JP2010272743A - Substrate conveying device, and substrate processing device - Google Patents

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JP2010272743A JP2009124337A JP2009124337A JP2010272743A JP 2010272743 A JP2010272743 A JP 2010272743A JP 2009124337 A JP2009124337 A JP 2009124337A JP 2009124337 A JP2009124337 A JP 2009124337A JP 2010272743 A JP2010272743 A JP 2010272743A
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恭輔 杉
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To adjust the direction of an orientation mark of a semiconductor substrate 2, in a conveyance chamber 1 without using a new driving system nor a dedicated processing chamber. <P>SOLUTION: The conveyance chamber 1 having a conveying arm 9 driven to expand/contract, rotate, and move up/down, is provided with a substrate support member 10 wherein the conveying arm 9 moves down to transfer the semiconductor substrate 2 from a hand portion 9c of the conveying arm 9 and the conveying arm 9 moves up to transfer the transferred semiconductor substrate 2 to the hand portion 9c. Here, this substrate conveying device is characterized in that, the conveying arm 9 is elevated, after being rotated in a state that the conveying arm 9 is moved down and thereby the semiconductor substrate 2 is transferred onto a substrate support member 10 until the direction of the hand portion 9c is changed as specified with respect to the direction of the orientation mark, so as to transfer the semiconductor substrate 2 from the substrate support member 10 to the hand portion 9c. <P>COPYRIGHT: (C)2011,JPO&INPIT

Description

本発明は、オリエンテーションフラット又はオリエンテーションノッチ(本明細書では両者を総称して「オリエンテーションマーク」という)を備えた半導体基板(例えばシリコンウエハ)の搬送に適した基板搬送装置に関する。また、この基板搬送装置を用いて複数の成膜装置に基板を順次搬送して連続的に成膜処理が行えるようにした基板処理装置に関する。   The present invention relates to a substrate transport apparatus suitable for transporting a semiconductor substrate (for example, a silicon wafer) provided with an orientation flat or an orientation notch (both are collectively referred to as “orientation marks” in this specification). In addition, the present invention relates to a substrate processing apparatus in which the substrate is sequentially transferred to a plurality of film forming apparatuses by using the substrate transfer apparatus so that film forming processing can be continuously performed.

例えば、MRAM(Magnetoresistive Random Access Memory)等の製造には単一の半導体基板に多層膜を効率良く成膜することが要望される。多層膜を一つの成膜室で効率良く形成するのは困難で、通常、半導体基板を、搬送アームを備えた搬送室を介して複数の成膜室に順次搬送して多層膜を形成する基板処理装置を用いる。最近では一台の基板処理装置が備える成膜室の数が多くなり、複数の搬送室を用いる場合も少なくない。   For example, in the manufacture of MRAM (Magnetic Resistive Random Access Memory) or the like, it is desired to efficiently form a multilayer film on a single semiconductor substrate. It is difficult to efficiently form a multilayer film in one deposition chamber, and usually a substrate in which a semiconductor substrate is sequentially transferred to a plurality of deposition chambers via a transfer chamber having a transfer arm to form a multilayer film. A processing device is used. Recently, the number of film forming chambers provided in one substrate processing apparatus has increased, and a plurality of transfer chambers are often used.

複数の成膜室を備えた基板処理装置においては、各成膜室に、オリエンテーションマークを所定の正しい方向に向けて半導体基板を搬送することが必要となる。しかし、通常、搬送室への搬入方向と搬出方向とが異なることから、搬送アームのハンド部に載置して搬送室に搬入した半導体基板をそのまま次の成膜室に搬出したのでは、次の成膜室でオリエンテーションマークが正しい方向を向かない場合がある。また、処理を繰り返すうちに半導体基板の水平位置がずれることもある。このため、搬送途中で半導体基板の向きや水平位置を調整することが行われている。   In a substrate processing apparatus provided with a plurality of film forming chambers, it is necessary to transport the semiconductor substrate to each film forming chamber with the orientation mark directed in a predetermined correct direction. However, since the loading direction to the transfer chamber is usually different from the unloading direction, if the semiconductor substrate placed on the transfer arm and loaded into the transfer chamber is transferred directly to the next film formation chamber, In some film deposition chambers, the orientation mark may not point in the correct direction. In addition, the horizontal position of the semiconductor substrate may shift as the processing is repeated. For this reason, the orientation and horizontal position of the semiconductor substrate are adjusted during the conveyance.

従来、半導体基板のオリエンテーションフラットの向きを、搬送アームの支持台に設けたプリアライメント駆動手段とセンサーを用いて検出できるようにし、半導体基板の向き調整を搬送室内で行えるようにした装置が知られている(例えば、特許文献1参照)。この装置は、搬送アームで、上部に吸着手段を有するプリアライメント駆動手段の上方へ移動した半導体基板を、プリアライメント駆動手段を上昇させて吸着手段で吸着して回転させ、支持台に設けたセンサーでオリエンテーションフラットの位置を検出して半導体基板の方向を決定できるようにしたものとなっている。   Conventionally, an apparatus has been known in which the orientation flat orientation of a semiconductor substrate can be detected by using a pre-alignment driving means and a sensor provided on a support base of a transfer arm, and the orientation of the semiconductor substrate can be adjusted in the transfer chamber. (For example, refer to Patent Document 1). This apparatus is a sensor provided on a support base by a semiconductor arm moved above a pre-alignment drive means having an adsorption means at the upper part by a transfer arm, and the pre-alignment drive means is raised and sucked and rotated by the suction means. Thus, the orientation of the semiconductor substrate can be determined by detecting the position of the orientation flat.

また、半導体基板の水平位置調整を、位置調整用の駆動機構を備えた載置台を有するアライメント室で行うことも知られている(例えば、特許文献2参照)。   It is also known that the horizontal position of a semiconductor substrate is adjusted in an alignment chamber having a mounting table equipped with a position adjustment drive mechanism (see, for example, Patent Document 2).

特開平9−115991号公報JP-A-9-115991 特開2000−9434号公報JP 2000-9434 A

しかしながら、特許文献1の装置の場合、搬送アームの駆動系以外に、プリアライメント駆動手段を昇降及び回転させる方向調整専用の駆動系が必要となり、基板搬送装置自体及びそれを用いた基板処理装置の駆動系が煩雑化する問題がある。   However, in the case of the apparatus of Patent Document 1, in addition to the transfer system of the transfer arm, a drive system dedicated for adjusting the direction for moving the pre-alignment drive means up and down is necessary, and the substrate transfer apparatus itself and the substrate processing apparatus using the same are required. There is a problem that the drive system becomes complicated.

また、特許文献2の装置の場合、位置調整専用の駆動系が必要となり、それを用いた基板処理装置の駆動系が煩雑化するだけでなく、アライメント室という専用の処理室を設けることによって基板処理装置が大型化してしまう問題がある。また、このアライメント室への半導体基板の出し入れに時間がかかるので、ハイスループットの要求を満たすことが極めて困難となる。   Further, in the case of the apparatus of Patent Document 2, a drive system dedicated to position adjustment is required, and not only the drive system of the substrate processing apparatus using the system becomes complicated, but also by providing a dedicated processing chamber called an alignment chamber. There exists a problem which a processing apparatus will enlarge. Further, since it takes time to put the semiconductor substrate into and out of the alignment chamber, it becomes extremely difficult to satisfy the high throughput requirement.

一方、最近の搬送アームは、多数の成膜室への半導体基板の搬送とハイスループットの要求を満たすために、水平伸縮、垂直昇降及び水平回転の各駆動が可能であることが必須となってきている。   On the other hand, recent transfer arms must be capable of horizontal expansion / contraction, vertical lift, and horizontal rotation in order to meet the requirements for high-throughput transport of semiconductor substrates to a large number of film forming chambers. ing.

本発明は、上記搬送アームの機能に着目し、新たな駆動系や専用の処理室を用いることなく、半導体基板のオリエンテーションマークの向きを調整することができるようにすることを第1の目的とする。また、本発明は、半導体基板のオリエンテーションマークの向きの調整と共に、半導体基板の水平位置調整をも行えるようにすることを第2の目的とする。更に本発明は、駆動系を煩雑にすることなく、ハイスループットの要求を満たす基板処理装置を提供することを第3の目的とする。   The first object of the present invention is to make it possible to adjust the orientation of the orientation mark of the semiconductor substrate without using a new drive system or a dedicated processing chamber, paying attention to the function of the transfer arm. To do. A second object of the present invention is to make it possible to adjust the horizontal position of the semiconductor substrate as well as the orientation of the orientation mark of the semiconductor substrate. Furthermore, a third object of the present invention is to provide a substrate processing apparatus that satisfies the high throughput requirement without complicating the drive system.

本発明の第1は、前記第1の目的のために、搬送室内に伸縮、回転及び昇降駆動可能に設けられ、先端のハンド部上に半導体基板を載置して搬送する搬送アームと、
上昇位置で収縮した前記搬送アームのハンド部上に載置された前記半導体基板の下側に位置し、当該搬送アームを下降させることで、前記半導体基板が前記ハンド部上から移し置かれ、再び前記搬送アームを上昇させることで、前記ハンド部上から移し置かれた前記半導体基板が前記ハンド部上へ移し返される基板支持部材と、
オリエンテーションマークの方向が既知の半導体基板を前記ハンド部上に載置した前記搬送アームを、前記ハンド部上の正しい位置に載置された前記半導体基板の中心が前記搬送アームの回転中心の延長線上となる位置に前記ハンド部が移動するように上昇位置で収縮させ、当該搬送アームを下降させて前記半導体基板を基板支持部材上に移し置き、収縮した状態で下降位置へ下降した前記搬送アームを、前記オリエンテーションマークの方向に対して前記ハンド部の向きが所定の向きとなるまで回転させた後、搬送アームを上昇させて前記基板支持部材上から前記ハンド部上へ移し返す駆動制御を行う制御部と
を有することを特徴とする基板搬送装置を提供するものである。
For the first purpose of the present invention, for the first purpose, a transfer arm which is provided in a transfer chamber so as to be extendable, rotatable, and movable up and down, and which mounts and transfers a semiconductor substrate on a hand part at the tip,
Positioned below the semiconductor substrate placed on the hand portion of the transfer arm contracted at the raised position, the semiconductor substrate is moved from the hand portion by lowering the transfer arm, and again By raising the transfer arm, the semiconductor substrate transferred from the hand unit is transferred back onto the hand unit, and a substrate support member,
The transfer arm in which the orientation of the orientation mark is known is placed on the hand unit, and the center of the semiconductor substrate placed in the correct position on the hand unit is on the extension line of the rotation center of the transfer arm. The hand arm is contracted at the raised position so that the hand part moves to the position, the transport arm is lowered, the semiconductor substrate is transferred onto the substrate support member, and the transport arm lowered to the lowered position in the contracted state is moved. Control for performing drive control of rotating the hand unit up to a predetermined direction with respect to the direction of the orientation mark and then raising the transfer arm and moving it back from the substrate support member onto the hand unit The present invention provides a substrate transport apparatus characterized by having a section.

本発明の第2は、やはり前記第1の目的のために、搬送室内に伸縮、回転及び昇降駆動可能に設けられ、先端のハンド部上に半導体基板を載置して搬送する搬送アームと、
上昇位置で収縮した前記搬送アームのハンド部上に載置された前記半導体基板のオリエンテーションマークの方向を検出する検出手段と、
上昇位置で収縮した前記搬送アームのハンド部上に載置された前記半導体基板の下側に位置し、当該搬送アームを下降させることで、前記半導体基板が前記ハンド部上から移し置かれ、再び前記搬送アームを上昇させることで、前記ハンド部上から移し置かれた前記半導体基板が前記ハンド部上へ移し返される基板支持部材と、
前記半導体基板を前記ハンド部に載置した前記搬送アームを、前記ハンド部上の正しい位置に載置された前記半導体基板の中心が前記搬送アームの回転中心の延長線上となる位置に前記ハンド部が移動するように上昇位置で収縮させ、該搬送アームのハンド部上に載置された前記半導体基板のオリエンテーションマークの方向を前記検出手段で検出した後、当該搬送アームを下降させて前記半導体基板を基板支持部材上に移し置き、収縮した状態で下降位置へ下降した前記搬送アームを、前記検出手段で検出した前記オリエンテーションマークの方向に対して前記ハンド部の向きが所定の向きとなるまで回転させた後、搬送アームを上昇させて前記基板支持部材上から前記ハンド部上へ移し返す駆動制御を行う制御部と
を有することを特徴とする基板搬送装置を提供するものである。
The second aspect of the present invention is also provided with a transfer arm that can be extended, contracted, rotated, and moved up and down in the transfer chamber for the first purpose, and carries a semiconductor substrate placed on the hand part at the tip,
Detecting means for detecting a direction of an orientation mark of the semiconductor substrate placed on a hand portion of the transfer arm contracted at an elevated position;
Positioned below the semiconductor substrate placed on the hand portion of the transfer arm contracted at the raised position, the semiconductor substrate is moved from the hand portion by lowering the transfer arm, and again By raising the transfer arm, the semiconductor substrate transferred from the hand unit is transferred back onto the hand unit, and a substrate support member,
The transfer arm having the semiconductor substrate placed on the hand portion is placed at a position where the center of the semiconductor substrate placed at a correct position on the hand portion is on an extension line of the rotation center of the transfer arm. The semiconductor substrate is shrunk at the raised position so that it moves, and the direction of the orientation mark of the semiconductor substrate placed on the hand portion of the transfer arm is detected by the detecting means, and then the transfer arm is lowered to move the semiconductor substrate Is moved onto the substrate support member, and the transport arm lowered to the lowered position in the contracted state is rotated until the orientation of the hand portion becomes a predetermined direction with respect to the direction of the orientation mark detected by the detection means. And a control unit that performs drive control to raise the transfer arm and move it back from the substrate support member onto the hand unit. There is provided a substrate transfer device that.

上記本発明の第2は、前記制御部が、収縮した状態で下降位置へ下降した前記搬送アームを回転させる駆動制御をも行う一方、検出手段が、該搬送アームの回転によって回転する前記半導体基板の外周縁を検出することで前記オリエンテーションマークの方向を検出可能であることを好ましい態様として含むものである。   In the second aspect of the present invention, the control unit also performs drive control to rotate the transport arm that has been lowered to the lowered position in a contracted state, while the semiconductor substrate is rotated by the rotation of the transport arm. It is preferable that the direction of the orientation mark can be detected by detecting the outer peripheral edge.

また、本発明の第3は、前記第2の目的のために、上記本発明の第2において、
前記搬送アームが、水平方向に回転駆動可能な第1アームと、該第1アームの先端部に水平方向に傾動駆動可能に接続された第2アームと、該第2アームの先端部に水平方向に傾動駆動可能に接続されたハンド部とを備え、
前記検出手段が、前記オリエンテーションマークの方向の検出と共に、前記ハンド部上に載置された前記半導体基板の中心と、前記搬送アームの回転中心の延長線との水平方向のずれである半導体基板の位置ずれをも検出可能であり、
前記制御部が、前記検出手段による前記オリエンテーションマークの方向と前記基板の位置ずれの検出後に、下降位置にある前記搬送アームのハンド部を、前記半導体基板の位置ずれを是正する方向に移動させる駆動制御をも行うことを特徴とする基板処理装置を提供するものである。
Also, a third aspect of the present invention is the above second aspect of the present invention, for the second purpose.
The transfer arm has a first arm that can be driven to rotate in the horizontal direction, a second arm that is connected to the tip of the first arm so that it can be tilted in the horizontal direction, and a horizontal direction at the tip of the second arm. And a hand portion connected to be tiltably driven,
The detecting means detects a direction of the orientation mark and detects a horizontal shift between a center of the semiconductor substrate placed on the hand portion and an extension line of a rotation center of the transfer arm. It can also detect misalignment,
Drive that moves the hand portion of the transfer arm in the lowered position in a direction to correct the positional deviation of the semiconductor substrate after the detection unit detects the orientation mark direction and the positional deviation of the substrate by the detecting means. The present invention provides a substrate processing apparatus that also performs control.

更に本発明の第4は、上記本発明の第1乃至第3のいずれかの基板搬送装置を備えた搬送室に、それぞれ基板に成膜を施す複数の成膜室が接続されていることを特徴とする基板処理装置を提供するものである。   Furthermore, a fourth aspect of the present invention is that a plurality of film forming chambers each for forming a film on a substrate are connected to a transfer chamber provided with any one of the first to third substrate transfer apparatuses of the present invention. A featured substrate processing apparatus is provided.

本発明に係る基板搬送装置によれば、搬送室へ搬入した半導体基板を、いわば基板支持部材上に仮置きした状態で搬送アームを回転させ、半導体基板のオリエンテーションマークの方向に対する搬送アームのハンド部の向きを自由に調整することができる。そして、この調整により、搬送室から搬出する半導体基板のオリエンテーションマークの向きを調整することができるので、オリエンテーションマークを所定の一定方向に向けた半導体基板の搬出が可能となる。   According to the substrate transfer apparatus of the present invention, the transfer arm is rotated with respect to the direction of the orientation mark of the semiconductor substrate by rotating the transfer arm in a state where the semiconductor substrate carried into the transfer chamber is temporarily placed on the substrate support member. Can be adjusted freely. And by this adjustment, since the orientation of the orientation mark of the semiconductor substrate unloaded from the transfer chamber can be adjusted, the semiconductor substrate can be unloaded with the orientation mark directed in a predetermined fixed direction.

本発明の第1に係る基板搬送装置は、搬送室に搬入される半導体基板のオリエンテーションマークの方向が一定方向に揃えられている場合を対象としたものである。つまり、本発明の第1に係る基板搬送装置では、搬送アームの回転によるオリエンテーションマークに対するハンド部の向きの調整が、上記既知のオリエンテーションマークの方向に基づいて行われる。そして、この本発明の第1に係る基板搬送装置によれば、上記向きの調整を、搬送アームの伸縮、昇降、回転の邪魔にならない位置に基板支持部材を設けるだけで、その他は搬送アームが有する機能を用いて行うことができる。従って、新たな駆動系を設置することによる駆動系の煩雑化を防止できると共に、この基板搬送装置を用いることで、基板処理装置の大型化を防止でき、ハイスループット化を実現できる。   The substrate transfer apparatus according to the first aspect of the present invention is intended for the case where the orientation marks of the semiconductor substrate carried into the transfer chamber are aligned in a certain direction. That is, in the substrate transfer apparatus according to the first aspect of the present invention, the orientation of the hand portion with respect to the orientation mark is adjusted based on the known orientation mark direction by the rotation of the transfer arm. According to the substrate transfer apparatus according to the first aspect of the present invention, the adjustment of the orientation is performed only by providing the substrate support member at a position where it does not interfere with expansion / contraction, raising / lowering, and rotation of the transfer arm. It can be performed using the functions that it has. Therefore, it is possible to prevent complication of the drive system due to the installation of a new drive system, and it is possible to prevent an increase in the size of the substrate processing apparatus by using this substrate transport apparatus, thereby realizing high throughput.

本発明の第2に係る基板搬送装置よれば、上記本発明の第1に係る基板搬送装置と同様の利益が得られる他に、検出手段による検出可能な範囲内のオリエンテーションマークのずれであれば、これを是正することができる。そして、その好ましい態様によれば、オリエンテーションマークが360°どの方向にずれていてもこれを検出して是正することができる。   According to the substrate transfer apparatus of the second aspect of the present invention, the same benefits as the substrate transfer apparatus of the first aspect of the present invention can be obtained, and any orientation mark within a range detectable by the detection means can be used. Can correct this. And according to the preferable aspect, even if the orientation mark is misaligned in any direction of 360 °, this can be detected and corrected.

本発明の第3に係る基板搬送装置によれば、上記本発明の第2に係る基板搬送装置と同様の利益が得られる他に、半導体基板のオリエンテーションマークの方向に基づく調整だけでなく、半導体基板の水平位置の調整をも行うことができる。   According to the substrate transfer device of the third aspect of the present invention, in addition to the same benefits as the substrate transfer device of the second aspect of the present invention, not only adjustment based on the orientation mark direction of the semiconductor substrate, but also the semiconductor The horizontal position of the substrate can also be adjusted.

本発明の第4に係る基板処理装置によれば、コストダウンが可能で保守管理が容易な小型でシンプルな構造とすることができると共に、ハイスループット化した多層膜の形成が可能となる。   According to the substrate processing apparatus of the fourth aspect of the present invention, it is possible to reduce the cost and to make a small and simple structure that can be easily maintained and to form a multilayer film with high throughput.

本発明の一例に係る基板搬送装置を備えた搬送室を示す図で、(a)は搬送アームが収縮して基板を搬入した直後の搬送室の上部を除去した状態の平面図、(b)は搬送室の上面を示す平面図である。FIG. 5 is a view showing a transfer chamber provided with a substrate transfer apparatus according to an example of the present invention, in which (a) is a plan view showing a state in which the upper portion of the transfer chamber is removed immediately after the transfer arm is contracted and a substrate is loaded; FIG. 3 is a plan view showing an upper surface of a transfer chamber. 図1の搬送室をA−A部分で切断した拡大側面図で、(a)は搬送アームが上昇位置にある図、(b)は搬送アームが下降位置にある図である。FIGS. 2A and 2B are enlarged side views of the transfer chamber of FIG. 1 taken along the line A-A, in which FIG. 1A is a view where the transfer arm is in the raised position, and FIG. 半導体基板を搬入するために搬送アームが伸長状態にある搬送室の上部を除去した状態の平面図である。It is a top view of the state which removed the upper part of the conveyance chamber in which the conveyance arm has extended in order to carry in a semiconductor substrate. 検出したオリエンテーションマークの方向に対してハンド部の向きが所定の向きとなるように搬送アームを回転させた状態の搬送室の上部を除去した状態の平面図である。It is a top view of the state which removed the upper part of the conveyance chamber of the state which rotated the conveyance arm so that direction of a hand part may turn into a predetermined direction with respect to the direction of the detected orientation mark. ハンド部の向きが搬出方向を向くように搬送アームを回転させた状態の搬送室の上部を除去した状態の平面図である。It is a top view of the state which removed the upper part of the conveyance chamber of the state which rotated the conveyance arm so that direction of a hand part may turn to a carrying-out direction. 半導体基板を搬出するために搬送アームが伸長状態にある搬送室の上部を除去した状態の平面図である。It is a top view of the state which removed the upper part of the conveyance chamber in which the conveyance arm has extended in order to carry out a semiconductor substrate. 本発明に係る基板搬送装置を備えた搬送室を用いた基板処理装置の一例を示す平面模式図である。It is a plane schematic diagram which shows an example of the substrate processing apparatus using the conveyance chamber provided with the substrate conveying apparatus which concerns on this invention. 成膜室における基板ホルダー部分の平面図である。It is a top view of the substrate holder part in a film-forming chamber. 成膜室における基板ホルダー周りの作動状態の説明図である。It is explanatory drawing of the operation state around the substrate holder in a film-forming chamber.

図1及び図2において、1は搬送室で、例えばターボ分子ポンプ等の排気手段(図示されていない)によって内部を排気可能となっている。本例の搬送室1は、平面四角形状をなし、各側面部に半導体基板2を出し入れするための搬送用開口部3a〜3dが開口している。搬送室1の上面部には、着脱可能な蓋材4で気密に閉鎖された点検用開口部5が形成されている。蓋材4には、透明材料で封止された窓部6が設けられており、この窓部6上に、半導体基板2の外周縁を検出可能な検出手段7が設けられている。この検出手段7については後述する。また、搬送室1の底面部中央部には、アーム駆動機構8の上部が貫通して接続されている。   In FIGS. 1 and 2, reference numeral 1 denotes a transfer chamber, and the inside can be exhausted by an exhaust means (not shown) such as a turbo molecular pump. The transfer chamber 1 of this example has a planar rectangular shape, and has openings 3a to 3d for transfer for taking in and out the semiconductor substrate 2 on each side part. An inspection opening 5 that is airtightly closed with a removable cover 4 is formed on the upper surface of the transfer chamber 1. The lid member 4 is provided with a window portion 6 sealed with a transparent material, and a detection means 7 capable of detecting the outer peripheral edge of the semiconductor substrate 2 is provided on the window portion 6. The detection means 7 will be described later. Further, the upper part of the arm driving mechanism 8 is connected to the central part of the bottom surface of the transfer chamber 1 so as to penetrate therethrough.

本発明に係る基板搬送装置は、上記搬送室1内に設けられた搬送アーム9と基板支持部材10を備えたものとなっている。   The substrate transfer apparatus according to the present invention includes a transfer arm 9 and a substrate support member 10 provided in the transfer chamber 1.

搬送アーム9は、第1アーム9a、第2アーム9b及びハンド部9cを備え、ハンド部9c上の4箇所から突出した載置ピン9d上に半導体基板2を載置して搬送するものとなっている。第1アーム9aはアーム駆動機構8に支持されており、第2アームは第1アーム9aの先端部に水平方向に傾動可能に接続されており、ハンド部9cは第2アーム9bの先端部に水平方向に傾動可能に接続されている。第1アーム9aは、アーム駆動機構8によって水平方向への回転駆動と垂直方向への昇降駆動が可能で、これによって搬送アーム9全体を回転駆動可能で昇降駆動可能となっている。また、第2アーム9bとハンド部9cは、それぞれアーム駆動機構8によって水平方向に傾動駆動可能となっている。そして、これらの傾動駆動により、搬送アーム9の伸縮駆動が可能となっていると共に、ハンド部9cを二次元方向に移動可能となっている。   The transfer arm 9 includes a first arm 9a, a second arm 9b, and a hand portion 9c, and the semiconductor substrate 2 is placed on the placement pins 9d protruding from four locations on the hand portion 9c and transferred. ing. The first arm 9a is supported by the arm drive mechanism 8, the second arm is connected to the tip of the first arm 9a so as to be tiltable in the horizontal direction, and the hand portion 9c is connected to the tip of the second arm 9b. It is connected to be able to tilt in the horizontal direction. The first arm 9 a can be driven to rotate in the horizontal direction and vertically driven by the arm driving mechanism 8, whereby the entire transfer arm 9 can be rotationally driven and driven up and down. The second arm 9b and the hand portion 9c can be driven to tilt in the horizontal direction by the arm drive mechanism 8, respectively. The tilting drive enables the transfer arm 9 to be expanded and contracted, and allows the hand portion 9c to move in a two-dimensional direction.

基板支持部材10は、搬送室1内の上面四隅部分にねじ止めされ、搬送室1内に垂下された支持柱11の下端から搬送室1内の中央部に向かって延出した細長い棒状の部材で構成されている。各基板支持部材10の先端部間には、ハンド部9cが昇降できる間隔が開けられている。また、各基板支持部材10の先端部間の間隔は、半導体基板2の直径より狭くなっており、各基板支持部材10の先端部上に半導体基板2の周縁部が乗せられることで、半導体基板2を載置できるようになっている。   The substrate support member 10 is screwed at the four corners of the upper surface in the transfer chamber 1 and extends from the lower end of the support pillar 11 suspended in the transfer chamber 1 toward the central portion in the transfer chamber 1. It consists of Between the front-end | tip parts of each board | substrate support member 10, the space | interval which can raise / lower the hand part 9c is opened. Further, the distance between the tip portions of the substrate support members 10 is narrower than the diameter of the semiconductor substrate 2, and the peripheral portion of the semiconductor substrate 2 is placed on the tip portions of the substrate support members 10. 2 can be placed.

前記搬送アーム9の駆動と検出手段7による検出は、例えばコンピューター等の制御部(図示されていない)で制御されるもので、以下にこの制御部による駆動制御と共に、上記本発明に係る基板搬送装置についても更に説明する。   The driving of the transfer arm 9 and the detection by the detecting means 7 are controlled by a control unit (not shown) such as a computer, for example. The substrate transfer according to the present invention will be described below together with the drive control by the control unit. The apparatus will be further described.

図3に示される状態は、搬送アーム9が伸長して、搬送用開口部3aから前段の成膜室へ延出し、搬送窒1内に搬入すべき半導体基板2をハンド部9c上に載置した状態である。ハンド部9cの上面には4本の載置ピン9dが突出しており、半導体基板2はこの載置ピン9d上に載置されている。この時、搬送アーム9は上昇位置にある。   In the state shown in FIG. 3, the transfer arm 9 extends to extend from the transfer opening 3a to the preceding film formation chamber, and the semiconductor substrate 2 to be transferred into the transfer nitrogen 1 is placed on the hand unit 9c. It is in the state. Four placement pins 9d protrude from the upper surface of the hand portion 9c, and the semiconductor substrate 2 is placed on the placement pins 9d. At this time, the transfer arm 9 is in the raised position.

上記の状態から、ハンド部9cが向きを変えずに直線的に搬送室1内に引き込まれるように搬送アーム9を収縮させて半導体基板2を搬送室1内に搬入した状態が図1及び図2(a)に示される状態である。搬送アーム9の収縮は、ハンド部9cが、ハンド部9c上の正しい位置に載置された半導体基板2の中心が搬送アーム9の回転中心の延長線上となる位置に移動するように行われる。このように搬送アーム9を収縮させた状態において、図2(a)に示されるように、ハンド部9cの載置ピン9d上に載置されている半導体基板2の位置は基板支持部材10より高い位置にあり、ハンド部9c、第2アーム9b及び第1アーム9aは基板支持部材10より低い位置にある。各載置ピン9dの位置は、上記のように収縮させた状態で搬送アーム9を回転駆動したときの各載置ピン9dの回転軌跡が各基板支持部材10の先端より内側となるよう調整されている。また、搬送アーム9の回転中心は搬送室1のほぼ中央に設定されており、搬送室1は、上記収縮した状態での搬送アーム9の回転を許容する大きさとなっている。   From the above state, the state in which the transfer arm 9 is contracted so that the hand portion 9c is linearly drawn into the transfer chamber 1 without changing the direction and the semiconductor substrate 2 is transferred into the transfer chamber 1 is shown in FIGS. This is the state shown in 2 (a). The contraction of the transfer arm 9 is performed so that the hand unit 9c moves to a position where the center of the semiconductor substrate 2 placed at the correct position on the hand unit 9c is on the extension line of the rotation center of the transfer arm 9. When the transfer arm 9 is contracted as described above, the position of the semiconductor substrate 2 placed on the placement pin 9d of the hand portion 9c is determined by the substrate support member 10 as shown in FIG. The hand portion 9 c, the second arm 9 b, and the first arm 9 a are at a lower position than the substrate support member 10. The position of each mounting pin 9d is adjusted so that the rotation trajectory of each mounting pin 9d is inside the tip of each substrate support member 10 when the transport arm 9 is rotationally driven in the contracted state as described above. ing. Further, the center of rotation of the transfer arm 9 is set substantially at the center of the transfer chamber 1, and the transfer chamber 1 is sized to allow the transfer arm 9 to rotate in the contracted state.

上記のように、上昇位置で収縮した状態の搬送アーム9を少なくとも360°回転駆動し、回転する半導体基板2の外周縁を検出手段7で検出し、外周縁の位置情報に基づいてオリエンテーションマークの方向及び半導体基板2の位置ずれを検出する。半導体基板2の位置ずれとは、ハンド部9c上の半導体基板2の中心と、搬送アーム9の回転中心の延長線との水平方向のずれ(ずれ量とその方向)である。検出手段7としては、例えばレーザー変位計を用いることができる。この検出手段7は、上昇位置で収縮した搬送アーム9のハンド部9c上の半導体基板2の外周縁を検出できる位置に設けられている。   As described above, the transport arm 9 contracted at the raised position is rotationally driven by at least 360 °, the outer peripheral edge of the rotating semiconductor substrate 2 is detected by the detecting means 7, and the orientation mark of the orientation mark is detected based on the position information of the outer peripheral edge. The direction and the positional deviation of the semiconductor substrate 2 are detected. The positional shift of the semiconductor substrate 2 is a horizontal shift (shift amount and its direction) between the center of the semiconductor substrate 2 on the hand portion 9c and the extension line of the rotation center of the transfer arm 9. As the detecting means 7, for example, a laser displacement meter can be used. The detection means 7 is provided at a position where the outer peripheral edge of the semiconductor substrate 2 on the hand portion 9c of the transport arm 9 contracted at the raised position can be detected.

上記のようにして半導体基板2を1回転又は複数回転させて、オリエンテーションマークの方向と、半導体基板2の位置ずれを検出した後、回転前と同じ向きに戻った搬送アーム9を、そのまま下降位置まで下降させる。この下降後の平面状態は上昇位置にあるときと同じ図1に示される状態で、側面状態は図2(b)に示される状態である。   After the semiconductor substrate 2 is rotated once or a plurality of times as described above, the orientation of the orientation mark and the positional deviation of the semiconductor substrate 2 are detected, and then the transfer arm 9 returned to the same direction as before the rotation is moved to the lowered position. To lower. The planar state after the lowering is the same state as shown in FIG. 1 when in the raised position, and the side surface state is the state shown in FIG.

上記搬送アーム9の下降は、ハンド部9cの載置ピン9dの先端が基板支持部材10より低い位置へ移動するまで行われる。この下降途中で、ハンド部9cの載置ピン9d上に載置されている半導体基板2の周縁部が基板支持部材10の先端部に接し、更に搬送アーム9が下降することで、半導体基板2が基板支持部材10上に移し置かれる。そして、搬送アーム9が下降位置まで下降し、半導体基板2が基板支持部材10上に移し置かれた状態で、先に検出したオリエンテーションマークの方向に対してハンド部9cの向きが所定の向きとなるまで搬送アーム9を回転させ、図4の状態とする。この回転により、基板支持部材10上に載置されている半導体基板2のオリエンテーションマークの向きと、ハンド部9cの向きとの関係が、予め設定されている所定の関係に調整される。また、先に検出した半導体基板2の位置ずれ情報に基づき、搬送アーム9の回転駆動と、第2アーム9b及びハンド部9cの傾動駆動を複合させることで、基板載置部材10に載置された半導体基板2とハンド部9cの位置ずれを是正する位置補正を行う。なお、図4は、向きの調整を分かりやすく表示するため、オリエンテーションマークの方向が極端にずれた場合を想定している。   The transport arm 9 is lowered until the tip of the mounting pin 9d of the hand portion 9c moves to a position lower than the substrate support member 10. In the middle of the lowering, the peripheral edge portion of the semiconductor substrate 2 placed on the placement pin 9d of the hand portion 9c comes into contact with the tip end portion of the substrate support member 10, and the transport arm 9 is further lowered, whereby the semiconductor substrate 2 Is transferred onto the substrate support member 10. Then, with the transfer arm 9 lowered to the lowered position and the semiconductor substrate 2 being moved and placed on the substrate support member 10, the direction of the hand portion 9c is a predetermined direction with respect to the direction of the orientation mark detected previously. The transfer arm 9 is rotated until it reaches the state shown in FIG. By this rotation, the relationship between the orientation mark of the semiconductor substrate 2 placed on the substrate support member 10 and the orientation of the hand portion 9c is adjusted to a predetermined relationship set in advance. Further, based on the positional deviation information of the semiconductor substrate 2 detected previously, the rotation driving of the transport arm 9 and the tilting driving of the second arm 9b and the hand portion 9c are combined to be placed on the substrate placement member 10. Position correction is performed to correct the positional deviation between the semiconductor substrate 2 and the hand portion 9c. Note that FIG. 4 assumes a case where the orientation mark is extremely deviated in order to easily display the orientation adjustment.

上記方向と位置の調整を行った後、そのままの状態で搬送アーム9を再び上昇位置まで上昇させる。この上昇により、基板載置部材10に載置されていた半導体基板2がハンド部9cの載置ピン9d上に移し返される。移し返された半導体基板2は、ハンド部9c上の正しい位置に、正しい方向にオリエンテーションマークを向けて載置されることになる。   After adjusting the direction and position, the transport arm 9 is raised again to the raised position in the same state. By this rise, the semiconductor substrate 2 placed on the substrate placement member 10 is moved back onto the placement pins 9d of the hand portion 9c. The transferred semiconductor substrate 2 is placed at the correct position on the hand portion 9c with the orientation mark directed in the correct direction.

上記のようにして、半導体基板2を再びハンド部9cの載置ピン9d上に載置して上昇位置まで上昇した搬送アーム9を、ハンド部9cが正しく搬出方向を向く位置まで回転駆動し、図5に示される状態とする。本例では、半導体基板2を搬入した搬出用開口部3aから90°ずれた搬送用開口部3bから半導体基板2を搬出するもので、ハンド部9cは搬送用開口部3bに直交する方向に向けられている。そして、この図5の状態から、ハンド部9cがその向きを変えることなく、搬送用開口部3bの外へ直線的に移動するように搬送アーム9を伸長させて図6に示される状態とすることで、半導体基板2を搬送室1から次段の成膜室へ搬出することができる。   As described above, the semiconductor arm 2 is again placed on the mounting pin 9d of the hand portion 9c, and the transport arm 9 that has been raised to the raised position is rotationally driven to a position where the hand portion 9c is correctly oriented in the carry-out direction, Assume the state shown in FIG. In this example, the semiconductor substrate 2 is unloaded from the transfer opening 3b shifted by 90 ° from the unloading opening 3a into which the semiconductor substrate 2 is loaded, and the hand portion 9c is directed in a direction perpendicular to the transfer opening 3b. It has been. Then, from the state of FIG. 5, the transfer arm 9 is extended so as to move linearly out of the transfer opening 3b without changing the direction of the hand portion 9c, so that the state shown in FIG. Thus, the semiconductor substrate 2 can be carried out from the transfer chamber 1 to the next-stage film formation chamber.

次に、本発明の他の態様について説明する。   Next, another aspect of the present invention will be described.

例えば、前段の成膜室から次段の成膜室へと半導体基板2を搬送する場合、前段の成膜室における半導体基板2のオリエンテーションマークの方向は既知である。半導体基板2のオリエンテーションマークの方向や水平位置にさほど大きなずれを生じる恐れがない場合、検出手段7を省略すると共に、この検出手段7によるオリエンテーションマークの方向等の検出用の搬送アーム9の回転駆動を省略することができる。既知のオリエンテーションマークの方向を基準にハンド部9cの向きを調整する基板搬送装置として、構造を簡略化することができる。   For example, when the semiconductor substrate 2 is transported from the previous film formation chamber to the next film formation chamber, the direction of the orientation mark of the semiconductor substrate 2 in the previous film formation chamber is known. In the case where there is no fear that the orientation mark and the horizontal position of the semiconductor substrate 2 are greatly displaced, the detection means 7 is omitted, and the detection arm 7 is rotated by the detection means 7 for detecting the direction of the orientation mark. Can be omitted. The structure can be simplified as a substrate transfer device that adjusts the orientation of the hand portion 9c based on the direction of a known orientation mark.

例えば、オリエンテーションマークをハンド部9cの後方に向けて半導体基板2を搬送用開口部3bから搬出する必要があると仮定する。また、搬送室1への搬入時には、半導体基板2が、オリエンテーションマークをハンド部9cの後方から前方に向かって左側に向けてほぼ正しい位置に常に載置されるとする。この場合、搬入すべき半導体基板2をハンド部9cに載置した搬送アーム9を収縮させて図1及び図2(a)の状態とし、次いで搬送アーム9を下降位置まで下降させ、半導体基板2を基板支持部材10上に移し置いてから図5に示される位置まで回転させる。そして、再び搬送アーム9を上昇位置へ上昇させて半導体基板2をハンド部9c上に移し返すだけで、オリエンテーションマークをハンド部9cの後方に向けて半導体基板2をハンド部9cに載置し直すことができる。この場合、検出手段7が不要であるので、装置構成をより簡略で廉価なものとすることができる。また、検出手段7による検出時の搬送アーム9の回転も不要であるので、よりハイスループットな処理が可能となる。   For example, it is assumed that the semiconductor substrate 2 needs to be carried out from the transfer opening 3b with the orientation mark facing the back of the hand portion 9c. In addition, when the semiconductor substrate 2 is carried into the transfer chamber 1, it is assumed that the semiconductor substrate 2 is always placed at a substantially correct position with the orientation mark facing the left side from the rear to the front of the hand portion 9c. In this case, the transfer arm 9 on which the semiconductor substrate 2 to be loaded is placed on the hand portion 9c is contracted to the state shown in FIGS. 1 and 2A, and then the transfer arm 9 is lowered to the lowered position. Is transferred to the substrate support member 10 and then rotated to the position shown in FIG. Then, the semiconductor substrate 2 is placed again on the hand portion 9c with the orientation mark facing the rear of the hand portion 9c simply by raising the transfer arm 9 to the raised position again and moving the semiconductor substrate 2 back onto the hand portion 9c. be able to. In this case, since the detection means 7 is unnecessary, the apparatus configuration can be made simpler and less expensive. Further, since it is not necessary to rotate the transfer arm 9 at the time of detection by the detection means 7, higher throughput processing is possible.

上記のように、搬送室1に搬入される半導体基板2のオリエンテーションマークの位置と向きがほぼ一定の場合、所定の領域内に移動したオリエンテーションマークの存在と向きを検出できる検出手段7を用い、向き調整の精度を向上させることもできる。例えば、検出手段7としてCCDカメラを用い、搬入された半導体基板2のオリエンテーションマークの方向を画像認識できるようにする。このようにすると、画像認識できる範囲内にオリエンテーションマークが移動してくれば、オリエンテーションマークの方向のずれをも検出することができる。そして、この検出手段7によるオリエンテーションマークの方向の検出後、搬送アーム9の回転駆動により、検出した方向のずれを是正すれば、オリエンテーションマークの方向を精度よく正しい方向に維持した搬送が可能となる。また、検出手段7としてCCDカメラを用いる場合、1台だけでなく、複数台用いることで検出精度を向上させることもできる。   As described above, when the position and orientation of the orientation mark of the semiconductor substrate 2 carried into the transfer chamber 1 are substantially constant, the detection means 7 that can detect the presence and orientation of the orientation mark that has moved into a predetermined region is used. The accuracy of the orientation adjustment can also be improved. For example, a CCD camera is used as the detecting means 7 so that the direction of the orientation mark of the semiconductor substrate 2 carried in can be recognized. In this way, if the orientation mark moves within a range where the image can be recognized, it is possible to detect a deviation in the direction of the orientation mark. Then, after detecting the direction of the orientation mark by the detecting means 7, if the deviation of the detected direction is corrected by rotational driving of the transport arm 9, the transport can be performed while maintaining the direction of the orientation mark accurately in the correct direction. . In addition, when a CCD camera is used as the detection means 7, the detection accuracy can be improved by using not only one but also a plurality.

上記のように、搬送アーム9を回転させながらのオリエンテーションマークの方向等の検出を行わない場合、搬送アーム9が上昇位置にあるとき、ハンド部9cが基板支持部材10と同等又はこれより高い位置に位置するものとすることができる。この場合、載置ピン9dを省略して、ハンド部9c上に直接半導体基板2が載置されるようにすることもできる。   As described above, when the direction of the orientation mark or the like while rotating the transfer arm 9 is not detected, when the transfer arm 9 is in the raised position, the hand portion 9c is at a position equal to or higher than the substrate support member 10 Can be located. In this case, the placement pin 9d can be omitted, and the semiconductor substrate 2 can be placed directly on the hand portion 9c.

例えばCCDカメラ等、所定の領域内におけるオリエンテーションマークの存在と向きを検出できる検出手段7を用いる場合でも、搬送アーム9を1又は複数回転させながら検出を行うことが好ましい。このようにすると、検出手段7で半導体基板2の外周縁を360°検出することができ、オリエンテーションマークの方向がどの方向にずれていても確実に検出することができる。また、検出手段7によって、360°に亘って半導体基板2の周縁の位置情報を得ることで、半導体基板2の水平方向の位置ずれも精度よく検出することができる。   For example, even when using detection means 7 such as a CCD camera that can detect the presence and orientation of an orientation mark in a predetermined area, it is preferable to perform detection while rotating the transport arm 9 one or more times. In this way, the outer peripheral edge of the semiconductor substrate 2 can be detected by 360 ° with the detection means 7, and it can be reliably detected regardless of the direction of the orientation mark. Further, by obtaining the positional information of the periphery of the semiconductor substrate 2 over 360 ° by the detection means 7, it is possible to accurately detect the positional deviation of the semiconductor substrate 2 in the horizontal direction.

図1〜図6で説明した搬送室1は、平面四角形をなしているが、三角形や五角形以上の多角形とすることもできる。また、図1〜図6で説明した搬送室1は、平面四角形の各辺を構成する総ての側面部に搬送用開口部3a〜3dが設けられたものとなっている。しかし、搬送用開口部3a,3b,…は、上記いずれの平面形状の搬送室1とした場合でも、少なくとも二箇所の側面部に設けられていれば足る。   The transfer chamber 1 described with reference to FIGS. 1 to 6 has a planar quadrangle, but may be a triangle or a polygon that is a pentagon or more. In addition, the transfer chamber 1 described with reference to FIGS. 1 to 6 is provided with transfer openings 3a to 3d on all side surfaces constituting each side of the plane quadrangle. However, it is sufficient that the transfer openings 3a, 3b,... Are provided in at least two side portions even when the transfer chamber 1 has any planar shape.

なお、基板支持部材10は、緊急避難的な半導体基板2の仮置き場として利用することも可能である。   The substrate support member 10 can also be used as a temporary storage place for the emergency evacuated semiconductor substrate 2.

次に、本発明に係る基板搬送装置を備えた基板処理装置の一例について説明する。   Next, an example of a substrate processing apparatus provided with the substrate transfer apparatus according to the present invention will be described.

図7において、1A〜1Cは本発明に係る基板搬送装置を備えた搬送室である。搬送室1A,1Bは、図1〜6で説明した4箇所の搬送用開口部3a〜3dを有するもので、搬送室1Cは、2箇所の搬送用開口部3a,3dのみを有するものとなっている。また、12A〜12Dは、搬送室1A〜1Cを介して半導体基板2(図1〜図6参照)が搬送される成膜室である。搬送室1Aの搬送用開口部3b,3cと、搬送室1Bの搬送用開口部3a〜3dと、搬送室1Cの搬送用開口部3a,3dは、それぞれ隣接する成膜室12A〜12Dとゲートバルブを介して接続されている。また、搬送室1Aの搬送用開口部3a,3dは、それぞれLL室等へゲートバルブを介して接続されている。   In FIG. 7, reference numerals 1A to 1C denote transfer chambers equipped with the substrate transfer apparatus according to the present invention. The transfer chambers 1A and 1B have the four transfer openings 3a to 3d described in FIGS. 1 to 6, and the transfer chamber 1C has only the two transfer openings 3a and 3d. ing. Reference numerals 12A to 12D denote film forming chambers in which the semiconductor substrate 2 (see FIGS. 1 to 6) is transferred through the transfer chambers 1A to 1C. The transfer openings 3b and 3c of the transfer chamber 1A, the transfer openings 3a to 3d of the transfer chamber 1B, and the transfer openings 3a and 3d of the transfer chamber 1C are respectively adjacent to the film forming chambers 12A to 12D and the gate. Connected through a valve. The transfer openings 3a and 3d of the transfer chamber 1A are connected to the LL chamber and the like via gate valves, respectively.

半導体基板2は、矢印13a〜13jの順で搬送されるものである。つまり、まず矢印13aで示されるように、搬送室1Aに設けられた搬送装置により、例えばLL室などから搬送室1A内に搬入された半導体基板2は、矢印13bで示されるように成膜室12Aへと搬出される。成膜室12Aで処理された半導体基板2は、矢印13c,13dで示されるように、搬送室1Bに設けられた搬送装置により、搬送室1Aを介して成膜室12Bへ搬送される。成膜室12Bで処理された半導体基板2は、矢印13e,13fで示されるように、搬送室1Cに設けられた搬送装置により、搬送室1Cを介して成膜室12Cへ搬送される。そこでの処理後、矢印13g,13hで示されるように、再び搬送室1Bを介して成膜室12Dへ搬送され、更に処理された後、矢印13i,13jで示されるように、搬送室1Aを介してLL室などへと搬出されることになる。   The semiconductor substrate 2 is transported in the order of arrows 13a to 13j. That is, first, as indicated by an arrow 13a, the semiconductor substrate 2 carried into the transfer chamber 1A from the LL chamber or the like by the transfer device provided in the transfer chamber 1A is formed into a film formation chamber as indicated by an arrow 13b. It is carried out to 12A. The semiconductor substrate 2 processed in the film forming chamber 12A is transferred to the film forming chamber 12B via the transfer chamber 1A by the transfer device provided in the transfer chamber 1B, as indicated by arrows 13c and 13d. The semiconductor substrate 2 processed in the film forming chamber 12B is transferred to the film forming chamber 12C via the transfer chamber 1C by the transfer device provided in the transfer chamber 1C as indicated by arrows 13e and 13f. After the processing there, as shown by arrows 13g and 13h, it is transferred again to the film forming chamber 12D via the transfer chamber 1B, and after further processing, the transfer chamber 1A is moved as shown by arrows 13i and 13j. Through the LL chamber.

各成膜室12A〜12Dでの半導体基板2の受け渡しは、各成膜室12A〜12Dに図8に示されるような昇降ピン14を備えたホルダー15を設けておき、図9に示されるような手順で行うことができる。   The delivery of the semiconductor substrate 2 in each of the film forming chambers 12A to 12D is performed by providing each film forming chamber 12A to 12D with a holder 15 having lifting pins 14 as shown in FIG. Can be done in a simple procedure.

まず、図9(a)に示されるように、昇降ピン14が上昇してホルダー15上に突出した状態で、図1〜図6で説明した搬送アーム9を上昇位置でホルダー15上へと伸長させ、ハンド部9cを昇降ピン14の上方に位置させる。その状態が図9(b)に示される状態で、ハンド部9cの載置ピン9d上に載置された半導体基板2はホルダー15の真上に位置し、オリエンテーションマークの方向も定められた方向と一致している。このオリエンテーションマークの位置合わせは、前述したように、ホルダー15上への搬送前に搬送室1A〜1C内で行われるものである。次に搬送アーム9を下降位置へと下降させ、ハンド部9cの位置を下げることで、図9(c)に示されるように、半導体基板2を昇降ピン14上に載置する。その後、搬送アーム9を収縮させて搬送室1A〜1C内へ引き込むことで、図9(d)に示される状態とし、昇降ピン14を下降させることで、半導体基板2を正しい位置と方向でホルダー15上に設置することができる。ホルダー15上から搬送室1A〜1Cへの半導体基板2の搬入は、これとは逆の手順で行うことができる。まず、図9(e)の状態から昇降ピン14を上昇させて図9(d)の状態とし、下降位置にある搬送アーム9を伸長させて、ハンド部9cを半導体基板2の下側に移動させて図9(c)の状態とする。その後、搬送アーム9を上昇位置へ上昇させて、図9(b)に示されるようにハンド部9c上に半導体基板2を載置し、搬送アーム9を収縮させることで、搬送室1A〜1Cへ搬入することができる。   First, as shown in FIG. 9A, the transfer arm 9 described in FIGS. 1 to 6 is extended to the holder 15 at the raised position with the lifting pins 14 raised and protruding onto the holder 15. The hand portion 9c is positioned above the elevating pins 14. In the state shown in FIG. 9B, the semiconductor substrate 2 placed on the placement pin 9d of the hand portion 9c is located directly above the holder 15, and the direction of the orientation mark is also determined. Is consistent with The alignment of the orientation mark is performed in the transfer chambers 1A to 1C before being transferred onto the holder 15, as described above. Next, the transfer arm 9 is lowered to the lowered position, and the position of the hand portion 9c is lowered to place the semiconductor substrate 2 on the raising / lowering pins 14, as shown in FIG. 9C. After that, the transfer arm 9 is contracted and pulled into the transfer chambers 1A to 1C to obtain the state shown in FIG. 9D, and the lift pins 14 are lowered to hold the semiconductor substrate 2 in the correct position and direction. 15 can be installed. The semiconductor substrate 2 can be carried into the transfer chambers 1A to 1C from above the holder 15 in the reverse procedure. First, the lift pins 14 are raised from the state of FIG. 9E to the state of FIG. 9D, the transfer arm 9 in the lowered position is extended, and the hand portion 9c is moved to the lower side of the semiconductor substrate 2. Thus, the state shown in FIG. Thereafter, the transfer arm 9 is raised to the raised position, the semiconductor substrate 2 is placed on the hand portion 9c as shown in FIG. 9B, and the transfer arm 9 is contracted, thereby transferring the transfer chambers 1A to 1C. Can be carried in.

図1〜図6で説明した搬送装置は、いわば上記基板処理装置の中央の搬送室1Bに設けられたもので、その作動状況として説明した内容は、矢印13c,13dで示される搬送室1Bへの搬入から搬出までの内容に相当する。搬送室1A,1Cに設けられた搬送装置も、半導体基板2の搬送時に同様の作動をなすものである。このような基板処理装置とすれば、多数の成膜室12A,12B,…を接続した場合でも、ハイスループットを実現しながら、半導体基板2を、オリエンテーションマークを所定の方向に向けて各成膜室12A,12B,…へ搬送することができる。また、オリエンテーションマークの方向や半導体基板の水平位置にずれを生じても、その是正をしながら搬送することも可能となる。   The transfer apparatus described with reference to FIGS. 1 to 6 is, so to speak, provided in the transfer chamber 1B in the center of the substrate processing apparatus, and the contents described as the operation status thereof are to the transfer chamber 1B indicated by arrows 13c and 13d. It corresponds to the content from the loading to unloading of The transfer devices provided in the transfer chambers 1A and 1C also perform the same operation when the semiconductor substrate 2 is transferred. With such a substrate processing apparatus, even when a large number of film forming chambers 12A, 12B,... Are connected, the semiconductor substrate 2 is formed with each orientation mark in a predetermined direction while realizing high throughput. It can be conveyed to the chambers 12A, 12B,. Further, even if a deviation occurs in the direction of the orientation mark or the horizontal position of the semiconductor substrate, it can be transported while correcting the deviation.

1、1A,1B,1C:搬送室、2:半導体基板、3a〜3d:搬送用開口部、4:蓋材、5:点検用開口部、6:窓部、7:検出手段、8:アーム駆動機構、9:搬送アーム、9a:第1アーム9b:第2アーム、9c:ハンド部、9d:載置ピン、10:基板支持部材、11:支持柱、12A〜12D:成膜室、13a〜13j:半導体基板の搬送方向を示す矢印   1, 1A, 1B, 1C: transfer chamber, 2: semiconductor substrate, 3a to 3d: transfer opening, 4: cover material, 5: inspection opening, 6: window, 7: detection means, 8: arm Drive mechanism, 9: transfer arm, 9a: first arm 9b: second arm, 9c: hand portion, 9d: mounting pin, 10: substrate support member, 11: support pillar, 12A to 12D: film formation chamber, 13a ... 13j: An arrow indicating the transport direction of the semiconductor substrate

Claims (5)

搬送室内に伸縮、回転及び昇降駆動可能に設けられ、先端のハンド部上に半導体基板を載置して搬送する搬送アームと、
上昇位置で収縮した前記搬送アームのハンド部上に載置された前記半導体基板の下側に位置し、当該搬送アームを下降させることで、前記半導体基板が前記ハンド部上から移し置かれ、再び前記搬送アームを上昇させることで、前記ハンド部上から移し置かれた前記半導体基板が前記ハンド部上へ移し返される基板支持部材と、
オリエンテーションマークの方向が既知の半導体基板を前記ハンド部上に載置した前記搬送アームを、前記ハンド部上の正しい位置に載置された前記半導体基板の中心が前記搬送アームの回転中心の延長線上となる位置に前記ハンド部が移動するように上昇位置で収縮させ、当該搬送アームを下降させて前記半導体基板を基板支持部材上に移し置き、収縮した状態で下降位置へ下降した前記搬送アームを、前記オリエンテーションマークの方向に対して前記ハンド部の向きが所定の向きとなるまで回転させた後、搬送アームを上昇させて前記基板支持部材上から前記ハンド部上へ移し返す駆動制御を行う制御部と
を有することを特徴とする基板搬送装置。
A transfer arm which is provided in the transfer chamber so as to be capable of extending, contracting, rotating and moving up and down, and which carries a semiconductor substrate placed on the hand part at the tip;
Positioned below the semiconductor substrate placed on the hand portion of the transfer arm contracted at the raised position, the semiconductor substrate is moved from the hand portion by lowering the transfer arm, and again By raising the transfer arm, the semiconductor substrate transferred from the hand unit is transferred back onto the hand unit, and a substrate support member,
The transfer arm in which the orientation of the orientation mark is known is placed on the hand unit, and the center of the semiconductor substrate placed in the correct position on the hand unit is on the extension line of the rotation center of the transfer arm. The hand arm is contracted at the raised position so that the hand part moves to the position, the transport arm is lowered, the semiconductor substrate is transferred onto the substrate support member, and the transport arm lowered to the lowered position in the contracted state is moved. Control for performing drive control of rotating the hand unit up to a predetermined direction with respect to the direction of the orientation mark and then raising the transfer arm and moving it back from the substrate support member onto the hand unit And a substrate transport apparatus.
搬送室内に伸縮、回転及び昇降駆動可能に設けられで、先端のハンド部上に半導体基板を載置して搬送する搬送アームと、
上昇位置で収縮した前記搬送アームのハンド部上に載置された前記半導体基板のオリエンテーションマークの方向を検出する検出手段と、
上昇位置で収縮した前記搬送アームのハンド部上に載置された前記半導体基板の下側に位置し、当該搬送アームを下降させることで、前記半導体基板が前記ハンド部上から移し置かれ、再び前記搬送アームを上昇させることで、前記ハンド部上から移し置かれた前記半導体基板が前記ハンド部上へ移し返される基板支持部材と、
前記半導体基板を前記ハンド部に載置した前記搬送アームを、前記ハンド部上の正しい位置に載置された前記半導体基板の中心が前記搬送アームの回転中心の延長線上となる位置に前記ハンド部が移動するように上昇位置で収縮させ、該搬送アームのハンド部上に載置された前記半導体基板のオリエンテーションマークの方向を前記検出手段で検出した後、当該搬送アームを下降させて前記半導体基板を基板支持部材上に移し置き、収縮した状態で下降位置へ下降した前記搬送アームを、前記検出手段で検出した前記オリエンテーションマークの方向に対して前記ハンド部の向きが所定の向きとなるまで回転させた後、搬送アームを上昇させて前記基板支持部材上から前記ハンド部上へ移し返す駆動制御を行う制御部と
を有することを特徴とする基板搬送装置。
A transfer arm which is provided in the transfer chamber so as to be extendable, rotatable, and movable up and down, and which carries and transfers a semiconductor substrate on the hand part at the tip,
Detecting means for detecting a direction of an orientation mark of the semiconductor substrate placed on a hand portion of the transfer arm contracted at an elevated position;
Positioned below the semiconductor substrate placed on the hand portion of the transfer arm contracted at the raised position, the semiconductor substrate is moved from the hand portion by lowering the transfer arm, and again By raising the transfer arm, the semiconductor substrate transferred from the hand unit is transferred back onto the hand unit, and a substrate support member,
The transfer arm having the semiconductor substrate placed on the hand portion is placed at a position where the center of the semiconductor substrate placed at a correct position on the hand portion is on an extension line of the rotation center of the transfer arm. The semiconductor substrate is shrunk at the raised position so that it moves, and the direction of the orientation mark of the semiconductor substrate placed on the hand portion of the transfer arm is detected by the detecting means, and then the transfer arm is lowered to move the semiconductor substrate Is moved onto the substrate support member, and the transport arm lowered to the lowered position in the contracted state is rotated until the orientation of the hand portion becomes a predetermined direction with respect to the direction of the orientation mark detected by the detection means. And a control unit that performs drive control to raise the transfer arm and move it back from the substrate support member onto the hand unit. That substrate transport apparatus.
前記制御部が、収縮した状態で前記搬送アームを回転させる駆動制御をも行い、検出手段が、該搬送アームの回転によって回転する前記半導体基板の外周縁を検出することで前記オリエンテーションマークの方向を検出可能であることを特徴とする請求項2に記載の基板搬送装置。   The control unit also performs drive control to rotate the transfer arm in a contracted state, and the detection unit detects the outer peripheral edge of the semiconductor substrate rotated by the rotation of the transfer arm, thereby changing the direction of the orientation mark. The substrate transfer apparatus according to claim 2, wherein the substrate transfer apparatus is detectable. 前記搬送アームが、水平方向に回転駆動可能な第1アームと、該第1アームの先端部に水平方向に傾動駆動可能に接続された第2アームと、該第2アームの先端部に水平方向に傾動駆動可能に接続されたハンド部とを備え、
前記検出手段が、前記オリエンテーションマークの方向の検出と共に、前記ハンド部上に載置された前記半導体基板の中心と、前記搬送アームの回転中心の延長線との水平方向のずれである半導体基板の位置ずれをも検出可能であり、
前記制御部が、前記検出手段による前記オリエンテーションマークの方向と前記基板の位置ずれの検出後に、下降位置にある前記搬送アームのハンド部を、前記半導体基板の位置ずれを是正する方向に移動させる駆動制御をも行うことを特徴とする請求項2又は3に記載の基板搬送装置。
The transfer arm has a first arm that can be driven to rotate in the horizontal direction, a second arm that is connected to the tip of the first arm so that it can be tilted in the horizontal direction, and a horizontal direction at the tip of the second arm. And a hand portion connected to be tiltably driven,
The detecting means detects a direction of the orientation mark and detects a horizontal shift between a center of the semiconductor substrate placed on the hand portion and an extension line of a rotation center of the transfer arm. It can also detect misalignment,
Drive that moves the hand portion of the transfer arm in the lowered position in a direction to correct the positional deviation of the semiconductor substrate after the control unit detects the orientation mark direction and the positional deviation of the substrate by the detecting means. 4. The substrate transfer apparatus according to claim 2, wherein control is also performed.
請求項1乃至4のいずれか1項に記載の基板搬送装置を備えた搬送室に、それぞれ基板に成膜を施す複数の成膜室が接続されていることを特徴とする基板処理装置。   5. A substrate processing apparatus, wherein a plurality of film forming chambers each for forming a film on a substrate are connected to a transfer chamber provided with the substrate transfer apparatus according to claim 1.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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