JP2010511867A - ケーブル削減のためのパッシブステーション電力分配 - Google Patents
ケーブル削減のためのパッシブステーション電力分配 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2010511867A JP2010511867A JP2009539398A JP2009539398A JP2010511867A JP 2010511867 A JP2010511867 A JP 2010511867A JP 2009539398 A JP2009539398 A JP 2009539398A JP 2009539398 A JP2009539398 A JP 2009539398A JP 2010511867 A JP2010511867 A JP 2010511867A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- power
- station
- passive
- distribution system
- active
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04B—TRANSMISSION
- H04B3/00—Line transmission systems
- H04B3/02—Details
- H04B3/46—Monitoring; Testing
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/01—Subjecting similar articles in turn to test, e.g. "go/no-go" tests in mass production; Testing objects at points as they pass through a testing station
- G01R31/013—Testing passive components
- G01R31/016—Testing of capacitors
-
- H—ELECTRICITY
- H02—GENERATION; CONVERSION OR DISTRIBUTION OF ELECTRIC POWER
- H02J—CIRCUIT ARRANGEMENTS OR SYSTEMS FOR SUPPLYING OR DISTRIBUTING ELECTRIC POWER; SYSTEMS FOR STORING ELECTRIC ENERGY
- H02J4/00—Circuit arrangements for mains or distribution networks not specified as ac or dc
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Cable Transmission Systems, Equalization Of Radio And Reduction Of Echo (AREA)
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
- Testing Relating To Insulation (AREA)
Abstract
Description
本発明のこれらの適用例および他の適用例の詳細は、添付図面とともに以下の説明を読み通すことによって当業者に明らかとなるであろう。
Claims (9)
- アクティブステーションを少なくとも含み、前記アクティブステー ションが配線を通じて、前記アクティブステーションの片側、および試験測定装置に接続されている前記アクティブステーションの反対側に電力を供給するために、電源が接続可能であり、ロータリコンデンサ電気試験装置を画定する、ステーション群に対する電力分配システムであって、
前記アクティブステーションは、前記電源からの電力を受容するための別個の追加ケーブル導体入口を含み、前記電力は、試験チャンネル接点に接続することなく、前記アクティブステーションの接点モジュールを通過し、前記アクティブステーションに直接隣接したパッシブステーションに、電力導体出口を提供することを特徴とする、電力分配システム。 - 少なくとも1つのパッシブステーション、
をさらに備え、
各パッシブステーションは、前記電源からの電力を間接的に受容するための単一のケーブル導体入口を含み、前記供給された電力は、直接隣接したステーションの前記接点モジュールを通過し、前記ケーブル導体は、各パッシブステーションの前記接点モジュールを通過し、各パッシブステーションに直接隣接したステーションに、電力導体出口を提供する、ことを特徴とする請求項1に記載の電力分配システム。 - 前記アクティブステーション上に位置する前記電力導体出口に取り付けられる単一のケーブルを通じて、前記電源に間接的に接続可能なパッシブステーションをさらに備える、ことを特徴とする請求項1に記載の電力分配システム。
- 第1のパッシブステーション上に位置する電力導体入口をさらに備え、
前記電源は、前記アクティブステーションの前記電力導体出口と、前記第1のパッシブステーションの前記電力導体入口との間に取り付け可能である単一のケーブルを通じて、前記第1のパッシブステーションに間接的に接続可能である、ことを特徴とする請求項1に記載の電力分配システム。 - 前記第1のパッシブステーションの前記電力導体出口を通じて取り付けられる単一のケーブルを通じて、第2のパッシブステーションの電力導体入口に間接的に接続可能な、前記電源をさらに備える、ことを特徴とする請求項4に記載の電力分配システム。
- パッシブチャンネルレジスタを通じてループバックされる、各パッシブステーションの反対側をさらに備える、ことを特徴とする請求項4に記載の電力分配システム。
- 前記電源から、パッシブステーション上に位置する電力導体入口に、電力を間接的に供給するために、前記アクティブステーション上に位置する電力導体出口に取り付け可能な、単一の電力ケーブルをさらに備える、ことを特徴とする請求項1から請求項6のいずれかに記載の電力分配システム。
- 複数のパッシブステーションをさらに備え、
各パッシブステーションは、前記アクティブステーション上に位置する前記電力導体出口を通じた接続により、前記電源により間接的に電力供給される、ことを特徴とする請求項1に記載の電力分配システム。 - 前記アクティブステーションまでのプロセス順序において、上流に位置する隣接したステーションに接続される単一の電力ケーブルを通じて、前記電源により間接的に電力供給される、各パッシブステーションをさらに備える、ことを特徴とする請求項8に記載の電力分配システム。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US11/565,370 | 2006-11-30 | ||
US11/565,370 US7602192B2 (en) | 2006-11-30 | 2006-11-30 | Passive station power distribution for cable reduction |
PCT/US2007/084086 WO2008067131A2 (en) | 2006-11-30 | 2007-11-08 | Passive station power distribution for cable reduction |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2013125762A Division JP5519062B2 (ja) | 2006-11-30 | 2013-06-14 | ケーブル削減のためのパッシブステーション電力分配システム |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2010511867A true JP2010511867A (ja) | 2010-04-15 |
JP2010511867A5 JP2010511867A5 (ja) | 2010-12-02 |
JP5300736B2 JP5300736B2 (ja) | 2013-09-25 |
Family
ID=39471666
Family Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2009539398A Expired - Fee Related JP5300736B2 (ja) | 2006-11-30 | 2007-11-08 | ケーブル削減のためのパッシブステーション電力分配 |
JP2013125762A Expired - Fee Related JP5519062B2 (ja) | 2006-11-30 | 2013-06-14 | ケーブル削減のためのパッシブステーション電力分配システム |
Family Applications After (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2013125762A Expired - Fee Related JP5519062B2 (ja) | 2006-11-30 | 2013-06-14 | ケーブル削減のためのパッシブステーション電力分配システム |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7602192B2 (ja) |
JP (2) | JP5300736B2 (ja) |
KR (1) | KR101433984B1 (ja) |
CN (1) | CN101553740B (ja) |
TW (1) | TWI430533B (ja) |
WO (1) | WO2008067131A2 (ja) |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8327536B2 (en) | 2010-06-30 | 2012-12-11 | Apple Inc. | Method of manufacturing high-speed connector inserts and cables |
TWI449025B (zh) * | 2010-06-30 | 2014-08-11 | Apple Inc | 在纜線中之電力分配 |
US9112310B2 (en) | 2010-06-30 | 2015-08-18 | Apple Inc. | Spark gap for high-speed cable connectors |
JP5283787B1 (ja) | 2010-06-30 | 2013-09-04 | アップル インコーポレイテッド | ケーブル内の配電 |
US8966134B2 (en) | 2011-02-23 | 2015-02-24 | Apple Inc. | Cross-over and bypass configurations for high-speed data transmission |
DE102013104644B4 (de) | 2013-05-06 | 2020-06-04 | Polylc Gmbh & Co. Kg | Schichtelektrode für Berührungsbildschirme |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02124779A (ja) * | 1988-10-31 | 1990-05-14 | Tatsuo Ishikawa | セラミックスと金属との接合体 |
JPH1197299A (ja) * | 1997-09-17 | 1999-04-09 | Ckd Corp | チップ型コンデンサのエージング方法及びその装置 |
JP2000223377A (ja) * | 1999-02-03 | 2000-08-11 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | エージング装置 |
JP2004133474A (ja) * | 2002-10-14 | 2004-04-30 | Lg Philips Lcd Co Ltd | 液晶表示装置及びその製造方法並びにその駆動方法 |
Family Cites Families (21)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3978461A (en) * | 1975-05-12 | 1976-08-31 | Firetek Corporation | Three wire detection circuit |
US5034749A (en) | 1988-10-06 | 1991-07-23 | Electro Scientific Industries, Inc. | Sliding contact test apparatus |
US4931721A (en) | 1988-12-22 | 1990-06-05 | E. I. Du Pont De Nemours And Company | Device for automatically ascertaining capacitance, dissipation factor and insulation resistance of a plurality of capacitors |
US5057772A (en) | 1990-05-29 | 1991-10-15 | Electro Scientific Industries, Inc. | Method and system for concurrent electronic component testing and lead verification |
JP2760263B2 (ja) | 1993-08-20 | 1998-05-28 | 株式会社村田製作所 | セラミックコンデンサの初期故障品のスクリーニング方法 |
US5673799A (en) | 1995-06-05 | 1997-10-07 | Chip Star Inc. | Machine for testing and sorting capacitor chips and method of operating same |
US5677634A (en) | 1995-11-16 | 1997-10-14 | Electro Scientific Industries, Inc. | Apparatus for stress testing capacitive components |
US6043665A (en) | 1996-12-05 | 2000-03-28 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Capacitor charging current measurement method |
US6198290B1 (en) | 1997-07-18 | 2001-03-06 | Mark Krinker | Method to detect defective capacitors in circuit and meters for that |
US6040705A (en) | 1997-08-20 | 2000-03-21 | Electro Scientific Industries, Inc. | Rolling electrical contactor |
US6169406B1 (en) | 1998-05-02 | 2001-01-02 | Stanley G. Peschel | Very low frequency high voltage sinusoidal electrical testing method, systems and apparatus |
US6100707A (en) | 1998-09-25 | 2000-08-08 | Electro Scientific Industries, Inc. | Apparatus for testing multi-terminal electronic components |
US6459707B1 (en) | 1998-12-22 | 2002-10-01 | National Instruments Corporation | Relay multiplexer system and method for prevention of shock hazard |
US6677637B2 (en) | 1999-06-11 | 2004-01-13 | International Business Machines Corporation | Intralevel decoupling capacitor, method of manufacture and testing circuit of the same |
JP3548887B2 (ja) | 1999-12-20 | 2004-07-28 | 株式会社村田製作所 | 絶縁抵抗測定方法および装置 |
US6605951B1 (en) | 2000-12-11 | 2003-08-12 | Lsi Logic Corporation | Interconnector and method of connecting probes to a die for functional analysis |
US6907363B1 (en) | 2001-10-15 | 2005-06-14 | Sandia Corporation | Automatic insulation resistance testing apparatus |
US6714028B2 (en) | 2001-11-14 | 2004-03-30 | Electro Scientific Industries, Inc. | Roller contact with conductive brushes |
US20050089027A1 (en) | 2002-06-18 | 2005-04-28 | Colton John R. | Intelligent optical data switching system |
KR101164984B1 (ko) | 2004-11-22 | 2012-07-17 | 일렉트로 싸이언티픽 인더스트리이즈 인코포레이티드 | 전기 부품의 반복적인 테스트를 위한 방법 및 기계 |
US7683630B2 (en) * | 2006-11-30 | 2010-03-23 | Electro Scientific Industries, Inc. | Self test, monitoring, and diagnostics in grouped circuitry modules |
-
2006
- 2006-11-30 US US11/565,370 patent/US7602192B2/en not_active Expired - Fee Related
-
2007
- 2007-11-08 JP JP2009539398A patent/JP5300736B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2007-11-08 CN CN2007800436786A patent/CN101553740B/zh not_active Expired - Fee Related
- 2007-11-08 WO PCT/US2007/084086 patent/WO2008067131A2/en active Application Filing
- 2007-11-08 KR KR1020097012455A patent/KR101433984B1/ko not_active IP Right Cessation
- 2007-11-20 TW TW96143943A patent/TWI430533B/zh not_active IP Right Cessation
-
2013
- 2013-06-14 JP JP2013125762A patent/JP5519062B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02124779A (ja) * | 1988-10-31 | 1990-05-14 | Tatsuo Ishikawa | セラミックスと金属との接合体 |
JPH1197299A (ja) * | 1997-09-17 | 1999-04-09 | Ckd Corp | チップ型コンデンサのエージング方法及びその装置 |
JP2000223377A (ja) * | 1999-02-03 | 2000-08-11 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | エージング装置 |
JP2004133474A (ja) * | 2002-10-14 | 2004-04-30 | Lg Philips Lcd Co Ltd | 液晶表示装置及びその製造方法並びにその駆動方法 |
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
JPN7012003624; Agilent 4349B 4チャンネル・ハイ・レジスタンス・メータ 取扱説明書 第7版, 2003, 6-2 * |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN101553740B (zh) | 2012-01-11 |
WO2008067131A3 (en) | 2008-08-07 |
JP2013224952A (ja) | 2013-10-31 |
KR101433984B1 (ko) | 2014-08-25 |
TWI430533B (zh) | 2014-03-11 |
US7602192B2 (en) | 2009-10-13 |
JP5519062B2 (ja) | 2014-06-11 |
WO2008067131A2 (en) | 2008-06-05 |
KR20090085108A (ko) | 2009-08-06 |
CN101553740A (zh) | 2009-10-07 |
TW200838085A (en) | 2008-09-16 |
US20080129312A1 (en) | 2008-06-05 |
JP5300736B2 (ja) | 2013-09-25 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5519062B2 (ja) | ケーブル削減のためのパッシブステーション電力分配システム | |
US7112969B1 (en) | Electrical interconnect interface and wire harness test and test development system and method | |
US20110050273A1 (en) | Fast testable wafer and wafer test method | |
CN103529346B (zh) | 线路故障诊断方法及装置 | |
JP2009515186A (ja) | 自動半導体ウエハ試験のための半自動多重化システム | |
JP5859204B2 (ja) | シリアル制御された資源を使用して装置を検査するための装置 | |
US10084214B2 (en) | Automatic switchover from cell voltage to interconnect voltage monitoring | |
CN214310744U (zh) | 一种传感器电缆线快接延长线焊接缺陷检测装置 | |
CN101718803B (zh) | 用于线路板测试机的组合式底座及治具 | |
CN103837809B (zh) | 测试mosfet匹配性的ic布局及测试方法 | |
CN106033093A (zh) | 测试辅助装置 | |
US20150008964A1 (en) | Test System for Semiconductor Array | |
CN111106026A (zh) | 一种测试结构及测试方法 | |
CN109013402A (zh) | 一种半导体测试***、测试分选机、测试机 | |
US8988092B2 (en) | Probing apparatus for semiconductor devices | |
CN108847837B (zh) | 信号转换器 | |
KR200446263Y1 (ko) | 케이블 테스터 | |
US7336066B2 (en) | Reduced pin count test method and apparatus | |
CN102156205B (zh) | 探针卡及用于该探针卡的印刷电路板 | |
CN220603669U (zh) | 多线程线路通断检测装置 | |
CN218099447U (zh) | 一种新型双芯dfn5x6封装htrb试验pcb测试板 | |
CN205508783U (zh) | 测试座及测试装置 | |
KR20020005821A (ko) | 반도체 소자 테스트용 프루브 카드 | |
CN101871956A (zh) | 测试夹具 | |
CN115856574A (zh) | 运算放大器通道性能的测试装置和*** |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20101013 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20101013 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20120904 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20121203 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20121225 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20130322 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20130521 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20130618 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |