JP2010256294A - 光画像計測装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】ファイバカプラ162は低コヒーレンス光L0を信号光LSと参照光LRに分割する。信号光路には、信号光LSを被検眼Eに向けて導き、被検眼Eからの信号光LSをファイバカプラ162に導く光ファイバ165と、この信号光LSをファイバカプラ167に導く光ファイバ166が設けられる。参照光路には、参照光LRを導く光ファイバ163と、参照光LRを2回反射させるコーナーキューブ173と、参照光LRをファイバカプラ167に導く光ファイバ164と、画質向上のための分散補償部材172及び偏光補正部材174が設けられる。ファイバカプラ167は、信号光LSと参照光LRとの干渉光LCを生成する。干渉光LCの検出結果を基に断層像が形成される。
【選択図】図2
Description
[構成]
眼科装置1は、図1に示すように、眼底カメラユニット1A、OCTユニット150及び演算制御装置200を含んで構成される。眼底カメラユニット1Aは、従来の眼底カメラとほぼ同様の光学系を有する。眼底カメラは、眼底の表面を撮影して2次元画像を取得する装置である。また、眼底カメラは、眼底血管の形態の撮影に利用される。OCTユニット150は、眼底のOCT画像を取得するための光学系を格納している。演算制御装置200は、各種の演算処理や制御処理等を実行するコンピュータを具備している。
眼底カメラユニット1Aは、眼底表面の形態を表す2次元画像を形成するための光学系を有する。ここで、眼底表面の2次元画像には、眼底表面を撮影したカラー画像やモノクロ画像、更には蛍光画像(フルオレセイン蛍光画像、インドシアニングリーン蛍光画像等)などが含まれる。
次に、OCTユニット150の構成について図2を参照しつつ説明する。OCTユニット150は、低コヒーレンス光を参照光と信号光に分割し、所定の信号光路を介して被測定物体(被検眼)を経由した信号光と所定の参照光路を経由した参照光とを干渉させて干渉光を生成し、この干渉光を検出する光学系とを備えている。干渉光の検出結果(検出信号)は演算制御装置200に送られる。
演算制御装置200について説明する。演算制御装置200は、CCD184から入力される検出信号を解析して眼底EfのOCT画像を形成する。そのための演算処理は、従来のフーリエドメインタイプのOCT装置と同様である。
眼科装置1の制御系の構成について図3を参照しつつ説明する。
眼科装置1の制御系は、演算制御装置200の制御部210を中心に構成される。制御部210は、たとえば、前述のマイクロプロセッサ、RAM、ROM、ハードディスクドライブ、通信インターフェイス等を含んで構成される。
画像形成部220は、撮像装置10、12からの映像信号を受けて眼底画像Ef′の画像データを形成する。
画像処理部230は、画像形成部220により形成された画像に対して各種の画像処理や解析処理を施す。たとえば、画像処理部230は、画像の輝度補正や分散補正等の各種補正処理などを実行する。
表示部240は、ディスプレイを含んで構成される。操作部250は、キーボード、マウス、ジョイスティック、ボタン、キー、スイッチ等、各種の入力デバイスや操作デバイスを含んで構成される。
前述のように、OCTユニット150には各種の駆動機構が設けられている。光路長変更機構260は、コーナーキューブ173を参照光LRの進行方向に沿って移動させることにより、参照光LRの光路長(参照光路長)を変更する。光路長変更機構260は、この発明の「変更手段」に相当する。
ここで、信号光LSの走査及びOCT画像について説明しておく。
以上のような眼科装置1の作用及び効果について説明する。
この実施形態では、第1の実施形態よりも多い回数だけ参照光を反射させる構成の光画像計測装置を例示する。
以上に説明した構成は、この発明を好適に実施するための一例に過ぎない。よって、この発明の要旨の範囲内における任意の変形を適宜に施すことが可能である。
1A 眼底カメラユニット
141 走査ユニット
150 OCTユニット
160 低コヒーレンス光源
161、163、164、165、166、168 光ファイバ
162、167 ファイバカプラ
173、191、194,197 コーナーキューブ
172 分散補償部材
174 偏光補正部材
180 スペクトロメータ
182 回折格子
184 CCD
190 1/4波長板
192 ビームスプリッタ
193、195 シャッタ
196 濃度フィルタ
200 演算制御装置
210 制御部
220 画像形成部
230 画像処理部
240 表示部
250 操作部
260、310 光路長変更機構
270 分散補償駆動機構
280 偏光補正駆動機構
300 波長板回転機構
320 光路切替機構
330 フィルタ移動機構
Claims (7)
- 低コヒーレンス光を出力する光源と、
前記出力された低コヒーレンス光を信号光と参照光とに分割し、信号光路を介して被測定物体を経由した前記信号光と参照光路を経由した参照光とを重畳させて干渉光を生成し、前記生成された干渉光を検出して検出信号を生成する光学系と、
前記生成された検出信号に基づいて前記被測定物体の画像を形成する画像形成手段と、
を有する光画像計測装置であって、
前記光学系は、
前記光源から出力された低コヒーレンス光を導光する第1の光ファイバと、前記導光された低コヒーレンス光を信号光と参照光とに分割する第1のファイバカプラと、第2のファイバカプラとを含むとともに、
前記信号光路として、前記第1のファイバカプラに一端が接続され、前記信号光を前記被測定物体に向けて導光するとともに前記被測定物体を経由した信号光を前記第1のファイバカプラに導光する第2の光ファイバと、前記第2の光ファイバにより前記第1のファイバカプラに導光された信号光を前記第2のファイバカプラに導光する第3の光ファイバとを含み、
前記参照光路として、前記第1のファイバカプラに一端が接続され、前記参照光を導光する第4の光ファイバと、前記第4の光ファイバの他端から出射された参照光を複数回反射させる反射手段と、前記反射手段を経由した参照光を前記第2のファイバカプラに導光する第5の光ファイバと、前記第4の光ファイバと前記第5の光ファイバとの間の光路上に設けられ、前記参照光の分散特性を調整する分散調整手段及び/又は前記参照光の偏光状態を調整する偏光調整手段とを含み、
前記第2のファイバカプラは、前記第3の光ファイバにより導光された信号光と前記第5の光ファイバにより導光された参照光とを重畳させて干渉光を生成する、
ことを特徴とする光画像計測装置。 - 前記反射手段は、前記参照光を偶数回反射させる、
ことを特徴とする請求項1に記載の光画像計測装置。 - 前記反射手段は、前記参照光を分割するビームスプリッタと、該分割された一方の参照光を複数回反射させて前記ビームスプリッタに導く第1の反射部材と、他方の参照光を複数回反射させて前記ビームスプリッタに導く第2の反射部材とを含み、
前記第1の反射部材及び前記第2の反射部材は、前記一方の参照光の光路長と前記他方の参照光の光路長とが異なるように前記ビームスプリッタに対して配置され、
前記第5の光ファイバは、前記第1の反射部材を経由した前記一方の参照光及び/又は前記第2の反射部材を経由した前記他方の参照光を前記第2のファイバカプラに導光し、
前記画像形成手段は、前記一方の参照光と前記信号光との干渉光の検出信号に基づいて前記被測定物体の第1の深度の画像を形成し、前記他方の参照光と前記信号光との干渉光の検出信号に基づいて前記被測定物体の第2の深度の画像を形成する、
ことを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の光画像計測装置。 - 前記光学系は、前記反射手段を移動させて前記参照光路の光路長を変更する変更手段を含む、
ことを特徴とする請求項1〜請求項3のいずれか一項に記載の光画像計測装置。 - 前記分散調整手段は、一対のプリズムと、前記一対のプリズムを相対的に移動させる移動手段とを含む、
ことを特徴とする請求項1〜請求項4のいずれか一項に記載の光画像計測装置。 - 前記偏光調整手段は、円偏光若しくは楕円偏光を直線偏光に又は直線偏光を円偏光若しくは楕円偏光にそれぞれ変換する2つの1/4波長板と、前記2つの1/4波長板の間に配置され、前記参照光の偏光面の向きを変更する1/2波長板と、前記1/2波長板を回転させる回転手段とを含む、
ことを特徴とする請求項1〜請求項4のいずれか一項に記載の光画像計測装置。 - 前記偏光調整手段は、前記参照光の偏光状態を直線偏光に変換する偏光板と、直線偏光に変換された前記参照光を円偏光に変換する1/4波長板と、前記偏光板を回転させる回転手段とを含む、
ことを特徴とする請求項1〜請求項4のいずれか一項に記載の光画像計測装置。
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