JP2012122964A - 表面欠陥検知方法 - Google Patents
表面欠陥検知方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2012122964A JP2012122964A JP2010276029A JP2010276029A JP2012122964A JP 2012122964 A JP2012122964 A JP 2012122964A JP 2010276029 A JP2010276029 A JP 2010276029A JP 2010276029 A JP2010276029 A JP 2010276029A JP 2012122964 A JP2012122964 A JP 2012122964A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- image
- binarization
- surface defect
- gradation
- detection method
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
【解決手段】表面欠陥検知装置1を用いて物体10の表面欠陥を検知する場合、まず、撮像部2により、物体10の表面10aの画像を取得する。続いて、画像解析部3により、当該画像の明度のヒストグラムを生成し、このヒストグラムにおける第1及び第2階調の間の中央値を二値化レベルに設定する。そして、画像解析部3により、設定した二値化レベルで画像11に二値化処理を施す。これにより、表面欠陥を目視でも判別可能な物体10の表面10aの画像が取得されることとなる。
【選択図】図1
Description
Claims (3)
- 物体の表面欠陥を検知するための表面欠陥検知方法であって、
前記物体の表面の画像を取得する画像取得工程と、
前記画像取得工程で取得した前記画像に二値化処理を施す二値化処理工程と、を備え、
前記二値化処理工程においては、
前記画像取得工程で取得した前記画像についての階調に関する明度分布を取得し、
前記明度分布において、前記明度が最も高い第1ピーク値のときの第1階調と、前記明度が前記第1ピーク値の次に高い第2ピーク値のときの第2階調と、を導出し、
前記第1及び第2階調の間の値を、前記二値化処理を行うための閾値となる二値化レベルとして、前記画像に前記二値化処理を施すこと、を特徴とする表面欠陥検知方法。 - 前記二値化処理工程では、前記第1及び第2階調の中央値を二値化レベルとして設定することを特徴とする請求項1記載の表面欠陥検知方法。
- 前記物体は、可視光に対し透明な透明体であることを特徴とする請求項1又は2記載の表面欠陥検知方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010276029A JP2012122964A (ja) | 2010-12-10 | 2010-12-10 | 表面欠陥検知方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010276029A JP2012122964A (ja) | 2010-12-10 | 2010-12-10 | 表面欠陥検知方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2012122964A true JP2012122964A (ja) | 2012-06-28 |
Family
ID=46504532
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2010276029A Pending JP2012122964A (ja) | 2010-12-10 | 2010-12-10 | 表面欠陥検知方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2012122964A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2014066580A (ja) * | 2012-09-25 | 2014-04-17 | Japan Transport Engineering Co Ltd | 窓材の外観検査装置及び窓材の外観検査方法 |
JP2015062924A (ja) * | 2013-09-25 | 2015-04-09 | 株式会社総合車両製作所 | 摩擦撹拌接合の評価方法 |
Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61189406A (ja) * | 1985-02-19 | 1986-08-23 | Hitachi Ltd | パタ−ン2値化方法とその装置 |
JPS6381201A (ja) * | 1986-09-24 | 1988-04-12 | Mazda Motor Corp | プライマ塗布不良検出方法 |
JPH05164703A (ja) * | 1991-12-17 | 1993-06-29 | Honda Motor Co Ltd | ワーク表面検査方法 |
JPH1114317A (ja) * | 1997-06-19 | 1999-01-22 | Toshiba Corp | 外観検査方法及びその装置 |
JP2001184510A (ja) * | 1999-12-24 | 2001-07-06 | Mitsubishi Chemicals Corp | 欠陥検出方法 |
JP2001266142A (ja) * | 2000-01-13 | 2001-09-28 | Nikon Corp | データ分類方法及びデータ分類装置、信号処理方法及び信号処理装置、位置検出方法及び位置検出装置、画像処理方法及び画像処理装置、露光方法及び露光装置、並びにデバイス製造方法 |
JP2004317190A (ja) * | 2003-04-14 | 2004-11-11 | Neomax Co Ltd | 高速凹凸判定可能な表面検査方法及び表面検査システム |
JP2006275691A (ja) * | 2005-03-29 | 2006-10-12 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 検査方法および検査装置 |
-
2010
- 2010-12-10 JP JP2010276029A patent/JP2012122964A/ja active Pending
Patent Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61189406A (ja) * | 1985-02-19 | 1986-08-23 | Hitachi Ltd | パタ−ン2値化方法とその装置 |
JPS6381201A (ja) * | 1986-09-24 | 1988-04-12 | Mazda Motor Corp | プライマ塗布不良検出方法 |
JPH05164703A (ja) * | 1991-12-17 | 1993-06-29 | Honda Motor Co Ltd | ワーク表面検査方法 |
JPH1114317A (ja) * | 1997-06-19 | 1999-01-22 | Toshiba Corp | 外観検査方法及びその装置 |
JP2001184510A (ja) * | 1999-12-24 | 2001-07-06 | Mitsubishi Chemicals Corp | 欠陥検出方法 |
JP2001266142A (ja) * | 2000-01-13 | 2001-09-28 | Nikon Corp | データ分類方法及びデータ分類装置、信号処理方法及び信号処理装置、位置検出方法及び位置検出装置、画像処理方法及び画像処理装置、露光方法及び露光装置、並びにデバイス製造方法 |
JP2004317190A (ja) * | 2003-04-14 | 2004-11-11 | Neomax Co Ltd | 高速凹凸判定可能な表面検査方法及び表面検査システム |
JP2006275691A (ja) * | 2005-03-29 | 2006-10-12 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 検査方法および検査装置 |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2014066580A (ja) * | 2012-09-25 | 2014-04-17 | Japan Transport Engineering Co Ltd | 窓材の外観検査装置及び窓材の外観検査方法 |
JP2015062924A (ja) * | 2013-09-25 | 2015-04-09 | 株式会社総合車両製作所 | 摩擦撹拌接合の評価方法 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4359710B2 (ja) | 車両周辺監視装置、車両、車両周辺監視用プログラム、車両周辺監視方法 | |
JP4150390B2 (ja) | 外観検査方法及び外観検査装置 | |
JP5287177B2 (ja) | 画像処理によるトロリ線の摩耗および偏位測定装置 | |
JP5088006B2 (ja) | タイヤの検査方法及びその装置 | |
JP4279833B2 (ja) | 外観検査方法及び外観検査装置 | |
JP2001184510A (ja) | 欠陥検出方法 | |
JP2009198290A (ja) | 欠陥検出方法および欠陥検出装置 | |
JP4887540B2 (ja) | 車両周辺監視装置、車両、車両周辺監視用プログラム、車両周辺監視方法 | |
JP2008249413A (ja) | 欠陥検出方法および装置 | |
JP2012122964A (ja) | 表面欠陥検知方法 | |
JP2006155579A (ja) | 画像処理方法および画像処理装置 | |
JP4743231B2 (ja) | 外観検査方法及び外観検査装置 | |
JP2021064215A (ja) | 表面性状検査装置及び表面性状検査方法 | |
JP2008309643A (ja) | タイヤの検査方法及びその装置 | |
JP4765113B2 (ja) | 車両周辺監視装置、車両、車両周辺監視用プログラム、車両周辺監視方法 | |
JP2013092430A (ja) | 表面検査方法 | |
KR101993654B1 (ko) | 표시패널의 얼룩 검사 장치 및 그 방법 | |
JP4743230B2 (ja) | 外観検査方法及び外観検査装置 | |
JP5452035B2 (ja) | 欠陥検査方法および欠陥検査装置 | |
JP2004361085A (ja) | 外観検査装置 | |
JP4403036B2 (ja) | 疵検出方法及び装置 | |
JP2007081513A (ja) | 固体撮像素子のシミ欠陥検査方法 | |
JP2003329428A (ja) | 表面検査装置及び表面検査方法 | |
JP2014106141A (ja) | 欠陥検査装置、及び欠陥検査方法 | |
JP5666894B2 (ja) | 外観検査装置及び外観検査方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A711 | Notification of change in applicant |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A712 Effective date: 20120712 |
|
RD03 | Notification of appointment of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7423 Effective date: 20120712 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20120713 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20131028 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20140318 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20140319 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20140514 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20141202 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20150128 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20150623 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20150820 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20160119 |