JP2010230523A - 位相接続方法及びその装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】計測用正弦波パターン光Aの初期期位相を複数回変化させることより観察手段で得られる観察画像群から計測用位相値データを算出し、かつ位相接続参照用正弦波パターン光Bの初期位相を複数回変化させることより観察手段で得られる観察画像群から位相接続参照用位相値データを算出する位相値データ算出手段と、計測用正弦波パターン光Aの一周期に相当するピクセル幅と位相接続参照用正弦波パターン光Bの一周期に相当するピクセル幅との最小公倍数が、計測対象物1の投影面の有効画素数以上になるように位相接続参照用正弦波パターン光Aの周期を決定する位相接続参照用正弦波パターン周期決定手段と備える構成にした。
【選択図】図1
Description
投影手段と観察手段の間の相対的な位置姿勢が既知(幾何学的キャリブレーション済み)であり、投影手段のどの方向から対象物表面上の各点に光が投影されるか、また、観察手段のどの方向からそれらの反射光が観察されるかが分かれば、三角測量法の原理に基づき対象物の表面形状が求まる。
以下では、対象物表面上を各点において投影手段のどの方向から光が投影されているか、つまり、投影手段平面上のどのピクセルが物体表面を照射しているかを求める方法について示す。
ここで、Lg(x,y)は投影手段の最小入力輝度、Ld(x,y)は最大入力輝度と最小入力輝度のオフセット、Ii(x,y)は投影手段平面上の(x,y)上における入力輝度である。Φ(x,y)は投影手段平面上の画素位置に対応する位相であり、投影手段平面上のy軸に平行な正弦波パターンであれば、図3の(2)式で表わされる。
但し、xfは正弦波パターンの1周期に相当するピクセル幅)と表される。δiは初期位相であり、この値を変化させることにより正弦波パターンがシフトする。
図3の(3)式及び図3の(4)式共に左辺は既知の値であり、この2つの式より、図3の(5)式が得られる。
この図3の(5)式を再び図3の(3)式、図3の(4)式に代入することによりΦ(x,y)が0から2πの範囲で得られる。これが計測用位相値データである。
また、特許文献4では振幅値Ld(x,y)で画像をマスキングして領域分割することで、位相接続の可能性判定を行っている。これは、奥行きが異なれば振幅値も異なるという仮定に基づくが、この仮定は実世界では厳密には正しい仮定とは言えないため、あらゆる対象物に適用可能とは言えない。
また、特許文献5では、有効画素の全領域で基準平面に投影されるパターンの位相を求め、その後計測物体上のパターンの位相との差を高さ情報に変換する方法が実現されているが、基準平面となるものが必要な上、基準平面上と計測物体上のパターンの位相差が2π以上になるような勾配をもつ物体表面の三次元形状を求めることはできない。
そこで、本発明では、上記の必要条件の中でさらに、一種類の位相接続参照用正弦波パターンのみで位相接続が可能な周期を算出し、かつ複数の算出値における理論上の位相接続誤差を評価してその誤差を最小化する周期を探索する。
これにより、本発明は、位相接続時に参照する位相接続参照用正弦波パターンを一種類のみ使うことにより効率性が向上し、位相接続計算を高精度に行うことができる位相接続方法及びその装置を提供することを目的とする。
以下、本発明の実施の形態について、図1及び図2を参照して詳細に説明する。
三次元形状計測装置は、図1に示すように、計測対象物1の表面に対して上方から斜め下方に向けて配置された、観察光学系2及び観察記録装置3からなる観察手段20、観察記録装置3と逆に計測対象物1の表面に対して上方から斜め下方に向けて配置された、投影光学系4及び投影光源5からなる投影手段50、及び正弦波パターン観察部6、正弦波パターン入力部7、位相値データ算出部8、位相接続処理部9、三次元形状算出部10、位相接続参照用正弦波パターン周期決定部11、計測用正弦波パターン周期入力部12を含んで構成される。
計測用正弦波パターン周期入力部12により入力された周期の値は、位相接続参照用正弦波パターン周期決定部11に入力され、位相値の計算誤差に対して強靱な位相接続が可能な位相接続参照用正弦波パターンの周期を算出し決定する。
また、図2では、計測用正弦波パターン光Aと位相接続参照用正弦波パターン光Bにおける各々の1ピクセルに対応する周期は、π/4(=2π/8)とπ/3(=2π/6)である。これにより、投影手段平面上におけるピクセル番号0〜23の24ピクセルの画素位置は、これら二つの整数値の組で一意に特定できる。例えば、対象物1の表面上のある点で整数値(7、1)の組が得られた場合、これはピクセル番号7である8番目のピクセルから光を投影されていることが分かる。
この数の任意のニ整数の差のうち最小の値をMf2minとすると、位相値の計算誤差がεの時、図3の(6)式を満たすことが正確な位相接続を保証する条件となる。この条件は、Mf1(x,y)の全ての値に対して同様に式(6)を満たすことが必要条件となる。
Claims (4)
- 計測用正弦波パターン光を計測対象物に投影し、
前記計測用正弦波パターン光の初期位相値を複数回変化させて前記計測対象物上で相対的にシフトさせることにより観察される観察画像群から計測用位相値データを算出し、
前記計測用正弦波パターン光と周期の異なる位相接続参照用正弦波パターン光を前記計測対象物に投影し、
前記位相接続参照用正弦波パターン光の初期位相を複数回変化させて前記計測対象物上で相対的にシフトさせることにより観察される観測画像群から位相接続参照用位相値データを算出し、
前記計測用位相値データと前記位相接続参照用位相値データを用いて位相接続する方法であって、
前記計測用正弦波パターン光の一周期に相当するピクセル幅と前記位相接続参照用正弦波パターン光の一周期に相当するピクセル幅との最小公倍数が、前記計測対象物の投影面の有効画素数以上になるように前記位相接続参照用正弦波パターン光の周期を決定する、
ことを特徴とする位相接続方法。 - 算出された前記計測用位相値データ中で同じ位相を示す各々の箇所において、前記位相接続参照用正弦波パターンにおける位相値の任意二つの値の差の絶対値のうちの最小の値が、前記位相接続参照用正弦波パターンの周期を変化させることより最大となる周期を決定することを特徴とする請求項1記載の位相接続法。
- 計測用正弦波パターン光及び前記計測用正弦波パターン光と周期の異なる位相接続参照用正弦波パターン光を計測対象物に投影する投影手段と、
前記計測対象物に投影された前記計測用正弦波パターン光及び前記計測用正弦波パターン光を観察する観察手段と、
前記計測用正弦波パターン光の初期位相値を複数回変化させることより前記観察手段で得られる観察画像群から計測用位相値データを算出し、かつ前記位相接続参照用正弦波パターン光の初期位相を複数回変化させることより前記観察手段で得られる観察画像群から位相接続参照用位相値データを算出する位相値データ算出手段と、
前記計測用正弦波パターン光の一周期に相当するピクセル幅と前記位相接続参照用正弦波パターン光の一周期に相当するピクセル幅との最小公倍数が、前記計測対象物の投影面の有効画素数以上になるように前記位相接続参照用正弦波パターン光の周期を決定する位相接続参照用正弦波パターン周期決定手段と、
を備えることを特徴とする位相接続装置。 - 前記位相接続参照用正弦波パターン周期決定手段は、算出された前記計測用位相値データ中で同じ位相を示す各々の箇所において、前記位相接続参照用正弦波パターンにおける位相値の任意二つの値の差の絶対値のうちの最小の値が、前記位相接続参照用正弦波パターンの周期を変化させることより最大となる周期を決定することを特徴とする請求項3記載の位相接続装置。
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JP2009078874A JP2010230523A (ja) | 2009-03-27 | 2009-03-27 | 位相接続方法及びその装置 |
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US10302422B2 (en) | 2015-12-16 | 2019-05-28 | Seiko Epson Corporation | Measurement system, measurement method, robot control method, robot, robot system, and picking apparatus |
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JPH0666527A (ja) * | 1992-08-20 | 1994-03-08 | Sharp Corp | 3次元計測方法 |
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2009
- 2009-03-27 JP JP2009078874A patent/JP2010230523A/ja active Pending
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