JP2010002218A - 光測定装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】光測定装置1は、第一レーザ光源11から所定のパルス光を受け、それと同じ繰り返し周波数frep1を有するテラヘルツ光L1を出力する光伝導スイッチ18と、テラヘルツ光L1とサンプリング光パルスL2を受け、サンプリング光パルスL2を受けた時点で、テラヘルツ光L1のパワーに応じた信号を出力する光伝導スイッチ21と、信号の大きさを時間と共に変化する測定周波数ごとに測定するRFスペクトラムアナライザ26と、所定のパルス光とサンプリング光パルスL2が同時に入力されたときに、同時光パルスを出力する光カプラ32と、同時光パルスを電気信号に変換してトリガ信号EXTとするフォトディテクタ36と、トリガ信号EXTを遅延させる光遅延回路34とを備える。
【選択図】図1
Description
= fIF+fLO = fIF+fLOS+S・tpである。ここで、fIF+fLOSをfsとすれば、fRF
= fS+S・tpである。周波数fRFは、先に述べた測定周波数である。トリガ信号EXTがRFスペクトラムアナライザ26(のローカル信号源26a)に与えられた時点から周波数fRFが変化した量S・tpは、トリガ信号EXTがRFスペクトラムアナライザ26(のローカル信号源26a)に与えられた時点から経過した時間tpに比例する。
2Δt1,…)のテラヘルツ光L1のパワーに応じた電流を出力することになる。光伝導スイッチ21は、やがて、テラヘルツ光L1のパワーが最大になった時点からのずれが1/frep1になったときのテラヘルツ光L1のパワーに応じた電流を出力する(図3(a)の右端のパルスを参照)。この時点で、テラヘルツ光L1のパルスの一周期分の測定が完了する。テラヘルツ光L1のパルスの一周期分の測定が完了するのにかかる時間Δtは、Δt = 1/Δf = 1/(frep1−frep2)となる。
= fS+S・tpのtpに0, Δt−td, 2Δt−td, 3Δt−td,…を代入して、fS, fS+ S(Δt−td), fS+
S(2Δt−td), fS+ S(3Δt−td),…ということになる。
10 光出力装置
11 第一レーザ光源
12 第二レーザ光源
16 バイアス電圧源
18 光伝導スイッチ(被検出光パルス出力部)
M11、M12 ハーフミラー
20 受光装置
21 光伝導スイッチ(信号出力器)
22 電流アンプ
26 RFスペクトラムアナライザ(周波数スペクトル測定器)
M21、M22 ミラー
30 トリガ信号付与装置
32 光カプラ(同時光パルス出力部)
34 光遅延回路(トリガ信号遅延部)
36 フォトディテクタ(トリガ信号生成部)
td 遅延させる時間
L1 テラヘルツ光(被検出光パルス)
L2 サンプリング光パルス
frep1、frep2 繰り返し周波数
EXT トリガ信号
13 非線形光学結晶(被検出光パルス出力部)
23 電気光学結晶(信号出力器)
Claims (9)
- 所定のパルス光を受け、前記所定のパルス光の繰り返し周波数と同じ繰り返し周波数を有する被検出光パルスを出力する被検出光パルス出力部と、
前記被検出光パルスとサンプリング光パルスとを受け、前記サンプリング光パルスを受けた時点で、前記被検出光パルスのパワーに応じた信号を出力する信号出力器と、
前記信号の大きさを、時間と共に変化する測定周波数ごとに測定する周波数スペクトル測定器と、
前記所定のパルス光と、前記サンプリング光パルスとが同時に入力されたときに、同時光パルスを出力する同時光パルス出力部と、
前記同時光パルスを電気信号に変換して、前記トリガ信号とするトリガ信号生成部と、
前記トリガ信号を遅延させるトリガ信号遅延部と、
を備え、
前記被検出光パルスの繰り返し周波数と前記サンプリング光パルスの繰り返し周波数とが異なり、
前記トリガ信号が前記周波数スペクトル測定器に与えられた時点から、前記測定周波数が変化を始める、
光測定装置。 - 請求項1に記載の光測定装置であって、
前記トリガ信号遅延部は、前記同時光パルスを遅延させて、前記トリガ信号生成部に与える、
光測定装置。 - 請求項1に記載の光測定装置であって、
前記トリガ信号遅延部は、前記周波数スペクトル測定器の内部に配置されている、
光測定装置。 - 請求項1に記載の光測定装置であって、
前記トリガ信号遅延部は、前記サンプリング光パルスを遅延させて、前記同時光パルス出力部に与える、
光測定装置。 - 請求項1ないし4のいずれか一項に記載の光測定装置であって、
前記測定周波数の、前記トリガ信号が前記周波数スペクトル測定器に与えられた時点からの変化量は、前記時点から経過した時間に比例する、
光測定装置。 - 請求項1ないし4のいずれか一項に記載の光測定装置であって、
前記被検出光パルス出力部および前記信号出力器が光伝導スイッチである、
光測定装置。 - 請求項1ないし4のいずれか一項に記載の光測定装置であって、
前記被検出光パルスがテラヘルツ光である、
光測定装置。 - 請求項1ないし4のいずれか一項に記載の光測定装置であって、
前記信号が電流である、
光測定装置。 - 請求項1ないし4のいずれか一項に記載の光測定装置であって、
前記被検出光パルス出力部が非線形光学結晶であり、
前記信号出力器が電気光学結晶である、
光測定装置。
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