JP2012028760A5 - 半導体装置の作製方法 - Google Patents
半導体装置の作製方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2012028760A5 JP2012028760A5 JP2011139226A JP2011139226A JP2012028760A5 JP 2012028760 A5 JP2012028760 A5 JP 2012028760A5 JP 2011139226 A JP2011139226 A JP 2011139226A JP 2011139226 A JP2011139226 A JP 2011139226A JP 2012028760 A5 JP2012028760 A5 JP 2012028760A5
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- layer
- substrate
- peeled
- semiconductor substrate
- island
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Claims (5)
- 基板上に複数の島状の剥離層と、前記複数の島状の剥離層の端面を覆う被剥離層を有する第1の半導体基板を作製し、
前記被剥離層は前記複数の島状の剥離層上にそれぞれ半導体回路を備え、
前記第1の半導体基板の前記基板と前記被剥離層とが接する領域に第1の分断処理を施し、基板上に一つの島状の剥離層と、前記剥離層を覆う被剥離層とを備える第2の半導体基板を作製し、
前記第2の半導体基板の前記被剥離層上に支持材料を設け、
前記第2の半導体基板の前記剥離層と前記被剥離層とが積層された領域において、前記基板に対して第2の分断処理を施して前記第2の半導体基板の端面に前記剥離層を露出し、
前記被剥離層から前記基板を剥離し、
前記被剥離層の前記基板を分離した面に接着材料を介してベース基材を設け、
前記支持材料を剥離する半導体装置の作製方法。 - 基板上に複数の島状の剥離層と、前記複数の島状の剥離層の端面を覆う被剥離層を有する第1の半導体基板を作製し、
前記被剥離層は前記複数の島状の剥離層上にそれぞれ半導体回路を備え、
前記第1の半導体基板の前記基板と前記被剥離層とが接する領域に第1の分断処理を施し、基板上に一つの島状の剥離層と、前記剥離層を覆う被剥離層とを備える第2の半導体基板を作製し、
前記第2の半導体基板の前記被剥離層上に支持材料を設け、
前記第2の半導体基板の前記剥離層と前記被剥離層とが積層された領域において、前記基板に対して第2の分断処理を施して前記第2の半導体基板の端面に前記剥離層を露出し、
前記第2の半導体基板の前記被剥離層が形成されていない面に接着材料を介して剥離補助基板を設置し、
前記被剥離層から前記基板を剥離し、
前記被剥離層の前記基板を分離した面に接着材料を介してベース基材を設け、前記支持材料を剥離する半導体装置の作製方法。 - 請求項1および2において、
前記支持材料として、UV照射、熱付加または通電により粘着性が低下する材料を使用することを特徴とする、半導体装置の作製方法。 - 請求項1および2において、
前記支持材料として、前記支持材料と前記被剥離層との粘着力が、前記被剥離層から前記基板を分離するのに必要な力よりも大きく、かつ、前記接着材料と前記被剥離層の接着力よりも小さい材料を使用することを特徴とする、半導体装置の作製方法。 - 請求項1および2において、
前記支持材料として、溶媒に浸すことにより溶解する材料を使用することを特徴とする、半導体装置の作製方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2011139226A JP5917026B2 (ja) | 2010-06-24 | 2011-06-23 | 半導体装置の作製方法 |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010144127 | 2010-06-24 | ||
JP2010144127 | 2010-06-24 | ||
JP2011139226A JP5917026B2 (ja) | 2010-06-24 | 2011-06-23 | 半導体装置の作製方法 |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2016059406A Division JP6138309B2 (ja) | 2010-06-24 | 2016-03-24 | 半導体装置の作製方法 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2012028760A JP2012028760A (ja) | 2012-02-09 |
JP2012028760A5 true JP2012028760A5 (ja) | 2014-07-24 |
JP5917026B2 JP5917026B2 (ja) | 2016-05-11 |
Family
ID=45352923
Family Applications (3)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2011139226A Active JP5917026B2 (ja) | 2010-06-24 | 2011-06-23 | 半導体装置の作製方法 |
JP2016059406A Expired - Fee Related JP6138309B2 (ja) | 2010-06-24 | 2016-03-24 | 半導体装置の作製方法 |
JP2017086246A Active JP6321854B2 (ja) | 2010-06-24 | 2017-04-25 | 半導体装置の作製方法 |
Family Applications After (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2016059406A Expired - Fee Related JP6138309B2 (ja) | 2010-06-24 | 2016-03-24 | 半導体装置の作製方法 |
JP2017086246A Active JP6321854B2 (ja) | 2010-06-24 | 2017-04-25 | 半導体装置の作製方法 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (4) | US8507322B2 (ja) |
JP (3) | JP5917026B2 (ja) |
Families Citing this family (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3697247B2 (ja) * | 2002-04-22 | 2005-09-21 | キヤノン株式会社 | 情報処理装置及び監視方法及びプログラム並びに記憶媒体 |
US8507322B2 (en) | 2010-06-24 | 2013-08-13 | Akihiro Chida | Semiconductor substrate and method for manufacturing semiconductor device |
US9184211B2 (en) | 2012-07-05 | 2015-11-10 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Light-emitting device and method for fabricating the same |
KR102173801B1 (ko) | 2012-07-12 | 2020-11-04 | 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 | 표시 장치, 및 표시 장치의 제작 방법 |
US11074025B2 (en) | 2012-09-03 | 2021-07-27 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Display device and method for manufacturing the same |
KR102187752B1 (ko) | 2013-05-07 | 2020-12-07 | 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 | 박리 방법 및 박리 장치 |
KR102224416B1 (ko) | 2013-08-06 | 2021-03-05 | 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 | 박리 방법 |
CN104867812A (zh) * | 2015-03-27 | 2015-08-26 | 京东方科技集团股份有限公司 | 多晶硅薄膜和半导体器件的制备方法、显示基板及装置 |
CN105762280B (zh) * | 2016-05-05 | 2018-09-04 | 京东方科技集团股份有限公司 | 柔性显示面板分离方法和装置 |
KR20230107411A (ko) * | 2016-10-07 | 2023-07-14 | 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 | 유리 기판의 세정 방법, 반도체 장치의 제작 방법,및 유리 기판 |
JP6816046B2 (ja) * | 2018-02-06 | 2021-01-20 | アオイ電子株式会社 | 半導体装置の製造方法 |
JP6991673B2 (ja) | 2018-02-27 | 2022-01-12 | 株式会社ディスコ | 剥離方法 |
JP7289852B2 (ja) * | 2018-11-21 | 2023-06-12 | 三井金属鉱業株式会社 | 半導体パッケージの製造方法及びそれに用いられる粘着シート |
CN109755351B (zh) * | 2019-01-22 | 2020-06-30 | 扬州乾照光电有限公司 | 一种柔性薄膜太阳电池及其制作方法 |
WO2020183588A1 (ja) * | 2019-03-11 | 2020-09-17 | シャープ株式会社 | 電子デバイスの製造方法 |
WO2020214825A2 (en) * | 2019-04-16 | 2020-10-22 | Next Biometrics Group Asa | Systems and methods for manufacturing flexible electronics |
CN115803851B (zh) * | 2021-01-21 | 2023-06-30 | 信越工程株式会社 | 工件分离装置及工件分离方法 |
Family Cites Families (30)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3526731B2 (ja) * | 1997-10-08 | 2004-05-17 | 沖電気工業株式会社 | 半導体装置およびその製造方法 |
JP3485525B2 (ja) * | 2000-07-06 | 2004-01-13 | 沖電気工業株式会社 | 半導体装置の製造方法 |
JP4027740B2 (ja) | 2001-07-16 | 2007-12-26 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 半導体装置の作製方法 |
TW564471B (en) | 2001-07-16 | 2003-12-01 | Semiconductor Energy Lab | Semiconductor device and peeling off method and method of manufacturing semiconductor device |
CN1808196A (zh) | 2002-07-02 | 2006-07-26 | 欧姆龙株式会社 | 光波导装置、光波导装置的制造方法以及光通信装置 |
JP3858995B2 (ja) | 2002-07-02 | 2006-12-20 | オムロン株式会社 | 光導波路装置の製造方法 |
TWI272641B (en) | 2002-07-16 | 2007-02-01 | Semiconductor Energy Lab | Method of manufacturing a semiconductor device |
JP2004179649A (ja) * | 2002-11-12 | 2004-06-24 | Sony Corp | 超薄型半導体装置の製造方法および製造装置 |
US7229900B2 (en) | 2003-10-28 | 2007-06-12 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device, method of manufacturing thereof, and method of manufacturing base material |
EP2259300B1 (en) | 2003-10-28 | 2020-04-08 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Manufacture of semiconductor device |
US7452786B2 (en) | 2004-06-29 | 2008-11-18 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Method for manufacturing thin film integrated circuit, and element substrate |
US7591863B2 (en) | 2004-07-16 | 2009-09-22 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Laminating system, IC sheet, roll of IC sheet, and method for manufacturing IC chip |
US8698262B2 (en) | 2004-09-14 | 2014-04-15 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Wireless chip and manufacturing method of the same |
JP4801337B2 (ja) * | 2004-09-21 | 2011-10-26 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 半導体装置の作製方法 |
JP5072217B2 (ja) * | 2004-11-22 | 2012-11-14 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 半導体装置の作製方法 |
US7736964B2 (en) * | 2004-11-22 | 2010-06-15 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device, and method for manufacturing the same |
FR2878535B1 (fr) * | 2004-11-29 | 2007-01-05 | Commissariat Energie Atomique | Procede de realisation d'un substrat demontable |
JP4817673B2 (ja) * | 2005-02-25 | 2011-11-16 | 三洋電機株式会社 | 窒化物系半導体素子の作製方法 |
JP2006245207A (ja) * | 2005-03-02 | 2006-09-14 | Seiko Epson Corp | 転写方法、転写物の製造方法、回路基板の製造方法、電気光学装置及び電子機器 |
US7456104B2 (en) | 2005-05-31 | 2008-11-25 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device and manufacturing method thereof |
KR101272097B1 (ko) | 2005-06-03 | 2013-06-07 | 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 | 집적회로 장치 및 그의 제조방법 |
US7465596B2 (en) | 2005-06-30 | 2008-12-16 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Manufacturing method of semiconductor device |
US7510950B2 (en) | 2005-06-30 | 2009-03-31 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Method for manufacturing semiconductor device |
US7723842B2 (en) | 2005-09-02 | 2010-05-25 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd | Integrated circuit device |
ATE519223T1 (de) | 2005-11-11 | 2011-08-15 | Koninkl Philips Electronics Nv | Verfahren zur herstellung mehrerer halbleiteranordnungen und trägersubstrat |
WO2007055142A1 (en) | 2005-11-11 | 2007-05-18 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Layer having functionality, method for forming flexible substrate having the same, and method for manufacturing semiconductor device |
JP5178733B2 (ja) * | 2007-10-16 | 2013-04-10 | 電気化学工業株式会社 | 粘着剤、粘着シート、多層粘着シート及び電子部品の製造方法 |
KR20110027760A (ko) | 2008-06-06 | 2011-03-16 | 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 | 반도체 장치의 제작 방법 |
JP5144634B2 (ja) * | 2009-12-22 | 2013-02-13 | 日東電工株式会社 | 基板レス半導体パッケージ製造用耐熱性粘着シート、及びその粘着シートを用いる基板レス半導体パッケージ製造方法 |
US8507322B2 (en) * | 2010-06-24 | 2013-08-13 | Akihiro Chida | Semiconductor substrate and method for manufacturing semiconductor device |
-
2011
- 2011-06-21 US US13/165,063 patent/US8507322B2/en active Active
- 2011-06-23 JP JP2011139226A patent/JP5917026B2/ja active Active
-
2013
- 2013-08-08 US US13/962,326 patent/US8728868B2/en not_active Expired - Fee Related
-
2014
- 2014-05-13 US US14/276,239 patent/US9190428B2/en active Active
-
2015
- 2015-06-02 US US14/728,134 patent/US9780070B2/en active Active
-
2016
- 2016-03-24 JP JP2016059406A patent/JP6138309B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2017
- 2017-04-25 JP JP2017086246A patent/JP6321854B2/ja active Active
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2012028760A5 (ja) | 半導体装置の作製方法 | |
JP2013042180A5 (ja) | ||
JP2012028755A5 (ja) | 分離方法および半導体素子の作製方法 | |
JP2015173249A5 (ja) | 剥離方法 | |
JP2014237545A5 (ja) | ||
JP2012083733A5 (ja) | 発光表示装置の作製方法 | |
JP2009158939A5 (ja) | ||
JP2015053479A5 (ja) | ||
JP2014032960A5 (ja) | 表示装置の作製方法 | |
JP2008311635A5 (ja) | ||
JP2013502050A5 (ja) | ||
JP2009111375A5 (ja) | ||
JP2015518270A5 (ja) | ||
JP2014107448A5 (ja) | ||
JP2010251632A5 (ja) | ||
JP2013120771A5 (ja) | ||
JP2014235279A5 (ja) | ||
JP2013004584A5 (ja) | ||
JP2016033967A5 (ja) | ||
TW201325904A (zh) | 可撓式元件的取下方法 | |
PH12016501335A1 (en) | Composite sheet for protective-film formation | |
JP2014022665A5 (ja) | ||
JP2019140150A5 (ja) | ||
JP2008172266A5 (ja) | ||
JP2011040449A5 (ja) |