JP2010017990A - Substrate dividing method - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、基板の内部にレーザ光を照射して、基板に設定された分割予定線に沿って改質領域を形成する基板分割方法に関する。 The present invention relates to a substrate dividing method for forming a modified region along a predetermined division line set on a substrate by irradiating the inside of the substrate with laser light.
従来、この種の技術としては、例えば、基板に集光したレーザ光を照射して、基板の分割予定線に沿って改質領域を形成することによって、基板を容易に分割することを可能とする方法がある(例えば、特許文献1及び2参照)。
しかしながら、上記従来技術にあっては、外力を加えて基板を分割する際に、基板の分割予定線に沿って形成された改質領域以外の部分に割れが発生し、分割予定の形状と実際に分割された基板の形状との一致性が低下する恐れがある。
本発明は、上記従来技術に鑑みてなされたものであって、分割予定の形状と実際に分割された基板の形状との一致性の低下を抑制することが可能な基板分割方法を提供することを課題とする。
However, in the above prior art, when an external force is applied to divide the substrate, cracks occur in portions other than the modified region formed along the planned dividing line of the substrate, and the shape to be divided and the actual shape Consistency with the shape of the substrate divided into two may be reduced.
The present invention has been made in view of the above prior art, and provides a substrate dividing method capable of suppressing a decrease in coincidence between a shape to be divided and the shape of a substrate actually divided. Is an issue.
上記目的を達成するために、第一の発明に係る基板分割方法は、基板の内部にレーザ光を照射して、基板に、基板に設定された分割予定線に沿って改質領域を形成する改質領域形成工程と、改質領域が形成された基板に外力を加えて、基板を分割する分割工程と、を有する基板分割方法であって、基板に、改質領域と基板の端部とを結ぶ線に沿って、基板の脆弱性を高めた領域である分割補助領域を形成する分割補助領域形成工程を有することを特徴とする。 In order to achieve the above object, a substrate dividing method according to a first aspect of the present invention irradiates a laser beam inside the substrate, and forms a modified region on the substrate along a predetermined dividing line set on the substrate. A substrate dividing method comprising: a modified region forming step; and a dividing step of dividing the substrate by applying an external force to the substrate on which the modified region is formed. A division assisting region forming step of forming a division assisting region which is a region with increased fragility of the substrate along a line connecting the two is provided.
第一の発明に係る基板分割方法では、基板の分割予定線に沿って形成された改質領域と、この改質領域と基板の端部とを結ぶ線に沿って形成された分割補助領域とによって、基板において、分割形状の周囲の切片が区切られる。これによって、基板に外力を加えた際に、分割形状の周囲の切片が割れ易くなり、切片が分割形状から分離され易くなる。
したがって、第一の発明に係る基板分割方法によれば、分割予定の形状と実際に分割された基板の形状との一致性の低下を抑制することが可能となる。
特に、分割形状が四角形以外の異形の分割基板を形成する場合には、分割形状の複雑さ等の理由から、基板の分割予定線に沿って形成された改質領域から逸れて基板が分割され易い。しかしながら、第一の発明に係る基板分割方法によれば、基板に外力を加えた際に、分割補助領域と改質領域とにおいて基板が分割されるため、分割形状が異形の分割基板を形成する場合であっても、目的とする形状に基板を分割することが可能となる。
In the substrate dividing method according to the first invention, a modified region formed along a planned dividing line of the substrate, and a dividing auxiliary region formed along a line connecting the modified region and the end of the substrate, As a result, the section around the divided shape is divided on the substrate. Accordingly, when an external force is applied to the substrate, the section around the divided shape is easily broken, and the section is easily separated from the divided shape.
Therefore, according to the substrate dividing method according to the first invention, it is possible to suppress a decrease in the consistency between the shape to be divided and the shape of the actually divided substrate.
In particular, when forming an odd-shaped divided substrate other than a quadrangle, the substrate is separated from the modified region formed along the planned dividing line of the substrate due to the complexity of the divided shape and the like. easy. However, according to the substrate dividing method according to the first invention, when an external force is applied to the substrate, the substrate is divided in the division assisting region and the modified region, so that a divided substrate having an irregular shape is formed. Even in this case, the substrate can be divided into a desired shape.
ここで、分割基板とは、基板を分割して形成された目的とする基板をいう(以下、同様)。また、分割形状とは、目標とする分割基板の形状をいう(以下、同様)。さらに、異形とは、円形、星形、ハート形等、四角形以外の形状をいう。
また、分割予定線とは、分割前の基板に設定された、基板を分割する目標となる線をいう(以下、同様)。なお、分割予定線は、仮想の線であっても、基板の表面に形成された溝等からなる線であっても構わない。
さらに、分割補助領域とは、基板の脆弱性を高めた領域をいう(以下、同様)。分割補助領域は、基板にレーザ光を照射することによって形成された改質領域、ダイヤモンドカッターによって基板の表面に形成されたスクライブ溝等からなる。
また、第二の発明に係る基板分割方法は、第一の発明に係る基板分割方法において、分割補助領域形成工程において、分割補助領域として、基板の内部にレーザ光を照射することによって改質領域を形成することを特徴とする。
Here, the divided substrate refers to a target substrate formed by dividing the substrate (hereinafter the same). Further, the divided shape refers to a target divided substrate shape (hereinafter the same). Further, the irregular shape means a shape other than a quadrangle such as a circle, a star, or a heart.
Further, the division line is a line that is set for the substrate before the division and is a target for dividing the substrate (hereinafter the same). The planned dividing line may be a virtual line or a line made of a groove or the like formed on the surface of the substrate.
Further, the division assist area refers to an area where the vulnerability of the substrate is increased (the same applies hereinafter). The division assist region includes a modified region formed by irradiating the substrate with laser light, a scribe groove formed on the surface of the substrate by a diamond cutter, and the like.
The substrate dividing method according to the second invention is the substrate dividing method according to the first invention, wherein the modified auxiliary region is formed by irradiating the inside of the substrate with laser light as the dividing auxiliary region in the dividing auxiliary region forming step. It is characterized by forming.
第二の発明に係る基板分割方法によれば、基板の分割予定線に沿って形成される改質領域及び分割補助領域をともにレーザ光によって形成することによって、分割基板を形成する際の作業効率を向上させることが可能となる。
また、第三の発明に係る基板分割方法は、第一又は第二の発明に係る基板分割方法において、分割予定線が、直線部を有し、分割補助領域形成工程において、分割補助領域を、直線部の延長線に沿って形成することを特徴とする。
According to the substrate dividing method according to the second invention, the working efficiency when forming the divided substrate by forming both the modified region and the dividing auxiliary region formed along the planned dividing line of the substrate with the laser beam. Can be improved.
Further, the substrate dividing method according to the third invention is the substrate dividing method according to the first or second invention, wherein the planned dividing line has a straight line portion, and in the dividing auxiliary region forming step, the dividing auxiliary region is It is characterized by being formed along an extension line of the straight portion.
第三の発明に係る基板分割方法では、分割補助領域の延びる方向と改質領域の延びる方向とが一致していることによって、分割補助領域で発生した割れが分割形状内に延びることを抑制することが可能となる。
また、第四の発明に係る基板分割方法は、第一乃至第三のうちいずれか一の発明に係る基板分割方法において、分割予定線が、曲線部を有し、分割補助領域形成工程において、分割補助領域を、曲線部上の所定点において、接線と0°以上45°以内の角度をなす直線に沿って形成することを特徴とする。
In the substrate dividing method according to the third aspect of the invention, the extending direction of the dividing auxiliary region and the extending direction of the modified region coincide with each other, thereby suppressing the cracks generated in the dividing auxiliary region from extending into the divided shape. It becomes possible.
Further, the substrate dividing method according to the fourth invention is the substrate dividing method according to any one of the first to third inventions, wherein the planned dividing line has a curved portion, and in the dividing auxiliary region forming step, The division assisting area is formed along a straight line that forms an angle of 0 ° to 45 ° with a tangent at a predetermined point on the curved portion.
第四の発明に係る基板分割方法では、分割補助領域の延びる方向と改質領域の所定点における接線の延びる方向とのなす角度を0°以上45°以内とすることによって、分割補助領域で発生した割れが分割形状内に延びることを抑制することが可能となる。
また、第五の発明に係る基板分割方法は、第一乃至四のうちいずれか一の発明に係る基板分割方法において、分割補助領域形成工程において、分割補助領域を、分割予定線によって区画される分割形状の中心部から基板の端部に向かって延びる直線に沿って形成することを特徴とする。
In the substrate dividing method according to the fourth aspect of the invention, the angle formed between the extending direction of the dividing auxiliary region and the extending direction of the tangent line at a predetermined point of the modified region is 0 ° or more and 45 ° or less, and is generated in the dividing auxiliary region. It becomes possible to suppress that the crack which carried out extends in a division | segmentation shape.
The substrate dividing method according to a fifth aspect of the present invention is the substrate dividing method according to any one of the first to fourth aspects, wherein the division auxiliary region is partitioned by the planned dividing line in the division auxiliary region forming step. It is characterized by being formed along a straight line extending from the center of the divided shape toward the end of the substrate.
第五の発明に係る基板分割方法では、分割補助領域を分割形状の中心部から基板の端部に向かって延びる直線に沿って形成することによって、分割形状の周囲の切片の分割形状からの分離が容易となる。
さらに、第六の発明に係る基板分割方法は、第一乃至第五のうちいずれか一の発明に係る基板分割方法において、分割工程において、外力として、基板に、基板の平面方向に沿う放射状の引張力を加えることを特徴とする。
第六の発明に係る基板分割方法では、分割形状の周囲の切片を分割形状から引き離す方向に力が加わるため、分割形状の内側に割れが発生することを抑制することが可能となる。
In the substrate dividing method according to the fifth invention, the dividing auxiliary region is formed along a straight line extending from the central portion of the dividing shape toward the edge of the substrate, thereby separating the section around the dividing shape from the dividing shape. Becomes easy.
Further, a substrate dividing method according to a sixth invention is the substrate dividing method according to any one of the first to fifth inventions, wherein, in the dividing step, the substrate is radially applied along the plane direction of the substrate as an external force. It is characterized by applying a tensile force.
In the substrate dividing method according to the sixth aspect of the present invention, a force is applied in the direction of separating the segment around the divided shape from the divided shape, so that it is possible to suppress the occurrence of cracks inside the divided shape.
次に、本発明に係る基板分割方法の実施形態について、図面を参照しながら説明する。
本発明に係る基板分割方法は、石英ガラス基板、水晶基板、サファイア基板、シリコン基板等の脆性材料により形成された基板の分割に適用することに適している。また、本発明に係る基板分割方法によって形成される基板としては、例えば、液晶表示パネルに使用されるTFT基板が含まれる。
本実施形態では、本発明に係る基板分割方法を、石英ガラス基板の分割に適用した場合の一例について説明する。
Next, an embodiment of a substrate dividing method according to the present invention will be described with reference to the drawings.
The substrate dividing method according to the present invention is suitable for application to dividing a substrate formed of a brittle material such as a quartz glass substrate, a quartz substrate, a sapphire substrate, or a silicon substrate. The substrate formed by the substrate dividing method according to the present invention includes, for example, a TFT substrate used for a liquid crystal display panel.
In the present embodiment, an example in which the substrate dividing method according to the present invention is applied to dividing a quartz glass substrate will be described.
(レーザスクライブ方法について)
まず、分割対象基板4をレーザ光(ビーム)で分割するレーザスクライブ方法について説明する。
ここで、分割対象基板4は、分割形状の基板を切り出す(分割する)前の基板をいう。分割対象基板4は、本実施形態では、石英ガラスにより形成されている。また、以下、分割対象基板4を分割して形成された基板を、分割基板という。さらに、分割形状とは、目標とする分割基板の形状をいう。
(About laser scribing method)
First, a laser scribing method for dividing the
Here, the
図1は、レーザスクライブ方法の概念図である。
図1に示すように、後述するレーザビーム照射装置10により、分割対象基板4の内部に集光したレーザ光を照射すると、分割対象基板4におけるレーザ光の集光領域5に改質領域が形成される。
そして、改質領域が形成された分割対象基板4に外力を加えると、改質領域に沿って分割対象基板4が分割される。これにより、分割形状の周囲の余分な切片が分離され、分割対象基板4から分割基板が形成される。
FIG. 1 is a conceptual diagram of a laser scribing method.
As shown in FIG. 1, when a laser beam focused on the inside of the
When an external force is applied to the
(レーザビーム照射装置の構成)
次に、レーザスクライブ方法の実施に使用するレーザビーム照射装置10について説明する。
図2は、レーザビーム照射装置を示す概略構成図である。
図2に示すレーザビーム照射装置10は、レーザ光を出射するレーザ光源11と、出射されたレーザ光を反射するダイクロイックミラー12と、反射したレーザ光を集光する集光レンズ13と、分割対象基板4を載置するステージ17とを備えている。
(Configuration of laser beam irradiation device)
Next, the laser
FIG. 2 is a schematic configuration diagram showing a laser beam irradiation apparatus.
A laser
レーザ光源11としては、例えば、チタンサファイヤを固体光源とするレーザ光をフェムト秒のパルス幅で出射する、所謂フェムト秒レーザが用いられる。この場合、パルスレーザ光は、波長分散特性を有しており、中心波長が800nm、パルス幅は凡そ300fs(フェムト秒)、パルス周期は5kHz、出力は凡そ1000mWである。また、レーザ光源11としては、ピコ秒パルスレーザ(中心波長:800nm、パルス幅:3ps、平均出力:1W)、YAGレーザ(波長:355nm、パルス幅:35ns、平均出力:10W)等を用いることも可能である。 As the laser light source 11, for example, a so-called femtosecond laser that emits a laser beam having titanium sapphire as a solid light source with a pulse width of femtosecond is used. In this case, the pulse laser beam has wavelength dispersion characteristics, the center wavelength is 800 nm, the pulse width is about 300 fs (femtosecond), the pulse period is 5 kHz, and the output is about 1000 mW. As the laser light source 11, a picosecond pulse laser (center wavelength: 800 nm, pulse width: 3 ps, average output: 1 W), YAG laser (wavelength: 355 nm, pulse width: 35 ns, average output: 10 W) or the like is used. Is also possible.
集光レンズ13としては、例えば、倍率100倍、開口数(NA)0.8、WD(Working Distance)3mmの対物レンズが用いられる。なお、集光レンズ13は、開口数が0.1以上であればよく、上記に限定されるものではない。集光レンズ13は、Z軸スライド機構14から延設されたスタンドアーム14aによって支持されている。
また、レーザビーム照射装置10は、ステージ17を集光レンズ13に対してX軸方向(図2の左右方向)に移動させるX軸スライド部20と、ステージ17を集光レンズ13に対してY軸方向(図2の奥行き方向)に移動させるY軸スライド部21とを備えている。X軸スライド部20及びY軸スライド部21は、ステージ17の水平方向の位置を調整することによって、ステージ17に載置された分割対象基板4に対して照射されるレーザ光の水平方向の位置を調整することができる。
As the
Further, the laser
また、レーザビーム照射装置10は、集光レンズ13をステージ17に対してZ軸方向(図2の上下方向)に移動させるZ軸スライド機構14を備えている。Z軸スライド機構14は、集光レンズ13の上下方向の位置を調整することによって、ステージ17に載置された分割対象基板4に対して照射されるレーザ光の集光領域の上下方向の位置を調整することができる。Z軸スライド機構14には、移動距離を検出可能な位置センサ(図示せず)が内蔵されている。
また、レーザビーム照射装置10は、レーザ光の収差を補正する石英ガラス板16を備えている。石英ガラス板16は、集光レンズ13と分割対象基板4との間にレーザ光の光軸に対して直交するように配置されている。石英ガラス板16は、Z軸スライド機構14と共に移動するモータ15から延びる回転アーム15aの先端部に取り付けられている。なお、レーザビーム照射装置10では、石英ガラス板16に代えて、収差補正機能を有する集光レンズ13を備える構成としても構わない。
The laser
Further, the laser
また、レーザビーム照射装置10は、ステージ17に載置された分割対象基板4を撮像する撮像装置22を備えている。撮像装置22は、ダイクロイックミラー12を挟んで集光レンズ13の反対側に配置されている。撮像装置22は、同軸落射型光源及びCCD(固体撮像素子)を有し、同軸落射型光源から出射した可視光が、集光レンズ13を透過して焦点を結ぶように構成されている。
また、レーザビーム照射装置10は、前記各構成を制御するメインコンピュータ30を備えている。メインコンピュータ30は、CPUと、各種メモリと、撮像装置22で撮像した画像情報を処理する画像処理部34とを備えている。
Further, the laser
In addition, the laser
メインコンピュータ30には、レーザ加工の際に用いられる各種加工条件のデータを入力する入力部35及びレーザ加工時の各種情報を表示する表示部36がそれぞれ接続されている。また、メインコンピュータ30には、レーザ光源11の出力、パルス幅及びパルス周期を制御するレーザ制御部31及びZ軸スライド機構14を駆動して集光レンズ13のZ軸方向の位置を制御するレンズ制御部32がそれぞれ接続されている。さらに、メインコンピュータ30には、X軸スライド部20及びY軸スライド部21をそれぞれレール18,19に沿って移動させるサーボモータ(図示せず)を駆動するステージ制御部33が接続されている。
Connected to the
レンズ制御部32は、Z軸スライド機構14に内蔵されている位置センサの出力を検出して、集光レンズ13のZ軸方向の位置を制御することが可能となっている。これにより、撮像装置22の同軸落射型光源から出射した可視光の焦点が分割対象基板4の表面に一致するように集光レンズ13をZ軸方向に移動させることによって、分割対象基板4の深さ方向(図1及び図2の上下方向)の寸法を計測することが可能となっている。また、レンズ制御部32は、Z軸スライド機構14を駆動するとともに、モータ15を駆動して回転アーム15aをZ軸回りに回転させることによって、集光レンズ13の開口部13aの前面に石英ガラス板16を挿入することが可能となっている。
また、レーザビーム照射装置10は、レーザ光を用いた反射型距離計測装置9を備えている。反射型距離計測装置9は、例えば、複数の石英ガラス基板を積層した分割対象基板4であっても、各石英基板の表裏面の距離を計測することにより、各石英ガラス基板の深さ方向の寸法を検出することが可能となっている。
The
Further, the laser
(レーザビーム照射装置の作用)
レーザビーム照射装置10は、ステージ17に載置された分割対象基板4にレーザ光を照射し、分割対象基板4におけるレーザ光の集光領域に改質領域を形成する。
そして、レーザビーム照射装置10は、分割対象基板4に設定された分割予定線D(図5参照)に沿って改質領域を形成することができる。ここで、分割予定線Dとは、分割対象基板4に設定された、分割対象基板4を分割する目標となる線をいう。なお、分割予定線Dは、仮想の線であっても、分割対象基板4の表面に形成された溝等からなる線であっても構わない。
また、レーザビーム照射装置10は、収差補正手段としての石英ガラス板16を用いてレーザ光の集光領域を長くすること、つまりエネルギー密度の高い領域を長くすることによって、改質領域を深さ方向に長く形成することが可能となっている。
(Operation of laser beam irradiation device)
The laser
Then, the laser
Further, the laser
(本発明に係る基板分割方法について)
次に、本発明に係る基板分割方法について説明する。
図3は、本発明に係る基板分割方法を示すフローチャートである。
本発明に係る基板分割方法では、図3に示すように、まず、分割対象基板4に分割予定線Dを設定する(ステップS100)。
本実施の形態では、分割予定線Dは、分割形状F(図5参照)を区画するように設定される。
(About the substrate dividing method according to the present invention)
Next, the substrate dividing method according to the present invention will be described.
FIG. 3 is a flowchart showing a substrate dividing method according to the present invention.
In the substrate dividing method according to the present invention, as shown in FIG. 3, first, a division line D is set on the division target substrate 4 (step S100).
In the present embodiment, the division line D is set so as to partition the division shape F (see FIG. 5).
次に、レーザビーム照射装置10によって、ステップS100で設定された分割予定線Dに沿って改質領域を形成する(ステップS101:改質領域形成工程)。
本実施形態では、改質領域は、分割対象基板4の表面部に形成する。ここで、改質領域が形成される分割対象基板4の表面部とは、改質領域を形成した場合に、分割対象基板4の表面に亀裂(以下、表面亀裂という)が発生する位置をいう。なお、表面亀裂とは、改質領域から分割対象基板4の表面に達する微細な亀裂をいう。例えば、改質領域は、改質領域の表面側の端部と分割対象基板4の表面との間隔が40〜50μmとなる位置に形成する。
Next, the modified region is formed by the laser
In the present embodiment, the modified region is formed on the surface portion of the
なお、改質領域は、分割対象基板4の深さ方向に沿う複数の位置に形成しても構わない。
そして、ステップS101で形成された改質領域と分割対象基板4の端部とを結ぶ線に沿って分割補助領域を形成する(ステップS102:分割補助領域形成工程)。
ここで、分割補助領域とは、分割対象基板4の脆弱性を高めた領域をいう(以下、同様)。本実施形態では、分割補助領域として、分割対象基板4の内部にレーザ光を照射することによって改質領域を形成する。
分割補助領域は、分割予定線Dに沿って形成された改質領域と分割対象基板4の端部とを連続させるように形成されることが好ましい。
The modified regions may be formed at a plurality of positions along the depth direction of the
Then, a division auxiliary region is formed along a line connecting the modified region formed in step S101 and the end of the division target substrate 4 (step S102: division auxiliary region formation step).
Here, the division auxiliary area refers to an area in which the vulnerability of the
The division assisting region is preferably formed so that the modified region formed along the planned division line D and the end of the
なお、分割補助領域は、ダイヤモンドカッターによって分割対象基板4の表面に形成されたスクライブ溝等によって構成しても構わない。分割補助領域をスクライブ溝によって構成する場合には、スクライブ溝は、少なくとも、分割対象基板4に発生する表面亀裂に連続するように形成される。
さらに、改質領域及び分割補助領域が形成された分割対象基板4に外力を加えて、分割対象基板4を分割する(ステップS103:分割工程)。
本実施形態では、外力として、分割対象基板4に、分割対象基板4の平面方向に沿う放射状の引張力を加える。すなわち、改質領域及び分割補助領域が形成された分割対象基板4をエキスパンドテープに貼り付ける。そして、分割対象基板4が貼り付けられたエキスパンドテープを、エキスパンドリングを用いて放射状に引き伸ばす。これによって、分割対象基板4に対して、分割対象基板4の平面方向に沿う放射状の引張力が加えられる。
In addition, you may comprise the division | segmentation auxiliary | assistant area | region by the scribe groove | channel etc. which were formed in the surface of the division | segmentation target board |
Further, the
In the present embodiment, as an external force, a radial tensile force along the plane direction of the
改質領域及び分割補助領域が形成された分割対象基板4に外力を加えると、分割対象基板4が、分割対象基板4の分割予定線Dに沿って形成された改質領域に沿って分割されて、分割基板が形成される。
この場合に、本発明に係る基板分割方法では、ステップS102において、分割対象基板4の分割予定線Dに沿って形成された改質領域と分割対象基板4の端部とを結ぶ線に沿って分割補助領域を形成している。
これによって、分割対象基板4の分割予定線Dに沿って形成された改質領域と、この改質領域と分割対象基板4の端部とを結ぶ線に沿って形成された分割補助領域とによって、分割対象基板4において、分割形状の周囲の切片が区切られる。
これによって、ステップS103において、分割対象基板4に外力が加えられた際に、分割形状の周囲の切片が割れ易くなり、切片が分割形状から分離され易くなる。
When an external force is applied to the
In this case, in the substrate dividing method according to the present invention, in step S <b> 102, along the line connecting the modified region formed along the planned division line D of the
As a result, the modified region formed along the planned division line D of the
Accordingly, when an external force is applied to the
したがって、本発明に係る基板分割方法によれば、分割予定の形状と実際に分割された分割基板の形状との一致性の低下を抑制することが可能となる。
この場合、ステップS102で形成される分割補助領域の数を増やすほど、分割形状の周囲の切片が小さく区切られるため、さらに有効となる。
特に、分割形状が四角形以外の異形の分割基板を形成する場合には、分割形状の複雑さ等の理由から、分割対象基板4の分割予定線Dに沿って形成された改質領域から逸れて基板が分割され易い。しかしながら、本発明に係る基板分割方法によれば、分割対象基板4に外力を加えた際に、分割補助領域と分割予定線Dに沿って形成された改質領域とにおいて分割対象基板4が分割されるため、分割形状が異形の分割基板を形成する場合であっても、目的とする形状に基板を分割することが可能となる。なお、異形とは、円形、星形、ハート形等、四角形以外の形状をいう。
Therefore, according to the substrate dividing method according to the present invention, it is possible to suppress a decrease in coincidence between the shape to be divided and the shape of the divided substrate actually divided.
In this case, as the number of division assist areas formed in step S102 is increased, the segments around the divided shape are divided into smaller sections, which is more effective.
In particular, in the case of forming an odd-shaped divided substrate other than a quadrangle, because of the complexity of the divided shape and the like, it deviates from the modified region formed along the planned division line D of the
また、本発明に係る基板分割方法では、分割対象基板4の分割予定線に沿って形成される改質領域及び分割補助領域を、ともにレーザ光によって形成することによって、分割基板を形成する際の作業効率を向上させることが可能となる。
また、本発明に係る基板分割方法では、ステップS103で、分割対象基板4に加えられる外力が、分割対象基板4の平面方向に沿う放射状の引張力となっている。これによって、分割形状の周囲の切片を分割形状から引き離す方向に力が加わるため、分割形状の内側に割れが発生することを抑制することが可能となる。
In the substrate dividing method according to the present invention, the modified region and the dividing auxiliary region formed along the planned dividing line of the substrate to be divided 4 are both formed by laser light, thereby forming the divided substrate. Work efficiency can be improved.
In the substrate dividing method according to the present invention, the external force applied to the
図4は、エキスパンドテープを用いて分割対象基板に加えられた放射状の引張力の分布を示す図である。なお、図4では、分割対象基板の各部分に作用する力の向きを、矢印の向きによって示している。また、図4では、分割対象基板の各部分に作用する力の大きさと矢印の大きさとを比例させて示している。
エキスパンドテープを用いて分割対象基板4に対して平面方向に沿う放射状の引張力を加えると、分割対象基板4の各部分に作用する引張力は、図4に示すように、分割対象基板4の中心部で最も小さく、分割対象基板4の端部に近づくにしたがって大きくなる。
FIG. 4 is a diagram showing a distribution of radial tensile force applied to the substrate to be divided using the expanded tape. In FIG. 4, the direction of the force acting on each part of the division target substrate is indicated by the direction of the arrow. Further, in FIG. 4, the magnitude of the force acting on each part of the division target substrate and the magnitude of the arrow are shown in proportion.
When a radial tensile force along the plane direction is applied to the
したがって、ステップS103で分割対象基板4に対して平面方向に沿う放射状の引張力を加えると、まず、分割補助領域の分割対象基板4の端部側で割れが発生する。そして、分割補助領域の分割対象基板4の端部側で発生した割れは、分割補助領域に沿って分割予定線D側に向かって延びて、分割予定線Dに沿って形成された改質領域に伝達される。
よって、分割補助領域が分割予定線Dに沿って形成された改質領域に対して割れの契機を与えることによって、さらに、分割予定の形状と実際に分割された分割基板の形状との一致性の低下を抑制することが可能となる。
ここで、図3のステップS101とS102とは、順序が逆であっても構わない。すなわち、分割対象基板4において、分割補助領域を形成した後に、分割予定線Dに沿って改質領域を形成しても構わない。
また、分割対象基板4に加えられる外力は、曲げモーメントであっても構わない。
Therefore, when a radial tensile force along the plane direction is applied to the
Therefore, by providing an opportunity for cracking in the reformed region formed along the planned division line D, the matching between the shape to be divided and the shape of the divided substrate actually divided is further achieved. Can be suppressed.
Here, the order of steps S101 and S102 in FIG. 3 may be reversed. That is, in the
Further, the external force applied to the
(分割補助領域形成工程の第一の実施例)
次に、図3のステップS102の分割補助領域形成工程の第一の実施例について詳細に説明する。
図5は、分割対象基板に形成される分割補助領域の第一の配置例を示す模式図である。
以下、分割補助領域形成工程の第一の実施例を、分割形状Fが円形の分割基板を形成する場合を例にして説明する。
上述したように、ステップS102では、分割予定線Dに沿って形成された改質領域から分割対象基板4の端部に向かって延びる分割補助領域を形成する。
(First Example of Division Auxiliary Region Formation Step)
Next, the first embodiment of the division assisting region forming step in step S102 of FIG. 3 will be described in detail.
FIG. 5 is a schematic diagram illustrating a first arrangement example of the auxiliary division regions formed on the division target substrate.
Hereinafter, a first embodiment of the division assisting region forming step will be described by taking as an example the case where a divided substrate having a divided division F is formed.
As described above, in step S <b> 102, a division assist region extending from the modified region formed along the planned division line D toward the end of the
この場合に、本実施例では、分割補助領域が、分割予定線Dによって区画される分割形状Fの中心部から分割対象基板4の端部に向かって延びる直線Sに沿って形成される。
すなわち、図5に示すように、分割補助領域が、分割予定線Dによって区画される円形の分割形状Fの中心部から分割対象基板4の端部に向かって延びる直線S1〜S4に沿って形成される。ここで、分割補助領域を形成する数は、任意に設定して構わない(以下、同様)。なお、本実施例では、分割補助領域は、放射状に4本形成されている。
これによって、本実施例に係る基板分割方法では、分割補助領域を分割形状Fの中心部から分割対象基板4の端部に向かって延びる直線Sに沿って形成することによって、分割形状Fの周囲の切片の分割形状Fからの分離が容易となる。
In this case, in the present embodiment, the division assist region is formed along a straight line S extending from the center of the division shape F partitioned by the planned division line D toward the end of the
That is, as shown in FIG. 5, the division assist region is formed along straight lines S <b> 1 to S <b> 4 extending from the center of the circular division shape F partitioned by the planned division line D toward the end of the
Thus, in the substrate dividing method according to the present embodiment, the dividing auxiliary region is formed along the straight line S extending from the center of the dividing shape F toward the end of the dividing
(分割補助領域形成工程の第二の実施例)
次に、図3のステップS102の分割補助領域形成工程の第二の実施例について詳細に説明する。
図6は、分割対象基板に形成される分割補助領域の第二の配置例を示す模式図である。
以下、分割補助領域形成工程の第二の実施例を、分割形状Fが星形の分割基板を形成する場合を例にして説明する。
上述したように、ステップS102では、分割予定線Dに沿って形成された改質領域から分割対象基板4の端部に向かって延びる分割補助領域を形成する。
(Second Example of Division Auxiliary Region Formation Step)
Next, the second embodiment of the auxiliary division region forming step in step S102 of FIG. 3 will be described in detail.
FIG. 6 is a schematic diagram illustrating a second arrangement example of the division assist regions formed on the division target substrate.
Hereinafter, a second embodiment of the division assisting region forming step will be described by taking as an example the case where a division substrate having a division shape F of star shape is formed.
As described above, in step S <b> 102, a division assist region extending from the modified region formed along the planned division line D toward the end of the
この場合に、本実施例では、分割補助領域が、分割予定線Dの直線部DSの延長線Eに沿って形成される。
すなわち、図6に示すように、分割補助領域が、星形の分割形状Fを区画する分割予定線Dを構成するそれぞれの直線部DSの延長線E1〜E10に沿って形成される。
これによって、本実施例に係る基板分割方法では、分割補助領域の延びる方向と改質領域の延びる方向とが一致していることによって、分割補助領域で発生した割れが分割形状F内に延びることを抑制することが可能となる。
In this case, in the present embodiment, the division assist region is formed along the extension line E of the straight line portion DS of the planned division line D.
That is, as shown in FIG. 6, the division assist region is formed along the extension lines E <b> 1 to E <b> 10 of the respective straight line portions DS that constitute the planned division line D that divides the star-shaped division shape F.
Accordingly, in the substrate dividing method according to the present embodiment, the crack generated in the dividing auxiliary region extends in the dividing shape F because the extending direction of the dividing auxiliary region and the extending direction of the reforming region coincide with each other. Can be suppressed.
(分割補助領域形成工程の第三の実施例)
次に、図3のステップS102の分割補助領域形成工程の第三の実施例について詳細に説明する。
図7は、分割対象基板に形成される分割補助領域の第三の配置例を示す模式図である。図8は、分割対象基板に形成される分割補助領域の第四の配置例を示す模式図である。
以下、分割補助領域形成工程の第三の実施例を、分割形状Fが円形の分割基板を形成する場合を例にして説明する。
上述したように、ステップS102では、分割予定線Dに沿って形成された改質領域から分割対象基板4の端部に向かって延びる分割補助領域を形成する。
(Third embodiment of the division auxiliary region forming step)
Next, a third embodiment of the division assisting region forming step in step S102 of FIG. 3 will be described in detail.
FIG. 7 is a schematic diagram illustrating a third arrangement example of the auxiliary division regions formed on the division target substrate. FIG. 8 is a schematic diagram illustrating a fourth arrangement example of the auxiliary division regions formed on the division target substrate.
Hereinafter, a third embodiment of the division assisting region forming step will be described by taking as an example a case where a divided substrate having a circular division shape F is formed.
As described above, in step S <b> 102, a division assist region extending from the modified region formed along the planned division line D toward the end of the
この場合に、本実施例では、分割補助領域が、分割予定線Dの曲線部DC上の所定点aにおける接線Tに対して0°以上45°以内の角度をなし、所定点aにおいて曲線部DCと交わる直線Lに沿って形成される。ここで、所定点aは、任意に設定して構わない。
すなわち、図7に示すように、分割補助領域が、円形の分割形状Fを区画する分割予定線Dの所定点aにおいて、接線Tと0°以上45°以内の角度をなす直線Lに沿って形成される。
これによって、本実施例に係る基板分割方法では、分割補助領域の延びる方向と改質領域の所定点における接線の延びる方向とのなす角度を0°以上45°以内とすることによって、分割補助領域で発生した割れが分割形状F内に延びることを抑制することが可能となる。
In this case, in the present embodiment, the division assistance area forms an angle of 0 ° or more and 45 ° or less with respect to the tangent line T at the predetermined point a on the curved portion DC of the planned division line D, and the curved portion at the predetermined point a. It is formed along a straight line L that intersects DC. Here, the predetermined point a may be set arbitrarily.
That is, as shown in FIG. 7, the division assisting region is along a straight line L that forms an angle of 0 ° or more and 45 ° or less with the tangent line T at a predetermined point a of the division line D that divides the circular division shape F. It is formed.
Thus, in the substrate dividing method according to the present embodiment, the angle formed between the extending direction of the dividing auxiliary region and the extending direction of the tangent line at a predetermined point of the modified region is set to 0 ° or more and 45 ° or less. It is possible to suppress the crack generated in
特に、分割補助領域は、図8に示すように、分割予定線Dの曲線部DC上の所定点aにおいて、接線Tと0°の角度をなす直線、即ち接線Tに沿って形成されることが好ましい。なお、図8では、分割補助領域が、円形の分割形状Fを区画する分割予定線Dの4つの所定点a1〜a4における接線T1〜T4に沿って形成されている。
分割補助領域が、分割予定線Dの曲線部DC上の所定点aにおける接線Tに沿って形成されることによって、分割補助領域の延長線が円形の分割形状F内に入り込むことがないため、分割補助領域が契機となって分割対象基板4に発生する割れが円形の分割形状F内に延びることを、さらに抑制することが可能となる。
以上、ステップS102の分割補助領域形成工程の第一乃至第三の実施例について説明したが、ステップS102の分割補助領域形成工程の第一乃至第三の実施例は、適宜、組み合わせることが可能となっている。
In particular, as shown in FIG. 8, the division assisting area is formed along a straight line that forms an angle of 0 ° with the tangent line T at a predetermined point a on the curved line DC of the planned division line D, that is, the tangent line T. Is preferred. In FIG. 8, the division assist region is formed along tangents T <b> 1 to T <b> 4 at four predetermined points a <b> 1 to a <b> 4 of the planned division line D that divides the circular division shape F.
Since the division auxiliary region is formed along the tangent line T at the predetermined point a on the curved portion DC of the planned division line D, the extension line of the division auxiliary region does not enter the circular divided shape F. It is possible to further suppress the crack generated in the
The first to third embodiments of the division assist region forming process in step S102 have been described above. However, the first to third embodiments of the partition assistant region forming process in step S102 can be combined as appropriate. It has become.
図9は、分割対象基板に形成される分割補助領域の第五の配置例を示す模式図である。図10は、分割対象基板に形成される分割補助領域の第六の配置例を示す模式図である。
すなわち、分割形状Fを区画する分割予定線Dが直線部DS及び曲線部DCを有している場合には、分割補助領域が、分割予定線Dの直線部DSの延長線に沿って形成されるとともに、分割予定線Dの曲線部DC上の所定点aにおいて、接線Tと0°以上45°以内の角度をなす直線Lに沿って形成される。
例えば、図9に示すように、ハート形の分割形状Fの分割基板を形成する場合には、ハート形の分割形状Fを区画する分割予定線Dの直線部DSの延長線E1,E2に沿って分割補助領域を形成する。また、ハート形の分割形状Fを区画する分割予定線Dの曲線部DC上の所定点a1〜a6における接線T1〜T6に沿って分割補助領域を形成する。
FIG. 9 is a schematic diagram illustrating a fifth arrangement example of the division assist regions formed on the division target substrate. FIG. 10 is a schematic diagram illustrating a sixth arrangement example of the division assist regions formed on the division target substrate.
That is, when the planned division line D that divides the division shape F includes the straight line portion DS and the curved line portion DC, the division auxiliary region is formed along the extended line of the straight line portion DS of the planned division line D. In addition, at a predetermined point a on the curved line DC of the planned dividing line D, it is formed along a straight line L that forms an angle with the tangent line T between 0 ° and 45 °.
For example, as shown in FIG. 9, in the case of forming a divided substrate having a heart-shaped divided shape F, along the extended lines E1, E2 of the straight line portion DS of the planned dividing line D that divides the heart-shaped divided shape F. To form a division assist region. Moreover, a division | segmentation auxiliary | assistant area | region is formed along the tangent T1-T6 in the predetermined points a1-a6 on the curve part DC of the division | segmentation planned line D which divides the heart-shaped division | segmentation shape F. FIG.
また、図10に示すように、扇形の分割形状Fの分割基板を形成する場合には、扇形の分割形状Fを区画する分割予定線Dの直線部DSの延長線E1〜E4に沿って分割補助領域を形成する。また、扇形の分割形状Fを区画する分割予定線Dの曲線部DC上の所定点a1,a2における接線T1,T2に沿って分割補助領域を形成する。
このように、ステップS102の分割補助領域形成工程の第一乃至第三の実施例を、適宜、組み合わせることによって、分割形状が異形の分割基板を形成する場合であっても、目的とする形状に基板を分割することが可能となる。
In addition, as shown in FIG. 10, in the case of forming a divided substrate having a fan-shaped divided shape F, it is divided along the extended lines E1 to E4 of the straight line portion DS of the planned dividing line D that defines the fan-shaped divided shape F. An auxiliary region is formed. Moreover, a division | segmentation auxiliary | assistant area | region is formed along the tangent T1, T2 in the predetermined points a1, a2 on the curve part DC of the division | segmentation planned line D which divides the sector-shaped division shape F. FIG.
As described above, the first to third embodiments of the division assisting region forming step in step S102 are appropriately combined, so that even if a divided substrate having an irregular shape is formed, the target shape is obtained. The substrate can be divided.
4 分割対象基板、10 レーザビーム照射装置、 D 分割予定線、 F 分割形状。 4 Substrate to be divided, 10 Laser beam irradiation device, D division planned line, F division shape.
Claims (6)
前記改質領域が形成された基板に外力を加えて、該基板を分割する分割工程と、
を有する基板分割方法であって、
前記基板に、前記改質領域と該基板の端部とを結ぶ線に沿って、該基板の脆弱性を高めた領域である分割補助領域を形成する分割補助領域形成工程を有することを特徴とする基板分割方法。 A modified region forming step of irradiating the inside of the substrate with laser light to form a modified region on the substrate along a predetermined division line set on the substrate;
A dividing step of dividing the substrate by applying an external force to the substrate on which the modified region is formed;
A substrate dividing method comprising:
A division auxiliary region forming step of forming a division auxiliary region on the substrate along a line connecting the modified region and an end of the substrate, the division auxiliary region being a region having increased vulnerability of the substrate; Substrate dividing method.
前記分割補助領域形成工程において、前記分割補助領域を、前記直線部の延長線に沿って形成することを特徴とする請求項1又は2記載の基板分割方法。 The planned dividing line has a straight line part,
3. The substrate dividing method according to claim 1, wherein in the dividing auxiliary region forming step, the dividing auxiliary region is formed along an extension line of the straight line portion.
前記分割補助領域形成工程において、前記分割補助領域を、前記曲線部上の所定点において、接線と0°以上45°以内の角度をなす直線に沿って形成することを特徴とする請求項1乃至3のうちいずれか1項記載の基板分割方法。 The planned dividing line has a curved portion,
2. The division auxiliary region forming step, wherein the division auxiliary region is formed along a straight line that forms an angle of 0 ° or more and 45 ° or less at a predetermined point on the curved portion. 4. The substrate dividing method according to claim 1.
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---|---|---|---|
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---|---|
JP (1) | JP2010017990A (en) |
Cited By (23)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2013154604A (en) * | 2012-01-31 | 2013-08-15 | Hamamatsu Photonics Kk | Laser processing method |
KR20160020406A (en) * | 2013-03-21 | 2016-02-23 | 코닝 레이저 테크놀로지스 게엠베하 | Device and method for cutting out contours from planar substrates by means of a laser |
JP2016513016A (en) * | 2013-02-04 | 2016-05-12 | ニューポート コーポレーション | Method and apparatus for laser cutting transparent and translucent substrates |
US10173916B2 (en) | 2013-12-17 | 2019-01-08 | Corning Incorporated | Edge chamfering by mechanically processing laser cut glass |
KR20190015290A (en) * | 2016-06-10 | 2019-02-13 | 닛토덴코 가부시키가이샤 | How to Cut Film |
US10252931B2 (en) | 2015-01-12 | 2019-04-09 | Corning Incorporated | Laser cutting of thermally tempered substrates |
US10335902B2 (en) | 2014-07-14 | 2019-07-02 | Corning Incorporated | Method and system for arresting crack propagation |
US10421683B2 (en) | 2013-01-15 | 2019-09-24 | Corning Laser Technologies GmbH | Method and device for the laser-based machining of sheet-like substrates |
US10522963B2 (en) | 2016-08-30 | 2019-12-31 | Corning Incorporated | Laser cutting of materials with intensity mapping optical system |
US10525657B2 (en) | 2015-03-27 | 2020-01-07 | Corning Incorporated | Gas permeable window and method of fabricating the same |
US10526234B2 (en) | 2014-07-14 | 2020-01-07 | Corning Incorporated | Interface block; system for and method of cutting a substrate being transparent within a range of wavelengths using such interface block |
US10611667B2 (en) | 2014-07-14 | 2020-04-07 | Corning Incorporated | Method and system for forming perforations |
US10626040B2 (en) | 2017-06-15 | 2020-04-21 | Corning Incorporated | Articles capable of individual singulation |
US10752534B2 (en) | 2016-11-01 | 2020-08-25 | Corning Incorporated | Apparatuses and methods for laser processing laminate workpiece stacks |
US11014845B2 (en) | 2014-12-04 | 2021-05-25 | Corning Incorporated | Method of laser cutting glass using non-diffracting laser beams |
US11130701B2 (en) | 2016-09-30 | 2021-09-28 | Corning Incorporated | Apparatuses and methods for laser processing transparent workpieces using non-axisymmetric beam spots |
US11148225B2 (en) | 2013-12-17 | 2021-10-19 | Corning Incorporated | Method for rapid laser drilling of holes in glass and products made therefrom |
US11186060B2 (en) | 2015-07-10 | 2021-11-30 | Corning Incorporated | Methods of continuous fabrication of holes in flexible substrate sheets and products relating to the same |
US11542190B2 (en) | 2016-10-24 | 2023-01-03 | Corning Incorporated | Substrate processing station for laser-based machining of sheet-like glass substrates |
US11556039B2 (en) | 2013-12-17 | 2023-01-17 | Corning Incorporated | Electrochromic coated glass articles and methods for laser processing the same |
US11648623B2 (en) | 2014-07-14 | 2023-05-16 | Corning Incorporated | Systems and methods for processing transparent materials using adjustable laser beam focal lines |
US11697178B2 (en) | 2014-07-08 | 2023-07-11 | Corning Incorporated | Methods and apparatuses for laser processing materials |
US11773004B2 (en) | 2015-03-24 | 2023-10-03 | Corning Incorporated | Laser cutting and processing of display glass compositions |
-
2008
- 2008-07-14 JP JP2008182588A patent/JP2010017990A/en not_active Withdrawn
Cited By (33)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2013154604A (en) * | 2012-01-31 | 2013-08-15 | Hamamatsu Photonics Kk | Laser processing method |
US11028003B2 (en) | 2013-01-15 | 2021-06-08 | Corning Laser Technologies GmbH | Method and device for laser-based machining of flat substrates |
US11345625B2 (en) | 2013-01-15 | 2022-05-31 | Corning Laser Technologies GmbH | Method and device for the laser-based machining of sheet-like substrates |
US10421683B2 (en) | 2013-01-15 | 2019-09-24 | Corning Laser Technologies GmbH | Method and device for the laser-based machining of sheet-like substrates |
JP2019064916A (en) * | 2013-02-04 | 2019-04-25 | ニューポート コーポレーション | Method and apparatus for cutting transparent and translucent substrate by laser |
JP2016513016A (en) * | 2013-02-04 | 2016-05-12 | ニューポート コーポレーション | Method and apparatus for laser cutting transparent and translucent substrates |
US10280108B2 (en) | 2013-03-21 | 2019-05-07 | Corning Laser Technologies GmbH | Device and method for cutting out contours from planar substrates by means of laser |
KR102217082B1 (en) * | 2013-03-21 | 2021-02-19 | 코닝 레이저 테크놀로지스 게엠베하 | Device and method for cutting out contours from planar substrates by means of a laser |
TWI672187B (en) * | 2013-03-21 | 2019-09-21 | 德商柯林雷射科技有限公司 | Device and method for cutting out contours from planar substrates by means of laser |
US11713271B2 (en) | 2013-03-21 | 2023-08-01 | Corning Laser Technologies GmbH | Device and method for cutting out contours from planar substrates by means of laser |
JP2016515944A (en) * | 2013-03-21 | 2016-06-02 | コーニング レーザー テクノロジーズ ゲーエムベーハーCORNING LASER TECHNOLOGIES GmbH | Apparatus and method for cutting a contour shape from a flat substrate using a laser |
KR20160020406A (en) * | 2013-03-21 | 2016-02-23 | 코닝 레이저 테크놀로지스 게엠베하 | Device and method for cutting out contours from planar substrates by means of a laser |
US11556039B2 (en) | 2013-12-17 | 2023-01-17 | Corning Incorporated | Electrochromic coated glass articles and methods for laser processing the same |
US10173916B2 (en) | 2013-12-17 | 2019-01-08 | Corning Incorporated | Edge chamfering by mechanically processing laser cut glass |
US11148225B2 (en) | 2013-12-17 | 2021-10-19 | Corning Incorporated | Method for rapid laser drilling of holes in glass and products made therefrom |
US10597321B2 (en) | 2013-12-17 | 2020-03-24 | Corning Incorporated | Edge chamfering methods |
US11697178B2 (en) | 2014-07-08 | 2023-07-11 | Corning Incorporated | Methods and apparatuses for laser processing materials |
US10611667B2 (en) | 2014-07-14 | 2020-04-07 | Corning Incorporated | Method and system for forming perforations |
US10335902B2 (en) | 2014-07-14 | 2019-07-02 | Corning Incorporated | Method and system for arresting crack propagation |
US10526234B2 (en) | 2014-07-14 | 2020-01-07 | Corning Incorporated | Interface block; system for and method of cutting a substrate being transparent within a range of wavelengths using such interface block |
US11648623B2 (en) | 2014-07-14 | 2023-05-16 | Corning Incorporated | Systems and methods for processing transparent materials using adjustable laser beam focal lines |
US11014845B2 (en) | 2014-12-04 | 2021-05-25 | Corning Incorporated | Method of laser cutting glass using non-diffracting laser beams |
US10252931B2 (en) | 2015-01-12 | 2019-04-09 | Corning Incorporated | Laser cutting of thermally tempered substrates |
US11773004B2 (en) | 2015-03-24 | 2023-10-03 | Corning Incorporated | Laser cutting and processing of display glass compositions |
US10525657B2 (en) | 2015-03-27 | 2020-01-07 | Corning Incorporated | Gas permeable window and method of fabricating the same |
US11186060B2 (en) | 2015-07-10 | 2021-11-30 | Corning Incorporated | Methods of continuous fabrication of holes in flexible substrate sheets and products relating to the same |
KR102328501B1 (en) | 2016-06-10 | 2021-11-18 | 닛토덴코 가부시키가이샤 | How to cut a film |
KR20190015290A (en) * | 2016-06-10 | 2019-02-13 | 닛토덴코 가부시키가이샤 | How to Cut Film |
US10522963B2 (en) | 2016-08-30 | 2019-12-31 | Corning Incorporated | Laser cutting of materials with intensity mapping optical system |
US11130701B2 (en) | 2016-09-30 | 2021-09-28 | Corning Incorporated | Apparatuses and methods for laser processing transparent workpieces using non-axisymmetric beam spots |
US11542190B2 (en) | 2016-10-24 | 2023-01-03 | Corning Incorporated | Substrate processing station for laser-based machining of sheet-like glass substrates |
US10752534B2 (en) | 2016-11-01 | 2020-08-25 | Corning Incorporated | Apparatuses and methods for laser processing laminate workpiece stacks |
US10626040B2 (en) | 2017-06-15 | 2020-04-21 | Corning Incorporated | Articles capable of individual singulation |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20111004 |