JP2010183619A - 光学読取り用の符号化用紙 - Google Patents

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Abstract

【課題】表面上に情報を記憶するのに用いられ、単位エリア毎に多数の情報を符号化し、違う種類の干渉の影響下にあるときでも、検出及び復号化が単純な符号化パターンを備える製品を提供する。
【解決手段】複数のマークを備えた符号化パターンを有する製品であって、前記マークのそれぞれが少なくとも２つの異なる値のうちの１つを表しており、前記符号化パターンが、また、複数の基準位置を備えており、前記複数のマークのそれぞれが１つの前記基準位置に関連付けられ、前記各マークの値がその基準位置に対するその位置によって決定されている。
【選択図】図１

Description

本発明は、符号化パターンを備えた製品に関し、この符号化パターンは、それぞれが、
少なくとも２つの異なる値の１つを表す多数のマークを備えている。本発明は、また、こ
のような符号化パターンの利用に関する。
異なるタイプのマークによって、ある表面上に、符号化された情報を記憶することは、
既に知られている。
例えば、米国特許番号５、８５２，４３４には、書き込み面上の多数の位置のＸ及びＹ
座標を符号化する位置符号化パターンが記載されている。この位置符号化パターンは、こ
れを連続的に読むことにより、ユーザが、書き込み面上に生成したグラフィカル情報を電
子的に記録することを可能にする。
上記米国特許番号５，８５２，４３４には、位置符号化パターンの構成の３つの例が挙
げられている。第１の例において、パターンは複数のドットからなり、各ドットは３つの
同心円から構成されている。最外円はＸ座標を表し、中間円がＹ座標を表している。これ
ら外側の円は両方とも１６分割されており、これらの埋まり具合により異なる数字が示さ
れる。つまり座標Ｘ，Ｙの各ペアは固有の外観を有する複雑なシンボルで符号化される。
第２の例では、書き込み面の各点の座標は、バーコードによって表されており、Ｘ座標
のためのバーコードはＹ座標のためのバーコードの上に配置されている。
第３の例として、格子縞パターンを用いてＸ座標とＹ座標が符号化可能であると記載さ
れている。しかしながら格子縞パターンの構成や座標への変換方法については説明されて
いない。
公知のパターンには、該パターンが複雑なシンボルから構成されるという問題がある。
シンボルを小さくするほど、パターン化された書き込み面の製造が一層困難となり、位置
決定を誤る危険性が高くなる。一方シンボルを大きくするほど、位置解像度が低下してし
まう。
さらに、プロセッサは複雑なシンボルを解釈しなければならないことから、検出された
位置符号化パターンの処理が一層複雑になるという問題もある。
また、位置決定をできるようにするためには、少なくとも１つのシンボルを完全に記録
する必要があり、このため位置符号化パターンの記録に用いる検出器又はセンサーを、４
つのシンボルが同時に記録できるようにしなくてはならない。従って、必要とされるセン
サーの面と、１つの位置を定義する位置符号化パターンの面との比は大きくなる。
ＥＰ ０ ５７８ ６９２に、四角い形をしたセルで構成される位置符号化パターンが記
載されている。セルの値は、それらの外観、例えば、色で決まる。セルは、分離ゾーンに
よって分離でき、これによって同じ色の２つの隣り合うセルは区別できる。この位置符号
化パターンは、特定の数のセル（これはシンボルである）が協働して１つの位置を符号化
するという点において、米国特許番号５，８５２，４３４と異なっている。この符号化は
、更に、フローティング（浮動的）であり、これは、前述の数のセルを含むパターンの任
意の部分表面が、位置を符号化することを意味する。各セルは、従って、複数の位置の符
号化に寄与する。このようにして、必要とされるセンサーの面と、１つの位置を定義する
位置符号化パターンの部分との比は、前述の米国特許における場合より小さくなる。更に
、各セルは、より単純であり、従って、位置符号化パターンを復号化するプロセッサは、
より少ない数の異なる要素を認識できれば足りる。しかしながら、プロセッサは、少なく
とも２種類のセルの場所を決定し、区別できる必要がある。
ＥＰ ０ １７１ ２８４ Ｂ１は、水平線及び垂直線で構成される他のフローティング位
置符号化パターンを示しており、ここで、垂直線は水平方向の位置を符号化し、水平線は
垂直方向の位置を符号化している。これらの線は、１ｍｍの倍数となる位置ごとに見つけ
られる。このような位置における線の存在は、１を符号化し、このような位置における線
の不存在は、０を符号化している。
しかしながら、線の間の交点を記録することは困難なので、線のパターンを記録し、復
号化することは困難である。更に、センサーが基準に対し平行に保持されず、その結果、
これらの線がもはや平行でなく見えるというケースがしばしば起こる。従って、線が実際
に無いのかどうかを決定することが困難になる。更に、多数連続して線が無い部分を作る
と、復号化が困難になる。また、情報容量は小さい。
出願人によるスウェーデン特許出願第９９０１９５４−９号（１９９９年５月２８日に
出願され、本願の出願の時点では公衆に利用可能でなく、従って、先行技術とならない）
には、フローティング型の更なる位置符号化パターンが記載され、ここで、位置情報は、
第１及び第２のサイズのドットによって、グラフィカルに符号化されており、第１のサイ
ズのドットは０に対応し、第２のサイズのドットは１に対応している。複数のドットが協
働して１つの位置の座標を符号化する。
一般的な要求として、面上に情報を記憶するのに用いられる符号化パターンは、単位エ
リア毎に多数の情報を符号化できるようなものでなければならないと共に、違う種類の干
渉の影響下にあるときでさえ、検出及び復号化が単純なものでなければならない。
本発明の目的は、従って、少なくとも公知の符号化パターンと同程度かそれ以上によく
この要求を満たす符号化パターンを備えた製品を提供することにある。
この目的は、請求項１に従う製品によって達成される。
本発明は、更に詳細には、複数のマークを備えた符号化パターンを有する製品に関し、
各マークが、少なくとも２つの異なる値の１つを表している。符号化パターンは、複数の
基準位置を備えており、前記マークのそれぞれは、前記複数の基準位置の１つに関連付け
られ、各マークの値は、その基準位置に対するそのマークの場所によって決定される。
先行技術において、符号化は、通常、１又は複数のシンボルやマークの外観を用いて達
成され、各シンボルやマークの値は、その外観によって決定される。その結果、符号化パ
ターンを復号化する装置は、異なるシンボルやマークを認識できるものでなければならず
、これは、干渉に対する感度を増大し、復号化をより困難にする。
本発明によれば、各マークの値は、その基準位置に対してどのように配置されているか
によって、決定される。この値はマークの場所に基づいているので、全てのマークは、同
じ外観を有して良い。この結果、符号化パターンは、製品に適用する上で単純になる。更
に、マークの検出が、簡単になり、符号化パターンの一部でない製品上の他のマークの存
在によって影響されない。更に、この符号化パターンは、光学技術以外の他の技術、例え
ば、化学的、電気的又は機械的なパターンを用いて、より簡単に実現することもできる。
このマークのデザインは、また、マークが光学的に読み取られるものであるとき、符号化
パターンを備えた製品がより美的に満足いくものになるであろうことを意味している。最
後に、情報の密度に対してマークの間の距離を大きくでき、これは、符号化パターンが、
読み取りの間に起こる動きによる不鮮明さに対して、低感度であることを意味している。
基準位置は、ここでは、検出可能な位置であり、且つ、この基準位置に対して異なるや
り方でマークが配置できることを意味している。基準位置は、製品上に印すことができる
が、これらはまた、仮想であって間接的に検出できるものであってよい。
また、マークが表している値は、好ましくは数の値であるが、字あるいはある種のシン
ボルのような、文字の値であってもよいことが指摘される。
マークの場所は、好ましくは、その重心によって決定することができ、これは、不規則
な形状のマークの使用を可能とし、製品にパターンを適用するときの要求を少なくする。
好適な実施形態において、各基準位置には、１つのマークが割り当てられる。これによ
り、全ての値がマークにより符号化されるという利点が得られる。マークの欠如は、従っ
て、常にエラーを意味する。
マークは、基準位置の中及び外の双方に配置できる。２値パターンの可能な表現として
、例えば、基準位置内のマークが０を表し、基準位置の外のマークが１を表す（又は、こ
れらが反対でもよい）ようにすることができる。
好適な実施形態においては、しかしながら、実質的に全てのマークが、それらの基準位
置に対しずらされている。このようにすると、パターンはランダムであり、同時に、肉眼
でもそうと分かるほどに均一である。
しかしながら、何らかの特定のパラメータ、例えば、仮想ラスターの位置を示すために
、２、３のマークが、それらの基準位置内に置かれることができるようにすべきである。
更に、好適な実施形態において、実質的に全てのマークは、それらの基準位置に対して
同じ距離だけずらされている。基準位置がどこに配置されているかが分かれば、基準位置
から所定の距離においてマークを探せば十分であり、マークの場所の決定が容易になり、
エラーのリスクが軽減される。更に、基準位置からの適切な距離にマークがあることを検
出すれば足りる。このマークの外観は重要度が低く、そのため、製品上にパターンを適用
する場合の精度の要求を低減する。
特に好ましい実施形態においては、各マークは、その基準位置に対し４つの直交方向の
１つの方向に、ずらされる。そうすれば、基準位置を知ることにより、マークを、４つの
異なる方向において探すだけでよい。これは、マークの場所の決定を容易にし、高速化す
る。更に、このパターンの部分でなく、４つの直行方向に沿わないところに置かれたマー
クは、検出されず、従って、パターンの復号化に影響を与える危険性がないので、エラー
のリスクが軽減される。
基準位置に対するマークの場所を決定できるためには、基準位置を知る必要がある。こ
の目的のために、符号化パターンは、好ましくは、ラスター線を備えたラスターを備え、
ラスター線の交点が、マークの基準位置を規定する。基準位置は、従って、製品上に、規
則的に配列される。これは、検出を容易にし、エラーのリスクを低減する。更に、これは
、仮想ラスターの使用を可能にする。
好適な実施形態において、ラスター線間の距離は、おおよそ２５０μｍから３００μｍ
、好ましくは、３００μｍである。これは、情報の高密度化を可能にするが、依然、信頼
性のある検出が可能である。
好適な実施形態において、ラスター線は、また、直角に交差するグリッド（格子）、好
ましくは、正方形のグリッド（格子）を形成する。後者の例で、ラスター線間の距離は、
従って、両方向において同じである。
好適な実施形態において、更に、各マークは、ラスター線の１つに沿ってずらされる。
ラスターを知れば、ラスター線が表現している確定した方向に沿ってサーチを行なうこと
によって、効率的な方法でマークの場所を決定できる。
好適な実施形態において、各マークは、その基準位置から、ラスター線間の距離の１／
４から１／８、好ましくは１／６の距離だけずらされている。このずれが、ラスター線の
間隔のおおよそ１／６であるとき、マークが属する基準位置がどちらかを決定することは
比較的容易である。もし、ずれがラスター線の間隔のおおよそ１／８よりも小さいと、検
出が難しくなり、解像度の要求が大きくなり過ぎる可能性がある。もし、ずれがラスター
線の間隔のおおよそ１／４よりも大きいと、マークがどちらの基準位置に属しているかを
決めるのが難しくなる可能性がある。このことは、センサー又は検出器によって記録され
た符号化パターンの描写がゆがんでいた場合に、特に当てはまる。描写のゆがみは、例え
ば、光学センサーが、符号化パターンが配列されている表面に対して角度をつけて保持さ
れた場合に生じ得る。従って、上述したように好ましいラスター線間距離が３００μｍで
あれば、好ましいずれは５０μｍとなる。
ラスター線を備えるラスターは、それがマークを検出する装置によって直接読み取られ
ることができるように、表面上に指標することができる。しかしながら、この場合、ラス
ターはまた、装置により検出され、マークと区別できるようにされなければならない。好
適な実施形態においては、ラスターは仮想のものであり、これは、ラスターが如何なる方
法によっても製品上に印されないが、マークの場所からその位置が特定できるものである
ことを意味する。このように、ラスターは、製品から読み取られるのではなく、マークに
よって間接的に決定される。
既に述べたように、実質的に全てのマークは、好適な実施形態において、実質的に同じ
外観を有している。これは、製品上にマークを配列することをより簡単にする。
マークは、好ましくは、何らかの単純な幾何学形状を有している。これらは、したがっ
て、おおよそ、円形、三角形又は矩形であることが好ましい。これらは、塗り潰されても
又そうでなくともよいが、前者のほうが、検出がより簡単になるので好ましい。
マークは、その基準位置を覆うべきでなく、従って、ずれ量の倍（すなわち、２００％
）以上の大きさの直径を持つべきでない。しかしながら、これは厳格なものではなく、所
定量の重なり合い（例えば、２４０％）は許容できる。最初に、センサーの解像度とパタ
ーンを生成するのに使用する印刷処理における要求によって、最小のサイズが決定される
。しかしながら、センサーにおける粒子やノイズの問題を避ける目的から、実用上、マー
クは、ずれ量のおおよそ５０％より小さな直径とすべきでない。
符号化パターンは、検出器で検出できる上述のタイプのマークを生成するために用いる
ことができる如何なる要素によっても実現し得る。この要素は、電気的なものや化学的な
もの、又は何らかの他のタイプのものとすることができる。しかしながら、符号化パター
ンは、好適には、製品上への配列をより簡単にするために、光学的に読み取れるものであ
る。これは、例えば、製品上に印刷することができる。
好適な実施形態において、符号化パターンは、赤外光により読み取ることができる。こ
のようにして、赤外光で読み取ることができない情報を、符号化パターンの読み取りと干
渉することなく、その上に重ねることができる。
好適な実施形態において、マークは、符号化パターンによって占められる表面における
、０．２５％から２０％、好ましくはおおよそ９％を占有する。パターンが、例えば、白
い紙のシート上に印刷される場合、この例では、紙は、淡いグレーがかるだけであり、こ
れは、実質的に通常の紙と同じ状態を呈することを意味する。
符号化パターンは、好ましくは、製品上の複数の位置を符号化する位置符号化パターン
であり、各位置は、複数のマークによって符号化される。しかしながら、符号化パターン
は、また、他の情報を符号化するために用いられてもよい。
本製品は、符号化パターンを備えることができる如何なる製品であってもよい。これは
、物理的な製品である必要はなく、電子的なもの、例えば、コンピュータ・スクリーン上
の画像や表面でもよく、ここに、符号化パターンが電子的に重ねられる。
本発明の他の側面によれば、本発明は、それぞれが少なくとも２つの異なる値のうちの
１つを表している複数のマークと、複数の基準位置とを備える符号化パターンの使用法に
関し、前記複数のマークのそれぞれは、前記複数の基準位置のうちの１つに関係付けられ
ており、各マークの値が、対応する基準位置に対するその場所によって決定付けられる。
このようなパターンの使用法における利点は、製品上の符号化パターンについての説明
から明らかである。製品上の符号化パターンに関し述べられた特徴は、当然、符号化パタ
ーンの使用法にも当てはまる。この使用法は、例えば、製品上に符号化パターンを印刷す
ること、あるいはこの符号化パターンを電子的な形態で記憶すること、もしくはこの符号
化パターンを復号化することからなる。
以下、添付の図面を参照し実施形態に従って、本発明を詳細に説明する。
図１は、位置符号化パターンを備えた本製品の一実施形態を図示している。 図２は、本発明の一実施形態におけるマークのデザイン及び配置の方法を図示している。 図３は、位置を符号化するのに使用する４×４のシンボルの例を図示している。 図４は、位置の決定に用いることができる装置を図示している。 図５は、三角状ラスターを用いた位置符号化パターンを示している。 図６は、六角状ラスターを用いた位置符号化パターンを示している。
図１は紙のシート１の形をした製品の一部を示しており、その表面２の少なくとも一部
上には、位置決定を可能にする光学的に読取り可能な位置符号化パターン３が設けられて
いる。
位置符号化パターンは、マーク４を備えており、これは、「パターン」としての外観を
備えるよう、表面２に整然と配列されている。紙のシートは、Ｘ座標軸とＹ座標軸を有す
る。位置の決定は、本製品の表面全域で実行することができる。他の例においては、位置
決定を可能とする表面が、製品の小部分を構成するようにできる。
パターンは、例えば、この表面に書かれ又は作図された情報の電子的描写を提供するた
めに用いることができる。電子的描写は、ペンで表面に書き込みを行っている間に提供す
ることができ、これは、位置符号化パターンの読み取りにより、紙のシート上のペンの位
置を連続的に決定することによって可能となる。
位置符号化パターンは、仮想ラスター及び複数のマーク４を備え、仮想ラスターは、目
にも見えず、また表面上の位置を決定するための装置によって直接検出することもできな
いものであり、また、複数のマークのそれぞれは、その場所に依存して、以下に説明する
１から４の４つの値のうちの１つを表している。ここで、明確にする目的から、図１の位
置符号化パターンは、拡大して示されていることが指摘されなければならない。更に、配
列されて示されているのは、紙のシートの一部のみである。
位置符号化パターンは、全書き込み表面上の部分表面の位置が、この部分表面上のマー
クによって一意に決定されるよう配列されている。第１及び第２の部分表面５ａ，５ｂは
、図１において破線で示されている。第２の部分表面は、部分的に第１の部分表面と重な
っている。第１の部分表面５ａ上の位置符号化パターンの部分（ここでは、４×４のマー
ク）は、第１の位置を符号化し、第２の部分表面５ｂ上の位置符号化パターンの部分は、
第２の位置を符号化する。位置符号化パターンは、従って、隣り合う第１及び第２の位置
に関し部分的に同じである。このような位置符号化パターンを、本明細書では、「フロー
ティング（浮動的）」と呼ぶ。各部分表面は、特定の位置を符号化する。
図２ａ〜ｄは、マークのデザイン方法及びその基準位置６に対する配置方法を示してい
る。基準位置６（これは、また、ラスター点と呼ぶことができる。）は、ラスター線８の
交点により表される。マーク７は、円形のドットの形をしている。マーク７及びラスター
点６は、これらで、シンボルを構成する。
一実施形態において、ラスター線間の距離は３００μｍであり、ラスター線間の角度は
９０度である。他のラスター線間の間隔も可能であり、例えば、１００ｄｐｉの倍数の解
像度を有しているプリンタやスキャナに合わせるために、２５４μｍが可能であるが、こ
れは、２５．４ｍｍ／１００（すなわち、２５４μｍ）の点の間の距離に対応している。
マークの値は、従って、基準位置に対してマークがどこに配置されているかに依存して
いる。図２の例では、４つの位置が可能であり、それらは、基準位置から伸びている各ラ
スター線上にある。基準位置からのずれは、全ての値に関し、同じ大きさである。
各マーク７は、基準位置６に対してずらされており、その基準位置の上にはマークは無
い。更に、基準位置毎にただ１つのマークだけがあり、このマークは、その基準位置に対
してずらされている。これを、パターンを構成するマークに適用する。表面上には、パタ
ーンの一部でなく、従って、符号化に寄与しない他のマークがあってよい。このようなマ
ークは、例えば、小さい塵、表面上の絵や図形からの意図しない点やマーク、意図された
マークであってよい。表面上のパターン化されたマークの位置は、十分に定義されている
ので、パターンは、このような干渉の影響を受けない。
一実施形態において、マークは、基準位置６に対し、ラスター線８に沿って５０μｍだ
けずれた位置にある。このずれは、好ましくは、ラスター間隔の１／６であり、こうすれ
ば、特定のマークが属する基準位置を決定することが相対的に容易となる。このずれは、
少なくともラスター間隔のおおよそ１／８とすべきであり、そうしなければ、ずれの決定
が困難になり、解像度の要求が高くなる。一方で、このずれは、マークが属する基準位置
を決定できるようにするためには、ラスター間隔のおおよそ１／４以下とすべきである。
ずれは、ラスター線に沿っている必要は無く、マークを分割された四分区間内に配置す
ることができる。しかしながら、マークがラスター線に沿ってずらされている場合には、
マーク間の距離が最小値を持ち、以下に詳細に説明するように、ラスター線を再現するこ
とに用いることができるという利点がある。
各マークは、おおよそずれ量と同じか僅かに小さい半径を有するおおむね円形ドットで
構成されている。半径は、ずれ量の２５％から１２０％とできる。この半径が、ずれ量よ
りもはるかに大きい場合、ラスター線を決定することが困難となる。この半径が極めて小
さい場合、マークを記録するためにより高い解像度が要求される。
マークは、円や丸まったものである必要は無く、正方形や三角形等のようなあらゆる好
適な形状を使用することができる。
通常、各マークは、センサーチップの複数の画素をカバーするものであり、一実施形態
においては、これらの画素の重心が記録又は計算され、続く処理で使用される。従って、
マークの正確な形状は、重要ではない。よって、要求されるずれ量をマークの重心が備え
ていることが保証できるという条件で、相対的に簡単な印刷処理が使用できる。
以下では、図２ａのマークは値１を、図２ｂのマークは値２を、図２ｃのマークは値３
を、図２ｄのマークは値４を表している。
各マークは、従って、１から４の４つの値のうちの１つを表している。これは、位置符
号化パターンが、Ｘ座標用の第１の位置符号と、Ｙ座標用の第２の位置符号に分割できる
ことを意味している。この分割は、以下のようになる。
このように、各マークの値は、Ｘコード用の第１の値（この場合はビット）、及びＹコ
ード用の第２の値（この場合はビット）に変換される。この方法で、２つの完全に独立し
たビットパターンがパターンを用いて得られる。逆にいえば、２又はそれ以上のビットパ
ターンを組み合わせて、図２に従う複数のマークによりグラフィカルに符号化される１つ
の共有パターンにすることができる。
各位置は、複数のマークにより符号化される。この例では、二次元、すなわち、Ｘ座標
とＹ座標の位置を符号化するために、４×４のマークを使用する。
位置コードは、１と０の数字列から構成されるが、そのビット列には、その数字列内で
同じ４ビットの並びが１度しか現れないという特性がある。ビット列は循環的なものであ
り、数字列の終わりを数字列の先頭に結合した場合にも、同様にその特性が適用される。
従って、４ビットの並びは、常時、ビット列内で一意に決まった位置番号を持っている。
ビット列が４ビットの並びに対して前述した特性を持っている場合、そのビット列は最
大１６ビット長にできる。しかし、この例では、以下のように７ビット長のビット列を使
用する。
「０００１０１０」
このビット列は、列内の位置番号を符号化する以下のような７つの一意な４ビットの並
びを含む。
Ｘ座標の符号化では、符号化される表面全域に渡って、ビット列は縦列内に順に書き込
まれ、左の縦列Ｋ0はＸ座標のゼロ（０）に対応する。１つの縦列において、ビット列は
、従って、連続して複数回繰り返される。
符号化は、隣り合う縦列内の隣り合うビット列間における差、すなわち位置のずれに基
づく。差の大きさは、隣り合う縦列が、ビット列内におけるどの位置番号（すなわち、ビ
ットの並び）で始まるかによって決まる。
具体的には、第１の縦列Ｋn内の４ビットの並びにより符号化され、従って値０〜６を
持ち得る位置番号（一方の位置番号）と、隣り合う縦列Ｋn+1内の対応する「高さ」にお
ける隣り合う４ビットの並びにより符号化される位置番号（他方の位置番号）との間の、
７を法とする差Δnを取る場合、その結果（差）は、２つの縦列に沿ったどの場所で、す
なわち、どの「高さ」のところで、その差が作り出されたかに拘わらず、同じになる。従
って、２つの縦列の２つのビットの並びについての位置番号間の差を使用して、Ｙ座標の
全てに対して独立で不変であるＸ座標を符号化できる。
この例では、表面上の各位置が４×４のマークを含む部分表面により符号化されている
ので、４つの垂直のビットの並びがあり、従って、それぞれが値０から６を持つ３つの差
を、Ｘ座標を符号化するために利用できる。
パターンは、コード・ウィンドウＦに分割され、各コード・ウィンドウは４×４のマー
クからなるという特性を有する。従って、４つの水平のビットの並び及び４つの垂直のビ
ットの並びが利用でき、３つの差がＸ方向で生成でき、４つの位置がＹ方向で得られる。
これら３つの差及び４つの位置は、Ｘ方向及びＹ方向における部分表面の位置を符号化す
る。Ｘ方向で隣り合うウィンドウは、図１に示すように、共通の縦列を持つ。従って、最
初のコード・ウィンドウＦ0,0は、縦列Ｋ0，Ｋ1，Ｋ2，Ｋ3からのビットの並び、及び横
行Ｒ0，Ｒ1，Ｒ2，Ｒ3からのビットの並びを含んでいる。Ｘ方向では差が用いられるので
、Ｘ方向及びＹ方向へ斜めに次に来るウィンドウ、すなわちウィンドウＦ1,1は、縦列Ｋ3
，Ｋ4，Ｋ5，Ｋ6からと、横行Ｒ4，Ｒ5，Ｒ6，Ｒ7からのビットの並びを含んでいる。Ｘ
方向における符号化のみを考えるとき、コード・ウィンドウは、Ｙ方向に無制限に伸びる
ものとして考えることができる。同様に、Ｙ方向における符号化のみを考えるとき、コー
ド・ウィンドウは、Ｘ方向に無制限に伸びるものとして考えることができる。このような
Ｙ方向及びＸ方向にそれぞれ無制限に伸びる第１及び第２のコード・ウィンドウは、協同
して図１に示したタイプのコード・ウィンドウ、例えばＦ0,0を構成する。
各ウィンドウは、Ｘ方向におけるウィンドウの位置を与えるウィンドウ座標Ｆxと、Ｙ
方向におけるウィンドウの位置を与えるウィンドウ座標Ｆyとを有する。従って、ウィン
ドウと縦列との間の対応関係は、以下のようになる。
Ｋi ＝ ３ Ｆx
Ｒj ＝ ４ Ｆy
符号化は、以下のような方法、すなわち、差のうちの１つΔ0が常に値１または２にな
り、これは、Ｘ方向におけるコード・ウィンドウの位置を表す番号の最下位桁Ｓ0を指し
、他の２つの差Δ1，Δ2が３〜６の範囲の値になり、これらは、コード・ウィンドウの座
標のための２つの上位桁Ｓ1，Ｓ2を指すようにして行われる。従って、Ｘ座標用の差が０
になることは、コードパターンが対称的になってしまうので、許容されない。言い換える
と、縦列は、その差が、以下のようになるように符号化される。
(3〜6); (3〜6); (1〜2); (3〜6); (3〜6); (1〜2); (3〜6); (3〜6); (1〜2); (3〜6)
; (3〜6);…
従って、各Ｘ座標は、３と６の間の２つの差Δ1，Δ2、これに続く１か２の１つの差Δ
0によって符号化される。最小の差Δ0から１を差し引き、他の差から３を差し引くと、３
つの数字Ｓ2，Ｓ1，Ｓ0が得られるが、これは、混合基数において、Ｘ方向におけるコー
ド・ウィンドウの位置番号を直接与え、ここから、Ｘ座標が、以下に示す例のように、直
接決定できる。コード・ウィンドウの位置番号は、以下になる。
Ｓ2 × （４×２） ＋ Ｓ1 × ２ ＋ Ｓ0 × １
前述した原理を使用して、コード・ウィンドウ０，１，２，…，３１を、３個の差によ
り表される３つの数字からなるコード・ウィンドウの位置番号を用いて符号化できる。こ
れらの差が、上記の数字列に基づいたビットパターンを使用して符号化される。ビットパ
ターンは最終的に、図２のマークを使用してグラフィカルに符号化される。
多くの場合、４×４のマークからなる部分表面を読み込んだとき、多くの場合において
、部分表面は１つのコード・ウィンドウに一致しないので、Ｘ座標を符号化する完全な位
置番号を得ることができないが、Ｘ方向における隣接する２つのコード・ウィンドウをカ
バーするので、２つの位置番号の部分を得ることができる。そして、各番号の最下位桁Ｓ
0は、常に１か２であるので、どの桁が最下位のものであるか分かり、完全な位置番号を
容易に再構築することができる。
Ｙ座標は、コード・ウィンドウを用いたＸ座標で使用したのとほぼ同じ原理に従って符
号化される。循環型の数字列（Ｘの符号化に使用したのと同じ数字列）は、位置を符号化
する表面に渡って、水平な横行内に繰り返して、書き込まれる。Ｘ座標の場合とちょうど
同じ様に、これらの横行は、数字列内の異なる位置から、すなわち異なるビットの並びを
使用して、始める。しかし、Ｙ座標に対しては差を使用せず、各横行のその数字列の開始
位置に基づいた値を使用して座標を符号化する。４×４のマークのＸ座標が決定されると
、その４×４のマークのＹコード内に含まれている横行について、数字列内の開始位置が
実際に決定できる。
Ｙコードにおいて、最上位桁Ｓ0は、これを特定の範囲内の値を持つただ１つの数にす
ることによって、判断される。この例では、４つの横行のうちの１つを、この横行がコー
ド・ウィンドウ内の最下位桁Ｓ0に関係していることを示すために、数字列内の位置０〜
１から始め、他の３つの横行を、コード・ウィンドウ内の他の桁Ｓ1，Ｓ2，Ｓ3を示すた
めに、数字列内の位置２〜６の何れかから始める。従って、Ｙ方向に、以下のような値の
並びが存在する。
(2〜6); (2〜6); (2〜6); (0〜1); (2〜6); (2〜6); (2〜6); (0〜1); (2〜6); …
従って、各コード・ウィンドウは、２と６の間の３個の値、並びにこれに続く０と１の
間の値を使用して符号化される。
小さい値から０を差し引き、他の値から２を差し引くと、Ｘ方向と同様な方法で、混合
基数におけるＹ方向の位置Ｓ3，Ｓ2，Ｓ1，Ｓ0が得られ、この位置からコード・ウィンド
ウの位置番号を直接決定できる。すなわち、
Ｓ3 ×（５×５×２）＋Ｓ2 ×（５×２）＋Ｓ1 × ２ ＋Ｓ0 × １
上記の方法を使用して、コード・ウィンドウに関し、Ｘ方向の４×４×２＝３２個の位
置番号を符号化できる。各コード・ウィンドウは、３つの縦列からのビット並びを備え、
これは、３×３２＝９６個の縦列、すなわちＸ座標を与える。更に、コード・ウィンドウ
に関し、Ｙ方向に５×５×５×２＝２５０個の位置番号を符号化できる。このような位置
番号のそれぞれは、４つの横行からの水平なビット並びを備え、これは、４×２５０＝１
０００個の行、すなわちＹ座標を与える。このように、合計して９６０００個の座標位置
を符号化できる。
しかし、Ｘの符号化は差に基づいているので、最初のコード・ウィンドウにおける１番
目の数字列が始まる位置を選択できる。この１番目の数字列が７個の異なった位置から始
められることを考慮すると、７×９６０００＝６７２０００個の位置を符号化できる。Ｘ
及びＹ座標が決定された場合、最初の縦列Ｋ0にある１番目の数字列の開始位置が計算で
きる。１番目の数字列の前述した７個の異なる開始位置は、製品上の異なる頁や書き込み
面を符号化できるようにする。
理論上、４×４のシンボル（それぞれが４つの値を持つ）を持った部分表面は、４4*4
個の位置を符号化でき、これは、４，２９４，９６７，２９６個の位置に相応する。部分
表面の位置における浮動的な決定を可能とするために、６０００（4294967296/672000）
を超える冗長性がある。
冗長性は、一部は、前記差の大きさにおける制約に含まれており、また一部は、１６の
うちの７ビットだけを位置コードに使用したことに含まれている。しかしながら、この後
者のことは、部分表面の回転位置を決定するのに用いることができる。前記ビット列内の
次のビットが前記４ビットの並びに追加された場合、５ビットの並びが得られる。５番目
のビットは、使用される部分表面の直ぐ外の隣接ビットを読むことによって得られる。こ
のような追加ビットは、通常、容易に利用できる。
センサーによって読み取られる部分表面は、４つの異なる回転位置、すなわち、コード
・ウィンドウに対し０、９０、１８０又は２７０度回転している可能性がある。部分表面
が回転しているこれらのケースにおいて、コードの読み取りは、しかしながら、読み取ら
れたコードが、それが０度の回転角で読み取られた場合と比較して、Ｘ方向又はＹ方向の
何れか又は双方に反転及び逆転させたものになる。ここでは、マークの値の復号化として
僅かに異なる復号化が使用され、それは、以下のテーブルに従うものとする。
前述の５ビットの並びは、正しい方向で、且つ、逆転も反転もされていない形でのみ、
前記７ビット列内に現れるという性質を持っている。これは、ビット列（０００１０１０
）がただ２つの「１」を含んでいるという事実から明らかである。従って、全ての５ビッ
トの並びは、少なくとも３つの０を含んでいなければならず、これは、逆転した時には（
もし反転しているのであればその時にも）、起こりえない３つの１になる。よって、ビッ
ト列内の位置番号を持っていない５ビットの並びが見つけられたときは、この部分表面は
、おそらく回転されていると結論付けることができ、新しい位置が検査される。
本実施形態に従う発明を更に説明するために、次に、前述の実施形態における位置コー
ドに基づく具体的な例を示す。
図３は、位置を決定するために装置によって読み込まれる４×４のマークを含む画像の
一例を示している。
これらの４×４のマークは、次の値を持っている。
４ ４ ４ ２
３ ２ ３ ４
４ ４ ２ ４
１ ３ ２ ４
これらの値は、次の２進ＸコードとＹコードを表している。
Ｘコード： Ｙコード：
０ ０ ０ ０ ０ ０ ０ １
１ ０ １ ０ ０ １ ０ ０
０ ０ ０ ０ ０ ０ １ ０
１ １ ０ ０ １ ０ １ ０
Ｘコード内の垂直方向のビットの並びは、ビット列内の位置２ ０ ４ ６を符号化して
いる。縦列間の差は−２ ４ ２であり、７を法とする剰余は５ ４ ２になる。これは、混
合基数で、（５−３）×８＋（４−３）×２＋（２−１）＝１６＋２＋１＝１９というコ
ード・ウィンドウの位置番号を符号化している。最初に符号化されるコード・ウィンドウ
は位置０である。よって、１〜２の範囲内にあり、部分表面の４×４のマーク内に見られ
るこの差は、２０番目の差になる。更に、このような差のそれぞれに対する全部で３つの
縦列が存在し、開始の縦列が存在するので、４×４のＸコードの一番右の縦方向の並びが
Ｘコードの６１番目（縦列６０）の縦列に属し（３×２０＋１＝６１）、一番左の縦方向
の並びが５８番目（縦列５７）に属する。
Ｙコードの水平方向のビットの並びは、数字列内の位置０ ４ １ ３を符号化する。こ
れらの水平方向のビットの並びは、５８番目の縦列から始まるので、横行の開始位置は、
これらの数字から５７を引いたものの７を法とする剰余であり、開始位置が６ ３ ０ ２
になる。混合基数の数に変換すると、これは６−２、３−２、０−０、２−２＝４ １ ０
０になる。ここで、３番目の桁が注目している数字内の最下位桁である。次に、４番目
の桁が次の数字内の最上位桁である。この場合、これは、注目している数字内のものと同
じにならなければならない（注目している数字が位置の全てで取り得る最大の数から構成
される場合に、例外が発生する。その場合、次の数字の始まりが、注目している数字の始
まりよりも１大きくなることが分かる）。
位置番号は、混合基数で、０×５０＋４×１０＋１×２＋０×１＝４２になる。
従って、Ｙコードの３番目の水平ビットの並びが、４３番目のコード・ウィンドウに属
し、これは０か１の開始位置を持ち、そして、このようなコード・ウィンドウのそれぞれ
について全部で４行あるので、３番目の行が４３×４＝１７２番になる。
従って、この例で、４×４のマークを備える部分表面の一番左上の角の位置が（５８，
１７０）になる。
４×４グループにおけるＸコード内の垂直ビットの並びが横行１７０上で始まるので、
全パターンのＸ縦列は、数字列の位置（（２ ０ ４ ６）−１６９） ｍｏｄ ７＝１ ６
３ ５から始まる。最後の開始位置（５）と最初の開始位置の間で、数字０〜１９が混合
基数で符号化され、混合基数での数字０〜１９の表記を合計することによって、これらの
縦列の間の合計差を得る。これを行なう簡単なアルゴリズムがこれら２０個の数字を生成
し、直接それらの数を合計することになる。結果の総和をｓと呼ぶことにすると、頁や書
き込み面は、（５−ｓ）ｍｏｄ７によって得られる。
コード・ウィンドウを識別できるようにするために、部分表面においてどのビットが最
下位のものであるかを決定する他の方法を、以下に説明する。最下位ビット（ＬＳＢ）は
、部分表面の差すなわち横行での位置番号における最小の数として定義される。このよう
にして、座標の最大使用可能な数の減少（冗長性）は、相対的に小さい。例えば、前述の
例のＸ方向における初めの幾つかの第１のコード・ウィンドウは、全て、ＬＳＢ＝１で、
他の桁として２と６の間の数を持つことができ、これは２５個のコード・ウィンドウとな
り、次のコード・ウィンドウは、ＬＳＢ＝２、及び３と６の間の他の数を持つことができ
、これは１６個のコード・ウィンドウとなり、次のコード・ウィンドウは、ＬＳＢ＝３、
及び４と６の間の他の数を持つことができ、これは９個のコード・ウィンドウとなり、次
のコード・ウィンドウは、ＬＳＢ＝４、及び５と６の間の他の数を持つことができ、これ
は４個のコード・ウィンドウとなり、次のコード・ウィンドウは、ＬＳＢ＝５、及び６で
ある他の数を持つことができ、これは１個のコード・ウィンドウとなり、総計で、前述の
例の３２個に対し、５５個のコード・ウィンドウを持つ。
上記の例で、一実施形態が説明され、その中で、各位置は４×４のマークを使用して符
号化され、７ビットの数字列が使用された。もちろん、これは、ほんの一例にすぎない。
位置は、より多くのまたはより少ない数のマークを使用して符号化できる。両方の方向で
同じ数である必要がない。数字列を異なった長さにし、２進数以外にしても良いし、他の
基数、例えば１６進コードに基づくことも可能である。Ｘ方向の符号化とＹ方向の符号化
に異なった数字列を使用可能である。マークは、異なる個数の値を表すことも可能である
。
実用的な例において、部分表面として、６×６のマークからなるものが使用され、この
場合、ビット列は、最大２6ビット、すなわち６４ビットとすることができる。しかしな
がら、部分表面の回転位置を決定する能力を持たせるために、５１ビットのビット列、す
なわち５１個の位置を使用する。このようなビット列の例は、以下のとおりである。
０００００１１０００１１１１１０１０１０１１０１１００１１０１０００１０１００１
１１０１１１１００１０
このような６×６のマークからなる部分表面は、理論上、４6*6個の位置を符号化でき
、前述の０．３ｍｍのラスター寸法では、巨大な表面となる。
７ビット列を用いた前述のものと同様の方法で、本発明に従えば、前記特性は、部分表
面を、少なくともその中央において、部分表面の両側の１ビットを含むように拡大して、
６×６のシンボルの部分表面内の３番目及び４番目の行において、８個のマーク（部分表
面の各側に１個ずつ）が読まれるようにし、これをＹ方向も同様とするという方法で利用
できる。前述の５１ビットを含むビット列は、６ビットのビット並びが、ただ１度だけ出
現し、６ビットの前述のビット並びを含む８ビットの並びが、ただ１度だけ出現し、決し
て逆転した位置又は反転及び逆転されたときには出現しないという特性を有している。こ
のようにして、部分表面の回転位置は、横行３、横行４、縦列３及び／又は縦列４におけ
る８ビットを読むことによって、決定できる。回転位置が分かれば、部分表面は、処理を
続ける前に、正しい位置に回転することができる。
できるだけランダムなパターンを得ることが望ましく、こうすれば、過度に対称的な領
域は出現しない。６×６のマークを備える部分表面が、図２ａ〜２ｄに従った異なる位置
の全てを有するマークを含むパターンを得ることが望ましい。更にばらつき度を増大し、
繰り返しの特性を避けるために、「シャッフル」と呼ばれる方法が使用できる。各水平ビ
ット並びは、所定の開始位置から始まる。しかしながら、ずれ量が分かっているのなら、
各横行毎に、水平方向における開始位置をずらすことができる。これは、隣接する横行に
対し、各最下位ビット（ＬＳＢ）に別々のずれベクトルを割り当てることにより行うこと
ができる。このずれベクトルは、各横行が水平方向にずらされる量を規定する。これは、
見た目には図１のＹ軸が「スパイク状」であるかのように理解できる。
４×４のコード・ウィンドウを用いた上述の例において、このずれベクトルは、ＬＳＢ
＝０に対し、１，２，４，０とすることができ、ＬＳＢ＝１に対し、２，２，３，０とす
ることができる。これは、２と０をそれぞれ差し引いた後、処理を続ける前に、上述のず
れ量がビット並びの位置番号から差し引かれる（５を法とする剰余で）こととなることを
意味する。上述の例において、Ｙ座標に関し、混合基数で数４１ ０ ０（Ｓ2，Ｓ1，Ｓ0
，Ｓ4）が得られ、ここで、右から２つめの数が最下位桁（ＬＳＢ）である。ずれベクト
ル１，２，４，０が数字４と１に用いられるので（ＬＳＢ＝０）、２が４から引かれてＳ
2＝２となり、４が１から引かれて（５を法とする剰余で）Ｓ1＝２となる。数字Ｓ0＝０
は変わらずに残る（最下位桁に対するずれベクトルの値は、常に０である）。最後に、数
字Ｓ4は、次のコード・ウィンドウに属し、これはＬＳＢ＝１であり、第２のずれベクト
ルが使用される。従って、２が０から差し引かれ（５を法とする剰余で）、Ｓ4＝３とな
る。
同様の方法が、Ｙ座標のコードを変えるために使用できる。しかしながら、上述の例に
おいては差０が使用されておらず、コードは既に相対的にランダムに分散されているので
、Ｘ座標を変える必要性は小さい。
上記の例で、マークをドットとしているが、もちろん、別の外観にすることもできる。
例えば、マークは、仮想ラスター点から始まり、そこから特定の位置に伸びる線や楕円か
ら構成できる。ドット以外の他のシンボル、たとえば、正方形、長方形、三角形、円、楕
円とすることができ、また、塗り潰されたものでも、そうでないものでもよい。
上記の例では、マークは、正方形の形の部分表面内で、位置の符号化に使用されている
。部分表面は例えば、六角形などの別の形にすることも可能である。マークは、直交する
ラスターにおけるラスター線に沿って配置される必要はなく、他の方法、例えば６０度な
どの他の角度のラスターにおけるラスター線に沿って、配置され得る。極座標系を使用し
てもよい。
図５及び図６に示すように、三角形又は六角形の形をしたラスターを使用することもで
きる。例えば、図５に示すように、三角形のラスターでは、各マークを６つの異なる方向
にずらすことができ、６6*6の部分表面位置に相応するより膨大な容量を提供する。図６
の六角形のラスター、蜂の巣状パターンでは、各マークは、ラスター線に沿って３つの異
なる方向にずらすことができる。
前述したように、マークは、必ずしもラスター線に沿ってずらされる必要はなく、他の
方向にずらす、例えば、正方形ラスター・パターンが用いられるときには、それぞれを四
分区間内に配置することができる。六角形ラスター・パターンにおいては、マークを４又
はそれ以上の異なる方向、例えば、ラスター線に沿うものとラスター線に対し６０度の角
度にある線に沿うものとで６つの異なる方向にずらすことができる。
位置コードを検出できるようにするには、仮想ラスターが決定されることが必要である
。これは、方形ラスター・パターンにおいては、異なるマーク間の距離を調べることによ
って行うことができる。２つのマーク間の最も短い距離は、水平方向において値１と３又
は垂直方向において値２と４を持つ２つの隣接したマークから導かれるはずなので、これ
らのマークは、２つのラスター点の間の１つのラスター線上にある。このようなマークの
組みが検出された場合に、関連するラスター点（基準位置）が、ラスター点間の距離とラ
スター点からのマークのずれ量の知識を使用して決定され得る。１度、２つのラスター点
の位置が決定されると、他のマークへの測定された距離を使用して、ラスター点間の距離
の知識から、次のラスター点が決定できる。
マークがラスター線に沿って５０μｍずれており、ラスター線間は３００μｍ離れてい
る場合、２つのマークの最小距離、例えば値１と３を持ったマークにおける距離は２００
μｍになる。次に小さい距離は、例えば、値１と２を持ったマークの間であり、これは２
５５μｍとなる。従って、最小距離と次に小さい距離との間には、相対的に区別可能な差
がある。他の斜め方向のものまでの差は、また大きいものである。しかしながら、ずれ量
が５０μｍより大きくなる、例えば、７５μｍ（１／４）以上である場合、升目の斜め方
向のものが問題を引き起こし、マークが属する基準位置の決定が困難となり得る。ずれ量
が５０μｍ以下、例えば、おおよそ３５μｍ（１／８）以下の場合、最小距離は２３０μ
ｍとなり、２６７μｍである次の距離とで大きな差がない。この場合、光学読み取りに対
する要求が増大する。
マークは、それ自身のラスター点を覆うべきでなく、従って、ずれ量の２倍以上の直径
（２００％）を持つべきでない。しかしながら、これは厳密なものではなく、所定のオー
バーラップ（例えば、２４０％）は許容できる。最初に、センサーの解像度及びパターン
を生成するのに使用する印刷プロセスでの要求によって、この最小サイズが決定される。
しかしながら、マークは、ゴミやセンサーのノイズによる問題を避けるために、実用上、
ずれ量のおおよそ５０％より小さな直径とすべきでない。
位置決定のための装置の一実施形態が、図４に図示される。装置は、おおよそペンと同
じ形をしたケース１１を備える。ケースの一方の短辺には開口１２がある。この短辺は、
位置決定が行なわれる表面に接触するか、または、表面から近い距離に保持されるように
意図されている。
ケースは、光学部品、電子回路部品および電源を基本的に含んでいる。
光学部品は、画像化されることになる表面を照明する少なくとも１個の発光ダイオード
１３、及び、二次元画像を記録するＣＣＤやＣＭＯＳセンサーなどの光感知エリアセンサ
ー１４を備える。必要であれば、装置は、ミラー及び／又はレンズ系などの光学系を備え
てよい。発光ダイオードは、赤外線発光ダイオードとすることができ、センサーは赤外線
光に反応するものとすることができる。
装置の電源は、ケースの独立した区画に取り付けられた電池１５から供給される。
電子回路部品は、センサー１４により記録された画像に基づいて位置を決定するための
画像処理手段１６、詳細には、センサーからの画像を読み、それらの画像に基づいて位置
決定を実行するようプログラムされたプロセッサを備えたプロセッサ・ユニットを含んで
いる。
本実施形態において、装置は、また、ペン先１７を備えており、これを用いて、位置決
定が実行されることとなる表面上に、通常の顔料による書き込みをすることができる。ペ
ン先１７は、ユーザが使うかどうかを選択できるよう出没自在である。特定の用途におい
て装置は、ペン先を全く必要としない。
顔料による書き込みは、好ましくは、赤外光に対し透過のタイプのものであり、マーク
は、好ましくは、赤外光を吸収する。赤外光を発光する発光ダイオードと赤外光に反応す
るセンサーを用いることによって、パターンに対する前述した書き込みに干渉されること
なく、パターンの検出ができるようになる。
装置は、また、ボタン１８を備え、これによって、装置は、起動され、制御される。ま
た、装置は、装置から及び装置へ情報を、例えば、赤外線、無線波又は超音波などを使用
して、無線伝送するためのトランシーバ１９を有する。装置はまた、位置又は記録した情
報を表示するためのディスプレイ２０を備える。
テキストを記録する装置が、出願人のスウェーデン特許第９６０４００８−４号に説明
されている。この装置は、適切な方法でプログラムすれば、位置決定のために使用できる
。顔料による書き込みのために本装置が使用される場合には、ペン先を備える必要がある
。
装置は、異なる物理的なケースに分けることができ、第１のケースは、位置符号化パタ
ーンの画像を記録し、これらを第２のケース内に含まれる部品に転送するために必要な部
品を含み、前記第２のケース内の部品において、記録された画像に基づいて位置決定が実
行される。
前述のように、位置決定は、画像内でマークの場所を決定し、これを復号化すると共に
、これによって得られたコードから位置を決定するソフトウェアを備えているプロセッサ
によって、実行される。当業者であれば、前述の例に基づいて、位置符号化パターンの部
分画像に基づいて位置決定を実行するソフトウェアを設計することができるであろう。
更に、前述の記載に基づいて、当業者は、位置符号化パターンを印刷するためのソフト
ウェアを設計することができるであろう。
前記実施形態において、パターンは、光学的に読み取り可能なものであり、従って、セ
ンサーは光学的なものである。前述したように、パターンは、光学的な要素以外の要素に
基づくことができる。この場合、センサーは、もちろん、対象の要素を読むことができる
タイプのものでなければならない。このような要素の例としては、化学的、聴覚的又は電
磁的なマークがある。容量性又は誘導性マークを用いることもできる。
前述の実施形態において、ラスターは直交グリッドであった。これはまた、他の形状、
例えば、６０度の角度を有する菱形グリッド、三角又は六角グリッドなどでもよい。
ずれは、４方向より多いものも少ないものも使用でき、例えば、六角仮想ラスターに沿
う３方向のずれが使用できる。直交ラスターにおいては、ラスターの再現を容易にするた
めに、２つのずれのみを使用してもよい。しかしながら、４方向におけるずれが好ましく
、また、６か８方向も、本発明の範囲に含むことができる。
前記実施形態においては、利用できる最長の循環数字列は使用されていない。その結果
として、各種の方法で使用可能な冗長度が得られている。この冗長度は、例えば、エラー
訂正、失われた又は隠れたマークの置き換えなどを行うために使用できる。

Claims (21)

  1. 複数のマークを備えた符号化パターンを有する製品であって、前記マークのそれぞれが
    少なくとも２つの異なる値のうちの１つを表しており、前記符号化パターンが、また、複
    数の基準位置を備えており、前記複数のマークのそれぞれが前記複数の基準位置の１つに
    関連付けられ、前記各マークの値がその基準位置に対するその位置によって示されている
    ことを特徴とする製品。
  2. 前記各基準位置に、１つのマークが割り当てられている請求項１に記載の製品。
  3. 略全てのマークが、その基準位置に対してずらした位置にある請求項１又は２に記載の
    製品。
  4. 略全てのマークが、その基準位置に対して同じ距離だけずらした位置にある請求項３に
    記載の製品。
  5. 各マークが、その基準位置に対して直交する４方向のうちの１つの方向にずらした位置
    にある先行する請求項の何れか１つに記載の製品。
  6. 前記符号化パターンが、ラスター線を有するラスターを備え、該ラスター線の交点が、
    前記マークの基準位置を規定する先行する請求項の何れか１つに記載の製品。
  7. 前記ラスター線間の距離が、おおよそ２５０μｍから３００μｍの間である請求項６に
    記載の製品。
  8. 前記ラスター線の形状が、矩形グリッド、好ましくは正方形グリッドである請求項６又
    は７に記載の製品。
  9. 各マークが、前記ラスター線の１つに沿ってずらされている請求項６，７又は８に記載
    の製品。
  10. 各マークが、ラスター線間の距離の１／４から１／８、好ましくは１／６の距離だけ、
    その基準位置からずらされている請求項６〜９の何れか１つに記載の製品。
  11. 前記ラスターが仮想のものである請求項６〜１０の何れか１つに記載の製品。
  12. 全ての前記マークが、おおよそ同じ外形を有している先行する請求項の何れか１つに記
    載の製品。
  13. 前記マークが、おおよそ円形、三角形又は矩形である先行する請求項の何れか１つに記
    載の製品。
  14. 前記マークの有効直径が、その基準位置に対する前記マークのずれ量のおおよそ５０％
    から２４０％である請求項４〜１３の何れか１つに記載の製品。
  15. 前記符号化パターンが光学的に読み取り可能なものである先行する請求項の何れか１つ
    に記載の製品。
  16. 前記符号化パターンが赤外光により読み取り可能なものである先行する請求項１５に記
    載の製品。
  17. 前記製品が、前記符号化パターンを備えた表面を有している先行する請求項の何れか１
    つに記載の製品。
  18. 前記マークが、前記符号化パターンを備える表面の０．２５％から２０％、好ましくは
    おおよそ９％を構成する先行する請求項の何れか１つに記載の製品。
  19. 前記符号化パターンが、前記製品上の複数の位置を符号化する位置符号化パターンであ
    り、該各位置が、複数のマークによって符号化されている先行する請求項の何れか１つに
    記載の製品。
  20. 前記製品が、紙のシートである先行する請求項の何れか１つに記載の製品。
  21. 複数のマークを備えた符号化パターンの使用法であって、前記マークのそれぞれが少な
    くとも２つの異なる値のうちの１つを表しており、前記符号化パターンが、また、複数の
    基準位置を備えており、前記複数のマークのそれぞれが前記基準位置に関連付けられ、前
    記各マークの値がその基準位置に対するその位置によって決定されていることを特徴とす
    る符号化パターンの使用法。
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