JP2010082663A - Laser beam machine - Google Patents

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Shinji Imai
慎司 今井
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Panasonic Industrial Devices SUNX Co Ltd
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Sunx Ltd
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a laser beam machine capable of easily and quickly machining the surface of a workpiece. <P>SOLUTION: A workpiece is machined on the surface by irradiating it with a laser beam scanned by a galvano scanner through a telecentric type fθ lens. The light is made incident along the optical axis of the laser beam from the upstream side of the galvano scanner and, by receiving the light reflected on the surface of the workpiece and returned along the optical axis of the laser beam, a distance to the surface is detected. Accordingly, between the upstream side of the galvano scanner and the surface of the workpiece, the optical axis of the laser beam and the optical axis for the distance detection coincide with each other, so that a distance to the irradiation position of the laser beam can be always accurately detected. Consequently, troublesome optical axis alignment is dispensed with and, in addition, by scanning the laser beam by the galvano scanner, quick machining is performed. <P>COPYRIGHT: (C)2010,JPO&INPIT

Description

本発明は、レーザ光を照射することにより、被加工対象物の表面を加工する技術に関する。   The present invention relates to a technique for processing the surface of a workpiece by irradiating a laser beam.

レーザ光は、大きな光強度が得られるだけでなく、光の波長や位相が揃っているために光学系を用いて極めて小さな領域に集光することが可能である。そこで、レーザ光を、被加工対象物の表面の小さな領域に集光して照射することにより、レーザ光のエネルギーを用いて被加工対象物を切断したり、穴を空けたり、溝を掘るといった各種の加工を行うレーザ加工装置が知られている。また、レーザ光を集光して被加工対象物の最表面だけを加工することにより、文字や、図形、記号などを刻印するレーザ加工機も存在する。   Laser light not only has a high light intensity, but also has a uniform wavelength and phase, so that it can be condensed in a very small region using an optical system. Therefore, by condensing and irradiating a laser beam to a small area on the surface of the workpiece, the workpiece is cut using the energy of the laser beam, a hole is made, or a groove is dug. Laser processing apparatuses that perform various types of processing are known. There is also a laser processing machine that engraves characters, graphics, symbols, and the like by processing only the outermost surface of the workpiece by condensing laser light.

これらのレーザ加工機では、加工の原理上、被加工対象物の表面にレーザ光を正確に集光することが重要となる。そこで、レーザ光を収束して出射するための対物レンズと被加工対象物との距離(ワーク間距離)を測定し、その測定結果に基づいて、被加工対象物に対してレーザ加工機を動かしたり(特許文献1)、逆にレーザ加工機に対して被加工対象物を動かしたり(特許文献2)、更には、レーザ加工機がレーザ光を集光する際の焦点距離を調整することによって(特許文献3)、被加工対象物の表面に正確にレーザ光を集光できるようにした技術が提案されている。   In these laser processing machines, it is important to accurately focus the laser beam on the surface of the object to be processed on the principle of processing. Therefore, the distance (inter-workpiece distance) between the objective lens for converging and emitting the laser beam and the workpiece is measured, and the laser processing machine is moved relative to the workpiece based on the measurement result. (Patent Document 1), conversely, the object to be processed is moved with respect to the laser processing machine (Patent Document 2), and further, by adjusting the focal length when the laser processing machine collects the laser light. (Patent Document 3), a technique has been proposed in which laser light can be accurately focused on the surface of a workpiece.

特開2008−119718号公報JP 2008-119718 A 特開2008−212941号公報JP 2008-212941 A 特開2008−68312号公報JP 2008-68312 A

しかし、レーザ加工機の対物レンズと被加工対象物の表面との距離(ワーク間距離)を正確に測定することは、それほど容易なことではなく、従って、被加工対象物を精度良く加工することは、それほど容易ではないという問題があった。すなわち、ワーク間距離を正確に測定するためには、被加工対象物の表面で距離を測定する位置を、加工しようとする位置に正確に一致させなければならず、このため、距離を測定する機器側でたいへんに面倒な調整が必要となる。   However, it is not so easy to accurately measure the distance between the objective lens of the laser beam machine and the surface of the workpiece (workpiece distance). Therefore, the workpiece is processed with high accuracy. There was a problem that was not so easy. That is, in order to accurately measure the distance between the workpieces, the position where the distance is measured on the surface of the workpiece must be exactly matched to the position to be machined. For this reason, the distance is measured. A very troublesome adjustment is required on the device side.

また、加工位置を移動させようとしてレーザ加工機を移動させる際には、距離計も同時に移動させなければならないので、大掛かりな移動機構が必要になるとともに、移動に時間がかかるために迅速な加工を行うことが困難となる。もちろん、被加工対象物を移動させるのであれば、レーザ加工機および距離計は移動させる必要はないが、この場合でも、被加工対象物を安定に保持した状態で正確に移動させるための大掛かりな移動機構が必要になるため、同様の問題が生じる。   In addition, when moving the laser processing machine in order to move the processing position, the distance meter must also be moved at the same time, so a large-scale movement mechanism is required, and since the movement takes time, rapid processing is required. It becomes difficult to do. Of course, if the workpiece is moved, the laser processing machine and the distance meter do not need to be moved, but even in this case, it is a large-scale operation for accurately moving the workpiece while stably holding the workpiece. A similar problem arises because a moving mechanism is required.

この発明は上記のような事情に鑑みて完成されたものであり、その目的は、被加工対象物の表面を、簡便にしかも迅速に加工することが可能なレーザ加工機を提供するところにある。   The present invention has been completed in view of the circumstances as described above, and an object thereof is to provide a laser processing machine capable of processing the surface of an object to be processed easily and quickly. .

上述した課題の少なくとも一部を解決するために、本発明のレーザ加工機は次の構成を採用した。すなわち、
レーザ光源から出射されるレーザ光を被加工対象物の表面に照射することによって、該被加工対象物を加工するレーザ加工機において、
互いに異なる向きに回転可能な一対の反射ミラーを含んで構成され、該各々の反射ミラーの回転位置を制御することにより、前記レーザ光源からのレーザ光を、前記被加工対象物の表面上で二次元的に走査させるガルバノスキャナと、
前記被加工対象物の表面に加工すべき加工データを記憶しておく加工データ記憶手段と、
前記加工データに基づいて前記ガルバノスキャナを制御することにより、前記被加工対象物の表面上での照射位置を走査させる走査制御手段と、
前記ガルバノスキャナからのレーザ光を前記被加工対象物の上に収束させるレンズであって、該ガルバノスキャナが該レーザ光を走査することによる入射角度に関係なくレンズ中心軸に沿った出射角度でレーザ光を出射するfθレンズと、
前記レーザ光源と前記ガルバノスキャナとの間に設けられて、前記レーザ光のビーム径を変更することにより、前記fθレンズによって該レーザ光が収束される焦点位置を、該レーザ光の光軸方向に移動させる焦点位置移動手段と、
前記ガルバノスキャナよりも前段で、前記レーザ光の光軸と同軸上に光を入射し、前記被加工対象物の表面で反射して該レーザ光の光軸と同軸上に戻ってきた光を受光することにより、該被加工対象物の表面までの距離に関する距離情報を検出する距離情報検出手段と、
前記被加工対象物の加工に先立って、前記レーザ光の照射位置を走査させながら前記距離情報検出手段を用いて前記距離情報を検出することにより、該レーザ光を走査する経路上での該距離情報である距離情報データを生成する距離情報データ生成手段と、
前記焦点位置移動手段に前記距離情報データを供給して前記レーザ光の焦点位置を変更しながら、前記走査制御手段に前記加工データを供給して前記レーザ光を走査することにより、前記被加工対象物の表面を加工する表面加工手段と
を備えることを特徴とする。
In order to solve at least a part of the problems described above, the laser processing machine of the present invention employs the following configuration. That is,
In a laser processing machine for processing a workpiece by irradiating the surface of the workpiece with laser light emitted from a laser light source,
A pair of reflecting mirrors that can be rotated in different directions is configured, and by controlling the rotational position of each reflecting mirror, two laser beams from the laser light source are generated on the surface of the workpiece. A galvano scanner to scan in dimension,
Machining data storage means for storing machining data to be machined on the surface of the workpiece;
Scanning control means for scanning the irradiation position on the surface of the object to be processed by controlling the galvano scanner based on the processing data;
A lens for converging laser light from the galvano scanner onto the workpiece, and a laser at an emission angle along the central axis of the lens regardless of an incident angle by the galvano scanner scanning the laser light. An fθ lens that emits light;
Provided between the laser light source and the galvano scanner and changing the beam diameter of the laser light, the focal position where the laser light is converged by the fθ lens is set in the optical axis direction of the laser light. A focal position moving means for moving;
In front of the galvano scanner, light is incident on the same axis as the optical axis of the laser beam, and is reflected on the surface of the workpiece and received back on the same axis as the optical axis of the laser beam. A distance information detecting means for detecting distance information related to the distance to the surface of the workpiece,
Prior to processing the workpiece, the distance on the path of scanning the laser light is detected by detecting the distance information using the distance information detecting means while scanning the irradiation position of the laser light. Distance information data generating means for generating distance information data as information;
While supplying the distance information data to the focal position moving means and changing the focal position of the laser light, the processing data is supplied to the scanning control means and the laser light is scanned, thereby the object to be processed And surface processing means for processing the surface of the object.

このような本発明のレーザ加工機においては、被加工対象物の表面までの距離に関する情報(距離情報)を検出してレーザ光を被加工対象物に照射することにより、被加工対象物の表面上に正確にレーザ光を集光させて、適切に被加工対象物を加工することができる。ここで、距離情報を検出するに際しては、ガルバノスキャナよりも前段から、レーザ光の光軸と同軸上に光を入射し、被加工対象物の表面で反射してレーザ光の光軸と同軸上に戻ってきた光を受光することによって、距離情報を検出する。また、被加工対象物の表面を加工するに際しては、ガルバノスキャナを制御して被加工対象物の表面上での光の照射位置を走査しながら距離情報を検出することにより、加工経路上での距離情報である距離情報データを検出しておく。そして、こうして得られた距離情報データを用いてレーザ光の焦点位置を調整しながら、加工データに従ってガルバノスキャナを制御して、レーザ光を走査することによって、被加工対象物の表面を加工する。   In such a laser processing machine of the present invention, the surface of the workpiece is detected by detecting information (distance information) about the distance to the surface of the workpiece and irradiating the workpiece with laser light. The workpiece can be appropriately processed by condensing the laser beam accurately on the top. Here, when detecting the distance information, light is incident on the same axis as the optical axis of the laser beam from the previous stage of the galvano scanner, reflected on the surface of the workpiece, and coaxial with the optical axis of the laser beam. The distance information is detected by receiving the light returned to. Further, when processing the surface of the workpiece, the distance information is detected while scanning the irradiation position of the light on the surface of the workpiece by controlling the galvano scanner. Distance information data that is distance information is detected in advance. Then, while adjusting the focal position of the laser beam using the distance information data obtained in this way, the galvano scanner is controlled according to the processing data, and the surface of the workpiece is processed by scanning the laser beam.

このようにすれば、ガルバノスキャナの上流側から被加工対象物の表面までの間では、レーザ光の光軸と、距離情報を検出するために入射した光の光軸とが一致するので、ガルバノスキャナを用いてレーザ光をどのように走査した場合でも、レーザ光が照射される表面までの距離に関する距離情報を、常に正確に検出することができる。すなわち、面倒な光軸調整を行わなくても、レーザ光が照射される正確な加工位置までの距離(距離情報)を検出することができるので、検出結果に基づいて焦点位置を移動させることにより、被加工対象物の表面に正確にレーザ光を集光させて、被加工対象物を適切に加工することが可能となる。   In this way, since the optical axis of the laser beam coincides with the optical axis of the incident light for detecting the distance information between the upstream side of the galvano scanner and the surface of the workpiece, the galvano scanner Regardless of how the laser beam is scanned using a scanner, distance information regarding the distance to the surface irradiated with the laser beam can always be accurately detected. That is, it is possible to detect the distance (distance information) to the accurate processing position irradiated with the laser light without performing troublesome optical axis adjustment, and by moving the focal position based on the detection result The laser beam can be accurately focused on the surface of the workpiece and the workpiece can be processed appropriately.

更に、被加工対象物を加工するに先立って、被加工対象物の表面を走査して距離情報データを生成することができるので、被加工対象物の表面形状を示すような3次元データを予め作成しておく必要がない。また、実際の被加工対象物には、寸法差や公差が存在しているため、3次元データに基づいて加工しても、意図した通りの結果が得られない場合が起こり得る。更には、レーザ加工機に被加工対象物が設置される位置精度あるいは高さにも誤差が発生し得る。このため、如何に精度の高い3次元データに基づいて加工しても、意図したとおりの加工ができない場合が起こり得る。こうしたことを避けようとすると、被加工対象物を正確に位置決めしてレーザ加工機に設置する必要があり、煩雑な作業が必要となる。この点で、本発明のレーザ加工機では、実際に加工しようとする被加工対象物を用いて距離を測定しているので、被加工対象物を正確に位置決めするなどの煩雑な作業を要することなく、正確な加工を行うことが可能となる。   Further, since the distance information data can be generated by scanning the surface of the workpiece before processing the workpiece, three-dimensional data indicating the surface shape of the workpiece is previously stored. There is no need to create it. In addition, since there are dimensional differences and tolerances in the actual workpiece, there is a possibility that the intended result cannot be obtained even if machining is performed based on the three-dimensional data. Furthermore, an error may occur in the positional accuracy or height at which the workpiece is installed in the laser processing machine. For this reason, even if it processes based on highly accurate three-dimensional data, the case where it cannot process as intended may occur. If it is going to avoid such a thing, it is necessary to position a to-be-processed object correctly, and to install in a laser processing machine, Complicated work is needed. In this respect, in the laser processing machine of the present invention, since the distance is measured using the workpiece to be actually processed, it is necessary to perform complicated operations such as accurately positioning the workpiece. Therefore, accurate processing can be performed.

加えて、加工位置は、ガルバノスキャナを用いて変更することができるので、極めて迅速に距離情報を検出することが可能であるとともに、極めて迅速に被加工対象物を加工することも可能である。更に、ガルバノスキャナと被加工対象物との間には、レーザ光を走査することによる入射角度に関係なくレンズ中心軸に沿った出射角度でレーザ光を出射するタイプのfθレンズが設けられている。そのため、距離情報を検出する位置によらず、被加工対象物の表面に対して常に同じ角度で光を入射するとともに、常に同じ角度で反射した光を受光して距離情報を検出することができる。その結果、より一層正確に距離情報を検出することが可能となり、延いては、被加工対象物の表面に正確にレーザ光を集光させて、適切に加工することが可能となる。もちろん、加工時にも上述したfθレンズを介してレーザ光が収束されるので、被加工対象物の表面には、加工位置によらず常に同じ角度でレーザ光が照射されることになって、安定した加工を行うことが可能となる。   In addition, since the processing position can be changed using a galvano scanner, it is possible to detect distance information very quickly and to process an object to be processed extremely quickly. Furthermore, an fθ lens of a type that emits laser light at an emission angle along the lens central axis is provided between the galvano scanner and the workpiece to be processed regardless of the incident angle obtained by scanning the laser light. . Therefore, regardless of the position where the distance information is detected, the light can be always incident on the surface of the workpiece at the same angle, and the light reflected at the same angle can always be received to detect the distance information. . As a result, it becomes possible to detect the distance information more accurately, and accordingly, it is possible to accurately focus the laser beam on the surface of the object to be processed and to process it appropriately. Of course, since the laser beam is converged through the above-described fθ lens even during processing, the surface of the workpiece is always irradiated with the same angle regardless of the processing position. Can be performed.

また、上述した本発明のレーザ加工機においては、被加工対象物の表面までの距離情報を、次のようにして検出しても良い。先ず、距離情報を検出するための光を、焦点位置移動手段よりも前段で、レーザ光の光軸と同軸上に入射する。そして、被加工対象物の表面で反射して、レーザ光の光軸と同軸上に戻ってきた光を、焦点位置移動手段を介して検出する。このとき、焦点位置移動手段を用いて焦点位置を移動させることにより、検出される光の強度が最大となる焦点位置を、距離情報として検出することとしてもよい。   Moreover, in the laser processing machine of this invention mentioned above, you may detect the distance information to the surface of a to-be-processed object as follows. First, light for detecting distance information is incident on the same axis as the optical axis of the laser beam before the focal position moving means. Then, the light reflected by the surface of the workpiece and returning to the same axis as the optical axis of the laser light is detected via the focal position moving means. At this time, the focal position where the intensity of the detected light is maximized may be detected as distance information by moving the focal position using the focal position moving means.

こうすれば、入射された光が被加工対象物の表面で集光された時に、検出される光の強度が最大となるので、その時の焦点位置を、距離情報として用いることができる。そして、距離情報を検出するために用いた焦点位置移動手段その物を用いて、被加工対象物の表面にレーザ光を集光させることができるので、距離情報の検出結果を用いて、レーザ光を極めて正確に被加工対象物の表面に集光させることができる。その結果、被加工対象物を、より一層適切に加工することが可能となる。   By doing so, the intensity of the detected light is maximized when the incident light is collected on the surface of the workpiece, so that the focal position at that time can be used as distance information. Since the focus position moving means used to detect the distance information can be used to focus the laser beam on the surface of the object to be processed, the laser beam can be used using the detection result of the distance information. Can be focused on the surface of the workpiece very accurately. As a result, the workpiece can be processed more appropriately.

また、上述した本発明のレーザ加工機においては、被加工対象物の表面に加工すべき加工データに基づいてガルバノスキャナを制御して、被加工対象物の表面上で照射位置を走査させながら、距離情報を検出することによって、距離情報データを生成してもよい。そして、加工データに従ってレーザ光を走査しながら、距離情報データに従ってレーザ光の焦点位置を補正することによって、被加工対象物の表面を加工することとしてもよい。   Further, in the laser processing machine of the present invention described above, while controlling the galvano scanner based on the processing data to be processed on the surface of the workpiece, while scanning the irradiation position on the surface of the workpiece, The distance information data may be generated by detecting the distance information. Then, the surface of the workpiece may be processed by correcting the focal position of the laser light according to the distance information data while scanning the laser light according to the processing data.

こうすれば、レーザ光を用いて加工する経路上での距離情報だけを検出することができるので、距離情報のデータが必要最小限で済み、迅速に距離情報を検出して、被加工対象物の表面を迅速に加工することが可能となる。また、前述したように、加工時のレーザ光の光軸と、距離情報検出用の光の光軸とは、少なくともガルバノスキャナから被加工対象物の表面までの間では完全に一致しているので、正確に加工経路上だけの距離情報を、極めて簡単に且つ迅速に検出することができる。その結果、被加工対象物の表面を、簡便にしかも迅速に加工することが可能となる。   In this way, only distance information on the path to be machined using laser light can be detected, so the distance information data can be minimized, and the distance information can be quickly detected and the workpiece to be processed. It becomes possible to process the surface of the substrate quickly. Further, as described above, the optical axis of the laser beam during processing and the optical axis of the distance information detection light are completely coincident at least from the galvano scanner to the surface of the workpiece. Thus, it is possible to detect the distance information on the machining path accurately and quickly. As a result, the surface of the workpiece can be processed easily and quickly.

また、上述した本発明のレーザ加工機においては、レーザ光源から出射されるレーザ光の光強度を減衰させた後、減衰されたレーザ光を用いて、距離情報を検出することとしてもよい。   In the laser processing machine of the present invention described above, after the light intensity of the laser light emitted from the laser light source is attenuated, the distance information may be detected using the attenuated laser light.

こうすれば、被加工対象物を加工する際のレーザ光の光軸と、被加工対象物の表面までの距離情報を検出する際のレーザ光の光軸とを完全に一致させることができるので、何ら光軸調整を行わなくても、常に正確に、被加工対象物の表面までの距離情報を検出することが可能となる。また、各種ミラーでの反射率や、光学レンズなどの焦点位置は、厳密に言えば、光の波長に応じて少しずつ異なっている。従って、加工用のレーザ光を用いて距離情報を検出すれば、こうした波長の違いによる影響を全く受けることなく正確な距離情報を検出することができるので、被加工対象物の表面により一層正確にレーザ光を集光させて、加工を行うことができる。加えて、加工用のレーザ光源とは別に、距離情報を検出するための光源を備える必要がないので、レーザ加工機の構造を簡単にすることができると同時に、レーザ加工機を小形化することが可能となる。   By doing so, the optical axis of the laser beam when processing the workpiece can be completely matched with the optical axis of the laser beam when detecting the distance information to the surface of the workpiece. Even without any optical axis adjustment, distance information to the surface of the workpiece can always be detected accurately. Strictly speaking, the reflectivity at various mirrors and the focal position of an optical lens or the like slightly differ depending on the wavelength of light. Therefore, if distance information is detected using a laser beam for processing, accurate distance information can be detected without being affected at all by the difference in wavelength, so that the surface of the workpiece can be more accurately detected. Processing can be performed by condensing the laser beam. In addition, since it is not necessary to provide a light source for detecting distance information separately from the laser light source for processing, the structure of the laser processing machine can be simplified and the laser processing machine can be downsized. Is possible.

また、光強度を減衰させたレーザ光を用いて距離情報を検出する本発明のレーザ加工機においては、レーザ光源を制御することにより、レーザ光源が出射するレーザ光の光強度を減衰させるようにしても良いが、次のようにしてレーザ光の光強度を減衰させるようにしても良い。すなわち、レーザ光源の後段に光強度減衰器を設けておき、レーザ光源から出射されたレーザ光の光強度を光強度減衰器で減衰させた後、出射するようにしても良い。   Further, in the laser processing machine of the present invention that detects distance information using laser light whose light intensity has been attenuated, the light intensity of the laser light emitted from the laser light source is attenuated by controlling the laser light source. However, the light intensity of the laser light may be attenuated as follows. That is, a light intensity attenuator may be provided after the laser light source, and the light intensity of the laser light emitted from the laser light source may be emitted after being attenuated by the light intensity attenuator.

こうすれば、レーザ光源の動作条件を変える必要がないので、レーザ光源を常に安定した状態で、且つ、効率よく動作させてレーザ光を出射することができる。その結果、被加工対象物を、安定して効率よく加工することが可能となる。   By doing so, it is not necessary to change the operating conditions of the laser light source, and therefore the laser light can be emitted while operating the laser light source constantly and efficiently. As a result, the workpiece can be processed stably and efficiently.

また、上述した本発明のレーザ加工機においては、次のようにしても良い。すなわち、距離情報検出手段によって検出される距離情報が、焦点位置移動手段による焦点位置の移動可能な範囲から外れる場合には、その旨を報知するようにしてもよい。   Moreover, in the laser processing machine of this invention mentioned above, you may be as follows. That is, when the distance information detected by the distance information detection unit is out of the range in which the focus position can be moved by the focus position moving unit, the fact may be notified.

例えば、被加工対象物がレーザ加工機に適切に搭載されていない場合や、誤って異なる被加工対象物を搭載した場合などには、被加工対象物の表面までの距離が遠すぎて、あるいは近すぎて、レーザ光の焦点位置を調整できない場合が生じ得る。このような場合に、被加工対象物の表面が、焦点位置を移動可能な範囲から外れる旨を報知してやることで、不適切な加工を行ってしまうことを未然に回避することが可能となる。   For example, when the workpiece is not properly mounted on the laser processing machine, or when a different workpiece is accidentally mounted, the distance to the surface of the workpiece is too long, or There may be a case where the focal position of the laser beam cannot be adjusted because it is too close. In such a case, it is possible to avoid improper processing by notifying that the surface of the object to be processed is out of the movable range of the focal position.

以下では、上述した本願発明の内容を明確にするために、次のような順序に従って実施例を説明する。
A.レーザ加工機の構成:
B.距離情報の検出原理:
C.レーザ加工方法:
D.変形例:
D−1.第1変形例:
D−2.第2変形例:
Hereinafter, in order to clarify the contents of the present invention described above, examples will be described in the following order.
A. Laser machine configuration:
B. Distance information detection principle:
C. Laser processing method:
D. Variation:
D-1. First modification:
D-2. Second modification:

A.レーザ加工機の構成 :
図1は、本実施例のレーザ加工機100の構成を示した説明図である。一般に、レーザ加工機は、レーザ光源から出射されたレーザ光を被加工対象物Wの表面に照射することによって、被加工対象物Wの加工を行う。ここで、図示されているように、本実施例のレーザ加工機100は、図中に一点鎖線で示したレーザ光の光軸上に、レーザ光のビーム径を変更するビームエキスパンダ120と、一対の反射ミラーを用いて被加工対象物Wの表面でレーザ光を二次元的に走査させるガルバノスキャナ130と、ガルバノスキャナ130によって操作されたレーザ光を被加工対象物Wの表面上に収束させるレンズ系140などが設けられている。尚、図1に示した例では、ビームエキスパンダ120とガルバノスキャナ130との間に設けられた反射ミラー114によって、レーザ光の光軸が一旦、曲げられているが、これはレーザ加工機100全体をコンパクトにまとめるためであって、反射ミラー114を用いない構成とすることも可能である。
A. Configuration of laser processing machine:
FIG. 1 is an explanatory diagram showing a configuration of a laser beam machine 100 according to the present embodiment. Generally, a laser processing machine processes the workpiece W by irradiating the surface of the workpiece W with laser light emitted from a laser light source. Here, as shown in the drawing, the laser processing machine 100 of the present embodiment includes a beam expander 120 that changes the beam diameter of the laser beam on the optical axis of the laser beam indicated by a one-dot chain line in the drawing, A galvano scanner 130 for two-dimensionally scanning laser light on the surface of the workpiece W using a pair of reflecting mirrors, and the laser beam operated by the galvano scanner 130 is converged on the surface of the workpiece W. A lens system 140 and the like are provided. In the example shown in FIG. 1, the optical axis of the laser beam is once bent by the reflection mirror 114 provided between the beam expander 120 and the galvano scanner 130. In order to make the whole compact, it is possible to adopt a configuration in which the reflection mirror 114 is not used.

ここで、レーザ光源110としては、十分な光強度のレーザ光を出射することができれば、パルス発振型の光源、また連続発振型の光源の何れを用いることも可能である。また、レーザ媒質についても、気体、固体、液体など種々のレーザ媒質のレーザ光源110を用いることが可能であり、更には、半導体レーザを用いることもできる。   Here, as the laser light source 110, any of a pulse oscillation type light source and a continuous oscillation type light source can be used as long as a laser beam with sufficient light intensity can be emitted. Also for the laser medium, it is possible to use the laser light source 110 of various laser media such as gas, solid, and liquid, and further, a semiconductor laser can be used.

ビームエキスパンダ120は、少なくとも2枚の光学レンズによって構成されており、それら光学レンズ間の距離を変更可能となっている。そして、ビーム状のレーザ光を上流側の光学レンズで拡散光に変換した後、下流側の光学レンズで拡散光を平行光に収束させて、再びビーム状のレーザ光を得ることができる。従って、上流側および下流側の光学レンズ間の距離を調整することによって、レーザ光のビーム径を拡大したり、逆に縮小したりすることが可能となっている。   The beam expander 120 includes at least two optical lenses, and the distance between the optical lenses can be changed. After the beam-shaped laser light is converted into diffused light by the upstream optical lens, the diffused light is converged to parallel light by the downstream optical lens, and the beam-shaped laser light can be obtained again. Therefore, by adjusting the distance between the upstream and downstream optical lenses, the beam diameter of the laser light can be enlarged or conversely reduced.

ガルバノスキャナ130は、レーザ光を全反射する一対の反射ミラーから構成され、それぞれの反射ミラーは、一端側がガルバノモータに取り付けられている。ガルバノモータは、極めて高い精度で所望の角度だけ軸回転させることが可能であり、各々のガルバノモータは、回転軸が互いに異なる方向に設けられている。従って、これらガルバノモータを制御してそれぞれの反射ミラーの角度を調整することにより、レーザ光を所望の方向に反射させて、被加工対象物Wの表面上を二次元的に走査することが可能となっている。   The galvano scanner 130 is composed of a pair of reflection mirrors that totally reflect the laser light, and one end side of each reflection mirror is attached to the galvano motor. The galvano motor can rotate the shaft by a desired angle with extremely high accuracy, and each galvano motor is provided in a direction in which the rotation shafts are different from each other. Therefore, by controlling these galvano motors and adjusting the angles of the respective reflecting mirrors, the laser beam can be reflected in a desired direction and the surface of the workpiece W can be scanned two-dimensionally. It has become.

レンズ系140は、複数の光学レンズから構成されており、ガルバノスキャナ130からのレーザ光を被加工対象物Wの上に収束させる機能を有している。ここで、上述したようにガルバノスキャナ130は、レーザ光の反射角度を変えることによって被加工対象物Wの表面を走査しているから、レーザ光の走査に伴って、レンズ系140に入射する光軸の角度が変化する。一般的なレンズ系では、入射角度が大きく異なる条件では、たとえ同じ角度だけ光軸を動かした場合でも、被加工対象物Wの表面上でビームが移動する距離は異なったものとなる。本実施例のレンズ系140では、このようなレーザ光の入射角度の違いを吸収して、レーザ光の入射角度が同じ角度だけ変化したのであれば、レーザ光の焦点も被加工対象物Wの表面に沿って常に同じ距離だけ移動するような特殊なレンズ系(このようなレンズ系は、「fθレンズ」と呼ばれている)を採用している。そして、本実施例のレンズ系140は、fθレンズの中でも、特に「テレセントリック型fθレンズ」と呼ばれる特殊なレンズ系を使用している。このため、図1に示されるように、ガルバノスキャナ130からレンズ系140に入射されるレーザ光の入射角度が変わっても、レンズ系140からは、被加工対象物Wに対して常に同じ角度でレーザ光が照射されるようになっている。   The lens system 140 is composed of a plurality of optical lenses and has a function of converging the laser light from the galvano scanner 130 on the workpiece W. Here, since the galvano scanner 130 scans the surface of the workpiece W by changing the reflection angle of the laser light as described above, the light incident on the lens system 140 as the laser light is scanned. The angle of the axis changes. In a general lens system, under conditions where the incident angles are greatly different, even if the optical axis is moved by the same angle, the distance that the beam moves on the surface of the workpiece W is different. In the lens system 140 of this embodiment, if the difference in the incident angle of the laser beam is absorbed and the incident angle of the laser beam is changed by the same angle, the focal point of the laser beam is also changed to the workpiece W. A special lens system that always moves the same distance along the surface (such a lens system is called an “fθ lens”) is employed. The lens system 140 of this embodiment uses a special lens system called “telecentric fθ lens” among the fθ lenses. For this reason, as shown in FIG. 1, even if the incident angle of the laser light incident on the lens system 140 from the galvano scanner 130 changes, the lens system 140 always has the same angle with respect to the workpiece W. Laser light is irradiated.

また、図1に示すように、本実施例のレーザ加工機100には、レーザ光源110とビームエキスパンダ120との間の光軸上に、ハーフミラー112が設けられており、このハーフミラー112と組み合わせて光学式の距離計150が設けられている。本実施例のレーザ加工機100では、距離計150を用いて被加工対象物Wの表面までの距離を測定し、その結果を用いてレーザ光の焦点位置を調整することにより、被加工対象物Wの表面に正確にレーザ光を集光させることが可能である。そして、詳細には後述するが、本実施例のレーザ加工機100では、距離計150が被加工対象物Wの表面までの距離を測定するための光軸と、レーザ光を用いて被加工対象物Wを加工するための光軸とは、そのほとんどが共通化されているため、面倒な光軸あわせを行う必要がなく、被加工対象物Wの表面を簡単に加工することができる。加えて、ガルバノスキャナ130を用いてレーザ光を走査して加工することができるので、被加工対象物Wの表面を迅速に加工することが可能となる。   As shown in FIG. 1, the laser processing machine 100 of the present embodiment is provided with a half mirror 112 on the optical axis between the laser light source 110 and the beam expander 120, and this half mirror 112. And an optical distance meter 150 is provided. In the laser processing machine 100 of the present embodiment, the distance to the surface of the workpiece W is measured using the distance meter 150, and the focus position of the laser beam is adjusted using the result, thereby the workpiece. It is possible to accurately focus the laser beam on the surface of W. As will be described in detail later, in the laser processing machine 100 of the present embodiment, the distance meter 150 measures the distance to the surface of the workpiece W and the workpiece using the laser beam. Since most of the optical axes for processing the object W are common, there is no need to perform troublesome optical axis alignment, and the surface of the workpiece W can be easily processed. In addition, since the laser beam can be scanned and processed using the galvano scanner 130, the surface of the workpiece W can be processed quickly.

更に、本実施例のレーザ加工機100には、レーザ光源110や、ビームエキスパンダ120、ガルバノスキャナ130、距離計150とデータをやり取りすることにより、レーザ加工機100全体の動作を制御する制御部160も設けられている。制御部160は、各種の算術演算・論理演算を実行するCPUや、CPUが実行する各種のプログラムやデータを記憶しているROM、CPUがプログラムを実行する際に生じる各種のデータを一時的に蓄えるRAM、水晶発振器の出力をカウントすることにより計時を行うタイマーなどが、相互にデータをやり取り可能に接続されたマイクロコンピュータによって構成されている。   Further, the laser processing machine 100 according to the present embodiment exchanges data with the laser light source 110, the beam expander 120, the galvano scanner 130, and the distance meter 150, thereby controlling the operation of the entire laser processing machine 100. 160 is also provided. The control unit 160 temporarily stores a CPU that executes various arithmetic operations and logical operations, a ROM that stores various programs and data executed by the CPU, and various data generated when the CPU executes the programs. A RAM for storing data, a timer for measuring time by counting the output of the crystal oscillator, and the like are constituted by microcomputers connected so as to be able to exchange data with each other.

B.距離情報の検出原理 :
図2は、本実施例のレーザ加工機100に搭載された距離計150が、被加工対象物Wの表面までの距離を測定する様子を示した説明図である。図2(a)には、距離計150の内部構造、および距離計150を用いて被加工対象物Wの表面までの距離を測定する際の光軸が示されている。図示されるように、距離計150の内部には、測定用のレーザ光源152と、光強度を検出する検出器154と、ハーフミラー156とが設けられている。尚、ここでは、被加工対象物Wまでの距離を測定するためにもレーザ光を使用するものとして説明するが、距離を測定するためには特に強い光が必要なわけではないので、レーザ光源152の代わりに、他の一般的な光源を用いることも可能である。
B. Distance information detection principle:
FIG. 2 is an explanatory diagram showing a state in which the distance meter 150 mounted on the laser processing machine 100 of the present embodiment measures the distance to the surface of the workpiece W. FIG. 2A shows the internal structure of the distance meter 150 and the optical axis when measuring the distance to the surface of the workpiece W using the distance meter 150. As shown in the drawing, a laser beam source 152 for measurement, a detector 154 for detecting light intensity, and a half mirror 156 are provided inside the distance meter 150. Here, it is assumed that laser light is also used to measure the distance to the workpiece W. However, in order to measure the distance, particularly strong light is not necessary, so a laser light source Instead of 152, other general light sources can be used.

図1中に破線で示したように、レーザ光源152から出射された光は、ハーフミラー156を通過して距離計150から出射される。また、前述したように、加工用のレーザ光源110から出射されるレーザ光の光軸上には、ハーフミラー112が設けられている。距離計150から出射された測定用のレーザ光はハーフミラー112で反射されて、加工用のレーザ光の光軸上を進んで、ビームエキスパンダ120に入射される。そして、前述したようにビームエキスパンダ120でビーム径を拡大あるいは縮小された後、反射ミラー114、ガルバノスキャナ130、レンズ系140を経由して、被加工対象物Wに照射される。ハーフミラー112から被加工対象物Wまでの光軸は、レーザ光源110から出射される加工用のレーザ光の光軸と共通となっている。従って、被加工対象物Wを加工する際に、ガルバノスキャナ130を用いてレーザ光を走査するのと全く同じ制御を行うことにより、測定用のレーザ光源152から出射されたレーザ光も、被加工対象物Wの上を走査することができる。もちろん、レーザ光をどのように走査した場合でも、加工用のレーザ光の光軸と測定用のレーザ光の光軸とは、少なくともハーフミラー112から被加工対象物Wまでの間では完全に一致した状態となっている。   As indicated by a broken line in FIG. 1, the light emitted from the laser light source 152 passes through the half mirror 156 and is emitted from the distance meter 150. Further, as described above, the half mirror 112 is provided on the optical axis of the laser light emitted from the processing laser light source 110. The measurement laser light emitted from the distance meter 150 is reflected by the half mirror 112, travels on the optical axis of the processing laser light, and enters the beam expander 120. Then, after the beam diameter is enlarged or reduced by the beam expander 120 as described above, the workpiece W is irradiated via the reflection mirror 114, the galvano scanner 130, and the lens system 140. The optical axis from the half mirror 112 to the workpiece W is the same as the optical axis of the processing laser beam emitted from the laser light source 110. Therefore, when the workpiece W is processed, the laser light emitted from the measurement laser light source 152 is also processed by performing exactly the same control as scanning the laser beam using the galvano scanner 130. The object W can be scanned. Of course, no matter how the laser beam is scanned, the optical axis of the laser beam for processing and the optical axis of the laser beam for measurement are completely the same at least from the half mirror 112 to the workpiece W. It has become a state.

また、前述したように、本実施例のレーザ加工機100では、レンズ系140に、テレセントリック型fθレンズが用いられている。テレセントリック型fθレンズは、ガルバノスキャナ130で走査されることによるレーザ光の入射角度の変化を吸収する機能を有しているため、被加工対象物Wに対して常に同じ角度でレーザ光が照射される。そして、被加工対象物Wの表面で反射された光は、今度は光軸を、レンズ系140、ガルバノスキャナ130、ビームエキスパンダ120と逆に辿って、ハーフミラー112で反射され、更に距離計150内に設けられたハーフミラー156で反射されて、検出器154によって光強度が検出される。尚、検出器154の手前にはピンホール154pが設けられている。従って、ハーフミラー156で反射された光のうち、ピンホール154pを通過した光だけが、検出器154によって検出されるようになっている。   Further, as described above, in the laser processing machine 100 of the present embodiment, a telecentric fθ lens is used for the lens system 140. Since the telecentric fθ lens has a function of absorbing a change in the incident angle of the laser beam caused by scanning with the galvano scanner 130, the workpiece W is always irradiated with the laser beam at the same angle. The The light reflected by the surface of the workpiece W is then reflected by the half mirror 112 by following the optical axis in the direction opposite to the lens system 140, the galvano scanner 130, and the beam expander 120. The light is reflected by the half mirror 156 provided in 150, and the light intensity is detected by the detector 154. A pinhole 154p is provided in front of the detector 154. Therefore, only the light that has passed through the pinhole 154p among the light reflected by the half mirror 156 is detected by the detector 154.

このようにして検出器154で光強度を検出しながらビームエキスパンダ120を調整することにより、測定用のレーザ光を、被加工対象物Wの表面に正確に集光させることが可能となる。尚、本明細書中では、レーザ光が集光する位置を、「レーザ光の焦点位置」と称することがある。   In this way, by adjusting the beam expander 120 while detecting the light intensity with the detector 154, the laser beam for measurement can be accurately focused on the surface of the workpiece W. In the present specification, the position where the laser beam is focused may be referred to as “the focal position of the laser beam”.

今、ビームエキスパンダ120を調整して、測定用のレーザ光のビーム径を、図2(a)に斜線を付して示した太さに設定したときに、レーザ光の焦点位置が、ちょうど被加工対象物Wの表面と一致したものとする。この状態から、ビームエキスパンダ120のレンズ間距離を変更して、レーザ光のビーム径を太くすると、レーザ光の焦点位置は、被加工対象物Wの表面から奥側に移動する。図2(a)に示した細い一点鎖線は、ビーム径を太くしたために、焦点位置が被加工対象物Wの表面の奥に移動したレーザ光を表している。このように焦点位置が、被加工対象物Wの表面の奥側にある状態では、レーザ光は被加工対象物Wの表面の広い範囲を照射する。しかし、検出器154の手前にはピンホール154pが設けられているので、被加工対象物Wの表面の広い範囲で反射して戻ってきた光は、大部分がピンホール154pに遮られてしまい、検出器154で検出される光強度は低下する。すなわち、被加工対象物Wの表面上でレーザ光によって照らされている範囲が狭くなるほど、ピンホール154pを通過する比率が高くなって、検出器154で検出される光強度が高くなるのである。   Now, when the beam expander 120 is adjusted so that the beam diameter of the laser beam for measurement is set to the thickness shown by hatching in FIG. 2A, the focal position of the laser beam is exactly It is assumed that it matches the surface of the workpiece W. From this state, when the distance between the lenses of the beam expander 120 is changed to increase the beam diameter of the laser light, the focal position of the laser light moves from the surface of the workpiece W to the back side. A thin alternate long and short dash line shown in FIG. 2A represents laser light whose focal position has moved to the back of the surface of the workpiece W because the beam diameter has been increased. Thus, in a state where the focal position is on the far side of the surface of the workpiece W, the laser light irradiates a wide range of the surface of the workpiece W. However, since the pinhole 154p is provided in front of the detector 154, most of the light reflected and returned from the wide range of the surface of the workpiece W is blocked by the pinhole 154p. The light intensity detected by the detector 154 decreases. That is, as the range illuminated by the laser beam on the surface of the workpiece W becomes narrower, the ratio of passing through the pinhole 154p increases and the light intensity detected by the detector 154 increases.

以上は、レーザ光のビーム径を太くした場合について説明した。逆に、レーザ光のビーム径を細くした場合は、レーザ光の焦点位置が、被加工対象物Wの表面よりも手前側に移動する。しかし、表面よりも手前側でレーザ光が集光される結果、被加工対象物Wの表面では広い範囲が照らされることになる。このため、レーザ光のビーム径を細くし過ぎた場合にも、多くの光がピンホール154pで遮られて、検出器154で検出される光強度が低くなる。   The case where the beam diameter of the laser beam is increased has been described above. Conversely, when the beam diameter of the laser beam is reduced, the focal position of the laser beam moves to the near side of the surface of the workpiece W. However, as a result of condensing the laser beam on the near side of the surface, a wide range is illuminated on the surface of the workpiece W. For this reason, even when the beam diameter of the laser beam is made too thin, a lot of light is blocked by the pinhole 154p, and the light intensity detected by the detector 154 becomes low.

図2(b)には、ビームエキスパンダ120による焦点位置の調整量(すなわち、ビーム径)と、検出器154で検出される光強度との関係が示されている。図示されるように、ビーム径が太すぎる場合は、レーザ光の焦点位置が被加工対象物Wの表面よりも奥側に来る結果、受光される光強度が低下し、逆に、ビーム径が細すぎる場合は、焦点位置が被加工対象物Wの表面よりも手前側に来るので光強度が低下する。結局は、検出器154の受光量が最大値となるように、ビームエキスパンダ120を調整してやれば、ちょうどその状態で、レーザ光の焦点位置が被加工対象物Wの表面に存在していることになる。従って、その時のビームエキスパンダ120の調整量を検出することにより、被加工対象物Wの表面までの距離を検出することができる。換言すれば、ビームエキスパンダ120の調整量が、被加工対象物Wの表面までの距離を示す情報(距離情報)となっている。   FIG. 2B shows the relationship between the focal position adjustment amount (that is, the beam diameter) by the beam expander 120 and the light intensity detected by the detector 154. As shown in the figure, when the beam diameter is too thick, the focus position of the laser beam is located behind the surface of the workpiece W. As a result, the received light intensity decreases, and conversely, the beam diameter is reduced. When it is too thin, the focal position comes closer to the front side than the surface of the workpiece W, so that the light intensity decreases. Eventually, if the beam expander 120 is adjusted so that the amount of light received by the detector 154 becomes the maximum value, the focal position of the laser light exists on the surface of the workpiece W in that state. become. Therefore, the distance to the surface of the workpiece W can be detected by detecting the adjustment amount of the beam expander 120 at that time. In other words, the adjustment amount of the beam expander 120 is information (distance information) indicating the distance to the surface of the workpiece W.

また、ガルバノスキャナ130を用いてレーザ光の照射位置を走査してやれば、被加工対象物Wの表面上のどのような位置であっても、同様にして距離情報(ビームエキスパンダ120の調整量)を求めることができる。前述したように、ガルバノスキャナ130で走査されたレーザ光は、テレセントリック型fθレンズを用いたレンズ系140で収束されるので、被加工対象物Wの表面上のどのような位置で測定する場合でも、被加工対象物Wの表面に対して常に同じ角度でレーザ光が照射される。このため、測定位置によらず、ほぼ同じレベルの受光量が得られるので、正確な距離情報(ビームエキスパンダ120の調整量)を求めることが可能となっている。   Further, if the irradiation position of the laser beam is scanned using the galvano scanner 130, the distance information (adjustment amount of the beam expander 120) is the same regardless of the position on the surface of the workpiece W. Can be requested. As described above, the laser beam scanned by the galvano scanner 130 is converged by the lens system 140 using a telecentric fθ lens, so that it can be measured at any position on the surface of the workpiece W. The laser beam is always irradiated at the same angle with respect to the surface of the workpiece W. For this reason, since almost the same level of received light amount can be obtained regardless of the measurement position, accurate distance information (adjustment amount of the beam expander 120) can be obtained.

尚、レーザ光源152から出射される測定用のレーザ光のビーム径と、レーザ光源110から出射される加工用のレーザ光のビーム径とは、必ずしも一致するとは限らない。上述した説明から明らかなように、ビーム径が異なれば、被加工対象物Wの表面にレーザ光を集光させるためのビームエキスパンダ120の調整量も異なったものとなる。しかし、測定用のレーザ光のビーム径と、加工用のレーザ光のビーム径とを求めておけば、測定用のレーザ光で検出したビームエキスパンダ120調整量を、加工用のレーザ光を被加工対象物Wの表面に集光させるためのビームエキスパンダ120の調整量に換算することが可能である。   Note that the beam diameter of the measurement laser beam emitted from the laser light source 152 and the beam diameter of the processing laser beam emitted from the laser light source 110 do not necessarily coincide with each other. As is clear from the above description, if the beam diameter is different, the adjustment amount of the beam expander 120 for condensing the laser light on the surface of the workpiece W is also different. However, if the beam diameter of the laser beam for measurement and the beam diameter of the laser beam for processing are obtained, the adjustment amount of the beam expander 120 detected by the laser beam for measurement is applied to the laser beam for processing. It can be converted into an adjustment amount of the beam expander 120 for focusing on the surface of the workpiece W.

あるいは、レーザ光源152から出射される測定用のレーザ光のビーム径を調整して(若しくはビームエキスパンダなどを用いてビーム径を変換して)、測定用のレーザ光のビーム径を、レーザ光源110から出射される加工用のレーザ光のビーム径と一致させるようにしても良い。このようにしておけば、測定用のレーザ光を用いて求めたビームエキスパンダ120の調整量を、そのまま加工時のビームエキスパンダ120の調整量として用いることができる。このため、レーザ光源110からのレーザ光を、簡単にしかも正確に被加工対象物Wの表面上に集光させて、加工することが可能となる。   Alternatively, the beam diameter of the measurement laser light emitted from the laser light source 152 is adjusted (or the beam diameter is converted using a beam expander or the like), and the beam diameter of the measurement laser light is changed to the laser light source. The beam diameter of the processing laser beam emitted from 110 may be matched. In this way, the adjustment amount of the beam expander 120 obtained using the measurement laser beam can be used as it is as the adjustment amount of the beam expander 120 at the time of processing. For this reason, the laser beam from the laser light source 110 can be focused and processed on the surface of the workpiece W easily and accurately.

C.レーザ加工方法 :
次に、本実施例のレーザ加工機100を用いて、被加工対象物Wの表面を加工する方法について説明する。図3は、本実施例のレーザ加工機100で行われるレーザ加工処理を示すフローチャートである。この処理は、レーザ加工機100の操作者が、レーザ加工機100に被加工対象物Wをセットした状態で所定のスタートボタンを押すと、制御部160に搭載されたCPUが、制御部160内のROMに記憶されているプログラムを読み出すことによって実行される処理である。
C. Laser processing method:
Next, a method for processing the surface of the workpiece W using the laser processing machine 100 of the present embodiment will be described. FIG. 3 is a flowchart showing laser processing performed by the laser processing machine 100 of the present embodiment. In this process, when an operator of the laser processing machine 100 presses a predetermined start button with the workpiece W set on the laser processing machine 100, the CPU mounted on the control unit 160 causes the CPU 160 to control the inside of the control unit 160. This process is executed by reading a program stored in the ROM.

図示されているように、レーザ加工処理を開始すると、制御部160のCPUは、先ず初めに、被加工対象物Wがセットされているか否かを判断する(ステップS100)。この判断は、被加工対象物Wをセットすべき位置に設けられた図示しない接点スイッチや、光学式あるいは電磁式の非接触センサなどの出力を検出することによって判断することができる。そして、被加工対象物Wがセットされていると判断された場合は(ステップS100:yes)、被加工対象物Wの表面に加工しようとする加工形状を示すデータ(加工形状データ)を、制御部160のROMあるいは外部のコンピュータから読み込む処理を行う(ステップS102)。図1を用いて前述したように、本実施例のレーザ加工機100は、ガルバノスキャナ130を用いてレーザ光を走査することにより、被加工対象物Wの表面を加工することができる。加工形状データとは、被加工対象物Wの表面でレーザ光を走査する形状を表す二次元データである。   As shown in the figure, when the laser processing is started, the CPU of the control unit 160 first determines whether or not the workpiece W is set (step S100). This determination can be made by detecting the output of a contact switch (not shown) provided at a position where the workpiece W is to be set or an optical or electromagnetic non-contact sensor. When it is determined that the workpiece W is set (step S100: yes), data indicating the machining shape to be machined on the surface of the workpiece W (machining shape data) is controlled. A process of reading from the ROM of the unit 160 or an external computer is performed (step S102). As described above with reference to FIG. 1, the laser processing machine 100 according to the present embodiment can process the surface of the workpiece W by scanning the laser beam using the galvano scanner 130. The machining shape data is two-dimensional data representing a shape in which laser light is scanned on the surface of the workpiece W.

続いて、制御部160のCPUは、レーザ光源152から測定用のレーザ光を出射しながら、加工形状データに従ってガルバノスキャナ130を制御することにより、測定用のレーザ光を被加工対象物Wの表面で走査させる。そして、レーザ光が走査する経路上の複数箇所で、図2を用いて前述した原理による最適焦点位置を測定する(ステップS104)。   Subsequently, the CPU of the control unit 160 controls the galvano scanner 130 in accordance with the machining shape data while emitting the measurement laser light from the laser light source 152, so that the measurement laser light is transmitted to the surface of the workpiece W. Scan with. Then, the optimum focus positions based on the principle described above with reference to FIG. 2 are measured at a plurality of locations on the path scanned by the laser light (step S104).

図4は、加工形状データに沿ってレーザ光を走査しながら、経路上の複数箇所で最適焦点位置のデータを測定する様子を示した説明図である。図4(a)には、加工形状データが例示されている。図示されるように、加工形状データは、ノードと呼ばれる複数の座標点と、各ノード間の接続情報(例えば、ノードが始点または終点か否か、あるいはノードがどのノードと接続されるかなどを示す情報)とによって構成されている。例えば、図4(a)に示した例では、6つのノードを接続情報に基づいて接続することによって、アルファベットの「A」という文字の形状が表現されている。   FIG. 4 is an explanatory diagram showing a state in which the data of the optimum focal position is measured at a plurality of locations on the path while scanning the laser beam along the machining shape data. FIG. 4A illustrates machining shape data. As shown in the figure, the machining shape data includes a plurality of coordinate points called nodes and connection information between the nodes (for example, whether the node is a start point or an end point, or which node the node is connected to). Information). For example, in the example shown in FIG. 4A, the shape of the letter “A” in the alphabet is expressed by connecting six nodes based on the connection information.

このような加工形状データに基づいてガルバノスキャナ130を制御することにより、被加工対象物Wの表面上で、レーザ光を走査しながら、走査経路上の所定間隔おきに、検出器154の光強度が最大値となるようにビームエキスパンダ120を調整して、最適焦点位置を検出する。図4(b)には、最適焦点位置の検出位置が、レーザ光の走査経路に沿って複数箇所に設けられている様子が示されている。また、図4(c)には、走査経路上のそれぞれの検出位置について、検出位置の座標点と、その座標点で検出された最適焦点位置(ビームエキスパンダ120の調整量)とが得られた様子が示されている。図3に示したレーザ加工処理のステップS104では、図4(c)に例示するような最適焦点位置のデータ(すなわち、距離情報データ)を測定する処理を行う。   By controlling the galvano scanner 130 based on such processed shape data, the light intensity of the detector 154 is scanned at predetermined intervals on the scanning path while scanning the laser beam on the surface of the workpiece W. The beam expander 120 is adjusted so that becomes the maximum value, and the optimum focus position is detected. FIG. 4B shows a state in which the optimum focal position detection positions are provided at a plurality of locations along the laser light scanning path. 4C, for each detection position on the scanning path, the coordinate point of the detection position and the optimum focal position (adjustment amount of the beam expander 120) detected at the coordinate point are obtained. The situation is shown. In step S104 of the laser processing shown in FIG. 3, a process of measuring data (ie, distance information data) of the optimum focal position as illustrated in FIG. 4C is performed.

尚、最適焦点位置のデータ測定中に、被加工対象物Wの表面がレンズ系140に近すぎて、あるいは遠すぎて、ビームエキスパンダ120での調整可能な範囲を超えてしまい、最適焦点位置を検出することができなくなった場合には、その旨のエラーメッセージを表示するようにしても良い。もちろん、正しい被加工対象物Wが、レーザ加工機100に正しくセットされているのであれば、このような事態が発生することはないが、例えば、何らかの理由で誤った被加工対象物Wがセットされた場合や、あるいは被加工対象物Wが適切にセットされていなかった場合には、このような事態も起こり得る。このような場合は、適切な加工は望むべくもない。従って、最適焦点位置を検出できなかった場合には、その旨のエラーメッセージを表示することで、正しい被加工対象物Wに変更したり、あるいは被加工対象物Wを正しくセットし直すことが可能となる。   During the measurement of the data on the optimum focal position, the surface of the workpiece W is too close or too far from the lens system 140 and exceeds the adjustable range of the beam expander 120, and the optimum focus position. If it becomes impossible to detect the error, an error message to that effect may be displayed. Of course, if the correct workpiece W is correctly set in the laser processing machine 100, such a situation does not occur. For example, the wrong workpiece W is set for some reason. Such a situation may also occur when the workpiece W has been set or when the workpiece W has not been set properly. In such cases, proper processing is not desired. Therefore, when the optimum focus position cannot be detected, an error message to that effect can be displayed to change to the correct workpiece W or to set the workpiece W correctly. It becomes.

以上のようにして、加工形状の経路上での最適焦点位置のデータが得られたら、今度は、レーザ光源110から加工用のレーザ光を出射する。そして、加工形状データに基づいてガルバノスキャナ130を制御することにより、被加工対象物Wの表面上で加工用のレーザ光を走査しながら、先に取得した最適焦点位置のデータに従ってビームエキスパンダ120を調整する。こうすることにより、加工用のレーザ光を、被加工対象物Wの表面に正確に集光させながら加工を進めることができる。   When the data of the optimum focal position on the machining shape path is obtained as described above, the laser beam for machining is emitted from the laser light source 110 this time. Then, by controlling the galvano scanner 130 based on the processing shape data, the beam expander 120 is scanned according to the data of the optimum focal position acquired previously while scanning the processing laser beam on the surface of the workpiece W. Adjust. By doing so, it is possible to proceed the processing while accurately condensing the processing laser light on the surface of the workpiece W.

尚、被加工対象物Wの表面上で、レーザ光を照射して加工する座標点を正確に特定することができる場合は、それらの座標点についてだけ、測定用のレーザ光を照射して最適焦点位置のデータを測定するようにしても良い。こうすれば、必要な箇所についてだけ、正確な最適焦点位置のデータを測定することができるので、迅速に且つ正確な加工を行うことができる。もちろん、加工経路上の複数箇所で求められた最適焦点位置のデータから補間演算を行うことによって、実際に加工用のレーザ光を照射する座標点での最適焦点位置を算出することとしても良い。あるいは、加工経路を含む領域内で、格子状に複数の座標点での最適焦点位置を算出しておき、それら座標点での最適焦点位置に基づいて、加工経路上での最適焦点位置を補間演算することによって、加工経路上での最適焦点位置のデータを算出することも可能である。   In addition, when the coordinate points to be processed can be accurately specified by irradiating the laser beam on the surface of the workpiece W, the measurement laser beam is optimally irradiated only for those coordinate points. You may make it measure the data of a focus position. In this way, accurate optimum focus position data can be measured only for necessary portions, so that rapid and accurate processing can be performed. Of course, it is also possible to calculate the optimum focal position at the coordinate point where the laser light for machining is actually irradiated by performing interpolation calculation from the optimum focal position data obtained at a plurality of locations on the machining path. Alternatively, the optimum focal position at a plurality of coordinate points is calculated in a grid pattern within the region including the machining path, and the optimum focal position on the machining path is interpolated based on the optimum focal position at these coordinate points. By calculating, it is also possible to calculate the data of the optimum focal position on the machining path.

また、レーザ加工処理の開始直後で、被加工対象物Wがセットされていないと判断された場合は(ステップS100:no)、上述した一連の処理を行うことなく、図示しない表示部にエラーメッセージを表示して(ステップS108)、図3のレーザ加工処理を終了する。   Further, immediately after the start of the laser processing, if it is determined that the workpiece W is not set (step S100: no), an error message is displayed on a display unit (not shown) without performing the above-described series of processing. Is displayed (step S108), and the laser processing in FIG. 3 is terminated.

以上に詳しく説明したように、本実施例のレーザ加工機100では、加工用のレーザ光の光軸上に、距離測定用の光(上述した実施例ではレーザ光)を入射して、被加工対象物Wまでの距離に関する情報(上述した実施例では、ビームエキスパンダ120の調整量)を取得している。このため、レーザ光による加工位置と、距離の測定位置とを一致させるための面倒な調整を全く行うことなく、被加工対象物Wまでの距離を正確に検出し、その結果に基づいて、被加工対象物Wの表面に正確にレーザ光を集光させることにより、正確な加工を行うことができる。また、加工用のレーザ光の光軸と、距離測定用の光の光軸とが一致しているので、ガルバノスキャナ130を用いてレーザ光(あるいは測定用の光)を走査した場合でも、加工位置と距離の測定位置とがずれることがない。   As described in detail above, in the laser processing machine 100 of the present embodiment, the distance measuring light (laser light in the above-described embodiments) is incident on the optical axis of the processing laser light, and the workpiece is processed. Information on the distance to the object W (in the above-described embodiment, the adjustment amount of the beam expander 120) is acquired. For this reason, the distance to the workpiece W is accurately detected without any troublesome adjustment to match the machining position by the laser beam and the distance measurement position, and based on the result, By accurately condensing the laser beam on the surface of the workpiece W, accurate processing can be performed. Further, since the optical axis of the processing laser beam and the optical axis of the distance measuring beam coincide with each other, even when the laser beam (or measurement light) is scanned using the galvano scanner 130, the processing is performed. There is no deviation between the position and the measurement position of the distance.

加えて、上述した実施例では、ガルバノスキャナ130からの光は、テレセントリック型fθレンズを用いて被加工対象物Wの上に収束させており、また、被加工対象物Wまでの距離を検出する際には、被加工対象物Wの表面で反射した光を検出することによって距離を検出している。このため、被加工対象物Wの表面上で距離を測定する位置によらず、常に同じ角度で光を照射して、常に同じ角度で反射した光を検出して距離を測定することができるので、距離に関する情報を正確に測定することができる。加えて、被加工対象物Wの加工時にも、加工用のレーザ光を表面に正確に集光させることができるだけでなく、表面に対して常に同じ角度で照射することができる。このため、距離を正確に測定可能なことと相俟って、加工精度を大きく向上させることができる。   In addition, in the above-described embodiment, the light from the galvano scanner 130 is converged on the workpiece W using a telecentric fθ lens, and the distance to the workpiece W is detected. At this time, the distance is detected by detecting light reflected from the surface of the workpiece W. For this reason, it is possible to measure the distance by always irradiating light at the same angle and always detecting the light reflected at the same angle regardless of the position where the distance is measured on the surface of the workpiece W. , Distance information can be measured accurately. In addition, when processing the workpiece W, not only the processing laser beam can be accurately focused on the surface, but also the surface can always be irradiated at the same angle. For this reason, combined with the fact that the distance can be measured accurately, the machining accuracy can be greatly improved.

更に、上述した実施例では、加工用のレーザ光の焦点位置を調整するビームエキスパンダ120の上流側から、距離測定用の光を、レーザ光の光軸に沿って入射するとともに、被加工対象物Wで反射した光の強度を、ピンホール154pと組合せた検出器154で検出することによって、被加工対象物Wまでの距離を検出している。こうすれば、加工用のレーザ光の焦点位置を調整するビームエキスパンダ120、その物を用いて、被加工対象物Wまでの距離を検出することができる。このため、距離の検出時に焦点位置を合わせた条件とほとんど同じ条件で、加工用のレーザ光を集光することができるので、被加工対象物Wの表面に正確にレーザ光を集光して、正確に加工することが可能となる。   Furthermore, in the above-described embodiment, the distance measurement light is incident along the optical axis of the laser light from the upstream side of the beam expander 120 that adjusts the focal position of the processing laser light, and the workpiece is processed. The distance to the workpiece W is detected by detecting the intensity of the light reflected by the object W with the detector 154 combined with the pinhole 154p. In this way, the distance to the workpiece W can be detected using the beam expander 120 that adjusts the focal position of the laser beam for processing, and the object. For this reason, since the laser beam for processing can be condensed under almost the same conditions as those for adjusting the focal position when detecting the distance, the laser beam is accurately condensed on the surface of the workpiece W. It becomes possible to process accurately.

D.変形例 :
上述した実施例には、幾つかの変形例が存在している。以下では、これらの変形例について簡単に説明する。
D. Modified example:
There are several variations in the embodiment described above. Hereinafter, these modified examples will be briefly described.

D−1.第1変形例 :
上述した実施例では、測定用のレーザ光を、ビームエキスパンダ120の上流側(レーザ光源110の側)から入射して、被加工対象物Wまでの距離に関する情報を取得するものとして説明した。しかし、測定用のレーザ光を、ビームエキスパンダ120の下流側(被加工対象物Wの側)から入射して、被加工対象物Wまでの距離を測定することも可能である。
D-1. First modification:
In the above-described embodiments, the measurement laser light is incident from the upstream side of the beam expander 120 (laser light source 110 side), and information on the distance to the workpiece W is acquired. However, it is also possible to measure the distance to the workpiece W by entering measurement laser light from the downstream side of the beam expander 120 (the workpiece W side).

図5は、第1変形例のレーザ加工機100の構造を示す説明図である。図示されているように、第1変形例のレーザ加工機100では、ビームエキスパンダ120の下流側にハーフミラー112が設けられている。そして、距離計150から出射された光は、ハーフミラー112で反射して、加工用のレーザ光の光軸上を通って、被加工対象物Wの表面に照射されるようになっている。また、被加工対象物Wの表面で反射した光は、加工用のレーザ光の光軸に沿って戻って来た後、ハーフミラー112で反射して、距離計150に導かれるようになっている。従って、第1変形例のレーザ加工機100では、加工用のレーザ光源110から出射されたレーザ光の光軸と、距離計150から出射された光の光軸とは、ハーフミラー112から被加工対象物Wの表面までの間が共通化されていることになる。   FIG. 5 is an explanatory diagram showing the structure of the laser beam machine 100 according to the first modification. As shown in the drawing, in the laser processing machine 100 of the first modification, a half mirror 112 is provided on the downstream side of the beam expander 120. The light emitted from the distance meter 150 is reflected by the half mirror 112, passes through the optical axis of the laser beam for processing, and is irradiated on the surface of the workpiece W. Further, the light reflected on the surface of the workpiece W returns along the optical axis of the laser beam for processing, and then is reflected by the half mirror 112 and guided to the distance meter 150. Yes. Therefore, in the laser beam machine 100 of the first modified example, the optical axis of the laser beam emitted from the processing laser light source 110 and the optical axis of the light emitted from the distance meter 150 are processed from the half mirror 112. The space up to the surface of the object W is shared.

図6は、第1変形例のレーザ加工機100において被加工対象物Wの表面までの距離を測定する原理を示した説明図である。第1変形例では、距離計150から被加工対象物Wの表面に向けてパルス光を発射して、表面で反射した光が戻ってくるまでにかかる時間を計測することによって、被加工対象物Wの表面までの距離を測定する。図6には、距離計150から発射されたパルス光が、ハーフミラー112で反射した後、レーザ光源110から出射される加工用のレーザ光の光軸上を、反射ミラー114、ガルバノスキャナ130、レンズ系140と進行して、被加工対象物Wの表面に照射される様子が模式的に示されている。そして、被加工対象物Wの表面で反射したパルス光は、再び同じ経路を通って、ハーフミラー112で反射して、距離計150で検出される。第1変形例の距離計150は、発射したパルス光が戻ってくるまでの時間を測定することによって、被加工対象物Wの表面までの距離を測定する。   FIG. 6 is an explanatory diagram showing the principle of measuring the distance to the surface of the workpiece W in the laser processing machine 100 of the first modification. In the first modification, the workpiece is fired by emitting pulsed light from the distance meter 150 toward the surface of the workpiece W and measuring the time taken for the light reflected on the surface to return. Measure the distance to the surface of W. In FIG. 6, after the pulsed light emitted from the distance meter 150 is reflected by the half mirror 112, on the optical axis of the processing laser light emitted from the laser light source 110, the reflecting mirror 114, the galvano scanner 130, A mode that it progresses with the lens system 140 and is irradiated to the surface of the workpiece W is schematically shown. Then, the pulsed light reflected from the surface of the workpiece W passes through the same path again, is reflected by the half mirror 112, and is detected by the distance meter 150. The distance meter 150 of the first modification measures the distance to the surface of the workpiece W by measuring the time until the emitted pulsed light returns.

このような第1変形例のレーザ加工機100においても、ハーフミラー112から被加工対象物Wの表面までの間では、レーザ光源110から出射される加工用のレーザ光の光軸と、距離計150から発射されるパルス光の光路とが一致している。このため、ガルバノスキャナ130によって加工用のレーザ光(あるいは測定用のパルス光)をどの位置に走査した場合でも、加工用のレーザ光が照射される位置までの距離を正確に測定することが可能である。加えて、第1変形例のレーザ加工機100においても、ガルバノスキャナ130で走査された光は、テレセントリック型fθレンズによって被加工対象物Wの表面に収束されている。このため、測定位置に拘わらず、被加工対象物Wの表面に対して常に同じ角度で(ほぼ直角に)パルス光を入射して、同じ角度で(ほぼ直角に)反射した光を検出することができるので、パルス光の強度をむやみに大きくしなくても、被加工対象物Wの表面までの距離を効率よく測定することが可能となる。   Also in the laser processing machine 100 of the first modified example, the optical axis of the processing laser beam emitted from the laser light source 110 and the distance meter between the half mirror 112 and the surface of the workpiece W. The optical path of the pulsed light emitted from 150 coincides. For this reason, it is possible to accurately measure the distance to the position where the processing laser light is irradiated, regardless of the position where the processing laser light (or measurement pulse light) is scanned by the galvano scanner 130. It is. In addition, also in the laser processing machine 100 of the first modified example, the light scanned by the galvano scanner 130 is converged on the surface of the workpiece W by the telecentric fθ lens. For this reason, regardless of the measurement position, pulse light is always incident on the surface of the workpiece W at the same angle (substantially at a right angle), and light reflected at the same angle (substantially at a right angle) is detected. Therefore, it is possible to efficiently measure the distance to the surface of the workpiece W without increasing the intensity of the pulsed light unnecessarily.

D−2.第2変形例 :
上述した実施例および変形例においては、加工用のレーザ光源110とは別に、距離測定用の光源を備えるものとして説明した。しかし、加工用のレーザ光源110から出射されるレーザ光を用いて、被加工対象物Wの表面までの距離を測定することとしてもよい。
D-2. Second modification:
In the above-described embodiments and modification examples, it has been described that a light source for distance measurement is provided separately from the laser light source 110 for processing. However, the distance to the surface of the workpiece W may be measured using laser light emitted from the processing laser light source 110.

図7は、第2変形例のレーザ加工機100の構造を示した説明図である。図示されるように、第2変形例のレーザ加工機100は、図1を用いて前述したレーザ加工機100に対して、レーザ光源110から出射されたレーザ光が、アッテネータ170を介してビームエキスパンダ120に入射している点のみが異なっている。ここで、アッテネータ170とは、レーザ光の光強度を減衰させる機能を有する光学部品である。   FIG. 7 is an explanatory view showing the structure of the laser beam machine 100 of the second modification. As shown in the figure, the laser beam machine 100 of the second modification is different from the laser beam machine 100 described above with reference to FIG. 1 in that the laser beam emitted from the laser light source 110 is transmitted through the attenuator 170 through the beam extractor. Only the point of incidence on the panda 120 is different. Here, the attenuator 170 is an optical component having a function of attenuating the light intensity of laser light.

被加工対象物Wの表面までの距離を測定する際には、表面が加工されない程度まで、アッテネータ170を用いてレーザ光の光強度を減衰させてから、ビームエキスパンダ120にレーザ光を入射する。こうして入射されたレーザ光は、前述したように、ハーフミラー112、ビームエキスパンダ120、反射ミラー114、ガルバノスキャナ130、レンズ系140を経由して、被加工対象物Wの表面に照射される。そして、表面で反射されたレーザ光は、同じ経路を逆に辿って、ハーフミラー112まで戻ってきた後、ハーフミラー112で反射されて距離計150で受光される。   When measuring the distance to the surface of the workpiece W, the light intensity of the laser beam is attenuated using the attenuator 170 to such an extent that the surface is not processed, and then the laser beam is incident on the beam expander 120. . As described above, the incident laser light is irradiated on the surface of the workpiece W through the half mirror 112, the beam expander 120, the reflection mirror 114, the galvano scanner 130, and the lens system 140. The laser light reflected on the surface traces the same path in reverse, returns to the half mirror 112, is reflected by the half mirror 112, and is received by the distance meter 150.

第2変形例の距離計150が被加工対象物Wの表面までの距離を測定する方法としては、受光した光強度が最大となる焦点位置を検出することにより、図2を用いて前述した原理を用いて距離を測定することができる。あるいは、図6に示した原理に従って、パルス光を発射してから、被加工対象物Wの表面で反射した光が戻ってくるまでの時間を計測してもよい。すなわち、レーザ光源110からパルス状のレーザ光を発射して、ビームエキスパンダ120、ハーフミラー112、反射ミラー114、ガルバノスキャナ130、レンズ系140を介して被加工対象物Wの表面を照射し、表面で反射したパルス光が同じ経路を逆に辿って距離計150まで戻ってくるまでに要する時間を計測することにより、被加工対象物Wの表面までの距離を測定することとしても良い。また、このようにパルス光が戻ってくるまでの時間を測定する場合には、ビームエキスパンダ120とガルバノスキャナ130との間に、ハーフミラー112および距離計150を設けてもよい。   As a method for the distance meter 150 of the second modification to measure the distance to the surface of the workpiece W, the principle described above with reference to FIG. 2 is detected by detecting the focal position where the received light intensity is maximum. Can be used to measure the distance. Alternatively, according to the principle shown in FIG. 6, the time from when the pulsed light is emitted until the light reflected by the surface of the workpiece W returns may be measured. That is, a pulsed laser beam is emitted from the laser light source 110, and the surface of the workpiece W is irradiated through the beam expander 120, the half mirror 112, the reflection mirror 114, the galvano scanner 130, and the lens system 140, The distance to the surface of the workpiece W may be measured by measuring the time required for the pulsed light reflected on the surface to return to the distance meter 150 by following the same path. Further, when measuring the time until the pulsed light returns in this way, the half mirror 112 and the distance meter 150 may be provided between the beam expander 120 and the galvano scanner 130.

このような第2変形例のレーザ加工機100においては、被加工対象物Wの加工時にレーザ光が照射される光軸と、被加工対象物Wの表面までの距離を測定する際の光軸とが完全に一致している。このため、何ら光軸調整を行わなくても、レーザ光を照射して加工する正確な位置までの距離を、常に正確に測定することができる。   In the laser beam machine 100 according to the second modified example, the optical axis on which the laser beam is irradiated when the workpiece W is machined, and the optical axis when measuring the distance to the surface of the workpiece W And are in perfect agreement. For this reason, it is possible to always accurately measure the distance to an accurate position to be processed by irradiating a laser beam without any optical axis adjustment.

加えて、反射ミラー114や、ハーフミラー112、ガルバノスキャナ130などでの反射率(あるいは透過率)や、ビームエキスパンダ120やテレセントリック型fθレンズなどで用いられている各種光学レンズの焦点距離は、実際には、光の波長の関数となっている。従って、厳密に言えば、加工用のレーザ光と異なる波長の光を用いて検出した距離情報には、光の波長に相当する誤差が含まれていることになる。しかし、第2変形例のレーザ加工機100では、加工用のレーザ光を減衰させて、被加工対象物Wまでの距離情報を検出しているので、光の波長の違いに起因する僅かな誤差も含まれることがない。その結果、被加工対象物Wの表面に極めて正確にレーザ光を集光させて、より一層適切に加工を行うことが可能となる。   In addition, the reflectance (or transmittance) of the reflection mirror 114, the half mirror 112, the galvano scanner 130, etc., and the focal length of various optical lenses used in the beam expander 120, the telecentric fθ lens, etc. In practice, it is a function of the wavelength of light. Therefore, strictly speaking, the distance information detected using light having a wavelength different from that of the processing laser light includes an error corresponding to the wavelength of the light. However, in the laser beam machine 100 according to the second modification, the processing laser light is attenuated and the distance information to the workpiece W is detected, so that a slight error due to the difference in the wavelength of the light is detected. Is not included. As a result, the laser beam can be focused on the surface of the workpiece W very accurately and processing can be performed more appropriately.

更に加えて、第2変形例のレーザ加工機100では、加工用のレーザ光源110の他には、何ら光源を備える必要がない。このため、レーザ加工機100の構造を簡単にすることができると同時に、レーザ加工機100をコンパクトにまとめることが可能となる。   In addition, the laser beam machine 100 according to the second modification need not include any light source other than the laser beam source 110 for processing. For this reason, the structure of the laser beam machine 100 can be simplified, and at the same time, the laser beam machine 100 can be made compact.

以上、本発明について各種の実施の形態を説明したが、本発明はこれに限定されるものではなく、各請求項に記載した範囲を逸脱しない限り、各請求項の記載文言に限定されず、当業者がそれらから容易に置き換えられる範囲にも及び、かつ、当業者が通常有する知識に基づく改良を適宜付加することができる。   While various embodiments of the present invention have been described above, the present invention is not limited thereto, and is not limited to the wording of each claim unless it departs from the scope described in each claim. Improvements based on the knowledge that a person skilled in the art normally has can also be added as appropriate to the extent that those skilled in the art can easily replace them.

本実施例のレーザ加工機100の構成を示した説明図である。It is explanatory drawing which showed the structure of the laser processing machine 100 of a present Example. 本実施例のレーザ加工機100に搭載された距離計150が被加工対象物Wの表面までの距離を測定する様子を示した説明図である。It is explanatory drawing which showed a mode that the distance meter 150 mounted in the laser beam machine 100 of a present Example measured the distance to the surface of the workpiece W. 本実施例のレーザ加工機100で行われるレーザ加工処理を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the laser processing performed with the laser processing machine 100 of a present Example. 加工形状データに沿ってレーザ光を走査しながら経路上の複数箇所で最適焦点位置のデータを測定する様子を示した説明図である。It is explanatory drawing which showed a mode that the data of an optimal focus position were measured in several places on a path | route, scanning a laser beam along process shape data. 第1変形例のレーザ加工機100の構造を示す説明図である。It is explanatory drawing which shows the structure of the laser beam machine 100 of a 1st modification. 第1変形例のレーザ加工機100において被加工対象物Wの表面までの距離を測定する原理を示した説明図である。It is explanatory drawing which showed the principle which measures the distance to the surface of the workpiece W in the laser processing machine 100 of a 1st modification. 第2変形例のレーザ加工機100の構造を示した説明図である。It is explanatory drawing which showed the structure of the laser beam machine 100 of a 2nd modification.

符号の説明Explanation of symbols

100…レーザ加工機、 110…レーザ光源、 112…ハーフミラー、
114…反射ミラー、 120…ビームエキスパンダ、
120調整量…ビームエキスパンダ、 130…ガルバノスキャナ、
140…レンズ系、 150…距離計、 152…レーザ光源、
154…検出器、 154p…ピンホール、 156…ハーフミラー、
160…制御部、 170…アッテネータ、 W…被加工対象物
DESCRIPTION OF SYMBOLS 100 ... Laser processing machine, 110 ... Laser light source, 112 ... Half mirror,
114 ... reflecting mirror, 120 ... beam expander,
120 adjustment amount ... beam expander, 130 ... galvano scanner,
140 ... Lens system, 150 ... Distance meter, 152 ... Laser light source,
154 ... Detector, 154p ... Pinhole, 156 ... Half mirror,
160 ... Control unit, 170 ... Attenuator, W ... Workpiece

Claims (6)

レーザ光源から出射されるレーザ光を被加工対象物の表面に照射することによって、該被加工対象物を加工するレーザ加工機において、
互いに異なる向きに回転可能な一対の反射ミラーを含んで構成され、該各々の反射ミラーの回転位置を制御することにより、前記レーザ光源からのレーザ光を、前記被加工対象物の表面上で二次元的に走査させるガルバノスキャナと、
前記被加工対象物の表面に加工すべき加工データを記憶しておく加工データ記憶手段と、
前記加工データに基づいて前記ガルバノスキャナを制御することにより、前記被加工対象物の表面上での照射位置を走査させる走査制御手段と、
前記ガルバノスキャナからのレーザ光を前記被加工対象物の上に収束させるレンズであって、該ガルバノスキャナが該レーザ光を走査することによる入射角度に関係なくレンズ中心軸に沿った出射角度でレーザ光を出射するfθレンズと、
前記レーザ光源と前記ガルバノスキャナとの間に設けられて、前記レーザ光のビーム径を変更することにより、前記fθレンズによって該レーザ光が収束される焦点位置を、該レーザ光の光軸方向に移動させる焦点位置移動手段と、
前記ガルバノスキャナよりも前段で、前記レーザ光の光軸と同軸上に光を入射し、前記被加工対象物の表面で反射して該レーザ光の光軸と同軸上に戻ってきた光を受光することにより、該被加工対象物の表面までの距離に関する距離情報を検出する距離情報検出手段と、
前記被加工対象物の加工に先立って、前記レーザ光の照射位置を走査させながら前記距離情報検出手段を用いて前記距離情報を検出することにより、該レーザ光を走査する経路上での該距離情報である距離情報データを生成する距離情報データ生成手段と、
前記焦点位置移動手段に前記距離情報データを供給して前記レーザ光の焦点位置を変更しながら、前記走査制御手段に前記加工データを供給して前記レーザ光を走査することにより、前記被加工対象物の表面を加工する表面加工手段と
を備えることを特徴とするレーザ加工機。
In a laser processing machine for processing a workpiece by irradiating the surface of the workpiece with laser light emitted from a laser light source,
A pair of reflecting mirrors that can be rotated in different directions is configured, and by controlling the rotational position of each reflecting mirror, two laser beams from the laser light source are generated on the surface of the workpiece. A galvano scanner to scan in dimension,
Machining data storage means for storing machining data to be machined on the surface of the workpiece;
Scanning control means for scanning the irradiation position on the surface of the object to be processed by controlling the galvano scanner based on the processing data;
A lens for converging laser light from the galvano scanner onto the workpiece, and a laser at an emission angle along the central axis of the lens regardless of an incident angle by the galvano scanner scanning the laser light. An fθ lens that emits light;
Provided between the laser light source and the galvano scanner and changing the beam diameter of the laser light, the focal position where the laser light is converged by the fθ lens is set in the optical axis direction of the laser light. A focal position moving means for moving;
In front of the galvano scanner, light is incident on the same axis as the optical axis of the laser beam, and is reflected on the surface of the workpiece and received back on the same axis as the optical axis of the laser beam. A distance information detecting means for detecting distance information related to the distance to the surface of the workpiece,
Prior to processing the workpiece, the distance on the path of scanning the laser light is detected by detecting the distance information using the distance information detecting means while scanning the irradiation position of the laser light. Distance information data generating means for generating distance information data as information;
While supplying the distance information data to the focal position moving means and changing the focal position of the laser light, the processing data is supplied to the scanning control means and the laser light is scanned, thereby the object to be processed A laser processing machine comprising: a surface processing means for processing a surface of an object.
請求項1に記載のレーザ加工機において、
前記距離情報検出手段は、前記焦点位置移動手段よりも前段で、前記レーザ光の光軸と同軸上に光を入射し、前記被加工対象物の表面で反射した光を該焦点位置移動手段を介して検出しながら、該焦点位置移動手段を用いて前記焦点位置を移動させることにより、該検出した光の強度が最大となる焦点位置を、前記距離情報として検出する手段であることを特徴とするレーザ加工機。
The laser beam machine according to claim 1, wherein
The distance information detecting means is a stage preceding the focal position moving means, and enters the light coaxially with the optical axis of the laser beam, and reflects the light reflected by the surface of the object to be processed. The focal position where the intensity of the detected light is maximized is detected as the distance information by moving the focal position using the focal position moving means. Laser processing machine.
請求項1または請求項2に記載のレーザ加工機において、
前記距離情報データ生成手段は、前記加工形状データに基づいて前記照射位置を走査させながら、前記距離情報検出手段を用いて前記距離情報を検出することにより、前記距離情報データを生成する手段であることを特徴とするレーザ加工機。
In the laser processing machine according to claim 1 or 2,
The distance information data generation means is means for generating the distance information data by detecting the distance information using the distance information detection means while scanning the irradiation position based on the machining shape data. A laser processing machine characterized by that.
請求項1ないし請求項3の何れか一項に記載のレーザ加工機において、
前記レーザ光源から出射されるレーザ光の強度を減衰させる光強度減衰手段を備え、
前記距離情報検出手段は、前記光強度減衰手段によって光強度が減衰された前記レーザ光を用いて、前記距離情報を検出する手段であることを特徴とするレーザ加工機。
In the laser beam machine according to any one of claims 1 to 3,
A light intensity attenuating means for attenuating the intensity of the laser light emitted from the laser light source;
The distance information detecting means is means for detecting the distance information using the laser light whose light intensity has been attenuated by the light intensity attenuating means.
請求項4に記載のレーザ加工機において、
前記光強度減衰手段は、前記レーザ光源から出射されたレーザ光を受け取ると、光強度を減衰させた該レーザ光を出射する手段であることを特徴とするレーザ加工機。
In the laser beam machine according to claim 4,
The laser beam machine according to claim 1, wherein the light intensity attenuating means is a means for emitting the laser light having the light intensity attenuated when receiving the laser light emitted from the laser light source.
請求項1ないし請求項5の何れか一項に記載のレーザ加工機において、
前記距離情報検出手段によって検出される前記距離情報が、前記焦点位置移動手段による前記焦点位置の移動可能な範囲から外れる場合には、該焦点位置が移動可能範囲外である旨を報知する報知手段を備えることを特徴とするレーザ加工機。
In the laser beam machine according to any one of claims 1 to 5,
Informing means for notifying that the focal position is outside the movable range when the distance information detected by the distance information detecting means is out of the movable range of the focal position by the focal position moving means. A laser processing machine comprising:
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