JP2012151467A - Low-temperature co-fired ceramic substrate structure and method for manufacturing the same - Google Patents

Low-temperature co-fired ceramic substrate structure and method for manufacturing the same Download PDF

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a low-temperature co-fired ceramic substrate structure suitable for formation of an antenna element and the like.SOLUTION: In a low-temperature co-fired ceramic substrate structure 1, a plurality of sheet layers S1-S8 having conductor layers C1-C8 provided in dielectric layers I1-I8 are stacked and burnt. A ground electrode 2 is formed in the conductor layer C8 of the sheet layer S8 positioned on a back side 1a. Between the ground electrode 2 and a radiation electrode 4 of the conductor layer C1 of the sheet layer S1 positioned on a front side 1b, a cavity part 3 is provided in a predetermined location in the predetermined sheet layers S3-S6 positioned between the sheet layer S8 and the sheet layer S1.

Description

本発明は、アンテナ素子などを集積するのに好適な低温焼成セラミック基板構造体及びその製造方法に関する。   The present invention relates to a low-temperature fired ceramic substrate structure suitable for integrating antenna elements and the like, and a method for manufacturing the same.

従来より、高周波用の電子部品では、小型化や高性能化のために、低温焼成セラミック(LTCC)基板などの誘電体基板に、フィルタやアンテナ素子などの高周波回路を形成し集積することが行われている。例えば、特許文献1には、一部がフィルタを構成する導波線路とアンテナ素子を低温焼成セラミック基板などの誘電体基板に形成し集積したものが記載されている。   Conventionally, in high-frequency electronic components, high-frequency circuits such as filters and antenna elements are formed and integrated on a dielectric substrate such as a low-temperature fired ceramic (LTCC) substrate for miniaturization and high performance. It has been broken. For example, Patent Document 1 describes a structure in which a waveguide line and an antenna element, part of which constitutes a filter, are formed and integrated on a dielectric substrate such as a low-temperature fired ceramic substrate.

特開2005−102024号公報JP 2005-102024 A

ところで、高周波信号は周波数(例えば、ミリ波帯)が高くなるにつれて伝送損失が大きく、また、アンテナ素子のような高周波回路は専有面積が大きく信号が伝送される距離も長い。よって、アンテナ素子などは、伝送損失をできるだけ抑制するよう誘電体は誘電率の低いもの(例えば、比誘電率が約2〜4の樹脂製など)を用いるのが望ましい。一方、信号処理を行うフィルタなどは、通常、比較的誘電率が高い(例えば、比誘電率が約4〜9の)低温焼成セラミック基板が用いられている。そのため、フィルタなどとともに集積しても良好な特性を得ることができるように、アンテナ素子などにおいて伝送損失を抑制できる低温焼成セラミック基板構造体が望まれる。   By the way, the transmission loss of the high-frequency signal increases as the frequency (for example, millimeter wave band) increases, and the high-frequency circuit such as an antenna element has a large area and a long signal transmission distance. Therefore, it is desirable to use an antenna element having a low dielectric constant (for example, a resin having a relative dielectric constant of about 2 to 4) so as to suppress transmission loss as much as possible. On the other hand, low-temperature fired ceramic substrates having a relatively high dielectric constant (for example, a relative dielectric constant of about 4 to 9) are usually used for filters that perform signal processing. Therefore, a low-temperature fired ceramic substrate structure capable of suppressing transmission loss in an antenna element or the like is desired so that good characteristics can be obtained even when integrated with a filter or the like.

本発明は、係る事由に鑑みてなされたものであり、その目的は、アンテナ素子などを形成するのに好適な低温焼成セラミック基板構造体及びその製造方法を提供することにある。   This invention is made | formed in view of the reason which concerns, The objective is to provide the low-temperature baking ceramic substrate structure suitable for forming an antenna element etc., and its manufacturing method.

上記目的を達成するために、請求項1に記載の低温焼成セラミック基板構造体は、誘電体層に導体層が設けられたシート層が複数個積層され焼成されて成り、裏面側に位置するシート層の導体層にグランド電極が形成された低温焼成セラミック基板構造体において、前記グランド電極と表面側に位置するシート層の導体層との間に位置する内部の所定のシート層の所定箇所に空洞部が設けられていることを特徴とする。   In order to achieve the above object, a low-temperature fired ceramic substrate structure according to claim 1 is formed by laminating and firing a plurality of sheet layers each having a dielectric layer provided with a conductor layer, and is located on the back side. In a low-temperature fired ceramic substrate structure in which a ground electrode is formed on a conductive layer of the layer, a cavity is formed at a predetermined position of a predetermined sheet layer located between the ground electrode and the conductive layer of the sheet layer positioned on the surface side. A portion is provided.

請求項2に記載の低温焼成セラミック基板構造体は、請求項1に記載の低温焼成セラミック基板構造体において、前記グランド電極は、最裏面側に位置するシート層の外部に露出した導体層に形成されていることを特徴とする。   The low-temperature fired ceramic substrate structure according to claim 2 is the low-temperature fired ceramic substrate structure according to claim 1, wherein the ground electrode is formed on the conductor layer exposed to the outside of the sheet layer located on the backmost side. It is characterized by being.

請求項3に記載の低温焼成セラミック基板構造体は、請求項1又は2に記載の低温焼成セラミック基板構造体において、前記空洞部は、一部が外部に開放されて形成されているものであることを特徴とする。   The low-temperature fired ceramic substrate structure according to claim 3 is the low-temperature fired ceramic substrate structure according to claim 1 or 2, wherein the cavity is formed with a part opened to the outside. It is characterized by that.

請求項4に記載の低温焼成セラミック基板構造体は、請求項1〜3のいずれか1項に記載の低温焼成セラミック基板構造体において、前記空洞部よりも表面側に位置するシート層の導体層にアンテナ素子の放射電極が形成されていることを特徴とする。   The low-temperature fired ceramic substrate structure according to claim 4 is the low-temperature fired ceramic substrate structure according to any one of claims 1 to 3, wherein the conductor layer is a sheet layer located on the surface side of the cavity. And a radiation electrode of the antenna element is formed.

請求項5に記載の低温焼成セラミック基板構造体の製造方法は、請求項1〜4のいずれか1項に記載の低温焼成セラミック基板構造体を製造する製造方法であって、前記誘電体層の原材料から前記シート層となる基板シートを複数個成形する基板シート成形工程と、前記複数の基板シートに、ビアホールを設けてそれを導電性部材で充填する及び/又は導電性部材で所定の平面パターンを形成することによって前記導体層を設ける基板シート加工工程と、前記複数の基板シートを積み重ね、加熱及び加圧によって圧着させて積層体とする積層工程と、圧着された前記積層体をカットして前記低温焼成セラミック基板構造体となる部分を取り出す低温焼成セラミック基板構造体取出工程と、該取り出された部分から前記低温焼成セラミック基板構造体を焼成する焼成工程と、を含んで成り、前記基板シート加工工程では、前記内部の所定のシート層となる基板シートにおいて前記空洞部に対応する空洞部部分を切除することを特徴とする。   The method for producing a low-temperature fired ceramic substrate structure according to claim 5 is a method for producing the low-temperature fired ceramic substrate structure according to any one of claims 1 to 4, wherein the dielectric layer A substrate sheet forming step of forming a plurality of substrate sheets to be the sheet layer from raw materials, and providing a via hole in the plurality of substrate sheets and filling them with a conductive member and / or a predetermined planar pattern with a conductive member A substrate sheet processing step of providing the conductor layer by forming a layer, a stacking step of stacking the plurality of substrate sheets, and press-bonding them by heating and pressurization to form a laminate, and cutting the press-bonded laminate A low-temperature fired ceramic substrate structure take-out step for taking out a portion to be the low-temperature fired ceramic substrate structure, and the low-temperature fired ceramic substrate from the taken-out part A firing step of firing the structure, and in the substrate sheet processing step, a cavity portion corresponding to the cavity is cut off in the substrate sheet to be the predetermined sheet layer inside. .

請求項6に記載の低温焼成セラミック基板構造体の製造方法は、請求項5に記載の低温焼成セラミック基板構造体の製造方法において、前記セラミック基板構造体の前記空洞部は、外部に一部が開放されて開口しているものであって、前記基板シート加工工程で、前記複数の基板シートに、前記空洞部が開口する1辺に沿って切れ込みを形成し、かつ、前記内部の所定のシート層となる基板シートにおいて前記空洞部部分とともにそれに連続して前記切れ込みを横切って外方にまで拡張した拡張部分を切除し、前記積層工程で、前記空洞部部分と前記拡張部分に空洞部仮設体を配置し、前記低温焼成セラミック基板構造体取出工程後又は焼成工程後に、前記空洞部仮設体を引き抜くことを特徴とする。   The method for producing a low-temperature fired ceramic substrate structure according to claim 6 is the method for producing a low-temperature fired ceramic substrate structure according to claim 5, wherein the cavity portion of the ceramic substrate structure is partially outside. In the substrate sheet processing step, a slit is formed in the plurality of substrate sheets along one side where the hollow portion is opened, and the predetermined sheet in the interior is opened. In the substrate sheet to be a layer, together with the cavity portion, an extended portion continuously extending outwardly across the notch is excised, and in the stacking step, the cavity portion and the extension portion are temporarily provided with a cavity portion temporary structure. And the cavity temporary structure is pulled out after the low-temperature fired ceramic substrate structure taking-out step or after the firing step.

請求項7に記載の低温焼成セラミック基板構造体の製造方法は、請求項5に記載の低温焼成セラミック基板構造体の製造方法において、前記セラミック基板構造体の前記空洞部は、外部に一部が開放されて開口しているものであって、前記低温焼成セラミック基板構造体取出工程で、前記低温焼成セラミック基板構造体となる部分とともに、それに連続して一体に形成された収縮変形吸収部分を取り出し、該収縮変形吸収部分は、前記空洞部とともに、前記表面側に位置するシート層の導体層と前記グランド電極がそれぞれ連続して拡張されており、焼成工程後に、該収縮変形吸収部分を切除することを特徴とする。   The method for producing a low-temperature fired ceramic substrate structure according to claim 7 is the method for producing a low-temperature fired ceramic substrate structure according to claim 5, wherein the cavity portion of the ceramic substrate structure is partially outside. In the low-temperature fired ceramic substrate structure take-out step, the shrinkage deformation absorbing portion formed integrally and continuously therewith is taken out in the low-temperature fired ceramic substrate structure take-out step. The shrinkage deformation absorbing portion is formed by continuously expanding the sheet layer conductor layer and the ground electrode along with the hollow portion, and cutting out the shrinkage deformation absorbing portion after the firing step. It is characterized by that.

請求項8に記載の低温焼成セラミック基板構造体の製造方法は、請求項7に記載の低温焼成セラミック基板構造体の製造方法において、前記基板シート加工工程で、前記複数の基板シートに、前記拡張された空洞部が開口する1辺に沿って切れ込みを形成し、かつ、前記内部の所定のシート層となる基板シートにおいて前記空洞部部分とともにそれに連続して前記切れ込みを横切って外方にまで拡張した拡張部分を切除し、前記積層工程で、前記空洞部部分と前記拡張部分に空洞部仮設体を配置し、前記低温焼成セラミック基板構造体取出工程後又は焼成工程後に、前記空洞部仮設体を引き抜くことを特徴とする。   The method for producing a low-temperature fired ceramic substrate structure according to claim 8 is the method for producing a low-temperature fired ceramic substrate structure according to claim 7, wherein the expansion is applied to the plurality of substrate sheets in the substrate sheet processing step. A notch is formed along one side where the formed cavity is opened, and the substrate sheet to be the predetermined sheet layer in the interior is continuously extended along with the cavity portion to the outside across the notch. In the laminating step, a cavity portion temporary structure is disposed in the cavity portion and the extension portion, and the cavity portion temporary body is removed after the low-temperature fired ceramic substrate structure extraction step or after the firing step. It is characterized by pulling out.

本発明の低温焼成セラミック基板構造体によれば、積層構造における積層方向の所定の箇所に空洞部を形成して誘電率を低くできるので、アンテナ素子などを形成するのに好適である。また、本発明の低温焼成セラミック基板構造体の製造方法によれば、所望の低温焼成セラミック基板構造体を比較的容易に製造することが可能になる。   According to the low-temperature fired ceramic substrate structure of the present invention, a cavity can be formed at a predetermined position in the stacking direction in the stacked structure to reduce the dielectric constant, which is suitable for forming an antenna element or the like. In addition, according to the method for producing a low-temperature fired ceramic substrate structure of the present invention, a desired low-temperature fired ceramic substrate structure can be produced relatively easily.

本発明の実施形態に係る低温焼成セラミック基板構造体を示す概略斜視図である。1 is a schematic perspective view showing a low-temperature fired ceramic substrate structure according to an embodiment of the present invention. 同上の低温焼成セラミック基板構造体を示すものであって、図3〜図6に示すA−A線で切断した模式的な切断端面図である。FIG. 7 is a schematic cut end view showing the same low-temperature fired ceramic substrate structure as cut along line AA shown in FIGS. 3 to 6. 同上の低温焼成セラミック基板構造体の最裏面側(8層目)のシート層を示す底面図である。It is a bottom view which shows the sheet | seat layer of the most back surface side (8th layer) of a low-temperature baking ceramic substrate structure same as the above. 同上の低温焼成セラミック基板構造体の7及び2層目のシート層を示す底面図である。It is a bottom view which shows the 7th and 2nd sheet | seat layer of the low-temperature baking ceramic substrate structure same as the above. 同上の低温焼成セラミック基板構造体の6〜3層目のシート層を示す底面図である。It is a bottom view which shows the 6th-3rd sheet layer of the low-temperature baking ceramic substrate structure same as the above. 同上の低温焼成セラミック基板構造体の最表面側(1層目)のシート層を示す底面図である。It is a bottom view which shows the sheet | seat layer of the outermost surface side (1st layer) of a low-temperature baking ceramic substrate structure same as the above. 同上の低温焼成セラミック基板構造体の最裏面側(8層目)のシート層の基板シートを示す平面図である。It is a top view which shows the board | substrate sheet | seat of the sheet | seat layer of the backmost surface side (8th layer) of a low-temperature baking ceramic substrate structure same as the above. 同上の低温焼成セラミック基板構造体の7及び2層目のシート層の基板シートを示す平面図である。It is a top view which shows the board | substrate sheet | seat of the 7th and 2nd sheet layer of the low-temperature baking ceramic substrate structure same as the above. 同上の低温焼成セラミック基板構造体の6〜3層目のシート層の基板シートを示す平面図である。It is a top view which shows the board | substrate sheet | seat of the 6th-3rd sheet layer of the low-temperature baking ceramic substrate structure same as the above. 同上の低温焼成セラミック基板構造体の最表面側(1層目)のシート層の基板シートを示す平面図である。It is a top view which shows the board | substrate sheet | seat of the sheet | seat layer of the outermost surface side (1st layer) of a low-temperature baking ceramic substrate structure same as the above. 同上の低温焼成セラミック基板構造体を取り出すために基板シートの積層体をカットする仮想のラインを示す平面図である。It is a top view which shows the virtual line which cuts the laminated body of a board | substrate sheet | seat in order to take out the low-temperature baking ceramic substrate structure same as the above. 同上の低温焼成セラミック基板構造体の焼成中の状態を示す概略斜視図である。It is a schematic perspective view which shows the state in the middle of baking of the low-temperature baking ceramic substrate structure same as the above. 同上の低温焼成セラミック基板構造体の物理的変形の現象を模式的に示す概略斜視図である。It is a schematic perspective view which shows typically the phenomenon of a physical deformation | transformation of the low-temperature baking ceramic substrate structure same as the above. 同上の低温焼成セラミック基板構造体に更なるシート層を追加した例を示す模式的な切断端面図である。It is a typical cut end view which shows the example which added the further sheet | seat layer to the low-temperature baking ceramic substrate structure same as the above. 同上の低温焼成セラミック基板構造体に収縮変形吸収部分を付加したものの焼成中の状態を示す概略斜視図である。It is a schematic perspective view which shows the state under baking of what added the shrinkage deformation absorption part to the low-temperature baking ceramic substrate structure same as the above. 同上の低温焼成セラミック基板構造体に収縮変形吸収部分を付加したものの最裏面側(8層目)のシート層の基板シートを示す平面図である。It is a top view which shows the board | substrate sheet | seat of the sheet layer of the outermost back side (8th layer) of what added the shrinkage deformation absorption part to the low-temperature baking ceramic substrate structure same as the above. 同上の低温焼成セラミック基板構造体に収縮変形吸収部分を付加したものの7及び2層目のシート層の基板シートを示す平面図である。It is a top view which shows the board | substrate sheet | seat of the 7th and 2nd sheet layer of what added the shrinkage | contraction deformation | transformation absorption part to the low-temperature baking ceramic substrate structure same as the above. 同上の低温焼成セラミック基板構造体に収縮変形吸収部分を付加したものの6〜3層目のシート層の基板シートを示す平面図である。It is a top view which shows the board | substrate sheet | seat of the 6th-3rd sheet layer of what added the shrinkage | contraction deformation absorption part to the low-temperature baking ceramic substrate structure same as the above. 同上の低温焼成セラミック基板構造体に収縮変形吸収部分を付加したものの最表面側(1層目)のシート層の基板シートを示す平面図である。It is a top view which shows the board | substrate sheet | seat of the sheet | seat layer of the outermost surface side which added the shrinkage deformation absorption part to the low-temperature baking ceramic board | substrate structure same as the above. 同上の低温焼成セラミック基板構造体に収縮変形吸収部分を付加したものを取り出すために基板シートの積層体をカットする仮想のラインを示す平面図である。It is a top view which shows the virtual line which cuts the laminated body of a board | substrate sheet | seat in order to take out what added the shrinkage deformation absorption part to the low-temperature baking ceramic substrate structure same as the above.

以下、本発明を実施するための好ましい形態を図面を参照しながら説明する。本発明の実施形態に係る低温焼成セラミック基板構造体1は、スロットアンテナのアンテナ素子を形成したものである。この低温焼成セラミック基板構造体1は、図1及び図2に示すように、複数(本実施形態では8個)のシート層S1〜S8が積層され焼成されたものである。各々のシート層S1〜S8は、平面視で略四辺形をなし(図3〜図6参照)、誘電体層I1〜I8に、銀などの導電性部材から成る導体層C1〜C8が設けられたものである。なお、図1及び図2(及び、後述の図12〜図15)では、理解し易いように、積層方向(図2における上下方向)の長さを、それと直交する方向の長さよりも拡大して示している。   Hereinafter, preferred embodiments for carrying out the present invention will be described with reference to the drawings. A low-temperature fired ceramic substrate structure 1 according to an embodiment of the present invention is obtained by forming an antenna element of a slot antenna. As shown in FIGS. 1 and 2, the low-temperature fired ceramic substrate structure 1 is obtained by laminating and firing a plurality of (eight in the present embodiment) sheet layers S1 to S8. Each of the sheet layers S1 to S8 has a substantially quadrilateral shape in plan view (see FIGS. 3 to 6), and the dielectric layers I1 to I8 are provided with conductor layers C1 to C8 made of a conductive member such as silver. It is a thing. In FIG. 1 and FIG. 2 (and FIG. 12 to FIG. 15 described later), the length in the stacking direction (vertical direction in FIG. 2) is made larger than the length in the direction orthogonal thereto for easy understanding. It shows.

最裏面側(8層目)のシート層S8は、導体層C8が低温焼成セラミック基板構造体1の裏面1aにおいて外部に露出しており(図2参照)、図3に示すように、四方の端から端までほぼ全体にわたって、グランド電極2が形成されている。グランド電極2には、後述の放射電極4との間で電波を適切な位置に誘導する導波路を成すために、多数の貫通したビアホール58、58、…が設けられ、それにも導体層C8としての導電性部材が充填されている。ビアホール58は、その直径が例えば0.1mm程度であり、後述の給電源導波孔6の周囲から後述の放射電極4の電波放射部分4aに対向する大面積部分2aの周囲まで列(図3中、B、B’、C、C’で示す略正方形状の列)になって設けられ、また、大面積部分2aの給電源導波孔6側には、この列C,C’に並設される電波分配用の列(図3中、Dで示す上下に並ぶ複数の列)が設けられている。また、グランド電極2の一部を切除することにより給電源導波孔6が形成されており、この給電源導波孔6には図外の導波管から電波が供給される。この導波管を取り付けるために、給電源導波孔6の周囲に4箇所、グランド電極2の一部を切除してその内側に貫通した取付孔78が設けられている。   The sheet layer S8 on the rearmost surface side (eighth layer) has the conductor layer C8 exposed to the outside on the rear surface 1a of the low-temperature fired ceramic substrate structure 1 (see FIG. 2), and as shown in FIG. A ground electrode 2 is formed almost entirely from end to end. The ground electrode 2 is provided with a plurality of through-holes 58, 58,... For forming a waveguide for guiding radio waves to an appropriate position with the radiation electrode 4 described later, and also as a conductor layer C8. The conductive member is filled. The via holes 58 have a diameter of, for example, about 0.1 mm, and are arranged in a row from the periphery of the power supply waveguide hole 6 described later to the periphery of the large area portion 2a facing the radio wave radiation portion 4a of the radiation electrode 4 described later (FIG. 3). Middle, B, B ′, C, C ′), and the large-area portion 2a on the power supply waveguide hole 6 side is arranged in parallel with the rows C, C ′. There are provided radio wave distribution columns (a plurality of columns arranged in the vertical direction indicated by D in FIG. 3). Further, a power supply waveguide hole 6 is formed by cutting a part of the ground electrode 2, and radio waves are supplied to the power supply waveguide hole 6 from a waveguide not shown. To attach this waveguide, four mounting holes 78 are formed around the power supply waveguide hole 6 and a part of the ground electrode 2 is cut out and penetrated inside.

前述した最裏面側に位置するシート層S8と後述する最表面側に位置するシート層S1間に位置する内部のシート層の1つである7層目のシート層S7は、図4に示すように、上記のビアホール58、58、…と同様の多数の貫通したビアホール57、57、…が設けられ、それに導体層C7としての導電性部材が充填されている。また、上記の取付孔78と同様の4個の貫通した取付孔77が設けられている。同様に、最裏面側に位置するシート層S8と最表面側に位置するシート層S1間に位置するその他の内部のシート層の6層目のシート層S6〜2層目のシート層S2についても、図4及び図5に示すように、ビアホール56〜52と取付孔76〜72が設けられており、ビアホール56〜52にそれぞれ導体層C6〜C2としての導電性部材が充填されている。   The seventh sheet layer S7, which is one of the internal sheet layers located between the sheet layer S8 located on the outermost surface side and the sheet layer S1 located on the outermost surface side to be described later, is as shown in FIG. Are provided with a plurality of penetrating via holes 57, 57,... Similar to the above-described via holes 58, 58,... And filled with a conductive member as a conductor layer C7. Also, four through holes 77 that are the same as the above-described mounting holes 78 are provided. Similarly, the sixth sheet layer S6 to the second sheet layer S2 of the other internal sheet layers located between the sheet layer S8 located on the outermost surface side and the sheet layer S1 located on the outermost surface side. 4 and 5, via holes 56 to 52 and mounting holes 76 to 72 are provided, and the via holes 56 to 52 are filled with conductive members as conductor layers C6 to C2, respectively.

そのうち、6層目のシート層S6〜3層目のシート層S3は、所定箇所に空洞部3が設けられている。空洞部3は、具体的には、図5に示すように、一部が外部に開放されて形成されており、すなわち、開口部3aにおいて開口している。さらには、空洞部3は、後述する放射電極4の電波放射部分4aと略重なり合う(略重合する)ように形成されている。   Among them, the sixth sheet layer S6 to the third sheet layer S3 are provided with the cavity 3 at predetermined positions. Specifically, as shown in FIG. 5, the cavity 3 is partly open to the outside, that is, is opened at the opening 3 a. Furthermore, the cavity 3 is formed so as to substantially overlap (substantially overlap) a radio wave radiation portion 4a of the radiation electrode 4 described later.

最表面側(1層目)のシート層S1は、図6に示すように、上記のビアホール58、58、…などと同様の多数の貫通したビアホール51、51、…が設けられ、それに導体層C1としての導電性部材が充填されている。また、上記の取付孔78などと同様の4個の貫通した取付孔71が設けられている。導体層C1は、また、上記の給電源導波孔6及び後述の多数のスロット(みぞ孔)40、40、…を除いてほぼ上記のグランド電極2と同様な平面形状の放射電極4を形成している。この放射電極4は、グランド電極2とともにアンテナ素子を構成して電波を放射する側の電極であり、低温焼成セラミック基板構造体1の表面1bにおいて外部に露出している(図2参照)。これと逆向きにして放射電極4が表面1bにおいて外部に露出ないようにすることも可能である。   As shown in FIG. 6, the outermost surface side (first layer) sheet layer S1 is provided with a number of through-holes 51, 51,... Similar to the above-described via holes 58, 58,. A conductive member as C1 is filled. Further, four through-holes 71 that are the same as those of the above-described mounting holes 78 are provided. The conductor layer C1 also forms a radiation electrode 4 having a planar shape substantially the same as the ground electrode 2 except for the power supply waveguide hole 6 and a number of slots (groove holes) 40, 40,. is doing. This radiation electrode 4 is an electrode that constitutes an antenna element together with the ground electrode 2 and emits radio waves, and is exposed to the outside on the surface 1b of the low-temperature fired ceramic substrate structure 1 (see FIG. 2). It is also possible to reverse the direction so that the radiation electrode 4 is not exposed to the outside on the surface 1b.

このようなシート層S1〜S8の積層により、各ビアホール51〜58は積層方向に接続されており、それらを充填する導電性部材は一連の柱状導体を形成している。給電源導波孔6から供給された電波は、放射電極4とグランド電極2の間で、柱状導体の並びで構成された導波路を通って伝播する。そして、この電波は、電波分配用の列Dの柱状導体で適正な割合で分配(図3〜図6における上下方向に分配)されてから、多数のスロット40、40、…が形成されている電波放射部分4aに誘導された後、導体層C1がないところであるスロット40、40、…から放射される。また、シート層S1〜S8の積層により、取付孔71〜78が連通しており、図外の導波管を固く取り付けることができる。   By laminating the sheet layers S1 to S8, the via holes 51 to 58 are connected in the laminating direction, and the conductive member filling them forms a series of columnar conductors. The radio wave supplied from the power supply waveguide hole 6 propagates between the radiation electrode 4 and the ground electrode 2 through a waveguide constituted by an array of columnar conductors. The radio waves are distributed at an appropriate ratio by the columnar conductors of the radio wave distribution row D (distributed in the vertical direction in FIGS. 3 to 6), and then a large number of slots 40, 40,... Are formed. After being guided to the radio wave radiation portion 4a, it is radiated from the slots 40, 40,... Where there is no conductor layer C1. Further, the mounting holes 71 to 78 communicate with each other by stacking the sheet layers S1 to S8, so that a waveguide not shown can be firmly attached.

ここで、電波が放射電極4とグランド電極2の間を伝播するときには伝送損失が生じるが、放射電極4において大面積を占める電波放射部分4aとグランド電極2との間には空洞部3が設けられており、そこには空気が入っている。空気の比誘電率はほぼ1であり、誘電体層I1〜I8の誘電率に比べて非常に小さい。そして、電波放射部分4aとグランド電極2の間には誘電体層I1、I2、I7、I8と空気層から成る誘電体が存在して、それによる伝送損失が抑制できる。なお、この空洞部3を低温焼成セラミック基板構造体1の積層方向の中央近傍に形成する、より詳細には、空洞部3の裏面1a側及び表面1b側に同数のシート層を存在させることにより、低温焼成セラミック基板構造体1の外力に対する強度低下が抑制されている。   Here, a transmission loss occurs when radio waves propagate between the radiation electrode 4 and the ground electrode 2, but a cavity 3 is provided between the radio wave radiation portion 4 a occupying a large area in the radiation electrode 4 and the ground electrode 2. And there is air in it. The relative dielectric constant of air is approximately 1, which is very small compared to the dielectric constants of the dielectric layers I1 to I8. A dielectric composed of dielectric layers I1, I2, I7, I8 and an air layer exists between the radio wave radiation portion 4a and the ground electrode 2, and transmission loss due to the dielectric can be suppressed. The cavity 3 is formed in the vicinity of the center in the stacking direction of the low-temperature fired ceramic substrate structure 1. More specifically, the same number of sheet layers are present on the back surface 1 a side and the front surface 1 b side of the cavity 3. Moreover, the strength reduction with respect to the external force of the low-temperature fired ceramic substrate structure 1 is suppressed.

このような低温焼成セラミック基板構造体1は、フィルタなどの形成で通常用いられる低温焼成セラミック基板を用いても、放射電極4とグランド電極2が構成するアンテナ素子が良好な特性を得ることができるので、他の高周波回路も同一の低温焼成セラミック基板にも容易に集積可能である。   In such a low-temperature fired ceramic substrate structure 1, even when a low-temperature fired ceramic substrate normally used for forming a filter or the like is used, the antenna element constituted by the radiation electrode 4 and the ground electrode 2 can obtain good characteristics. Therefore, other high-frequency circuits can be easily integrated on the same low-temperature fired ceramic substrate.

低温焼成セラミック基板構造体1は、以下のようにして製造することができる。先ず、基板シート成形工程で、誘電体層I1〜I8を形成する誘電体の原材料から所定の厚さ(例えば、0.05〜0.1mm程度)の基板シート(いわゆるグリーンシート)B1〜B8を複数個(この実施形態では8個)成形する。目的の低温焼成セラミック基板構造体1は、例えば、基板シートB1〜B8のサイズが150〜200mm四角程度であり、低温焼成セラミック基板構造体1のサイズが50〜70mm四角程度ならば、基板シートB1〜B8から2個分が製造されることが可能である。これらの基板シートB1〜B8は、低温焼成セラミック基板構造体1では、シート層S1〜S8になる。   The low-temperature fired ceramic substrate structure 1 can be manufactured as follows. First, in the substrate sheet forming step, substrate sheets (so-called green sheets) B1 to B8 having a predetermined thickness (for example, about 0.05 to 0.1 mm) are formed from dielectric raw materials forming the dielectric layers I1 to I8. A plurality (8 in this embodiment) are formed. The target low-temperature fired ceramic substrate structure 1 is, for example, when the size of the substrate sheets B1 to B8 is about 150 to 200 mm square and the size of the low-temperature fired ceramic substrate structure 1 is about 50 to 70 mm square. Two pieces can be produced from ~ B8. In the low-temperature fired ceramic substrate structure 1, these substrate sheets B1 to B8 become sheet layers S1 to S8.

そして、基板シート加工工程では、基板シートB1〜B8に、マイクロドリルやレーザーなどにより、所要のパターンに応じて貫通したビアホール51〜58や取付孔71〜78を設ける。また、図7〜図10に示すように、完成したセラミック基板構造体1において内方に設けられた空洞部3が開口することになる外周の1辺に沿って、基板シートB1〜B8の端部近傍まで切れ込み81〜88を形成する。この切れ込み81〜88は、基板シートB1〜B8を貫通している。また、内部のシート層S3〜S6に対応する基板シートB3〜B6においては、図9に示すように、空洞部3に対応する空洞部部分33〜36とともにそれに連続して切れ込み83〜86を横切って外方にまで拡張した拡張部分33A〜36Aを切除する。   In the substrate sheet processing step, via holes 51 to 58 and attachment holes 71 to 78 penetrating the substrate sheets B1 to B8 according to a required pattern are provided by a micro drill or a laser. Moreover, as shown in FIGS. 7-10, the edge of board | substrate sheet | seat B1-B8 along one side of the outer periphery where the cavity part 3 provided inward in the completed ceramic board | substrate structure 1 will open. Cuts 81-88 are formed up to the vicinity of the portion. The cuts 81 to 88 penetrate through the substrate sheets B1 to B8. Further, in the substrate sheets B3 to B6 corresponding to the internal sheet layers S3 to S6, as shown in FIG. 9, the cavity portions 33 to 36 corresponding to the cavity portion 3 are continuously cut along the notches 83 to 86. Then, the expanded portions 33A to 36A expanded outward are cut off.

そして、導体層C1〜C8を形成するように、導電性部材である導体ペーストを基板シートB1〜B8にスクリーン印刷したり、導体薄膜をメッキ等により形成してからパターニングしたりして、ビアホール51〜58を充填し、及び/又は、基板シートB1〜B8の表面に所定の平面形状のパターンを形成する。   Then, to form the conductor layers C1 to C8, the conductor paste, which is a conductive member, is screen-printed on the substrate sheets B1 to B8, or the conductor thin film is formed by plating or the like and then patterned to form the via hole 51. To 58 and / or a pattern having a predetermined planar shape is formed on the surface of the substrate sheets B1 to B8.

積層工程では、こうした基板シートB1〜B8を複数個(本実施形態では8個)正確に積み重ね、加熱及び加圧によって圧着させ一体化して積層体とする。このとき、最裏面側(8層目)のシート層S8に対応する基板シートB8は導体層C8が設けられている表面が露出するようにする。また、最表面側(1層目)のシート層S1に対応する基板シートB1は導体層C1が設けられている表面が露出するように、基板シートB8とは逆向きに重ねる。内部の複数の基板シートB2〜B7については、基板シートB1又はB8の向きのどちらかに合わせて重ねればよい。   In the laminating step, a plurality of (8 in the present embodiment) such substrate sheets B1 to B8 are accurately stacked, and are pressed and integrated by heating and pressurizing to form a laminated body. At this time, the substrate sheet B8 corresponding to the sheet layer S8 on the rearmost surface side (the eighth layer) is exposed such that the surface on which the conductor layer C8 is provided. Further, the substrate sheet B1 corresponding to the outermost surface side (first layer) sheet layer S1 is stacked in the opposite direction to the substrate sheet B8 so that the surface on which the conductor layer C1 is provided is exposed. The plurality of internal substrate sheets B2 to B7 may be stacked in accordance with the direction of the substrate sheet B1 or B8.

このとき、基板シートB3〜B6は、空洞部部分33〜36及び拡張部分33A〜36Aが切除されているので、これらの基板シートB3〜B6を積み重ねるときには、空洞部部分33〜36及び拡張部分33A〜36Aに空洞部仮設体3Aを配置しておく(図12参照)。空洞部仮設体3Aは、後述の積層工程(及び焼成工程)の際に基板シートB2〜B7に接着し難く一体化しないものであり、低温焼成セラミック基板構造体1と同じ又は類似の誘電体層を圧着して焼成した別の完成した低温焼成セラミック基板構造体であるのが好ましい。この低温焼成セラミック基板構造体の空洞部仮設体3Aは、曲げに対する強度が高いので、後述するように、空洞部仮設体3Aを引き抜く際に曲がったとしても破壊され難く、また、熱膨張率も製造する低温焼成セラミック基板構造体1に非常に近いので、空洞部3のサイズ及び形状を制御し易い。   At this time, since the cavity portions 33 to 36 and the extended portions 33A to 36A are cut off from the substrate sheets B3 to B6, when the substrate sheets B3 to B6 are stacked, the cavity portions 33 to 36 and the extended portions 33A are stacked. The cavity part temporary structure 3A is arrange | positioned to -36A (refer FIG. 12). The cavity part temporary structure 3A is difficult to adhere to the substrate sheets B2 to B7 in the laminating process (and firing process) described later and is not integrated, and is the same or similar dielectric layer as the low-temperature fired ceramic substrate structure 1 Another finished low-temperature fired ceramic substrate structure is preferably obtained by pressure bonding and firing. Since the cavity part temporary structure 3A of this low-temperature fired ceramic substrate structure has high strength against bending, even if it is bent when the cavity part temporary body 3A is pulled out, as described later, it is difficult to break, and the thermal expansion coefficient is also low. Since it is very close to the low-temperature fired ceramic substrate structure 1 to be manufactured, the size and shape of the cavity 3 can be easily controlled.

そして、低温焼成セラミック基板構造体取出工程では、圧着された積層体を、図11の破線で示す低温焼成セラミック基板構造体1の外周の3辺の(上記の切れ込み81〜88以外の辺の)仮想のライン及び上記拡張部分33A〜36Aの少し外方の(切れ込み81〜88と平行の)仮想のラインに沿って切断用ブレードでカットして低温焼成セラミック基板構造体1となる部分を取り出す。このとき、切れ込み81〜88が形成されていた面からは、図12に示すように、空洞部仮設体3Aが低温焼成セラミック基板構造体1となる部分からはみ出した状態となっている。   Then, in the low-temperature fired ceramic substrate structure take-out step, the pressure-bonded laminated body is formed on the three sides of the outer periphery of the low-temperature fired ceramic substrate structure 1 shown by the broken line in FIG. A portion that becomes the low-temperature fired ceramic substrate structure 1 is taken out by cutting with a cutting blade along a virtual line and a virtual line slightly outside the extended portions 33A to 36A (parallel to the notches 81 to 88). At this time, as shown in FIG. 12, the cavity temporary structure 3 </ b> A protrudes from the surface where the notches 81 to 88 are formed, from the portion that becomes the low-temperature fired ceramic substrate structure 1.

そして、焼成工程において、取り出した部分から低温焼成セラミック基板構造体1を焼成する。   In the firing step, the low-temperature fired ceramic substrate structure 1 is fired from the taken-out portion.

ここで、空洞部仮設体3Aは、低温焼成セラミック基板構造体取出工程後或いは焼成工程後につかんで引き抜かれる。低温焼成セラミック基板構造体取出工程後に引き抜く場合は、かわりに、空洞部仮設体3Aと同等の大きさであり焼成工程に適した別の空洞部仮設体を挿入しておくことが好ましい。   Here, the cavity temporary body 3A is grasped and pulled out after the low-temperature fired ceramic substrate structure take-out step or after the fire step. When pulling out after the low-temperature fired ceramic substrate structure extraction step, it is preferable to insert another hollow portion temporary structure that is equivalent in size to the hollow portion temporary structure 3A and suitable for the firing step.

こうして、上記した工程で、空洞部3が積層方向の中央近傍に形成された図1で示したような低温焼成セラミック基板構造体1を比較的容易に製造できるのである。   Thus, the low-temperature fired ceramic substrate structure 1 as shown in FIG. 1 in which the cavity 3 is formed near the center in the stacking direction can be relatively easily manufactured by the above-described steps.

次に、空洞部3の開口部3aが積層方向に広がり易くなるという現象の対策について述べる。焼成工程においては、導体層C1〜C8と誘電体層I1〜I8とはともに収縮するが、導体層C1〜C8を形成する導電性部材と誘電体層I1〜I8を形成する誘電体とは収縮率が異なる。それにより、図13に示すように、空洞部3の開口部3aの中央付近が積層方向に広がり、内方に向かって物理的変形が起こり易い。このような物理的変形が起こると、電波の放射又は指向性などの特性にも影響してくる。この開口部3aからの物理的変形を抑制するためには、例えば、低温焼成セラミック基板構造体1の上に重しをのせて焼成することも必要となる。   Next, a countermeasure against the phenomenon that the opening 3a of the cavity 3 is easily spread in the stacking direction will be described. In the firing step, the conductor layers C1 to C8 and the dielectric layers I1 to I8 shrink together, but the conductive member that forms the conductor layers C1 to C8 and the dielectric that forms the dielectric layers I1 to I8 shrink. The rate is different. Thereby, as shown in FIG. 13, the vicinity of the center of the opening 3a of the cavity 3 spreads in the stacking direction, and physical deformation tends to occur inward. When such physical deformation occurs, characteristics such as radio wave radiation or directivity are also affected. In order to suppress the physical deformation from the opening 3a, for example, it is necessary to place the weight on the low-temperature fired ceramic substrate structure 1 and fire it.

また、対策として、図14に示すように、上記のシート層S8の裏面1a側に更に別のシート層S8’を、シート層S1の表面1b側に更に別のシート層S1’を、それぞれ1個又は2個以上(本実施形態では2個)積層することにより、開口部3aの物理的変形を抑制することも可能である。この場合、通常、シート層S1’、S8’の、少なくとも空洞部3に重なり合う部分には、放射電極4やグランド電極2のような導体層を設けないようにする。また、シート層S1’、S8’の誘電体層が誘電体層I1〜I8と別の材料であると、収縮率の違いにより複雑な物理的変形が発生し得るので、シート層S1’、S8’の誘電体層は、誘電体層I1〜I8と同じ材料が好ましい。なお、給電源導波孔6に図外の導波管から電波を適切に供給するように、シート層S8’には上記の給電源導波孔6に連通する給電源導波孔6Aが形成され、また、導波管が接触するようになるグランド電極パッド2’が形成され、グランド電極パッド2’はビアホール58’、58’、…に充填された導体層C8’を介してグランド電極2に接続される。   As a countermeasure, as shown in FIG. 14, another sheet layer S8 ′ is provided on the back surface 1a side of the sheet layer S8, and another sheet layer S1 ′ is provided on the surface 1b side of the sheet layer S1. It is also possible to suppress physical deformation of the opening 3a by stacking one or two or more (two in this embodiment). In this case, normally, a conductive layer such as the radiation electrode 4 or the ground electrode 2 is not provided in at least a portion of the sheet layers S1 'and S8' that overlaps the cavity 3. Further, when the dielectric layers of the sheet layers S1 ′ and S8 ′ are made of a different material from the dielectric layers I1 to I8, complicated physical deformation may occur due to the difference in shrinkage rate, and thus the sheet layers S1 ′ and S8. The 'dielectric layer is preferably made of the same material as the dielectric layers I1 to I8. Note that a power supply waveguide hole 6A communicating with the power supply waveguide hole 6 is formed in the sheet layer S8 ′ so as to appropriately supply radio waves to the power supply waveguide hole 6 from a waveguide not shown. In addition, a ground electrode pad 2 ′ is formed so that the waveguide comes into contact with the ground electrode 2 ′ via the conductor layer C8 ′ filled in the via holes 58 ′, 58 ′,. Connected to.

また、特に効果的な対策の方法は、焼成し終わるまでは、図15に示すように、低温焼成セラミック基板構造体1となる部分に連続して収縮変形吸収部分1’を一体に形成しておく方法である。すなわち、低温焼成セラミック基板構造体取出工程で、低温焼成セラミック基板構造体1となる部分とともに収縮変形吸収部分1’を取り出し、焼成工程後に、収縮変形吸収部分1’を切除して、図1に示すような目的とする低温焼成セラミック基板構造体1を残すという方法である。この収縮変形吸収部分1’は、空洞部3とともに、最表面側に位置するシート層S1の導体層である放射電極4と、グランド電極2と、がそれぞれ連続して拡張されているものである。なお、この放射電極4の拡張部分は、図のようにスロット40、40、…を形成しなくてもよいし、或いは形成してもよい。   Further, as a particularly effective countermeasure method, until the baking is completed, as shown in FIG. 15, a shrinkage deformation absorbing portion 1 ′ is integrally formed continuously with the portion to become the low temperature fired ceramic substrate structure 1. It is a method. That is, in the low-temperature fired ceramic substrate structure take-out step, the shrinkage deformation absorption portion 1 ′ is taken out together with the portion to be the low-temperature fired ceramic substrate structure 1, and after the firing step, the shrinkage deformation absorption portion 1 ′ is excised. This is a method of leaving the intended low-temperature fired ceramic substrate structure 1 as shown. In the shrinkage deformation absorbing portion 1 ′, the radiation electrode 4 that is a conductor layer of the sheet layer S 1 located on the outermost surface side and the ground electrode 2 are continuously expanded together with the cavity 3. . The extended portion of the radiation electrode 4 may or may not be formed with slots 40, 40,.

こうすると、焼成するにつれて収縮変形吸収部分1’の端部は積層方向に広がるが、それによる物理的変形は、低温焼成セラミック基板構造体1となる部分にはほとんど及ばなくなる。その結果、収縮変形吸収部分1’を切除して完成した低温焼成セラミック基板構造体1では、空洞部3の開口部3aの広がりは、ほぼ無視できる程度に抑制できる。   In this way, the end portion of the shrinkage deformation absorbing portion 1 ′ spreads in the stacking direction as it is fired, but the physical deformation caused thereby hardly reaches the portion that becomes the low temperature fired ceramic substrate structure 1. As a result, in the low-temperature fired ceramic substrate structure 1 completed by cutting away the shrinkage deformation absorbing portion 1 ′, the spread of the opening 3 a of the cavity 3 can be suppressed to an almost negligible level.

この収縮変形吸収部分1’を低温焼成セラミック基板構造体1となる部分に付加するには、図16〜20に示すように、基板シートB1〜B8の切れ込み81〜88を、収縮変形吸収部分1’の端部、すなわち拡張された空洞部3が開口する1辺、に沿って形成するようにしておいて、積層工程で上述したのと同様にして積層体とし、低温焼成セラミック基板構造体取出工程で上述したのと同様にして、低温焼成セラミック基板構造体1となる部分とともに収縮変形吸収部分1’を取り出せばよい。   In order to add this shrinkage deformation absorbing portion 1 ′ to the portion that becomes the low-temperature fired ceramic substrate structure 1, as shown in FIGS. 16 to 20, the notches 81 to 88 of the substrate sheets B1 to B8 are made to be the shrinkage deformation absorbing portion 1. In the same manner as described above in the laminating step, a laminated body is formed along the end of ', that is, one side where the expanded cavity 3 opens, and the low-temperature fired ceramic substrate structure is taken out. In the same manner as described above in the process, the shrinkage deformation absorbing portion 1 ′ may be taken out together with the portion to be the low temperature fired ceramic substrate structure 1.

このように、低温焼成セラミック基板構造体1の上に重しをのせる方法、シート層S8の裏面1a側及びシート層S1の表面1b側にシート層S8’及びシート層S1’を更に積層する方法、焼成し終わるまで収縮変形吸収部分1’を形成しておいたりする方法、を1つ又は2以上組み合わせて用いることにより、空洞部3の開口部3aの広がりを抑制することができる。   Thus, the method of placing weight on the low-temperature fired ceramic substrate structure 1, the sheet layer S8 ′ and the sheet layer S1 ′ are further laminated on the back surface 1a side of the sheet layer S8 and the front surface 1b side of the sheet layer S1. By using one or a combination of two or more of the method and the method of forming the shrinkage deformation absorbing portion 1 ′ until firing is completed, the spread of the opening 3a of the cavity 3 can be suppressed.

以上、本発明の実施形態に係る低温焼成セラミック基板構造体について説明したが、本発明は、上述の実施形態に記載したものに限られることなく、特許請求の範囲に記載した事項の範囲内でのさまざまな設計変更が可能である。例えば、上述したようにシート層S8の裏面1a側やシート層S1の表面1b側に更に別のシート層を積層することも可能であり、この場合も、内部の所定のシート層S3〜S6に設けられる空洞部3は、裏面側に位置するシート層S8のグランド電極2と表面側に位置するシート層S1の導体層C1との間に位置する。また、この低温焼成セラミック基板構造体は、マイクロストリップアンテナなどの他のアンテナ素子に適用することも可能である。また、更には、アンテナ素子の放射電極にかえて、伝送損失の大きくなり易いようなマイクロストリップラインなどの配線に適用することも可能である。   The low-temperature fired ceramic substrate structure according to the embodiment of the present invention has been described above, but the present invention is not limited to that described in the above-described embodiment, and within the scope of the matters described in the claims. Various design changes are possible. For example, as described above, another sheet layer can be laminated on the back surface 1a side of the sheet layer S8 or on the front surface 1b side of the sheet layer S1, and in this case, the predetermined sheet layers S3 to S6 are also provided. The provided cavity 3 is located between the ground electrode 2 of the sheet layer S8 located on the back side and the conductor layer C1 of the sheet layer S1 located on the front side. The low-temperature fired ceramic substrate structure can also be applied to other antenna elements such as a microstrip antenna. Furthermore, it can be applied to wiring such as a microstrip line in which transmission loss tends to increase instead of the radiation electrode of the antenna element.

1 低温焼成セラミック基板構造体
1a 低温焼成セラミック基板構造体1の裏面
1b 低温焼成セラミック基板構造体1の表面
1’ 収縮変形吸収部分
2 グランド電極
3 空洞部
33〜36 空洞部部分
33A〜36A 拡張部分
3A 空洞部仮設体
4 放射電極
51〜58 ビアホール
81〜88 切れ込み
I1〜I8 誘電体層
C1〜C8 導体層
S1〜S8 シート層
B1〜B8 基板シート
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Low-temperature firing ceramic substrate structure 1a Back surface of low-temperature firing ceramic substrate structure 1 1b Front surface of low-temperature firing ceramic substrate structure 1 1 ′ Shrinkage deformation absorbing portion 2 Ground electrode 3 Cavity portion 33 to 36 Cavity portion portion 33A to 36A Expansion portion 3A Cavity Temporary Body 4 Radiation Electrode 51-58 Via Hole 81-88 Notch I1-I8 Dielectric Layer C1-C8 Conductor Layer S1-S8 Sheet Layer B1-B8 Substrate Sheet

Claims (8)

誘電体層に導体層が設けられたシート層が複数個積層され焼成されて成り、裏面側に位置するシート層の導体層にグランド電極が形成された低温焼成セラミック基板構造体において、
前記グランド電極と表面側に位置するシート層の導体層との間に位置する内部の所定のシート層の所定箇所に空洞部が設けられていることを特徴とする低温焼成セラミック基板構造体。
In a low-temperature fired ceramic substrate structure in which a plurality of sheet layers provided with a conductor layer on a dielectric layer are laminated and fired, and a ground electrode is formed on the conductor layer of the sheet layer located on the back side.
A low-temperature fired ceramic substrate structure characterized in that a cavity is provided at a predetermined position of an internal predetermined sheet layer positioned between the ground electrode and the conductor layer of the sheet layer positioned on the surface side.
請求項1に記載の低温焼成セラミック基板構造体において、
前記グランド電極は、最裏面側に位置するシート層の外部に露出した導体層に形成されていることを特徴とする低温焼成セラミック基板構造体。
The low-temperature fired ceramic substrate structure according to claim 1,
The low-temperature fired ceramic substrate structure according to claim 1, wherein the ground electrode is formed on a conductor layer exposed to the outside of the sheet layer positioned on the outermost surface side.
請求項1又は2に記載の低温焼成セラミック基板構造体において、
前記空洞部は、一部が外部に開放されて形成されているものであることを特徴とする低温焼成セラミック基板構造体。
In the low-temperature fired ceramic substrate structure according to claim 1 or 2,
A low-temperature fired ceramic substrate structure according to claim 1, wherein a part of the hollow portion is opened to the outside.
請求項1〜3のいずれか1項に記載の低温焼成セラミック基板構造体において、
前記空洞部よりも表面側に位置するシート層の導体層にアンテナ素子の放射電極が形成されていることを特徴とする低温焼成セラミック基板構造体。
In the low-temperature fired ceramic substrate structure according to any one of claims 1 to 3,
A low-temperature fired ceramic substrate structure, wherein a radiation electrode of an antenna element is formed on a conductor layer of a sheet layer located on the surface side of the cavity.
請求項1〜4のいずれか1項に記載の低温焼成セラミック基板構造体を製造する製造方法であって、
前記誘電体層の原材料から前記シート層となる基板シートを複数個成形する基板シート成形工程と、
前記複数の基板シートに、ビアホールを設けてそれを導電性部材で充填する及び/又は導電性部材で所定の平面パターンを形成することによって前記導体層を設ける基板シート加工工程と、
前記複数の基板シートを積み重ね、加熱及び加圧によって圧着させて積層体とする積層工程と、
圧着された前記積層体をカットして前記低温焼成セラミック基板構造体となる部分を取り出す低温焼成セラミック基板構造体取出工程と、
該取り出された部分から前記低温焼成セラミック基板構造体を焼成する焼成工程と、
を含んで成り、
前記基板シート加工工程では、前記内部の所定のシート層となる基板シートにおいて前記空洞部に対応する空洞部部分を切除することを特徴とする低温焼成セラミック基板構造体の製造方法。
A manufacturing method for manufacturing the low-temperature fired ceramic substrate structure according to any one of claims 1 to 4,
A substrate sheet forming step of forming a plurality of substrate sheets to be the sheet layer from the raw material of the dielectric layer;
A substrate sheet processing step of providing the conductor layer by providing a via hole in the plurality of substrate sheets and filling the conductive sheet with a conductive member and / or forming a predetermined plane pattern with the conductive member;
Stacking the plurality of substrate sheets, and laminating the laminate by heating and pressing to form a laminate,
A low-temperature fired ceramic substrate structure removing step of cutting the pressure-bonded laminate and taking out a portion to be the low-temperature fired ceramic substrate structure;
A firing step of firing the low-temperature fired ceramic substrate structure from the extracted portion;
Comprising
In the substrate sheet processing step, a cavity portion corresponding to the cavity portion is cut out in the substrate sheet to be a predetermined sheet layer inside the manufacturing method of the low-temperature fired ceramic substrate structure.
請求項5に記載の低温焼成セラミック基板構造体の製造方法において、
前記セラミック基板構造体の前記空洞部は、外部に一部が開放されて開口しているものであって、
前記基板シート加工工程で、前記複数の基板シートに、前記空洞部が開口する1辺に沿って切れ込みを形成し、かつ、前記内部の所定のシート層となる基板シートにおいて前記空洞部部分とともにそれに連続して前記切れ込みを横切って外方にまで拡張した拡張部分を切除し、
前記積層工程で、前記空洞部部分と前記拡張部分に空洞部仮設体を配置し、
前記低温焼成セラミック基板構造体取出工程後又は焼成工程後に、前記空洞部仮設体を引き抜くことを特徴とする低温焼成セラミック基板構造体の製造方法。
In the manufacturing method of the low-temperature firing ceramic substrate structure according to claim 5,
The cavity portion of the ceramic substrate structure is a part that is open and opened to the outside,
In the substrate sheet processing step, a cut is formed in the plurality of substrate sheets along one side where the cavity portion opens, and the cavity portion portion of the substrate sheet serving as the predetermined sheet layer in the interior is formed on the substrate sheet. Continuously cutting away the expanded portion extending outwardly across the notch,
In the laminating step, a hollow part temporary structure is disposed in the hollow part and the extended part,
A method for producing a low-temperature fired ceramic substrate structure, wherein the cavity temporary structure is pulled out after the low-temperature fired ceramic substrate structure take-out step or after the firing step.
請求項5に記載の低温焼成セラミック基板構造体の製造方法において、
前記セラミック基板構造体の前記空洞部は、外部に一部が開放されて開口しているものであって、
前記低温焼成セラミック基板構造体取出工程で、前記低温焼成セラミック基板構造体となる部分とともに、それに連続して一体に形成された収縮変形吸収部分を取り出し、
該収縮変形吸収部分は、前記空洞部とともに、前記表面側に位置するシート層の導体層と前記グランド電極がそれぞれ連続して拡張されており、
焼成工程後に、該収縮変形吸収部分を切除することを特徴とする低温焼成セラミック基板構造体の製造方法。
In the manufacturing method of the low-temperature firing ceramic substrate structure according to claim 5,
The cavity portion of the ceramic substrate structure is a part that is open and opened to the outside,
In the low-temperature fired ceramic substrate structure take-out step, together with the part that becomes the low-temperature fired ceramic substrate structure, the shrinkage deformation absorption part formed integrally continuously therewith is taken out,
The shrinkage deformation absorbing portion has the conductor portion of the sheet layer located on the surface side and the ground electrode continuously extended together with the hollow portion,
A method for producing a low-temperature fired ceramic substrate structure, wherein the shrinkage deformation absorbing portion is excised after the firing step.
請求項7に記載の低温焼成セラミック基板構造体の製造方法において、
前記基板シート加工工程で、前記複数の基板シートに、前記拡張された空洞部が開口する1辺に沿って切れ込みを形成し、かつ、前記内部の所定のシート層となる基板シートにおいて前記空洞部部分とともにそれに連続して前記切れ込みを横切って外方にまで拡張した拡張部分を切除し、
前記積層工程で、前記空洞部部分と前記拡張部分に空洞部仮設体を配置し、
前記低温焼成セラミック基板構造体取出工程後又は焼成工程後に、前記空洞部仮設体を引き抜くことを特徴とする低温焼成セラミック基板構造体の製造方法。
In the manufacturing method of the low-temperature firing ceramic substrate structure according to claim 7,
In the substrate sheet processing step, the plurality of substrate sheets are formed with cuts along one side where the expanded cavity portion is opened, and the cavity portion is formed in the substrate sheet serving as the predetermined sheet layer inside. Excision of the extended portion extending outwardly across the notch with the portion, continuously across it,
In the laminating step, a hollow part temporary structure is disposed in the hollow part and the extended part,
A method for producing a low-temperature fired ceramic substrate structure, wherein the cavity temporary structure is pulled out after the low-temperature fired ceramic substrate structure take-out step or after the firing step.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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