JP2011506914A - 物体形状のマルチフレーム表面測定のためのシステム及び方法 - Google Patents
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Abstract
Description
Claims (20)
- 有形物の表面測定のための方法であって、
測定される前記有形物の表面の少なくとも一部の少なくとも1つの画像を取り込むステップと、
基準物体の表面の少なくとも一部の少なくとも1つの画像を取り込むステップと、
測定される前記有形物の前記表面の前記一部の取り込んだ画像を前記基準物体の座標系に変換するステップと、
測定される前記有形物の前記表面の前記一部の取り込んだ前記画像を前記基準物体の前記座標系においてマージするステップと
を含む方法。 - 測定される前記有形物の前記表面の前記一部の取り込んだ前記画像は3次元(3D)画像を含む、請求項1に記載の方法。
- 測定される前記有形物の前記表面の前記一部の取り込んだ前記画像は2次元(2D)画像を更に含む、請求項2に記載の方法。
- 測定される前記有形物の前記表面の一部の各画像は、前記基準物体の前記表面の一部の対応する画像と同じ画像内に取り込まれる、請求項2に記載の方法。
- 前記基準物体は、特定の基準特性を識別するために、以前に測定された測定される前記有形物の一部を含む、請求項2に記載の方法。
- 測定される前記有形物の前記表面の一部の取り込んだ画像を前記基準物体の画像とマージするステップであって、マージした前記画像は、続いて、測定される前記有形物の前記表面の前記一部の後の画像のための前記基準物体の画像として使用される、ステップ
を更に含む請求項5に記載の方法。 - 測定される前記有形物の前記表面の前記一部の前記画像は、前記基準物体の前記一部の前記画像を取り込むための視野から完全に離れた視野において取り込まれる、請求項2に記載方法。
- 複数のスキャン装置を、該スキャン装置のそれぞれが前記物体の少なくとも一部の各々の第1視野を有するように、測定される前記有形物に対して様々な位置に位置決めするステップであって、
前記複数のスキャン装置のそれぞれは、前記スキャン装置上に位置決めされた特定の基準特性を有する基準物体を含み、
前記複数のスキャン装置のそれぞれは、基準物体の少なくとも一部を取り込むための各々の第2視野を有し、
前記スキャン装置のうちの少なくとも1つの前記第2視野が別のスキャン装置の前記基準物体の前記表面の少なくとも一部を観察するように、前記複数のスキャン装置のそれぞれは互いに対して位置決めされた、ステップと、
前記スキャン装置のそれぞれの前記第1視野において、測定される前記有形物の前記表面の各々の前記一部の画像を取り込むステップと、
前記基準物体の前記表面の各々の前記一部の画像を、各々の基準物体を観察する前記スキャン装置のそれぞれの前記第2視野において取り込むステップと、
測定される前記有形物の前記表面の各々の前記一部の取り込んだ前記画像を前記基準物体のうちの1つの共通基準座標系に変換するステップと、
測定される前記有形物の前記表面の各々の前記一部の取り込んだ前記画像の全てを前記基準物体のうちの1つの共通座標系において一緒にマージするステップと
を更に含む請求項2に記載の方法。 - 第1及び第2のスキャン装置を、前記スキャン装置のそれぞれが測定される前記有形物の前記表面の少なくとも一部の各々の第1視野を有するように、測定される前記有形物に対して第1の構成で位置決めするステップであって、
前記スキャン装置のそれぞれは、前記スキャン装置上に位置決めされた特定の基準特性を有する基準物体を含み、
前記スキャン装置のそれぞれは、基準物体の前記表面の少なくとも一部を取り込むための各々の第2視野を有し、
前記スキャン装置は、前記スキャン装置のうちの1つの前記第2視野が他のスキャン装置に設置された前記基準物体の前記表面の少なくとも一部を観察するように互いに対して位置決めされた、ステップと、
前記スキャン装置のそれぞれの前記第1視野において、測定される前記有形物の前記表面の各々の前記一部の画像を取り込むステップと、
前記基準物体の前記表面の各々の前記一部を観察する前記スキャン装置の前記第2視野において、前記基準物体の前記表面の各々の前記一部の画像を取り込むステップと、
測定される前記有形物の前記表面の各々の前記一部の取り込んだ画像であって第1の構成で取り込んだ前記画像を前記基準物体のうちの1つの座標系に変換するステップと、
第1の構成で取り込んだ測定される前記有形物の前記表面の各々の前記一部の前記画像を、前記基準物体のうちの1つの前記座標系でマージするステップと、
前記第1及び第2のスキャン装置のうちの1つを様々な構成において交互に1つずつ繰返し再位置決めするステップと、
測定される前記有形物の前記表面の各々の前記一部の画像を、前記スキャン装置のそれぞれの前記第1視野において各構成で取り込むステップと、
前記基準物体の前記表面の各々の前記一部を観察する前記スキャン装置の前記第2視野において、前記基準物体の前記表面の各々の前記一部の画像を、前記基準物体の前記表面の各々の前記一部を観察する前記スキャン装置の前記第2視野において各構成で取り込むステップと、
測定される前記有形物の前記表面の各々の前記一部の取り込んだ画像と、前の構成から取り込みマージした測定される前記有形物の前記一部の前記画像とを、前記基準物体のうちの1つの座標系に各構成で変換するステップと、
前記基準物体のうちの1つの前記座標系において、測定される前記有形物の前記表面の各々の前記一部の前記画像を、前の構成から取り込みマージした測定される前記有形物の前記一部の前記画像と各構成でマージするステップと
を更に含む請求項2に記載の方法。 - 測定される前記有形物の前記表面の一部の取り込んだ前記3次元(3D)画像は、構造光三角測量法で取得された、請求項2に記載の方法。
- 有形物の表面測定のためのシステムであって、
測定される前記有形物の表面の少なくとも一部の少なくとも1つの画像を取り込み、基準物体の表面の少なくとも一部の少なくとも1つの画像を取り込むための少なくとも1つのスキャン装置と、
測定される前記有形物の前記表面の前記一部の取り込んだ画像を前記基準物体の座標系に変換し、測定される前記有形物の前記表面の前記一部の取り込んだ前記画像を前記基準物体の前記座標系においてマージするためのコンピューティング装置と
を含むシステム。 - 測定される前記有形物の前記表面の前記一部の取り込んだ前記画像は3次元(3D)画像を含む、請求項11に記載のシステム。
- 測定される前記有形物の前記表面の前記一部の取り込んだ前記画像は2次元(2D)画像を更に含む、請求項12に記載のシステム。
- 前記スキャン装置は、測定される前記有形物の前記表面の一部の画像を、前記基準物体の前記表面の一部の対応する画像と同じ画像内に取り込むことを可能にする視野を含む、請求項12に記載のシステム。
- 前記基準物体は、特定の基準特性を識別するために、以前に測定された測定される前記有形物の一部を含む、請求項12に記載のシステム。
- 前記コンピューティングシステムは、更に、測定される前記有形物の前記表面の一部の取り込んだ画像を前記基準物体の画像とマージし、マージした前記画像は、続いて、測定される前記有形物の前記表面の前記一部の後の画像のための前記基準物体として使用される、請求項15に記載のシステム。
- 前記スキャン装置は、測定される前記有形物の前記表面の前記一部の画像を、前記基準物体の前記一部の前記画像を取り込むための視野から完全に離れた視野において取り込む、請求項12に記載システム。
- 複数のスキャン装置であって、該スキャン装置のそれぞれが前記物体の少なくとも一部の各々の第1視野を有するように、測定される前記有形物に対して様々な位置に位置決めすることができる前記複数のスキャン装置を更に含み、
前記複数のスキャン装置のそれぞれは、前記スキャン装置上に位置決めされた特定の基準特性を有する基準物体を含み、
前記複数のスキャン装置のそれぞれは、基準物体の少なくとも一部を取り込むための各々の第2視野を有し、
前記スキャン装置のうちの少なくとも1つの前記第2視野が別のスキャン装置の前記基準物体の前記表面の少なくとも一部を観察するように、前記複数のスキャン装置のそれぞれは互いに対して位置決めされ、
前記複数のスキャン装置は、前記スキャン装置のそれぞれの前記第1視野において、測定される前記有形物の前記表面の各々の前記一部の画像を取り込むように動作可能であり、
前記複数のスキャン装置は、前記基準物体の前記表面の各々の前記一部の画像を、各々の基準物体を観察する前記スキャン装置のそれぞれの前記第2視野において取り込むように動作可能であり、
前記コンピューティング装置は、測定される前記有形物の前記表面の各々の前記一部の取り込んだ前記画像を前記基準物体のうちの1つの共通基準座標系に変換するように動作可能であり、
前記コンピューティング装置は、測定される前記有形物の前記表面の各々の前記一部の取り込んだ前記画像の全てを前記基準物体のうちの1つの共通座標系において一緒にマージするように動作可能である、
請求項12に記載のシステム。 - 第1及び第2のスキャン装置であって、前記スキャン装置のそれぞれが測定される前記有形物の前記表面の少なくとも一部の各々の第1視野を有するように、測定される前記有形物に対して第1の構成で位置決めすることができる前記第1及び第2のスキャン装置を更に含み、
前記スキャン装置のそれぞれは、前記スキャン装置上に位置決めされた特定の基準特性を有する基準物体を含み、
前記スキャン装置のそれぞれは、基準物体の前記表面の少なくとも一部を取り込むための各々の第2視野を有し、
前記スキャン装置は、前記スキャン装置のうちの1つの前記第2視野が他のスキャン装置に設置された前記基準物体の前記表面の少なくとも一部を観察するように互いに対して位置決めされ、
前記スキャン装置は、前記スキャン装置のそれぞれの前記第1視野において、測定される前記有形物の前記表面の各々の前記一部の画像を取り込むように動作可能であり、
前記スキャン装置は、前記基準物体の前記表面の各々の前記一部を観察する前記スキャン装置の前記第2視野において、前記基準物体の前記表面の各々の前記一部の画像を取り込むように動作可能であり、
前記コンピューティング装置は、測定される前記有形物の前記表面の各々の前記一部の取り込んだ画像であって第1の構成で取り込んだ前記画像を前記基準物体のうちの1つの座標系に変換するように動作可能であり、
前記コンピューティング装置は、第1の構成で取り込んだ測定される前記有形物の前記表面の各々の前記一部の前記画像を、前記基準物体のうちの1つの前記座標系でマージするように動作可能であり、
前記スキャン装置は、様々な構成において交互に1つずつ繰返し再配置可能であり、
前記スキャン装置は、測定される前記有形物の前記表面の各々の前記一部の画像を、前記スキャン装置のそれぞれの前記第1視野において各構成で取り込むように動作可能であり、
前記スキャン装置は、前記基準物体の前記表面の各々の前記一部の画像を、前記基準物体の前記表面の各々の前記一部を観察する前記スキャン装置の前記第2視野において各構成で取り込むように動作可能であり、
前記コンピューティング装置は、測定される前記有形物の前記表面の各々の前記一部の取り込んだ画像と、前の構成から取り込みマージした測定される前記有形物の前記一部の前記画像とを、前記基準物体のうちの1つの座標系に各構成で変換するように動作可能であり、
前記コンピューティング装置は、前記基準物体のうちの1つの前記座標系において、測定される前記有形物の前記表面の各々の前記一部の前記画像を、前の構成から取り込みマージした測定される前記有形物の前記一部の前記画像と各構成でマージするように動作可能である、
請求項12に記載のシステム。 - 測定される前記有形物の前記表面の一部の取り込んだ前記3次元(3D)画像は、構造光三角測量法で取得された、請求項12に記載のシステム。
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