JP2010078357A - 端子試験装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】 端子の模擬試験の作業性を向上させることにある。
【解決手段】 所定の位置に固定される試験片1に、試験片1に当接させるようプローブ3を移動させる荷重器5を有してなり、一対の端子の接触状態を模擬する端子試験装置において、荷重器5は、試験片1に掛かる荷重を調整するバネ部材13と、プローブ3の移動方向に摺動可能に支持されプローブ3が装着される支持部材7を備え、支持部材7は、移動方向と直交する方向にプローブ3を脱着可能な溝21を有し、プローブを移動方向と直交する方向から装着し、又は、取り外す。
【選択図】 図1
【解決手段】 所定の位置に固定される試験片1に、試験片1に当接させるようプローブ3を移動させる荷重器5を有してなり、一対の端子の接触状態を模擬する端子試験装置において、荷重器5は、試験片1に掛かる荷重を調整するバネ部材13と、プローブ3の移動方向に摺動可能に支持されプローブ3が装着される支持部材7を備え、支持部材7は、移動方向と直交する方向にプローブ3を脱着可能な溝21を有し、プローブを移動方向と直交する方向から装着し、又は、取り外す。
【選択図】 図1
Description
本発明は、端子試験装置に係り、一対の端子の接触状態を模擬する端子試験装置に関する。
例えば、コネクタの端子同士の接続は、雄端子の先端部(以下、雄タブという)を雌端子に挿入し、雌端子に形成された断面が略山形状の弾性部材で弾性的に付勢することで、雄タブを弾性部材の頂部に当接させて保持し、端子を導通状態にすることが提案されている(例えば、特許文献1)。
このような端子の接続構造は、雄タブに掛かる弾性部材の荷重などにより接触抵抗が異なることから、実際の端子の接触状態に即した状態で、2つの試験片同士を加圧接触させて接触抵抗を測定し、このデータを端子の設計に反映させることが提案されている(例えば、特許文献2)。また、特許文献2には、一方の試験片に所定の荷重を加え、固定された他方の試験片と加圧接触させる試験装置が記載されている。
一方、コネクタの製造工程において、下方にコネクタを固定し、コネクタの上方に筒状のホルダを軸方向が上下となるよう摺動可能に支持させ、ホルダの軸方向下方からプローブをホルダにねじ込み、ホルダを下方に摺動させてプローブを移動して端子に接触させ、端子の導通状態などを検査する検査装置が提案されている(例えば、特許文献3)。また、特許文献3に記載の検査装置は、損傷などによるプローブの交換時は、ねじ込み方向と逆方向にプローブを回転させ、プローブの移動方向にプローブを抜き取るようにしている。
しかしながら、特許文献2に記載の技術は、試験片を交換することは何ら記載されていない。一方、特許文献3に記載の検査装置は、プローブを移動方向に抜き取ることから、コネクタを取り外すか、コネクタとプローブの間隔をプローブのねじ込み長さ以上に離してプローブ交換することになり、交換作業に時間が掛かり、検査などの作業性を向上できないという問題がある。
本発明が解決しようとする課題は、端子の模擬試験の作業性を向上させることにある。
上記課題を解決するため、本発明の端子試験装置は、所定の位置に固定される試験片に、試験片に当接させるよう押圧部材を移動させる荷重手段を有してなり、一対の端子の接触状態を模擬する端子試験装置において、荷重手段は、試験片に掛かる荷重を調整する調整手段と、押圧部材の移動方向に摺動可能に支持され押圧部材が装着される支持部材を備え、支持部材は、移動方向と直交する方向に押圧部材を脱着可能な溝を有することを特徴とする。
これによれば、荷重を掛けた試験片のへこみやメッキ剥がれの度合いなどから、実際の端子同士に掛かる荷重と接触状態の関係を推定でき、端子の設計を効率化できる。そして、押圧部材を、押圧部材の進行方向と直交する方向に装着し、又は、取り外しができることから、試験時の押圧部材と試験片の位置に近い状態で押圧部材の交換作業ができ、端子の模擬試験の作業性を向上できる。
この場合において、押圧部材は、押圧部材の移動方向と直交する方向から螺合されるネジ部材で支持部材に固定することができる。これによれば、押圧部材を固定するネジ部材を、移動方向と直交する方向から螺合できることから、押圧部材と試験片の間隔が狭い状態でも押圧部材を脱着しやすくでき、端子の模擬試験の作業性をより一層向上できる。
また、荷重手段を、軸方向を移動方向に沿って配置され、固定部材に螺合される円柱部材と、円柱部材に収容される弾性部材で構成し、円柱部材をねじ込み試験片に押圧部材を当接させて、試験片に掛かる荷重を弾性部材で調整できるようにすることができる。
本発明によれば、端子の模擬試験の作業性を向上できる。
以下、本発明を実施の形態に基づいて説明する。図1は本発明の一実施形態の端子試験装置の構造概念図であり、図2は支持部材を試験片側から見た図である。図示のように本実施形態の端子試験装置は、平板状の試験片1にプローブ3の先端4を当接させて、荷重器5で任意の荷重を加えて一対の端子の接触状態を模擬できるようになっている。本実施形態では、試験片1が雄タブに該当し、プローブ3の先端4が雌端子の略山形状の弾性部材の頂部に該当する。なお、試験片1とプローブ3の形状などは本実施形態に限定されず、試験片1を雌端子の弾性部材とし、プローブ3を雄タブとすることもできる。
試験片1は、雄タブを模擬した、例えば、銅合金をニッケルメッキした板状部材で、図示していない固定部材で所定の位置に固定されている。試験片1を押圧するプローブ3は、雌端子の弾性部材を模擬した、例えば、銅合金製の円柱状のプローブ3であり、軸方向の一端側に向かって先細りに形成されている。プローブ3は、円柱状の支持部材7に固定されている。
荷重器5は、固定部材9に螺合される円柱部材11と、試験片1に荷重を加えるバネ部材13により構成されている。固定部材9は、所定の位置に固定され、円柱部材11がネジにより螺合されている。円柱部材11の軸方向一端には、つまみ15が突出して形成されている。これにより、つまみ15を矢印16の方向及びその逆方向に回すことで、円柱部材11を矢印18の方向及びその逆方向に進退移動できるようになっている。
円柱部材11の軸中心には、バネ部材13を収容可能な断面円形の空洞19が形成されている。つまみ15と対向する側面には、バネ部材13を挿入可能な開口が形成されている。空洞19はバネ部材13を収容した状態で、挿入される支持部材7を軸方向に摺動可能に保持できるようになっている。空洞19の軸方向の長さは、バネ部材13の伸張方向の長さよりも長く形成され、支持部材7が抜け落ちないようになっている。なお、弾性部材はバネ部材13に限定されるものではなく、プローブ3を付勢できる部材を適宜選択できる。
次に、本実施形態の特徴構成について説明する。支持部材7には、プローブ3を軸方向と直交する方向に脱着可能な溝21が形成されている。すなわち、溝21は、支持部材7の外周面にプローブ3の径と同程度の幅の開口を有し、プローブ3を装着すべき長さを有して形成されている。支持部材7の外周面には、一対のねじ穴が対向して形成されている。この穴に螺合されるネジ部材23は、プローブ3との接触面が平面上に形成され、プローブ3を押圧して固定するようになっている。本実施形態のネジ部材23は、円柱状の外周面にネジ山を形成した、いわゆる、イモネジであるが、ネジ部材はこれに限定されるものではなく、適宜選択できる。
このように構成される端子試験装置の動作を説明する。つまみ15を矢印16方向に回して、円柱部材11を試験片1側(矢印18方向)に移動させてプローブ3の先端4を試験片1に接触させる。さらに、つまみ15を回転させてプローブ3を試験片1に押圧させ、試験片1からの反作用により支持部材7を円柱部材11の内部に摺動させてバネ部材13を縮める。このバネ部材13の反力によりプローブ3が試験片1に押圧され、端子の接触状態を模擬することができる。このつまみ15の回転角を調整して、バネ部材13の変位量を調整し、バネ部材13の反力を所定の値にすることで試験片1に任意の荷重を加えることができる。試験片1の観察は、例えば、試験片1に掛かる荷重を解除して、試験片1の接触位置を顕微鏡で拡大し、試験片1の当接面のへこみやメッキの剥がれ度合いを評価する。また、所定の時間放置して、試験片1の表面に酸化被膜を形成させ、この試験片1にプローブ3を当接させて試験片1とプローブ3間の接触抵抗などを測定する。このように、模擬試験を行うことにより、端子の設計精度を向上できる。
次に、本実施形態の端子試験装置の特徴動作を説明する。試験時にプローブ3の先端4に、例えば、異物が付着している場合、つまみ15を矢印16と逆方向に回転させ、試験片1に掛かる荷重を解除する。プローブ3の先端4を試験片1からわずかに離し、図3(a)に示すように、一対のネジ部材23をゆるめる。ネジ部材23を緩めたのち、図3(b)に示すようにプローブ3を矢印25の方向、すなわち、プローブ3の移動方向と直交する方向から抜き出す。プローブ3を抜き出したのち、新たなプローブを溝21に挿入してネジ部材23で締め付け固定する。
これによれば、プローブ3を、プローブ3の進行方向と直交する方向に脱着でき、試験時のプローブ3と試験片1の位置に近い状態でプローブ3の交換作業ができる。すなわち、プローブ3と試験片1の間隔を広げるための時間を短縮できることから、端子の模擬試験の作業性を向上できる。さらに、試験片1を取り外さずにプローブ3を交換できることから、試験を迅速に再開できる。
また、プローブ3をネジ部材23で押圧して固定することから、プローブ3の固定位置を調整でき、プローブ3の交換作業に掛かる時間をより一層短縮できる。例えば、図4に示すように、プローブ3を、プローブ3の後端側にプローブ3の内径と同程度の径の空間27を形成するよう装着する場合、プローブ3と試験片1が接触した状態でも、空間27側にプローブ3を移動させることで、試験片1から離すことできる。これによれば、プローブ3を試験片1から離す時間をより一層短縮できる。さらに、ネジ部材23を、移動方向と直交する方向から螺合できることから、プローブ3と試験片1の間隔が狭い状態でもプローブ3を脱着しやすくできる。
また、プローブ3を移動方向と直交する方向に脱着できることから、例えば、バネ部材13を過度の力で縮めて、プローブ3と試験片1の間に隙間を作る必要がなく、バネ部材13の破損を防止でき、また、作業工数を少なくできる。
また、プローブ3の移動方向が水平方向となるように、試験装置を横向きに設置することで、顕微鏡での観察やカメラなどによる撮影が容易となる。
また、試験片1の固定位置を、例えば、試験片1を中心にX、Y、Z方向に変えやすいことから、任意の位置にプローブ3の当接位置を決めることができる。
なお、荷重器5は、プローブ3を試験片1に当接させて所定の荷重を加えることができればよく、本実施形態の荷重器5に限定されるものではない。
また、支持部材7の摺動方向の動きを規制する規制部材を設けてもよい。
1 試験片
3 プローブ
5 荷重器
7 支持部材
13 バネ部材
21 溝
23 ネジ部材
3 プローブ
5 荷重器
7 支持部材
13 バネ部材
21 溝
23 ネジ部材
Claims (3)
- 所定の位置に固定される試験片に、該試験片に当接させるよう押圧部材を移動させる荷重手段を有してなり、一対の端子の接触状態を模擬する端子試験装置において、
前記荷重手段は、前記試験片に掛かる荷重を調整する調整手段と、前記押圧部材の移動方向に摺動可能に支持され前記押圧部材が装着される支持部材を備え、
該支持部材は、前記移動方向と直交する方向に前記押圧部材を脱着可能な溝を有することを特徴とする端子試験装置。 - 請求項1に記載の端子試験装置において、
前記押圧部材は、前記移動方向と直交する方向から螺合されるネジ部材により前記支持部材に固定されることを特徴とする端子試験装置。 - 請求項1に記載の端子試験装置において、
前記荷重手段は、軸方向を前記移動方向に沿って配置される円柱部材が螺合される固定部材と、前記円柱部材の軸中心に形成される溝に収容される弾性部材を備え、
前記支持部材の一部が前記溝に挿入され、前記円柱部材を前記固定部材にねじ込み前記押圧部材を前記試験片に当接させ、前記弾性部材で前記試験片に掛かる荷重を調整することを特徴とする端子試験装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008244349A JP2010078357A (ja) | 2008-09-24 | 2008-09-24 | 端子試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
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JP2010078357A true JP2010078357A (ja) | 2010-04-08 |
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JP2008244349A Pending JP2010078357A (ja) | 2008-09-24 | 2008-09-24 | 端子試験装置 |
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JP (1) | JP2010078357A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN106771415A (zh) * | 2017-02-22 | 2017-05-31 | 中国南方电网有限责任公司超高压输电公司昆明局 | 一种断路器试验用的夹式排接线试验插针 |
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2008
- 2008-09-24 JP JP2008244349A patent/JP2010078357A/ja active Pending
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