JP2010251722A - Dicing tape, method for preventing curing inhibition of dicing tape, and ultraviolet curable adhesive for dicing tape - Google Patents

Dicing tape, method for preventing curing inhibition of dicing tape, and ultraviolet curable adhesive for dicing tape Download PDF

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a dicing tape having an adhesive layer curable by ultraviolet irradiation even under the atmosphere. <P>SOLUTION: The dicing tape is provided with an ultraviolet curable adhesive layer on an ultraviolet transmitting base film, wherein the adhesive layer contains a photopolymerization initiator, acrylic resin composition having carbon-carbon double bonds, and in addition, polythiol. The ultraviolet curable resin composition is such resin composition composed of a polymer having carbon-carbon double bonds at polymer side chains, or in main chains, or at ends of main chains, or such resin composition in which ultraviolet curable resin such as ultraviolet curable monomer or/and oligomer components are mixed in a regular adhesive. <P>COPYRIGHT: (C)2011,JPO&INPIT

Description

本発明は、半導体デバイスを製造するにあたり、半導体ウエハを半導体チップへと分割するダイシング工程において用いられるダイシングテープなどに関するものである。   The present invention relates to a dicing tape or the like used in a dicing process for dividing a semiconductor wafer into semiconductor chips when manufacturing a semiconductor device.

図２は、ダイシングテープの使用方法を説明する斜視図である。図２に示すように、リング状のフレーム９の下面と半導体ウエハ１１の下面にダイシングテープ１が貼着されており、ダイシングテープ１は、半導体ウエハ１１をフレーム９に固定している。フレーム９の内周が半導体ウエハ１１よりも大きいため、ダイシングテープ１の表面の粘着剤が、フレーム９にも半導体ウエハ１１にも覆われず、大気に露出する箇所が存在する。   FIG. 2 is a perspective view for explaining how to use the dicing tape. As shown in FIG. 2, the dicing tape 1 is attached to the lower surface of the ring-shaped frame 9 and the lower surface of the semiconductor wafer 11, and the dicing tape 1 fixes the semiconductor wafer 11 to the frame 9. Since the inner circumference of the frame 9 is larger than that of the semiconductor wafer 11, the adhesive on the surface of the dicing tape 1 is not covered by the frame 9 or the semiconductor wafer 11, and there are portions exposed to the atmosphere.

従来、ダイシングテープの粘着剤層に用いられる粘着剤は、アクリレート化合物を使用した通常のＵＶラジカル硬化系であり、大気中の酸素によって硬化阻害を受ける。つまり、大気中で硬化反応を開始しても、紫外線の照射により生じたラジカルが、大気中の酸素と反応してペルオキシラジカルを形成して失活し、硬化が不十分であった。そのため、大気中の酸素によるラジカルの失活を防ぐために、ダイシングテープの粘着剤が露出する箇所を窒素パージなどにより酸素濃度を低下させておくことが必要であった(特許文献１を参照)。また、アクリル系粘着剤を用いるダイシングテープを用いて、半導体チップのダイシング工程とピックアップ工程を行う際に、窒素パージを行いながら紫外線照射工程を行うことが知られている。(特許文献２を参照)   Conventionally, the pressure-sensitive adhesive used for the pressure-sensitive adhesive layer of the dicing tape is a normal UV radical curing system using an acrylate compound, and is subjected to curing inhibition by oxygen in the atmosphere. That is, even when the curing reaction was started in the atmosphere, radicals generated by irradiation with ultraviolet rays reacted with oxygen in the atmosphere to form peroxy radicals and deactivated, resulting in insufficient curing. For this reason, in order to prevent radical deactivation due to oxygen in the atmosphere, it is necessary to reduce the oxygen concentration in the portion of the dicing tape where the adhesive is exposed by nitrogen purge or the like (see Patent Document 1). In addition, it is known that when a dicing process and a pick-up process of a semiconductor chip are performed using a dicing tape using an acrylic adhesive, an ultraviolet irradiation process is performed while performing a nitrogen purge. (See Patent Document 2)

一方、一括封止された半導体基板は、粘着テープ貼付面となる封止樹脂面に０．４〜１５μｍ程度の粗さを持つ。このような、表面に極めて微小な凹凸を有する半導体ウエハ又は半導体基板の加工においては、従来の粘着シートでは貼付面に対する凹凸追従が十分ではないため、十分な粘着力が得られず、結果的にウエハ又は基板切断時にチップが飛んでしまい歩留まりが大幅に低下する不具合が発生する。また、飛んだチップが切断ブレードにぶつかり、ブレードを破損する不具合が発生する。この為、一括封止された半導体基板を加工するためには、粘着剤層が比較的厚く、被着体への密着性に優れたダイシングテープが用いられる。   On the other hand, the collectively sealed semiconductor substrate has a roughness of about 0.4 to 15 μm on the sealing resin surface to be the adhesive tape application surface. In such processing of semiconductor wafers or semiconductor substrates having extremely minute unevenness on the surface, the conventional adhesive sheet does not have sufficient unevenness tracking on the pasting surface, so that sufficient adhesive force cannot be obtained. When the wafer or substrate is cut, the chips fly and the yield is greatly reduced. Moreover, the chip | tip which flew hits a cutting blade, and the malfunction which damages a blade generate | occur | produces. For this reason, in order to process a batch-sealed semiconductor substrate, a dicing tape having a relatively thick adhesive layer and excellent adhesion to an adherend is used.

しかしながら、厚い粘着剤層を用いることで被着体への密着性を増し、ダイシング中のチップ飛びを防止することができる一方、チップ側面への糊の掻きあげによる糊残りが発生するという問題が生じる。この問題は、糊の掻き上げによって発生したチップ側面の糊残りがＵＶ照射によっても硬化しない場合に特に顕著となる。通常、半導体基板の加工工程においては、スループット、コスト等の問題から、ＵＶ照射時の窒素パージが行なわれることは稀であり、チップ側面に付着した糊残りはＵＶ照射を経た後も粘着性を有している。この為、チップ側面の糊残りが粘着性を有することで、検査工程における装置内や出荷時に用いられるチューブ内にチップがつまるという問題や、同様に出荷時に用いられるトレーにチップが付着し、実装工程における作業性が悪化するという問題が生じる。   However, by using a thick adhesive layer, it is possible to increase adhesion to the adherend and prevent chip skipping during dicing, while there is a problem that glue residue is generated due to glue scraping on the chip side surface. Arise. This problem is particularly noticeable when the adhesive residue on the side surface of the chip generated by the glue scraping is not cured by UV irradiation. Normally, in the processing process of a semiconductor substrate, nitrogen purge during UV irradiation is rarely performed due to problems such as throughput and cost, and the adhesive residue adhering to the side surface of the chip becomes sticky even after UV irradiation. Have. For this reason, the adhesive residue on the side of the chip is sticky, causing problems such as clogging of the chip in the equipment used in the inspection process and in the tube used at the time of shipment, as well as the chip adhering to the tray used at the time of shipment. The problem that workability | operativity in a process deteriorates arises.

この問題に対して、特許文献３に記載の発明では、（メタ）アクリル酸エステル共重合体、ビニル基を４個以上有するウレタン（メタ）アクリレートオリゴマ、ビニル基を４個以上有する放射線重合性（メタ）アクリレート単量体、及び粘着付与樹脂を含有する粘着剤を用いることで、ダイシング時の電子部品の飛散、電子部品側面への糊の掻き上げを抑制している。   With respect to this problem, in the invention described in Patent Document 3, a (meth) acrylic acid ester copolymer, a urethane (meth) acrylate oligomer having 4 or more vinyl groups, and a radiation polymerizable property having 4 or more vinyl groups ( By using a pressure-sensitive adhesive containing a (meth) acrylate monomer and a tackifying resin, scattering of electronic components during dicing and scraping of glue on the side surfaces of the electronic components are suppressed.

特開２００６−１９０９２７号公報JP 2006-190927 A 特開２００８−１９２９１７号公報JP 2008-1992917 A 特開２００７−２９１１４７号公報JP 2007-291147 A

しかしながら、ダイシングテープの粘着剤の硬化が不十分な場合、フレームを重ねた際に、ダイシングテープが他のフレームと粘着する、フレームを手で持つ際に、硬化が不十分な粘着剤表面にゴム手袋などが粘着するなど、取り扱いが不便であるという問題点があった。また、特許文献１および特許文献２に記載の発明のように、窒素パージを行いながら紫外線照射を行うことは、新たな装置の導入が必要となるという問題点があった。   However, when the adhesive of the dicing tape is insufficiently cured, the dicing tape adheres to other frames when the frames are stacked. When holding the frame by hand, the rubber on the adhesive surface is insufficiently cured. There is a problem that handling is inconvenient, such as adhesion of gloves. Further, as in the inventions described in Patent Document 1 and Patent Document 2, performing ultraviolet irradiation while performing nitrogen purge has a problem that it is necessary to introduce a new apparatus.

また、特許文献３に記載の発明においては、エポキシ樹脂などで一括封止された半導体基板をダイシングする、パッケージダイシングに使用するために粘着剤層を厚くした場合、半導体チップ（特許文献３においては電子部品）側面への糊の掻き上げを完全になくすことは困難であった。そのため、前述のような、検査工程における装置内にチップがつまるという問題点や、出荷時に用いられるトレーにチップが付着するという問題点が解消できなかった。   Further, in the invention described in Patent Document 3, when a pressure-sensitive adhesive layer is thickened for use in package dicing, a semiconductor chip (in Patent Document 3) Electronic component) It was difficult to completely eliminate the adhesive scraping on the side. For this reason, the problem that the chips are clogged in the apparatus in the inspection process and the problem that the chips adhere to the tray used at the time of shipment cannot be solved.

本発明は、前述した問題点に鑑みてなされたもので、その目的とすることは、大気下でも紫外線照射により硬化する粘着剤層を有するダイシングテープを提供することである。   The present invention has been made in view of the above-described problems, and an object of the present invention is to provide a dicing tape having an adhesive layer that is cured by irradiation with ultraviolet rays even in the atmosphere.

前述した目的を達成するための第１の発明は、紫外線透過性の基材フィルム上に紫外線硬化型の粘着剤層を有するダイシングテープであって、前記粘着剤層が、紫外線硬化型樹脂組成物とポリチオールとを含むことを特徴とするダイシングテープである。   The first invention for achieving the above-mentioned object is a dicing tape having an ultraviolet curable adhesive layer on an ultraviolet transmissive base film, wherein the adhesive layer is an ultraviolet curable resin composition. And a dithiol tape containing polythiol.

また、前記粘着剤層において、下記の式で求められる硬化率が９０％以上であることが好ましい。
硬化率＝（紫外線照射前の粘着力―大気下での紫外線照射後の粘着力）／（紫外線照射前の粘着力―非大気下での紫外線照射後の粘着力） Moreover, in the said adhesive layer, it is preferable that the hardening rate calculated | required by the following formula is 90% or more.
Curing rate = (Adhesive strength before UV irradiation-Adhesive strength after UV irradiation in the atmosphere) / (Adhesive strength before UV irradiation-Adhesive strength after UV irradiation in non-atmosphere)

また、前記粘着剤層において、前記紫外線硬化型樹脂組成物に対して、前記ポリチオールを、５重量部以上含むことが好ましい。   Moreover, it is preferable that the said adhesive layer contains 5 weight part or more of said polythiols with respect to the said ultraviolet curable resin composition.

第２の発明は、紫外線透過性の基材フィルム上に紫外線硬化型の粘着剤層が設けられているダイシングテープにおいて、前記粘着剤層にポリチオールを加え、前記粘着剤層の紫外線照射時の硬化阻害を防止することを特徴とするダイシングテープの硬化阻害防止方法である。   2nd invention adds the polythiol to the said adhesive layer in the dicing tape with which the ultraviolet curable adhesive layer is provided on the ultraviolet-ray-permeable base film, and hardening at the time of the ultraviolet irradiation of the said adhesive layer This is a method for preventing the inhibition of curing of a dicing tape, wherein the inhibition is prevented.

第３の発明は、紫外線透過性の基材フィルム上に紫外線硬化型の粘着剤層が設けられているダイシングテープにおいて、前記粘着剤層には、炭素−炭素二重結合を有する紫外線硬化型樹脂組成物と、ポリチオールを有し、大気環境下で前記粘着剤層に紫外線照射した際に生じるペルオキシラジカルと、前記ポリチオールのチオール基が反応し、ヒドロペルオキシド基とチイルラジカルを生じる反応により、前記粘着剤層の紫外線照射時の硬化阻害を防止することを特徴とするダイシングテープの硬化阻害防止方法である。   According to a third aspect of the present invention, there is provided a dicing tape in which an ultraviolet curable pressure-sensitive adhesive layer is provided on an ultraviolet transmissive base film, wherein the pressure-sensitive adhesive layer has an ultraviolet curable resin having a carbon-carbon double bond. The pressure-sensitive adhesive has a composition, a polythiol, a peroxy radical generated when the pressure-sensitive adhesive layer is irradiated with ultraviolet rays in an atmospheric environment, and a reaction of a thiol group of the polythiol to generate a hydroperoxide group and a thiyl radical. A method for preventing the inhibition of curing of a dicing tape, wherein the inhibition of curing of the layer upon irradiation with ultraviolet rays is prevented.

第４の発明は、ダイシングテープの粘着剤層に用いられる粘着剤であって、紫外線硬化型樹脂組成物と、ポリチオールを含むことを特徴とするダイシングテープ用紫外線硬化型粘着剤である。   4th invention is an adhesive used for the adhesive layer of a dicing tape, Comprising: It is an ultraviolet curable adhesive for dicing tapes characterized by including an ultraviolet curable resin composition and polythiol.

第５の発明は、紫外線透過性の基材フィルム上に紫外線硬化型の粘着剤層を有し、前記粘着剤層が紫外線硬化型樹脂組成物とポリチオールとを含み、リング状のダイシングフレームの下面に貼着されたダイシングテープに、硬化樹脂で一括封止された半導体基板の硬化樹脂面を貼着する工程（ａ）と、前記半導体基板を、硬化樹脂ごと切断し、半導体チップに個片化する工程（ｂ）と、前記ダイシングテープに紫外線を照射する工程（ｃ）と、前記半導体チップをピックアップする工程（ｄ）と、前記半導体チップをトレーに収納する工程（ｅ）と、を具備することを特徴とする一括封止された半導体基板のダイシング方法である。   5th invention has an ultraviolet curable adhesive layer on an ultraviolet-permeable base film, the said adhesive layer contains an ultraviolet curable resin composition and polythiol, and the lower surface of a ring-shaped dicing frame A step (a) of sticking a cured resin surface of a semiconductor substrate collectively sealed with a cured resin to a dicing tape adhered to the substrate, and cutting the semiconductor substrate together with the cured resin into individual chips. A step (b) of irradiating the dicing tape with ultraviolet rays (c), a step (d) of picking up the semiconductor chip, and a step (e) of storing the semiconductor chip in a tray. This is a dicing method for a semiconductor substrate that is collectively sealed.

本発明により、大気下でも紫外線照射により硬化する粘着剤層を有するダイシングテープを提供することができる。   ADVANTAGE OF THE INVENTION By this invention, the dicing tape which has an adhesive layer hardened | cured by ultraviolet irradiation even in air | atmosphere can be provided.

さらに、本発明では、粘着剤に紫外線硬化型樹脂組成物とポリチオールとを含む樹脂組成物を用いることで、電子部品の側面に糊残りが発生した場合においても、窒素パージを用いることなく、ＵＶ照射によりその粘着性を消失せしめ、検査工程、出荷工程におけるチップ詰まりや、トレーへのチップ付着を抑制することが可能である。   Furthermore, in the present invention, by using a resin composition containing an ultraviolet curable resin composition and a polythiol as an adhesive, even when adhesive residue is generated on the side surface of an electronic component, a UV purge is not used. It is possible to eliminate the adhesiveness by irradiation, and to suppress chip clogging in the inspection process and shipping process and chip adhesion to the tray.

本発明にかかるダイシングテープを示す図。The figure which shows the dicing tape concerning this invention. 本発明にかかるダイシングテープの使用方法を示す斜視図。The perspective view which shows the usage method of the dicing tape concerning this invention. 一括封止された半導体基板のダイシング工程を説明する図。The figure explaining the dicing process of the semiconductor substrate sealed collectively.

以下図面に基づいて、本発明の実施形態を詳細に説明する。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.

第１の実施形態に係るダイシングテープ１について説明する。
図１は、ダイシングテープ１を示す図である。図１（ａ）に示すように、ダイシングテープ１は、基材フィルム３の上に粘着剤層５が形成されている。 The dicing tape 1 according to the first embodiment will be described.
FIG. 1 is a view showing a dicing tape 1. As shown in FIG. 1A, the dicing tape 1 has a pressure-sensitive adhesive layer 5 formed on a base film 3.

基材フィルム３としては、特に制限されるものでなく、従来公知の基材フィルムの中から適宜選択して用いることができるが、粘着剤層５の調製に用いられる粘着剤として紫外線硬化性樹脂を用いるので、基材フィルム３は光透過性であることが必要とされる。使用する基材としてはポリエチレン、ポリプロピレン、エチレン−プロピレン共重合体、およびポリブテンのようなポリオレフィン、エチレン−酢酸ビニル共重合体、エチレン−（メタ）アクリル酸共重合体、エチレン−（メタ）アクリル酸エステル共重合体、およびエチレン−（メタ）アクリル酸金属塩系アイオノマーのようなエチレン共重合体、ポリエチレンテレフタレート、ポリブチレンテレフタレート、ポリカーボネート、ポリメタクリル酸メチル等のエンジニアリングプラスチック、軟質ポリ塩化ビニル、半硬質ポリ塩化ビニル、ポリエステル、ポリウレタン、ポリアミド、ポリイミド、天然ゴムならびに合成ゴムなどの高分子材料が好ましい。またこれらの群から選ばれる２種以上が混合されたものもしくは複層化されたものでもよく、粘着剤層との接着性によって任意に選択することができる。基材フィルムの厚さは、特に制限するものではないが、好ましくは１０〜５００μｍであり、より好ましくは４０〜４００μｍ、特に好ましくは７０〜２５０μｍである。   The base film 3 is not particularly limited, and can be appropriately selected from conventionally known base film, but can be used as an adhesive for preparing the adhesive layer 5 as an ultraviolet curable resin. Therefore, the base film 3 is required to be light transmissive. Base materials used include polyethylene, polypropylene, ethylene-propylene copolymer, and polyolefins such as polybutene, ethylene-vinyl acetate copolymer, ethylene- (meth) acrylic acid copolymer, ethylene- (meth) acrylic acid. Ester copolymers, ethylene copolymers such as ethylene- (meth) acrylic acid metal salt ionomers, engineering plastics such as polyethylene terephthalate, polybutylene terephthalate, polycarbonate, polymethyl methacrylate, soft polyvinyl chloride, semi-rigid Polymer materials such as polyvinyl chloride, polyester, polyurethane, polyamide, polyimide, natural rubber and synthetic rubber are preferred. Moreover, what mixed 2 or more types chosen from these groups, or what was multilayered may be sufficient, and it can select arbitrarily by adhesiveness with an adhesive layer. The thickness of the base film is not particularly limited, but is preferably 10 to 500 μm, more preferably 40 to 400 μm, and particularly preferably 70 to 250 μm.

粘着剤層５を構成する紫外線硬化型樹脂組成物としては、ポリ（メタ）アクリル酸アルキルエステルや（メタ）アクリル酸アルキルエステルと他のモノマーとの共重合体等を用いたアクリル系粘着剤が挙げられる。   Examples of the ultraviolet curable resin composition constituting the pressure-sensitive adhesive layer 5 include poly (meth) acrylic acid alkyl esters and acrylic pressure-sensitive adhesives using copolymers of (meth) acrylic acid alkyl esters and other monomers. Can be mentioned.

本発明における粘着剤層５は紫外線で硬化処理するようにしたものなどであって、紫外線硬化型樹脂組成物としては、炭素−炭素二重結合等の紫外線硬化性の官能基を有し、かつ粘着性を示すものを使用することができる。たとえば、紫外線硬化型樹脂組成物として、炭素−炭素二重結合をポリマー側鎖または主鎖中もしくは主鎖末端に有するものを用いる他、一般的な粘着剤に紫外線硬化性のモノマー成分やオリゴマー成分等の紫外線硬化樹脂を配合した紫外線硬化性粘着剤を例示できる。   The pressure-sensitive adhesive layer 5 in the present invention is cured by ultraviolet rays, and the ultraviolet curable resin composition has an ultraviolet curable functional group such as a carbon-carbon double bond, and What shows adhesiveness can be used. For example, as a UV curable resin composition, one having a carbon-carbon double bond in the polymer side chain or in the main chain or at the main chain terminal, or UV curable monomer component or oligomer component for general adhesive An ultraviolet curable pressure-sensitive adhesive containing an ultraviolet curable resin such as

粘着剤層５に用いる紫外線硬化型樹脂組成物は特に限定されるものではないが、例として、ウレタンアクリレート、エポキシアクリレート、ポリエステルアクリレート、ポリエーテルアクリレート、（メタ）アクリル酸オリゴマーおよびイタコン酸オリゴマーのように水酸基あるいはカルボキシル基などの官能基を有するオリゴマーを挙げることができる。   Although the ultraviolet curable resin composition used for the adhesive layer 5 is not particularly limited, examples thereof include urethane acrylate, epoxy acrylate, polyester acrylate, polyether acrylate, (meth) acrylic acid oligomer, and itaconic acid oligomer. Examples thereof include oligomers having a functional group such as a hydroxyl group or a carboxyl group.

本発明の粘着テープを紫外線照射によって硬化させる場合には、光重合開始剤、例えばイソプロピルベンゾインエーテル、イソブチルベンゾインエーテル、ベンゾフエノン、ミヒラーケトン、クロロチオキサントン、ドデシルチオキサントン、ジメチルチオキサントン、ジエチルチオキサントン、ベンジルジメチルケタノール、α−ヒドロキシシクロヘキシルフエニルケトン、２−ヒドロキシメチルフエニルプロパン等をあげることができる。これらの内の少なくとも１種を粘着剤中に添加することによって、粘着剤層５の硬化反応を効率良く進行させることができ、それによって素子固定粘着力を適度に低下させることができる。光重合開始剤の添加量は、紫外線硬化型樹脂組成物１００重量部に対して０．５〜１０重量部とするのが良い。   When the adhesive tape of the present invention is cured by ultraviolet irradiation, a photopolymerization initiator such as isopropyl benzoin ether, isobutyl benzoin ether, benzophenone, Michler ketone, chlorothioxanthone, dodecylthioxanthone, dimethylthioxanthone, diethylthioxanthone, benzyldimethylketanol, Examples thereof include α-hydroxycyclohexyl phenyl ketone and 2-hydroxymethyl phenyl propane. By adding at least one of them into the pressure-sensitive adhesive, the curing reaction of the pressure-sensitive adhesive layer 5 can be efficiently advanced, and thereby the element fixing adhesive force can be appropriately reduced. The addition amount of the photopolymerization initiator is preferably 0.5 to 10 parts by weight with respect to 100 parts by weight of the ultraviolet curable resin composition.

さらに本発明に用いられる紫外線硬化型樹脂組成物には必要に応じて粘着付与剤、粘着調整剤、界面活性剤など、あるいはその他の改質剤等を配合することができる。また、無機化合物フィラーを適宜加えてもよい。   Furthermore, the ultraviolet curable resin composition used in the present invention may contain a tackifier, a tackifier, a surfactant, or other modifiers, if necessary. Moreover, you may add an inorganic compound filler suitably.

本発明のテープにおける粘着剤層５の粘着性は、粘着材料の架橋密度を制御することにより適宜制御可能である。粘着材料の架橋密度の制御は、例えば多官能イソシアネート系化合物やエポキシ系化合物、メラミン系化合物や金属塩系化合物、金属キレート系化合物やアミノ樹脂系化合物や過酸化物などの適宜な架橋剤を介して架橋処理する方式、炭素・炭素二重結合を２個以上有する化合物を混合し、エネルギー線の照射等により架橋処理する方式などの適宜な方式で行うことができる。
粘着剤層５はダイシング中に半導体デバイスの飛散を抑制するのに十分な粘着性を有するものである。粘着剤層５の粘着力は０．１〜１．０Ｎ／ｍｍであることが好ましい。 The tackiness of the pressure-sensitive adhesive layer 5 in the tape of the present invention can be appropriately controlled by controlling the crosslinking density of the pressure-sensitive adhesive material. Control of the crosslinking density of the adhesive material can be achieved, for example, through an appropriate crosslinking agent such as a polyfunctional isocyanate compound, an epoxy compound, a melamine compound, a metal salt compound, a metal chelate compound, an amino resin compound, or a peroxide. It is possible to carry out by an appropriate method such as a method of crosslinking treatment and a method of mixing a compound having two or more carbon / carbon double bonds and crosslinking treatment by irradiation with energy rays.
The pressure-sensitive adhesive layer 5 has sufficient adhesiveness to suppress scattering of the semiconductor device during dicing. The adhesive strength of the pressure-sensitive adhesive layer 5 is preferably 0.1 to 1.0 N / mm.

粘着剤層５の厚さは特に制限されるものではないが、通常３〜８０μｍ、より好ましくは５〜５０μｍ程度である。粘着剤層５の厚さが薄すぎると半導体デバイスの保持に十分な粘着力を得ることができず、また、粘着剤層５の厚さが厚すぎると半導体デバイスの切断面の品質悪化、半導体デバイス側面への糊残りといった問題が生じる。また、ダイシングテープ１を一括封止された半導体基板の硬化樹脂面に粘着する場合には、粘着剤層５の厚さは１０〜３０μｍであることが好ましい。   The thickness of the pressure-sensitive adhesive layer 5 is not particularly limited, but is usually 3 to 80 μm, more preferably about 5 to 50 μm. If the thickness of the pressure-sensitive adhesive layer 5 is too thin, it is not possible to obtain a sufficient adhesive force for holding the semiconductor device. If the thickness of the pressure-sensitive adhesive layer 5 is too thick, the quality of the cut surface of the semiconductor device is deteriorated. Problems such as adhesive residue on the side of the device arise. Moreover, when the dicing tape 1 is adhered to the cured resin surface of the semiconductor substrate that is collectively sealed, the thickness of the pressure-sensitive adhesive layer 5 is preferably 10 to 30 μm.

粘着剤層５には、紫外線硬化型樹脂組成物のほかに、ポリチオールを含んでいる。ポリチオールは、特に制限されるものではないが、以下に挙げるポリチオールを用いることができる。紫外線硬化型樹脂組成物とポリチオールの配合比は、加えるポリチオールの種類により異なるが、紫外線硬化型樹脂組成物１００重量部に対してポリチオールは２〜２０重量部、さらに好ましくは２．５〜１０重量部の範囲の量で用いられることが好ましい。なお、ポリチオールが１分子内にチオール基を３個以上有すると、大気下での紫外線照射により粘着剤層がより硬化しやすく、好ましい。   The pressure-sensitive adhesive layer 5 contains polythiol in addition to the ultraviolet curable resin composition. The polythiol is not particularly limited, but the following polythiols can be used. The blending ratio of the ultraviolet curable resin composition and the polythiol varies depending on the type of polythiol to be added, but the polythiol is 2 to 20 parts by weight, more preferably 2.5 to 10 parts by weight with respect to 100 parts by weight of the ultraviolet curable resin composition. It is preferably used in an amount in the range of parts. In addition, when polythiol has three or more thiol groups in 1 molecule, an adhesive layer is easy to harden | cure by the ultraviolet irradiation in air | atmosphere, and is preferable.

ポリチオールの例として、次式で表されるペンタエリスリトールテトラキス（３−メルカプトブチレート）を用いることができる。本物質は、昭和電工株式会社より、カレンズＭＴ（登録商標） ＰＥ１として販売されている。   As an example of polythiol, pentaerythritol tetrakis (3-mercaptobutyrate) represented by the following formula can be used. This substance is sold as Karenz MT (registered trademark) PE1 by Showa Denko KK.

Figure 2010251722
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ポリチオールの他の例として、次式で表される１，３，５−トリス（３−メルカブトブチルオキシエチル）−１，３，５−トリアジン−２，４，６（１Ｈ，３Ｈ，５Ｈ）−トリオンを用いることができる。本物質は、昭和電工株式会社より、カレンズＭＴ（登録商標） ＮＲ１として販売されている。   As another example of polythiol, 1,3,5-tris (3-mercaptobutyloxyethyl) -1,3,5-triazine-2,4,6 (1H, 3H, 5H) represented by the following formula: -Trions can be used. This substance is sold as Karenz MT (registered trademark) NR1 by Showa Denko KK.

Figure 2010251722
Figure 2010251722

ポリチオールの他の例として、次式で表されるトリメチロールプロパントリス（３−メルカプトプロピオネート）を用いることができる。本物質は、堺化学工業株式会社より、ＴＭＭＰとして販売されている。   As another example of polythiol, trimethylolpropane tris (3-mercaptopropionate) represented by the following formula can be used. This substance is sold as TMMP by Sakai Chemical Industry Co., Ltd.

Figure 2010251722
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ポリチオールの他の例として、次式で表されるペンタエリスリトールテトラキス（３−メルカプトプロピオネート）を用いることができる。本物質は、堺化学工業株式会社より、ＰＥＭＰとして販売されている。   As another example of polythiol, pentaerythritol tetrakis (3-mercaptopropionate) represented by the following formula can be used. This substance is sold as PEMP by Sakai Chemical Industry Co., Ltd.

Figure 2010251722
Figure 2010251722

ポリチオールの他の例として、次式で表されるジペンタエリスリトールヘキサキス（３−メルカプトプロピオネート）を用いることができる。本物質は、堺化学工業株式会社より、ＤＰＭＰとして販売されている。   As another example of polythiol, dipentaerythritol hexakis (3-mercaptopropionate) represented by the following formula can be used. This substance is sold as DPMP by Sakai Chemical Industry Co., Ltd.

Figure 2010251722
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ポリチオールの他の例として、次式で表されるトリス［（３−メルカプトプロピオニロキシ）−エチル］イソシアヌレートを用いることができる。本物質は、堺化学工業株式会社より、ＴＥＭＰＩＣとして販売されている。   As another example of polythiol, tris [(3-mercaptopropionyloxy) -ethyl] isocyanurate represented by the following formula can be used. This substance is sold as TEMPIC by Sakai Chemical Industry Co., Ltd.

Figure 2010251722
Figure 2010251722

ポリチオールが、粘着剤層５を硬化する、エン／チオール硬化系は、次式のような素反応をベースとしている。次式で示すとおり、通常のアクリレート硬化系と同じくラジカルを介する反応である。チオール基由来のチイルラジカルが発生し、チイルラジカルが炭素−炭素二重結合に付加反応しスルフィド結合が生成する。ポリチオールは一分子内に複数のチオール基を有するため、ポリチオールがポリマー間を架橋し、粘着剤が三次元網目構造を形成し、硬化する。   The ene / thiol curing system in which polythiol cures the pressure-sensitive adhesive layer 5 is based on an elementary reaction of the following formula: As shown by the following formula, it is a reaction via radicals as in the case of a normal acrylate curing system. A thiol radical derived from a thiol group is generated, and the thiyl radical undergoes an addition reaction with a carbon-carbon double bond to form a sulfide bond. Since polythiol has a plurality of thiol groups in one molecule, the polythiol crosslinks between the polymers, and the pressure-sensitive adhesive forms a three-dimensional network structure and is cured.

Figure 2010251722
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さらに、ポリチオールは、次式で示すような反応により、酸素存在下での粘着剤の硬化を阻害する硬化阻害を防止することができる。まず、炭素ラジカルが酸素と反応すると、ペルオキシラジカル（過酸化物ラジカル）が生じる。ペルオキシラジカルは、比較的安定しているため、紫外線の照射により生じたラジカルが、ペルオキシラジカルを形成することで、重合反応に参加しなくなり、反応が停止する。しかしながら、ペルオキシラジカルは、チオール化合物と反応することにより、活性なチイルラジカルを生成するため、紫外線の照射により生じたラジカルを失活することが無くなり、重合反応は継続する。   Furthermore, the polythiol can prevent curing inhibition that inhibits curing of the pressure-sensitive adhesive in the presence of oxygen by a reaction represented by the following formula. First, when a carbon radical reacts with oxygen, a peroxy radical (peroxide radical) is generated. Since peroxy radicals are relatively stable, radicals generated by irradiation with ultraviolet rays form peroxy radicals so that they do not participate in the polymerization reaction and the reaction stops. However, since peroxy radicals react with thiol compounds to generate active thiyl radicals, radicals generated by ultraviolet irradiation are not deactivated, and the polymerization reaction continues.

Figure 2010251722
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さらに、図１（ｂ）に示すように、セパレーター７を粘着剤層５の上に設けてもよい。セパレーターとしては、ポリエチレンテレフタレート(ＰＥＴ)系、ポリエチレン系、その他剥離処理フィルム等の周知のセパレーターを用いることができる。   Furthermore, a separator 7 may be provided on the pressure-sensitive adhesive layer 5 as shown in FIG. As the separator, known separators such as polyethylene terephthalate (PET), polyethylene, and other release-treated films can be used.

また、ダイシングテープ１を用いて、硬化樹脂により一括封止された半導体基板のダイシングする工程を説明する。図３は、一括封止された半導体基板のダイシング工程を説明する図である。図３（ａ）に示すように、半田ボール１７を搭載し、硬化樹脂１５で一括封止された半導体基板１３は、硬化樹脂１５の面でダイシングテープ１の粘着剤層５と接着する。続いて、図３（ｂ）に示すように、ダイシングブレード１９により硬化樹脂１５ごと半導体基板１３を切断し、図３（ｃ）に示すように、半導体チップ２３を形成する。この際、ダイシングブレード１９により粘着剤層５由来の粘着剤（糊）が掻きあがられ、半導体チップ２３の側面に糊が付着して糊残り２１が発生することがある。続いて、図３（ｄ）に示すように、ダイシングテープ１の半導体チップ２３が接着されていない面から紫外線２５を照射し、粘着剤層５を硬化する。この際、半導体チップ２３の側面に付着した糊残り２１は、大気と触れているが、粘着剤層５の粘着剤にはポリチオールが含まれているため、糊残り２１は大気下であっても硬化する。続いて、図３（ｅ）に示すように、ピックアップピン２７で半導体チップ２３を突き上げ、ピックアップを行う。続いて、図３（ｆ）に示すように、トレー２９に半導体チップ２３を収納する際、半導体チップ２３の側面に付着した糊残り２１が、半導体チップ２３に付着したままであっても、糊残り２１は粘着性を失っているので、トレー２９に付着せず、作業性は良好である。   In addition, a process of dicing a semiconductor substrate collectively sealed with a cured resin using the dicing tape 1 will be described. FIG. 3 is a diagram illustrating a dicing process for a semiconductor substrate that is collectively sealed. As shown in FIG. 3A, the semiconductor substrate 13 on which the solder balls 17 are mounted and collectively sealed with the cured resin 15 is bonded to the adhesive layer 5 of the dicing tape 1 on the surface of the cured resin 15. Subsequently, as shown in FIG. 3B, the semiconductor substrate 13 together with the cured resin 15 is cut by a dicing blade 19 to form a semiconductor chip 23 as shown in FIG. At this time, the pressure-sensitive adhesive (glue) derived from the pressure-sensitive adhesive layer 5 is scraped off by the dicing blade 19, and glue may adhere to the side surface of the semiconductor chip 23 to generate a glue residue 21. Subsequently, as shown in FIG. 3D, the pressure-sensitive adhesive layer 5 is cured by irradiating the ultraviolet ray 25 from the surface of the dicing tape 1 where the semiconductor chip 23 is not bonded. At this time, the adhesive residue 21 adhering to the side surface of the semiconductor chip 23 is in contact with the atmosphere. However, since the adhesive of the adhesive layer 5 contains polythiol, the adhesive residue 21 may be in the atmosphere. Harden. Subsequently, as shown in FIG. 3E, the semiconductor chip 23 is pushed up by the pickup pins 27 to perform pickup. Subsequently, as shown in FIG. 3 (f), when the semiconductor chip 23 is stored in the tray 29, the glue residue 21 attached to the side surface of the semiconductor chip 23 remains attached to the semiconductor chip 23. Since the remaining 21 has lost its adhesiveness, it does not adhere to the tray 29 and the workability is good.

以上、添付図面を参照しながら、本発明にかかるダイシングテープの好適な実施形態について説明したが、本発明は係る例に限定されない。当業者であれば、本願で開示した技術的思想の範疇内において、各種の変更例または修正例に想到しえることは明らかであり、それらについても当然に本発明の技術的範囲に属するものと了解される。   As mentioned above, although preferred embodiment of the dicing tape concerning this invention was described referring an accompanying drawing, this invention is not limited to the example which concerns. It will be apparent to those skilled in the art that various changes and modifications can be made within the scope of the technical idea disclosed in the present application, and these are naturally within the technical scope of the present invention. Understood.

以下、本発明について実施例および比較例を用いて具体的に説明する。各実施例および比較例は、基材フィルム上に各種粘着剤層組成物を乾燥膜厚が所定の厚さになるように塗工し、８０℃で５分間乾燥したのち、粘着剤組成物面にセパレーターとして離型処理の施された、厚み３８μｍのポリエチレンテレフタレートフィルムを張り合わせることで、ダイシングテープを作製した。   Hereinafter, the present invention will be specifically described using examples and comparative examples. In each example and comparative example, various pressure-sensitive adhesive layer compositions were coated on a base film so that the dry film thickness was a predetermined thickness, dried at 80 ° C. for 5 minutes, and then the pressure-sensitive adhesive composition surface. A dicing tape was prepared by laminating a polyethylene terephthalate film having a thickness of 38 μm, which was subjected to a release treatment as a separator.

基材フィルムとして、厚さ１００μｍのポリプロピレンのフィルムを用いた。   A polypropylene film having a thickness of 100 μm was used as the base film.

粘着剤層組成物として、以下の組成の組成物を使用した。
粘着剤組成物（Ａ）
エチルアクリレート（７４ｍｏｌ％）、２−ヒドロキシエチルアクリレート（２５ｍｏｌ％）、メタクリル酸（１ｍｏｌ％）の共重合体に、光重合性炭素―炭素二重結合および官能基を有する化合物として、２−ヒドロキシエチルメタクリレート、重合禁止材としてハイドロキノンを適宜滴下量を調整して加え反応温度および反応時間を調整して、光重合性炭素−炭素二重結合を有する化合物を得た。この化合物１００重量部に対して、光重合開始剤（日本チバガイギー社製、商品名「イルガキュアー１８４」）を０．５重量部、ポリイソシアネートとして日本ポリウレタン社製コロネートＬを０．５重量部添加した。 As the pressure-sensitive adhesive layer composition, a composition having the following composition was used.
Adhesive composition (A)
As a compound having a photopolymerizable carbon-carbon double bond and a functional group on a copolymer of ethyl acrylate (74 mol%), 2-hydroxyethyl acrylate (25 mol%) and methacrylic acid (1 mol%), 2-hydroxyethyl A compound having a photopolymerizable carbon-carbon double bond was obtained by adjusting the dropwise addition of hydroquinone as a methacrylate and polymerization inhibitor and adjusting the reaction temperature and reaction time. To 100 parts by weight of this compound, 0.5 part by weight of a photopolymerization initiator (manufactured by Ciba Geigy Japan, trade name “Irgacure 184”) and 0.5 part by weight of Coronate L from Nippon Polyurethane as polyisocyanate are added. did.

［実施例１］
粘着剤組成物（Ａ）１００重量部に、ポリチオールとして、昭和電工株式会社製カレンズＭＴ（登録商標）ＰＥ１を５重量部加えた粘着剤層組成物を用いてダイシングテープを作製した。 [Example 1]
A dicing tape was produced using a pressure-sensitive adhesive layer composition obtained by adding 5 parts by weight of Karenz MT (registered trademark) PE1 manufactured by Showa Denko KK as polythiol to 100 parts by weight of the pressure-sensitive adhesive composition (A).

［実施例２］
粘着剤組成物（Ａ）１００重量部に、ポリチオールとして、昭和電工株式会社製カレンズＭＴ（登録商標）ＮＲ１を５重量部加えた粘着剤層組成物を用いてダイシングテープを作製した。 [Example 2]
A dicing tape was prepared using a pressure-sensitive adhesive layer composition obtained by adding 5 parts by weight of Karenz MT (registered trademark) NR1 manufactured by Showa Denko KK as polythiol to 100 parts by weight of the pressure-sensitive adhesive composition (A).

［実施例３］
粘着剤組成物（Ａ）１００重量部に、ポリチオールとして、堺化学工業株式会社製ＴＭＭＰを５重量部加えた粘着剤層組成物を用いてダイシングテープを作製した。 [Example 3]
A dicing tape was produced using a pressure-sensitive adhesive layer composition obtained by adding 5 parts by weight of TMMP manufactured by Sakai Chemical Industry Co., Ltd. as polythiol to 100 parts by weight of the pressure-sensitive adhesive composition (A).

［実施例４］
粘着剤組成物（Ａ）１００重量部に、ポリチオールとして、堺化学工業株式会社製ＰＥＭＰを５重量部加えた粘着剤層組成物を用いてダイシングテープを作製した。 [Example 4]
A dicing tape was prepared using a pressure-sensitive adhesive layer composition obtained by adding 5 parts by weight of PEMP manufactured by Sakai Chemical Industry Co., Ltd. as polythiol to 100 parts by weight of the pressure-sensitive adhesive composition (A).

［実施例５］
粘着剤組成物（Ａ）１００重量部に、ポリチオールとして、堺化学工業株式会社製ＤＰＭＰを５重量部加えた粘着剤層組成物を用いてダイシングテープを作製した。 [Example 5]
A dicing tape was prepared using a pressure-sensitive adhesive layer composition obtained by adding 5 parts by weight of DPMP manufactured by Sakai Chemical Industry Co., Ltd. as polythiol to 100 parts by weight of the pressure-sensitive adhesive composition (A).

［実施例６］
粘着剤組成物（Ａ）１００重量部に、ポリチオールとして、堺化学工業株式会社製ＴＥＭＰＩＣを５重量部加えた粘着剤層組成物を用いてダイシングテープを作製した。 [Example 6]
A dicing tape was prepared using a pressure-sensitive adhesive layer composition obtained by adding 5 parts by weight of TEMPIC manufactured by Sakai Chemical Industry Co., Ltd. as polythiol to 100 parts by weight of the pressure-sensitive adhesive composition (A).

［比較例１］
粘着剤組成物（Ａ）にポリチオールを加えずにダイシングテープを作製した。 [Comparative Example 1]
A dicing tape was prepared without adding polythiol to the pressure-sensitive adhesive composition (A).

粘着剤層組成物として、以下の組成の組成物を使用した。
粘着剤組成物（Ｂ）
ｎ−ブチルアクリレート（６０ｍｏｌ％）、メチルメタクリレート（１２ｍｏｌ％）、メタクリル酸（２ｍｏｌ％）、２−ヒドロキシエチルアクリレート（２６ｍｏｌ％）の共重合体１００重量部に、放射線硬化性オリゴマー（根上工業株式会社製、商品名「ＵＮ−３３２０ＨＡ」）を１００重量部、さらに、光重合開始剤（日本チバガイギー社製、商品名「イルガキュアー１８４」）を０．５重量部、ポリイソシアネート（日本ポリウレタン社製、商品名「コロネートＬ」）を０．５重量部配合し、粘着剤組成物（Ｂ）を調整した。 As the pressure-sensitive adhesive layer composition, a composition having the following composition was used.
Adhesive composition (B)
A radiation curable oligomer (Negami Kogyo Co., Ltd.) was added to 100 parts by weight of a copolymer of n-butyl acrylate (60 mol%), methyl methacrylate (12 mol%), methacrylic acid (2 mol%), and 2-hydroxyethyl acrylate (26 mol%). 100 parts by weight of a product name “UN-3320HA”, 0.5 parts by weight of a photopolymerization initiator (manufactured by Ciba Geigy Japan, trade name “Irgacure 184”), polyisocyanate (manufactured by Nippon Polyurethane Co., Ltd., 0.5 parts by weight of trade name “Coronate L”) was blended to prepare an adhesive composition (B).

［実施例７］
粘着剤組成物（Ｂ）１００重量部に、ポリチオールとして、堺化学工業株式会社製ＰＥＭＰを２．５重量部加えた粘着剤層組成物を用いてダイシングテープを作製した。 [Example 7]
A dicing tape was produced using a pressure-sensitive adhesive layer composition obtained by adding 2.5 parts by weight of PEMP manufactured by Sakai Chemical Industry Co., Ltd. as polythiol to 100 parts by weight of the pressure-sensitive adhesive composition (B).

［実施例８］
粘着剤組成物（Ｂ）１００重量部に、ポリチオールとして、堺化学工業株式会社製ＰＥＭＰを５重量部加えた粘着剤層組成物を用いてダイシングテープを作製した。 [Example 8]
A dicing tape was produced using a pressure-sensitive adhesive layer composition obtained by adding 5 parts by weight of PEMP manufactured by Sakai Chemical Industry Co., Ltd. as polythiol to 100 parts by weight of the pressure-sensitive adhesive composition (B).

［実施例９］
粘着剤組成物（Ｂ）１００重量部に、ポリチオールとして、堺化学工業株式会社製ＰＥＭＰを１０重量部加えた粘着剤層組成物を用いてダイシングテープを作製した。 [Example 9]
A dicing tape was prepared using a pressure-sensitive adhesive layer composition obtained by adding 10 parts by weight of PEMP manufactured by Sakai Chemical Industry Co., Ltd. as polythiol to 100 parts by weight of the pressure-sensitive adhesive composition (B).

［比較例２］
粘着剤組成物（Ｂ）に、ポリチオールを加えずにダイシングテープを作製した。 [Comparative Example 2]
A dicing tape was prepared without adding polythiol to the pressure-sensitive adhesive composition (B).

＜試験＞
表１、表２に示す実施例１〜９、比較例１〜２のダイシングテープについて、プローブタック法にて粘着剤層の粘着力を測定した。その後、これらのダイシングテープに、一部のセパレーターを残した状態で、大気下で基材フィルム側より約１５０ｍＪ／ｃｍ２の照射量で紫外線を照射した。その後、セパレーターを全て剥がし、紫外線照射時に、セパレーターを剥がしていた箇所とセパレーターを残していた箇所のそれぞれの粘着剤層の粘着力をプローブタック法にて測定した。その結果を表１、表２に示す。 <Test>
For the dicing tapes of Examples 1 to 9 and Comparative Examples 1 and 2 shown in Tables 1 and 2, the adhesive strength of the adhesive layer was measured by the probe tack method. Thereafter, ultraviolet rays were irradiated from the base film side with an irradiation dose of about 150 mJ / cm 2 in the air with some separators left on these dicing tapes. Thereafter, all the separators were peeled off, and the adhesive strength of each pressure-sensitive adhesive layer at the place where the separator was peeled off and the place where the separator was left was measured by the probe tack method at the time of ultraviolet irradiation. The results are shown in Tables 1 and 2.

（プローブタック法）
プローブタック法による粘着力の測定は、株式会社レスカのタッキング試験機ＴＡＣ−ＩＩを用いて行った。測定モードは、設定した加圧値までプローブを押し込み、設定した時間が経過するまで加圧値を保持するようにコントロールし続けるＣｏｎｓｔａｎｔ Ｌｏａｄを用いた。ダイシングテープの粘着剤層を上にし、上側より直径３．０ｍｍのＳＵＳ３０４製のプローブを接触させる。このとき、プローブを測定試料に接触させる時のスピードは３０ｍｍ／ｍｉｎであり、接触荷重は１００ｇｆであり、接触時間は１秒である。その後、プローブを６００ｍｍ／ｍｉｎの剥離速度で上方に引き剥がし、引き剥がすのに要する力を測定する。プローブ温度は２３℃であり、プレート温度は２３℃である。 (Probe tack method)
The measurement of the adhesive force by the probe tack method was performed using a tacking tester TAC-II manufactured by Resuka Co., Ltd. As the measurement mode, Constant Load was used in which the probe was pushed down to the set pressure value and kept controlled until the set time passed. With the adhesive layer of the dicing tape facing up, a probe made of SUS304 having a diameter of 3.0 mm is brought into contact from the upper side. At this time, the speed at which the probe is brought into contact with the measurement sample is 30 mm / min, the contact load is 100 gf, and the contact time is 1 second. Thereafter, the probe is peeled upward at a peeling speed of 600 mm / min, and the force required for peeling is measured. The probe temperature is 23 ° C and the plate temperature is 23 ° C.

（硬化率の算出）
下記の式に従って、硬化率を算出した。硬化率は、大気下での粘着剤層の硬化と、非大気下での粘着剤層の硬化を比べる指標で、値が高いほど、酸素硬化阻害防止効果がある。なお、硬化率算出時の「大気下での紫外線照射後の粘着力」は、セパレーターを剥がしていた箇所の粘着力を用い、「非大気下での紫外線照射後の粘着力」は、セパレーターを残していた箇所の粘着力を用いる。
硬化率＝（紫外線照射前の粘着力―大気下での紫外線照射後の粘着力）／（紫外線照射前の粘着力―非大気下での紫外線照射後の粘着力） (Calculation of curing rate)
The curing rate was calculated according to the following formula. The curing rate is an index comparing the curing of the pressure-sensitive adhesive layer in the atmosphere with the curing of the pressure-sensitive adhesive layer in a non-atmosphere. The higher the value, the more effective the oxygen curing inhibition prevention. In addition, the “adhesive strength after UV irradiation in the atmosphere” at the time of curing rate calculation uses the adhesive strength of the part where the separator was peeled off, and the “adhesive strength after UV irradiation in non-atmosphere” Use the adhesive strength of the remaining part.
Curing rate = (Adhesive strength before UV irradiation-Adhesive strength after UV irradiation in the atmosphere) / (Adhesive strength before UV irradiation-Adhesive strength after UV irradiation in non-atmosphere)

Figure 2010251722
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Figure 2010251722
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表１によると、比較例１においては、大気下と非大気下で紫外線照射後の粘着力の差が大きく、酸素効果阻害の影響を受けていることがわかる。一方、実施例１〜６は、硬化率が９０％を超えており、大気下においても非大気下と同様に硬化している。   According to Table 1, in Comparative Example 1, it can be seen that there is a large difference in adhesive strength after irradiation with ultraviolet light in the atmosphere and in the non-atmosphere, which is influenced by the oxygen effect inhibition. On the other hand, Examples 1 to 6 have a curing rate exceeding 90%, and are cured in the same manner as in the non-atmosphere.

表２によると、ＰＥＭＰを添加しない比較例２においては硬化率が８３％であったが、ＰＥＭＰを２．５重量部添加した実施例７においては硬化率が９１％となり、ＰＥＭＰを５重量部添加した実施例８においては硬化率が９９％まで上昇した。一方、ＰＥＭＰを１０重量部添加した実施例９においては、硬化率は実施例８とほとんど変わらなかった。   According to Table 2, the curing rate was 83% in Comparative Example 2 in which no PEMP was added, but in Example 7 in which 2.5 parts by weight of PMP was added, the curing rate was 91%, and 5 parts by weight of PEMP. In the added Example 8, the curing rate increased to 99%. On the other hand, in Example 9 to which 10 parts by weight of PEMP was added, the curing rate was almost the same as in Example 8.

粘着剤層組成物として、以下の組成の組成物を使用した。
粘着剤組成物（Ｃ）
ｎ−ブチルアクリレート（７４ｍｏｌ％）、２−ヒドロキシエチルアクリレート（２５ｍｏｌ％）、メタクリル酸（１ｍｏｌ％）の共重合体に、光重合性炭素―炭素二重結合および官能基を有する化合物として、２−ヒドロキシエチルメタクリレート、重合禁止材としてハイドロキノンを適宜滴下量を調整して加え反応温度および反応時間を調整して、光重合性炭素−炭素二重結合を有する化合物を得た。この化合物１００重量部に対して、光重合開始剤（日本チバガイギー社製、商品名「イルガキュアー１８４」）を０．５重量部、ポリイソシアネートとして日本ポリウレタン社製コロネートＬを０．２重量部添加した。 As the pressure-sensitive adhesive layer composition, a composition having the following composition was used.
Adhesive composition (C)
As a compound having a photopolymerizable carbon-carbon double bond and a functional group on a copolymer of n-butyl acrylate (74 mol%), 2-hydroxyethyl acrylate (25 mol%) and methacrylic acid (1 mol%), 2- Hydroquinone as a hydroxyethyl methacrylate and a polymerization inhibitor was appropriately adjusted in a dropping amount, and the reaction temperature and reaction time were adjusted to obtain a compound having a photopolymerizable carbon-carbon double bond. 0.5 parts by weight of a photopolymerization initiator (manufactured by Ciba Geigy Japan, trade name “Irgacure 184”) and 0.2 parts by weight of Coronate L from Nippon Polyurethane as polyisocyanate are added to 100 parts by weight of this compound. did.

［実施例１０］
粘着剤組成物（Ｃ）１００重量部に、ポリチオールとして、昭和電工株式会社製カレンズＭＴ（登録商標）ＰＥ１を５重量部加えた粘着剤層組成物を用いて、粘着剤層の厚みが１０μｍのダイシングテープを作製した。 [Example 10]
Using a pressure-sensitive adhesive layer composition obtained by adding 5 parts by weight of Karenz MT (registered trademark) PE1 manufactured by Showa Denko KK as polythiol to 100 parts by weight of the pressure-sensitive adhesive composition (C), the thickness of the pressure-sensitive adhesive layer is 10 μm. A dicing tape was produced.

［実施例１１］
粘着剤層の厚みを３０μｍとした以外は、実施例１０と同様にダイシングテープを作製した。 [Example 11]
A dicing tape was produced in the same manner as in Example 10 except that the thickness of the pressure-sensitive adhesive layer was 30 μm.

［実施例１２］
粘着剤組成物（Ｃ）１００重量部に、ポリチオールとして、堺化学工業株式会社製ＰＥＭＰを５重量部加えた粘着剤層組成物を用いて、粘着剤層の厚みが２０μｍのダイシングテープを作製した。 [Example 12]
Using a pressure-sensitive adhesive layer composition in which 5 parts by weight of PEMP manufactured by Sakai Chemical Industry Co., Ltd. was added as polythiol to 100 parts by weight of the pressure-sensitive adhesive composition (C), a dicing tape having a thickness of 20 μm was prepared. .

［実施例１３］
粘着剤組成物（Ｃ）１００重量部に、ポリチオールとして、堺化学工業株式会社製ＴＥＭＰＩＣを５重量部加えた粘着剤層組成物を用いて、粘着剤層の厚みが２０μｍのダイシングテープを作製した。 [Example 13]
Using a pressure-sensitive adhesive layer composition in which 5 parts by weight of TEMPIC manufactured by Sakai Chemical Industry Co., Ltd. was added as a polythiol to 100 parts by weight of the pressure-sensitive adhesive composition (C), a dicing tape having a pressure-sensitive adhesive layer thickness of 20 μm was produced. .

［比較例３］
粘着剤組成物（Ｃ）にポリチオールを加えずに、粘着剤層の厚みが２０μｍのダイシングテープを作製した。 [Comparative Example 3]
A dicing tape having a pressure-sensitive adhesive layer thickness of 20 μm was prepared without adding polythiol to the pressure-sensitive adhesive composition (C).

［比較例４］
粘着剤層の厚みを７μｍとした以外は、実施例１０と同様にダイシングテープを作製した。 [Comparative Example 4]
A dicing tape was produced in the same manner as in Example 10 except that the thickness of the pressure-sensitive adhesive layer was 7 μm.

［比較例５］
粘着剤層の厚みを３５μｍとした以外は、実施例１０と同様にダイシングテープを作製した。 [Comparative Example 5]
A dicing tape was produced in the same manner as in Example 10 except that the thickness of the pressure-sensitive adhesive layer was 35 μm.

＜試験工程＞
パッケージ成形用モールド樹脂によりモールドした半導体部材（５０ｍｍ×５０ｍｍ）の硬化樹脂面に、各例のダイシングテープを粘着剤層を介して貼着すると共に、リングフレームに固定した。ダイシングテープの貼付け後、３０分放置した後、下記の条件で３ｍｍ×３ｍｍにダイシングした。
ダイシングブレード：ディスコ社ＮＢＣ−ＺＢ１０１０Ｓ３
ブレード送り速度：５０ｍｍ／ｓｅｃ
ブレード回転数：４００００ｒｐｍ
粘着テープへの切り込み量：１００μｍ
この際のチップ飛びを下記の要領に従って評価した。 <Test process>
A dicing tape of each example was stuck to a cured resin surface of a semiconductor member (50 mm × 50 mm) molded with a package molding mold resin via an adhesive layer and fixed to a ring frame. After pasting the dicing tape, it was allowed to stand for 30 minutes and then diced to 3 mm × 3 mm under the following conditions.
Dicing blade: Disco NBC-ZB1010S3
Blade feed rate: 50mm / sec
Blade rotation speed: 40000 rpm
Cut depth to adhesive tape: 100 μm
The chip jump at this time was evaluated according to the following procedure.

次に、粘着テープの基材フィルム側から、窒素パージをすることなく、紫外線を２００ｍＪ／ｍｍ２照射して粘着剤層を硬化させた後、個片化した半導体部材をピックアップ、ＡＢＳ樹脂製のチップトレーに収納することで、２５６個の半導体部材を得た。 Next, from the base film side of the pressure-sensitive adhesive tape, the pressure-sensitive adhesive layer was cured by irradiating ultraviolet rays at 200 mJ / mm 2 without purging with nitrogen, and then the separated semiconductor member was picked up and made of ABS resin. By accommodating the chip tray, 256 semiconductor members were obtained.

ピックアップした半導体部材について、下記の要領にしたがって評価した。
ピン本数：１本
ピン先端形状：２５０μｍＲ
ピンハイト設定値：５００μｍ
（ピンハイトとはダイシングテープを突き上げピンにて押し上げる高さを指す） The picked-up semiconductor member was evaluated according to the following procedure.
Number of pins: 1 Pin tip shape: 250 μmR
Pin height setting value: 500 μm
(Pin height refers to the height at which the dicing tape is pushed up by the pin)

＜チップ飛び＞
ダイシング時において、ダイシングテープから剥離したチップの数をカウントし、チップ飛びの評価とした。 <Chip fly>
At the time of dicing, the number of chips peeled from the dicing tape was counted to evaluate chip skipping.

＜ピックアップミス＞
ピックアップ工程において、ピンによる突き上げを行なった後もダイシングテープから剥離できず、ピックアップされなかったチップの数をカウントしピックアップミスの評価とした。 <Pickup mistake>
In the pick-up process, the number of chips that could not be peeled off from the dicing tape even after being pushed up by the pins and was not picked up was counted as an evaluation of pick-up error.

＜トレー付着＞
ピックアップした半導体部材がＡＢＳ樹脂製のトレーに付着し、トレーを逆さにしても落下しないチップの数をカウントし、トレー付着の評価とした。 <Tray attachment>
The picked-up semiconductor member adhered to the ABS resin tray, and the number of chips that did not fall even when the tray was inverted was counted to evaluate the tray adhesion.

Figure 2010251722
Figure 2010251722

表３によると実施例１０〜１３では、チップ飛び、ピックアップミス、トレー付着共に発生せず、良好な結果である。一方、比較例３は大気下と非大気下で紫外線照射後のタック力の差が大きく、酸素による硬化阻害が発生しており、２５６個中２３個のチップでトレー付着が発生した。比較例４ではトレー付着こそないものの、ダイシング中に２個のチップ飛びが発生し、被着体への密着が不十分である。また、比較例５ではチップ飛び、トレー付着はないものの、僅かながらピックアップミスが発生した。   According to Table 3, in Examples 10 to 13, no chip fly, pickup error, or tray adhesion occurred, and the results were satisfactory. On the other hand, in Comparative Example 3, the difference in tack force after irradiation with ultraviolet rays was large in the atmosphere and in the non-atmosphere, and the inhibition of curing due to oxygen occurred. Tray adhesion occurred on 23 of 256 chips. In Comparative Example 4, although there is no tray adhesion, two chip jumps occur during dicing, and adhesion to the adherend is insufficient. Further, in Comparative Example 5, although there was no chip jump and no tray adhered, a slight pickup error occurred.

１………ダイシングテープ
３………基材フィルム
５………粘着剤層
７………セパレーター
９………フレーム
１１………半導体ウエハ
１３………半導体基板
１５………硬化樹脂
１７………半田ボール
１９………ダイシングブレード
２１………糊残り
２３………半導体チップ
２５………紫外線
２７………ピックアップピン
２９………トレー 1 ... Dicing tape 3 ... Base film 5 ... Adhesive layer 7 ... Separator 9 ... Frame 11 ... Semiconductor wafer 13 ... Semiconductor substrate 15 ... Hardened resin 17 ... Solder balls 19 Dicing blade 21 Adhesive residue 23 Semiconductor chips 25 Ultraviolet rays 27 Pickup pins 29 Tray

Claims (11)

紫外線透過性の基材フィルム上に紫外線硬化型の粘着剤層を有するダイシングテープであって、
前記粘着剤層が、紫外線硬化型樹脂組成物とポリチオールとを含むことを特徴とするダイシングテープ。 A dicing tape having a UV curable adhesive layer on a UV transparent substrate film,
The dicing tape, wherein the pressure-sensitive adhesive layer contains an ultraviolet curable resin composition and polythiol. 前記ポリチオールが、１，３，５−トリス（３−メルカブトブチルオキシエチル）−１，３，５−トリアジン−２，４，６（１Ｈ，３Ｈ，５Ｈ）−トリオン、トリメチロールプロパントリス（３−メルカプトプロピオネート）、ペンタエリスリトールテトラキス（３−メルカプトプロピオネート）、ジペンタエリスリトールヘキサキス（３−メルカプトプロピオネート）およびトリス［（３−メルカプトプロピオニロキシ）−エチル］イソシアヌレートからなる群より選ばれた少なくとも１種のポリチオールであることを特徴とする請求項１に記載のダイシングテープ。   The polythiol is 1,3,5-tris (3-mercaptobutyloxyethyl) -1,3,5-triazine-2,4,6 (1H, 3H, 5H) -trione, trimethylolpropane tris (3 -Mercaptopropionate), pentaerythritol tetrakis (3-mercaptopropionate), dipentaerythritol hexakis (3-mercaptopropionate) and tris [(3-mercaptopropionyloxy) -ethyl] isocyanurate The dicing tape according to claim 1, wherein the dicing tape is at least one polythiol selected from the group. 前記基材フィルムが、ポリエチレン、ポリプロピレン、エチレン−プロピレン共重合体、およびポリブテンのようなポリオレフィン、エチレン−酢酸ビニル共重合体、エチレン−（メタ）アクリル酸共重合体、およびエチレン−（メタ）アクリル酸エステル共重合体、およびエチレン−（メタ）アクリル酸金属塩系アイオノマーのようなエチレン共重合体、ポリエチレンテレフタレート、ポリブチレンテレフタレート、ポリカーボネート、ポリメタクリル酸メチル等のエンジニアリングプラスチック、軟質ポリ塩化ビニル、半硬質ポリ塩化ビニル、ポリエステル、ポリウレタン、ポリアミド、ポリイミド、天然ゴム、合成ゴムおよびこれらの混合物からなる群より選ばれた少なくとも１種の樹脂であることを特徴とする請求項１に記載のダイシングテープ。   The base film is a polyolefin such as polyethylene, polypropylene, ethylene-propylene copolymer, and polybutene, ethylene-vinyl acetate copolymer, ethylene- (meth) acrylic acid copolymer, and ethylene- (meth) acrylic. Acid ester copolymers, ethylene copolymers such as ethylene- (meth) acrylic acid metal salt ionomers, engineering plastics such as polyethylene terephthalate, polybutylene terephthalate, polycarbonate, polymethyl methacrylate, soft polyvinyl chloride, semi The die according to claim 1, wherein the die is at least one resin selected from the group consisting of rigid polyvinyl chloride, polyester, polyurethane, polyamide, polyimide, natural rubber, synthetic rubber, and a mixture thereof. Ngutepu. 前記紫外線硬化型樹脂組成物が、
炭素−炭素二重結合をポリマー側鎖または主鎖中もしくは主鎖末端に有するポリマーからなる樹脂組成物または、
一般的な粘着剤に紫外線硬化性のモノマー成分やオリゴマー成分などの紫外線硬化樹脂を配合した樹脂組成物であることを特徴とする請求項１に記載のダイシングテープ。 The ultraviolet curable resin composition is
A resin composition comprising a polymer having a carbon-carbon double bond in the polymer side chain or in the main chain or at the end of the main chain; or
2. The dicing tape according to claim 1, wherein the dicing tape is a resin composition in which an ultraviolet curable resin such as an ultraviolet curable monomer component or an oligomer component is blended with a general adhesive. 前記紫外線硬化型樹脂組成物が、ウレタンアクリレート、エポキシアクリレート、ポリエステルアクリレート、ポリエーテルアクリレート、（メタ）アクリル酸オリゴマーおよびイタコン酸オリゴマーからなる群より選ばれた少なくとも１種の粘着剤を主成分として有することを特徴とする請求項１に記載のダイシングテープ。   The ultraviolet curable resin composition has as a main component at least one adhesive selected from the group consisting of urethane acrylate, epoxy acrylate, polyester acrylate, polyether acrylate, (meth) acrylic acid oligomer and itaconic acid oligomer. The dicing tape according to claim 1. 前記粘着剤層において、下記の式で求められる硬化率が９０％以上であることを特徴とする請求項１に記載のダイシングテープ。
硬化率＝（紫外線照射前の粘着力―大気下での紫外線照射後の粘着力）／（紫外線照射前の粘着力―非大気下での紫外線照射後の粘着力） The dicing tape according to claim 1, wherein the adhesive layer has a curing rate of 90% or more obtained by the following formula.
Curing rate = (Adhesive strength before UV irradiation-Adhesive strength after UV irradiation in the atmosphere) / (Adhesive strength before UV irradiation-Adhesive strength after UV irradiation in non-atmosphere) 紫外線透過性の基材フィルム上に紫外線硬化型の粘着剤層が設けられているダイシングテープにおいて、
前記粘着剤層にポリチオールを加え、前記粘着剤層の紫外線照射時の硬化阻害を防止することを特徴とするダイシングテープの硬化阻害防止方法。 In a dicing tape in which a UV-curable adhesive layer is provided on a UV transparent substrate film,
A method for preventing inhibition of curing of a dicing tape, comprising adding polythiol to the pressure-sensitive adhesive layer to prevent inhibition of curing of the pressure-sensitive adhesive layer when irradiated with ultraviolet rays. 紫外線透過性の基材フィルム上に紫外線硬化型の粘着剤層が設けられているダイシングテープにおいて、
前記粘着剤層には、炭素−炭素二重結合を有する紫外線硬化型樹脂組成物と、ポリチオールを有し、
大気環境下で前記粘着剤層に紫外線照射した際に生じるペルオキシラジカルと、前記ポリチオールのチオール基が反応し、ヒドロペルオキシド基とチイルラジカルを生じる反応により、前記粘着剤層の紫外線照射時の硬化阻害を防止することを特徴とするダイシングテープの硬化阻害防止方法。 In a dicing tape in which a UV-curable adhesive layer is provided on a UV transparent substrate film,
The pressure-sensitive adhesive layer has an ultraviolet curable resin composition having a carbon-carbon double bond, and polythiol,
Peroxy radicals generated when the pressure-sensitive adhesive layer is irradiated with ultraviolet rays in an atmospheric environment reacts with the thiol group of the polythiol to generate hydroperoxide groups and thiyl radicals, thereby inhibiting the curing of the pressure-sensitive adhesive layer during ultraviolet irradiation. A method for preventing inhibition of curing of a dicing tape, characterized by comprising: ダイシングテープの粘着剤層に用いられる粘着剤であって、
紫外線硬化型樹脂組成物と、ポリチオールを含むことを特徴とするダイシングテープ用紫外線硬化型粘着剤。 An adhesive used for an adhesive layer of a dicing tape,
An ultraviolet curable adhesive for dicing tape, comprising an ultraviolet curable resin composition and polythiol. 粘着剤層の厚みが１０〜３０μｍである、一括封止された半導体基板の硬化樹脂面の貼着用の請求項１〜６のいずれか１項に記載のダイシングテープ。   The dicing tape according to any one of claims 1 to 6, wherein the adhesive layer has a thickness of 10 to 30 µm and is attached to a cured resin surface of a semiconductor substrate that is collectively sealed. 紫外線透過性の基材フィルム上に紫外線硬化型の粘着剤層を有し、前記粘着剤層が紫外線硬化型樹脂組成物とポリチオールとを含み、リング状のダイシングフレームの下面に貼着されたダイシングテープに、硬化樹脂で一括封止された半導体基板の硬化樹脂面を貼着する工程（ａ）と、
前記半導体基板を、硬化樹脂ごと切断し、半導体チップに個片化する工程（ｂ）と、
前記ダイシングテープに紫外線を照射する工程（ｃ）と、
前記半導体チップをピックアップする工程（ｄ）と、
前記半導体チップをトレーに収納する工程（ｅ）と、
を具備することを特徴とする一括封止された半導体基板のダイシング方法。 Dicing having an ultraviolet curable pressure-sensitive adhesive layer on an ultraviolet transmissive substrate film, the pressure-sensitive adhesive layer containing an ultraviolet curable resin composition and polythiol, and being attached to the lower surface of a ring-shaped dicing frame A step (a) of attaching a cured resin surface of a semiconductor substrate collectively sealed with a cured resin to a tape;
A step (b) of cutting the semiconductor substrate together with the cured resin and separating the semiconductor substrate into semiconductor chips;
Irradiating the dicing tape with ultraviolet rays (c);
A step (d) of picking up the semiconductor chip;
Storing the semiconductor chip in a tray (e);
A method for dicing a semiconductor substrate that is encapsulated in a batch.
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