JP2010107270A - クリープ試験機 - Google Patents
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Abstract
【課題】複数の設定温度下において複数の試験片のクリープ試験を行うことができるクリープ試験機を提供する。
【解決手段】それぞれが独立する恒温槽２を複数配置し、各恒温槽２内にクリープ試験部４を設け、各恒温槽２を各別の設定温度下に設定する。また、試験機本体１に隣接して制御パネル５を設け、この制御パネル５に各別の恒温槽２に対応する各別の温度設定パネル６を設る。
【効果】予備試験及び本試験を同時に一括でできると共に設定温度の異なる試験も同時にでき、その結果、試験時間の短縮ができ、使用エネルギー量の削減を可能とする。
【選択図】図１
【解決手段】それぞれが独立する恒温槽２を複数配置し、各恒温槽２内にクリープ試験部４を設け、各恒温槽２を各別の設定温度下に設定する。また、試験機本体１に隣接して制御パネル５を設け、この制御パネル５に各別の恒温槽２に対応する各別の温度設定パネル６を設る。
【効果】予備試験及び本試験を同時に一括でできると共に設定温度の異なる試験も同時にでき、その結果、試験時間の短縮ができ、使用エネルギー量の削減を可能とする。
【選択図】図１
Description
本発明は、試験片に荷重を加えて試験片の変形量を計測するクリープ試験機に関する。
合成樹脂材、金属材等の材料の変形を計測するため、材料である試験片に圧縮荷重又は引張荷重を加えて、この荷重による試験片の変形量を計測するクリープ試験機は公知である。
恒温槽内において、試験片を試験片受台上に載置し、設定温度に加熱した試験片上に荷重を加える圧子を接触させ、該圧子に圧縮荷重を加えて試験片の変形量を計測する圧縮クリープ試験機は知られている（例えば特許文献１）。
同じく、恒温槽内において、試験片の両端を挟持する一対のチャックを設け、この一対のチャックにより試験片をチャックし、設定温度に加熱した試験片に引張荷重を加えて、試験片の変形量を計測する引張クリープ試験機も知られている（例えば特許文献２）。
特開２０００−３２１１８７号公報
特開２０００−６５７０４号公報
恒温槽内において、試験片を試験片受台上に載置し、設定温度に加熱した試験片上に荷重を加える圧子を接触させ、該圧子に圧縮荷重を加えて試験片の変形量を計測する圧縮クリープ試験機は知られている（例えば特許文献１）。
同じく、恒温槽内において、試験片の両端を挟持する一対のチャックを設け、この一対のチャックにより試験片をチャックし、設定温度に加熱した試験片に引張荷重を加えて、試験片の変形量を計測する引張クリープ試験機も知られている（例えば特許文献２）。
上記特許文献１の先行例は、ただ１つの恒温槽内でただ１つの試験片に圧縮荷重を加えて試験片の変形量を計測する圧縮クリープ試験機である。従って予備試験と本試験は各別に行わなければならないし、恒温槽内の設定温度を変更する毎に各別に予備試験及び本試験を行わなければならない。
この点、上記特許文献２の先行例は、１つの恒温槽内に複数の試験片の試験を同時に行うことができるように、試験室を並列に複数設けてある引張クリープ試験機である。従って、同一の設定温度で複数の試験片の試験を同時に行うことができる利点がある。
しかし、何れの先行例においても設定温度を変更して試験を行う場合には、試験毎に恒温槽の温度を変更しなければならないという課題がある。
本発明は、上記の課題に鑑み、複数の設定温度下において複数の試験片のクリープ試験を行うことができるクリープ試験機を提供するものである。
この点、上記特許文献２の先行例は、１つの恒温槽内に複数の試験片の試験を同時に行うことができるように、試験室を並列に複数設けてある引張クリープ試験機である。従って、同一の設定温度で複数の試験片の試験を同時に行うことができる利点がある。
しかし、何れの先行例においても設定温度を変更して試験を行う場合には、試験毎に恒温槽の温度を変更しなければならないという課題がある。
本発明は、上記の課題に鑑み、複数の設定温度下において複数の試験片のクリープ試験を行うことができるクリープ試験機を提供するものである。
そのために、本発明クリープ試験機は、それぞれが独立する恒温槽を複数配置し、各恒温槽内にクリープ試験部を設け、各恒温槽を各別の設定温度下に設定するようにしてあることを特徴とする。
また、本発明クリープ試験機は、上記複数の恒温槽を並列に配置してあることを特徴とする。
さらに、本発明クリープ試験機は、それぞれが独立する恒温槽を複数配置する試験機本体に隣接して制御パネルを設け、この制御パネルに各別の恒温槽に対応する各別の温度設定パネルを設けてあることを特長とする。
また、本発明クリープ試験機は、上記複数の恒温槽を並列に配置してあることを特徴とする。
さらに、本発明クリープ試験機は、それぞれが独立する恒温槽を複数配置する試験機本体に隣接して制御パネルを設け、この制御パネルに各別の恒温槽に対応する各別の温度設定パネルを設けてあることを特長とする。
本発明クリープ試験機は、それぞれが独立する恒温槽を複数配置し、各恒温槽内にクリープ試験部を設け、各恒温槽を同一又は各別の設定温度下に設定するようにしてあることを特徴とするから、予備試験及び本試験を同時に一括でできると共に設定温度の異なる試験も同時にでき、その結果、試験時間の短縮ができ、使用エネルギー量の削減を可能とする効果がある。
図面に示した実施例により、本発明の詳細を説明する。
図１に本発明クリープ試験機の正面を示してあり、クリープ試験機本体１に、それぞれが独立する複数の恒温槽２を並列に備え付けてある。図示した実施例では６個の恒温槽２を一体に構成してあり、その前部を開放して開閉可能の扉３を設けてある。
これらそれぞれの恒温槽２は、各別に設定温度下に設定するようにしてあり、各恒温槽２を例えば３０℃〜８０度℃のそれぞれ各別の温度に設定することができるようにしてある。勿論各恒温槽２を同一の温度に設定することもできる。
そのために、試験機本体１に隣接して制御パネル５を設け、この制御パネル５に各別の恒温槽２に対応する各別の温度設定パネル６を設けてある。
図１に本発明クリープ試験機の正面を示してあり、クリープ試験機本体１に、それぞれが独立する複数の恒温槽２を並列に備え付けてある。図示した実施例では６個の恒温槽２を一体に構成してあり、その前部を開放して開閉可能の扉３を設けてある。
これらそれぞれの恒温槽２は、各別に設定温度下に設定するようにしてあり、各恒温槽２を例えば３０℃〜８０度℃のそれぞれ各別の温度に設定することができるようにしてある。勿論各恒温槽２を同一の温度に設定することもできる。
そのために、試験機本体１に隣接して制御パネル５を設け、この制御パネル５に各別の恒温槽２に対応する各別の温度設定パネル６を設けてある。
これらそれぞれの恒温槽２内にはクリープ試験部４を設けてある。図示した実施例のクリープ試験部４は圧縮クリープ試験部であるが、このクリープ試験部４は引張クリープ試験部であってもよい。
圧縮クリープ試験部４は、図３及び図４に示してある。各恒温槽２の上壁から垂下固定した４本の支柱７の下部に試験片受台８を固設してあり、この試験片受台８の両端に試験片１０を支持する支持突部９を設け、この支持突部９の両側に試験片１０のための位置決めピン１１を起立させてある。
圧縮クリープ試験部４は、図３及び図４に示してある。各恒温槽２の上壁から垂下固定した４本の支柱７の下部に試験片受台８を固設してあり、この試験片受台８の両端に試験片１０を支持する支持突部９を設け、この支持突部９の両側に試験片１０のための位置決めピン１１を起立させてある。
各恒温槽２の上部には荷重駆動部１２が設けてあり、この荷重駆動部１２から垂下し、恒温槽２の上壁を貫通して恒温槽２内に配した押圧杆１３の下端に圧子１４を設け、この圧子１４により試験片１０に圧縮荷重を加える。
上記押圧杆１３の恒温槽２より外に位置する上部に変位測定部１５を設け、この変位測定部１５で試験片１０の変位量を測定するようにしてある。
上記押圧杆１３の恒温槽２より外に位置する上部に変位測定部１５を設け、この変位測定部１５で試験片１０の変位量を測定するようにしてある。
本発明クリープ試験機は、請求項１に示す通り、それぞれが独立する恒温槽を複数配置し、各恒温槽内にクリープ試験部を設け、各恒温槽を各別に設定温度下に設定するようにしてあることを特徴とするから、各恒温槽の温度を各別にして同時に試験することができ、また適当に選別して複数の恒温槽を同温下にして試験することもできる。従って、試験時間の短縮、使用エネルギー量の削減を可能とする。
１ クリープ試験機本体
２ 恒温槽
３ 扉
４ クリープ試験部
５ 制御パネル
６ 温度設定パネル
７ 支柱
８ 試験片受台
９ 支持突部
１０ 試験片
１１ 位置決めピン
１２ 荷重駆動部
１３ 押圧杆
１４ 圧子
１５ 変位測定部
２ 恒温槽
３ 扉
４ クリープ試験部
５ 制御パネル
６ 温度設定パネル
７ 支柱
８ 試験片受台
９ 支持突部
１０ 試験片
１１ 位置決めピン
１２ 荷重駆動部
１３ 押圧杆
１４ 圧子
１５ 変位測定部
Claims (3)
- それぞれが独立する恒温槽を複数配置し、各恒温槽内にクリープ試験部を設け、各恒温槽を各別の設定温度下に設定するようにしてあることを特徴とするクリープ試験機。
- 上記複数の恒温槽を並列に配置してある上記請求項１に記載のクリープ試験機。
- それぞれが独立する恒温槽を複数配置する試験機本体に隣接して制御パネルを設け、この制御パネルに各別の恒温槽に対応する各別の温度設定パネルを設けてある上記請求項１又は２に記載のクリープ試験機。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2008277689A JP2010107270A (ja) | 2008-10-29 | 2008-10-29 | クリープ試験機 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2008277689A JP2010107270A (ja) | 2008-10-29 | 2008-10-29 | クリープ試験機 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2010107270A true JP2010107270A (ja) | 2010-05-13 |
Family
ID=42296862
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2008277689A Pending JP2010107270A (ja) | 2008-10-29 | 2008-10-29 | クリープ試験機 |
Country Status (1)
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|---|---|
| JP (1) | JP2010107270A (ja) |
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-
2008
- 2008-10-29 JP JP2008277689A patent/JP2010107270A/ja active Pending
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