JP2012073126A - 金属材料のき裂進展速度評価方法および装置 - Google Patents
金属材料のき裂進展速度評価方法および装置 Download PDFInfo
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Abstract
【解決手段】本発明に係る金属材料のき裂進展速度評価方法は、金属材料の試料におけるき裂の先端を含む領域内の複数の測定点の結晶方位をEBSP法により測定する測定ステップ(S2)と、各測定点の結晶方位のずれを示す方位差関数値を解析して試料の評価パラメータを得る解析ステップ(S3)と、上記試料と同種の金属材料から形成され予めき裂進展試験を実施することによりき裂進展速度が既知の他の試料を用いて取得しておいた、き裂進展速度および評価パラメータの相関関係を参照することによって、上記解析ステップにおける解析の結果得られた試料の評価パラメータから、当該試料のき裂進展速度を評価する評価ステップ(S4、S5)と、を有する。
【選択図】図2
Description
図1は、本発明の一実施形態に係る金属材料のき裂進展速度評価装置1の概略構成を示すブロック図である。
2 EBSP装置(測定手段)
3 情報処理装置
31 データ処理部(解析手段および評価手段)
32 記憶部(記憶手段)
33 表示部
34 入力装置
x 解析範囲
Claims (7)
- 金属材料の試料におけるき裂の先端を含む領域内の複数の測定点の結晶方位を電子後方散乱回折像法により測定する測定ステップと、
各測定点の結晶方位のずれを示す方位差関数値を解析して前記試料の評価パラメータを得る解析ステップと、
前記試料と同種の金属材料から形成され予めき裂進展試験を実施することによりき裂進展速度が既知の他の試料を用いて取得しておいた、き裂進展速度および評価パラメータの相関関係を参照することによって、前記解析ステップにおける解析の結果得られた前記試料の評価パラメータから、当該試料のき裂進展速度を評価する評価ステップと、
を有することを特徴とする金属材料のき裂進展速度評価方法。 - 前記方位差関数値を解析して得られる評価パラメータは、前記方位差関数値の平均値であることを特徴とする請求項1に記載の金属材料のき裂進展速度評価方法。
- 前記解析の範囲は、前記き裂の先端から当該き裂に沿って起点側に向かう方向であるき裂発生方向に100〜500μm以内であって、当該き裂から前記き裂発生方向と垂直な方向に100〜500μm以内であることを特徴とする請求項1または2に記載の金属材料のき裂進展速度評価方法。
- 前記方位差関数値は、前記複数の測定点のうちの基準の測定点に対する各測定点の結晶方位差で定義されることを特徴とする請求項1〜3のいずれか一項に記載の金属材料のき裂進展速度評価方法。
- 前記方位差関数値は、基準の測定点と、当該基準の測定点と同一の結晶粒内におけるそれ以外の各測定点との結晶方位差として与えられることを特徴とする請求項4に記載の金属材料のき裂進展速度評価方法。
- 前記基準の測定点の結晶方位として、当該基準の測定点が含まれる結晶粒内における全測定点の平均結晶方位が用いられることを特徴とする請求項5に記載の金属材料のき裂進展速度評価方法。
- 金属材料の試料におけるき裂の先端を含む領域内の複数の測定点の結晶方位を電子後方散乱回折像法により測定する測定手段と、
各測定点の結晶方位のずれを示す方位差関数値を解析して前記試料の評価パラメータを得る解析手段と、
前記試料と同種の金属材料から形成され予めき裂進展試験を実施することによりき裂進展速度が既知の他の試料を用いて取得しておいた、き裂進展速度および評価パラメータの相関関係を記憶する記憶手段と、
前記記憶手段に記憶されている前記き裂進展速度および評価パラメータの相関関係を参照することによって、前記解析手段による解析の結果得られた前記試料の評価パラメータから、当該試料のき裂進展速度を評価する評価手段と、
を有することを特徴とする金属材料のき裂進展速度評価装置。
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