JP2012178451A - マスク検査方法およびその装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】実施形態によれば、半導体露光用マスクの欠陥を検出する方法は、マスクの表面高さ分布からバックグラウンド強度を取得し、前記バックグラウンド強度から基準バックグラウンド強度分布を取得し、前記マスクに任意波長の光を入射させ、前記マスクの注目位置の像を取得し、前記取得された像の注目位置の信号強度と、前記注目位置の周辺領域における信号強度の平均値によって信号強度を取得し、前記基準バックグラウンド強度分布に対する、前記信号強度の比によって、前記信号強度の補正係数を求め、前記注目位置の信号強度に前記補正係数を乗じることによって、前記信号強度を補正し、前記補正された信号強度が予め定めておいたしきい値以上か否かを判定する。
【選択図】図3
Description
第1の実施形態に係るマスク検査方法およびその装置を説明する。
1−1.全体構成例
まず、図1を用い、第1の実施形態に係るマスク検査装置の全体構成例について説明する。
図示するように、第1の実施形態に係るマスク検査システムは、光源101,楕円鏡102,平面鏡103,マスク104,マスクステージ105,遮蔽部106,凹面鏡107,および検出器108を備える光学系と,この光学系を制御するパーソナルコンピュータ109とを備える。
楕円鏡102は、光源101から発せられた光を平面鏡103に収束させる。
次に、図2を用い、第1の実施形態に係るパーソナルコンピュータ109の構成例について説明する。
図示するように、本例に係るパーソナルコンピュータ109は、バス109−0,プロセッサ109−1,検出器I/F109−2,ROM109−3,RAM109−4,および制御プログラム109−5を備える。
次に、第1の実施形態に係るマスク欠陥の検査方法について説明する。ここでは、図3のフローに沿って説明する。
まず、ブランクマスク104上にほぼ均等に配置されたn点(x1,y1)、(x2,y2)、…(xn,yn)において、表面高さ分布を原子間力顕微鏡(AFM)によって測定する。ここで、測定点数nは、後述する基準バックグラウンド強度分布が十分な精度で取得できる程度以下であれば良い。得られたn点の表面高さ分布は、パーソナルコンピュータ109内の、例えば、RAM109−3等に格納される。
続いて、得られた表面高さ分布に、フーリエ変換を施し、その絶対値の2乗によって、PSD(f)を得る。ここでfは空間周波数であり、PSDは角度方向に依存性がないと仮定している。(x,y)におけるバックグラウンド強度Bは、以下の式(1)により、計算できる。式(1)において、λは波長、Rは反射率を示している。
続いて、プロセッサ109−1は、計算されたBl,B2,…,Bnに対して、フイッティング近似を行うことにより、基準となる基準バックグラウンド強度分布Bstd(x,y)を計算する。例えば、この際に得られる基準バックグラウンド強度分布Bstd(x,y)は、図4のように示される。
続いて、プロセッサ109−1は、検査対象のブランクマスク104をマスクステージ105に載せられているか確認する。
続いて、マスクステージ105を走査させて、検査所望領域内を走査させ、像強度データ(I(x,y))を取得する。なお、本例でこのステップにより取得されるマスクの注目位置の像強度データ(I(x,y))は、図1に示すシステムから、暗視野像である。
より具体的には、マスクステージ105を走査させながら、上記図1に示したマスク欠陥検査システムにより、検出器108が、遮蔽部106により集光され結像される光を検出し、その像を取り込み、得られた像の強度について配線110を介してパーソナルコンピュータ109に出力する。得られたデータI(x,y)は、検出器I/F109−2を介して、パーソナルコンピュータ109内の、例えば、RAM109−3等に格納される。
図示するように、取得される検査所望領域401に含まれる走査線上402を走査させ、CCD検出器108にて像強度データI(x,y)を取得する。
続いて、プロセッサ109−1は、上記ステップS205により得られた像強度データI(x,y)から、信号強度(Braw(x,y))を算出する。
続いて、プロセッサ109−1は、上記ステップS203により得られた基準バックグラウンド強度分布Bstd(x,y)を用いて、上記信号強度Braw(x,y)を補正する。
続いて、プロセッサ109−1は、計算された補正信号強度Scal(x,y)を用いて、マスク104の欠陥判定の結果を記録する。
より具体的には、プロセッサ109−1は、ある位置座標(xd,yd)において、補正信号強度Scal(x,y)が予め決定しておいた検出しきい値以上であるか否かを判定する。そして、プロセッサ109−1は、上記ステップS208の際のある位置座標(xd,yd)において補正信号強度Scal(x,y)が検出しきい値以上である場合には、位置座標(xd,yd)に欠陥が存在すると判定して、その位置座標(xd,yd)を欠陥座標として例えばRAM109−3等に記録する。
続いて、プロセッサ109−1は、検査終了か否かを判定する。
より具体的には、プロセッサ109−1は、検査所望領域の全ての像強度データの欠陥判定を取得した場合(Yes)は、次にステップS210に続く。一方、検査所望領域の全ての像強度データの欠陥判定を取得していない場合(No)は、同様のステップS205〜S208の走査を、検査を終了するまで繰り返す。
続いて、プロセッサ109−1は、検査所望領域の全ての像強度データの欠陥判定を取得した場合(Yes)は、上記ステップS208の際に取得した欠陥と判定した信号の位置座標((xd,yd),…,(xn,yn))を外部に出力する。その結果、例えば、プロセッサ109−1により、欠陥と判定した信号の位置座標((xd,yd),…,(xn,yn))を図示しない表示部などに表示される。
この実施形態に係るマスク検査方法およびその装置によれば、少なくとも下記(1)の効果が得られる。
次に、第2の実施形態に係るマスク検査方法およびその装置について、図6および図7を用いて説明する。第2の実施形態は、バックグラウンド強度を取得する際に、間引き走査を適用する一例に関するものである。この説明において、上記第1の実施形態と重複する部分の詳細な説明を省略する。
構成例については、上記第1の実施形態と同様であるので、詳細な説明を省略する。
次に、第2の実施形態に係るマスク欠陥の検査方法について説明する。ここでは、図6のフローに沿って説明する。
上記第1の実施形態では、原子間力顕微鏡(AFM)によって表面高さ分布を取得し、基準バックグラウンド強度分布Bstd(x,y)を求める。本第2の実施形態では、検査所望領域の像を取得するための全走査線のうち、ほぼ均等間隔に間引かれた走査線上を走査(間引き走査)させて、像バックグラウンド強度データを取得し、基準バックグラウンド強度分布を求める点で、上記第1の実施形態と相違する。
まず、プロセッサ109−1は、検査対象のブランクマスクがマスクステージ105上に載せられているか確認する。
続いて、プロセッサ109−1は、間引き走査を適用し、バックグラウンド強度を取得する。
より具体的には、図7に示すように、プロセッサは、検査所望領域601の像を取得するための全走査線のうち、ほぼ均等間隔のn本(n:複数)に間引かれる(省略される)走査線上602を走査させ、像強度データを取得する。ここで、間引き走査線数nは、続くステップS503で求める基準バックグラウンド強度分布が十分な精度で取得でき、走査に要する時間が光源の光強度変動が発生する時間より十分短くなるような本数で決定されることが望ましい。
得られた間引き走査の像強度データは、各走査線上のm点(図中の603)において欠陥サイズより十分に広い領域の平均強度を算出する。結果、合計n×m点のバックグラウンド強度B1,B2,…,Bn×m(x,y)を求める。
得られた合計n×m点のバックグラウンド強度B1,B2,…,Bn×m(x,y)は、パーソナルコンピュータ109中の、例えば、RAM109−4等に格納される。
続いて、プロセッサ109−1は、上記各バックグラウンド強度B1,B2,…,Bn×m(x,y)に、それぞれ上記同様のフイッティング近似を行うことにより、基準バックグラウンド強度分布Bstd(x,y)を取得する。
得られた基準バックグラウンド強度分布Bstd(x,y)は、同様に、パーソナルコンピュータ109中の、例えば、RAM109−4等に格納される。
続くステップS504〜S509については、上記第1の実施形態と実質的に同様であるので、詳細な説明を省略する。
上記のように、第2の実施形態に係るマスク検査方法およびその装置によれば、少なくとも上記(1)と同様の効果が得られる。
また、上記間引き走査を行うことにより、検査時間を短縮化でき、高速検査化に対して有利である。
次に、第3の実施形態に係るマスク検査方法およびその装置について説明する。この実施形態は、走査方向の垂直方向に並ぶ座標のバックグラウンド強度を取得する一例に関するものである。この説明において、上記第1,第2の実施形態と重複する部分の詳細な説明を省略する。
構成例については、上記第1,第2の実施形態と同様であるので、詳細な説明を省略する。
次に、第3の実施形態に係るマスク欠陥の検査方法について説明する。ここでは、図8のフローに沿って説明する。
第3の実施形態では、下記に説明するように、基準バックグラウンド強度分布Bstd(x,y)を求めること関して、走査方向の垂直方向に並ぶ座標のバックグラウンド強度を取得する方法である。
まず、プロセッサ109−1は、同様に、検査対象のブランクマスクがマスクステージ105上に載せられているか確認する。
続いて、プロセッサ109−1は、走査方向に垂直に並ぶn点のバックグラウンド強度を取得する。
より具体的には、図7の破線700で示すように、走査線の方向をXとすると、X座標がx0であり、Y座標がn個のY方向に並んだn点(x0,y1)、(x0,y2)、…(x0,yn)において、欠陥サイズより十分に広い領域の像強度データを取得する。
そして、得られた上記n点の像強度データをそれぞれ平均することにより、n点のバックグラウンド強度B1,B2,…,Bn(x0,y)を求める。
得られたn点のバックグラウンド強度B1,B2,…,Bn(y)は、同様に、パーソナルコンピュータ109中の、例えば、RAM109−4等に格納される。
(ステップS703)
続いて、プロセッサ109−1は、上記各バックグラウンド強度B1,B2,…,Bn(y)に、それぞれ上記同様のフイッティング近似を行うことにより、図9に示すように、基準バックグラウンド強度分布Bstd(y)を取得する。
得られた基準バックグラウンド強度分布Bstd(y)は、同様に、パーソナルコンピュータ109中の、例えば、RAM109−4等に格納される。
(ステップS704)
続いて、プロセッサ109は、マスクステージ105を走査させて、検査所望領域内を走査させ、像強度データ(I(x,y))を取得する。ここで(x、y)は検査所望領域内の全ての点を意味する。
続いて、プロセッサ109−1は、上記像強度データI(x,y)から、信号強度を算出する。
さらに、注目画素を中心とする3×3画素領域内405にて、(I(x,y)−Braw(x,y))の総和によって、信号強度Sraw(x,y)を求める。
(ステップS706)
続いて、プロセッサ109−1は、基準バックグラウンド分布Bstd(y)を用いて、信号強度を補正する。このとき1本の走査線上で発生する光量変動が無視できる程度であるとみなし、yが同じであれば同じ補正係数を用いる。
続くステップS707〜S709については、上記第1の実施形態と実質的に同様であるので、詳細な説明を省略する。
上記のように、第3の実施形態に係るマスク検査方法およびその装置によれば、少なくとも上記(1)と同様の効果が得られる。
そのため、1回の走査時間内における光源の光強度変動が無視できる場合、第1,第2の実施形態と同様の効果を得つつ、更に簡便な方法とすることができる点で有利である。
Claims (5)
- 半導体露光用マスクの欠陥を検出する方法であって、
前記マスクの表面高さ分布からバックグラウンド強度を取得するステップと、
前記バックグラウンド強度から基準バックグラウンド強度分布を取得するステップと、
前記マスクに任意波長の光を入射させ、前記マスクの注目位置の像を取得するステップと、
前記取得された像の注目位置の信号強度と、前記注目位置の周辺領域における信号強度の平均値によって信号強度を取得するステップと、
前記基準バックグラウンド強度分布に対する、前記信号強度の比によって、前記信号強度の補正係数を求めるステップと、
前記注目位置の信号強度に前記補正係数を乗じることによって、前記信号強度を補正するステップと、
前記補正された信号強度が予め定めておいたしきい値以上か否かを判定するステップと
を具備するマスク欠陥検査方法。 - 前記半導体露光用マスクは、極端紫外光露光用ブランクマスクであり、
前記任意波長は、極端紫外光であり、
前記取得される前記マスクの注目位置の像は、暗視野像である
請求項1に記載のマスク検査方法。 - 前記バックグラウンド強度を取得するステップの際に、像を取得するための全走査線のうち、複数本に省略される走査線上を走査させ、像強度データを取得する
請求項1または2に記載のマスク検査方法。 - 前記複数本に省略される走査線上を走査させる際に、前記走査線と交差する方向における像強度データのみを取得する
請求項3に記載のマスク検査方法。 - 半導体露光用マスクに任意波長の光を入射させて像を取得する光学系と、前記光学系を制御する制御部とを備え、前記マスクの欠陥を検出する装置であって、前記制御部は、
前記マスクの表面高さ分布からバックグラウンド強度を取得し、
前記バックグラウンド強度から基準バックグラウンド強度分布を取得し、
前記マスクに任意波長の光を入射させ、前記マスクの注目位置の像を取得し、
前記取得された像の注目位置の信号強度と、前記注目位置の周辺領域における信号強度の平均値によって信号強度を取得し、
前記基準バックグラウンド強度分布に対する、前記信号強度の比によって、前記信号強度の補正係数を求め、
前記注目位置の信号強度に前記補正係数を乗じることによって、前記信号強度を補正し、
前記補正された信号強度が予め定めておいたしきい値以上か否かを判定する。
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