JP2010066688A

JP2010066688A - Surface potential measurement system and image forming apparatus

Info

Publication number: JP2010066688A
Application number: JP2008234900A
Authority: JP
Inventors: Ryuta Mine; 峯　　隆太
Original assignee: Canon Inc
Current assignee: Canon Inc
Priority date: 2008-09-12
Filing date: 2008-09-12
Publication date: 2010-03-25

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To achieve more accurate potential measurement by removing influence on the potential measurement of high voltage applied to an electrifying means and a developing means when measuring surface potential of a photoreceptor by using a potential sensor. <P>SOLUTION: A result of measurement by the potential sensor is corrected on the basis of a value of the voltage applied to the electrifying means and the developing means arranged near the potential sensor and the photoreceptor when measuring the surface potential of the photoreceptor by using the potential sensor. <P>COPYRIGHT: (C)2010,JPO&INPIT

Description

本発明は、像担持体の表面電位を検出する表面電位検知手段を有する画像形成装置に関する。 The present invention relates to an image forming apparatus having surface potential detecting means for detecting the surface potential of an image carrier.

従来、画像形成装置においては、画像品質を安定化させる為、電位センサ等により感光体の表面電位を測定し、その測定結果を基に、画像形成時の帯電高圧や現像高圧や露光強度の出力調整を行っている。 Conventionally, in an image forming apparatus, in order to stabilize the image quality, the surface potential of the photosensitive member is measured by a potential sensor or the like, and based on the measurement result, the charging high voltage, the developing high voltage, and the exposure intensity are output. Adjustments are being made.

図１０に従来の画像形成装置における感光ドラムの表面電位測定系のブロック図を示す。 FIG. 10 is a block diagram of a surface potential measurement system for a photosensitive drum in a conventional image forming apparatus.

図１０において、符号１は感光ドラム、符号８は感光ドラムの表面電位を測定する為の電位センサ、符号１０７は電位センサ８を制御する為の電位センサ制御部１０７、符号１１１は装置本体全体を制御するコントローラ１１１である。 In FIG. 10, reference numeral 1 denotes a photosensitive drum, reference numeral 8 denotes a potential sensor for measuring the surface potential of the photosensitive drum, reference numeral 107 denotes a potential sensor control unit 107 for controlling the potential sensor 8, and reference numeral 111 denotes an entire apparatus main body. It is the controller 111 to control.

図１０の動作について、図１１を用いて説明する。 The operation of FIG. 10 will be described with reference to FIG.

図１１において、コントローラ１１１より入力されるリモート信号がＯＮの状態になると、電位センサ８及び電位センサ制御部１０７の動作が開始される。 In FIG. 11, when the remote signal input from the controller 111 is turned on, the operation of the potential sensor 8 and the potential sensor control unit 107 is started.

まず、図示しない駆動回路により電位センサ８に駆動信号が入力される。すると、音叉型振動子８ｅが振動を開始し、その先端部が左右それぞれ、８ｃ、８ｄの矢印方向に振動する。 First, a drive signal is input to the potential sensor 8 by a drive circuit (not shown). Then, the tuning fork vibrator 8e starts to vibrate, and the tip portion thereof vibrates in the directions of arrows 8c and 8d, respectively.

一方、音叉型振動子８ｅが振動する事で、測定電極８ｆと感光ドラム１間の静電容量が周期的に変化Ｃ（ｔ）し、これにより測定電極８ｆの電荷量が変化し、この電荷量の変化を検出回路８ｇにおける検出抵抗ＲＳにて電圧に変換する事で、感光ドラム１と測定電極８ｆ間の電位差に比例した交流電圧信号を得ている。そして、それを増幅し、電位センサ制御部１０７へ出力している。 On the other hand, when the tuning fork vibrator 8e vibrates, the electrostatic capacitance between the measurement electrode 8f and the photosensitive drum 1 periodically changes C (t), thereby changing the charge amount of the measurement electrode 8f, and this charge. An AC voltage signal proportional to the potential difference between the photosensitive drum 1 and the measurement electrode 8f is obtained by converting the change in quantity into a voltage by the detection resistor RS in the detection circuit 8g. Then, it is amplified and output to the potential sensor control unit 107.

なお、電位センサ８を構成する各部は後述する高圧電源１０７ｂの出力（図１１中Ｈ点）を基準電位として動作している。 Each part constituting the potential sensor 8 operates with an output (point H in FIG. 11) of a high-voltage power supply 107b described later as a reference potential.

そして、電位センサ制御部１０７においては、検出回路８ｇからの出力である交流検出信号を元に、この交流検出信号の振幅がゼロとなる様に、高圧電源１０７ｂの出力を制御している。ここで、交流検出信号の振幅がゼロと言う状態は、音叉型振動子８ｅが振動し、測定電極８ｆと感光ドラム１間の静電容量が周期的に変化しているにもかかわらず、測定電極８ｆの電荷量が変化しない状態であり、この状態は、感光ドラム１の表面電位と測定電極８ｆの電位、つまり感光ドラム１の表面電位と高圧発生部１０７ｂの出力が同電位である事を意味している。これにより、感光ドラム１の表面電位を得る事が出来る。（ゼロメソッド）
電位センサ制御部１０７は、この時の高圧発生部１０７ｂの出力を図示しない検出出力信号生成部にて、例えば図１２に示す様な関係で変換しコントローラ１１１へ出力している
電位センサ制御部１０７の出力である検出値と感光ドラム１の表面電位との関係を図１２に示す。図１２の場合、電位センサ制御部１０７での測定結果が、−５０Ｖの時に検出出力信号生成部１０７ｃの出力が０Ｖであり、＋９００Ｖの時に検出出力信号生成部１０７ｃの出力が３．３Ｖになる様な、測定結果と検出値とがリニアな関係になっている。 The potential sensor control unit 107 controls the output of the high-voltage power supply 107b based on the AC detection signal output from the detection circuit 8g so that the amplitude of the AC detection signal becomes zero. Here, when the amplitude of the AC detection signal is zero, the tuning fork vibrator 8e vibrates and the capacitance between the measurement electrode 8f and the photosensitive drum 1 is periodically changed. This is a state in which the charge amount of the electrode 8f does not change. This state indicates that the surface potential of the photosensitive drum 1 and the potential of the measurement electrode 8f, that is, the surface potential of the photosensitive drum 1 and the output of the high voltage generator 107b are the same potential. I mean. Thereby, the surface potential of the photosensitive drum 1 can be obtained. (Zero method)
The potential sensor control unit 107 converts the output of the high voltage generation unit 107b at this time by a detection output signal generation unit (not shown), for example, in a relationship as shown in FIG. FIG. 12 shows the relationship between the detected value, which is the output of, and the surface potential of the photosensitive drum 1. In the case of FIG. 12, when the measurement result of the potential sensor control unit 107 is −50V, the output of the detection output signal generation unit 107c is 0V, and when the measurement result is + 900V, the output of the detection output signal generation unit 107c is 3.3V. Thus, the measurement result and the detected value have a linear relationship.

よって、コントローラ１１１は、電位センサ制御部１０７から入力された信号を図１２の関係に基づき換算する事で、感光ドラム１の表面電位情報を得る事ができる。そして、この情報を元に、画像形成時の帯電高圧や現像高圧の各出力値や、所定の濃度を得る為の露光強度の設定を行っている。
特許第３２２７３４５号公報 Therefore, the controller 111 can obtain the surface potential information of the photosensitive drum 1 by converting the signal input from the potential sensor control unit 107 based on the relationship shown in FIG. Based on this information, output values of charging high voltage and developing high voltage at the time of image formation and exposure intensity for obtaining a predetermined density are set.
Japanese Patent No. 3227345

しかしながら、近年、装置の小型化に伴い感光ドラム１が小径化しており、それに伴い、電位センサ８と、帯電ローラ２、現像器４それぞれとの距離が近づいてきている。 However, in recent years, the diameter of the photosensitive drum 1 has been reduced with the miniaturization of the apparatus, and accordingly, the distance between the potential sensor 8, the charging roller 2, and the developing device 4 has become closer.

その結果、帯電ローラ２や現像器４内の現像ローラに印加した高電圧が、電位センサ８と感光ドラム１間の電界に影響を及ぼしている。 As a result, the high voltage applied to the charging roller 2 and the developing roller in the developing device 4 affects the electric field between the potential sensor 8 and the photosensitive drum 1.

つまり、上記の様に感光ドラム１が小径化し、帯電ローラ２、現像器４が電位センサ８に近づいてくると、帯電ローラ２、現像器４に印加した高電圧により、電位センサ８での電位測定が影響を受け、その測定結果が真の値から外れてしまうと言う問題が発生する。 That is, as described above, when the diameter of the photosensitive drum 1 is reduced and the charging roller 2 and the developing device 4 approach the potential sensor 8, the potential at the potential sensor 8 is increased by the high voltage applied to the charging roller 2 and the developing device 4. The problem is that the measurement is affected and the measurement result deviates from the true value.

そして、電位センサ８による感光ドラム１の表面電位測定結果は、帯電高圧出力、現像高圧出力、露光装置光量調整等、画像形成における各パラメータ設定に用いられている為、電位測定結果が影響を受けるという事は、画像形成における各パラメータが影響を受けると言う事であり、結果として所望の濃度が得られなくなると言った問題が発生する。 The surface potential measurement result of the photosensitive drum 1 by the potential sensor 8 is used for setting each parameter in image formation, such as charging high voltage output, development high voltage output, exposure device light amount adjustment, etc., and therefore the potential measurement result is affected. This means that each parameter in image formation is affected, resulting in a problem that a desired density cannot be obtained.

上記問題を解決する為に、本発明においては、以下の構成を有する事を特徴とする画像形成装置であり、帯電高圧、現像高圧の各出力値に基づき電位センサ８による感光ドラム１の表面電位測定結果を補正する事で、より正確な感光ドラム１の表面電位測定が可能となり、結果として、画質の安定化が可能となる。 In order to solve the above problem, the present invention is an image forming apparatus having the following configuration, and the surface potential of the photosensitive drum 1 by the potential sensor 8 based on output values of charging high voltage and developing high voltage. By correcting the measurement result, the surface potential of the photosensitive drum 1 can be measured more accurately, and as a result, the image quality can be stabilized.

請求項１の発明は、
被測定対象（１）、前記被測定対象の表面電位を測定する為の表面電位測定装置（８、１０７）、前記被測定対象（１）と前記表面電位測定装置（８、１０７）の近傍に配置された高電圧印加部（２、４）、前記高電圧印加部（２、４）に高電圧を印加する為の高電圧電源（１０９、１０８）とで構成され、
前記表面電位測定装置（８、１０７）にて前記被測定対象（１）の表面電位を測定する際、前記高電圧印加部（２、４）に印加された高電圧を元に、前記表面電位測定装置での測定結果を補正する事を特徴とする表面電位測定システムである。 The invention of claim 1
The object to be measured (1), a surface potential measuring device (8, 107) for measuring the surface potential of the object to be measured, and in the vicinity of the object to be measured (1) and the surface potential measuring device (8, 107) A high voltage application unit (2, 4) arranged, a high voltage power source (109, 108) for applying a high voltage to the high voltage application unit (2, 4),
When measuring the surface potential of the measurement object (1) with the surface potential measuring device (8, 107), the surface potential is based on the high voltage applied to the high voltage application unit (2, 4). It is a surface potential measurement system characterized by correcting a measurement result in a measurement device.

請求項２の発明は、第１の発明において、
前記高電圧印加部（２、４）に印加された直流電圧を元に測定結果を補正する事を特徴とする表面電位測定システムである。 The invention of claim 2 is the first invention.
The surface potential measurement system is characterized in that a measurement result is corrected based on a DC voltage applied to the high voltage application unit (2, 4).

請求項３の発明は、第１、又は第２の発明において、
前記高電圧印加部（２、４）に印加された直流電圧と交流電圧とを元に測定結果を補正する事を特徴とする請求項１から２に記載の表面電位測定システム。 The invention of claim 3 is the first or second invention,
The surface potential measurement system according to claim 1, wherein the measurement result is corrected based on a DC voltage and an AC voltage applied to the high voltage application unit (2, 4).

請求項４の発明は、第１から第３のいずれかに記載の発明において、
前記高電圧電源（１０９、１０８）は外部からのコントロール信号によりその出力値が決定されており、前記表面電位測定装置（８、１０７）での測定結果を補正する際、前記コントロール信号の値を元に測定結果を補正する事を特徴とする事を特徴とする表面電位測定システムである。 The invention of claim 4 is the invention according to any one of the first to third aspects,
The output value of the high voltage power source (109, 108) is determined by an external control signal, and when the measurement result of the surface potential measuring device (8, 107) is corrected, the value of the control signal is set. This is a surface potential measurement system characterized by correcting the measurement result.

請求項５の発明は、第１から第４のいずれかに記載の発明において、
表面電位測定装置での測定結果を補正する際、オフセット電圧を補正する事を特徴とする表面電位測定システムである。 The invention of claim 5 is the invention according to any one of the first to fourth aspects,
A surface potential measurement system that corrects an offset voltage when correcting a measurement result in a surface potential measurement device.

請求項６の発明は、
感光体（１）、
前記感光体（１）を帯電させる為の帯電手段（２）、
第一のコントロール信号に応じた高電圧を前記帯電手段（２）に印加する為の第一の高圧電源（１０９）
画像信号に基づき前記感光体（１）を露光する為の露光手段（３）、
帯電した前記感光体（１）の表面電位を測定する為の電位センサ（８）、
前記電位センサ（８）を制御する制御部（１０７）、
前記露光手段（３）により前記感光体（１）上に形成された潜像を現像するための現像手段（４）、
第二のコントロール信号に応じた高電圧を前記現像手段（４）に印加する為の第二の高圧電源（１０８）とで構成され、
前記制御部は前記電位センサにて前記感光体の表面電位を測定する際、前記第一のコントロール信号、前記第二のコントロール信号に応じて電位測定の結果を補正する事を特徴とする画像形成装置である。 The invention of claim 6
Photoconductor (1),
Charging means (2) for charging the photoreceptor (1);
A first high-voltage power supply (109) for applying a high voltage corresponding to a first control signal to the charging means (2)
Exposure means (3) for exposing the photoreceptor (1) based on an image signal;
A potential sensor (8) for measuring the surface potential of the charged photoreceptor (1);
A control unit (107) for controlling the potential sensor (8);
Developing means (4) for developing the latent image formed on the photoreceptor (1) by the exposure means (3);
A second high voltage power source (108) for applying a high voltage corresponding to a second control signal to the developing means (4),
The control unit corrects the result of the potential measurement according to the first control signal and the second control signal when measuring the surface potential of the photoconductor with the potential sensor. Device.

請求項７の発明は、第６の発明において、
前記第一のコントロール信号は、少なくとも前記帯電手段（２）に印加する直流電圧値を決定しており、
前記第二のコントロール信号は、少なくとも前記現像手段（４）に印加する直流電圧値を決定している事を特徴とする記載の画像形成装置である。 The invention of claim 7 is the sixth invention, wherein
The first control signal determines at least a DC voltage value applied to the charging means (2),
The image forming apparatus according to claim 1, wherein the second control signal determines at least a DC voltage value to be applied to the developing means (4).

請求項８の発明は、第６の発明において、
前記第一のコントロール信号は、前記帯電手段（２）に印加する直流電圧値と交流電圧値とを決定しており、
前記第二のコントロール信号は、前記現像手段（４）に印加する直流電圧値と交流電圧値とを決定しており、
前記制御部（１０７）は、電位測定の結果を補正する際に、前記帯電手段（２）に印加する直流電圧値と交流電圧値と、前記現像手段（４）に印加する直流電圧値と交流電圧値とを元に補正する事を特徴とする画像形成装置である。 The invention of claim 8 is the sixth invention, wherein
The first control signal determines a DC voltage value and an AC voltage value applied to the charging means (2),
The second control signal determines a DC voltage value and an AC voltage value applied to the developing means (4),
The controller (107) corrects the result of the potential measurement by applying a DC voltage value and an AC voltage value applied to the charging unit (2), a DC voltage value applied to the developing unit (4), and an AC voltage. An image forming apparatus is characterized in that correction is performed based on a voltage value.

請求項９の発明は、第６から第８のいずれかに記載の発明において、
電位測定の結果を補正する際、オフセットを補正する事を特徴とする画像形成装置である。 The invention of claim 9 is the invention according to any one of the sixth to eighth aspects,
In the image forming apparatus, the offset is corrected when correcting the result of the potential measurement.

本発明によれば、電位センサ８での感光ドラム１の表面電位測定時に、帯電ローラ２、現像器４内の現像ローラに印加する高圧直流出力に基づき、表面電位測定結果を補正する事で、より正確な表面電位の測定が可能となる。 According to the present invention, when the surface potential of the photosensitive drum 1 is measured by the potential sensor 8, the surface potential measurement result is corrected based on the high-voltage DC output applied to the charging roller 2 and the developing roller in the developing device 4. A more accurate surface potential can be measured.

また、帯電ローラ２、現像器４内の現像ローラに印加する高圧直流出力、および高圧交流出力に基づき、表面電位測定結果を補正する事で、より正確な表面電位の測定が可能となる。 Further, by correcting the surface potential measurement result based on the charging roller 2, the high-voltage DC output applied to the developing roller in the developing device 4, and the high-voltage AC output, the surface potential can be measured more accurately.

そして、上記の様に、より正確な表面電位の測定が可能という事は、帯電ローラ２に印加する高電圧、さらに現像器４内の現像ローラに印加される高電圧、さらに潜像形成時の露光量など、画像形成に重要なパラメータを最適化する事が可能となると言う事であり、結果として、画質の安定化が可能となる。 As described above, the more accurate measurement of the surface potential is possible because the high voltage applied to the charging roller 2, the high voltage applied to the developing roller in the developing device 4, and the latent image formation This means that it is possible to optimize parameters such as exposure amount that are important for image formation. As a result, image quality can be stabilized.

次に、本発明の詳細を実施例の記述に従って説明する。 Next, details of the present invention will be described in accordance with the description of the embodiments.

以下に図面を参照して、本発明の好適な実施の形態を例示的に詳しく説明する。ただし、この実施の形態に記載されている構成部品の寸法、材質、形状、その相対配置などは、特に特定的な記載がない限りは、この発明の範囲をそれらのみに限定する趣旨のものではない。 Exemplary embodiments of the present invention will be described in detail below with reference to the drawings. However, the dimensions, materials, shapes, relative arrangements, and the like of the components described in this embodiment are not intended to limit the scope of the present invention only to those unless otherwise specified. Absent.

本発明の第１の実施例である画像形成装置としては、図６に示すような概略構成図のものがある。本例装置は電子写真プロセスの画像形成装置である。 The image forming apparatus according to the first embodiment of the present invention includes a schematic configuration diagram as shown in FIG. This apparatus is an image forming apparatus for an electrophotographic process.

図６において、１ａ〜１ｄは感光体、２ａ〜２ｄは１次帯電部、８ａ〜８ｄは電位センサ、３ａ〜３ｄは露光部、４ａ〜４ｄは現像部、５３ａ〜５３ｄは１次転写部、６ａ〜６ｄはクリーナー、５１は中間転写ベルト、５５は中間転写ベルトクリーナー、５６、５７は２次転写部である。 In FIG. 6, 1a to 1d are photosensitive members, 2a to 2d are primary charging units, 8a to 8d are potential sensors, 3a to 3d are exposure units, 4a to 4d are development units, 53a to 53d are primary transfer units, 6a to 6d are cleaners, 51 is an intermediate transfer belt, 55 is an intermediate transfer belt cleaner, and 56 and 57 are secondary transfer units.

１次帯電部によって感光体が一様に帯電された後、画像信号に応じた露光が露光部によってなされることにより、感光体上に静電潜像が形成される。電位センサ８ａ〜８ｄは、静電潜像の電位を測定する為に、露光−現像間に設けられている。 After the photosensitive member is uniformly charged by the primary charging unit, exposure according to the image signal is performed by the exposure unit, whereby an electrostatic latent image is formed on the photosensitive member. The potential sensors 8a to 8d are provided between exposure and development in order to measure the potential of the electrostatic latent image.

静電潜像は、その後、現像部によってトナー像が現像され、４個の感光体上のトナー像は転写部によって中間転写ベルトに多重転写され、更に２次転写部によって記録材Ｐに転写される。感光体上に残った転写残トナーはクリーナーによって、中間転写ベルトに残った転写残トナーは中間転写ベルトクリーナー５５によって回収される。記録材Ｐに転写されたトナー像は定着部７によって定着されることにより、カラー画像を得る。 The electrostatic latent image is then developed by the developing unit, and the toner images on the four photoconductors are transferred onto the intermediate transfer belt by the transfer unit, and further transferred to the recording material P by the secondary transfer unit. The The transfer residual toner remaining on the photoreceptor is recovered by a cleaner, and the transfer residual toner remaining on the intermediate transfer belt is recovered by an intermediate transfer belt cleaner 55. The toner image transferred to the recording material P is fixed by the fixing unit 7 to obtain a color image.

図１に本発明の第１の実施例である画像形成装置感光ドラム周辺部の構成例を示す。（図６における１ステーションのみを抜き出しており、本実施例の説明に不要な箇所は省略してある）
図１において１が感光ドラム１である。感光ドラム１の周囲には、帯電ローラ２、露光装置３、電位センサ８、現像器４、除電装置１１２などが配置されている。 FIG. 1 shows a configuration example of the periphery of the photosensitive drum of the image forming apparatus according to the first embodiment of the present invention. (Only one station in FIG. 6 is extracted, and portions unnecessary for the description of this embodiment are omitted.)
In FIG. 1, reference numeral 1 denotes a photosensitive drum 1. Around the photosensitive drum 1, a charging roller 2, an exposure device 3, a potential sensor 8, a developing device 4, a charge removal device 112 and the like are arranged.

帯電ローラ２には帯電高圧回路１０９により生成された帯電高圧出力が供給されて、感光ドラム１の表面を所定の電位で一様に帯電する。 A charging high voltage output generated by the charging high voltage circuit 109 is supplied to the charging roller 2 to uniformly charge the surface of the photosensitive drum 1 with a predetermined potential.

なお、帯電高圧回路１０９はコントローラ１１１からのコントロール値に基づき所定の帯電高圧出力を出力している。 The charging high voltage circuit 109 outputs a predetermined charging high voltage output based on a control value from the controller 111.

ここで、図２に帯電直流出力のコントロール値と帯電直流出力との関係の一例を示す。図２の場合は、コントロール値が０Ｖから１０Ｖの間で帯電直流出力が０Ｖから１０００Ｖまで変化する様な特性を有しており、例えば帯電直流出力に４００Ｖが必要な場合は、コントローラ１１１からコントロール値４Ｖが出力され、帯電高圧回路１０９に入力される。 Here, FIG. 2 shows an example of the relationship between the charging DC output control value and the charging DC output. In the case of FIG. 2, the charging DC output changes from 0V to 1000V when the control value is between 0V and 10V. For example, when 400V is required for the charging DC output, the controller 111 controls the charging DC output. The value 4V is output and input to the charging high voltage circuit 109.

よって、帯電高圧とコントロール信号の関係は、
Ｖｃｈ＝Ｖｃｎｔ（ＣＨ）ｘ１００と示す事が出来る。 Therefore, the relationship between the charging high voltage and the control signal is
It can be expressed as Vch = Vcnt (CH) x 100.

なお、現像器４に印加される高圧に関しても同様に、ある特性を有しており、コントローラ１１１からのコントロール電圧Ｖｃｎｔ（ＤＥＶ）に基づき所定の高圧出力が出力される構成となっている。 Similarly, the high voltage applied to the developing device 4 has certain characteristics, and a predetermined high voltage output is output based on the control voltage Vcnt (DEV) from the controller 111.

図１に戻って、露光装置３はレーザースキャナーおよび光学系で構成されており、図示しない画像信号に基づき、感光ドラム表面に静電潜像を形成する。 Returning to FIG. 1, the exposure apparatus 3 is composed of a laser scanner and an optical system, and forms an electrostatic latent image on the surface of the photosensitive drum based on an image signal (not shown).

電位センサ８は感光ドラムの表面電位を検知する為のセンサであり、電位センサ制御部１０７により制御され、電位センサ制御部１０７は検知結果をコントローラ１１１へ出力する。 The potential sensor 8 is a sensor for detecting the surface potential of the photosensitive drum and is controlled by the potential sensor control unit 107, and the potential sensor control unit 107 outputs the detection result to the controller 111.

現像器４は現像高圧回路１０７により生成された現像高圧出力が供給されることで、感光ドラム１上の静電潜像にトナーを付着させ可視像とする。 The developing device 4 is supplied with the development high-voltage output generated by the development high-voltage circuit 107, and attaches toner to the electrostatic latent image on the photosensitive drum 1 to form a visible image.

なお、現像高圧回路１０７はコントローラ１１１からのコントロール値に基づき所定の現像高圧出力を出力している。 The development high voltage circuit 107 outputs a predetermined development high voltage output based on a control value from the controller 111.

除電装置１１２は帯電ローラ２の感光ドラム１回転方向上流側に配置されており、感光ドラム１に残留している電荷を除電している。 The neutralization device 112 is disposed upstream of the charging roller 2 in the rotation direction of the photosensitive drum 1, and neutralizes the charge remaining on the photosensitive drum 1.

次に、電位センサ８と電位センサ制御部１０７に関し、図３を用いて説明する。 Next, the potential sensor 8 and the potential sensor control unit 107 will be described with reference to FIG.

図３に電位センサ８及びその制御部１０７の概略構成図を示す。 FIG. 3 shows a schematic configuration diagram of the potential sensor 8 and its control unit 107.

図３において、符号８が電位センサで８あり、符号１０７が電位センサ制御部１０７である。 In FIG. 3, reference numeral 8 is a potential sensor 8, and reference numeral 107 is a potential sensor control unit 107.

電位センサ８は、音叉型振動子８ｅ、音叉型振動子８ｅの両アームに配設された圧電素子８ａ、８ｂ（図３の場合、圧電素子８ｂが音叉型振動子８ｅを振動させる為の駆動用圧電素子８ｂであり、圧電素子８ａが音叉型振動子８ｅの振動を検出する為の検出用圧電素子８ａである）、測定電極８ｆ、検出回路８ｇで構成されている。 The potential sensor 8 is a piezoelectric element 8a, 8b disposed in both arms of the tuning fork vibrator 8e and the tuning fork vibrator 8e (in the case of FIG. 3, the piezoelectric element 8b is driven to vibrate the tuning fork vibrator 8e). Piezoelectric element 8b, and the piezoelectric element 8a is a detecting piezoelectric element 8a for detecting vibration of the tuning fork vibrator 8e), a measuring electrode 8f, and a detection circuit 8g.

一方、電位センサ制御部１０７は、制御部１０７ａ、高圧電源１０７ｂ、検出出力信号生成部１０７ｃ、駆動回路１０７ｄ、増幅回路１０７ｅで構成されている。なお、図３中、１は感光ドラム１である。 On the other hand, the potential sensor control unit 107 includes a control unit 107a, a high-voltage power supply 107b, a detection output signal generation unit 107c, a drive circuit 107d, and an amplification circuit 107e. In FIG. 3, reference numeral 1 denotes a photosensitive drum 1.

図３の動作について説明する。 The operation of FIG. 3 will be described.

外部より入力されるリモート信号がＯＮの状態になると、電位センサ８及び電位センサ制御部１０７の動作が開始される。まず、駆動回路１０７ｄが圧電素子８ｂに駆動信号を入力する。すると、音叉型振動子８ｅが振動を開始し、その先端部が左右それぞれ、８ｃ、８ｄの矢印方向に振動する。音叉型振動子８ｅが振動を開始すると、圧電素子８ａは、その振動を電気信号に変換し振動検出信号として出力する。駆動回路１０７ｄは駆動信号と振動検出信号の位相差が所定の値になる様に駆動信号の周波数を制御する。これにより音叉型振動子８ｅは共振状態で振動を継続する。一方、音叉型振動子８ｅが振動する事で、測定電極８ｆと感光ドラム1間の静電容量が周期的に変化し、これにより測定電極８ｆの電荷量が変化し、この電荷量の変化を検出回路８ｇで電圧に変換する事で、感光ドラム1と測定電極８ｆ間の電位差に比例した交流電圧信号を得る事が出来る。 When the remote signal input from the outside is turned on, the operation of the potential sensor 8 and the potential sensor control unit 107 is started. First, the drive circuit 107d inputs a drive signal to the piezoelectric element 8b. Then, the tuning fork vibrator 8e starts to vibrate, and its tip part vibrates in the directions of the arrows 8c and 8d, respectively. When the tuning fork vibrator 8e starts to vibrate, the piezoelectric element 8a converts the vibration into an electric signal and outputs it as a vibration detection signal. The drive circuit 107d controls the frequency of the drive signal so that the phase difference between the drive signal and the vibration detection signal becomes a predetermined value. As a result, the tuning fork vibrator 8e continues to vibrate in a resonance state. On the other hand, when the tuning fork vibrator 8e vibrates, the capacitance between the measurement electrode 8f and the photosensitive drum 1 periodically changes, thereby changing the charge amount of the measurement electrode 8f, and changing the charge amount. An AC voltage signal proportional to the potential difference between the photosensitive drum 1 and the measurement electrode 8f can be obtained by converting the voltage into voltage by the detection circuit 8g.

なお、電位センサ８を構成する各部は高圧電源１０７ｂの出力（図３中Ｈ点）を基準電位として動作している。 Each part of the potential sensor 8 operates with the output of the high voltage power source 107b (point H in FIG. 3) as a reference potential.

そして、制御部１０７ａにおいては、検出回路８ｇからの出力である交流検出信号を増幅回路１０７ｅで増幅して制御部１０７ａへ入力し、制御部１０７ａにおいては、この増幅された交流検出信号の振幅がゼロとなる様に、高圧電源１０７ｂの出力を制御している。 In the control unit 107a, the AC detection signal output from the detection circuit 8g is amplified by the amplification circuit 107e and input to the control unit 107a. In the control unit 107a, the amplitude of the amplified AC detection signal is The output of the high voltage power supply 107b is controlled so that it becomes zero.

ここで、交流検出信号の振幅がゼロと言う状態は、音叉型振動子８ｅが振動し、測定電極８ｆと感光ドラム１間の静電容量が周期的に変化しているにもかかわらず、測定電極８ｆの電荷量が変化しない状態であり、この状態は、感光ドラム１の表面電位と測定電極８ｆの電位、つまり感光ドラム１の表面電位と高圧発生部１０７ｂの出力が同電位である事を意味している。これにより、感光ドラム１の表面電位を得る事が出来る。 Here, when the amplitude of the AC detection signal is zero, the tuning fork vibrator 8e vibrates and the capacitance between the measurement electrode 8f and the photosensitive drum 1 is periodically changed. This is a state in which the charge amount of the electrode 8f does not change. This state indicates that the surface potential of the photosensitive drum 1 and the potential of the measurement electrode 8f, that is, the surface potential of the photosensitive drum 1 and the output of the high voltage generator 107b are the same potential. I mean. Thereby, the surface potential of the photosensitive drum 1 can be obtained.

電位センサ制御部１０７は、この時の高圧発生部１０７ｂの出力を図示しない検出出力信号生成部にて、例えば図１２に示す様な関係で変換し出力している。 The potential sensor control unit 107 converts the output of the high voltage generation unit 107b at this time by a detection output signal generation unit (not shown) according to a relationship as shown in FIG.

次に、帯電高圧１０９により高圧が印加された帯電ローラ２が電位センサ８の測定結果に及ぼす影響について説明する。 Next, the influence of the charging roller 2 to which a high voltage is applied by the charging high voltage 109 on the measurement result of the potential sensor 8 will be described.

先に説明した様に、電位センサ８は電位センサ制御部１０７により、感光ドラム１の表面電位と電位センサ８の電位が等しくなる様に制御され、その結果、感光ドラム１の表面電位を得る事が可能である。 As described above, the potential sensor 8 is controlled by the potential sensor control unit 107 so that the surface potential of the photosensitive drum 1 is equal to the potential of the potential sensor 8, and as a result, the surface potential of the photosensitive drum 1 is obtained. Is possible.

ここで、図１の様に、帯電ローラ２や現像器４など、高圧を印加された部位が電位センサ８に近づいてくると、電位センサ８と感光ドラム１間の電界に影響を及ぼし、その結果、電位センサ８と感光ドラム１の電位の釣り合いが取れるポイントがずれてしまう。つまりは、電位センサ８内の音叉型振動子８ｅが振動し、測定電極８ｆと感光ドラム１間の静電容量が周期的に変化しているにもかかわらず、測定電極８ｆの電荷量が変化しない状態がずれてしまい、その結果が電位測定のオフセット変動として現れる。 Here, as shown in FIG. 1, when a portion to which a high voltage is applied such as the charging roller 2 or the developing device 4 approaches the potential sensor 8, the electric field between the potential sensor 8 and the photosensitive drum 1 is affected. As a result, the point where the potential of the potential sensor 8 and the photosensitive drum 1 can be balanced is shifted. That is, the tuning fork vibrator 8e in the potential sensor 8 vibrates, and the charge amount of the measurement electrode 8f changes despite the capacitance between the measurement electrode 8f and the photosensitive drum 1 periodically changing. The state of not performing shifts, and the result appears as an offset variation in potential measurement.

次に、図４に帯電高圧と電位測定への影響の関係例を示す。 Next, FIG. 4 shows an example of the relationship between the charging high voltage and the influence on the potential measurement.

図４に示す様に、帯電高圧Ｖｄｃが０Vの際は、オフセットは０Vであるが、帯電高圧Ｖｄｃを上昇させると帯電高圧Ｖｄｃに比例してオフセットが上昇する。 As shown in FIG. 4, when the charging high voltage Vdc is 0V, the offset is 0V, but when the charging high voltage Vdc is increased, the offset increases in proportion to the charging high voltage Vdc.

つまり、電位測定への影響（オフセット）は、
Ｋ１１ｘＶｃｎｔ（ＣＨ）（Ｋ１１：帯電補正係数、Ｖｃｎｔ（ＣＨ）：帯電コントローラ信号電圧）
と示す事が出来る。 In other words, the influence (offset) on the potential measurement is
K11 x Vcnt (CH) (K11: charging correction coefficient, Vcnt (CH): charging controller signal voltage)
Can be shown.

また、図示していないが、現像高圧の場合も同様に、
Ｋ２１ｘＶｃｎｔ（ＤＥＶ）（Ｋ２１：現像補正係数、Ｖｃｎｔ（ＤＥＶ）：現像コントローラ信号電圧）
と示す事が出来る。 Although not shown in the figure, in the case of high development pressure,
K21 x Vcnt (DEV) (K21: development correction coefficient, Vcnt (DEV): development controller signal voltage)
Can be shown.

ここで、Ｋ１１（帯電補正係数）、Ｋ２１（現像補正係数）は、感光ドラム１の径や、電位センサ８と感光ドラム１との距離や、帯電ローラ２の径や、現像器４内の現像ローラの径や、さらには、電位センサ８と帯電ローラ２，現像ローラそれぞれの距離など、物理的な構成により決定する係数である。 Here, K11 (charging correction coefficient) and K21 (development correction coefficient) are the diameter of the photosensitive drum 1, the distance between the potential sensor 8 and the photosensitive drum 1, the diameter of the charging roller 2, and the development in the developing device 4. It is a coefficient determined by a physical configuration such as the diameter of the roller and the distance between the potential sensor 8 and the charging roller 2 and the developing roller.

そして、これら帯電高圧の影響と現像高圧の影響はそれぞれ独立して起こる現象の為、重ね合わせる事が可能であり、結果として、電位測定への影響（オフセット）をＶｏｆｆｓｅｔとすると、
Ｖｏｆｆｓｅｔ＝Ｋ１１ｘＶｃｎｔ（ＣＨ）＋Ｋ２１ｘＶｃｎｔ（ＤＥＶ）
と表す事ができる。 Since the effects of the charging high voltage and the development high voltage are phenomena that occur independently of each other, they can be overlapped. As a result, if the influence (offset) on the potential measurement is Voffset,
Voffset = K11 x Vcnt (CH) + K21 x Vcnt (DEV)
Can be expressed.

よって、実際に電位センサを用いて、感光体の表面電位を測定する際に、
測定結果-Ｖｏｆｆｓｅｔ
を算出する事で、帯電高圧、現像高圧の影響を取り除いた、真の感光体表面電位を得る事が可能となる。 Therefore, when actually measuring the surface potential of the photoreceptor using a potential sensor,
Measurement result-Voffset
By calculating the above, it is possible to obtain a true photoreceptor surface potential that eliminates the effects of charging high voltage and development high voltage.

次に上記関係を用いた、帯電高圧、現像高圧の影響によるオフセットの補正フローについて図５のフローチャートを用いて説明する。 Next, a correction flow of offset due to the influence of charging high voltage and development high voltage using the above relationship will be described with reference to the flowchart of FIG.

画像形成装置において、所望の画質を維持する為に、帯電高圧や現像高圧の出力を最適値に修正するタイミング等、感光ドラムの表面電位を測定する必要が発生した場合、最初に電位センサのリモートをONにする。（Ｓ５０１）
次に、電位測定を行う際の、帯電高圧出力の設定値を確認する。（Ｓ５０２）
さらに、電位測定を行う際の、現像高圧出力の設定値を確認する。（Ｓ５０３）
次はＳ５０２、Ｓ５０３にて確認した帯電高圧、現像高圧の各出力値と、予め決められた補正係数Ｋ１１（帯電補正係数）、Ｋ２１（現像補正係数）を用いて、
オフセット補正値Ｖｏｆｆｓｅｔ＝Ｋ１１ｘＶｃｎｔ（ＣＨ）＋Ｋ２１ｘＶｃｎｔ（ＤＥＶ）
に基づき、オフセット補正値を算出する。（Ｓ５０４）
オフセット補正値が決定すると、実際に感光体の表面電位を測定する。 In the image forming apparatus, if it is necessary to measure the surface potential of the photosensitive drum, such as the timing for correcting the output of the charging high voltage and the developing high voltage to the optimum value in order to maintain the desired image quality, the remote of the potential sensor is first used. Set to ON. (S501)
Next, the set value of the charged high voltage output when measuring the potential is confirmed. (S502)
Further, the set value of the development high voltage output when performing the potential measurement is confirmed. (S503)
Next, using the respective charging high voltage and developing high voltage output values confirmed in S502 and S503, and predetermined correction coefficients K11 (charging correction coefficient) and K21 (developing correction coefficient),
Offset correction value Voffset = K11 x Vcnt (CH) + K21 x Vcnt (DEV)
Based on the above, an offset correction value is calculated. (S504)
When the offset correction value is determined, the surface potential of the photoreceptor is actually measured.

その際、Ｓ５０２で確認した帯電高圧出力にて感光体を帯電させ、さらに所定の光量でレーザーを発光させて表面電位を変化させると同時に、Ｓ５０３で確認した現像高圧出力もONにしておく。（Ｓ５０５）
表面電位の測定が完了すると、Ｓ５０５で得た測定結果から、Ｓ５０４にて算出した、オフセット補正値を減じて電位測定結果を補正する。（Ｓ５０６）
この補正した結果、ドラム電位＝（電位測定結果−Ｖｏｆｆｓｅｔ）
が、真のドラム電位となり、同時に電位センサのリモートをOFFにする。（Ｓ５０７）
そして、装置は帯電高圧、現像高圧の影響によるオフセット値を補正した真の感光ドラム表面電位を得る事が出来る。 At that time, the photosensitive member is charged with the charging high-voltage output confirmed in S502, and the surface potential is changed by emitting a laser with a predetermined light amount. At the same time, the development high-voltage output confirmed in S503 is also turned ON. (S505)
When the measurement of the surface potential is completed, the potential measurement result is corrected by subtracting the offset correction value calculated in S504 from the measurement result obtained in S505. (S506)
As a result of this correction, drum potential = (potential measurement result−Voffset)
Becomes the true drum potential, and at the same time the potential sensor remote is turned off. (S507)
The apparatus can obtain a true photosensitive drum surface potential in which the offset value due to the influence of the charging high voltage and the developing high voltage is corrected.

以上、説明した様に、電位センサ８にて感光ドラム１の表面電位を測定する際に、その際、出力している帯電高圧、現像高圧のコントロール値に基づき算出したオフセット補正値を用いて電位測定結果を補正する事で、より正確な感光ドラム１の表面電位情報を得る事が可能となる。 As described above, when the surface potential of the photosensitive drum 1 is measured by the potential sensor 8, the potential is calculated using the offset correction value calculated based on the control values of the charging high voltage and the developing high voltage that are output at that time. By correcting the measurement result, more accurate surface potential information of the photosensitive drum 1 can be obtained.

そして、装置の状態における最適な画像形成条件（画像形成時の帯電高圧出力、現像高圧出力、露光強度）を決定する際に行う感光ドラム１の表面電位測定時（電位制御）に、上記補正を行う事で、より最適な画像形成条件の設定が可能となり、結果として装置が出力する画像の品質を高品質に維持する事が可能となる。 The above correction is performed when measuring the surface potential (potential control) of the photosensitive drum 1 when determining the optimum image forming conditions (charging high-voltage output, development high-voltage output, exposure intensity during image formation) in the state of the apparatus. By doing so, it is possible to set a more optimal image forming condition, and as a result, it is possible to maintain the quality of the image output from the apparatus at a high quality.

本発明に係る画像形成装置システムの第二の実施形態について図面を参照して説明する。 A second embodiment of the image forming apparatus system according to the present invention will be described with reference to the drawings.

図７〜図９に於いて前述の従来例の図１０〜図１２及び第一の実施形態の図１〜図６と同一ないし相当する部材には同一符号を付し、その説明は省略するものとする。 7 to 9, the same or corresponding members as those in FIGS. 10 to 12 of the conventional example and FIGS. 1 to 6 of the first embodiment are denoted by the same reference numerals, and the description thereof is omitted. And

第二の実施形態は、帯電高圧または現像高圧の直流成分と交流成分の両方を元に補正する場合の実施形態である。 The second embodiment is an embodiment in the case where correction is made based on both the DC component and AC component of the charging high voltage or the developing high voltage.

帯電高圧もしくは現像高圧に交流成分を有する場合、そのＡＣ成分のＶｐｐによっても電位測定への影響が出てしまう。 When the charging high voltage or development high voltage has an AC component, the AC component Vpp also affects the potential measurement.

その影響は、直流電圧と交流電圧の組み合わせで決定する為、予め各組み合わせでのオフセット補正値をデータとして有しておき、電位測定の際の、各高圧の直流電圧Ｖｄｃと交流電圧Ｖｐｐに基づきルックアップテーブル（ＬＵＴ）を参照しオフセット補正値を決定する場合の形態である。 Since the influence is determined by the combination of the DC voltage and the AC voltage, the offset correction value for each combination is previously stored as data, and the voltage is measured based on the high-voltage DC voltage Vdc and AC voltage Vpp at the time of potential measurement. This is a mode in which an offset correction value is determined with reference to a lookup table (LUT).

次に上記関係を用いた、帯電高圧、現像高圧の影響によるオフセットの補正フローについて図７のフローチャートを用いて説明する。 Next, an offset correction flow due to the influence of charging high voltage and development high voltage using the above relationship will be described with reference to the flowchart of FIG.

まず、画像形成装置において、所望の画質を維持する為に、帯電高圧や現像高圧の出力を最適値に修正するタイミング等、感光ドラムの表面電位を測定する必要が発生した場合、電位センサのリモートをONにする。（Ｓ７０１）
次に、電位測定を行う際の、帯電高圧出力の直流出力、交流出力の設定値を確認し、ＬＵＴに基づき、オフセット補正値Ｖｏｆｆ（ＣＨ）を決定する。（Ｓ７０２）
図８に帯電高圧出力の直流出力と交流出力の設定値とオフセット補正値のＬＵＴの例を示す。 First, in the image forming apparatus, when it is necessary to measure the surface potential of the photosensitive drum, such as the timing for correcting the output of the charging high voltage or the development high voltage to an optimum value in order to maintain the desired image quality, Set to ON. (S701)
Next, the set values of the DC output and AC output of the charging high voltage output when measuring the potential are confirmed, and the offset correction value Voff (CH) is determined based on the LUT. (S702)
FIG. 8 shows an example of the LUT for the set value of the DC output of the charging high voltage output, the AC output and the offset correction value.

図８の様に、直流出力は１００Ｖ単位、交流出力は２００Ｖ単位で区切られており、例えば、直流出力４５０Ｖで交流出力１３００Ｖの場合は、Ｍ０６０４に格納されたオフセット補正値が選択される。 As shown in FIG. 8, the direct current output is divided in units of 100V and the alternating current output is divided in units of 200V. For example, when the direct current output is 450V and the alternating current output is 1300V, the offset correction value stored in M0604 is selected.

なお、表のそれぞれのセル（Ｍ＊＊＊＊）には、装置の構成により予め決められた所定のオフセット補正値が設定されている。 Each cell (M ***) in the table is set with a predetermined offset correction value determined in advance by the configuration of the apparatus.

なお、このオフセット補正値は、感光ドラム１の径や、電位センサ８と感光ドラム１との距離、帯電ローラの径や電位センサ８と帯電ローラとの位置関係など、装置の物理的な構成により決定される為、予め最適な補正値を決定しておく必要が有る。 The offset correction value depends on the physical configuration of the apparatus, such as the diameter of the photosensitive drum 1, the distance between the potential sensor 8 and the photosensitive drum 1, the diameter of the charging roller, and the positional relationship between the potential sensor 8 and the charging roller. Therefore, it is necessary to determine an optimal correction value in advance.

さらに、電位測定を行う際の、現像高圧出力の直流出力、交流出力の設定値を確認し、ＬＵＴに基づき、オフセット補正値Ｖｏｆｆ（ＤＥＶ）を決定する。（Ｓ７０３）
図９に現像高圧出力の直流出力と交流出力とオフセット補正値のＬＵＴの例を示す。 Further, the setting values of the DC output and AC output of the development high-voltage output when measuring the potential are confirmed, and the offset correction value Voff (DEV) is determined based on the LUT. (S703)
FIG. 9 shows an example of the LUT of the development high voltage output DC output, AC output, and offset correction value.

基本的に図８と同じように、直流出力と交流出力の設定値を元にオフセット補正値が選択される。 Basically, as in FIG. 8, the offset correction value is selected based on the set values of the DC output and the AC output.

なお、このオフセット補正値は、感光ドラム１の径や、電位センサ８と感光ドラム１との距離、現像ローラの径や電位センサ８と現像ローラとの位置関係など、装置の物理的な構成により決定される為、予め最適な補正値を決定しておく必要が有る。 The offset correction value depends on the physical configuration of the apparatus, such as the diameter of the photosensitive drum 1, the distance between the potential sensor 8 and the photosensitive drum 1, the diameter of the developing roller, and the positional relationship between the potential sensor 8 and the developing roller. Therefore, it is necessary to determine an optimal correction value in advance.

次はＳ７０２、Ｓ７０３にて決定した帯電オフセット補正値Ｖｏｆｆ（ＣＨ）と、現像オフセット補正値Ｖｏｆｆ（ＤＥＶ）に基づき、オフセット補正値を算出する。（Ｓ７０４）
ここで、帯電高圧の影響と現像高圧の影響はそれぞれ独立して起こる現象の為、重ね合わが可能であり、両高圧の影響によるオフセット補正値Ｖｏｆｆは、Ｖｏｆｆ（ＣＨ）＋Ｖｏｆｆ（ＤＥＶ）により算出できる。 Next, an offset correction value is calculated based on the charging offset correction value Voff (CH) determined in S702 and S703 and the development offset correction value Voff (DEV). (S704)
Here, since the influence of the charging high voltage and the influence of the development high pressure occur independently, they can be overlapped, and the offset correction value Voff due to the influence of both high voltages can be calculated by Voff (CH) + Voff (DEV). .

オフセット補正値が決定すると、実際に感光体の表面電位を測定する。 When the offset correction value is determined, the surface potential of the photoreceptor is actually measured.

その際、Ｓ７０２で確認した帯電高圧出力にて感光体を帯電させ、さらに所定の光量でレーザーを発光させて表面電位を変化させると同時に、Ｓ７０３で確認した現像高圧出力もONにしておく。（Ｓ７０５）
表面電位の測定が完了すると、Ｓ７０５で得た測定結果から、Ｓ７０４にて算出した、オフセット補正値減じて電位測定結果を補正する。（Ｓ７０６）
この補正した結果、ドラム電位＝電位測定結果−オフセット補正値Ｖｏｆｆ
が、真のドラム電位となり、同時に電位センサのリモートをOFFにする。（Ｓ７０７）
そして、装置は帯電高圧、現像高圧の影響によるオフセット値を補正した真の感光ドラム表面電位を得る事が出来る。 At that time, the photosensitive member is charged with the charging high-voltage output confirmed in S702, and the surface potential is changed by emitting a laser with a predetermined light amount. At the same time, the development high-voltage output confirmed in S703 is also turned ON. (S705)
When the measurement of the surface potential is completed, the potential measurement result is corrected by subtracting the offset correction value calculated in S704 from the measurement result obtained in S705. (S706)
As a result of this correction, drum potential = potential measurement result−offset correction value Voff.
Becomes the true drum potential, and at the same time the potential sensor remote is turned off. (S707)
The apparatus can obtain a true photosensitive drum surface potential in which the offset value due to the influence of the charging high voltage and the developing high voltage is corrected.

以上、説明した様に、電位センサ８にて感光ドラム１の表面電位を測定する際に、その際、出力している帯電高圧の直流出力、交流出力、現像高圧の直流出力、交流出力に基づき算出したオフセット補正値を用いて電位測定結果を補正する事で、より正確な感光ドラム１の表面電位情報を得る事が可能となる。 As described above, when the surface potential of the photosensitive drum 1 is measured by the potential sensor 8, the charging high-voltage DC output, AC output, development high-voltage DC output, and AC output are output at that time. By correcting the potential measurement result using the calculated offset correction value, more accurate surface potential information of the photosensitive drum 1 can be obtained.

そして、装置の状態における最適な画像形成条件（画像形成時の帯電高圧出力、現像高圧出力、露光強度）を決定する際に行う感光ドラム１の表面電位測定時（電位制御）に、上記補正を行う事で、より最適な画像形成条件の設定が可能となり、結果として装置が出力する画像の品質を高品質に維持する事が可能となる。 Then, the above correction is performed at the time of measuring the surface potential of the photosensitive drum 1 (potential control) performed when determining the optimum image forming conditions (charging high voltage output, development high voltage output, exposure intensity) at the time of image formation. By doing so, it is possible to set a more optimal image forming condition, and as a result, it is possible to maintain the quality of the image output from the apparatus at a high quality.

なお、上述した帯電高圧、現像高圧の直流出力と交流出力に基づいたオフセット補正に関して、帯電高圧、現像高圧における交流成分の周波数も可変する場合においても、その周波数に応じて予め複数のＬＵＴを有しておき、選択した周波数に応じたＬＵＴに基づきオフセット補正値を選定する事で、より正確な感光ドラム１の表面電位情報を得る事が可能となる。 In addition, regarding the offset correction based on the charging high voltage and development high voltage DC output and AC output described above, even when the frequency of the AC component at the charging high voltage and development high voltage is variable, a plurality of LUTs are provided in advance according to the frequency. In addition, more accurate surface potential information of the photosensitive drum 1 can be obtained by selecting the offset correction value based on the LUT corresponding to the selected frequency.

本発明の第一の実施形態に係る画像形成装置の概要を説明する図1 is a diagram illustrating an overview of an image forming apparatus according to a first embodiment of the present invention. 図１の画像形成装置における、帯電直流出力の特性を示す図The figure which shows the characteristic of the charging DC output in the image forming apparatus of FIG. 図１の画像形成装置における電位センサ、電位センサ制御部の概要を説明する図1 is a diagram illustrating an outline of a potential sensor and a potential sensor control unit in the image forming apparatus of FIG. 図１の画像形成装置における、帯電、現像高圧の電位測定への影響を説明する図1 is a diagram for explaining the influence of charging and developing high voltage on potential measurement in the image forming apparatus of FIG. 図１の画像形成装置における、オフセット補正のフローチャートFlowchart of offset correction in the image forming apparatus of FIG. 画像形成装置の概略構成図の一例を説明する図The figure explaining an example of schematic structure figure of an image forming device 本発明の第二の実施形態におけるオフセット補正のフローチャートFlowchart of offset correction in the second embodiment of the present invention 本発明の第二の実施形態における帯電高圧の影響よるオフセット補正値のＬＵＴLUT of offset correction value due to influence of charging high voltage in the second embodiment of the present invention 本発明の第二の実施形態における現像高圧の影響よるオフセット補正値のＬＵＴLUT of offset correction value due to influence of development high pressure in the second embodiment of the present invention 従来の画像形成装置の画像形成装置の概要を説明する図The figure explaining the outline | summary of the image forming apparatus of the conventional image forming apparatus 従来の画像形成装置における電位センサ、電位センサ制御部の概要を説明する図The figure explaining the outline | summary of the electric potential sensor and electric potential sensor control part in the conventional image forming apparatus. 従来の電位センサ制御部の検出出力信号生成部の特性を示す図The figure which shows the characteristic of the detection output signal generation part of the conventional potential sensor control part

符号の説明Explanation of symbols

１感光ドラム
２帯電ローラ
３露光装置
４現像器
８電位センサ
１０７電位センサ制御部
１０７ａ制御部
１０７ｂ高圧電源部
１０７ｃ分圧出力部
１０７ｄ駆動回路
１０７ｅ増幅回路
１０８現像高圧部
１０９帯電高圧部
１１１コントローラ DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Photosensitive drum 2 Charging roller 3 Exposure apparatus 4 Developer 8 Electric potential sensor 107 Electric potential sensor control part 107a Control part 107b High voltage power supply part 107c Divided voltage output part 107d Drive circuit 107e Amplifying circuit 108 Development high voltage part 109 Charging high voltage part 111 Controller

Claims

被測定対象と、前記被測定対象の表面電位を測定する為の表面電位測定装置と、前記被測定対象と前記表面電位測定装置の近傍に配置された高電圧印加部と、前記高電圧印加部に高電圧を印加する為の高電圧電源とで構成され、
前記表面電位測定装置にて前記被測定対象の表面電位を測定する際、前記高電圧印加部に印加された高電圧を元に、前記表面電位測定装置での測定結果を補正する事を特徴とする表面電位測定システム。 An object to be measured, a surface potential measuring device for measuring a surface potential of the object to be measured, a high voltage applying unit disposed in the vicinity of the object to be measured and the surface potential measuring device, and the high voltage applying unit It consists of a high voltage power supply for applying a high voltage to
When measuring the surface potential of the object to be measured by the surface potential measuring device, the measurement result of the surface potential measuring device is corrected based on the high voltage applied to the high voltage applying unit. Surface potential measurement system.

前記高電圧印加部に印加された直流電圧を元に測定結果を補正する事を特徴とする請求項１に記載の表面電位測定システム。 The surface potential measurement system according to claim 1, wherein the measurement result is corrected based on a DC voltage applied to the high voltage application unit.

前記高電圧印加部に印加された直流電圧と交流電圧とを元に測定結果を補正する事を特徴とする請求項１、又は請求項２に記載の表面電位測定システム。 The surface potential measurement system according to claim 1, wherein the measurement result is corrected based on a DC voltage and an AC voltage applied to the high voltage application unit.

前記高電圧電源は外部からのコントロール信号によりその出力値が決定されており、前記表面電位測定装置での測定結果を補正する際、前記コントロール信号の値を元に測定結果を補正する事を特徴とする請求項１から請求項３のいずれかに記載の表面電位測定システム。 The output value of the high-voltage power supply is determined by an external control signal, and when correcting the measurement result by the surface potential measuring device, the measurement result is corrected based on the value of the control signal. The surface potential measurement system according to any one of claims 1 to 3.

表面電位測定装置での測定結果を補正する際、オフセット電圧を補正する事を特徴とする請求項１から請求項４のいずれかに記載の表面電位測定システム。 5. The surface potential measurement system according to claim 1, wherein the offset voltage is corrected when the measurement result obtained by the surface potential measurement device is corrected.

感光体と、
前記感光体を帯電させる為の帯電手段と、
第一のコントロール信号に応じた高電圧を前記帯電手段に印加する為の第一の高圧電源と、
画像信号に基づき前記感光体を露光する為の露光手段と、
帯電した前記感光体の表面電位を測定する為の電位センサと、
前記電位センサを制御する制御部と、
前記露光手段により前記感光体上に形成された潜像を現像するための現像手段と、
第二のコントロール信号に応じた高電圧を前記現像手段に印加する為の第二の高圧電源とで構成され、
前記制御部は前記電位センサにて前記感光体の表面電位を測定する際、前記第一のコントロール信号と前記第二のコントロール信号に応じて電位測定の結果を補正する事を特徴とする画像形成装置。 A photoreceptor,
Charging means for charging the photoreceptor;
A first high-voltage power supply for applying a high voltage corresponding to the first control signal to the charging means;
Exposure means for exposing the photoreceptor based on an image signal;
A potential sensor for measuring the surface potential of the charged photoreceptor;
A control unit for controlling the potential sensor;
Developing means for developing the latent image formed on the photoreceptor by the exposure means;
A second high voltage power source for applying a high voltage corresponding to the second control signal to the developing means;
The control unit corrects the result of the potential measurement according to the first control signal and the second control signal when measuring the surface potential of the photoconductor with the potential sensor. apparatus.

前記第一のコントロール信号は、少なくとも前記帯電手段に印加する直流電圧値を決定しており、
前記第二のコントロール信号は、少なくとも前記現像手段に印加する直流電圧値を決定している事を特徴とする請求項６に記載の画像形成装置。 The first control signal determines at least a DC voltage value applied to the charging means,
The image forming apparatus according to claim 6, wherein the second control signal determines at least a DC voltage value to be applied to the developing unit.

前記第一のコントロール信号は、前記帯電手段に印加する直流電圧値と交流電圧値とを決定しており、
前記第二のコントロール信号は、前記現像手段に印加する直流電圧値と交流電圧値とを決定しており、
前記制御部は、電位測定の結果を補正する際に、前記帯電手段に印加する直流電圧値と交流電圧値と、前記現像手段に印加する直流電圧値と交流電圧値とを元に補正する事を特徴とする請求項６に記載の画像形成装置。 The first control signal determines a DC voltage value and an AC voltage value applied to the charging means,
The second control signal determines a DC voltage value and an AC voltage value applied to the developing means,
The control unit corrects the result of the potential measurement based on a DC voltage value and an AC voltage value applied to the charging unit, and a DC voltage value and an AC voltage value applied to the developing unit. The image forming apparatus according to claim 6.

電位測定の結果を補正する際、オフセットを補正する事を特徴とする請求項６から請求項８のいずれかに記載の画像形成装置。 The image forming apparatus according to claim 6, wherein an offset is corrected when correcting the result of the potential measurement.