JP2011203121A - 微細接触力調整機構を有する接触式計測装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】工作機械を制御する数値制御装置8から電空レギュレータ40へ電圧の微調整指令を行って、電空レギュレータの空気圧を微調整し、その時のプローブ1bの変位と接触力f1との関係を同時に取得しパーソナルコンピュータ11に備わった記憶装置に格納する。数値制御装置8による電空レギュレータ40の制御は、数値制御装置の記憶装置に格納されたデータから、電空レギュレータ40に指令する電圧に変換し、数値制御装置8に接続された電空レギュレータ40の圧力の調整を行う。電空レギュレータ40を用いることにより、レギュレータ36により絞られた1次降圧された圧縮空気を電空レギュレータ40において再度絞って2次降圧する。
【選択図】図7
Description
対象物に接触して計測するプローブを備えた接触式計測装置において、計測対象に対するプローブの接触力はプローブの移動速度、測定対象の形状および材質によって調整を行う必要がある。また、プローブを鉛直方向に取付ける場合は、プローブの自重の影響を無くさなければ、微小な接触力を得ることができない。
請求項3に係る発明は、前記流体圧力制御部は、電空レギュレータにより圧力制御されることを特徴とする請求項1に記載の微細接触力調整機構を有する接触式計測装置である。
図1は、X軸,Y軸,Z軸の直動軸を有し、X軸上に回転軸であるB軸と、Y軸上に回転軸であるC軸を配置した工作機械の要部を説明する図である。図1に要部を示す工作機械は数値制御装置によって制御され、3軸以上の直動軸と1軸以上の回転軸で構成されている工作機械の一例として、X軸,Y軸,Z軸の直動軸を有し、X軸上に回転軸であるB軸と、Y軸上に回転軸であるC軸を有し、5軸同時制御が可能な工作機械について示している。
機上計測装置1は、可動部であるプローブ1bを流体軸受けによって支持しプローブ本体1aに内蔵して備えている。プローブ1bは流体軸受けによって支持されることによって、摩擦がないか摩擦を無視でき、プローブ1bの中心軸方向に移動可動である。流体軸受けとしては例えば空気軸受を用いることができる。
数値制御装置8は、加工プログラムに従って工作機械を駆動制御しワークを加工する装置であって、演算装置、記憶装置、表示装置などを備えている公知の装置である。インタフェース2として、各軸に備わったモータを駆動するアンプが有するインタフェースを用いることにより、工作機械の各軸の位置検出信号と機上計測装置からの計測信号とを簡単に同期させて数値制御装置8内に取り込むことができる。そして同期して取りこまれた前記信号は位置情報として数値制御装置8内の図示しない記憶装置に格納される。
図5は、加工装置が回転軸に取付けられ、ワーク200の球面と工具軸が垂直になるように工作機械の各軸が同時制御されながら加工を行うことを説明する図である。機上計測装置1とスピンドルのような加工装置20とを回転軸に備えた場合、加工装置20が、ワークの球面と工具軸とが垂直になるように工作機械の各軸が同時制御されながら加工を行う。ワークの加工面に対して工具軸を垂直となるように指令して工作機械に加工させることは従来から行われており、この加工を実行する加工プログラムそれ自体も従来から用いられている加工プログラムである。よって図3に示される工作機械の加工用NCプログラムとして、ワーク200の表面に対して垂直方向から加工する加工用プログラムを用いることができる。
図5に示された加工後、加工プログラムを元に作成された計測プログラムにより、ワーク200の球面とプローブ1bの中心軸とが垂直となるように工作機械の各軸(図1参照)が同時制御されながら計測を行うことを説明している。なお、加工プログラムを利用して、機上計測装置1による機上計測を行う際には、工具刃先に対するプローブ1bの中心軸が球型測定子1fと交わる点のオフセット量を加工プログラムに反映して、計測プログラムを作成する。加工プログラムを活用できることから、計測プログラムを最初から作成する手間を省くことができる。
数値制御装置8による電空レギュレータ40の制御は、例えば、数値制御装置においてマクロ変数、または、機上計測装置が取付けられた回転軸の座標の変化を元に、数値制御装置の記憶装置に格納されたデータから、電空レギュレータ40に指令する電圧に変換し、数値制御装置8に接続された電空レギュレータ40の圧力の調整を行う。電空レギュレータ40を用いることにより、レギュレータ36により絞られた1次降圧された圧縮空気を電空レギュレータ40において再度絞って2次降圧する。このように、2段階にわたって降圧することにより、空気圧力の微圧調整だけでなく、脈動も最小化することができる。
上述の変数の定義を用いて、機上計測装置1を取り付けた回転軸の回転角度が変化することで変動する接触力を数1式〜数3式の関係式を用いて表すことができる。図9を参照すると理解し易い。なお、θ1<θ2とする。
数1式は、プローブ自重による接触力への影響分を表す式である。数2式は、プローブ1bの回転角度がθ1とθ2の時のプローブ自重による接触力への影響FPR(θ)への影響を説明する式である。プローブ自重による接触力への影響FPR(θ)はθが0度の時が最大となる。そして、プローブ1bの総合プローブ接触力FTは数3式によって表すことができる。
この方法は、プローブ1bの自重が接触力に影響を及ぼし、なおかつ機上計測装置1が取付けられた回転軸の角度変化に伴って接触力の影響の大きさが変動する場合に、数値制御装置8で演算された角度変化による変動の値を打ち消すように、プローブ1bの変位と
接触力測定装置300による接触力の関係に基づいて、球型測定子1fと計測対象物の面が接触した状態で、数値制御装置8によりプローブ1bの変位を自動的に制御する。
1a プローブ本体
1b プローブ
1c レーザヘッド
1d リニアスケール
1e 測定子の棒
1f 球型測定子
2 インタフェース
3 X軸
4 Y軸
5 Z軸
6 B軸
7 C軸
8 数値制御装置
8b サーボ制御部
10 基台
11 パーソナルコンピュータ
11a 記憶装置
12 イーサネット(登録商標)
20 加工装置
30 流体軸受面
31 磁性体
32 排気口
32a 排気弁
33 永久磁石
34 マイクロメータ
34a スピンドル
35 エアコンプレッサ
36 レギュレータ
36a 供給空気圧調節手段
37 圧縮空気供給管路
40 電空レギュレータ
100 計測対象物
100a 計測対象面
200 ワーク
200a ワーク面
300 接触力測定装置
ipx,ipy,ipz,ipb,ipc 位置検出信号
ipf 計測信号(位置検出信号)
Claims (6)
- プローブの軸方向が重力方向に対して任意の角度で取付けられ、プローブに取付けられた接触子と計測対象の面が接触した状態でプローブの変位により計測を行う接触式計測装置であって、
プローブを流体軸受で支持するプローブ本体と、
前記プローブに引っ張り力あるいは押し出し力を付与するために前記プローブ本体内の流体圧力を制御する流体圧力制御部と、
前記プローブ本体に取付けられた可動部を有する距離調整部と、
前記距離調整部に備わった可動部に取り付けられた永久磁石と、
前記永久磁石との間に斥力または引力を生じる前記プローブに取付けられた接触子と反対側端部に取付けられる部材と、
重力方向と前記プローブの軸の方向のなす角度を求める角度演算部と、
予め測定しておいた重力方向と前記プローブの軸の方向のなす角度と前記プローブの変位と前記流体圧力と前記接触力の関係のデータを記憶しておく記憶部と、
前記プローブの接触力を所定の接触力に維持するために、前記記憶部に記憶されたデータに基づいて前記流体圧力あるいは前記プローブの変位を制御する接触力制御部と、
を備えたことを特徴とする微細接触力調整機構を有する接触式計測装置。 - 前記部材は、磁性体の金属あるいは永久磁石が組み込まれており、前記プローブは流体軸受に支持されることを特徴とする請求項1に記載の微細接触力調整機構を有する接触式計測装置。
- 前記流体圧力制御部は、電空レギュレータにより圧力制御されることを特徴とする請求項1に記載の微細接触力調整機構を有する接触式計測装置。
- 前記記憶部に記憶しておくデータは、所定の前記流体圧力と所定の前記可動部の永久磁石の位置において、前記接触子を100mgf以下の分解能を有する力センサに接触させて、重力方向と前記プローブの軸の方向のなす角度を90度にして前記90度方向に直線移動させながら、前記プローブの変位と前記力センサによる接触力の関係を求めることと前記プローブの自重の前記接触力への影響と前記角度との関係を求めることで、前記データを得ることを特徴とする請求項1〜3のいずれか1つに記載の微細接触力調整機構を有する接触式計測装置。
- 前記接触力制御部は、前記角度演算部により求めた角度から前記記憶部に記憶したデータに基づいて、前記プローブの変位を一定に維持するための前記流体圧力の値を求めて、前記流体圧力の値となるように前記流体圧力制御部を制御することを特徴とする請求項1〜4のいずれか1つに記載の微細接触力調整機構を有する接触式計測装置。
- 前記接触力制御部は、前記角度演算部により求めた角度から前記記憶部に記憶したデータに基づいて、前記流体圧力を一定に維持するための前記プローブの変位の値を求めて、前記プローブの変位の値となるように前記プローブを前記角度の方向に移動制御することを特徴とする請求項1〜4のいずれか1つに記載の微細接触力調整機構を有する接触式計測装置。
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