JP2011123069A5 - - Google Patents

Claims (6)

1. 分析対象物を処理及び／又は分析する自動分析器と、一種類より多い種類の消耗品とを具備する分析システムにおいて、
   前記各消耗品は略同一の設置面積を有し、且つ、任意の種類の消耗品は一意的な表面幾何学形状を有し、
   当該分析システムは、前記異なる消耗品を区別する特定の認識要素を有する認識システムを有し、前記認識要素の内の任意のひとつの認識要素は、特定形式のひとつの消耗品の一意的な表面幾何学形状と相補的である一意的な表面幾何学形状を有する分析システム。
2. 前記消耗品は、少なくともひとつの先端部用ラック、及び、ひとつのマルチウェル・プレートを有する、請求項１に記載の分析システム。
3. 前記システムは、ひとつの種類の複数の消耗品を積層する複数の積層器を有し、且つ、
   該積層器のいずれかひとつは、ひとつの種類の消耗品に対する認識要素を有する、請求項１又は２に記載の分析システム。
4. 前記設置面積は、本質的にＡＮＳＩ ＳＢＳ設置面積フォーマットに対応する長さ及び幅の基部を備えて成る、請求項１から３のいずれか一項に記載の分析システム。
5. 分析器内で複数の消耗品の識別子を認識する方法であって、
   一意的な表面幾何学形状を有する複数の種類の消耗品を配備することと、
   一意的な表面幾何学形状を有する前記複数の種類の消耗品を、前記一意的な表面幾何学形状に対して特異的である認識要素を有する積層器と相互作用させることと、を含み、
   前記複数の消耗品の内の任意のひとつの消耗品は、前記一意的な表面幾何学形状が該一意的な表面幾何学形状に対して特異的な前記認識要素により係合されたときに特定される方法。
6. 前記消耗品は、本質的にＡＮＳＩ ＳＢＳ設置面積フォーマットに対応する長さ及び幅の基部を有する、請求項５に記載の方法。