JP2012094225A

JP2012094225A - Optical disk device

Info

Publication number: JP2012094225A
Application number: JP2010242961A
Authority: JP
Inventors: Kenichiro Yamada; 健一郎山田
Original assignee: Hitachi LG Data Storage Inc; Hitachi Consumer Electronics Co Ltd
Current assignee: Hitachi LG Data Storage Inc; Hitachi Consumer Electronics Co Ltd
Priority date: 2010-10-29
Filing date: 2010-10-29
Publication date: 2012-05-17

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an adjustment method for a defocus amount and a spherical aberration correction amount which provides the best reproduced signal quality while performing a stable tracking control in a shorter period of time than before in a multilayer optical disk having a plurality of recording layers.SOLUTION: Using an optical disk having three or more recording layers, a deviation amount of the depth in the focus direction is changed while tracking is in an off state and a spherical aberration correction amount is changed; search of a tilt of an edge line at which the amplitude of a larger tracking error signal can be acquired is executed in each of the recording layers; a prescribed function for the distance from an optical base point to the recording layer is created based on the acquired tilt of the edge line; and the tilt of the edge line is derived from the function also for the optical disk for which the tilt of the edge line is not actually measured.

Description

本発明は複数の記録面を有する多層光ディスクについて光スポットの収束位置および球面収差を精度よく調整し、高密度の記録または再生を行うことを可能にする球面収差補正およびデフォーカス補正方法を制御する処理に係り、当該多層光ディスクに情報を記録または再生する光ディスク装置に関する。 The present invention controls a spherical aberration correction and defocus correction method capable of accurately adjusting the convergence position and spherical aberration of a light spot for a multilayer optical disc having a plurality of recording surfaces and performing high-density recording or reproduction. The present invention relates to an optical disc apparatus that records or reproduces information on the multilayer optical disc.

光ディスクの記録密度を高める手段として光ディスクの記録面に形成する光スポットの径を小さくする方法がある。光スポットの大きさは光束の波長に比例し、対物レンズのＮＡ（開口数）に反比例する。そのため、光スポットの高記録密度の実現には対物レンズのＮＡを大きくする必要がある。 As a means for increasing the recording density of the optical disc, there is a method of reducing the diameter of the light spot formed on the recording surface of the optical disc. The size of the light spot is proportional to the wavelength of the light beam and inversely proportional to the NA (numerical aperture) of the objective lens. Therefore, it is necessary to increase the NA of the objective lens in order to realize a high recording density of the light spot.

しかし、一般に光束の波長を短くし、対物レンズのＮＡを大きくすると球面収差の影響が大きくなる。球面収差の影響をうけると、光束の内周部と外周部の焦点位置が離間し、光スポットが収束されるべきフォーカス方向の深度がずれた状態（デフォーカス状態）になる。このフォーカス方向の深度のずれをデフォーカス量という。球面収差量ＳＡは次式で表される。
（式１）ＳＡ∝（ΔＴ×ＮＡ^４）／λ
ここで、ΔＴは光ディスクの基板厚さの誤差（以下、基板厚誤差とする）、λは光束の波長をそれぞれ表す。上記の式から球面収差量は対物レンズのＮＡの４乗とディスクの基板厚誤差ΔＴに比例し、光束の波長λに反比例することが分かる。光ディスクの製造上、基板厚にはばらつきが生じるため、球面収差が生じる。また、複数の記録層をもつ光ディスクにおいても記録層間の距離にばらつきをもつため、同様に球面収差が生じる。このため、複数の記録層をもつ光ディスクでは各記録層における球面収差を補正する必要がある。かかる球面収差を補正可能な光ピックアップとしては、光束の光路中に所定の球面収差を与えるビームエキスパンダを備える構成、所定の球面収差を与える液晶素子を備える構成、あるいは２枚組み合わせた対物レンズの間隔をフォーカシング方向に変化させることで、球面収差を与える構成とし、このようにして得られる球面収差でディスク基板厚の誤差や記録層の間隔によって生じる球面収差を相殺するようにした技術が特許文献１に記載されている。 However, in general, when the wavelength of the light beam is shortened and the NA of the objective lens is increased, the influence of spherical aberration increases. When influenced by spherical aberration, the focal positions of the inner and outer peripheral portions of the light beam are separated from each other, and the depth in the focus direction where the light spot should be converged is shifted (defocused state). This shift in depth in the focus direction is called a defocus amount. The spherical aberration amount SA is expressed by the following equation.
(Formula 1) SA (ΔT × NA ⁴ ) / λ
Here, ΔT represents an error in the substrate thickness of the optical disk (hereinafter referred to as a substrate thickness error), and λ represents the wavelength of the light beam. From the above equation, it can be seen that the amount of spherical aberration is proportional to the fourth power of NA of the objective lens and the substrate thickness error ΔT of the disk, and inversely proportional to the wavelength λ of the light beam. Since the thickness of the substrate varies in manufacturing the optical disc, spherical aberration occurs. Further, even in an optical disc having a plurality of recording layers, since the distance between the recording layers varies, spherical aberration similarly occurs. For this reason, in an optical disc having a plurality of recording layers, it is necessary to correct spherical aberration in each recording layer. As an optical pickup capable of correcting such spherical aberration, a configuration including a beam expander that gives a predetermined spherical aberration in the optical path of a light beam, a configuration including a liquid crystal element that gives a predetermined spherical aberration, or a combination of two objective lenses A technique in which spherical aberration is provided by changing the spacing in the focusing direction, and the spherical aberration generated by the disc substrate thickness error and the recording layer spacing is offset by the spherical aberration obtained in this manner is disclosed in Patent Literature. 1.

光スポットのデフォーカス量および球面収差補正量の調整方法として、特許文献２ではデフォーカス量と球面収差補正量を調整するために多次元の探索ルーチンを実行する。フォーカス外乱信号と並行して球面収差補正外乱信号を供給し、デフォーカス量および球面収差補正量を揺動する。この探索は多次元に行われ、ＲＦ信号のエンベロープ信号が増大する方向にデフォーカス量および球面収差補正量を調整していく。また、図１６は特許文献３に記載のデフォーカス量および球面収差補正量の調整方法の手順を示す。ステップＳ１では光ディスクを回転させ、フォーカス制御が動作している状態にする。ステップＳ２ではトラッキング制御が動作していない状態でトラッキングエラー（ＴＥ）信号の振幅の稜線の傾きを探索する第１の探索を実行する。ここで、稜線の傾きとは稜線のデフォーカス軸変化量に対する球面収差補正量軸の変化量の比率を意味する。ステップＳ３ではトラッキング制御が動作している状態とし、記録部へ移動する。ステップＳ４では第１の探索で探索されたＴＥ信号の振幅の稜線上で再生信号品質が最良になるデフォーカス量および球面収差補正量を決定する第２の探索を実行する。稜線上で第２の探索を行うことで、安定したトラッキング制御を行いながら再生信号を得ることを可能にしている。 As a method for adjusting the defocus amount and the spherical aberration correction amount of the light spot, Japanese Patent Application Laid-Open No. 2004-228561 executes a multidimensional search routine in order to adjust the defocus amount and the spherical aberration correction amount. In parallel with the focus disturbance signal, a spherical aberration correction disturbance signal is supplied to swing the defocus amount and the spherical aberration correction amount. This search is performed in a multidimensional manner, and the defocus amount and the spherical aberration correction amount are adjusted in the direction in which the envelope signal of the RF signal increases. FIG. 16 shows the procedure of the adjustment method of the defocus amount and the spherical aberration correction amount described in Patent Document 3. In step S1, the optical disk is rotated to bring the focus control into operation. In step S2, a first search for searching for the slope of the ridgeline of the amplitude of the tracking error (TE) signal is performed in a state where the tracking control is not operating. Here, the inclination of the ridge line means the ratio of the change amount of the spherical aberration correction amount axis to the defocus axis change amount of the ridge line. In step S3, the tracking control is in an operating state, and the recording unit is moved. In step S4, a second search for determining a defocus amount and a spherical aberration correction amount that provides the best reproduction signal quality on the edge of the amplitude of the TE signal searched in the first search is executed. By performing the second search on the ridgeline, it is possible to obtain a reproduction signal while performing stable tracking control.

特開２０００−１１３８８号公報JP 2000-11388 A 特開２００２−３４２９５２号公報Japanese Patent Application Laid-Open No. 2002-342952 特開２００５−１９６９４７号公報JP 2005-196947 A 特開２００６−１３９８４１号公報JP 2006-139841 A

ところで、前記特許文献３に記載の技術では、第１の探索で求めるＴＥ信号振幅の稜線の傾きを、光ディスクの記録層で実際に測定することで求めている。稜線の傾きを求めるには、ＴＥ信号の振幅の最大値を知るための測定点を、デフォーカス量に対してａ個、球面収差補正量に対してｂ個、それぞれ設けると二次元ではａ×ｂ個の測定点を必要とするため、ＴＥ信号振幅の稜線の傾きの導出には時間を要する。また、記録層が単一でなく複数の記録層を有する光ディスクにおいて、全記録層の数ｎの場合、ＴＥ信号振幅の稜線の傾きの導出に要する測定時間は単層ディスクのｎ倍になる。さらに、特許文献４における請求項７では、あらかじめ実施した探索結果を記憶して、他の調整手段による探索に使用する。この場合、単層ディスクからｎ層ディスクまでの全ディスクの稜線の傾きの測定を考えると、あらかじめ実施する測定時間は単層ディスクに要する測定時間のｎ×（ｎ＋１）／２倍になる。また、実際には作業者による各種ディスクの入れ替え時間も要する為、ＴＥ信号振幅の稜線の傾きの導出に大幅な遅延が生じる。本発明は、複数の記録層を有する光ディスクにおけるＴＥ信号振幅の稜線の傾きの測定を短縮化し、従来よりも短時間で安定したトラッキング制御を行いながら再生信号品質が最良となるデフォーカス量および球面収差補正量を導出することが可能な調整を提供することを目的とする。 By the way, in the technique described in Patent Document 3, the slope of the ridge line of the TE signal amplitude obtained in the first search is obtained by actually measuring the recording layer of the optical disc. In order to obtain the inclination of the ridge line, a measurement point for obtaining the maximum value of the TE signal amplitude is a for the defocus amount and b for the spherical aberration correction amount. Since b measurement points are required, it takes time to derive the slope of the edge of the TE signal amplitude. Further, in an optical disc having a plurality of recording layers instead of a single recording layer, when the number of all recording layers is n, the measurement time required for deriving the slope of the ridge line of the TE signal amplitude is n times that of a single-layer disc. Further, in claim 7 of Patent Document 4, a search result executed in advance is stored and used for a search by other adjustment means. In this case, considering the measurement of the inclination of the ridgeline of all the disks from the single-layer disk to the n-layer disk, the measurement time performed in advance is n × (n + 1) / 2 times the measurement time required for the single-layer disk. In addition, since it takes time for the operator to replace various disks, a substantial delay occurs in deriving the slope of the ridge line of the TE signal amplitude. The present invention shortens the measurement of the inclination of the ridge line of the TE signal amplitude in an optical disc having a plurality of recording layers, and provides a defocus amount and spherical surface that provide the best reproduction signal quality while performing stable tracking control in a shorter time than in the prior art. An object is to provide an adjustment capable of deriving an aberration correction amount.

本発明の光ディスク装置は、光スポットのデフォーカス量を変更するように動作可能なデフォーカス量変更手段と、前記光ディスク上の光スポットにおいて発生する球面収差補正量を変更するように動作可能な球面収差補正量変更手段と、前記光ディスクの反射光から記録層のトラックとのトラッキングエラー信号と記録層の再生信号を生成する手段と、前記トラッキングエラー信号に応じてトラッキング制御を実行するトラッキング制御手段と、前記光ディスクの記録層の再生信号の品質を示す再生信号品質指標を生成する再生信号品質指標生成手段と、前記デフォーカス量変更手段と前記球面収差補正量変更手段と前記トラッキング制御手段を備え、前記制御手段は前記トラッキング制御のオン／オフ状態を切り替えるように動作可能であり、前記制御手段は前記トラッキング制御がオフ状態にある場合に、前記トラッキングエラー信号の振幅がより大きくなる複数の組のデフォーカス量および球面収差補正量を探索する第１の探索手段と、前記制御手段は、前記トラッキング制御がオン状態にある場合に、前記デフォーカス量変更手段と前記球面収差補正量変更手段の少なくとも一方を制御して前記第１の探索により得られた複数の組を基に、所定の関係式に基づいて導出したデフォーカス量および球面収差補正量の中から前記再生信号品質指標が実質的に最良となる１組のデフォーカス量および球面収差補正量を選択する第２の探索を実施し、上記目的が達成される。 An optical disc apparatus according to the present invention includes a defocus amount changing means operable to change a defocus amount of a light spot and a spherical surface operable to change a spherical aberration correction amount generated in the light spot on the optical disc. Aberration correction amount changing means, means for generating a tracking error signal for a recording layer track and a reproduction signal for the recording layer from the reflected light of the optical disc, and tracking control means for executing tracking control in accordance with the tracking error signal; A reproduction signal quality index generating means for generating a reproduction signal quality index indicating the quality of the reproduction signal of the recording layer of the optical disc, the defocus amount changing means, the spherical aberration correction amount changing means, and the tracking control means, The control means is operable to switch an on / off state of the tracking control. The control means, when the tracking control is in an OFF state, a first search means for searching for a plurality of sets of defocus amounts and spherical aberration correction amounts that increase the amplitude of the tracking error signal; The control means controls at least one of the defocus amount changing means and the spherical aberration correction amount changing means based on the plurality of sets obtained by the first search when the tracking control is in an ON state. In addition, a second set of defocus amount and spherical aberration correction amount for which the reproduction signal quality index is substantially best is selected from the defocus amount and spherical aberration correction amount derived based on a predetermined relational expression. The above-mentioned purpose is achieved.

本発明の光ディスク装置は、光スポットのデフォーカス量を変更するように動作可能なデフォーカス量変更手段と、前記光ディスク上の光スポットにおいて発生する球面収差補正量を変更するように動作可能な球面収差補正量変更手段と、前記光ディスクの反射光から記録層のトラックとのトラッキングエラー信号と記録層の再生信号を生成する手段と、前記トラッキングエラー信号に応じてトラッキング制御を実行するトラッキング制御手段と、前記光ディスクの記録層の再生信号の品質を示す再生信号品質指標を生成する再生信号品質指標生成手段と、前記デフォーカス量変更手段と前記球面収差補正量変更手段と前記トラッキング制御手段を制御する制御手段を備え、前記制御手段は前記トラッキング制御がオン状態である間に前記光スポットのデフォーカス量を固定に制御した状態で、前記球面収差量を変更するように前記球面収差補正量変更手段を制御することにより、前記再生信号品質指標が最良となる球面収差を決定し、上記目的が達成される。 An optical disc apparatus according to the present invention includes a defocus amount changing means operable to change a defocus amount of a light spot and a spherical surface operable to change a spherical aberration correction amount generated in the light spot on the optical disc. Aberration correction amount changing means, means for generating a tracking error signal for a recording layer track and a reproduction signal for the recording layer from the reflected light of the optical disc, and tracking control means for executing tracking control in accordance with the tracking error signal; Controlling reproduction signal quality index generation means for generating a reproduction signal quality index indicating the quality of the reproduction signal of the recording layer of the optical disc, the defocus amount changing means, the spherical aberration correction amount changing means, and the tracking control means. Control means, and the control means is configured to control the light while the tracking control is on. By controlling the spherical aberration correction amount changing means so as to change the spherical aberration amount in a state where the defocus amount of the pot is fixed, the spherical aberration with which the reproduction signal quality index is the best is determined, The above objective is achieved.

本発明によれば、少なくとも３つ以上の記録層を有する多層光ディスクについて、トラッキング制御がオフ状態にある間にデフォーカス量と球面収差補正量の２次元での第１の探索を実行し、トラッキングエラー信号の振幅特性の稜線の傾きを、少なくとも３つ以上の各記録層それぞれにおいて探索し、その稜線の傾きの値を基に、第１の探索を実施しない他の記録層の稜線の傾きや、探索を実施した多層光ディスクとは別の光ディスクの各記録層における稜線の傾きを求めることが可能になる。これにより、第１の探索を行わない記録層や光ディスクについても、トラッキング制御がオン状態にある間に実施する、２次元での第２の探索を実行することができ、従来よりも短時間で、安定したトラッキング制御を行いながら再生信号品質が最良となる光スポットのデフォーカス量および球面収差補正量の調整を行うことが可能になる。 According to the present invention, for a multilayer optical disc having at least three recording layers, a first search in two dimensions of a defocus amount and a spherical aberration correction amount is performed while tracking control is in an off state, and tracking is performed. The slope of the ridgeline of the amplitude characteristic of the error signal is searched in each of at least three recording layers, and the slope of the ridgeline of other recording layers not subjected to the first search is determined based on the value of the slope of the ridgeline. Thus, it is possible to obtain the inclination of the ridge line in each recording layer of the optical disc different from the multilayer optical disc on which the search has been performed. As a result, it is possible to execute a second two-dimensional search that is performed while the tracking control is on even for a recording layer or an optical disc that does not perform the first search, and in a shorter time than the conventional method. In addition, it is possible to adjust the defocus amount and spherical aberration correction amount of the light spot with the best reproduction signal quality while performing stable tracking control.

本発明の実施形態になる光ディスク装置の概略構成を示すブロック図である。1 is a block diagram showing a schematic configuration of an optical disc apparatus according to an embodiment of the present invention. 本発明に係る光ディスク装置における再生信号の振幅を示した説明図である。It is explanatory drawing which showed the amplitude of the reproduction | regeneration signal in the optical disk apparatus based on this invention. 本発明にかかる光ディスクの構造を示した説明図である。It is explanatory drawing which showed the structure of the optical disk concerning this invention. 光スポットのデフォーカス量および球面収差補正量に対する再生信号振幅の特性を示した図である。It is a figure showing the characteristic of the reproduction signal amplitude with respect to the defocus amount of the light spot and the spherical aberration correction amount. 光スポットのデフォーカス量および球面収差補正量に対するＴＥ信号振幅の特性を示した図である。It is the figure which showed the characteristic of TE signal amplitude with respect to the defocus amount of a light spot, and spherical aberration correction amount. 光スポットのデフォーカス量および球面収差補正量に対する再生信号振幅の特性を示した図である。It is a figure showing the characteristic of the reproduction signal amplitude with respect to the defocus amount of the light spot and the spherical aberration correction amount. ＴＥ信号振幅の稜線を利用した信号品質の探査を実行する方法の手順を示したフローチャートである。It is the flowchart which showed the procedure of the method of performing the search of signal quality using the ridgeline of TE signal amplitude. 第１の探索を実行する方法の手順を示したフローチャートである。It is the flowchart which showed the procedure of the method of performing a 1st search. 第２の探索を実行する方法の手順を示したフローチャートである。It is the flowchart which showed the procedure of the method of performing a 2nd search. デフォーカス量に対するＴＥ信号振幅の特性を示した図である。It is the figure which showed the characteristic of TE signal amplitude with respect to a defocus amount. Ａ方向に対するＴＥ信号振幅の特性を示した図である。It is the figure which showed the characteristic of TE signal amplitude with respect to A direction. Ａ方向に対する再生信号振幅の特性を示した図である。It is the figure which showed the characteristic of the reproduction signal amplitude with respect to A direction. 光学基準点から記録層までの距離に対する３層ディスクの各記録層におけるＴＥ信号振幅の稜線の傾きの特性を示した図である。FIG. 5 is a diagram showing a characteristic of a slope of a ridge line of TE signal amplitude in each recording layer of a three-layer disc with respect to a distance from an optical reference point to a recording layer. ３層ディスクの光学基準点から記録層までの距離に対する特性を示す二次関数を基に４層ディスクの各記録層におけるＴＥ信号振幅の稜線の傾きの特性を示した図である。FIG. 6 is a diagram showing the characteristics of the slope of the ridge line of the TE signal amplitude in each recording layer of the four-layer disk based on a quadratic function indicating the characteristic with respect to the distance from the optical reference point of the three-layer disk to the recording layer. ３層ディスクのＴＥ信号振幅の稜線の傾きの実測からｎ層ディスクの各記録層におけるＴＥ信号振幅の稜線の傾きの導出を実行するための方法の手順を示したフローチャートである。It is the flowchart which showed the procedure of the method for performing derivation | leading-out of the inclination of the ridgeline of TE signal amplitude in each recording layer of an n layer disk from the measurement of the inclination of the ridgeline of TE signal amplitude of a 3 layer disk. 従来技術におけるデフォーカス量および球面収差補正量の調整方法の手順を示したフローチャートである。It is the flowchart which showed the procedure of the adjustment method of the defocus amount and spherical aberration correction amount in a prior art.

以下、本発明の形態について、添付の図面を参照しながら詳細に説明する。 Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

図１は本発明になる光ディスク装置およびその光ピックアップの構成を示すブロック図である。図において符号１００は光ディスクを表す。光ディスク１００はレーザ光の入射側表面が透明な保護層で覆われている。また、光ディスク２００は少なくとも３つ以上の記録層を有する。この光ディスク装置において、１０１は光ピックアップ、１０２はレーザ光源、１０３はコリメートレンズ、１０４は偏光ビームスプリッタ、１０５は１／４波長板、１０６は球面収差補正素子、１０７は全反射ミラー、１０８は対物レンズ、１０９はアクチュエータ、１１０はシリンドリカルレンズ、１１１は集光レンズ、１１２は光検出器、１１３はスピンドルモータ、１２１はスピンドルモータ駆動回路、１２２はアクチュエータ駆動回路、１２３は球面収差補正素子駆動回路、１２４は信号品質評価回路、１２５は再生信号生成回路、１２６はＷｏｂｂｌｅ信号生成回路、１２７はサーボ信号生成回路、１２８はレーザ駆動回路、１２９はシステム制御回路をそれぞれ示している。 FIG. 1 is a block diagram showing the configuration of an optical disc apparatus and its optical pickup according to the present invention. In the figure, reference numeral 100 represents an optical disk. The optical disk 100 is covered with a transparent protective layer on the laser light incident side surface. The optical disc 200 has at least three recording layers. In this optical disk apparatus, 101 is an optical pickup, 102 is a laser light source, 103 is a collimating lens, 104 is a polarization beam splitter, 105 is a quarter wave plate, 106 is a spherical aberration correction element, 107 is a total reflection mirror, and 108 is an objective. Lens, 109 is an actuator, 110 is a cylindrical lens, 111 is a condenser lens, 112 is a photodetector, 113 is a spindle motor, 121 is a spindle motor drive circuit, 122 is an actuator drive circuit, 123 is a spherical aberration correction element drive circuit, Reference numeral 124 denotes a signal quality evaluation circuit, 125 denotes a reproduction signal generation circuit, 126 denotes a wobble signal generation circuit, 127 denotes a servo signal generation circuit, 128 denotes a laser drive circuit, and 129 denotes a system control circuit.

上記光ピックアップ１０１の構成によれば、上記レーザ光源１０２から放射された光束は、コリメートレンズ１０３は平行光束に変換され、偏光ビームスプリッタ１０４を透過し、１／４波長板１０５で円偏光に変換される。この円偏光は球面収差補正素子１０６により、所定の球面収差が付加されたのち、全反射ミラー１０７上で反射され、対物レンズ１０８に導かれる。この対物レンズ１０８は入射した光束に対応して光ディスク１００の記録層に光スポットを形成する。 According to the configuration of the optical pickup 101, the light beam emitted from the laser light source 102 is converted into a parallel light beam by the collimator lens 103, passes through the polarization beam splitter 104, and is converted into circularly polarized light by the quarter wavelength plate 105. Is done. The circularly polarized light is added with a predetermined spherical aberration by the spherical aberration correction element 106, then reflected on the total reflection mirror 107 and guided to the objective lens 108. The objective lens 108 forms a light spot on the recording layer of the optical disc 100 corresponding to the incident light beam.

球面収差補正素子１０６は、例えば凹レンズと凸レンズとを含むビームエキスパンダによって構成され得る。ビームエキスパンダは凹レンズと凸レンズとの間隔を変化させることにより、対物レンズ１０８に対する光束の発散度合いを変化させる。これにより、光スポットにおける球面収差量を変化させる。なお、球面収差補正素子１０６の一例としてビームエキスパンダを挙げたが、球面収差補正素子１０６はビームエキスパンダのみに限定されない。球面収差を補正するという機能をもつ限り、任意の構成を有し得る。例えば、球面収差補正素子１０６は液晶素子による屈折率変化による光スポットの球面収差を補正する素子であってもよい。 The spherical aberration correction element 106 can be configured by a beam expander including a concave lens and a convex lens, for example. The beam expander changes the degree of divergence of the light beam with respect to the objective lens 108 by changing the distance between the concave lens and the convex lens. Thereby, the spherical aberration amount in the light spot is changed. Although a beam expander is used as an example of the spherical aberration correction element 106, the spherical aberration correction element 106 is not limited to the beam expander. As long as it has a function of correcting spherical aberration, it can have any configuration. For example, the spherical aberration correction element 106 may be an element that corrects the spherical aberration of the light spot due to the refractive index change caused by the liquid crystal element.

一方、光ディスク１００からの反射光束は、対物レンズ１０８、全反射ミラー１０７、球面収差補正素子１０６、１／４波長板１０５を透過し、偏光ビームスプリッタ１０４において、反射される。そして、この反射光束がシリンドリカルレンズ１１０を透過し、集光レンズ１１１によって光検出器１１２に集光される。 On the other hand, the reflected light beam from the optical disk 100 passes through the objective lens 108, the total reflection mirror 107, the spherical aberration correction element 106, and the quarter wavelength plate 105 and is reflected by the polarization beam splitter 104. Then, this reflected light beam passes through the cylindrical lens 110 and is condensed on the photodetector 112 by the condenser lens 111.

光検出器１１２から出力される電気信号は再生信号生成回路１２５、Ｗｏｂｂｌｅ信号生成回路、サーボ信号生成回路１２７に供給される。再生信号生成回路１２５では、光ディスク１００に記録された再生情報信号が得られ、Ｗｏｂｂｌｅ信号生成回路２２６ではフォーカスエラー信号（以下、ＦＥ信号とする）やトラッキングエラー信号（以下ＴＥ信号とする）、ディスク１００からの反射光量に対応したプルインエラー信号などの各種サーボ信号が生成され、システム制御回路１２９に出力される。ここで、トラッキングエラーは光スポットと光ディスク１００の記録層上のトラックとの位置ずれを示すエラーを意味する。ＴＥ信号は、一般にプッシュプル法と呼ばれるトラッキングエラー検出方式によって生成する。再生信号生成回路１２５は光検出器１１２の出力により再生信号を生成する。再生信号は信号品質評価回路１２４とシステム制御回路に供給される。 The electric signal output from the photodetector 112 is supplied to the reproduction signal generation circuit 125, the wobble signal generation circuit, and the servo signal generation circuit 127. The reproduction signal generation circuit 125 obtains a reproduction information signal recorded on the optical disc 100. The wobble signal generation circuit 226 obtains a focus error signal (hereinafter referred to as an FE signal), a tracking error signal (hereinafter referred to as a TE signal), and a disc. Various servo signals such as a pull-in error signal corresponding to the amount of light reflected from 100 are generated and output to the system control circuit 129. Here, the tracking error means an error indicating a positional deviation between the light spot and the track on the recording layer of the optical disc 100. The TE signal is generated by a tracking error detection method generally called a push-pull method. A reproduction signal generation circuit 125 generates a reproduction signal based on the output of the photodetector 112. The reproduction signal is supplied to the signal quality evaluation circuit 124 and the system control circuit.

信号品質評価回路１２４は評価指標として、例えば再生信号から再生信号振幅を生成する。図２に再生信号におけるエンベロープを示す。ここで、再生信号振幅とは図２における再生信号のエンベロープであるＥｎｖ_ＲＦを表す。信号品質評価回路１２４により生成された再生信号振幅はシステム制御回路１２９に供給される。なお、信号品質評価回路１２４の生成する評価指標の一例として再生信号振幅を挙げたが、評価指標は再生信号振幅のみに限定されない。再生信号を評価可能という機能をもつ限り、任意の回路となし得る。例えば、信号品質評価回路１２４は再生信号からｉ−ＭＬＳＥ（ＩｎｔｅｇｒａｔｅｄＭａｘｉｍｕｍＬｉｋｅｌｉｈｏｏｄＳｅｑｕｅｎｃｅＥｒｒｏｒ）やＭＬＳＥ（ＭａｘｉｍｕｍＬｉｋｅｌｉｈｏｏｄＳｅｑｕｅｎｃｅＥｒｒｏｒ）を生成する回路であってもよい。信号品質評価回路１２４によって生成されたｉ−ＭＬＳＥまたはＭＬＳＥはシステム制御回路１２９に供給される。 For example, the signal quality evaluation circuit 124 generates a reproduction signal amplitude from the reproduction signal as an evaluation index. FIG. 2 shows an envelope in the reproduction signal. Here, the reproduction signal amplitude represents Env _RF which is an envelope of the reproduction signal in FIG. The reproduction signal amplitude generated by the signal quality evaluation circuit 124 is supplied to the system control circuit 129. Although the reproduction signal amplitude is given as an example of the evaluation index generated by the signal quality evaluation circuit 124, the evaluation index is not limited to the reproduction signal amplitude alone. Any circuit can be used as long as it has the function of evaluating the reproduction signal. For example, the signal quality evaluation circuit 124 may be a circuit that generates i-MLSE (Integrated Maximum Likelihood Sequence Error) or MLSE (Maximum Likelihood Sequence Error) from the reproduction signal. The i-MLSE or MLSE generated by the signal quality evaluation circuit 124 is supplied to the system control circuit 129.

システム制御回路１２９は、この光ディスク装置全体を制御する機能を備えている。すなわち、スピンドルモータ駆動回路１２１を介してスピンドルモータ１１３に装着された光ディスク１００の回転制御を行い、アクチュエータ駆動回路１２２を介して対物レンズ１０８を搭載したアクチュエータ１０９を駆動することによりフォーカスやトラッキングなどのサーボ制御を行い、また信号品質評価回路１２４により生成された評価指標を基に球面収差補正素子駆動回路１２３を介して光ピックアップ１０１の球面収差量の検出及び補正を行う。 The system control circuit 129 has a function of controlling the entire optical disc apparatus. That is, the rotation of the optical disc 100 mounted on the spindle motor 113 is controlled via the spindle motor drive circuit 121, and the actuator 109 equipped with the objective lens 108 is driven via the actuator drive circuit 122 so that focus, tracking, etc. Servo control is performed, and the spherical aberration amount of the optical pickup 101 is detected and corrected via the spherical aberration correction element driving circuit 123 based on the evaluation index generated by the signal quality evaluation circuit 124.

システム制御回路１２９は、光ディスク１００の記録層に集光する光スポットの光量が所定の光量になるようにレーザ駆動回路１２８を介してレーザ光源１０２を駆動する。 The system control circuit 129 drives the laser light source 102 via the laser drive circuit 128 so that the light amount of the light spot condensed on the recording layer of the optical disc 100 becomes a predetermined light amount.

システム制御回路１２９は対物レンズ１０８のディスク深度に対する焦点位置を変更するためのデフォーカス量を生成してアクチュエータ駆動回路１０９に送る。アクチュエータ駆動回路１０９はサーボ信号生成回路１２７からの出力信号であるフォーカスエラー信号にシステム制御回路１２９からのデフォーカス量を加算して、アクチュエータ駆動回路１０９に出力する。アクチュエータ駆動回路１０９はシステム制御回路１２９からの出力信号であるデフォーカス量補正後のフォーカスエラー信号に応じて対物レンズ１０８の焦点位置を変更する。 The system control circuit 129 generates a defocus amount for changing the focal position with respect to the disk depth of the objective lens 108 and sends it to the actuator drive circuit 109. The actuator drive circuit 109 adds the defocus amount from the system control circuit 129 to the focus error signal that is an output signal from the servo signal generation circuit 127, and outputs the result to the actuator drive circuit 109. The actuator drive circuit 109 changes the focal position of the objective lens 108 according to the focus error signal after defocus amount correction that is an output signal from the system control circuit 129.

システム制御回路１２９は球面収差量を変更する為の制御信号を生成して球面収差補正素子駆動回路１２３に送る。球面収差補正素子駆動回路１２３はシステム制御回路１２９からの制御信号に応じて球面収差補正素子１０６を駆動する。これにより、球面収差量が変更され、球面収差の補正が実行される。光スポットのデフォーカス量および球面収差量を調整する前は、球面収差補正素子１０６は、例えば光ディスク１００の最も奥の記録層までの厚みに対して光スポットの球面収差が最小になるように設定されている。 The system control circuit 129 generates a control signal for changing the spherical aberration amount and sends it to the spherical aberration correction element driving circuit 123. The spherical aberration correction element driving circuit 123 drives the spherical aberration correction element 106 in accordance with a control signal from the system control circuit 129. Thereby, the amount of spherical aberration is changed, and correction of spherical aberration is executed. Before adjusting the defocus amount and spherical aberration amount of the light spot, the spherical aberration correction element 106 is set so that the spherical aberration of the light spot is minimized with respect to the thickness to the innermost recording layer of the optical disc 100, for example. Has been.

図３は光ディスク１００の構造を示す。光ディスク１００は少なくとも３層以上の記録層を有する多層光ディスクである。レーザ照射面を表面とした場合に、表面から最も遠い奥の層をＬ０層とし、全部でｎ層の記録層をもつ場合、最も表面の記録層はＬ（ｎ−１）層となる。また、上記のように、レーザ入射側表面から保護層、情報層、基材層の順による積層が記録層の数だけ繰り返されている。 FIG. 3 shows the structure of the optical disc 100. The optical disc 100 is a multilayer optical disc having at least three recording layers. When the laser irradiation surface is the front surface, the farthest layer from the surface is the L0 layer, and when there are n recording layers in total, the outermost recording layer is the L (n-1) layer. Further, as described above, the stacking in the order of the protective layer, the information layer, and the base material layer from the laser incident side surface is repeated by the number of the recording layers.

次に、レーザのデフォーカス量と球面収差補正量とに対する再生信号の再生信号振幅とＴＥ信号の振幅特性について説明する。 Next, the reproduction signal amplitude of the reproduction signal and the amplitude characteristic of the TE signal with respect to the laser defocus amount and the spherical aberration correction amount will be described.

図４は光スポットのデフォーカス量と球面収差補正量の２軸に対して、紙面垂直軸の調整指標として再生信号振幅を用いた際の特性を示す。同心円状の複数の楕円による等高線マップによって再生信号振幅の値が示されている。各楕円の線上において再生信号振幅の値は等しく、各楕円の中心点Ｐ１に近づくほど再生信号振幅の値は大きくなっていく。各楕円の中心点Ｐ１において再生信号振幅の値は略最大になる。すなわち、再生信号振幅が最大になるデフォーカス量Ｄ１と球面収差補正量Ｓ１において、最適に信号の再生を行うことができる。 FIG. 4 shows the characteristics when the reproduction signal amplitude is used as an adjustment index of the vertical axis of the paper with respect to the two axes of the light spot defocus amount and the spherical aberration correction amount. The value of the reproduction signal amplitude is shown by a contour map of a plurality of concentric ellipses. The value of the reproduction signal amplitude is equal on the line of each ellipse, and the value of the reproduction signal amplitude increases as it approaches the center point P1 of each ellipse. The value of the reproduction signal amplitude is substantially maximum at the center point P1 of each ellipse. That is, the signal can be optimally reproduced at the defocus amount D1 and the spherical aberration correction amount S1 at which the reproduction signal amplitude is maximized.

図５は光ピックアップ１０１のデフォーカス量と球面収差補正量の２軸に対して、紙面垂直軸の調整指標としてＴＥ信号振幅を用いた際の特性を示す。同心円状の複数の楕円による等高線マップによってＴＥ信号振幅の値が示されている。各楕円の線上においてＴＥ信号振幅の値は等しく、各楕円の中心に近づくほどＴＥ信号振幅の値は大きくなっていく。したがって、各楕円の中心においてＴＥ信号振幅の値は略最大になる。 FIG. 5 shows characteristics when the TE signal amplitude is used as an adjustment index of the vertical axis of the paper with respect to the two axes of the defocus amount and the spherical aberration correction amount of the optical pickup 101. The value of the TE signal amplitude is shown by a contour map of a plurality of concentric ellipses. The value of the TE signal amplitude is equal on the line of each ellipse, and the value of the TE signal amplitude increases as it approaches the center of each ellipse. Therefore, the value of the TE signal amplitude is substantially maximum at the center of each ellipse.

再生信号振幅が最大となるように光スポットのデフォーカス量と球面収差補正量の２軸をそれぞれ独立に調整しようとした場合、調整の途中でトラッキング制御に対して十分なＴＥ信号振幅が確保できず、トラッキング制御が不安定になる場合がある。この課題を解決するためには、ＴＥ信号の振幅が十分大きく、かつＴＥ信号振幅の低下が緩やかな各軸の値の領域で再生信号振幅が最大となる点を探索する必要がある。 When the two axes of the light spot defocus amount and spherical aberration correction amount are adjusted independently so that the reproduction signal amplitude is maximized, sufficient TE signal amplitude can be secured for tracking control during the adjustment. Therefore, tracking control may become unstable. In order to solve this problem, it is necessary to search for a point at which the reproduction signal amplitude becomes maximum in the region of the value of each axis where the amplitude of the TE signal is sufficiently large and the decrease in the TE signal amplitude is gentle.

図５に示すように、光スポットのデフォーカス量と球面収差補正量とにはＴＥ信号振幅が十分大きく、かつＴＥ信号振幅の低下が緩やかとなる２軸の関係が存在する。図５における、破線で示した直線５００上はＴＥ信号振幅が十分に大きく、かつＴＥ信号振幅の低下が緩やかとなる２軸の値の組み合わせを示している。以降、ＴＥ信号振幅の稜線とは直線５００を、ＴＥ信号振幅の稜線の傾きＧ１とは、直線５００上における、
（式２）Ｇ１＝（球面収差補正量の変化量）／（デフォーカス量の変化量）
を表す。 As shown in FIG. 5, the defocus amount of the light spot and the spherical aberration correction amount have a biaxial relationship in which the TE signal amplitude is sufficiently large and the decrease in the TE signal amplitude is gradual. In FIG. 5, a straight line 500 indicated by a broken line indicates a combination of two-axis values in which the TE signal amplitude is sufficiently large and the decrease in the TE signal amplitude is gentle. Hereinafter, the ridge line of the TE signal amplitude is the straight line 500, and the slope G1 of the ridge line of the TE signal amplitude is on the straight line 500.
(Expression 2) G1 = (Change amount of spherical aberration correction amount) / (Change amount of defocus amount)
Represents.

図６に図４と同じく、光スポットのデフォーカス量と球面収差補正量の２軸に対して、紙面垂直軸の調整指標として再生信号振幅を用いた際の特性を示す。図６において、直線５００は図５におけるＴＥ信号振幅の稜線を表す。トラッキング制御をオフにした状態で、ＴＥ信号振幅の特性からＴＥ信号振幅の稜線５００およびその傾きＧ１を検出し、記憶する。その後、トラッキング制御をオンにした状態で図６に示したようにＴＥ信号振幅の稜線５００上で光スポットのデフォーカス量と球面収差補正量の２軸の値を同時に変え、再生信号振幅が最大となる点Ｐ２を探索する。 FIG. 6 shows the characteristics when the reproduction signal amplitude is used as an adjustment index of the vertical axis of the paper with respect to the two axes of the light spot defocus amount and the spherical aberration correction amount, as in FIG. In FIG. 6, a straight line 500 represents a ridge line of the TE signal amplitude in FIG. With the tracking control turned off, the ridge line 500 of the TE signal amplitude and its gradient G1 are detected and stored from the characteristics of the TE signal amplitude. After that, with tracking control turned on, the two-axis values of the light spot defocus amount and spherical aberration correction amount are simultaneously changed on the TE signal amplitude ridge line 500 as shown in FIG. The point P2 which becomes becomes a search.

図７は再生信号振幅の値が最大となる点Ｐ２を探索する方法の手順を示している。この方法は、例えばシステム制御回路１２９によって実行される。同図のステップ７０１では光ディスク１００を回転させるようにスピンドルモータ１１３をスピンドルモータ駆動回路１２１が駆動信号を送る。ステップ７０２ではＴＥ信号振幅の稜線を測定する記録層に対してフォーカス制御が動作している状態となるよう、アクチュエータ１０９をアクチュエータ駆動回路１２２が駆動信号を送信する。ステップ７０３ではトラッキング制御をオフにした状態でＴＥ信号振幅の稜線を探索する第１の探索を実行する。ステップ７０４ではステップ７０３での第１の探索結果から算出したＴＥ信号振幅の稜線の傾きＧ１を記憶する。ステップ７０５ではトラッキング制御をオンにした状態になるようにアクチュエータ１０９を制御した後、ステップ７０６では記録済み領域に移動する。また、ステップ７０７では第１の探索によって判明したＴＥ信号振幅の稜線５００の傾きＧ１を基に再生信号振幅が最大となる１組の光スポットのデフォーカス量および球面収差補正量を決定する第２の探索を実行する。 FIG. 7 shows the procedure of a method for searching for a point P2 where the value of the reproduction signal amplitude is maximum. This method is executed by the system control circuit 129, for example. In step 701 in the figure, the spindle motor 113 sends a drive signal to the spindle motor 113 so as to rotate the optical disc 100. In step 702, the actuator drive circuit 122 transmits a drive signal to the actuator 109 so that the focus control is in operation for the recording layer for measuring the ridge line of the TE signal amplitude. In step 703, a first search for searching for a ridgeline of the TE signal amplitude is performed with tracking control turned off. In step 704, the gradient G1 of the ridge line of the TE signal amplitude calculated from the first search result in step 703 is stored. In step 705, the actuator 109 is controlled so that the tracking control is turned on, and then in step 706, it moves to the recorded area. In step 707, a defocus amount and a spherical aberration correction amount for a set of light spots that maximize the reproduction signal amplitude are determined based on the gradient G1 of the ridge line 500 of the TE signal amplitude found by the first search. Perform a search for.

以下、第１の探索である図７のステップ７０３について図５、図８および図１０を用いて説明する。
図８はＴＥ信号振幅の稜線を導出する第１の探索（図７のステップ７０３）の方法の手順について説明する。この方法はシステム制御回路１２９によって実行される。同図のステップ８０１では球面収差補正量が所定の初期値Ｄ２に、球面収差補正量が所定の初期値Ｓ２に設定される。ここで、球面収差補正量の初期値Ｓ２は標準的な光ディスク１００における最適な所定値である。また、ステップ８０２ではデフォーカス量の初期値は後述する図１０の二次近似の正確な実施に最適な所定値でもＦＥ信号の最大値が得られる値としてもよい。なお、初期値Ｄ２およびＳ２は光ピックアップ１０１固有の特性でもあるので、光ピックアップ１０１ごとに異なる最適値を所定値としてもよい。以降、ステップ８０５でＹＥＳが選択されるまで球面収差補正量は固定したままＴＥ振幅最大のデフォーカス量を探索する。ステップ８０３では現在の球面収差補正量およびデフォーカス量に固定した状態でＴＥ信号振幅を取得する。ＴＥ信号振幅取得時のデフォーカス量およびＴＥ信号振幅は、メモリに記憶される。メモリは例えばシステム制御回路１２９に内蔵されている。ステップ８０４ではデフォーカス量の値を現在値からデフォーカス量に対する測定時のステップ量Ｄｗだけ変化させた値（現在値がＤ２であった場合はＤ２’）に変更する。ここで、ステップ量Ｄｗは後述する図１０の二次近似の正確な実施に最適な所定値である。また、Ｄｗは光ピックアップ１０１固有の値であるので、光ピックアップ１０１ごとに異なる最適値を所定値としてもよい。ステップ８０５ではデフォーカス量が終了値Ｄ３よりも大きいか否かを判定する。デフォーカス量がＤ３よりも大きい場合はステップ８０６に移行し、Ｄ３よりも小さい場合はステップ８０３に移行する。すなわち、デフォーカス量がＤ３よりも大きい値になるまで、ステップ８０３とステップ８０４が繰り返され、ある固定の球面収差補正量におけるデフォーカス量に対するＴＥ信号振幅の特性が測定される。ここで、ステップ８０１からステップ８０５において、固定した球面収差補正量におけるデフォーカス量に対するＴＥ信号振幅の値は、例えば図１０の黒点の分布のようにデフォーカス量に対して略二次的な特性が得られる。そこで、この測定結果に対して最小二乗法により二次近似曲線１０００が得られる。この近似曲線１０００の頂点におけるデフォーカス量Ｄ_Ｐ１は、固定した球面収差補正量におけるＴＥ信号振幅が最大になるデフォーカス量を表す。測定点に対する近似曲線の計算および頂点におけるデフォーカス量Ｄ_Ｐ１の計算は、例えばシステム制御回路１２９によって実行される。また、計算時の球面収差補正量の値およびＤ_Ｐ１の値はメモリに記憶される。メモリは例えば、システム制御回路１２９に内蔵されている。次に、ステップ８０６では球面収差補正量の値を現在値から球面収差補正量に対する測定時のステップ量Ｓｗだけ変化させた値（現在値がＳ２であった場合はＳ２’）に変更する。ここで、ステップ量Ｓｗは後述する図５の一次近似の正確な実施に最適な所定値である。また、Ｓｗは光ピックアップ１０１固有の値であるので、光ピックアップ１０１ごとに異なる最適値を所定値としてもよい。ステップ８０７では球面収差補正量が終了値Ｓ３よりも大きいか否かを判定する。球面収差補正量がＳ３よりも大きい場合はステップ８０８に移行し、Ｓ３よりも小さい場合はステップ８０２に移行する。すなわち、球面収差補正量がＳ３よりも大きい値になるまで、ステップ８０２から８０６が繰り返され、各球面収差補正量におけるデフォーカス量に対するＴＥ信号振幅特性が測定される。ステップ８０８ではステップ８０７までの測定結果からＴＥ信号振幅の稜線５００が導出される。各球面収差補正量におけるデフォーカス量に対するＴＥ信号振幅の二次近似曲線の頂点は、例えば図５の白点の分布のようにデフォーカス量に対して略線形的な特性が得られる。そこで、この測定結果に対して最小二乗法により線形近似直線が得られる。本発明では、この近似直線をＴＥ信号振幅の稜線５００とする。上記のように、このＴＥ信号振幅の稜線のデフォーカス量の変化量に対する球面収差補正量の変化量がＴＥ信号振幅の稜線の傾きＧ１となる。なお、上記には各球面収差補正量において、デフォーカス量に対してＴＥ信号振幅を二次近似した後に、二次近似曲線の頂点を線形近似してＴＥ信号振幅の稜線を求める方法を挙げたが、各デフォーカス量において、球面収差補正量に対してＴＥ信号振幅を二次近似した後に、二次近似曲線の頂点を線形近似してＴＥ信号振幅の稜線を求めてもよい。 Hereinafter, step 703 of FIG. 7 which is the first search will be described with reference to FIGS. 5, 8 and 10.
FIG. 8 explains the procedure of the method of the first search (step 703 in FIG. 7) for deriving the edge of the TE signal amplitude. This method is executed by the system control circuit 129. In step 801 in the figure, the spherical aberration correction amount is set to a predetermined initial value D2, and the spherical aberration correction amount is set to a predetermined initial value S2. Here, the initial value S2 of the spherical aberration correction amount is an optimum predetermined value in the standard optical disc 100. In step 802, the initial value of the defocus amount may be a predetermined value that is optimal for the accurate execution of the second-order approximation of FIG. 10 described later, or a value that provides the maximum value of the FE signal. Note that since the initial values D2 and S2 are also characteristics unique to the optical pickup 101, an optimum value that differs for each optical pickup 101 may be set as the predetermined value. Thereafter, the defocus amount with the maximum TE amplitude is searched with the spherical aberration correction amount being fixed until YES is selected in step 805. In step 803, the TE signal amplitude is acquired in a state where the current spherical aberration correction amount and defocus amount are fixed. The defocus amount and TE signal amplitude at the time of acquiring the TE signal amplitude are stored in the memory. For example, the memory is built in the system control circuit 129. In step 804, the value of the defocus amount is changed from the current value to a value changed by the step amount Dw at the time of measurement with respect to the defocus amount (D2 ′ if the current value is D2). Here, the step amount Dw is a predetermined value that is optimal for the accurate execution of the second-order approximation of FIG. Since Dw is a value specific to the optical pickup 101, an optimum value that differs for each optical pickup 101 may be set as the predetermined value. In step 805, it is determined whether or not the defocus amount is larger than the end value D3. When the defocus amount is larger than D3, the process proceeds to step 806, and when smaller than D3, the process proceeds to step 803. That is, Steps 803 and 804 are repeated until the defocus amount becomes a value larger than D3, and the characteristic of the TE signal amplitude with respect to the defocus amount at a certain fixed spherical aberration correction amount is measured. Here, in step 801 to step 805, the value of the TE signal amplitude with respect to the defocus amount in the fixed spherical aberration correction amount is substantially a second order characteristic with respect to the defocus amount as shown in the black spot distribution of FIG. Is obtained. Therefore, a quadratic approximate curve 1000 is obtained by the least square method for this measurement result. The defocus amount D _P 1 at the apex of the approximate curve 1000 represents the defocus amount that maximizes the TE signal amplitude in the fixed spherical aberration correction amount. The calculation of the approximate curve for the measurement point and the calculation of the defocus amount D _P 1 at the vertex are executed by the system control circuit 129, for example. Further, the value of the spherical aberration correction amount and the value of D _P 1 at the time of calculation are stored in the memory. For example, the memory is built in the system control circuit 129. Next, in step 806, the value of the spherical aberration correction amount is changed from the current value to a value obtained by changing the step amount Sw at the time of measurement with respect to the spherical aberration correction amount (S2 ′ if the current value is S2). Here, the step amount Sw is a predetermined value that is optimal for accurate execution of the first-order approximation of FIG. Further, since Sw is a value specific to the optical pickup 101, an optimum value that differs for each optical pickup 101 may be set as the predetermined value. In step 807, it is determined whether the spherical aberration correction amount is larger than the end value S3. When the spherical aberration correction amount is larger than S3, the process proceeds to step 808, and when smaller than S3, the process proceeds to step 802. That is, steps 802 to 806 are repeated until the spherical aberration correction amount becomes larger than S3, and the TE signal amplitude characteristic with respect to the defocus amount in each spherical aberration correction amount is measured. In step 808, the edge 500 of the TE signal amplitude is derived from the measurement results up to step 807. The vertex of the quadratic approximate curve of the TE signal amplitude with respect to the defocus amount in each spherical aberration correction amount has a substantially linear characteristic with respect to the defocus amount, for example, the distribution of white points in FIG. Therefore, a linear approximation straight line is obtained by the least square method for this measurement result. In the present invention, this approximate straight line is defined as a ridge line 500 of the TE signal amplitude. As described above, the change amount of the spherical aberration correction amount with respect to the change amount of the defocus amount of the ridge line of the TE signal amplitude is the gradient G1 of the ridge line of the TE signal amplitude. In the above, for each spherical aberration correction amount, the TE signal amplitude is quadratic approximated with respect to the defocus amount, and then the vertex of the quadratic approximate curve is linearly approximated to obtain the ridge line of the TE signal amplitude. However, at each defocus amount, after the TE signal amplitude is quadratic approximated with respect to the spherical aberration correction amount, the vertex of the quadratic approximate curve may be linearly approximated to obtain the ridge line of the TE signal amplitude.

ＴＥ信号振幅が最大となるデフォーカス量および球面収差補正量の組み合わせの探索について、図５と図１１を用いて説明する。図１１は図５において白点で示した、各球面収差補正量における、ＴＥ信号振幅の稜線に平行なＡ方向に対するＴＥ信号振幅の二次近似曲線の頂点をデフォーカス量に対してプロットしたものである。曲線１１００は各点を最小二乗法により二次近似した曲線である。この近似曲線の頂点におけるデフォーカス量Ｄ４は、ＴＥ信号振幅が最大となるデフォーカス量を意味する。このＤ４を基に、ＴＥ信号振幅の稜線上のデフォーカス量Ｄ４に対する点Ｐ２における球面収差補正量Ｓ４を導出する。Ｄ４およびＳ４の値はメモリに記憶される。メモリは例えば、システム制御回路１２９に内蔵されている。近似曲線１１００の計算およびＤ４およびＳ４の導出は、例えばシステム制御回路１２９によって実行される。 A search for a combination of the defocus amount and the spherical aberration correction amount that maximizes the TE signal amplitude will be described with reference to FIGS. FIG. 11 is a plot of vertices of a quadratic approximate curve of TE signal amplitude with respect to the A direction parallel to the ridge line of TE signal amplitude, plotted against the defocus amount, for each spherical aberration correction amount indicated by white dots in FIG. It is. A curve 1100 is a curve obtained by quadratic approximation of each point by the least square method. The defocus amount D4 at the apex of the approximate curve means a defocus amount that maximizes the TE signal amplitude. Based on this D4, the spherical aberration correction amount S4 at the point P2 with respect to the defocus amount D4 on the ridge line of the TE signal amplitude is derived. The values of D4 and S4 are stored in the memory. For example, the memory is built in the system control circuit 129. The calculation of the approximate curve 1100 and the derivation of D4 and S4 are executed by the system control circuit 129, for example.

次に、１枚の光ディスク１００の記録層のうち３層分のＴＥ信号振幅の稜線の傾きの実測値から、実測を行わない光ディスク１００の他の記録層および、１層も実測を行わない光ディスク１００のＴＥ信号振幅の稜線の傾きを導出する方法について説明する。 Next, from the measured values of the inclination of the ridge line of the TE signal amplitude for three of the recording layers of one optical disc 100, the other recording layers of the optical disc 100 that are not actually measured and the optical disc that is not actually measured. A method of deriving the slope of the ridge line of 100 TE signal amplitudes will be described.

図１３および図１４を用いて、光ディスク１００の例として、全３層の記録層をもつ光ディスクについて、レーザ照射面を表面とした場合、最も表面に近い記録層であるＬ０、Ｌ０の次に表面に近い記録層であるＬ１、Ｌ１の次に表面に近い記録層であるＬ２の３層分のＴＥ信号振幅の稜線の傾きの実測値から、光ディスク１００の例として、記録層間隔が３層ディスクと全層において異なる４層ディスクの全４層分のＴＥ信号振幅の稜線の傾きを導出する方法を示す。 13 and 14, as an example of the optical disc 100, an optical disc having all three recording layers, where the laser irradiation surface is the surface, the surface next to L 0 and L 0 which are the recording layers closest to the surface As an example of the optical disc 100, the recording layer interval is a three-layer disc based on the measured values of the inclination of the ridge line of the TE signal amplitude for three layers L1 and L1 which are recording layers close to L2 and the recording layer closest to the surface. And a method of deriving the slope of the ridge line of the TE signal amplitude for all four layers of a four-layer disc different in all layers.

まず、３層ディスクのＬ０，Ｌ１，Ｌ２の各記録層において、上記手順によりＴＥ信号振幅の稜線の傾きＧ_ＴＬ０、Ｇ_ＴＬ１、Ｇ_ＴＬ２を導出する。これら各記録層におけるＴＥ信号振幅の稜線の傾きを、規格で定められた３層ディスクの表面から各記録層までの距離に、表面から光学基準点までの距離をオフセットさせた値であるｄ_ＴＬ０、ｄ_ＴＬ１、ｄ_ＴＬ２に対してプロットすると、図１３の黒点のように、略二次的に変化する特性が得られる。そこで、この測定結果に対して最小二乗法を用いることによって二次近似曲線１３００が得られる。ここで、上記光学基準点とは、例えば、球面収差補正素子１０６による球面収差の付加がない状態、すなわち対物レンズ１０８に対して平行光が入射する状態における光束のデフォーカス量とする。また、光学基準点は光ピックアップ１０１固有の値であるので、光ピックアップ１０１ごとに異なる最適値を所定値としてもよい。最小二乗法による二次近似曲線の計算は、例えばシステム制御回路１２９によって実行される。また、導出された二次近似曲線の式はメモリに記憶される。メモリは例えば、システム制御回路１２９に内蔵されている。二次近似曲線１３００は上記のように、光ピックアップ固有であり、測定した光ディスク１００の種類に依らず、光学基準点から各記録層までの距離に対して一意に求まる。したがって、図１４に示すように、ＴＥ信号振幅の稜線の傾きが光学基準点から各記録層までの距離に対して近似曲線１３００を用いて一意に求まる特性を利用して、先に３層ディスクの実測で求めた近似曲線１３００から４層ディスクのＴＥ信号振幅の稜線の傾きを導出することができる。すなわち、近似曲線１３００に対して、規格で定められた４層ディスクの表面から各記録層までの距離に、表面から光学基準点までの距離をオフセットさせた値であるｄ_ＱＬ０、ｄ_ＱＬ１，ｄ_ＱＬ２，ｄ_ＱＬ３に対する近似曲線１３００上のＴＥ信号振幅の稜線の傾きＧ_ＱＬ０，Ｇ_ＱＬ１，Ｇ_ＱＬ２，Ｇ_ＱＬ３が４層ディスクの各記録層におけるＴＥ信号振幅の稜線の傾きとして導出できる。ここで、近似曲線１３００を利用して導出した各記録層におけるＴＥ信号振幅の稜線の傾きはメモリに記憶される。メモリは例えば、システム制御回路１２９に内蔵されている。 First, in each of the recording layers L0, L1, L2 of the triple-layer disk, it derives an inclination _{_G _TL0,} _G _TL1, _G _TL2 edges of the TE signal amplitude by the above procedure. The inclination of the ridge line of the TE signal amplitude in each of these recording layers, the distance from the surface of the three-layer disc which is defined by the standard to each recording layer is a value obtained by offsetting the distance from the surface to the optical reference point d _TL0 , D _TL1 , and d _TL2 , a characteristic that changes substantially quadratic is obtained as indicated by the black dots in FIG. Therefore, a quadratic approximate curve 1300 is obtained by using the least square method for the measurement result. Here, the optical reference point is, for example, a defocus amount of the light beam in a state where no spherical aberration is added by the spherical aberration correction element 106, that is, in a state where parallel light is incident on the objective lens 108. Further, since the optical reference point is a value unique to the optical pickup 101, an optimum value that differs for each optical pickup 101 may be set as the predetermined value. The calculation of the quadratic approximation curve by the least square method is executed by the system control circuit 129, for example. The derived quadratic approximate curve formula is stored in the memory. For example, the memory is built in the system control circuit 129. As described above, the quadratic approximate curve 1300 is unique to the optical pickup, and is uniquely determined with respect to the distance from the optical reference point to each recording layer, regardless of the type of the optical disc 100 measured. Therefore, as shown in FIG. 14, by using the characteristic that the slope of the ridge line of the TE signal amplitude is uniquely obtained using the approximate curve 1300 with respect to the distance from the optical reference point to each recording layer, the three-layer disc is first used. The slope of the ridge line of the TE signal amplitude of the four-layer disc can be derived from the approximate curve 1300 obtained by actual measurement. That is, with respect to the approximate curve 1300, d _QL0 , d _QL1 , d which are values obtained by offsetting the distance from the surface to the optical reference point to the distance from the surface of the four-layer disc to each recording layer defined by the standard _QL2, _{d QL3} slope of the ridge line of the TE signal amplitude on the approximate curve 1300 for _{_{_{G QL0, G QL1, G QL2}}} , G QL3 can be derived as the slope of the ridge line of the TE signal amplitude of each recording layer of 4-layer disk. Here, the slope of the ridge line of the TE signal amplitude in each recording layer derived using the approximate curve 1300 is stored in the memory. For example, the memory is built in the system control circuit 129.

図１５はｎ層の記録層をもつ光ディスク１００の各記録層におけるＴＥ信号振幅の稜線の傾き導出を実行する手順を示す。この方法は、例えばシステム制御回路１２９によって実行される。以降、実行手順を説明するに当たり、ｘ軸とｙ軸の２軸で考える場合、ｘ軸を光学基準点から各記録層までの距離とし、ｙ軸をＴＥ信号振幅の稜線の傾きとする。ステップ１５０１では光ディスク１００の例として３層ディスクの各記録層におけるＴＥ信号振幅の稜線が測定される。ここで、ｎ層ディスクのＴＥ信号振幅の稜線の傾き導出のために実際に測定する光ディスク１００は必ずしも３層ディスクに限定されない。３層以上の記録層数をもつ光ディスクを用いてもよい。また、ＴＥ信号振幅の稜線の傾きを導出する記録層数は必ずしも３層に限定されない。３層以上の記録層におけるＴＥ信号振幅の稜線の傾きを導出してもよい。これにより、後述する二次近似曲線１３００の近似精度の向上を望むことができる。ステップ１５０１の測定は図８に示した手順に基づいて実行される。ステップ１５０２では３層分のＴＥ信号振幅稜線の測定が終了したか否かが判断される。３層分のＴＥ信号振幅の稜線の測定が終了したと判断された場合はステップ１５０３に移行し、３層分のＴＥ信号振幅の稜線の測定が未終了と判断された場合は、ステップ１５０１に移行し、３層分のＴＥ信号振幅の稜線の測定が終了するまで、各記録層での実測が実行される。ステップ１５０３ではステップ１５０２までに導出した、Ｌ０，Ｌ１，Ｌ２におけるＴＥ信号振幅の稜線の傾きＧ_ＴＬ０，Ｇ_ＴＬ１，Ｇ_ＴＬ２を記憶する。ＴＥ信号振幅の稜線の傾きは各記録層の光学基準点から各記録層までの距離に対応して（ｄ_ＴＬ０，Ｇ_ＴＬ０），（ｄ_ＴＬ１，Ｇ_ＴＬ１），（ｄ_ＴＬ２，Ｇ_ＴＬ２）の二次元座標として記憶される。メモリは例えば、システム制御回路１２９に内蔵されている。次に、ステップ１５０４では、記憶した各記録層における二次元座標を基に二次近似曲線１３００を表す二次関数ｙ＝ａｘ^２＋ｂｘ＋ｃの係数ａ，ｂ，ｃを方程式から算出する。方程式の計算は、例えばシステム制御回路１２９により実行される。ステップ１５０５ではステップ１５０４で算出された係数ａ，ｂ，ｃをメモリに記憶する。メモリは例えば、システム制御回路１２９に内蔵されている。また、導出する近似式は必ずしも二次近似には限定されない。例えば、光ピックアップ１０１によって、光学基準点から各記録層までの距離に対して、ＴＥ信号振幅の稜線の傾きが略一次であると見なせる場合は、上記ステップ１５０１からステップ１５０３のＴＥ信号振幅の稜線の傾きの測定を２層のみで実施し、線形の近似式を用いて、以下の導出を実施してもよい。次に、ステップ１５０６では導出した二次近似曲線１３００を表す二次関数ｙ＝ａｘ^２＋ｂｘ＋ｃに対して、規格で定められたｎ層ディスクの表面から各記録層までの距離に、表面から光学基準点までの距離をオフセットさせた値を代入し、ｎ層ディスクの各記録層におけるＴＥ信号振幅の稜線の傾きＢ０，Ｂ１，Ｂ２，．．．Ｂｎ−１，Ｂｎが算出される。算出によるＴＥ信号振幅の稜線の傾きは、例えばシステム制御回路１２９により実行される。ステップ１５０７ではステップ１５０６で算出された、ｎ層ディスクの各記録層におけるＴＥ信号振幅の稜線の傾きの値がメモリに記憶される。メモリは例えば、システム制御回路１２９に内蔵されている。 FIG. 15 shows a procedure for deriving the slope of the ridge line of the TE signal amplitude in each recording layer of the optical disc 100 having n recording layers. This method is executed by the system control circuit 129, for example. In the following description of the execution procedure, when two axes, the x axis and the y axis, are considered, the x axis is the distance from the optical reference point to each recording layer, and the y axis is the slope of the TE signal amplitude ridge line. In step 1501, as an example of the optical disc 100, a ridge line of the TE signal amplitude in each recording layer of a three-layer disc is measured. Here, the optical disk 100 actually measured for deriving the inclination of the edge of the TE signal amplitude of the n-layer disk is not necessarily limited to the three-layer disk. An optical disc having three or more recording layers may be used. The number of recording layers for deriving the slope of the ridge line of the TE signal amplitude is not necessarily limited to three layers. The slope of the ridge line of the TE signal amplitude in three or more recording layers may be derived. Thereby, the improvement of the approximation precision of the quadratic approximate curve 1300 mentioned later can be desired. The measurement in step 1501 is executed based on the procedure shown in FIG. In step 1502, it is determined whether or not the measurement of the TE signal amplitude ridge for three layers is completed. If it is determined that the measurement of the ridge line of the TE signal amplitude for the three layers is completed, the process proceeds to step 1503. If the measurement of the ridge line of the TE signal amplitude for the three layers is determined to be incomplete, the process proceeds to step 1501. The measurement is performed on each recording layer until the measurement of the edge of the TE signal amplitude for three layers is completed. Derived by step 1503 step 1502, stores the L0, L1, the inclination of the ridge line of the TE signal amplitude in _{_{_{L2 G TL0, G TL1, G}}} TL2. The inclination of the ridge line of the TE signal amplitude corresponding to the distance to the recording layers from an optical reference point of the respective recording layers _(d _{_TL0,} _G _{_TL0),} the _{(d TL1, G TL1),} (d TL2, G TL2) Stored as two-dimensional coordinates. For example, the memory is built in the system control circuit 129. Next, in step 1504, coefficients a, b, and c of a quadratic function y = ax ² + bx + c representing the quadratic approximate curve 1300 are calculated from the equations based on the stored two-dimensional coordinates in each recording layer. The calculation of the equations is executed by the system control circuit 129, for example. In step 1505, the coefficients a, b, and c calculated in step 1504 are stored in the memory. For example, the memory is built in the system control circuit 129. Further, the approximate expression to be derived is not necessarily limited to the quadratic approximation. For example, when the optical pickup 101 can consider that the slope of the ridge line of the TE signal amplitude is substantially linear with respect to the distance from the optical reference point to each recording layer, the ridge line of the TE signal amplitude in steps 1501 to 1503 above. May be measured using only two layers, and the following derivation may be performed using a linear approximation formula. Next, in step 1506, with respect to the quadratic function y = ax ² + bx + c representing the derived quadratic approximate curve 1300, the distance from the surface of the n-layer disc to each recording layer determined by the standard is set to the optical reference from the surface. The value obtained by offsetting the distance to the point is substituted, and the slopes B0, B1, B2,. . . Bn-1 and Bn are calculated. The inclination of the ridge line of the TE signal amplitude by calculation is executed by the system control circuit 129, for example. In step 1507, the value of the inclination of the ridge line of the TE signal amplitude in each recording layer of the n-layer disc calculated in step 1506 is stored in the memory. For example, the memory is built in the system control circuit 129.

以下、図７のステップ７０７の第２の探索の実行について説明する。第２の探索が実行される前に、トラッキング制御の状態が、トラッキング制御がオフの状態からトラッキング制御がオンの状態に切り替えられる（図７のステップ７０５）。次に、光ディスク１００が未記録の場合、光スポットのデフォーカス量を所定値Ｄ４に固定し、かつ球面収差補正量を所定値Ｓ４に固定した状態で、光ディスク１００の所定の連続した複数のトラックに情報の記録が行われる。なお、記録時の球面収差補正量の固定値はＳ４に限らず、再度デフォーカス量Ｄ４に固定した状態で、球面収差補正量のみを変化させることで、ＴＥ信号振幅が最大となる点を探索した結果を用いてもよい。第２の探索はトラッキング制御が動作している状態において情報が記録されたトラックを用いて実施される。第２の探索はＴＥ信号振幅が最大となるデフォーカス量Ｄ４および球面収差補正量Ｓ４から始める。探索は図６に示したＡ方向のように、ＴＥ信号振幅の稜線に平行に実施される。図１２は図６に示したＡ方向に沿って実施する探索が実行中である場合における再生信号振幅の変化を示す。再生信号振幅が最大となるＡ方向に平行な探索をすることは、例えば図１２に示すように、複数の測定点から再生信号振幅とＡ方向に対する二次近似曲線１２００を作成し、二次近似曲線１２００に基づいて再生信号振幅が最大となる頂点におけるデフォーカス量Ｄ５を求め、Ｄ５を基に、ＴＥ信号振幅の稜線上のデフォーカス量Ｄ５に対する点Ｐ３における球面収差補正量Ｓ５を導出することにより達成される。次に、再生信号振幅が最大となる点Ｐ１の導出を実施する。点Ｐ１の導出は点Ｐ３から始め、点Ｐ３を通り、かつＴＥ信号振幅の稜線に対して垂直な直線６００に沿って実施される。そのため、直線６００の傾きＧ２はＴＥ信号振幅の傾きＧ１を用いて、
（式３）Ｇ２＝−１／Ｇ１
で表される。探索は図６に示したＢ方向に沿って実施され、図１２と同様に、複数の測定点から再生信号振幅とＢ方向に対する二次近似曲線を作成し、当該二次近似曲線に基づいて再生信号振幅が最大となる頂点におけるデフォーカス量および球面収差補正量をそれぞれ、Ｄ１およびＳ１として導出することにより達成される。 Hereinafter, execution of the second search in step 707 of FIG. 7 will be described. Before the second search is executed, the tracking control state is switched from the tracking control off state to the tracking control on state (step 705 in FIG. 7). Next, when the optical disc 100 is unrecorded, a plurality of predetermined continuous tracks of the optical disc 100 with the defocus amount of the light spot fixed to the predetermined value D4 and the spherical aberration correction amount fixed to the predetermined value S4. Information is recorded on the screen. Note that the fixed value of the spherical aberration correction amount at the time of recording is not limited to S4, and the point at which the TE signal amplitude is maximized by changing only the spherical aberration correction amount with the defocus amount D4 fixed again is searched. The result may be used. The second search is performed using a track in which information is recorded in a state where tracking control is operating. The second search starts from the defocus amount D4 and the spherical aberration correction amount S4 that maximize the TE signal amplitude. The search is performed in parallel with the ridge line of the TE signal amplitude as in the A direction shown in FIG. FIG. 12 shows a change in the reproduction signal amplitude when the search performed along the direction A shown in FIG. 6 is being executed. Searching parallel to the A direction in which the reproduction signal amplitude is maximized is performed by creating a quadratic approximation curve 1200 for the reproduction signal amplitude and the A direction from a plurality of measurement points as shown in FIG. A defocus amount D5 at the vertex where the reproduction signal amplitude is maximum is obtained based on the curve 1200, and a spherical aberration correction amount S5 at the point P3 with respect to the defocus amount D5 on the ridge line of the TE signal amplitude is derived based on D5. Is achieved. Next, the point P1 where the reproduction signal amplitude is maximum is derived. The derivation of the point P1 starts from the point P3, is performed along the straight line 600 passing through the point P3 and perpendicular to the ridgeline of the TE signal amplitude. Therefore, the slope G2 of the straight line 600 is obtained by using the slope G1 of the TE signal amplitude,
(Formula 3) G2 = −1 / G1
It is represented by The search is performed along the B direction shown in FIG. 6, and, similar to FIG. 12, a quadratic approximate curve for the reproduction signal amplitude and the B direction is created from a plurality of measurement points, and reproduction is performed based on the secondary approximate curve. This is achieved by deriving the defocus amount and the spherical aberration correction amount at the vertex where the signal amplitude is maximum as D1 and S1, respectively.

図９は第２の探索（図７のステップ７０７）を実行する方法の手順を示す。この方法は、例えばシステム制御回路１２９によって実行される。ステップ９０１では第２の探索を開始時のデフォーカス量および球面収差補正量（図６におけるＤ４およびＳ４）における再生信号振幅を測定する。測定された再生信号振幅ＲＦ１はメモリに記憶される。メモリは例えばシステム制御回路１２９に内蔵される。次にステップ９０２ではＡ方向の正方向と平行に所定のデフォーカス量および球面収差補正量がオフセットされる。その後、再生信号振幅ＲＦ２が測定される。測定された再生信号振幅ＲＦ２はメモリに記憶される。メモリは例えばシステム制御回路１２９に内蔵される。ステップ９０３ではＲＦ１とＲＦ２の値が比較される。ＲＦ１がＲＦ２以下の場合は、ステップ９０４に移行し、ＲＦ１がＲＦ２よりも大きい場合はステップ９０５に移行する。ステップ９０４では今後、Ａ方向に移動する際に正方向に移動するよう、所定のデフォーカス量および球面収差補正量がオフセットされる。一方、ステップ９０５では今後、Ａ方向に移動する際に負方向に移動するよう、所定のデフォーカス量および球面収差補正量がオフセットされる。ステップ９０６ではＡ方向に移動するよう、所定のデフォーカス量および球面収差補正量がオフセットされる。その後、再生信号振幅ＲＦｎｅｗが測定される。ステップ９０７ではＲＦｎｅｗ測定前の再生信号振幅を再生信号振幅現在値としてＲＦｎｅｗと比較される。再生信号振幅現在値がＲＦｎｅｗと比較して小さい場合はステップ９０８へ移行し、再生信号振幅現在地がＲＦｎｅｗと比較して大きい場合は、ステップ９０８へ移行する。ステップ９０８ではＲＦｎｅｗを再生信号振幅現在値に設定した後、ステップ９０６に移行する。ステップ９０９ではＡ方向に移動するよう、所定のデフォーカス量および球面収差補正量がオフセットされる。ここで、ステップ９０９はステップ９１０で作成する二次近似曲線を十分精度よく導出するために、再生信号振幅の極性変化後の測定をする必要があるために設けている。したがって、二次近似曲線の精度を上げるために、測定点がさらに必要な場合はステップ９０９に相当するシーケンスを複数回設けるものとする。次に、ステップ９１０では方向Ａに対する再生信号振幅について最小二乗法による二次近似曲線（図１２における曲線１２００）を作成し、さらに近似曲線の頂点におけるデフォーカス量および球面収差補正量を導出する。ステップ９１１ではステップ９１０で導出したデフォーカス量および球面収差補正量をメモリに記憶する。メモリは例えばシステム制御回路１２９に内蔵される。 FIG. 9 shows the procedure of the method for executing the second search (step 707 in FIG. 7). This method is executed by the system control circuit 129, for example. In step 901, the reproduction signal amplitude at the defocus amount and spherical aberration correction amount (D4 and S4 in FIG. 6) at the start of the second search is measured. The measured reproduction signal amplitude RF1 is stored in the memory. The memory is built in the system control circuit 129, for example. Next, at step 902, a predetermined defocus amount and spherical aberration correction amount are offset in parallel with the positive direction of the A direction. Thereafter, the reproduction signal amplitude RF2 is measured. The measured reproduction signal amplitude RF2 is stored in the memory. The memory is built in the system control circuit 129, for example. In step 903, the values of RF1 and RF2 are compared. If RF1 is less than or equal to RF2, the process proceeds to step 904, and if RF1 is greater than RF2, the process proceeds to step 905. In step 904, the predetermined defocus amount and the spherical aberration correction amount are offset so as to move in the positive direction when moving in the A direction in the future. On the other hand, in step 905, the predetermined defocus amount and the spherical aberration correction amount are offset so as to move in the negative direction when moving in the A direction in the future. In step 906, the predetermined defocus amount and spherical aberration correction amount are offset so as to move in the A direction. Thereafter, the reproduction signal amplitude RFnew is measured. In step 907, the reproduction signal amplitude before RFnew measurement is compared with RFnew as the reproduction signal amplitude current value. If the reproduction signal amplitude current value is small compared to RFnew, the process proceeds to step 908. If the reproduction signal amplitude current position is large compared to RFnew, the process proceeds to step 908. In step 908, RFnew is set to the current value of the reproduction signal amplitude, and then the process proceeds to step 906. In step 909, the predetermined defocus amount and spherical aberration correction amount are offset so as to move in the A direction. Here, step 909 is provided because it is necessary to perform measurement after the polarity change of the reproduction signal amplitude in order to derive the quadratic approximate curve created in step 910 with sufficient accuracy. Therefore, in order to increase the accuracy of the quadratic approximate curve, a sequence corresponding to step 909 is provided a plurality of times when more measurement points are required. Next, in step 910, a quadratic approximate curve (curve 1200 in FIG. 12) is created for the reproduction signal amplitude with respect to the direction A by the least square method, and a defocus amount and a spherical aberration correction amount at the apex of the approximate curve are derived. In step 911, the defocus amount and spherical aberration correction amount derived in step 910 are stored in the memory. The memory is built in the system control circuit 129, for example.

図６における点Ｐ３におけるデフォーカス量Ｄ５および球面収差補正量Ｓ５が導出された後は、さらに、点Ｐ３を通り、かつ直線５００に垂直な直線６００のＢ方向について同様に図９に示した手順を実行し、再生信号振幅が最大となる点Ｐ１におけるデフォーカス量Ｄ１および球面収差補正量Ｓ１を導出する。 After the defocus amount D5 and the spherical aberration correction amount S5 at the point P3 in FIG. 6 are derived, the procedure shown in FIG. 9 is similarly applied to the B direction of the straight line 600 passing through the point P3 and perpendicular to the straight line 500. To derive the defocus amount D1 and the spherical aberration correction amount S1 at the point P1 at which the reproduction signal amplitude is maximum.

なお、本実施例として、光スポットのデフォーカス量および球面収差補正量の探索において、信号品質指標として再生信号振幅を用いる例を示したが、本発明はこれに限定されない。信号品質指標として、ｉ−ＭＬＳＥ、ＭＬＳＥ、エラーレート、ジッタを用いてもよい。ｉ−ＭＬＳＥ、ＭＬＳＥ、ジッタおよびエラーレートはアドレスおよびデータが記録されているトラックを光ピックアップによって再生することにより得られる。ここで、ジッタとは再生信号における時間的なずれやゆらぎを表す物理量である。ジッタは、光ディスクから情報を読み取る際の誤りが生じる確率であるエラーレートと密接な関係にある。 In this embodiment, an example in which the reproduction signal amplitude is used as the signal quality index in the search for the defocus amount of the light spot and the spherical aberration correction amount has been shown. However, the present invention is not limited to this. As a signal quality indicator, i-MLSE, MLSE, error rate, and jitter may be used. i-MLSE, MLSE, jitter, and error rate are obtained by reproducing a track in which an address and data are recorded by an optical pickup. Here, jitter is a physical quantity that represents a time lag or fluctuation in a reproduction signal. Jitter is closely related to an error rate, which is the probability that an error occurs when reading information from an optical disc.

１００光ディスク
１０１光ピックアップ
１０２レーザ光源
１０３コリメートレンズ
１０４偏光ビームスプリッタ
１０５１／４波長板
１０６球面収差補正素子
１０７全反射ミラー
１０８対物レンズ
１０９アクチュエータ
１１０シリンドリカルレンズ
１１１集光レンズ
１１２光検出器
１１３スピンドルモータ
１２１スピンドルモータ駆動回路
１２２アクチュエータ駆動回路
１２３球面収差補正素子駆動回路
１２４信号品質評価回路
１２５再生信号生成回路
１２６Ｗｏｂｂｌｅ信号生成回路
１２７サーボ信号生成回路
１２８レーザ駆動回路
１２９システム制御回路
５００ＴＥ信号振幅の稜線
６００ＴＥ信号振幅の稜線上で最もＴＥ信号振幅が大きい点を通りかつＴＥ
信号振幅の稜線に垂直な直線
１０００デフォーカス量に対するＴＥ信号振幅の二次近似曲線
１１００Ａ方向に対するＴＥ信号振幅の二次近似曲線
１２００Ａ方向に対する再生信号振幅の二次近似曲線
１３００光学基準点から記録層までの距離に対するＴＥ信号振幅の稜線の傾き
の二次近似曲線 DESCRIPTION OF SYMBOLS 100 Optical disk 101 Optical pick-up 102 Laser light source 103 Collimating lens 104 Polarizing beam splitter 105 1/4 wavelength plate 106 Spherical aberration correction element 107 Total reflection mirror 108 Objective lens 109 Actuator 110 Cylindrical lens 111 Condensing lens 112 Photo detector 113 Spindle motor 121 Spindle motor drive circuit 122 Actuator drive circuit 123 Spherical aberration correction element drive circuit 124 Signal quality evaluation circuit 125 Reproduction signal generation circuit 126 Wobble signal generation circuit 127 Servo signal generation circuit 128 Laser drive circuit 129 System control circuit 500 TE signal amplitude ridgeline 600 It passes through the point where the TE signal amplitude is the largest on the edge of the TE signal amplitude, and the TE
A straight line 1000 perpendicular to the ridgeline of the signal amplitude A quadratic approximate curve 1100 of the TE signal amplitude with respect to the defocus amount A quadratic approximate curve 1200 of the TE signal amplitude with respect to the A direction A quadratic approximate curve 1300 of the reproduction signal amplitude with respect to the A direction From the optical reference point The slope of the edge of the TE signal amplitude with respect to the distance to the recording layer
Quadratic approximation curve

Claims

少なくとも３つ以上の記録層を有する多層光ディスク上に光束を集光し、光スポットのデフォーカス量を変更するように動作可能な収束位置変更（デフォーカス量変更）手段と、前記光ディスク上の光スポットにおいて発生する球面収差補正量を変更するように動作可能な球面収差補正量変更手段と、前記光ディスクの反射光から記録層のトラックとのトラッキングエラー信号と記録層の再生信号を生成する手段と、前記トラッキングエラー信号に応じてトラッキング制御を実行するトラッキング制御手段と、前記光ディスクの記録層の再生信号の品質を示す再生信号品質指標を生成する再生信号品質指標生成手段と、前記デフォーカス量変更手段と前記球面収差補正量変更手段と前記トラッキング制御手段を備え、前記制御手段は前記トラッキング制御のオン／オフ状態を切り替えるように動作可能であり、
前記制御手段は前記トラッキング制御がオフ状態にある場合に、前記トラッキングエラー信号の振幅がより大きくなる複数の組のデフォーカス量および球面収差補正量を探索する第１の探索と、
前記トラッキング制御がオン状態にある場合に、前記デフォーカス量変更手段と前記球面収差補正量変更手段の少なくとも一方を制御して前記第１の探索により得られた複数の組を基に、所定の関係式に基づいて導出したデフォーカス量および球面収差補正量の中から前記再生信号品質指標が実質的に最良となる１組のデフォーカス量および球面収差補正量を選択する第２の探索とを実施する光ディスク装置。 Convergence position changing (defocus amount changing) means operable to focus a light beam on a multilayer optical disc having at least three recording layers and change the defocus amount of the light spot, and light on the optical disc A spherical aberration correction amount changing means operable to change a spherical aberration correction amount generated in a spot, and a means for generating a tracking error signal with a recording layer track and a reproduction signal of the recording layer from the reflected light of the optical disc; Tracking control means for performing tracking control in accordance with the tracking error signal, reproduction signal quality index generation means for generating a reproduction signal quality index indicating the quality of the reproduction signal of the recording layer of the optical disc, and the defocus amount change Means, a spherical aberration correction amount changing means, and a tracking control means. It is operable to switch the ON / OFF state of the king control,
A first search for searching a plurality of sets of defocus amounts and spherical aberration correction amounts in which the amplitude of the tracking error signal is larger when the tracking control is in an off state;
When the tracking control is in an on state, a predetermined number is obtained based on a plurality of sets obtained by the first search by controlling at least one of the defocus amount changing means and the spherical aberration correction amount changing means. A second search for selecting a set of defocus amount and spherical aberration correction amount that provides the best reproduction signal quality index from the defocus amount and spherical aberration correction amount derived based on the relational expression; An optical disk device to be implemented.

請求項１に記載の光ディスク装置であって、
前記制御手段は、前記第１の探索において、前記トラッキングエラー信号の振幅特性の稜線およびその傾きを探索する光ディスク装置。 The optical disc apparatus according to claim 1,
In the first search, the control means searches for the ridgeline of the amplitude characteristic of the tracking error signal and its inclination.

請求項１に記載の光ディスク装置であって、
前記所定の関係式は、前記球面収差補正量がゼロの際の前記デフォーカス量から前記光ディスクの各記録層までの距離の二次関数であることを特徴とする光ディスク装置。 The optical disc apparatus according to claim 1,
The optical disc apparatus, wherein the predetermined relational expression is a quadratic function of a distance from the defocus amount to each recording layer of the optical disc when the spherical aberration correction amount is zero.

請求項１に記載の光ディスク装置であって、
前記所定の関係式は、ある前記多層光ディスクＡの特定の記録層における第１の探索から決定した後に、前記多層光ディスクＡとは記録層の数や記録層間隔の異なる前記多層光ディスクＢの第２の探索における前記デフォーカス量および球面収差補正量の組を関係式から導出することを特徴とする光ディスク装置。 The optical disc apparatus according to claim 1,
After the predetermined relational expression is determined from a first search in a specific recording layer of a certain multilayer optical disc A, the second relation of the multilayer optical disc B having a different number of recording layers and recording layer intervals from the multilayer optical disc A. An optical disc apparatus, wherein a set of the defocus amount and spherical aberration correction amount in the search is derived from a relational expression.

請求項１に記載の光ディスク装置であって、
前記制御手段は、前記光スポットの球面収差補正量をＳ１に固定した状態で前記光スポットのデフォーカス量を変更するように前記デフォーカス量変更手段を制御することにより、前記トラッキングエラー信号の振幅が最大になるようにデフォーカス量Ｄｐ１を決定し、次に球面収差補正量をＳ１に所定の刻み量を足したＳ１＋Ｓｗに固定した状態で前記デフォーカス量を変更するように前記デフォーカス量変更手段を制御することにより、前記トラッキングエラー信号の振幅が最大になるようにデフォーカス量Ｄｐ２を決定し、球面収差補正量が終了値Ｓ３になるまで同様に前記デフォーカス量変更手段を制御することで各球面収差補正量におけるトラッキングエラー最大のデフォーカス量を決定し、各デフォーカス量の線形近似直線を前記稜線として決定することを特徴とする光ディスク装置。 The optical disc apparatus according to claim 1,
The control means controls the defocus amount changing means so as to change the defocus amount of the light spot in a state where the spherical aberration correction amount of the light spot is fixed to S1, thereby the amplitude of the tracking error signal. The defocus amount Dp1 is determined so as to be maximized, and then the defocus amount is changed so that the spherical aberration correction amount is changed to S1 + Sw obtained by adding a predetermined increment to S1. By controlling the means, the defocus amount Dp2 is determined so that the amplitude of the tracking error signal is maximized, and the defocus amount changing means is similarly controlled until the spherical aberration correction amount reaches the end value S3. To determine the maximum defocus amount for tracking error in each spherical aberration correction amount, and the linear approximation straight line for each defocus amount is Optical disc apparatus characterized by determining a ridge line.

請求項１に記載の光ディスク装置であって、
前記制御手段は、前記光スポットのデフォーカス量をＤ１に固定した状態で前記光スポットの球面収差補正量を変更するように前記補正量変更手段を制御することにより、前記トラッキングエラー信号の振幅が最大になるように球面収差補正量Ｓｐ１を決定し、次にデフォーカス量Ｄ１に所定の刻み量を足したＤ１＋Ｄｗに固定した状態で前記球面収差補正量を変更するように前記球面収差補正量制御手段を制御することにより、前記トラッキングエラー信号の振幅が最大になるように球面収差補正量Ｓｐ２を決定し、デフォーカス量が終了値Ｄ３になるまで同様に前記デフォーカス量変更手段を制御することで各デフォーカス量におけるトラッキングエラー最大の球面収差補正量を決定し、各球面収差補正量の線形近似直線を前記稜線として決定することを特徴とする光ディスク装置。 The optical disc apparatus according to claim 1,
The control means controls the correction amount changing means so as to change the spherical aberration correction amount of the light spot in a state where the defocus amount of the light spot is fixed to D1, whereby the amplitude of the tracking error signal is increased. The spherical aberration correction amount Sp1 is determined so that the spherical aberration correction amount Sp1 is changed so that the spherical aberration correction amount is changed in a state in which the spherical aberration correction amount Sp1 is determined to be maximized and then fixed to D1 + Dw obtained by adding a predetermined step amount to the defocus amount D1. By controlling the means, the spherical aberration correction amount Sp2 is determined so that the amplitude of the tracking error signal is maximized, and the defocus amount changing means is similarly controlled until the defocus amount reaches the end value D3. To determine the spherical aberration correction amount with the maximum tracking error for each defocus amount, and use the linear approximation line for each spherical aberration correction amount as the ridgeline. Determining optical disk apparatus characterized by.

請求項５に記載の光ディスク装置であって、
前記稜線が当該装置の記憶領域に予め記憶されていることを特徴とする光ディスク装置。 The optical disc apparatus according to claim 5, wherein
An optical disc apparatus, wherein the ridge line is stored in advance in a storage area of the apparatus.

請求項６に記載の光ディスク装置であって、
前記稜線を当該装置の記憶領域に予め記憶されていることを特徴とする光ディスク装置。 The optical disc apparatus according to claim 6, wherein
An optical disc apparatus, wherein the ridge line is stored in advance in a storage area of the apparatus.