JP2011066138A - プロジェクター - Google Patents

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Abstract

【課題】発光部および受光部が同一基板に集積された受発光素子を備え、輝度むらを低減することが可能なプロジェクターを提供する。
【解決手段】本発明に係るプロジェクター1000では、利得領域140は、活性層106の積層方向から平面視して、活性層106の第1面106から第2面107まで、第1面106の垂線Pに対して傾いた方向に向かって設けられ、利得領域140に生じる光は、利得領域140の第1面105側の端面151および第2面107側の端面152の少なくとも一方において、外部に出射される光と、反射される光と、に分けられ、反射される光は、光吸収層206に至り、受光部200a,200bにおいて受光される。
【選択図】図2

Description

本発明は、プロジェクターに関する。
光通信等で用いられる半導体発光デバイスにおいては、一般的に、装置の外部に半透過ミラーや回折素子を配置して出射した光の一部を取り出し、その光を受光素子によって検出することで、光量の調整等を行っている。
例えば、特許文献1では、レーザーダイオードからの光を分光プリズム等で分岐させ、その分岐させた光を検出するモニター用フォトダイオードを有する光ピックアップ装置が提案されている。
一方、近年、プロジェクターやディスプレイなどの表示装置の光源用の発光装置としても、高輝度で色再現性に優れたレーザー装置が期待されている。しかしながら、レーザーダイオードを表示装置に用いる場合には、複数のレーザーダイオードを用いなければ十分な輝度を得ることができない場合がある。このような表示装置においても、輝度むらを低減するためには、発光装置の光量を検出し、光量の調整を行うことが必要である。
特開平10−3691号公報
しかしながら、上記特許文献1に開示された方法では、発光素子(発光部)と受光素子(受光部)が個々に設けられているため、別途分光プリズム等の光学素子が必要となり、部品点数が多くなる、小型化が難しいといった問題がある。また、プロジェクターなどの表示装置に用いるためには、複数のレーザーダイオードの光量を個々に検出する必要があるが、個別に受光素子を設けるのは困難であるといった問題がある。
本発明のいくつかの態様に係る目的の1つは、発光部および受光部が同一基板に集積された受発光素子を備え、輝度むらを低減することが可能なプロジェクターを提供することにある。
本発明に係るプロジェクターは、
受発光素子を有する受発光装置と、
前記受発光装置から出射された光を画像情報に応じて変調する光変調装置と、
前記光変調装置によって形成された画像を投射する投射装置と、
を含み、
前記受発光素子は、
同一基板に設けられた発光部と受光部とを有し、
前記発光部は、スーパールミネッセントダイオードであって、第1クラッド層と第2クラッド層とに挟まれた活性層を有する積層構造体を有し、
前記受光部は、光吸収層を有し、
前記活性層の少なくとも一部は、前記活性層の電流経路となる利得領域を構成し、
前記積層構造体において、前記活性層の露出する面のうちの第1面および第2面は、互いに対向する位置関係であり、
前記利得領域は、前記活性層の積層方向から平面視して、前記活性層の前記第1面から前記第2面まで、前記第1面の垂線に対して傾いた方向に向かって設けられ、
前記利得領域に生じる光は、前記利得領域の前記第1面側の端面および前記第2面側の端面の少なくとも一方において、外部に出射される光と、反射される光と、に分けられ、
前記反射される光は、前記光吸収層に至り、前記受光部において受光される。
このようなプロジェクターによれば、前記発光部および前記受光部が同一基板に集積された前記受発光素子を備え、輝度むらを低減することができる。
本発明に係るプロジェクターにおいて、
前記受光部は、前記第1面側と前記第2面側とにそれぞれ設けられていることができる。
このような受発光装置によれば、前記第1面側の端面から出射される光および第2面側の端面から出射される光をそれぞれ検出することができる。
本発明に係るプロジェクターにおいて、
前記受発光素子は、前記発光部と前記受光部とを電気的に分離する分離溝を有することができる。
このようなプロジェクターによれば、前記発光部と前記受光部との間の電気的な干渉を抑制することができる。
本発明に係るプロジェクターにおいて、
前記分離溝は、前記受発光素子を前記活性層の積層方向から平面視して、前記受光部の周囲を囲んでいることができる。
このようなプロジェクターによれば、前記発光部と前記受光部との間の電気的な干渉を抑制することができる。
本発明に係るプロジェクターにおいて、
前記活性層と前記光吸収層は、連続した1つの層であることができる。
このようなプロジェクターによれば、前記受発光素子の製造工程を簡略化することができる。
本発明に係るプロジェクターにおいて、
前記光吸収層の膜厚は、前記活性層の膜厚よりも厚いことができる。
このようなプロジェクターによれば、前記受光部の光検出効率を向上させることができる。
本発明に係るプロジェクターにおいて、
前記利得領域は、複数配列され、
複数の前記利得領域に対応して、前記受光部が複数設けられていることができる。
このようなプロジェクターによれば、前記受発光装置の高出力化を図ることができる。
本実施形態のプロジェクターを模式的に示す図。 本実施形態のプロジェクターの受発光素子を模式的に示す平面図。 本実施形態のプロジェクターの受発光素子を模式的に示す断面図。 本実施形態のプロジェクターの受発光素子の製造工程を模式的に示す断面図。 第1変形例の受発光素子を模式的に示す平面図。 第1変形例の受発光素子を模式的に示す断面図。 第2変形例の受発光素子を模式的に示す断面図。 第3変形例の受発光素子を模式的に示す断面図。 第4変形例の受発光素子を模式的に示す平面図。 本実施形態のプロジェクターの受発光装置を模式的に示す平面図。 本実施形態のプロジェクターの受発光装置を模式的に示す断面図。
以下、本発明の好適な実施形態について、図面を参照しながら説明する。
1. プロジェクター
まず、本実施形態に係るプロジェクター1000について、図面を参照しながら説明する。図1は、プロジェクター1000を模式的に示す図である。なお、図1では、便宜上、プロジェクター1000を構成する筐体は省略している。プロジェクター1000は、本発明に係る受発光素子を有する受発光装置を含む。ここでは、本発明に係る受発光装置として、受発光装置7000を用いた例について説明する。
プロジェクター1000において、赤色光、緑色光、青色光を出射する赤色光源(受発光装置)7000R,緑色光源(受発光装置)7000G、青色光源(受発光装置)7000Bは、上述した受発光装置7000である。
プロジェクター1000は、光源7000R,7000G,7000Bから出射された光をそれぞれ画像情報に応じて変調する透過型の液晶ライトバルブ(光変調装置)1004R,1004G,1004Bと、液晶ライトバルブ1004R,1004G,1004Bによって形成された像を拡大してスクリーン(表示面)1010に投射する投射レンズ(投射装置)1008と、を備えている。また、プロジェクター1000は、液晶ライトバルブ1004R,1004G,1004Bから出射された光を合成して投写レンズ1008に導くクロスダイクロイックプリズム(色光合成手段)1006を備えていることができる。
さらに、プロジェクター1000は、光源7000R,7000G,7000Bから出射された光の照度分布を均一化させるため、各光源7000R,7000G,7000Bよりも光路下流側に、均一化光学系1002R,1002G,1002Bを設けており、これらによって照度分布が均一化された光によって、液晶ライトバルブ1004R,1004G,1004Bを照明している。均一化光学系1002R,1002G、1002Bは、例えば、ホログラム1002aおよびフィールドレンズ1002bによって構成される。
各液晶ライトバルブ1004R,1004G,1004Bによって変調された3つの色光は、クロスダイクロイックプリズム1006に入射する。このプリズムは4つの直角プリズムを貼り合わせて形成され、その内面に赤色光を反射する誘電体多層膜と青色光を反射する誘電体多層膜とが十字状に配置されている。これらの誘電体多層膜によって3つの色光が合成され、カラー画像を表す光が形成される。そして、合成された光は投写光学系である投射レンズ1006によりスクリーン1010上に投写され、拡大された画像が表示される。
なお、上述の例では、光変調装置として透過型の液晶ライトバルブを用いたが、液晶以外のライトバルブを用いてもよいし、反射型のライトバルブを用いてもよい。このようなライトバルブとしては、例えば、反射型の液晶ライトバルブや、デジタルマイクロミラーデバイス(Digital Micromirror Device)が挙げられる。また、投射光学系の構成は、使用されるライトバルブの種類によって適宜変更される。
また、受発光装置7000を、受発光装置7000からの光をスクリーン上で走査させることにより、表示面に所望の大きさの画像を表示させる画像形成装置である走査手段を有するような走査型の画像表示装置(プロジェクター)の受発光装置(光源装置)にも適用することが可能である。
プロジェクター1000によれば、光源として、本発明に係る受発光装置(受発光素子)を用いることができるため、発光部(発光素子)および受光部(受光素子)が同一基板に集積された受発光素子を備え、輝度むらを低減することができる。プロジェクター1000に用いる受発光素子および受発光装置の構成等については、以下に説明する。
2. 受発光素子
次に、本実施形態に係るプロジェクター1000に用いる受発光素子100について、図面を参照しながら説明する。図2は、受発光素子2000を模式的に示す平面図である。図3は、受発光素子2000を模式的に示す断面図であり、図2のIII−III線断面図である。
受発光素子2000は、図2および図3に示すように、同一基板10に設けられた発光部100と受光部200a,200bとを含むことができる。基板10は、例えば、第1導電型(例えばn型)のGaAs基板などを用いることができる。
以下、発光部100および受光部200a,200bの構成、並びに受発光素子2000の動作について説明する。
(1)発光部の構成
発光部100は、図3に示すように、積層構造体111と、第1電極120と、第2電極122と、を有することができる。積層構造体111は、第1クラッド層104と、活性層106と、第2クラッド層108と、第1コンタクト層109と、を有することができる。
第1クラッド層104は、基板10上に形成されている。第1クラッド層104は、例えば、第1導電型の半導体からなる。第1クラッド層104としては、例えばn型AlGaAs層などを用いることができる。なお、図示はしないが、基板10と第1クラッド層104との間に、バッファー層が形成されていてもよい。バッファー層としては、例えば基板10よりも結晶性の良好な(例えば欠陥密度の低い)第1導電型(n型)のGaAs層などを用いることができる。
活性層106は、第1クラッド層104上に形成されている。図示の例では、活性層106は、第1クラッド層104と第2クラッド層108との間に挟まれている。活性層106は、例えば、GaAsウェル層とAlGaAsバリア層とから構成される量子井戸構造を3つ重ねた多重量子井戸(MQW)構造を有する。
活性層106の一部は、活性層106の電流経路となる利得領域を構成している。活性層106の形状は、例えば直方体(立方体である場合を含む)などであることができる。活性層106は、図2に示すように、第1面105と、第2面107とを有する。第1面105および第2面107は、活性層106の面のうち第1クラッド層104または第2クラッド層108に接していない面であり、積層構造体111において、露出している面である。第1面105および第2面107は、活性層106の側面ともいえる。第1面105および第2面107は、互いに対向しており、図示の例では、平行である。利得領域140は、第1面105に設けられた第1端面151と、第2面107に設けられた第2端面152と、を有する。第1端面151および第2端面152には、例えば、反射防止膜110が設けられていることにより、低い反射率を得ることができる。反射防止膜110は、第1面105および第2面107の全面に設けられることができる。反射防止膜110としては、例えばAl単層、または、SiO層、SiN層、Ta層や、これらの多層膜などを用いることができる。反射防止膜110は、膜厚および層数等を調整することにより、第1端面151および第2端面152の反射率を制御することができる。利得領域140の平面形状は、例えば図2に示すような平行四辺形などである。利得領域140は、図2に示すように活性層106の積層方向から平面視して(活性層106の厚み方向から平面視して)、第1面105から第2面107まで、直線状に第1面105の垂線Pに対して傾いた方向に向かって設けられている。これにより、利得領域140に生じる光のレーザー発振を抑制または防止することができる。すなわち、発光部100は、スーパールミネッセントダイオード(SLD:Super Luminescent Diode、以下「SLD」ともいう)であることができる。SLDは、半導体レーザーと異なり、端面反射による共振器の形成を抑えることにより、レーザー発振を防止することができる。そのため、スペックルノイズを低減することができる。
第2クラッド層108は、活性層106上に形成されている。第2クラッド層108は、例えば第2導電型(例えばp型)の半導体からなる。第2クラッド層108としては、例えばp型AlGaAs層などを用いることができる。
例えば、p型の第2クラッド層108、不純物がドーピングされていない活性層106、およびn型の第1クラッド層104により、pinダイオードが構成される。第1クラッド層104および第2クラッド層108の各々は、活性層106よりも禁制帯幅が大きく、屈折率が小さい層である。活性層106は、光を増幅する機能を有する。第1クラッド層104および第2クラッド層108は、活性層106を挟んで、注入キャリア(電子および正孔)並びに光を閉じ込める機能を有する。
第1コンタクト層109は、第2クラッド層108上に形成されている。第1コンタクト層109としては、第2電極122とオーミックコンタクトする層を用いることができる。第1コンタクト層109は、例えば第2導電型の半導体からなる。第1コンタクト層109としては、例えばp型GaAs層などを用いることができる。
第1電極120は、基板10の下に形成されていることができる。図3の例では、第1電極120は、基板10の下の全面に形成されている。第1電極120は、該第1電極120とオーミックコンタクトする層(図示の例では基板10)と接していることができる。第1電極120は、基板10を介して、第1クラッド層104と電気的に接続されている。第1電極120は、発光部100を駆動するための一方の電極である。第1電極120としては、例えば、基板10側からCr層、AuGe層、Ni層、Au層の順番で積層したものなどを用いることができる。第1電極120は、第3電極210と共通の電極であることができる。
第2電極122は、第1コンタクト層109上に形成されている。第2電極122は、第1コンタクト層109を介して、第2クラッド層108と電気的に接続されている。第2電極122は、発光部100を駆動するための他方の電極である。第2電極122としては、例えば、第1コンタクト層109側からCr層、AuZn層、Au層の順番で積層したものなどを用いることができる。第2電極122の下面は、図2に示すように、利得領域140と同様の平面形状を有している。言い換えるならば、図示の例では、第2電極122の下面の平面形状によって、電極120、122間の電流経路が決定され、その結果、活性層106の利得領域140の平面形状が決定されるのである。あるいは、第1コンタクト層109上に絶縁層(図示せず)を形成した後に、利得領域140と同様の平面形状となるように該絶縁層を除去して第1コンタクト層109を露出させ、第2電極122を少なくとも露出した第1コンタクト層109と接触している形状となるように形成されていてもよい。
(2)受光部の構成
受光部200a,200bは、図2および図3に示すように、光吸収層206を含む。受光部200a,200bは、さらに、例えば、第3クラッド層204と、第4クラッド層208と、第2コンタクト層209と、第3電極210と、第4電極212と、を有することができる。
受光部200a,200bは、図2に示すように、活性層106の第1面105側(第1受光部200a)と、活性層106の第2面107側(第2受光部200b)とにそれぞれ形成されていることができる。なお、受光部200a,200bは、第1面105および第2面107のいずれか一方にのみ設けられていてもよい。第1受光部200aは、利得領域140の第1端面151で反射された第1反射光2bの光路上に配置されている。第2受光部200bは、利得領域140の第2端面152で反射された第2反射光4bの光路上に配置されている。第1受光部200aは、第1端面151の近傍に設けられることが望ましい。第2受光部200bについても同様に、第2端面152の近傍に設けられることが望ましい。これにより、反射光2b、4bが、受光部200a,200b以外の領域で吸収されることを抑制することができる。
第3クラッド層204は、基板10上に形成されている。第3クラッド層204は、例えば、第1導電型の半導体からなる。第3クラッド層204としては、例えばn型AlGaAs層などを用いることができる。第3クラッド層204と第1クラッド層104とは、連続する一つの層からなることができる。
光吸収層206は、第3クラッド層204上に形成されている。光吸収層206としては、例えば、不純物がドーピングされていないGaAs層などを用いることができる。光吸収層206は、後述するように、利得領域140に生じる光の一部を、吸収することができる。光吸収層206と活性層106とは、連続する一つの層からなることができる。
第4クラッド層208は、光吸収層206上に形成されている。第4クラッド層208は、例えば第2導電型(例えばp型)の半導体からなる。第4クラッド層208としては、例えばp型AlGaAs層などを用いることができる。第4クラッド層208と第2クラッド層108とは、連続する一つの層からなることができる。
p型の第4クラッド層208、不純物がドーピングされていない光吸収層206、およびn型の第3クラッド層204により、pinダイオードが構成されることができる。第3クラッド層204および第4クラッド層208の各々は、光吸収層206よりも禁制帯幅が大きく、屈折率が小さい層である。光吸収層206は、光を吸収する機能を有する。第3クラッド層204および第4クラッド層208は、光吸収層206を挟んで、光を閉じ込める機能を有する。
第2コンタクト層209は、第4クラッド層208上に形成されている。第2コンタクト層209としては、第2電極122とオーミックコンタクトする層を用いることができる。第2コンタクト層209は、例えば第2導電型の半導体からなる。第2コンタクト層209としては、例えばp型GaAs層などを用いることができる。第2コンタクト層209と、第1コンタクト層109とは、連続する一つの層からなることができる。
図3に示すように、受光部200a,200bの第3電極210から第4電極212までの層構造は、発光部100の第1電極120から第2電極122までの層構造と同じ層構造であることができる。
第3電極210は、基板10の下に形成されている。第3電極210は、図示の例では、第1電極120と共通の電極である。第3電極210は、受光部200を駆動するための一方の電極である。第3電極210は、基板10を介して、第3クラッド層204と電気的に接続されている。第3電極210としては、第1電極120と同様の材料を用いることができる。
第4電極212は、第2コンタクト層209上に形成されている。第4電極212は、受光部200を駆動するための他方の電極である。第4電極212は、第2コンタクト層209を介して、第4クラッド層208と電気的に接続されている。第4電極212としては、第2電極122と同様の材料を用いることができる。
(3)受発光素子の動作
受発光素子2000の発光部100では、第1電極120と第2電極122との間に、pinダイオードの順バイアス電圧を印加すると、活性層106の利得領域140において電子と正孔との再結合が起こる。この再結合により発光が生じる。この生じた光を起点として、連鎖的に誘導放出が起こり、利得領域140内で光の強度が増幅される。例えば、図2に示すように、利得領域140に生じる光のうち、第1端面151に向かう光2は、利得領域140内で増幅された後、第1端面151から第1出射光2aとして出射される。同様に、利得領域140に生じる光のうち、第2端面152に向かう光4は、利得領域140内で増幅された後、第2端面152から第2出射光4aとして出射される。ここで、第1端面151に向かう光2および第2端面152に向かう光4の一部は、第1端面151および第2端面152で反射され、第1反射光2bおよび第2反射光4bとして受発光素子2000内を進行するものもある。すなわち、利得領域140に生じる光のうち、第1端面151に向かう光2は、第1端面151において、第1出射光2aと、第1反射光2bとに分けられる。第2端面152に向かう光4についても同様に、第2端面152において、第2出射光4aと、第2反射光4bとに分けられる。第1反射光2bは、受発光素子2000内を進行して第1受光部200aに至る。第2反射光4bも同様に、受発光素子2000内を進行して第2受光部200bに至る。なお、図2の例では、第1端面151および第2端面152の両方から光が出射される場合について説明したが、いずれか一方の端面から光が出射されてもよい。
受発光素子2000の受光部200a,200bでは、第3電極210と第4電極212との間に、pinダイオードの逆バイアス電圧を印加すると、反射光2b,4bによって光吸収層206に生成された電子−正孔対が加速され電流として取り出すことができる。これにより、受光部200a,200bは、発光部100に生じた光の光量を検出することができる。さらに、第3クラッド層204および第4クラッド層208によって、光吸収層206から光が漏れることを抑制または防止することができる。
受発光素子2000の一例として、GaAs系の場合について説明したが、受発光素子2000は、発光利得領域が形成可能なあらゆる材料系を用いることができる。半導体材料であれば、例えば、InGaAlP系、AlGaN系、InGaN系、InGaAs系、GaInNAs系、ZnCdSe系などの半導体材料を用いることができる。
受発光素子2000は、例えば、以下の特徴を有する。
受発光素子2000では、発光部100と受光部200a,200bを同一基板10上に形成することができる。これにより、後述するように受発光素子のアレイ化を、容易に行うことができる。また、例えば、別途、受光素子を設置する場合と比較して、部品点数の削減および製造コストの削減が可能となる。
受発光素子2000では、発光部100に生じた光の光出力を、受光部200a,200bにおいてモニターすることができる。したがって、モニターされた光出力に基づいて、発光部100に印加する電圧値を調整することができる。これにより、輝度むらを低減し、また、明るさを自動調整することができる受発光素子を提供することができる。発光部100に生じた光の光出力を、発光部100に印加する電圧値にフィードバックする制御は、例えば、外部電子回路(図示しない)を用いて行うことができる。
受発光素子2000では、利得領域140の端面151,152で反射された反射光2b,4bを受光部200a,200bで受光することができる。したがって、発光部100から出射された光の光量を直接検出する場合と比較して、受光部200a,200bに至る光の光量が少ないため、発光部100の光出力を大きくすることができる。また、反射防止膜110によって、利得領域140の端面151,152の反射率を制御することができるため、受光部200a,200bに至る反射光2b、4bの光量を制御することができる。
受発光素子2000では、利得領域140は、第1面105の垂線Pに対して傾いた方向に向かって設けられていることができる。これにより、上述したとおり、利得領域140に生じる光のレーザー発振を抑制または防止することができる。したがって、スペックルノイズを低減させることができる。さらに、受発光素子2000では、利得領域140に生じる光は、利得領域140内において利得を受けながら進行して、外部に出射されることができる。したがって、従来の一般的なLED(Light Emitting Diode)よりも高い出力を得ることができる。以上のように、受発光素子2000では、スペックルノイズを低減でき、かつ高出力化を図ることができる。
2. 受発光素子の製造方法
次に、受発光素子2000の製造方法の一例について、図面を参照しながら説明する。
図4は、受発光素子2000の製造工程を模式的に示す断面図であり、図3に示す断面図に対応している。
図4に示すように、例えば、基板10上に、第1クラッド層104および第3クラッド層204を構成する層、活性層106および光吸収層206を構成する層、第2クラッド層108および第4クラッド層208を構成する層、および第1コンタクト層109および第2コンタクト層209を構成する層を、この順でエピタキシャル成長させる。エピタキシャル成長させる方法としては、例えば、MOCVD(Metal-Organic Chemical Vapor
Deposition)法、MBE(Molecular Beam Epitaxy)法などを用いることができる。
図3に示すように、例えば、第1コンタクト層109上に第2電極122および第4電極212を形成する。第2電極122および第4電極212は、例えば、真空蒸着法により全面に導電層を形成した後、該導電層をフォトリソグラフィー技術およびエッチング技術を用いてパターニングすることにより形成される。また、第2電極122および第4電極212は、例えば、真空蒸着法およびリフトオフ法の組み合わせなどにより、所望の形状に形成されることもできる。
次に、基板10の下面下に第1電極120および第3電極210を形成する。第1電極120および第3電極210は、例えば、上述した第2電極122および第4電極212の製法と同じ製法で形成される。
以上の工程により、受発光素子2000が得られる。
受発光素子2000の製造方法によれば、発光部100を構成する層と受光部200a,200bを構成する層を同一工程で成膜することができる。したがって、発光部100を構成する層と受光部200a,200bを構成する層を別々に成膜する場合と比較して、製造工程を簡略化することができる。
受発光素子2000の製造方法によれば、発光部および受光部を同一基板10上に集積することができる受発光素子を形成することができる。
3. 受発光素子の変形例
次に、本実施形態に係るプロジェクターに用いる受発光素子の変形例について説明する。なお、上述した図2〜図3に示す受発光素子2000の構成部材と同様の機能を有する部材については同一の符号を付し、その詳細な説明を省略する。
(1)第1の変形例
まず、第1の変形例について説明する。
図5は、本変形例に係る受発光素子3000を模式的に示す平面図である。図6は、図5のVI−VI線断面図であり、図3に対応している。
本変形例に係る受発光素子3000では、発光部100と受光部200a,200bとを電気的に分離する分離溝220を有することができる。
分離溝220は、図5に示すように、受発光素子2000を活性層108の積層方向から平面視して(活性層108の厚み方向から平面視して)第1受光部200aおよび第2受光部200bの各々の周囲を囲むように設けられている。図示はしないが、例えば、分離溝220は、平面的に見て、活性層106の第1面105側から第2面107側まで、発光部100と第1受光部200aとの間および発光部100と第2受光部200bとの間に直線状に設けられていてもよい。図6に示すように、分離溝220の底面の位置は、活性層106および光吸収層206の底面の位置より下であることができる。分離溝220の内部は、空隙(空気)であることができる。
本変形例に係る受発光素子2000では、発光部100と受光部200a,200bとを電気的に分離する分離溝220を有することができる。これにより、発光部100と受光部200a,200bとの間で電流拡散が起こりにくくなるため、発光部100と受光部200a,200bとの間の電気的な干渉を抑制することができる。また、分離溝220で発光部100と受光部200a,200bを電気的に分離できるため、図示はしないが、例えば、基板10として半絶縁性のGaAs基板等を用いた場合、発光部100と受光部200a,200bを独立駆動させることができる4端子構造を得ることができる。
(2)第2の変形例
次に、第2の変形例について説明する。
図7は、本変形例に係る受発光素子4000を模式的に示す断面図であり、図3に対応している。
受発光素子2000の例では、発光部100と受光部200a,200bとが、同じ層構造を有している場合について説明した。これに対し、本変形例では、発光部100と受光部200a,200bとが異なる層構造を有していることができる。
図7に示すように、光吸収層206の膜厚は、例えば、光吸収層206の膜厚よりも厚い。例えば、活性層106の下面の位置は、光吸収層206の下面の位置より上方であり、活性層106の上面の位置は、光吸収層206の上面の位置より下方であることができる。これにより、受発光素子4000では、受光部200a,200bの光検出効率を向上させることができる。光吸収層206の膜厚は、例えば、活性層106の膜厚の2倍以上であることが望ましい。なお、受光部200a,200bの層構造は、特に限定されない。
受発光素子4000の製造方法は、まず、基板10上の全面に、第1クラッド層104、活性層106、第2クラッド層108、および第1コンタクト層109層を、この順でエピタキシャル成長させる。次に、基板10上の各層104,106,108,109をパターニングして、受光部200a,200bが設けられる領域の基板10を露出させる。その後、露出された基板10上および第2コンタクト層209上に、第3クラッド層204、光吸収層206、第4クラッド層208、および第2コンタクト層209層を、この順で成膜する。第1コンタクト層109上の各層は、エッチバックする。以後の工程は、受発光素子2000の例と同様のため省略する。以上の工程により、受発光素子4000が得られる。
(3)第3の変形例
次に、第3の変形例について説明する。
図8は、本変形例に係る受発光素子5000を模式的に示す断面図であり、図3に対応している。
受発光素子2000の例では、利得領域がそのまま導波領域となる利得導波型について説明した。それに対して、本変形例では、屈折率差を設けて光を閉じ込める屈折率導波型を用いることができる。
第1コンタクト層109と、第2クラッド層108の一部とは、図8に示すように、柱状部160を構成することができる。柱状部160の平面形状は、例えば利得領域140と同じである。すなわち、例えば、柱状部160の平面形状によって、電極120,122間の電流経路が決定され、その結果、利得領域140の平面形状が決定される。なお、図示はしないが、柱状部160は、例えば、第1コンタクト層109、第2クラッド層108、および活性層106から構成されていてもよいし、さらに、第1クラッド層104をも含んで構成されていてもよい。また、柱状部160の側面を傾斜させることもできる。
絶縁部162は、図8に示すように、第2クラッド層108上であって、柱状部160の側方に形成されている。絶縁部162は、柱状部160の側面に接していることができる。絶縁部162の上面は、例えば、第1コンタクト層109の上面と連続している。絶縁部162としては、例えば、SiN層、SiO層、ポリイミド層などを用いることができる。絶縁部162としてこれらの材料を用いた場合、電極120,122間の電流は、絶縁部162を避けて、該絶縁部162に挟まれた柱状部160を流れることができる。絶縁部162は、活性層106の屈折率よりも小さい屈折率を有することができる。この場合、絶縁部162を形成した部分の垂直断面の有効屈折率は、絶縁部162を形成しない部分、すなわち、柱状部160が形成された部分の垂直断面の有効屈折率よりも小さくなる。これにより、面内方向において、利得領域140内に効率良く光を閉じ込めることができる。なお、図示はしないが、絶縁部162を設けず、絶縁部162が空気であると解釈してもよい。
第2電極122は、第1コンタクト層109(柱状部160)上および絶縁部162上に形成されている。第2電極122と第1コンタクト層109との接触面は、利得領域140と同じ平面形状を有している。図示はしないが、第2電極122は、第1コンタクト層109上にのみ形成されていてもよい。
本変形例によれば、上述した受発光素子2000の例と同様に、発光部100と受光部200a,200bを同一基板上に形成した受発光素子を得ることができる。
(4)第4の変形例
次に、第4の変形例について説明する。
図9は、本変形例に係る受発光素子6000を模式的に示す平面図である。
受発光素子6000では、図9に示すように、複数の利得領域140が配列されている。複数の利得領域140に対応して、受光部200a,200bが複数設けられている。図示の例では、複数の利得領域140の各々に対応して、受光部200a,200bが設けられている。図示はしないが、受発光素子6000は、複数の利得領域140の各々を電気的に分離する分離溝を有していてもよい。
受発光素子6000によれば、受発光素子2000の場合と比較して、高出力化を図ることができる。
また、受発光素子6000では、複数の利得領域140に対応して、受光部200a,200bが複数設けられていることができる。したがって、複数の利得領域140の光出力をそれぞれモニターすることができる。すなわち、複数の利得領域140に対して個別に光量検出を行うことができる。
5. 受発光装置
次に、本実施形態に係るプロジェクター1000に用いる受発光装置7000について、図面を参照しながら説明する。図10は、受発光装置7000を模式的に示す平面図である。図11は、受発光装置7000を模式的に示す図10のXI−XI線断面図である。
受発光装置7000は、図10および図11に示すように、本発明に係る受発光素子(例えば、受発光素子2000)と、ベース7010と、サブマウント7020と、第1光軸変換素子7030と、第2光軸変換素子7040と、を有することができる。
ベース7010は、例えば、サブマウント7020を介して、間接的に受発光素子2000を支持することができる。ベース7010としては、例えば、板状(直方体形状)の部材を用いることができる。ベース7010の材質としては、例えば、Cu、Alなどを列挙することができる。受発光素子2000は、図示はしないが、例えば、ワイヤーボンディングにより、サブマウント7020上の電極と電気的に接続されていてもよい。
サブマウント7020は、例えば、直接的に受発光素子2000を支持することができる。サブマウント7020は、ベース7010上に形成されている。サブマウント7020上には、受発光素子2000が形成されている。サブマウント7020としては、例えば、板状の部材を用いることができる。なお、例えば、サブマウント7020を設けずに、ベース7010が直接的に受発光素子2000を支持することもできる。サブマウント7020としては、例えば、BeO,AlN等を用いることができる。
ベース7010およびサブマウント7020の熱伝導率は、例えば、受発光素子2000の熱伝導率よりも高い。これにより、ベース7010およびサブマウント7020は、ヒートシンクとして機能することができる。
第1光軸変換素子7030および第2光軸変換素子7040は、例えば、ベース7010上に形成される。第1光軸変換素子7030は、第1ミラー7032を有している。第2光軸変換素子7040は、第2ミラー7042を有している。ミラー7032,7042は、図11に示すように、活性層106の上面に対して、例えば45度傾斜している。第1ミラー7032は、図10に示すように平面的にみて、第1端面151から出射される光2aの進行方向と直交するように配置されている。また、第2ミラー7042は、第2端面152から出射される光4aの進行方向と直交するように配置されている。光軸変換素子7030,7040の材質としては、例えば、Al、Ag、Auなどを列挙することができる。例えば、光軸変換素子7030,7040のミラー7032,7042の部分のみを、上記列挙した材料としてもよい。
第1ミラー7032は、第1端面151から出射される光2aを反射させることができる。具体的には、図11に示すように、例えば水平方向(活性層106の厚み方向と直交する方向)に進んできた光2aを、例えば垂直方向(活性層106の厚み方向)に反射させることができる。同様に、第2ミラー7042は、第2端面152から出射される光4aを反射させることができる。具体的には、図11に示すように、例えば水平方向(活性層106の厚み方向と直交する方向)に進んできた光4aを、例えば垂直方向(活性層106の厚み方向)に反射させることができる。これにより、光2a,4aを同一の方向に反射させることができる。
受発光装置7000によれば、出射光2a,4aを同一の方向に進行させることができるので、発光の高密度化を図ることができる。
なお、上述した実施形態および変形例は一例であって、これらに限定されるわけではない。例えば、各実施形態および各変形例を適宜組み合わせることも可能である。
上記のように、本発明の実施形態について詳細に説明したが、本発明の新規事項および効果から実体的に逸脱しない多くの変形が可能であることは当業者には容易に理解できよう。従って、このような変形例はすべて本発明の範囲に含まれるものとする。
2 光、2a 第1出射光、2b 第1反射光、4 光、4a 第2出射光、
4b 第2反射光、10 基板、100 発光部、104 第1クラッド層、
105 第1面、106 活性層、107 第2面、108 第2クラッド層、
109 第1コンタクト層、110 反射防止膜、120 第1電極、
122 第2電極、140 利得領域、151 第1端面、152 第2端面、
160 柱状部、162 絶縁部、200a,200b 受光部、
204 第3クラッド層、206 光吸収層、208 第4クラッド層、
209 第2コンタクト層、210 第3電極、212 第4電極、220 分離溝、
1000,2000,3000,4000,5000,6000 受発光素子、
7000 受発光装置、7010 ベース、7020 サブマウント、
7030 第1光軸変換素子、7032 第1ミラー、
7040 第2光軸変換素子、7042 第2ミラー、1000 プロジェクター、
1002 均一化光学系、1002a ホログラム、1002b フィールドレンズ、
1004 液晶ライトバルブ、1006 クロスダイクロイックプリズム、
1008 投写レンズ、1010 スクリーン

Claims (7)

  1. 受発光素子を有する受発光装置と、
    前記受発光装置から出射された光を画像情報に応じて変調する光変調装置と、
    前記光変調装置によって形成された画像を投射する投射装置と、
    を含み、
    前記受発光素子は、
    同一基板に設けられた発光部と受光部とを有し、
    前記発光部は、スーパールミネッセントダイオードであって、第1クラッド層と第2クラッド層とに挟まれた活性層を有する積層構造体を有し、
    前記受光部は、光吸収層を有し、
    前記活性層の少なくとも一部は、前記活性層の電流経路となる利得領域を構成し、
    前記積層構造体において、前記活性層の露出する面のうちの第1面および第2面は、互いに対向する位置関係であり、
    前記利得領域は、前記活性層の積層方向から平面視して、前記活性層の前記第1面から前記第2面まで、前記第1面の垂線に対して傾いた方向に向かって設けられ、
    前記利得領域に生じる光は、前記利得領域の前記第1面側の端面および前記第2面側の端面の少なくとも一方において、外部に出射される光と、反射される光と、に分けられ、
    前記反射される光は、前記光吸収層に至り、前記受光部において受光される、プロジェクター。
  2. 請求項1において、
    前記受光部は、前記第1面側と前記第2面側とにそれぞれ設けられている、プロジェクター。
  3. 請求項1または2において、
    前記受発光素子は、前記発光部と前記受光部とを電気的に分離する分離溝を有する、プロジェクター。
  4. 請求項3において、
    前記分離溝は、前記受発光素子を前記活性層の積層方向から平面視して、前記受光部の周囲を囲んでいる、プロジェクター。
  5. 請求項1または2において、
    前記活性層と前記光吸収層は、連続した1つの層である、プロジェクター。
  6. 請求項1ないし5のいずれか1項において、
    前記光吸収層の膜厚は、前記活性層の膜厚よりも厚い、プロジェクター。
  7. 請求項1ないし6のいずれか1項において、
    前記利得領域は、複数配列され、
    複数の前記利得領域に対応して、前記受光部が複数設けられている、プロジェクター。
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013004903A (ja) * 2011-06-21 2013-01-07 Canon Inc 半導体光集積素子及び該半導体光集積素子を備えた光断層撮像装置
JP2014120633A (ja) * 2012-12-17 2014-06-30 Canon Inc スーパールミネッセントダイオード、スーパールミネッセントダイオードを備えている光干渉断層撮像装置、及びスーパールミネッセントダイオードの制御方法
EP3131125A1 (en) 2015-08-13 2017-02-15 Canon Kabushiki Kaisha Light emitting device, control method thereof and optical coherence tomography apparatus using the same
WO2020240645A1 (ja) * 2019-05-27 2020-12-03 三菱電機株式会社 光半導体装置

Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6432694A (en) * 1987-05-09 1989-02-02 Samsung Semiconductor Tele Manufacture of semiconductor device in which laser diode and photodiode with expanded light receiving plane are unified
JPH06188509A (ja) * 1992-12-18 1994-07-08 Matsushita Electron Corp 半導体発光素子およびその製造方法
JPH08162669A (ja) * 1994-12-06 1996-06-21 Nippondenso Co Ltd スーパールミネッセントダイオード
JP2001051651A (ja) * 1999-08-05 2001-02-23 Saipaaku:Kk 光源装置およびその制御方法
JP2005216954A (ja) * 2004-01-27 2005-08-11 Sumitomo Electric Ind Ltd 半導体光素子
JP2006278368A (ja) * 2005-03-28 2006-10-12 Sony Corp 光源装置および表示装置
JP2006286810A (ja) * 2005-03-31 2006-10-19 Fujitsu Ltd 半導体デバイス
JP2007165689A (ja) * 2005-12-15 2007-06-28 Fujifilm Corp スーパールミネッセントダイオード
JP2008134402A (ja) * 2006-11-28 2008-06-12 Seiko Epson Corp 画像表示装置、プロジェクタ、および、画像表示方法

Patent Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6432694A (en) * 1987-05-09 1989-02-02 Samsung Semiconductor Tele Manufacture of semiconductor device in which laser diode and photodiode with expanded light receiving plane are unified
JPH06188509A (ja) * 1992-12-18 1994-07-08 Matsushita Electron Corp 半導体発光素子およびその製造方法
JPH08162669A (ja) * 1994-12-06 1996-06-21 Nippondenso Co Ltd スーパールミネッセントダイオード
JP2001051651A (ja) * 1999-08-05 2001-02-23 Saipaaku:Kk 光源装置およびその制御方法
JP2005216954A (ja) * 2004-01-27 2005-08-11 Sumitomo Electric Ind Ltd 半導体光素子
JP2006278368A (ja) * 2005-03-28 2006-10-12 Sony Corp 光源装置および表示装置
JP2006286810A (ja) * 2005-03-31 2006-10-19 Fujitsu Ltd 半導体デバイス
JP2007165689A (ja) * 2005-12-15 2007-06-28 Fujifilm Corp スーパールミネッセントダイオード
JP2008134402A (ja) * 2006-11-28 2008-06-12 Seiko Epson Corp 画像表示装置、プロジェクタ、および、画像表示方法

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013004903A (ja) * 2011-06-21 2013-01-07 Canon Inc 半導体光集積素子及び該半導体光集積素子を備えた光断層撮像装置
JP2014120633A (ja) * 2012-12-17 2014-06-30 Canon Inc スーパールミネッセントダイオード、スーパールミネッセントダイオードを備えている光干渉断層撮像装置、及びスーパールミネッセントダイオードの制御方法
EP3131125A1 (en) 2015-08-13 2017-02-15 Canon Kabushiki Kaisha Light emitting device, control method thereof and optical coherence tomography apparatus using the same
JP2017038018A (ja) * 2015-08-13 2017-02-16 キヤノン株式会社 発光素子、その制御方法、及びそれを用いた光干渉断層計
CN106449898A (zh) * 2015-08-13 2017-02-22 佳能株式会社 发光装置及其控制方法和光学相干断层成像设备
US10403784B2 (en) 2015-08-13 2019-09-03 Canon Kabushiki Kaisha Light emitting device controlling a current injection amount into an electrode according to pieces of optical information
WO2020240645A1 (ja) * 2019-05-27 2020-12-03 三菱電機株式会社 光半導体装置
JPWO2020240645A1 (ja) * 2019-05-27 2021-12-02 三菱電機株式会社 光半導体装置
JP7130128B2 (ja) 2019-05-27 2022-09-02 三菱電機株式会社 光半導体装置

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