JP2010219443A - Terahertz receiving element - Google Patents

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修 今藤
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a terahertz receiving element capable of receiving terahertz waves efficiently. <P>SOLUTION: The terahertz receiving element A includes: a high resistance substrate 1; a ground surface 10 formed on the first main surface of the high resistance substrate 1; a semiconductor layer that is formed on the second main surface opposite to the first main surface of the high resistance substrate 1 and includes a channel layer 3 formed by hetero-junction; and a source electrode 5, a gate electrode 9, and a drain electrode 6 that are formed on the semiconductor layer, and form field-effect transistors along with the channel layer 3. The semiconductor layer includes a stripe-like protrusion 7 subjected to Schottky junction to the gate electrode 9, and each of the plurality of protrusions included in the stripe-like protrusion 7 is perpendicular to alignment directions of the source electrode 5, the gate electrode 9, and the drain electrode 6 at a lower part of the gate electrode 9. <P>COPYRIGHT: (C)2010,JPO&INPIT

Description

本発明はテラヘルツ帯の高周波を受信するテラヘルツ受信素子に関するものである。   The present invention relates to a terahertz receiving element that receives a high frequency in the terahertz band.

テラヘルツ電磁波は近年注目されている新しい電磁波領域であり、多岐にわたる応用の可能性が提案されている。現在、テラヘルツ波の室温受信は、テラヘルツ時間領域分光法(THz−TDS:Terahertz Time Domain Spectroscopy)を用いることによりテラヘルツ波の高感度受信を行うことが一般的である。   Terahertz electromagnetic waves are a new electromagnetic field that has been attracting attention in recent years, and a wide variety of applications have been proposed. Currently, terahertz waves are generally received at room temperature by using terahertz time domain spectroscopy (THz-TDS) to perform high-sensitivity reception of terahertz waves.

しかし、このテラヘルツ時間領域分光法は、高精度な光学系の調整を必要とするだけでなく大規模な設備構成にならざるを得ず、現状では様々な分野への技術応用、商品展開は困難である。また、設備を小型化し、簡便で高感度なテラヘルツ波受信技術として、電子デバイスを用いたテラヘルツ波の受信が新たに検討されており、電界効果型トランジスタを用いチャネル電子のプラズマ共鳴を利用したテラヘルツ波の室温受信が報告されている。これは、108cm/sオーダーの電子速度を持つプラズマ波を利用することにより、室温でのテラヘルツ受信を可能とするものである。   However, this terahertz time-domain spectroscopy requires not only high-precision optical system adjustment but also a large-scale equipment configuration, and currently it is difficult to apply technology and develop products in various fields. It is. In addition, terahertz wave reception using electronic devices has been newly studied as a compact and simple and highly sensitive terahertz wave reception technology. Terahertz using channel electron plasma resonance using field-effect transistors A room temperature reception of waves has been reported. This enables terahertz reception at room temperature by using a plasma wave having an electron velocity of the order of 108 cm / s.

中でも2次元電子システムを有する高電子移動度トランジスタ(HEMT:High Electron Mobility Transistor)において、2次元電子プラズマ共鳴を利用したデバイスをM. Shurらが提案している(非特許文献1、2)。この共鳴周波数はゲートに印加される電圧によって定まる電子濃度の平方根に比例するため、ゲート電圧により周波数可変なテラヘルツ光源、或いは広帯域なテラヘルツ受信機の実現が期待できる。   In particular, a device using two-dimensional electron plasma resonance in a high electron mobility transistor (HEMT) having a two-dimensional electron system is described in M.C. Shur et al. Have proposed (Non-Patent Documents 1 and 2). Since this resonance frequency is proportional to the square root of the electron concentration determined by the voltage applied to the gate, it can be expected to realize a terahertz light source whose frequency is variable by the gate voltage or a broadband terahertz receiver.

このように、トランジスタを用いたテラヘルツ帯の電磁波を検波することが可能であることから、テラヘルツ光源を必要としないイメージングが可能となりテラヘルツイメージングシステム等の小型化、低コスト化が可能となるなどのメリットがある。   In this way, because it is possible to detect terahertz band electromagnetic waves using transistors, imaging that does not require a terahertz light source is possible, making it possible to reduce the size and cost of terahertz imaging systems, etc. There are benefits.

また、TaukらはSiMOSFET(Silicon Metal−Oxide−Semiconductor Field Effect Transistor)においても、テラヘルツ波の受信が可能であることを報告している(非特許文献3)。この報告ではテラヘルツ波はゲートワイヤにて受信されるとしており、ゲートワイヤで受信したテラヘルツ帯の変調信号を、ゲートワイヤを通じてゲート直下のチャネルへ伝送され、プラズマ共鳴により発生したプラズマ波によってテラヘルツ波を室温受信していることになる。その構造を図5に示す。同図のテラヘルツ受信素子800では、電界効果型トランジスタに接続されたゲートバイアス給電用のゲートワイヤ804を線状アンテナとして利用している。このように電界効果型トランジスタにおいて、アンテナを用いることによりテラヘルツ帯の高周波を受信することが可能である。   Tauk et al. Have reported that terahertz waves can be received even in SiMOSFET (Silicon Metal-Oxide-Semiconductor Field Effect Transistor) (Non-patent Document 3). In this report, the terahertz wave is received by the gate wire. The terahertz band modulation signal received by the gate wire is transmitted to the channel directly under the gate through the gate wire, and the terahertz wave is generated by the plasma wave generated by plasma resonance. You will be receiving room temperature. The structure is shown in FIG. In the terahertz receiving element 800 of FIG. 6, a gate wire 804 for feeding a gate bias connected to a field effect transistor is used as a linear antenna. Thus, in a field effect transistor, it is possible to receive a terahertz band high frequency by using an antenna.

また、ゲートを格子状に配置したプラズモン格子デバイスによるテラヘルツ受信も報告されている(非特許文献4、5、6、特許文献1)。その構造を図6に示す。同図のプラズモン格子デバイス100は、高抵抗基板101に、バッファ層102、チャネル層103、電子供給層104が形成され、ソース電極105及びドレイン電極106間のチャネル領域には、格子状のゲート電極107及び108が形成されている。各ゲート電極107及び108それぞれに対し個別にバイアスすることにより、チャネル層103の2次元電子ガスに濃度変調が生じる。その結果、プラズマ波の伝搬特性の向上やテラヘルツ波に対する吸収係数の増加などの効果が見込める。   Terahertz reception using a plasmon lattice device in which gates are arranged in a lattice shape has also been reported (Non-Patent Documents 4, 5, 6, and Patent Document 1). The structure is shown in FIG. In the plasmon lattice device 100 of FIG. 1, a buffer layer 102, a channel layer 103, and an electron supply layer 104 are formed on a high-resistance substrate 101, and a lattice-shaped gate electrode is formed in a channel region between a source electrode 105 and a drain electrode 106. 107 and 108 are formed. By individually biasing each of the gate electrodes 107 and 108, concentration modulation occurs in the two-dimensional electron gas of the channel layer 103. As a result, effects such as an improvement in plasma wave propagation characteristics and an increase in absorption coefficient for terahertz waves can be expected.

また、プラズモン格子デバイス100は、プラズモン格子状のゲート電極107及び108がアンテナとして機能することで、プラズモン格子のサイズに対応したテラヘルツ波を受信することを特徴とする。このように、プラズモン格子デバイス100は、テラヘルツ波受信感度の向上に効果的であることが期待される。
“Physical Review Letters”、1993年、Vol.71、pp.2465−2468 “IEEE TRANS. ON ELECTRON DEVICES”、1996年、Vol.43、NO.3、pp.380 “APPLIED PHYSICS LETTERS”、2006年、Vol.89、Articles 253511 “Physical Review B”,1998年、Vol.58、pp.1517−1532 “Journal of Applied Physics”、1992年、Vol.71、No.12、pp.6049−6061 “APPLIED PHYSICS LETTERS”、2005年、Vol.87、Articles 193507 国際公開第2006/030608号
The plasmon lattice device 100 is characterized in that the plasmon lattice-shaped gate electrodes 107 and 108 function as antennas to receive a terahertz wave corresponding to the size of the plasmon lattice. Thus, the plasmon lattice device 100 is expected to be effective in improving the terahertz wave reception sensitivity.
“Physical Review Letters”, 1993, Vol. 71, pp. 2465-2468 “IEEE TRANS. ON ELECTRON DEVICES”, 1996, Vol. 43, NO. 3, pp. 380 “APPLIED PHYSICS LETTERS”, 2006, Vol. 89, Articles 253511 “Physical Review B”, 1998, Vol. 58, pp. 1517-1532 “Journal of Applied Physics”, 1992, Vol. 71, no. 12, pp. 6049-6061 “APPLIED PHYSICS LETTERS”, 2005, Vol. 87, Articles 193507 International Publication No. 2006/030608

しかしながら、図5に示した従来のテラヘルツ受信素子800のように、アンテナと電界効果型トランジスタを分離した構成では、アンテナにおいて受信したテラヘルツ帯の電磁波をトランジスタに伝送する際に、配線による導体損が大きい。したがって、テラヘルツ波を高効率で受信することは非常に困難である。また、ワイヤのような線状アンテナでは、指向性が小さい、偏向依存性が大きいなどの理由からも、非特許文献3のような構成では、テラヘルツ波の高効率受信は困難である。よって、高効率なテラヘルツ波受信を実現するには、線状アンテナを用いず、更に伝送時の損失をできるだけ小さくする必要がある。   However, in the configuration in which the antenna and the field effect transistor are separated as in the conventional terahertz receiving element 800 shown in FIG. 5, when the terahertz band electromagnetic wave received by the antenna is transmitted to the transistor, the conductor loss due to the wiring is reduced. large. Therefore, it is very difficult to receive terahertz waves with high efficiency. Further, with a linear antenna such as a wire, high efficiency reception of terahertz waves is difficult with the configuration of Non-Patent Document 3, for reasons such as low directivity and large deflection dependence. Therefore, in order to realize high-efficiency terahertz wave reception, it is necessary to reduce the loss during transmission as much as possible without using a linear antenna.

また、伝送線路を必要としないプラズモン格子デバイス100は、受信したテラヘルツ波の電界方向(チャネル層103と平行)と、プラズマ共鳴により発生したプラズマ波の電界方向(チャネル層103と垂直)とが直交するため、受信効率が悪いという問題がある。   In the plasmon lattice device 100 that does not require a transmission line, the electric field direction of the received terahertz wave (parallel to the channel layer 103) and the electric field direction of the plasma wave generated by plasma resonance (perpendicular to the channel layer 103) are orthogonal to each other. Therefore, there is a problem that reception efficiency is poor.

本発明は、前記従来技術の課題に鑑みて、高効率でテラヘルツ波を受信することが可能であるテラヘルツ受信素子を提供することを目的とする。   An object of the present invention is to provide a terahertz receiving element capable of receiving a terahertz wave with high efficiency in view of the problems of the prior art.

上記課題を解決するため、本発明のテラヘルツ受信素子は、半導体基板と、前記半導体基板の第1の主面上に形成されているグランド層と、前記半導体基板の前記第1の主面に対向する第2の主面上に形成され、ヘテロ接合により形成される2次元電子チャネル層を含む半導体層と、前記半導体層に形成され、前記2次元電子チャネル層とともに電界効果型トランジスタを形成するソース電極、ゲート電極及びドレイン電極とを備え、前記半導体層は、前記ゲート電極とショットキー接合されたストライプ状に配置された複数の凸部を有し、前記複数の凸部それぞれは、前記ゲート電極の下方において前記ソース電極、前記ゲート電極及び前記ドレイン電極の並び方向に直交する。   In order to solve the above problems, a terahertz receiving device according to the present invention is directed to a semiconductor substrate, a ground layer formed on the first main surface of the semiconductor substrate, and the first main surface of the semiconductor substrate. A semiconductor layer including a two-dimensional electron channel layer formed on the second main surface and formed by a heterojunction, and a source formed on the semiconductor layer and forming a field effect transistor together with the two-dimensional electron channel layer An electrode, a gate electrode, and a drain electrode, and the semiconductor layer has a plurality of protrusions arranged in a stripe shape that is Schottky-bonded to the gate electrode, and each of the plurality of protrusions includes the gate electrode. Is perpendicular to the direction in which the source electrode, the gate electrode, and the drain electrode are arranged.

この構成にすることにより、照射されたテラヘルツ波をゲート電極で受信することによりテラヘルツ受信素子内に発生した電界方向と、プラズマ共鳴により発生したプラズマ波の電界方向とが一致するため、受信効率が向上する。また、ゲート電極とショットキー接合されたストライプ状に配置された複数の凸部では、凸部のそれぞれが電界効果型トランジスタのゲートとして機能する。その結果、ゲートの下の2次元電子チャネル層で発生したプラズマ波を隣接するゲートの下で発生したプラズマ波と重畳できるので、テラヘルツ波からプラズマ波への変換効率が向上する。また、ゲート電極のサイズにより決定される受信可能なテラヘルツ波の周波数と、ソース電極、ゲート電極及びドレイン電極の並び方向にゲート電極とショットキー接合している各凸部の長さにより決定されるプラズマ周波数とを一致させることで、より高効率にテラヘルツ波を受信できる。   With this configuration, since the direction of the electric field generated in the terahertz receiving element by receiving the irradiated terahertz wave with the gate electrode coincides with the direction of the electric field of the plasma wave generated by plasma resonance, the reception efficiency is improved. improves. In addition, in the plurality of convex portions arranged in a stripe shape that is Schottky-bonded to the gate electrode, each of the convex portions functions as a gate of the field effect transistor. As a result, the plasma wave generated in the two-dimensional electron channel layer under the gate can be superimposed on the plasma wave generated under the adjacent gate, so that the conversion efficiency from the terahertz wave to the plasma wave is improved. Also, it is determined by the frequency of the receivable terahertz wave determined by the size of the gate electrode and the length of each convex portion that is in Schottky junction with the gate electrode in the direction in which the source electrode, the gate electrode, and the drain electrode are arranged. By matching the plasma frequency, terahertz waves can be received more efficiently.

さらに、ゲート電極にバイアス電圧を印加する場合、従来のようにプラズモン格子状のゲート電極を形成し、各ゲートバイアスを制御することなく、2次元電子チャネル層の2次元電子ガスに濃度変調を与えることができ、簡易な制御で受信感度の向上を図ることができる。   Furthermore, when a bias voltage is applied to the gate electrode, a plasmon lattice-like gate electrode is formed as in the prior art, and concentration modulation is applied to the two-dimensional electron gas in the two-dimensional electron channel layer without controlling each gate bias. Therefore, it is possible to improve reception sensitivity with simple control.

また、前記複数の凸部それぞれは、前記ソース電極、前記ゲート電極及び前記ドレイン電極の並び方向に前記ゲート電極とショットキー接合している箇所の長さが0.065〜2μmである前記複数の凸部それぞれは、前記ソース電極、前記ゲート電極及び前記ドレイン電極の並び方向に前記ゲート電極とショットキー接合している箇所の長さが0.065〜2μmであってもよい。   Each of the plurality of protrusions has a length of 0.065 to 2 μm at a portion where the gate electrode and the gate electrode are in a Schottky junction in the arrangement direction of the source electrode, the gate electrode, and the drain electrode. Each of the convex portions may have a length of 0.065 to 2 μm at a portion where a Schottky junction with the gate electrode is arranged in the arrangement direction of the source electrode, the gate electrode, and the drain electrode.

この構成にすることにより、半導体製造プロセスにより複数の凸部それぞれを形成することができる。   With this configuration, each of the plurality of convex portions can be formed by a semiconductor manufacturing process.

また、前記複数の凸部それぞれは、前記ソース電極、前記ゲート電極及び前記ドレイン電極の並び方向に周期的に形成されていてもよい。   In addition, each of the plurality of convex portions may be periodically formed in an arrangement direction of the source electrode, the gate electrode, and the drain electrode.

この構成にすることにより、複数の凸部それぞれが形成されている周期を2次元電子プラズマ共鳴が起こるディメンションにした場合、より効率良くテラヘルツ波を受信することが可能となる。   With this configuration, when the period in which each of the plurality of convex portions is formed is set to a dimension in which two-dimensional electron plasma resonance occurs, it is possible to receive a terahertz wave more efficiently.

また、前記ゲート電極の形状は、矩形、多角形及び円形の何れかであってもよい。   The gate electrode may be rectangular, polygonal, or circular.

この構成にすることにより、感度及び広帯域など、用途によりアンテナの設計の自由度をあげることができる。   With this configuration, it is possible to increase the degree of freedom in antenna design depending on applications such as sensitivity and broadband.

また、前記半導体層は、III−V族化合物半導体であってもよい。   The semiconductor layer may be a III-V group compound semiconductor.

この構成にすることにより、高い電子移動度を有する2次元電子チャネル層を構成することが可能となり、幅広いテラヘルツ電磁波周波数帯に対応した、高感度にテラヘルツ電磁波を受信可能な受信素子を実現することができる。   With this configuration, a two-dimensional electron channel layer having high electron mobility can be configured, and a receiving element capable of receiving terahertz electromagnetic waves with high sensitivity corresponding to a wide terahertz electromagnetic wave frequency band can be realized. Can do.

本発明によるテラヘルツ受信素子は、高効率でテラヘルツ波を受信することができる。すなわち、本発明によるテラヘルツ受信素子は、ゲート電極がアンテナとして作用するために、受信したテラヘルツ波の信号を効率よくゲート下の2次元電子チャネル層に伝送することができる。さらに、入れ子型のような複雑なバイアス制御を必要とすることなく、ゲート下の2次元電子の電子濃度を変調することができ、さらに、アンテナにより受信した電界方向とチャネルに生成されたプラズマ波の電界方向を一致させることができる。したがって、高効率でテラヘルツ波を受信することが可能となる。   The terahertz receiving element according to the present invention can receive terahertz waves with high efficiency. That is, the terahertz receiving element according to the present invention can efficiently transmit the received terahertz wave signal to the two-dimensional electron channel layer under the gate because the gate electrode acts as an antenna. Furthermore, the electron concentration of the two-dimensional electrons under the gate can be modulated without requiring complicated bias control as in the nested type, and further, the plasma wave generated in the direction of the electric field and channel received by the antenna. The electric field directions can be matched. Therefore, terahertz waves can be received with high efficiency.

よって、本発明により、テラヘルツ波を用いたセンシング、或いはイメージングに必要なテラヘルツ波に対して感度があり、正確にテラヘルツ信号を検出することが可能なテラヘルツ受信素子を提供することが可能になり、実用的価値は極めて高い。   Therefore, according to the present invention, it is possible to provide a terahertz receiving element that is sensitive to terahertz waves necessary for sensing or imaging necessary for terahertz waves and that can accurately detect terahertz signals. The practical value is extremely high.

以下、図面とともに本発明によるテラヘルツ受信素子の好適な実施形態について詳細に説明する。なお、図面の説明においては同一要素には同一符号を付し、重複する説明を省略する。また、図面の寸法比率は、説明のものと必ずしも一致していない。   Hereinafter, preferred embodiments of a terahertz receiving device according to the present invention will be described in detail with reference to the drawings. In the description of the drawings, the same elements are denoted by the same reference numerals, and redundant description is omitted. Further, the dimensional ratios in the drawings do not necessarily match those described.

本発明のテラヘルツ受信素子は、半導体基板と、前記半導体基板の第1の主面上に形成されているグランド層と、前記半導体基板の前記第1の主面に対向する第2の主面上に形成され、ヘテロ接合により形成される2次元電子チャネル層を含む半導体層と、前記半導体層に形成され、前記2次元電子チャネル層とともに電界効果型トランジスタを形成するソース電極、ゲート電極及びドレイン電極とを備え、前記半導体層は、前記ゲート電極とショットキー接合されたストライプ状に配置された複数の凸部を有し、前記複数の凸部それぞれは、前記ゲート電極の下方において前記ソース電極、前記ゲート電極及び前記ドレイン電極の並び方向に直交する。これにより、伝送等による損失を大幅に低減すると共に効率良くゲート電極下の2次元電子チャネル層の2次元電子ガスを励振させることを可能とする。更に、受信するテラヘルツ波の周波数と、凸部のゲート電極とショットキー接合している箇所のソース電極、ゲート電極及びドレイン電極の並び方向の長さにより決定されるプラズマ周波数とを一致するように凸部の長さを決定することにより、高効率でテラヘルツ波を受信することを可能とする。   The terahertz receiving element of the present invention includes a semiconductor substrate, a ground layer formed on the first main surface of the semiconductor substrate, and a second main surface opposite to the first main surface of the semiconductor substrate. A semiconductor layer including a two-dimensional electron channel layer formed by heterojunction, and a source electrode, a gate electrode, and a drain electrode formed in the semiconductor layer and forming a field effect transistor together with the two-dimensional electron channel layer And the semiconductor layer has a plurality of protrusions arranged in a stripe shape that is Schottky-bonded to the gate electrode, and each of the plurality of protrusions includes the source electrode, below the gate electrode, It is orthogonal to the direction in which the gate electrode and the drain electrode are arranged. As a result, loss due to transmission or the like is greatly reduced, and the two-dimensional electron gas in the two-dimensional electron channel layer under the gate electrode can be efficiently excited. Furthermore, the frequency of the received terahertz wave and the plasma frequency determined by the length of the source electrode, the gate electrode, and the drain electrode in the portion where the Schottky junction is formed with the gate electrode of the convex portion are matched. By determining the length of the convex portion, it is possible to receive the terahertz wave with high efficiency.

図1は、本発明のテラヘルツ受信素子の構成を示す図である。   FIG. 1 is a diagram showing a configuration of a terahertz receiving element according to the present invention.

このテラヘルツ受信素子Aは、主に電界効果型トランジスタで構成される。同図で用いた電界効果型トランジスタは高電子移動度トランジスタであり、高抵抗基板1上に、バッファ層2、チャネル層3及び電子供給層4が形成されている。具体的には、バッファ層2としてIn0.15Ga0.85As、電子供給層4としてAl0.25Ga0.75Asを用いることにより、バッファ層2と電子供給層4との界面に2次元電子ガスのチャネル層3が形成される。 The terahertz receiving element A is mainly composed of a field effect transistor. The field effect transistor used in the figure is a high electron mobility transistor, and a buffer layer 2, a channel layer 3, and an electron supply layer 4 are formed on a high resistance substrate 1. Specifically, by using In 0.15 Ga 0.85 As as the buffer layer 2 and Al 0.25 Ga 0.75 As as the electron supply layer 4, the channel layer 3 of the two-dimensional electron gas is formed at the interface between the buffer layer 2 and the electron supply layer 4. Is formed.

ソース電極5及びドレイン電極6間のチャネル領域には、電子供給層4の上部にストライプ状の凸部7(例えば、周期数100)が形成されている。このストライプ状の凸部7は、ゲート電極9下の電子供給層4において、ソース電極5、ゲート電極9及びドレイン電極6の並び方向と直交、かつ電子供給層4の主面と平行に形成されている複数の凸部を含む。これら凸部それぞれは、ゲート電極9下の電子供給層4においてソース電極5、ゲート電極9及びドレイン電極6の並び方向と直交する方向に連続的に形成されている。また、複数の凸部それぞれは、ソース電極5、ゲート電極9及びドレイン電極6の並び方向に周期的に形成されている。   In the channel region between the source electrode 5 and the drain electrode 6, stripe-shaped convex portions 7 (for example, the number of periods of 100) are formed on the electron supply layer 4. The stripe-shaped convex portions 7 are formed in the electron supply layer 4 under the gate electrode 9 so as to be orthogonal to the arrangement direction of the source electrode 5, the gate electrode 9 and the drain electrode 6 and in parallel with the main surface of the electron supply layer 4. Including a plurality of convex portions. Each of these convex portions is continuously formed in the electron supply layer 4 under the gate electrode 9 in a direction orthogonal to the arrangement direction of the source electrode 5, the gate electrode 9, and the drain electrode 6. Each of the plurality of convex portions is periodically formed in the direction in which the source electrode 5, the gate electrode 9, and the drain electrode 6 are arranged.

ソース電極5及びドレイン電極6間に、ゲート電極9が形成されている。ゲート電極9はテラヘルツ帯の電磁波を受信するサイズ及び形状を有する。また、ゲート電極9は、ワイヤ又はパターンを介して直流バイアス電圧が印加される。このゲート電極9は、ストライプ状の凸部7とショットキー接合されている。ゲート電極9とショットキー接合されているストライプ状の凸部7のうち、それぞれの凸部が電界効果型トランジスタのゲートとして機能する。つまり、テラヘルツ受信素子Aは、マルチゲートの構成となっている。また、ゲート電極9と、ストライプ状の凸部7とにより空洞が形成されている。また、ゲート電極9は、ストライプ状の凸部7以外の電子供給層4とは絶縁層8を介して形成されている。   A gate electrode 9 is formed between the source electrode 5 and the drain electrode 6. The gate electrode 9 has a size and a shape for receiving terahertz band electromagnetic waves. The gate electrode 9 is applied with a DC bias voltage via a wire or a pattern. The gate electrode 9 is joined to the stripe-shaped convex portion 7 by a Schottky junction. Of the stripe-shaped protrusions 7 that are Schottky-bonded to the gate electrode 9, each protrusion functions as a gate of a field effect transistor. That is, the terahertz receiving element A has a multi-gate configuration. Further, a cavity is formed by the gate electrode 9 and the stripe-shaped convex portion 7. Further, the gate electrode 9 is formed through an insulating layer 8 with respect to the electron supply layer 4 other than the striped convex portion 7.

高抵抗基板1の下、つまりバッファ層2が形成されている面と対向する面にはグランド面10が形成されている。このグランド面10は、ゲート電極9とともにパッチアンテナを構成する。   A ground surface 10 is formed under the high-resistance substrate 1, that is, on the surface facing the surface on which the buffer layer 2 is formed. The ground plane 10 and the gate electrode 9 constitute a patch antenna.

次に、チャネル層3で発生するプラズマ波について説明する。   Next, the plasma wave generated in the channel layer 3 will be described.

チャネル層3の2次元電子ガスの電子濃度は以下の式で与えられる。2次元電子ガス濃度n、ゲート−チャネル間の電圧Ugc、電子供給層4の誘電率ε、膜厚dとすると、n=ε(Ugc)/ed。この2次元電子ガスの電子濃度nはゲート−チャネル間に実効的に印加される電位差Ugcに比例する。このUgcはゲート−ソース間電圧Ugsから2次元電子チャネルのon/offの境界値となる閾値電圧Vthを引いた値で決定される。ここまでの理論が定常状態(無変調状態)での説明である。   The electron concentration of the two-dimensional electron gas in the channel layer 3 is given by the following equation. Assuming that the two-dimensional electron gas concentration n, the gate-channel voltage Ugc, the dielectric constant ε of the electron supply layer 4 and the film thickness d, n = ε (Ugc) / ed. The electron concentration n of the two-dimensional electron gas is proportional to the potential difference Ugc that is effectively applied between the gate and the channel. This Ugc is determined by a value obtained by subtracting a threshold voltage Vth which is an on / off boundary value of the two-dimensional electron channel from the gate-source voltage Ugs. The theory so far is the explanation in the steady state (non-modulation state).

ゲート電極9にテラヘルツ波が照射されると、ゲート電極9が当該テラヘルツ波を受信する。このとき、ゲート電極9で受信されたテラヘルツ波をストライプ状の凸部7を介してゲート電極9下のチャネル層3に伝達することにより、チャネル層3の2次元電子ガスが励振され、電子濃度が変調される(変調状態)。この変調された電子濃度、つまり2次元電子ガスの粗密波がプラズマ波である。   When the gate electrode 9 is irradiated with the terahertz wave, the gate electrode 9 receives the terahertz wave. At this time, the terahertz wave received by the gate electrode 9 is transmitted to the channel layer 3 below the gate electrode 9 via the stripe-shaped convex portion 7, whereby the two-dimensional electron gas in the channel layer 3 is excited, and the electron concentration Is modulated (modulation state). The modulated electron concentration, that is, the dense wave of the two-dimensional electron gas is a plasma wave.

次に、ゲート電極9にバイアス電圧を印加し、テラヘルツ波を受信したときの動作状態を説明する。図2(a)は従来のプラズモン格子デバイス100、図2(b)は本発明のテラヘルツ受信素子Aの断面図である。なお、図2(a)には入射するテラヘルツ波の進行方向及び電界と、プラズマ波の進行方向及び電界も示され、図2(b)にはさらに、テラヘルツ波をアンテナ(ゲート電極9)で受信した際に発生する電界も示されている。   Next, an operation state when a bias voltage is applied to the gate electrode 9 and a terahertz wave is received will be described. 2A is a cross-sectional view of a conventional plasmon lattice device 100, and FIG. 2B is a cross-sectional view of a terahertz receiving element A of the present invention. 2A also shows the traveling direction and electric field of the incident terahertz wave, and the traveling direction and electric field of the plasma wave, and FIG. 2B further shows the terahertz wave with the antenna (gate electrode 9). The electric field generated upon reception is also shown.

図2(a)に示すプラズモン格子デバイス100では、照射されたテラヘルツ波k_tを格子状のゲート電極107及び108がグレーティングカプラの効果により受信する。その受信されたテラヘルツ波をゲート領域のチャネル層103に伝達することにより、2次元電子ガスが励振され、プラズマ共鳴が発生する。このとき、プラズマ共鳴により発生するプラズマ波の電界方向110と、入射してくるテラヘルツ波の電界方向109とが直交しているため、カップリングロスが発生し、テラヘルツ波k_tからプラズマ波k’_tへの変換効率が低い。その結果、受信感度の低下を招いている。   In the plasmon lattice device 100 shown in FIG. 2A, the irradiated gate electrodes 107 and 108 receive the irradiated terahertz wave k_t by the effect of the grating coupler. By transmitting the received terahertz wave to the channel layer 103 in the gate region, the two-dimensional electron gas is excited and plasma resonance is generated. At this time, since the electric field direction 110 of the plasma wave generated by the plasma resonance and the electric field direction 109 of the incident terahertz wave are orthogonal to each other, a coupling loss occurs, and the plasma wave k′_t is changed from the terahertz wave k_t. Conversion efficiency is low. As a result, the reception sensitivity is lowered.

一方、図2(b)に示す本発明のテラヘルツ受信素子Aにおいては、照射されたテラヘルツ波k_tをパッチアンテナのアンテナ面として機能するゲート電極9が受信する。その受信されたテラヘルツ波をストライプ状の凸部7を介してチャネル層3に伝達することにより、2次元電子ガスが励振されプラズマ共鳴が発生する。   On the other hand, in the terahertz receiving element A of the present invention shown in FIG. 2B, the gate electrode 9 that functions as the antenna surface of the patch antenna receives the irradiated terahertz wave k_t. By transmitting the received terahertz wave to the channel layer 3 through the stripe-shaped convex portion 7, the two-dimensional electron gas is excited to generate plasma resonance.

このとき、パッチアンテナの特性として、ゲート電極9の主面に対して垂直方向にゲート電極9及びグランド面10間に電界が発生する。具体的には、パッチアンテナに発生する電界方向11は、ゲート電極9の最もソース電極5側及びドレイン電極6側で最大となり、中央になるにつれ小さい電界となる。また、中央では電界が実質0となり、中央を境としてソース電極5側とドレイン電極6側とで電界方向が反転する。   At this time, as a characteristic of the patch antenna, an electric field is generated between the gate electrode 9 and the ground plane 10 in a direction perpendicular to the main surface of the gate electrode 9. Specifically, the electric field direction 11 generated in the patch antenna is maximum on the source electrode 5 side and the drain electrode 6 side of the gate electrode 9, and becomes a smaller electric field as it becomes the center. In addition, the electric field is substantially zero at the center, and the electric field direction is reversed between the source electrode 5 side and the drain electrode 6 side with the center as a boundary.

このようにパッチアンテナの電界がテラヘルツ受信素子A内部で発生することで、チャネル層3の2次元電子ガスは、プラズモン格子デバイス100と比較して、より励振される。また、プラズマ波の電界方向12と、パッチアンテナに発生する電界方向11とが一致するので、テラヘルツ波k_tからプラズマ波k_pへの変換効率も高い。これによりプラズモン格子デバイス100のプラズマ波k’_pによって発生した電界E1jωtと、テラヘルツ受信素子Aのプラズマ波k_pによって発生した電界E0jωtとを比較すると、それらの絶対値E1及びE0はE0の方が大きくなる。その結果、受信感度が向上する。 As described above, the electric field of the patch antenna is generated inside the terahertz receiving element A, so that the two-dimensional electron gas in the channel layer 3 is more excited than the plasmon lattice device 100. Further, since the electric field direction 12 of the plasma wave coincides with the electric field direction 11 generated in the patch antenna, the conversion efficiency from the terahertz wave k_t to the plasma wave k_p is high. This electric field E 1 e j ω t generated by the plasma wave k'_p plasmon grating device 100 by, comparing the electric field E 0 e j ω t generated by the plasma wave k_p terahertz receiving elements A, absolute thereof Values E 1 and E 0 are larger for E 0 . As a result, reception sensitivity is improved.

つまり、ゲート電極9がパッチアンテナとして作用することにより効率よくテラヘルツ波を受信できるだけでなく、パッチアンテナとして機能したときに発生するパッチアンテナに発生する電界方向11とプラズマ波の電界方向12とが一致するためにカップリングロスを小さくできるので、効率の良い受信が可能となる。   That is, not only can the terahertz wave be efficiently received by the gate electrode 9 acting as a patch antenna, but the electric field direction 11 generated in the patch antenna generated when functioning as the patch antenna matches the electric field direction 12 of the plasma wave. Therefore, the coupling loss can be reduced, so that efficient reception is possible.

またさらに、テラヘルツ波の受信感度向上のためには、ゲート電極9をアンテナ面とするパッチアンテナの受信帯域と、ゲート長によって決定されるプラズマ共鳴周波数とが一致するように、ゲート電極9のサイズと、ゲート長とを構造設計する必要がある。ここで、ゲート長とは、ソース電極5、ゲート電極9及びドレイン電極6の並び方向にゲート電極9とショットキー接合している各凸部の長さである。ゲート電極9のサイズとゲート長との一例を以下に記す。   Furthermore, in order to improve the reception sensitivity of the terahertz wave, the size of the gate electrode 9 is set so that the reception band of the patch antenna having the gate electrode 9 as an antenna surface matches the plasma resonance frequency determined by the gate length. It is necessary to design the structure of the gate length. Here, the gate length is the length of each convex portion that is in Schottky junction with the gate electrode 9 in the direction in which the source electrode 5, the gate electrode 9, and the drain electrode 6 are arranged. An example of the size and gate length of the gate electrode 9 will be described below.

まず、パッチアンテナとして作用するゲート電極9であるが、矩形パッチアンテナの共振周波数fは以下の関係で与えられる。光の速度をc、ゲート電極9の1辺の長さをa、ゲート電極9とグランド面10間の材料の比誘電率をεrとすると、f=c/(2aεr 1/2)で与えられる。例えば、1THzのテラヘルツ波に対して受信感度が高い(指向性利得が大きい)設計とするには60×60μmの矩形形状を選択する。 First, regarding the gate electrode 9 acting as a patch antenna, the resonance frequency f of the rectangular patch antenna is given by the following relationship. The speed of light c, and the length of one side of the gate electrode 9 a, when the relative dielectric constant of the material between the gate electrode 9 and the ground plane 10 and epsilon r, at f = c / (2aε r 1/2 ) Given. For example, a 60 × 60 μm rectangular shape is selected for a design with high reception sensitivity (large directivity gain) for a 1 THz terahertz wave.

次に、プラズマ共鳴周波数を決定するゲート長について説明する。ゲート長の一例として、図3にInGaAsP系材料により構成される電界効果型トランジスタにおけるプラズマ共鳴周波数の計算結果を示す(ゲートに−1Vを印加、閾値電圧は−1.2V)。   Next, the gate length that determines the plasma resonance frequency will be described. As an example of the gate length, FIG. 3 shows the calculation result of the plasma resonance frequency in a field effect transistor made of an InGaAsP-based material (-1V is applied to the gate, the threshold voltage is -1.2V).

同図には、異なるゲート長において、受信テラヘルツ波の周波数に対するソース−ドレイン電圧の変調状態と無変調状態との差分ΔUdsが示されている。このΔUdsが高いほど、テラヘルツ波に対して感度が高いことを意味する。つまり、あるゲート長において受信テラヘルツ波の周波数に対してΔUdsが極大点となる周波数がプラズマ共鳴周波数である。   This figure shows the difference ΔUds between the modulation state and the non-modulation state of the source-drain voltage with respect to the frequency of the received terahertz wave at different gate lengths. Higher ΔUds means higher sensitivity to terahertz waves. That is, the frequency at which ΔUds becomes the maximum point with respect to the frequency of the received terahertz wave at a certain gate length is the plasma resonance frequency.

図3から、ゲート長によりプラズマ共鳴周波数が異なることがわかる。ここで、プラズマ共鳴周波数が1THzとなるようにゲート長として0.2μmを選択する。   FIG. 3 shows that the plasma resonance frequency varies depending on the gate length. Here, 0.2 μm is selected as the gate length so that the plasma resonance frequency is 1 THz.

これにより、パッチアンテナの受信帯域と、プラズマ共鳴周波数とが一致するので、高効率なテラヘルツ波受信が実現する。   As a result, since the reception band of the patch antenna matches the plasma resonance frequency, highly efficient terahertz wave reception is realized.

以上説明してきたように、本発明のテラヘルツ受信素子Aは、高抵抗基板1と、前記高抵抗基板1の第1の主面上に形成されているグランド面10と、前記高抵抗基板1の第1の主面に対向する第2の主面上に形成され、ヘテロ接合により形成されるチャネル層3を含む半導体層と、前記半導体層に形成され、前記チャネル層3とともに電界効果型トランジスタを形成するソース電極5、ゲート電極9及びドレイン電極6とを備え、前記半導体層は、前記ゲート電極9とショットキー接合されたストライプ状の凸部7を有し、前記ストライプ状の凸部7に含まれる複数の凸部それぞれは、前記ゲート電極9の下方において前記ソース電極5、前記ゲート電極9及び前記ドレイン電極6の並び方向に直交する。なお、バッファ層2、チャネル層3及び電子供給層4は、半導体層として機能する。   As described above, the terahertz receiving element A of the present invention includes the high-resistance substrate 1, the ground surface 10 formed on the first main surface of the high-resistance substrate 1, and the high-resistance substrate 1. A semiconductor layer including a channel layer 3 formed on a second main surface opposite to the first main surface and formed by a heterojunction, and a field effect transistor formed on the semiconductor layer together with the channel layer 3 A source electrode 5 to be formed; a gate electrode 9; and a drain electrode 6. The semiconductor layer has a stripe-shaped protrusion 7 that is Schottky-bonded to the gate electrode 9, and the stripe-shaped protrusion 7 Each of the plurality of convex portions included is orthogonal to the arrangement direction of the source electrode 5, the gate electrode 9, and the drain electrode 6 below the gate electrode 9. The buffer layer 2, the channel layer 3, and the electron supply layer 4 function as semiconductor layers.

これにより、照射されたテラヘルツ波k_tをゲート電極9で受信することにより発生した電界方向、つまりパッチアンテナに発生する電界方向11と、プラズマ共鳴により発生したプラズマ波の電界方向12とが一致するため、受信効率が向上する。また、ゲート電極9とショットキー接合されたストライプ状の凸部7では、ストライプ状の凸部7に含まれる複数の凸部それぞれが電界効果型トランジスタのゲートとして機能する。その結果、ゲートの下のチャネル層3で発生したプラズマ波を隣接するゲートの下で発生したプラズマ波と重畳できるので、テラヘルツ波からプラズマ波への変換効率が向上する。   Thereby, the electric field direction generated by receiving the irradiated terahertz wave k_t by the gate electrode 9, that is, the electric field direction 11 generated in the patch antenna coincides with the electric field direction 12 of the plasma wave generated by plasma resonance. , Reception efficiency is improved. Further, in the stripe-shaped protrusion 7 that is Schottky-bonded to the gate electrode 9, each of the plurality of protrusions included in the stripe-shaped protrusion 7 functions as the gate of the field effect transistor. As a result, since the plasma wave generated in the channel layer 3 under the gate can be superimposed on the plasma wave generated under the adjacent gate, the conversion efficiency from the terahertz wave to the plasma wave is improved.

また、ゲート電極9のサイズにより決定される受信可能なテラヘルツ波の周波数と、ゲート長により決定されるプラズマ周波数とを一致させることで、より高効率にテラヘルツ波を受信できる。さらに、ゲート電極にバイアスを印加する場合、従来のようにプラズモン格子状のゲート電極107及び108を形成し、各ゲートバイアスを制御することなく、チャネル層3の2次元電子ガスに濃度変調を与えることができ、簡易な制御で受信感度の向上を図ることができる。   Further, by making the receivable frequency of the terahertz wave determined by the size of the gate electrode 9 coincide with the plasma frequency determined by the gate length, the terahertz wave can be received more efficiently. Further, when a bias is applied to the gate electrode, plasmon lattice-like gate electrodes 107 and 108 are formed as in the prior art, and concentration modulation is applied to the two-dimensional electron gas of the channel layer 3 without controlling each gate bias. Therefore, it is possible to improve reception sensitivity with simple control.

また、ゲート長を0.065〜2μmとすることで、半導体製造プロセスによりストライプ状の凸部7を形成することができる。   Further, by setting the gate length to 0.065 to 2 μm, it is possible to form stripe-shaped convex portions 7 by a semiconductor manufacturing process.

また、ストライプ状の凸部に含まれる複数の凸部が形成されている周期を2次元電子プラズマ共鳴が起こるディメンションにした場合、より効率良くテラヘルツ波を受信することが可能となる。   In addition, when the period in which the plurality of protrusions included in the stripe-shaped protrusions are formed is a dimension in which two-dimensional electron plasma resonance occurs, terahertz waves can be received more efficiently.

また、バッファ層2及び電子供給層4をIII−V族化合物半導体とすることで、高い電子移動度を有するチャネル層3を構成することが可能となり、幅広いテラヘルツ電磁波周波数帯に対応した、高感度にテラヘルツ電磁波を受信できる。   In addition, by using the III-V group compound semiconductor for the buffer layer 2 and the electron supply layer 4, it is possible to configure the channel layer 3 having high electron mobility, and high sensitivity corresponding to a wide terahertz electromagnetic wave frequency band. Can receive terahertz electromagnetic waves.

以上、本発明のテラヘルツ受信素子Aについて、実施の形態に基づいて説明したが、本発明は、この実施形態に限定されるものではない。本発明の要旨を逸脱しない範囲内で当業者が思いつく各種変形を施したものも本発明の範囲内に含まれる。   Although the terahertz receiving element A of the present invention has been described based on the embodiment, the present invention is not limited to this embodiment. The present invention includes various modifications made by those skilled in the art without departing from the scope of the present invention.

例えば、上記実施形態においては、電界効果型トランジスタを構成する材料として、InGaAsP系材料を取り上げたが、AlGaAs系材料やGaN系材料においても同様の効果が得られる。   For example, in the above embodiment, an InGaAsP-based material is taken up as a material constituting a field effect transistor, but the same effect can be obtained even in an AlGaAs-based material or a GaN-based material.

また、上記実施形態においては、ゲート電極9の形状として矩形を選択したが、矩形以外の多角形及び円形の形状を選択しても問題は無い。これにより、感度及び広帯域など、用途によりアンテナの設計の自由度をあげることができる。また、円偏波のテラヘルツ波も受信できる。また、ゲート電極9の形状として、中央にスリットを設けたスロット形状を選択しても問題は無い。図4は、ゲート電極9の変形例を示す図である。図4(a)はスロットアンテナを示す。スロットアンテナの場合、ゲート電極9の中央部にスリットが設けられているので、中央のスリット部からは下の電子供給層4に設けられたストライプ状の凸部7が見える。図4(b)は六角形を採用した例を示す。図4(b)に示す形状は、上記実施の形態に示した矩形形状のゲート電極9の対角をわずかに落とした形状である。   Further, in the above embodiment, a rectangle is selected as the shape of the gate electrode 9, but there is no problem even if a polygon and a circular shape other than the rectangle are selected. As a result, the degree of freedom in antenna design can be increased depending on the application, such as sensitivity and broadband. It can also receive circularly polarized terahertz waves. Further, there is no problem even if a slot shape having a slit at the center is selected as the shape of the gate electrode 9. FIG. 4 is a view showing a modification of the gate electrode 9. FIG. 4A shows a slot antenna. In the case of the slot antenna, since the slit is provided in the central portion of the gate electrode 9, the stripe-shaped convex portion 7 provided in the lower electron supply layer 4 can be seen from the central slit portion. FIG. 4B shows an example in which a hexagon is adopted. The shape shown in FIG. 4B is a shape in which the diagonal of the rectangular gate electrode 9 shown in the above embodiment is slightly dropped.

また、ストライプ状の凸部7においても、所望のプラズマ共鳴周波数に応じた設計が可能であり、上記実施形態ではその一例を示しただけである。例えば、ストライプ状の凸部7は周期的に形成された複数の凸部を含まなくてもよい。具体的には、ゲート電極9下の電子供給層4のうち、最もソース電極5側とドレイン電極6側にのみ凸部が形成され、それら凸部の間は1つも凸部が形成されず、電子供給層4とゲート電極9との間に隙間がある状態でもよい。また、ゲート電極9下の電子供給層4のうち、ソース電極5側からゲート電極9の中心まで凸部が形成され、ゲート電極9の中心からドレイン電極6側までは電子供給層4とゲート電極9との間に隙間がある状態でもよい。これにより、設計自由度を上げることができる。   Also, the stripe-shaped convex portion 7 can be designed in accordance with a desired plasma resonance frequency, and the above embodiment only shows an example. For example, the stripe-shaped convex portion 7 may not include a plurality of periodically formed convex portions. Specifically, a convex portion is formed only on the source electrode 5 side and the drain electrode 6 side in the electron supply layer 4 below the gate electrode 9, and no convex portion is formed between the convex portions, There may be a state in which there is a gap between the electron supply layer 4 and the gate electrode 9. Further, in the electron supply layer 4 below the gate electrode 9, a convex portion is formed from the source electrode 5 side to the center of the gate electrode 9, and from the center of the gate electrode 9 to the drain electrode 6 side, the electron supply layer 4 and the gate electrode are formed. 9 may be in a state where there is a gap between them. Thereby, a design freedom can be raised.

また、上記実施形態においては、ストライプ状の凸部7とゲート電極9とにより空洞が構成されるとしたが、ここに誘電体が形成されていてもよい。   In the above-described embodiment, the stripe-shaped convex portion 7 and the gate electrode 9 form a cavity. However, a dielectric may be formed here.

また、図1において、ソース電極5及びドレイン電極6は、電子供給層4の上に形成されていたが、高抵抗基板1上にバッファ層2、チャネル層3及び電子供給層4を形成後に、電子供給層4と、チャネル層3と、バッファ層2の一部とを掘ることで形成された凹部に形成されていてもよい。   In FIG. 1, the source electrode 5 and the drain electrode 6 are formed on the electron supply layer 4, but after forming the buffer layer 2, the channel layer 3, and the electron supply layer 4 on the high resistance substrate 1, You may form in the recessed part formed by digging the electron supply layer 4, the channel layer 3, and a part of buffer layer 2. FIG.

本発明は、テラヘルツ波を受信する受信装置に利用でき、特に非破壊検査装置、イメージング装置、通信装置などに利用することができる。   The present invention can be used for a receiving device that receives a terahertz wave, and in particular, can be used for a nondestructive inspection device, an imaging device, a communication device, and the like.

本発明のテラヘルツ受信素子の構成を示す概略図である。It is the schematic which shows the structure of the terahertz receiving element of this invention. プラズモン格子デバイス及び本発明のテラヘルツ受信素子の断面図である。It is sectional drawing of a plasmon lattice device and the terahertz receiving element of this invention. 本発明のテラヘルツ受信素子の受信周波数特性を示す図である。It is a figure which shows the receiving frequency characteristic of the terahertz receiving element of this invention. ゲート電極9の変形例を示す図である。It is a figure which shows the modification of the gate electrode. 従来のテラヘルツ受信素子の構成を示す図である。It is a figure which shows the structure of the conventional terahertz receiving element. プラズモン格子デバイスの構成を示す図である。It is a figure which shows the structure of a plasmon lattice device.

1、101 高抵抗基板
2、102 バッファ層
3、103 チャネル層
4、104 電子供給層
5、105 ソース電極
6、106 ドレイン電極
7 ストライプ状の凸部
8 絶縁層
9、107、108 ゲート電極
10 グランド面
11 パッチアンテナに発生する電界方向
12、110 プラズマ波の電界方向
100 プラズモン格子デバイス
109 テラヘルツ波の電界方向
800、A テラヘルツ受信素子
804 ゲートワイヤ
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1,101 High-resistance board | substrate 2,102 Buffer layer 3,103 Channel layer 4,104 Electron supply layer 5,105 Source electrode 6,106 Drain electrode 7 Striped convex part 8 Insulating layer 9,107,108 Gate electrode 10 Ground Surface 11 Electric field direction generated in patch antenna 12, 110 Electric field direction of plasma wave 100 Plasmon lattice device 109 Electric field direction of terahertz wave 800, A Terahertz receiving element 804 Gate wire

Claims (5)

半導体基板と、
前記半導体基板の第1の主面上に形成されているグランド層と、
前記半導体基板の前記第1の主面に対向する第2の主面上に形成され、ヘテロ接合により形成される2次元電子チャネル層を含む半導体層と、
前記半導体層に形成され、前記2次元電子チャネル層とともに電界効果型トランジスタを形成するソース電極、ゲート電極及びドレイン電極とを備え、
前記半導体層は、前記ゲート電極とショットキー接合されたストライプ状に配置された複数の凸部を有し、
前記複数の凸部それぞれは、前記ゲート電極の下方において前記ソース電極、前記ゲート電極及び前記ドレイン電極の並び方向に直交する
テラヘルツ受信素子。
A semiconductor substrate;
A ground layer formed on the first main surface of the semiconductor substrate;
A semiconductor layer including a two-dimensional electron channel layer formed on a second main surface opposite to the first main surface of the semiconductor substrate and formed by a heterojunction;
A source electrode, a gate electrode and a drain electrode which are formed in the semiconductor layer and form a field effect transistor together with the two-dimensional electron channel layer;
The semiconductor layer has a plurality of protrusions arranged in a stripe shape that is Schottky bonded to the gate electrode,
Each of the plurality of convex portions is a terahertz receiving element orthogonal to the arrangement direction of the source electrode, the gate electrode, and the drain electrode below the gate electrode.
前記複数の凸部それぞれは、前記ソース電極、前記ゲート電極及び前記ドレイン電極の並び方向に前記ゲート電極とショットキー接合している箇所の長さが0.065〜2μmである
請求項1記載のテラヘルツ受信素子。
2. The length of each of the plurality of protrusions is 0.065 to 2 μm at a portion where the gate electrode and the Schottky junction are aligned in the direction in which the source electrode, the gate electrode, and the drain electrode are arranged. Terahertz receiving element.
前記複数の凸部それぞれは、前記ソース電極、前記ゲート電極及び前記ドレイン電極の並び方向に周期的に形成されている
請求項1記載のテラヘルツ受信素子。
The terahertz receiving element according to claim 1, wherein each of the plurality of convex portions is periodically formed in an arrangement direction of the source electrode, the gate electrode, and the drain electrode.
前記ゲート電極の形状は、矩形、多角形及び円形の何れかである
請求項1記載のテラヘルツ受信素子。
The terahertz receiving element according to claim 1, wherein a shape of the gate electrode is any one of a rectangle, a polygon, and a circle.
前記半導体層は、III−V族化合物半導体である
請求項1記載のテラヘルツ受信素子。
The terahertz receiving element according to claim 1, wherein the semiconductor layer is a III-V group compound semiconductor.
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