JP2010186694A - X-ray source, x-ray generation method, and method for manufacturing x-ray source - Google Patents

X-ray source, x-ray generation method, and method for manufacturing x-ray source Download PDF

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Akiko Sumiya
晶子 角谷
Nobutada Aoki
延忠 青木
Noriyasu Kobayashi
徳康 小林
Yuichi Motoi
雄一 元井
Yoshika Mitsunaka
義加 満仲
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To elongate lifetime of an X-ray source using a field emission type electron emitter. <P>SOLUTION: The X-ray source is provided in a vacuum valve 5 with an electron emitter 1 of a field emission type emitting electron when it is positioned in a given electric field, an anode 4 emitting X rays when a given positive voltage is impressed on the electron emitter 1 and the electron accelerated by the voltage collides with it, and a gate electrode 3 having voltage impressed on the electron emitter 1 for controlling an emission amount of electron emitted from the electron emitter 1. Further, a shape of the electron emitter 1 may be set along a shape of an equipotential surface, or a gas removal means may be provided for removing gas released from the electron emitter 1 out of the vacuum vessel 5. <P>COPYRIGHT: (C)2010,JPO&INPIT

Description

本発明は、電界放出型電子エミッタから電子を引き出してターゲットに衝突させることによってX線を発生するX線源、X線発生方法およびX線源製造方法に関する。   The present invention relates to an X-ray source, an X-ray generation method, and an X-ray source manufacturing method that generate X-rays by extracting electrons from a field emission electron emitter and making them collide with a target.

電界放出型電子源を利用したX線源(FE型X線源)が提案されている(たとえば特許文献1参照)。従来のFE型X線源は、フィールドエミッション材を付着させた陰極(カソード)と、陽極と、電子電流を制御するためのグリッド(格子)を設けたゲート電極と、真空容器を備えた構造を持つ。一般的に、FE型X線源では、フィラメントのように加熱電流によって電子電流量を制御することはできないので、グリッドを備えたゲート電極を備えた、いわゆる3極型の構成を採ったものが利用される。   An X-ray source (FE type X-ray source) using a field emission electron source has been proposed (see, for example, Patent Document 1). A conventional FE type X-ray source has a structure including a cathode (cathode) to which a field emission material is attached, an anode, a gate electrode provided with a grid for controlling electron current, and a vacuum vessel. Have. Generally, in the FE type X-ray source, the amount of electron current cannot be controlled by a heating current as in the case of a filament. Therefore, the FE type X-ray source employs a so-called tripolar configuration including a gate electrode provided with a grid. Used.

このように構成されたFE型のX線源においては、熱電子型の電子エミッタを利用したものに比べて電流のON/OFF応答が速く、高速のX線撮影が可能で、対象物の動きによる映像ボケを解消することができる。この特長によって、FE型X線源は、脈動が避けられない人体臓器の精密撮影に適しており、次世代の医療X線検査装置への応用が見込まれている。   In the FE type X-ray source configured in this way, the current ON / OFF response is faster than that using a thermionic electron emitter, high-speed X-ray imaging is possible, and the movement of the object The image blur caused by can be eliminated. Due to this feature, the FE type X-ray source is suitable for precision imaging of human organs where pulsation is inevitable, and is expected to be applied to the next generation medical X-ray examination apparatus.

特開2001−250496号公報JP 2001-250496 A

従来のFE型X線源は、電子エミッタからの電界電子の放出と、放出後の電子ビームの整形を同一のゲート電極を用いて行う構造となっている。そのため、ゲート電極は、電子エミッタ表面に均一な電界を印加するとともに、放出された電子をビーム化して陽極まで加速する2つの機能を満足することが必要となる。   A conventional FE type X-ray source has a structure in which field electrons are emitted from an electron emitter and shaping of an electron beam after emission is performed using the same gate electrode. Therefore, the gate electrode needs to satisfy the two functions of applying a uniform electric field to the electron emitter surface and accelerating the emitted electrons to the anode.

また、従来のFE型X線源では、目の細かい金属製メッシュ、または網状のグリッドを備えたゲート電極を適用しており、これによって電子エミッタの表面に均一な電界を印加する機能を優先させているが、反面、グリッド部に入射する成分による損失が多くなるとともに、グリッド部を通過したものでも、放出方向が散逸して、陽極表面での電子ビーム照射スポット径を拡大してしまうなど、ビーム化に悪影響を及ぼすものとなる。そのため、電子電流の損失低減と、方向の揃った電子ビームを得ることを両立させることは、従来型のFE型X線源では困難となっていた。   In addition, in the conventional FE type X-ray source, a gate electrode provided with a fine metal mesh or a mesh grid is applied, thereby giving priority to the function of applying a uniform electric field to the surface of the electron emitter. However, on the other hand, the loss due to the component incident on the grid part increases, and even if it passes through the grid part, the emission direction is dissipated, and the electron beam irradiation spot diameter on the anode surface is expanded, etc. It will have an adverse effect on beaming. For this reason, it has been difficult for a conventional FE X-ray source to achieve both reduction in loss of electron current and obtaining an electron beam having a uniform direction.

また、一般的にFE型X線源では、電子エミッタの性能となる電子電流量は、真空度によって大きく依存する。10−5Paより低真空側の条件で動作させた場合には、電子エミッタはイオン化された残留ガスのスパッタ作用によって安定動作が困難となり、電子電流量の上限値の増加も望めないものとなる。また、この真空度は、FE型X線源の動作中に、主に電子エミッタからの放出ガスによって低下する傾向を持つため、安定動作を達成するためにはX線源内の排気を継続しながら長時間にわたって慎重なエージングを行う必要があった。このようにFE型X線源では、安定で高い性能を達成するためには、多大な労力と時間を要する処理が要求されるものとなっていた。 In general, in an FE type X-ray source, the amount of electron current that becomes the performance of an electron emitter greatly depends on the degree of vacuum. When operated at a vacuum lower than 10 −5 Pa, the electron emitter becomes difficult to operate stably due to the sputtering action of the ionized residual gas, and an increase in the upper limit of the amount of electron current cannot be expected. . In addition, the degree of vacuum tends to decrease mainly due to the emission gas from the electron emitter during the operation of the FE type X-ray source. Therefore, in order to achieve stable operation, the exhaust in the X-ray source is continued. It was necessary to perform careful aging for a long time. Thus, in the FE type X-ray source, in order to achieve a stable and high performance, a process requiring a great amount of labor and time has been required.

そこで、本発明は、電界放出型電子エミッタから電子を引き出してターゲットに衝突させることによってX線を発生するX線源の寿命を長くすることを目的とする。   Therefore, an object of the present invention is to extend the life of an X-ray source that generates X-rays by extracting electrons from a field emission electron emitter and causing them to collide with a target.

上記目的を達成するため、本発明のX線源は、真空容器と、前記真空容器に収められ、所定の電界の中に位置すると電子を放出する電界放出型の電子エミッタと、前記真空容器に収められ、前記電子エミッタに対して正の所定の電圧が印加される陽極と、前記真空容器に収められ、前記所定の電圧によって加速された電子が衝突するとX線を放出するターゲットと、前記真空容器に収められ、前記電子エミッタから前記ターゲットに向かう電子の行路を遮らないように前記電子エミッタを囲んで配置され、前記電子エミッタに対して電圧を印加させ、前記電子エミッタから放出される電子の放出量を制御するゲート電極と、を有することを特徴とする。   In order to achieve the above object, an X-ray source according to the present invention includes a vacuum vessel, a field emission type electron emitter that is housed in the vacuum vessel and emits electrons when positioned in a predetermined electric field, and the vacuum vessel. An anode to which a positive predetermined voltage is applied to the electron emitter, a target that emits X-rays when the electron that is stored in the vacuum container and accelerated by the predetermined voltage collides, and the vacuum The electron emitter is placed in a container so as not to block a path of electrons from the electron emitter toward the target, and a voltage is applied to the electron emitter so that electrons emitted from the electron emitter And a gate electrode for controlling an emission amount.

また、本発明のX線発生方法は、真空容器内で電子エミッタを所定の電界の中に位置させ、電子を放出させる電子放出工程と、前記電子エミッタを所定の電圧によって加速する電子加速工程と、前記真空容器内で前記所定の電圧によって加速した電子をターゲットに衝突させてX線を放出させるX線放出工程と、ゲート電極に前記電子エミッタに対して電圧を印加して、前記電子エミッタから放出される電子の放出量を制御する電子放出量制御工程と、を有することを特徴とする。   Further, the X-ray generation method of the present invention includes an electron emission step in which an electron emitter is positioned in a predetermined electric field in a vacuum container to emit electrons, and an electron acceleration step in which the electron emitter is accelerated by a predetermined voltage; An X-ray emission process in which electrons accelerated by the predetermined voltage in the vacuum container collide with a target to emit X-rays; a voltage is applied to the gate electrode from the electron emitter; And an electron emission amount control step for controlling the amount of emitted electrons.

また、本発明のX線源製造方法は、容器を製造する工程と、前記容器に、所定の電界の中に位置すると電子を放出する電界放出型の電子エミッタ、前記電子エミッタに対して正の所定の電圧が印加される陽極、前記所定の電圧によって加速された電子が衝突するとX線を放出するターゲット、および、前記電子エミッタから前記ターゲットに向かう電子の行路を遮らないように前記電子エミッタを囲んで配置され、前記電子エミッタに対して電圧を印加できるようになっていて、前記電子エミッタから放出される電子の放出量を制御するゲート電極を前記容器内に取り付ける工程と、前記容器を真空にする真空工程と、を有することを特徴とする。   Further, the X-ray source manufacturing method of the present invention includes a step of manufacturing a container, a field emission type electron emitter that emits electrons when positioned in a predetermined electric field, and positive with respect to the electron emitter. An anode to which a predetermined voltage is applied, a target that emits X-rays when electrons accelerated by the predetermined voltage collide, and the electron emitter so as not to block an electron path from the electron emitter to the target And a step of attaching a gate electrode in the container for controlling an emission amount of electrons emitted from the electron emitter, the container being evacuated. And a vacuum process.

本発明によれば、電界放出型電子エミッタから電子を引き出してターゲットに衝突させることによってX線を発生するX線源の寿命を長くすることができる。   According to the present invention, the lifetime of an X-ray source that generates X-rays can be extended by extracting electrons from a field emission electron emitter and causing them to collide with a target.

本発明に係る実施形態1のX線源の縦断面図である。It is a longitudinal cross-sectional view of the X-ray source of Embodiment 1 which concerns on this invention. 本発明に係る実施形態2のX線源の縦断面図である。It is a longitudinal cross-sectional view of the X-ray source of Embodiment 2 which concerns on this invention. 本発明に係る実施形態3のX線源の一部の縦断面図である。It is a longitudinal cross-sectional view of a part of the X-ray source of Embodiment 3 according to the present invention. 本発明に係る実施形態4のX線源の一部の縦断面図である。It is a longitudinal cross-sectional view of a part of the X-ray source of Embodiment 4 according to the present invention. 本発明に係る実施形態5のX線源の一部の縦断面図である。It is a longitudinal cross-sectional view of a part of the X-ray source according to the fifth embodiment of the present invention. 本発明に係る実施形態6のX線源の一部であって、(a)は(b)のB−B矢視縦断面図、(b)は(a)のA−A矢視上面図である。It is a part of X-ray source of Embodiment 6 which concerns on this invention, Comprising: (a) is a BB arrow longitudinal cross-sectional view of (b), (b) is an AA arrow top view from (a). It is. 本発明に係る実施形態7のX線源の一部であって、(a)は斜視図、(b)は(a)のC−C矢視縦断面図である。It is a part of X-ray source of Embodiment 7 which concerns on this invention, Comprising: (a) is a perspective view, (b) is CC longitudinal cross-sectional view of (a). 本発明に係る実施形態8のX線源の縦断面図である。It is a longitudinal cross-sectional view of the X-ray source of Embodiment 8 which concerns on this invention. 本発明に係る実施形態9のX線源の縦断面図である。It is a longitudinal cross-sectional view of the X-ray source of Embodiment 9 which concerns on this invention. 本発明に係る実施形態10のX線源の縦断面図である。It is a longitudinal cross-sectional view of the X-ray source of Embodiment 10 which concerns on this invention. 本発明に係る実施形態11のX線源の縦断面図である。It is a longitudinal cross-sectional view of the X-ray source of Embodiment 11 which concerns on this invention. 本発明に係る実施形態12のX線源の縦断面図である。It is a longitudinal cross-sectional view of the X-ray source of Embodiment 12 which concerns on this invention. 本発明に係る実施形態13のX線源の縦断面図である。It is a longitudinal cross-sectional view of the X-ray source of Embodiment 13 which concerns on this invention. 本発明に係る実施形態14のX線源の縦断面図である。It is a longitudinal cross-sectional view of the X-ray source of Embodiment 14 which concerns on this invention.

本発明に係るX線源の実施形態を、図面を参照して説明する。なお、同一または類似の構成には同一の符号を付し、重複する説明は省略する。   An embodiment of an X-ray source according to the present invention will be described with reference to the drawings. In addition, the same code | symbol is attached | subjected to the same or similar structure, and the overlapping description is abbreviate | omitted.

[実施形態1]
図1は、本発明に係る実施形態1のX線源の縦断面図である。
[Embodiment 1]
1 is a longitudinal sectional view of an X-ray source according to Embodiment 1 of the present invention.

実施形態1のX線源では、円筒形状の真空容器5の内部に、陰極2および陽極4がそれぞれ真空容器5の底面および頂部の近傍に配置されている。陰極2も円筒形状をしており、その周りを円環状の間隙を介して囲むように円環状のゲート電極3が配置されている。ゲート電極3と陽極4の間に高電圧が印加されるように高圧電源6が接続されていて、ゲート電極3と陰極2の間にはゲート駆動電源7が接続されている。陰極2の陽極4に対向する表面には電子エミッタ1が取り付けられている。   In the X-ray source of the first embodiment, the cathode 2 and the anode 4 are disposed in the vicinity of the bottom surface and the top of the vacuum container 5 inside the cylindrical vacuum container 5, respectively. The cathode 2 also has a cylindrical shape, and an annular gate electrode 3 is disposed so as to surround the cathode 2 with an annular gap. A high voltage power supply 6 is connected so that a high voltage is applied between the gate electrode 3 and the anode 4, and a gate drive power supply 7 is connected between the gate electrode 3 and the cathode 2. An electron emitter 1 is attached to the surface of the cathode 2 facing the anode 4.

陽極4とゲート電極6間に印加された電圧などにより形成される電界はゲート電極3内の陰極2表面に設置された電子エミッタ1の表面に浸透し、電子エミッタ1から電子が電界放出する。またこの電圧によって加速された電子は電子ビーム8を形成し、ターゲットも兼ねる陽極4に入射し、X線9を放出する。X線9は真空容器5を透過して、真空容器5の外部に取り出される。なお、真空容器5に特にX線透過性能が高いX線透過窓(図示せず)を設け、そこからX線9を取り出すようにしてもよい。   The electric field formed by the voltage applied between the anode 4 and the gate electrode 6 penetrates the surface of the electron emitter 1 installed on the surface of the cathode 2 in the gate electrode 3, and electrons are emitted from the electron emitter 1. The electrons accelerated by this voltage form an electron beam 8 and enter the anode 4 that also serves as a target, and emit X-rays 9. The X-ray 9 passes through the vacuum vessel 5 and is taken out of the vacuum vessel 5. Note that an X-ray transmission window (not shown) having particularly high X-ray transmission performance may be provided in the vacuum vessel 5 and the X-ray 9 may be taken out therefrom.

放出電子電流量の制御は、ゲート電極3に対する陰極2の電位をゲート駆動用電源7によって調整することにより、ゲート電極3内に浸透してくる電界の強度を制御することによって行うことができる。陰極2の電位は、ゲート電極3に対して正電位となる範囲で調整し、最大電流を得る場合にはゲート電極3と同じ電位、すなわちゲート駆動用電源7の出力を0V(ゼロボルト)とする。このゲート駆動用電源7をパルス駆動することにより、パルス状の電子ビームを放出し、パルス状にX線9を発生させることもできる。   The amount of emitted electron current can be controlled by adjusting the electric field intensity penetrating into the gate electrode 3 by adjusting the potential of the cathode 2 with respect to the gate electrode 3 by the gate driving power source 7. The potential of the cathode 2 is adjusted in a range that is positive with respect to the gate electrode 3, and when obtaining the maximum current, the same potential as the gate electrode 3, that is, the output of the gate drive power supply 7 is set to 0 V (zero volts). . By driving the gate driving power source 7 in a pulsed manner, a pulsed electron beam can be emitted and the X-ray 9 can be generated in a pulsed manner.

電子エミッタ1としては、カーボンナノチューブ、またはその複合材料などを利用した種々の電界放出型のものを用いることができる。   As the electron emitter 1, various field emission types using carbon nanotubes or composite materials thereof can be used.

本実施形態では、電子エミッタ1へ印加される電界は、陽極4とゲート電極3間に印加される電圧によって形成されるため、グリッド(格子)型のゲート電極を利用したものよりも均一な電界が形成される。電子エミッタ1の電界が局在化すると、その一部からの電子の放出が大きくなり、電子エミッタ1が損傷する場合がある。このため、FE(電界放出)型電子エミッタでは、電界の均一性はその性能を発揮する上で非常に重要な項目である。本実施形態のようにグリッドを持たない構造は、均一な電界を得るために非常に有効であり、電子エミッタの性能を限界まで引き出すことが可能となる。また、本実施形態のゲート電極3には、放出電子をトラップし、放出方向を乱すグリッドのような構造物が無いので、損失と電子ビームの散逸という問題が少ない。   In the present embodiment, the electric field applied to the electron emitter 1 is formed by the voltage applied between the anode 4 and the gate electrode 3, so that the electric field is more uniform than that using a grid type gate electrode. Is formed. When the electric field of the electron emitter 1 is localized, electron emission from a part of the electron emitter 1 becomes large, and the electron emitter 1 may be damaged. For this reason, in the FE (field emission) type electron emitter, the uniformity of the electric field is a very important item for exerting its performance. The structure having no grid as in this embodiment is very effective for obtaining a uniform electric field, and the performance of the electron emitter can be brought out to the limit. In addition, since the gate electrode 3 of the present embodiment does not have a structure such as a grid that traps the emitted electrons and disturbs the emission direction, there are few problems of loss and dissipation of the electron beam.

また、放出方向の揃った電子をビーム化して陽極4に入射させることが可能である。   Further, it is possible to make electrons having the same emission direction into a beam and enter the anode 4.

このようなX線源では、電子エミッタ1から引き出した電子からX線9を発生させる効率が高いため、必要なX線を得るための電子電流が小さくて済み、X線源の寿命が長くなる。   In such an X-ray source, since the efficiency of generating X-rays 9 from the electrons extracted from the electron emitter 1 is high, an electron current for obtaining necessary X-rays can be reduced, and the life of the X-ray source is increased. .

[実施形態2]
図2は、本発明に係る実施形態2のX線源の縦断面図である。
[Embodiment 2]
FIG. 2 is a longitudinal sectional view of an X-ray source according to Embodiment 2 of the present invention.

実施形態2のX線源は、実施形態1のX線源とゲート電極3の形状が異なっている。陽極4とゲート電極3間に印加された電圧などによって電界が形成される。ゲート電極3は、この電界の等電位面の法線方向が電子ビーム8の行路の中心に向かうように、電子エミッタ1から離れるほど陽極4に近づく形状をしている。   The X-ray source of Embodiment 2 is different from the X-ray source of Embodiment 1 in the shape of the gate electrode 3. An electric field is formed by a voltage applied between the anode 4 and the gate electrode 3. The gate electrode 3 has a shape that approaches the anode 4 as the distance from the electron emitter 1 increases so that the normal direction of the equipotential surface of the electric field is directed toward the center of the path of the electron beam 8.

このようなゲート電極3を用いることにより、電子ビーム8を集束させて陽極4に入射させることができ、陽極表面に照射される電子の照射面を小さくすることが可能で、スポット径の小さなX線焦点が得られる。つまり、焦点サイズが小さなX線9を発生させることができる。このため、同じ電子電流量であっても、高分解能のX線撮像が可能になる。したがって、同等の分解能のX線撮像に必要な電子電流が少なくて済み、X線源の寿命が長くなる。   By using such a gate electrode 3, the electron beam 8 can be focused and incident on the anode 4, the electron irradiation surface irradiated on the anode surface can be made small, and the X with a small spot diameter can be obtained. Line focus is obtained. That is, X-rays 9 having a small focal spot size can be generated. For this reason, high-resolution X-ray imaging is possible even with the same amount of electron current. Therefore, less electron current is required for X-ray imaging with the same resolution, and the life of the X-ray source is increased.

[実施形態3]
図3は、本発明に係る実施形態3のX線源の電子エミッタ近傍の縦断面図である。
[Embodiment 3]
FIG. 3 is a longitudinal sectional view in the vicinity of an electron emitter of an X-ray source according to Embodiment 3 of the present invention.

実施形態3のX線源は、実施形態2のX線源と電子エミッタ1の形状が異なっている。電子エミッタ1の電子を放出する面、すなわち、陽極4に対向する面は、陽極4とゲート電極3間に印加された電圧などによって形成される電界の等電位面10に沿って、凹形状をしている。なお、陰極2の一方の底面も電子エミッタ1の形状に適合するように表面が凹形状をしている。   The X-ray source of Embodiment 3 differs from the X-ray source of Embodiment 2 in the shape of the electron emitter 1. The surface of the electron emitter 1 that emits electrons, that is, the surface facing the anode 4 has a concave shape along the equipotential surface 10 of the electric field formed by the voltage applied between the anode 4 and the gate electrode 3. is doing. The bottom surface of one of the cathodes 2 has a concave shape so as to match the shape of the electron emitter 1.

このような形状の電子エミッタ1を用いることにより、電子エミッタ1の表面に印加される電界の均一性を向上することができ、電子エミッタ1の電子放出性能を向上させることができる。また、電界の均一性の向上により、電子エミッタ1の一部の劣化が速くなることが抑制される。   By using the electron emitter 1 having such a shape, the uniformity of the electric field applied to the surface of the electron emitter 1 can be improved, and the electron emission performance of the electron emitter 1 can be improved. Further, due to the improvement in the uniformity of the electric field, it is possible to suppress a part of the electron emitter 1 from being rapidly deteriorated.

[実施形態4]
図4は、本発明に係る実施形態4のX線源の一部の縦断面図である。
[Embodiment 4]
FIG. 4 is a longitudinal sectional view of a part of the X-ray source according to the fourth embodiment of the present invention.

実施形態4のX線源は、実施形態3のX線源と陰極2および電子エミッタ1の形状が異なっている。電子エミッタ1は、針状の陰極2の先端部分の極小さな領域に付加したものであり、電子の放出領域はこの部分に集中する。ゲート駆動電源7の調整によって電子エミッタ1に印加される電界強度および等電位面の形状を制御することによって、電子ビーム8の電流量と収束性を任意に設定することが可能となる。   The X-ray source of Embodiment 4 differs from the X-ray source of Embodiment 3 in the shapes of the cathode 2 and the electron emitter 1. The electron emitter 1 is added to a very small area at the tip of the needle-like cathode 2, and the electron emission area is concentrated on this area. By controlling the electric field strength applied to the electron emitter 1 and the shape of the equipotential surface by adjusting the gate drive power supply 7, the current amount and convergence of the electron beam 8 can be arbitrarily set.

このような形状の電子エミッタ1を用いることにより、陽極4の表面の点状の微小領域に電子ビーム8を集束させることができ、焦点が極めて小さいX線9を発生させることができる。   By using the electron emitter 1 having such a shape, the electron beam 8 can be focused on a spot-like minute region on the surface of the anode 4, and an X-ray 9 having a very small focal point can be generated.

また、陰極2に刃状の一辺を有する板を用い、陰極の刃状の部分に電子エミッタ1を付加すると、線状に電子ビーム8を集束させることも可能である。この場合には、細い線状の焦点を持ったX線9を発生させることができる。   Further, when a plate having a blade-like side is used for the cathode 2 and the electron emitter 1 is added to the blade-like portion of the cathode, the electron beam 8 can be focused linearly. In this case, the X-ray 9 having a thin linear focus can be generated.

このように焦点サイズが小さなX線9を発生させることができるため、同じ電子電流量であっても、高分解能のX線撮像が可能になる。したがって、同等の分解能のX線撮像に必要な電子電流が少なくて済み、X線源の寿命が長くなる。   Since X-rays 9 having a small focal size can be generated in this way, high-resolution X-ray imaging can be performed even with the same amount of electron current. Therefore, less electron current is required for X-ray imaging with the same resolution, and the life of the X-ray source is increased.

[実施形態5]
図5は、本発明に係る実施形態5のX線源の一部の縦断面図である。
[Embodiment 5]
FIG. 5 is a longitudinal sectional view of a part of the X-ray source according to the fifth embodiment of the present invention.

本実施形態は実施形態3のX線源の陽極4を、陽極4とターゲット13に分割して、それらの間に電磁レンズ12を設けたものである。   In the present embodiment, the anode 4 of the X-ray source of the third embodiment is divided into an anode 4 and a target 13 and an electromagnetic lens 12 is provided between them.

本実施形態の陽極4は、中央に円形の開口60を有する円板であり、電子エミッタ1およびゲート電極3と所定の距離だけ離れて、その開口60が電子エミッタ1の中心に対向する位置に配置されている。陽極4、陰極2およびゲート電極3によって形成される電界に電子エミッタ1が位置することにより、電子が電子エミッタ1から放出され電子ビーム8を形成する。   The anode 4 of the present embodiment is a disc having a circular opening 60 in the center, and is separated from the electron emitter 1 and the gate electrode 3 by a predetermined distance so that the opening 60 faces the center of the electron emitter 1. Has been placed. When the electron emitter 1 is positioned in the electric field formed by the anode 4, the cathode 2 and the gate electrode 3, electrons are emitted from the electron emitter 1 to form an electron beam 8.

電子ビーム8は、陽極4の開口60を通過して、陽極4を挟んで電子エミッタ1に対向するように配置されているターゲット13に向かう。陽極4とターゲット13の間には、電子ビーム8の行路を囲むように電磁レンズ12が配設されていて、電子ビーム8を集束させる。   The electron beam 8 passes through the opening 60 of the anode 4 and travels toward the target 13 disposed so as to face the electron emitter 1 with the anode 4 interposed therebetween. An electromagnetic lens 12 is disposed between the anode 4 and the target 13 so as to surround the path of the electron beam 8 to focus the electron beam 8.

電子エミッタ1から効率良く電子を引き出すには、陰極2およびゲート電極3の形状を陰極2の表面に均一な電界がかかるような形状としなければならない。しかし、電子ビーム8を小さな焦点で収束しようとすると陰極2の凹半径を大きくする必要があり、陰極2表面での電界は中心で弱く、端部で強くなり、端部から多くの電子が発生することとなり、電子を電子エミッタ1から均一に引き出すことができない。そこで、電磁レンズ12を用いて、電子ビーム8が発散することを抑制しながら均一な電子を引き出している。これにより、電子エミッタ1から効率良く電子を引き出すことにより電流量が確保できる。   In order to efficiently extract electrons from the electron emitter 1, the shape of the cathode 2 and the gate electrode 3 must be such that a uniform electric field is applied to the surface of the cathode 2. However, in order to converge the electron beam 8 with a small focal point, it is necessary to increase the concave radius of the cathode 2, and the electric field at the surface of the cathode 2 is weak at the center, strong at the end, and many electrons are generated from the end. As a result, electrons cannot be uniformly extracted from the electron emitter 1. Therefore, uniform electrons are extracted using the electromagnetic lens 12 while suppressing the divergence of the electron beam 8. Thereby, the amount of current can be secured by efficiently extracting electrons from the electron emitter 1.

また、電磁レンズ12に到達するまでの電子ビーム8の発散を抑えることができ、X線源を小型化できる。さらに、電子を効率的にX線に変換することができるため、必要な電子電流量が少なくて済み、X線源の寿命が長くなる。   Moreover, the divergence of the electron beam 8 until it reaches the electromagnetic lens 12 can be suppressed, and the X-ray source can be reduced in size. Furthermore, since electrons can be efficiently converted into X-rays, the amount of necessary electron current is reduced, and the life of the X-ray source is increased.

[実施形態6]
図6は、本発明に係る実施形態5のX線源の一部であって、(a)は(b)のB−B矢視縦断面図、(b)は(a)のA−A矢視上面図である。
[Embodiment 6]
6A and 6B are a part of the X-ray source according to the fifth embodiment of the present invention, in which FIG. 6A is a vertical cross-sectional view taken along the line B-B in FIG. 6B, and FIG. It is an arrow top view.

本実施形態では、陰極2、電子エミッタ1とゲート電極3から構成されるユニットを4組備え、各ユニットを陽極4に対向させて並列させている。   In the present embodiment, four sets of units each composed of a cathode 2, an electron emitter 1 and a gate electrode 3 are provided, and each unit is arranged in parallel so as to face the anode 4.

電子電流量を増加するために電子エミッタ1の面積を増加させると、電子電流を制御するための電圧を増加させる必要がある。これはゲート電極3の開口を通過して浸透してくる電界を押し戻すために電子エミッタ1に印加する電圧を高くすることが必要となるためである。そのため、電子エミッタ1の許容サイズには限界がある。そこで、電子エミッタ1のサイズを一定範囲に抑えて、ゲート電極3と組み合わせたユニットの数を増加することにより電子電流の増加をはかることが可能となる。電圧を増加することなく、電子電流を増加させることができるため、X線源の寿命が長くなる。   When the area of the electron emitter 1 is increased in order to increase the amount of electron current, it is necessary to increase the voltage for controlling the electron current. This is because it is necessary to increase the voltage applied to the electron emitter 1 in order to push back the electric field penetrating through the opening of the gate electrode 3. Therefore, the allowable size of the electron emitter 1 is limited. Accordingly, it is possible to increase the electron current by suppressing the size of the electron emitter 1 within a certain range and increasing the number of units combined with the gate electrode 3. Since the electron current can be increased without increasing the voltage, the lifetime of the X-ray source is prolonged.

なお、陰極2、電子エミッタ1とゲート電極3から構成されるユニットの数は4つに限定されるものではなく、必要な電子電流に応じて増減することができる。   The number of units composed of the cathode 2, the electron emitter 1 and the gate electrode 3 is not limited to four, and can be increased or decreased according to the required electron current.

[実施形態7]
図7は、本発明に係る実施形態7のX線源の一部であって、(a)は斜視図、(b)は(a)のC−C矢視縦断面図である。
[Embodiment 7]
7A and 7B are a part of an X-ray source according to Embodiment 7 of the present invention, in which FIG. 7A is a perspective view and FIG. 7B is a longitudinal sectional view taken along the line CC of FIG.

本実施形態では、ゲート電極3をゲート一体型エミッタ21に内蔵し、ゲート電極3と電子エミッタ1を一体化している。   In this embodiment, the gate electrode 3 is built in the gate-integrated emitter 21, and the gate electrode 3 and the electron emitter 1 are integrated.

ゲート一体型エミッタ21は、平板状の陰極2に、格子状に配列した複数の円形の貫通孔23aを設けた絶縁体22を重ね、さらにその上に絶縁体22の貫通孔23aと同じ位置に開口23bが貫通しているゲート電極3を重ねたものである。絶縁体22の貫通孔23aには電子エミッタ1が陰極2に接触して配置されている。絶縁体22の貫通孔23aおよびゲート電極3の開口23bは電子放出孔23を形成していて、ゲート電極3に対向する方向に陽極4を配置し、適切な電圧を印加することにより、電子エミッタ1から放出された電子は、電子放出孔23を通って陽極4に向かう。   In the gate-integrated emitter 21, an insulator 22 provided with a plurality of circular through-holes 23a arranged in a grid pattern is stacked on the flat cathode 2 and further on the insulator 22 is placed at the same position as the through-hole 23a of the insulator 22. The gate electrode 3 through which the opening 23b passes is overlapped. The electron emitter 1 is disposed in contact with the cathode 2 in the through hole 23 a of the insulator 22. The through hole 23a of the insulator 22 and the opening 23b of the gate electrode 3 form an electron emission hole 23, and an anode 4 is arranged in a direction facing the gate electrode 3 and an appropriate voltage is applied to thereby form an electron emitter. The electrons emitted from 1 pass toward the anode 4 through the electron emission holes 23.

陰極2とゲート電極3の間に挟み込んだ絶縁体22の厚さは、たとえば数10μm程度とすることができるため、100V以下の低い電圧によって電子放出を制御することができる。これにより、ゲート駆動電源7は簡易なものを用いることができる。また、パルス駆動する場合にも、絶縁維持距離を縮小することができるため、高電圧駆動時よりも高速駆動することが可能となる。   Since the thickness of the insulator 22 sandwiched between the cathode 2 and the gate electrode 3 can be, for example, about several tens of μm, electron emission can be controlled by a low voltage of 100 V or less. Thereby, a simple gate drive power supply 7 can be used. Also, in the case of pulse driving, since the insulation maintaining distance can be reduced, it is possible to drive at higher speed than during high voltage driving.

また、実施形態7と同様に、電圧を増加することなく、電子電流を増加させることができるため、X線源の寿命が長くなる。   Further, since the electron current can be increased without increasing the voltage as in the seventh embodiment, the lifetime of the X-ray source is extended.

なお、図7の例では、電子放出孔23の配列は正方格子状として、ゲート一体型エミッタ21全体で長方形状としているが、電子放出孔23をほぼ円形に配列することもできる。ゲート一体型エミッタ21全体を円形状にしてもよい。また、電子放出孔23の配列も正方格子状でなく、稠密配置であってもよい。電子放出孔23の数は、必要な電子電流などに応じて適宜増減してもよい。   In the example of FIG. 7, the electron emission holes 23 are arranged in a square lattice shape, and the entire gate-integrated emitter 21 is rectangular. However, the electron emission holes 23 may be arranged in a substantially circular shape. The entire gate-integrated emitter 21 may be circular. Further, the arrangement of the electron emission holes 23 may not be a square lattice but may be a dense arrangement. The number of the electron emission holes 23 may be appropriately increased or decreased according to a necessary electron current.

[実施形態8]
図8は、本発明に係る実施形態8のX線源の縦断面図である。
[Eighth embodiment]
FIG. 8 is a longitudinal sectional view of an X-ray source according to Embodiment 8 of the present invention.

本実施形態では、ゲート電極3と陽極4の間に、中間的な電位を与えるための中間電極11、および、中間電極11に電圧を印加する中間電極電源24を備えている。中間電極11は電子エミッタ1から陽極4に向かう電子ビーム8の行路を囲むように配置されている。   In the present embodiment, an intermediate electrode 11 for applying an intermediate potential and an intermediate electrode power source 24 for applying a voltage to the intermediate electrode 11 are provided between the gate electrode 3 and the anode 4. The intermediate electrode 11 is disposed so as to surround the path of the electron beam 8 from the electron emitter 1 toward the anode 4.

中間電極11とゲート電極3の間に印加された電圧によって、電子エミッタ1から電子を放出させることになるため、陽極4の電圧を変化させた場合でも電子エミッタ1に加わる最大電界は、中間電極11によって決定されるため、放出される電子電流量を一定に保つことができる。このため、X線エネルギーを変化させた場合であっても電流量を一定に保つことができ、X線源の制御性が向上する。またX線源の寿命も長くなる。   Since electrons are emitted from the electron emitter 1 by the voltage applied between the intermediate electrode 11 and the gate electrode 3, even when the voltage of the anode 4 is changed, the maximum electric field applied to the electron emitter 1 is Therefore, the amount of emitted electron current can be kept constant. For this reason, even when the X-ray energy is changed, the amount of current can be kept constant, and the controllability of the X-ray source is improved. In addition, the life of the X-ray source is increased.

[実施形態9]
図9は、本発明に係る実施形態9のX線源の縦断面図である。
[Embodiment 9]
FIG. 9 is a longitudinal sectional view of an X-ray source according to Embodiment 9 of the present invention.

本実施形態では、電子エミッタ1の近傍に配置されたヒータ33、および、ヒータ33に通電するための加熱用電源34を備えている。ヒータ33は、電子エミッタ1から放出される電子ビームの行路を遮らないように、陰極2を挟んで電子エミッタ1の反対側に配置されている。また、真空容器5には、真空配管32を介して真空ポンプ31が取り付けられている。   In this embodiment, a heater 33 disposed in the vicinity of the electron emitter 1 and a heating power source 34 for energizing the heater 33 are provided. The heater 33 is disposed on the opposite side of the electron emitter 1 across the cathode 2 so as not to block the path of the electron beam emitted from the electron emitter 1. A vacuum pump 31 is attached to the vacuum vessel 5 via a vacuum pipe 32.

X線源を組み立てた後に、ヒータ33によって電子エミッタ1を加熱して内部に含まれるガスを積極的に放出(ベーキング)させ、これを真空容器5に直結した真空ポンプ31によって排出する。その後、陰極2、ゲート電極3および陰極4に適切な電圧を印加して、電子エミッタ1から電子を放出させ、陽極4からX線9を発生させる。   After the X-ray source is assembled, the electron emitter 1 is heated by the heater 33 to positively release (baking) the gas contained therein, and is discharged by the vacuum pump 31 directly connected to the vacuum vessel 5. Thereafter, appropriate voltages are applied to the cathode 2, the gate electrode 3, and the cathode 4 to emit electrons from the electron emitter 1 and generate X-rays 9 from the anode 4.

このように電子エミッタ1内に含まれるガスを強制的にベーキング、排気することによって、X線9を発生させる通常の動作中のガス放出を低減することができ、限界電子電流量を高め、安定な動作を長時間にわたって維持することができる。   By forcibly baking and exhausting the gas contained in the electron emitter 1 in this way, it is possible to reduce the gas emission during the normal operation for generating the X-rays 9 and to increase the amount of limit electron current and to stabilize it. Operation can be maintained for a long time.

さらに、電子エミッタ1のベーキングおよび真空容器5の排気の後に、電子エミッタ1からのガス放出量が低い状態で、真空ポンプ31と真空容器5間をつなぐ真空配管32を機械的または熱的な手段によって切断・封着させてもよい。この場合には、真空ポンプ31から真空容器5へのガスの流入のおそれがなく。高い真空状態を維持することができる。   Further, after the electron emitter 1 is baked and the vacuum vessel 5 is evacuated, the vacuum pipe 32 connecting the vacuum pump 31 and the vacuum vessel 5 is mechanically or thermally provided in a state where the gas emission amount from the electron emitter 1 is low. May be cut and sealed. In this case, there is no risk of gas flowing from the vacuum pump 31 into the vacuum vessel 5. A high vacuum state can be maintained.

ヒータ33の種類としては、電流加熱によるヒータが最も簡便であるが、高温加熱したガスを外部から耐熱性パイプ(図示せず)によって導入するなどの方法を用いてもよい。また、ヒータ33として全体が耐熱絶縁体で覆われたものを用いて、電子エミッタ1を接続した陰極2に直接接触させて設置し、伝導による加熱を行わせるようにしてもよい(図示せず)。   As the type of the heater 33, a heater by current heating is the simplest, but a method of introducing a gas heated at a high temperature from the outside through a heat resistant pipe (not shown) may be used. Alternatively, a heater 33 that is entirely covered with a heat-resistant insulator may be used in direct contact with the cathode 2 to which the electron emitter 1 is connected so that heating by conduction is performed (not shown). ).

[実施形態10]
図10は、本発明に係る実施形態10のX線源の縦断面図である。
[Embodiment 10]
FIG. 10 is a longitudinal sectional view of an X-ray source according to Embodiment 10 of the present invention.

本実施形態では、電子エミッタ1から放出されるガスなどの真空容器5内のガスを排除するために、ヒータ33を内蔵し、真空容器中のガスを吸着するゲッタ35を真空容器5内に組み込んでいる。なお、ゲッタ35はガスを吸着するだけでなく、真空容器に気体状で存在しないようにできればよく、ガスを吸蔵したり、ガスと化学的に結合するものであってもよい。   In this embodiment, in order to exclude gas in the vacuum vessel 5 such as gas emitted from the electron emitter 1, a heater 33 is built in and a getter 35 that adsorbs the gas in the vacuum vessel is incorporated in the vacuum vessel 5. It is out. The getter 35 is not limited to adsorbing a gas, but may be configured not to exist in a gaseous state in the vacuum vessel. The getter 35 may store gas or be chemically bonded to the gas.

ゲッタ35を活性化するためには、ゲッタ35を加熱することが必要であり、ヒータ33を内蔵したゲッタ35が一般的に使用される。このヒータ33により電子エミッタ1のベーキングを同時に行うことができる。ゲッタ35の活性化に必要となる温度は種類によって異なるが400℃から900℃の範囲のものが一般的である。ゲッタとしては、たとえば酸化チタンを用いることができる。ゲッタ35表面がこの温度に上昇した時に放出される輻射熱を利用すれば陰極2を通して電子エミッタ1にも熱が伝わり、電子エミッタ1内に含まれるガスをベーキング作用によって追い出すことが可能である。   In order to activate the getter 35, it is necessary to heat the getter 35, and the getter 35 including the heater 33 is generally used. By this heater 33, the electron emitter 1 can be baked simultaneously. The temperature required for the activation of the getter 35 varies depending on the type, but is generally in the range of 400 ° C to 900 ° C. As the getter, for example, titanium oxide can be used. If radiant heat emitted when the surface of the getter 35 rises to this temperature is used, heat is also transmitted to the electron emitter 1 through the cathode 2, and the gas contained in the electron emitter 1 can be driven out by baking.

また、ゲッタ35による真空容器5内のガスの排除に加えて、真空容器5に真空ポンプを取り付けて真空容器5を真空排気してもよい。真空排気した後に、実施形態9と同様に真空容器5を封じ切っても、電子エミッタ1のベーキングとゲッタの活性化が終了しているため、X線放出動作をさせるときに放出するガスはゲッタ35によって吸着され、真空容器5内を良好な真空度に維持することができる。   Further, in addition to the removal of the gas in the vacuum vessel 5 by the getter 35, a vacuum pump may be attached to the vacuum vessel 5 to evacuate the vacuum vessel 5. Even if the vacuum vessel 5 is sealed after evacuation, as in the ninth embodiment, the baking of the electron emitter 1 and the activation of the getter are complete. It is adsorbed by 35 and the inside of the vacuum vessel 5 can be maintained at a good degree of vacuum.

良好な真空度を維持することにより、電子エミッタ1などへのガス原子の衝突が抑制され、X線源の寿命が延びる。   By maintaining a good degree of vacuum, collisions of gas atoms with the electron emitter 1 and the like are suppressed, and the lifetime of the X-ray source is extended.

[実施形態11]
図11は、本発明に係る実施形態11のX線源の縦断面図である。
[Embodiment 11]
FIG. 11 is a longitudinal sectional view of an X-ray source according to Embodiment 11 of the present invention.

本実施形態では、電子エミッタ1を加熱するためのヒータ33を真空容器5の外部に配置している。真空容器5は、電子エミッタ1とヒータ33をできるだけ近接させるため、2つの径の異なる円筒が軸を同じ位置として結合した形状をしている。円筒状に陰極2および電子エミッタ1を取り囲んだゲート電極3を収めるために必要な径以上であって、できるだけ小さな径の円筒部の周りに、円筒状のヒータ33が取り付けられている。   In the present embodiment, a heater 33 for heating the electron emitter 1 is disposed outside the vacuum vessel 5. The vacuum vessel 5 has a shape in which two cylinders having different diameters are coupled with the shafts at the same position in order to bring the electron emitter 1 and the heater 33 as close as possible. A cylindrical heater 33 is attached around a cylindrical portion having a diameter that is larger than the diameter necessary to accommodate the gate electrode 3 that surrounds the cathode 2 and the electron emitter 1 in a cylindrical shape.

ヒータ33は、ベーキング対象部位である電子エミッタ1を、真空容器5を通しての輻射熱によって昇温させ、含まれるガスを追い出す。ヒータ33としては、真空容器5外部からバーナの炎熱を利用して加熱することもできる。また、高周波加熱器を用いて電子エミッタ1、陰極2、およびゲート電極3などの金属製構造物を同時に加熱してベーキングすることもできる。   The heater 33 raises the temperature of the electron emitter 1, which is an object to be baked, by radiant heat passing through the vacuum vessel 5, and drives out contained gas. The heater 33 can also be heated from the outside of the vacuum vessel 5 using the flame heat of the burner. In addition, metal structures such as the electron emitter 1, the cathode 2, and the gate electrode 3 can be simultaneously heated and baked using a high-frequency heater.

ベーキング処理終了後は、ヒータ33を取り外すことによりX線源の大きさを小さくすることができる。また、真空排気した後に、実施形態9と同様に真空容器5を封じ切ることにより、X線源の大きさを小さくすることもできる。X線源を製造する際にベーキング処理までを行い、その後ヒータ等を取り外して小型化したX線源を使用場所まで運んで使用してもよい。   After the baking process is completed, the size of the X-ray source can be reduced by removing the heater 33. Further, after evacuation, the size of the X-ray source can be reduced by sealing the vacuum vessel 5 as in the ninth embodiment. When the X-ray source is manufactured, the baking process may be performed, and then the heater or the like may be removed and the X-ray source reduced in size may be carried to the place of use.

真空容器内のガスを少なく維持することにより、電子エミッタ1などへのガス原子の衝突が抑制され、X線源の寿命が延びる。   By keeping the gas in the vacuum container small, collisions of gas atoms with the electron emitter 1 and the like are suppressed, and the lifetime of the X-ray source is extended.

[実施形態12]
図12は、本発明に係る実施形態12のX線源の縦断面図である。
[Embodiment 12]
FIG. 12 is a longitudinal sectional view of an X-ray source according to Embodiment 12 of the present invention.

本実施形態のX線源は、実施形態11のX線源のヒータ33が取り囲む真空容器5の部分が、金属製真空容器端部51で構成されているものである。   In the X-ray source of the present embodiment, the portion of the vacuum vessel 5 surrounded by the heater 33 of the X-ray source of Embodiment 11 is configured by a metal vacuum vessel end 51.

一般的にX線源の真空容器の主材料として絶縁の目的も兼ねてガラス材料が使用されるが、本実施形態では電子エミッタ1を含む陰極2の周りの部分を金属製の金属製真空容器端部51としている。このため外部からの加熱を効果的に内部に導くことができるためベーキング効率が向上し、容易に電子エミッタ1のベーキングができる。   In general, a glass material is used as a main material of a vacuum vessel of an X-ray source for the purpose of insulation. In this embodiment, a portion around a cathode 2 including an electron emitter 1 is made of a metal metal vacuum vessel. An end 51 is provided. For this reason, since the heating from the outside can be effectively led to the inside, the baking efficiency is improved and the electron emitter 1 can be easily baked.

真空容器内のガスを少なく維持することにより、電子エミッタ1などへのガス原子の衝突が抑制され、X線源の寿命が延びる。   By keeping the gas in the vacuum container small, collisions of gas atoms with the electron emitter 1 and the like are suppressed, and the lifetime of the X-ray source is extended.

[実施形態13]
図13は、本発明に係る実施形態13のX線源の縦断面図である。
[Embodiment 13]
FIG. 13: is a longitudinal cross-sectional view of the X-ray source of Embodiment 13 which concerns on this invention.

本実施形態のX線源は、真空容器5に接続したスパッタイオンポンプ容器36を備えている。スパッタイオンポンプ容器36の内部にはスパッタイオンポンプ37が取り付けられており、スパッタイオンポンプ37はスパッタイオンポンプ容器36の外部に設置されたスパッタイオンポンプ制御器38によって制御される。   The X-ray source of this embodiment includes a sputter ion pump container 36 connected to the vacuum container 5. A sputter ion pump 37 is attached inside the sputter ion pump container 36, and the sputter ion pump 37 is controlled by a sputter ion pump controller 38 installed outside the sputter ion pump container 36.

密閉型の真空ポンプであるスパッタイオンポンプ37を真空容器5に直結しておくことによって電子エミッタ1から放出されるガスの排除能力を上げることができる。このため、長時間にわたって良好な真空度を維持し、安定な性能を維持することができる。密閉型の真空ポンプとしては、高真空領域の動作を行うので、スパッタイオンポンプ37が適しており、非常に小さな消費電力で動作させることが可能である。   By directly connecting the sputter ion pump 37, which is a hermetic vacuum pump, to the vacuum vessel 5, the ability to exclude the gas emitted from the electron emitter 1 can be increased. For this reason, a favorable degree of vacuum can be maintained over a long period of time, and stable performance can be maintained. As the hermetic vacuum pump, since it operates in a high vacuum region, the sputter ion pump 37 is suitable and can be operated with very small power consumption.

真空容器内のガスを少なく維持することにより、電子エミッタ1などへのガス原子の衝突が抑制され、X線源の寿命が延びる。   By keeping the gas in the vacuum container small, collisions of gas atoms with the electron emitter 1 and the like are suppressed, and the lifetime of the X-ray source is extended.

また、スパッタイオンポンプ37に供給される電流量は、内部の真空度との相関関係を持っているので、これをモニタすることによって真空容器5内の真空度を知ることができ、X線源の寿命を判定することもできる。   Further, since the amount of current supplied to the sputter ion pump 37 has a correlation with the internal vacuum degree, the vacuum degree in the vacuum vessel 5 can be known by monitoring this, and the X-ray source It is also possible to determine the lifespan.

なお、スパッタイオンポンプに加えて、ゲッタや真空ポンプを併用することもできる。   In addition to the sputter ion pump, a getter or a vacuum pump can be used in combination.

[実施形態14]
図14は、本発明に係る実施形態14のX線源の縦断面図である。
[Embodiment 14]
FIG. 14 is a longitudinal sectional view of an X-ray source according to Embodiment 14 of the present invention.

本実施形態は、電子エミッタ1を冷却する機構を備えている。電子エミッタ1に取り付けられた伝熱手段42は、真空容器5の外部に設置された冷却手段41に接続されている。伝熱手段42には水などを冷媒としてこれを循環させることができる。また、伝熱手段42としてペルチェ素子を電子エミッタ1に取り付け、冷却手段41としてペルチェ素子への電力の供給手段を用いることもできる。   In the present embodiment, a mechanism for cooling the electron emitter 1 is provided. The heat transfer means 42 attached to the electron emitter 1 is connected to a cooling means 41 installed outside the vacuum vessel 5. The heat transfer means 42 can be circulated using water or the like as a refrigerant. Further, a Peltier element can be attached to the electron emitter 1 as the heat transfer means 42, and a power supply means to the Peltier element can be used as the cooling means 41.

電界放出型X線源の動作中に放出されるガスは電子エミッタ1から放出されるものが主である。電子エミッタ1からのガスの放出を抑制するためには、動作中の電子エミッタ1の温度を低くしておくことが効果的である。そこで、電子エミッタ1を冷却するための冷却機構13を備え、X線源の動作と同時にこれを動作させるようにしておく。これによって放出ガス量を抑制し、動作中の真空容器5内の真空度を良好に維持することが可能となる。良好な真空度を維持することにより、電子エミッタ1などへのガス原子の衝突が抑制され、X線源の寿命が延びる。   The gas emitted during the operation of the field emission X-ray source is mainly one emitted from the electron emitter 1. In order to suppress the emission of gas from the electron emitter 1, it is effective to lower the temperature of the electron emitter 1 during operation. Therefore, a cooling mechanism 13 for cooling the electron emitter 1 is provided, and this is operated simultaneously with the operation of the X-ray source. As a result, the amount of released gas can be suppressed, and the degree of vacuum in the operating vacuum vessel 5 can be maintained satisfactorily. By maintaining a good degree of vacuum, collisions of gas atoms with the electron emitter 1 and the like are suppressed, and the lifetime of the X-ray source is extended.

なお、以上の説明は単なる例示であり、本発明は上述の各実施形態に限定されず、様々な形態で実施することができる。また、説明に用いた図面の上下左右の向きに限定されない。   The above description is merely an example, and the present invention is not limited to the above-described embodiments, and can be implemented in various forms. Further, the present invention is not limited to the vertical and horizontal directions of the drawings used for the description.

1…電子エミッタ、2…陰極、3…ゲート電極、4…陽極、5…真空容器、6…高圧電源、7…ゲート駆動電源、8…電子ビーム、9…X線源、10…等電位面、11…中間電極、12…電磁レンズ、13…ターゲット、21…ゲート一体型エミッタ、22…絶縁体、23…電子放出孔、23a…貫通孔、23b…開口、24…中間電極電源、31…真空ポンプ、32…真空配管、31…、33…ヒータ、34…加熱用電源、35…ゲッタ、36…スパッタイオンポンプ容器、37…スパッタイオンポンプ、38…スパッタイオンポンプ制御器、41…冷却手段、42…伝熱手段、51…金属製真空容器端部、60…開口   DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Electron emitter, 2 ... Cathode, 3 ... Gate electrode, 4 ... Anode, 5 ... Vacuum container, 6 ... High voltage power supply, 7 ... Gate drive power supply, 8 ... Electron beam, 9 ... X-ray source, 10 ... Equipotential surface , 11 ... Intermediate electrode, 12 ... Electromagnetic lens, 13 ... Target, 21 ... Gate integrated emitter, 22 ... Insulator, 23 ... Electron emission hole, 23a ... Through-hole, 23b ... Opening, 24 ... Intermediate electrode power supply, 31 ... Vacuum pump, 32 ... Vacuum piping, 31 ..., 33 ... Heater, 34 ... Power supply for heating, 35 ... Getter, 36 ... Sputter ion pump container, 37 ... Sputter ion pump, 38 ... Sputter ion pump controller, 41 ... Cooling means 42 ... Heat transfer means, 51 ... Metal vacuum vessel end, 60 ... Opening

Claims (29)

真空容器と、
前記真空容器に収められ、所定の電界の中に位置すると電子を放出する電界放出型の電子エミッタと、
前記真空容器に収められ、前記電子エミッタに対して正の所定の電圧が印加される陽極と、
前記真空容器に収められ、前記所定の電圧によって加速された電子が衝突するとX線を放出するターゲットと、
前記真空容器に収められ、前記電子エミッタから前記ターゲットに向かう電子の行路を遮らないように前記電子エミッタを囲んで配置され、前記電子エミッタに対して電圧を印加させ、前記電子エミッタから放出される電子の放出量を制御するゲート電極と、
を有することを特徴とするX線源。
A vacuum vessel;
A field emission electron emitter that is housed in the vacuum vessel and emits electrons when positioned in a predetermined electric field;
An anode housed in the vacuum vessel and to which a predetermined positive voltage is applied to the electron emitter;
A target that is contained in the vacuum vessel and emits X-rays when electrons accelerated by the predetermined voltage collide;
It is housed in the vacuum vessel and is arranged so as to surround the electron emitter so as not to block the electron path from the electron emitter to the target, and a voltage is applied to the electron emitter and emitted from the electron emitter. A gate electrode for controlling the amount of emitted electrons;
An X-ray source comprising:
前記ゲート電極は、さらに前記電子エミッタから放出された電子が前記ターゲットに向かう電子ビームを集束させるものであることを特徴とする請求項1記載のX線源。   2. The X-ray source according to claim 1, wherein the gate electrode further focuses an electron beam emitted from the electron emitter toward the target. 前記電子エミッタの電子を放出する表面の形状が、前記電子エミッタ、前記ゲート電極および前記陽極によって形成される電界の等電位面の形状に沿ったものであることを特徴とする請求項1または請求項2記載のX線源。   The shape of the surface of the electron emitter from which electrons are emitted is in accordance with the shape of the equipotential surface of the electric field formed by the electron emitter, the gate electrode, and the anode. Item 3. The X-ray source according to Item 2. 前記電子エミッタは尖った先端を備えていることを特徴とする請求項1ないし請求項3のいずれか記載のX線源。   4. The X-ray source according to claim 1, wherein the electron emitter has a pointed tip. 前記電子エミッタから放出された電子が前記ターゲットに向かう電子ビームの行路の周りに配置され、前記電子ビームを集束させる電子集束用電磁レンズを有することを特徴とする請求項1ないし請求項4のいずれか記載のX線源。   5. The electron focusing electromagnetic lens according to claim 1, further comprising: an electron focusing electromagnetic lens that is arranged around a path of an electron beam directed toward the target and that emits electrons from the electron emitter, and focuses the electron beam. X-ray source. 前記電子エミッタと前記ゲート電極の対を複数有することを特徴とする請求項1ないし請求項5のいずれか記載のX線源。   6. The X-ray source according to claim 1, comprising a plurality of pairs of the electron emitter and the gate electrode. 前記電子エミッタと前記ゲート電極が絶縁体を挟んで一体となっていることを特徴とする請求項1ないし請求項6のいずれか記載のX線源。   7. The X-ray source according to claim 1, wherein the electron emitter and the gate electrode are integrated with an insulator interposed therebetween. 前記電子エミッタから放出された電子が前記ターゲットに向かう電子ビームの行路の周りに配置された中間電極を有することを特徴とする請求項1ないし請求項7のいずれか記載のX線源。   The X-ray source according to any one of claims 1 to 7, further comprising an intermediate electrode disposed around a path of an electron beam toward the target where electrons emitted from the electron emitter are directed. 前記電子エミッタを加熱するヒータと、
前記真空容器中のガスを前記真空容器外に排出するガス排除手段と、
を有することを特徴とする請求項1ないし請求項8のいずれか記載のX線源。
A heater for heating the electron emitter;
Gas exhausting means for discharging the gas in the vacuum container out of the vacuum container;
The X-ray source according to claim 1, comprising:
前記ガス排除手段は、前記真空容器に取り付けられた排気ポンプであることを特徴とする請求項9記載のX線源。   The X-ray source according to claim 9, wherein the gas exclusion means is an exhaust pump attached to the vacuum vessel. 前記ガス排除手段は所定の温度以上においてガスを吸着するゲッタであって、前記ヒータは、さらにゲッタも加熱するものであることを特徴とする請求項9記載のX線源。   The X-ray source according to claim 9, wherein the gas exclusion unit is a getter that adsorbs a gas at a predetermined temperature or higher, and the heater further heats the getter. 前記ガス排除手段は、前記真空容器に収められた密閉型真空ポンプであることを特徴とする請求項9記載のX線源。   The X-ray source according to claim 9, wherein the gas exclusion means is a hermetic vacuum pump housed in the vacuum vessel. 前記ヒータは前記真空容器に対向するように前記真空容器の外部に取り付けられたものであることを特徴とする請求項9ないし請求項11のいずれか記載のX線源。   The X-ray source according to claim 9, wherein the heater is attached to the outside of the vacuum container so as to face the vacuum container. 前記真空容器の一部は金属製であって、前記ヒータは金属製の前記真空容器に対向するように取り付けられたものであることを特徴とする請求項13記載のX線源。   The X-ray source according to claim 13, wherein a part of the vacuum vessel is made of metal, and the heater is attached to face the vacuum vessel made of metal. 前記電子エミッタを冷却する手段を有することを特徴とする請求項1ないし請求項14のいずれか記載のX線源。   15. The X-ray source according to claim 1, further comprising means for cooling the electron emitter. 真空容器内で電子エミッタを所定の電界の中に位置させ、電子を放出させる電子放出工程と、
前記電子エミッタを所定の電圧によって加速する電子加速工程と、
前記真空容器内で前記所定の電圧によって加速した電子をターゲットに衝突させてX線を放出させるX線放出工程と、
ゲート電極に前記電子エミッタに対して電圧を印加して、前記電子エミッタから放出される電子の放出量を制御する電子放出量制御工程と、
を有することを特徴とするX線発生方法。
An electron emission process in which an electron emitter is positioned in a predetermined electric field in a vacuum chamber to emit electrons;
An electron acceleration step of accelerating the electron emitter with a predetermined voltage;
An X-ray emission process in which electrons accelerated by the predetermined voltage in the vacuum container collide with a target to emit X-rays;
An electron emission amount control step of applying a voltage to the gate electrode to the electron emitter to control the amount of electrons emitted from the electron emitter;
An X-ray generation method characterized by comprising:
前記電子放出工程において、前記電子エミッタ、前記陽極および前記ゲート電極によって形成される所定の等電位面は前記ゲート電極の形状に沿ったものであることを特徴とする請求項16記載のX線発生方法。   17. The X-ray generation according to claim 16, wherein, in the electron emission step, a predetermined equipotential surface formed by the electron emitter, the anode, and the gate electrode is along a shape of the gate electrode. Method. 前記電子エミッタを加熱する加熱工程と、
前記真空容器内のガス原子を排除するガス排除工程と、
を有することを特徴とする請求項16または請求項17記載のX線発生方法。
A heating step of heating the electron emitter;
A gas exclusion step of eliminating gas atoms in the vacuum vessel;
The X-ray generation method according to claim 16 or 17, characterized by comprising:
前記ガス排除工程は前記真空容器に取り付けられた真空ポンプにより前記真空容器内のガスを前記真空容器外に排出するものであって、前記ガス排除工程の後に、前記真空容器を真空に保ったまま前記真空ポンプを前記真空容器から切り離すポンプ切り離し工程を有するものであることを特徴とする請求項18記載のX線発生方法。   The gas exclusion step is for discharging the gas in the vacuum vessel out of the vacuum vessel by a vacuum pump attached to the vacuum vessel, and the vacuum vessel is kept in vacuum after the gas exclusion step. The X-ray generation method according to claim 18, further comprising a pump disconnecting step of disconnecting the vacuum pump from the vacuum container. 前記ガス排除工程は前記真空容器内に収められたゲッタおよび前記電子エミッタを加熱し、前記電子エミッタから放出されたガスをゲッタ内に固定するものであることを特徴とする請求項18記載のX線発生方法。   19. The X according to claim 18, wherein the gas exclusion step heats the getter and the electron emitter housed in the vacuum vessel, and fixes the gas emitted from the electron emitter in the getter. Line generation method. 前記電子エミッタを冷却する冷却工程を有することを特徴とする請求項16ないし請求項19のいずれか記載のX線発生方法。   20. The X-ray generation method according to claim 16, further comprising a cooling step for cooling the electron emitter. 容器を製造する工程と、
前記容器に、所定の電界の中に位置すると電子を放出する電界放出型の電子エミッタ、前記電子エミッタに対して正の所定の電圧が印加される陽極、前記所定の電圧によって加速された電子が衝突するとX線を放出するターゲット、および、前記電子エミッタから前記ターゲットに向かう電子の行路を遮らないように前記電子エミッタを囲んで配置され、前記電子エミッタに対して電圧を印加できるようになっていて、前記電子エミッタから放出される電子の放出量を制御するゲート電極を前記容器内に取り付ける工程と、
前記容器を真空にする真空工程と、
を有することを特徴とするX線源製造方法。
Manufacturing the container;
A field emission electron emitter that emits electrons when positioned in a predetermined electric field, an anode to which a positive predetermined voltage is applied to the electron emitter, and an electron accelerated by the predetermined voltage A target that emits X-rays when it collides, and the electron emitter are arranged so as not to block an electron path from the electron emitter toward the target, and a voltage can be applied to the electron emitter. Attaching a gate electrode in the container for controlling the amount of electrons emitted from the electron emitter;
A vacuum process for evacuating the container;
An X-ray source manufacturing method characterized by comprising:
前記真空工程は、前記電子エミッタを加熱する加熱工程と、前記容器内のガスを排除するガス排除工程とを有することを特徴とする請求項22記載のX線源製造方法。   23. The method of manufacturing an X-ray source according to claim 22, wherein the vacuum process includes a heating process for heating the electron emitter and a gas exhaust process for excluding gas in the container. 前記加熱工程は、前記容器の外部に位置するヒータによって前記電子エミッタを加熱するものであることを特徴とする請求項23記載のX線源製造方法。   24. The method of manufacturing an X-ray source according to claim 23, wherein the heating step heats the electron emitter with a heater located outside the container. 前記加熱工程の後に、前記容器を前記ヒータから離すことを特徴とする請求項24記載のX線源製造方法。   The X-ray source manufacturing method according to claim 24, wherein the container is separated from the heater after the heating step. 前記ガス排除工程は、前記容器内に収められたゲッタ内にガスを固定するものであることを特徴とする請求項23ないし請求項25のいずれか記載のX線源製造方法。   The X-ray source manufacturing method according to any one of claims 23 to 25, wherein in the gas exclusion step, a gas is fixed in a getter stored in the container. 前記ガス排除工程は、前記容器内に収められた密閉型真空ポンプでガスを排除するものであることを特徴とする請求項23ないし請求項25のいずれか記載のX線源製造方法。   26. The X-ray source manufacturing method according to any one of claims 23 to 25, wherein the gas exclusion step excludes gas with a hermetic vacuum pump housed in the container. 前記ガス排除工程は、容器に取り付けられた真空ポンプで排気するものであることを特徴とする請求項23ないし請求項25のいずれか記載のX線源製造方法。   The X-ray source manufacturing method according to any one of claims 23 to 25, wherein the gas exhausting step is performed by exhausting with a vacuum pump attached to a container. 前記ガス排除工程の後に、前記容器を真空に保持したまま前記真空ポンプを取り外して封じ切りにする工程を有することを特徴とする請求項28記載のX線源製造方法。   29. The method of manufacturing an X-ray source according to claim 28, further comprising a step of removing the vacuum pump and sealing it off while keeping the container in a vacuum after the gas exclusion step.
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