JP2012069024A - 高速定常場解析方法、高速定常場解析装置、定常場高速解析プログラム、およびこのプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】本発明の高速定常場解法は、電子計算機内で以下の処理を実行する。まず、時間項を含む微分方程式を離散化した解析実行モジュールによる過度解析により解析対象の物理量を算出する(ステップ21)。算出された解析対象の物理量の、所定の時間幅での時間平均量を算出する(ステップ23)。算出された時間平均量を考慮した時間平均の時間高調波次数補正式を用いて、ステップ21で算出された解析対象の時間ステップごとの物理量を補正する(ステップ24)。補正によって物理量が定常状態になった後、微分方程式を用いた過度解析により解析対象の定常後の物理量を算出する(ステップ27)。算出された定常後の物理量を表示する(ステップ32)。
【選択図】図1
Description
Claims (26)
- 時間項を含む微分方程式を離散化した解析実行モジュールによる過度解析により解析対象の物理量を解析手段によって算出する第1解析を行い、
算出された前記物理量を、第1補正手段において時間高調波次数を用いて補正し、
前記物理量の補正後に、時間項を含む前記微分方程式を離散化した解析実行モジュールによる過度解析により前記解析対象の定常後の物理量を前記解析手段によって算出する第2解析を行うことを特徴とする高速定常場解析方法。 - 設定時間幅内に存在する、前記第1解析によって算出された複数の前記物理量を用いて、前記物理量の時間平均量を、時間平均手段によって算出し、
前記第1補正手段による前記物理量の補正が、前記時間平均量を反映した前記時間高調波次数を用いて行われる請求項1に記載の高速定常場解析方法。 - 第1判定手段によって前記第1補正手段による前記物理量の補正が第1設定回数行われたかを判定し、
前記第1補正手段による前記物理量の補正が第1設定回数行われたとき、前記解析手段により、前記第1補正手段で最後に補正された前記物理量の時間ステップ以降における前記解析対象の物理量を算出する第3解析を行い、
前記第1補正手段による前記物理量の補正が第1設定回数行われた後において前記第3解析によって算出された前記解析対象の前記物理量を、第2補正手段においてTP−EEC法を用いて補正し、
前記第2補正手段による前記物理量の補正が第2設定回数行われたとき、前記第2解析における前記定常後の物理量の算出が行われる請求項1または2に記載の高速定常場解析方法。 - 第1判定手段によって前記第1補正手段による前記物理量の補正が第1設定回数行われたかを判定し、
前記第1補正手段による前記物理量の補正が第1設定回数行われたとき、前記解析手段により、前記第1補正手段で最後に補正された前記物理量の時間ステップ以降における前記解析対象の物理量を算出する第3解析を行い、
前記第1補正手段による前記物理量の補正が第1設定回数行われた後において前記第3解析によって算出された前記解析対象の前記物理量を、第2補正手段においてTDC法を用いて補正し、
前記第2補正手段による前記物理量の補正が第2設定回数行われたとき、前記第2解析における前記定常後の物理量の算出が行われる請求項1または2に記載の高速定常場解析方法。 - 第1判定手段によって前記第1補正手段による前記物理量の補正が第1設定回数行われたかを判定し、
前記第1補正手段による前記物理量の補正が第1設定回数行われたとき、前記解析手段により、前記第1補正手段で最後に補正された前記物理量の時間ステップ以降における前記解析対象の物理量を算出する第3解析を行い、
前記第1補正手段による前記物理量の補正が第1設定回数行われた後において前記第3解析によって算出された前記解析対象の前記物理量を、第2補正手段において多相交流TP−EEC法を用いて補正し、
前記第2補正手段による前記物理量の補正が第2設定回数行われたとき、前記第2解析における前記定常後の物理量の算出が行われる請求項1または2に記載の高速定常場解析方法。 - 前記第1補正手段による前記物理量の補正が設定回数行われたとき、前記第2解析による前記定常後の物理量の算出が行われる請求項1または2に記載の高速定常場解析方法。
- 時間項を含む微分方程式を離散化した解析実行モジュールによる過度解析により解析対象の物理量を算出する第1解析を行う解析手段と、
算出された前記物理量を、時間高調波次数を用いて補正する第1補正手段と、
前記物理量の補正後に、時間項を含む前記微分方程式を離散化した解析実行モジュールによる過度解析により前記解析対象の定常後の物理量を算出する第2解析を行う前記解析手段とを備えたことを特徴とする高速定常場解析装置。 - 設定時間幅内に存在する、前記第1解析によって算出された複数の前記物理量を用いて、前記物理量の時間平均量を算出する時間平均手段と、
前記物理量の補正を、前記時間平均量を反映した前記時間高調波次数を用いて行う前記第1補正手段とを備えた請求項7に記載の高速定常場解析装置。 - 前記第1補正手段による前記物理量の補正が第1設定回数行われたかを判定する第1判定手段と、
前記第1補正手段による前記物理量の補正が第1設定回数行われたとき、前記第1補正手段で最後に補正された前記物理量の時間ステップ以降における前記解析対象の物理量を算出する第3解析を行う前記解析手段と、
前記第1補正手段による前記物理量の補正が第1設定回数行われた後において前記第3解析によって算出された前記解析対象の前記物理量を、TP−EEC法を用いて補正する第2補正手段と、
前記第2補正手段による前記物理量の補正が第2設定回数行われたとき、前記第2解析における前記定常後の物理量の算出を行う前記解析手段とを備えた請求項7または8に記載の高速定常場解析装置。 - 前記第1補正手段による前記物理量の補正が第1設定回数行われたかを判定する第1判定手段と、
前記第1補正手段による前記物理量の補正が第1設定回数行われたとき、前記第1補正手段で最後に補正された前記物理量の時間ステップ以降における前記解析対象の物理量を算出する第3解析を行う前記解析手段と、
前記第1補正手段による前記物理量の補正が第1設定回数行われた後において前記第3解析によって算出された前記解析対象の前記物理量を、TDC法を用いて補正する第2補正手段と、
前記第2補正手段による前記物理量の補正が第2設定回数行われたとき、前記第2解析における前記定常後の物理量の算出を行う前記解析手段とを備えた請求項7または8に記載の高速定常場解析装置。 - 前記第1補正手段による前記物理量の補正が第1設定回数行われたかを判定する第1判定手段と、
前記第1補正手段による前記物理量の補正が第1設定回数行われたとき、前記第1補正手段で最後に補正された前記物理量の時間ステップ以降における前記解析対象の物理量を算出する第3解析を行う前記解析手段と、
前記第1補正手段による前記物理量の補正が第1設定回数行われた後において前記第3解析によって算出された前記解析対象の前記物理量を、多相交流TP−EEC法を用いて補正する第2補正手段と、
前記第2補正手段による前記物理量の補正が第2設定回数行われたとき、前記第2解析における前記定常後の物理量の算出を行う前記解析手段とを備えた請求項7または8に記載の高速定常場解析装置。 - 前記第1補正手段による前記物理量の補正が設定回数行われたとき、前記第2解析による前記定常後の物理量の算出を行う前記解析手段を備えた請求項7または8に記載の高速定常場解析装置。
- 高速定常場解析を行うためにコンピュータを、
時間項を含む微分方程式を離散化した解析実行モジュールによる過度解析により解析対象の物理量を算出する第1解析を行う解析手段、
算出された前記物理量を、時間高調波次数を用いて補正する第1補正手段、および
前記物理量の補正後に、時間項を含む前記微分方程式を離散化した解析実行モジュールによる前記過度解析により解析対象の定常後の物理量を算出する第2解析を行う前記解析手段、
として機能させるための定常場高速解析プログラム。 - 高速定常場解析を行うためにコンピュータを、
設定時間幅内に存在する、前記第1解析によって算出された複数の前記物理量を用いて、前記物理量の時間平均量を算出する時間平均手段、および
前記物理量の補正を、前記時間平均量を反映した前記時間高調波次数を用いて行う前記第1補正手段、
として機能させるための請求項13に記載の定常場高速解析プログラム。 - 高速定常場解析を行うためにコンピュータを、
前記第1補正手段による前記物理量の補正が第1設定回数行われたかを判定する第1判定手段、
前記第1補正手段による前記物理量の補正が第1設定回数行われたとき、前記第1補正手段で最後に補正された前記物理量の時間ステップ以降における前記解析対象の物理量を算出する第3解析を行う前記解析手段、
前記第1補正手段による前記物理量の補正が第1設定回数行われた後において前記第3解析によって算出された前記解析対象の前記物理量を、TP−EEC法を用いて補正する第2補正手段、および
前記第2補正手段による前記物理量の補正が第2設定回数行われたとき、前記第2解析における前記定常後の物理量の算出を行う前記解析手段、
として機能させるための請求項13または14に記載の定常場高速解析プログラム。 - 高速定常場解析を行うためにコンピュータを、
前記第1補正手段による前記物理量の補正が第1設定回数行われたかを判定する第1判定手段、
前記第1補正手段による前記物理量の補正が第1設定回数行われたとき、前記第1補正手段で最後に補正された前記物理量の時間ステップ以降における前記解析対象の物理量を算出する第3解析を行う前記解析手段、
前記第1補正手段による前記物理量の補正が第1設定回数行われた後において前記第3解析によって算出された前記解析対象の前記物理量を、TDC法を用いて補正する第2補正手段、および
前記第2補正手段による前記物理量の補正が第2設定回数行われたとき、第2解析における前記定常後の物理量の算出を行う前記解析手段、
として機能させるための請求項13または14に記載の定常場高速解析プログラム。 - 高速定常場解析を行うためにコンピュータを、
前記第1補正手段による前記物理量の補正が第1設定回数行われたかを判定する第1判定手段、
前記第1補正手段による前記物理量の補正が第1設定回数行われたとき、前記第1補正手段で最後に補正された前記物理量の時間ステップ以降における前記解析対象の物理量を算出する第3解析を行う前記解析手段、
前記第1補正手段による前記物理量の補正が第1設定回数行われた後において前記第3解析によって算出された前記解析対象の前記物理量を、多相交流TP−EEC法を用いて補正する第2補正手段、および
前記第2補正手段による前記物理量の補正が第2設定回数行われたとき、前記第2解析における前記定常後の物理量の算出を行う前記解析手段、
として機能させるための請求項13または14に記載の定常場高速解析プログラム。 - 高速定常場解析を行うためにコンピュータを、
前記第1補正手段による前記物理量の補正が設定回数行われたとき、前記第2解析による前記定常後の物理量の算出を行う前記解析手段、
として機能させるための請求項13または14に記載の定常場高速解析プログラム。 - 高速定常場解析を行うためにコンピュータを、
時間項を含む微分方程式を離散化した解析実行モジュールによる過度解析により解析対象の物理量を算出する第1解析を行う解析手段、
算出された前記物理量を、時間高調波次数を用いて補正する第1補正手段、および
前記物理量の補正後に、時間項を含む前記微分方程式を離散化した解析実行モジュールによる過度解析により前記解析対象の定常後の物理量を算出する第2解析を行う前記解析手段、
として機能させるための定常場高速解析プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体。 - 高速定常場解析を行うためにコンピュータを、
設定時間幅内に存在する、前記第1解析によって算出された複数の前記物理量を用いて、前記物理量の時間平均量を算出する時間平均手段、および
前記物理量の補正を、前記時間平均量を反映した前記時間高調波次数を用いて行う前記第1補正手段、
として機能させるための定常場高速解析プログラムを記録した請求項19に記載のコンピュータ読み取り可能な記録媒体。 - 高速定常場解析を行うためにコンピュータを、
前記第1補正手段による前記物理量の補正が第1設定回数行われたかを判定する第1判定手段、
前記第1補正手段による前記物理量の補正が第1設定回数行われたとき、前記第1補正手段で最後に補正された前記物理量の時間ステップ以降における前記解析対象の物理量を算出する第3解析を行う前記解析手段、
前記第1補正手段による前記物理量の補正が第1設定回数行われた後において前記第3解析によって算出された前記解析対象の前記物理量を、TP−EEC法を用いて補正する第2補正手段、および
前記第2補正手段による前記物理量の補正が第2設定回数行われたとき、前記第2解析における前記定常後の物理量の算出を行う前記解析手段、
として機能させるための定常場高速解析プログラムを記録した請求項19または20に記載のコンピュータ読み取り可能な記録媒体。 - 高速定常場解析を行うためにコンピュータを、
前記第1補正手段による前記物理量の補正が第1設定回数行われたかを判定する第1判定手段、
前記第1補正手段による前記物理量の補正が第1設定回数行われたとき、前記第1補正手段で最後に補正された前記物理量の時間ステップ以降における前記解析対象の物理量を算出する第3解析を行う前記解析手段、
前記第1補正手段による前記物理量の補正が第1設定回数行われた後において前記第3解析によって算出された前記解析対象の前記物理量を、TDC法を用いて補正する第2補正手段、および
前記第2補正手段による前記物理量の補正が第2設定回数行われたとき、前記第2解析における前記定常後の物理量の算出を行う前記解析手段、
として機能させるための定常場高速解析プログラムを記録した請求項19または20に記載のコンピュータ読み取り可能な記録媒体。 - 高速定常場解析を行うためにコンピュータを、
前記第1補正手段による前記物理量の補正が第1設定回数行われたかを判定する第1判定手段、
前記第1補正手段による前記物理量の補正が第1設定回数行われたとき、前記第1補正手段で最後に補正された前記物理量の時間ステップ以降における前記解析対象の物理量を算出する第3解析を行う前記解析手段、
前記第1補正手段による前記物理量の補正が第1設定回数行われた後において前記第3解析によって算出された前記解析対象の前記物理量を、多相交流TP−EEC法を用いて補正する第2補正手段、および
前記第2補正手段による前記物理量の補正が第2設定回数行われたとき、前記第2解析における前記定常後の物理量の算出を行う前記解析手段、
として機能させるための定常場高速解析プログラムを記録した請求項19または20に記載のコンピュータ読み取り可能な記録媒体。 - 高速定常場解析を行うためにコンピュータを、
前記第1補正手段による前記物理量の補正が設定回数行われたとき、前記第2解析による前記定常後の物理量を算出する前記解析手段、
として機能させるための定常場高速解析プログラムを記録した請求項19または20に記載のコンピュータ読み取り可能な記録媒体。 - 前記第2解析によって算出された前記定常後の物理量を表示装置に表示する請求項1ないし6のいずれか1項に記載の高速定常場解析方法。
- 前記第1補正手段によって補正された前記物理量を表示装置に表示する請求項25に記載の高速定常場解析方法。
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JPN6012021800; 高橋康人外5名: '時間周期有限要素法とEEC法に基づく非線形過渡電磁場解析における時間積分の収束性改善' 電気学会論文誌B 第129巻,第6号, 20090601, p.791-798, 社団法人電気学会 * |
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