JP2011191120A - Design/interpretation method, device, and program of test in truncated life or truncated strength test - Google Patents

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To design a truncated life/strength, a test number, and a test stop reference and interpret a test result in a truncated test, perform these calculations without using random number, reduce random error, and compute them in a short time. <P>SOLUTION: The method includes an input step (P1) inputting information to a computer and a reply arithmetic processing step (P2). In a case of designing a truncated life/strength, the following equation is used in the reply arithmetic processing step (P2): A<SB>i</SB>=G<SP>-1</SP>(B<SP>-1</SP>(R, i, n-i+1)); in which A<SB>i</SB>: targeted truncated life or truncated strength, G<SP>-1</SP>(x): inverse function of cumulative distribution function of life or strength, B<SP>-1</SP>(R, i, n-i+1): inverse function of cumulative distribution function of beta distribution function, R: reliability, and n: test number. <P>COPYRIGHT: (C)2011,JPO&INPIT

Description

この発明は、軸受等の機械部品やその他各種の試験対象品の寿命試験として、目標とする寿命または強度まで部品が破損しなければ、要求される寿命または強度を満足すると判断する打切り試験において、上記目標とする寿命，強度、試験個数、試験中止基準の設計や、試験結果を解釈する方法、装置、およびプログラムに関する。   As a life test of mechanical parts such as bearings and other various test objects, this invention is a cut-off test in which it is judged that the required life or strength is satisfied if the parts are not damaged to the target life or strength. The present invention relates to the design of the target life, strength, number of tests, test stop criteria, and a method, apparatus, and program for interpreting test results.

寿命または強度に関する試験は、あらゆる部品の性能を評価するために欠かせない試験である。寿命または強度試験には、目標とする寿命または強度まで破損が起こらなければ、その寿命または強度は問題ないと判断する試験がある（以下、このような試験を「打切り試験」と呼ぶ）。寿命試験では、より多くの試験片が破損することなく試験が継続するほど高い信頼性が得られるが、寿命試験は納期や試験機械台数等の制約条件下で行われるため、信頼性が確保できる範囲で、試験個数と適切な打ち切り寿命を定めることが必要である。信頼性が確保できていないと判断するための試験中止基準時間についても、無駄に試験を継続しないために、適正な時間を設計することが必要となる。また、各種強度を調べる試験においても、寿命試験と同様な問題がある。   Life or strength tests are essential to assess the performance of any part. In the life or strength test, there is a test for determining that there is no problem in the life or strength unless damage occurs to the target life or strength (hereinafter, such a test is referred to as “censored test”). In the life test, the higher the reliability of the test, the more the test piece can be maintained without being damaged. However, since the life test is performed under constraints such as the delivery date and the number of test machines, the reliability can be secured. It is necessary to determine the number of tests and an appropriate censorship life within the range. As for the test stop reference time for determining that the reliability cannot be ensured, it is necessary to design an appropriate time in order not to continue the test in vain. Also, the tests for examining various strengths have the same problems as the life test.

従来より、打切り試験では、試験個数や打切り寿命または打切り強度を決める試験の設計、及びその結果の解釈、例えば試験結果からの寿命範囲を見積もる解釈等は、熟練者が経験的に行ってきた。しかし、試験の経験が少ない技術者にとって試験の設計とその結果の解釈は困難である。
最近、試験の設計と結果の解釈を、経験が少ない技術者にでも、合理的に実施できる方法が開発された（特許文献１〜４）。 Conventionally, in the censorship test, an expert has empirically conducted design of a test for determining the number of tests, censored life or censor strength, and interpretation of the result, for example, interpretation of estimating a life range from the test result. However, it is difficult for engineers with little experience in testing to design the test and interpret the results.
Recently, a method has been developed that can rationally implement the design of the test and the interpretation of the results, even for engineers with little experience (Patent Documents 1 to 4).

特開２００８−１２８６８３号公報JP 2008-128683 A 特開２００８−１２８６９０号公報JP 2008-128690 A 特開２００８−１４５４１４号公報JP 2008-145414 A 特開２００８−１４５４１５号公報JP 2008-145415 A

アール．ビー．アバネシー（R. B.Abernethy）著, 新計測ハンドブック第５版（The New Weibull Handbook 5th edition）, 2006, chapter 6.R. Bee. R. B. Abernethy, The New Weibull Handbook 5th edition, 2006, chapter 6. 信頼性ハンドブック 日本信頼性学会編，日科技連出版社 (1997) 209p.)(Reliability Handbook, Japan Reliability Society, edited by Nikka Engineering Republishing Company (1997) 209p.)

上記従来の開発例（特許文献１〜４）は、いずれも、(1) 乱数を用いているので、計算結果に確率的誤差が生じるという問題、および(2) 確率的誤差を低減させるために繰り返し計算を実行するため、計算時間が長くなるという問題があった。   All of the above conventional development examples (Patent Documents 1 to 4) use (1) random numbers, so that there is a problem that a stochastic error occurs in the calculation result, and (2) to reduce the stochastic error There is a problem that the calculation time becomes long because the calculation is repeatedly performed.

この発明の目的は、打切り試験の設計や結果の解釈で行う各種計算を、乱数を用いなくても可能にできて、確率的誤差を低減させることができ、かつ計算時間が短くて済む方法、装置、およびプログラムを提案することである。
この発明の具体的な目的は、打切り試験の打切り寿命・強度の設計について、乱数を用いなくても可能にできて、確率的誤差を低減させることができ、かつ計算時間が短くて済む方法、装置、およびプログラムを提案することである。
この発明の具体的な他の目的は、打切り試験の試験個数の設計について、乱数を用いなくても可能にできて、確率的誤差を低減させることができ、かつ計算時間が短くて済む方法、装置、およびプログラムを提案することである。
この発明の具体的のさらに他の目的は、打切り試験の試験中止基準寿命・強度の設計について、乱数を用いなくても可能にできて、確率的誤差を低減させることができ、かつ計算時間が短くて済む方法、装置、およびプログラムを提案することである。 The purpose of the present invention is to enable various calculations performed in the design of the censorship test and interpretation of the results without using random numbers, reduce the stochastic error, and shorten the calculation time, It is to propose a device and a program.
A specific object of the present invention is to design the censoring life / strength of the censoring test without using random numbers, reduce the stochastic error, and shorten the calculation time, It is to propose a device and a program.
Another specific object of the present invention is a method for designing the number of tests for the censorship test, which can be achieved without using random numbers, can reduce the stochastic error, and can shorten the calculation time. It is to propose a device and a program.
Still another object of the present invention is to enable the design of the test stop reference life / strength of the censorship test without using random numbers, to reduce the stochastic error, and to calculate the calculation time. It is to propose a method, apparatus, and program that can be shortened.

この発明の第１の打切り寿命および強度試験における試験の設計方法は、
目標とする打切り寿命または打切り強度まで破損しなければ、要求する寿命または強度を満足すると判定する打切り試験において、コンピュータを用いて、上記の目標とする打切り寿命または打切り強度を定める設計方法であって、
コンピュータに対して、定められた各項目の内容となる情報を入力する入力過程（Ｐ１）と、この入力過程（Ｐ１）で入力された情報を用い、定められた計算式に従って、上記の目標とする打切り寿命または打切り強度Ａ_i を上記コンピュータで計算する回答演算処理過程（Ｐ２）とを含み、
上記回答演算処理過程（Ｐ２）では、上記定められた計算式として、次式
Ａ_i ＝Ｇ^-1（Ｂ^-1（Ｒ，ｉ，ｎ−ｉ＋１））
を用い、
ここで、目標とする打切り寿命または打切り強度：Ａ_i （ｉ＝１，２，３…、Ａ_iはｉがそれぞれ０，１，２…個だけ破損した時の打切り寿命または打切り強度）、
寿命または強度の累積分布関数の逆関数：Ｇ^-1（ｘ）、
ベータ分布関数の累積分布関数の逆関数：Ｂ^-1（Ｒ，ｉ，ｎ−ｉ＋１）、信頼度：Ｒ、試験個数：ｎ、
であり、
上記入力過程（Ｐ１）で入力する定められた各項目は、信頼度Ｒ、試験個数ｎ、および破損個数ｉ、並びに上記回答演算処理過程で用いる上記寿命または強度の累積分布関数の逆関数における未定の母数である、
ことを特徴とする。 The test design method in the first censored life and strength test of the present invention is:
A design method that uses a computer to determine the above-mentioned target censoring life or censoring strength in a censoring test that determines that the required cir- cuit life or strength is satisfied if it does not break to the target censoring life or censoring strength. ,
An input process (P1) for inputting information that is the contents of each defined item to the computer, and using the information input in this input process (P1), according to a predetermined calculation formula, An answer calculation processing step (P2) for calculating the censoring life or censoring strength A _i by the computer,
In the answer calculation processing step (P2), the following formula A _i = G ⁻¹ (B ⁻¹ (R, i, n−i + 1))
Use
Here, the target cutting life or cutting strength: A _i (i = 1, 2, 3..., A _i is the cutting life or cutting strength when i is broken by 0, 1, 2,.
Inverse function of cumulative distribution function of life or strength: G ⁻¹ (x),
Inverse function of cumulative distribution function of beta distribution function: B ⁻¹ (R, i, n−i + 1), reliability: R, number of tests: n,
And
The determined items to be input in the input process (P1) are the reliability R, the number of tests n, the number of damages i, and the indeterminate function in the inverse function of the cumulative distribution function of the life or strength used in the answer calculation process. Which is the parameter of
It is characterized by that.

第１の設計方法によると、上記計算式Ａ_i ＝Ｇ^-1（Ｂ^-1（Ｒ，ｉ，ｎ−ｉ＋１））を用いるため、寿命または強度の累積分布関数の逆関数Ｇ^-1（ｘ）が定まっていれば、信頼度Ｒ、破損個数ｉを定めることで、打切り寿命または打切り強度Ａ_i と試験個数ｎの関係が一義的に定まる。そのため、信頼度Ｒ、試験個数ｎ、および破損個数ｉを入力することにより、打切り寿命または打切り強度Ａ_i が求まる。このため、打切り試験の打切り寿命・強度の設計について、乱数を用いなくても可能にでき、計算精度が高く、確率的誤差を低減させることができ、かつ計算時間が短くて済み、従来のように計算機を占有することがない。 According to the first design method, since the calculation formula A _i = G ⁻¹ (B ⁻¹ (R, i, n−i + 1)) is used, the inverse function G ⁻¹ (x ) Is determined, the relationship between the censored life or censor strength A _i and the test number n is uniquely determined by determining the reliability R and the number of breakage i. Therefore, by inputting the reliability R, the number of tests n, and the number of breaks i, the censored life or censor strength A _i can be obtained. For this reason, it is possible to design censoring life and strength for censoring tests without using random numbers, high calculation accuracy, reduction of stochastic errors, and short calculation time. Never occupy a computer.

第１の設計方法において、上記寿命または強度の累積分布関数が、正規分布の関数であっても、また対数正規分布の関数や、ワイブル分布の関数であっても良い。機械部品やその素材等の寿命や強度は、正規分布、対数正規分布、ワイブル分布の関数に従うため、試験対象物の寿命や強度の特性を示す関数として上記の各関数を用いることにより、精度良く打切り寿命や打切り強度を設計することができる。   In the first design method, the cumulative distribution function of the lifetime or intensity may be a normal distribution function, a log normal distribution function, or a Weibull distribution function. Since the life and strength of mechanical parts and their materials follow the functions of normal distribution, log normal distribution, and Weibull distribution, the above functions can be used with high accuracy by using the above functions as functions that indicate the life and strength characteristics of the test object. The censoring life and censoring strength can be designed.

一般的には、機械部品やその素材等の寿命は、次式 (1A) のワイブル分布で定まる寿命分布となる。

ただし、形状母数：ｅ、尺度母数：α、位置母数：γ
このため、上記打切り試験が、目標とする打切り寿命Ａ_i まで破損しなければ要求する寿命を満足すると判定する疲労試験の場合、
上記回答演算処理過程では、上記定められた計算式として、次式（2A）を用い、

ただし、
打切り寿命：Ａ_i （ｉ＝１，２，３…、Ａ_i はｉがそれぞれ０，１，２…個だけ破損した時の打切り寿命）、
ベータ分布関数の累積分布関数の逆関数：Ｂ^-1（Ｒ，ｉ，ｎ−ｉ＋１）、
信頼度：Ｒ、
試験個数：ｎ、
である。
上記入力過程で入力する定められた各項目のうち、上記逆関数における未定の母数は、上記形状母数ｅ、尺度母数α、および位置母数γのうちの、計算式に定められていない母数とすれば良い。これらの母数のｅ，α，γのうち、既知の母数は計算式に定数として定めておき、個々の設計時には、未定の母数のみに入力するようにしても良い。個々の設計時に全ての母数ｅ，α，γを入力して定めるようにしても良い。
ワイブル分布を用いる場合は、このように、上記の式
Ａ_i ＝Ｇ^-1（Ｂ^-1（Ｒ，ｉ，ｎ−ｉ＋１））
にワイブル分布の逆関数Ｇ^-1を反映させた式である上記の式（2A）を計算に用いることにより、疲労試験の場合における目標とする打切り寿命を適切にかつ容易に求めることができる。 In general, the life of machine parts and their materials is a life distribution determined by the Weibull distribution of the following equation (1A).

However, shape parameter: e, scale parameter: α, position parameter: γ
Thus, the abort test, for determining the fatigue test and satisfies the lifetime of requesting to be broken up truncation life A _i of the target,
In the above answer calculation process, the following formula (2A) is used as the above formula:

However,
Censoring life: A _i (i = 1, 2, 3..., A _i is censoring life when i is broken by 0, 1, 2,.
Inverse function of cumulative distribution function of beta distribution function: B ⁻¹ (R, i, n−i + 1),
Reliability: R,
Number of tests: n
It is.
Among the determined items to be input in the input process, the undetermined parameter in the inverse function is determined by a calculation formula among the shape parameter e, the scale parameter α, and the position parameter γ. It should be no parameter. Of these parameters e, α, and γ, a known parameter may be determined as a constant in the calculation formula, and may be input only to an undetermined parameter when designing each. All parameters e, α, and γ may be input and determined at the time of individual design.
When the Weibull distribution is used, the above formula A _i = G ⁻¹ (B ⁻¹ (R, i, n−i + 1))
By using the above formula (2A), which is a formula reflecting the inverse function G ⁻¹ of the Weibull distribution in the calculation, it is possible to appropriately and easily obtain the target censored life in the case of the fatigue test.

この発明の第１の打切り寿命および強度試験における試験の設計装置は、
目標とする打切り寿命または打切り強度まで破損しなければ、要求する寿命または強度を満足すると判定する打切り試験において、上記の目標とする打切り寿命または打切り強度を定める設計装置であって、
定められた各項目の内容となる情報の入力を促す画面を表示装置の画面に出力する入力促し画面出力手段６と、上記各項目の入力された情報を入力情報記憶手段８に記憶させる入力処理手段７と、上記入力情報記憶手段８に記憶された情報を用い、定められた計算式に従って、上記の目標とする打切り寿命または打切り強度Ａ_i を上記コンピュータで計算する回答演算処理手段９とを含み、
上記回答演算処理手段９では、上記定められた計算式として、次式
Ａ_i ＝Ｇ^-1（Ｂ^-1（Ｒ，ｉ，ｎ−ｉ＋１））
を用い、
ここで、目標とする打切り寿命または打切り強度：Ａ_i （ｉ＝１，２，３…、Ａ_i はｉがそれぞれ０，１，２…個だけ破損した時の打切り寿命または打切り強度）、
寿命または強度の累積分布関数の逆関数：Ｇ^-1（ｘ）、
ベータ分布関数の累積分布関数の逆関数：Ｂ^-1（Ｒ，ｉ，ｎ−ｉ＋１）、信頼度：Ｒ、試験個数：ｎ、
であり、
上記入力促し画面出力手段６で情報の入力を促す定められた各項目は、信頼度Ｒ、試験個数ｎ、および破損個数ｉ、並びに上記回答演算処理手段で用いる上記寿命または強度の累積分布関数の逆関数における未定の母数である、
ことを特徴とする。 The test design apparatus in the first censored life and strength test of the present invention is:
A design apparatus for determining the above-mentioned target cutting life or cutting strength in a cutting test that determines that the required life or strength is satisfied if the target cutting life or cutting strength is not damaged.
Input prompt screen output means 6 for outputting a screen prompting input of information as the contents of each defined item to the screen of the display device, and input processing for storing input information of each item in the input information storage means 8 Means 7 and answer calculation processing means 9 for calculating the target censored life or censoring strength A _i by the computer according to a predetermined calculation formula using the information stored in the input information storage unit 8. Including
In the answer calculation processing means 9, the following formula A _i = G ⁻¹ (B ⁻¹ (R, i, n−i + 1))
Use
Here, the target cutting life or cutting strength: A _i (i = 1, 2, 3..., A _i is the cutting life or cutting strength when i is broken by 0, 1, 2,.
Inverse function of cumulative distribution function of life or strength: G ⁻¹ (x),
Inverse function of cumulative distribution function of beta distribution function: B ⁻¹ (R, i, n−i + 1), reliability: R, number of tests: n,
And
The predetermined items prompting the input of information by the input prompting screen output means 6 are the reliability R, the number of tests n, the number of damages i, and the cumulative distribution function of the life or strength used in the answer calculation processing means. An undetermined parameter in the inverse function,
It is characterized by that.

第１の設計装置によると、上記の計算式Ａ_i ＝Ｇ^-1（Ｂ^-1（Ｒ，ｉ，ｎ−ｉ＋１））を用いるため、打切り試験の打切り寿命・強度の設計について、乱数を用いなくても可能にでき、計算精度が高く、確率的誤差を低減させることができ、かつ計算時間が短くて済み、従来のように計算機を占有することがない。 According to the first design apparatus, since the calculation formula A _i = G ⁻¹ (B ⁻¹ (R, i, n−i + 1)) is used, random numbers are used for designing the censoring life and strength of the censoring test. This can be done without the need, the calculation accuracy is high, the stochastic error can be reduced, the calculation time is short, and the computer is not occupied as in the prior art.

この発明の第１の打切り寿命および強度試験における試験の設計プログラム１１は、
コンピュータで実行可能なプログラムであって、
目標とする打切り寿命または打切り強度まで破損しなければ、要求する寿命または強度を満足すると判定する打切り試験において、上記の目標とする打切り寿命または打切り強度を定めるプログラムであり、
表示装置の画面に、定められた各項目の内容となる情報の入力を促す入力促し画面出力手順（Ｑ１）と、上記各項目の入力された情報を入力情報記憶手段に記憶させる入力処理手順（Ｑ２）と、
実行命令に応答して、上記入力情報記憶手段に記憶された情報を用い、定められた計算式に従って、上記の目標とする打切り寿命または打切り強度Ａ_i を上記コンピュータで計算する回答演算処理手順（Ｑ３）とを含み、
上記回答演算処理手順（Ｑ３）では、上記定められた計算式として、次式
Ａ_i ＝Ｇ^-1（Ｂ^-1（Ｒ，ｉ，ｎ−ｉ＋１））
を用い、
ここで、目標とする打切り寿命または打切り強度：Ａ_i （ｉ＝１，２，３…、Ａ_i はｉがそれぞれ０，１，２…個だけ破損した時の打切り寿命または打切り強度）、
寿命または強度の累積分布関数の逆関数：Ｇ^-1（ｘ）、
ベータ分布関数の累積分布関数の逆関数：Ｂ^-1（Ｒ，ｉ，ｎ−ｉ＋１）、信頼度：Ｒ、試験個数：ｎ、
であり、
上記入力促し画面出力手順（Ｑ１）で情報の入力を促す定められた各項目は、信頼度Ｒ、試験個数ｎ、および破損個数ｉ、並びに上記回答演算処理過程（Ｑ３）で用いる上記寿命または強度の累積分布関数の逆関数における未定の母数である、
ことを特徴とする。 The test design program 11 in the first censored life and strength test of the present invention includes:
A program executable on a computer,
A program that determines the above-mentioned target censorship life or censoring strength in a censorship test that determines that the required censorship life or strength is satisfied if it does not break to the target censorship life or censoring strength,
An input prompting screen output procedure (Q1) for prompting input of information as contents of each defined item on the screen of the display device, and an input processing procedure for storing the input information of each item in the input information storage means ( Q2)
In response to an execution command, using the information stored in the input information storage means, an answer calculation processing procedure for calculating the target censoring life or censoring strength A _i by the computer according to a predetermined calculation formula ( Q3) and
In the answer calculation processing procedure (Q3), the following formula A _i = G ⁻¹ (B ⁻¹ (R, i, n−i + 1))
Use
Here, the target cutting life or cutting strength: A _i (i = 1, 2, 3..., A _i is the cutting life or cutting strength when i is broken by 0, 1, 2,.
Inverse function of cumulative distribution function of life or strength: G ⁻¹ (x),
Inverse function of cumulative distribution function of beta distribution function: B ⁻¹ (R, i, n−i + 1), reliability: R, number of tests: n,
And
The specified items that prompt the input of information in the input prompting screen output procedure (Q1) are the reliability R, the number of tests n, the number of breaks i, and the life or strength used in the answer calculation process (Q3). Is an undetermined parameter in the inverse of the cumulative distribution function of
It is characterized by that.

第１の設計プログラム（１１）によると、上記の計算式Ａ_i ＝Ｇ^-1（Ｂ^-1（Ｒ，ｉ，ｎ−ｉ＋１））を用いるため、打切り試験の打切り寿命・強度の設計について、乱数を用いなくても可能にでき、計算精度が高く、確率的誤差を低減させることができ、かつ計算時間が短くて済み、従来のように計算機を占有することがない。 According to the first design program (11), since the above calculation formula A _i = G ⁻¹ (B ⁻¹ (R, i, n−i + 1)) is used, This can be achieved without using random numbers, the calculation accuracy is high, the stochastic error can be reduced, the calculation time is short, and the computer is not occupied as in the prior art.

この発明の第２の打切り寿命および強度試験における試験の設計方法は、
目標とする打切り寿命または打切り強度まで破損しなければ、要求する寿命または強度を満足すると判定する打切り試験において、コンピュータを用いて、試験個数ｎを定める設計方法であって、
コンピュータに対して、定められた各項目の内容となる情報を入力する入力過程（Ｒ１）と、この入力過程（Ｒ１）で入力された情報を用い、定められた計算式に従って、上記試験個数ｎを上記コンピュータで計算する回答演算処理過程（Ｒ２）とを含み、
上記回答演算処理過程（Ｒ２）では、上記定められた計算式として、次式
Ａ_i ＝Ｇ^-1（Ｂ^-1（Ｒ，ｉ，ｎ−ｉ＋１））
を用い、
ここで、目標とする打切り寿命または打切り強度：Ａ_i （ｉ＝１，２，３…、Ａ_i はｉがそれぞれ０，１，２…個だけ破損した時の打切り寿命または打切り強度）、
寿命または強度の累積分布関数の逆関数：Ｇ^-1（ｘ）、
ベータ分布関数の累積分布関数の逆関数：Ｂ^-1（Ｒ，ｉ，ｎ−ｉ＋１）、信頼度：Ｒ、試験個数：ｎ、
であり、
上記入力過程（Ｒ１）で入力する定められた各項目は、目標とする打切り寿命または打切り強度Ａ_i 、信頼度Ｒ、および破損個数ｉ、並びに上記回答演算処理過程で用いる上記寿命または強度の累積分布関数の逆関数における未定の母数である、
ことを特徴とする。 The test design method in the second censored life and strength test of the present invention is:
A design method for determining the number n of tests using a computer in a censoring test for determining that the required life or strength is satisfied if it does not break to the target censoring life or censoring strength,
An input process (R1) for inputting information that is the content of each defined item to the computer, and using the information input in this input process (R1), the test number n An answer calculation process (R2) for calculating
In the answer calculation process (R2), the following formula is given as A _i = G ⁻¹ (B ⁻¹ (R, i, n−i + 1))
Use
Here, the target cutting life or cutting strength: A _i (i = 1, 2, 3..., A _i is the cutting life or cutting strength when i is broken by 0, 1, 2,.
Inverse function of cumulative distribution function of life or strength: G ⁻¹ (x),
Inverse function of cumulative distribution function of beta distribution function: B ⁻¹ (R, i, n−i + 1), reliability: R, number of tests: n,
And
The determined items to be input in the input process (R1) are the target censored life or censor strength A _i , reliability R, the number of breaks i, and the accumulation of the service life or strength used in the answer calculation process. An undetermined parameter in the inverse function of the distribution function,
It is characterized by that.

第２の設計方法によると、上記の計算式Ａ_i ＝Ｇ^-1（Ｂ^-1（Ｒ，ｉ，ｎ−ｉ＋１））を用いるため、打切り試験の試験個数の設計について、乱数を用いなくても可能にでき、計算精度が高く、確率的誤差を低減させることができ、かつ計算時間が短くて済み、従来のように計算機を占有することがない。 According to the second design method, since the above calculation formula A _i = G ⁻¹ (B ⁻¹ (R, i, n−i + 1)) is used, a random number is not used for designing the number of tests in the censoring test. The calculation accuracy is high, the stochastic error can be reduced, the calculation time is short, and the computer is not occupied as in the prior art.

第２の設計方法において、上記寿命または強度の累積分布関数が、正規分布の関数であっても、また対数正規分布の関数や、ワイブル分布の関数であっても良い。機械部品やその素材等の寿命や強度は、正規分布、対数正規分布、ワイブル分布の関数に従うため、試験対象物の寿命や強度の特性を示す関数として上記の各関数を用いることにより、適切な試験個数を設計することができる。   In the second design method, the cumulative distribution function of the lifetime or intensity may be a normal distribution function, a log normal distribution function, or a Weibull distribution function. Since the life and strength of mechanical parts and their materials follow the functions of normal distribution, log normal distribution, and Weibull distribution, it is appropriate to use the above functions as functions indicating the life and strength characteristics of the test object. The number of tests can be designed.

第２の設計方法においても、上記打切り試験が、目標とする打切り寿命まで破損しなければ、要求する寿命または強度を満足すると判定する疲労試験の場合、上記ワイブル分布の式（1A）を反映させた式（2A）式を用い、適切な試験個数を設計することができる。

ただし、
打切り寿命：Ａ_i （ｉ＝１，２，３…、Ａ_i はｉがそれぞれ０，１，２…個だけ破損した時の打切り寿命）、
ベータ分布関数の累積分布関数の逆関数：Ｂ^-1（Ｒ，ｉ，ｎ−ｉ＋１）、
信頼度：Ｒ、
試験個数：ｎ、
である。 Also in the second design method, in the case of a fatigue test in which it is determined that the censored test does not break to the target censored life, the required life or strength is satisfied, the equation (1A) of the Weibull distribution is reflected. The appropriate number of tests can be designed using the formula (2A).

However,
Censoring life: A _i (i = 1, 2, 3..., A _i is censoring life when i is broken by 0, 1, 2,.
Inverse function of cumulative distribution function of beta distribution function: B ⁻¹ (R, i, n−i + 1),
Reliability: R,
Number of tests: n
It is.

この発明の第２の打切り寿命および強度試験における試験の設計装置は、
目標とする打切り寿命または打切り強度まで破損しなければ、要求する寿命または強度を満足すると判定する打切り試験において、試験個数ｎを定める設計装置であって、
定められた各項目の内容となる情報の入力を促す画面を表示装置２の画面に出力する入力促し画面出力手段６Ａと、上記各項目の入力された情報を入力情報記憶手段８Ａに記憶させる入力処理手段７Ａと、上記入力情報記憶手段８Ａに記憶された情報を用い、定められた計算式に従って、上記試験個数ｎを上記コンピュータで計算する回答演算処理手段９Ａとを含み、
上記回答演算処理手段９Ａでは、上記定められた計算式として、次式
Ａ_i ＝Ｇ^-1（Ｂ^-1（Ｒ，ｉ，ｎ−ｉ＋１））
を用い、
ここで、目標とする打切り寿命または打切り強度：Ａ_i （ｉ＝１，２，３…、Ａ_i はｉがそれぞれ０，１，２…個だけ破損した時の打切り寿命または打切り強度）、
寿命または強度の累積分布関数の逆関数：Ｇ^-1（ｘ）、
ベータ分布関数の累積分布関数の逆関数：Ｂ^-1（Ｒ，ｉ，ｎ−ｉ＋１）、信頼度：Ｒ、試験個数：ｎ、
であり、
上記入力促し画面出力手段６Ａで情報の入力を促す定められた各項目は、目標とする打切り寿命または打切り強度Ａ_i 、信頼度Ｒ、および破損個数ｉ、並びに上記回答演算処理手段９Ａで用いる上記の寿命または強度の累積分布関数の逆関数における未定の母数である、
ことを特徴とする。 The test design apparatus in the second censored life and strength test of the present invention is:
A design apparatus for determining the number n of tests in a censoring test for determining that a required service life or strength is satisfied if it does not break to a target censor life or censor strength,
An input prompting screen output means 6A for outputting a screen prompting input of information as the contents of each defined item to the screen of the display device 2, and an input for storing the input information of each item in the input information storage means 8A Processing means 7A, and answer calculation processing means 9A for calculating the number of tests n by the computer according to a predetermined calculation formula using information stored in the input information storage means 8A,
In the answer calculation processing means 9A, the following formula A _i = G ⁻¹ (B ⁻¹ (R, i, n−i + 1))
Use
Here, the target cutting life or cutting strength: A _i (i = 1, 2, 3..., A _i is the cutting life or cutting strength when i is broken by 0, 1, 2,.
Inverse function of cumulative distribution function of life or strength: G ⁻¹ (x),
Inverse function of cumulative distribution function of beta distribution function: B ⁻¹ (R, i, n−i + 1), reliability: R, number of tests: n,
And
The predetermined items that prompt the input of information by the input prompting screen output means 6A are the target censoring life or censoring strength A _i , the reliability R, the number of breakage i, and the answer calculation processing means 9A used above. Is an undetermined parameter in the inverse of the cumulative distribution function of the lifetime or strength of
It is characterized by that.

第２の設計装置によると、上記の計算式Ａ_i ＝Ｇ^-1（Ｂ^-1（Ｒ，ｉ，ｎ−ｉ＋１））を用いるため、打切り試験の試験個数の設計について、乱数を用いなくても可能にでき、計算精度が高く、確率的誤差を低減させることができ、かつ計算時間が短くて済み、従来のように計算機を占有することがない。 According to the second design apparatus, since the above calculation formula A _i = G ⁻¹ (B ⁻¹ (R, i, n−i + 1)) is used, a random number is not used for designing the number of tests in the censoring test. The calculation accuracy is high, the stochastic error can be reduced, the calculation time is short, and the computer is not occupied as in the prior art.

この発明の第２の打切り寿命および強度試験における試験の設計プログラム１２は、
コンピュータで実行可能なプログラムであって、
目標とする打切り寿命または打切り強度まで破損しなければ、要求する寿命または強度を満足すると判定する打切り試験において、試験個数ｎを定めるプログラムであり、
表示装置の画面に、定められた各項目の内容となる情報の入力を促す入力促し画面出力手順（Ｓ１）と、上記各項目の入力された情報を入力情報記憶手段に記憶させる入力処理手順（Ｓ２）と、
実行命令に応答して、上記入力情報記憶手段に記憶された情報を用い、定められた計算式に従って、上記試験個数ｎを上記コンピュータで計算する回答演算処理手順（Ｓ３）とを含み、
上記回答演算処理手順（Ｓ３）では、上記定められた計算式として、次式
Ａ_i ＝Ｇ^-1（Ｂ^-1（Ｒ，ｉ，ｎ−ｉ＋１））
を用い、
ここで、目標とする打切り寿命または打切り強度：Ａ_i （ｉ＝１，２，３…、Ａ_i はｉがそれぞれ０，１，２…個だけ破損した時の打切り寿命または打切り強度）、
寿命または強度の累積分布関数の逆関数：Ｇ^-1（ｘ）、
ベータ分布関数の累積分布関数の逆関数：Ｂ^-1（Ｒ，ｉ，ｎ−ｉ＋１）、信頼度：Ｒ、試験個数：ｎ、
であり、
上記入力促し画面出力手順（Ｓ１）で情報の入力を促す定められた各項目は、目標とする打切り寿命または打切り強度Ａ_i 、信頼度Ｒ、および破損個数ｉ、並びに上記回答演算処理手順（Ｓ３）で用いる上記寿命または強度の累積分布関数の逆関数における未定の母数である、
ことを特徴とする。 The test design program 12 in the second censored life and strength test of the present invention is:
A program executable on a computer,
A program for determining the number n of tests in a censoring test for determining that the required service life or strength is satisfied if it does not break to the target censoring service life or censoring strength,
An input prompting screen output procedure (S1) for prompting input of information as contents of each defined item on the screen of the display device, and an input processing procedure for storing the input information of each item in the input information storage means ( S2)
In response to the execution command, using the information stored in the input information storage means, and in accordance with a predetermined calculation formula, the computer calculates the test number n by the computer (S3),
In the answer calculation processing procedure (S3), the following formula A _i = G ⁻¹ (B ⁻¹ (R, i, n−i + 1))
Use
Here, the target cutting life or cutting strength: A _i (i = 1, 2, 3..., A _i is the cutting life or cutting strength when i is broken by 0, 1, 2,.
Inverse function of cumulative distribution function of life or strength: G ⁻¹ (x),
Inverse function of cumulative distribution function of beta distribution function: B ⁻¹ (R, i, n−i + 1), reliability: R, number of tests: n,
And
Each item determined to prompt the input of information in the input prompting screen output procedure (S1) includes the target censoring life or censoring strength A _i , the reliability R, the number of breakage i, and the answer calculation processing procedure (S3). ) Is an undetermined parameter in the inverse function of the cumulative distribution function of the lifetime or strength used in
It is characterized by that.

第２の設計プログラムによると、上記の計算式Ａ_i ＝Ｇ^-1（Ｂ^-1（Ｒ，ｉ，ｎ−ｉ＋１））を用いるため、打切り試験の試験個数の設計について、乱数を用いなくても可能にでき、計算精度が高く、確率的誤差を低減させることができ、かつ計算時間が短くて済み、従来のように計算機を占有することがない。 According to the second design program, since the above calculation formula A _i = G ⁻¹ (B ⁻¹ (R, i, n−i + 1)) is used, a random number is not used for designing the number of tests in the censoring test. The calculation accuracy is high, the stochastic error can be reduced, the calculation time is short, and the computer is not occupied as in the prior art.

この発明の第３の打切り寿命および強度試験における試験の設計方法は、
目標とする打切り寿命または打切り強度まで破損しなければ、要求する寿命または強度を満足すると判定する打切り試験において、コンピュータを用いて、その水準の寿命または強度が要求寿命・または強度を満足できないと判断する試験中止基準の寿命または強度を定める設計方法であって、
コンピュータに対して、定められた各項目の内容となる情報を入力する入力過程（Ｔ１）と、この入力過程（Ｔ１）で入力された情報を用い、定められた計算式に従って、上記の試験中止基準の寿命または強度Ｃ_i を上記コンピュータで計算する回答演算処理過程（Ｔ２）とを含み、
上記回答演算処理過程（Ｔ２）では、上記定められた計算式として、次式
Ｃ_i ＝Ｇ^-1（Ｂ^-1（１−Ｒ，ｉ，ｎ−ｉ＋１））
を用い、
ここで、試験中止基準の寿命または強度：Ｃ_i （ｉ＝１，２，３…、Ｃ_i はｉがそれぞれ０，１，２…個だけ破損した時の試験中止基準の時間または強度）、
寿命または強度の累積分布関数の逆関数：Ｇ^-1（ｘ）、
ベータ分布関数の累積分布関数の逆関数：Ｂ^-1（１−Ｒ，ｉ，ｎ−ｉ＋１）、信頼度：Ｒ、試験個数：ｎ、
であり、
上記入力過程（Ｔ１）で入力する定められた各項目は、信頼度Ｒ、試験個数ｎ、および破損個数ｉ、並びに上記回答演算処理過程で用いる上記寿命または強度の累積分布関数の逆関数における未定の母数である、
ことを特徴とする。 The test design method in the third censored life and strength test of the present invention is:
In a censorship test that determines that the required life or strength is satisfied if it does not break to the target censor life or censor strength, it is determined that the life or strength at that level cannot satisfy the required life or strength using a computer. A design method for determining the life or strength of the test cancellation criteria
An input process (T1) for inputting information that is the contents of each defined item to the computer, and the above test is canceled using the information input in this input process (T1) according to a predetermined calculation formula An answer calculation processing step (T2) for calculating the reference life or strength C _i by the computer,
In the answer calculation process (T2), the following formula C _i = G ⁻¹ (B ⁻¹ (1−R, i, n−i + 1))
Use
Here, the life or strength of the test cancellation criterion: C _i (i = 1, 2, 3..., C _i is the time or strength of the test cancellation criterion when i is broken by 0, 1, 2,.
Inverse function of cumulative distribution function of life or strength: G ⁻¹ (x),
Inverse function of cumulative distribution function of beta distribution function: B ⁻¹ (1−R, i, n−i + 1), reliability: R, number of tests: n,
And
The determined items to be input in the input process (T1) are undefined in the inverse function of the reliability R, the number of tests n, the number of damages i, and the cumulative distribution function of the life or strength used in the answer calculation process. Which is the parameter of
It is characterized by that.

第３の設計方法によると、上記の計算式Ｃ_i ＝Ｇ^-1（Ｂ^-1（１−Ｒ，ｉ，ｎ−ｉ＋１））を用いるため、打切り試験の試験中止基準の時間または強度Ｃ_i の設計について、乱数を用いなくても可能にでき、計算精度が高く、確率的誤差を低減させることができ、かつ計算時間が短くて済み、従来のように計算機を占有することがない。 According to a third design method, for using the above equation ^{_{C i = G -1 (B -1}} (1-R, i, n-i + 1)), the time of the test abort criteria truncation test or intensity C _i This design can be made without using random numbers, the calculation accuracy is high, the stochastic error can be reduced, the calculation time is short, and the computer is not occupied as in the prior art.

第３の設計方法において、上記寿命または強度の累積分布関数が、正規分布の関数であっても、また対数正規分布の関数や、ワイブル分布の関数であっても良い。機械部品やその素材等の寿命や強度は、正規分布、対数正規分布、ワイブル分布の関数に従うため、試験対象物の寿命や強度の特性を示す関数として上記の各関数を用いることにより、打切り試験の試験中止基準の時間または強度Ｃ_i を精度良く設計することができる。 In the third design method, the cumulative distribution function of the lifetime or intensity may be a normal distribution function, a log normal distribution function, or a Weibull distribution function. Since the life and strength of machine parts and their materials follow the functions of normal distribution, lognormal distribution, and Weibull distribution, the censorship test is performed by using the above functions as functions indicating the characteristics of the life and strength of the test object. It is possible to accurately design the time or strength C _i of the test cancellation reference.

第３の設計方法においても、上記打切り試験が、目標とする打切り寿命まで破損しなければ、要求する寿命または強度を満足すると判定する疲労試験の場合、上記ワイブル分布の式（1A）を反映させた式（2C) を用いて、打切り試験の試験中止基準の時間または強度Ｃ_i を精度良く設計することができる。

ただし、
試験中止基準の時間または強度：Ｃ_i （ｉ＝１，２，３…、Ｃ_i はｉがそれぞれ０，１，２…個だけ破損した時の試験中止基準の時間または強度）、
ベータ分布関数の累積分布関数の逆関数：Ｂ^-1（１−Ｒ，ｉ，ｎ−ｉ＋１）、
信頼度：Ｒ、
試験個数：ｎ、
である。 Also in the third design method, in the case of a fatigue test in which it is determined that the censored test does not break to the target censored life, the required life or strength is satisfied, the Weibull distribution formula (1A) is reflected. Using the formula (2C), it is possible to accurately design the time or strength C _i of the test termination reference for the abort test.

However,
Test cancellation reference time or strength: C _i (i = 1, 2, 3..., C _i is the test cancellation reference time or strength when i is broken by 0, 1, 2,.
Inverse function of cumulative distribution function of beta distribution function: B ⁻¹ (1−R, i, n−i + 1),
Reliability: R,
Number of tests: n
It is.

この発明の第３の打切り寿命および強度試験における試験の設計装置は、
目標とする打切り寿命または打切り強度まで破損しなければ、要求する寿命または強度を満足すると判定する打切り試験において、その水準の寿命または強度が要求寿命・または強度を満足できないと判断する試験中止基準の寿命または強度を定める設計装置であって、
定められた各項目の内容となる情報の入力を促す画面を表示装置２の画面に出力する入力促し画面出力手段６Ｂと、上記各項目の入力された情報を入力情報記憶手段８Ｂに記憶させる入力処理手段７Ｂと、上記入力情報記憶手段８Ｂに記憶された情報を用い、定められた計算式に従って、上記の試験中止基準の寿命または強度Ｃ_i を上記コンピュータで計算する回答演算処理手段９Ｂとを含み、
上記回答演算処理手段９Ｂでは、上記定められた計算式として、次式
Ｃ_i ＝Ｇ^-1（Ｂ^-1（１−Ｒ，ｉ，ｎ−ｉ＋１））
を用い、
ここで、試験中止基準の時間または強度：Ｃ_i （ｉ＝１，２，３…、Ｃ_i はｉがそれぞれ０，１，２…個だけ破損した時の試験中止基準の時間または強度）、
寿命または強度の累積分布関数の逆関数：Ｇ^-1（ｘ）、
ベータ分布関数の累積分布関数の逆関数：Ｂ^-1（１−Ｒ，ｉ，ｎ−ｉ＋１）、信頼度：Ｒ、試験個数：ｎ、
であり、
上記入力促し画面出力手段６Ｂで情報の入力を促す定められた各項目は、信頼度Ｒ、試験個数ｎ、および破損個数ｉ、並びに上記回答演算処理手段で用いる上記寿命または強度の累積分布関数の逆関数における未定の母数である、
ことを特徴とする。 The test design apparatus in the third censored life and strength test of the present invention is:
In the censorship test where it is determined that the required life or strength is satisfied if it does not break to the target censored life or censoring strength, the test abort criteria for determining that the level of life or strength cannot satisfy the required life or strength. A design device for determining the life or strength,
Input prompt output means 6B for outputting a screen for prompting input of information as the contents of each defined item to the screen of the display device 2, and input for storing input information for each item in the input information storage means 8B A processing means 7B, and an answer calculation processing means 9B for calculating the life or strength C _i of the test stop criterion by the computer according to a predetermined calculation formula using the information stored in the input information storage means 8B. Including
In the answer calculation processing means 9B, the following formula C _i = G ⁻¹ (B ⁻¹ (1−R, i, n−i + 1))
Use
Here, the time or strength of the test stop criteria: C _i (i = 1, 2, 3..., C _i is the test stop criteria time or strength when i is broken by 0, 1, 2,.
Inverse function of cumulative distribution function of life or strength: G ⁻¹ (x),
Inverse function of cumulative distribution function of beta distribution function: B ⁻¹ (1−R, i, n−i + 1), reliability: R, number of tests: n,
And
The predetermined items for prompting input of information by the input prompting screen output means 6B are the reliability R, the number of tests n, the number of breaks i, and the cumulative distribution function of the life or strength used in the answer calculation processing means. An undetermined parameter in the inverse function,
It is characterized by that.

第３の設計装置によると、上記の計算式Ｃ_i ＝Ｇ^-1（Ｂ^-1（１−Ｒ，ｉ，ｎ−ｉ＋１））を用いるため、打切り試験の試験中止基準の時間または強度の設計について、乱数を用いなくても可能にでき、計算精度が高く、確率的誤差を低減させることができ、かつ計算時間が短くて済み、従来のように計算機を占有することがない。 According to the third design apparatus, since the above calculation formula C _i = G ⁻¹ (B ⁻¹ (1−R, i, n−i + 1)) is used, the time or strength design of the test stop criterion of the censoring test is designed. Can be achieved without using a random number, the calculation accuracy is high, the stochastic error can be reduced, the calculation time is short, and the computer is not occupied as in the prior art.

この発明の第３の打切り寿命および強度試験における試験の設計プログラム１３は、
コンピュータで実行可能なプログラムであって、
目標とする打切り寿命または打切り強度まで破損しなければ、要求する寿命または強度を満足すると判定する打切り試験において、その水準の寿命または強度が要求寿命・または強度を満足できないと判断する試験中止基準の時間または強度を定めるプログラムであり、
表示装置２の画面に、定められた各項目の内容となる情報の入力を促す入力促し画面出力手順（Ｕ１）と、上記各項目の入力された情報を入力情報記憶手段に記憶させる入力処理手順（Ｕ２）と、
実行命令に応答して、上記入力情報記憶手段に記憶された情報を用い、定められた計算式に従って、定められた計算式に従って、上記の試験中止基準の時間または強度Ｃ_i を上記コンピュータで計算する回答演算処理手順（Ｕ３）とを含み、
上記回答演算処理手順（Ｕ３）では、上記定められた計算式として、次式
Ｃ_i ＝Ｇ^-1（Ｂ^-1（１−Ｒ，ｉ，ｎ−ｉ＋１））
を用い、
ここで、試験中止基準の時間または強度：Ｃ_i （ｉ＝１，２，３…、Ｃ_i はｉがそれぞれ０，１，２…個だけ破損した時の試験中止基準の時間または強度）、
寿命または強度の累積分布関数の逆関数：Ｇ^-1（ｘ）、
ベータ分布関数の累積分布関数の逆関数：Ｂ^-1（１−Ｒ，ｉ，ｎ−ｉ＋１）、信頼度：Ｒ、試験個数：ｎ、
であり、
上記入力促し画面出力手順（Ｕ１）で情報の入力を促す定められた各項目は、信頼度Ｒ、試験個数ｎ、および破損個数ｉ、並びに上記回答演算処理手順で用いる上記寿命または強度の累積分布関数の逆関数における未定の母数である、
ことを特徴とする。 The test design program 13 in the third censored life and strength test of the present invention is:
A program executable on a computer,
In the censorship test where it is determined that the required life or strength is satisfied if it does not break to the target censored life or censoring strength, the test abort criteria for determining that the level of life or strength cannot satisfy the required life or strength. A program that determines time or intensity,
An input prompting screen output procedure (U1) for prompting input of information that is the content of each defined item on the screen of the display device 2, and an input processing procedure for storing the input information of each item in the input information storage means (U2)
In response to the execution instruction, the information stored in the input information storage means is used, and the time or intensity C _i of the test stop criterion is calculated by the computer according to the predetermined calculation formula according to the predetermined calculation formula. Answer calculation processing procedure (U3)
In the answer calculation processing procedure (U3), the following formula C _i = G ⁻¹ (B ⁻¹ (1−R, i, n−i + 1))
Use
Here, the time or strength of the test stop criteria: C _i (i = 1, 2, 3..., C _i is the test stop criteria time or strength when i is broken by 0, 1, 2,.
Inverse function of cumulative distribution function of life or strength: G ⁻¹ (x),
Inverse function of cumulative distribution function of beta distribution function: B ⁻¹ (1−R, i, n−i + 1), reliability: R, number of tests: n,
And
The predetermined items that prompt the input of information in the input prompting screen output procedure (U1) are the reliability R, the number of tests n, the number of damages i, and the cumulative distribution of the life or strength used in the answer calculation processing procedure. An undetermined parameter in the inverse of the function,
It is characterized by that.

第３の設計プログラムによると、上記の計算式Ｃ_i ＝Ｇ^-1（Ｂ^-1（１−Ｒ，ｉ，ｎ＋１−ｉ））を用いるため、打切り試験の試験中止基準の時間または強度の設計について、乱数を用いなくても可能にでき、計算精度が高く、確率的誤差を低減させることができ、かつ計算時間が短くて済み、従来のように計算機を占有することがない。 According to the third design program, the above formula C _i = G ⁻¹ (B ⁻¹ (1−R, i, n + 1−i)) is used. Can be achieved without using a random number, the calculation accuracy is high, the stochastic error can be reduced, the calculation time is short, and the computer is not occupied as in the prior art.

この発明の打切り寿命および強度試験における試験の解釈方法は、
目標とする打切り寿命または打切り強度まで破損しなければ、要求する寿命または強度を満足すると判定する打切り試験において、一部の試験対象品が破損し残りの試験対象品が破損していない場合に、コンピュータを用いて、試験結果から、試験対象品のロットの寿命または強度Ｄ_i を見積もる方法であって、
コンピュータに対して、定められた各項目の内容となる情報を入力する入力過程（Ｖ１）と、
この入力過程（Ｖ１）で入力された情報を用い、定められた計算式に従って、上記の寿命または強度Ｄ_i を上記コンピュータで計算する回答演算処理過程（Ｖ２）とを含み、
上記回答演算処理過程（Ｖ２）では、上記定められた計算式として、次式
Ｄ_i ＝Ｇ^-1（Ｂ^-1（Ｒ，ｉ，ｎ−ｉ＋１））
Ｅ_i ＝Ｇ^-1（Ｂ^-1（１−Ｒ，ｉ，ｎ−ｉ＋１））
を用い、
ここで、
未破損データの寿命または強度（すなわち、試験対象品のロットの寿命または強度）
：Ｄ_i （ｉ＝１，２，３…、：ｎ個中１，２，３…番目に短い寿命または強度）、
破損データの寿命または強度 ：Ｅ_i （ｉ＝１，２，３…、：ｎ個中１，２，３…番目に破損した寿命または強度）、
寿命または強度の累積分布関数の逆関数：Ｇ^-1（ｘ）、
ベータ分布関数の累積分布関数の逆関数：Ｂ^-1（Ｒ，ｉ，ｎ−ｉ＋１）、
Ｂ^-1（１−Ｒ，ｉ，ｎ−ｉ＋１）、
信頼度：Ｒ、試験個数：ｎ、
であり、
上記入力過程（Ｖ１）で入力する定められた各項目は、試験結果である破損データの寿命または強度Ｅ_i 、信頼度Ｒ、試験個数ｎ、および破損個数ｉ、並びに上記回答演算処理過程で用いる上記寿命または強度の累積分布関数の逆関数における未定の母数である、
ことを特徴とする。 The interpretation of the test in the censored life and strength test of this invention is:
In the censoring test that determines that the required service life or strength is satisfied if the product is not damaged to the target censoring life or censoring strength, when some of the test target products are damaged and the remaining test target products are not damaged, A method for estimating a lot life or strength D _i of a test object lot from a test result using a computer,
An input process (V1) for inputting information as contents of each defined item to the computer;
Using the information input in this input process (V1), and according to a predetermined calculation formula, the above-mentioned life or strength D _i is calculated by the computer, the answer calculation processing process (V2),
In the answer calculation process (V2), the following formula D _i = G ⁻¹ (B ⁻¹ (R, i, n−i + 1))
E _i = G ⁻¹ (B ⁻¹ (1−R, i, n−i + 1))
Use
here,
Lifetime or strength of undamaged data (ie, lot life or strength of the product under test)
: D _i (i = 1, 2, 3...: 1, 2, 3 ... nth shortest life or strength),
Life or strength of damaged data: E _i (i = 1, 2, 3...: Life time or strength of 1, 2, 3,.
Inverse function of cumulative distribution function of life or strength: G ⁻¹ (x),
Inverse function of cumulative distribution function of beta distribution function: B ⁻¹ (R, i, n−i + 1),
B ^-1 (1-R, i, n-i + 1),
Reliability: R, Number of tests: n,
And
The determined items to be input in the input process (V1) are used in the life or strength E _i of the damaged data as the test result, the reliability R, the number of tests n, the number of damages i, and the answer calculation process. It is an undetermined parameter in the inverse function of the cumulative distribution function of the above life or strength,
It is characterized by that.

この解釈方法によると、上記の計算式、Ｄ_i ＝Ｇ^-1（Ｂ^-1（Ｒ，ｉ，ｎ−ｉ＋１））、およびＥ_i ＝Ｇ^-1（Ｂ^-1（１−Ｒ，ｉ，ｎ−ｉ＋１））を用いるため、試験結果から、試験対象品のロットの寿命または強度Ｄ_i を見積もるにつき、乱数を用いなくても可能にでき、計算精度が高く、確率的誤差を低減させることができ、かつ計算時間が短くて済み、従来のように計算機を占有することがない。 According to this interpretation method, the above formulas, D _i = G ⁻¹ (B ⁻¹ (R, i, ni + 1)) and E _i = G ⁻¹ (B ⁻¹ (1−R, i, n−i + 1)) is used, and it is possible to estimate the life or strength D _i of the lot of the test object from the test result without using random numbers, high calculation accuracy, and reduction of stochastic error. And the calculation time is short, and the computer is not occupied as in the prior art.

この解釈方法において、上記寿命または強度の累積分布関数が、正規分布の関数であっても、また対数正規分布の関数や、ワイブル分布の関数であっても良い。機械部品やその素材等の寿命や強度は、正規分布、対数正規分布、ワイブル分布の関数に従うため、試験対象物の寿命や強度の特性を示す関数として上記の各関数を用いることにより、試験結果から試験対象品のロットの寿命または強度Ｄ_i を精度良く見積もることができる。 In this interpretation method, the cumulative distribution function of life or intensity may be a normal distribution function, a log normal distribution function, or a Weibull distribution function. The life and strength of mechanical parts and their materials follow the functions of normal distribution, lognormal distribution, and Weibull distribution. Thus, it is possible to accurately estimate the life or strength D _i of the lot of the test object.

この解釈方法においても、上記打切り試験が、目標とする打切り寿命まで破損しなければ、要求する寿命または強度を満足すると判定する疲労試験の場合、上記ワイブル分布の式（1A）を反映させた式(2D)，(2E)を用い、試験結果から試験対象品のロットの寿命または強度Ｄ_i を精度良く見積もることができる。

ただし、
未破損データの寿命または強度（すなわち、試験対象品のロットの寿命または強度）
：Ｄ_i （ｉ＝１，２，３…、：ｎ個中１，２，３…番目に短い寿命または強度）、
破損データの寿命または強度：Ｅ_i （ｉ＝１，２，３…、：ｎ個中１，２，３…番目に破損した寿命または強度）、
信頼度：Ｒ、
試験個数：ｎ、
である。 Also in this interpretation method, in the case of a fatigue test in which it is determined that the above-mentioned censoring test does not break to the target censoring life and satisfies the required life or strength, the formula reflecting the above-mentioned Weibull distribution formula (1A) Using (2D) and (2E), it is possible to accurately estimate the lot life or strength D _i of the lot to be tested from the test results.

However,
Lifetime or strength of undamaged data (ie, lot life or strength of the product under test)
: D _i (i = 1, 2, 3...: 1, 2, 3 ... nth shortest life or strength),
Life or strength of damaged data: E _i (i = 1, 2, 3...: 1, 2, 3...
Reliability: R,
Number of tests: n
It is.

この発明の打切り寿命および強度試験における試験の解釈装置は、
目標とする打切り寿命または打切り強度まで破損しなければ、要求する寿命または強度を満足すると判定する打切り試験において、一部の試験対象品が破損し残りの試験対象品が破損していない場合に、試験結果から、試験対象品のロットの寿命または強度Ｄ_i を見積もる装置であって、
定められた各項目の内容となる情報の入力を促す画面を表示装置２の画面に出力する入力促し画面出力手段６Ｃと、上記各項目の入力された情報を入力情報記憶手段８Ｃに記憶させる入力処理手段７Ｃと、上記入力情報記憶手段に記憶された情報を用い、定められた計算式に従って、上記の寿命または強度Ｄ_i を上記コンピュータで計算する回答演算処理手段９Ｃとを含み、
上記回答演算処理手段９Ｃでは、上記定められた計算式として、次式
Ｄ_i ＝Ｇ^-1（Ｂ^-1（Ｒ，ｉ，ｎ−ｉ＋１））
Ｅ_i ＝Ｇ^-1（Ｂ^-1（１−Ｒ，ｉ，ｎ−ｉ＋１））
を用い、
ここで、
未破損データの寿命または強度（すなわち、試験対象品のロットの寿命または強度）
：Ｄ_i （ｉ＝１，２，３…、：ｎ個中１，２，３…番目に短い寿命または強度）、
破損データの寿命または強度 ：Ｅ_i （ｉ＝１，２，３…、：ｎ個中１，２，３…番目に破損した寿命または強度）、
寿命または強度の累積分布関数の逆関数：Ｇ^-1（ｘ）、
ベータ分布関数の累積分布関数の逆関数：Ｂ^-1（Ｒ，ｉ，ｎ−ｉ＋１）、
Ｂ^-1（１−Ｒ，ｉ，ｎ−ｉ＋１）、
信頼度：Ｒ、試験個数：ｎ、
であり、
上記入力促し画面出力手段６Ｃで情報の入力を促す定められた各項目は、試験結果である破損データの寿命または強度Ｅ_i 、信頼度Ｒ、試験個数ｎ、および破損個数ｉ、並びに上記回答演算処理手段で用いる上記寿命または強度の累積分布関数の逆関数における未定の母数である、
ことを特徴とする。 The interpretation device of the test in the censored life and strength test of the present invention is:
If a part of the test target product is damaged and the rest of the test target product is not damaged in the test to determine that the required service life or strength is satisfied if the target test life or strength is not damaged, An apparatus for estimating the lot life or strength D _i of a test object lot from a test result,
An input prompt screen output means 6C for outputting a screen for prompting input of information as the contents of each determined item to the screen of the display device 2, and an input for storing the input information of each item in the input information storage means 8C Processing means 7C, and answer calculation processing means 9C for calculating the life or strength D _i by the computer according to a predetermined calculation formula using information stored in the input information storage means,
In the answer calculation processing means 9C, the following formula D _i = G ⁻¹ (B ⁻¹ (R, i, n−i + 1))
E _i = G ⁻¹ (B ⁻¹ (1−R, i, n−i + 1))
Use
here,
Lifetime or strength of undamaged data (ie, lot life or strength of the product under test)
: D _i (i = 1, 2, 3...: 1, 2, 3 ... nth shortest life or strength),
Life or strength of damaged data: E _i (i = 1, 2, 3...: Life time or strength of 1, 2, 3,.
Inverse function of cumulative distribution function of life or strength: G ⁻¹ (x),
Inverse function of cumulative distribution function of beta distribution function: B ⁻¹ (R, i, n−i + 1),
B ^-1 (1-R, i, n-i + 1),
Reliability: R, Number of tests: n,
And
The predetermined items for prompting input of information by the input prompting screen output means 6C are the life or strength E _i of the damaged data as the test result, the reliability R, the number of tests n, the number of damages i, and the answer calculation. It is an undetermined parameter in the inverse function of the cumulative distribution function of the lifetime or intensity used in the processing means.
It is characterized by that.

この解釈装置によると、上記の計算式、Ｄ_i ＝Ｇ^-1（Ｂ^-1（Ｒ，ｉ，ｎ−ｉ＋１））、およびＥ_i ＝Ｇ^-1（Ｂ^-1（１−Ｒ，ｉ，ｎ−ｉ＋１））を用いるため、試験結果から、試験対象品のロットの寿命または強度Ｄ_i を見積もるにつき、乱数を用いなくても可能にでき、計算精度が高く、確率的誤差を低減させることができ、かつ計算時間が短くて済み、従来のように計算機を占有することがない。 According to this interpretation device, the above formulas, D _i = G ⁻¹ (B ⁻¹ (R, i, ni + 1)), and E _i = G ⁻¹ (B ⁻¹ (1−R, i, n−i + 1)) is used, and it is possible to estimate the life or strength D _i of the lot of the test object from the test result without using random numbers, high calculation accuracy, and reduction of stochastic error. And the calculation time is short, and the computer is not occupied as in the prior art.

この発明の打切り寿命および強度試験における試験の解釈プログラム１４は、
コンピュータで実行可能なプログラムであって、
目標とする打切り寿命または打切り強度まで破損しなければ、要求する寿命または強度を満足すると判定する打切り試験において、一部の試験対象品が破損し残りの試験対象品が破損していない場合に、試験結果から、試験対象品のロットの寿命または強度Ｄ_i を見積もるプログラムであって、
定められた各項目の内容となる情報の入力を促す画面を表示装置の画面に出力する入力促し画面出力手順（Ｗ１）と、上記各項目の入力された情報を入力情報記憶手段に記憶させる入力処理手順（Ｗ２）と、上記入力情報記憶手段に記憶された情報を用い、定められた計算式に従って、上記の寿命または強度Ｄ_i を上記コンピュータで計算する回答演算処理手順（Ｗ３）とを含み、
上記回答演算処理手順（Ｗ３）では、上記定められた計算式として、次式
Ｄ_i ＝Ｇ^-1（Ｂ^-1（Ｒ，ｉ，ｎ−ｉ＋１））
Ｅ_i ＝Ｇ^-1（Ｂ^-1（１−Ｒ，ｉ，ｎ−ｉ＋１））
を用い、
ここで、
未破損データの寿命または強度（すなわち、試験対象品のロットの寿命または強度）
：Ｄ_i （ｉ＝１，２，３…、：ｎ個中１，２，３…番目に短い寿命または強度）、
破損データの寿命または強度 ：Ｅ_i （ｉ＝１，２，３…、：ｎ個中１，２，３…番目に破損した寿命または強度）、
寿命または強度の累積分布関数の逆関数：Ｇ^-1（ｘ）、
ベータ分布関数の累積分布関数の逆関数：Ｂ^-1（Ｒ，ｉ，ｎ−ｉ＋１）、
Ｂ^-1（１−Ｒ，ｉ，ｎ−ｉ＋１）、
信頼度：Ｒ、試験個数：ｎ、
であり、
上記入力促し画面出力手順（Ｗ１）で情報の入力を促す定められた各項目は、試験結果である破損データの寿命または強度Ｅ_i 、信頼度Ｒ、試験個数ｎ、および破損個数ｉ、並びに上記回答演算処理手順で用いる上記寿命または強度の累積分布関数の逆関数における未定の母数である、
ことを特徴とする。 The test interpretation program 14 in the censored life and strength test of the present invention is:
A program executable on a computer,
In the censoring test that determines that the required service life or strength is satisfied if the product is not damaged to the target censoring life or censoring strength, when some of the test target products are damaged and the remaining test target products are not damaged, A program for estimating the lot life or strength D _i of a test object lot from a test result,
An input prompt screen output procedure (W1) for outputting a screen for prompting input of information as contents of each defined item to the screen of the display device, and an input for storing the input information of each item in the input information storage means A processing procedure (W2) and an answer calculation processing procedure (W3) that uses the information stored in the input information storage means and calculates the life or strength D _i by the computer according to a predetermined calculation formula. ,
In the answer calculation processing procedure (W3), the following formula D _i = G ⁻¹ (B ⁻¹ (R, i, n−i + 1))
E _i = G ⁻¹ (B ⁻¹ (1−R, i, n−i + 1))
Use
here,
Lifetime or strength of undamaged data (ie, lot life or strength of the product under test)
: D _i (i = 1, 2, 3...: 1, 2, 3 ... nth shortest life or strength),
Life or strength of damaged data: E _i (i = 1, 2, 3...: Life time or strength of 1, 2, 3,.
Inverse function of cumulative distribution function of life or strength: G ⁻¹ (x),
Inverse function of cumulative distribution function of beta distribution function: B ⁻¹ (R, i, n−i + 1),
B ^-1 (1-R, i, n-i + 1),
Reliability: R, Number of tests: n,
And
The specified items that prompt the input of information in the input prompting screen output procedure (W1) are the life or strength E _i of the damaged data as the test result, the reliability R, the number of tests n, the number of damaged i, and the above It is an undetermined parameter in the inverse function of the cumulative distribution function of the above life or strength used in the answer calculation processing procedure.
It is characterized by that.

第４の設計プログラムによると、上記の計算式、Ｄ_i ＝Ｇ^-1（Ｂ^-1（Ｒ，ｉ，ｎ−ｉ＋１））、およびＥ_i ＝Ｇ^-1（Ｂ^-1（１−Ｒ，ｉ，ｎ−ｉ＋１））を用いるため、試験結果から、試験対象品のロットの寿命または強度Ｄ_i を見積もるにつき、乱数を用いなくても可能にでき、計算精度が高く、確率的誤差を低減させることができ、かつ計算時間が短くて済み、従来のように計算機を占有することがない。 According to the fourth design program, the above formulas, D _i = G ⁻¹ (B ⁻¹ (R, i, n−i + 1)), and E _i = G ⁻¹ (B ⁻¹ (1−R, i, n-i + 1)) is used to estimate the lot life or strength D _i of the lot under test from the test results, without using random numbers, high calculation accuracy, and reduction of stochastic errors. The calculation time is short and the computer is not occupied as in the conventional case.

この発明の第１の打切り寿命および強度試験における試験の設計方法、装置、プログラムは、目標とする打切り寿命または打切り強度まで破損しなければ、要求する寿命または強度を満足すると判定する打切り試験において、計算式として、Ａ_i ＝Ｇ^-1（Ｂ^-1（Ｒ，ｉ，ｎ−ｉ＋１））を用い、ただし寿命または強度の累積分布関数の逆関数：Ｇ^-1（ｘ）、ベータ分布関数の累積分布関数の逆関数：Ｂ^-1（Ｒ，ｉ，ｎ−ｉ＋１）とするため、打切り寿命・強度Ａ_i の設計について、乱数を用いなくても可能にでき、計算精度が高く、確率的誤差を低減させることができ、かつ計算時間が短くて済み、従来のように計算機を占有することがない。また、上記の計算式によるため、従来の最尤法を使った計算式により柔軟な対応が可能である。 The test design method, apparatus, and program in the first censored life and strength test of the present invention is a censored test for determining that the required life or strength is satisfied if it is not damaged to the target censored life or censor strength. As a calculation formula, A _i = G ⁻¹ (B ⁻¹ (R, i, n−i + 1)) is used, but the inverse function of the cumulative distribution function of life or strength: G ⁻¹ (x), of the beta distribution function Since the inverse function of the cumulative distribution function is B ⁻¹ (R, i, n−i + 1), the truncation life / strength A _i can be designed without using random numbers, the calculation accuracy is high, and the probability The error can be reduced, the calculation time is short, and the computer is not occupied as in the conventional case. Moreover, since it is based on said calculation formula, a flexible response | compatibility is possible by the calculation formula using the conventional maximum likelihood method.

この発明の第２の打切り寿命および強度試験における試験の設計方法、装置、プログラムは、目標とする打切り寿命または打切り強度まで破損しなければ、要求する寿命または強度を満足すると判定する打切り試験において、計算式として、Ａ_i ＝Ｇ^-1（Ｂ^-1（Ｒ，ｉ，ｎ−ｉ＋１））を用い、ただし、打切り寿命または打切り強度：Ａ_i 、寿命または強度の累積分布関数の逆関数：Ｇ^-1（ｘ）、ベータ分布関数の累積分布関数の逆関数：Ｂ^-1（Ｒ，ｉ，ｎ−ｉ＋１）とするため、試験個数の設計について、乱数を用いなくても可能にでき、計算精度が高く、確率的誤差を低減させることができ、かつ計算時間が短くて済み、従来のように計算機を占有することがない。また、上記の計算式によるため、従来の最尤法を使った計算式により柔軟な対応が可能である。 The test design method, apparatus, and program in the second censored life and strength test of the present invention, in a censored test that determines that the required life or strength is satisfied if it is not damaged to the target censored life or censored strength, As a calculation formula, A _i = G ⁻¹ (B ⁻¹ (R, i, n−i + 1)) is used, where censored life or censor strength: A _i , inverse function of cumulative distribution function of life or strength: G ⁻¹ (x), the inverse function of the cumulative distribution function of the beta distribution function: B ⁻¹ (R, i, n−i + 1), so that it is possible to design the number of tests without using random numbers and calculate The accuracy is high, the stochastic error can be reduced, the calculation time is short, and the computer is not occupied as in the prior art. Moreover, since it is based on said calculation formula, a flexible response | compatibility is possible by the calculation formula using the conventional maximum likelihood method.

この発明の第３の打切り寿命および強度試験における試験の設計方法、装置、プログラムは、目標とする打切り寿命または打切り強度まで破損しなければ、要求する寿命または強度を満足すると判定する打切り試験において、計算式として、Ｃ_i ＝Ｇ^-1（Ｂ^-1（１−Ｒ，ｉ，ｎ−ｉ＋１））を用い、ただし、試験中止基準の時間または強度：Ｃ_i 、寿命または強度の累積分布関数の逆関数：Ｇ^-1（ｘ）、ベータ分布関数の累積分布関数の逆関数：Ｂ^-1（Ｒ，ｉ，ｎ−ｉ＋１）とするため、試験結果から試験対象品のロットの寿命または強度Ｄ_i を見積もるにつき、乱数を用いなくても可能にでき、計算精度が高く、確率的誤差を低減させることができ、かつ計算時間が短くて済み、従来のように計算機を占有することがない。また、上記の計算式によるため、従来の最尤法を使った計算式により柔軟な対応が可能である。 The test design method, apparatus, and program in the third censored life and strength test of the present invention is a censored test that determines that the required life or strength is satisfied if it is not damaged to the target censored life or censor strength. As a calculation formula, C _i = G ⁻¹ (B ⁻¹ (1−R, i, n−i + 1)) is used, provided that the time or strength of the test stop criterion is C _i , the cumulative distribution function of the lifetime or strength. Since the inverse function is G ⁻¹ (x) and the inverse function of the cumulative distribution function of the beta distribution function is B ⁻¹ (R, i, n−i + 1), the life or strength D of the lot of the test object is determined from the test result. _The estimation of _i can be performed without using random numbers, the calculation accuracy is high, the stochastic error can be reduced, the calculation time is short, and the computer is not occupied as in the conventional case. Moreover, since it is based on said calculation formula, a flexible response | compatibility is possible by the calculation formula using the conventional maximum likelihood method.

この発明の打切り寿命および強度試験における試験の解釈方法、装置、プログラムは、目標とする打切り寿命または打切り強度まで破損しなければ、要求する寿命または強度を満足すると判定する打切り試験において、計算式として、Ｄ_i ＝Ｇ^-1（Ｂ^-1（Ｒ，ｉ，ｎ−ｉ＋１））、およびＥ_i ＝Ｇ^-1（Ｂ^-1（１−Ｒ，ｉ，ｎ−ｉ＋１））を用い、ただし、未破損データの寿命または強度：Ｄ_i 、破損データの寿命または強度：Ｅ_i 、寿命または強度の累積分布関数の逆関数：Ｇ^-1（ｘ）、ベータ分布関数の累積分布関数の逆関数：Ｂ^-1（Ｒ，ｉ，ｎ−ｉ＋１））、Ｂ^-1（１−Ｒ，ｉ，ｎ−ｉ＋１））とするため、試験結果から、試験対象品のロットの寿命または強度Ｄ_i を見積もるにつき、乱数を用いなくても可能にでき、計算精度が高く、確率的誤差を低減させることができ、かつ計算時間が短くて済み、従来のように計算機を占有することがない。また、上記の計算式によるため、従来の最尤法を使った計算式により柔軟な対応が可能である。 The interpretation method, apparatus, and program of the test in the censored life and strength test of the present invention are calculated as a calculation formula in the censored test that determines that the required service life or strength is satisfied if it does not break to the target censored life or censored strength. , D _i = G ⁻¹ (B ⁻¹ (R, i, n−i + 1)) and E _i = G ⁻¹ (B ⁻¹ (1−R, i, n−i + 1)), where Lifetime or strength of uncorrupted data: D _i , Lifetime or strength of damaged data: E _i , Inverse function of cumulative distribution function of life or strength: G ⁻¹ (x), Inverse function of cumulative distribution function of beta distribution function: B ⁻¹ (R, i, n−i + 1)) and B ⁻¹ (1−R, i, n−i + 1)), the life or strength D _i of the lot of the test object is estimated from the test result. Can be achieved without using random numbers, and the calculation accuracy is high. , It is possible to reduce the random error, and be short calculation time does not occupy the computer as in the prior art. Moreover, since it is based on said calculation formula, a flexible response | compatibility is possible by the calculation formula using the conventional maximum likelihood method.

この発明の第１の実施形態に係る打切り寿命および強度試験における試験の設計装置の概略ブロック図である。1 is a schematic block diagram of a test design apparatus in a censored life and strength test according to a first embodiment of the present invention. 同試験の設計装置の概念構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the conceptual structure of the design apparatus of the test. 同設計装置を用いた打切り寿命または打切り強度を求める試験の設計方法を示す流れ図である。It is a flowchart which shows the design method of the test | requirement which calculates | requires the truncation lifetime or truncation intensity | strength using the design apparatus. 同設計方法で打切り寿命または打切り強度を求める試験の設計プログラムを示す流れ図である。It is a flowchart which shows the design program of the test which calculates | requires truncation lifetime or truncation strength with the same design method. 同設計装置による入力促し画面例の説明図である。It is explanatory drawing of the example of an input prompt screen by the design apparatus. この発明の第２の実施形態に係る打切り寿命および強度試験における試験の設計装置の概略ブロック図である。It is a schematic block diagram of the test design apparatus in the censored life and strength test according to the second embodiment of the present invention. 同試験の設計装置の概念構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the conceptual structure of the design apparatus of the test. 同設計装置を用いて試験個数を求める試験の設計方法の流れ図である。It is a flowchart of the design method of the test which calculates | requires the number of tests using the design apparatus. 同設計方法で試験個数を求める試験の設計プログラムを示す流れ図である。It is a flowchart which shows the design program of the test which calculates | requires the number of tests with the design method. 同設計装置による入力促し画面例の説明図である。It is explanatory drawing of the example of an input prompt screen by the design apparatus. この発明の第３の実施形態に係る打切り寿命および強度試験における試験の設計装置の概略ブロック図である。It is a schematic block diagram of the test design apparatus in the censored life and strength test according to the third embodiment of the present invention. 同試験の設計装置の概念構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the conceptual structure of the design apparatus of the test. 同設計装置で試験中止基準を求める試験の設計方法の流れ図である。It is a flowchart of the design method of the test which calculates | requires a test cancellation reference | standard with the same design apparatus. 同設計方法で試験中止基準を求める試験の設計プログラムを示す流れ図である。It is a flowchart which shows the design program of the test | requirement which calculates | requires a test cancellation reference | standard with the same design method. 同設計装置による入力促し画面例の説明図である。It is explanatory drawing of the example of an input prompt screen by the design apparatus. この発明の第４の実施形態に係る打切り寿命および強度試験における試験の解釈装置の概略ブロック図である。It is a schematic block diagram of the interpretation device of the test in the censored life and strength test concerning a 4th embodiment of this invention. 同試験の解釈装置の概念構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the conceptual structure of the interpretation apparatus of the test. 同解釈装置で試験結果を解釈する試験の解釈方法の流れ図である。It is a flowchart of the interpretation method of the test which interprets a test result with the interpretation device. 同解釈方法で試験結果を解釈する試験の解釈プログラムを示す流れ図である。It is a flowchart which shows the interpretation program of the test which interprets a test result by the interpretation method. 同解釈装置による入力促し画面例の説明図である。It is explanatory drawing of the example of an input prompt screen by the interpretation apparatus. この発明の第５の実施形態に係る打切り寿命および強度試験における試験の設計・解釈装置の概略ブロック図である。It is a schematic block diagram of the design / interpretation device of the test in the censored life and strength test according to the fifth embodiment of the present invention. 同試験の設計・解釈装置の概念構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the conceptual structure of the design and interpretation apparatus of the test. 同設計・解釈装置で行う設計および解釈方法の流れ図である。It is a flowchart of the design and interpretation method performed with the design / interpretation device. 同設計・解釈方法を実施する試験の設計・解釈プログラムを示す流れ図である。It is a flowchart which shows the design / interpretation program of the test which implements the design / interpretation method. 各種パラメータを変更したときの全数打ち切り寿命の変化を比較して示すグラフである。It is a graph which compares and shows the change of the total truncation lifetime when various parameters are changed. 図２５の左上部分の拡大図である。It is an enlarged view of the upper left part of FIG. 図２５の左下部分の拡大図である。It is an enlarged view of the lower left part of FIG. 図２５の中央上部分の拡大図である。It is an enlarged view of the center upper part of FIG. 図２５の中央下部分の拡大図である。It is an enlarged view of the center lower part of FIG. 図２５の右側部分の拡大図である。It is an enlarged view of the right side part of FIG. 図２５の結果につき、Ｌｏｇ（ｔ₁ −γ）を縦軸、１／１ｅを横軸にした図である。FIG. 26 is a diagram in which Log (t ₁ −γ) is the vertical axis and 1 / 1e is the horizontal axis for the results of FIG. 破損データの確率密度関数とワイブル分布の累積分布関数（模式図、試験個数１の場合）の説明図である。It is explanatory drawing of the probability density function of damage data, and the cumulative distribution function of a Weibull distribution (schematic diagram, test number 1). ワイブル分布の累積分布関数Ｇ（ｘ）におけるＧ^-1（ｐ）との関係を示す図である。It is a figure which shows the relationship with G <^-1> (p) in the cumulative distribution function G (x) of a Weibull distribution. 破損データの累積分布関数とワイブル分布の累積分布関数（試験個数３の場合）を示す図である。It is a figure which shows the cumulative distribution function of damage data, and the cumulative distribution function of Weibull distribution (in the case of the test number 3). この発明で用いる式による全数打切り寿命と乱数シミュレーションで求めた全数打切り寿命の関係を示す図である。It is a figure which shows the relationship between the total truncation lifetime by the formula used by this invention, and the total truncation lifetime calculated | required by random number simulation. この発明の式で用いた全数打切り寿命と最尤法で求めた全数打切り寿命の関係を示す図である。It is a figure which shows the relationship between the total truncation lifetime used by the formula of this invention, and the total truncation lifetime calculated | required by the maximum likelihood method. ワイブル分布を示す説明図である。It is explanatory drawing which shows a Weibull distribution. 試験個数と全数打切り寿命の関係を示すグラフである。It is a graph which shows the relationship between a test number and the whole number censoring lifetime. ＳＮ曲線の例を示すグラフである。It is a graph which shows the example of SN curve. 図３９の応力振幅７８６ＭＰａにおける寿命データのワイブルプロットを示すグラフである。It is a graph which shows the Weibull plot of the lifetime data in the stress amplitude of 786 MPa of FIG. 各応力振幅に対して全数打切り寿命を信頼度９０％で計算した結果のグラフである。It is a graph of the result of having calculated all the truncation lifetime with 90% reliability with respect to each stress amplitude.

この発明の第１の実施形態を説明する。この打切り寿命および強度試験における試験の設計方法は、軸受等の試験対象物を所定の使用環境条件におき、目標時間である打切り時間まで破損することなく試験が継続すれば、要求寿命を満足すると判断する打切り試験（以下、単に「打切り試験」と称す）につき、上記打切り時間を見積もる方法である。なお、軸受の他の機械部品やその試験片等の試験対象物の打切り試験における打切り時間を見積もる場合にも適用できる。
この実施形態の打切り寿命および強度試験における試験の設計方法は、例えば、一つのロットの試験対象物（例えば軸受）の中から一部の試験対象物を抜き取って打切り寿命試験を行い、そのロットの寿命を確認する試験等において、打切り時間または打切り強度を定める場合に適用される。 A first embodiment of the present invention will be described. The test design method in this censored life and strength test is that if the test object such as a bearing is placed in a predetermined use environment condition and the test continues without damage until the censored time, which is the target time, the required life is satisfied. This is a method of estimating the above-mentioned censoring time for a censoring test to be judged (hereinafter simply referred to as “censoring test”). Note that the present invention can also be applied to the case where the cutting time in a cutting test of a test object such as another mechanical part of a bearing or its test piece is estimated.
The test design method in the crush life and strength test of this embodiment is, for example, that a part of test objects are extracted from a test object (for example, a bearing) of one lot and a censor life test is performed. This is applied when determining the censoring time or censoring strength in a test for confirming the service life.

以下、この実施形態を図１ないし図５と共に説明する。なお、同実施形態で用いる計算式の導出については、後に図２５〜図３７と共に説明する。
この打切り寿命および強度試験における試験の設計方法は、図１に示すコンピュータ１に、試験の設計プログラム１１を実行させることで行う。コンピュータ１はパーソナルコンピュータ等からなり、中央処理装置４およびメモリ５を有し、所定のオペレーションシステムによって動作するものである。コンピュータ１には、液晶表示装置等の画面によって表示可能な表示装置２と、キーボードやマウス等の入力装置３が接続され、あるいは付属して設けられている。コンピュータ１、表示装置２、入力装置３、および設計プログラム６により、図２に各機能達成手段をブロックで示した打切り寿命および強度試験の設計装置が構成される。同図の試験の設計装置の構成については、後に説明する。
設計プログラム１１は、コンピュータ１で実行可能なプログラムであって、目標とする打切り寿命または打切り強度まで破損しなければ、要求する寿命または強度を満足すると判定する打切り試験において、上記の目標とする打切り寿命または打切り強度を定めるプログラムであり、図４に流れ図で示す手順を備える。 Hereinafter, this embodiment will be described with reference to FIGS. The derivation of the calculation formula used in the embodiment will be described later with reference to FIGS.
The test design method in this censored life and strength test is performed by causing the computer 1 shown in FIG. 1 to execute the test design program 11. The computer 1 is composed of a personal computer or the like, has a central processing unit 4 and a memory 5, and operates by a predetermined operation system. The computer 1 is provided with a display device 2 that can be displayed on a screen such as a liquid crystal display device and an input device 3 such as a keyboard and a mouse. The computer 1, display device 2, input device 3, and design program 6 constitute a censored life and strength test design device in which each function achievement means is shown as a block in FIG. 2. The configuration of the test design apparatus shown in FIG.
The design program 11 is a program that can be executed by the computer 1, and the above-mentioned target censoring is performed in a censoring test that determines that the required life or strength is satisfied if it is not damaged to the target censoring life or censoring strength. This program determines the life or truncation strength, and includes the procedure shown in the flowchart in FIG.

この試験の設計方法は、図２に示すように、コンピュータ１に対して、定められた各項目の内容となる情報を入力する入力過程（Ｐ１）と、この入力過程（Ｐ１）で入力された情報を用い、定められた計算式に従って、上記の目標とする打切り寿命または打切り強度Ａi を上記コンピュータ１で計算する回答演算処理過程（Ｐ２）と、同コンピュータ１により表示装置２の画面やプリンタ等の出力装置（図示せず）に演算結果を出力する出力過程（Ｐ３）とからなる。   As shown in FIG. 2, the design method of this test is input to the computer 1 in an input process (P1) for inputting information as contents of each defined item, and this input process (P1). Using the information, in accordance with a predetermined calculation formula, an answer calculation processing step (P2) in which the computer 1 calculates the target censored life or censoring strength Ai, and the computer 1, the screen of the display device 2, a printer, etc. Output process (P3) for outputting the calculation result to the output device (not shown).

入力過程（Ｐ１）１は、図４の設計プログラム１１の入力促し画面出力手順（Ｑ１）および入力処理手順（Ｑ２）で実行する過程である。回答演算処理過程（Ｐ２）は、図４の回転演算処理手順（Ｑ３）で実行する過程である。出力過程（Ｐ３）は、図４の出力処理手順（Ｑ４）で実行する過程である。   The input process (P1) 1 is a process executed in the input prompt screen output procedure (Q1) and the input processing procedure (Q2) of the design program 11 of FIG. The answer calculation process (P2) is a process executed in the rotation calculation process procedure (Q3) of FIG. The output process (P3) is a process executed in the output processing procedure (Q4) of FIG.

図４において、設計プログラム１１は、入力促し画面出力手順（Ｑ１）と、入力処理手順（Ｑ２）と、回答演算処理手順（Ｑ３）と、出力処理手順（Ｑ４）とでなる。入力促し画面出力手順（Ｑ１）は、表示装置２の画面に、定められた各項目の内容となる情報の入力を促す手順であり、入力処理手順（Ｑ２）は上記各項目の入力された情報を入力情報記憶手段８に記憶させる手順であり、回答演算処理手順（Ｑ３）は、上記入力情報記憶手段８に記憶された情報を用い、定められた計算式に従って、上記の目標とする打切り寿命または打切り強度Ａ_i を上記コンピュータ１で計算する手順である。出力処理手順（Ｑ４）は、回答演算処理手順（Ｑ３）で計算された結果を、表示装置２の画面、またはコンピュータ１に接続されたプリンタ等の出力機器（図示せず）に出力させる手順である。 4, the design program 11 includes an input prompt screen output procedure (Q1), an input processing procedure (Q2), an answer calculation processing procedure (Q3), and an output processing procedure (Q4). The input prompting screen output procedure (Q1) is a procedure for prompting input of information that is the content of each defined item on the screen of the display device 2, and the input processing procedure (Q2) is the information input for each item. Is stored in the input information storage means 8, and the answer calculation processing procedure (Q3) uses the information stored in the input information storage means 8 and uses the information stored in the input information storage means 8 according to a predetermined calculation formula. Alternatively, the computer 1 calculates the truncation strength A _i . The output processing procedure (Q4) is a procedure for outputting the result calculated in the answer calculation processing procedure (Q3) to an output device (not shown) such as a printer connected to the screen of the display device 2 or the computer 1. is there.

回答演算処理手順（Ｑ３）は、上記定められた計算式として、次式
Ａ_i ＝Ｇ^-1（Ｂ^-1（Ｒ，ｉ，ｎ−ｉ＋１））
を用いる。この式の導出については後に説明する。
ここで、目標とする打切り寿命または打切り強度：Ａ_i （ｉ＝１，２，３…、Ａ_i はｉがそれぞれ０，１，２…個だけ破損した時の打切り寿命または打切り強度）、
寿命または強度の累積分布関数の逆関数：Ｇ^-1（ｘ）、
ベータ分布関数の累積分布関数の逆関数：Ｂ^-1（Ｒ，ｉ，ｎ−ｉ＋１）、信頼度：Ｒ、試験個数：ｎ、
である。 The answer calculation processing procedure (Q3) is the following formula: A _i = G ⁻¹ (B ⁻¹ (R, i, n−i + 1))
Is used. The derivation of this equation will be described later.
Here, the target cutting life or cutting strength: A _i (i = 1, 2, 3..., A _i is the cutting life or cutting strength when i is broken by 0, 1, 2,.
Inverse function of cumulative distribution function of life or strength: G ⁻¹ (x),
Inverse function of cumulative distribution function of beta distribution function: B ⁻¹ (R, i, n−i + 1), reliability: R, number of tests: n,
It is.

上記寿命または強度の累積分布関数の逆関数Ｇ^-1（ｘ）は、正規分布の逆関数であっても良く、また対数正規分布の逆関数や、ワイブル分布の逆関数であっても良い。機械部品やその素材等の寿命や強度は、正規分布、対数正規分布、ワイブル分布の関数に従うため、試験対象物の寿命や強度の特性を示す関数として上記の各関数を用いることにより、精度良く打切り寿命や打切り強度を設計することができる。 The inverse function G ⁻¹ (x) of the lifetime or intensity cumulative distribution function may be an inverse function of a normal distribution, an inverse function of a log normal distribution, or an inverse function of a Weibull distribution. The life and strength of machine parts and their materials follow the functions of normal distribution, log normal distribution, and Weibull distribution. The censoring life and censoring strength can be designed.

一般的な疲労試験であって、上記累積分布関数Ｇ（ｘ）がワイブル分布である場合、回答演算処理手順（Ｑ３）は、上記定められた計算式として、次式
Ａ_i ＝Ｇ^-1（Ｂ^-1（Ｒ，ｉ，ｎ−ｉ＋１））
を用いる代わり、次式(2A)を用いても良い。その理由は後に説明する。

ただし、
打切り寿命：Ａ_i （ｉ＝１，２，３…、Ａ_i はｉがそれぞれ０，１，２…個だけ破損した時の打切り寿命）、
ベータ分布関数の累積分布関数の逆関数：Ｂ^-1（Ｒ，ｉ，ｎ−ｉ＋１）、
形状母数：ｅ、尺度母数：α、位置母数：γ、信頼度：Ｒ、試験個数：ｎ、
である。 When the cumulative distribution function G (x) is a Weibull distribution in a general fatigue test, the answer calculation processing procedure (Q3) is expressed as the following formula: A _i = G ⁻¹ ( B ⁻¹ (R, i, n−i + 1))
Instead of using the following equation (2A) may be used. The reason will be explained later.

However,
Censoring life: A _i (i = 1, 2, 3..., A _i is censoring life when i is broken by 0, 1, 2,.
Inverse function of cumulative distribution function of beta distribution function: B ⁻¹ (R, i, n−i + 1),
Shape parameter: e, scale parameter: α, position parameter: γ, reliability: R, number of tests: n,
It is.

上記入力促し画面出力手順（Ｑ１）において、情報の入力を促す定められた各項目は、信頼度Ｒ、試験個数ｎ、および破損個数ｉ、並びに上記回答演算処理過程（Ｑ３）で用いる上記寿命または強度の累積分布関数の逆関数における未定の母数である。ここで未定の母数としたのは、上記寿命または強度の累積分布関数の逆関数における各母数は、上記の式の中で定められた固定の値としても良く、式の中で定められていない母数につき入力させる。信頼度Ｒおよび試験個数ｎも、固定の値として式中に定めておいても良い。   In the input prompting screen output procedure (Q1), the predetermined items that prompt the input of information are the reliability R, the number of tests n, the number of damages i, and the lifetime or the number used in the answer calculation process (Q3). It is an undetermined parameter in the inverse function of the cumulative distribution function of intensity. In this case, the undetermined parameter is that each parameter in the inverse function of the cumulative distribution function of the life or strength may be a fixed value determined in the above equation, or determined in the equation. Let's input for the parameter that is not. The reliability R and the number of tests n may also be defined in the formula as fixed values.

図５は、入力促し画面出力手順（Ｑ１）で表示する入力促し画面２ａの一例を示す。同図の例は、累積分布関数の逆関数Ｇ^-1（ｘ）をワイブル分布の逆関数であるとして、打切り時間を求める場合の例である。この画面では、情報の入力を促す定められた各項目の表示と、その項目の表示に隣接する矩形状の入力ボックスの表示とされ、または選択有無を入力させるボタンの表示とされている。入力ボックスには、数字等を入力する。この画面では、情報の入力を促す定められた各項目は、ワイブル分布の逆関数の母数のうち、ワイブルスロープ（換言すれば、形状母数）ｅと、試験個数ｎと、信頼度Ｒとしている。信頼度Ｒについては、Ｌ１０寿命かＬ５０寿命のいずれかを選択させ、かつその寿命時間を入力させる。寿命時間は、１回の負荷時間が定められている場合、負荷回数で示しても良い。上記ワイブル分布の逆関数の母数のうち、残りの母数である尺度母数αと、位置母数γは、固定の値とされ、ワイブル分布の逆関数を示す式中に定めている。破損個数ｉについては、全数未破損の場合の打切り時間・打切り強度を設計する場合は、ｉ＝０となる固定の値とする。一部の試験対象物に破損が生じた場合にも適用できるようにする場合は、ｉを１，２，３等の任意の値に固定値として定めておいても良く、また入力促し画面出力手順（Ｑ１）でｉの値の入力させるようにしても良い。 FIG. 5 shows an example of the input prompt screen 2a displayed in the input prompt screen output procedure (Q1). The example in the figure is an example in the case where the truncation time is obtained assuming that the inverse function G ⁻¹ (x) of the cumulative distribution function is the inverse function of the Weibull distribution. On this screen, each item that is urged to input information is displayed, a rectangular input box adjacent to the display of the item is displayed, or a button for inputting whether or not to select is displayed. Enter numbers in the input box. In this screen, each of the determined items that prompt the input of information includes a Weibull slope (in other words, a shape parameter) e, a test number n, and a reliability R among the parameters of the inverse function of the Weibull distribution. Yes. For reliability R, either L10 life or L50 life is selected, and the life time is input. The lifetime may be indicated by the number of loads when one load time is determined. Of the parameters of the inverse function of the Weibull distribution, the scale parameter α and the position parameter γ, which are the remaining parameters, are fixed values, and are defined in an equation indicating the inverse function of the Weibull distribution. The number of breakage i is a fixed value where i = 0 in the case of designing the cut-off time and cut-off strength when all the pieces are not broken. If it is possible to apply even when some test objects are damaged, i may be fixed to any value such as 1, 2, 3, etc. In step (Q1), the value of i may be input.

図３と共に、打切り寿命および強度試験における試験の設計装置につき説明する。この設計装置は、打切り試験において、上記の目標とする打切り寿命または打切り強度を定める設計装置であって、図１と共に説明したコンピュータ１と、このコンピュータ１で実行させる図４の前記設計プログラム１１とで構成され、図３に示す各機能手段を有するものとなる。
この設計装置は、入力促し画面出力手段６、入力処理手段７、入力情報記憶手段８、回答演算手段９、および結果出力手段１０を備える。入力情報記憶手段８は、メモリ５の一部の記憶領域一部となる。入力促し画面出力手段６は、設計プログラム１１の入力促し画面出力手順（Ｑ１）の処理を行う手段である。入力処理手段７は、入力処理手順（Ｑ２）の処理を行う手段であり、回答演算手段９は、回転演算処理手順（Ｑ３）の処理を行う手段である。結果出力手段１０は、出力処理手順（Ｑ４）の処理を行う手段である。 With reference to FIG. 3, a test design apparatus in the censoring life and strength test will be described. This design apparatus is a design apparatus that determines the above-mentioned target censoring life or censoring strength in a censoring test. The computer 1 described with FIG. 1 and the design program 11 of FIG. And having each functional means shown in FIG.
This design apparatus includes an input prompt screen output means 6, an input processing means 7, an input information storage means 8, an answer calculation means 9, and a result output means 10. The input information storage unit 8 is a part of the storage area of the memory 5. The input prompt screen output means 6 is a means for performing the input prompt screen output procedure (Q1) of the design program 11. The input processing means 7 is a means for performing the processing of the input processing procedure (Q2), and the answer calculation means 9 is a means for performing the processing of the rotation calculation processing procedure (Q3). The result output means 10 is a means for performing the processing of the output processing procedure (Q4).

各手段６〜１０の機能は、設計プログラム１１の各手順で説明した通りであるが、明確のために説明する。入力促し画面出力手段６は、定められた各項目の内容となる情報の入力を促す画面を表示装置の画面に出力する手段である。入力処理手段７は、上記各項目の入力された情報を入力情報記憶手段８に記憶させる手段である。回答演算処理手段９は、上記入力情報記憶手段８に記憶された情報を用い、定められた計算式に従って、上記の目標とする打切り寿命または打切り強度Ａ_i を上記コンピュータで計算する手段である。回答演算処理手段９では、上記定められた計算式として、次式
Ａ_i ＝Ｇ^-1（Ｂ^-1（Ｒ，ｉ，ｎ−ｉ＋１））
を用いる。この式の内容については、前述したとおりである。上記入力促し画面出力手段６で情報の入力を促す定められた各項目は、信頼度Ｒ、試験個数ｎ、および破損個数ｉ、並びに上記回答演算処理手段で用いる上記寿命または強度の累積分布関数の逆関数における未定の母数である。 The function of each means 6-10 is as described in each procedure of the design program 11, but will be described for the sake of clarity. The input prompting screen output means 6 is a means for outputting a screen prompting input of information as the contents of each defined item to the screen of the display device. The input processing means 7 is means for storing the input information of each item in the input information storage means 8. The answer calculation processing means 9 is means for calculating the above-mentioned target censored life or censoring intensity A _i by the computer according to a predetermined calculation formula using the information stored in the input information storage means 8. In the answer calculation processing means 9, the following formula A _i = G ⁻¹ (B ⁻¹ (R, i, n−i + 1))
Is used. The contents of this equation are as described above. The predetermined items prompting the input of information by the input prompting screen output means 6 are the reliability R, the number of tests n, the number of damages i, and the cumulative distribution function of the life or strength used in the answer calculation processing means. It is an undetermined parameter in the inverse function.

この実施形態の試験の設計方法、設計装置、および設計プログラム１１によると、上記の計算式Ａ_i ＝Ｇ^-1（Ｂ^-1（Ｒ，ｉ，ｎ−ｉ＋１））を用いるため、寿命または強度の累積分布関数の逆関数Ｇ^-1（ｘ）が定まっていれば、信頼度Ｒ、破損個数ｉを定めることで、打切り寿命または打切り強度Ａ_i と試験個数の関係が、後に図３８に示す例のように一義的に定まる。そのため、信頼度Ｒ、試験個数ｎ、および破損個数ｉを入力することにより、打切り寿命または打切り強度Ａ_i が求まる。このため、打切り試験の打切り寿命・強度の設計について、乱数を用いなくても可能にでき、計算精度が高く、確率的誤差を低減させることができ、かつ計算時間が短くて済み、従来のように計算機を占有することがない。また、また、上記の計算式によるため、従来の最尤法を使った計算式により柔軟な対応が可能である。 According to the test design method, design apparatus, and design program 11 of this embodiment, since the above formula A _i = G ⁻¹ (B ⁻¹ (R, i, n−i + 1)) is used, the lifetime or strength If the inverse function G ^-1 (x) of the cumulative distribution function is determined, the reliability R and the number i of fractures are determined, and the relationship between the censored life or censor strength A _i and the number of tests is shown in FIG. 38 later. It is uniquely determined as in the example. Therefore, by inputting the reliability R, the number of tests n, and the number of breaks i, the censored life or censor strength A _i can be obtained. For this reason, it is possible to design censoring life and strength for censoring tests without using random numbers, high calculation accuracy, reduction of stochastic errors, and short calculation time. Never occupy a computer. Moreover, since it is based on said calculation formula, a flexible response | compatibility is possible by the calculation formula using the conventional maximum likelihood method.

図６〜図１０は、第２の実施形態を示し、試験個数ｎを定める設計に用いる。この実施形態は、特に説明する事項の他は、図１〜図５と共に前述した第１の実施形態と同様である。この実施形態の打切り寿命および強度試験における試験の設計方法は、打切り試験において、コンピュータを用いて、試験個数ｎを定める設計方法である。   6 to 10 show a second embodiment, which is used for design for determining the number of tests n. This embodiment is the same as the first embodiment described above with reference to FIGS. The test design method in the abort life and strength test of this embodiment is a design method for determining the number n of tests using a computer in the abort test.

この設計方法は、図６に示すコンピュータ１に、試験の設計プログラム１２を実行させることで行う。コンピュータ１は、図１と共に前述したものである。設計プログラム１２は、コンピュータ１で実行可能なプログラムであって、打切り試験において、上記試験個数ｎを定めるプログラムであり、図４に流れ図で示す手順を備える。   This design method is performed by causing the computer 1 shown in FIG. 6 to execute a test design program 12. The computer 1 is the same as that described above with reference to FIG. The design program 12 is a program that can be executed by the computer 1, and is a program that determines the number of tests n in the abort test, and includes a procedure shown in a flowchart in FIG.

この試験方法は、図８に示すように、コンピュータ１に対して、定められた各項目の内容となる情報を入力する入力過程（Ｒ１）と、この入力過程（Ｒ１）で入力された情報を用い、定められた計算式に従って、上記試験個数ｎを上記コンピュータで計算する回答演算処理過程（Ｒ２）と、同コンピュータ１により表示装置２の画面やプリンタ等の出力装置（図示せず）に演算結果を出力する出力過程（Ｒ３）とからなる。   In this test method, as shown in FIG. 8, an input process (R1) for inputting information as contents of each defined item to the computer 1, and information input in the input process (R1) are input. In accordance with a predetermined calculation formula, an answer calculation process (R2) in which the number n of the tests is calculated by the computer, and an output device (not shown) such as a screen of the display device 2 or a printer is calculated by the computer 1 And an output process (R3) for outputting a result.

入力過程（Ｒ１）は、図９の設計プログラム１２の入力促し画面出力手順（Ｓ１）および入力処理手順（Ｓ２）で実行する過程である。回答演算処理過程（Ｒ２）は、図４の回転演算処理手順（Ｓ３）で実行する過程である。出力過程（Ｒ３）は、図４の出力処理手順Ｓ４で実行する過Ａである。   The input process (R1) is a process executed in the input prompt screen output procedure (S1) and the input processing procedure (S2) of the design program 12 of FIG. The answer calculation process (R2) is a process executed in the rotation calculation process procedure (S3) of FIG. The output process (R3) is an excess A executed in the output processing procedure S4 of FIG.

図９において、設計プログラム１２は、入力促し画面出力手順（Ｓ１）と、入力処理手順（Ｓ２）と、回答演算処理手順（Ｓ３）と、出力処理手順（Ｓ４）とでなる。入力促し画面出力手順（Ｓ１）は、表示装置２の画面に、定められた各項目の内容となる情報の入力を促す手順であり、入力処理手順（Ｓ２）は上記各項目の入力された情報を入力情報記憶手段８に記憶させる手順であり、回答演算処理手順（Ｓ３）は、上記入力情報記憶手段８に記憶された情報を用い、定められた計算式に従って、上記試験個数ｎを上記コンピュータ１で計算する手順である。出力処理手順（Ｓ４）は、回答演算処理手順（Ｓ３）で計算された結果を、表示装置２の画面、またはコンピュータ１に接続されたプリンタ等の出力機器（図示せず）に出力させる手順である。   9, the design program 12 includes an input prompt screen output procedure (S1), an input processing procedure (S2), an answer calculation processing procedure (S3), and an output processing procedure (S4). The input prompting screen output procedure (S1) is a procedure for prompting input of information that is the contents of each defined item on the screen of the display device 2, and the input processing procedure (S2) is the information input for each item described above. Is stored in the input information storage means 8, and the answer calculation processing procedure (S3) uses the information stored in the input information storage means 8 and uses the information stored in the input information storage means 8 to calculate the number n of the tests in the computer. This is the procedure to calculate in 1. The output processing procedure (S4) is a procedure for outputting the result calculated in the answer calculation processing procedure (S3) to an output device (not shown) such as a printer connected to the screen of the display device 2 or the computer 1. is there.

上記回答演算処理手順（Ｓ３）は、上記定められた計算式として、次式
Ａ_i ＝Ｇ^-1（Ｂ^-1（Ｒ，ｉ，ｎ−ｉ＋１））
を用る。
ここで、目標とする打切り寿命または打切り強度：Ａ_i （ｉ＝１，２，３…、Ａ_i はｉがそれぞれ０，１，２…個だけ破損した時の打切り寿命または打切り強度）、
寿命または強度の累積分布関数の逆関数：Ｇ^-1（ｘ）、
ベータ分布関数の累積分布関数の逆関数：Ｂ^-1（Ｒ，ｉ，ｎ−ｉ＋１）、信頼度：Ｒ、試験個数：ｎ、
である。 The answer calculation processing procedure (S3) has the following formula: A _i = G ⁻¹ (B ⁻¹ (R, i, n−i + 1))
Use.
Here, the target cutting life or cutting strength: A _i (i = 1, 2, 3..., A _i is the cutting life or cutting strength when i is broken by 0, 1, 2,.
Inverse function of cumulative distribution function of life or strength: G ⁻¹ (x),
Inverse function of cumulative distribution function of beta distribution function: B ⁻¹ (R, i, n−i + 1), reliability: R, number of tests: n,
It is.

上記寿命または強度の累積分布関数の逆関数Ｇ^-1（ｘ）は、正規分布の逆関数であっても良く、また対数正規分布の逆関数や、ワイブル分布の逆関数であっても良い。機械部品やその素材等の寿命や強度は、正規分布、対数正規分布、ワイブル分布の関数に従うため、試験対象物の寿命や強度の特性を示す関数として上記の各関数を用いることにより、精度良く打切り寿命や打切り強度を設計することができる。 The inverse function G ⁻¹ (x) of the lifetime or intensity cumulative distribution function may be an inverse function of a normal distribution, an inverse function of a log normal distribution, or an inverse function of a Weibull distribution. The life and strength of machine parts and their materials follow the functions of normal distribution, log normal distribution, and Weibull distribution. The censoring life and censoring strength can be designed.

一般的な疲労試験であって、上記累積分布関数Ｇ（ｘ）がワイブル分布である場合、回答演算処理手順（Ｓ３）は、上記定められた計算式として、次式
Ａ_i ＝Ｇ^-1（Ｂ^-1（Ｒ，ｉ，ｎ−ｉ＋１））
を用いる代わり、次式(2A)を用いても良い。その理由は後に説明する。

ただし、
打切り寿命：Ａ_i （ｉ＝１，２，３…、Ａ_i はｉがそれぞれ０，１，２…個だけ破損した時の打切り寿命）、
ベータ分布関数の累積分布関数の逆関数：Ｂ^-1（Ｒ，ｉ，ｎ−ｉ＋１）、
形状母数：ｅ、尺度母数：α、位置母数：γ、信頼度：Ｒ、試験個数：ｎ、
である。 In a general fatigue test, when the cumulative distribution function G (x) is a Weibull distribution, the answer calculation processing procedure (S3) uses the following formula: A _i = G ⁻¹ ( B ⁻¹ (R, i, n−i + 1))
Instead of using the following equation (2A) may be used. The reason will be explained later.

However,
Censoring life: A _i (i = 1, 2, 3..., A _i is censoring life when i is broken by 0, 1, 2,.
Inverse function of cumulative distribution function of beta distribution function: B ⁻¹ (R, i, n−i + 1),
Shape parameter: e, scale parameter: α, position parameter: γ, reliability: R, number of tests: n,
It is.

上記入力促し画面出力手順（Ｓ１）で情報の入力を促す定められた各項目は、目標とする打切り寿命または打切り強度Ａ_i 、信頼度Ｒ、および破損個数ｉ、並びに上記回答演算処理手順（Ｓ３）で用いる上記寿命または強度の累積分布関数の逆関数における未定の母数である。 Each item determined to prompt the input of information in the input prompting screen output procedure (S1) includes the target censoring life or censoring strength A _i , the reliability R, the number of breakage i, and the answer calculation processing procedure (S3). ) Is an undetermined parameter in the inverse function of the cumulative distribution function of the lifetime or strength used in (1).

図１０は、入力促し画面出力手順（Ｓ１）で表示する入力促し画面２ａの一例を示す。同図の例は、累積分布関数の逆関数Ｇ^-1（ｘ）をワイブル分布の逆関数であるとして、試験個数を求める場合の例である。この画面では、情報の入力を促す定められた各項目の表示と、その項目の表示に隣接する矩形状の入力ボックスの表示とされ、または選択有無を入力させるボタンの表示とされている。入力ボックスには、数字等を入力する。この画面では、情報の入力を促す定められた各項目は、ワイブル分布の逆関数の母数のうち、ワイブルスロープ（換言すれば、形状母数）ｅと、打切り時間Ａ_i と、信頼度Ｒとしている。信頼度Ｒについては、Ｌ１０寿命かＬ５０寿命のいずれかを選択させ、かつその寿命時間を入力させる。寿命時間は、１回の負荷時間が定められている場合、負荷回数で示しても良い。上記ワイブル分布の逆関数の母数のうち、残りの母数である尺度母数αと、位置母数γは、固定の値とされ、ワイブル分布の逆関数を示す式中に定めている。破損個数ｉについては、打切り時間Ａ_i の値として定められる。全数未破損の場合の打切り時間・打切り強度を設計する場合は、ｉ＝０、すなわち打切り時間Ａ_i ＝Ａ₀ となる値を入力する。一部の試験対象物に破損が生じた場合にも適用できるようにする場合は、Ａ₁ ，Ａ₂ ，…等の値を打切り時間として入力する。 FIG. 10 shows an example of the input prompt screen 2a displayed in the input prompt screen output procedure (S1). The example in the figure is an example in which the number of tests is obtained assuming that the inverse function G ⁻¹ (x) of the cumulative distribution function is the inverse function of the Weibull distribution. On this screen, each item that is urged to input information is displayed, a rectangular input box adjacent to the display of the item is displayed, or a button for inputting whether or not to select is displayed. Enter numbers in the input box. In this screen, the predetermined items that prompt the input of information are the Weibull slope (in other words, the shape parameter) e, the censoring time A _i, and the reliability R among the parameters of the inverse function of the Weibull distribution. It is said. For reliability R, either L10 life or L50 life is selected, and the life time is input. The lifetime may be indicated by the number of loads when one load time is determined. Of the parameters of the inverse function of the Weibull distribution, the scale parameter α and the position parameter γ, which are the remaining parameters, are fixed values, and are defined in an equation indicating the inverse function of the Weibull distribution. The number of breakage i is determined as the value of the cutoff time A _i . When designing the censoring time and censoring strength when all the parts have not been damaged, a value that satisfies i = 0, that is, censoring time A _i = A ₀ is input. When it is possible to apply even when a part of the test object is damaged, values such as A ₁ , A ₂ ,.

図７と共に、打切り寿命および強度試験における試験の設計装置につき説明する。この設計装置は、打切り試験において、上記試験個数ｎを定める設計装置であって、図６と共に説明したコンピュータ１と、このコンピュータ１で実行させる図９の前記設計プログラム１２とで構成され、図７に示す各機能手段を有するものとなる。
この設計装置は、入力促し画面出力手段６Ａ、入力処理手段７Ａ、入力情報記憶手段８Ａ、回答演算手段９Ａ、および結果出力手段１０を備える。入力情報記憶手段８Ａは、メモリ５の一部の記憶領域一部となる。入力促し画面出力手段６Ａは、設計プログラム１２の入力促し画面出力手順（Ｓ１）の処理を行う手段である。入力処理手段７Ａは、入力処理手順（Ｓ２）の処理を行う手段であり、回答演算手段９Ａは、回転演算処理手順（Ｓ３）の処理を行う手段である。結果出力手段１０は、出力処理手順（Ｑ４）の処理を行う手段である。 With reference to FIG. 7, a test design apparatus in the censoring life and strength test will be described. This design apparatus is a design apparatus for determining the number of tests n in the abort test, and includes the computer 1 described with reference to FIG. 6 and the design program 12 of FIG. 9 executed by the computer 1. Each functional means shown in FIG.
This design apparatus includes an input prompt screen output means 6A, an input processing means 7A, an input information storage means 8A, an answer calculation means 9A, and a result output means 10. The input information storage unit 8 </ b> A becomes a part of a storage area of the memory 5. The input prompt screen output means 6A is a means for performing the input prompt screen output procedure (S1) of the design program 12. The input processing means 7A is means for performing the processing of the input processing procedure (S2), and the answer calculation means 9A is means for performing the processing of the rotation calculation processing procedure (S3). The result output means 10 is a means for performing the processing of the output processing procedure (Q4).

各手段６Ａ〜９Ａ，１０の機能は、設計プログラム１２の各手順で説明した通りであるが、明確のために説明する。入力促し画面出力手段６Ａは、定められた各項目の内容となる情報の入力を促す画面を表示装置の画面に出力する手段である。入力処理手段７Ａは、上記各項目の入力された情報を入力情報記憶手段８Ａに記憶させる手段である。回答演算処理手段９Ａは、上記入力情報記憶手段８Ａに記憶された情報を用い、定められた計算式に従って、上記試験個数ｎを上記コンピュータ１で計算する手段である。回答演算処理手段９Ａでは、上記定められた計算式として、次式
Ａ_i ＝Ｇ^-1（Ｂ^-1（Ｒ，ｉ，ｎ−ｉ＋１））
を用いる。この式の内容については、前述したとおりである。上記入力促し画面出力手段６Ａで情報の入力を促す定められた各項目は、信頼度Ｒおよび打切り時間Ａ_i 並びに上記回答演算処理手段で用いる上記寿命または強度の累積分布関数の逆関数における未定の母数、例えばワイブルスロープ（形状母数）ｅである。 The function of each means 6A-9A, 10 is as described in each procedure of the design program 12, but will be described for the sake of clarity. The input prompting screen output means 6A is a means for outputting a screen for prompting input of information as the contents of each defined item to the screen of the display device. The input processing means 7A is means for storing the input information of each item in the input information storage means 8A. The answer calculation processing means 9A is means for calculating the number of tests n by the computer 1 according to a predetermined calculation formula using information stored in the input information storage means 8A. In the answer calculation processing means 9A, the following formula A _i = G ⁻¹ (B ⁻¹ (R, i, n−i + 1))
Is used. The contents of this equation are as described above. The predetermined items that prompt the input of information by the input prompting screen output means 6A are undefined in the inverse function of the reliability R and the truncation time A _i and the cumulative distribution function of the life or strength used in the answer calculation processing means. The parameter is a Weibull slope (shape parameter) e.

第２の実施形態の試験の設計方法、設計装置、および設計プログラム１２によると、上記の計算式Ａ_i ＝Ｇ^-1（Ｂ^-1（Ｒ，ｉ，ｎ−ｉ＋１））を用いるため、寿命または強度の累積分布関数の逆関数Ｇ^-1（ｘ）が定まっていれば、信頼度Ｒ、破損個数ｉを定めることで、打切り寿命または打切り強度Ａ_i と試験個数の関係が、後に図３８に示す例のように一義的に定まる。そのため、信頼度Ｒ、試験個数ｎ、および破損個数ｉを入力することにより、打切り寿命または打切り強度Ａ_i が求まる。このため、打切り試験の試験個数ｎの設計について、乱数を用いなくても可能にでき、計算精度が高く、確率的誤差を低減させることができ、かつ計算時間が短くて済み、従来のように計算機を占有することがない。また、また、上記の計算式によるため、従来の最尤法を使った計算式により柔軟な対応が可能である。 According to the test design method, design apparatus, and design program 12 of the second embodiment, the above formula A _i = G ⁻¹ (B ⁻¹ (R, i, n−i + 1)) is used. Alternatively, if the inverse function G ⁻¹ (x) of the cumulative distribution function of the strength is determined, the relationship between the censored life or censored strength A _i and the number of tests is determined later by determining the reliability R and the number of breakage i. It is uniquely determined like the example shown in Therefore, by inputting the reliability R, the number of tests n, and the number of breaks i, the censored life or censor strength A _i can be obtained. For this reason, it is possible to design the number n of censorship tests without using random numbers, high calculation accuracy, reduction of stochastic errors, and short calculation time. The computer is not occupied. Moreover, since it is based on said calculation formula, a flexible response | compatibility is possible by the calculation formula using the conventional maximum likelihood method.

図１１〜図１５は、第３の実施形態を示し、中止判断基準を定める設計に用いる。この実施形態は、特に説明する事項の他は、図１〜図５と共に前述した第１の実施形態と同様である。この実施形態の打切り寿命および強度試験における試験の設計方法は、打切り試験において、コンピュータを用いて、中止判断基準となる試験継続時間または強度Ｃ_i を定める設計方法である。 FIGS. 11 to 15 show a third embodiment, which is used for a design for determining a cancellation determination criterion. This embodiment is the same as the first embodiment described above with reference to FIGS. The test design method in the censored life and strength test of this embodiment is a design method that uses a computer to determine the test duration or strength C _i that serves as a criterion for discontinuation in the censor test.

この設計方法は、図１１に示すコンピュータ１に、試験の設計プログラム１３を実行させることで行う。コンピュータ１は、図１と共に前述したのものである。設計プログラム１３は、コンピュータ１で実行可能なプログラムであって、打切り試験において、中止判断基準となる時間（試験継続時間）Ｃ_i または強度を定めるプログラムであり、図１４に流れ図で示す手順を備える。 This design method is performed by causing the computer 1 shown in FIG. 11 to execute a test design program 13. The computer 1 is the same as that described above with reference to FIG. Design program 13 is a program executable by a computer 1, the abort test, abort criterion become time (test duration) is a program for determining the C _i or strength, comprising the steps shown in the flowchart in FIG. 14 .

この試験方法は、図１３に示すように、コンピュータ１に対して、定められた各項目の内容となる情報を入力する入力過程（Ｔ１）と、この入力過程（Ｔ１）で入力された情報を用い、定められた計算式に従って、上記試験個数ｎを上記コンピュータで計算する回答演算処理過程（Ｔ２）と、同コンピュータ１により表示装置２の画面やプリンタ等の出力装置（図示せず）に演算結果を出力する出力過程（Ｔ３）とからなる。   In this test method, as shown in FIG. 13, an input process (T1) for inputting information as contents of each defined item to the computer 1, and information input in this input process (T1) In accordance with a predetermined calculation formula, an answer calculation process (T2) in which the number n of tests is calculated by the computer, and an output device (not shown) such as a screen of the display device 2 or a printer is calculated by the computer 1 And an output process (T3) for outputting a result.

入力過程（Ｔ１）は、図１４の設計プログラム１３の入力促し画面出力手順（Ｕ１）および入力処理手順（Ｕ２）で実行する過程である。回答演算処理過程（Ｔ２）は、図４の回転演算処理手順（Ｕ３）で実行する過程である。出力過程（Ｔ３）は、図１４の出力処理手順Ｕ４で実行する過程である。   The input process (T1) is a process executed in the input prompt screen output procedure (U1) and the input processing procedure (U2) of the design program 13 of FIG. The answer calculation process (T2) is a process executed in the rotation calculation process procedure (U3) of FIG. The output process (T3) is a process executed in the output processing procedure U4 of FIG.

図１４において、設計プログラム１３は、入力促し画面出力手順（Ｕ１）と、入力処理手順（Ｕ２）と、回答演算処理手順（Ｕ３）と、出力処理手順（Ｕ４）とでなる。入力促し画面出力手順（Ｕ１）は、表示装置２の画面に、定められた各項目の内容となる情報の入力を促す手順であり、入力処理手順（Ｕ２）は上記各項目の入力された情報を入力情報記憶手段８Ｂに記憶させる手順であり、回答演算処理手順（Ｕ３）は、上記入力情報記憶手段８Ｂに記憶された情報を用い、定められた計算式に従って、上記試験個数ｎを上記コンピュータ１で計算する手順である。出力処理手順（Ｕ４）は、回答演算処理手順（Ｕ３）で計算された結果を、表示装置２の画面、またはコンピュータ１に接続されたプリンタ等の出力機器（図示せず）に出力させる手順である。   14, the design program 13 includes an input prompt screen output procedure (U1), an input processing procedure (U2), an answer calculation processing procedure (U3), and an output processing procedure (U4). The input prompting screen output procedure (U1) is a procedure for prompting the screen of the display device 2 to input information that is the contents of each defined item, and the input processing procedure (U2) is the information input for each item described above. Is stored in the input information storage means 8B, and the answer calculation processing procedure (U3) uses the information stored in the input information storage means 8B and uses the information stored in the input information storage means 8B to determine the number of tests n as the computer. This is the procedure to calculate in 1. The output processing procedure (U4) is a procedure for outputting the result calculated in the answer calculation processing procedure (U3) to an output device (not shown) such as a printer connected to the screen of the display device 2 or the computer 1. is there.

上記回答演算処理手順（Ｕ３）は、上記定められた計算式として、次式
Ｃ_i ＝Ｇ^-1（Ｂ^-1（１−Ｒ，ｉ，ｎ−ｉ＋１））
を用る。この式の導出については、後に説明する。
ここで、試験中止基準の時間または強度：Ｃ_i （ｉ＝１，２，３…、Ｃ_i はｉがそれぞれ０，１，２…個だけ破損した時の試験中止基準の時間または強度）、
寿命または強度の累積分布関数の逆関数：Ｇ^-1（ｘ）、
ベータ分布関数の累積分布関数の逆関数：Ｂ^-1（１−Ｒ，ｉ，ｎ−ｉ＋１）、信頼度：Ｒ、試験個数：ｎ、
である。 The answer calculation processing procedure (U3) has the following formula: C _i = G ⁻¹ (B ⁻¹ (1−R, i, n−i + 1))
Use. The derivation of this equation will be described later.
Here, the time or strength of the test stop criteria: C _i (i = 1, 2, 3..., C _i is the test stop criteria time or strength when i is broken by 0, 1, 2,.
Inverse function of cumulative distribution function of life or strength: G ⁻¹ (x),
Inverse function of cumulative distribution function of beta distribution function: B ⁻¹ (1−R, i, n−i + 1), reliability: R, number of tests: n,
It is.

上記寿命または強度の累積分布関数の逆関数Ｇ^-1（ｘ）は、正規分布の逆関数であっても良く、また対数正規分布の逆関数や、ワイブル分布の逆関数であっても良い。機械部品やその素材等の寿命や強度は、正規分布、対数正規分布、ワイブル分布の関数に従うため、試験対象物の寿命や強度の特性を示す関数として上記の各関数を用いることにより、精度良く打切り寿命や打切り強度を設計することができる。 The inverse function G ⁻¹ (x) of the lifetime or intensity cumulative distribution function may be an inverse function of a normal distribution, an inverse function of a log normal distribution, or an inverse function of a Weibull distribution. The life and strength of machine parts and their materials follow the functions of normal distribution, log normal distribution, and Weibull distribution. The censoring life and censoring strength can be designed.

一般的な疲労試験であって、上記累積分布関数Ｇ（ｘ）がワイブル分布である場合、回答演算処理手順（Ｓ３）は、上記定められた計算式として、次式
Ｃ_i ＝Ｇ^-1（Ｂ^-1（１−Ｒ，ｉ，ｎ−ｉ＋１））
を用いる代わり、次式(2C)を用いても良い。その理由は後に説明する。

ただし、
試験中止基準の時間または強度：Ｃ_i （ｉ＝１，２，３…、Ｃ_i はｉがそれぞれ０，１，２…個だけ破損した時の試験中止基準の時間または強度）、
ベータ分布関数の累積分布関数の逆関数：Ｂ^-1（１−Ｒ，ｉ，ｎ−ｉ＋１）、
形状母数：ｅ、尺度母数：α、位置母数：γ、信頼度：Ｒ、試験個数：ｎ、
である。 In a general fatigue test, when the cumulative distribution function G (x) is a Weibull distribution, the answer calculation processing procedure (S3) uses the following formula C _i = G ⁻¹ ( B ^-1 (1-R, i, n-i + 1))
Instead of using the following equation (2C) may be used. The reason will be explained later.

However,
Test cancellation reference time or strength: C _i (i = 1, 2, 3..., C _i is the test cancellation reference time or strength when i is broken by 0, 1, 2,.
Inverse function of cumulative distribution function of beta distribution function: B ⁻¹ (1−R, i, n−i + 1),
Shape parameter: e, scale parameter: α, position parameter: γ, reliability: R, number of tests: n,
It is.

上記入力促し画面出力手順（Ｕ１）で情報の入力を促す定められた各項目は、信頼度Ｒ、試験個数ｎ、および破損個数ｉ、並びに上記回答演算処理手段で用いる上記寿命または強度の累積分布関数の逆関数における未定の母数である。   The predetermined items that prompt the input of information in the input prompting screen output procedure (U1) are the reliability R, the number of tests n, the number of damages i, and the cumulative distribution of the life or strength used in the answer calculation processing means. It is an undetermined parameter in the inverse function.

図１５は、入力促し画面出力手順（Ｕ１）で表示する入力促し画面２ａの一例を示す。同図の例は、累積分布関数の逆関数Ｇ^-1（ｘ）をワイブル分布の逆関数であるとして、中心判断基準となる試験継続時間を求める場合の例である。この画面では、情報の入力を促す定められた各項目の表示と、その項目の表示に隣接する矩形状の入力ボックスの表示とされ、または選択有無を入力させるボタンの表示とされている。入力ボックスには、数字等を入力する。この画面では、情報の入力を促す定められた各項目は、ワイブル分布の逆関数の母数のうち、ワイブルスロープ（換言すれば、形状母数）ｅと、試験個数ｎと、打切り時間Ａ_i と、信頼度Ｒと、この信頼度Ｒで得られる寿命Ａ_i としている。信頼度Ｒについては、Ｌ１０寿命かＬ５０寿命のいずれかを選択させる。打切り時間は、１回の負荷時間が定められている場合、負荷回数で示しても良い。上記ワイブル分布の逆関数の母数のうち、残りの母数である尺度母数αと、位置母数γは、固定の値とされ、ワイブル分布の逆関数を示す式中に定めている。破損個数ｉについては、打切り時間Ａ_i の値として定められる。全数未破損の場合の打切り時間・打切り強度を設計する場合は、ｉ＝０、すなわち打切り時間Ａ_i ＝Ａ₀ となる値を入力する。一部の試験対象物に破損が生じた場合にも適用できるようにする場合は、Ａ₁ ，Ａ₂ ，…等の値を打切り時間として入力する。 FIG. 15 shows an example of the input prompt screen 2a displayed in the input prompt screen output procedure (U1). The example in the figure is an example in the case where the test continuation time serving as a center determination criterion is obtained assuming that the inverse function G ⁻¹ (x) of the cumulative distribution function is an inverse function of the Weibull distribution. On this screen, each item that is urged to input information is displayed, a rectangular input box adjacent to the display of the item is displayed, or a button for inputting whether or not to select is displayed. Enter numbers in the input box. In this screen, the specified items that prompt the input of information are the Weibull slope (in other words, the shape parameter) e, the test number n, and the censoring time A _i among the parameters of the inverse function of the Weibull distribution. And the reliability R and the lifetime A _i obtained with this reliability R. For reliability R, either L10 life or L50 life is selected. The abort time may be indicated by the number of loads when one load time is determined. Of the parameters of the inverse function of the Weibull distribution, the scale parameter α and the position parameter γ, which are the remaining parameters, are fixed values, and are defined in an equation indicating the inverse function of the Weibull distribution. The number of breakage i is determined as the value of the cutoff time A _i . When designing the censoring time and censoring strength when all the parts have not been damaged, a value that satisfies i = 0, that is, censoring time A _i = A ₀ is input. When it is possible to apply even when a part of the test object is damaged, values such as A ₁ , A ₂ ,.

図１２と共に、打切り寿命および強度試験における試験の設計装置につき説明する。この設計装置は、打切り試験において、上記試験個数ｎを定める設計装置であって、図１１と共に説明したコンピュータ１と、このコンピュータ１で実行させる図１４の前記設計プログラム１３とで構成され、図１２に示す各機能手段を有するものとなる。
この設計装置は、入力促し画面出力手段６Ｂ、入力処理手段７Ｂ、入力情報記憶手段８Ｂ、回答演算手段９Ｂ、および結果出力手段１０を備える。入力情報記憶手段８Ｂは、メモリ５の一部の記憶領域一部となる。入力促し画面出力手段６Ｂは、設計プログラム１３の入力促し画面出力手順（Ｕ１）の処理を行う手段である。入力処理手段７Ｂは、入力処理手順（Ｕ２）の処理を行う手段であり、回答演算手段９Ｂは、回転演算処理手順（Ｕ３）の処理を行う手段である。結果出力手段１０は、出力処理手順（Ｑ４）の処理を行う手段である。 With reference to FIG. 12, a test design apparatus in the censoring life and strength test will be described. This design apparatus is a design apparatus for determining the number of tests n in the abort test, and is composed of the computer 1 described with FIG. 11 and the design program 13 of FIG. 14 executed by the computer 1. Each functional means shown in FIG.
This design apparatus includes an input prompt screen output means 6B, an input processing means 7B, an input information storage means 8B, an answer calculation means 9B, and a result output means 10. The input information storage unit 8B is a part of the storage area of the memory 5. The input prompt screen output means 6B is a means for performing the input prompt screen output procedure (U1) of the design program 13. The input processing means 7B is means for performing the processing of the input processing procedure (U2), and the answer calculation means 9B is means for performing the processing of the rotation arithmetic processing procedure (U3). The result output means 10 is a means for performing the processing of the output processing procedure (Q4).

各手段６Ｂ〜９Ｂ，１０の機能は、設計プログラム１３の各手順で説明した通りであるが、明確のために説明する。入力促し画面出力手段６Ｂは、定められた各項目の内容となる情報の入力を促す画面を表示装置の画面に出力する手段である。入力処理手段７Ｂは、上記各項目の入力された情報を入力情報記憶手段８Ｂに記憶させる手段である。回答演算処理手段９Ｂは、上記入力情報記憶手段８Ｂに記憶された情報を用い、定められた計算式に従って、上記試験個数ｎを上記コンピュータ１で計算する手段である。
回答演算処理手段９Ｂでは、上記定められた計算式として、次式
Ｃ_i ＝Ｇ^-1（Ｂ^-1（１−Ｒ，ｉ，ｎ−ｉ＋１））
を用る。
を用いる。この式の内容については、前述したとおりである。上記入力促し画面出力手段６Ｂで情報の入力を促す定められた各項目は、信頼度Ｒおよび打切り時間Ａ_i 並びに上記回答演算処理手段で用いる上記寿命または強度の累積分布関数の逆関数における未定の母数、例えばワイブルスロープ（形状母数）ｅである。 The function of each means 6B-9B, 10 is as described in each procedure of the design program 13, but will be described for the sake of clarity. The input prompting screen output means 6B is a means for outputting a screen prompting the input of information as the contents of each determined item to the screen of the display device. The input processing means 7B is means for storing the input information of each item in the input information storage means 8B. The answer calculation processing means 9B is means for calculating the number of tests n by the computer 1 according to a predetermined calculation formula using information stored in the input information storage means 8B.
In the answer calculation processing means 9B, the following formula C _i = G ⁻¹ (B ⁻¹ (1−R, i, n−i + 1))
Use.
Is used. The contents of this equation are as described above. The predetermined items for prompting the input of information by the input prompting screen output means 6B are undefined in the inverse function of the reliability R, the truncation time A _i , and the cumulative distribution function of the life or strength used in the answer calculation processing means. The parameter is a Weibull slope (shape parameter) e.

第３の実施形態の試験の設計方法、設計装置、および設計プログラム１３によると、上記の計算式Ｃ_i ＝Ｇ^-1（Ｂ^-1（１−Ｒ，ｉ，ｎ−ｉ＋１））を用いるため、中止判断基準とする試験継続時間または強度の設計について、乱数を用いなくても可能にでき、計算精度が高く、確率的誤差を低減させることができ、かつ計算時間が短くて済み、従来のように計算機を占有することがない。また、また、上記の計算式によるため、従来の最尤法を使った計算式により柔軟な対応が可能である。 According to the test design method, design apparatus, and design program 13 of the third embodiment, the above formula C _i = G ⁻¹ (B ⁻¹ (1−R, i, n−i + 1)) is used. The design of the test duration or strength used as a criterion for cancellation can be made without using random numbers, the calculation accuracy is high, the stochastic error can be reduced, and the calculation time is short. So that the computer is not occupied. Moreover, since it is based on said calculation formula, a flexible response | compatibility is possible by the calculation formula using the conventional maximum likelihood method.

図１６〜図２０は第４の実施形態を示し、試験結果の解釈に用いる。この実施形態は、特に説明する事項の他は、図１〜図５と共に前述した第１の実施形態と同様である。この実施形態の打切り寿命および強度試験における試験の解釈方法は、打切り試験において、コンピュータを用いて、試験結果から判断できる試験対象品のロットの寿命または強度Ｄi を見積もる方法である。   16 to 20 show a fourth embodiment and are used for interpretation of test results. This embodiment is the same as the first embodiment described above with reference to FIGS. The method of interpreting the test in the censored life and strength test of this embodiment is a method of estimating the lot life or strength Di of a test object product that can be determined from the test result using a computer in the censored test.

この解釈方法は、図１６に示すコンピュータ１に、試験の解釈プログラム１４を実行させることで行う。コンピュータ１は、図１と共に前述したのものである。解釈プログラム１４は、コンピュータ１で実行可能なプログラムであって、打切り試験において、試験結果から、試験対象品のロットの寿命または強度Ｄ_i を定めるプログラムであり、図１９に流れ図で示す手順を備える。 This interpretation method is performed by causing the computer 1 shown in FIG. 16 to execute the test interpretation program 14. The computer 1 is the same as that described above with reference to FIG. The interpretation program 14 is a program that can be executed by the computer 1, and is a program that determines the life or strength D _i of the lot of the test target product from the test result in the abort test, and includes the procedure shown in the flowchart in FIG. 19. .

この解釈方法は、図１８に示すように、コンピュータ１に対して、定められた各項目の内容となる情報を入力する入力過程（Ｖ１）と、この入力過程（Ｖ１）で入力された情報を用い、定められた計算式に従って、試験結果から判断できる試験対象品のロットの寿命または強度Ｄ_i を上記コンピュータ１で計算する回答演算処理過程（Ｖ２）と、同コンピュータ１により表示装置２の画面やプリンタ等の出力装置（図示せず）に演算結果を出力する出力過程（Ｖ３）とからなる。 As shown in FIG. 18, in this interpretation method, an input process (V1) for inputting information as contents of each defined item to the computer 1 and information input in the input process (V1) are input. An answer calculation process (V2) in which the computer 1 calculates the life or strength D _i of the lot to be tested, which can be determined from the test results, in accordance with a predetermined calculation formula, and a screen of the display device 2 by the computer 1 And an output process (V3) for outputting a calculation result to an output device (not shown) such as a printer.

入力過程（Ｖ１）は、図１９の設計プログラム１４の入力促し画面出力手順（Ｗ１）および入力処理手順（Ｗ２）で実行する過程である。回答演算処理過程（Ｖ２）は、図１８の回転演算処理手順（Ｗ３）で実行する過程である。出力過程（Ｖ３）は、図１８の出力処理手順Ｗ４で実行する過程である。   The input process (V1) is a process executed by the input prompt screen output procedure (W1) and the input processing procedure (W2) of the design program 14 of FIG. The answer calculation process (V2) is a process executed in the rotation calculation process procedure (W3) of FIG. The output process (V3) is a process executed in the output processing procedure W4 in FIG.

図１９において、解釈プログラム１４は、入力促し画面出力手順（Ｗ１）と、入力処理手順（Ｗ２）と、回答演算処理手順（Ｗ３）と、出力処理手順（Ｗ４）とでなる。入力促し画面出力手順（Ｗ１）は、表示装置２の画面に、定められた各項目の内容となる情報の入力を促す手順であり、入力処理手順（Ｗ２）は上記各項目の入力された情報を入力情報記憶手段８Ｃに記憶させる手順であり、回答演算処理手順（Ｗ３）は、上記入力情報記憶手段８Ｃに記憶された情報を用い、定められた計算式に従って、上記試験結果から判断できる試験対象品のロットの寿命または強度Ｄ_i を、上記コンピュータ１で計算する手順である。出力処理手順（Ｗ４）は、回答演算処理手順（Ｗ３）で計算された結果を、表示装置２の画面、またはコンピュータ１に接続されたプリンタ等の出力機器（図示せず）に出力させる手順である。 In FIG. 19, the interpretation program 14 includes an input prompt screen output procedure (W1), an input processing procedure (W2), an answer calculation processing procedure (W3), and an output processing procedure (W4). The input prompting screen output procedure (W1) is a procedure for prompting input of information that is the contents of each defined item on the screen of the display device 2, and the input processing procedure (W2) is the information input for each item. Is stored in the input information storage means 8C, and the answer calculation processing procedure (W3) uses the information stored in the input information storage means 8C, and is a test that can be determined from the test results according to a predetermined calculation formula This is a procedure for calculating the life or strength D _i of the lot of the target product by the computer 1. The output processing procedure (W4) is a procedure for outputting the result calculated in the answer calculation processing procedure (W3) to an output device (not shown) such as a printer connected to the screen of the display device 2 or the computer 1. is there.

上記回答演算処理過程（Ｖ２）では、上記定められた計算式として、次式
Ｄ_i ＝Ｇ^-1（Ｂ^-1（Ｒ，ｉ，ｎ−ｉ＋１））
Ｅ_i ＝Ｇ^-1（Ｂ^-1（１−Ｒ，ｉ，ｎ−ｉ＋１））
を用いる。これらの式の導出については、後に説明する。
ここで、
未破損データの寿命または強度（すなわち、試験対象品のロットの寿命または強度）
：Ｄ_i （ｉ＝１，２，３…、：ｎ個中１，２，３…番目に短い寿命または強度）、
破損データの寿命または強度 ：Ｅ_i （ｉ＝１，２，３…、：ｎ個中１，２，３…番目に破損した寿命または強度）、
寿命または強度の累積分布関数の逆関数：Ｇ^-1（ｘ）、
ベータ分布関数の累積分布関数の逆関数：Ｂ^-1（Ｒ，ｉ，ｎ−ｉ＋１）、
Ｂ^-1（１−Ｒ，ｉ，ｎ−ｉ＋１）、
信頼度：Ｒ、試験個数：ｎ、
である。 In the answer calculation process (V2), the following formula D _i = G ⁻¹ (B ⁻¹ (R, i, n−i + 1))
E _i = G ⁻¹ (B ⁻¹ (1−R, i, n−i + 1))
Is used. The derivation of these equations will be described later.
here,
Lifetime or strength of undamaged data (ie, lot life or strength of the product under test)
: D _i (i = 1, 2, 3...: 1, 2, 3 ... nth shortest life or strength),
Life or strength of damaged data: E _i (i = 1, 2, 3...: Life time or strength of 1, 2, 3,.
Inverse function of cumulative distribution function of life or strength: G ⁻¹ (x),
Inverse function of cumulative distribution function of beta distribution function: B ⁻¹ (R, i, n−i + 1),
B ^-1 (1-R, i, n-i + 1),
Reliability: R, Number of tests: n,
It is.

上記寿命または強度の累積分布関数の逆関数Ｇ^-1（ｘ）は、正規分布の逆関数であっても良く、また対数正規分布の逆関数や、ワイブル分布の逆関数であっても良い。機械部品やその素材等の寿命や強度は、正規分布、対数正規分布、ワイブル分布の関数に従うため、試験対象物の寿命や強度の特性を示す関数として上記の各関数を用いることにより、試験結果から判断できる試験対象品のロットの寿命または強度Ｄ_i を精度良く設計することができる。 The inverse function G ⁻¹ (x) of the lifetime or intensity cumulative distribution function may be an inverse function of a normal distribution, an inverse function of a log normal distribution, or an inverse function of a Weibull distribution. The life and strength of machine parts and their materials follow the functions of normal distribution, lognormal distribution, and Weibull distribution. It is possible to accurately design the life or strength D _i of the lot of the test object that can be determined from the above.

一般的な疲労試験であって、上記累積分布関数Ｇ（ｘ）がワイブル分布である場合、回答演算処理手順（Ｖ３）は、上記定められた計算式として、次式
Ｄ_i ＝Ｇ^-1（Ｂ^-1（Ｒ，ｉ，ｎ−ｉ＋１））
Ｅ_i ＝Ｇ^-1（Ｂ^-1（１−Ｒ，ｉ，ｎ−ｉ＋１））
を用いる代わり、次式(2D)(2E)を用いても良い。その理由は後に説明する。

ただし、
未破損データの寿命または強度（すなわち、試験対象品のロットの寿命または強度）
：Ｄ_i （ｉ＝１，２，３…、：ｎ個中１，２，３…番目に短い寿命または強度）、
破損データの寿命または強度：Ｅ_i （ｉ＝１，２，３…、：ｎ個中１，２，３…番目に破損した寿命または強度）、
ベータ分布関数の累積分布関数の逆関数：Ｂ^-1（Ｒ，ｉ，ｎ−１＋ｉ）、
形状母数：ｅ、尺度母数：α、位置母数：γ、信頼度：Ｒ、試験個数：ｎ、
である。 In a general fatigue test, when the cumulative distribution function G (x) is a Weibull distribution, the answer calculation processing procedure (V3) is expressed by the following formula D _i = G ⁻¹ ( B ⁻¹ (R, i, n−i + 1))
E _i = G ⁻¹ (B ⁻¹ (1−R, i, n−i + 1))
Instead of using the following equations (2D) and (2E) may be used. The reason will be explained later.

However,
Lifetime or strength of undamaged data (ie, lot life or strength of the product under test)
: D _i (i = 1, 2, 3...: 1, 2, 3 ... nth shortest life or strength),
Life or strength of damaged data: E _i (i = 1, 2, 3...: 1, 2, 3...
Inverse function of cumulative distribution function of beta distribution function: B ⁻¹ (R, i, n−1 + i),
Shape parameter: e, scale parameter: α, position parameter: γ, reliability: R, number of tests: n,
It is.

上記入力過程（Ｖ１）で入力する定められた各項目は、試験結果である破損データの寿命または強度Ｅ_i 、信頼度Ｒ、試験個数ｎ、および破損個数ｉ、並びに上記回答演算処理過程で用いる上記寿命または強度の累積分布関数の逆関数における未定の母数である。 The determined items to be input in the input process (V1) are used in the life or strength E _i of the damaged data as the test result, the reliability R, the number of tests n, the number of damages i, and the answer calculation process. It is an undetermined parameter in the inverse function of the cumulative distribution function of life or strength.

図２０は、入力促し画面出力手順（Ｗ１）で表示する入力促し画面２ａの一例を示す。同図の例は、累積分布関数の逆関数Ｇ^-1（ｘ）をワイブル分布の逆関数であるとして、試験結果から判断できる試験対象品のロットの寿命または強度Ｄ_i を求める場合の例である。この画面では、情報の入力を促す定められた各項目の表示と、その項目の表示に隣接する矩形状の入力ボックスの表示とされ、または選択有無を入力させるボタンの表示とされている。入力ボックスには、数字等を入力する。この画面では、情報の入力を促す定められた各項目は、ワイブル分布の逆関数の母数のうち、ワイブルスロープ（換言すれば、形状母数）ｅと、試験個数ｎと、未破損の試験対象物の個数（ｎ−ｉ（ｉ：破損個数））と、試験の継続時間Ｅ_i としている。信頼度Ｒについては、Ｌ１０寿命かＬ５０寿命のいずれかを選択させる。打切り時間は、１回の負荷時間が定められている場合、負荷回数で示しても良い。上記ワイブル分布の逆関数の母数のうち、残りの母数である尺度母数αと、位置母数γは、固定の値とされ、ワイブル分布の逆関数を示す式中に定めている。 FIG. 20 shows an example of the input prompt screen 2a displayed in the input prompt screen output procedure (W1). The example in the figure is an example of obtaining the lot life or strength D _i of the test target product that can be determined from the test result, assuming that the inverse function G ⁻¹ (x) of the cumulative distribution function is the inverse function of the Weibull distribution. is there. On this screen, each item that is urged to input information is displayed, a rectangular input box adjacent to the display of the item is displayed, or a button for inputting whether or not to select is displayed. Enter numbers in the input box. In this screen, the specified items that prompt the input of information are the Weibull slope (in other words, the shape parameter) e, the test number n, and the undamaged test among the parameters of the inverse function of the Weibull distribution. The number of objects (ni (i: number of breakage)) and the test duration E _i are used. For reliability R, either L10 life or L50 life is selected. The abort time may be indicated by the number of loads when one load time is determined. Of the parameters of the inverse function of the Weibull distribution, the scale parameter α and the position parameter γ, which are the remaining parameters, are fixed values, and are defined in an equation indicating the inverse function of the Weibull distribution.

図１７と共に、打切り寿命および強度試験における試験の設計装置につき説明する。この設計装置は、打切り試験において、試験結果から判断できる試験対象品のロットの寿命または強度Ｄ_i を求める解釈装置であって、図１６と共に説明したコンピュータ１と、このコンピュータ１で実行させる図１９の前記設計プログラム１４とで構成され、図１７に示す各機能手段を有するものとなる。
この設計装置は、入力促し画面出力手段６Ｃ、入力処理手段７Ｃ、入力情報記憶手段８Ｃ、回答演算手段９Ｃ、および結果出力手段１０を備える。入力情報記憶手段８Ｃは、メモリ５の一部の記憶領域一部となる。入力促し画面出力手段６Ｃは、設計プログラム１３の入力促し画面出力手順（Ｗ１）の処理を行う手段である。入力処理手段７Ｃは、入力処理手順（Ｗ２）の処理を行う手段であり、回答演算手段９Ｃは、回転演算処理手順（Ｗ３）の処理を行う手段である。結果出力手段１０は、出力処理手順（Ｗ４）の処理を行う手段である。 With reference to FIG. 17, a test design apparatus in the censoring life and strength test will be described. This design device is an interpretation device for obtaining the lot life or strength D _i of the test object lot that can be determined from the test result in the abort test, and is executed by the computer 1 described with reference to FIG. The above-described design program 14 includes the functional units shown in FIG.
This design apparatus includes an input prompt screen output means 6C, an input processing means 7C, an input information storage means 8C, an answer calculation means 9C, and a result output means 10. The input information storage unit 8 </ b> C becomes a part of the storage area of the memory 5. The input prompt screen output means 6C is a means for performing the input prompt screen output procedure (W1) of the design program 13. The input processing means 7C is a means for performing the processing of the input processing procedure (W2), and the answer calculation means 9C is a means for performing the processing of the rotation calculation processing procedure (W3). The result output means 10 is a means for performing the processing of the output processing procedure (W4).

各手段６Ｃ〜９Ｃ，１０の機能は、解釈プログラム１４の各手順で説明した通りであるが、明確のために説明する。入力促し画面出力手段６Ｃは、定められた各項目の内容となる情報の入力を促す画面を表示装置の画面に出力する手段である。入力処理手段７Ｃは、上記各項目の入力された情報を入力情報記憶手段８Ｂに記憶させる手段である。回答演算処理手段９Ｃは、上記入力情報記憶手段８Ｂに記憶された情報を用い、定められた計算式に従って、上記試験結果から判断できる試験対象品のロットの寿命または強度Ｄ_i を上記コンピュータ１で計算する手段である。
回答演算処理手段９Ｃでは、上記定められた計算式として、次式
Ｄ_i ＝Ｇ^-1（Ｂ^-1（Ｒ，ｉ，ｎ−ｉ＋１））
Ｅ_i ＝Ｇ^-1（Ｂ^-1（１−Ｒ，ｉ，ｎ−ｉ＋１））
を用いる。
ここで、
未破損データの寿命または強度（すなわち、試験対象品のロットの寿命または強度）
：Ｄ_i （ｉ＝１，２，３…、：ｎ個中１，２，３…番目に短い寿命または強度）、
破損データの寿命または強度 ：Ｅ_i （ｉ＝１，２，３…、：ｎ個中１，２，３…番目に破損した寿命または強度）、
寿命または強度の累積分布関数の逆関数：Ｇ^-1（ｘ）、
ベータ分布関数の累積分布関数の逆関数：Ｂ^-1（Ｒ，ｉ，ｎ−ｉ＋１）、
Ｂ^-1（１−Ｒ，ｉ，ｎ−ｉ＋１）、
信頼度：Ｒ、試験個数：ｎ、
である。
この式の内容については、前述したとおりである。上記入力促し画面出力手段６Ｃで情報の入力を促す定められた各項目は、試験結果である破損データの寿命または強度Ｅ_i 、信頼度Ｒ、試験個数ｎ、および破損個数ｉ、並びに上記回答演算処理過程で用いる上記寿命または強度の累積分布関数の逆関数における未定の母数である。 The function of each means 6C-9C, 10 is as described in each procedure of the interpretation program 14, but will be described for clarity. The input prompting screen output means 6C is a means for outputting a screen prompting input of information as the contents of each defined item to the screen of the display device. The input processing means 7C is means for storing the input information of each item in the input information storage means 8B. The answer calculation processing unit 9C uses the information stored in the input information storage unit 8B to determine the lot life or strength D _i of the test target product that can be determined from the test result according to a predetermined calculation formula. It is a means to calculate.
In the answer calculation processing means 9C, the following formula D _i = G ⁻¹ (B ⁻¹ (R, i, n−i + 1))
E _i = G ⁻¹ (B ⁻¹ (1−R, i, n−i + 1))
Is used.
here,
Lifetime or strength of undamaged data (ie, lot life or strength of the product under test)
: D _i (i = 1, 2, 3...: 1, 2, 3 ... nth shortest life or strength),
Life or strength of damaged data: E _i (i = 1, 2, 3...: Life time or strength of 1, 2, 3,.
Inverse function of cumulative distribution function of life or strength: G ⁻¹ (x),
Inverse function of cumulative distribution function of beta distribution function: B ⁻¹ (R, i, n−i + 1),
B ^-1 (1-R, i, n-i + 1),
Reliability: R, Number of tests: n,
It is.
The contents of this equation are as described above. The predetermined items for prompting input of information by the input prompting screen output means 6C are the life or strength E _i of the damaged data as the test result, the reliability R, the number of tests n, the number of damages i, and the answer calculation. It is an undetermined parameter in the inverse function of the cumulative distribution function of the lifetime or intensity used in the process.

この実施形態の試験の解釈方法、解釈装置、および解釈プログラム１４によると、上記の計算式Ｄ_i ＝Ｇ^-1（Ｂ^-1（Ｒ，ｉ，ｎ−ｉ＋１））、Ｅ_i ＝Ｇ^-1（Ｂ^-1（１−Ｒ，ｉ，ｎ−ｉ＋１））を用いるため、試験結果から判断できる試験対象品のロットの寿命または強度Ｄ_i について、乱数を用いなくても可能にでき、計算精度が高く、確率的誤差を低減させることができ、かつ計算時間が短くて済み、従来のように計算機を占有することがない。また、また、上記の計算式によるため、従来の最尤法を使った計算式により柔軟な対応が可能である。 According to the test interpretation method, interpretation device, and interpretation program 14 of this embodiment, the above calculation formula D _i = G ⁻¹ (B ⁻¹ (R, i, n−i + 1)), E _i = G ^−1. Since (B ⁻¹ (1−R, i, n−i + 1)) is used, it is possible to use the lot life or strength D _i of the product under test that can be judged from the test results without using random numbers, and to calculate accuracy Is high, the stochastic error can be reduced, the calculation time is short, and the computer is not occupied as in the prior art. Moreover, since it is based on said calculation formula, a flexible response | compatibility is possible by the calculation formula using the conventional maximum likelihood method.

図２１〜図２４は、この発明の第５の実施形態を示す。この実施形態は、第１〜第４の実施形態を一つにまとめた設計・解釈方法、設計・解釈装置、設計・解釈プログラムに係り、打切り寿命・強度、試験個数、中止判断基準、および試験結果から判断できる試験対象品のロットの寿命または強度の内の任意の事項の内容を求めることを可能としたものである。特に説明する事項の他は、第１〜第４の実施形態につき述べたとおりである。
この打切り寿命および強度試験における試験の設計・解釈方法は、図２１に示すコンピュータ１に、試験の設計・解釈プログラム１６を実行させることで行う。この試験の設計・解釈プログラム１６は、第１〜第３の実施形態における設計プログラム１１〜１３と、第４の実施形態における解釈プログラム１４と、これらのプログラム１１〜１４を切り換えて機能させる切換プログラム１５とでなる。設計・解釈プログラム１６において、上記各設計プログラム１１〜１３および解釈プログラム１４につき、共通して使用できるプログラム部分については、例えばサブプログラムとして一つ設け、共通して使用するようにしても良い。 21 to 24 show a fifth embodiment of the present invention. This embodiment relates to a design / interpretation method, a design / interpretation device, and a design / interpretation program that combine the first to fourth embodiments. It is possible to obtain the contents of any matter within the life or strength of the lot of the test object that can be judged from the results. Other than the matters to be specifically described, the descriptions are the same as those in the first to fourth embodiments.
The test design / interpretation method in the censored life and strength test is performed by causing the computer 1 shown in FIG. 21 to execute the test design / interpretation program 16. The test design / interpretation program 16 includes design programs 11 to 13 in the first to third embodiments, an interpretation program 14 in the fourth embodiment, and a switching program for switching these programs 11 to 14 to function. 15 In the design / interpretation program 16, for each of the design programs 11 to 13 and the interpretation program 14, a program part that can be used in common may be provided as a sub-program, for example, and used in common.

図２３において、この設計・解釈方法は、選択過程（Ｘ１）と目的別過程（Ｘ２）とでなる。選択過程（Ｘ１）は、打切り寿命・強度を求める設計方法（図３）と、試験個数を求める設計方法（図８）と、中止判断基準を求める設計方法（図１３）と、解釈方法（図１８）とのいずれを行うかを選択する過程である。目的別過程（Ｘ２）は、その選択された方法（図３、図８、図１３、図１８）を実施する過程である。   In FIG. 23, this design / interpretation method includes a selection process (X1) and a purpose-specific process (X2). The selection process (X1) includes a design method (FIG. 3) for obtaining a censored life / strength, a design method (FIG. 8) for obtaining the number of tests, a design method (FIG. 13) for obtaining a cancellation criterion, and an interpretation method (FIG. 18) is a process of selecting which to perform. The purpose-specific process (X2) is a process of implementing the selected method (FIGS. 3, 8, 13, and 18).

図２４において、この設計・解釈プログラム１６は、選択手順（Ｙ１）と目的別手順（Ｙ２）とでなる。選択手順（Ｙ１）は、打切り寿命・強度を求める設計プログラム（図４）と、試験個数を求める設計プログラム（図９）と、中止判断基準を求める設計プログラム（図１４）と、解釈プログラム（図１９）とのいずれを実行するかを選択する手順である。目的別手順（Ｙ２）は、その選択されたプログラム（図４、図９、図１４、図１９）を実行する手順である。選択手順（Ｙ１）は、上記いずれのプログラム１１〜１４を選択するかの入力を促す画面を出力装置２の画面に出力する手順と、この後に入力された選択入力に応じて、その選択されたプログラムに処理を移行させる手順とでなる。   In FIG. 24, the design / interpretation program 16 includes a selection procedure (Y1) and a purpose-specific procedure (Y2). The selection procedure (Y1) includes a design program (FIG. 4) for determining the censored life and strength, a design program (FIG. 9) for determining the number of tests, a design program (FIG. 14) for determining the cancellation judgment criteria, and an interpretation program (FIG. 19) is a procedure for selecting which one to execute. The purpose-specific procedure (Y2) is a procedure for executing the selected program (FIGS. 4, 9, 14, and 19). The selection procedure (Y1) is selected in accordance with a procedure for outputting a screen for prompting input of which of the above programs 11 to 14 to the screen of the output device 2 and a selection input inputted thereafter. It is a procedure to transfer processing to the program.

図２２において、この設計・解釈装置は、図２１と共に説明したコンピュータ１と、このコンピュータ１で実行させる図２４の設計・解釈プログラム１６とで構成され、図２２に示す各機能手段を有するものとなる。
この設計・解釈装置は、入力促し画面出力手段６Ｄ、入力処理手段７Ｄ、入力情報記憶手段Ｄ、回答演算手段９Ｄ、および結果出力手段１０を備える。入力情報記憶手段８Ｄは、メモリ５の一部の記憶領域一部となる。入力促し画面出力手段６Ｄは、設計・解釈プログラム１６の選択手順（Ｙ１）における選択の入力促し画面の出力と、その選択されたプログラム１１〜１４における入力促し画面出力手順（Ｑ１，Ｓ１，Ｕ１，Ｗ１）における入力促し画面の出力とを行う手段である。入力処理手段７Ｄは、選択手順（Ｙ１）で選択された入力に応じて、前記プログラム１１〜１４に処理を移行させる処理と、その移行したプログラム１１〜１４における入力処理手順（Ｑ２，Ｓ２，Ｕ２，Ｗ２）の処理を行う手段である。回答演算手段９Ｄは、第１〜第４の実施形態における回答演算処理手段９，９Ａ，９Ｂ，９Ｃからなる。回答演算手段９Ｄにおいて、第１〜第４の実施形態における回転演算処理手段９，９Ａ，９Ｂ，９Ｃで共通して使用される部分は、一つの処理手段部として設けられていても良い。結果出力手段１０は、第１〜第４の実施形態における各結果出力手段１０を含む。 22, this design / interpretation apparatus includes the computer 1 described with reference to FIG. 21 and the design / interpretation program 16 of FIG. 24 executed by the computer 1, and has each functional unit shown in FIG. 22. Become.
The design / interpretation apparatus includes an input prompt screen output unit 6D, an input processing unit 7D, an input information storage unit D, an answer calculation unit 9D, and a result output unit 10. The input information storage unit 8D is a part of the storage area of the memory 5. The input prompt screen output means 6D outputs the input prompt screen for selection in the selection procedure (Y1) of the design / interpretation program 16, and the input prompt screen output procedure (Q1, S1, U1, Q1) in the selected programs 11-14. This is a means for performing input prompting in W1). The input processing means 7D performs a process of transferring the process to the programs 11 to 14 in accordance with the input selected in the selection procedure (Y1), and an input process procedure (Q2, S2, U2 in the transferred programs 11 to 14). , W2). The answer calculation means 9D is composed of answer calculation processing means 9, 9A, 9B, 9C in the first to fourth embodiments. In the answer calculation means 9D, the portion used in common by the rotation calculation processing means 9, 9A, 9B, 9C in the first to fourth embodiments may be provided as one processing means section. The result output means 10 includes each result output means 10 in the first to fourth embodiments.

この実施形態の試験の設計・解釈方法、設計・解釈装置、および設計解釈プログラム１６によると、打切り寿命・強度、試験個数、中止判断基準、および試験結果から判断できる試験対象品のロットの寿命または強度について、乱数を用いなくても可能にでき、計算精度が高く、確率的誤差を低減させることができ、かつ計算時間が短くて済み、従来のように計算機を占有することがない。また、また、上記の計算式によるため、従来の最尤法を使った計算式により柔軟な対応が可能である。   According to the test design / interpretation method, the design / interpretation device, and the design interpretation program 16 of this embodiment, the life of the lot of the test object that can be determined from the censored life / strength, the number of tests, the criteria for discontinuation, and the test result or The strength can be achieved without using random numbers, the calculation accuracy is high, the stochastic error can be reduced, the calculation time is short, and the computer is not occupied as in the conventional case. Moreover, since it is based on said calculation formula, a flexible response | compatibility is possible by the calculation formula using the conventional maximum likelihood method.

次に、上記の計算式、
Ａ_i ＝Ｇ^-1（Ｂ^-1（Ｒ，ｉ，ｎ−ｉ＋１））
および他の各計算式の導出を行う。ここでは、寿命分布がワイブル分布に従う寿命試験を例にして、上記計算式の導出を行う。一般的に、軸受等の機械部品の寿命は、ワイブル分布に従うとされている。 Next, the above formula
A _i = G ⁻¹ (B ⁻¹ (R, i, n−i + 1))
And derivation of other calculation formulas. Here, the calculation formula is derived by taking a life test in which the life distribution follows the Weibull distribution as an example. Generally, the lifetime of mechanical parts such as bearings is assumed to follow the Weibull distribution.

図２５〜図３０に、各種パラメータを変更したときの全数打切り寿命の変化を示す。図２５は各種の例を並べて示してあり、図２６〜図３０は、図２５の各部の拡大図を示す。全数打切り寿命は、与えられた寿命分布よりも長寿命であると判断するために必要な、全試験片の打切り時間という意味である。ここで、図２５〜図３０の計算結果は、乱数シミュレーション（特許文献１〜４等に記載の方法）で得られたものである。これらの図の中で、最も傾向が分かりやすい図は、概ね線形な変化が見られる(1) 尺度母数依存性と、(2) 位置母数依存性の行の図である。尺度母数依存性の図を見ると（横軸）、全数打切り寿命は尺度母数の増加にしたがって、線形に増加するが、その傾きが位置母数以外のパラメータ（形状母数、信頼度、試験個数）によって変化していることがわかる。また、位置母数依存性の図を見ると（横軸）、全数打切り寿命は、その他のパラメータ（形状母数、信頼度、試験個数）によらず、位置母数が１増加するにつれて1 増加していることが分かる。これらのことから、全数打切り寿命の式の形は、尺度母数と位置母数に比例し、位置母数の比例定数が１の、以下の式(1) になると推測できる。   FIG. 25 to FIG. 30 show changes in the total number of truncation lifetimes when various parameters are changed. FIG. 25 shows various examples side by side, and FIGS. 26 to 30 show enlarged views of each part of FIG. The total cut-off life means the cut-off time of all the test pieces necessary for judging that the life is longer than a given life distribution. Here, the calculation results of FIGS. 25 to 30 are obtained by random number simulation (methods described in Patent Documents 1 to 4). Among these figures, the most easily understood figures are (1) scale parameter dependence and (2) position parameter dependence lines, which have almost linear changes. Looking at the scale parameter dependence diagram (horizontal axis), the total truncation lifetime increases linearly as the scale parameter increases, but the slope of the parameter other than the position parameter (shape parameter, reliability, It can be seen that it varies depending on the number of the test. Looking at the position parameter dependency graph (horizontal axis), the total truncation life increases by 1 as the position parameter increases by 1, regardless of other parameters (shape parameter, reliability, number of tests). You can see that From these facts, it can be inferred that the form of the total truncation life formula is proportional to the scale parameter and the position parameter, and the proportional constant of the position parameter is 1, and the following formula (1) is obtained.

ｔ＝γ＋α・ξ（ｅ，ｎ，Ｒ） 式(1)
ここで、全数打切り寿命：ｔ_i 、形状母数：ｅ、尺度母数：α、位置母数：γ、試験個数：ｎ、信頼度Ｒ t = γ + α · ξ (e, n, R) Equation (1)
Here, the total truncation life: t _i , shape parameter: e, scale parameter: α, position parameter: γ, number of tests: n, reliability R

この式の形は、以下の式(3) に示すワイブル分布の累積分布関数Ｇ（ｘ）の逆関数Ｇ^-1（Ｇ（ｘ））の形に近い。 The form of this expression is close to the form of the inverse function G ⁻¹ (G (x)) of the cumulative distribution function G (x) of the Weibull distribution shown in the following expression (3).

ここで、形状母数：ｅ、尺度母数：α、位置母数：γ、
なお、図３７は、ワイブル分布の一例を示す。

Here, the shape parameter: e, the scale parameter: α, the position parameter: γ,
FIG. 37 shows an example of the Weibull distribution.

以上から、全数打切り寿命は、ワイブル分布の累積分布関数の逆関数に何かを代入したものであると推測した。すなわち、全数打切り寿命の式の形は、以下の式(4) になると推定した。   From the above, it was estimated that the total truncation lifetime was obtained by substituting something into the inverse function of the cumulative distribution function of the Weibull distribution. In other words, the form of the total truncation life formula was estimated to be the following formula (4).

ここで、全数打切り寿命：ｔ_i 、形状母数：ｅ、尺度母数：α、位置母数：γ、試験個数：ｎ、信頼度Ｒ

Here, the total truncation life: t _i , shape parameter: e, scale parameter: α, position parameter: γ, number of tests: n, reliability R

もしも、全数打切り寿命がワイブル分布の累積分布関数の逆関数に、試験個数と信頼度によって決まる値を代入したものであるならば、以下の式(5) に示すように、
Ｌｏｇ（ｔ_i −γ）は、１／ｅに比例するはずである。 If the total truncation lifetime is the inverse function of the cumulative distribution function of the Weibull distribution, a value determined by the number of tests and the reliability is substituted, as shown in the following equation (5):
Log (t _i −γ) should be proportional to 1 / e.

図３１に、図２５〜図３０の結果を縦軸、１／ｅを横軸にした図を示す。図から、Ｌｏｇ（ｔ_i −γ）は、１／ｅに比例していることが分かる。したがって、全数打切り寿命は、ワイブル分布の累積分布関数の逆関数に、ｎ、Ｒによって決まる値を代入した結果である可能性が高いと考えられる。以上の内容は、以下で説明していく定式化を検討する動機になったものである。

FIG. 31 shows a graph in which the results of FIGS. 25 to 30 are plotted on the vertical axis and 1 / e is plotted on the horizontal axis. From the figure, it can be seen that Log (t _i −γ) is proportional to 1 / e. Therefore, it is highly probable that the total truncation lifetime is a result of substituting values determined by n and R into the inverse function of the cumulative distribution function of the Weibull distribution. The above content was the motivation for studying the formulation described below.

次に、ワイブルプロットの縦軸である累積破損確率を求めるのに用いられるメディアンランクという考え方を使って、図２５〜図３０の結果について考察する。メディアンランクの意味を説明するための模式図を図３２に示す。ある寿命分布に従う水準の試験片を抜き取り、試験を行って得た破損データは、縦軸の累積破損確率のどこかの位置に分布する。図３２のＡの分布は、試験個数１個中１個の破損データの累積破損確率の位置での分布を示しており、その分布の累積破損確率０．５の位置はメディアンランクと呼ばれている。メディアンランクの近似値は以下の式(6) で求めることができるので、試験個数１個中１個のメディアンランクは０．５になる。   Next, the results of FIGS. 25 to 30 will be considered using the concept of median rank used to determine the cumulative failure probability that is the vertical axis of the Weibull plot. A schematic diagram for explaining the meaning of the median rank is shown in FIG. Damage data obtained by extracting a test piece having a level according to a certain life distribution and performing the test is distributed at some position of the cumulative failure probability on the vertical axis. The distribution of A in FIG. 32 shows the distribution at the position of the cumulative failure probability of one piece of damaged data per test number, and the position of the cumulative failure probability of 0.5 in the distribution is called the median rank. Yes. Since the approximate value of the median rank can be obtained by the following equation (6), the median rank of one test piece is 0.5.

ここで、破損データを昇順に並べたときの順番：ｉ、試験個数：ｎ

Here, the order when damaged data are arranged in ascending order: i, number of tests: n

これは、試験個数１個中１個の破損データの累積破損確率の位置は、０〜１の間で分布するが、累積破損確率０．５以上に位置する信頼度は５０％ということを示している。このメディアンランクの累積破損確率０．５をワイブル分布（ｅ＝１、α＝１、γ＝１）の累積分布関数へ代入して得られる寿命ｘは、以下になる。   This indicates that the position of the cumulative failure probability of one piece of the failure data per test piece is distributed between 0 and 1, but the reliability at the cumulative failure probability of 0.5 or higher is 50%. ing. The lifetime x obtained by substituting the median rank cumulative failure probability of 0.5 into the cumulative distribution function of the Weibull distribution (e = 1, α = 1, γ = 1) is as follows.

この寿命ｘは、試験個数ｎ＝１、昇順にデータを並べたときの順番ｉ＝１、信頼度Ｒ＝０．５によって決まるメディアンランクを、ワイブル分布の累積分布関数の逆関数に代入した結果に他ならない。この結果の物理的な意味は、ワイブル分布（ｅ＝１、α＝１、γ＝１）に従う母集団から試験片を１個抜き取り、試験を行って得られる破損データが５０％の確率で１．６９３以下になるという意味である。すなわち、これは５０％の信頼度での全数打切り寿命を計算したことになる。この結果と乱数シミュレーションで得られた結果である「ｘ＝１．６５１」は、ほぼ一致していた。
以上のことから、全数打切り寿命は、図３２のＡの分布を任意の信頼度で求めることができれば、任意の信頼度に対する全数打切り寿命を求めることができると考えられる。 This life x is the result of substituting the median rank determined by the test number n = 1, the order i = 1 when the data is arranged in ascending order, and the reliability R = 0.5 into the inverse function of the cumulative distribution function of the Weibull distribution. It is none other than. The physical meaning of this result is that one piece of the test piece is extracted from the population according to the Weibull distribution (e = 1, α = 1, γ = 1), and the damage data obtained by performing the test is 1 with a probability of 50%. .693 or less. In other words, this is the calculation of the total truncation life with a reliability of 50%. This result and “x = 1.651”, which is the result obtained by random number simulation, almost coincided.
From the above, it is considered that if the distribution of A in FIG. 32 can be obtained with an arbitrary reliability, the total cut-off life can be obtained with respect to an arbitrary reliability.

そこで、以下では、図３２のＡの分布を任意の信頼度Ｒで求める式を導出する。一般に、不良率ｐがである母集団から、ｎ個を抜き取ったときに不良品が個発生する確率は、以下の式(7) の二項分布で表される。   Therefore, in the following, an expression for obtaining the distribution of A in FIG. In general, the probability of occurrence of defective products when n are extracted from a population having a defective rate p is represented by the binomial distribution of the following equation (7).

今、図３３のようなワイブル分布の累積分布関数Ｇ（ｘ）があり、Ｇ^-1（ｐ）（すなわちＧ（ｘ）の逆関数にｐを代入したもの）以下の寿命を不良とすれば、ｎ個中、Ｇ^-1（ｐ）以下の寿命になる（= 不良になる）個数がｋ個発生する確率Ｐ_k は、上記の式（7) で計算できる。仮に、ｐ＝０．１とすると、Ｇ^-1（ｐ）は、図３３で１０％寿命を示すことになるので、このときのＰ_k は、10％寿命以下になる個数が個中個である確率を示すことになる。 Now, if there is a cumulative distribution function G (x) of Weibull distribution as shown in FIG. 33 and the lifetime below G ⁻¹ (p) (that is, substituting p into the inverse function of G (x)) is assumed to be defective The probability P _k that the number of lifetimes that become G ⁻¹ (p) or less (= becomes defective) out of _n is generated by the above equation (7). If p = 0.1, G ⁻¹ (p) indicates a 10% life in FIG. 33. Therefore, P _{k at} this time is the number of pieces that are 10% or less. It shows a certain probability.

次に、ｉ個より少ない個数がＧ^-1（ｐ）以下で破損する累積破損確率について考える。その累積確率は０〜ｉ−１の確率の和であるから、以下の式(8) で表される。 Next, consider the cumulative failure probability that the number less than i is less than or equal to G ⁻¹ (p). Since the cumulative probability is the sum of the probabilities from 0 to i-1, it is expressed by the following equation (8).

同様に、少なくともｉ個の個数がＧ^-1（ｐ）以下で破損する累積破損確率は、以下の式(9) で表される。

Similarly, the cumulative failure probability that breaks when at least i pieces are less than or equal to G ⁻¹ (p) is expressed by the following equation (9).

いわゆる、順位統計量の分布であり、今、その分布関数をとおくと、式(10)になる。

This is a so-called rank statistic distribution, and the distribution function is now given by equation (10).

この式は、別の形で表すと、以下の式(11)で表すことができる。

This formula can be expressed by the following formula (11) when expressed in another form.

この関係は、右辺を部分積分し、漸化式の形にすることによって求められる。この分布関数は階乗が入っているから、引数に対しては連続分布ではない。ここで、小数点の階乗を表すことができるガンマ関数を使って式（11）を表すと、以下の式(12)になる。   This relationship is obtained by partially integrating the right side into a recursive form. Since this distribution function is factorial, it is not a continuous distribution for the arguments. Here, when Expression (11) is expressed using a gamma function that can express the factorial of the decimal point, the following Expression (12) is obtained.

ガンマ関数とベータ関数β（ｘ，ｙ）（ベータ分布とは別のもの）には以下の式(13)の関係がある。

The gamma function and the beta function β (x, y) (separate from the beta distribution) have the relationship of the following equation (13).

したがって、式(12)を、式(13)の関係を使って表すと、以下の式(14)になる。

Therefore, when Expression (12) is expressed using the relationship of Expression (13), the following Expression (14) is obtained.

これは、ベータ分布関数の０〜p までの積分であるから、Ｖ′_m （ｐ）は、以下の式(15)で示されるベータ分布関数β（ｐ，ｉ，ｎ＋１−ｉ）の累積分布関数になっている。 Since this is an integral from 0 to p of the beta distribution function, V ′ _m (p) is a cumulative distribution of the beta distribution function β (p, i, n + 1−i) expressed by the following equation (15). It is a function.

必要な結果は、「ｎ個中ｉ番目のデータがどの程度の信頼度Ｒ（＝Ｖ′_m （ｐ））で、どの累積破損確率ｐに位置するか」であるから、得たい関数はＶ′_m （ｐ）の逆関数、すなわちベータ分布関数の累積分布関数の逆関数、Ｂ^-1（Ｒ，ｉ，ｎ−ｉ＋１）になる。 Since the necessary result is “how much reliability R (= V ′ _m (p)) the i-th data out of n is located at which cumulative failure probability p”, the desired function is V The inverse function of ′ _m (p), that is, the inverse function of the cumulative distribution function of the beta distribution function, B ⁻¹ (R, i, n−i + 1).

以上のように、ベータ分布関数の累積分布関数の逆関数Ｂ^-1（Ｒ，ｉ，ｎ−ｉ＋１）は、二項確率から原理的に求められるものであり、二項確率における前提（ランダムな試験片の抜き取り、母集団が十分な数を有する）が成立するなら、ｎ個中ｉ番目の破損データの累積破損確率の位置に対して厳密な計算結果を与える。 As described above, the inverse function B ⁻¹ (R, i, n−i + 1) of the cumulative distribution function of the beta distribution function is obtained in principle from the binomial probability. If the test piece is extracted and the population has a sufficient number), the exact calculation result is given to the position of the cumulative failure probability of the i-th failure data in n.

このように導かれたベータ分布関数の累積分布関数の逆関数をワイブル分布の累積分布関数の逆関数に代入すると、試験個数ｎのときの全数打切り寿命は以下の式(16)で計算できる。   By substituting the inverse function of the cumulative distribution function of the beta distribution function thus derived into the inverse function of the cumulative distribution function of the Weibull distribution, the total truncation lifetime when the number of tests is n can be calculated by the following equation (16).

ここで、全数打切り寿命：ｔ_i 、形状母数：ｅ、尺度母数：α、位置母数：γ、試験個数：ｎ、信頼度Ｒ

Here, the total truncation life: t _i , shape parameter: e, scale parameter: α, position parameter: γ, number of tests: n, reliability R

ベータ分布関数の累積分布関数の逆関数Ｂ^-1（Ｒ，ｉ，ｎ−ｉ＋１）はマイクロソフト社のエクセル（登録商標）等の最近の表計算ソフトやプログラミングソフトに用意されているので、全数打切り寿命は計算できる。 The inverse function B ⁻¹ (R, i, n−i + 1) of the cumulative distribution function of the beta distribution function is provided in recent spreadsheet software and programming software such as Excel (registered trademark) of Microsoft Corporation. Lifespan can be calculated.

次に、試験個数が３個の場合（ｎ＝３，ｉ＝１，２，３）について考える。この場合、１、２、３番目の破損データは、それぞれ累積破損確率のどこかの位置に分布する（以下、この分布のことをランクの確率分布と呼ぶ）。図３４に１、２、３番目のランクの確率分布の累積分布関数、ワイブル分布の累積分布関数（α，β，γ＝１）、これら２つの分布から得られる１、２、３番目の破損データの寿命軸での累積分布関数の関係を示す。今、この中の1 番目の破損データだけに着目すると、１番目に破損するデータの信頼度９０％での累積破損確率は、Ｂ^-1（０．９，１．３−１＋１）＝０．５３６である。これは、１番目に破損するデータが９０％の確率で累積破損確率０．５３６以下に位置するデータであることを示している。この３個中１番目に破損するデータの信頼度９０％である０．５３６の値を、ワイブル分布の累積分布関数の逆関数に代入した値は、１．７７になる。したがって、３個中１個目の破損データが１．７７以上である状況は、α，β，γ＝１の母数を持つワイブル分布では１０％のレアケースということになり、そのワイブル分布よりも長寿命であるといえる信頼度は９０％といえる。１個目の破損データが１．７７以上という状況は、他の試験片が破損していない全数未破損の状況であるから、この値は試験片３個での全数打切り寿命ということになる。同様な考え方で、１個破損時の残存試験片の打切り寿命は、２番目の破損データに対する計算結果になるので、以下の計算結果になる。 Next, consider the case where the number of tests is three (n = 3, i = 1, 2, 3). In this case, the first, second, and third damage data are each distributed at some position of the cumulative damage probability (hereinafter, this distribution is referred to as a rank probability distribution). 34, the cumulative distribution function of the probability distribution of the first, second, and third ranks, the cumulative distribution function of the Weibull distribution (α, β, γ = 1), the first, second, and third breakage obtained from these two distributions. The relationship of the cumulative distribution function on the data life axis is shown. Now, paying attention only to the first damaged data, the cumulative damaged probability at the reliability of 90% of the first damaged data is B ⁻¹ (0.9, 1.3-1 + 1) = 0. 536. This indicates that the data that is damaged first is data with a probability of 90% and a cumulative damage probability of 0.536 or less. The value obtained by substituting the value of 0.536, which is 90% reliability of the data that is damaged first among the three, into the inverse function of the cumulative distribution function of the Weibull distribution is 1.77. Therefore, the situation in which the first damaged data among the three is 1.77 or more is a 10% rare case in the Weibull distribution with parameters of α, β, γ = 1. The reliability that can be said to be a long life is 90%. The situation in which the first damaged data is 1.77 or more is a situation in which all the test specimens are not damaged and all the test specimens are not damaged. In the same way, the cleave life of the remaining test piece when one piece is broken is the calculation result for the second breakage data, so the following calculation result is obtained.

以上のことから、打切り寿命は以下の式(17)により任意の条件で計算できる。

ここで、打切り寿命：ｔ_i （ｉ＝１：全数打切り寿命、ｉ：２，３，…：１，２個破損時の打切り寿命）、形状母数：ｅ、尺度母数：α、位置母数：γ、信頼度Ｒ、試験個数：ｎ From the above, the truncation life can be calculated under any condition by the following equation (17).

Here, censorship life: t _i (i = 1: total truncation life, i: 2, 3,. Number: γ, reliability R, number of tests: n

さらに、目標寿命が満たせない可能性が高いと判断できる試験中止基準寿命についても式(17)の応用で計算できる。今、式(17)に、Ｒ＝０．１、ｎ＝３、ｉ＝１の値を入力すると、試験個数３個における１０％の信頼度での全数打切り寿命が得られるが、この全数打切り寿命は１番目の破損データの下側１０％の確率で得られる寿命と見ることもできる。したがって、それ以下の寿命で破損が生じた場合、所定のの母数を持つワイブル分布よりも短寿命である信頼度が９０％といえる。以上のことから、試験中止基準寿命は以下の式(18)により任意の条件で計算できる。   Furthermore, the test stop reference life that can be determined to be highly likely that the target life cannot be satisfied can also be calculated by applying Equation (17). Now, if the values of R = 0.1, n = 3, and i = 1 are input to the equation (17), the total truncation life with a reliability of 10% is obtained for three test pieces. The lifetime can be regarded as the lifetime obtained with a probability of 10% below the first damaged data. Therefore, when breakage occurs with a lifetime less than that, the reliability that is shorter than the Weibull distribution with a predetermined parameter can be said to be 90%. From the above, the test stop reference life can be calculated under arbitrary conditions by the following equation (18).

ここで、試験中止基準寿命：Ｔ_i （ｉ：1,2,3 …個破損時の試験中止基準寿命）、
形状母数：ｅ、尺度母数：α、位置母数：γ、信頼度Ｒ、試験個数：ｎ

Here, test stop reference life: _Ti (i: 1, 2, 3 ... test stop reference life when a piece breaks),
Shape parameter: e, scale parameter: α, position parameter: γ, reliability R, number of tests: n

式(16)から得られる全数打切り寿命と乱数シミュレーションを使って求めた全数打切り寿命の関係を図３５に示す。この図から明らかなように、両者の計算結果はほぼ一致している。   FIG. 35 shows the relationship between the total truncation lifetime obtained from the equation (16) and the total truncation lifetime obtained using random number simulation. As is apparent from this figure, the calculation results of both are almost the same.

一方、最尤法と呼ばれる尤度関数を最大化して解を求める方法を用いて、ワイブル分布に従う寿命試験での全数打切り寿命を算出する方法がある。その式は以下の式(19)で表される（上記の非特許文献１または非特許文献２）。   On the other hand, there is a method of calculating the total truncation lifetime in the lifetime test according to the Weibull distribution using a method of maximizing a likelihood function called a maximum likelihood method. The equation is represented by the following equation (19) (Non-patent Document 1 or Non-Patent Document 2).

ここで、全数打切り寿命：ｔ、形状母数：ｅ、尺度母数：α、位置母数：γ、信頼度（０〜１）：Ｒ、目標とするｐ（０〜１００）％寿命：Ｌ_p

Here, the total truncation life: t, shape parameter: e, scale parameter: α, position parameter: γ, reliability (0-1): R, target p (0-100)% life: L _p

この式は、１個破損時の残存試験片の打切り寿命、目標寿命が満たせない可能性が高いと判断できる試験中止基準寿命や位置母数を考慮した場合の計算はできない（個別の条件で最尤法を使って定式化すれば、計算式は作成できると考えられるが、数学的知識が必要になる）。したがって、本計算式は、従来の計算式よりも柔軟に対応できる式であるといえる。また、本計算式は、寿命が正規分布、対数正規分布等どのような確率分布に従っても、累積分布関数の逆関数が得られている場合は、全数打切り寿命や試験中止基準寿命を計算することができる。図３６に式(16)で計算した全数打切り寿命と式(19)で計算した全数打切り寿命の関係を示す。両者の計算結果は、完全に一致していることが分かる。   This formula cannot be calculated in consideration of the test abort reference life and position parameter, which can be judged as the possibility that the cleaved life of the remaining test piece at the time of one piece breakage and the target life cannot be satisfied (maximum under individual conditions). It is thought that a formula can be created if it is formulated using the likelihood method, but mathematical knowledge is required). Therefore, it can be said that this calculation formula can be handled more flexibly than the conventional calculation formula. In addition, this calculation formula calculates the total truncation life or the test stop reference life when the inverse function of the cumulative distribution function is obtained regardless of the probability distribution such as normal distribution, log normal distribution, etc. Can do. FIG. 36 shows the relationship between the total truncation life calculated by equation (16) and the total truncation life calculated by equation (19). It can be seen that the calculation results of both are completely the same.

以上は、寿命分布がワイブル分布に従う寿命試験を例にしたが、本発明の計算式はすべての寿命及び強度試験に対して応用できる。以下に、本発明をより一般的に表した式(20),(21) を示す。   The above is an example of a life test in which the life distribution follows the Weibull distribution, but the calculation formula of the present invention can be applied to all life and strength tests. The following formulas (20) and (21) are more general representations of the present invention.

ここで、
打切り寿命または強度：Ａ_i （ｉ＝１，２，３…：全数、０，１，２…個破損時の打切り寿命または強度）、
試験中止基準寿命または強度：Ｃ_i （ｉ＝１，２，３…：１，２，３…個破損時の試験中止基準寿命または強度）、
寿命または強度の累積分布関数の逆関数：Ｇ^-1（ｘ）、
ベータ分布関数の累積分布関数の逆関数：Ｂ^-1（１−Ｒ，ｉ，ｎ−ｉ＋１）、信頼度：Ｒ、試験個数：ｎ here,
Abort life or strength: A _i (i = 1, 2, 3...: Total number, 0, 1, 2.
Test abort reference life or strength: C _i (i = 1, 2, 3...: 1, 2, 3... Test abort reference life or strength at the time of breakage),
Inverse function of cumulative distribution function of life or strength: G ⁻¹ (x),
Inverse function of cumulative distribution function of beta distribution function: B ⁻¹ (1−R, i, n−i + 1), reliability: R, number of tests: n

なお、試験結果から寿命の範囲を算出する場合も、式(20)と式(21)を応用でき、以下の式(22),(23) を用いて計算できる。   Note that when calculating the range of the life from the test results, the equations (20) and (21) can be applied, and can be calculated using the following equations (22) and (23).

ここで、
未破損データの寿命または強度：Ｄ_i （ｉ＝１，２，３…：ｎ個中１，２，３…番目に短い寿命または強度）、
破損データの寿命・強度：Ｅ_i （ｉ＝１，２，３…：ｎ個中１，２，３…番目に破損した寿命または強度）、
寿命または強度の累積分布関数の逆関数：Ｇ^-1（ｘ）、
ベータ分布関数の累積分布関数の逆関数：Ｂ^-1（Ｒ，ｉ，ｎ−ｉ＋１）、Ｂ^-1（１−Ｒ，ｉ，ｎ−ｉ＋１）、信頼度：Ｒ、試験個数：ｎ

here,
Life or strength of undamaged data: D _i (i = 1, 2, 3..., 1, 2, 3...
Life / strength of damaged data: E _i (i = 1, 2, 3...: 1, 2, 3,.
Inverse function of cumulative distribution function of life or strength: G ⁻¹ (x),
Inverse function of cumulative distribution function of beta distribution function: B ⁻¹ (R, i, ni + 1), B ⁻¹ (1-R, i, ni + 1), reliability: R, number of tests: n

寿命及び強度試験のデータは、正規分布、対数正規分布、ワイブル分布等に従う場合が多い。また、正規分布、対数正規分布、ワイブル分布では逆関数が得られるので、この発明は、ほとんどの寿命及び強度試験に対応できる方法であるといえる。   The life and strength test data often follow a normal distribution, log normal distribution, Weibull distribution, and the like. In addition, since the inverse function is obtained in the normal distribution, log normal distribution, and Weibull distribution, the present invention can be said to be a method that can cope with most life and strength tests.

以上のように、この発明は、試験の設計とその結果を解釈するする各種計算を計算式で行えるので、従来の方法のように計算機を占有することがなく、その計算結果の精度も高い。また、この発明の計算式は、従来の最尤法を使った計算式よりも柔軟な対応が可能である。   As described above, according to the present invention, various calculations for interpreting the test design and the results can be performed by calculation formulas. Therefore, unlike the conventional method, the computer is not occupied and the accuracy of the calculation results is high. Further, the calculation formula of the present invention can be handled more flexibly than the calculation formula using the conventional maximum likelihood method.

つぎに、図３８のように、試験個数と全数打切り寿命の関係が、上記の式、
Ａ_i ＝Ｇ^-1（Ｂ^-1（Ｒ，ｉ，ｎ−ｉ＋１））
によって一義的に求まる理由を具体例で説明する。
今、仮に、軸受の試験を例にする。軸受の寿命分布はワイブル分布に従うとされているきで、以下は、Ｇ（ｘ）が次のワイブル分布の場合の例になる。

Next, as shown in FIG. 38, the relationship between the number of tests and the total truncation life is expressed by the above formula,
A _i = G ⁻¹ (B ⁻¹ (R, i, n−i + 1))
The reason why it is uniquely determined by means of a specific example will be described.
Let's take a bearing test as an example. The bearing life distribution is supposed to follow the Weibull distribution, and the following is an example when G (x) is the next Weibull distribution.

今、軸受の寿命分布の形状母数ｅが１．１で既知であるとするまた、軸受の位置母数γとＬ₁₀寿命には、以下の関係が有るとする。これは、複数の研究者が多数の試験を行い、その結果から軸受の寿命分布を実験的に求めた値である。
γ＝０．０５・Ｌ₁₀ 式(24) Now, it is assumed that the shape parameter e of the bearing life distribution is 1.1, and the bearing position parameter γ and the L ₁₀ life have the following relationship. This is a value obtained by conducting a number of tests by a plurality of researchers and experimentally determining the bearing life distribution from the results.
γ = 0.05 · L Formula ₁₀ (24)

そして、今、この発明を使って目標寿命Ｌ₁₀＝１００ｈよりも長寿命である信頼度が９０％である全数打切り寿命と試験個数の関係を求めることとする。このとき、まずは、ワイブル分布の母数３つを求める必要がある。今、形状母数ｅが１．１である。そしてＬ₁₀＝１００ｈから、以下の式を使って、尺度母数αを求める。最後に、式(24)を使って位置母数γを計算する。 Now, using this invention, the relationship between the total number of cut-off lifetimes and the number of test pieces whose reliability is 90% longer than the target lifetime L ₁₀ = ₁₀₀ h and the number of tests is determined. At this time, first, it is necessary to obtain three parameters of the Weibull distribution. Now, the shape parameter e is 1.1. Then, from L ₁₀ = 100h, the scale parameter α is obtained using the following equation. Finally, the position parameter γ is calculated using Equation (24).

すると、ワイブル分布の母数３つ以下のように求められる。
ｅ＝１．１、α＝７３５、γ＝５ Then, it is obtained as follows: the parameter of the Weibull distribution is three or less.
e = 1.1, α = 735, γ = 5

最後に、この発明の式であるＡ_i ＝Ｇ^-1（Ｂ^-1（Ｒ，ｉ，ｎ−ｉ＋１））を使って、全数打切り寿命と試験個数の関係を計算してみる。このとき、信頼度Ｒ＝０．９で、全数打切り時間なので破損個数ｉ＝１になる。

Finally, using A _i = G ⁻¹ (B ⁻¹ (R, i, n−i + 1)), which is the formula of the present invention, the relationship between the total truncation lifetime and the number of tests is calculated. At this time, since the reliability is R = 0.9 and the total number is cut off, the number of breakage i = 1.

この式から計算できる全数打切り寿命と試験個数との関係は、上記の図３８のようになり、全数打切り寿命Ａ_i と試験個数ｎとの関係が一義的な関係となる。この図から、試験個数がきまれば、打切り時間を設定できる。 The relationship between the total cut-off life and the test number that can be calculated from this equation is as shown in FIG. 38, and the relationship between the total cut-off life A _i and the test number n is a unique relationship. From this figure, if the number of tests is found, the censoring time can be set.

以上から手順の概略を整理すると、(1) 寿命分布の母数の設定、(2) この発明の式を使った打切り寿命の計算の順になる。(1) の母数の設定は、目標とする寿命分布を設定することによって決定できる。ワイブル分布の場合、３つの母数を持っているから、目標とする寿命分布を設定するためには、母数に関する３つ以上の関係式が必要である。目標とするＬ₁₀寿命を設定することは、それぞれの分布の母数に関する関係式を設定することにほかならない。この例はワイブル分布であるが、この発明はどのような分布でも目標とする寿命分布を設定できれば、打切り時間を計算できるということになる。 From the above, the outline of the procedure can be summarized as follows: (1) setting the parameter of the life distribution, and (2) calculating the censored life using the formula of the present invention. The parameter of (1) can be set by setting the target life distribution. In the case of the Weibull distribution, since there are three parameters, in order to set the target life distribution, three or more relational expressions related to the parameters are required. Setting the L ₁₀ life of the target is none other than to set the relationship for parametric each distribution. Although this example is a Weibull distribution, the present invention can calculate the censoring time if any desired life distribution can be set.

試験個数の設計についても、上記と同様にして図３８の関係を求め、全数打切り寿命Ａi が決めると、試験個数が定まる。
中止判断基準を求める場合も、上記と同様にして求めることができる。 As for the design of the test number, when the relationship shown in FIG. 38 is obtained in the same manner as described above and the total cut-off life Ai is determined, the test number is determined.
The cancellation determination criteria can also be determined in the same manner as described above.

試験結果からの寿命の範囲の見積もりについては、上記の内容を逆算するプロセスになる。以下に具体的な例を示して説明する。今、以下のような軸受の寿命データがあるとする。

The estimation of the range of the life from the test result is a process of calculating back the above contents. A specific example will be shown and described below. Assume that the following bearing life data is available.

この結果は、以下のように何通りかの見方ができる。
(1) １０個１０個の試験片が１００ｈ破損しなかった。
(2) １０個中９個の試験片が１５０ｈ破損しなかった。
(3) １０個中８個の試験片が２００ｈ破損しなかった。
(4) １０個中１個目の試験片が１００ｈで破損した。
(5) １０個中２個目の試験片が１５０ｈで破損した。 This result can be viewed in several ways:
(1) Ten specimens of 10 pieces were not damaged for 100 hours.
(2) Nine of the ten test pieces were not damaged for 150 hours.
(3) Eight of the ten test pieces were not damaged for 200 hours.
(4) The first test piece out of 10 was damaged after 100 hours.
(5) The second test piece out of 10 was damaged after 150 hours.

それぞれ見方で寿命計算していく。(1) の見方に対して寿命を計算するということは、１０個１０個の試験片が１００ｈ破損しない状況は、９０％の信頼度でいうと、どのような寿命分布より寿命が長くなるかを調べていくことになる。ここでもまた、軸受の場合を想定する。この場合、この発明の式の下限の式を使う。下限を計算するということは、ある信頼度で少なくともいえる寿命分布を計算することに他ならない。このとき、信頼度Ｒ＝０．９で、試験個数ｎ＝１０で、１００ｈは１番目に短い寿命なのでｉ＝１になる。
ワイブル分布に対する、下限の式、Ｄ_i ＝Ｇ^-1（Ｂ^-1（Ｒ，ｉ，ｎ−ｉ＋１））の式に値を入力する。すると、次式となる。

Life is calculated from each perspective. The calculation of the life against the viewpoint of (1) means that in the situation where 10 pieces of 10 test pieces are not damaged for 100 hours, the life is longer than what kind of life distribution with 90% reliability. I will investigate. Again, the case of a bearing is assumed. In this case, the lower limit formula of the formula of the present invention is used. To calculate the lower limit is to calculate at least a life distribution that can be said with a certain degree of reliability. At this time, reliability R = 0.9, test number n = 10, and 100h is the first shortest life, so i = 1.
A value is input to the lower limit expression for the Weibull distribution, D _i = G ⁻¹ (B ⁻¹ (R, i, n−i + 1)). Then, the following equation is obtained.

ここで、軸受の寿命分布の形状母数ｅが１．１で既知であるとする。また、軸受の位置母数γとＬ₁₀寿命には、γ＝０．０５・Ｌ₁₀の関係が有るとする。したがって、以下の３つ式が得られる。

Here, it is assumed that the shape parameter e of the bearing life distribution is known as 1.1. Further, it is assumed that there is a relationship of γ = 0.05 · L ₁₀ between the bearing position parameter γ and the L ₁₀ life. Therefore, the following three expressions are obtained.

他方、Ｌ_p 寿命と尺度母数には上記の式(25)の関係が有ったので、ｐに１０を入力すると、以下の式が得られる。 On the other hand, since there is a relationship of the above formula (25) between the L _p life and the scale parameter, when 10 is input to p, the following formula is obtained.

今、未知数が４つで４つの式が得られたので、これらの連立方程式は解くことができる。その結果、Ｌ₁₀の下限は以下になる。
Ｌ₁₀＝５０．４ Now that there are four unknowns and four equations are obtained, these simultaneous equations can be solved. As a result, the lower limit of L ₁₀ is as follows.
L ₁₀ = 50.4

すなわち、(1) の見方から、９０％の信頼度でＬ₁₀寿命は５０．４ｈ以上になるという結論が得られたことになる。これと同様に、(2) ，(3) 解釈で寿命の下限を計算すると以下になる。
Ｌ₁₀＝４５．１
Ｌ₁₀＝４３．０ That is, from the viewpoint of (1), it was concluded that the L ₁₀ life was 50.4 h or more with 90% reliability. In the same way, the lower limit of life is calculated by (2) and (3) interpretation as follows.
L ₁₀ = 45.1
L ₁₀ = 43.0

(1) 、(2) 、(3) のどの見方も正しい見方であるから、得られる結論はすべて正しい結論になるが、Ｌ₁₀寿命は９０％の信頼度で５０．４ｈという範囲をより限定できる結論が得られているわけであり、下限はこの結論を採用することになる。 (1), (2), (3) from view of the throat it is also correct view, the conclusion obtained is all in the correct conclusion, L ₁₀ life more limited the range of 50.4h at 90% confidence A possible conclusion has been obtained, and the lower limit will adopt this conclusion.

次に、上限であるが、これも上述と同じ手順になる。ここで、上限の計算は(4) ，(5) の見方に対して実施する。(4) の見方に対して寿命の上限を計算するということは、１０個中１個の試験片が１００ｈで破損する状況は、９０％の信頼度でいうと、どのような寿命分布より寿命が短くなるかを調べていくことになる。ワイブル分布に対する、
Ｄ_i ＝Ｇ^-1（Ｂ^-1（Ｒ，ｉ，ｎ−ｉ＋１）
の式に値を入力する。このとき、信頼度Ｒ＝０．９、試験個数ｎ＝１０で、１００ｈは１番目に破損した寿命なのでｉ＝１になる。 Next, although it is an upper limit, this is also the same procedure as described above. Here, the calculation of the upper limit is carried out based on the viewpoints of (4) and (5). The calculation of the upper limit of life for the viewpoint of (4) means that the situation in which one out of 10 specimens breaks at 100h means that the life distribution depends on the 90% reliability. We will investigate whether the length becomes shorter. For the Weibull distribution,
D _i = G ⁻¹ (B ⁻¹ (R, i, n−i + 1)
Enter a value in the expression. At this time, reliability R = 0.9, test number n = 10, and 100h is the first damaged life, so i = 1.

以上の式より、(4) の見方でのＬ₁₀の下限は以下になる。
Ｌ₁₀＝５９８．４
すなわち、(4) の見方から、９０％の信頼度でＬ₁₀寿命は５９８．４ｈ以下になるという結論が得られたことになる。これと同様に、(5) の解釈で寿命の下限を計算すると以下になります。
Ｌ₁₀＝２５６．２ From the above equation, the lower limit of L _{10 from} the viewpoint of (4) is as follows.
L ₁₀ = 598.4
That is, from the viewpoint of (4), it was concluded that the L ₁₀ life would be 598.4h or less with 90% reliability. Similarly, when the lower limit of life is calculated by the interpretation of (5), it is as follows.
L ₁₀ = 256.2

(4) ，(5) のどの見方も正しい見方であるから、得られる結論はすべて正しい結論になるが、Ｌ₁₀寿命は９０％の信頼度で２５６．２ｈという、範囲をより限定できる結論が得られているわけであるから、下限はこの結論を採用することになる。
その結果、寿命の範囲は以下になる。
５０．４＜Ｌ₁₀＜２５６．２ (4) Since all the views of (5) are correct, all the conclusions obtained are correct, but there is a conclusion that the L ₁₀ life is 256.2h with 90% confidence and the range can be more limited. Since this is the case, the lower limit will adopt this conclusion.
As a result, the range of lifetime is as follows.
50.4 <L ₁₀ <256.2

次に、この発明を一般的な疲労試験に適用した例を説明する。この例は、寿命の累積分布関数Ｇ（ｘ）がワイブル分布であった場合である。図３９に疲労試験の一例を示す。一般的な疲労試験では、図３９に示すようなＳＮ線図を得る実験が行われるが、目的によっては、１つの応力水準で寿命が問題ないかどうかを調べる場合がある。以下では、図３８のＳＮ線図で得られる寿命よりも長寿命であると判断するための打切り寿命を計算していく。   Next, an example in which the present invention is applied to a general fatigue test will be described. In this example, the cumulative distribution function G (x) of the lifetime is a Weibull distribution. FIG. 39 shows an example of a fatigue test. In a general fatigue test, an experiment for obtaining an SN diagram as shown in FIG. 39 is performed. Depending on the purpose, it may be examined whether there is no problem with the life at one stress level. In the following, the censored life for determining that the life is longer than the life obtained from the SN diagram of FIG. 38 is calculated.

まず、初めに、この試験の結果のばらつきを調査するために、試験データが１０個存在する応力振幅７８６Ｍｐａにおける寿命データから、試験の形状母数をワイブルプロットによって推定する。その結果は図４０になり、形状母数ｅは２．００になる。
ここからが、この実施形態の特徴の説明になる（疲労試験の場合の適用例）。ＳＮ線図の回帰直線は信頼度５０％におけるメディアン寿命（Ｌ₅₀）を示すので、それぞれの応力水準での尺度母数は、以下の式(2A)で計算できる。 First, in order to investigate the variation in the result of this test, the shape parameter of the test is estimated by the Weibull plot from the life data at a stress amplitude of 786 Mpa where 10 test data exist. The result is shown in FIG. 40, and the shape parameter e is 2.00.
From here, the features of this embodiment will be explained (application example in the case of a fatigue test). Since the regression line of the SN diagram shows the median life (L ₅₀ ) at a reliability of 50%, the scale parameter at each stress level can be calculated by the following equation (2A).

また、一般的な疲労試験では、位置母数γを０と考える。したがって、ワイブル分布の３つの母数は、形状母数ｅの実績値（この説明例の場合２．００）とＳＮ線図（図３８）があれば、各応力振幅に対してそれぞれ求めることができる。これより、各応力振幅に対して目標とする寿命が決定できるようになる。Ｇ（ｘ）がワイブル分布の場合、打切り寿命は以下の式で計算できる。   In a general fatigue test, the position parameter γ is assumed to be zero. Accordingly, the three parameters of the Weibull distribution can be obtained for each stress amplitude if there is an actual value of the shape parameter e (2.00 in this example) and an SN diagram (FIG. 38). it can. This makes it possible to determine a target life for each stress amplitude. When G (x) has a Weibull distribution, the truncation life can be calculated by the following equation.

打切り寿命：Ａ_i （ｉ＝0,1,2 …個破損時打切り寿命）、
ベータ分布関数の累積分布関数の逆関数：Ｂ^-1（Ｒ，ｉ，ｎ−ｉ＋１）、
形状母数：ｅ、尺度母数：α、位置母数：γ、信頼度：Ｒ 、試験個数：ｎ

Censoring life: A _i (i = 0,1,2… censoring life when broken)
Inverse function of cumulative distribution function of beta distribution function: B ⁻¹ (R, i, n−i + 1),
Shape parameter: e, scale parameter: α, position parameter: γ, reliability: R, number of tests: n

これは上述の式、Ａ_i ＝Ｇ^-1（Ｂ^-1（Ｒ，ｉ，ｎ−ｉ＋１））において、累積分布関数Ｇがワイブル分布であった場合の式である。今、目標とする寿命分布は決まっているので、形状母数、尺度母数、位置母数は入力でき、打ち切り寿命は計算できることになる。 This is an expression when the cumulative distribution function G is a Weibull distribution in the above-described expression, A _i = G ⁻¹ (B ⁻¹ (R, i, n−i + 1)). Now, since the target life distribution is determined, the shape parameter, the scale parameter, and the position parameter can be input, and the censored life can be calculated.

図４１に、各応力振幅に対して全数打切り寿命を信頼度９０％で計算した結果を示す。図中には、試験個数が１、９、２０の場合の計算結果も示している。この図から、ＳＮ線図で示される寿命よりも長寿命であると判断するための全数打切り寿命を見積もることができる。試験個数が９と２０個では、全数打切り寿命がＳＮ線図の回帰曲線よりも短寿命側に位置している。これは、試験個数が９と２０個のとき、ＳＮ線図で示される寿命よりも短い試験時間で、ＳＮ線図で示される寿命よりも長寿命であると判断する試験が可能であることを示している。   FIG. 41 shows the results of calculating the total truncation life with a reliability of 90% for each stress amplitude. The figure also shows the calculation results when the number of tests is 1, 9, and 20. From this figure, it is possible to estimate the total truncation life for determining that the life is longer than the life shown in the SN diagram. When the number of tests is 9 and 20, the total cut-off life is located on the shorter life side than the regression curve of the SN diagram. This means that when the number of tests is 9 and 20, it is possible to perform a test for judging that the life is longer than the life shown in the SN diagram with a test time shorter than the life shown in the SN diagram. Show.

これは全数打切り寿命を計算する具体例だけを計算した例になるが、この方法を使えば、どのくらいの試験個数を用意すれば、納期以内（全数打切り寿命）で試験を終了することができるかを、一般の疲労試験に対して計算できる。また、式の応用によって、試験結果から寿命の範囲や、目標寿命を満たさないと判断できる破損時間も計算できる。   This is an example in which only a specific example of calculating the total cut-off life is calculated, but if this method is used, how many test pieces can be prepared and the test can be completed within the delivery date (total cut-off life) Can be calculated for a general fatigue test. In addition, by applying the formula, it is possible to calculate the range of life from the test results and the failure time that can be determined as not satisfying the target life.

１…コンピュータ
２…表示装置
３…入力装置
６，６Ａ，６Ｂ，６Ｃ…入力促し画面出力手段
７，７Ａ，７Ｂ，７Ｃ…入力処理手段
８，８Ａ，８Ｂ，８Ｃ…入力情報記憶手段
９，９Ａ，９Ｂ，９Ｃ…回答演算処理手段
１０…出力結果出力手段
１１〜１３…設計プログラム
１４…解釈プログラム DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Computer 2 ... Display apparatus 3 ... Input device 6, 6A, 6B, 6C ... Input prompt screen output means 7, 7A, 7B, 7C ... Input processing means 8, 8A, 8B, 8C ... Input information storage means 9, 9A , 9B, 9C ... answer calculation processing means 10 ... output result output means 11 to 13 ... design program 14 ... interpretation program

Claims (28)

目標とする打切り寿命または打切り強度まで破損しなければ、要求する寿命または強度を満足すると判定する打切り試験において、コンピュータを用いて、上記の目標とする打切り寿命または打切り強度を定める設計方法であって、
コンピュータに対して、定められた各項目の内容となる情報を入力する入力過程と、この入力過程で入力された情報を用い、定められた計算式に従って、上記の目標とする打切り寿命または打切り強度Ａ_i を上記コンピュータで計算する回答演算処理過程とを含み、 上記回答演算処理過程では、上記定められた計算式として、次式
Ａ_i ＝Ｇ^-1（Ｂ^-1（Ｒ，ｉ，ｎ−ｉ＋１））
を用い、
ここで、目標とする打切り寿命または打切り強度：Ａ_i （ｉ＝１，２，３…、Ａ_i はｉがそれぞれ０，１，２…個だけ破損した時の打切り寿命または打切り強度）、
寿命または強度の累積分布関数の逆関数：Ｇ^-1（ｘ）、
ベータ分布関数の累積分布関数の逆関数：Ｂ^-1（Ｒ，ｉ，ｎ−ｉ＋１）、信頼度：Ｒ、試験個数：ｎ、
であり、
上記入力過程で入力する定められた各項目は、信頼度Ｒ、試験個数ｎ、および破損個数ｉ、並びに上記回答演算処理過程で用いる上記寿命または強度の累積分布関数の逆関数における未定の母数である、
ことを特徴とする打切り寿命および強度試験における試験の設計方法。 A design method that uses a computer to determine the above-mentioned target censoring life or censoring strength in a censoring test that determines that the required cir- cuit life or strength is satisfied if it does not break to the target censoring life or censoring strength. ,
An input process for inputting information that is the content of each defined item to the computer, and the target censorship life or censoring strength according to a predetermined calculation formula using the information input in this input process. Answer calculation process in which A _i is calculated by the computer. In the answer calculation process, the following formula is given as: A _i = G ⁻¹ (B ⁻¹ (R, i, n− i + 1))
Use
Here, the target cutting life or cutting strength: A _i (i = 1, 2, 3..., A _i is the cutting life or cutting strength when i is broken by 0, 1, 2,.
Inverse function of cumulative distribution function of life or strength: G ⁻¹ (x),
Inverse function of cumulative distribution function of beta distribution function: B ⁻¹ (R, i, n−i + 1), reliability: R, number of tests: n,
And
The determined items to be input in the input process are the reliability R, the number of tests n, the number of breaks i, and the undetermined parameter in the inverse function of the cumulative distribution function of the life or strength used in the answer calculation process. Is,
A test design method in a censored life and strength test. 請求項１において、上記寿命または強度の累積分布関数が、正規分布の関数である打切り寿命および強度試験における試験の設計方法。   The test design method according to claim 1, wherein the cumulative distribution function of the life or strength is a function of a normal distribution. 請求項１において、上記寿命または強度の累積分布関数が、対数正規分布の関数である打切り寿命および強度試験における試験の設計方法。   The test design method according to claim 1, wherein the cumulative distribution function of life or strength is a function of lognormal distribution. 請求項１において、上記寿命または強度の累積分布関数が、ワイブル分布の関数である打切り寿命および強度試験における試験の設計方法。   The test design method according to claim 1, wherein the cumulative distribution function of the life or strength is a function of a Weibull distribution. 請求項１において、上記打切り試験が、目標とする打切り寿命まで破損しなければ要求する寿命を満足すると判定する疲労試験であって、
上記累積分布関数が次式で定まるワイブル分布の関数であり、

上記回答演算処理過程では、上記定められた計算式として、次式を用い、

ただし、
打切り寿命：Ａ_i （ｉ＝１，２，３…、Ａ_i はｉがそれぞれ０，１，２…個だけ破損した時の打切り寿命）、
ベータ分布関数の累積分布関数の逆関数：Ｂ^-1（Ｒ，ｉ，ｎ−ｉ＋１）、
形状母数：ｅ、尺度母数：α、位置母数：γ、信頼度：Ｒ、試験個数：ｎ、
であり、
上記入力過程で入力する定められた各項目のうち、上記逆関数における未定の母数は、上記形状母数ｅ、尺度母数α、および位置母数γのうちの、計算式に定められていない母数である打切り寿命における試験の設計方法。 The fatigue test according to claim 1, wherein the censoring test is a fatigue test that determines that the required service life is satisfied if it does not break to the target censoring service life,
The cumulative distribution function is a Weibull distribution function determined by the following equation:

In the above answer calculation process, the following formula is used as the above-described calculation formula:

However,
Censoring life: A _i (i = 1, 2, 3..., A _i is censoring life when i is broken by 0, 1, 2,.
Inverse function of cumulative distribution function of beta distribution function: B ⁻¹ (R, i, n−i + 1),
Shape parameter: e, scale parameter: α, position parameter: γ, reliability: R, number of tests: n,
And
Among the determined items to be input in the input process, the undetermined parameter in the inverse function is determined by a calculation formula among the shape parameter e, the scale parameter α, and the position parameter γ. Test design method at censored life that is not a parameter. 目標とする打切り寿命または打切り強度まで破損しなければ、要求する寿命または強度を満足すると判定する打切り試験において、上記の目標とする打切り寿命または打切り強度を定める設計装置であって、
定められた各項目の内容となる情報の入力を促す画面を表示装置の画面に出力する入力促し画面出力手段と、上記各項目の入力された情報を入力情報記憶手段に記憶させる入力処理手段と、上記入力情報記憶手段に記憶された情報を用い、定められた計算式に従って、上記の目標とする打切り寿命または打切り強度Ａ_i を上記コンピュータで計算する回答演算処理手段とを含み、
上記回答演算処理手段では、上記定められた計算式として、次式
Ａ_i ＝Ｇ^-1（Ｂ^-1（Ｒ，ｉ，ｎ−ｉ＋１））
を用い、
ここで、目標とする打切り寿命または打切り強度：Ａ_i （ｉ＝１，２，３…、Ａ_i はｉがそれぞれ０，１，２…個だけ破損した時の打切り寿命または打切り強度）、
寿命または強度の累積分布関数の逆関数：Ｇ^-1（ｘ）、
ベータ分布関数の累積分布関数の逆関数：Ｂ^-1（Ｒ，ｉ，ｎ−ｉ＋１）、信頼度：Ｒ、試験個数：ｎ、
であり、
上記入力促し画面出力手段で情報の入力を促す定められた各項目は、信頼度Ｒ、試験個数ｎ、および破損個数ｉ、並びに上記回答演算処理手段で用いる上記寿命または強度の累積分布関数の逆関数における未定の母数である、
ことを特徴とする打切り寿命および強度試験における試験の設計装置。 A design apparatus for determining the above-mentioned target cutting life or cutting strength in a cutting test that determines that the required life or strength is satisfied if the target cutting life or cutting strength is not damaged.
Input prompting screen output means for outputting a screen for prompting input of information as the contents of each defined item to the screen of the display device; and input processing means for storing input information of each item in the input information storage means; Using the information stored in the input information storage means, and according to a predetermined calculation formula, the computer calculates the target censorship life or censoring strength A _i by the computer,
In the answer calculation processing means, the following formula A _i = G ⁻¹ (B ⁻¹ (R, i, n−i + 1))
Use
Here, the target cutting life or cutting strength: A _i (i = 1, 2, 3..., A _i is the cutting life or cutting strength when i is broken by 0, 1, 2,.
Inverse function of cumulative distribution function of life or strength: G ⁻¹ (x),
Inverse function of cumulative distribution function of beta distribution function: B ⁻¹ (R, i, n−i + 1), reliability: R, number of tests: n,
And
The predetermined items that prompt the input of information by the input prompting screen output means are the reliability R, the number of tests n, the number of damages i, and the inverse of the cumulative distribution function of the life or strength used in the answer calculation processing means. An undetermined parameter in the function,
A test design apparatus for a censored life and strength test. コンピュータで実行可能なプログラムであって、
目標とする打切り寿命または打切り強度まで破損しなければ、要求する寿命または強度を満足すると判定する打切り試験において、上記の目標とする打切り寿命または打切り強度を定めるプログラムであり、
表示装置の画面に、定められた各項目の内容となる情報の入力を促す入力促し画面出力手順と、
上記各項目の入力された情報を入力情報記憶手段に記憶させる入力処理手順と、
実行命令に応答して、上記入力情報記憶手段に記憶された情報を用い、定められた計算式に従って、上記の目標とする打切り寿命または打切り強度Ａ_i を上記コンピュータで計算する回答演算処理手順とを含み、
上記回答演算処理手順では、上記定められた計算式として、次式
Ａ_i ＝Ｇ^-1（Ｂ^-1（Ｒ，ｉ，ｎ−ｉ＋１）
を用い、
ここで、目標とする打切り寿命または打切り強度：Ａ_i （ｉ＝１，２，３…、Ａ_i はｉがそれぞれ０，１，２…個だけ破損した時の打切り寿命または打切り強度）、
寿命または強度の累積分布関数の逆関数：Ｇ^-1（ｘ）、
ベータ分布関数の累積分布関数の逆関数：Ｂ^-1（Ｒ，ｉ，ｎ−ｉ＋１）、信頼度：Ｒ、試験個数：ｎ、
であり、
上記入力促し画面出力手順で情報の入力を促す定められた各項目は、信頼度Ｒ、試験個数ｎ、および破損個数ｉ、並びに上記回答演算処理過程で用いる上記寿命または強度の累積分布関数の逆関数における未定の母数である、
ことを特徴とする打切り寿命および強度試験における試験の設計プログラム。 A program executable on a computer,
A program that determines the above-mentioned target censorship life or censoring strength in a censorship test that determines that the required censorship life or strength is satisfied if it does not break to the target censorship life or censoring strength,
An input prompt screen output procedure for prompting the user to input information that is the contents of each defined item on the screen of the display device,
An input processing procedure for storing the input information of each item in the input information storage means;
In response to the execution command, using the information stored in the input information storage means, an answer calculation processing procedure for calculating the target censoring life or censoring strength A _i by the computer according to a predetermined calculation formula; Including
In the answer calculation processing procedure, the following formula A _i = G ⁻¹ (B ⁻¹ (R, i, n−i + 1)
Use
Here, the target cutting life or cutting strength: A _i (i = 1, 2, 3..., A _i is the cutting life or cutting strength when i is broken by 0, 1, 2,.
Inverse function of cumulative distribution function of life or strength: G ⁻¹ (x),
Inverse function of cumulative distribution function of beta distribution function: B ⁻¹ (R, i, n−i + 1), reliability: R, number of tests: n,
And
Each item determined to prompt the input of information in the input prompting screen output procedure includes the reliability R, the number of tests n, the number of damages i, and the inverse of the cumulative distribution function of the life or strength used in the answer calculation process. An undetermined parameter in the function,
A test design program in censored life and strength tests. 目標とする打切り寿命または打切り強度まで破損しなければ、要求する寿命または強度を満足すると判定する打切り試験において、コンピュータを用いて、試験個数ｎを定める設計方法であって、
コンピュータに対して、定められた各項目の内容となる情報を入力する入力過程と、この入力過程で入力された情報を用い、定められた計算式に従って、上記試験個数ｎを上記コンピュータで計算する回答演算処理過程とを含み、
上記回答演算処理過程では、上記定められた計算式として、次式
Ａ_i ＝Ｇ^-1（Ｂ^-1（Ｒ，ｉ，ｎ−ｉ＋１））
を用い、
ここで、目標とする打切り寿命または打切り強度：Ａ_i （ｉ＝１，２，３…、Ａ_i はｉがそれぞれ０，１，２…個だけ破損した時の打切り寿命または打切り強度）、
寿命または強度の累積分布関数の逆関数：Ｇ^-1（ｘ）、
ベータ分布関数の累積分布関数の逆関数：Ｂ^-1（Ｒ，ｉ，ｎ−ｉ＋１）、信頼度：Ｒ、試験個数：ｎ、
であり、
上記入力過程で入力する定められた各項目は、目標とする打切り寿命または打切り強度Ａ_i 、信頼度Ｒ、および破損個数ｉ、並びに上記回答演算処理過程で用いる上記寿命または強度の累積分布関数の逆関数における未定の母数である、
ことを特徴とする打切り寿命および強度試験における試験の設計方法。 A design method for determining the number n of tests using a computer in a censoring test for determining that the required life or strength is satisfied if it does not break to the target censoring life or censoring strength,
An input process for inputting information that is the contents of each defined item to the computer, and using the information input in this input process, the number of tests n is calculated by the computer according to a predetermined calculation formula. Answer calculation process,
In the answer calculation process, the following formula is used as the following formula: A _i = G ⁻¹ (B ⁻¹ (R, i, n−i + 1))
Use
Here, the target cutting life or cutting strength: A _i (i = 1, 2, 3..., A _i is the cutting life or cutting strength when i is broken by 0, 1, 2,.
Inverse function of cumulative distribution function of life or strength: G ⁻¹ (x),
Inverse function of cumulative distribution function of beta distribution function: B ⁻¹ (R, i, n−i + 1), reliability: R, number of tests: n,
And
Each of the determined items to be input in the input process includes a target censored life or censor strength A _i , reliability R, and the number of breaks i, and a cumulative distribution function of the service life or strength used in the answer calculation process. An undetermined parameter in the inverse function,
A test design method in a censored life and strength test. 請求項８において、上記寿命または強度の累積分布関数が、正規分布の関数である打切り寿命および強度試験における試験の設計方法。   The test design method according to claim 8, wherein the cumulative distribution function of the life or strength is a function of a normal distribution. 請求項８において、上記寿命または強度の累積分布関数が、対数正規分布の関数である打切り寿命および強度試験における試験の設計方法。   The test design method according to claim 8, wherein the cumulative distribution function of the life or strength is a function of a lognormal distribution. 請求項８において、上記寿命または強度の累積分布関数が、ワイブル分布の関数である打切り寿命および強度試験における試験の設計方法。   9. The test design method according to claim 8, wherein the cumulative distribution function of the life or strength is a function of the Weibull distribution. 請求項８において、上記打切り試験が、目標とする打切り寿命まで破損しなければ要求する寿命を満足すると判定する疲労試験であって、
上記累積分布関数が次式で定まるワイブル分布の関数であり、

上記回答演算処理過程では、上記定められた計算式として、次式を用い、

ただし、
打切り寿命：Ａ_i （ｉ＝１，２，３…、Ａ_i はｉがそれぞれ０，１，２…個だけ破損した時の打切り寿命）、
ベータ分布関数の累積分布関数の逆関数：Ｂ^-1（Ｒ，ｉ，ｎ−ｉ＋１）、
形状母数：ｅ、尺度母数：α、位置母数：γ、信頼度：Ｒ、試験個数：ｎ、
であり、
上記入力過程で入力する定められた各項目のうち、上記逆関数における未定の母数は、上記形状母数ｅ、尺度母数α、および位置母数γのうちの、計算式に定められていない母数である打切り寿命における試験の設計方法。 The fatigue test according to claim 8, wherein the censoring test is a fatigue test that determines that a required service life is satisfied if the test is not broken to a target censoring service life.
The cumulative distribution function is a Weibull distribution function determined by the following equation:

In the above answer calculation process, the following formula is used as the above-described calculation formula:

However,
Censoring life: A _i (i = 1, 2, 3..., A _i is censoring life when i is broken by 0, 1, 2,.
Inverse function of cumulative distribution function of beta distribution function: B ⁻¹ (R, i, n−i + 1),
Shape parameter: e, scale parameter: α, position parameter: γ, reliability: R, number of tests: n,
And
Among the determined items to be input in the input process, the undetermined parameter in the inverse function is determined by a calculation formula among the shape parameter e, the scale parameter α, and the position parameter γ. Test design method at censored life that is not a parameter. 目標とする打切り寿命または打切り強度まで破損しなければ、要求する寿命または強度を満足すると判定する打切り試験において、試験個数ｎを定める設計装置であって、
定められた各項目の内容となる情報の入力を促す画面を表示装置の画面に出力する入力促し画面出力手段と、上記各項目の入力された情報を入力情報記憶手段に記憶させる入力処理手段と、上記入力情報記憶手段に記憶された情報を用い、定められた計算式に従って、上記試験個数ｎを上記コンピュータで計算する回答演算処理手段とを含み、
上記回答演算処理手段では、上記定められた計算式として、次式
Ａ_i ＝Ｇ^-1（Ｂ^-1（Ｒ，ｉ，ｎ−ｉ＋１））
を用い、
ここで、目標とする打切り寿命または打切り強度：Ａ_i （ｉ＝１，２，３…、Ａ_i はｉがそれぞれ０，１，２…個だけ破損した時の打切り寿命または打切り強度）、
寿命または強度の累積分布関数の逆関数：Ｇ^-1（ｘ）、
ベータ分布関数の累積分布関数の逆関数：Ｂ^-1（Ｒ，ｉ，ｎ−ｉ＋１）、信頼度：Ｒ、試験個数：ｎ、
であり、
上記入力促し画面出力手段で情報の入力を促す定められた各項目は、目標とする打切り寿命または打切り強度Ａ_i 、信頼度Ｒ、および破損個数ｉ、並びに上記回答演算処理手段で用いる上記寿命または強度の累積分布関数の逆関数における未定の母数である、
ことを特徴とする打切り寿命および強度試験における試験の設計装置。 A design apparatus for determining the number n of tests in a censoring test for determining that a required service life or strength is satisfied if it does not break to a target censor life or censor strength,
Input prompting screen output means for outputting a screen for prompting input of information as the contents of each defined item to the screen of the display device; and input processing means for storing input information of each item in the input information storage means; Using the information stored in the input information storage means, and in accordance with a predetermined calculation formula, the computer calculates the test number n by the computer,
In the answer calculation processing means, the following formula A _i = G ⁻¹ (B ⁻¹ (R, i, n−i + 1))
Use
Here, the target cutting life or cutting strength: A _i (i = 1, 2, 3..., A _i is the cutting life or cutting strength when i is broken by 0, 1, 2,.
Inverse function of cumulative distribution function of life or strength: G ⁻¹ (x),
Inverse function of cumulative distribution function of beta distribution function: B ⁻¹ (R, i, n−i + 1), reliability: R, number of tests: n,
And
The predetermined items prompting the input of information by the input prompting screen output means are the target censoring life or censoring strength A _i , the reliability R, the number of breakage i, and the life or An undetermined parameter in the inverse of the cumulative distribution function of intensity,
A test design apparatus for a censored life and strength test. コンピュータで実行可能なプログラムであって、
目標とする打切り寿命または打切り強度まで破損しなければ、要求する寿命または強度を満足すると判定する打切り試験において、試験個数ｎを定めるプログラムであり、
表示装置の画面に、定められた各項目の内容となる情報の入力を促す入力促し画面出力手順と、
上記各項目の入力された情報を入力情報記憶手段に記憶させる入力処理手順と、
実行命令に応答して、上記入力情報記憶手段に記憶された情報を用い、定められた計算式に従って、上記試験個数ｎを上記コンピュータで計算する回答演算処理手順とを含み、 上記回答演算処理手順では、上記定められた計算式として、次式
Ａ_i ＝Ｇ^-1（Ｂ^-1（Ｒ，ｉ，ｎ−ｉ＋１））
を用い、
ここで、目標とする打切り寿命または打切り強度：Ａ_i （ｉ＝１，２，３…、Ａ_i はｉがそれぞれ０，１，２…個だけ破損した時の打切り寿命または打切り強度）、
寿命または強度の累積分布関数の逆関数：Ｇ^-1（ｘ）、
ベータ分布関数の累積分布関数の逆関数：Ｂ^-1（Ｒ，ｉ，ｎ−ｉ＋１）、信頼度：Ｒ、試験個数：ｎ、
であり、
上記入力促し画面出力手順で情報の入力を促す定められた各項目は、目標とする打切り寿命または打切り強度Ａ_i 、信頼度Ｒ、および破損個数ｉ、並びに上記回答演算処理手順で用いる上記寿命または強度の累積分布関数の逆関数における未定の母数である、
ことを特徴とする打切り寿命および強度試験における試験の設計プログラム。 A program executable on a computer,
A program for determining the number n of tests in a censoring test for determining that the required service life or strength is satisfied if it does not break to the target censoring service life or censoring strength,
An input prompt screen output procedure for prompting the user to input information that is the contents of each defined item on the screen of the display device,
An input processing procedure for storing the input information of each item in the input information storage means;
An answer calculation processing procedure that uses the information stored in the input information storage means in response to the execution command and calculates the test number n by the computer according to a predetermined calculation formula, Then, as the above-described calculation formula, the following formula: A _i = G ⁻¹ (B ⁻¹ (R, i, n−i + 1))
Use
Here, the target cutting life or cutting strength: A _i (i = 1, 2, 3..., A _i is the cutting life or cutting strength when i is broken by 0, 1, 2,.
Inverse function of cumulative distribution function of life or strength: G ⁻¹ (x),
Inverse function of cumulative distribution function of beta distribution function: B ⁻¹ (R, i, n−i + 1), reliability: R, number of tests: n,
And
Each of the items urged to input information in the input prompting screen output procedure includes the target censoring life or censoring strength A _i , the reliability R, the number of breakage i, and the life or An undetermined parameter in the inverse of the cumulative distribution function of intensity,
A test design program in censored life and strength tests. 目標とする打切り寿命または打切り強度まで破損しなければ、要求する寿命または強度を満足すると判定する打切り試験において、コンピュータを用いて、その水準の寿命または強度が要求寿命・または強度を満足できないと判断する試験中止基準の時間または強度Ｃ_i を定める設計方法であって、
コンピュータに対して、定められた各項目の内容となる情報を入力する入力過程と、この入力過程で入力された情報を用い、定められた計算式に従って、上記の試験中止基準の時間または強度Ｃ_i を上記コンピュータで計算する回答演算処理過程とを含み、
上記回答演算処理過程では、上記定められた計算式として、次式
Ｃ_i ＝Ｇ^-1（Ｂ^-1（１−Ｒ，ｉ，ｎ−ｉ＋１））
を用い、
ここで、試験中止基準の時間または強度：Ｃ_i （ｉ＝１，２，３…、Ｃ_i はｉがそれぞれ０，１，２…個だけ破損した時の試験中止基準の時間または強度）、
寿命または強度の累積分布関数の逆関数：Ｇ^-1（ｘ）、
ベータ分布関数の累積分布関数の逆関数：Ｂ^-1（１−Ｒ，ｎ−ｉ＋１）、信頼度：Ｒ、試験個数：ｎ、
であり、
上記入力過程で入力する定められた各項目は、信頼度Ｒ、試験個数ｎ、および破損個数ｉ、並びに上記回答演算処理過程で用いる上記寿命または強度の累積分布関数の逆関数における未定の母数である、
ことを特徴とする打切り寿命および強度試験における試験の設計方法。 In a censorship test where it is determined that the required life or strength is satisfied if it does not break to the target cleave life or censor strength, it is determined that the level of life or strength cannot satisfy the required life or strength using a computer. A design method for determining the time or strength C _i of the test cancellation reference to
An input process for inputting information that is the content of each defined item to the computer, and using the information input in this input process, according to a predetermined calculation formula, an answer calculation process for calculating _i by the computer,
In the answer calculation process, the following formula C _i = G ⁻¹ (B ⁻¹ (1−R, i, n−i + 1))
Use
Here, the time or strength of the test stop criteria: C _i (i = 1, 2, 3..., C _i is the test stop criteria time or strength when i is broken by 0, 1, 2,.
Inverse function of cumulative distribution function of life or strength: G ⁻¹ (x),
Inverse function of cumulative distribution function of beta distribution function: B ⁻¹ (1−R, n−i + 1), reliability: R, number of tests: n,
And
The determined items to be input in the input process are the reliability R, the number of tests n, the number of breaks i, and the undetermined parameter in the inverse function of the cumulative distribution function of the life or strength used in the answer calculation process. Is,
A test design method in a censored life and strength test. 請求項１５において、上記寿命または強度の累積分布関数が、正規分布の関数である打切り寿命および強度試験における試験の設計方法。   The test design method according to claim 15, wherein the cumulative distribution function of the life or strength is a function of a normal distribution. 請求項１５において、上記寿命または強度の累積分布関数が、対数正規分布の関数である打切り寿命および強度試験における試験の設計方法。   16. The test design method according to claim 15, wherein the cumulative distribution function of the life or strength is a function of a lognormal distribution. 請求項１５において、上記寿命または強度の累積分布関数が、ワイブル分布の関数である打切り寿命および強度試験における試験の設計方法。   16. The test design method according to claim 15, wherein the cumulative distribution function of the life or strength is a function of the Weibull distribution. 請求項１５において、上記打切り試験が、目標とする打切り寿命まで破損しなければ要求する寿命を満足すると判定する疲労試験であって、
上記累積分布関数が次式で定まるワイブル分布の関数であり、

上記回答演算処理過程では、上記定められた計算式として、次式を用い、

ただし、
試験中止基準の時間または強度：Ｃ_i （ｉ＝１，２，３…、Ｃ_i はｉがそれぞれ０，１，２…個だけ破損した時の試験中止基準の時間または強度）、
ベータ分布関数の累積分布関数の逆関数：Ｂ^-1（１−Ｒ，ｉ，ｎ−ｉ＋１）、
形状母数：ｅ、尺度母数：α、位置母数：γ、信頼度：Ｒ、試験個数：ｎ、
であり、
上記入力過程で入力する定められた各項目のうち、上記逆関数における未定の母数は、上記形状母数ｅ、尺度母数α、および位置母数γのうちの、計算式に定められていない母数である打切り寿命における試験の設計方法。 The fatigue test according to claim 15, wherein the censoring test is a fatigue test that determines that the required service life is satisfied if the test is not broken to the target censoring service life,
The cumulative distribution function is a Weibull distribution function determined by the following equation:

In the above answer calculation process, the following formula is used as the above-described calculation formula:

However,
Test cancellation reference time or strength: C _i (i = 1, 2, 3..., C _i is the test cancellation reference time or strength when i is broken by 0, 1, 2,.
Inverse function of cumulative distribution function of beta distribution function: B ⁻¹ (1−R, i, n−i + 1),
Shape parameter: e, scale parameter: α, position parameter: γ, reliability: R, number of tests: n,
And
Among the determined items to be input in the input process, the undetermined parameter in the inverse function is determined by a calculation formula among the shape parameter e, the scale parameter α, and the position parameter γ. Test design method at censored life that is not a parameter. 目標とする打切り寿命または打切り強度まで破損しなければ、要求する寿命または強度を満足すると判定する打切り試験において、その水準の寿命または強度が要求寿命・または強度を満足できないと判断する試験中止基準の寿命または強度を定める設計装置であって、
定められた各項目の内容となる情報の入力を促す画面を表示装置の画面に出力する入力促し画面出力手段と、上記各項目の入力された情報を入力情報記憶手段に記憶させる入力処理手段と、上記入力情報記憶手段に記憶された情報を用い、定められた計算式に従って、上記の試験中止基準の寿命または強度Ｃ_i を上記コンピュータで計算する回答演算処理手段とを含み、
上記回答演算処理手段では、上記定められた計算式として、次式
Ｃ_i ＝Ｇ^-1（Ｂ^-1（１−Ｒ，ｉ，ｎ−ｉ＋１））
を用い、
ここで、試験中止基準の寿命または強度：Ｃ_i （ｉ＝１，２，３…、Ｃ_i はｉがそれぞれ０，１，２…個だけ破損した時の試験中止基準の寿命または強度）、
寿命または強度の累積分布関数の逆関数：Ｇ^-1（ｘ）、
ベータ分布関数の累積分布関数の逆関数：Ｂ^-1（１−Ｒ，ｉ，ｎ−ｉ＋１）、信頼度：Ｒ、試験個数：ｎ、
であり、
上記入力促し画面出力手段で情報の入力を促す定められた各項目は、信頼度Ｒ、試験個数ｎ、および破損個数ｉ、並びに上記回答演算処理手段で用いる上記寿命または強度の累積分布関数の逆関数における未定の母数である、
ことを特徴とする打切り寿命および強度試験における試験の設計装置。 In the censorship test where it is determined that the required life or strength is satisfied if it does not break to the target censored life or censoring strength, the test abort criteria for determining that the level of life or strength cannot satisfy the required life or strength. A design device for determining the life or strength,
Input prompting screen output means for outputting a screen for prompting input of information as the contents of each defined item to the screen of the display device; and input processing means for storing input information of each item in the input information storage means; Using the information stored in the input information storage means, and according to a predetermined calculation formula, the calculation processing means for calculating the life or strength C _i of the test stop criteria by the computer,
In the answer calculation processing means, the following formula C _i = G ⁻¹ (B ⁻¹ (1−R, i, n−i + 1))
Use
Here, the life or strength of the test stop criteria: C _i (i = 1, 2, 3..., C _i is the life or strength of the test stop criteria when i is broken by 0, 1, 2,.
Inverse function of cumulative distribution function of life or strength: G ⁻¹ (x),
Inverse function of cumulative distribution function of beta distribution function: B ⁻¹ (1−R, i, n−i + 1), reliability: R, number of tests: n,
And
The predetermined items that prompt the input of information by the input prompting screen output means are the reliability R, the number of tests n, the number of damages i, and the inverse of the cumulative distribution function of the life or strength used in the answer calculation processing means. An undetermined parameter in the function,
A test design apparatus for a censored life and strength test. コンピュータで実行可能なプログラムであって、
目標とする打切り寿命または打切り強度まで破損しなければ、要求する寿命または強度を満足すると判定する打切り試験において、その水準の寿命または強度が要求寿命・または強度を満足できないと判断する試験中止基準の寿命または強度を定めるプログラムであり、
表示装置の画面に、定められた各項目の内容となる情報の入力を促す入力促し画面出力手順と、
上記各項目の入力された情報を入力情報記憶手段に記憶させる入力処理手順と、
実行命令に応答して、上記入力情報記憶手段に記憶された情報を用い、定められた計算式に従って、定められた計算式に従って、上記の試験中止基準の寿命または強度Ｃi を上記コンピュータで計算する回答演算処理手順とを含み、
上記回答演算処理手順では、上記定められた計算式として、次式
Ｃ_i ＝Ｇ^-1（Ｂ^-1（１−Ｒ，ｉ，ｎ−ｉ＋１））
を用い、
ここで、試験中止基準の寿命または強度：Ｃ_i （ｉ＝１，２，３…、Ｃ_i はｉがそれぞれ０，１，２…個だけ破損した時の試験中止基準の寿命または強度）、
寿命または強度の累積分布関数の逆関数：Ｇ^-1（ｘ）、
ベータ分布関数の累積分布関数の逆関数：Ｂ^-1（１−Ｒ，ｉ，ｎ−ｉ＋１）、信頼度：Ｒ、試験個数：ｎ、
であり、
上記入力促し画面出力手順で情報の入力を促す定められた各項目は、信頼度Ｒ、試験個数ｎ、および破損個数ｉ、並びに上記回答演算処理手順で用いる上記寿命または強度の累積分布関数の逆関数における未定の母数である、
ことを特徴とする打切り寿命および強度試験における試験の設計プログラム。 A program executable on a computer,
In the censorship test where it is determined that the required life or strength is satisfied if it does not break to the target censored life or censoring strength, the test abort criteria for determining that the level of life or strength cannot satisfy the required life or strength. A program that determines the life or strength,
An input prompt screen output procedure for prompting the user to input information that is the contents of each defined item on the screen of the display device,
An input processing procedure for storing the input information of each item in the input information storage means;
In response to the execution instruction, the information stored in the input information storage means is used, and the life or strength Ci of the test stop criterion is calculated by the computer according to the predetermined calculation formula according to the predetermined calculation formula. Answer calculation processing procedure,
In the answer calculation processing procedure, the following formula C _i = G ⁻¹ (B ⁻¹ (1−R, i, n−i + 1))
Use
Here, the life or strength of the test stop criteria: C _i (i = 1, 2, 3..., C _i is the life or strength of the test stop criteria when i is broken by 0, 1, 2,.
Inverse function of cumulative distribution function of life or strength: G ⁻¹ (x),
Inverse function of cumulative distribution function of beta distribution function: B ⁻¹ (1−R, i, n−i + 1), reliability: R, number of tests: n,
And
The predetermined items that prompt the input of information in the input prompting screen output procedure are the reliability R, the number of tests n, the number of damages i, and the inverse of the cumulative distribution function of the life or strength used in the answer calculation processing procedure. An undetermined parameter in the function,
A test design program in censored life and strength tests. 目標とする打切り寿命または打切り強度まで破損しなければ、要求する寿命または強度を満足すると判定する打切り試験において、一部の試験対象品が破損し残りの試験対象品が破損していない場合に、コンピュータを用いて、試験結果から、試験対象品のロットの寿命または強度Ｄ_i を見積もる方法であって、
コンピュータに対して、定められた各項目の内容となる情報を入力する入力過程と、この入力過程で入力された情報を用い、定められた計算式に従って、上記の寿命または強度Ｄ_i を上記コンピュータで計算する回答演算処理過程とを含み、
上記回答演算処理過程では、上記定められた計算式として、次式
Ｄ_i ＝Ｇ^-1（Ｂ^-1（Ｒ，ｉ，ｎ−ｉ＋１））
Ｅ_i ＝Ｇ^-1（Ｂ^-1（１−Ｒ，ｉ，ｎ−ｉ＋１））
を用い、
ここで、
未破損データの寿命または強度（すなわち、試験対象品のロットの寿命または強度）
：Ｄ_i （ｉ＝１，２，３…、：ｎ個中１，２，３…番目に短い寿命または強度）、
破損データの寿命または強度 ：Ｅ_i （ｉ＝１，２，３…、：ｎ個中１，２，３…番目に破損した寿命または強度）、
寿命または強度の累積分布関数の逆関数：Ｇ^-1（ｘ）、
ベータ分布関数の累積分布関数の逆関数：Ｂ^-1（Ｒ，ｉ，ｎ−ｉ＋１）、
Ｂ^-1（１−Ｒ，ｉ，ｎ−ｉ＋１）、
信頼度：Ｒ、試験個数：ｎ、
であり、
上記入力過程で入力する定められた各項目は、試験結果である破損データの寿命または強度Ｅ_i 、信頼度Ｒ、試験個数ｎ、および破損個数ｉ、並びに上記回答演算処理過程で用いる上記寿命または強度の累積分布関数の逆関数における未定の母数である、
ことを特徴とする打切り寿命および強度試験における試験結果の解釈方法。 In the censoring test that determines that the required service life or strength is satisfied if the product is not damaged to the target censoring life or censoring strength, when some of the test target products are damaged and the remaining test target products are not damaged, A method for estimating a lot life or strength D _i of a test object lot from a test result using a computer,
An input process for inputting information that is the content of each defined item to the computer, and using the information input in this input process, according to a predetermined calculation formula, the life or strength D _i is calculated from the computer. Answer calculation processing process calculated in
In the answer calculation process, the following formula D _i = G ⁻¹ (B ⁻¹ (R, i, n−i + 1))
E _i = G ⁻¹ (B ⁻¹ (1−R, i, n−i + 1))
Use
here,
Lifetime or strength of undamaged data (ie, lot life or strength of the product under test)
: D _i (i = 1, 2, 3...: 1, 2, 3 ... nth shortest life or strength),
Life or strength of damaged data: E _i (i = 1, 2, 3...: Life time or strength of 1, 2, 3,.
Inverse function of cumulative distribution function of life or strength: G ⁻¹ (x),
Inverse function of cumulative distribution function of beta distribution function: B ⁻¹ (R, i, n−i + 1),
B ^-1 (1-R, i, n-i + 1),
Reliability: R, Number of tests: n,
And
Each of the determined items input in the input process includes the life or strength E _i of the damaged data as the test result, the reliability R, the number of tests n, the number of damages i, and the life or strength used in the answer calculation process. An undetermined parameter in the inverse of the cumulative distribution function of intensity,
A method for interpreting test results in a censored life and strength test. 請求項２２において、上記寿命または強度の累積分布関数が、正規分布の関数である打切り寿命および強度試験における試験の解釈方法。   The test interpretation method according to claim 22, wherein the cumulative distribution function of the life or strength is a function of a normal distribution. 請求項２２において、上記寿命または強度の累積分布関数が、対数正規分布の関数である打切り寿命および強度試験における試験の解釈方法。   23. The test interpretation method according to claim 22, wherein the cumulative distribution function of the life or strength is a function of a lognormal distribution. 請求項２２において、上記寿命または強度の累積分布関数が、ワイブル分布の関数である打切り寿命および強度試験における試験の解釈方法。   23. The test interpretation method according to claim 22, wherein the cumulative distribution function of the life or strength is a function of the Weibull distribution. 請求項２２において、上記打切り試験が、目標とする打切り寿命まで破損しなければ要求する寿命を満足すると判定する疲労試験であって、
上記累積分布関数が次式で定まるワイブル分布の関数であり、

上記回答演算処理過程では、上記定められた計算式として、次式を用い、

ただし、
未破損データの寿命または強度（すなわち、試験対象品のロットの寿命または強度）
：Ｄ_i （ｉ＝１，２，３…、：ｎ個中１，２，３…番目に短い寿命または強度）、
破損データの寿命または強度：Ｅ_i （ｉ＝１，２，３…、：ｎ個中１，２，３…番目に破損した寿命または強度）、
ベータ分布関数の累積分布関数の逆関数：Ｂ^-1（Ｒ，ｉ，ｎ−ｉ＋１）、
形状母数：ｅ、尺度母数：α、位置母数：γ、信頼度：Ｒ、試験個数：ｎ、
であり、
上記入力過程で入力する定められた各項目のうち、上記逆関数における未定の母数は、上記形状母数ｅ、尺度母数α、および位置母数γのうちの、計算式に定められていない母数である打切り寿命における試験の設計方法。 The fatigue test according to claim 22, wherein the truncation test is a fatigue test that determines that the required service life is satisfied if it does not break to the target censor life.
The cumulative distribution function is a Weibull distribution function determined by the following equation:

In the above answer calculation process, the following formula is used as the above-described calculation formula:

However,
Lifetime or strength of undamaged data (ie, lot life or strength of the product under test)
: D _i (i = 1, 2, 3...: 1, 2, 3 ... nth shortest life or strength),
Life or strength of damaged data: E _i (i = 1, 2, 3...: 1, 2, 3...
Inverse function of cumulative distribution function of beta distribution function: B ⁻¹ (R, i, n−i + 1),
Shape parameter: e, scale parameter: α, position parameter: γ, reliability: R, number of tests: n,
And
Among the determined items to be input in the input process, the undetermined parameter in the inverse function is determined by a calculation formula among the shape parameter e, the scale parameter α, and the position parameter γ. Test design method at censored life that is not a parameter. 目標とする打切り寿命または打切り強度まで破損しなければ、要求する寿命または強度を満足すると判定する打切り試験において、一部の試験対象品が破損し残りの試験対象品が破損していない場合に、試験結果から、試験対象品のロットの寿命または強度Ｄ_i を見積もる装置であって、
定められた各項目の内容となる情報の入力を促す画面を表示装置の画面に出力する入力促し画面出力手段と、上記各項目の入力された情報を入力情報記憶手段に記憶させる入力処理手段と、上記入力情報記憶手段に記憶された情報を用い、定められた計算式に従って、上記の寿命または強度Ｄ_i を上記コンピュータで計算する回答演算処理手段とを含み、 上記回答演算処理手段では、上記定められた計算式として、次式
Ｄ_i ＝Ｇ^-1（Ｂ^-1（Ｒ，ｉ，ｎ−ｉ＋１））
Ｅ_i ＝Ｇ^-1（Ｂ^-1（１−Ｒ，ｉ，ｎ−ｉ＋１））
、用い、
ここで、
未破損データの寿命または強度（すなわち、試験対象品のロットの寿命または強度）
：Ｄ_i （ｉ＝１，２，３…、：ｎ個中１，２，３…番目に短い寿命または強度）、
破損データの寿命または強度 ：Ｅ_i （ｉ＝１，２，３…、：ｎ個中１，２，３…番目に破損した寿命または強度）、
寿命または強度の累積分布関数の逆関数：Ｇ^-1（ｘ）、
ベータ分布関数の累積分布関数の逆関数：Ｂ^-1（Ｒ，ｉ，ｎ−ｉ＋１）、
Ｂ^-1（１−Ｒ，ｉ，ｎ−ｉ＋１）、
信頼度：Ｒ、試験個数：ｎ、
であり、
上記入力促し画面出力手段で情報の入力を促す定められた各項目は、試験結果である破損データの寿命または強度Ｅ_i 、信頼度Ｒ、試験個数ｎ、および破損個数ｉ、並びに上記回答演算処理手段で用いる上記寿命または強度の累積分布関数の逆関数における未定の母数である、
ことを特徴とする打切り寿命および強度試験における試験結果の解釈装置。 If a part of the test target product is damaged and the rest of the test target product is not damaged in the test to determine that the required service life or strength is satisfied if the target test life or strength is not damaged, An apparatus for estimating the lot life or strength D _i of a test object lot from a test result,
Input prompting screen output means for outputting a screen for prompting input of information as the contents of each defined item to the screen of the display device; and input processing means for storing input information of each item in the input information storage means; , Using the information stored in the input information storage means, and according to a predetermined calculation formula, the answer calculation processing means for calculating the life or strength D _i by the computer, the answer calculation processing means, As a predetermined calculation formula, the following formula D _i = G ⁻¹ (B ⁻¹ (R, i, n−i + 1))
E _i = G ⁻¹ (B ⁻¹ (1−R, i, n−i + 1))
Use
here,
Lifetime or strength of undamaged data (ie, lot life or strength of the product under test)
: D _i (i = 1, 2, 3...: 1, 2, 3 ... nth shortest life or strength),
Life or strength of damaged data: E _i (i = 1, 2, 3...: Life time or strength of 1, 2, 3,.
Inverse function of cumulative distribution function of life or strength: G ⁻¹ (x),
Inverse function of cumulative distribution function of beta distribution function: B ⁻¹ (R, i, n−i + 1),
B ^-1 (1-R, i, n-i + 1),
Reliability: R, Number of tests: n,
And
The predetermined items prompting the input of information by the input prompting screen output means are the life or strength E _i of the damaged data as the test result, the reliability R, the number of tests n, the number of damages i, and the answer calculation process. It is an undetermined parameter in the inverse function of the cumulative distribution function of the lifetime or strength used in the means,
An apparatus for interpreting test results in a censored life and strength test. コンピュータで実行可能なプログラムであって、
目標とする打切り寿命または打切り強度まで破損しなければ、要求する寿命または強度を満足すると判定する打切り試験において、一部の試験対象品が破損し残りの試験対象品が破損していない場合に、試験結果から、試験対象品のロットの寿命または強度Ｄ_i を見積もるプログラムであって、
定められた各項目の内容となる情報の入力を促す画面を表示装置の画面に出力する入力促し画面出力手順と、上記各項目の入力された情報を入力情報記憶手段に記憶させる入力処理手順と、上記入力情報記憶手段に記憶された情報を用い、定められた計算式に従って、上記の寿命または強度Ｄ_i を上記コンピュータで計算する回答演算処理手順とを含み、 上記回答演算処理手順では、上記定められた計算式として、次式
Ｄ_i ＝Ｇ^-1（Ｂ^-1（Ｒ，ｉ，ｎ−ｉ＋１）
Ｅ_i ＝Ｇ^-1（Ｂ^-1（１−Ｒ，ｉ，ｎ−ｉ＋１）
を用い、
ここで、
未破損データの寿命または強度（すなわち、試験対象品のロットの寿命または強度）
：Ｄ_i （ｉ＝１，２，３…、：ｎ個中１，２，３…番目に短い寿命または強度）、
破損データの寿命または強度 ：Ｅ_i （ｉ＝１，２，３…、：ｎ個中１，２，３…番目に破損した寿命または強度）、
寿命または強度の累積分布関数の逆関数：Ｇ^-1（ｘ）、
ベータ分布関数の累積分布関数の逆関数：Ｂ^-1（Ｒ，ｉ，ｎ−ｉ＋１）、
Ｂ^-1（１−Ｒ，ｉ，ｎ−ｉ＋１）、
信頼度：Ｒ、試験個数：ｎ、
であり、
上記入力促し画面出力手順で情報の入力を促す定められた各項目は、試験結果である破損データの寿命または強度Ｅ_i 、信頼度Ｒ、試験個数ｎ、および破損個数ｉ、並びに上記回答演算処理手順で用いる上記寿命または強度の累積分布関数の逆関数における未定の母数である、
ことを特徴とする打切り寿命および強度試験における試験結果の解釈プログラム。 A program executable on a computer,
In the censoring test that determines that the required service life or strength is satisfied if the product is not damaged to the target censoring life or censoring strength, when some of the test target products are damaged and the remaining test target products are not damaged, A program for estimating the lot life or strength D _i of a test object lot from a test result,
An input prompting screen output procedure for outputting a screen prompting input of information as the contents of each defined item to the screen of the display device; and an input processing procedure for storing input information of each item in the input information storage means; Using the information stored in the input information storage means, and calculating the life or strength D _i with the computer according to a predetermined calculation formula, As a predetermined calculation formula, the following formula D _i = G ⁻¹ (B ⁻¹ (R, i, n−i + 1)
E _i = G ⁻¹ (B ⁻¹ (1−R, i, n−i + 1)
Use
here,
Lifetime or strength of undamaged data (ie, lot life or strength of the product under test)
: D _i (i = 1, 2, 3...: 1, 2, 3 ... nth shortest life or strength),
Life or strength of damaged data: E _i (i = 1, 2, 3...: Life time or strength of 1, 2, 3,.
Inverse function of cumulative distribution function of life or strength: G ⁻¹ (x),
Inverse function of cumulative distribution function of beta distribution function: B ⁻¹ (R, i, n−i + 1),
B ^-1 (1-R, i, n-i + 1),
Reliability: R, Number of tests: n,
And
The specified items that prompt the input of information in the input prompting screen output procedure are the life or strength E _i of the damaged data as the test result, the reliability R, the number of tests n, the number of damages i, and the answer calculation process. It is an undetermined parameter in the inverse function of the cumulative distribution function of the lifetime or strength used in the procedure.
A program for interpreting test results in a censored life and strength test.

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