JP2010048683A - Device testing system - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、試験の対象となる被試験装置を試験する装置試験システムに関する。 The present invention relates to a device test system for testing a device under test to be tested.
例えば、特許文献１は、試験結果である測定データを計測器から受け取って、故障部位を特定する試験装置を開示する。
本発明は、上述のような背景からなされたものであり、複数の試験の実行に必要とされる時間を算出することができるように改良された装置試験システムを提供する。 The present invention has been made from the above background, and provides an improved apparatus test system that can calculate the time required to perform a plurality of tests.
上記目的を達成するために、本発明に係る装置試験システム（１）は、制御装置（１２）と、試験対象となる１つ以上の被試験装置（２０）が出力する信号を測定する１つ以上の測定装置（１６）とを含み、前記制御装置は、設定に従って、１つ以上の試験を前記被試験装置に対して行う試験制御手段（２２４）と、前記複数の試験それぞれの実行に費やされた第１の試験実行時間を計測する時間計測手段（２３０）と、前記計測された第１の試験実行時間を、前記試験ごとに記録する実行時間記録手段（２３４）と、前記記録された第１の試験実行時間に基づいて、複数の試験に費やされる第２の試験実行時間を算出する時間算出手段（２３８）と、前記算出した第２の試験実行時間を表示する表示手段（２３６）とを有する。
なお、ここで付された符号は、本願発明の理解を助けることを意図するものであり、本願発明の技術的範囲を限定することを意図するものではない。
In order to achieve the above object, an apparatus test system (1) according to the present invention measures a signal output from a control apparatus (12) and one or more devices under test (20) to be tested. The control device includes the above-described measurement device (16), and the control device spends the test control means (224) for performing one or more tests on the device under test according to the settings and the execution of each of the plurality of tests. Time measurement means (230) for measuring the first test execution time, execution time recording means (234) for recording the measured first test execution time for each test, and the recorded Based on the first test execution time, a time calculation means (238) for calculating a second test execution time spent on a plurality of tests, and a display means (236) for displaying the calculated second test execution time. ).
In addition, the code | symbol attached | subjected here intends helping an understanding of this invention, and does not intend limiting the technical scope of this invention.
本発明に係る装置試験システムによれば、複数の試験の実行に必要とされる時間を算出することができる。 The apparatus test system according to the present invention can calculate the time required for executing a plurality of tests.
［本発明の背景］
本発明の理解を助けるために、まず、本発明がなされるに至った背景を説明する。
装置試験システムは、試験の対象となる被試験装置に対して、機能・性能などに関する試験（以下、「全体試験」と記述する）を行う。
全体試験は、複数の試験を含み、これら複数の試験は、「試験項目」と呼ばれる数字や記号、またはそれらの組み合わせからなる識別子と対応付けることにより、それぞれ一意に識別される。
全体試験は、試験実行時間変動要因（例えば、作業者によるケーブル接続変更作業など）を有さない試験（以下、この試験を「自動試験」と記述する）のみを含むときと、試験実行時間変動要因を有する試験（以下、この試験を「半自動試験」と記述する）を含むときがある。
自動試験のみを含む全体試験において、全体試験の実行に必要とされる時間（以下、「全体試験実行時間」と記述する）は、全体試験に含まれる複数の試験項目に対応付けられる複数の試験の実行時間を合計することにより算出することができると考えられる。
[Background of the invention]
In order to help understanding of the present invention, first, the background that led to the present invention will be described.
The apparatus test system performs a test (hereinafter referred to as an “overall test”) on functions / performances, etc., on a device under test to be tested.
The overall test includes a plurality of tests, and each of the plurality of tests is uniquely identified by being associated with an identifier made up of numbers and symbols called “test items”, or a combination thereof.
The entire test includes only a test that does not have a test execution time variation factor (for example, cable connection change work by an operator) (hereinafter, this test is referred to as “automatic test”), and a test execution time variation. It may include a test with factors (hereinafter, this test is referred to as a “semi-automated test”).
In the overall test including only the automatic test, the time required to execute the overall test (hereinafter referred to as “total test execution time”) is a plurality of tests associated with a plurality of test items included in the overall test. It can be calculated by summing the execution times of.
しかしながら、各試験項目に対応付けられる試験の実行時間は、実際に測定することにより得られた時間ではないため、全体試験実行時間は、実際の全体試験実行時間とは大きく異なることが予想される。
また、半自動試験の実行時間は、時間変動要因により変動するので、半自動試験を含む全体試験実行時間を正確に算出することは困難であると予想される。
以下に説明する試験システム１は、自動試験のみを含む全体試験および半自動試験を含む全体試験の実行時間を算出するように構成されている。
なお、以下、「試験項目に対応付けられる試験」を単に「試験項目」と記述する。
つまり、例えば、「試験項目に対応付けられる試験を実行する」は、「試験項目を実行する」と記述し、「試験項目に対応付けられる試験の実行時間」は、「試験項目の実行時間」と記述する。
However, since the test execution time associated with each test item is not the time obtained by actual measurement, the total test execution time is expected to be significantly different from the actual total test execution time. .
Moreover, since the execution time of the semi-automatic test varies depending on the time variation factor, it is expected that it is difficult to accurately calculate the entire test execution time including the semi-automatic test.
The
Hereinafter, the “test associated with the test item” is simply referred to as “test item”.
That is, for example, “execute a test associated with a test item” is described as “execute a test item”, and “execution time of a test associated with a test item” is “execution time of a test item”. Is described.
［試験システム１］
以下、本発明の実施形態として、試験システム１を説明する。
図１（Ａ）は、本発明に係る試験システム１（試験システム）の構成を示す図である。
図１（Ａ）に示すように、試験システム１は、制御装置１２と、被試験装置用制御装置１４と、ｎ個の測定装置１６−１〜１６−ｎ（ｎ≧１；ただし、全てのｎが常に同数を示すとは限らない。）と、ｎ個の被試験装置２０−１〜２０−ｎ（被試験装置）とが、ＬＡＮなどのネットワーク１０に接続され、ｎ個の測定装置１６−１〜１６−ｎと、ｎ個の被試験装置２０−１〜２０−ｎとが、切替装置１８を介して接続されて構成される。
なお、以下、測定装置１６−１〜１６−ｎなど、複数ある構成部分のいずれかを示すときは、単に、測定装置１６と記載することがある。
以下、各図において、実質的に同じ構成部分・処理には、同じ符号が付される。
[Test system 1]
Hereinafter, a
FIG. 1A is a diagram showing a configuration of a test system 1 (test system) according to the present invention.
As shown in FIG. 1A, the
Hereinafter, when any one of a plurality of components such as the measuring devices 16-1 to 16-n is indicated, it may be simply referred to as the
Hereinafter, in each figure, the same code | symbol is attached | subjected to the substantially same component and process.
試験システム１においては、制御装置１２および被試験装置用制御装置１４の制御に従って、被試験装置２０の試験が開始され、被試験装置２０から出力される試験信号を、切替装置１８を介して接続された測定装置１６が測定し、試験結果を制御装置１２に対して出力する。
また、試験システム１においては、制御装置１２は、図２に示す制御装置プログラム２２を実行し、被試験装置２０に対する全体試験を開始する、および、全体試験実行時間を算出する。
In the
In the
［ハードウェア構成］
図１（Ｂ）は、図１（Ａ）に示した制御装置１２および被試験装置用制御装置１４のハードウェア構成を例示する図である。
図１（Ｂ）に示すように、制御装置１２及び被試験装置用制御装置１４はそれぞれ、メモリ１２２およびＣＰＵ１２４などを含む情報処理装置１２０、キーボードおよび表示装置などを含む外部入出力装置１２６、データ通信を行うための通信装置１２８、および、ハードディスクなどの記録媒体１３２に対してデータの記録を行う記録装置１３０などから構成される。
つまり、制御装置１２および被試験装置用制御装置１４は、情報処理およびデータ通信が可能なコンピュータとしての構成部分を有している。
[Hardware configuration]
FIG. 1B is a diagram illustrating hardware configurations of the
As shown in FIG. 1B, the
That is, the
［制御装置プログラム２２］
図２は、試験システム１の制御装置１２（図１（Ａ）、（Ｂ））上で実行される制御装置プログラム２２を示す図である。
図２に示すように、制御装置プログラム２２は、ユーザインタフェース（ＵＩ）部２２０、通信処理部２２２、試験制御部２２４、試験手順作成部２２６、試験結果データベース（ＤＢ）２２８、時間計測部２３０、判定部２３２、実行時間ＤＢ２３４、表示部２３６、時間算出部２３８から構成される。
制御プログラム２２は、例えば、メモリ１２２（図１（Ｂ））に記憶されて制御装置１２に供給され、必要に応じて、制御装置１２にインストールされたＯＳ（図示せず）上で、制御装置１２のハードウェア資源を、具体的に利用して実行される。
[Control device program 22]
FIG. 2 is a diagram illustrating a control device program 22 that is executed on the control device 12 (FIGS. 1A and 1B) of the
As shown in FIG. 2, the control device program 22 includes a user interface (UI)
The control program 22 is stored in the memory 122 (FIG. 1B) and supplied to the
ＵＩ部２２０は、以下の処理（１−１）〜（１−５）を行う。
（１−１）外部入出力装置１２６（図１（Ｂ））を介して入力された全体試験開始命令と試験属性情報を受け付けて、試験制御部２２４に対して出力する（試験属性情報は、全体試験に含まれる複数の試験項目と各試験項目の種類（自動または半自動）、全体試験を行う作業者情報、被試験装置の固有識別番号を含む）。
（１−２）半自動試験において、外部入出力装置１２６を介して入力された時間変動要因を受け付けて、試験制御部２２４に対して出力する。
なお、以下、説明の具体化、明確化のために、「時間変動要因」を「作業者によるケーブル接続変更作業」である場合を具体例とする。
つまり、「時間変動要因を受け付ける」は、「作業者によるケーブル接続変更作業完了通知を受け付ける」ことを意味する。
また、この具体例は、本願発明の技術的範囲の限定を意図するものではない。
The
(1-1) Accepts the overall test start command and the test attribute information input via the external input / output device 126 (FIG. 1B) and outputs them to the test control unit 224 (the test attribute information is Multiple test items included in the overall test and the type of each test item (automatic or semi-automatic), information on workers performing the overall test, and the unique identification number of the device under test).
(1-2) In the semi-automatic test, a time variation factor input via the external input /
In the following, for the sake of concreteness and clarification of the explanation, a specific example is given of a case where the “time variation factor” is “an operation for changing the cable connection by an operator”.
That is, “accepting a time variation factor” means “accepting a cable connection change work completion notification by an operator”.
Further, this specific example is not intended to limit the technical scope of the present invention.
（１−３）外部入出力装置１２６を介して入力された、試験属性情報を受け付けて、試験手順作成部２２６に対して出力する。
（１−４）外部入出力装置１２６を介して入力された、試験実行画面表示命令と試験属性情報を受け付けて、表示部２３６に対して出力する。
（１−５）後述する表示部２３６が出力する情報を受け付け、外部入出力装置１２６に表示させる。
(1-3) Accept test attribute information input via the external input /
(1-4) The test execution screen display command and the test attribute information input via the external input /
(1-5) Information output from the display unit 236 described later is received and displayed on the external input /
通信処理部２２２は、以下の処理（２−１）、（２−２）を行う。
（２−１）後述する試験制御部２２４からの通知を受信し、通信装置１２８を介して、被試験装置用制御装置１４、切替装置１８を制御する。
（２−２）通信装置１２８を介して受信した測定装置１６の試験結果を試験制御部２２４に通知する。
The communication processing unit 222 performs the following processes (2-1) and (2-2).
(2-1) A notification from the test control unit 224, which will be described later, is received, and the device under
(2-2) The test result of the
試験制御部２２４は、以下の処理（３−１）〜（３−７）を行う。
（３−１）ＵＩ部２２０から入力された全体試験開始命令と、後述する試験手順作成部２２６から入力された試験手順を受け取り、通信処理部２２２を介して、試験手順に従って、切替装置１８を制御して、測定装置１６と被試験装置２０を接続させる。
（３−２）ＵＩ部２２０から入力された全体試験開始命令と、後述する試験手順作成部２２６から入力された試験手順を受け取り、通信処理部２２２を介して、試験手順に従って、被試験装置用制御装置１４を制御して、被試験装置２０に試験信号を出力させる。
The test control unit 224 performs the following processes (3-1) to (3-7).
(3-1) An overall test start command input from the
(3-2) An overall test start command input from the
（３−３）半自動試験において、半自動試験の実行手順に従って、通信処理部２２２を介して、被試験装置用制御装置１４に被試験装置２０への試験実行のための制御を行わせる。
例えば、作業者によるケーブル接続変更作業のために、試験を一時停止させる必要がある半自動試験において、通信処理部２２２を介して、被試験装置用制御装置１４を制御して、被試験装置２０に試験信号の出力を一時停止させる。
ＵＩ部２２０から入力された作業者によるケーブル接続変更作業完了通知を受け取り、通信処理部２２２を介して、被試験装置用制御装置１４を制御して、被試験装置２０に試験信号の出力を再開させる。
（３−４）ＵＩ部２２０から入力された全体試験開始命令と試験属性情報を受け取り、時間計測部２３０に対して、試験属性情報と、試験ごとに開始時刻を通知する。
(3-3) In the semi-automatic test, according to the execution procedure of the semi-automatic test, the control device for device under
For example, in a semi-automatic test where it is necessary to temporarily stop the test for changing the cable connection by an operator, the device under
The operator receives a cable connection change work completion notification input from the
(3-4) The overall test start command and test attribute information input from the
（３−５）通信処理部２２２を介して、測定装置１６（図１（Ａ））の試験結果を受信し、受信した試験結果を試験結果ＤＢ２２８に記憶する。
（３−６）通信処理部２２２を介して、測定装置１６の試験結果を受信し、受信した試験結果を判定部２３２に対して出力し、試験結果の良否を判定させ、判定結果を試験結果ＤＢ２２８に記憶させる。
試験結果の良否とは、試験結果が、後述する試験手順作成部２２６が作成して、試験結果ＤＢ２２８に記憶させた要求基準の範囲内であるか否かを意味する。
（３−７）通信処理部２２２を介して、測定装置１６の試験結果を受信し、時間計測部２３０に対して、試験終了時刻を通知する。
(3-5) The test result of the measuring device 16 (FIG. 1A) is received via the communication processing unit 222, and the received test result is stored in the
(3-6) The test result of the measuring
The pass / fail of the test result means whether or not the test result is within the range of the requirement standard created by the test procedure creating unit 226 described later and stored in the
(3-7) The test result of the
試験手順作成部２２６は、以下の処理（４−１）〜（４−４）を行う。
（４−１）ＵＩ部２２０から試験属性情報を受け取り、受け取った試験属性情報に基づいて、全体試験に含まれる各試験手順と各試験結果の要求基準を作成する。
（４−２）試験制御部２２４に対して、作成した試験手順を出力する。
（４−３）作成した試験結果の要求基準を試験結果ＤＢ２２８に記憶する。
（４−４）後述する表示部２３０に対して、作成した試験手順と試験結果の要求基準を出力し、試験実行画面に表示させる。
The test procedure creation unit 226 performs the following processes (4-1) to (4-4).
(4-1) Test attribute information is received from the
(4-2) The created test procedure is output to the test control unit 224.
(4-3) The requirement standard for the created test result is stored in the
(4-4) The created test procedure and the test criteria for the test result are output to the
試験結果ＤＢ２２８は、以下の処理（５−１）〜（５−３）を行う。
（５−１）試験手順作成部２２６から入力された試験結果の要求基準を受け取り、記憶する。
（５−２）試験制御部２２４から入力された試験結果を受け取り、記憶する。
（５−３）判定部２３２から入力された試験結果の良否判定結果を受け取り、記憶する。
The
(5-1) Receive and store the test result request criteria input from the test procedure creation unit 226.
(5-2) The test result input from the test control unit 224 is received and stored.
(5-3) The test result input from the
時間計測部２３０は、以下の処理（６−１）〜（６−４）を行う。
（６−１）試験制御部２２４から通知された試験開始時刻と試験終了時刻とを用いて、試験項目ごとに、実行時間を計測する。
つまり、時間計測部２３０は、試験制御部２２４から通知された試験開始時刻と、試験終了時刻を記憶し、それぞれの時刻の差分を試験実行時間として計測する。
（６−２）上記具体例によれば、半自動試験において、試験制御部２２４から通知された試験開始時刻から、試験終了時刻までの間に行われる作業者によるケーブル接続変更作業に費やされた時間を含めて、試験実行時間を計測する。
The
(6-1) Using the test start time and the test end time notified from the test control unit 224, the execution time is measured for each test item.
That is, the
(6-2) According to the above specific example, in the semi-automatic test, it was spent on the cable connection change work by the operator performed between the test start time notified from the test control unit 224 and the test end time. Measure test execution time including time.
（６−３）判定部２３２に対して、実行時間を計測した試験結果の良否を問い合わせる。
問い合わせた結果、当該問い合わせた試験結果が良好であるときは、計測された試験実行時間についても、記憶されるデータとして有効であるとみなし、試験制御部２２４から入力された試験属性情報に基づいて、計測された実行時間を、試験項目ごとに実行時間ＤＢ２３４に記憶する。
（６−４）半自動試験が含まれる試験において、ケーブル接続変更作業を行った作業者ごとに、計測された実行時間を実行時間ＤＢ２３４に記憶する。
(6-3) The
As a result of the inquiry, if the inquired test result is good, the measured test execution time is also regarded as valid as stored data, and based on the test attribute information input from the test control unit 224. The measured execution time is stored in the execution time DB 234 for each test item.
(6-4) In the test including the semi-automatic test, the measured execution time is stored in the execution time DB 234 for each worker who performed the cable connection change work.
判定部２３２は、以下の処理（７−１）、（７−２）を行う。
（７−２）試験制御部２２４から試験結果を受け取り、試験結果ＤＢ２２８が記憶する要求基準を読み出し、読み出した要求基準に基づいて、試験結果の良否を判定し、判定結果を試験結果ＤＢ２２８に記憶する。
（７−３）時間計測部２３０から試験結果の良否の問い合わせを受けて、試験結果ＤＢ２２８から、当該指定された試験結果の良否を読み出し、時間計測部２３０に対して出力する。
The
(7-2) The test result is received from the test control unit 224, the request criterion stored in the
(7-3) Upon receiving an inquiry about the quality of the test result from the
図３（Ａ）は、実行時間ＤＢ２３４が記憶する情報を試験項目ごとに管理するテーブルを例示する図である。
実行時間ＤＢ２３４は、以下の処理（８−１）、（８−２）を行う。
（８−１）時間計測部２３０によって計測された試験実行時間を受け取り、試験項目ごとに記憶する。
図３（Ａ）に示すように、複数の種類の被試験装置と複数の試験とを対応付けて、実行時間情報が記憶される。
実行時間情報は、これまでに行われた試験回数、全試験回数のうちの何回目の試験であるか、各試験項目において計測された実行時間、各試験項目の平均実行時間、試験の種類（自動または半自動）を含む。
FIG. 3A is a diagram illustrating a table for managing information stored in the execution time DB 234 for each test item.
The execution time DB 234 performs the following processes (8-1) and (8-2).
(8-1) The test execution time measured by the
As shown in FIG. 3A, execution time information is stored in association with a plurality of types of devices under test and a plurality of tests.
The execution time information includes the number of tests performed so far, the number of tests among all tests, the execution time measured for each test item, the average execution time of each test item, and the type of test ( Including automatic or semi-automatic).
図３（Ｂ）は、半自動試験が含まれる全体試験において、実行時間ＤＢ２３４がケーブル接続変更作業を行った作業者ごとに記憶する情報を管理するテーブルを例示する図である。
（８−２）半自動試験が含まれる全体試験において、時間計測部２３０によって計測された試験実行時間と、ケーブル接続変更作業を行った作業者名を受け取り、計測された試験実行時間を作業者ごとに記憶する。
図３（Ｂ）に示すように、図３（Ａ）に示すテーブルで管理される情報が、ケーブル接続変更作業を行った作業者ごとに記憶される。
例えば、図３（Ｂ）に示す「テーブル１−１」〜「テーブル２−３」は、図３（Ａ）に示す"被試験装置１"の項目に記憶されるすべての試験項目の実行時間情報を管理する情報テーブルにそれぞれ対応する。
なお、図３（Ａ）では、同一種類の被試験装置ごとに各試験項目の実行時間情報を記憶しているが、図３（Ｂ）に示すように、同一種類の被試験装置について、固有識別番号ごとに各試験項目の実行時間情報を記憶してもよい。
FIG. 3B is a diagram illustrating a table for managing information stored in the execution time DB 234 for each worker who has performed the cable connection change work in the overall test including the semi-automatic test.
(8-2) In the overall test including the semi-automatic test, the test execution time measured by the
As shown in FIG. 3B, information managed by the table shown in FIG. 3A is stored for each worker who has performed the cable connection change work.
For example, “table 1-1” to “table 2-3” shown in FIG. 3B are the execution times of all test items stored in the item “device under
In FIG. 3A, the execution time information of each test item is stored for each device under test of the same type. However, as shown in FIG. You may memorize | store the execution time information of each test item for every identification number.
図４は、表示部２３６が、ＵＩ部２２０を介して、入出力装置１２６（図１（Ｂ））に表示させる試験実行画面を例示する図である。
表示部２３６は、以下の処理（９−１）〜（９−５）を行う。
（９−１）ＵＩ部２２０から入力された試験実行画面表示命令と試験属性情報を受け取り、試験属性情報に基づいて、図４に示すように、作業者名、被試験装置名などを含む試験実行画面を作成し、ＵＩ部２２０を介して、外部入出力装置１２６（図１（Ｂ））に表示させる。
（９−２）試験手順作成部２２６から入力された試験手順と試験結果の要求基準を受け取り、試験項目の一覧として試験実行画面に表示する。
FIG. 4 is a diagram illustrating a test execution screen that the display unit 236 displays on the input / output device 126 (FIG. 1B) via the
The display unit 236 performs the following processes (9-1) to (9-5).
(9-1) A test execution screen display command and test attribute information input from the
(9-2) The test procedure input from the test procedure creation unit 226 and the test result request criteria are received and displayed on the test execution screen as a list of test items.
（９−３）試験項目一覧に含まれる試験の結果とその良否判定を試験結果ＤＢ２２８から随時読み出し、試験実行画面を更新して、表示する。
（９−４）ＵＩ部２２０から入力された試験実行画面表示命令と試験属性情報を受け取り、時間算出部２３８に対して、当該指定された全体試験実行時間を算出するよう通知する。
（９−５）後述する時間算出部２３８から入力された全体試験実行時間および次の半自動試験開始時間、またはこれらのうちのいずれかを受け取り、ＵＩ部２２０を介して、受け取った時間を外部入出力装置１２６に表示させる。
(9-3) The test results included in the test item list and the pass / fail judgment thereof are read from the
(9-4) The test execution screen display command and the test attribute information input from the
(9-5) Receives the overall test execution time and the next semi-automatic test start time input from the
図４に示すように、試験実行画面は、作業者名指定部３００、被試験装置表示部３０２、試験項目一覧表示部３０４、試験操作ボタン群３０６、実行時間表示部３０８から構成される。
作業者名指定部３００には、試験を行う作業者名が指定される。
被試験装置表示部３０２は、被試験装置名と固有識別番号などの一覧を表示し、さらに実際に試験を行う被試験装置は「電源投入中」と表示する。
例えば、図４に示すように、被試験装置の１つである無線機１は電源投入中であり、その固有識別番号は"２００７−０１−０００１"である。
As shown in FIG. 4, the test execution screen includes an operator
In the worker
The device under
For example, as shown in FIG. 4, the
試験項目一覧表示部３０４は、図４に示すように、被試験装置に対して行われる試験項目の一覧と各試験項目に対する試験結果などを表示する。
また、試験項目一覧表示部３０４は、全体試験が開始すると、図４に示すように、実行中の試験項目を斜線により塗りつぶして表示し、実行が終了した試験項目については、試験結果を「今回試験値」欄に、試験結果の良否を「判定」欄にそれぞれ表示する。
試験操作ボタン群３０６は、図４に示すように、例えば、「試験開始」、「試験中止」、「一時停止」ボタンから構成される。
なお、図４に示した操作ボタン群は例示であり、他の操作ボタンが含まれてもよい。
例えば、試験操作ボタン群３０６の「試験開始」ボタンを押下することにより、試験項目一覧表示部３０４に表示された試験が順に開始される。
As shown in FIG. 4, the test item
Further, as shown in FIG. 4, the test item
As shown in FIG. 4, the test
Note that the operation button group illustrated in FIG. 4 is an example, and other operation buttons may be included.
For example, when the “test start” button of the test
実行時間表示部３０８は、全体試験が開始すると、全体試験実行時間から、現在までに費やした時間の差分を「試験残時間」として表示する。
さらに、実行時間表示部３０８は、半自動試験を含む全体試験において、次の半自動試験開始時間を表示する。
なお、図４では、全体試験実行時間を利用して、試験残時間を表示しているが、試験終了予定時間などの全体試験実行時間を利用した別の表現で表示してもよい。
When the overall test starts, the execution
Further, the execution
In FIG. 4, the remaining test time is displayed using the entire test execution time, but may be displayed in another expression using the entire test execution time such as the scheduled test end time.
時間算出部２３８は、以下の処理（１０−１）、（１０−２）を行う。
（１０−１）表示部２３６から全体試験実行時間を算出する通知を受け取り、
実行時間ＤＢ２３４に記憶される実行時間情報（図３（Ａ））に基づいて、当該全体試験実行時間を算出し、表示部２３６に出力する。
具体的には、例えば、時間算出部２３８は、実行時間ＤＢ２３４に記憶される実行時間情報から、当該全体試験に含まれる複数の試験項目の各平均実行時間を読み出し、読み出した各平均試験時間を足し合わせて当該全体試験実行時間を算出する。
The
(10-1) A notification for calculating the entire test execution time is received from the display unit 236,
Based on the execution time information (FIG. 3A) stored in the execution time DB 234, the overall test execution time is calculated and output to the display unit 236.
Specifically, for example, the
（１０−２）半自動試験が含まれる全体試験において、表示部２３６から試験時間を算出する通知を受け取り、実行時間ＤＢ２３４に記憶される当該試験を行う作業者の実行時間情報（図３（Ｂ））に基づいて、次の半自動試験開始までの時間を算出し、表示部２３６に出力する。
具体的には、例えば、時間算出部２３８は、実行時間ＤＢ２３４に記憶される当該試験を行う作業者の実行時間情報から、実行される試験項目一覧のうち、試験の種類が半自動となっている試験項目までの各平均実行時間を読み出して、読み出した各平均実行時間を足し合わせて、当該半自動試験開始までの時間を算出する。
(10-2) In the overall test including the semi-automatic test, the execution time information of the worker who receives the notification for calculating the test time from the display unit 236 and is stored in the execution time DB 234 (FIG. 3B) ), The time until the start of the next semi-automatic test is calculated and output to the display unit 236.
Specifically, for example, in the
[自動試験のみを含む全体試験における試験システム１の全体動作例]
以下、自動試験のみを含む全体試験における試験システム１（図１（Ａ））の全体動作例を説明する。
制御装置１２は、作業者からの試験実行画面表示命令と必要な情報を受け取り、
試験実行画面を表示する（図４）（ただし、この時点では、全体試験実行時間は画面に表示されない）。
制御装置１２は、図４に示した画面に表示される試験項目一覧の順序で、各試験手順に従って、切替装置１８を制御して、測定装置１６と被試験装置２０とを接続させる。
[Example of overall operation of
Hereinafter, an example of the entire operation of the test system 1 (FIG. 1A) in the entire test including only the automatic test will be described.
The
The test execution screen is displayed (FIG. 4) (however, at this time, the total test execution time is not displayed on the screen).
The
次に、作業者が、図４に示した画面に表示される「試験開始」ボタンを押下すると、被試験装置用制御装置１４は、制御装置１２を介して全体試験開始通知を受け取り、全体試験に含まれる複数の試験ごとに被試験装置２０を制御して、試験信号を出力させる。
被試験装置２０は、被試験装置用制御装置１４からの制御により、切替装置１８を介して接続された測定装置１６に対して試験信号を出力する。
測定装置１６は、切替装置１８を介して接続された被試験装置２０から入力された試験信号を受信し、制御装置１２に対して出力する。
また、制御装置１２は、全体試験が開始すると、全体試験に含まれる複数の試験の実行時間をそれぞれ計測し、計測された時間を試験項目ごとに記憶する。
Next, when the operator depresses the “test start” button displayed on the screen shown in FIG. 4, the device under
The device under
The measuring
In addition, when the overall test starts, the
さらに、制御装置１２は、全体試験が開始すると、過去に実行された全体試験により記憶された各試験項目の実行時間に基づいて、実行中の全体試験実行時間を算出し、その全体試験実行時間から現在までに費やした時間の差分を、図４に示した「試験残時間」として表示する。
以上説明したように、自動試験のみを含む全体試験を行う試験システム１においては、全体試験に含まれる複数の試験の実行時間がそれぞれ計測され、試験項目ごとに記憶される。
また、全体試験実行中は、過去に実行された全体試験により計測、記憶された試験実行時間に基づいて、全体試験実行時間が算出され、表示される。
つまり、試験システム１においては、実行中に表示される全体試験実行時間が、実際の全体試験実行時間と大きく異なることがないので、全体試験実行時間を正確に見積もって試験を行うことができる。
Further, when the overall test is started, the
As described above, in the
Further, during the execution of the overall test, the overall test execution time is calculated and displayed based on the test execution time measured and stored by the overall test executed in the past.
That is, in the
[半自動試験を含む全体試験における試験システム１の全体動作例]
以下、半自動試験を含む全体試験における試験システム１（図１（Ａ））の全体動作例を説明する。
全体試験が開始されるまでの動作は、自動試験のみを含む全体試験における試験システム１で説明した動作と同様である。
制御装置１２は、試験の種類が半自動である試験項目の順番になると、被試験装置用制御装置１４に対して、試験の一時停止通知を出力する。
被試験装置用制御装置１４は、制御装置１２から入力された試験の一時停止通知を受け取ると、被試験装置２０を制御し、試験信号の出力を一時停止させる。
[Example of overall operation of
Hereinafter, an example of the overall operation of the test system 1 (FIG. 1A) in the overall test including the semi-automatic test will be described.
The operation until the overall test is started is the same as the operation described in the
When the test item order is semi-automatic, the
When receiving the test suspension notification input from the
例えば、図４に示した試験項目一覧において、試験項目Ａ−１−１〜Ａ−２−２までが自動試験であり、試験項目Ａ−３−１が半自動試験であるとき、試験項目Ａ−１−１〜Ａ−２−２までの試験システム１の動作は、自動試験のみの全体試験における試験システム１の動作と同様である。
制御装置１２は、試験項目Ａ−２−２が完了すると、試験項目Ａ−３−１の開始前に、被試験装置用制御装置１４を制御して、試験実行を一時停止させ、試験項目Ａ−３−１の試験において必要な、作業者によるケーブル接続変更作業完了入力を待つ。
制御装置１２は、作業者がケーブル接続変更作業を完了させ、図４に示した画面に表示される「試験開始」ボタンを押下すると、被試験装置用制御装置１４に対して、試験再開を通知する。
被試験装置用制御装置１４は、制御装置１２から入力された試験の再開通知を受け取り、被試験装置２０を制御し、試験信号の出力を再開させる。
For example, in the test item list shown in FIG. 4, when test items A-1-1 to A-2-2 are automatic tests and test item A-3-1 is a semi-automatic test, test item A- The operation of the
When the test item A-2-2 is completed, the
When the operator completes the cable connection change work and presses the “start test” button displayed on the screen shown in FIG. 4, the
The device under
被試験装置２０、測定装置１６の動作は、自動試験のみを含む全体試験における試験システム１で説明した動作と同様である。
制御装置１２は、各試験項目の実行時間を、半自動試験における作業者によるケーブル接続変更作業に応じて計測し、計測された時間を作業者ごとに記憶する。
さらに、制御装置１２は、全体試験が開始すると、過去に実行された全体試験により記憶された作業者ごとに計測された時間に基づいて、次の半自動試験開始時間を算出し、図４に示した画面に、次の半自動試験開始時間を、上述した試験残時間とともに表示する。
The operations of the device under
The
Furthermore, when the overall test is started, the
以上説明したように、半自動試験を含む全体試験を行う試験システム１においては、全体試験に含まれる複数の試験に費やされた時間が、作業者ごとにそれぞれ計測され、記憶される。
また、全体試験実行中は、過去に実行された全体試験により計測、記憶された試験実行時間に基づいて、ケーブル接続変更作業を行う作業者に応じて、試験実行時間および次の半自動試験開始時間が算出され、表示される。
つまり、試験システム１においては、ケーブル接続変更作業を行う作業者によって変動する半自動試験の実行時間が算出されるので、半自動試験を含む全体試験実行時間を正確に見積もって試験を行うことができる。
As described above, in the
During the overall test, the test execution time and the next semi-automatic test start time are determined according to the operator who performs the cable connection change work based on the test execution time measured and stored by the overall test executed in the past. Is calculated and displayed.
That is, in the
１・・・試験システム
１０・・・ネットワーク
１２・・・制御装置
１２０・・・情報処理装置
１２２・・・メモリ
１２４・・・ＣＰＵ
１２６・・・外部入出力装置
１２８・・・通信装置
１３０・・・記録装置
１３２・・・記録媒体
１４・・・被試験装置用制御装置
１６・・・測定装置
１８・・・切替装置
２０・・・被試験装置
２２・・・制御装置プログラム
２２０・・・ＵＩ部
２２２・・・通信処理部
２２４・・・試験制御部
２２６・・・試験手順作成部
２２８・・・試験結果ＤＢ
２３０・・・時間計測部
２３２・・・判定部
２３４・・・実行時間ＤＢ
２３６・・・表示部
２３８・・・時間算出部
３００・・・作業者名指定部
３０２・・・被試験装置表示部
３０４・・・試験項目一覧表示部
３０６・・・試験操作ボタン群
３０８・・・実行時間表示部
DESCRIPTION OF
126 ... external input /
230 ...
236: Display unit 238:
Claims (2)
試験対象となる１つ以上の被試験装置が出力する信号を測定する１つ以上の測定装置と
を含む装置試験システムであって、
前記制御装置は、
設定に従って、１つ以上の試験を前記被試験装置に対して行う試験制御手段と、
前記複数の試験それぞれの実行に費やされた第１の試験実行時間を計測する時間計測手段と、
前記計測された第１の試験実行時間を、前記試験ごとに記録する実行時間記録手段と、
前記記録された第１の試験実行時間に基づいて、複数の試験に費やされる第２の試験実行時間を算出する時間算出手段と、
前記算出した第２の試験実行時間を表示する表示手段と
を有する
装置試験システム。 A control device;
An apparatus test system including one or more measurement devices for measuring signals output from one or more devices under test to be tested,
The control device includes:
Test control means for performing one or more tests on the device under test according to settings;
Time measuring means for measuring a first test execution time spent in execution of each of the plurality of tests;
Execution time recording means for recording the measured first test execution time for each of the tests;
Time calculating means for calculating a second test execution time spent for a plurality of tests based on the recorded first test execution time;
A device test system comprising: display means for displaying the calculated second test execution time.
前記時間計測手段は、前記試験ごとに、前記要因に応じて費やされた第１の試験実行時間を計測し、
前記実行時間記録手段は、前記計測された要因に応じて費やされた前記第１の試験実行時間を、前記要因ごとに記録し、
前記時間算出手段は、前記要因ごとに記録された第１の試験実行時間に基づいて、前記要因に応じて複数の試験に費やされる第２の試験実行時間を算出する
請求項１に記載の装置試験システム。 The test includes a test having a factor that changes a test execution time when the test is executed.
The time measuring means measures a first test execution time spent according to the factor for each of the tests,
The execution time recording means records the first test execution time spent according to the measured factor for each factor,
The apparatus according to claim 1, wherein the time calculation unit calculates a second test execution time spent for a plurality of tests according to the factor based on the first test execution time recorded for each factor. Test system.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2008213514A JP2010048683A (en) | 2008-08-22 | 2008-08-22 | Device testing system |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2008213514A JP2010048683A (en) | 2008-08-22 | 2008-08-22 | Device testing system |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2010048683A true JP2010048683A (en) | 2010-03-04 |
Family
ID=42065884
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2008213514A Pending JP2010048683A (en) | 2008-08-22 | 2008-08-22 | Device testing system |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2010048683A (en) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011240514A (en) * | 2010-05-14 | 2011-12-01 | Seiko Epson Corp | Recording system and control method for recording system |
| CN103389419A (en) * | 2012-05-10 | 2013-11-13 | 上海博泰悦臻电子设备制造有限公司 | Sleep wake-up test device of vehicle-mounted system |
| US8904237B2 (en) | 2012-07-17 | 2014-12-02 | Qualcomm Innovation Center, Inc. | Framework for testing and evaluating mobile communication devices |
| CN105158590A (en) * | 2015-06-03 | 2015-12-16 | 上海斐讯数据通信技术有限公司 | Test system for broadband wireless device |
-
2008
- 2008-08-22 JP JP2008213514A patent/JP2010048683A/en active Pending
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| CN103389419A (en) * | 2012-05-10 | 2013-11-13 | 上海博泰悦臻电子设备制造有限公司 | Sleep wake-up test device of vehicle-mounted system |
| US8904237B2 (en) | 2012-07-17 | 2014-12-02 | Qualcomm Innovation Center, Inc. | Framework for testing and evaluating mobile communication devices |
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