JP2012122961A - 乾き度測定装置及び乾き度測定方法 - Google Patents
乾き度測定装置及び乾き度測定方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2012122961A JP2012122961A JP2010275953A JP2010275953A JP2012122961A JP 2012122961 A JP2012122961 A JP 2012122961A JP 2010275953 A JP2010275953 A JP 2010275953A JP 2010275953 A JP2010275953 A JP 2010275953A JP 2012122961 A JP2012122961 A JP 2012122961A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- dryness
- light
- wavelengths
- wet steam
- wavelength
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 17
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 51
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 claims description 36
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 claims description 36
- 238000002835 absorbance Methods 0.000 claims description 35
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 claims description 7
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims description 2
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 abstract description 10
- 238000000862 absorption spectrum Methods 0.000 description 18
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 18
- 230000002596 correlated effect Effects 0.000 description 13
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 6
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 5
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 5
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 4
- 229920006395 saturated elastomer Polymers 0.000 description 4
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 3
- 238000009835 boiling Methods 0.000 description 2
- 238000013500 data storage Methods 0.000 description 2
- 239000012071 phase Substances 0.000 description 2
- 229920003229 poly(methyl methacrylate) Polymers 0.000 description 2
- 239000004926 polymethyl methacrylate Substances 0.000 description 2
- 239000011555 saturated liquid Substances 0.000 description 2
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 238000001311 chemical methods and process Methods 0.000 description 1
- 238000005260 corrosion Methods 0.000 description 1
- 230000007797 corrosion Effects 0.000 description 1
- 239000012636 effector Substances 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 1
- 239000007791 liquid phase Substances 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- QSHDDOUJBYECFT-UHFFFAOYSA-N mercury Chemical compound [Hg] QSHDDOUJBYECFT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052753 mercury Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 description 1
- 239000013308 plastic optical fiber Substances 0.000 description 1
- 229920000193 polymethacrylate Polymers 0.000 description 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 1
- 230000000644 propagated effect Effects 0.000 description 1
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 1
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 238000012800 visualization Methods 0.000 description 1
- 229910052724 xenon Inorganic materials 0.000 description 1
- FHNFHKCVQCLJFQ-UHFFFAOYSA-N xenon atom Chemical compound [Xe] FHNFHKCVQCLJFQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
- G01N21/35—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light
- G01N21/3554—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light for determining moisture content
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
- G01N21/314—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry with comparison of measurements at specific and non-specific wavelengths
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
- G01N21/35—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light
- G01N21/359—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light using near infrared light
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
【解決手段】湿り蒸気に複数の波長の光を照射する発光体11と、湿り蒸気を透過した複数の波長の光を受光する受光素子12と、複数の波長のそれぞれにおける光の受光強度に基づき、湿り蒸気の乾き度を算出する乾き度算出部301と、を備える乾き度測定装置を提供する。
【選択図】図1
Description
R = (IS1 - IS0) / (IS2 - IS0) ・・・(1)
R = (I1 - I0) / (I2 - I0) ・・・(2)
R = IS1 / IS2 ・・・(3)
R = I1 / I2 ・・・(4)
上記のように本発明を実施の形態によって記載したが、この開示の一部をなす記述及び図面はこの発明を限定するものであると理解するべきではない。この開示から当業者には様々な代替実施の形態、実施例及び運用技術が明らかになるはずである。例えば、実施の形態では、波長1880nmにおける吸光度と、波長1910nmにおける吸光度と、を比較する例を示した。ここで、上記式(1)乃至(4)の右辺の分母と分子とを置き換えてもよい。また、水素結合数0に相関する波長の吸光度と、水素結合数2に相関する波長の吸光度と、を比較してもよい。あるいは水素結合数0に相関する波長の吸光度と、水素結合数3に相関する波長の吸光度と、を比較してもよい。さらには、水素結合数1に相関する波長の吸光度と、水素結合数2に相関する波長の吸光度と、を比較してもよいし、水素結合数1に相関する波長の吸光度と、水素結合数3に相関する波長の吸光度と、を比較してもよいし、水素結合数2に相関する波長の吸光度と、水素結合数3に相関する波長の吸光度と、を比較してもよい。この様に、異なる水素結合数に相関する任意の複数の波長の吸光度の比に基づき、乾き度を算出してもよい。あるいは、異なる水素結合数に相関する任意の複数の波長の吸光度の差と、乾き度と、の相関を予め取得し、複数の波長の吸光度の差の測定値から乾き度の値を求めてもよい。本発明はここでは記載していない様々な実施の形態等を包含するということを理解すべきである。
12 受光素子
21 パイプ
31、32 光導波路
301 乾き度算出部
321 入力装置
322 出力装置
323 プログラム記憶装置
324 一時記憶装置
400 データ記憶装置
401 関係記憶部
Claims (15)
- 湿り蒸気に複数の波長の光を照射する発光体と、
前記湿り蒸気を透過した複数の波長の光を受光する受光素子と、
前記複数の波長のそれぞれにおける前記光の受光強度に基づき、前記湿り蒸気の乾き度を算出する乾き度算出部と、
を備える乾き度測定装置。 - 前記複数の波長のそれぞれにおける前記光の吸光度が、クラスタにおいて水分子どうしが形成した水素結合の数と相関する、請求項1に記載の乾き度測定装置。
- 前記乾き度算出部が、前記複数の波長のそれぞれにおける前記光の受光強度の複数の測定値の大小関係に基づいて、前記乾き度を算出する、請求項1又は2に記載の乾き度測定装置。
- 前記乾き度算出部が、2つの波長における前記光の受光強度に基づいて、前記乾き度を算出する、請求項1乃至3のいずれか1項に記載の乾き度測定装置。
- 前記乾き度算出部が、2つの波長における前記光の受光強度の比に基づいて、前記乾き度を算出する、請求項1乃至4のいずれか1項に記載の乾き度測定装置。
- 前記乾き度算出部が、2つの波長における前記光の受光強度の差に基づいて、前記乾き度を算出する、請求項1乃至4のいずれか1項に記載の乾き度測定装置。
- 前記2つの波長のうち、一方の波長における前記光の吸光度が、前記湿り蒸気中において単分子で存在する水分子の濃度と相関し、他方の波長における前記光の吸光度が前記湿り蒸気中において2分子でクラスタを形成している水分子の濃度と相関する、請求項4乃至6のいずれか1項に記載の乾き度測定装置。
- 前記発光体が広波長帯域の前記光を発し、波長フィルタを更に備える、請求項1乃至7のいずれか1項に記載の乾き度測定装置。
- 湿り蒸気に複数の波長の光を照射することと、
前記湿り蒸気を透過した複数の波長の光を受光することと、
前記複数の波長のそれぞれにおける前記光の受光強度に基づき、前記湿り蒸気の乾き度を算出することと、
を含む乾き度測定方法。 - 前記複数の波長のそれぞれにおける前記光の吸光度が、クラスタにおいて水分子どうしが形成した水素結合の数と相関する、請求項9に記載の乾き度測定方法。
- 前記複数の波長のそれぞれにおける前記光の受光強度の複数の測定値の大小関係に基づいて、前記乾き度を算出する、請求項9又は10に記載の乾き度測定方法。
- 2つの波長における前記光の受光強度に基づいて、前記乾き度を算出する、請求項9乃至11のいずれか1項に記載の乾き度測定方法。
- 2つの波長における前記光の受光強度の比に基づいて、前記乾き度を算出する、請求項9乃至12のいずれか1項に記載の乾き度測定方法。
- 2つの波長における前記光の受光強度の差に基づいて、前記乾き度を算出する、請求項9乃至12のいずれか1項に記載の乾き度測定方法。
- 前記2つの波長のうち、一方の波長における前記光の吸光度が、前記湿り蒸気中において単分子で存在する水分子の濃度と相関し、他方の波長における前記光の吸光度が前記湿り蒸気中において2分子でクラスタを形成している水分子の濃度と相関する、請求項12乃至14のいずれか1項に記載の乾き度測定方法。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010275953A JP5539176B2 (ja) | 2010-12-10 | 2010-12-10 | 乾き度測定装置及び乾き度測定方法 |
CN201110404146.9A CN102539353B (zh) | 2010-12-10 | 2011-12-07 | 干度测定装置以及干度测定方法 |
US13/313,265 US8610894B2 (en) | 2010-12-10 | 2011-12-07 | Dryness fraction measuring device and dryness fraction measuring method |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010275953A JP5539176B2 (ja) | 2010-12-10 | 2010-12-10 | 乾き度測定装置及び乾き度測定方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2012122961A true JP2012122961A (ja) | 2012-06-28 |
JP5539176B2 JP5539176B2 (ja) | 2014-07-02 |
Family
ID=46199086
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2010275953A Expired - Fee Related JP5539176B2 (ja) | 2010-12-10 | 2010-12-10 | 乾き度測定装置及び乾き度測定方法 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8610894B2 (ja) |
JP (1) | JP5539176B2 (ja) |
CN (1) | CN102539353B (ja) |
Cited By (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2013092312A (ja) * | 2011-10-26 | 2013-05-16 | Azbil Corp | 乾き度制御装置及び乾き度制御方法 |
JP2014029307A (ja) * | 2012-07-31 | 2014-02-13 | Azbil Corp | 蒸気熱量測定装置および蒸気熱量測定方法 |
JP2014081214A (ja) * | 2012-10-12 | 2014-05-08 | Azbil Corp | 蒸気流量測定装置および蒸気流量測定方法 |
WO2014109228A1 (ja) * | 2013-01-10 | 2014-07-17 | アズビル株式会社 | 乾き度分布測定装置及び乾き度分布測定方法 |
WO2014119641A1 (ja) * | 2013-02-04 | 2014-08-07 | アズビル株式会社 | 乾き度測定装置及び乾き度測定方法 |
JP2015127647A (ja) * | 2013-12-27 | 2015-07-09 | アズビル株式会社 | 乾き度測定装置 |
JP2016085059A (ja) * | 2014-10-23 | 2016-05-19 | アズビル株式会社 | 乾き度測定装置および乾き度測定方法 |
JP2016121930A (ja) * | 2014-12-25 | 2016-07-07 | アズビル株式会社 | 乾き度測定装置及び乾き度測定方法 |
JP2016133496A (ja) * | 2015-01-22 | 2016-07-25 | アズビル株式会社 | 湿度計及び湿度の計測方法 |
JP2017198631A (ja) * | 2016-04-28 | 2017-11-02 | アズビル株式会社 | 乾き度測定装置及び乾き度測定装置の測定誤差評価方法 |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5785468B2 (ja) * | 2011-09-29 | 2015-09-30 | アズビル株式会社 | 気液二相流体状態制御装置および気液二相流体状態制御方法 |
CH709493A2 (de) * | 2014-04-14 | 2015-10-15 | Fondarex Sa | Vorrichtung und Verfahren zur Messung der Feuchtigkeit in Druckgiessformen. |
WO2018155289A1 (ja) * | 2017-02-24 | 2018-08-30 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | 乾燥度センサ |
JP7440287B2 (ja) * | 2020-02-05 | 2024-02-28 | アズビル株式会社 | 測定装置 |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02271240A (ja) * | 1989-04-13 | 1990-11-06 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 湿度分布測定装置 |
JPH05141615A (ja) * | 1991-11-15 | 1993-06-08 | Tlv Co Ltd | 蒸気の質制御装置 |
JP2000304692A (ja) * | 1999-03-25 | 2000-11-02 | Electric Power Res Inst Inc | ファイバオプチックプローブおよび水蒸気タービン中の水分の測定方法 |
JP2005156438A (ja) * | 2003-11-27 | 2005-06-16 | Nissan Motor Co Ltd | 気液2相試料分析装置及び分析方法 |
JP2010060484A (ja) * | 2008-09-05 | 2010-03-18 | Yazaki Corp | 気体セル、気体サンプル室、及び、濃度測定装置 |
Family Cites Families (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4137462A (en) * | 1977-10-31 | 1979-01-30 | Westinghouse Electric Corp. | Probe for measuring steam quality |
US4716360A (en) * | 1985-08-16 | 1987-12-29 | Advanced Moisture Technology, Inc. | Moisture detector apparatus and method |
GB2211619B (en) * | 1987-10-26 | 1991-04-17 | Spirax Sarco Ltd | Measuring dryness fraction |
JPH0265153U (ja) * | 1988-11-04 | 1990-05-16 | ||
JPH08159962A (ja) * | 1994-12-05 | 1996-06-21 | Tohoku Electric Power Co Inc | 雪の含水率の測定方法 |
JP3516772B2 (ja) | 1995-05-15 | 2004-04-05 | 株式会社テイエルブイ | 蒸気乾き度制御装置 |
JP3878342B2 (ja) | 1998-10-15 | 2007-02-07 | 株式会社テイエルブイ | 流体乾き度測定装置 |
US7034302B2 (en) * | 2002-09-19 | 2006-04-25 | Battelle Energy Alliance, Llc | Optical steam quality measurement system and method |
US7037554B2 (en) * | 2003-06-30 | 2006-05-02 | Mississippi State University | Moisture sensor based on evanescent wave light scattering by porous sol-gel silica coating |
US7381954B2 (en) * | 2005-09-29 | 2008-06-03 | General Electric Company | Apparatus and method for measuring steam quality |
RU2312329C1 (ru) * | 2006-03-24 | 2007-12-10 | Шлюмберже Текнолоджи Б.В. | Способ определения степени сухости пара |
US20090101822A1 (en) * | 2007-10-18 | 2009-04-23 | General Electric Company | System and method for sensing fuel moisturization |
CN101520392A (zh) * | 2008-02-29 | 2009-09-02 | 辽宁石油化工大学 | 一种直流注汽锅炉湿蒸汽干度检测方法及检测装置 |
EP2172766A1 (en) * | 2008-10-03 | 2010-04-07 | ASML Netherlands B.V. | Lithographic apparatus and humidity measurement system |
-
2010
- 2010-12-10 JP JP2010275953A patent/JP5539176B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2011
- 2011-12-07 CN CN201110404146.9A patent/CN102539353B/zh not_active Expired - Fee Related
- 2011-12-07 US US13/313,265 patent/US8610894B2/en active Active
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02271240A (ja) * | 1989-04-13 | 1990-11-06 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 湿度分布測定装置 |
JPH05141615A (ja) * | 1991-11-15 | 1993-06-08 | Tlv Co Ltd | 蒸気の質制御装置 |
JP2000304692A (ja) * | 1999-03-25 | 2000-11-02 | Electric Power Res Inst Inc | ファイバオプチックプローブおよび水蒸気タービン中の水分の測定方法 |
JP2005156438A (ja) * | 2003-11-27 | 2005-06-16 | Nissan Motor Co Ltd | 気液2相試料分析装置及び分析方法 |
JP2010060484A (ja) * | 2008-09-05 | 2010-03-18 | Yazaki Corp | 気体セル、気体サンプル室、及び、濃度測定装置 |
Non-Patent Citations (4)
Title |
---|
JPN6014005150; CEPONKUS,J. 他: '"Intermolecular Vibrations of the Water Trimer, a Matrix Isolation Study"' THE JOURNAL OF PHYSICAL CHEMISTRY A Volume 109, Number 35, 20050816, Pages 7859-7864 * |
JPN6014005151; DUNN,M.E. 他: '"Prediction of Accurate Anharmonic Experimental Vibrational Frequencies for Water Clusters, (H2O)n,' THE JOURNAL OF PHYSICAL CHEMISTRY A Volume 110, Number 1, 20051213, Pages 303-309 * |
JPN6014005153; NAUTA,K. 他: '"Formation of Cyclic Water Hexamer in Liquid Helium: The Smallest Piece of Ice"' SCIENCE Volume 287, Number 5451, 20000114, Pages 293-295 * |
JPN6014005155; 阿部英幸: '"近赤外分光法で捕えた水の形態変化とその意味"' ニューセラミックス Volume 6, Number 9, 19930825, Pages 47-50 * |
Cited By (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2013092312A (ja) * | 2011-10-26 | 2013-05-16 | Azbil Corp | 乾き度制御装置及び乾き度制御方法 |
JP2014029307A (ja) * | 2012-07-31 | 2014-02-13 | Azbil Corp | 蒸気熱量測定装置および蒸気熱量測定方法 |
JP2014081214A (ja) * | 2012-10-12 | 2014-05-08 | Azbil Corp | 蒸気流量測定装置および蒸気流量測定方法 |
US9372153B2 (en) | 2013-01-10 | 2016-06-21 | Azbil Corporation | Dryness fraction distribution measuring device and dryness fraction distribution measuring method |
JP2014134451A (ja) * | 2013-01-10 | 2014-07-24 | Azbil Corp | 乾き度分布測定装置及び乾き度分布測定方法 |
WO2014109228A1 (ja) * | 2013-01-10 | 2014-07-17 | アズビル株式会社 | 乾き度分布測定装置及び乾き度分布測定方法 |
WO2014119641A1 (ja) * | 2013-02-04 | 2014-08-07 | アズビル株式会社 | 乾き度測定装置及び乾き度測定方法 |
JP2014149271A (ja) * | 2013-02-04 | 2014-08-21 | Azbil Corp | 乾き度測定装置及び乾き度測定方法 |
US9625384B2 (en) | 2013-02-04 | 2017-04-18 | Azbil Corporation | Dryness fraction distribution measuring device and dryness fraction distribution measuring method |
JP2015127647A (ja) * | 2013-12-27 | 2015-07-09 | アズビル株式会社 | 乾き度測定装置 |
JP2016085059A (ja) * | 2014-10-23 | 2016-05-19 | アズビル株式会社 | 乾き度測定装置および乾き度測定方法 |
JP2016121930A (ja) * | 2014-12-25 | 2016-07-07 | アズビル株式会社 | 乾き度測定装置及び乾き度測定方法 |
JP2016133496A (ja) * | 2015-01-22 | 2016-07-25 | アズビル株式会社 | 湿度計及び湿度の計測方法 |
JP2017198631A (ja) * | 2016-04-28 | 2017-11-02 | アズビル株式会社 | 乾き度測定装置及び乾き度測定装置の測定誤差評価方法 |
WO2017187784A1 (ja) * | 2016-04-28 | 2017-11-02 | アズビル株式会社 | 乾き度測定装置及び乾き度測定装置の測定誤差評価方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN102539353B (zh) | 2015-01-14 |
JP5539176B2 (ja) | 2014-07-02 |
CN102539353A (zh) | 2012-07-04 |
US20120147375A1 (en) | 2012-06-14 |
US8610894B2 (en) | 2013-12-17 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5539176B2 (ja) | 乾き度測定装置及び乾き度測定方法 | |
JP5885461B2 (ja) | 乾き度測定装置及び乾き度測定方法 | |
US9372153B2 (en) | Dryness fraction distribution measuring device and dryness fraction distribution measuring method | |
JP2016151572A (ja) | 乾き度測定装置 | |
JP6006605B2 (ja) | 蒸気流量測定装置および蒸気流量測定方法 | |
US9625384B2 (en) | Dryness fraction distribution measuring device and dryness fraction distribution measuring method | |
WO2017183433A1 (ja) | 乾き度測定装置及び湿り蒸気検査装置 | |
JP6392673B2 (ja) | 湿度計及び湿度の計測方法 | |
WO2017183434A1 (ja) | 乾き度測定装置及び湿り蒸気検査装置 | |
JP2013092312A (ja) | 乾き度制御装置及び乾き度制御方法 | |
JP2014029307A (ja) | 蒸気熱量測定装置および蒸気熱量測定方法 | |
WO2017104241A1 (ja) | 乾き度測定装置 | |
JP6175370B2 (ja) | 乾き度測定装置及び乾き度測定方法 | |
JP6664926B2 (ja) | 乾き度測定装置 | |
JP6307390B2 (ja) | 乾き度測定装置及び乾き度測定方法 | |
WO2017203841A1 (ja) | 乾き度測定装置及び湿り蒸気検査装置 | |
JP6307427B2 (ja) | 乾き度測定装置及び乾き度測定方法 | |
JP6392627B2 (ja) | 乾き度測定装置および乾き度測定方法 | |
WO2015098278A1 (ja) | 乾き度測定装置及び乾き度測定方法 | |
JP2016151571A (ja) | 乾き度測定装置 | |
JP2018169218A (ja) | 乾き度測定装置及び乾き度測定方法 | |
JP2016125828A (ja) | 乾き度測定装置 | |
JP2018119796A (ja) | 乾き度測定装置及び乾き度の測定方法 | |
JP2017198631A (ja) | 乾き度測定装置及び乾き度測定装置の測定誤差評価方法 | |
JP2015117977A (ja) | 熱量算出装置及び熱量算出方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20130826 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20140129 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20140207 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20140326 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20140411 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5539176 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20140430 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |