JP2010512633A - 質量分析計 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】連続的な軸方向電場を印加することによってイオンをそれらのイオン移動度にしたがって時間的に分離するための第1の動作モードで動作することができる装置(2)を含む質量分析計が開示される。装置(2)は、印加される軸方向電場をONとOFFとでパルス切り替えすることによってイオンをそれらの質量電荷比にしたがって時間的に分離する第2の動作モードでも動作可能である。
【選択図】図1
Description
本発明の一態様として、質量分析計であって、
イオンを時間的に分離するための装置であって、第1の動作モードではイオンをそれらのイオン移動度にしたがって時間的に分離するように構成及び適応され、第2の動作モードではイオンをそれらの質量電荷比にしたがって分離するように構成及び適応される装置を含む質量分析計が提供される。
装置は、複数の電極を含むイオンガイドを含むことが好ましい。
装置を提供することと、
装置を、イオンが装置内においてそれらのイオン移動度にしたがって時間的に分離される第1のモードで動作させることと、
装置を、イオンが装置内においてそれらの質量電荷比にしたがって時間的に分離される第2の動作モードで動作させることと、
を含む方法が提供される。
複数の電極と、
イオンが最終速度に達することなく軸方向に加速されるように、質量分析器内において軸方向電場をONとOFFとでパルス切り替えするように構成及び適応される装置と、
を含む質量分析器が提供される。
複数の電極を含む質量分析器を提供することと、
イオンが最終速度に達することなく軸方向に加速されるように、質量分析器内において軸方向電場をONとOFFとでパルス切り替えすることと、
を含む方法が提供される。
複数の電極と、
イオンが最終速度に達することなく軸方向に加速されるように、軸方向電場を第1の方向に、次いで軸方向電場を第1の方向と反対の第2の方向に繰り返し印加するように構成及び適応される装置と、
を含む質量分析器が提供される。
複数の電極を含む質量分析器を提供することと、
イオンが最終速度に達することなく軸方向に加速されるように、軸方向電場を第1の方向に、次いで軸方向電場を第1の方向と反対の第2の方向に繰り返し印加することと、
を含む方法が提供される。
Claims (110)
- 質量分析計であって、
イオンを時間的に分離するための装置であって、第1の動作モードではイオンをそれらのイオン移動度にしたがって時間的に分離するように構成及び適応され、第2の動作モードではイオンをそれらの質量電荷比にしたがって分離するように構成及び適応される装置を備える質量分析計。 - 請求項1に記載の質量分析計であって、
前記装置は、複数の電極を含むイオンガイドを含む質量分析計。 - 請求項2に記載の質量分析計であって、
前記イオンガイドは、
(i)多重極ロッドセット若しくはセグメント化多重極ロッドセット、
(ii)イオントンネル若しくはイオンファネル、又は
(iii)積層状若しくは配列状の、平坦電極、平板電極、若しくはメッシュ電極を含む質量分析計。 - 請求項3に記載の質量分析計であって、
前記多重極ロッドセットは、四重極ロッドセット、六重極ロッドセット、八重極ロッドセット、又は8を超えるロッドを含むロッドセットを含む質量分析計。 - 請求項3に記載の質量分析計であって、
前記イオントンネル又はイオンファネルは、使用時にイオンを通過させるアパーチャを有する複数の電極又は少なくとも2、5、10、20、30、40、50、60、70、80、90、若しくは100の電極を含み、前記電極の少なくとも5%、10%、15%、20%、25%、30%、35%、40%、45%、50%、55%、60%、65%、70%、75%、80%、85%、90%、95%、又は100%は、実質的に同サイズ若しくは同面積の又はサイズ若しくは面積が漸進的に大きくなる及び/若しくは小さくなるアパーチャを有する質量分析計。 - 請求項5に記載の質量分析計であって、
前記電極の少なくとも5%、10%、15%、20%、25%、30%、35%、40%、45%、50%、55%、60%、65%、70%、75%、80%、85%、90%、95%、又は100%は、(i)≦1.0mm、(ii)≦2.0mm、(iii)≦3.0mm、(iv)≦4.0mm、(v)≦5.0mm、(vi)≦6.0mm、(vii)≦7.0mm、(viii)≦8.0mm、(ix)≦9.0mm、(x)≦10.0mm、及び(xi)>10.0mmからなる群より選択される内径又は内部寸法を有する質量分析計。 - 請求項3に記載の質量分析計であって、
前記積層状又は配列状の、平坦電極、平板電極、又はメッシュ電極は、複数の又は少なくとも2、3、4、5、6、7、8、9、10、11、12、13、14、15、16、17、18、19、若しくは20の平坦電極、平板電極、又はメッシュ電極を含み、前記平坦電極、平板電極、又はメッシュ電極の少なくとも5%、10%、15%、20%、25%、30%、35%、40%、45%、50%、55%、60%、65%、70%、75%、80%、85%、90%、95%、又は100%は、使用時にイオンが移動する平面内に概して配置される質量分析計。 - 請求項7に記載の質量分析計であって、
前記平坦電極、平板電極、又はメッシュ電極の少なくとも一部又は少なくとも5%、10%、15%、20%、25%、30%、35%、40%、45%、50%、55%、60%、65%、70%、75%、80%、85%、90%、95%、若しくは100%は、AC電圧又はRF電圧を供給され、隣り合う平坦電極、平板電極、又はメッシュ電極は、逆位相の前記AC電圧又はRF電圧を供給される質量分析計。 - 請求項2ないし8のいずれかに記載の質量分析計であって、
イオンガイドは、複数の軸方向セグメント又は少なくとも5、10、15、20、25、30、35、40、45、50、55、60、65、70、75、80、85、90、95、若しくは100の軸方向セグメントを含む質量分析計。 - 請求項2ないし9のいずれかに記載の質量分析計であって、
隣り合う電極間の中心間距離は、(i)<0.5mm、(ii)0.5〜1.0mm、(iii)1.0〜1.5mm、(iv)1.5〜2.0mm、(v)2.0〜2.5mm、(vi)2.5〜3.0mm、(vii)3.0〜3.5mm、(viii)3.5〜4.0mm、(ix)4.0〜4.5mm、(x)4.5〜5.0mm、(xi)5.0〜5.5mm、(xii)5.5〜6.0mm、(xiii)6.0〜6.5mm、(xiv)6.5〜7.0mm、(xv)7.0〜7.5mm、(xvi)7.5〜8.0mm、(xvii)8.0〜8.5mm、(xviii)8.5〜9.0mm、(xix)9.0〜9.5mm、(xx)9.5〜10.0mm、及び(xxi)>10.0mmからなる群より選択される質量分析計。 - 請求項2ないし10のいずれかに記載の質量分析計であって、
前記イオンガイドは、(i)<20mm、(ii)20〜40mm、(iii)40〜60mm、(iv)60〜80mm、(v)80〜100mm、(vi)100〜120mm、(vii)120〜140mm、(viii)140〜160mm、(ix)160〜180mm、(x)180〜200mm、(xi)200〜220mm、(xii)220〜240mm、(xiii)240〜260mm、(xiv)260〜280mm、(xv)280〜300mm、及び(xvi)>300mmからなる群より選択される軸方向長さを有する質量分析計。 - 請求項2ないし11のいずれかに記載の質量分析計であって、さらに、
前記イオンガイド内にイオンを径方向に閉じ込めるように構成及び適応される第1の手段を備える質量分析計。 - 請求項12に記載の質量分析計であって、
前記第1の手段は、前記イオンガイド内にイオンを径方向に閉じ込めるために、前記イオンガイドを構成する電極の少なくとも5%、10%、15%、20%、25%、30%、35%、40%、45%、50%、55%、60%、65%、70%、75%、80%、85%、90%、95%、又は100%に第1のAC電圧又はRF電圧を印加するように構成及び適応される第1のAC電圧手段又はRF電圧手段を含む質量分析計。 - 請求項13に記載の質量分析計であって、
前記第1のAC電圧手段又はRF電圧手段は、前記イオンガイドの電極に(i)<50V、(ii)50〜100V、(iii)100〜150V、(iv)150〜200V、(v)200〜250V、(vi)250〜300V、(vii)300〜350V、(viii)350〜400V、(ix)400〜450V、(x)450〜500V、及び(xi)>500Vからなる群より選択される最高最低振幅を有する第1のAC電圧又はRF電圧を供給するように構成及び適応される質量分析計。 - 請求項13又は14に記載の質量分析計であって、
前記第1のAC電圧手段又はRF電圧手段は、前記イオンガイドの電極に(i)<100kHz、(ii)100〜200kHz、(iii)200〜300kHz、(iv)300〜400kHz、(v)400〜500kHz、(vi)0.5〜1.0MHz、(vii)1.0〜1.5MHz、(viii)1.5〜2.0MHz、(ix)2.0〜2.5MHz、(x)2.5〜3.0MHz、(xi)3.0〜3.5MHz、(xii)3.5〜4.0MHz、(xiii)4.0〜4.5MHz、(xiv)4.5〜5.0MHz、(xv)5.0〜5.5MHz、(xvi)5.5〜6.0MHz、(xvii)6.0〜6.5MHz、(xviii)6.5〜7.0MHz、(xix)7.0〜7.5MHz、(xx)7.5〜8.0MHz、(xxi)8.0〜8.5MHz、(xxii)8.5〜9.0MHz、(xxiii)9.0〜9.5MHz、(xxiv)9.5〜10.0MHz、及び(xxv)>10.0MHzからなる群より選択される周波数を有する第1のAC電圧又はRF電圧を供給するように構成及び適応される質量分析計。 - 請求項13、14、又は15に記載の質量分析計であって、
隣り合う電極間又は隣り合う電極群間における前記第1のAC電圧又はRF電圧の位相差は、(i)>0o、(ii)1〜30o、(iii)30〜60o、(iv)60〜90o、(v)90〜120o、(vi)120〜150o、(vii)150〜180o、(viii)180o、(ix)180〜210o、(x)210〜240o、(xi)240〜270o、(xii)270〜300o、(xiii)300〜330o、及び(xiv)330〜360oからなる群より選択される質量分析計。 - 請求項13ないし16のいずれかに記載の質量分析計であって、
使用時に前記電極に印加される前記第1のAC電圧又はRF電圧は、使用時に前記イオンガイド内にイオンを径方向に閉じ込める働きをする径方向の擬ポテンシャル井戸を生じさせる又は生成する質量分析計。 - 請求項13ないし17のいずれかに記載の質量分析計であって、
前記第1のAC電圧又はRF電圧は、二相又は多相のAC電圧又はRF電圧を含む質量分析計。 - 請求項1ないし18のいずれかに記載の質量分析計であって、さらに、
前記装置の軸方向長さの少なくとも5%、10%、15%、20%、25%、30%、35%、40%、45%、50%、55%、60%、65%、70%、75%、80%、85%、90%、95%、又は100%に沿って軸方向電場を印加するように構成及び適応される第2の手段を備える質量分析計。 - 請求項19に記載の質量分析計であって、
前記第1の動作モードにおいて、前記第2の手段は、前記軸方向電場を実質的に連続的に印加するように構成及び適応される質量分析計。 - 請求項19又は20に記載の質量分析計であって、
前記第1の動作モードにおいて、前記装置の軸方向長さに沿った1つ又は2つ以上の点における前記軸方向電場の最大振幅は、時間によらずに実質的に一定に留まるように構成される質量分析計。 - 請求項19、20、又は21に記載の質量分析計であって、
前記第1の動作モードにおいて、前記装置の軸方向長さに沿った1つ又は2つ以上の点における前記軸方向電場の最大振幅は、時間とともに変化、増大、又は減少するように構成される、或いは最大振幅は、時間とともに連続的に変化、段階的に変化、スキャン、又は直線的に若しくは非直線的に変化されるように構成される質量分析計。 - 請求項19ないし22のいずれかに記載の質量分析計であって、
前記第2の手段は、前記装置の軸方向長さの少なくとも一部分又は少なくとも5%、10%、15%、20%、25%、30%、35%、40%、45%、50%、55%、60%、65%、70%、75%、80%、85%、90%、95%、若しくは100%に沿って少なくとも一部のイオンを追い立てるために、前記第1の動作モードにおいて、前記装置の軸方向長さの少なくとも一部分又は少なくとも5%、10%、15%、20%、25%、30%、35%、40%、45%、50%、55%、60%、65%、70%、75%、80%、85%、90%、95%、若しくは100%に沿って非ゼロのDC電圧勾配を維持するためのDC電圧手段を含む質量分析計。 - 請求項23に記載の質量分析計であって、さらに、
前記DC電圧勾配を時間とともに変化、増大、又は減少させるように、或いは前記DC電圧勾配を時間とともに連続的に変化、段階的に変化、スキャン、又は直線的に若しくは非直線的に変化させるように構成及び適応される手段を備える質量分析計。 - 請求項19ないし24のいずれかに記載の質量分析計であって、
前記第2の手段は、前記装置の軸方向長さの少なくとも5%、10%、15%、20%、25%、30%、35%、40%、45%、50%、55%、60%、65%、70%、75%、80%、85%、90%、95%、又は100%に沿って少なくとも一部のイオンを追い立てるために、前記装置を構成する電極の少なくとも一部に1つ又は2つ以上のDC電圧を印加するための手段をさらに含み、前記DC電圧の振幅は、時間とともに変化、増大、又は減少するように構成される、或いは前記DC電圧は、時間とともに連続的に変化、段階的に変化、スキャン、又は直線的に若しくは非直線的に変化される質量分析計。 - 請求項19ないし25のいずれかに記載の質量分析計であって、
前記第2の手段は、前記装置を構成する電極の少なくとも一部に単相のAC電圧又はRF電圧を印加するための手段をさらに含み、全ての電極は、実質的に同位相に維持され、前記装置の軸方向長さの少なくとも5%、10%、15%、20%、25%、30%、35%、40%、45%、50%、55%、60%、65%、70%、75%、80%、85%、90%、95%、又は100%に沿って少なくとも一部のイオンを追い立てる働きをする軸方向の擬ポテンシャルが生成される質量分析計。 - 請求項26に記載の質量分析計であって、
前記第2の手段は、前記軸方向の擬ポテンシャルの振幅を時間とともに変化、増大、又は減少させるようにさらに構成される、或いは前記軸方向の擬ポテンシャルは、時間とともに連続的に変化、段階的に変化、スキャンされる、又は直線的に若しくは非直線的に変化される質量分析計。 - 請求項19ないし27のいずれかに記載の質量分析計であって、
前記第2の手段は、前記装置の軸方向長さの少なくとも5%、10%、15%、20%、25%、30%、35%、40%、45%、50%、55%、60%、65%、70%、75%、80%、85%、90%、95%、又は100%に沿って少なくとも一部のイオンを追い立てるために、前記第1の動作モードにおいて、前記装置を構成する電極の少なくとも一部に1つ若しくは2つ以上の過渡DC電圧若しくは過渡DC電位又は1つ若しくは2つ以上の過渡DC電圧波形若しくは過渡DC電位波形を印加するように構成及び適応される過渡DC電圧手段をさらに含む質量分析計。 - 請求項28に記載の質量分析計であって、
前記第2の手段は、前記1つ若しくは2つ以上の過渡DC電圧若しくは過渡DC電位又は1つ若しくは2つ以上の過渡DC電圧波形若しくは過渡DC電位波形の振幅を時間とともに変化、増大、又は減少させるようにさらに構成される、或いは前記1つ若しくは2つ以上の過渡DC電圧若しくは過渡DC電位又は1つ若しくは2つ以上の過渡DC電圧波形若しくは過渡DC電位波形の振幅は、時間とともに連続的に変化、段階的に変化、スキャン、又は直線的に若しくは非直線的に変化される質量分析計。 - 請求項28又は29に記載の質量分析計であって、
前記第1の動作モードにおいて、前記1つ若しくは2つ以上の過渡DC電圧若しくは過渡DC電位又は1つ若しくは2つ以上の過渡DC電圧波形若しくは過渡DC電位波形は、(i)<100m/s、(ii)100〜200m/s、(iii)200〜300m/s、(iv)300〜400m/s、(v)400〜500m/s、(vi)500〜600m/s、(vii)600〜700m/s、(viii)700〜800m/s、(ix)800〜900m/s、(x)900〜1000m/s、(xi)1000〜1100m/s、(xii)1100〜1200m/s、(xiii)1200〜1300m/s、(xiv)1300〜1400m/s、(xv)1400〜1500m/s、(xvi)1500〜1600m/s、(xvii)1600〜1700m/s、(xviii)1700〜1800m/s、(xix)1800〜1900m/s、(xx)1900〜2000m/s、(xxi)2000〜2100m/s、(xxii)2100〜2200m/s、(xxiii)2200〜2300m/s、(xxiv)2300〜2400m/s、(xxv)2400〜2500m/s、(xxvi)2500〜2600m/s、(xxvii)2600〜2700m/s、(xxviii)2700〜2800m/s、(xxix)2800〜2900m/s、(xxx)2900〜3000m/s、及び(xxxi)>3000m/sからなる群より選択される速度で前記装置の軸方向長さに沿って平行移動される質量分析計。 - 請求項19ないし30のいずれかに記載の質量分析計であって、さらに、
前記装置の軸方向長さの少なくとも5%、10%、15%、20%、25%、30%、35%、40%、45%、50%、55%、60%、65%、70%、75%、80%、85%、90%、95%、又は100%に沿って少なくとも一部のイオンを追い立てるために、前記第1の動作モードにおいて、前記装置を構成する電極に2つ又は3つ以上の位相シフトされたAC電圧又はRF電圧を印加するように構成及び適応されるAC電圧手段又はRF電圧手段を備える質量分析計。 - 請求項19ないし31のいずれかに記載の質量分析計であって、
前記第1の動作モードにおいて、イオンは、実質的に最終速度に達するように前記装置内において加速される質量分析計。 - 請求項1ないし32のいずれかに記載の質量分析計であって、
前記第1の動作モードにおいて、1〜100、100〜200、200〜300、300〜400、400〜500、500〜600、600〜700、700〜800、800〜900、900〜1000、又は>1000の範囲の質量電荷比を有する一価イオンは、前記装置を通る(i)0〜1ms、(ii)1〜2ms、(iii)2〜3ms、(iv)3〜4ms、(v)4〜5ms、(vi)5〜6ms、(vii)6〜7ms、(viii)7〜8ms、(ix)8〜9ms、(x)9〜10ms、(xi)10〜11ms、(xii)11〜12ms、(xiii)12〜13ms、(xiv)13〜14ms、(xv)14〜15ms、(xvi)15〜16ms、(xvii)16〜17ms、(xviii)17〜18ms、(xix)18〜19ms、(xx)19〜20ms、(xxi)20〜21ms、(xxii)21〜22ms、(xxiii)22〜23ms、(xxiv)23〜24ms、(xxv)24〜25ms、(xxvi)25〜26ms、(xxvii)26〜27ms、(xxviii)27〜28ms、(xxix)28〜29ms、(xxx)29〜30ms、(xxxi)30〜35ms、(xxxii)35〜40ms、(xxxiii)40〜45ms、(xxxiv)45〜50ms、(xxxv)50〜55ms、(xxxvi)55〜60ms、(xxxvii)60〜65ms、(xxxviii)65〜70ms、(xxxix)70〜75ms、(xl)75〜80ms、(xli)80〜85ms、(xlii)85〜90ms、(xliii)90〜95ms、(xliv)95〜100ms、及び(xlv)>100msの範囲のドリフト時間又は通過時間を有する質量分析計。 - 請求項1ないし33のいずれかに記載の質量分析計であって、
前記第1の動作モードにおいて、前記装置のスキャン時間又はサイクル時間は、(i)0〜1ms、(ii)1〜2ms、(iii)2〜3ms、(iv)3〜4ms、(v)4〜5ms、(vi)5〜6ms、(vii)6〜7ms、(viii)7〜8ms、(ix)8〜9ms、(x)9〜10ms、(xi)10〜11ms、(xii)11〜12ms、(xiii)12〜13ms、(xiv)13〜14ms、(xv)14〜15ms、(xvi)15〜16ms、(xvii)16〜17ms、(xviii)17〜18ms、(xix)18〜19ms、(xx)19〜20ms、(xxi)20〜21ms、(xxii)21〜22ms、(xxiii)22〜23ms、(xxiv)23〜24ms、(xxv)24〜25ms、(xxvi)25〜26ms、(xxvii)26〜27ms、(xxviii)27〜28ms、(xxix)28〜29ms、(xxx)29〜30ms、(xxxi)30〜35ms、(xxxii)35〜40ms、(xxxiii)40〜45ms、(xxxiv)45〜50ms、(xxxv)50〜55ms、(xxxvi)55〜60ms、(xxxvii)60〜65ms、(xxxviii)65〜70ms、(xxxix)70〜75ms、(xl)75〜80ms、(xli)80〜85ms、(xlii)85〜90ms、(xliii)90〜95ms、(xliv)95〜100ms、及び(xlv)>100msからなる群より選択される質量分析計。 - 請求項1ないし34のいずれかに記載の質量分析計であって、
前記第1の動作モードにおいて、前記装置の少なくとも一部分は、(i)>0.001ミリバール、(ii)>0.01ミリバール、(iii)>0.1ミリバール、(iv)>1ミリバール、(v)>10ミリバール、(vi)>100ミリバール、(vii)>1000ミリバール、(viii)0.001〜1000ミリバール、(ix)0.001〜0.1ミリバール、(x)0.1〜10ミリバール、及び(xi)10〜1000ミリバールからなる群より選択される圧力に維持されるように構成される質量分析計。 - 請求項1ないし35のいずれかに記載の質量分析計であって、
前記第1の動作モードにおいて、前記装置の少なくとも一部分は、(i)0.001〜0.005ミリバール、(ii)0.005〜0.010ミリバール、(iii)0.01〜0.05ミリバール、(iv)0.05〜0.10ミリバール、(v)0.1〜0.5ミリバール、(vi)0.5〜1.0ミリバール、(vii)1〜5ミリバール、(viii)5〜10ミリバール、(ix)10〜50ミリバール、(x)50〜100ミリバール、(xi)100〜500ミリバール、(xii)500〜1000ミリバール、及び(xiii)>1000ミリバールからなる群より選択される圧力に維持されるように構成される質量分析計。 - 請求項1ないし36のいずれかに記載の質量分析計であって、
前記第2の動作モードにおいて、前記第2の手段は、パルス式又は時間変化式に前記軸方向電場を印加するように構成及び適応される質量分析計。 - 請求項37に記載の質量分析計であって、
前記第2の動作モードにおいて、前記第2の手段は、1つのサイクルにおいて、第1の期間t1は前記軸方向電場を第1の振幅A1で印加するように又はそのような振幅に維持するように、そして第2の期間t2は前記軸方向電場を第2の振幅A2で印加するように又はそのような振幅に維持するように構成される質量分析計。 - 請求項38に記載の質量分析計であって、
比率A1/A2は、(i)<−1000、(ii)−1000から−500、(iii)−500から−100、(iv)−100から−50、(v)−50から−10、(vi)−10から−5、(vii)−5から0、(viii)0〜5、(ix)5〜10、(x)10〜50、(xi)50〜100、(xii)100〜500、(xiii)500〜1000、及び(xiv)≧1000ミリバールからなる群より選択される質量分析計。 - 請求項38に記載の質量分析計であって、
A2はゼロである質量分析計。 - 請求項38、39、又は40に記載の質量分析計であって、
比率t1/t2は、(i)<0.01、(ii)0.01〜0.02、(iii)0.02〜0.03、(iv)0.03〜0.04、(v)0.04〜0.05、(vi)0.05〜0.06、(vii)0.06〜0.07、(viii)0.07〜0.08、(ix)0.08〜0.09、(x)0.09〜0.10、(xi)0.10〜0.11、(xii)0.11〜0.12、(xiii)0.12〜0.13、(xiv)0.13〜0.14、(xv)0.14〜0.15、(xvi)0.15〜0.16、(xvii)0.16〜0.17、(xviii)0.17〜0.18、(xix)0.18〜0.19、(xx)0.19〜0.20、(xxi)0.20〜0.21、(xii)0.21〜0.22、(xxiii)0.22〜0.23、(xxiv)0.23〜0.24、(xxv)0.24〜0.25、(xxvi)0.25〜0.26、(xxvii)0.26〜0.27、(xxviii)0.27〜0.28、(xxix)0.28〜0.29、(xxx)0.29〜0.30、(xxxi)0.30〜0.31、(xxxii)0.31〜0.32、(xxxiii)0.32〜0.33、(xxxiv)0.33〜0.34、(xxxv)0.34〜0.35、(xxxvi)0.35〜0.36、(xxxvii)0.36〜0.37、(xxxviii)0.37〜0.38、(xxxix)0.38〜0.39、(xl)0.39〜0.40、(xli)0.40〜0.41、(xlii)0.41〜0.42、(xliii)0.42〜0.43、(xliv)0.43〜0.44、(xlv)0.44〜0.45、(xlvi)0.45〜0.46、(xlvii)0.46〜0.47、(xlviii)0.47〜0.48、(xlix)0.48〜0.49、及び(l)0.49〜0.50からなる群より選択される質量分析計。 - 請求項38、39、又は40に記載の質量分析計であって、
比率t1/t2は、(i)0.50〜0.51、(ii)0.51〜0.52、(iii)0.52〜0.53、(iv)0.53〜0.54、(v)0.54〜0.55、(vi)0.55〜0.56、(vii)0.56〜0.57、(viii)0.57〜0.58、(ix)0.58〜0.59、(x)0.59〜0.60、(xi)0.60〜0.61、(xii)0.61〜0.62、(xiii)0.62〜0.63、(xiv)0.63〜0.64、(xv)0.64〜0.65、(xvi)0.65〜0.66、(xvii)0.66〜0.67、(xviii)0.67〜0.68、(xix)0.68〜0.69、(xx)0.69〜0.70、(xxi)0.70〜0.71、(xii)0.71〜0.72、(xxiii)0.72〜0.73、(xxiv)0.73〜0.74、(xxv)0.74〜0.75、(xxvi)0.75〜0.76、(xxvii)0.76〜0.77、(xxviii)0.77〜0.78、(xxix)0.78〜0.79、(xxx)0.79〜0.80、(xxxi)0.80〜0.81、(xxxii)0.81〜0.82、(xxxiii)0.82〜0.83、(xxxiv)0.83〜0.84、(xxxv)0.84〜0.85、(xxxvi)0.85〜0.86、(xxxvii)0.86〜0.87、(xxxviii)0.87〜0.88、(xxxix)0.88〜0.89、(xl)0.89〜0.90、(xli)0.90〜0.91、(xlii)0.91〜0.92、(xliii)0.92〜0.93、(xliv)0.93〜0.94、(xlv)0.94〜0.95、(xlvi)0.95〜0.96、(xlvii)0.96〜0.97、(xlviii)0.97〜0.98、(xlix)0.98〜0.99、及び(l)0.99〜1.00からなる群より選択される質量分析計。 - 請求項38、39、又は40に記載の質量分析計であって、
比率t1/t2は、(i)1.0〜1.5、(ii)1.5〜2.0、(iii)2.0〜2.5、(iv)2.5〜3.0、(v)3.0〜3.5、(vi)3.5〜4.0、(vii)4.0〜4.5、(viii)4.5〜5.0、(ix)5.0〜5.5、(x)5.5〜6.0、(xi)6.0〜6.5、(xii)6.5〜7.0、(xiii)7.0〜7.5、(xiv)7.5〜8.0、(xv)8.0〜8.5、(xvi)8.5〜9.0、(xvii)9.0〜9.5、(xviii)9.5〜10.0、及び(xix)>10からなる群より選択される質量分析計。 - 請求項37ないし43のいずれかに記載の質量分析計であって、
前記第2の動作モードにおいて、前記装置の軸方向長さに沿った1つ又は2つ以上の点における前記軸方向電場の最大振幅は、時間によらずに実質的に一定に留まるように構成される質量分析計。 - 請求項37ないし43のいずれかに記載の質量分析計であって、
前記第2の動作モードにおいて、前記装置の軸方向長さに沿った1つ又は2つ以上の点における前記軸方向電場の最大振幅は、時間とともに変化、増大、又は減少するように構成される、或いは最大振幅は、時間とともに連続的に変化、段階的に変化、スキャン、又は直線的に若しくは非直線的に変化されるように構成される質量分析計。 - 請求項37ないし45のいずれかに記載の質量分析計であって、
前記第2の手段は、前記装置の軸方向長さの少なくとも一部分又は少なくとも5%、10%、15%、20%、25%、30%、35%、40%、45%、50%、55%、60%、65%、70%、75%、80%、85%、90%、95%、若しくは100%に沿って少なくとも一部のイオンを追い立てるために、前記第2の動作モードにおいて、前記装置の軸方向長さの少なくとも一部分又は少なくとも5%、10%、15%、20%、25%、30%、35%、40%、45%、50%、55%、60%、65%、70%、75%、80%、85%、90%、95%、若しくは100%に沿って非ゼロのDC電圧勾配を維持するためのDC電圧手段を含む質量分析計。 - 請求項46に記載の質量分析計であって、さらに、
前記DC電圧勾配を時間とともに変化、増大、又は減少させるように、或いは前記DC電圧勾配を時間とともに連続的に変化、段階的に変化、スキャンする、又は直線的に若しくは非直線的に変化させるように構成及び適応される手段をさらに備える質量分析計。 - 請求項37ないし47のいずれかに記載の質量分析計であって、
前記第2の手段は、前記装置の軸方向長さの少なくとも5%、10%、15%、20%、25%、30%、35%、40%、45%、50%、55%、60%、65%、70%、75%、80%、85%、90%、95%、又は100%に沿って少なくとも一部のイオンを追い立てるために、前記装置を構成する電極の少なくとも一部に1つ又は2つ以上のDC電圧を印加するための手段をさらに含み、前記DC電圧の振幅は、時間とともに変化、増大、又は減少するように構成される、或いは前記DC電圧は、時間とともに連続的に変化、段階的に変化、スキャン、又は直線的に若しくは非直線的に変化される質量分析計。 - 請求項37ないし48のいずれかに記載の質量分析計であって、
前記第2の手段は、前記装置を構成する電極の少なくとも一部に単相のAC電圧又はRF電圧を印加するための手段をさらに含み、全ての電極は、実質的に同位相に維持され、前記装置の軸方向長さの少なくとも5%、10%、15%、20%、25%、30%、35%、40%、45%、50%、55%、60%、65%、70%、75%、80%、85%、90%、95%、又は100%に沿って少なくとも一部のイオンを追い立てる働きをする軸方向の擬ポテンシャルが生成される質量分析計。 - 請求項49に記載の質量分析計であって、
前記第2の手段は、前記擬ポテンシャルの振幅を時間とともに変化、増大、又は減少させるようにさらに構成される、或いは前記軸方向の擬ポテンシャルは、時間とともに連続的に変化、段階的に変化、スキャン、又は直線的に若しくは非直線的に変化される質量分析計。 - 請求項37ないし50のいずれかに記載の質量分析計であって、
前記第2の手段は、前記装置の軸方向長さの少なくとも5%、10%、15%、20%、25%、30%、35%、40%、45%、50%、55%、60%、65%、70%、75%、80%、85%、90%、95%、又は100%に沿って少なくとも一部のイオンを追い立てるために、前記第2の動作モードにおいて、前記装置を構成する電極の少なくとも一部に1つ若しくは2つ以上の過渡DC電圧若しくは過渡DC電位又は1つ若しくは2つ以上の過渡DC電圧波形若しくは過渡DC電位波形を印加するように構成及び適応される過渡DC電圧手段をさらに含む質量分析計。 - 請求項51に記載の質量分析計であって、
前記第2の手段は、前記1つ若しくは2つ以上の過渡DC電圧若しくは過渡DC電位又は1つ若しくは2つ以上の過渡DC電圧波形若しくは過渡DC電位波形の振幅を時間とともに変化、増大、又は減少させるようにさらに構成される、或いは前記1つ若しくは2つ以上の過渡DC電圧若しくは過渡DC電位又は1つ若しくは2つ以上の過渡DC電圧波形若しくは過渡DC電位波形の振幅は、時間とともに連続的に変化、段階的に変化、スキャン、又は直線的に若しくは非直線的に変化される質量分析計。 - 請求項52に記載の質量分析計であって、
前記第2の動作モードにおいて、前記1つ若しくは2つ以上の過渡DC電圧若しくは過渡DC電位又は1つ若しくは2つ以上の過渡DC電圧波形若しくは過渡DC電位波形は、(i)<100m/s、(ii)100〜200m/s、(iii)200〜300m/s、(iv)300〜400m/s、(v)400〜500m/s、(vi)500〜600m/s、(vii)600〜700m/s、(viii)700〜800m/s、(ix)800〜900m/s、(x)900〜1000m/s、(xi)1000〜1100m/s、(xii)1100〜1200m/s、(xiii)1200〜1300m/s、(xiv)1300〜1400m/s、(xv)1400〜1500m/s、(xvi)1500〜1600m/s、(xvii)1600〜1700m/s、(xviii)1700〜1800m/s、(xix)1800〜1900m/s、(xx)1900〜2000m/s、(xxi)2000〜2100m/s、(xxii)2100〜2200m/s、(xxiii)2200〜2300m/s、(xxiv)2300〜2400m/s、(xxv)2400〜2500m/s、(xxvi)2500〜2600m/s、(xxvii)2600〜2700m/s、(xxviii)2700〜2800m/s、(xxix)2800〜2900m/s、(xxx)2900〜3000m/s、及び(xxxi)>3000m/sからなる群より選択される速度で前記装置の軸方向長さに沿って平行移動される質量分析計。 - 請求項37ないし53のいずれかに記載の質量分析計であって、さらに、
前記装置の軸方向長さの少なくとも5%、10%、15%、20%、25%、30%、35%、40%、45%、50%、55%、60%、65%、70%、75%、80%、85%、90%、95%、又は100%に沿って少なくとも一部のイオンを追い立てるために、前記第2の動作モードにおいて、前記装置を構成する電極に2つ又は3つ以上の位相シフトされたAC電圧又はRF電圧を印加するように構成及び適応されるAC電圧手段又はRF電圧手段を備える質量分析計。 - 請求項37ないし54のいずれかに記載の質量分析計であって、
前記第2の動作モードにおいて、イオンは前記装置内において加速されるものの最終速度への到達を実質的に阻止される、又は前記イオンは最終速度に達しない質量分析計。 - 請求項1ないし55のいずれかに記載の質量分析計であって、
前記第2の動作モードにおいて、1〜100、100〜200、200〜300、300〜400、400〜500、500〜600、600〜700、700〜800、800〜900、900〜1000、又は>1000の範囲の質量電荷比を有する一価イオンは、前記装置を通る(i)0〜5ms、(ii)5〜10ms、(iii)10〜15ms、(iv)15〜20ms、(v)20〜25ms、(vi)25〜30ms、(vii)30〜35ms、(viii)35〜40ms、(ix)40〜45ms、(x)45〜50ms、(xi)50〜55ms、(xii)55〜60ms、(xiii)60〜65ms、(xiv)65〜70ms、(xv)70〜75ms、(xvi)75〜80ms、(xvii)80〜85ms、(xviii)85〜90ms、(xix)90〜95ms、(xx)95〜100ms、(xxi)100〜110ms、(xxii)110〜120ms、(xxiii)120〜130ms、(xxiv)130〜140ms、(xxv)140〜150ms、(xxvi)150〜160ms、(xxvii)160〜170ms、(xxviii)170〜180ms、(xxix)180〜190ms、(xxx)190〜200ms、(xxxi)200〜250ms、(xxxii)250〜300ms、(xxxiii)300〜350ms、(xxxiv)350〜400ms、(xxxv)400〜450ms、(xxxvi)450〜500ms、及び(xxxvii)>500msの範囲のドリフト時間又は通過時間を有する質量分析計。 - 請求項1ないし56のいずれかに記載の質量分析計であって、
前記第2の動作モードにおいて、前記装置のスキャン時間又はサイクル時間は、(i)0〜5ms、(ii)5〜10ms、(iii)10〜15ms、(iv)15〜20ms、(v)20〜25ms、(vi)25〜30ms、(vii)30〜35ms、(viii)35〜40ms、(ix)40〜45ms、(x)45〜50ms、(xi)50〜55ms、(xii)55〜60ms、(xiii)60〜65ms、(xiv)65〜70ms、(xv)70〜75ms、(xvi)75〜80ms、(xvii)80〜85ms、(xviii)85〜90ms、(xix)90〜95ms、(xx)95〜100ms、(xxi)100〜110ms、(xxii)110〜120ms、(xxiii)120〜130ms、(xxiv)130〜140ms、(xxv)140〜150ms、(xxvi)150〜160ms、(xxvii)160〜170ms、(xxviii)170〜180ms、(xxix)180〜190ms、(xxx)190〜200ms、(xxxi)200〜250ms、(xxxii)250〜300ms、(xxxiii)300〜350ms、(xxxiv)350〜400ms、(xxxv)400〜450ms、(xxxvi)450〜500ms、及び(xxxvii)>500msからなる群より選択される質量分析計。 - 請求項1ないし57のいずれかに記載の質量分析計であって、
前記第2の動作モードにおいて、前記装置の少なくとも一部分は、(i)>0.001ミリバール、(ii)>0.01ミリバール、(iii)>0.1ミリバール、(iv)>1ミリバール、(v)>10ミリバール、(vi)>100ミリバール、(vii)>1000ミリバール、(viii)0.001〜1000ミリバール、(ix)0.001〜0.1ミリバール、(x)0.1〜10ミリバール、及び(xi)10〜1000ミリバールからなる群より選択される圧力に維持されるように構成される質量分析計。 - 請求項1ないし58のいずれかに記載の質量分析計であって、
前記第2の動作モードにおいて、前記装置の少なくとも一部分は、(i)0.001〜0.005ミリバール、(ii)0.005〜0.010ミリバール、(iii)0.01〜0.05ミリバール、(iv)0.05〜0.10ミリバール、(v)0.1〜0.5ミリバール、(vi)0.5〜1.0ミリバール、(vii)1〜5ミリバール、(viii)5〜10ミリバール、(ix)10〜50ミリバール、(x)50〜100ミリバール、(xi)100〜500ミリバール、(xii)500〜1000ミリバール、及び(xiii)>1000ミリバールからなる群より選択される圧力に維持されるように構成される質量分析計。 - 請求項1ないし59のいずれかに記載の質量分析計であって、
前記第1の動作モードにおいて、イオンは、実質的にそれらのイオン移動度にしたがって分離される質量分析計。 - 請求項1ないし60のいずれかに記載の質量分析計であって、
前記第2の動作モードにおいて、イオンは、実質的にそれらの質量電荷比にしたがって分離される質量分析計。 - 請求項1ないし61のいずれかに記載の質量分析計であって、さらに、
前記装置の上流及び/又は下流に配置されるさらなるイオンガイド、イオントラップ、又はイオン捕捉領域を備える質量分析計。 - 請求項62に記載の質量分析計であって、
前記さらなるイオンガイド、イオントラップ、又はイオン捕捉領域は、イオンを捕捉、貯蔵、又は蓄積するように、次いでイオンを前記装置に周期的にパルス入力する又は向かわせるように構成される質量分析計。 - 請求項62又は63に記載の質量分析計であって、
前記第1の動作モード及び/又は前記第2の動作モードにおいて、前記装置の軸方向長さに沿った1つ又は2つ以上の地点における軸方向電場強度は、時間とともに変化、増大、又は減少するように構成される、或いは前記装置の上流及び/又は下流に配置される前記さらなるイオンガイド、イオントラップ、又はイオン捕捉領域からのイオンの放出に実質的に同期化されたかたちで時間とともに連続的に変化、段階的に変化、スキャン、又は直線的に若しくは非直線的に変化されるように構成される質量分析計。 - 請求項1ないし64のいずれかに記載の質量分析計であって、
前記装置は、複数の電極を含み、前記第1の動作モード及び/又は前記第2の動作モードでは、前記電極に、1つ若しくは2つ以上の過渡DC電圧若しくは過渡DC電位又は1つ若しくは2つ以上の過渡DC電圧波形若しくは過渡DC電位波形が印加され、前記1つ若しくは2つ以上の過渡DC電圧若しくは過渡DC電位又は1つ若しくは2つ以上の過渡DC電圧波形若しくは過渡DC電位波形の振幅は、時間とともに変化、増大、又は減少するように構成される、或いは前記1つ若しくは2つ以上の過渡DC電圧若しくは過渡DC電位又は1つ若しくは2つ以上の過渡DC電圧波形若しくは過渡DC電位波形の振幅は、時間とともに連続的に変化、段階的に変化、スキャン、又は直線的に若しくは非直線的に変化される質量分析計。 - 請求項65に記載の質量分析計であって、
前記1つ若しくは2つ以上の過渡DC電圧若しくは過渡DC電位又は1つ若しくは2つ以上の過渡DC電圧波形若しくは過渡DC電位波形の振幅は、時間とともに変化、増大、又は減少するように構成される、或いは前記1つ若しくは2つ以上の過渡DC電圧若しくは過渡DC電位又は1つ若しくは2つ以上の過渡DC電圧波形若しくは過渡DC電位波形の振幅は、前記装置の上流及び/又は下流に配置されるイオンガイド、イオントラップ、又はイオン捕捉領域からのイオンの放出に実質的に同期化されたかたちで時間とともに連続的に変化、段階的に変化、スキャン、又は直線的に若しくは非直線的に変化される質量分析計。 - 請求項1ないし66のいずれかに記載の質量分析計であって、さらに、
前記装置の上流及び/又は下流に配置されるさらなる質量フィルタ又は質量分析器を備える質量分析計。 - 請求項67に記載の質量分析計であって、
前記さらなる質量フィルタ又は質量分析器は、(i)四重極ロッドセット質量フィルタ、(ii)飛行時間型の質量フィルタ又は質量分析器、(iii)ウィーンフィルタ、及び(iv)磁場セクタ型の質量フィルタ又は質量分析器からなる群より選択される質量分析計。 - 請求項1ないし68のいずれかに記載の質量分析計であって、さらに、
前記装置の上流及び/又は下流に配置される質量分析器を備える質量分析計。 - 請求項69に記載の質量分析計であって、
前記質量分析器は、(i)四重極質量分析器、(ii)2D型又は直線型の四重極質量分析器、(iii)Paulによる又は3D型の四重極質量分析器、(iv)Penningトラップ質量分析器、(v)イオントラップ質量分析器、(vi)磁場セクタ型質量分析器、(vii)イオンサイクロトロン共鳴(「ICR」)質量分析器、(viii)フーリエ変換イオンサイクロトロン共鳴(「FTICR」)質量分析器、(ix)静電型又はオービトラップ質量分析器、(x)フーリエ変換静電型又はオービトラップ質量分析器、(xi)フーリエ変換質量分析器、(xii)飛行時間型質量分析器、(xiii)直交加速方式飛行時間型質量分析器、(xiv)軸方向加速方式飛行時間型質量分析器、及び(xv)ウィーンフィルタからなる群より選択される質量分析計。 - 請求項69又は70に記載の質量分析計であって、
前記質量分析器の1つ又は2つ以上の質量電荷比伝送窓は、使用時に変化、増大、又は減少される、或いは前記1つ又は2つ以上の質量電荷比伝送窓は、時間とともに連続的に変化、段階的に変化、スキャン、又は直線的に若しくは非直線的に変化される質量分析計。 - 請求項71に記載の質量分析計であって、
前記質量分析器の前記1つ又は2つ以上の質量電荷比伝送窓は、使用時に変化、増大、又は減少される、或いは前記1つ又は2つ以上の質量電荷比伝送窓は、前記装置からのイオンの出現に実質的に同期化されたかたちで時間とともに連続的に変化、段階的に変化、スキャン、又は直線的に若しくは非直線的に変化される質量分析計。 - 請求項1ないし72のいずれかに記載の質量分析計であって、さらに、
前記装置の上流及び/又は下流に配置され複数の電極を含む第2のイオンガイドを備える質量分析計。 - 請求項73に記載の質量分析計であって、
前記第2のイオンガイドは、
(i)多重極ロッドセット若しくはセグメント化多重極ロッドセット、
(ii)イオントンネル若しくはイオンファネル、又は
(iii)積層状若しくは配列状の、平坦電極、平板電極、若しくはメッシュ電極を含む質量分析計。 - 請求項74に記載の質量分析計であって、
前記多重極ロッドセットは、四重極ロッドセット、六重極ロッドセット、八重極ロッドセット、又は8を超えるロッドを含むロッドセットを含む質量分析計。 - 請求項74に記載の質量分析計であって、
前記イオントンネル又はイオンファネルは、使用時にイオンを通過させるアパーチャを有する複数の電極又は少なくとも2、5、10、20、30、40、50、60、70、80、90、若しくは100の電極を含み、前記電極の少なくとも5%、10%、15%、20%、25%、30%、35%、40%、45%、50%、55%、60%、65%、70%、75%、80%、85%、90%、95%、又は100%は、実質的に同サイズ若しくは同面積の又はサイズ若しくは面積が漸進的に大きくなる及び/若しくは小さくなるアパーチャを有する質量分析計。 - 請求項76に記載の質量分析計であって、
前記電極の少なくとも5%、10%、15%、20%、25%、30%、35%、40%、45%、50%、55%、60%、65%、70%、75%、80%、85%、90%、95%、又は100%は、(i)≦1.0mm、(ii)≦2.0mm、(iii)≦3.0mm、(iv)≦4.0mm、(v)≦5.0mm、(vi)≦6.0mm、(vii)≦7.0mm、(viii)≦8.0mm、(ix)≦9.0mm、(x)≦10.0mm、及び(xi)>10.0mmからなる群より選択される内径又は内部寸法を有する質量分析計。 - 請求項74に記載の質量分析計であって、
前記積層状又は配列状の、平坦電極、平板電極、又はメッシュ電極は、複数の又は少なくとも2、3、4、5、6、7、8、9、10、11、12、13、14、15、16、17、18、19、若しくは20の平坦電極、平板電極、又はメッシュ電極を含み、前記平坦電極、平板電極、又はメッシュ電極の少なくとも5%、10%、15%、20%、25%、30%、35%、40%、45%、50%、55%、60%、65%、70%、75%、80%、85%、90%、95%、又は100%は、使用時にイオンが移動する平面内に概して配置される質量分析計。 - 請求項78に記載の質量分析計であって、
前記平坦電極、平板電極、又はメッシュ電極の少なくとも一部又は少なくとも5%、10%、15%、20%、25%、30%、35%、40%、45%、50%、55%、60%、65%、70%、75%、80%、85%、90%、95%、若しくは100%は、AC電圧又はRF電圧を供給され、隣り合う平坦電極、平板電極、又はメッシュ電極は、逆位相の前記AC電圧又はRF電圧を供給される質量分析計。 - 請求項73ないし79のいずれかに記載の質量分析計であって、
前記第2のイオンガイドは、複数の軸方向セグメント又は少なくとも5、10、15、20、25、30、35、40、45、50、55、60、65、70、75、80、85、90、95、若しくは100の軸方向セグメントを含む質量分析計。 - 請求項73ないし80のいずれかに記載の質量分析計であって、
前記第2のイオンガイドの隣り合う電極間の中心間距離は、(i)<0.5mm、(ii)0.5〜1.0mm、(iii)1.0〜1.5mm、(iv)1.5〜2.0mm、(v)2.0〜2.5mm、(vi)2.5〜3.0mm、(vii)3.0〜3.5mm、(viii)3.5〜4.0mm、(ix)4.0〜4.5mm、(x)4.5〜5.0mm、(xi)5.0〜5.5mm、(xii)5.5〜6.0mm、(xiii)6.0〜6.5mm、(xiv)6.5〜7.0mm、(xv)7.0〜7.5mm、(xvi)7.5〜8.0mm、(xvii)8.0〜8.5mm、(xviii)8.5〜9.0mm、(xix)9.0〜9.5mm、(xx)9.5〜10.0mm、及び(xxi)>10.0mmからなる群より選択される質量分析計。 - 請求項73ないし81のいずれかに記載の質量分析計であって、
前記第2のイオンガイドは、(i)<20mm、(ii)20〜40mm、(iii)40〜60mm、(iv)60〜80mm、(v)80〜100mm、(vi)100〜120mm、(vii)120〜140mm、(viii)140〜160mm、(ix)160〜180mm、(x)180〜200mm、(xi)200〜220mm、(xii)220〜240mm、(xiii)240〜260mm、(xiv)260〜280mm、(xv)280〜300mm、及び(xvi)>300mmからなる群より選択される軸方向長さを有する質量分析計。 - 請求項73ないし82のいずれかに記載の質量分析計であって、さらに、
前記第2のイオンガイドの軸方向長さの少なくとも一部分又は少なくとも5%、10%、15%、20%、25%、30%、35%、40%、45%、50%、55%、60%、65%、70%、75%、80%、85%、90%、95%、若しくは100%に沿って少なくとも一部のイオンを追い立てるために、前記第2のイオンガイドの軸方向長さの少なくとも一部分又は少なくとも5%、10%、15%、20%、25%、30%、35%、40%、45%、50%、55%、60%、65%、70%、75%、80%、85%、90%、95%、若しくは100%に沿って実質的に一定のDC電圧勾配を維持するためのDC電圧手段を備える質量分析計。 - 請求項73ないし83のいずれかに記載の質量分析計であって、さらに、
前記第2のイオンガイドの軸方向長さの少なくとも5%、10%、15%、20%、25%、30%、35%、40%、45%、50%、55%、60%、65%、70%、75%、80%、85%、90%、95%、又は100%に沿って少なくとも一部のイオンを追い立てるために、前記第2のイオンガイドを構成する電極の少なくとも一部に1つ若しくは2つ以上の過渡DC電圧若しくは過渡DC電位又は1つ若しくは2つ以上の過渡DC電圧波形若しくは過渡DC電位波形を印加するように構成及び適応される過渡DC電圧手段を備える質量分析計。 - 請求項73ないし84のいずれかに記載の質量分析計であって、さらに、
前記第2のイオンガイドの軸方向長さの少なくとも5%、10%、15%、20%、25%、30%、35%、40%、45%、50%、55%、60%、65%、70%、75%、80%、85%、90%、95%、又は100%に沿って少なくとも一部のイオンを追い立てるために、前記第2のイオンガイドを構成する電極に2つ又は3つ以上の位相シフトされたAC電圧又はRF電圧を印加するように構成及び適応されるAC電圧手段又はRF電圧手段を備える質量分析計。 - 請求項1ないし85のいずれかに記載の質量分析計であって、さらに、
衝突、フラグメンテーション、又は反応の装置を備える質量分析計。 - 請求項86に記載の質量分析計であって、
前記衝突、フラグメンテーション、又は反応の装置は、衝突誘起解離(「CID」)によってイオンを断片化するように構成及び適応される質量分析計。 - 請求項86に記載の質量分析計であって、
前記衝突、フラグメンテーション、又は反応の装置は、(i)表面誘起解離(「SID」)フラグメンテーション装置、(ii)電子移動解離フラグメンテーション装置、(iii)電子捕獲解離フラグメンテーション装置、(iv)電子衝突又は電子衝撃解離フラグメンテーション装置、(v)光誘起解離(「PID」)フラグメンテーション装置、(vi)レーザ誘起解離フラグメンテーション装置、(vii)赤外線放射誘起解離装置、(viii)紫外線放射誘起解離装置、(ix)ノズル−スキマ界面フラグメンテーション装置、(x)インソースフラグメンテーション装置、(xi)イオン源衝突誘起解離フラグメンテーション装置、(xii)熱源又は温度源フラグメンテーション装置、(xiii)電場誘起フラグメンテーション装置、(xiv)磁場誘起フラグメンテーション装置、(xv)酵素消化又は酵素分解フラグメンテーション装置、(xvi)イオン−イオン反応フラグメンテーション装置、(xvii)イオン−分子反応フラグメンテーション装置、(xviii)イオン−原子反応フラグメンテーション装置、(xix)イオン−準安定イオン反応フラグメンテーション装置、(xx)イオン−準安定分子反応フラグメンテーション装置、(xxi)イオン−準安定原子反応フラグメンテーション装置、(xxii)イオンを反応させて付加イオン又は生成イオンを形成するためのイオン−イオン反応装置、(xxiii)イオンを反応させて付加イオン又は生成イオンを形成するためのイオン−分子反応装置、(xxiv)イオンを反応させて付加イオン又は生成イオンを形成するためのイオン−原子反応装置、(xxv)イオンを反応させて付加イオン又は生成イオンを形成するためのイオン−準安定イオン反応装置、(xxvi)イオンを反応させて付加イオン又は生成イオンを形成するためのイオン−準安定分子反応装置、及び(xxvii)イオンを反応させて付加イオン又は生成イオンを形成するためのイオン−準安定原子反応装置からなる群より選択される質量分析計。 - 請求項86、87、又は88に記載の質量分析計であって、さらに、
イオンを前記衝突、フラグメンテーション、又は反応の装置内へと加速するように構成及び適応される加速手段を備え、一動作モードにおいて、前記イオンの少なくとも5%、10%、15%、20%、25%、30%、35%、40%、45%、50%、55%、60%、65%、70%、75%、80%、85%、90%、95%、又は100%は、前記衝突、フラグメンテーション、又は反応の装置に進入する際に断片化又は反応を引き起こされる質量分析計。 - 請求項86ないし89のいずれかに記載の質量分析計であって、さらに、
イオンが前記衝突、フラグメンテーション、又は反応の装置に進入する前に通る電位差を、前記衝突、フラグメンテーション、又は反応の装置に進入する際にイオンが実質的に断片化又は反応される比較的高いフラグメンテーション又は反応の動作モードと、前記衝突、フラグメンテーション、又は反応の装置に進入する際に断片化又は反応されるイオンが大幅に少ない又は実質的にない比較的低いフラグメンテーション又は反応の動作モードとの間で切り替える又は繰り返し切り替えるように構成及び適応される制御システムを備える質量分析計。 - 請求項90に記載の質量分析計であって、
前記比較的高いフラグメンテーション又は反応の動作モードにおいて、前記衝突、フラグメンテーション、又は反応の装置に進入するイオンは、(i)≧10V、(ii)≧20V、(iii)≧30V、(iv)≧40V、(v)≧50V、(vi)≧60V、(vii)≧70V、(viii)≧80V、(ix)≧90V、(x)≧100V、(xi)≧110V、(xii)≧120V、(xiii)≧130V、(xiv)≧140V、(xv)≧150V、(xvi)≧160V、(xvii)≧170V、(xviii)≧180V、(xix)≧190V、及び(xx)≧200Vからなる群より選択される電位差を通して加速される質量分析計。 - 請求項90又は91に記載の質量分析計であって、
前記比較的低いフラグメンテーション又は反応の動作モードにおいて、前記衝突、フラグメンテーション、又は反応の装置に進入するイオンは、(i)≦20V、(ii)≦15V、(iii)≦10V、(iv)≦5V、及び(v)≦1Vからなる群より選択される電位差を通して加速される質量分析計。 - 請求項90、91、又は92に記載の質量分析計であって、
前記制御システムは、前記衝突、フラグメンテーション、又は反応の装置を、1ms、5ms、10ms、15ms、20ms、25ms、30ms、35ms、40ms、45ms、50ms、55ms、60ms、65ms、70ms、75ms、80ms、85ms、90ms、95ms、100ms、200ms、300ms、400ms、500ms、600ms、700ms、800ms、900ms、1s、2s、3s、4s、5s、6s、7s、8s、9s、又は10sごとに少なくとも1回づつ、前記比較的高いフラグメンテーション又は反応の動作モードと前記比較的低いフラグメンテーション又は反応の動作モードとの間で切り替えるように構成及び適応される質量分析計。 - 請求項86ないし93のいずれかに記載の質量分析計であって、
イオンが前記衝突、フラグメンテーション、又は反応の装置に進入する前に通る電位差は、使用時に変化、増大、又は減少される、或いは電位差は、前記装置からのイオンの出現に実質的に同期化されたかたちで時間とともに連続的に変化、段階的に変化、スキャン、又は直線的に若しくは非直線的に変化される質量分析計。 - 請求項86ないし94のいずれかに記載の質量分析計であって、
前記衝突、フラグメンテーション、又は反応の装置は、イオンのビームを受け取り、任意の特定の時間において少なくとも1、2、3、4、5、6、7、8、9、10、11、12、13、14、15、16、17、18、19、又は20の個別のイオングループ又はイオンパケットが前記衝突、フラグメンテーション、又は反応の装置内に閉じ込められるなおかつ/又は隔離されるように前記イオンのビームを変換する又は分割するように構成及び適応され、各イオングループ又は各イオンパケットは、前記衝突、フラグメンテーション、又は反応の装置内に形成される個別の軸方向のポテンシャル井戸内に個別に閉じ込められるなおかつ/又は隔離される質量分析計。 - 請求項1ないし95のいずれかに記載の質量分析計であって、
動作モードにおいて、前記装置は、衝突、フラグメンテーション、又は反応の装置として動作するように構成及び適応される質量分析計。 - 請求項1ないし96のいずれかに記載の質量分析計であって、
動作モードにおいて、前記装置は、前記装置内においてイオンを衝突によって冷却する又は熱運動化するように構成及び適応される質量分析計。 - 請求項1ないし97のいずれかに記載の質量分析計であって、さらに
イオン源を備える質量分析計。 - 請求項98に記載の質量分析計であって、さらに、
(i)エレクトロスプレイイオン化(「ESI」)イオン源、(ii)大気圧光イオン化(「APPI」)イオン源、(iii)大気圧化学イオン化(「APCI」)イオン源、(iv)マトリックス支援レーザ脱離イオン化(「MALDI」)イオン源、(v)レーザ脱離イオン化(「LDI」)イオン源、(vi)大気圧イオン化(「API」)イオン源、(vii)シリコン上脱離イオン化(「DIOS」)イオン源、(viii)電子衝撃(「EI」)イオン源、(ix)化学イオン化(「CI」)イオン源、(x)電界イオン化(「FI」)イオン源、(xi)電界脱離(「FD」)イオン源、(xii)誘導結合プラズマ(「ICP」)イオン源、(xiii)高速原子衝撃(「FAB」)イオン源、(xiv)液体二次イオン質量分析(「LSIMS」)イオン源、(xv)脱離エレクトロスプレイイオン化(「DESI」)イオン源、(xvi)ニッケル63放射性イオン源、(xvii)サーモスプレイイオン源、(xviii)粒子ビーム(「PB:」)イオン源、及び(xix)フロー高速原子衝撃(「フローFAB」)イオン源からなる群より選択されるイオン源を備える質量分析計。 - 請求項98又は99に記載の質量分析計であって、さらに、
連続イオン源又はパルスイオン源を備える質量分析計。 - 請求項1ないし100のいずれかに記載の質量分析計であって、
第1の質量電荷比を有する一価イオンは、前記第1の動作モードにおいて、前記装置を通る第1の通過時間又はドリフト時間t1を有し、前記第1の質量電荷比を有する一価イオンは、前記第2の動作モードにおいて、前記装置を通る第2の通過時間又はドリフト時間t2を有し、t2>t1である質量分析計。 - 質量分析方法であって、
装置を提供し、
前記装置を、イオンが前記装置内においてそれらのイオン移動度にしたがって時間的に分離される第1のモードで動作させ、
前記装置を、イオンが前記装置内においてそれらの質量電荷比にしたがって時間的に分離される第2の動作モードで動作させる
方法。 - 質量分析器であって、
複数の電極と、
イオンが最終速度に達することなく軸方向に加速されるように、前記質量分析器内において軸方向電場をONとOFFとでパルス切り替えするように構成及び適応される装置と、
を備える質量分析器。 - 請求項103に記載の質量分析器であって、
前記質量分析器は、(i)0.001〜0.005ミリバール、(ii)0.005〜0.010ミリバール、(iii)0.01〜0.05ミリバール、(iv)0.05〜0.10ミリバール、(v)0.1〜0.5ミリバール、(vi)0.5〜1.0ミリバール、(vii)1〜5ミリバール、(viii)5〜10ミリバール、(ix)10〜50ミリバール、(x)50〜100ミリバール、(xi)100〜500ミリバール、(xii)500〜1000ミリバール、及び(xiii)>1000ミリバールからなる群より選択される圧力に維持されるように構成される質量分析器。 - イオンを質量分析する方法であって、
複数の電極を含む質量分析器を提供し、
イオンが最終速度に達することなく軸方向に加速されるように、前記質量分析器内において軸方向電場をONとOFFとでパルス切り替えを行なう
方法。 - 請求項105に記載の方法であって、さらに、
(i)0.001〜0.005ミリバール、(ii)0.005〜0.010ミリバール、(iii)0.01〜0.05ミリバール、(iv)0.05〜0.10ミリバール、(v)0.1〜0.5ミリバール、(vi)0.5〜1.0ミリバール、(vii)1〜5ミリバール、(viii)5〜10ミリバール、(ix)10〜50ミリバール、(x)50〜100ミリバール、(xi)100〜500ミリバール、(xii)500〜1000ミリバール、及び(xiii)>1000ミリバールからなる群より選択される圧力に前記質量分析器を維持する方法。 - 質量分析器であって、
複数の電極と、
イオンが最終速度に達することなく軸方向に加速されるように、軸方向電場を第1の方向に、次いで前記第1の方向と反対の第2の方向に繰り返し印加するように構成及び適応される装置と、
を備える質量分析器。 - 請求項107に記載の質量分析器であって、
前記質量分析器は、(i)0.001〜0.005ミリバール、(ii)0.005〜0.010ミリバール、(iii)0.01〜0.05ミリバール、(iv)0.05〜0.10ミリバール、(v)0.1〜0.5ミリバール、(vi)0.5〜1.0ミリバール、(vii)1〜5ミリバール、(viii)5〜10ミリバール、(ix)10〜50ミリバール、(x)50〜100ミリバール、(xi)100〜500ミリバール、(xii)500〜1000ミリバール、及び(xiii)>1000ミリバールからなる群より選択される圧力に維持されるように構成される質量分析器。 - イオンを質量分析する方法であって、
複数の電極を含む質量分析器を提供し、
イオンが最終速度に達することなく軸方向に加速されるように、軸方向電場を第1の方向に、次いで前記第1の方向と反対の第2の方向に繰り返し印加する
方法。 - 請求項109に記載の方法であって、さらに、
(i)0.001〜0.005ミリバール、(ii)0.005〜0.010ミリバール、(iii)0.01〜0.05ミリバール、(iv)0.05〜0.10ミリバール、(v)0.1〜0.5ミリバール、(vi)0.5〜1.0ミリバール、(vii)1〜5ミリバール、(viii)5〜10ミリバール、(ix)10〜50ミリバール、(x)50〜100ミリバール、(xi)100〜500ミリバール、(xii)500〜1000ミリバール、及び(xiii)>1000ミリバールからなる群より選択される圧力に前記質量分析器を維持する方法。
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