JP2011022109A - Apparatus and method for displaying waveform - Google Patents
Apparatus and method for displaying waveform Download PDFInfo
- Publication number
- JP2011022109A JP2011022109A JP2009169775A JP2009169775A JP2011022109A JP 2011022109 A JP2011022109 A JP 2011022109A JP 2009169775 A JP2009169775 A JP 2009169775A JP 2009169775 A JP2009169775 A JP 2009169775A JP 2011022109 A JP2011022109 A JP 2011022109A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- display
- waveform
- data value
- display screen
- representative data
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Images
Landscapes
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
Description
本発明は、半導体試験の結果としてのデータのデータ値を、試験条件の関数としての波形により画面表示する波形表示装置および波形表示方法に関する。 The present invention relates to a waveform display apparatus and a waveform display method for displaying a data value of data as a result of a semiconductor test on a screen as a waveform as a function of a test condition.
半導体試験ではテスト対象デバイスに所定の試験条件を順次与え、テスト対象デバイスの出力値を当該試験条件と対応付けて保存している。試験結果は専用の波形表示ツールにより、出力値を縦軸に、試験条件を横軸にとった波形として画面表示することができる。テスト対象デバイスがLCDドライバの場合には、試験条件である表示階調を段階的に変えていくため、出力値を示す波形は階段状となる。この場合、デバイスの良否の判定のための規格値を、出力値を示す波形に重ねて画面表示することにより、出力性能の良否を視覚的に把握することができる。 In the semiconductor test, predetermined test conditions are sequentially given to the test target device, and the output value of the test target device is stored in association with the test condition. Test results can be displayed on the screen as a waveform with the output value on the vertical axis and the test condition on the horizontal axis using a dedicated waveform display tool. When the device to be tested is an LCD driver, the display gray level, which is the test condition, is changed stepwise, and the waveform indicating the output value is stepped. In this case, it is possible to visually grasp the quality of the output performance by displaying the standard value for determining the quality of the device on the screen superimposed on the waveform indicating the output value.
波形により試験結果を確認するための機能として、波形表示ツールには拡大表示機能および表示スクロール機能が備えられている。スクロール機能は横方向および縦方向のスクロールにそれぞれ対応している。デバイスの出力値が規格の範囲にどの程度収まっているかを確認するためには、拡大表示機能で波形を拡大する必要がある。拡大表示を行うと波形の一部分しかツール画面上に表示されなくなるため、画面内に波形が表示されるように表示スクロール機能を用いた操作が必要となる。波形全体について確認するためには、ユーザは横方向および縦方向の両者についてスクロール操作を繰り返し行わなければならない。また、波形の全体像を確認しつつ拡大表示を得るためには、縮小表示、スクロール、拡大表示のための操作を繰り返す必要がある。このため、波形データの確認に時間がかかり作業効率を低下させる原因になる。 As a function for confirming a test result with a waveform, the waveform display tool is provided with an enlarged display function and a display scroll function. The scroll function corresponds to horizontal and vertical scrolling, respectively. In order to check how much the output value of the device is within the standard range, it is necessary to enlarge the waveform with the enlarged display function. When the enlarged display is performed, only a part of the waveform is displayed on the tool screen. Therefore, an operation using the display scroll function is required so that the waveform is displayed on the screen. In order to confirm the entire waveform, the user must repeatedly perform scroll operations in both the horizontal and vertical directions. In addition, in order to obtain an enlarged display while checking the entire waveform, it is necessary to repeat operations for reduced display, scrolling, and enlarged display. For this reason, it takes time to check the waveform data, which causes a reduction in work efficiency.
本発明の目的は、試験結果を示す波形を表示画面上で効率的に確認することができる波形表示装置および波形表示方法を提供することにある。 An object of the present invention is to provide a waveform display device and a waveform display method capable of efficiently confirming a waveform indicating a test result on a display screen.
本発明の波形表示装置は、半導体試験の結果としてのデータのデータ値を、試験条件の関数としての波形により画面表示する波形表示装置において、前記表示画面について前記データ値を示す軸と直交する方向へのスクロール操作を受け付け、前記表示画面に反映させる操作受付手段と、前記試験条件ごとの代表データ値を与える代表データ値付与手段と、前記代表データ値付与手段により与えられた前記代表データ値が、常に前記表示画面上に表示されるように、前記表示画面における前記データ値を示す軸方向について前記波形の表示位置を算出する表示位置算出手段と、前記表示位置算出手段による算出結果に基づいて、前記表示画面における前記波形の表示位置を制御する表示位置制御手段と、を備えることを特徴とする。
この波形表示装置によれば、試験条件ごとに定められた代表データ値が、常に表示画面上に表示されるように、表示画面におけるデータ値を示す軸方向について波形の表示位置を算出し、その算出結果に基づいて、表示画面における波形の表示位置を制御するので、試験結果を示す波形を表示画面上で効率的に確認することができる。
The waveform display device of the present invention is a waveform display device that displays a data value of data as a result of a semiconductor test on a screen by a waveform as a function of a test condition, and a direction orthogonal to an axis indicating the data value with respect to the display screen. The operation accepting means for accepting the scrolling operation to be reflected on the display screen, the representative data value giving means for giving the representative data value for each test condition, and the representative data value given by the representative data value giving means Based on the calculation result by the display position calculating means for calculating the display position of the waveform with respect to the axial direction indicating the data value on the display screen, so as to be always displayed on the display screen. And display position control means for controlling the display position of the waveform on the display screen.
According to this waveform display device, the display position of the waveform is calculated in the axial direction indicating the data value on the display screen so that the representative data value determined for each test condition is always displayed on the display screen. Since the display position of the waveform on the display screen is controlled based on the calculation result, the waveform indicating the test result can be efficiently confirmed on the display screen.
前記代表データ値は前記試験条件ごとの前記データの平均値であってもよい。 The representative data value may be an average value of the data for each test condition.
前記代表データ値は前記試験条件ごとの規格値であってもよい。 The representative data value may be a standard value for each test condition.
前記操作受付手段は、前記画面表示の拡大操作および縮小操作を受け付け、前記表示画面に反映させてもよい。 The operation accepting unit may accept an enlargement operation and a reduction operation of the screen display and reflect them on the display screen.
前記表示位置算出手段は、前記代表データ値が、常に前記表示画面中央に表示されるように、前記波形の表示位置を算出してもよい。 The display position calculation means may calculate the display position of the waveform so that the representative data value is always displayed at the center of the display screen.
本発明の波形表示方法は、半導体試験の結果としてのデータのデータ値を、試験条件の関数としての波形により画面表示する波形表示方法において、前記表示画面について前記データ値を示す軸と直交する方向へのスクロール操作を受け付け、前記表示画面に反映させるステップと、前記試験条件ごとに前記データの代表データ値を与えるステップと、前記代表データ値が、常に前記表示画面上に表示されるように、前記表示画面における前記データ値を示す軸方向について前記波形の表示位置を算出するステップと、前記表示位置を算出するステップによる算出結果に基づいて、前記表示画面における前記波形の表示位置を制御するステップと、を備えることを特徴とする。
この波形表示方法によれば、試験条件ごとに定められた代表データ値が、常に表示画面上に表示されるように、表示画面におけるデータ値を示す軸方向について波形の表示位置を算出し、その算出結果に基づいて、表示画面における波形の表示位置を制御するので、試験結果を示す波形を表示画面上で効率的に確認することができる。
The waveform display method of the present invention is a waveform display method for displaying a data value of data as a result of a semiconductor test on a screen by a waveform as a function of a test condition, and a direction orthogonal to an axis indicating the data value with respect to the display screen. Accepting a scrolling operation to the display screen, reflecting on the display screen, giving a representative data value of the data for each test condition, and so that the representative data value is always displayed on the display screen, Calculating the display position of the waveform in the axial direction indicating the data value on the display screen, and controlling the display position of the waveform on the display screen based on a calculation result of the step of calculating the display position. And.
According to this waveform display method, the display position of the waveform is calculated in the axial direction indicating the data value on the display screen so that the representative data value determined for each test condition is always displayed on the display screen. Since the display position of the waveform on the display screen is controlled based on the calculation result, the waveform indicating the test result can be efficiently confirmed on the display screen.
本発明の波形表示装置によれば、試験条件ごとに定められた代表データ値が、常に表示画面上に表示されるように、表示画面におけるデータ値を示す軸方向について波形の表示位置を算出し、その算出結果に基づいて、表示画面における波形の表示位置を制御するので、試験結果を示す波形を表示画面上で効率的に確認することができる。 According to the waveform display device of the present invention, the display position of the waveform is calculated in the axial direction indicating the data value on the display screen so that the representative data value determined for each test condition is always displayed on the display screen. Since the display position of the waveform on the display screen is controlled based on the calculation result, the waveform indicating the test result can be efficiently confirmed on the display screen.
本発明の波形表示方法によれば、試験条件ごとに定められた代表データ値が、常に表示画面上に表示されるように、表示画面におけるデータ値を示す軸方向について波形の表示位置を算出し、その算出結果に基づいて、表示画面における波形の表示位置を制御するので、試験結果を示す波形を表示画面上で効率的に確認することができる。 According to the waveform display method of the present invention, the display position of the waveform is calculated in the axial direction indicating the data value on the display screen so that the representative data value determined for each test condition is always displayed on the display screen. Since the display position of the waveform on the display screen is controlled based on the calculation result, the waveform indicating the test result can be efficiently confirmed on the display screen.
以下、本発明による波形表示装置の実施形態について説明する。 Hereinafter, embodiments of the waveform display device according to the present invention will be described.
図1は、本実施形態の波形表示装置の構成を示すブロック図である。 FIG. 1 is a block diagram showing the configuration of the waveform display device of this embodiment.
図1に示すように、本実施形態の波形表示装置1は、半導体試験により得られる出力値のデータを試験条件と対応付けた形態で格納するデータ格納部11と、データ格納部11に格納されたデータを波形として表示画面2に表示する表示制御部12と、を備える。
As shown in FIG. 1, the
また波形表示装置1は、表示画面2に対するスクロール操作および拡大表示、縮小表示のための操作を受け付ける操作受付手段14と、試験条件ごとの代表データ値を与える代表データ値付与手段15と、代表データ値付与手段15により与えられた代表データ値が、常に表示画面2上に表示されるように、表示画面2における縦方向についての上記波形の表示位置を算出する表示位置算出手段16と、表示位置算出手段16による算出結果に基づいて、表示画面における上記波形の表示位置を制御する表示位置制御手段17と、を構成する。
The
次に、波形表示装置1の動作について説明する。
Next, the operation of the
図2(a)は表示画面2における表示例を示す図である。横軸方向に試験条件を、縦軸方向に出力値をとった波形として試験結果が示される。図2(a)はテスト対象デバイスがLCDドライバの場合を示しており、試験条件である表示階調を段階的に変えていくため、出力値を示す波形は階段状となる。また、表示画面2には、デバイスの良否の判定のための規格値(上限値21および下限値22)が波形と重ねて表示されている。これにより、出力性能の良否を視覚的に把握することができる。なお、規格値は出力値と同様、試験結果に対応付けられてデータ格納部11に格納され、表示制御部12がデータ格納部11にアクセスすることで、上限値21および下限値22が画面表示される。
FIG. 2A is a diagram showing a display example on the
表示画面2の波形は、操作受付手段14への操作によって横方向に任意の位置にスクロールすることができる。しかし、本実施形態の波形表示装置1では、以下の手順に従って、表示画面2の中央に常に波形が表示されるように自動的に縦方向のスクロールが実行される。
The waveform on the
代表データ値付与手段15は、データ格納部11に格納されたデータに基づき、試験条件ごとのデータ値(出力値)の平均を算出する。図2(a)に示す階段状の波形を構成する1つのステップは1つの試験条件で得られるデータ群を示している。例えば、図2(a)におけるデータ群23aは、同一の試験条件で得られるデータ群(同一試験条件で得られる複数の出力端子における出力値の集合)であり、代表データ値付与手段15は、データ群23aの平均値を算出し、この平均値を当該試験条件の代表データ値として表示位置算出手段16に与える。代表データ値付与手段15は、適時、各試験条件について代表データ値(出力値の平均)を算出し、その値を保持する。代表データ値付与手段15は、画像表示の要求に応じて当該試験条件の代表データ値を随時、算出することができるが、画面表示に先だって、当該試験条件について代表データ値を予め算出、保持することもできる。
The representative data value assigning means 15 calculates the average of the data values (output values) for each test condition based on the data stored in the
表示位置算出手段16は、図2(a)に示す表示画面2の指標線24に位置付けられる試験条件に対応する代表データ値を代表データ値付与手段15から取得し、代表データ値が表示画面2の中央に位置付けられるように、縦方向についての波形の表示位置(縦スクロール幅)を算出する。なお、指標線24の画面表示の有無は任意である。
The display
表示位置制御手段17は、表示位置算出手段16で得られた表示位置(縦方向のスクロール幅)を表示制御部12に指示する。表示制御部12は、表示位置制御手段17からの指示に従った画面表示を実行する。
The display
このような手順により、図2(a)に示すように、表示画面2の指標線24に対応する試験条件のデータ群が、表示画面2の中央付近に常に位置付けられることになる。
With such a procedure, as shown in FIG. 2A, the data group of the test condition corresponding to the
図2(b)は、図2(a)の状態から、操作受付手段14への操作により表示画面2の横方向のスクロールを実行した後の状態を示す図である。
FIG. 2B is a diagram illustrating a state after the horizontal scrolling of the
図2(b)に示すように、指標線2が示す横方向の位置には、波形を構成する1つのステップに対応するデータ群23bが位置付けられるため、データ群23bのデータ値の平均値(代表データ値)が表示画面2の中央に位置付けられるように、波形の縦方向の表示位置が制御される。
As shown in FIG. 2B, since the
このように、本実施形態の波形表示装置によれば、常に、画面上に波形が表示されるように自動的に縦方向のスクロールが行われる。このため、ユーザは横方向のスクロール操作をするだけで、波形全体について拡大表示画面による確認を行うことができる。 As described above, according to the waveform display device of the present embodiment, the vertical scroll is automatically performed so that the waveform is always displayed on the screen. For this reason, the user can check the entire waveform on the enlarged display screen only by scrolling in the horizontal direction.
本実施形態の波形表示装置では、ユーザの動作モード選択により、自動的な縦方向のスクロール動作を停止させることもできる。 In the waveform display device of this embodiment, the automatic vertical scroll operation can be stopped by the user's operation mode selection.
図3は、縦方向のスクロール動作を停止させたモードで、図2(a)の状態から、操作受付手段14への操作により表示画面の横スクロールを実行した後の状態を示す図である。
FIG. 3 is a diagram showing a state after the horizontal scrolling of the display screen is executed by operating the
この場合には、横方向へのスクロールとともに画面上の波形が表示画面2の下方に移動し、波形が表示画面2から外れることになる。したがって、ユーザは手動操作により縦方向のスクロールを行い、波形を表示画面2上に表示させることが必要となる。大きなスクロール幅が必要な場合や、波形の位置が容易に予測できない場合には、画面の縮小操作を行って予め波形の全体像を確認し、さらに、縦方向のスクロール、拡大表示のための操作を順次行わなければならない。
In this case, the waveform on the screen moves to the lower side of the
上記実施形態では、試験条件ごとのデータ値の平均を、当該試験条件の代表データ値としているが、代表データ値の決め方は任意である。例えば、試験条件ごとのデータ値の中間値を、当該試験条件の代表データ値としてもよい。また、試験条件ごとの規格値を用いて当該代表データ値を定めてもよい。例えば、図2(a)における上限値21および下限値22の平均(理想規格値)を、当該試験条件の代表データ値としてもよい。この場合、代表データ値付与手段15は、データ格納部11に格納された規格値等に基づいて代表データ値を獲得することができる。
In the above embodiment, the average of the data values for each test condition is used as the representative data value for the test condition, but the method for determining the representative data value is arbitrary. For example, an intermediate value of data values for each test condition may be used as a representative data value for the test condition. Further, the representative data value may be determined using a standard value for each test condition. For example, an average (ideal standard value) of the
以上説明したように、本発明の波形表示装置によれば、試験条件ごとに定められた代表データ値が、常に表示画面上に表示されるように、表示画面におけるデータ値を示す軸方向について波形の表示位置を算出し、その算出結果に基づいて、表示画面における波形の表示位置を制御するので、試験結果を示す波形を表示画面上で効率的に確認することができる。 As described above, according to the waveform display device of the present invention, the waveform in the axial direction indicating the data value on the display screen is displayed so that the representative data value determined for each test condition is always displayed on the display screen. Since the display position of the waveform is calculated and the display position of the waveform on the display screen is controlled based on the calculation result, the waveform indicating the test result can be efficiently confirmed on the display screen.
本発明の適用範囲は上記実施形態に限定されることはない。本発明は、半導体試験の結果としてのデータのデータ値を、試験条件の関数としての波形により画面表示する波形表示装置および波形表示方法に対し、広く適用することができる。 The scope of application of the present invention is not limited to the above embodiment. The present invention can be widely applied to a waveform display apparatus and a waveform display method for displaying a data value of data as a result of a semiconductor test on a screen as a waveform as a function of a test condition.
14 操作受付手段
15 代表データ値付与手段
16 表示位置算出手段
17 表示位置制御手段
14 operation accepting means 15 representative data value giving means 16 display position calculating means 17 display position controlling means
Claims (6)
前記表示画面について前記データ値を示す軸と直交する方向へのスクロール操作を受け付け、前記表示画面に反映させる操作受付手段と、
前記試験条件ごとに定められた代表データ値を与える代表データ値付与手段と、
前記代表データ値付与手段により与えられた前記代表データ値が、常に前記表示画面上に表示されるように、前記表示画面における前記データ値を示す軸方向について前記波形の表示位置を算出する表示位置算出手段と、
前記表示位置算出手段による算出結果に基づいて、前記表示画面における前記波形の表示位置を制御する表示位置制御手段と、
を備えることを特徴とする波形表示装置。 In the waveform display device that displays the data value of the data as a result of the semiconductor test on the screen as a waveform as a function of the test condition,
Operation accepting means for accepting a scroll operation in a direction perpendicular to the axis indicating the data value for the display screen, and reflecting the operation on the display screen;
Representative data value giving means for giving a representative data value determined for each test condition;
A display position for calculating the display position of the waveform in the axial direction indicating the data value on the display screen so that the representative data value given by the representative data value giving means is always displayed on the display screen. A calculation means;
Display position control means for controlling the display position of the waveform on the display screen based on the calculation result by the display position calculation means;
A waveform display device comprising:
前記表示画面について前記データ値を示す軸と直交する方向へのスクロール操作を受け付け、前記表示画面に反映させるステップと、
前記試験条件ごとに定められた代表データ値を与えるステップと、
前記代表データ値が、常に前記表示画面上に表示されるように、前記表示画面における前記データ値を示す軸方向について前記波形の表示位置を算出するステップと、
前記表示位置を算出するステップによる算出結果に基づいて、前記表示画面における前記波形の表示位置を制御するステップと、
を備えることを特徴とする波形表示方法。 In a waveform display method for displaying a data value of data as a result of a semiconductor test on a screen as a waveform as a function of a test condition,
Receiving a scroll operation in a direction orthogonal to the axis indicating the data value for the display screen, and reflecting the operation on the display screen;
Providing representative data values determined for each test condition;
Calculating the display position of the waveform in the axial direction indicating the data value on the display screen so that the representative data value is always displayed on the display screen;
Controlling the display position of the waveform on the display screen based on the calculation result of the step of calculating the display position;
A waveform display method comprising:
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009169775A JP2011022109A (en) | 2009-07-21 | 2009-07-21 | Apparatus and method for displaying waveform |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009169775A JP2011022109A (en) | 2009-07-21 | 2009-07-21 | Apparatus and method for displaying waveform |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2011022109A true JP2011022109A (en) | 2011-02-03 |
Family
ID=43632311
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2009169775A Pending JP2011022109A (en) | 2009-07-21 | 2009-07-21 | Apparatus and method for displaying waveform |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2011022109A (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2013208286A (en) * | 2012-03-30 | 2013-10-10 | Fukuda Denshi Co Ltd | Biosignal display device and method for controlling the same |
-
2009
- 2009-07-21 JP JP2009169775A patent/JP2011022109A/en active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2013208286A (en) * | 2012-03-30 | 2013-10-10 | Fukuda Denshi Co Ltd | Biosignal display device and method for controlling the same |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US8074182B2 (en) | Work procedure display method and system, production process management method and system, and computer program of the same | |
JP5347856B2 (en) | ANALYZER CONTROL SYSTEM AND PROGRAM FOR THE SYSTEM | |
JP2011028656A (en) | Display system | |
JP2009217321A (en) | Information processor and information processing program | |
JP6483368B2 (en) | Switching cycle display method and test measurement apparatus | |
JP2011022109A (en) | Apparatus and method for displaying waveform | |
JP4940974B2 (en) | Position cursor display device and position cursor display method | |
JP2009288116A (en) | Measuring device, measuring system, and display control program | |
JP5203724B2 (en) | Insulation resistance tester | |
JP5217473B2 (en) | Display processing apparatus and display processing program | |
JP5466902B2 (en) | Programmable display | |
JP2014010036A (en) | Waveform display device and waveform display method | |
KR20160047905A (en) | Remote Support Apparatus and Method for Remote Support | |
JP6765229B2 (en) | Bead inspection equipment and bead inspection program | |
KR100734419B1 (en) | Display apparatus | |
JP2007178127A (en) | Visual inspection system, and control method of same | |
JP2010025590A (en) | Testing apparatus and test program | |
JP2009204553A (en) | Measuring device, and screen display method for measuring device | |
JPH0599965A (en) | Pulse wave shape measuring system | |
JP2011106946A (en) | Waveform display device and waveform display method | |
JP2009250748A (en) | Control apparatus for analysis apparatus | |
JP2017199275A (en) | Information processor and information processing program | |
JP2011145239A (en) | Waveform display device and waveform display method | |
JP2008215822A (en) | Array variable display device and method | |
JP6369111B2 (en) | Display device, monitoring system, display method, and display program |