JP2010101925A - Image display device and method for driving the same - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、画像表示装置及び画像表示装置の駆動方法に関し、例えば有機ＥＬ（Electro Luminescence）素子を用いた画像表示装置に適用することができる。本発明は、非発光領域又は低輝度領域の境界長を考慮してリペア画素等の異常画素の輝度を調整することにより、低輝度領域又は非発光領域を視認し難くし、異常画素による画質劣化を従来に比して一段と改善する。 The present invention relates to an image display device and a method for driving the image display device, and can be applied to an image display device using an organic EL (Electro Luminescence) element, for example. The present invention makes it difficult to visually recognize a low luminance region or a non-light emitting region by adjusting the luminance of an abnormal pixel such as a repair pixel in consideration of the boundary length of the non-light emitting region or the low luminance region, and image quality deterioration due to the abnormal pixel. Is further improved compared to the conventional method.
近年、有機ＥＬ素子を用いた画像表示装置の開発が盛んになっている。ここで図２８に示すように、この種の画像表示装置１は、マトリックス状に画素を配置して表示部２が形成される。画像表示装置１は、順次入力される画像データＤ１に応じて、駆動回路３により表示部２を駆動し、表示部２で所望の画像を表示する。
In recent years, image display devices using organic EL elements have been actively developed. Here, as shown in FIG. 28, in this type of
有機ＥＬ素子の画像表示装置は、パッシブマトリックス型とアクティブマトリックス型とに大別される。ここで図２９に示すように、パッシブマトリックス型の画像表示装置５は、有機ＥＬ素子ＯＬＥＤ（１，１）、ＯＬＥＤ（１，２）、……による画素をマトリックス状に配置して表示部２が形成される。画像表示装置５は、駆動回路３に設けられたスイッチ回路６により走査線ＳＣＡＮ（１）、ＳＣＡＮ（２）、……を順次循環的に選択する。画像表示装置５は、順次入力される画像データＤ１を電流駆動回路７（１）、７（２）、……に振り分け、電流駆動回路７（１）、７（２）、……でそれぞれ画像データＤ１に応じた駆動電流Ｉｓｉｇ（１）、Ｉｓｉｇ（２）、……を生成して対応する信号線ＳＩＧ（１）、ＳＩＧ（２）、……に出力する。これにより画像表示装置５は、ライン順次で有機ＥＬ素子ＯＬＥＤ（１，１）、ＯＬＥＤ（１，２）、……を順次発光させて所望の画像を表示する。これにより画像表示装置５は、信号線ＳＩＧ（１）、ＳＩＧ（２）、……を介した電流駆動により各画素の階調を設定する。
Image display devices using organic EL elements are roughly classified into a passive matrix type and an active matrix type. Here, as shown in FIG. 29, the passive matrix type
アクティブマトリックス型の画像表示装置１１は、図３０に示すように、画素ＰＩＸ（１，１）、ＰＩＸ（１，２）、……を構成する有機ＥＬ素子ＯＬＥＤと有機ＥＬ素子ＯＬＥＤを駆動する駆動回路とによる画素回路１６をマトリックス状に配置して表示部２が形成される。ここで画素回路１６は、例えばＰチャンネル型トランジスタＴｒ２と有機ＥＬ素子ＯＬＥＤとの直列回路の両端が電源Ｖｄｄ及びＶｓｓに接続され、ゲートドレイン間電圧に応じた駆動電流で駆動トランジスタＴｒ１により有機ＥＬ素子ＯＬＥＤを駆動する。画素回路１６は、駆動トランジスタＴｒ１のゲートドレイン間に、駆動トランジスタＴｒ１のゲートドレイン間電圧を保持する保持容量Ｃｓが設けられる。画素回路１６は、走査線ＳＣＡＮを介した書込トランジスタＴｒ２の制御により、保持容量Ｃｓの端子電圧が信号線ＳＩＧ（１）、ＳＩＧ（２）、……を介して順次設定される。これにより画素回路１６は、信号線ＳＩＧ（１）、ＳＩＧ（２）、……を介して駆動トランジスタＴｒ１のゲートドレイン間電圧を設定して各画素の階調を設定し、この駆動トランジスタＴｒ１のゲートドレイン間電圧に応じた駆動電流で有機ＥＬ素子ＯＬＥＤを電流駆動する。
As shown in FIG. 30, the active matrix type
駆動回路３は、順次入力される画像データＤ１を各信号線ＳＩＧ（１）、ＳＩＧ（２）、……に振り分けてそれぞれディジタルアナログ変換処理し、各信号線ＳＩＧ（１）、ＳＩＧ（２）、……の駆動電圧Ｖｓｉｇ（１）、Ｖｓｉｇ（２）、……を設定する。また駆動回路３は、駆動電圧Ｖｓｉｇ（１）、Ｖｓｉｇ（２）、……の設定に対応して各走査線ＳＣＡＮ（１）、ＳＣＡＮ（２）、……に書込トランジスタＴｒ２の制御信号を出力する。
The
有機ＥＬ素子を用いた画像表示装置は、図２９及び図３０に示す有機ＥＬ素子の駆動電流を可変して階調を表現する方式の他、有機ＥＬ素子の発光時間を可変して階調を表現する方法（時間変調方式）、有機ＥＬ素子の発光面積を可変して階調を表現する方法（面積変調方式）等が提案されている。 The image display device using the organic EL element can change the drive current of the organic EL element shown in FIGS. 29 and 30 to express the gradation, and can change the gradation by changing the light emission time of the organic EL element. A method of expressing (time modulation method), a method of expressing gradation by changing the light emission area of the organic EL element (area modulation method), and the like have been proposed.
有機ＥＬ素子を用いたアクティブマトリックス型の画像表示装置に関して、特開２００７−３１０３１１号公報には、２つのトランジスタを用いて画素回路を構成する方法が開示されている。従ってこの特開２００７−３１０３１１号公報に開示の方法によれば、構成を簡略化することができる。またこの特開２００７−３１０３１１号公報には、有機ＥＬ素子を駆動する駆動トランジスタのしきい値電圧のばらつき、移動度のばらつきを補正する構成が開示されている。従ってこの特開２００７−３１０３１１号公報に開示の構成によれば、駆動トランジスタのしきい値電圧のばらつき、移動度のばらつきによる画質劣化を防止することができる。 Regarding an active matrix type image display device using an organic EL element, Japanese Patent Application Laid-Open No. 2007-310311 discloses a method of forming a pixel circuit using two transistors. Therefore, according to the method disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 2007-310311, the configuration can be simplified. Japanese Patent Laid-Open No. 2007-310311 discloses a configuration for correcting variations in threshold voltage and mobility in driving transistors that drive organic EL elements. Therefore, according to the configuration disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 2007-310311, it is possible to prevent image quality deterioration due to variations in threshold voltage and mobility in driving transistors.
また特開２０００−１９５６７７号公報、特開２００３−１７８８７１号公報には、レーザービームの照射により、欠陥画素をリペアする方法が提案されている。また特開２００１−１１７５３４号公報には、逆バイアスの印加により、欠陥画素をリペアする方法が提案されている。 Japanese Patent Application Laid-Open Nos. 2000-195677 and 2003-178871 propose methods for repairing defective pixels by laser beam irradiation. Japanese Patent Laid-Open No. 2001-117534 proposes a method of repairing defective pixels by applying a reverse bias.
すなわち有機ＥＬ素子の画像表示装置では、種々の要因により、何ら発光しない非発光画素、発光輝度が著しく低い低輝度画素、輝点として観察される高輝度画素等の欠陥画素が発生する。 That is, in an image display device using an organic EL element, defective pixels such as non-luminous pixels that do not emit light, low-luminance pixels with extremely low emission luminance, and high-luminance pixels that are observed as bright spots are generated due to various factors.
具体的に、図３１（Ａ）に示すように、この種の画像表示装置に適用される有機ＥＬ素子ＯＬＥＤは、微小間隔で対向するように保持された陰極及び陽極で有機ＥＬ層を挟持し、この微小間隔が数〔μｍ〕〜１０〔μｍ〕に設定される。なお有機ＥＬ素子ＯＬＥＤは、画像表示装置の構成に応じて、上部電極及び下部電極がそれぞれ陰極及び陽極に設定される場合と、これとは逆に下部電極及び上部電極がそれぞれ陰極及び陽極に設定される場合とがある。 Specifically, as shown in FIG. 31A, an organic EL element OLED applied to this type of image display device has an organic EL layer sandwiched between a cathode and an anode held so as to face each other at a minute interval. The minute interval is set to several [μm] to 10 [μm]. In the organic EL element OLED, the upper electrode and the lower electrode are set as the cathode and the anode, respectively, and the lower electrode and the upper electrode are set as the cathode and the anode, respectively, depending on the configuration of the image display device. May be.
従って有機ＥＬ素子ＯＬＥＤは 図３１（Ｂ１）及び（Ｃ１）により示すように、微小な塵の混入により、この微小な塵が混入した画素で陰極及び陽極が短絡する場合がある。なお図３１（Ｂ１）は、導電性を有する塵が電極間に混入して陰極及び陽極が短絡する場合である。また図３１（Ｃ１）は、上部電極上に混入した塵により陰極及び陽極間の間隔が狭くなり、陰極及び陽極が短絡する場合である。この場合、当該画素は、非発光画素となる。また有機ＥＬ素子は、微小な塵により局所的にリーク電流が発生する場合もあり、この場合、当該画素は、低輝度画素となる。 Therefore, as shown in FIGS. 31B1 and 31C, in the organic EL element OLED, the cathode and the anode may be short-circuited in the pixel in which the minute dust is mixed due to the mixing of the minute dust. Note that FIG. 31B1 shows a case where conductive dust is mixed between the electrodes and the cathode and the anode are short-circuited. FIG. 31C1 shows a case where the distance between the cathode and the anode is narrowed by dust mixed on the upper electrode, and the cathode and the anode are short-circuited. In this case, the pixel is a non-light emitting pixel. In addition, in the organic EL element, a leak current may be locally generated due to minute dust. In this case, the pixel is a low luminance pixel.
また有機ＥＬ素子は、陰極及び陽極間に数〔Ｖ〕〜１０〔Ｖ〕程度の電圧が印加される。従って有機ＥＬ素子は、有機ＥＬ層の膜厚のばらつき、膜質のばらつきによる局所的な絶縁破壊により短絡し、この場合、当該画素は、非発光画素となる。また局所的に非導通状態となる場合もあり、この場合、当該画素は、局所的に非発光の部位を有する低輝度画素となる。 In the organic EL element, a voltage of about several [V] to 10 [V] is applied between the cathode and the anode. Therefore, the organic EL element is short-circuited due to local dielectric breakdown due to variations in the film thickness and film quality of the organic EL layer. In this case, the pixel is a non-light emitting pixel. In some cases, the pixel is locally non-conductive. In this case, the pixel is a low-luminance pixel having a locally non-light-emitting region.
また有機ＥＬ素子は、水分等の不純物の影響により、局所的に有機ＥＬ層の膜質、有機ＥＬ層物質の構造が変動し、その結果、局所的に有機ＥＬ素子の発光効率が変動する場合がある。この場合、当該画素は、この発光効率の変動により、低輝度画素、又は高輝度画素となる。 In addition, in the organic EL element, the film quality of the organic EL layer and the structure of the organic EL layer material locally fluctuate due to the influence of impurities such as moisture, and as a result, the luminous efficiency of the organic EL element may fluctuate locally. is there. In this case, the pixel becomes a low-luminance pixel or a high-luminance pixel due to the variation in the light emission efficiency.
これらの欠陥画素は、画像表示装置において、滅点、輝点等の欠陥として視認され、著しく画質を劣化させる。特に発光輝度の低い低輝度領域において、欠陥画素の割合が増大すると、滅点、輝点が目立ち易くなり、著しく画質が劣化する。 These defective pixels are visually recognized as defects such as dark spots and bright spots in the image display device, and the image quality is significantly deteriorated. In particular, in a low-luminance region where the emission luminance is low, when the proportion of defective pixels increases, dark spots and bright spots become more conspicuous, and the image quality deteriorates significantly.
特開２０００−１９５６７７号公報等に開示の手法は、図３１（Ｂ２）及び（Ｃ２）により示すように、欠陥画素内において、欠陥画素の発生原因となった部位の電極を局所的に除去し、残った部位を正常に機能させる。
ところで特開２０００−１９５６７７号公報等に開示の手法によるリペアでは、局所的に電極を除去した部位が非発光領域となる。その結果、これらのリペアでは、リペアしない場合に比して画質を向上し得るものの、依然として滅点による欠陥が視認される問題がある。 By the way, in the repair by the method disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 2000-195567 and the like, a portion where the electrode is locally removed becomes a non-light emitting region. As a result, in these repairs, although the image quality can be improved as compared with the case where repair is not performed, there is still a problem that defects due to dark spots are still visually recognized.
特に、リペア画素では、リペアにより発生した非発光領域の位置によって、非発光領域の見え方が異なり、欠陥として視認される程度も異なる。 In particular, in the repair pixel, the appearance of the non-light-emitting region differs depending on the position of the non-light-emitting region generated by the repair, and the degree of visual recognition as a defect is also different.
本発明は以上の点を考慮してなされたもので、欠陥画素等の異常画素による画質劣化を従来に比して一段と改善することができる画像表示装置及び画像表示装置の駆動方法を提案しようとするものである。 The present invention has been made in consideration of the above points, and intends to propose an image display device and a method for driving the image display device that can further improve image quality degradation due to abnormal pixels such as defective pixels as compared with the conventional art. To do.
上記の課題を解決するため本発明は、マトリックス状に画素を配置した表示部と、画像データに応じて前記表示部に配置した画素を駆動し、前記表示部で所望の画像を表示する駆動部とを有する画像表示装置に適用する。前記駆動部は、輝度の低い低輝度領域又は非発光領域を部分的に有する異常画素の輝度を調整する輝度調整部を有し、前記輝度調整部は、前記異常画素における前記低輝度領域又は前記非発光領域と発光領域との境界長が長くなるに従って補正量が増大するように設定して、前記異常画素の面積による積分輝度、又は前記異常画素の面積及び時間による積分輝度を増大させ、前記輝度調整部により前記異常画素の輝度を調整しない場合に比して前記低輝度領域又は非発光領域を視認し難くする。 In order to solve the above problems, the present invention provides a display unit in which pixels are arranged in a matrix, and a drive unit that drives the pixels arranged in the display unit according to image data and displays a desired image on the display unit. It applies to the image display device which has. The drive unit includes a luminance adjustment unit that adjusts the luminance of an abnormal pixel partially having a low luminance region or a non-light-emitting region with low luminance, and the luminance adjustment unit is configured to adjust the low luminance region or the The correction amount is set to increase as the boundary length between the non-light emitting region and the light emitting region is increased, and the integrated luminance due to the area of the abnormal pixel or the integrated luminance due to the area and time of the abnormal pixel is increased, The low brightness area or the non-light emitting area is made difficult to visually recognize as compared with the case where the brightness adjustment unit does not adjust the brightness of the abnormal pixel.
また本発明は、マトリックス状に画素を配置した表示部と、画像データに応じて前記表示部に配置した画素を駆動し、前記表示部で所望の画像を表示する駆動部とを有する画像表示装置の駆動方法に適用する。輝度の低い低輝度領域又は非発光領域を部分的に有する異常画素の輝度を調整する輝度調整ステップを有し、前記輝度調整ステップは、前記異常画素における前記低輝度領域又は前記非発光領域と発光領域との境界長が長くなるに従って補正量が増大するように設定して、前記異常画素の面積による積分輝度、又は前記異常画素の面積及び時間による積分輝度を増大させ、前記異常画素の輝度を調整しない場合に比して前記低輝度領域又は非発光領域を視認し難くする。 The present invention also provides an image display device having a display unit in which pixels are arranged in a matrix and a drive unit that drives the pixels arranged in the display unit according to image data and displays a desired image on the display unit. It applies to the driving method. A luminance adjustment step of adjusting the luminance of the abnormal pixel partially having a low luminance region or a non-luminous region having a low luminance, and the luminance adjusting step emits light from the low luminance region or the non-luminous region in the abnormal pixel; The correction amount is set to increase as the boundary length with the region becomes longer, and the integrated luminance due to the area of the abnormal pixel or the integrated luminance due to the area and time of the abnormal pixel is increased, and the luminance of the abnormal pixel is increased. The low luminance region or the non-light emitting region is made difficult to visually recognize as compared with the case where the adjustment is not performed.
人間の視覚は、二次元のローパスフィルタの特性を有している。従って異常画素における低輝度領域又は非発光領域と発光領域との境界長が長い場合には、境界長が短い場合に比して、低輝度領域又は非発光領域の面積が小さくなって視認され、低輝度領域又は非発光領域は滅点として視認され難くなる。従って境界長が長くなるに従って補正量が増大するように設定して、面積による積分輝度又は面積及び時間による積分輝度を増大させれば、滅点を認識させないようにして異常画素の発光輝度を正常画素の発光輝度に近づけることができ、一段と画質を向上することができる。 Human vision has the characteristics of a two-dimensional low-pass filter. Accordingly, when the boundary length between the low luminance region or the non-light emitting region and the light emitting region in the abnormal pixel is long, the area of the low luminance region or the non light emitting region is visually recognized as compared with the case where the boundary length is short, A low-luminance area or a non-light-emitting area is hardly visually recognized as a dark spot. Therefore, by setting the correction amount to increase as the boundary length increases and increasing the integrated luminance due to area or the integrated luminance due to area and time, the emission luminance of abnormal pixels can be made normal without causing dark spots to be recognized. It can approach the light emission luminance of the pixel, and the image quality can be further improved.
本発明によれば、欠陥画素等の異常画素による画質劣化を従来に比して一段と改善することができる。 According to the present invention, it is possible to further improve image quality degradation due to abnormal pixels such as defective pixels as compared with the conventional art.
以下、適宜図面を参照しながら本発明の実施の形態を詳述する。なお説明は、以下の順序で行う。
１．第１の実施の形態
２．第２の実施の形態
３．第３の実施の形態
４．第４の実施の形態
５．第５の実施の形態
６．第６の実施の形態
７．第７の実施の形態
８．変形例
＜第１の実施の形態＞
〔実施の形態の構成〕
図１は、図２８との対比により本発明の第１の実施の形態に係る画像表示装置を示すブロック図である。この画像表示装置２１は、製造工程において、表示部２の欠陥画素が検出され、この欠陥画素がレーザービームの照射、逆バイアスの印加等によりリペアされる。なお以下において、リペアにより局所的に非発光領域が発生した異常画素をリペア画素と呼ぶ。
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings as appropriate. The description will be given in the following order.
1.
[Configuration of the embodiment]
FIG. 1 is a block diagram showing an image display apparatus according to the first embodiment of the present invention in comparison with FIG. In the image display device 21, defective pixels of the
画像表示装置２１は、メモリにより構成される画素輝度調整情報部２２に、リペア画素の位置情報であるアドレス、輝度調整量の情報を格納して保持する。画像表示装置２１は、この画素輝度調整情報部２２に格納した情報により駆動回路２４に設けられた輝度調整演算回路２３でリペア画素の発光輝度を補正する。
The image display device 21 stores and holds information on the address and brightness adjustment amount, which is the position information of the repair pixel, in the pixel brightness
より具体的に、画像表示装置２１は、画素輝度調整情報部２２に格納したアドレスに対応する画像データＤ１を補正してリペア画素の発光輝度を補正する。なお表示部２には、図３０の構成が適用される。従って画像表示装置１１は、画像データＤ１に応じて保持容量Ｃｓの端子間電圧を設定し（図３０）、この端子間電圧に応じた駆動電流で有機ＥＬ素子ＯＬＥＤを定電流駆動する。
More specifically, the image display device 21 corrects the light emission luminance of the repair pixel by correcting the image data D1 corresponding to the address stored in the pixel luminance
〔定電流駆動におけるリペアによる発光輝度の変化〕
ここで図２に示すように、正常画素の発光領域の面積を１とした場合の、リペア画素における非発光領域の面積である面積比率をαとする。またリペア画素の非発光領域は、電極間が非導通であって、完全に非発光の状態であり、リペア画素の残りの領域は、正常画素と同一に正常に発光しているものとする。
[Changes in emission luminance due to repair in constant current drive]
Here, as shown in FIG. 2, when the area of the light emitting region of the normal pixel is 1, the area ratio that is the area of the non-light emitting region in the repair pixel is α. Further, it is assumed that the non-light emitting region of the repair pixel is non-conductive between the electrodes and is completely non-light emitting, and the remaining region of the repair pixel emits light normally in the same manner as the normal pixel.
この場合、有機ＥＬ素子ＯＬＥＤの発光輝度Ｌｏｌｅｄは、次式で表すことができる。なおここでＩｏｌｅｄは、有機ＥＬ素子ＯＬＥＤの駆動電流である。またβは、駆動トランジスタＴｒ１の増幅率であり、Ｖｔｈは、駆動トランジスタＴｒ１のしきい値電圧である。またＶｄｓは、駆動トランジスタのドレインソース間電圧である。 In this case, the light emission luminance Loled of the organic EL element OLED can be expressed by the following equation. Here, Ioled is a drive current of the organic EL element OLED. Β is the amplification factor of the drive transistor Tr1, and Vth is the threshold voltage of the drive transistor Tr1. Vds is a drain-source voltage of the driving transistor.
なおここでλは、定数である。駆動トランジスタＴｒ１の特性が、飽和領域においてドレインソース間電圧によって変化しない場合、λ＝０である。しかしながら実際のトランジスタは、飽和領域においてドレインソース間電圧によって特性が変化することから、λ＞０である。 Here, λ is a constant. When the characteristics of the drive transistor Tr1 do not change with the drain-source voltage in the saturation region, λ = 0. However, since the characteristics of an actual transistor change depending on the drain-source voltage in the saturation region, λ> 0.
リペア画素は、非発光領域により正常画素に比して発光領域の面積が低下する。その結果、発光領域における単位面積当たりの電流が一定であるとすると、リペア画素では、正常画素に比して駆動電流が（１−α）倍に減少することになる。従って図３０の画素回路による駆動において、リペア画素の有機ＥＬ素子ＯＬＥＤを正常画素と同一の駆動電流で駆動する場合には、図３に示すように、有機ＥＬ素子ＯＬＥＤの端子間電圧Ｖが電圧ΔＶｏｌｅｄだけ増大することになる。なおここで図３において、横軸はドレインソース間電圧である。 The area of the light emitting region of the repair pixel is lower than that of the normal pixel due to the non-light emitting region. As a result, assuming that the current per unit area in the light emitting region is constant, in the repair pixel, the drive current is reduced by (1−α) times compared to the normal pixel. Therefore, when driving the organic EL element OLED of the repair pixel with the same drive current as that of the normal pixel in the driving by the pixel circuit of FIG. 30, the voltage V between the terminals of the organic EL element OLED is a voltage as shown in FIG. It will increase by ΔVoled. In FIG. 3, the horizontal axis represents the drain-source voltage.
ここで正常画素の駆動電流Ｉｏｌｅｄ１を、次式で表す。 Here, the drive current Ioled1 of the normal pixel is expressed by the following equation.
リペア画素では、図３との対比により図４に示すように、ドレインソース電圧Ｖｄｓが所定電圧ΔＶｄｓだけ減少し、駆動電流Ｉｏｌｅｄ２は、次式で表される。 In the repair pixel, as shown in FIG. 4 in comparison with FIG. 3, the drain-source voltage Vds is reduced by a predetermined voltage ΔVds, and the drive current Ioled2 is expressed by the following equation.
その結果、リペア画素では、発光領域における単位面積当たりの発光輝度が増大するものの、面積により積分した発光輝度は減少することになる。なお以下において、面積により積分した輝度を、面積による積分輝度と呼ぶ。ここでＩｏｌｅｄ１＝Ｉｏｌｅｄ２とおいて（２）式及び（３）式を整理して次式の関係式を得ることができる。 As a result, in the repair pixel, the light emission luminance per unit area in the light emission region increases, but the light emission luminance integrated with the area decreases. In the following, luminance integrated by area is referred to as integrated luminance by area. Here, when Ioled1 = Ioled2, the equations (2) and (3) can be rearranged to obtain the following equation.
従ってこの（４）式の関係式を満足するように設定すれば、面積による積分輝度をリペア画素と正常画素とで等しくすることができる。 Accordingly, if the relational expression (4) is set to be satisfied, the integrated luminance based on the area can be made equal between the repair pixel and the normal pixel.
これにより図５に示すように、駆動トランジスタＴｒ１の特性を考慮して、非発光領域の面積比率αの分だけ駆動電圧Ｖｓｉｇを補正すれば、正常画素とリペア画素とで面積による積分輝度を同一に設定できることが判る。 As a result, as shown in FIG. 5, if the driving voltage Vsig is corrected by the area ratio α of the non-light emitting region in consideration of the characteristics of the driving transistor Tr1, the normal luminance and the repair pixel have the same integrated luminance depending on the area. It can be seen that it can be set to.
なお図２９に示すように定電流駆動で有機ＥＬ素子を駆動する場合にあって、電流駆動回路が十分に定電流特性を有している場合には、何ら補正することなく、リペア画素と正常画素とで面積による積分輝度を同一に設定することができる。 In the case where the organic EL element is driven by constant current driving as shown in FIG. 29 and the current driving circuit has sufficient constant current characteristics, the repair pixel and the normal state are not corrected without any correction. The integrated luminance by area can be set to be the same for each pixel.
〔非発光領域の位置を考慮しない最適な輝度調整量〕
ところで単に積分輝度を正常画素と同一に設定しただけでは、リペア画素により画質の劣化が知覚される場合がある。
[Optimal brightness adjustment without considering the position of the non-light emitting area]
By the way, if the integrated luminance is simply set to be the same as that of a normal pixel, deterioration of the image quality may be perceived by the repair pixel.
ここで図６に示すように、リペア画素における非発光領域の面積比率αが値０．５であるものとする。なお以下においては、発光領域における単位面積の発光輝度を最大値１００とした数字で示す。ここで正常画素の単位面積当たりの発光輝度が５０である場合、リペア画素の単位面積当たりの発光輝度を１／（１−α）倍すれば、正常画素とリペア画素とで面積による積分輝度を同一に設定することができる。従って図６（Ａ）の例では、リペア画素の単位面積当たりの発光輝度を１００に設定すれば、面積による積分輝度を正常画素とリペア画素とで同一に設定することができる。 Here, as shown in FIG. 6, it is assumed that the area ratio α of the non-light emitting region in the repair pixel is 0.5. In the following, the light emission luminance of the unit area in the light emitting region is indicated by a number with a maximum value of 100. Here, when the light emission luminance per unit area of the normal pixel is 50, if the light emission luminance per unit area of the repair pixel is multiplied by 1 / (1-α), the integrated luminance due to the area between the normal pixel and the repair pixel is increased. The same can be set. Therefore, in the example of FIG. 6A, if the light emission luminance per unit area of the repair pixel is set to 100, the integrated luminance by the area can be set to be the same for the normal pixel and the repair pixel.
この図６（Ａ）の例において、リペア画素における非発光領域と発光領域とを人間の視覚が空間的に分解して認識可能である場合、人間の目には、欠陥画素の場合と同様に、このリペア画素における非発光領域と発光領域とがそれぞれ滅点及び輝点として認識されることになる。 In the example of FIG. 6A, when the human vision can recognize the non-light-emitting area and the light-emitting area in the repair pixel by spatially resolving them, the eyes of the human eye are the same as in the case of the defective pixel. The non-light emitting area and the light emitting area in the repair pixel are recognized as a dark spot and a bright spot, respectively.
従って単純に、リペア画素の積分輝度を正常画素と同一に設定しただけでは、画質の劣化が知覚される恐れがある。またこれにより図２９に示すように電流駆動回路で有機ＥＬ素子を駆動する場合にあって、電流駆動回路が十分に定電流特性を有していて何ら補正することなくリペア画素と正常画素とで面積による積分輝度を同一に設定することができる場合でも、リペア画素による画質の劣化が知覚される恐れがある。 Therefore, simply setting the integrated luminance of the repair pixel to be the same as that of the normal pixel may cause image quality degradation to be perceived. In addition, as shown in FIG. 29, when the organic EL element is driven by the current driving circuit, the current driving circuit has a sufficiently constant current characteristic, and the repair pixel and the normal pixel can be corrected without any correction. Even when the integrated luminance due to the area can be set to be the same, there is a risk that image quality degradation due to the repair pixel is perceived.
この場合、図６（Ａ）との対比により図６（Ｂ）に示すように、面積による積分輝度を正常画素と同一とする場合に比してリペア画素の発光輝度を低減し、滅点として認識される非発光領域と輝点として認識される発光領域との輝度差を低減することにより、リペア画素による画質劣化を知覚し難くすることができる。 In this case, as shown in FIG. 6 (B) by comparison with FIG. 6 (A), the emission luminance of the repair pixel is reduced as compared with the case where the integrated luminance by the area is the same as that of the normal pixel, By reducing the luminance difference between the recognized non-light-emitting area and the light-emitting area recognized as the bright spot, it is possible to make it difficult to perceive image quality degradation due to the repair pixel.
すなわちこの場合、正常画素における面積による積分輝度以下の範囲で、リペア画素の面積による積分輝度を増大させて画質劣化を知覚し難くすることができる。より具体的に、図７に示すように、リペア画素の単位面積当たりの発光輝度を、リペア画素の面積による積分輝度と正常画素の面積による積分輝度とを同一に設定する発光輝度（図７（Ａ））と、正常画素の単位面積当たりの発光輝度（図７（Ｂ））との間の発光輝度に設定して、最も画質劣化を知覚し難くすることができる。 That is, in this case, it is possible to make it difficult to perceive image quality degradation by increasing the integrated luminance due to the area of the repair pixel within a range equal to or less than the integrated luminance due to the area of the normal pixel. More specifically, as shown in FIG. 7, the light emission luminance per unit area of the repair pixel is set to be equal to the integrated luminance based on the area of the repair pixel and the integral luminance based on the area of the normal pixel (FIG. 7 ( By setting the light emission luminance between A)) and the light emission luminance per unit area of the normal pixel (FIG. 7B), it is possible to make the image quality degradation most difficult to perceive.
すなわちこの場合、次式の関係式を満たすように設定して、最も画質劣化を知覚し難くすることができる。なおここでＬ（単位面積、正常画素）及びＬ（積分、正常画素）は、それぞれ正常画素における単位面積当たりの発光輝度及び面積による積分輝度である。またＬ（単位面積、リペア画素）及びＬ（積分、リペア画素）は、それぞれリペア画素の発光領域における単位面積当たりの発光輝度及び面積による積分輝度である。 That is, in this case, it is possible to make the image quality degradation most difficult to perceive by setting so as to satisfy the following relational expression. Here, L (unit area, normal pixel) and L (integration, normal pixel) are the emission luminance per unit area and the integrated luminance due to the area in the normal pixel, respectively. Further, L (unit area, repair pixel) and L (integration, repair pixel) are the emission luminance per unit area and the integrated luminance based on the area in the light emission region of the repair pixel, respectively.
なお（５）式には、等号が含まれている。これは人間の視覚特性に対して、画素ピッチが十分に高精細の場合には、正常画素とリペア画素とで面積による積分輝度を同一に設定することにより、最も画質劣化を知覚し難くすることができるからである。また人間の視覚特性に対して、画素ピッチが格段的に大きい場合には、単位面積当たりの発光輝度を同一に設定することにより、最も画質劣化を知覚し難くすることができるからである。 The equation (5) includes an equal sign. This means that when the pixel pitch is sufficiently high for human visual characteristics, normal luminance and repaired pixels are set to the same integrated luminance according to area, making the image quality degradation most difficult to perceive. Because you can. Further, when the pixel pitch is remarkably large with respect to human visual characteristics, image quality degradation can be hardly perceived by setting the emission luminance per unit area to be the same.
ここで正常画素の単位面積当たりの発光輝度と面積による積分輝度とはＬ（単位面積、正常画素）×１＝Ｌ（積分、正常画素）と表すことができる。また、リペア画素における単位面積当たりの発光輝度と面積による積分輝度とはＬ（単位面積、リペア画素）×α＝Ｌ（積分、リペア画素）と表すことができる。従って（５）式は、次式に変形することができる。 Here, the emission luminance per unit area of the normal pixel and the integrated luminance due to the area can be expressed as L (unit area, normal pixel) × 1 = L (integration, normal pixel). The light emission luminance per unit area in the repair pixel and the integrated luminance due to the area can be expressed as L (unit area, repair pixel) × α = L (integration, repair pixel). Therefore, equation (5) can be transformed into the following equation.
従って（６）式の関係式を満足するように、リペア画素の発光輝度を設定すれば、欠陥画素をリペアして画質劣化を最も知覚し難くすることができる。なお表示部の解像度、精細度以外にも、表示輝度、表示画像によっても最適な補正量が変化する。従って表示する画像に応じて、さらには階調によって、輝度調整量を変化させてもよい。 Therefore, if the light emission luminance of the repair pixel is set so as to satisfy the relational expression (6), it is possible to repair the defective pixel and make it most difficult to perceive image quality degradation. In addition to the resolution and definition of the display unit, the optimum correction amount varies depending on the display brightness and the display image. Therefore, the luminance adjustment amount may be changed according to the gradation to be displayed according to the image to be displayed.
なお面積による積分輝度を正常画素とリペア画素とで同一に設定する場合には、発光輝度Ｌ（単位面積、正常画素）／（１−α）＝発光輝度Ｌ（単位面積、リペア画素）の関係式を満足するように設定すればよい。従って（５）式は、次式により表すこともできる。 When the integrated luminance based on the area is set to be the same between the normal pixel and the repair pixel, the relationship of light emission luminance L (unit area, normal pixel) / (1-α) = light emission luminance L (unit area, repair pixel) What is necessary is just to set so that a formula may be satisfied. Therefore, the equation (5) can also be expressed by the following equation.
〔非発光領域の位置及び形状を考慮した最適な輝度調整量〕
ここでリペアにより発生した非発光領域の位置による最適な輝度調整量を検討する。図８に示すように、非発光領域の面積比率αが値０．５であるものとする。図８（Ａ）は、有効発光領域の下半分が非発光領域に設定され、有効発光領域の上半分が発光領域に設定された場合である。また図８（Ｂ）は、有効発光領域の上下方向のほぼ中央が非発光領域に設定され、有効発光の上下、それぞれ１／４の領域が発光領域に設定された場合である。
[Optimal brightness adjustment amount considering the position and shape of the non-light emitting area]
Here, the optimum brightness adjustment amount according to the position of the non-light-emitting area generated by the repair is examined. As shown in FIG. 8, it is assumed that the area ratio α of the non-light emitting region is 0.5. FIG. 8A shows a case where the lower half of the effective light emitting area is set as the non-light emitting area and the upper half of the effective light emitting area is set as the light emitting area. FIG. 8B shows a case where the vertical center of the effective light emitting area is set as the non-light emitting area, and the areas above and below the effective light emitting area are set as the light emitting areas.
この場合、人間の視覚特性が二次元のローパスフィルタの特性を有していることから、図８（Ａ）及び（Ｂ）との対比により、発光時の見え方を図９（Ａ）及び（Ｂ）に示すように、非発光領域は面積が小さくなって見える。その結果、非発光領域が画素中央から遠ざかり、この遠ざかった側の非発光領域の幅が狭くなればなる程、この幅の狭くなった非発光領域は、実際の大きさに比して見た目の大きさが小さくなり、視認することが困難になる。従ってリペア画素の発光輝度を補正する場合、非発光領域が画素中央部に存在する場合程、発光領域の発光輝度を低くすることが必要になる。 In this case, since the human visual characteristics have the characteristics of a two-dimensional low-pass filter, the appearance at the time of light emission is shown in FIGS. 9A and 9B by comparison with FIGS. 8A and 8B. As shown in B), the non-light emitting region appears to have a reduced area. As a result, the non-light-emitting area is further away from the center of the pixel, and as the width of the non-light-emitting area on the far side becomes narrower, the non-light-emitting area having a narrower width is more apparent than the actual size. The size becomes small and it becomes difficult to visually recognize. Therefore, when correcting the light emission luminance of the repair pixel, it is necessary to lower the light emission luminance of the light emitting region as the non-light emitting region exists in the center of the pixel.
従って（７）式より求められる最適光量を、さらに図１０に示すように、非発光領域の位置が画素中央に近づくに従って値が小さくなる重み付け係数ｎ１により重み付けして輝度調整すれば、一段と画質を向上することができる。但し、図１１に示すように、有効画素領域の中央Ｏから非発光領域の中央Ｐまでの水平方向及び垂直方向の距離をそれぞれｗ及びｌとする。また有効画素領域の水平方向及び垂直方向の長さをそれぞれ２Ｗ及び２Ｌとする。 Accordingly, as shown in FIG. 10, if the luminance is adjusted by weighting with the weighting coefficient n1 that decreases as the position of the non-light emitting area approaches the center of the pixel, as shown in FIG. Can be improved. However, as shown in FIG. 11, the horizontal and vertical distances from the center O of the effective pixel region to the center P of the non-light emitting region are w and l, respectively. The lengths of the effective pixel region in the horizontal direction and the vertical direction are 2W and 2L, respectively.
ここでリペアにより発生した非発光領域の形状による最適な輝度調整量を検討する。図１２に示すように、非発光領域の面積比率αが値０．５であるものとする。図１２（Ａ）は、図９（Ａ）について上述したと同様に、有効発光領域の下半分及び上半分がそれぞれ非発光領域及び発光領域に設定された場合である。また図１２（Ｂ）は、有効発光領域の右半分及び左半分がそれぞれ非発光領域及び発光領域に設定された場合である。 Here, the optimum brightness adjustment amount according to the shape of the non-light emitting area generated by the repair is examined. As shown in FIG. 12, the area ratio α of the non-light emitting region is assumed to be 0.5. FIG. 12A shows a case where the lower half and the upper half of the effective light emitting region are set as the non-light emitting region and the light emitting region, respectively, as described above with reference to FIG. 9A. FIG. 12B shows a case where the right half and the left half of the effective light emitting area are set as the non-light emitting area and the light emitting area, respectively.
この場合、有効発光領域が縦長の矩形形状であることから、有効発光領域の右半分及び左半分をそれぞれ非発光領域及び発光領域に設定した場合の方が、有効発光領域の下半分及び上半分をそれぞれ非発光領域及び発光領域に設定した場合に比して、発光領域と非発光領域との境界長が長くなる。従ってこの場合、図１２（Ａ）の場合に比して、図１２（Ｂ）の場合の方が発光領域と非発光領域との境界長が長くなる。 In this case, since the effective light emitting area has a vertically long rectangular shape, the lower half and the upper half of the effective light emitting area are set when the right half and the left half of the effective light emitting area are set as the non-light emitting area and the light emitting area, respectively. The boundary length between the light-emitting area and the non-light-emitting area becomes longer than when the light-emitting area and the light-emitting area are respectively set. Therefore, in this case, the boundary length between the light emitting region and the non-light emitting region is longer in the case of FIG. 12B than in the case of FIG.
ここで人間の視覚特性が二次元のローパスフィルタの特性を有していることから、図１２との対比により発光した状態を図１３に示すように、図１２（Ａ）の場合に比して、図１２（Ｂ）の場合の方が、発光領域と非発光領域との境界長が長い分だけ、非発光領域の見た目の大きさが小さくなり、非発光領域を識別することが困難になる。従ってリペア画素の発光輝度を補正する場合、発光領域と非発光領域との境界長が短い場合程、発光領域の発光輝度を低くすることが必要になる。 Here, since the human visual characteristics have the characteristics of a two-dimensional low-pass filter, the state of light emission in comparison with FIG. 12 is compared with the case of FIG. In the case of FIG. 12B, the apparent size of the non-light-emitting area is reduced by the longer boundary length between the light-emitting area and the non-light-emitting area, making it difficult to identify the non-light-emitting area. . Therefore, when correcting the light emission luminance of the repair pixel, it is necessary to lower the light emission luminance of the light emitting region as the boundary length between the light emitting region and the non-light emitting region is shorter.
すなわちこの場合、図１４に示すように、発光領域と非発光領域との境界長Ｌ１が長い場合程、値が増大する重み付け係数ｎ２により、（７）式より求められる最適光量を重み付けして輝度調整すれば、一段と画質を向上することができる。 That is, in this case, as shown in FIG. 14, the optimum light quantity obtained from the expression (7) is weighted by the weighting coefficient n2 that increases as the boundary length L1 between the light emitting area and the non-light emitting area increases. If adjusted, the image quality can be further improved.
従ってこの実施例では、リペア画素毎に、重み付け係数ｎ１及びｎ２を算出して乗算し、総合の重み付け係数を計算する。また（７）式の関係式を満足する範囲内で、（７）式より求められる最適光量をこの総合の重み付け係数で重み付けし、輝度調整量の情報を設定する。 Therefore, in this embodiment, for each repair pixel, weighting coefficients n1 and n2 are calculated and multiplied to calculate a total weighting coefficient. Also, within the range satisfying the relational expression (7), the optimum light quantity obtained from the expression (7) is weighted by this total weighting coefficient, and information on the brightness adjustment amount is set.
具体的に、この実施の形態において、図１５（Ａ）及び図１６（Ａ）に示すように、画像表示装置２１の製造工程は、例えば中間階調で各画素を発光させて各画素の発光輝度を測定し、非発光画素、低輝度画素、高輝度画素等の欠陥画素を検出する。この図１５（Ａ）及び図１６（Ａ）の例では、欠陥画素が非発光画素であり、単位面積当たりの発光輝度は０である。 Specifically, in this embodiment, as shown in FIGS. 15A and 16A, in the manufacturing process of the image display device 21, for example, each pixel emits light at an intermediate gradation, and each pixel emits light. The luminance is measured, and defective pixels such as non-luminous pixels, low luminance pixels, and high luminance pixels are detected. In the example of FIGS. 15A and 16A, the defective pixel is a non-light emitting pixel, and the light emission luminance per unit area is zero.
製造工程は、検出した欠陥画素の詳細な観察により、欠陥画素中の欠陥の部位を検出し、この部位へのレーザービームの照射により、リペアの処理を実行する。又は欠陥画素への逆バイアスの印加により、リペアの処理を実行する。これにより図１５（Ｂ）及び図１６（Ｂ）に示すように、欠陥画素は、欠陥の部位の電極が破壊される。これにより欠陥画素は、欠陥の部位が非発光領域に設定され、欠陥画素の残りの領域が発光領域に設定される。 In the manufacturing process, a defective part in the defective pixel is detected by detailed observation of the detected defective pixel, and repair processing is executed by irradiating the part with a laser beam. Alternatively, the repair process is executed by applying a reverse bias to the defective pixel. As a result, as shown in FIGS. 15B and 16B, in the defective pixel, the electrode at the defective portion is destroyed. As a result, in the defective pixel, the defective portion is set as a non-light emitting area, and the remaining area of the defective pixel is set as a light emitting area.
ここで図１５（Ｂ）及び図１６（Ｂ）に示すように、このリペアの処理により、面積比率αが０．３の非発光領域が発生したとする。また発光領域における単位面積当たりの発光輝度が６３に上昇したとする。このように単位面積当たりの発光輝度が上昇しても、未だ画像表示装置２１では、このリペア画素が滅点として視認される。ここで図１５（Ｂ）は、有効発光領域のほぼ中央に非発光領域が作成された場合であり、図１６（Ｂ）は、有効発光領域の周辺部分に非発光領域が作成された場合である。 Here, as shown in FIGS. 15B and 16B, it is assumed that a non-light-emitting region having an area ratio α of 0.3 is generated by the repair process. Further, it is assumed that the light emission luminance per unit area in the light emission region has increased to 63. Thus, even if the light emission luminance per unit area increases, the repair pixel is still visually recognized as a dark spot on the image display device 21. Here, FIG. 15B shows a case where a non-light-emitting region is created in the approximate center of the effective light-emitting region, and FIG. 16B shows a case where a non-light-emitting region is created around the effective light-emitting region. is there.
ここでα＝０．３であることから、（７）式から５０≦Ｌ（単位面積、リペア画素）≦５０／（１−０．３）が求められ、これを解いてリペア画素における単位面積当たりの発光輝度の最適値が５０〜７１の範囲に存在することが判る。 Since α = 0.3, 50 ≦ L (unit area, repair pixel) ≦ 50 / (1-0.3) is obtained from the equation (7), and this is solved to obtain a unit area in the repair pixel. It can be seen that the optimum value of the hit emission luminance exists in the range of 50 to 71.
この製造工程は、リペア後の計測により、又はリペア時のレーザービームの照射位置及び光量により、図１０及び図１１の重み付け係数ｎ１及びｎ２の計算に必要な非発光領域の中心位置及び発光領域との境界長を検出する。またこの中心位置及び境界長とから重み付け係数ｎ１及びｎ２を計算した後、重み付け係数ｎ１及びｎ２を乗算して総合の重み付け係数を計算する。 This manufacturing process includes the center position of the non-light-emitting area and the light-emitting area necessary for the calculation of the weighting coefficients n1 and n2 in FIGS. 10 and 11 by measurement after repair or by the irradiation position and light amount of the laser beam at the time of repair. Detect the boundary length of. Further, after calculating the weighting coefficients n1 and n2 from the center position and the boundary length, the weighting coefficients n1 and n2 are multiplied to calculate a total weighting coefficient.
また（７）式の関係式から求められる最適値５０〜７１の範囲で設定基準値を設定し、この設定基準値を総合の重み付け係数で重み付けして各リペア画素の輝度調整量を計算する。
Also, a setting reference value is set in the range of
ここでこの図１５及び図１６の例では、リペア画素の単位面積当たりの発光輝度をそれぞれ値６９（図１５（Ｃ））及び値６７（図１６（Ｃ））に設定する。この製造工程は、この計算した単位面積当たりの発光輝度からリペアした場合の発光領域の発光輝度（値６３）を減算して輝度上昇分を計算し、この輝度上昇分をリペアした場合の発光領域の発光輝度で割り算する。この製造工程は、この割り算による値を画素輝度調整量の情報としてリペア画素のアドレスと共に画素輝度調整情報部２２に格納する。
Here, in the example of FIGS. 15 and 16, the emission luminance per unit area of the repair pixel is set to a value 69 (FIG. 15C) and a value 67 (FIG. 16C), respectively. In this manufacturing process, a luminance increase is calculated by subtracting the light emission luminance (value 63) of the light emission region when repaired from the calculated light emission luminance per unit area, and the light emission region when this luminance increase is repaired. Divide by the emission luminance of. In this manufacturing process, the value obtained by the division is stored in the pixel luminance
輝度調整演算回路２３は、順次入力される画像データＤ１のうち、画素輝度調整情報部２４に格納されたアドレスに対応する画像データＤ１について、対応する輝度調整量により乗算して補正量を計算し、この計算した補正量を加算して画像データＤ１を出力する。またそれ以外の画像データＤ１については、何ら補正することなく出力する。
The luminance
〔第１の実施の形態の動作〕
以上の構成において、この画像表示装置２１では（図１及び図３０）、順次入力される画像データＤ１が駆動回路２４に入力され、ここで各信号線に振り分けられた後、ディジタルアナログ変換処理されて駆動電圧Ｖｓｉｇが設定される。画像表示装置２１では、走査線による制御により、この駆動電圧Ｖｓｉｇがライン順次で表示部２の各画素回路１６に設定される。より具体的に、各画素回路１６に設けられた保持容量Ｃｓの端子間電圧がこの駆動電圧Ｖｓｉｇにより設定される。画像表示装置２１では、この保持容量Ｃｓの端子間電圧による駆動電流により有機ＥＬ素子ＯＬＥＤが駆動される。これにより画像表示装置２１では、画像データＤ１による画像を表示部２で表示することができる。
[Operation of First Embodiment]
In the above configuration, in this image display device 21 (FIGS. 1 and 30), sequentially input image data D1 is input to the
しかしながら画像表示装置２１では、各種の要因により、有機ＥＬ素子ＯＬＥＤによる画素が欠陥画素となる場合がある（図３０参照）。そこで画像表示装置２１では、製造工程において、欠陥画素が検出され、レーザービームの照射、逆バイアスの印加等により、欠陥画素の発生原因となった部位の電極が局所的に除去されてリペアの処理が実行される。これにより画像表示装置２１では、欠陥画素において、電極を除去した部位以外の部位が正常に発光するようにし、欠陥画素による滅点、輝点等が目立たないように設定される。その結果、画像表示装置２１では、何らリペアしない場合に比して画質を向上することができる。 However, in the image display device 21, a pixel formed by the organic EL element OLED may be a defective pixel due to various factors (see FIG. 30). Therefore, in the image display device 21, defective pixels are detected in the manufacturing process, and the electrode at the site causing the defective pixels is locally removed by laser beam irradiation, reverse bias application, etc., and repair processing is performed. Is executed. As a result, in the image display device 21, in the defective pixel, the part other than the part from which the electrode is removed is set to emit light normally, and the dark spot, the bright spot, and the like due to the defective pixel are set to be inconspicuous. As a result, the image display device 21 can improve the image quality compared to the case where no repair is performed.
しかしながらリペアの処理により局所的に電極を除去した場合、リペア画素では正常画素に比して発光領域の面積が低下することになる。ここで駆動トランジスタＴｒ１による有機ＥＬ素子の定電流駆動が、十分な定電流特性を有している場合には、発光領域の面積が低下しても正常画素と同一の駆動電流で有機ＥＬ素子を電流駆動することができる。従ってこの場合、面積による積分輝度が正常画素と同一になるように、リペア画素を駆動することになる。 However, when the electrode is locally removed by the repair process, the area of the light emitting region is reduced in the repair pixel as compared with the normal pixel. If the constant current driving of the organic EL element by the driving transistor Tr1 has sufficient constant current characteristics, the organic EL element is driven with the same driving current as that of a normal pixel even if the area of the light emitting region is reduced. Current drive is possible. Therefore, in this case, the repair pixel is driven so that the integrated luminance depending on the area is the same as that of the normal pixel.
しかしながら画像表示装置２１では、発光領域の面積の低下により、リペア画素において面積による積分輝度が低下する（図３〜図５）。その結果、画像表示装置２１では、リペア画素が滅点として視認され、低輝度画素による欠陥画素が発生した場合と同様に、画質の劣化が知覚されることになる。 However, in the image display device 21, due to the decrease in the area of the light emitting region, the integrated luminance due to the area in the repair pixel decreases (FIGS. 3 to 5). As a result, in the image display device 21, the repair pixel is visually recognized as a dark spot, and the deterioration of the image quality is perceived as in the case where the defective pixel due to the low luminance pixel occurs.
このためリペア画素における単位面積当たりの発光輝度を増大させて滅点を目立たなくすることが考えられる。しかしながら単純に、面積による積分輝度が正常画素と同一になるように、リペア画素の発光輝度を増大させたのでは、今度は、リペア画素における発光領域と非発光領域とが知覚されるようになり、画質の劣化が知覚される（図６）。そこで面積による積分輝度が正常画素と同一になる補正量より、補正量を低減してリペア画素の発光輝度を補正することが必要になる。 For this reason, it is conceivable to increase the light emission luminance per unit area in the repair pixel to make the dark spot inconspicuous. However, simply increasing the light emission luminance of the repair pixel so that the integrated luminance due to the area is the same as that of the normal pixel, this time, the light emitting region and the non-light emitting region in the repair pixel will be perceived. Degradation of image quality is perceived (FIG. 6). Therefore, it is necessary to correct the light emission luminance of the repair pixel by reducing the correction amount from the correction amount in which the integrated luminance due to the area is the same as that of the normal pixel.
しかしながらリペアにより発生した非発光領域は、その位置、形状に応じて、滅点として認識し易くなったり、これとは逆に滅点として認識し難くなる場合がある（図８及び図１５）。具体的に、非発光領域は、画素中央より遠ざかるに従って滅点として認識し難くなり、また発光領域との境界長が長くなるに従って滅点として認識し難くなる。 However, the non-light-emitting area generated by repair may be easily recognized as a dark spot depending on the position and shape, or conversely, may be difficult to recognize as a dark spot (FIGS. 8 and 15). Specifically, the non-light emitting area becomes difficult to be recognized as a dark spot as the distance from the center of the pixel is increased, and becomes difficult to be recognized as a dark spot as the boundary length with the light emitting area becomes longer.
そこで画像表示装置２１では（図７）、非発光領域の位置、非発光領域と発光領域との境界長に応じて値の変化する重み付け係数ｎ１及びｎ２が求められ、この重み付け係数ｎ１及びｎ２を乗算して総合の重み付け係数が求められる。またこの総合の重み付け係数を用いて、正常画素における面積による積分輝度以下の範囲内で、リペア画素の面積による積分輝度を増大させてリペア画素の発光輝度を調整し、リペア画素における非発光領域が視認し難く設定される。これにより画像表示装置２１では、非発光領域が画素中央から遠ざかるに従って補正量が増大するように、また非発光領域と発光領域との境界長が長くなるに従って補正量が増大するように、輝度調整され、一段とリペア画素における非発光領域と発光領域とを視認し難くすることができ、一段と画質を向上することができる。 Therefore, in the image display device 21 (FIG. 7), the weighting coefficients n1 and n2 whose values change according to the position of the non-light emitting area and the boundary length between the non-light emitting area and the light emitting area are obtained, and the weighting coefficients n1 and n2 are obtained. Multiplying to obtain a total weighting factor. Also, by using this total weighting coefficient, the integrated luminance due to the area of the repair pixel is increased within the range less than or equal to the integral luminance due to the area in the normal pixel to adjust the light emission luminance of the repair pixel, and the non-light emitting region in the repair pixel is It is set to be difficult to see. Thereby, in the image display device 21, the brightness adjustment is performed so that the correction amount increases as the non-light emitting region moves away from the center of the pixel, and the correction amount increases as the boundary length between the non-light emitting region and the light emitting region becomes longer. In addition, the non-light emitting area and the light emitting area in the repair pixel can be made difficult to visually recognize, and the image quality can be further improved.
〔第１の実施の形態の効果〕
以上の構成によれば、非発光領域の位置及び発光領域との境界長が長くなるに従って補正量が増大するように設定し、リペア画素の発光輝度を調整することにより、リペア画素の非発光領域が滅点として視認されないようにし、リペア画素による画質劣化を低減することができる。
[Effect of the first embodiment]
According to the above configuration, the correction amount is set so as to increase as the position of the non-light emitting region and the boundary length with the light emitting region become longer, and the light emission luminance of the repair pixel is adjusted, whereby the non-light emitting region of the repair pixel is adjusted. Is not visually recognized as a dark spot, and image quality deterioration due to repair pixels can be reduced.
またさらに非発光領域が画素中央から遠ざかるに従って補正量が増大するように設定し、リペア画素の発光輝度を調整することにより、リペア画素の非発光領域が滅点として視認されないようにし、リペア画素による画質劣化を低減することができる。 Furthermore, by setting the correction amount to increase as the non-light emitting area moves away from the center of the pixel, and adjusting the light emission luminance of the repair pixel, the non-light emitting area of the repair pixel is prevented from being visually recognized as a dark spot. Image quality deterioration can be reduced.
またこの輝度調整を、正常画素における面積による積分輝度以下の範囲で実行することにより、リペア画素における発光領域及び非発光領域を視認し難くして、画質を向上することができる。 Further, by executing this brightness adjustment in a range that is less than or equal to the integrated brightness due to the area in the normal pixel, it is difficult to visually recognize the light emitting area and the non-light emitting area in the repair pixel, and the image quality can be improved.
＜第２の実施の形態＞
この実施の形態の画像表示装置は、有機ＥＬ素子を定電圧で駆動し、時間変調方式により有機ＥＬ素子の発光時間を可変して階調を表現する。従ってこの実施の形態の画像表示装置の画素回路は、信号線に設定される駆動電圧を保持する保持容量、この保持容量に設定された端子電圧に応じて有機ＥＬ素子の発光時間を制御する制御回路等により構成される。またこの制御回路は、保持容量に設定された端子電圧を一定の速度で低下させる積分回路、保持容量の端子電圧を判定して有機ＥＬ素子の駆動を制御する比較回路等により構成される。なおこの実施の形態では、この駆動回路に係る構成が異なる点を除いて、第１の実施の形態と同一に構成されることにより、以下においては、適宜、図１等の構成を流用して説明する。
<Second Embodiment>
In the image display device of this embodiment, the organic EL element is driven with a constant voltage, and the light emission time of the organic EL element is varied by a time modulation method to express gradation. Therefore, the pixel circuit of the image display device according to this embodiment includes a storage capacitor that holds the drive voltage set in the signal line, and a control that controls the light emission time of the organic EL element in accordance with the terminal voltage set in the storage capacitor. It is composed of a circuit or the like. The control circuit includes an integration circuit that reduces the terminal voltage set in the storage capacitor at a constant rate, a comparison circuit that determines the terminal voltage of the storage capacitor and controls driving of the organic EL element, and the like. In this embodiment, except that the configuration related to the drive circuit is different, the configuration shown in FIG. 1 and the like is appropriately used in the following, because the configuration is the same as that of the first embodiment. explain.
〔定電圧駆動におけるリペアによる発光輝度の変化〕
ここでは、有機ＥＬ素子ＯＬＥＤを定電圧（Ｖｄｄ−Ｖｓｓ）で発光させるものとする。またこの場合も正常画素の発光領域の面積を１とした場合の、リペア画素における非発光領域の面積である面積比率はαであるとする。またリペア画素の非発光領域は、電極間が非導通であって、完全に非発光の状態であり、リペア画素の残りの領域は、正常画素と同一に正常に発光しているものとする。
[Changes in emission luminance due to repair in constant voltage drive]
Here, it is assumed that the organic EL element OLED emits light at a constant voltage (Vdd−Vss). Also in this case, it is assumed that the area ratio which is the area of the non-light emitting region in the repair pixel when the area of the light emitting region of the normal pixel is 1 is α. Further, it is assumed that the non-light emitting region of the repair pixel is non-conductive between the electrodes and is completely non-light emitting, and the remaining region of the repair pixel emits light normally in the same manner as the normal pixel.
この場合、図１７に示すように、リペア画素の駆動電流は、正常画素に比して非発光面積の分だけ減少し、正常画素及びリペア画素の面積による積分輝度は、単純に発光領域の比率で表すことができる。すなわち正常画素及びリペア画素の面積による積分輝度Ｌは、次式により表すことができる。 In this case, as shown in FIG. 17, the drive current of the repair pixel is reduced by the non-light emitting area compared to the normal pixel, and the integrated luminance due to the areas of the normal pixel and the repair pixel is simply the ratio of the light emitting region. Can be expressed as That is, the integrated luminance L depending on the areas of the normal pixel and the repair pixel can be expressed by the following equation.
従ってこの場合、単純に、リペア画素では非発光領域の分だけ発光輝度が低下して視認される。従ってこの場合には、単純に、リペア画素における発光領域の発光時間を１／（１ーα）倍すれば、面積及び時間により積分した発光輝度（以下面積及び時間による積分輝度と呼ぶ）を正常画素と同一に設定することができる。 Therefore, in this case, the repaired pixel is visually recognized with the light emission luminance lowered by the non-light emitting area. Therefore, in this case, if the light emission time of the light emitting region in the repair pixel is simply multiplied by 1 / (1−α), the light emission luminance integrated by area and time (hereinafter referred to as integrated luminance by area and time) is normal. It can be set the same as the pixel.
しかしながらこの実施の形態でも、単に積分輝度を正常画素と同一に設定しただけでは、リペア画素により画質の劣化が知覚される場合がある。そこでこの画像表示装置では、画素輝度調整情報部２２への情報の格納により、（６）式の関係式を満足するように、リペア画素の発光時間を補正する。なおこの場合（６）式における面積による積分輝度を、時間及び面積による積分輝度に置き換えて適用する。
However, even in this embodiment, if the integrated luminance is simply set to be the same as that of a normal pixel, deterioration of the image quality may be perceived by the repair pixel. Therefore, in this image display device, the light emission time of the repair pixel is corrected so as to satisfy the relational expression (6) by storing information in the pixel luminance
またさらにこの場合も、非発光領域の位置及び境界長による非発光領域の見え方については、第１の実施の形態と同一のことが言える。従って第１の実施の形態と同様に、それぞれ重み付け係数を計算して総合の重み付け係数を計算し、この総合の重み付け係数により各リペア画素の輝度調整量の情報を設定する。 Furthermore, in this case, it can be said that the position of the non-light-emitting area and the appearance of the non-light-emitting area due to the boundary length are the same as those in the first embodiment. Accordingly, as in the first embodiment, weighting coefficients are calculated to calculate a total weighting coefficient, and information on the brightness adjustment amount of each repair pixel is set based on the total weighting coefficient.
この実施の形態によれば、定電圧で有機ＥＬ素子を駆動する場合でも、第１の実施の形態と同一の効果を得ることができる。 According to this embodiment, even when the organic EL element is driven with a constant voltage, the same effect as that of the first embodiment can be obtained.
＜第３の実施の形態＞
図１８は、本発明の第３の実施の形態に係る画像表示装置に適用される画素回路を示す接続図である。この実施の形態の画像表示装置は、この画素回路３６及び関連する構成が異なる点を除いて、第１の実施の形態の画像表示装置と同一に構成される。
<Third Embodiment>
FIG. 18 is a connection diagram showing a pixel circuit applied to the image display device according to the third embodiment of the present invention. The image display apparatus according to this embodiment is configured in the same manner as the image display apparatus according to the first embodiment except that the
ここで画素回路３６は、有機ＥＬ素子ＯＬＥＤのカソードが所定電圧Ｖｓｓ１に保持され、有機ＥＬ素子ＯＬＥＤのアノードが駆動トランジスタＴｒ１のソースに接続される。またこの駆動トランジスタＴｒ１は、走査線を介して供給される制御信号ＶＳＣＡＮ２（ｉ）によりオンオフ動作するトランジスタＴｒ２を介して、ドレインが電源Ｖｄｄ１に接続される。なおトランジスタＴｒ１及びＴｒ２は、それぞれＮチャンネル型及びＰチャンネル型のトランジスタである。Ｃｏｌｅｄは、有機ＥＬ素子ＯＬＥＤの容量であり、Ｃｓｕｂは、有機ＥＬ素子ＯＬＥＤの容量Ｃｏｌｅと並列な付加容量である。これにより画素回路３６は、トランジスタＴｒ２のオン状態に設定して、駆動トランジスタＴｒ１のゲートソース間電圧に応じた駆動電流で有機ＥＬ素子ＯＬＥＤを電流駆動する。
Here, in the
また画素回路３６は、この駆動トランジスタＴｒ１のゲート及びソースに、駆動トランジスタＴｒ１のゲートソース間電圧を保持する保持容量Ｃｓが接続される。これにより画素回路３６は、図１９に示すように、有機ＥＬ素子ＯＬＥＤを発光される発光期間の間（図１９においては、「発光」により示す）、トランジスタＴｒ２を介して駆動トランジスタＴｒ１に電源Ｖｄｄ１を供給し（図１９（Ｂ））、駆動トランジスタＴｒ１により保持容量Ｃｓの端子間電圧に応じた駆動電流で有機ＥＬ素子ＯＬＥＤを電流駆動する（図１９（Ｅ）〜（Ｇ））。
In the
画素回路３６は、走査線を介して供給される書込信号ＶＳＣＡＮ１（ｉ）によりオンオフ動作する書込トランジスタＴｒ３を介して、保持容量Ｃｓのゲート側端が信号線に接続される。また走査線を介して供給される制御信号ＶＳＣＡＮ４（ｉ）によりオンオフ動作するトランジスタＴｒ４を介して、保持容量Ｃｓのゲート側端が所定電圧Ｖｏｆｓに設定される。また走査線を介して供給される制御信号ＶＳＣＡＮ３（ｉ）によりオンオフ動作するトランジスタＴｒ５を介して、保持容量Ｃｓのソース側端が所定電圧Ｖｉｎｉに設定される。なおこれらトランジスタＴｒ３〜Ｔｒ５は、Ｎチャンネル型のトランジスタである。
In the
画素回路３６は、発光期間においては、これらトランジスタＴｒ３〜Ｔｒ５がオフ状態に保持される（図１９（Ａ）、（Ｃ）、（Ｄ）及び（Ｇ））。画素回路３６は、発光期間が終了して非発光期間が開始すると、トランジスタＴｒ２がオフ状態に設定され、これにより駆動トランジスタＴｒ１への電源Ｖｄｄ１の供給が停止し、駆動トランジスタＴｒ１のゲート電圧Ｖｇ及びソース電圧Ｖｓが立ち下がり、有機ＥＬ素子ＯＬＥＤの発光が停止する（図１９（Ｂ）、（Ｅ）及び（Ｆ））。
In the
画素回路３６は、非発光期間が開始して一定時間経過すると、トランジスタＴｒ４及びＴｒ５がオン状態に設定され（図１９（Ｃ）及び（Ｄ））、保持容量Ｃｓの端子電圧がそれぞれＶｏｆｓ及びＶｉｎｉに設定される（図１９（Ｅ）及び（Ｆ））。ここで電圧Ｖｏｆｓ及びＶｉｎｉは、保持容量Ｃｓの端子間電圧Ｖｏｆｓ−Ｖｉｎｉを駆動トランジスタＴｒ１のしきい値電圧Ｖｔｈより大きな電圧に設定する電圧である。これにより図１９において「準備」により示すように、駆動トランジスタＴｒ１のしきい値電圧のばらつきによる画質劣化を防止する処理の準備処理が実行される。なお以下において、この駆動トランジスタＴｒ１のしきい値電圧のばらつきによる画質劣化を防止する処理を、しきい値電圧の補正処理と呼ぶ。
In the
続いて画素回路３６は、トランジスタＴｒ５がオフ状態に設定された後、トランジスタＴｒ２がオン状態に設定されて駆動トランジスタＴｒ１に電源Ｖｄｄ１が供給される（図１９（Ｂ）及び（Ｃ））。これにより画素回路３６は、保持容量Ｃｓのゲート側端を電圧Ｖｏｆｓに保持した状態で、駆動トランジスタＴｒ１を介してこの保持容量Ｃｓの端子間電圧に応じた電流が有機ＥＬ素子ＯＬＥＤに流入する。その結果、画素回路３６は、この電流により保持容量Ｃｓの端子間電圧が徐々に減少し、保持容量Ｃｓの端子間電圧が駆動トランジスタＴｒ１のしきい値電圧Ｖｔｈになると、駆動トランジスタＴｒ１からの電流の流入が停止して保持容量Ｃｓの端子間電圧の減少が停止する（図１９（Ｅ）及び（Ｆ））。これにより画素回路３６は、保持容量Ｃｓの端子間電圧が駆動トランジスタＴｒ１を介して放電し、保持容量Ｃｓの端子間電圧が駆動トランジスタＴｒ１のしきい値電圧Ｖｔｈに設定される。これにより画素回路３６は、しきい値電圧の補正処理（図１９において「Ｖｔ補」により示す）が実行される。
Subsequently, in the
続いて画素回路３６は、トランジスタＴｒ２及びＴｒ５がオフ状態に設定された後（図１９（Ｂ）及び（Ｄ））、書込トランジスタＴｒ３がオン状態に設定され、信号線に出力される駆動電圧Ｖｓｉｇが保持容量Ｃｓのゲート側端に設定される。なおここで駆動電圧Ｖｓｉｇは対応する画像データＤ１をディジタルアナログ変換処理して得られる電圧Ｖｄａｔａに電圧Ｖｏｆｓを加算した電圧である。これにより画素回路３６は、図１９において「書込」により示すように、有機ＥＬ素子ＯＬＥＤの発光輝度が設定される。
Subsequently, after the transistors Tr2 and Tr5 are set to the off state (FIGS. 19B and 19D), the
画素回路３６は、続いてトランジスタＴｒ２がオン状態に設定され（図１９（Ｂ））、一定時間経過すると、書込トランジスタＴｒ３がオフ状態に設定される（図１９（Ａ））。これにより画素回路３６は、保持容量Ｃｓのゲート側端の電圧を駆動電圧Ｖｓｉｇに保持した状態で、一定時間の間、駆動トランジスタＴｒ１の電流により保持容量Ｃｓの端子間電圧を放電する。ここでこの保持容量Ｃｓの端子間電圧の放電速度は、駆動トランジスタＴｒ１の移動度が大きい場合程、速くなる。これにより画素回路３６は、図１９において「μ補」により示すように、駆動トランジスタＴｒ１の移動度のばらつきを補正する。
In the
画素回路３６は、この移動度の補正に係る書込トランジスタＴｒ３のオフ状態の設定により発光期間が開始し、いわゆるブートストラップ回路により機能して駆動トランジスタＴｒ１のゲート電圧Ｖｇ及びソース電圧Ｖｓが上昇する（図１９（Ｅ）及び（Ｆ））。
The
ここで発光期間における駆動電流Ｉｄｓは、次式により表される。なおここでμは駆動トランジスタＴｒ１の移動度、Ｗ及びＬは、駆動トランジスタＴｒ１のゲート幅及びゲート長である。ｇは、書込時のゲインであり、ｔ補正は、移動度のばらつきを補正する時間である。 Here, the drive current Ids in the light emission period is expressed by the following equation. Here, μ is the mobility of the driving transistor Tr1, and W and L are the gate width and gate length of the driving transistor Tr1. g is a gain at the time of writing, and t correction is a time for correcting variation in mobility.
ここでこの種の画像表示装置に適用されるトランジスタは、しきい値電圧のばらつき、移動度のばらつきが大きい特徴がある。従って何ら対応策を講じない場合には、これらのばらつきにより画質が劣化する。しかしながらこの画素回路３６では、しきい値電圧のばらつき、移動度のばらつきによる画質劣化を防止することができる。
Here, a transistor applied to this type of image display device has a feature that variation in threshold voltage and variation in mobility are large. Therefore, when no countermeasure is taken, the image quality deteriorates due to these variations. However, the
しかしながらこの画素回路３６では、信号線を介して保持容量Ｃｓに設定する端子間電圧と、移動度のばらつき補正処理における帰還量とが、有機ＥＬ素子ＯＬＥＤの容量の影響を受ける。その結果、リペア処理した場合には、リペアによる有機ＥＬ素子ＯＬＥＤの容量の低下によりリペア画素で発光輝度が変化する。従ってこれらの影響を考慮して駆動電圧Ｖｓｉｇを設定することが必要になる。
However, in the
〔書き込みゲインの変動による発光輝度の変化〕
ここで説明を簡略化するために、画素回路３６は、図１９との対比により図２０に示すタイムチャートにより動作するものとする。なおここでこの図２０のタイムチャートは、移動度のばらつきを補正する処理を省略したものである。この図２０の例では、トランジスタＴｒ２をオン動作させて駆動トランジスタＴｒ３に電源Ｖｄｄ１の供給を開始する前に、書込トランジスタＴｒ２をオフ動作させる。
[Changes in light emission luminance due to fluctuations in writing gain]
Here, in order to simplify the description, it is assumed that the
この図２０の例では、駆動トランジスタＴｒ１による駆動電流Ｉｄｓは、次式により表すことができる。 In the example of FIG. 20, the drive current Ids by the drive transistor Tr1 can be expressed by the following equation.
ここでリペアにより面積比率αの非発光領域が発生すると、有機ＥＬ素子ＯＬＥＤでは対向電極の面積が（１−α）倍に低減することになる。従って有機ＥＬ素子ＯＬＥＤの容量Ｃｏｌｅｄは、（１−α）・Ｃｏｌｅｄに低下することになる。従って（１０）式中の合成容量Ｃは、α・Ｃｏｌｅｄだけ低下し、利得ｇは、（Ｃ−α・Ｃｏｌｅｄ−Ｃｓ）／（Ｃ−α・Ｃｏｌｅｄ）に低下する。 Here, when the non-light-emitting region having the area ratio α is generated by the repair, the area of the counter electrode is reduced (1−α) times in the organic EL element OLED. Accordingly, the capacitance Coled of the organic EL element OLED is reduced to (1-α) · Coled. Therefore, the combined capacity C in the equation (10) is reduced by α · Coled, and the gain g is reduced to (C−α · Coled−Cs) / (C−α · Coled).
すなわち画素回路３６では、書込トランジスタＴｒ３をオン状態に設定して保持容量Ｃｓのゲート側端電圧を駆動電圧Ｖｓｉｇに設定すると、保持容量Ｃｓのゲート側端の電圧上昇に連動して保持容量Ｃｓのソース側端も電圧が上昇する。このソース側端の電圧上昇分は、ゲート側端電圧の電圧上昇分を容量分圧した電圧である。これにより画素回路３６では、保持容量Ｃｓに設定される実効的な電圧Ｖｄａｔａが、有機ＥＬ素子ＯＬＥＤの容量Ｃｏｌｅｄに依存することになる。
That is, in the
従ってリペアにより有機ＥＬ素子ＯＬＥＤの容量Ｃｏｌｅｄが低下すると、保持容量Ｃｓに設定される端子間電圧も変化することになる。この場合、リペア画素では、正常画素に比して保持容量Ｃｓの端子間電圧が小さくなり、発光輝度が低下することになる。 Accordingly, when the capacitance Coled of the organic EL element OLED is reduced due to the repair, the inter-terminal voltage set in the storage capacitor Cs also changes. In this case, in the repair pixel, the voltage between the terminals of the storage capacitor Cs is smaller than that of the normal pixel, and the light emission luminance is lowered.
従って単純に、有機ＥＬ素子ＯＬＥＤの駆動電流Ｉｄｓを、正常画素とリペア画素とで等しく設定して面積による積分輝度を等しくする場合には、画像データＤ１をディジタルアナログ変換処理して得られる電圧Ｖｄａｔａを、次式により示すように補正することが必要になる。 Therefore, when the drive current Ids of the organic EL element OLED is simply set to be equal between the normal pixel and the repair pixel and the integrated luminance due to the area is made equal, the voltage Vdata obtained by performing the digital-analog conversion processing on the image data D1. Must be corrected as shown by the following equation.
〔負帰還補正量の変動による発光輝度の変化〕
ここで説明を簡略化するために、表示部は、図２１に示す画素回路４６により構成され、図２２に示すタイムチャートにより動作するものとする。ここでこの画素回路４６は、画素回路３６の構成からトランジスタＴｒ４を除去し、トランジスタＴｒ５により設定する電圧をＶｉｎｉとし、画像データＤ１をディジタルアナログ変換処理して得られる電圧Ｖｄａｔａが直接駆動電圧Ｖｓｉｇとして信号線に入力される。なおここで電圧Ｖｉｎｉは、有機ＥＬ素子ＯＬＥＤのカソード電圧Ｖｓｓ１に、有機ＥＬ素子ＯＬＥＤのしきい値電圧を加算した電圧である。
[Changes in light emission luminance due to fluctuations in the amount of negative feedback correction]
Here, to simplify the description, it is assumed that the display unit includes the
画素回路４６は、非発光期間が開始して一定時間が経過すると、トランジスタＴｒ３及びＴｒ５がオン状態に設定され、保持容量Ｃｓの端子電圧がそれぞれＶｄａｔａ及びＶｉｎｉに設定される。その後、画素回路４６は、トランジスタＴｒ５がオフ状態に設定される。画素回路４６は、続いて保持容量Ｃｓのゲート側端を信号線に接続した状態で、一定時間の間、駆動トランジスタＴｒ１に電源Ｖｄｄ１が供給され、駆動トランジスタＴｒ１の移動度のばらつきを補正する処理が実行される。
In the
これにより画素回路４６では、駆動トランジスタＴｒ１の駆動電流Ｉｄｓは次式により表される。
Thus, in the
ここでリペアにより面積比率αの非発光領域が発生すると、有機ＥＬ素子ＯＬＥＤでは対向電極の面積が（１−α）倍に低減することになる。従って有機ＥＬ素子ＯＬＥＤの容量Ｃｏｌｅｄは、（１−α）・Ｃｏｌｅｄに低下することになる。従って（１０）式中の合成容量Ｃは、α・Ｃｏｌｅｄだけ低下し、利得ｇは、Ｃ−α・Ｃｏｌｅｄ−Ｃｓ）／（Ｃ−α・Ｃｏｌｅｄ）に低下する。また同時に、移動度を補正する期間に係るβ／２・Ｃ／ｔ補正の項も変化することになる。 Here, when the non-light-emitting region having the area ratio α is generated by the repair, the area of the counter electrode is reduced (1−α) times in the organic EL element OLED. Accordingly, the capacitance Coled of the organic EL element OLED is reduced to (1-α) · Coled. Accordingly, the combined capacity C in the equation (10) is reduced by α · Coled, and the gain g is reduced to C−α · Coled−Cs) / (C−α · Coled). At the same time, the term of β / 2 · C / t correction related to the period for correcting the mobility also changes.
すなわち画素回路４６において、移動度の補正に係る保持容量Ｃｓの端子間電圧の補正は、駆動トランジスタＴｒ１の移動度に応じた駆動電流で一定時間の間、保持容量Ｃｓのソース側端を駆動トランジスタＴｒ１を介して充電することにより実行される。従って画素回路４６では、この移動度の補正に係る負帰還の補正量であるβ／２・Ｃ／ｔ補正が有機ＥＬ素子ＯＬＥＤの容量Ｃｏｌｅｄに依存することになる。
That is, in the
従ってリペアにより有機ＥＬ素子ＯＬＥＤの容量が低下すると、保持容量Ｃｓに設定される端子間電圧も変化することになる。この場合、リペア画素では、正常画素に比して保持容量Ｃｓの端子間電圧が小さくなり、発光輝度が低下することになる。 Therefore, when the capacity of the organic EL element OLED is reduced due to the repair, the inter-terminal voltage set in the storage capacitor Cs also changes. In this case, in the repair pixel, the voltage between the terminals of the storage capacitor Cs is smaller than that of the normal pixel, and the light emission luminance is lowered.
従って単純に、有機ＥＬ素子ＯＬＥＤの駆動電流Ｉｄｓを、正常画素とリペア画素とで等しく設定して面積による積分輝度を等しくする場合には、画像データＤ１をディジタルアナログ変換処理して得られる電圧Ｖｄａｔａを、次式により示すように補正することが必要になる。 Therefore, when the drive current Ids of the organic EL element OLED is simply set to be equal between the normal pixel and the repair pixel and the integrated luminance due to the area is made equal, the voltage Vdata obtained by performing the digital-analog conversion processing on the image data D1. Must be corrected as shown by the following equation.
〔書込みゲイン及び負帰還補正量の変動による発光輝度の変化〕
従って画素回路３６（図１８）では、書込みゲイン及び負帰還補正量の変動によりリペア画素で発光輝度が変化する。従って単純に、有機ＥＬ素子ＯＬＥＤの駆動電流Ｉｄｓを、正常画素とリペア画素とで等しく設定して面積による積分輝度を等しくする場合には、（１１）式及び（１３）式をまとめて、次式により示すように補正することが必要になる。
[Changes in emission luminance due to fluctuations in write gain and negative feedback correction amount]
Accordingly, in the pixel circuit 36 (FIG. 18), the light emission luminance changes in the repaired pixel due to fluctuations in the write gain and the negative feedback correction amount. Therefore, in the case where the drive current Ids of the organic EL element OLED is simply set to be equal between the normal pixel and the repair pixel and the integrated luminance due to the area is made equal, the following formulas (11) and (13) are put together. It is necessary to correct as shown by the equation.
なおここでｔ補正は、電圧Ｖｄａｔａが中間階調等の特定電圧Ｖｄａｔａ０の場合に、移動度のばらつきを最も小さく設定できる期間である。従って次式の関係式を満足する。 Note that the t correction is a period in which the variation in mobility can be set to the smallest when the voltage Vdata is the specific voltage Vdata0 such as an intermediate gradation. Therefore, the following relational expression is satisfied.
ｔ補正は、この（１５）式の関係を利用して（９）式を解いて得られる次式により表される。 The t correction is expressed by the following equation obtained by solving equation (9) using the relationship of equation (15).
またさらに画素回路３６は、第１の実施の形態について上述したと同様に、駆動トランジスタＴｒ１による定電流駆動で有機ＥＬ素子ＯＬＥＤを駆動する。従って（１３）式の関係式を満足するように、駆動トランジスタＴｒ１の特性を考慮して、非発光領域の面積比率αの分だけ駆動電圧Ｖｓｉｇを補正することにより、正常画素とリペア画素とで面積による積分輝度を同一に設定することができる。
Further, the
しかしながらこの画素回路３６を適用した画像表示装置においても、第１の実施の形態について上述したと同様に、単純に、リペア画素における単位面積当たりの発光輝度を増大させて、面積による積分輝度が正常画素と同一に設定したのでは、リペア画素における発光領域と非発光領域とが知覚されるようになり、画質の劣化が知覚されることになる。また非発光領域の位置及び形状によって、非発光領域の見え方が異なることになる。
However, in the image display device to which the
そこでこの画像表示装置においても、第１の実施の形態と同様に、重み付け係数ｎ１及びｎ２を計算して総合の重み付け係数が計算される。またこの総合の重み付け係数を用いて、正常画素における単位面積当たりの発光輝度から、正常画素の面積による積分輝度とリペア画素の面積による積分輝度とを同一に設定する発光輝度までの範囲で、リペア画素における発光領域の単位面積当たりの発光輝度が最適な発光輝度に設定される。 Therefore, also in this image display device, as in the first embodiment, the weighting coefficients n1 and n2 are calculated to calculate the total weighting coefficient. In addition, using this total weighting factor, repair is performed in a range from the emission luminance per unit area in the normal pixel to the emission luminance in which the integrated luminance based on the normal pixel area and the integrated luminance based on the repair pixel area are set to be the same. The light emission luminance per unit area of the light emission region in the pixel is set to the optimum light emission luminance.
この第３の実施の形態のように、駆動トランジスタのしきい値電圧のばらつきを補正する処理、移動度のばらつきを補正する場合にあっても、第１の実施の形態と同様の効果を得ることができる。 Similar to the third embodiment, the same effect as that of the first embodiment can be obtained even in the case of correcting the variation in the threshold voltage of the driving transistor and in correcting the variation in mobility. be able to.
＜第４の実施の形態＞
図２３は、本発明の第４の実施の形態に係る画像表示装置に適用される画素回路を示す接続図である。この実施の形態の画像表示装置は、この画素回路５６及び関連する構成が異なる点を除いて、第３の実施の形態の画像表示装置と同一に構成される。
<Fourth embodiment>
FIG. 23 is a connection diagram showing a pixel circuit applied to the image display device according to the fourth embodiment of the present invention. The image display apparatus according to this embodiment is configured in the same manner as the image display apparatus according to the third embodiment except that the
ここで画素回路５６は、有機ＥＬ素子ＯＬＥＤのカソードが所定電圧Ｖｓｓ１に保持され、有機ＥＬ素子ＯＬＥＤのアノードが駆動トランジスタＴｒ１のソースに接続される。画素回路５６は、この駆動トランジスタＴｒ１のドレインに走査線を介して駆動信号ＶＳＣＡＮ２（ｉ）が供給される。また画素回路５６は、この駆動トランジスタＴｒ１のゲート及びソースに、駆動トランジスタＴｒ１のゲートソース間電圧を保持する保持容量Ｃｓが接続される。
Here, in the
画素回路５６は、発光期間の間、駆動信号ＶＳＣＡＮ２（ｉ）が電源電圧Ｖｄｄｖ２に設定される（図２４（Ｂ））。これにより画素回路５６は、発光期間の間、保持容量Ｃｓの端子間電圧によるゲートソース間電圧による駆動電流により駆動トランジスタＴｒ１で有機ＥＬ素子ＯＬＥＤを電流駆動する。
In the
また画素回路５６は、走査線を介して供給される書込信号ＶＳＣＡＮ１（ｉ）によりオンオフ動作する書込トランジスタＴｒ３を介して、保持容量Ｃｓのゲート側端が信号線に接続される。また所定の固定電圧Ｖｏｆｓを間に挟んで駆動電圧Ｖｓｉｇ（＝Ｖｏｆｓ＋Ｖｄａｔａ）が順次信号線に出力される（図２４（Ｃ））。
In the
画素回路５６は、非発光期間が開始すると、駆動信号ＶＳＣＡＮ２（ｉ）が所定電圧Ｖｓｓｖ２に設定される。ここで電圧Ｖｓｓｖ２は、駆動トランジスタＴｒ１のソースをドレインとして機能させるのに十分に低い電圧である（図２４（Ａ）及び（Ｆ））。これにより画素回路５６は、非発光期間が開始すると、駆動トランジスタＴｒ１を介して有機ＥＬ素子ＯＬＥＤの蓄積電荷が放電し、有機ＥＬ素子ＯＬＥＤのアノード電圧が立ち下がって有機ＥＬ素子ＯＬＥＤが発光を停止する（図２４（Ｄ）及び（Ｅ））。また保持容量Ｃｓのソース側端の電圧がほぼ電圧Ｖｓｓｖ２に設定され、十分に低い電圧に設定される。
In the
また続いて画素回路５６は、信号線が電圧Ｖｏｆｓに設定されている期間で、書込トランジスタＴｒ３がオン状態に設定され、保持容量Ｃｓのゲート側端の電圧が電圧Ｖｏｆｓに設定される（図２４（Ａ））。これにより画素回路５６は、保持容量Ｃｓの端子間電圧が電圧Ｖｏｆｓ−Ｖｓｓｖ２に設定される。ここで画素回路５６は、この電圧Ｖｏｆｓ−Ｖｓｓｖ２が駆動トランジスタＴｒ１のしきい値電圧Ｖｔｈより十分に大きな電圧となるように、電圧Ｖｏｆｓ、Ｖｓｓｖ２が設定される（図２４（Ｄ）及び（Ｅ））。またこれにより非発光期間が開始した後、保持容量Ｃｓのゲート側端の電圧を電圧Ｖｏｆｓに設定するまでの期間が、駆動トランジスタＴｒ１のしきい値電圧のばらつき補正処理の準備処理の期間に設定される（図２４（Ｆ））。
Subsequently, in the
画素回路５６は、続いて駆動信号ＶＳＣＡＮ２（ｉ）が電源電圧Ｖｄｄｖ２に設定される（図２４（Ｂ））。これにより画素回路５６は、駆動トランジスタＴｒ１を介して保持容量Ｃｓの端子間電圧を放電させ、保持容量Ｃｓの端子間電圧が駆動トランジスタＴｒ１のしきい値電圧Ｖｔｈに設定される。
In the
続いて画素回路５６は、書込トランジスタＴｒ３がオフ状態に設定された後、信号線が駆動電圧Ｖｓｉｇに設定されている期間において、所定期間の間、書込トランジスタＴｒ３がオン状態に設定される。これにより画素回路５６は、駆動トランジスタＴｒ１の移動度のばらつきを補正する処理を実行すると共に、保持容量Ｃｓのゲート側端の電圧を階調電圧Ｖｓｉｇに設定して有機ＥＬ素子ＯＬＥＤの階調を設定する。
Subsequently, in the
〔発光輝度の変化〕
この画素回路５６において、駆動トランジスタＴｒ１の駆動電流は（９）式により表される。従って第３の実施の形態の画素回路３６と同一に、リペアにより有機ＥＬ素子ＯＬＥＤの容量Ｃｏｌｅｄが低下すると、保持容量Ｃｓに設定される端子間電圧も変化することになる。この場合、リペア画素では、正常画素に比して保持容量の端子間電圧が小さくなり、発光輝度が低下することになる。
[Changes in luminance]
In the
従って有機ＥＬ素子ＯＬＥＤの駆動電流Ｉｄｓを設定し、正常画素とリペア画素とで面積による積分輝度を等しくする場合には、（１４）式を満足するように電圧Ｖｄａｔａを補正することが必要になる。またさらに単純に、リペア画素における単位面積当たりの発光輝度を増大させて、面積による積分輝度が正常画素と同一に設定したのでは、リペア画素における発光領域と非発光領域とが知覚されるようになり、画質の劣化が知覚されることになる。また非発光領域の位置及び形状によって、非発光領域の見え方が異なることになる。 Therefore, when the drive current Ids of the organic EL element OLED is set and the integrated luminance due to the area is made equal between the normal pixel and the repair pixel, it is necessary to correct the voltage Vdata so as to satisfy the equation (14). . Furthermore, when the emission luminance per unit area in the repair pixel is increased and the integrated luminance due to the area is set to be the same as that of the normal pixel, the light emitting region and the non-light emitting region in the repair pixel are perceived. Therefore, degradation of image quality is perceived. In addition, the appearance of the non-light emitting area varies depending on the position and shape of the non-light emitting area.
そこでこの画像表示装置においても、第１の実施の形態と同様に、重み付け係数ｎ１及びｎ２を計算して総合の重み付け係数が計算される。またこの総合の重み付け係数を用いて、正常画素における単位面積当たりの発光輝度から、正常画素の面積による積分輝度とリペア画素の面積による積分輝度とを同一に設定する発光輝度までの範囲で、リペア画素における発光領域の単位面積当たりの発光輝度を最適な発光輝度に設定される。 Therefore, also in this image display device, as in the first embodiment, the weighting coefficients n1 and n2 are calculated to calculate the total weighting coefficient. In addition, using this total weighting factor, repair is performed in a range from the emission luminance per unit area in the normal pixel to the emission luminance in which the integrated luminance based on the normal pixel area and the integrated luminance based on the repair pixel area are set to be the same. The light emission luminance per unit area of the light emitting region in the pixel is set to the optimum light emission luminance.
この第４の実施の形態のように、画素回路を２つのトランジスタにより構成し、駆動トランジスタのドレイン電圧及び書込トランジスタの制御により保持容量の端子間電圧を駆動トランジスタのしきい値電圧以上の電圧に設定して駆動トランジスタのしきい値電圧のばらつきを補正する場合にあっても、第１の実施の形態と同様の効果を得ることができる。 As in the fourth embodiment, the pixel circuit is composed of two transistors, and the drain voltage of the driving transistor and the voltage between the terminals of the storage capacitor are controlled by the control of the writing transistor to a voltage equal to or higher than the threshold voltage of the driving transistor. Even when the variation in threshold voltage of the driving transistor is corrected by setting to, the same effect as in the first embodiment can be obtained.
＜第５の実施の形態＞
図２５は、本発明の第５の実施の形態に係る画像表示装置を示すブロック図である。この画像表示装置６１は、画素輝度調整情報部２２及び輝度調整演算回路２３に代えて、画素輝度調整情報部６２及び輝度調整演算回路６３が設けられる点を除いて第１〜第４の実施の形態の画像表示装置と同一に構成される。
<Fifth embodiment>
FIG. 25 is a block diagram showing an image display apparatus according to the fifth embodiment of the present invention. This
画素輝度調整情報部６２は、位置情報、非発光領域の面積比率、若しくは非発光領域の面積比率及び輝度調整量の情報がリペア画素毎に記録される。輝度調整演算回路６３は、この画素輝度調整情報部６２に記録された情報を用いた演算処理により、第１〜第４の実施の形態と同様に、リペア画素に対応する画像データＤ１を補正して駆動電圧を設定する。
The pixel brightness
この実施の形態によれば、非発光領域の面積比率、若しくは非発光領域の面積比率及び輝度調整量の情報を用いた演算処理によりリペア画素の発光輝度を補正することにより、より適切にリペア画素の発光輝度を補正し、一段と画質劣化を防止することができる。 According to this embodiment, the repair pixel is more appropriately corrected by correcting the light emission luminance of the repair pixel by the arithmetic processing using the area ratio of the non-light emission region or the area ratio of the non-light emission region and the luminance adjustment amount. It is possible to correct the emission luminance of the image and further prevent image quality deterioration.
＜第６の実施の形態＞
図２６は、本発明の第６の実施の形態に係る画像表示装置を示すブロック図である。この画像表示装置７１は、画素輝度調整情報部２２及び輝度調整演算回路２３に代えて、画素輝度調整情報部７２及び輝度調整演算回路７３が設けられる点を除いて第１〜第４の実施の形態の画像表示装置と同一に構成される。
<Sixth Embodiment>
FIG. 26 is a block diagram showing an image display apparatus according to the sixth embodiment of the present invention. This
画素輝度調整情報部７２は、第１〜第４の実施の形態と同様にして輝度レベル１００〔％〕及び１０〔％〕でそれぞれ最適な輝度調整量が検出され、リペア画素毎に、この輝度調整量が記録される。輝度調整演算回路６３は、この画素輝度調整情報部７２に記録された輝度調整量の情報を用いた直線補間により、リペア画素に設定する階調に対応する輝度調整量が求められる。またこの求めた輝度調整量で対応する画像データＤ１を乗算して駆動電圧を生成し、これによりリペア画素の発光輝度を補正する。なお直線補間演算処理に代えて、二次関数を用いた補間演算処理により、さらには種々の関数を用いた演算処理により輝度調整量を計算する場合等、種々の演算手法を適用することができる。
Similar to the first to fourth embodiments, the pixel brightness
この実施の形態によれば、輝度調整量を用いた演算処理によりリペア画素の発光輝度を補正することにより、より適切にリペア画素の発光輝度を補正し、一段と画質劣化を改善することができる。 According to this embodiment, by correcting the light emission luminance of the repair pixel by a calculation process using the luminance adjustment amount, the light emission luminance of the repair pixel can be corrected more appropriately, and image quality deterioration can be further improved.
＜第７の実施の形態＞
ところでリペア画素では、単位面積当たりの発光輝度が通常画素に比して増大することにより、図２７に示すように、正常画素に比して経時変化による発光輝度の低下が著しくなる。従って当初、リペア画素の発光輝度を最適に設定していても、時間の経過により滅点として視認される恐れがある。そこでこの実施の形態の画像表示装置は、内蔵のタイマにより使用開始時からの経過時間を計測する。さらにこの経過時間により、当初設定したリペア画素の輝度調整量を補正してリペア画素の発光輝度を設定する。これにより時間が経過した場合にあっても、リペア画素の発光輝度を最適に設定する。
<Seventh embodiment>
By the way, in the repair pixel, the light emission luminance per unit area increases as compared with the normal pixel, and as shown in FIG. Therefore, even if the light emission luminance of the repair pixel is initially set optimally, it may be visually recognized as a dark spot over time. Therefore, the image display apparatus according to this embodiment measures the elapsed time from the start of use by a built-in timer. Furthermore, the light emission luminance of the repair pixel is set by correcting the initially set luminance adjustment amount of the repair pixel based on the elapsed time. As a result, even when time elapses, the light emission luminance of the repair pixel is optimally set.
すなわち単位面積当たりの発光輝度を１／（１−α）倍に設定した場合に、時間Ｔだけ経過した時点の発光輝度Ｌ（輝度調整１／（１−α）倍、Ｔ）は、Ｌ（通常画素、（（（１−α）／１）β）・Ｔ）により表される。なおここでβは、加速係数である。従って輝度調整量をさらに｛Ｌ（通常画素、（（（１−α）／１）β）・Ｔ）｝／｛Ｌ（通常画素、（Ｔ）｝倍に設定することにより、時間が経過した場合にあっても、リペア画素の発光輝度を最適に設定することができる。
That is, when the light emission luminance per unit area is set to 1 / (1-α) times, the light emission luminance L (
以上の構成によれば、リペア画素の発光輝度の補正量を時間の経過により増大させ、リペア画素における正常画素に対する経時変化による発光輝度の低下を防止することにより、一段と画質を改善することができる。
＜変形例＞
なお上述の実施の形態においては、リペア画素についてのみ輝度調整量の情報を保持する場合について述べた。しかしながら本発明はこれに限らず、表示画面の全ての画素について、又は表示画面の所定領域の全ての画素について、輝度調整量の情報を保持するようにしてもよい。なおこの場合、シェーディング補正用の輝度調整量の情報を併せて記録するようにして、一段と画質を向上することができる。
According to the above configuration, the image quality can be further improved by increasing the correction amount of the light emission luminance of the repair pixel with the passage of time and preventing the light emission luminance from decreasing due to the change with time of the repair pixel with respect to the normal pixel. .
<Modification>
In the above-described embodiment, the case has been described in which the information on the brightness adjustment amount is held only for the repair pixel. However, the present invention is not limited to this, and information on the luminance adjustment amount may be held for all the pixels on the display screen or for all the pixels in the predetermined area of the display screen. In this case, it is possible to further improve the image quality by recording the brightness adjustment amount information for shading correction together.
また上述の実施の形態においては、滅点、輝点として観察される欠陥画素をリペアする場合について述べた。しかしながら本発明はこれに限らず、経時変化による特性劣化が局所的に異なる部位をリペアにより非発光部に設定する場合にも広く適用することができる。 In the above-described embodiment, the case where defective pixels observed as dark spots and bright spots are repaired has been described. However, the present invention is not limited to this, and can be widely applied to a case where a region where characteristic deterioration due to a change with time is locally different is set as a non-light emitting portion by repair.
また上述の実施の形態においては、滅点、輝点として観察される欠陥画素をリペアすることを前提に、リペア画素の発光輝度を補正する場合について述べた。しかしながら本発明はこれに限らず、リペアの処理しない場合にも広く適用することができる。すなわち部分的に発光輝度が低い低輝度領域を有する異常画素に本発明を適用して画質を向上することができる。 In the above-described embodiment, the case where the light emission luminance of the repair pixel is corrected is described on the assumption that the defective pixel observed as the dark spot or the bright spot is repaired. However, the present invention is not limited to this, and can be widely applied even when repair processing is not performed. That is, the image quality can be improved by applying the present invention to an abnormal pixel having a low luminance region where the emission luminance is partially low.
また上述の実施の形態においては、有機ＥＬ素子を用いたアクティブマトリックス型の画像表示装置に本発明を適用する場合について述べた。しかしながら本発明はこれに限らず有機ＥＬ素子を用いたパッシブマトリックス型の画像表示装置、有機ＥＬ素子以外の発光素子を用いた画像表示装置等にも広く適用することができる。 In the above-described embodiment, the case where the present invention is applied to an active matrix image display device using an organic EL element has been described. However, the present invention is not limited to this, and can be widely applied to a passive matrix image display device using organic EL elements, an image display device using light emitting elements other than organic EL elements, and the like.
本発明は、有機ＥＬ素子を用いた画像表示装置に適用することができる。 The present invention can be applied to an image display device using an organic EL element.
１、２１、６１、７１……画像表示装置、２……表示部、３、２４……駆動回路、２２、６２、７２……画素輝度調整情報部、２３、６３、７３……輝度調整演算回路、３６、４６……画素回路、Ｃｓ……保持容量、ＯＬＥＤ……有機ＥＬ素子、Ｔｒ１〜Ｔｒ５……トランジスタ
1, 21, 61, 71... Image display device, 2... Display unit, 3, 24... Drive circuit, 22, 62, 72... Pixel brightness adjustment information unit, 23, 63, 73. Circuit, 36, 46 ... Pixel circuit, Cs ... Retention capacitance, OLED ... Organic EL element, Tr1-Tr5 ... Transistor
Claims (8)
画像データに応じて前記表示部に配置した画素を駆動し、前記表示部で所望の画像を表示する駆動部とを有し、
前記駆動部は、
輝度の低い低輝度領域又は非発光領域を部分的に有する異常画素の輝度を調整する輝度調整部を有し、
前記輝度調整部は、
前記異常画素における前記低輝度領域又は前記非発光領域と発光領域との境界長が長くなるに従って補正量が増大するように設定して、前記異常画素の面積による積分輝度、又は前記異常画素の面積及び時間による積分輝度を増大させ、前記輝度調整部により前記異常画素の輝度を調整しない場合に比して前記低輝度領域又は前記非発光領域を視認し難くする
画像表示装置。 A display unit in which pixels are arranged in a matrix, and
Driving the pixels arranged in the display unit according to image data, and displaying a desired image on the display unit,
The drive unit is
Having a luminance adjustment unit for adjusting the luminance of abnormal pixels partially having a low luminance region or a non-luminous region with low luminance;
The brightness adjusting unit is
The correction amount is set so that the correction amount increases as the boundary length between the low luminance region or the non-light emitting region and the light emitting region in the abnormal pixel increases, and the integrated luminance based on the area of the abnormal pixel or the area of the abnormal pixel An image display device that increases the integrated luminance according to time and makes it difficult to visually recognize the low-luminance region or the non-light-emitting region as compared with the case where the luminance adjustment unit does not adjust the luminance of the abnormal pixel.
さらに前記低輝度領域又は前記非発光領域が画素の中央より遠ざかるに従って補正量が増大するように設定して、前記異常画素の面積による積分輝度、又は前記異常画素の面積及び時間による積分輝度を増大させる
請求項１に記載の画像表示装置。 The brightness adjusting unit is
Further, the correction amount increases as the low luminance region or the non-light emitting region moves away from the center of the pixel, and the integrated luminance due to the area of the abnormal pixel or the integrated luminance due to the area and time of the abnormal pixel is increased. The image display device according to claim 1.
正常画素における面積による積分輝度、又は前記正常画素における面積及び時間による積分輝度以下の範囲で、前記異常画素の発光領域における単位面積当たりの発光輝度を対応する正常画素における単位面積当たりの発光輝度に比して増大させて、前記異常画素の発光輝度を調整する
請求項１に記載の画像表示装置。 The brightness adjusting unit is
The emission luminance per unit area in the normal pixel corresponding to the emission luminance per unit area in the emission region of the abnormal pixel within the range below the integrated luminance due to the area in the normal pixel or the integration luminance due to the area and time in the normal pixel. The image display device according to claim 1, wherein the emission luminance of the abnormal pixel is adjusted by increasing the luminance of the abnormal pixel.
正常画素における面積による積分輝度、又は前記正常画素における面積及び時間による積分輝度以下の範囲で、前記異常画素の発光領域における単位面積当たりの発光輝度を対応する正常画素における単位面積当たりの発光輝度に比して増大させて、前記異常画素の発光輝度を調整する
請求項２に記載の画像表示装置。 The brightness adjusting unit is
The emission luminance per unit area in the normal pixel corresponding to the emission luminance per unit area in the emission region of the abnormal pixel within the range below the integrated luminance due to the area in the normal pixel or the integration luminance due to the area and time in the normal pixel. The image display device according to claim 2, wherein the emission luminance of the abnormal pixel is adjusted by increasing the luminance of the abnormal pixel.
請求項１に記載の画像表示装置。 The image display device according to claim 1, wherein the abnormal pixel is a repair pixel.
請求項１に記載の画像表示装置。 The image display device according to claim 1, wherein the display unit is a passive matrix display unit using an organic EL element.
請求項１に記載の画像表示装置。 The image display device according to claim 1, wherein the display unit is an active matrix type display unit using an organic EL element.
画像データに応じて前記表示部に配置した画素を駆動し、前記表示部で所望の画像を表示する駆動部とを有する画像表示装置の駆動方法において、
輝度の低い低輝度領域又は非発光領域を部分的に有する異常画素の輝度を調整する輝度調整ステップを有し、
前記輝度調整ステップは、
前記異常画素における前記低輝度領域又は前記非発光領域と発光領域との境界長が長くなるに従って補正量が増大するように設定して、前記異常画素の面積による積分輝度、又は前記異常画素の面積及び時間による積分輝度を増大させ、前記異常画素の輝度を調整しない場合に比して前記低輝度領域又は前記非発光領域を視認し難くする
画像表示装置の駆動方法。
A display unit in which pixels are arranged in a matrix, and
In a driving method of an image display device having a drive unit that drives pixels arranged in the display unit according to image data and displays a desired image on the display unit,
A luminance adjustment step for adjusting the luminance of abnormal pixels partially having a low luminance region or a non-luminous region with low luminance;
The brightness adjustment step includes:
The correction amount is set so that the correction amount increases as the boundary length between the low luminance region or the non-light emitting region and the light emitting region in the abnormal pixel increases, and the integrated luminance based on the area of the abnormal pixel or the area of the abnormal pixel And a method of driving an image display apparatus that makes it difficult to visually recognize the low-luminance region or the non-light-emitting region as compared with a case where the integral luminance with time is increased and the luminance of the abnormal pixel is not adjusted.
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN111696491A (en) * | 2019-03-14 | 2020-09-22 | 三星显示有限公司 | Display device |
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