えたことを特徴とする端面検査方法。 An end face inspection method for inspecting an end face of a laminate formed by applying a coating substance to a core material,
A shooting process of shooting the end face;
A first region calculation extraction step for obtaining a region of the laminate from the image data acquired in the photographing step;
A rectangle approximation process for obtaining a rectangle that approximates the area using the image data of the area of the laminate obtained in the first area extraction process;
Taking the difference of the rectangular region from the region of the laminated body, a first defect site calculation process for obtaining a defect site of the coating material from a comparison with a predetermined reference value for the remaining region;
A second region extraction step of extracting a region of the core material thinner than the total thickness of the laminate from the image data acquired in the photographing step;
A second defect site calculation process for determining a core material defect portion by removing a predetermined thickness of the core material as noise from the core material region determined in the second region extraction process;
An end face inspection method characterized by comprising: 請求項１に記載の端面検査方法において、
前記矩形近似過程で求めた矩形と積層体の領域と合わせ込むフィッティング過程を含み、
前記第１欠陥部位算出過程は、前記積層体の領域からフィッティング後の前記矩形の領域の差分をとり、余った領域を予め決めた基準値との比較から塗布物質の欠陥部位を求める
ことを特徴とする端面検査方法。 The end face inspection method according to claim 1,
Including a fitting process for fitting the rectangle obtained in the rectangular approximation process with the region of the laminate,
In the first defect site calculation process, a difference between the rectangular region after fitting is calculated from the layered region, and a defective region of the coating material is obtained by comparing the remaining region with a predetermined reference value. End face inspection method. 請求項１または請求項２に記載の端面検査方法において、
前記第１領域抽出過程で求めた積層体領域と矩形近似過程で求めた矩形領域の差分をとり、余った領域の面積に応じて積層体の長手方向に沿って画像を所定数に分割する分割過程を含み、
前記分割した画像ごとに矩形近似過程から第１欠陥部位算出過程を繰り返して塗布物質の欠陥部位を求める
ことを特徴とする端面検査方法。 In the end surface inspection method according to claim 1 or 2,
A division that takes the difference between the laminate area obtained in the first area extraction process and the rectangular area obtained in the rectangular approximation process, and divides the image into a predetermined number along the longitudinal direction of the laminate according to the area of the surplus area Including the process,
A method for inspecting an end face, wherein a defect part of a coating substance is obtained by repeating a first defect part calculation process from a rectangular approximation process for each of the divided images. 請求項１ないし請求項３のいずれかに記載の端面検査方法において、
前記第２欠陥部位算出過程は、求めた芯材の画像を画素単位で削除してゆく収縮処理および収縮処理後の画像に画素単位で増加させる膨張処理を順に行い、欠陥部位のみを求める
ことを特徴とする端面検査方法。 In the end face inspection method according to any one of claims 1 to 3,
In the second defect site calculation process, a contraction process in which the obtained core material image is deleted in pixel units and an expansion process in which the image after the contraction process is increased in pixel units are sequentially obtained to obtain only the defect site. A featured end face inspection method. 請求項１ないし請求項４のいずれかに記載の端面検査方法において、
前記第１領域抽出過程の後に、芯材および積層体のうち少なくとも積層体の領域を強調する領域強調処理過程を備える
ことを特徴とする端面検査方法。 In the end face inspection method according to any one of claims 1 to 4,
An end face inspection method comprising: an area emphasis process for emphasizing at least an area of the laminated body of the core material and the laminated body after the first area extracting process. 請求項１ないし請求項５のいずれかに記載の端面検査方法において、
前記積層体は、所定幅にスリットされた帯状であって、当該積層体を搬送しつつスリットされた端面を連続的に撮影し、塗布物質および芯材の欠陥部位を求める
ことを特徴とする端面検査方法。 In the end surface inspection method according to any one of claims 1 to 5,
The laminated body has a strip shape slit to a predetermined width, and continuously captures the slit end face while transporting the laminated body to obtain a defective portion of the coating substance and the core material. Inspection method. 芯材に塗布物質を塗布して形成した積層体の端面を検査する端面検査装置であって、
前記積層体の端面に向けて光を照射する照射ユニットと、
光の照射された芯材の端面を撮影する撮影ユニットと、
前記撮影ユニットで取得した画像データを利用して芯材および積層体の欠陥部位を検査する画像処理ユニットとを備え、
前記画像処理ユニットは、撮影ユニットで取得した画像データを記憶する記憶部と、
前記記憶部から画像データを読み出し、当該画像データから前記積層体および芯材の領域を求める領域抽出部と、
前記積層体の領域の画像データを利用して当該領域に近似する矩形を求める矩形近似部と、
前記積層体の領域から前記矩形の領域の差分をとり、余った領域を予め決めた基準値との比較から塗布物質の欠陥部位を求める第１欠陥部位算出部と
前記芯材の領域から予め決めた芯材の厚み分をノイズとみなして除去し、芯材の欠陥部位を求める第２欠陥部位算出部と、
を備えたことを特徴とする端面検査装置。 An end face inspection device for inspecting an end face of a laminate formed by applying a coating substance to a core material,
An irradiation unit for irradiating light toward an end face of the laminate;
A photographing unit for photographing the end surface of the core material irradiated with light;
An image processing unit for inspecting a defective portion of the core material and the laminate using the image data acquired by the imaging unit;
The image processing unit includes a storage unit that stores image data acquired by the photographing unit;
A region extraction unit that reads out image data from the storage unit and obtains the region of the laminate and the core from the image data;
A rectangular approximation unit that obtains a rectangle that approximates the area using image data of the area of the laminate,
A difference between the rectangular region and the rectangular region is taken, and a surplus region is determined in advance from a comparison with a predetermined reference value. A second defect portion calculation unit for determining the thickness portion of the core material as noise and removing it, and obtaining a defect portion of the core material;
An end surface inspection apparatus comprising: 請求項７に記載の端面検査装置において、
前記画像処理ユニットは、矩形近似部で求めた矩形を積層体の領域に合わせ込むフィッティング部を備え、
前記第１欠陥部位算出部は、前記積層体の領域ごとにフィッティングにより求めた矩形の領域との差分をとり、余った領域を予め決めた基準値との比較から塗布物質の欠陥部位を求める
ことを特徴とする端面検査装置。 In the end surface inspection apparatus according to claim 7,
The image processing unit includes a fitting unit that fits the rectangle obtained by the rectangular approximation unit into the area of the stacked body,
The first defect site calculation unit calculates a difference from a rectangular region obtained by fitting for each region of the laminated body, and obtains a defective region of the coating substance from a comparison with a reference value determined in advance for the remaining region. An end surface inspection device characterized by the above. 請求項７または請求項８に記載の端面検査装置において、
前記画像処理ユニットは、積層体の領域と矩形領域の差分をとり、余った領域の面積に応じて積層体の長手方向に沿って画像を所定数に分割する分割判定部を備えた
ことを特徴とする端面検査装置。 In the end face inspection device according to claim 7 or 8,
The image processing unit includes a division determination unit that takes a difference between a region of the laminate and a rectangular region and divides the image into a predetermined number along the longitudinal direction of the laminate according to the area of the surplus region. End face inspection device. 請求項７ないし請求項９のいずれかに記載の端面検査装置において、
前記領域抽出部で求めた芯材および積層体の画像のうち少なくとも積層体の領域を強調する領域強調部を備える
ことを特徴とする端面検査装置。 In the end face inspection device according to any one of claims 7 to 9,
An end face inspection apparatus comprising: a region emphasizing unit for emphasizing at least a region of a laminated body among images of a core material and a laminated body obtained by the region extracting unit.
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