JP2012073240A - 試験測定機器及びその動作方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】入力ポート172で入力信号を受けて、デジタイザ176が入力信号をデジタル化する。デシメータ178は、デジタイザに結合され、デジタル化済み入力信号をデシメーションして、デシメーション済み入力信号を発生する。デジタル・ダウンコンバータ180は、デジタイザに結合され、デジタル化済み入力信号を周波数シフトして、周波数シフト済み入力信号を発生する。メモリ182は、デシメーション済み入力信号と周波数シフト済み入力信号とを蓄積する。
【選択図】図10
Description
(1)入力信号を受ける入力ポートと;上記入力信号をデジタル化するデジタイザと;上記デジタイザに結合され、上記デジタル化済み入力信号をデシメーションして、デシメーション済み入力信号を発生するデシメータと;上記デジタイザに結合され、上記デジタル化済み入力信号を周波数シフトして、周波数シフト済み入力信号を発生するデジタル・ダウンコンバータと;上記デシメーション済み入力信号及び上記周波数シフト済み入力信号を蓄積するメモリとを具えた試験測定機器。
(2)上記デシメーション済み入力信号及び上記周波数シフト済み入力信号のサンプル・レートが異なる態様1の試験測定機器。
(3)上記デシメーション済み入力信号及び上記周波数シフト済み入力信号の記録長が異なる態様1の試験測定機器。
(4)上記デジタイザは、第1サンプル・レートで上記入力信号をサンプリングし;上記デシメータは、上記第1サンプル・レートと異なる第2サンプル・レートで上記デシメーション済み入力信号を発生し;上記デジタル・ダウンコンバータは、上記第1サンプル・レートよりも低い第3サンプル・レートで上記周波数シフト済み入力信号を発生する態様1の試験測定機器。
(5)ユーザ・インタフェースと;上記ユーザ・インタフェースを介して上記デシメーション済み入力信号及び上記周波数シフト済み入力信号を表す制御器とを更に具えた態様1の試験測定機器。
(6)上記制御器は、上記ユーザ・インタフェースを介して上記デシメーション済み入力信号及び上記周波数シフト済み入力信号をほぼ同時に表す態様5の試験測定機器。
(7)上記ユーザ・インタフェースは、時間領域制御及び周波数領域制御を具え;上記制御器は、上記時間領域制御に応答して上記デシメータのパラメータを調整すると共に、上記周波数領域制御に応答して上記デジタル・ダウンコンバータのパラメータを調整する態様5の試験測定機器。
(8)上記制御器は、上記時間領域制御に応答して上記デシメータのサンプル・レートを調整すると共に、上記周波数領域制御に応答して上記デジタル・ダウンコンバータのサンプル・レートを調整する態様7の試験測定機器。
(9)上記デシメータ及び上記デジタル・ダウンコンバータに結合され、上記デシメーション済み入力信号及び上記周波数シフト済み入力信号の少なくとも一方に応答して取込みをトリガするトリガ手段を更に具えた態様1の試験測定機器。
(10)入力信号をデジタル化し;上記デジタル化済み入力信号をデシメーションして、デシメーション済み入力信号を発生し;上記デジタル化済み入力信号を周波数シフトして、周波数シフト済み入力信号を発生し;上記デシメーション済み入力信号及び上記周波数シフト済み入力信号をメモリに蓄積する試験測定機器の動作方法。
(11)上記デシメーション済み入力信号及び上記周波数シフト済み入力信号のサンプル・レートが異なる態様10の方法。
(12)上記デシメーション済み入力信号及び上記周波数シフト済み入力信号の記録長が異なる態様10の方法。
(13)上記入力信号のデジタル化は、第1サンプル・レートで上記入力信号をデジタル化し;上記入力信号のデシメーションは、上記第1サンプル・レートと異なる第2サンプル・レートで上記デジタル化済み入力信号をデシメーションし;上記デジタル化済み入力信号を周波数シフトするのは、上記第1サンプル・レートよりも低い第3サンプル・レートで上記デジタル化済み入力信号を周波数シフトする態様10の方法。
(14)更に、ユーザ・インタフェースを介して上記デシメーション済み入力信号及び上記周波数シフト済み入力信号を表す態様10の方法。
(15)更に、上記ユーザ・インタフェースを介して上記デシメーション済み入力信号及び上記周波数シフト済み入力信号をほぼ同時に表す態様14の方法。
(16)更に、上記ユーザ・インタフェースの上記時間領域制御に応答して上記デジタル化済み入力信号のデシメーションを調整し;上記ユーザ・インタフェースの周波数領域制御に応答して上記入力信号の周波数シフトを調整する態様14の方法。
(17)更に、上記ユーザ・インタフェースの上記時間領域制御に応答して上記デシメーションのサンプル・レートを調整し;上記ユーザ・インタフェースの上記周波数領域制御に応答して上記周波数シフトのサンプル・レートを調整する態様16の方法。
(18)更に、上記デシメーション済み入力信号及び上記周波数シフト済み入力信号の少なくとも一方に応答して取込みをトリガする態様10の方法。
12、63 時間領域チャネル
14、67 周波数領域チャネル
16、70、92 取込みシステム(手段)
23 ハウジング
30 減衰器
31 フィルタ
32、51、138、140 ミキサ
33、52、142 局部発振器
34 IFフィルタ
35、55、62、66、112、114、176 デジタイザ
36 デジタル・フィルタ
37、116、134、182 メモリ
38 フーリエ変換回路
43 時間領域経路
44 信号経路選択装置
45 周波数領域経路
53 選択器
64、66 サンプル・レート回路
69 制御器
94 トリガ・システム(手段)
122 時間領域処理回路
124、180 デジタル・ダウンコンバータ
125 アナログ・ダウンコンバータ
143 90度位相シフト回路
172 入力ポート
174 信号調整回路
178 デシメータ
202 トリガ・システム
222 制御器
224、240 ユーザ・インタフェース
244 時間領域制御部
246 周波数領域制御部
Claims (2)
- 入力信号を受ける入力ポートと、
上記入力信号をデジタル化するデジタイザと、
上記デジタイザに結合され、上記デジタル化済み入力信号をデシメーションして、デシメーション済み入力信号を発生するデシメータと、
上記デジタイザに結合され、上記デジタル化済み入力信号を周波数シフトして、周波数シフト済み入力信号を発生するデジタル・ダウンコンバータと、
上記デシメーション済み入力信号及び上記周波数シフト済み入力信号を蓄積するメモリと
を具えた試験測定機器。 - 入力信号をデジタル化し、
上記デジタル化済み入力信号をデシメーションして、デシメーション済み入力信号を発生し、
上記デジタル化済み入力信号を周波数シフトして、周波数シフト済み入力信号を発生し、
上記デシメーション済み入力信号及び上記周波数シフト済み入力信号をメモリに蓄積する
試験測定機器の動作方法。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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US12/892,774 US8521460B2 (en) | 2010-09-28 | 2010-09-28 | Multi-domain test and measurement instrument |
US12/892,774 | 2010-09-28 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
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JP2012073240A true JP2012073240A (ja) | 2012-04-12 |
JP2012073240A5 JP2012073240A5 (ja) | 2014-12-11 |
JP6203471B2 JP6203471B2 (ja) | 2017-09-27 |
Family
ID=45044307
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2011187237A Active JP6203471B2 (ja) | 2010-09-28 | 2011-08-30 | 試験測定機器及びその動作方法 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8521460B2 (ja) |
EP (2) | EP3460490B1 (ja) |
JP (1) | JP6203471B2 (ja) |
KR (3) | KR101771164B1 (ja) |
CN (1) | CN102435846B (ja) |
TW (1) | TWI534433B (ja) |
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EP2434299B1 (en) | 2018-07-25 |
CN102435846B (zh) | 2016-09-07 |
CN102435846A (zh) | 2012-05-02 |
EP2434299A1 (en) | 2012-03-28 |
EP3460490B1 (en) | 2022-09-07 |
US8521460B2 (en) | 2013-08-27 |
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A977 | Report on retrieval |
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A911 | Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi) |
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R155 | Notification before disposition of declining of application |
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