JP2010017990A - Substrate dividing method - Google Patents

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Shingo Takahashi
伸吾 高橋
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a substrate dividing method that can suppress the degradation of coincidence between a predetermined divided shape and an actually divided substrate shape. <P>SOLUTION: The substrate dividing method has a reformed area forming process for forming a reformed area on the substrate 4 along a predetermined dividing line D set on the substrate 4 by irradiating laser light in the inside of the substrate 4, and a dividing process for dividing the substrate 4 by adding external force to the substrate 4 formed with the reformed area. The substrate dividing method further has a divided auxiliary area forming process for forming a divided auxiliary area which is an area of enhancing the fragility of the substrate 4 in the substrate 4, along a line that connects the reformed area to the end of the substrate 4. <P>COPYRIGHT: (C)2010,JPO&INPIT

Description

本発明は、基板の内部にレーザ光を照射して、基板に設定された分割予定線に沿って改質領域を形成する基板分割方法に関する。   The present invention relates to a substrate dividing method for forming a modified region along a predetermined division line set on a substrate by irradiating the inside of the substrate with laser light.

従来、この種の技術としては、例えば、基板に集光したレーザ光を照射して、基板の分割予定線に沿って改質領域を形成することによって、基板を容易に分割することを可能とする方法がある(例えば、特許文献1及び2参照)。
特開2002−192369号公報 特開2005−313237号公報
Conventionally, as this type of technology, for example, it is possible to easily divide a substrate by irradiating a laser beam condensed on the substrate and forming a modified region along a planned dividing line of the substrate. (For example, refer to Patent Documents 1 and 2).
JP 2002-192369 A JP 2005-313237 A

しかしながら、上記従来技術にあっては、外力を加えて基板を分割する際に、基板の分割予定線に沿って形成された改質領域以外の部分に割れが発生し、分割予定の形状と実際に分割された基板の形状との一致性が低下する恐れがある。
本発明は、上記従来技術に鑑みてなされたものであって、分割予定の形状と実際に分割された基板の形状との一致性の低下を抑制することが可能な基板分割方法を提供することを課題とする。
However, in the above prior art, when an external force is applied to divide the substrate, cracks occur in portions other than the modified region formed along the planned dividing line of the substrate, and the shape to be divided and the actual shape Consistency with the shape of the substrate divided into two may be reduced.
The present invention has been made in view of the above prior art, and provides a substrate dividing method capable of suppressing a decrease in coincidence between a shape to be divided and the shape of a substrate actually divided. Is an issue.

上記目的を達成するために、第一の発明に係る基板分割方法は、基板の内部にレーザ光を照射して、基板に、基板に設定された分割予定線に沿って改質領域を形成する改質領域形成工程と、改質領域が形成された基板に外力を加えて、基板を分割する分割工程と、を有する基板分割方法であって、基板に、改質領域と基板の端部とを結ぶ線に沿って、基板の脆弱性を高めた領域である分割補助領域を形成する分割補助領域形成工程を有することを特徴とする。   In order to achieve the above object, a substrate dividing method according to a first aspect of the present invention irradiates a laser beam inside the substrate, and forms a modified region on the substrate along a predetermined dividing line set on the substrate. A substrate dividing method comprising: a modified region forming step; and a dividing step of dividing the substrate by applying an external force to the substrate on which the modified region is formed. A division assisting region forming step of forming a division assisting region which is a region with increased fragility of the substrate along a line connecting the two is provided.

第一の発明に係る基板分割方法では、基板の分割予定線に沿って形成された改質領域と、この改質領域と基板の端部とを結ぶ線に沿って形成された分割補助領域とによって、基板において、分割形状の周囲の切片が区切られる。これによって、基板に外力を加えた際に、分割形状の周囲の切片が割れ易くなり、切片が分割形状から分離され易くなる。
したがって、第一の発明に係る基板分割方法によれば、分割予定の形状と実際に分割された基板の形状との一致性の低下を抑制することが可能となる。
特に、分割形状が四角形以外の異形の分割基板を形成する場合には、分割形状の複雑さ等の理由から、基板の分割予定線に沿って形成された改質領域から逸れて基板が分割され易い。しかしながら、第一の発明に係る基板分割方法によれば、基板に外力を加えた際に、分割補助領域と改質領域とにおいて基板が分割されるため、分割形状が異形の分割基板を形成する場合であっても、目的とする形状に基板を分割することが可能となる。
In the substrate dividing method according to the first invention, a modified region formed along a planned dividing line of the substrate, and a dividing auxiliary region formed along a line connecting the modified region and the end of the substrate, As a result, the section around the divided shape is divided on the substrate. Accordingly, when an external force is applied to the substrate, the section around the divided shape is easily broken, and the section is easily separated from the divided shape.
Therefore, according to the substrate dividing method according to the first invention, it is possible to suppress a decrease in the consistency between the shape to be divided and the shape of the actually divided substrate.
In particular, when forming an odd-shaped divided substrate other than a quadrangle, the substrate is separated from the modified region formed along the planned dividing line of the substrate due to the complexity of the divided shape and the like. easy. However, according to the substrate dividing method according to the first invention, when an external force is applied to the substrate, the substrate is divided in the division assisting region and the modified region, so that a divided substrate having an irregular shape is formed. Even in this case, the substrate can be divided into a desired shape.

ここで、分割基板とは、基板を分割して形成された目的とする基板をいう(以下、同様)。また、分割形状とは、目標とする分割基板の形状をいう(以下、同様)。さらに、異形とは、円形、星形、ハート形等、四角形以外の形状をいう。
また、分割予定線とは、分割前の基板に設定された、基板を分割する目標となる線をいう(以下、同様)。なお、分割予定線は、仮想の線であっても、基板の表面に形成された溝等からなる線であっても構わない。
さらに、分割補助領域とは、基板の脆弱性を高めた領域をいう(以下、同様)。分割補助領域は、基板にレーザ光を照射することによって形成された改質領域、ダイヤモンドカッターによって基板の表面に形成されたスクライブ溝等からなる。
また、第二の発明に係る基板分割方法は、第一の発明に係る基板分割方法において、分割補助領域形成工程において、分割補助領域として、基板の内部にレーザ光を照射することによって改質領域を形成することを特徴とする。
Here, the divided substrate refers to a target substrate formed by dividing the substrate (hereinafter the same). Further, the divided shape refers to a target divided substrate shape (hereinafter the same). Further, the irregular shape means a shape other than a quadrangle such as a circle, a star, or a heart.
Further, the division line is a line that is set for the substrate before the division and is a target for dividing the substrate (hereinafter the same). The planned dividing line may be a virtual line or a line made of a groove or the like formed on the surface of the substrate.
Further, the division assist area refers to an area where the vulnerability of the substrate is increased (the same applies hereinafter). The division assist region includes a modified region formed by irradiating the substrate with laser light, a scribe groove formed on the surface of the substrate by a diamond cutter, and the like.
The substrate dividing method according to the second invention is the substrate dividing method according to the first invention, wherein the modified auxiliary region is formed by irradiating the inside of the substrate with laser light as the dividing auxiliary region in the dividing auxiliary region forming step. It is characterized by forming.

第二の発明に係る基板分割方法によれば、基板の分割予定線に沿って形成される改質領域及び分割補助領域をともにレーザ光によって形成することによって、分割基板を形成する際の作業効率を向上させることが可能となる。
また、第三の発明に係る基板分割方法は、第一又は第二の発明に係る基板分割方法において、分割予定線が、直線部を有し、分割補助領域形成工程において、分割補助領域を、直線部の延長線に沿って形成することを特徴とする。
According to the substrate dividing method according to the second invention, the working efficiency when forming the divided substrate by forming both the modified region and the dividing auxiliary region formed along the planned dividing line of the substrate with the laser beam. Can be improved.
Further, the substrate dividing method according to the third invention is the substrate dividing method according to the first or second invention, wherein the planned dividing line has a straight line portion, and in the dividing auxiliary region forming step, the dividing auxiliary region is It is characterized by being formed along an extension line of the straight portion.

第三の発明に係る基板分割方法では、分割補助領域の延びる方向と改質領域の延びる方向とが一致していることによって、分割補助領域で発生した割れが分割形状内に延びることを抑制することが可能となる。
また、第四の発明に係る基板分割方法は、第一乃至第三のうちいずれか一の発明に係る基板分割方法において、分割予定線が、曲線部を有し、分割補助領域形成工程において、分割補助領域を、曲線部上の所定点において、接線と0°以上45°以内の角度をなす直線に沿って形成することを特徴とする。
In the substrate dividing method according to the third aspect of the invention, the extending direction of the dividing auxiliary region and the extending direction of the modified region coincide with each other, thereby suppressing the cracks generated in the dividing auxiliary region from extending into the divided shape. It becomes possible.
Further, the substrate dividing method according to the fourth invention is the substrate dividing method according to any one of the first to third inventions, wherein the planned dividing line has a curved portion, and in the dividing auxiliary region forming step, The division assisting area is formed along a straight line that forms an angle of 0 ° to 45 ° with a tangent at a predetermined point on the curved portion.

第四の発明に係る基板分割方法では、分割補助領域の延びる方向と改質領域の所定点における接線の延びる方向とのなす角度を0°以上45°以内とすることによって、分割補助領域で発生した割れが分割形状内に延びることを抑制することが可能となる。
また、第五の発明に係る基板分割方法は、第一乃至四のうちいずれか一の発明に係る基板分割方法において、分割補助領域形成工程において、分割補助領域を、分割予定線によって区画される分割形状の中心部から基板の端部に向かって延びる直線に沿って形成することを特徴とする。
In the substrate dividing method according to the fourth aspect of the invention, the angle formed between the extending direction of the dividing auxiliary region and the extending direction of the tangent line at a predetermined point of the modified region is 0 ° or more and 45 ° or less, and is generated in the dividing auxiliary region. It becomes possible to suppress that the crack which carried out extends in a division | segmentation shape.
The substrate dividing method according to a fifth aspect of the present invention is the substrate dividing method according to any one of the first to fourth aspects, wherein the division auxiliary region is partitioned by the planned dividing line in the division auxiliary region forming step. It is characterized by being formed along a straight line extending from the center of the divided shape toward the end of the substrate.

第五の発明に係る基板分割方法では、分割補助領域を分割形状の中心部から基板の端部に向かって延びる直線に沿って形成することによって、分割形状の周囲の切片の分割形状からの分離が容易となる。
さらに、第六の発明に係る基板分割方法は、第一乃至第五のうちいずれか一の発明に係る基板分割方法において、分割工程において、外力として、基板に、基板の平面方向に沿う放射状の引張力を加えることを特徴とする。
第六の発明に係る基板分割方法では、分割形状の周囲の切片を分割形状から引き離す方向に力が加わるため、分割形状の内側に割れが発生することを抑制することが可能となる。
In the substrate dividing method according to the fifth invention, the dividing auxiliary region is formed along a straight line extending from the central portion of the dividing shape toward the edge of the substrate, thereby separating the section around the dividing shape from the dividing shape. Becomes easy.
Further, a substrate dividing method according to a sixth invention is the substrate dividing method according to any one of the first to fifth inventions, wherein, in the dividing step, the substrate is radially applied along the plane direction of the substrate as an external force. It is characterized by applying a tensile force.
In the substrate dividing method according to the sixth aspect of the present invention, a force is applied in the direction of separating the segment around the divided shape from the divided shape, so that it is possible to suppress the occurrence of cracks inside the divided shape.

次に、本発明に係る基板分割方法の実施形態について、図面を参照しながら説明する。
本発明に係る基板分割方法は、石英ガラス基板、水晶基板、サファイア基板、シリコン基板等の脆性材料により形成された基板の分割に適用することに適している。また、本発明に係る基板分割方法によって形成される基板としては、例えば、液晶表示パネルに使用されるTFT基板が含まれる。
本実施形態では、本発明に係る基板分割方法を、石英ガラス基板の分割に適用した場合の一例について説明する。
Next, an embodiment of a substrate dividing method according to the present invention will be described with reference to the drawings.
The substrate dividing method according to the present invention is suitable for application to dividing a substrate formed of a brittle material such as a quartz glass substrate, a quartz substrate, a sapphire substrate, or a silicon substrate. The substrate formed by the substrate dividing method according to the present invention includes, for example, a TFT substrate used for a liquid crystal display panel.
In the present embodiment, an example in which the substrate dividing method according to the present invention is applied to dividing a quartz glass substrate will be described.

(レーザスクライブ方法について)
まず、分割対象基板4をレーザ光(ビーム)で分割するレーザスクライブ方法について説明する。
ここで、分割対象基板4は、分割形状の基板を切り出す(分割する)前の基板をいう。分割対象基板4は、本実施形態では、石英ガラスにより形成されている。また、以下、分割対象基板4を分割して形成された基板を、分割基板という。さらに、分割形状とは、目標とする分割基板の形状をいう。
(About laser scribing method)
First, a laser scribing method for dividing the division target substrate 4 with laser light (beam) will be described.
Here, the division target substrate 4 is a substrate before a division-shaped substrate is cut out (divided). In this embodiment, the division target substrate 4 is made of quartz glass. Hereinafter, a substrate formed by dividing the division target substrate 4 is referred to as a divided substrate. Further, the divided shape refers to a target divided substrate shape.

図1は、レーザスクライブ方法の概念図である。
図1に示すように、後述するレーザビーム照射装置10により、分割対象基板4の内部に集光したレーザ光を照射すると、分割対象基板4におけるレーザ光の集光領域5に改質領域が形成される。
そして、改質領域が形成された分割対象基板4に外力を加えると、改質領域に沿って分割対象基板4が分割される。これにより、分割形状の周囲の余分な切片が分離され、分割対象基板4から分割基板が形成される。
FIG. 1 is a conceptual diagram of a laser scribing method.
As shown in FIG. 1, when a laser beam focused on the inside of the division target substrate 4 is irradiated by a laser beam irradiation apparatus 10 to be described later, a modified region is formed in the laser beam focusing region 5 on the division target substrate 4. Is done.
When an external force is applied to the division target substrate 4 on which the modified region is formed, the division target substrate 4 is divided along the modified region. Thereby, an extra section around the divided shape is separated, and a divided substrate is formed from the division target substrate 4.

(レーザビーム照射装置の構成)
次に、レーザスクライブ方法の実施に使用するレーザビーム照射装置10について説明する。
図2は、レーザビーム照射装置を示す概略構成図である。
図2に示すレーザビーム照射装置10は、レーザ光を出射するレーザ光源11と、出射されたレーザ光を反射するダイクロイックミラー12と、反射したレーザ光を集光する集光レンズ13と、分割対象基板4を載置するステージ17とを備えている。
(Configuration of laser beam irradiation device)
Next, the laser beam irradiation apparatus 10 used for implementation of the laser scribing method will be described.
FIG. 2 is a schematic configuration diagram showing a laser beam irradiation apparatus.
A laser beam irradiation apparatus 10 shown in FIG. 2 includes a laser light source 11 that emits laser light, a dichroic mirror 12 that reflects the emitted laser light, a condensing lens 13 that condenses the reflected laser light, and a division target. And a stage 17 on which the substrate 4 is placed.

レーザ光源11としては、例えば、チタンサファイヤを固体光源とするレーザ光をフェムト秒のパルス幅で出射する、所謂フェムト秒レーザが用いられる。この場合、パルスレーザ光は、波長分散特性を有しており、中心波長が800nm、パルス幅は凡そ300fs(フェムト秒)、パルス周期は5kHz、出力は凡そ1000mWである。また、レーザ光源11としては、ピコ秒パルスレーザ(中心波長:800nm、パルス幅:3ps、平均出力:1W)、YAGレーザ(波長:355nm、パルス幅:35ns、平均出力:10W)等を用いることも可能である。   As the laser light source 11, for example, a so-called femtosecond laser that emits a laser beam having titanium sapphire as a solid light source with a pulse width of femtosecond is used. In this case, the pulse laser beam has wavelength dispersion characteristics, the center wavelength is 800 nm, the pulse width is about 300 fs (femtosecond), the pulse period is 5 kHz, and the output is about 1000 mW. As the laser light source 11, a picosecond pulse laser (center wavelength: 800 nm, pulse width: 3 ps, average output: 1 W), YAG laser (wavelength: 355 nm, pulse width: 35 ns, average output: 10 W) or the like is used. Is also possible.

集光レンズ13としては、例えば、倍率100倍、開口数(NA)0.8、WD(Working Distance)3mmの対物レンズが用いられる。なお、集光レンズ13は、開口数が0.1以上であればよく、上記に限定されるものではない。集光レンズ13は、Z軸スライド機構14から延設されたスタンドアーム14aによって支持されている。
また、レーザビーム照射装置10は、ステージ17を集光レンズ13に対してX軸方向(図2の左右方向)に移動させるX軸スライド部20と、ステージ17を集光レンズ13に対してY軸方向(図2の奥行き方向)に移動させるY軸スライド部21とを備えている。X軸スライド部20及びY軸スライド部21は、ステージ17の水平方向の位置を調整することによって、ステージ17に載置された分割対象基板4に対して照射されるレーザ光の水平方向の位置を調整することができる。
As the condenser lens 13, for example, an objective lens having a magnification of 100 times, a numerical aperture (NA) of 0.8, and a WD (Working Distance) of 3 mm is used. In addition, the condensing lens 13 should just have a numerical aperture of 0.1 or more, and is not limited above. The condenser lens 13 is supported by a stand arm 14 a extending from the Z-axis slide mechanism 14.
Further, the laser beam irradiation apparatus 10 includes an X-axis slide unit 20 that moves the stage 17 in the X-axis direction (left-right direction in FIG. 2) relative to the condenser lens 13, and the stage 17 that moves the stage 17 relative to the condenser lens 13. And a Y-axis slide portion 21 that is moved in the axial direction (the depth direction in FIG. 2). The X-axis slide unit 20 and the Y-axis slide unit 21 adjust the horizontal position of the stage 17 to adjust the horizontal position of the laser beam irradiated to the division target substrate 4 placed on the stage 17. Can be adjusted.

また、レーザビーム照射装置10は、集光レンズ13をステージ17に対してZ軸方向(図2の上下方向)に移動させるZ軸スライド機構14を備えている。Z軸スライド機構14は、集光レンズ13の上下方向の位置を調整することによって、ステージ17に載置された分割対象基板4に対して照射されるレーザ光の集光領域の上下方向の位置を調整することができる。Z軸スライド機構14には、移動距離を検出可能な位置センサ(図示せず)が内蔵されている。
また、レーザビーム照射装置10は、レーザ光の収差を補正する石英ガラス板16を備えている。石英ガラス板16は、集光レンズ13と分割対象基板4との間にレーザ光の光軸に対して直交するように配置されている。石英ガラス板16は、Z軸スライド機構14と共に移動するモータ15から延びる回転アーム15aの先端部に取り付けられている。なお、レーザビーム照射装置10では、石英ガラス板16に代えて、収差補正機能を有する集光レンズ13を備える構成としても構わない。
The laser beam irradiation apparatus 10 also includes a Z-axis slide mechanism 14 that moves the condenser lens 13 in the Z-axis direction (vertical direction in FIG. 2) with respect to the stage 17. The Z-axis slide mechanism 14 adjusts the vertical position of the condensing lens 13 to thereby adjust the vertical position of the condensing region of the laser light irradiated onto the division target substrate 4 placed on the stage 17. Can be adjusted. The Z-axis slide mechanism 14 incorporates a position sensor (not shown) that can detect the movement distance.
Further, the laser beam irradiation apparatus 10 includes a quartz glass plate 16 that corrects aberration of laser light. The quartz glass plate 16 is disposed between the condenser lens 13 and the division target substrate 4 so as to be orthogonal to the optical axis of the laser light. The quartz glass plate 16 is attached to the tip of a rotating arm 15 a extending from a motor 15 that moves with the Z-axis slide mechanism 14. Note that the laser beam irradiation apparatus 10 may include a condensing lens 13 having an aberration correction function instead of the quartz glass plate 16.

また、レーザビーム照射装置10は、ステージ17に載置された分割対象基板4を撮像する撮像装置22を備えている。撮像装置22は、ダイクロイックミラー12を挟んで集光レンズ13の反対側に配置されている。撮像装置22は、同軸落射型光源及びCCD(固体撮像素子)を有し、同軸落射型光源から出射した可視光が、集光レンズ13を透過して焦点を結ぶように構成されている。
また、レーザビーム照射装置10は、前記各構成を制御するメインコンピュータ30を備えている。メインコンピュータ30は、CPUと、各種メモリと、撮像装置22で撮像した画像情報を処理する画像処理部34とを備えている。
Further, the laser beam irradiation apparatus 10 includes an imaging device 22 that images the division target substrate 4 placed on the stage 17. The imaging device 22 is disposed on the opposite side of the condenser lens 13 with the dichroic mirror 12 interposed therebetween. The imaging device 22 includes a coaxial incident light source and a CCD (solid-state imaging device), and is configured such that visible light emitted from the coaxial incident light source passes through the condenser lens 13 and is focused.
In addition, the laser beam irradiation apparatus 10 includes a main computer 30 that controls the above-described components. The main computer 30 includes a CPU, various memories, and an image processing unit 34 that processes image information captured by the imaging device 22.

メインコンピュータ30には、レーザ加工の際に用いられる各種加工条件のデータを入力する入力部35及びレーザ加工時の各種情報を表示する表示部36がそれぞれ接続されている。また、メインコンピュータ30には、レーザ光源11の出力、パルス幅及びパルス周期を制御するレーザ制御部31及びZ軸スライド機構14を駆動して集光レンズ13のZ軸方向の位置を制御するレンズ制御部32がそれぞれ接続されている。さらに、メインコンピュータ30には、X軸スライド部20及びY軸スライド部21をそれぞれレール18,19に沿って移動させるサーボモータ(図示せず)を駆動するステージ制御部33が接続されている。   Connected to the main computer 30 are an input unit 35 for inputting data of various processing conditions used in laser processing and a display unit 36 for displaying various information at the time of laser processing. The main computer 30 also includes a laser controller 31 that controls the output, pulse width, and pulse period of the laser light source 11 and a Z-axis slide mechanism 14 to control the position of the condenser lens 13 in the Z-axis direction. Control units 32 are connected to each other. Further, a stage control unit 33 that drives a servo motor (not shown) that moves the X-axis slide unit 20 and the Y-axis slide unit 21 along the rails 18 and 19, respectively, is connected to the main computer 30.

レンズ制御部32は、Z軸スライド機構14に内蔵されている位置センサの出力を検出して、集光レンズ13のZ軸方向の位置を制御することが可能となっている。これにより、撮像装置22の同軸落射型光源から出射した可視光の焦点が分割対象基板4の表面に一致するように集光レンズ13をZ軸方向に移動させることによって、分割対象基板4の深さ方向(図1及び図2の上下方向)の寸法を計測することが可能となっている。また、レンズ制御部32は、Z軸スライド機構14を駆動するとともに、モータ15を駆動して回転アーム15aをZ軸回りに回転させることによって、集光レンズ13の開口部13aの前面に石英ガラス板16を挿入することが可能となっている。
また、レーザビーム照射装置10は、レーザ光を用いた反射型距離計測装置9を備えている。反射型距離計測装置9は、例えば、複数の石英ガラス基板を積層した分割対象基板4であっても、各石英基板の表裏面の距離を計測することにより、各石英ガラス基板の深さ方向の寸法を検出することが可能となっている。
The lens control unit 32 can detect the output of a position sensor built in the Z-axis slide mechanism 14 and control the position of the condenser lens 13 in the Z-axis direction. Accordingly, the focusing lens 13 is moved in the Z-axis direction so that the focal point of the visible light emitted from the coaxial incident light source of the imaging device 22 coincides with the surface of the division target substrate 4, so that the depth of the division target substrate 4 is increased. It is possible to measure the dimension in the vertical direction (vertical direction in FIGS. 1 and 2). In addition, the lens control unit 32 drives the Z-axis slide mechanism 14 and also drives the motor 15 to rotate the rotating arm 15a around the Z-axis, so that the quartz glass is formed on the front surface of the opening 13a of the condenser lens 13. A plate 16 can be inserted.
Further, the laser beam irradiation device 10 includes a reflection type distance measuring device 9 using laser light. For example, even if the reflection type distance measuring device 9 is a division target substrate 4 in which a plurality of quartz glass substrates are stacked, by measuring the distance between the front and back surfaces of each quartz substrate, the depth direction of each quartz glass substrate can be measured. It is possible to detect the dimensions.

(レーザビーム照射装置の作用)
レーザビーム照射装置10は、ステージ17に載置された分割対象基板4にレーザ光を照射し、分割対象基板4におけるレーザ光の集光領域に改質領域を形成する。
そして、レーザビーム照射装置10は、分割対象基板4に設定された分割予定線D(図5参照)に沿って改質領域を形成することができる。ここで、分割予定線Dとは、分割対象基板4に設定された、分割対象基板4を分割する目標となる線をいう。なお、分割予定線Dは、仮想の線であっても、分割対象基板4の表面に形成された溝等からなる線であっても構わない。
また、レーザビーム照射装置10は、収差補正手段としての石英ガラス板16を用いてレーザ光の集光領域を長くすること、つまりエネルギー密度の高い領域を長くすることによって、改質領域を深さ方向に長く形成することが可能となっている。
(Operation of laser beam irradiation device)
The laser beam irradiation apparatus 10 irradiates the division target substrate 4 placed on the stage 17 with laser light, and forms a modified region in the condensing region of the laser light on the division target substrate 4.
Then, the laser beam irradiation apparatus 10 can form a modified region along the planned division line D (see FIG. 5) set on the division target substrate 4. Here, the division line D is a line that is set as the division target board 4 and is a target for dividing the division target board 4. Note that the planned division line D may be a virtual line or a line made of a groove or the like formed on the surface of the division target substrate 4.
Further, the laser beam irradiation apparatus 10 uses the quartz glass plate 16 as an aberration correction unit to lengthen the condensing region of the laser light, that is, to lengthen the region having a high energy density, thereby increasing the depth of the modified region. It can be formed long in the direction.

(本発明に係る基板分割方法について)
次に、本発明に係る基板分割方法について説明する。
図3は、本発明に係る基板分割方法を示すフローチャートである。
本発明に係る基板分割方法では、図3に示すように、まず、分割対象基板4に分割予定線Dを設定する(ステップS100)。
本実施の形態では、分割予定線Dは、分割形状F(図5参照)を区画するように設定される。
(About the substrate dividing method according to the present invention)
Next, the substrate dividing method according to the present invention will be described.
FIG. 3 is a flowchart showing a substrate dividing method according to the present invention.
In the substrate dividing method according to the present invention, as shown in FIG. 3, first, a division line D is set on the division target substrate 4 (step S100).
In the present embodiment, the division line D is set so as to partition the division shape F (see FIG. 5).

次に、レーザビーム照射装置10によって、ステップS100で設定された分割予定線Dに沿って改質領域を形成する(ステップS101:改質領域形成工程)。
本実施形態では、改質領域は、分割対象基板4の表面部に形成する。ここで、改質領域が形成される分割対象基板4の表面部とは、改質領域を形成した場合に、分割対象基板4の表面に亀裂(以下、表面亀裂という)が発生する位置をいう。なお、表面亀裂とは、改質領域から分割対象基板4の表面に達する微細な亀裂をいう。例えば、改質領域は、改質領域の表面側の端部と分割対象基板4の表面との間隔が40〜50μmとなる位置に形成する。
Next, the modified region is formed by the laser beam irradiation apparatus 10 along the planned division line D set in Step S100 (Step S101: Modified region forming step).
In the present embodiment, the modified region is formed on the surface portion of the division target substrate 4. Here, the surface portion of the division target substrate 4 where the modified region is formed refers to a position where a crack (hereinafter referred to as a surface crack) occurs on the surface of the division target substrate 4 when the modified region is formed. . The surface crack means a fine crack that reaches the surface of the division target substrate 4 from the modified region. For example, the modified region is formed at a position where the distance between the surface-side end of the modified region and the surface of the division target substrate 4 is 40 to 50 μm.

なお、改質領域は、分割対象基板4の深さ方向に沿う複数の位置に形成しても構わない。
そして、ステップS101で形成された改質領域と分割対象基板4の端部とを結ぶ線に沿って分割補助領域を形成する(ステップS102:分割補助領域形成工程)。
ここで、分割補助領域とは、分割対象基板4の脆弱性を高めた領域をいう(以下、同様)。本実施形態では、分割補助領域として、分割対象基板4の内部にレーザ光を照射することによって改質領域を形成する。
分割補助領域は、分割予定線Dに沿って形成された改質領域と分割対象基板4の端部とを連続させるように形成されることが好ましい。
The modified regions may be formed at a plurality of positions along the depth direction of the division target substrate 4.
Then, a division auxiliary region is formed along a line connecting the modified region formed in step S101 and the end of the division target substrate 4 (step S102: division auxiliary region formation step).
Here, the division auxiliary area refers to an area in which the vulnerability of the division target board 4 is increased (hereinafter the same). In the present embodiment, the modified region is formed by irradiating the inside of the division target substrate 4 with laser light as the division auxiliary region.
The division assisting region is preferably formed so that the modified region formed along the planned division line D and the end of the division target substrate 4 are continuous.

なお、分割補助領域は、ダイヤモンドカッターによって分割対象基板4の表面に形成されたスクライブ溝等によって構成しても構わない。分割補助領域をスクライブ溝によって構成する場合には、スクライブ溝は、少なくとも、分割対象基板4に発生する表面亀裂に連続するように形成される。
さらに、改質領域及び分割補助領域が形成された分割対象基板4に外力を加えて、分割対象基板4を分割する(ステップS103:分割工程)。
本実施形態では、外力として、分割対象基板4に、分割対象基板4の平面方向に沿う放射状の引張力を加える。すなわち、改質領域及び分割補助領域が形成された分割対象基板4をエキスパンドテープに貼り付ける。そして、分割対象基板4が貼り付けられたエキスパンドテープを、エキスパンドリングを用いて放射状に引き伸ばす。これによって、分割対象基板4に対して、分割対象基板4の平面方向に沿う放射状の引張力が加えられる。
In addition, you may comprise the division | segmentation auxiliary | assistant area | region by the scribe groove | channel etc. which were formed in the surface of the division | segmentation target board | substrate 4 with the diamond cutter. In the case where the division assisting region is configured by scribe grooves, the scribe grooves are formed so as to be continuous with at least surface cracks generated in the division target substrate 4.
Further, the division target substrate 4 is divided by applying an external force to the division target substrate 4 on which the modified region and the division auxiliary region are formed (step S103: division step).
In the present embodiment, as an external force, a radial tensile force along the plane direction of the division target substrate 4 is applied to the division target substrate 4. That is, the division target substrate 4 on which the modified region and the division auxiliary region are formed is attached to the expanded tape. Then, the expanding tape with the division target substrate 4 attached is stretched radially using an expanding ring. Thereby, a radial tensile force along the plane direction of the division target substrate 4 is applied to the division target substrate 4.

改質領域及び分割補助領域が形成された分割対象基板4に外力を加えると、分割対象基板4が、分割対象基板4の分割予定線Dに沿って形成された改質領域に沿って分割されて、分割基板が形成される。
この場合に、本発明に係る基板分割方法では、ステップS102において、分割対象基板4の分割予定線Dに沿って形成された改質領域と分割対象基板4の端部とを結ぶ線に沿って分割補助領域を形成している。
これによって、分割対象基板4の分割予定線Dに沿って形成された改質領域と、この改質領域と分割対象基板4の端部とを結ぶ線に沿って形成された分割補助領域とによって、分割対象基板4において、分割形状の周囲の切片が区切られる。
これによって、ステップS103において、分割対象基板4に外力が加えられた際に、分割形状の周囲の切片が割れ易くなり、切片が分割形状から分離され易くなる。
When an external force is applied to the division target substrate 4 in which the modified region and the division assist region are formed, the division target substrate 4 is divided along the modified region formed along the planned division line D of the division target substrate 4. Thus, a divided substrate is formed.
In this case, in the substrate dividing method according to the present invention, in step S <b> 102, along the line connecting the modified region formed along the planned division line D of the division target substrate 4 and the end of the division target substrate 4. A division assist area is formed.
As a result, the modified region formed along the planned division line D of the division target substrate 4 and the division auxiliary region formed along the line connecting the modified region and the end of the division target substrate 4. In the division target substrate 4, the segments around the division shape are divided.
Accordingly, when an external force is applied to the division target substrate 4 in step S103, the segments around the division shape are easily broken and the segments are easily separated from the division shape.

したがって、本発明に係る基板分割方法によれば、分割予定の形状と実際に分割された分割基板の形状との一致性の低下を抑制することが可能となる。
この場合、ステップS102で形成される分割補助領域の数を増やすほど、分割形状の周囲の切片が小さく区切られるため、さらに有効となる。
特に、分割形状が四角形以外の異形の分割基板を形成する場合には、分割形状の複雑さ等の理由から、分割対象基板4の分割予定線Dに沿って形成された改質領域から逸れて基板が分割され易い。しかしながら、本発明に係る基板分割方法によれば、分割対象基板4に外力を加えた際に、分割補助領域と分割予定線Dに沿って形成された改質領域とにおいて分割対象基板4が分割されるため、分割形状が異形の分割基板を形成する場合であっても、目的とする形状に基板を分割することが可能となる。なお、異形とは、円形、星形、ハート形等、四角形以外の形状をいう。
Therefore, according to the substrate dividing method according to the present invention, it is possible to suppress a decrease in coincidence between the shape to be divided and the shape of the divided substrate actually divided.
In this case, as the number of division assist areas formed in step S102 is increased, the segments around the divided shape are divided into smaller sections, which is more effective.
In particular, in the case of forming an odd-shaped divided substrate other than a quadrangle, because of the complexity of the divided shape and the like, it deviates from the modified region formed along the planned division line D of the division target substrate 4. The substrate is easily divided. However, according to the substrate dividing method according to the present invention, when an external force is applied to the division target substrate 4, the division target substrate 4 is divided into the division auxiliary region and the modified region formed along the division line D. Therefore, even when a divided substrate having an irregular shape is formed, the substrate can be divided into a target shape. The irregular shape means a shape other than a quadrangle such as a circle, a star, or a heart.

また、本発明に係る基板分割方法では、分割対象基板4の分割予定線に沿って形成される改質領域及び分割補助領域を、ともにレーザ光によって形成することによって、分割基板を形成する際の作業効率を向上させることが可能となる。
また、本発明に係る基板分割方法では、ステップS103で、分割対象基板4に加えられる外力が、分割対象基板4の平面方向に沿う放射状の引張力となっている。これによって、分割形状の周囲の切片を分割形状から引き離す方向に力が加わるため、分割形状の内側に割れが発生することを抑制することが可能となる。
In the substrate dividing method according to the present invention, the modified region and the dividing auxiliary region formed along the planned dividing line of the substrate to be divided 4 are both formed by laser light, thereby forming the divided substrate. Work efficiency can be improved.
In the substrate dividing method according to the present invention, the external force applied to the division target substrate 4 in step S103 is a radial tensile force along the plane direction of the division target substrate 4. As a result, a force is applied in the direction of separating the segment around the divided shape from the divided shape, and thus it is possible to suppress the occurrence of cracks inside the divided shape.

図4は、エキスパンドテープを用いて分割対象基板に加えられた放射状の引張力の分布を示す図である。なお、図4では、分割対象基板の各部分に作用する力の向きを、矢印の向きによって示している。また、図4では、分割対象基板の各部分に作用する力の大きさと矢印の大きさとを比例させて示している。
エキスパンドテープを用いて分割対象基板4に対して平面方向に沿う放射状の引張力を加えると、分割対象基板4の各部分に作用する引張力は、図4に示すように、分割対象基板4の中心部で最も小さく、分割対象基板4の端部に近づくにしたがって大きくなる。
FIG. 4 is a diagram showing a distribution of radial tensile force applied to the substrate to be divided using the expanded tape. In FIG. 4, the direction of the force acting on each part of the division target substrate is indicated by the direction of the arrow. Further, in FIG. 4, the magnitude of the force acting on each part of the division target substrate and the magnitude of the arrow are shown in proportion.
When a radial tensile force along the plane direction is applied to the division target substrate 4 using the expand tape, the tensile force acting on each part of the division target substrate 4 is as shown in FIG. It is the smallest at the center and increases as it approaches the end of the division target substrate 4.

したがって、ステップS103で分割対象基板4に対して平面方向に沿う放射状の引張力を加えると、まず、分割補助領域の分割対象基板4の端部側で割れが発生する。そして、分割補助領域の分割対象基板4の端部側で発生した割れは、分割補助領域に沿って分割予定線D側に向かって延びて、分割予定線Dに沿って形成された改質領域に伝達される。
よって、分割補助領域が分割予定線Dに沿って形成された改質領域に対して割れの契機を与えることによって、さらに、分割予定の形状と実際に分割された分割基板の形状との一致性の低下を抑制することが可能となる。
ここで、図3のステップS101とS102とは、順序が逆であっても構わない。すなわち、分割対象基板4において、分割補助領域を形成した後に、分割予定線Dに沿って改質領域を形成しても構わない。
また、分割対象基板4に加えられる外力は、曲げモーメントであっても構わない。
Therefore, when a radial tensile force along the plane direction is applied to the division target substrate 4 in step S103, first, a crack occurs on the end side of the division target substrate 4 in the division auxiliary region. And the crack which generate | occur | produced in the edge part side of the division | segmentation target board | substrate 4 of a division | segmentation auxiliary | assistant area | region extends toward the division | segmentation planned line D side along a division | segmentation auxiliary | assistant area | region, and the modified area | region formed along the division | segmentation planned line D Is transmitted to.
Therefore, by providing an opportunity for cracking in the reformed region formed along the planned division line D, the matching between the shape to be divided and the shape of the divided substrate actually divided is further achieved. Can be suppressed.
Here, the order of steps S101 and S102 in FIG. 3 may be reversed. That is, in the division target substrate 4, the modified region may be formed along the planned division line D after the division auxiliary region is formed.
Further, the external force applied to the division target substrate 4 may be a bending moment.

(分割補助領域形成工程の第一の実施例)
次に、図3のステップS102の分割補助領域形成工程の第一の実施例について詳細に説明する。
図5は、分割対象基板に形成される分割補助領域の第一の配置例を示す模式図である。
以下、分割補助領域形成工程の第一の実施例を、分割形状Fが円形の分割基板を形成する場合を例にして説明する。
上述したように、ステップS102では、分割予定線Dに沿って形成された改質領域から分割対象基板4の端部に向かって延びる分割補助領域を形成する。
(First Example of Division Auxiliary Region Formation Step)
Next, the first embodiment of the division assisting region forming step in step S102 of FIG. 3 will be described in detail.
FIG. 5 is a schematic diagram illustrating a first arrangement example of the auxiliary division regions formed on the division target substrate.
Hereinafter, a first embodiment of the division assisting region forming step will be described by taking as an example the case where a divided substrate having a divided division F is formed.
As described above, in step S <b> 102, a division assist region extending from the modified region formed along the planned division line D toward the end of the division target substrate 4 is formed.

この場合に、本実施例では、分割補助領域が、分割予定線Dによって区画される分割形状Fの中心部から分割対象基板4の端部に向かって延びる直線Sに沿って形成される。
すなわち、図5に示すように、分割補助領域が、分割予定線Dによって区画される円形の分割形状Fの中心部から分割対象基板4の端部に向かって延びる直線S1〜S4に沿って形成される。ここで、分割補助領域を形成する数は、任意に設定して構わない(以下、同様)。なお、本実施例では、分割補助領域は、放射状に4本形成されている。
これによって、本実施例に係る基板分割方法では、分割補助領域を分割形状Fの中心部から分割対象基板4の端部に向かって延びる直線Sに沿って形成することによって、分割形状Fの周囲の切片の分割形状Fからの分離が容易となる。
In this case, in the present embodiment, the division assist region is formed along a straight line S extending from the center of the division shape F partitioned by the planned division line D toward the end of the division target substrate 4.
That is, as shown in FIG. 5, the division assist region is formed along straight lines S <b> 1 to S <b> 4 extending from the center of the circular division shape F partitioned by the planned division line D toward the end of the division target substrate 4. Is done. Here, the number of division auxiliary regions may be set arbitrarily (hereinafter the same). In the present embodiment, four division assist areas are formed radially.
Thus, in the substrate dividing method according to the present embodiment, the dividing auxiliary region is formed along the straight line S extending from the center of the dividing shape F toward the end of the dividing target substrate 4, thereby surrounding the dividing shape F. Separation of the slices from the divided shape F becomes easy.

(分割補助領域形成工程の第二の実施例)
次に、図3のステップS102の分割補助領域形成工程の第二の実施例について詳細に説明する。
図6は、分割対象基板に形成される分割補助領域の第二の配置例を示す模式図である。
以下、分割補助領域形成工程の第二の実施例を、分割形状Fが星形の分割基板を形成する場合を例にして説明する。
上述したように、ステップS102では、分割予定線Dに沿って形成された改質領域から分割対象基板4の端部に向かって延びる分割補助領域を形成する。
(Second Example of Division Auxiliary Region Formation Step)
Next, the second embodiment of the auxiliary division region forming step in step S102 of FIG. 3 will be described in detail.
FIG. 6 is a schematic diagram illustrating a second arrangement example of the division assist regions formed on the division target substrate.
Hereinafter, a second embodiment of the division assisting region forming step will be described by taking as an example the case where a division substrate having a division shape F of star shape is formed.
As described above, in step S <b> 102, a division assist region extending from the modified region formed along the planned division line D toward the end of the division target substrate 4 is formed.

この場合に、本実施例では、分割補助領域が、分割予定線Dの直線部DSの延長線Eに沿って形成される。
すなわち、図6に示すように、分割補助領域が、星形の分割形状Fを区画する分割予定線Dを構成するそれぞれの直線部DSの延長線E1〜E10に沿って形成される。
これによって、本実施例に係る基板分割方法では、分割補助領域の延びる方向と改質領域の延びる方向とが一致していることによって、分割補助領域で発生した割れが分割形状F内に延びることを抑制することが可能となる。
In this case, in the present embodiment, the division assist region is formed along the extension line E of the straight line portion DS of the planned division line D.
That is, as shown in FIG. 6, the division assist region is formed along the extension lines E <b> 1 to E <b> 10 of the respective straight line portions DS that constitute the planned division line D that divides the star-shaped division shape F.
Accordingly, in the substrate dividing method according to the present embodiment, the crack generated in the dividing auxiliary region extends in the dividing shape F because the extending direction of the dividing auxiliary region and the extending direction of the reforming region coincide with each other. Can be suppressed.

(分割補助領域形成工程の第三の実施例)
次に、図3のステップS102の分割補助領域形成工程の第三の実施例について詳細に説明する。
図7は、分割対象基板に形成される分割補助領域の第三の配置例を示す模式図である。図8は、分割対象基板に形成される分割補助領域の第四の配置例を示す模式図である。
以下、分割補助領域形成工程の第三の実施例を、分割形状Fが円形の分割基板を形成する場合を例にして説明する。
上述したように、ステップS102では、分割予定線Dに沿って形成された改質領域から分割対象基板4の端部に向かって延びる分割補助領域を形成する。
(Third embodiment of the division auxiliary region forming step)
Next, a third embodiment of the division assisting region forming step in step S102 of FIG. 3 will be described in detail.
FIG. 7 is a schematic diagram illustrating a third arrangement example of the auxiliary division regions formed on the division target substrate. FIG. 8 is a schematic diagram illustrating a fourth arrangement example of the auxiliary division regions formed on the division target substrate.
Hereinafter, a third embodiment of the division assisting region forming step will be described by taking as an example a case where a divided substrate having a circular division shape F is formed.
As described above, in step S <b> 102, a division assist region extending from the modified region formed along the planned division line D toward the end of the division target substrate 4 is formed.

この場合に、本実施例では、分割補助領域が、分割予定線Dの曲線部DC上の所定点aにおける接線Tに対して0°以上45°以内の角度をなし、所定点aにおいて曲線部DCと交わる直線Lに沿って形成される。ここで、所定点aは、任意に設定して構わない。
すなわち、図7に示すように、分割補助領域が、円形の分割形状Fを区画する分割予定線Dの所定点aにおいて、接線Tと0°以上45°以内の角度をなす直線Lに沿って形成される。
これによって、本実施例に係る基板分割方法では、分割補助領域の延びる方向と改質領域の所定点における接線の延びる方向とのなす角度を0°以上45°以内とすることによって、分割補助領域で発生した割れが分割形状F内に延びることを抑制することが可能となる。
In this case, in the present embodiment, the division assistance area forms an angle of 0 ° or more and 45 ° or less with respect to the tangent line T at the predetermined point a on the curved portion DC of the planned division line D, and the curved portion at the predetermined point a. It is formed along a straight line L that intersects DC. Here, the predetermined point a may be set arbitrarily.
That is, as shown in FIG. 7, the division assisting region is along a straight line L that forms an angle of 0 ° or more and 45 ° or less with the tangent line T at a predetermined point a of the division line D that divides the circular division shape F. It is formed.
Thus, in the substrate dividing method according to the present embodiment, the angle formed between the extending direction of the dividing auxiliary region and the extending direction of the tangent line at a predetermined point of the modified region is set to 0 ° or more and 45 ° or less. It is possible to suppress the crack generated in step 1 from extending into the divided shape F.

特に、分割補助領域は、図8に示すように、分割予定線Dの曲線部DC上の所定点aにおいて、接線Tと0°の角度をなす直線、即ち接線Tに沿って形成されることが好ましい。なお、図8では、分割補助領域が、円形の分割形状Fを区画する分割予定線Dの4つの所定点a1〜a4における接線T1〜T4に沿って形成されている。
分割補助領域が、分割予定線Dの曲線部DC上の所定点aにおける接線Tに沿って形成されることによって、分割補助領域の延長線が円形の分割形状F内に入り込むことがないため、分割補助領域が契機となって分割対象基板4に発生する割れが円形の分割形状F内に延びることを、さらに抑制することが可能となる。
以上、ステップS102の分割補助領域形成工程の第一乃至第三の実施例について説明したが、ステップS102の分割補助領域形成工程の第一乃至第三の実施例は、適宜、組み合わせることが可能となっている。
In particular, as shown in FIG. 8, the division assisting area is formed along a straight line that forms an angle of 0 ° with the tangent line T at a predetermined point a on the curved line DC of the planned division line D, that is, the tangent line T. Is preferred. In FIG. 8, the division assist region is formed along tangents T <b> 1 to T <b> 4 at four predetermined points a <b> 1 to a <b> 4 of the planned division line D that divides the circular division shape F.
Since the division auxiliary region is formed along the tangent line T at the predetermined point a on the curved portion DC of the planned division line D, the extension line of the division auxiliary region does not enter the circular divided shape F. It is possible to further suppress the crack generated in the division target substrate 4 from being extended into the circular division shape F by the division auxiliary region as a trigger.
The first to third embodiments of the division assist region forming process in step S102 have been described above. However, the first to third embodiments of the partition assistant region forming process in step S102 can be combined as appropriate. It has become.

図9は、分割対象基板に形成される分割補助領域の第五の配置例を示す模式図である。図10は、分割対象基板に形成される分割補助領域の第六の配置例を示す模式図である。
すなわち、分割形状Fを区画する分割予定線Dが直線部DS及び曲線部DCを有している場合には、分割補助領域が、分割予定線Dの直線部DSの延長線に沿って形成されるとともに、分割予定線Dの曲線部DC上の所定点aにおいて、接線Tと0°以上45°以内の角度をなす直線Lに沿って形成される。
例えば、図9に示すように、ハート形の分割形状Fの分割基板を形成する場合には、ハート形の分割形状Fを区画する分割予定線Dの直線部DSの延長線E1,E2に沿って分割補助領域を形成する。また、ハート形の分割形状Fを区画する分割予定線Dの曲線部DC上の所定点a1〜a6における接線T1〜T6に沿って分割補助領域を形成する。
FIG. 9 is a schematic diagram illustrating a fifth arrangement example of the division assist regions formed on the division target substrate. FIG. 10 is a schematic diagram illustrating a sixth arrangement example of the division assist regions formed on the division target substrate.
That is, when the planned division line D that divides the division shape F includes the straight line portion DS and the curved line portion DC, the division auxiliary region is formed along the extended line of the straight line portion DS of the planned division line D. In addition, at a predetermined point a on the curved line DC of the planned dividing line D, it is formed along a straight line L that forms an angle with the tangent line T between 0 ° and 45 °.
For example, as shown in FIG. 9, in the case of forming a divided substrate having a heart-shaped divided shape F, along the extended lines E1, E2 of the straight line portion DS of the planned dividing line D that divides the heart-shaped divided shape F. To form a division assist region. Moreover, a division | segmentation auxiliary | assistant area | region is formed along the tangent T1-T6 in the predetermined points a1-a6 on the curve part DC of the division | segmentation planned line D which divides the heart-shaped division | segmentation shape F. FIG.

また、図10に示すように、扇形の分割形状Fの分割基板を形成する場合には、扇形の分割形状Fを区画する分割予定線Dの直線部DSの延長線E1〜E4に沿って分割補助領域を形成する。また、扇形の分割形状Fを区画する分割予定線Dの曲線部DC上の所定点a1,a2における接線T1,T2に沿って分割補助領域を形成する。
このように、ステップS102の分割補助領域形成工程の第一乃至第三の実施例を、適宜、組み合わせることによって、分割形状が異形の分割基板を形成する場合であっても、目的とする形状に基板を分割することが可能となる。
In addition, as shown in FIG. 10, in the case of forming a divided substrate having a fan-shaped divided shape F, it is divided along the extended lines E1 to E4 of the straight line portion DS of the planned dividing line D that defines the fan-shaped divided shape F. An auxiliary region is formed. Moreover, a division | segmentation auxiliary | assistant area | region is formed along the tangent T1, T2 in the predetermined points a1, a2 on the curve part DC of the division | segmentation planned line D which divides the sector-shaped division shape F. FIG.
As described above, the first to third embodiments of the division assisting region forming step in step S102 are appropriately combined, so that even if a divided substrate having an irregular shape is formed, the target shape is obtained. The substrate can be divided.

レーザスクライブ方法の概念図である。It is a conceptual diagram of the laser scribing method. レーザビーム照射装置を示す概略構成図である。It is a schematic block diagram which shows a laser beam irradiation apparatus. 本発明に係る基板分割方法を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the board | substrate division | segmentation method concerning this invention. エキスパンドテープを用いて分割対象基板に加えられた放射状の引張力の分布を示す図である。It is a figure which shows distribution of the radial tensile force added to the division | segmentation target board | substrate using an expand tape. 分割対象基板に形成される分割補助領域の第一の配置例を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows the 1st example of arrangement | positioning of the division | segmentation auxiliary area | region formed in a division | segmentation target board | substrate. 分割対象基板に形成される分割補助領域の第二の配置例を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows the 2nd example of arrangement | positioning of the division | segmentation auxiliary area | region formed in a division | segmentation target board | substrate. 分割対象基板に形成される分割補助領域の第三の配置例を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows the 3rd example of arrangement | positioning of the division | segmentation auxiliary area | region formed in a division | segmentation target board | substrate. 分割対象基板に形成される分割補助領域の第四の配置例を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows the 4th example of arrangement | positioning of the division | segmentation auxiliary area | region formed in a division | segmentation target board | substrate. 分割対象基板に形成される分割補助領域の第五の配置例を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows the 5th example of arrangement | positioning of the division | segmentation auxiliary area | region formed in a division | segmentation object board | substrate. 分割対象基板に形成される分割補助領域の第六の配置例を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows the 6th example of arrangement | positioning of the division | segmentation auxiliary area | region formed in a division | segmentation object board | substrate.

符号の説明Explanation of symbols

4 分割対象基板、10 レーザビーム照射装置、 D 分割予定線、 F 分割形状。   4 Substrate to be divided, 10 Laser beam irradiation device, D division planned line, F division shape.

Claims (6)

基板の内部にレーザ光を照射して、該基板に、該基板に設定された分割予定線に沿って改質領域を形成する改質領域形成工程と、
前記改質領域が形成された基板に外力を加えて、該基板を分割する分割工程と、
を有する基板分割方法であって、
前記基板に、前記改質領域と該基板の端部とを結ぶ線に沿って、該基板の脆弱性を高めた領域である分割補助領域を形成する分割補助領域形成工程を有することを特徴とする基板分割方法。
A modified region forming step of irradiating the inside of the substrate with laser light to form a modified region on the substrate along a predetermined division line set on the substrate;
A dividing step of dividing the substrate by applying an external force to the substrate on which the modified region is formed;
A substrate dividing method comprising:
A division auxiliary region forming step of forming a division auxiliary region on the substrate along a line connecting the modified region and an end of the substrate, the division auxiliary region being a region having increased vulnerability of the substrate; Substrate dividing method.
前記分割補助領域形成工程において、前記分割補助領域として、前記基板の内部にレーザ光を照射することによって改質領域を形成することを特徴とする請求項1記載の基板分割方法。   2. The substrate dividing method according to claim 1, wherein in the dividing auxiliary region forming step, a modified region is formed by irradiating a laser beam inside the substrate as the dividing auxiliary region. 前記分割予定線が、直線部を有し、
前記分割補助領域形成工程において、前記分割補助領域を、前記直線部の延長線に沿って形成することを特徴とする請求項1又は2記載の基板分割方法。
The planned dividing line has a straight line part,
3. The substrate dividing method according to claim 1, wherein in the dividing auxiliary region forming step, the dividing auxiliary region is formed along an extension line of the straight line portion.
前記分割予定線が、曲線部を有し、
前記分割補助領域形成工程において、前記分割補助領域を、前記曲線部上の所定点において、接線と0°以上45°以内の角度をなす直線に沿って形成することを特徴とする請求項1乃至3のうちいずれか1項記載の基板分割方法。
The planned dividing line has a curved portion,
2. The division auxiliary region forming step, wherein the division auxiliary region is formed along a straight line that forms an angle of 0 ° or more and 45 ° or less at a predetermined point on the curved portion. 4. The substrate dividing method according to claim 1.
前記分割補助領域形成工程において、前記分割補助領域を、前記分割予定線によって区画される分割形状の中心部から前記基板の端部に向かって延びる直線に沿って形成することを特徴とする請求項1乃至4のうちいずれか1項記載の基板分割方法。   The division auxiliary region forming step is characterized in that the division auxiliary region is formed along a straight line extending from a central portion of a divided shape partitioned by the planned dividing line toward an end portion of the substrate. 5. The substrate dividing method according to any one of 1 to 4. 前記分割工程において、前記外力として、前記基板に、前記基板の平面方向に沿う放射状の引張力を加えることを特徴とする請求項1乃至5のうちいずれか1項記載の基板分割方法。   6. The substrate dividing method according to claim 1, wherein in the dividing step, a radial tensile force along a planar direction of the substrate is applied to the substrate as the external force.
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Cited By (23)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013154604A (en) * 2012-01-31 2013-08-15 Hamamatsu Photonics Kk Laser processing method
KR20160020406A (en) * 2013-03-21 2016-02-23 코닝 레이저 테크놀로지스 게엠베하 Device and method for cutting out contours from planar substrates by means of a laser
JP2016513016A (en) * 2013-02-04 2016-05-12 ニューポート コーポレーション Method and apparatus for laser cutting transparent and translucent substrates
US10173916B2 (en) 2013-12-17 2019-01-08 Corning Incorporated Edge chamfering by mechanically processing laser cut glass
KR20190015290A (en) * 2016-06-10 2019-02-13 닛토덴코 가부시키가이샤 How to Cut Film
US10252931B2 (en) 2015-01-12 2019-04-09 Corning Incorporated Laser cutting of thermally tempered substrates
US10335902B2 (en) 2014-07-14 2019-07-02 Corning Incorporated Method and system for arresting crack propagation
US10421683B2 (en) 2013-01-15 2019-09-24 Corning Laser Technologies GmbH Method and device for the laser-based machining of sheet-like substrates
US10522963B2 (en) 2016-08-30 2019-12-31 Corning Incorporated Laser cutting of materials with intensity mapping optical system
US10525657B2 (en) 2015-03-27 2020-01-07 Corning Incorporated Gas permeable window and method of fabricating the same
US10526234B2 (en) 2014-07-14 2020-01-07 Corning Incorporated Interface block; system for and method of cutting a substrate being transparent within a range of wavelengths using such interface block
US10611667B2 (en) 2014-07-14 2020-04-07 Corning Incorporated Method and system for forming perforations
US10626040B2 (en) 2017-06-15 2020-04-21 Corning Incorporated Articles capable of individual singulation
US10752534B2 (en) 2016-11-01 2020-08-25 Corning Incorporated Apparatuses and methods for laser processing laminate workpiece stacks
US11014845B2 (en) 2014-12-04 2021-05-25 Corning Incorporated Method of laser cutting glass using non-diffracting laser beams
US11130701B2 (en) 2016-09-30 2021-09-28 Corning Incorporated Apparatuses and methods for laser processing transparent workpieces using non-axisymmetric beam spots
US11148225B2 (en) 2013-12-17 2021-10-19 Corning Incorporated Method for rapid laser drilling of holes in glass and products made therefrom
US11186060B2 (en) 2015-07-10 2021-11-30 Corning Incorporated Methods of continuous fabrication of holes in flexible substrate sheets and products relating to the same
US11542190B2 (en) 2016-10-24 2023-01-03 Corning Incorporated Substrate processing station for laser-based machining of sheet-like glass substrates
US11556039B2 (en) 2013-12-17 2023-01-17 Corning Incorporated Electrochromic coated glass articles and methods for laser processing the same
US11648623B2 (en) 2014-07-14 2023-05-16 Corning Incorporated Systems and methods for processing transparent materials using adjustable laser beam focal lines
US11697178B2 (en) 2014-07-08 2023-07-11 Corning Incorporated Methods and apparatuses for laser processing materials
US11773004B2 (en) 2015-03-24 2023-10-03 Corning Incorporated Laser cutting and processing of display glass compositions

Cited By (33)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013154604A (en) * 2012-01-31 2013-08-15 Hamamatsu Photonics Kk Laser processing method
US11028003B2 (en) 2013-01-15 2021-06-08 Corning Laser Technologies GmbH Method and device for laser-based machining of flat substrates
US11345625B2 (en) 2013-01-15 2022-05-31 Corning Laser Technologies GmbH Method and device for the laser-based machining of sheet-like substrates
US10421683B2 (en) 2013-01-15 2019-09-24 Corning Laser Technologies GmbH Method and device for the laser-based machining of sheet-like substrates
JP2019064916A (en) * 2013-02-04 2019-04-25 ニューポート コーポレーション Method and apparatus for cutting transparent and translucent substrate by laser
JP2016513016A (en) * 2013-02-04 2016-05-12 ニューポート コーポレーション Method and apparatus for laser cutting transparent and translucent substrates
US10280108B2 (en) 2013-03-21 2019-05-07 Corning Laser Technologies GmbH Device and method for cutting out contours from planar substrates by means of laser
KR102217082B1 (en) * 2013-03-21 2021-02-19 코닝 레이저 테크놀로지스 게엠베하 Device and method for cutting out contours from planar substrates by means of a laser
TWI672187B (en) * 2013-03-21 2019-09-21 德商柯林雷射科技有限公司 Device and method for cutting out contours from planar substrates by means of laser
US11713271B2 (en) 2013-03-21 2023-08-01 Corning Laser Technologies GmbH Device and method for cutting out contours from planar substrates by means of laser
JP2016515944A (en) * 2013-03-21 2016-06-02 コーニング レーザー テクノロジーズ ゲーエムベーハーCORNING LASER TECHNOLOGIES GmbH Apparatus and method for cutting a contour shape from a flat substrate using a laser
KR20160020406A (en) * 2013-03-21 2016-02-23 코닝 레이저 테크놀로지스 게엠베하 Device and method for cutting out contours from planar substrates by means of a laser
US11556039B2 (en) 2013-12-17 2023-01-17 Corning Incorporated Electrochromic coated glass articles and methods for laser processing the same
US10173916B2 (en) 2013-12-17 2019-01-08 Corning Incorporated Edge chamfering by mechanically processing laser cut glass
US11148225B2 (en) 2013-12-17 2021-10-19 Corning Incorporated Method for rapid laser drilling of holes in glass and products made therefrom
US10597321B2 (en) 2013-12-17 2020-03-24 Corning Incorporated Edge chamfering methods
US11697178B2 (en) 2014-07-08 2023-07-11 Corning Incorporated Methods and apparatuses for laser processing materials
US10611667B2 (en) 2014-07-14 2020-04-07 Corning Incorporated Method and system for forming perforations
US10335902B2 (en) 2014-07-14 2019-07-02 Corning Incorporated Method and system for arresting crack propagation
US10526234B2 (en) 2014-07-14 2020-01-07 Corning Incorporated Interface block; system for and method of cutting a substrate being transparent within a range of wavelengths using such interface block
US11648623B2 (en) 2014-07-14 2023-05-16 Corning Incorporated Systems and methods for processing transparent materials using adjustable laser beam focal lines
US11014845B2 (en) 2014-12-04 2021-05-25 Corning Incorporated Method of laser cutting glass using non-diffracting laser beams
US10252931B2 (en) 2015-01-12 2019-04-09 Corning Incorporated Laser cutting of thermally tempered substrates
US11773004B2 (en) 2015-03-24 2023-10-03 Corning Incorporated Laser cutting and processing of display glass compositions
US10525657B2 (en) 2015-03-27 2020-01-07 Corning Incorporated Gas permeable window and method of fabricating the same
US11186060B2 (en) 2015-07-10 2021-11-30 Corning Incorporated Methods of continuous fabrication of holes in flexible substrate sheets and products relating to the same
KR102328501B1 (en) 2016-06-10 2021-11-18 닛토덴코 가부시키가이샤 How to cut a film
KR20190015290A (en) * 2016-06-10 2019-02-13 닛토덴코 가부시키가이샤 How to Cut Film
US10522963B2 (en) 2016-08-30 2019-12-31 Corning Incorporated Laser cutting of materials with intensity mapping optical system
US11130701B2 (en) 2016-09-30 2021-09-28 Corning Incorporated Apparatuses and methods for laser processing transparent workpieces using non-axisymmetric beam spots
US11542190B2 (en) 2016-10-24 2023-01-03 Corning Incorporated Substrate processing station for laser-based machining of sheet-like glass substrates
US10752534B2 (en) 2016-11-01 2020-08-25 Corning Incorporated Apparatuses and methods for laser processing laminate workpiece stacks
US10626040B2 (en) 2017-06-15 2020-04-21 Corning Incorporated Articles capable of individual singulation

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