JP2010015482A - Debugging device for ic tester - Google Patents

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To realize a debugging device for an IC tester capable of easily grasping the situation. <P>SOLUTION: This device is produced by improving a debugging device for an IC tester, capable of debugging a test program for testing a target device with a plurality of display tool means displaying the respective screens on a display unit. This device also includes a report means for preparing display data and screen image for each screen of the display means as report data. <P>COPYRIGHT: (C)2010,JPO&INPIT

Description

本発明は、複数の表示ツール手段が画面を表示部に表示させ、被試験対象、例えばＩＣ、ＬＳＩ等の試験に用いるテストプログラムのデバックを行うＩＣテスタのデバック装置に関し、状況把握が容易に行えるＩＣテスタのデバック装置に関するものである。   The present invention relates to a debugging apparatus for an IC tester in which a plurality of display tool means displays a screen on a display unit and debugs a test program used for testing an object to be tested, for example, IC, LSI, etc. The present invention relates to an IC tester debugging device.

ＩＣテスタは、テストプログラム、テストパターンにより被試験対象を試験するものである。このテストプログラムが正常かどうか事前にデバック装置によりチェックが行われている。デバック装置は、テストプログラムを編集するエディタ手段、ＩＣテスタのモジュールの状態、値を表示するモニタモジュール手段、ＩＣテスタの電圧発生部または電圧測定部の入出力電圧の波形表示を行う波形表示手段、テストパターン、被試験対象に出力するデジタルパターンを表示するパターン表示手段等の複数の表示ツール手段を有する。このような装置は例えば下記特許文献１等に示されている。   The IC tester tests an object to be tested using a test program and a test pattern. Whether or not this test program is normal is checked in advance by a debugging device. The debugging apparatus includes an editor unit for editing a test program, a monitor module unit for displaying a status of an IC tester module, a value, a waveform display unit for displaying a waveform of an input / output voltage of a voltage generation unit or a voltage measurement unit of the IC tester, It has a plurality of display tool means such as a pattern display means for displaying a test pattern and a digital pattern to be output to the test object. Such an apparatus is shown, for example, in Patent Document 1 below.

特開２００８−１２２２１３号公報JP 2008-122213 A

ＩＣテスタのデバック装置は、複数の表示ツール手段を操作して、デバックが行われるので、各表示ツール手段の操作方法や内容について完全に把握することが大変であった。このため、操作者が、表示ツール手段の操作方法がわからない場合や、表示ツール手段の機能不良により誤動作した場合に問い合わせを行うが、一般的な装置ではないので、状況説明を的確に行うことができなかった。また、ＩＣテスタ等は、情報機密が要求されるため、ネットワークは独立に構築されるため、デバック装置を、ネットワークを介して監視することができず、状況把握ができなかった。このため、操作者以外の第三者がデバック装置の状況把握を容易に行うことができないという問題点があった。   Since the debugging device of the IC tester operates a plurality of display tool means to perform debugging, it has been difficult to completely grasp the operation method and contents of each display tool means. For this reason, the operator makes an inquiry when the user does not know the operation method of the display tool means, or when the display tool means malfunctions due to a malfunction of the display tool means. could not. In addition, since the IC tester or the like requires confidential information, the network is constructed independently. Therefore, the debugging device cannot be monitored via the network, and the situation cannot be grasped. For this reason, there is a problem that a third party other than the operator cannot easily grasp the status of the debugging device.

そこで、本発明の目的は、状況把握が容易に行えるＩＣテスタのデバック装置を実現することにある。   Therefore, an object of the present invention is to realize an IC tester debugging device that can easily grasp the situation.

このような課題を達成するために、本発明のうち請求項１記載の発明は、
複数の表示ツール手段が画面を表示部に表示させ、被試験対象の試験に用いるテストプログラムのデバックを行うＩＣテスタのデバック装置において、
前記表示ツール手段の画面に用いる表示データ、画面イメージをレポートデータにするレポート手段を備えたことを特徴とするものである。
請求項２記載の発明は、請求項１記載の発明であって、
レポート手段は、表示ツール手段の画面のシートごと、または、すべてのシートの表示データをレポートデータにすることを特徴とするものである。
請求項３記載の発明は、請求項１または２記載の発明であって、
表示ツール手段が操作された操作ログデータを作成する操作ログ手段を設け、レポート手段は、操作ログ手段の操作ログデータをレポートデータとすることを特徴とするものである。 In order to achieve such a problem, the invention according to claim 1 of the present invention is:
In a debugging device of an IC tester that displays a screen on a display unit by a plurality of display tool means and debugs a test program used for a test of an object to be tested.
The present invention is characterized by comprising report means for converting display data and a screen image used for the screen of the display tool means into report data.
Invention of Claim 2 is invention of Claim 1, Comprising:
The report means is characterized in that display data of each sheet on the screen of the display tool means or all sheets is used as report data.
Invention of Claim 3 is invention of Claim 1 or 2, Comprising:
An operation log means for creating operation log data in which the display tool means is operated is provided, and the report means is characterized in that the operation log data of the operation log means is used as report data.

本発明によれば、レポート手段が、表示ツール手段の表示データ、画面イメージをレポートデータにするので、レポートデータを確認することにより、状況把握が容易にできる。   According to the present invention, since the report means uses the display data and screen image of the display tool means as the report data, it is possible to easily grasp the situation by checking the report data.

また、請求項３によれば、操作ログ手段が操作ログデータを、レポート手段がレポートデータとするので、どのように操作が行われたか、容易に把握することができる。   According to the third aspect, since the operation log means uses the operation log data and the report means uses the report data, it is possible to easily grasp how the operation is performed.

以下本発明を、図面を用いて詳細に説明する。図１は本発明の一実施例を示した構成図である。図２はレポート手段３７の選択画面を示した図である。   Hereinafter, the present invention will be described in detail with reference to the drawings. FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of the present invention. FIG. 2 is a diagram showing a selection screen of the report means 37.

図１において、ＩＣテスタ１は、図示しない被試験対象（以下ＤＵＴ）の試験を行う。記憶部２は、テストプログラム２１、テストパターン２２、操作ログデータ２３、レポートデータ２４を記憶する。制御部３は、記憶部２のテストプログラム２１によりＩＣテスタ１を実行手段３１により制御し、エディタ手段３２、モジュールモニタ手段３３、波形表示手段３４、パターン表示手段３５等の複数のツール表示手段、操作ログ手段３６、レポート手段３７等を有し、表示部４に表示する。エディタ手段３２は、記憶部２のテストプログラム２１の編集画面を表示部４に表示する。モジュールモニタ手段３３は、ＩＣテスタ１のモジュールの状態、値を表示部４に複数のシートを重ね合わせて画面表示する。波形表示手段３４は、ＩＣテスタ１の電圧発生部または電圧測定部の入出力電圧の波形を表示部４に複数のシート４１を重ね合わせて画面表示を行う。パターン表示手段３５は、記憶部２のテストパターン２２、ＤＵＴの出力であるデジタルパターンを表示部４に画面表示する。操作ログ手段３６は、表示ツール手段の操作ログデータ２３を作成し、記憶部２に格納する。レポート手段３７は、各表示ツール手段から起動され、図２の選択画面４２を表示させ、選択画面４２の選択に従って、表示ツール手段の画面に用いる表示データ、画面イメージ、記憶部２の操作ログデータ２３をレポートデータ２４にし、記憶部２に格納する。操作部５はキーボード、マウス等で、制御部３を操作する。   In FIG. 1, an IC tester 1 performs a test on a test target (hereinafter referred to as DUT) (not shown). The storage unit 2 stores a test program 21, a test pattern 22, operation log data 23, and report data 24. The control unit 3 controls the IC tester 1 by the execution unit 31 according to the test program 21 in the storage unit 2, and includes a plurality of tool display units such as an editor unit 32, a module monitor unit 33, a waveform display unit 34, and a pattern display unit 35, An operation log unit 36, a report unit 37, and the like are provided and displayed on the display unit 4. The editor unit 32 displays an editing screen of the test program 21 in the storage unit 2 on the display unit 4. The module monitor means 33 displays the state and value of the module of the IC tester 1 on the display unit 4 by superimposing a plurality of sheets on the screen. The waveform display means 34 displays the waveform of the input / output voltage of the voltage generation unit or voltage measurement unit of the IC tester 1 on the display unit 4 by superimposing a plurality of sheets 41 on the screen. The pattern display means 35 displays the test pattern 22 in the storage unit 2 and the digital pattern that is the output of the DUT on the display unit 4 on the screen. The operation log unit 36 creates the operation log data 23 of the display tool unit and stores it in the storage unit 2. The report means 37 is activated from each display tool means, displays the selection screen 42 of FIG. 23 is used as report data 24 and stored in the storage unit 2. The operation unit 5 operates the control unit 3 with a keyboard, a mouse, or the like.

このような装置の動作を以下に説明する。操作者が操作部５により制御部３に対して指示を与え、エディタ手段３２、モジュールモニタ手段３３、波形表示手段３４、パターン表示手段３５を動作させる。このとき、操作ログ手段３６は、操作部５により操作されたログを操作ログデータ２３として、順次、記憶部２に記憶させる。エディタ手段３２は、記憶部２からテストプログラム２１を読み出し、表示部４に画面表示させると共に、実行手段３１にテストプログラム２１を一文ずつ送る。実行手段３１は、エディタ手段３２からのテストプログラム文により、ＩＣテスタ１を制御する。ここで、実行手段３１は、テストプログラム文の内容により、記憶部２のテストパターン２２を読み出し、ＩＣテスタ１に送る。ＩＣテスタ１は、図示しない、正常なＤＵＴを試験する。   The operation of such an apparatus will be described below. An operator gives an instruction to the control unit 3 through the operation unit 5 to operate the editor unit 32, the module monitor unit 33, the waveform display unit 34, and the pattern display unit 35. At this time, the operation log unit 36 sequentially stores the log operated by the operation unit 5 in the storage unit 2 as the operation log data 23. The editor unit 32 reads the test program 21 from the storage unit 2, displays the screen on the display unit 4, and sends the test program 21 to the execution unit 31 one sentence at a time. The execution unit 31 controls the IC tester 1 by the test program sentence from the editor unit 32. Here, the execution means 31 reads the test pattern 22 in the storage unit 2 according to the content of the test program sentence, and sends it to the IC tester 1. The IC tester 1 tests a normal DUT (not shown).

そして、モジュールモニタ手段３３は、ＩＣテスタ１からモジュールの値、例えば、多数のドライバのハイレベル、ロウレベル電圧値、多数のコンパレータのハイレベル、ロウレベル比較値等を取得し、表示部４のシートに画面表示する。そして、モジュールモニタ手段３３は、操作部５のシート選択により、重ね合わされているシートを切り替えて画面表示する。また、波形表示手段３４は、ＩＣテスタ１の電圧発生部が出力する波形データを表示部４の画面のシート４１に波形表示させる。そして、波形表示手段３４は、操作部５のシート４１の選択により、重ね合わされているシート４１を切り替えて、ＩＣテスタ１の電圧測定部が測定した測定値を表示部４の画面のシート４１に波形表示させる。そして、パターン表示手段３５は、記憶部２からテストパターン２２を読み出し、ＩＣテスタ１からＤＵＴ１の出力であるデジタルパターンを受取り、表示部４に画面表示、波形パターン表示や”０”，”１”表示を行う。   Then, the module monitor means 33 acquires module values from the IC tester 1 such as high level and low level voltage values of a large number of drivers, high level and low level comparison values of a large number of comparators, and the like on the sheet of the display unit 4. Display on the screen. Then, the module monitor unit 33 switches and displays the overlapped sheets by screen selection by the operation unit 5. The waveform display means 34 displays the waveform data output from the voltage generation unit of the IC tester 1 on the sheet 41 of the screen of the display unit 4. And the waveform display means 34 switches the sheet | seat 41 overlapped by selection of the sheet | seat 41 of the operation part 5, and the measured value which the voltage measurement part of the IC tester 1 measured on the sheet | seat 41 of the screen of the display part 4 is displayed. Display the waveform. The pattern display means 35 reads the test pattern 22 from the storage unit 2, receives the digital pattern output from the DUT 1 from the IC tester 1, and displays the screen display, waveform pattern display, “0”, “1” on the display unit 4. Display.

表示ツール手段のどれかの表示にトラブルが起きた場合、例えば、波形表示手段３４がトラブルが起きた場合、操作者が、操作部５により、波形表示手段３４に対して指示を行い、レポート手段３７を起動させる。レポート手段３７は、表示部４に選択画面４２を表示させる。操作者が、操作部５により、例えば、”シートの表示データ”、”操作ログ”、”画面イメージ”のチェックボックスをチェックし、”ＯＫ”ボタンを押す。これにより、レポート手段３７は、波形表示手段３４からシート４１の表示データ、画面イメージを受け取り、記憶部２から波形表示手段３４の操作に関する操作ログデータを受け取り、レポートデータ２４として記憶部２に格納する。   When a trouble occurs in the display of any of the display tool means, for example, when trouble occurs in the waveform display means 34, the operator gives an instruction to the waveform display means 34 by the operation unit 5 and reports means. 37 is activated. The report unit 37 displays the selection screen 42 on the display unit 4. The operator checks, for example, the “sheet display data”, “operation log”, and “screen image” check boxes using the operation unit 5 and presses the “OK” button. As a result, the report unit 37 receives the display data and screen image of the sheet 41 from the waveform display unit 34, receives operation log data related to the operation of the waveform display unit 34 from the storage unit 2, and stores it in the storage unit 2 as report data 24. To do.

このように、レポート手段３７が、表示ツール手段の表示データ、画面イメージをレポートデータ２４にして、記憶部２に格納するので、レポートデータ２４を確認することにより、状況把握が容易にできる。   As described above, since the report unit 37 converts the display data and screen image of the display tool unit into the report data 24 and stores it in the storage unit 2, it is possible to easily grasp the situation by checking the report data 24.

また、操作ログ手段３６が操作ログデータ２３を記憶部２に格納し、レポート手段３７がレポートデータ２４とするので、どのように操作が行われたか、容易に把握することができる。   Further, since the operation log unit 36 stores the operation log data 23 in the storage unit 2 and the report unit 37 sets the report data 24, it is possible to easily grasp how the operation has been performed.

なお、本発明はＩＣテスタ１の実機によりデバックを行う構成を示したが、被試験対象のモデルとＩＣテスタのモデルとによりシミュレーションを行うシミュレーション装置としてもよい。   Although the present invention shows a configuration in which debugging is performed by an actual device of the IC tester 1, a simulation apparatus that performs simulation using a model to be tested and a model of the IC tester may be used.

また、表示ツール手段として、エディタ手段３２、モジュールモニタ手段３３、波形表示手段３４、パターン表示手段３５を示したが、シュムーを表示部に画面表示させるシュムー表示手段でもよい。要するに、表示ツール手段は、被試験対象の試験に用いるテストプログラムのデバックに用いられ、表示部にデータを画面表示させるものであればよい。   Moreover, although the editor means 32, the module monitor means 33, the waveform display means 34, and the pattern display means 35 are shown as display tool means, it may be a shmoo display means for displaying the shmoo on the display unit. In short, the display tool means may be used as long as it can be used for debugging a test program used for the test under test, and display data on the display unit.

また、テストプログラム２１とテストパターン２２とにより、デバックを行う構成を示したが、テストプログラム２１のみのデバックでもよい。   In addition, the configuration in which debugging is performed by the test program 21 and the test pattern 22 has been described, but debugging using only the test program 21 may be performed.

また、操作ログ手段３６を設けた構成を示したが、操作ログ手段３６がない構成でもよい。   Moreover, although the structure which provided the operation log means 36 was shown, the structure without the operation log means 36 may be sufficient.

本発明の一実施例を示した構成図である。It is the block diagram which showed one Example of this invention. レポート手段３７の選択画面を示した図である。It is the figure which showed the selection screen of the report means.

符号の説明Explanation of symbols

１ ＩＣテスタ
２１ テストプログラム
２２ テストパターン
２３ 操作ログデータ
２４ レポートデータ
３２ エディタ手段
３３ モジュールモニタ手段
３４ 波形表示手段
３５ パターン表示手段
３６ オペレーションログ手段
３７ レポート手段
４ 表示部
４１ シート DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 IC tester 21 Test program 22 Test pattern 23 Operation log data 24 Report data 32 Editor means 33 Module monitor means 34 Waveform display means 35 Pattern display means 36 Operation log means 37 Report means 4 Display part 41 Sheet

Claims (3)

複数の表示ツール手段が画面を表示部に表示させ、被試験対象の試験に用いるテストプログラムのデバックを行うＩＣテスタのデバック装置において、
前記表示ツール手段の画面に用いる表示データ、画面イメージをレポートデータにするレポート手段を備えたことを特徴とするＩＣテスタのデバック装置。 In a debugging device of an IC tester that displays a screen on a display unit by a plurality of display tool means and debugs a test program used for a test of an object to be tested.
A debug device for an IC tester, comprising report means for converting display data and a screen image used for the screen of the display tool means into report data. レポート手段は、表示ツール手段の画面のシートごと、または、すべてのシートの表示データをレポートデータにすることを特徴とする請求項１記載のＩＣテスタのデバック装置。   2. The IC tester debugging apparatus according to claim 1, wherein the report means converts the display data of each sheet on the screen of the display tool means or all sheets into report data. 表示ツール手段が操作された操作ログデータを作成する操作ログ手段を設け、レポート手段は、操作ログ手段の操作ログデータをレポートデータとすることを特徴とする請求項１または２記載のＩＣテスタのデバック装置。   3. The IC tester according to claim 1, wherein operation log means for creating operation log data for operating the display tool means is provided, and the report means uses the operation log data of the operation log means as report data. Debug device.
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