JP2009276858A - Electronic apparatus - Google Patents

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an electronic apparatus for easily performing inspection by reducing an operation margin. <P>SOLUTION: The electronic apparatus includes: a function circuit 10 for performing a function operation in order to attain a predetermined image forming function; a power source circuit 3 and a spectrum diffusion clock generator 2 for setting either a normal condition at which a power source voltage and a frequency of a clock signal required for operating the function circuit 10 are set to the power source voltage and a frequency predetermined for performing an image forming operation, or a severe condition at which the power source voltage and the frequency are set to the power source voltage and the frequency for performing the operation of the function circuit with more difficulty compared with the normal condition; and an operation condition control part 221 for allowing the power source circuit 3 and the spectrum diffusion clock generator 2 set the normal condition when the image is formed, and allowing the power source circuit 3 and the spectrum diffusion clock generator 2 to set the severe condition when the function circuit 10 is inspected. <P>COPYRIGHT: (C)2010,JPO&INPIT

Description

本発明は、通常動作条件よりも厳しい動作条件を自機に設定することで、自機の動作余裕度を確認することが容易な電子機器に関する。   The present invention relates to an electronic device in which it is easy to check the operation margin of the own device by setting the operation condition severer than the normal operation condition in the own device.

従来より、ユーザの使用環境において、まれな頻度で不具合を生じる電子機器を、サービスセンターに持ち帰って動作テストを行うと、不具合が再現しなくなる場合があった。このような場合、電子機器の回路におけるタイミングマージン等の、動作余裕度が少なくなっている可能性がある。そこで、不具合を生じた電子機器を恒温槽にいれて、高温環境下で動作させることで、回路の動作条件を厳しくして不具合を再現し、不具合原因を調査することが行われている。   Conventionally, when an electronic device that causes a failure at a rare frequency in a user's usage environment is brought back to a service center and an operation test is performed, the failure may not be reproduced. In such a case, there is a possibility that an operation margin such as a timing margin in the circuit of the electronic device is reduced. In view of this, it has been practiced to place the malfunctioning electronic device in a thermostatic chamber and operate it in a high temperature environment to reinforce the circuit operating conditions and to reproduce the problem and investigate the cause of the problem.

また、このような電子機器に用いられる集積回路において、自己診断を実行可能とする技術も知られている（例えば、特許文献１参照。）。
特開２００３−２０８３３１号公報 In addition, a technique that enables self-diagnosis in an integrated circuit used in such an electronic device is also known (see, for example, Patent Document 1).
JP 2003-208331 A

ところで、電子機器の動作に影響を与える要因は、温度環境に限られず、例えばネットワーク環境や電磁波等に関わるＥＭＣ（Electro Magnetic Compatibility）環境が影響している可能性がある。しかしながら、このようなユーザ環境は、サービスセンターで再現することが困難である。一方で、ユーザの使用環境下においても、不具合の発生頻度がまれである場合、ユーザの使用環境下で不具合原因を調査することも困難である。   By the way, the factor that affects the operation of the electronic device is not limited to the temperature environment, but may be affected by, for example, an EMC (Electro Magnetic Compatibility) environment related to a network environment or electromagnetic waves. However, such a user environment is difficult to reproduce at a service center. On the other hand, if the occurrence frequency of defects is rare even in the user's usage environment, it is difficult to investigate the cause of the malfunction in the user's usage environment.

不具合を再現するには、ユーザの使用環境下において、電子機器を恒温槽に入れて動作余裕度を減少させることで、不具合の再現性を向上させることができる。しかしながら、オフィスや一般家庭等の、ユーザの使用環境に恒温槽を持ち込むことは困難である。   In order to reproduce the problem, it is possible to improve the reproducibility of the problem by placing the electronic device in a thermostatic chamber and reducing the operating margin under the user's usage environment. However, it is difficult to bring a thermostatic bath into the user's usage environment such as an office or a general home.

本発明は、このような事情に鑑みて為された発明であり、動作余裕度を減少させて検査を行うことが容易な電子機器を提供することを目的とする。   The present invention has been made in view of such circumstances, and an object of the present invention is to provide an electronic device that can be easily inspected with a reduced operating margin.

本発明に係る電子機器は、予め設定された機能を実現するための機能動作を行う機能回路部と、前記機能回路部を動作させるために必要な動作条件を、前記機能動作を行うために予め設定された通常条件及び当該通常条件より機能回路部の動作が難しくなる過酷条件のうちいずれかの条件に設定する動作条件設定部と、前記機能回路部を正常動作させるべきときは、前記動作条件設定部によって前記通常条件を設定させ、前記機能回路部の動作を検査するときは、前記動作条件設定部によって前記過酷条件を設定させる動作条件制御部とを備える。   An electronic device according to the present invention includes a functional circuit unit that performs a functional operation for realizing a preset function and an operation condition necessary for operating the functional circuit unit in advance for performing the functional operation. An operating condition setting unit that is set to any one of a set normal condition and a severe condition that makes the operation of the functional circuit unit more difficult than the normal condition, and when the functional circuit unit is to operate normally, the operating condition When the normal condition is set by the setting unit and the operation of the functional circuit unit is inspected, the operation condition control unit is configured to set the severe condition by the operation condition setting unit.

この構成によれば、動作条件制御部によって、機能回路部を正常動作させるべきときは、機能動作を行うために予め設定された通常条件が設定され、機能回路部の動作を検査するときは、当該通常条件より機能回路部の動作が難しくなる過酷条件が設定されて動作余裕度が減少されるので、動作余裕度を減少させて検査を行うことが容易である。   According to this configuration, when the functional circuit unit should be normally operated by the operation condition control unit, the normal condition set in advance for performing the functional operation is set, and when the operation of the functional circuit unit is inspected, Since the severe condition that makes the operation of the functional circuit unit more difficult than the normal condition is set and the operation margin is reduced, it is easy to perform the inspection while reducing the operation margin.

また、前記動作条件は、前記機能回路部の動作用電源電圧を含み、前記動作条件設定部は、前記動作用電源電圧を生成し、当該機能回路部へ供給する電源部を含み、前記動作条件制御部は、前記通常条件として前記電源部によって当該動作用電源電圧を当該機能回路部の動作に適した第１電圧に設定させ、前記過酷条件として前記電源部によって当該動作用電源電圧を前記第１電圧とは異なる第２電圧に設定させることが好ましい。   The operation condition includes a power supply voltage for operation of the functional circuit unit, and the operation condition setting unit includes a power supply unit that generates and supplies the power supply voltage for operation to the functional circuit unit. The control unit causes the power supply unit to set the operation power supply voltage to a first voltage suitable for the operation of the functional circuit unit as the normal condition, and sets the operation power supply voltage to the first voltage as the severe condition. It is preferable to set the second voltage different from the first voltage.

この構成によれば、機能回路部を正常動作させるべきときは、電源部から機能回路部の動作に適した第１電圧が動作用電源電圧として機能回路部へ供給される。一方、機能回路部の動作を検査するときは、電源部から機能回路部の動作に適した第１電圧とは異なる第２電圧が、動作用電源電圧として機能回路部へ供給されるので、機能回路部の電源電圧条件が厳しくなる結果、動作余裕度が減少される。   According to this configuration, when the functional circuit unit should operate normally, the first voltage suitable for the operation of the functional circuit unit is supplied from the power supply unit to the functional circuit unit as the operation power supply voltage. On the other hand, when the operation of the functional circuit unit is inspected, the second voltage different from the first voltage suitable for the operation of the functional circuit unit is supplied from the power supply unit to the functional circuit unit as the operation power supply voltage. As a result of stricter power supply voltage conditions in the circuit section, the operating margin is reduced.

また、前記機能回路部は、所定のクロック信号と同期して動作するデジタル回路であり、前記動作条件は、前記クロック信号の周波数を含み、前記動作条件設定部は、前記機能回路部へ前記クロック信号を供給すると共に当該クロック信号のスペクトラム拡散可能なクロック信号発生部を含み、前記クロック信号発生部は、前記スペクトラムの拡散幅を変更可能にされており、前記動作条件制御部は、前記クロック信号発生部によって、前記通常条件よりも前記スペクトラムの拡散幅を増大させることによって、前記動作条件を前記過酷条件に設定することが好ましい。   The functional circuit unit is a digital circuit that operates in synchronization with a predetermined clock signal, the operating condition includes a frequency of the clock signal, and the operating condition setting unit transmits the clock to the functional circuit unit. A clock signal generator that supplies a signal and that can spread spectrum of the clock signal, the clock signal generator is configured to change a spread width of the spectrum, and the operating condition controller It is preferable that the operating condition is set to the severe condition by increasing the spread width of the spectrum more than the normal condition by the generation unit.

この構成によれば、機能回路部の動作を検査するときは、機能回路部のクロック信号のスペクトラムの拡散幅が増大され、すなわちクロック信号の周波数の変動幅が増大される。そして、機能回路部は、クロック信号と同期して動作するデジタル回路であるから、このクロック信号の周波数の変動幅が増大すると、機能回路部におけるタイミングマージンが減少し、動作余裕度が減少する。   According to this configuration, when the operation of the functional circuit unit is inspected, the spread width of the spectrum of the clock signal of the functional circuit unit is increased, that is, the fluctuation range of the frequency of the clock signal is increased. Since the functional circuit unit is a digital circuit that operates in synchronization with the clock signal, the timing margin in the functional circuit unit decreases and the operational margin decreases when the variation width of the frequency of the clock signal increases.

また、前記機能回路部は、所定のクロック信号と同期して動作するデジタル回路であり、前記動作条件は、前記クロック信号の周波数を含み、前記動作条件設定部は、前記機能回路部へ前記クロック信号を供給すると共に当該クロック信号の周波数を変更可能なクロック信号発生部を含み、前記動作条件制御部は、前記クロック信号発生部によって、前記クロック信号の周波数を前記通常条件よりも増大させることによって、前記動作条件を、前記過酷条件に設定するようにしてもよい。   The functional circuit unit is a digital circuit that operates in synchronization with a predetermined clock signal, the operating condition includes a frequency of the clock signal, and the operating condition setting unit transmits the clock to the functional circuit unit. A clock signal generator capable of supplying a signal and changing a frequency of the clock signal, and the operating condition controller is configured to increase the frequency of the clock signal from the normal condition by the clock signal generator. The operating condition may be set to the severe condition.

この構成によれば、機能回路部の動作を検査するときは、機能回路部のクロック信号の周波数が増大される。そして、機能回路部は、クロック信号と同期して動作するデジタル回路であるから、このクロック信号の周波数が増大すると、機能回路部におけるタイミングマージンが減少し、動作余裕度が減少する。   According to this configuration, when the operation of the functional circuit unit is inspected, the frequency of the clock signal of the functional circuit unit is increased. Since the functional circuit unit is a digital circuit that operates in synchronization with the clock signal, when the frequency of the clock signal increases, the timing margin in the functional circuit unit decreases and the operation margin decreases.

また、前記機能回路部の異常動作を検出する異常動作検出部と、前記異常動作検出部によって前記機能回路部の異常動作が検出された場合、異常発生を報知する報知部とをさらに備えることが好ましい。   And an abnormal operation detecting unit that detects an abnormal operation of the functional circuit unit, and an informing unit that notifies the occurrence of an abnormality when the abnormal operation of the functional circuit unit is detected by the abnormal operation detecting unit. preferable.

この構成によれば、異常動作検出部によって機能回路部の異常動作が検出され、報知部によって異常発生が報知される。これにより、ユーザや保守作業者が電子機器の動作を監視していなくても、異常の発生を知ることができるので、利便性が向上する。   According to this configuration, the abnormal operation detection unit detects an abnormal operation of the functional circuit unit, and the notification unit notifies the occurrence of the abnormality. Thereby, even if the user or the maintenance worker does not monitor the operation of the electronic device, it is possible to know the occurrence of the abnormality, so that convenience is improved.

また、前記機能回路部が正常であるか否かを判定する自己診断を実行する自己診断部をさらに備え、前記動作条件制御部は、前記機能回路部の動作を検査するときは、前記動作条件設定部により前記動作条件を前記過酷条件に設定させた状態で、前記自己診断部による自己診断を実行させることが好ましい。   Further, a self-diagnosis unit that executes a self-diagnosis for determining whether or not the functional circuit unit is normal is provided, and the operation condition control unit is configured to check the operation condition when the operation of the functional circuit unit is inspected. It is preferable to execute the self-diagnosis by the self-diagnosis unit in a state where the operation condition is set to the severe condition by the setting unit.

この構成によれば、機能回路部の動作を検査するときは、機能回路部の動作条件が過酷条件にされて動作余裕度が減少した状態で、自己診断部による自己診断が行われるので、動作余裕度を減少させて検査を行うことが容易である。   According to this configuration, when the operation of the functional circuit unit is inspected, the self-diagnosis unit performs the self-diagnosis in a state where the operating condition of the functional circuit unit is made severe and the operation margin is reduced. It is easy to perform inspection while reducing the margin.

また、前記機能回路部を初期化する初期化部をさらに備え、前記動作条件制御部は、前記自己診断部による前記過酷条件における自己診断の終了後に前記初期化部により前記機能回路部を初期化させた後、前記動作条件設定部によって、前記動作条件を前記通常条件に設定させてから、前記機能回路部による機能動作を実行させることが好ましい。   And an initialization unit that initializes the functional circuit unit, wherein the operation condition control unit initializes the functional circuit unit by the initialization unit after completion of self-diagnosis under the severe condition by the self-diagnosis unit. After that, it is preferable that the operation condition setting unit causes the operation condition to be set to the normal condition, and then the functional operation by the functional circuit unit is executed.

機能回路部を過酷条件で動作させた後は、機能回路部が通常と異なる状態になって、動作信頼性が低下しているおそれがある。そこで、機能回路部を過酷条件で動作させた後、機能回路部による機能動作を実行させる前に、機能回路部を初期化することで、機能回路部による機能動作の信頼性を向上させることが可能となる。   After the functional circuit unit is operated under severe conditions, the functional circuit unit may be in a different state from the normal state, and the operation reliability may be reduced. Therefore, it is possible to improve the reliability of the functional operation by the functional circuit unit by initializing the functional circuit unit after operating the functional circuit unit under severe conditions and before executing the functional operation by the functional circuit unit. It becomes possible.

また、互いに異なる報知先に異常の検出を報知する第１及び第２報知部をさらに備え、前記動作条件制御部は、さらに、前記動作条件設定部によって、前記動作条件を前記通常条件に設定させた状態で、前記自己診断部による自己診断を実行させ、前記自己診断部による前記通常条件における自己診断によって異常が検出された場合、前記第１報知部によって当該異常が検出されたことを報知させ、前記自己診断部による前記過酷条件における自己診断によって異常が検出された場合、前記第２報知部によって当該異常が検出されたことを報知させることが好ましい。   In addition, it further includes first and second notifying units for notifying the different notification destinations of the detection of abnormality, and the operation condition control unit further causes the operation condition setting unit to set the operation condition to the normal condition. In this state, the self-diagnosis unit performs a self-diagnosis, and when an abnormality is detected by the self-diagnosis under the normal condition by the self-diagnosis unit, the first notification unit notifies that the abnormality is detected. When an abnormality is detected by the self-diagnosis under the severe condition by the self-diagnosis unit, it is preferable that the second notification unit notifies that the abnormality has been detected.

過酷条件における自己診断によって異常が検出された場合、実際に機能動作させるときより厳しい動作条件で自己診断が実行されているから、必ずしも故障しているわけではない。従って、過酷条件における異常の検出は、電子機器を使用する一般的なユーザにとっては、必ずしも必要な情報ではない。そこで、この構成によれば、通常条件における自己診断によって異常が検出された場合と、過酷条件における自己診断によって異常が検出された場合とで、異なる報知先に異常の検出を報知することができるので、過酷条件における異常の報知を、必要とする者に行い、必要としない者には行わないようにすることが容易である。   When an abnormality is detected by a self-diagnosis under severe conditions, the self-diagnosis is executed under stricter operating conditions than when the function is actually operated. Therefore, detection of an abnormality under severe conditions is not always necessary information for a general user who uses an electronic device. Therefore, according to this configuration, detection of abnormality can be notified to different notification destinations when abnormality is detected by self-diagnosis under normal conditions and when abnormality is detected by self-diagnosis under severe conditions. Therefore, it is easy to notify a person who needs an abnormality under severe conditions and not to a person who does not need it.

また、ページ記述言語で表現された第１画像データと、当該第１画像データをラスタ形式に変換した第２画像データとを予め記憶する画像データ記憶部をさらに備え、前記機能回路部は、ページ記述言語で表現された画像データをラスタ形式に変換する処理を前記機能動作として実行する画像処理回路であり、前記自己診断部は、前記画像処理回路によって前記画像データ記憶部に記憶されている第１画像データをラスタ形式に変換させ、当該変換された画像データを前記画像データ記憶部に記憶されている第２画像データと比較することにより、前記自己診断を実行することが好ましい。   The image processing apparatus further includes an image data storage unit that stores in advance first image data expressed in a page description language and second image data obtained by converting the first image data into a raster format. An image processing circuit that executes a process of converting image data expressed in a description language into a raster format as the functional operation, wherein the self-diagnosis unit is stored in the image data storage unit by the image processing circuit. It is preferable to execute the self-diagnosis by converting one image data into a raster format and comparing the converted image data with second image data stored in the image data storage unit.

この構成によれば、自己診断部は、画像処理回路によって画像データ記憶部に記憶されている第１画像データをラスタ形式に変換させ、当該変換された画像データを画像データ記憶部に記憶されている第２画像データと比較することにより、自己診断を実行するので、もし画像処理回路が正常に動作しなかった場合、画像処理回路による第１画像データのラスタ形式への変換結果が、第２画像データと一致しなくなる結果、画像処理回路が正常であるか否かを判定することができる。   According to this configuration, the self-diagnosis unit converts the first image data stored in the image data storage unit into the raster format by the image processing circuit, and the converted image data is stored in the image data storage unit. The self-diagnosis is executed by comparing with the second image data, so that if the image processing circuit does not operate normally, the conversion result of the first image data into the raster format by the image processing circuit is the second result. As a result of not matching the image data, it can be determined whether or not the image processing circuit is normal.

このような構成の電子機器は、動作条件制御部によって、機能回路部を正常動作させるべきときは、機能動作を行うために予め設定された通常条件が設定され、機能回路部の動作を検査するときは、当該通常条件より機能回路部の動作が難しくなる過酷条件が設定されて動作余裕度が減少されるので、動作余裕度を減少させて検査を行うことが容易である。   In the electronic device having such a configuration, when the functional circuit unit should operate normally by the operation condition control unit, normal conditions set in advance to perform the functional operation are set, and the operation of the functional circuit unit is inspected. In some cases, a severe condition that makes the operation of the functional circuit unit more difficult than the normal condition is set and the operation margin is reduced. Therefore, it is easy to perform the inspection while reducing the operation margin.

以下、本発明に係る実施形態を図面に基づいて説明する。なお、各図において同一の符号を付した構成は、同一の構成であることを示し、その説明を省略する。   Embodiments according to the present invention will be described below with reference to the drawings. In addition, the structure which attached | subjected the same code | symbol in each figure shows that it is the same structure, The description is abbreviate | omitted.

図１は、本発明の一実施形態に係る電子機器の一例であるプリンタ１の構成の一例を示すブロック図である。なお、電子機器は、プリンタに限られず、複写機、ファクシミリ、あるいはプリンタ、複写機、ファクシミリ等を複合した複合機等の画像形成装置であってもよく、画像形成装置以外の電子機器であってもよい。   FIG. 1 is a block diagram illustrating an example of the configuration of a printer 1 that is an example of an electronic apparatus according to an embodiment of the invention. The electronic device is not limited to a printer, and may be an image forming apparatus such as a copying machine, a facsimile machine, or a multifunction machine that combines a printer, a copying machine, a facsimile machine, or the like. Also good.

図１に示すプリンタ１は、スペクトラム拡散クロックジェネレータ２（動作条件設定部、クロック信号発生部）、電源回路３（動作条件設定部、電源部）、画像形成部３１、画像処理回路４１、操作パネル部５１（報知部、第１報知部）、ＨＤＤ（Hard Disk Drive）１４（画像データ記憶部）、第１制御部２１、第２制御部２２、ＥＥＰＲＯＭ（Electrically Erasable and Programmable Read Only Memory）２３、及び通信Ｉ／Ｆ（インターフェイス）部７１（第２報知部）を備えている。また、画像形成部３１、画像処理回路４１、ＨＤＤ１４、第１制御部２１、及び通信Ｉ／Ｆ部７１によって、機能回路部１０が構成されている。   1 includes a spread spectrum clock generator 2 (operation condition setting unit, clock signal generation unit), power supply circuit 3 (operation condition setting unit, power supply unit), image forming unit 31, image processing circuit 41, operation panel. Unit 51 (notification unit, first notification unit), HDD (Hard Disk Drive) 14 (image data storage unit), first control unit 21, second control unit 22, EEPROM (Electrically Erasable and Programmable Read Only Memory) 23, And a communication I / F (interface) unit 71 (second notification unit). The functional circuit unit 10 is configured by the image forming unit 31, the image processing circuit 41, the HDD 14, the first control unit 21, and the communication I / F unit 71.

スペクトラム拡散クロックジェネレータ２は、機能回路部１０へクロック信号ＣＫを供給する。また、スペクトラム拡散クロックジェネレータ２は、第２制御部２２からの制御信号に応じて、クロック信号ＣＫのスペクトラムの拡散幅（クロック信号ＣＫの周波数の変動幅）を変更可能にされている。クロック信号ＣＫのスペクトラムの拡散幅は、通常条件では、例えば０．５％に設定されるようになっている。   The spread spectrum clock generator 2 supplies a clock signal CK to the functional circuit unit 10. Further, the spread spectrum clock generator 2 can change the spread width of the spectrum of the clock signal CK (the fluctuation width of the frequency of the clock signal CK) according to the control signal from the second control unit 22. The spread width of the spectrum of the clock signal CK is set to 0.5%, for example, under normal conditions.

スペクトラム拡散クロックジェネレータ２としては、例えば富士通マイクロエレクトロニクス社製ＭＢ８８１５１Ａを用いることができる。機能回路部１０の各部は、０．５％の変動幅で周波数が変動するクロック信号ＣＫと同期して、正常に動作するようになっている。   As the spread spectrum clock generator 2, for example, MB88151A manufactured by Fujitsu Microelectronics can be used. Each part of the functional circuit unit 10 operates normally in synchronization with the clock signal CK whose frequency varies with a variation width of 0.5%.

電源回路３は、例えばスイッチング電源回路を用いて構成されており、商用電源電圧からプリンタ１の各部の動作用電源電圧を生成する。電源回路３は、機能回路部１０へ電源電圧Ｖａを供給する。また、電源回路３は、プリンタ１における機能回路部１０以外の各部へは、電源電圧Ｖｂを供給する。そして、電源回路３は、第２制御部２２からの制御信号に応じて、電源電圧Ｖａの電圧値を、通常条件として機能回路部１０の動作に適した第１電圧値Ｖ１にしたり、過酷条件として第１電圧値Ｖ１とは異なる第２電圧値Ｖ２にしたりするようになっている。   The power supply circuit 3 is configured using, for example, a switching power supply circuit, and generates an operation power supply voltage for each unit of the printer 1 from a commercial power supply voltage. The power supply circuit 3 supplies the power supply voltage Va to the functional circuit unit 10. The power supply circuit 3 supplies a power supply voltage Vb to each unit other than the functional circuit unit 10 in the printer 1. Then, the power supply circuit 3 sets the voltage value of the power supply voltage Va to the first voltage value V1 suitable for the operation of the functional circuit unit 10 as a normal condition in accordance with a control signal from the second control unit 22 or a severe condition. Or the second voltage value V2 different from the first voltage value V1.

第１電圧値Ｖ１としては、例えば機能回路部１０を構成する電子部品の定格電源電圧が用いられ、第２電圧値Ｖ２としては、例えば機能回路部１０を構成する電子部品の電源電圧許容範囲内の限界値、例えば下限値が用いられる。あるいは第２電圧値Ｖ２としては、機能回路部１０を構成する電子部品の電源電圧許容範囲外の電圧を用いてもよい。電源電圧Ｖｂは、プリンタ１における機能回路部１０以外の各部を構成する電子部品の定格電源電圧が固定的に用いられる。   As the first voltage value V1, for example, a rated power supply voltage of an electronic component that constitutes the functional circuit unit 10 is used, and as the second voltage value V2, for example, within a power supply voltage allowable range of the electronic component that constitutes the functional circuit unit 10. Limit values, for example, lower limit values are used. Or as the 2nd voltage value V2, you may use the voltage outside the power supply voltage tolerance | permissible_range of the electronic component which comprises the functional circuit part 10. FIG. As the power supply voltage Vb, a rated power supply voltage of an electronic component constituting each part other than the functional circuit part 10 in the printer 1 is fixedly used.

通信Ｉ／Ｆ部７１は、ネットワークインターフェイス（例えば１０／１００base-TX）等を用い、例えばＬＡＮやインターネット等のネットワーク５を介して接続された図略の端末装置との間で種々のデータの送受信を制御する通信インターフェイス回路である。なお、通信Ｉ／Ｆ部７１は、例えばＵＳＢ（Universal Serial Bus）やセントロニクス等のインターフェイス回路であってもよい。   The communication I / F unit 71 uses a network interface (for example, 10 / 100base-TX) or the like to transmit / receive various data to / from a terminal device (not shown) connected via the network 5 such as a LAN or the Internet. It is the communication interface circuit which controls. The communication I / F unit 71 may be an interface circuit such as USB (Universal Serial Bus) or Centronics.

操作パネル部５１は、ユーザがプリンタ１を操作するために使用される。操作パネル部５１は、タッチパネル等を有する表示部５２と、操作スイッチ等を有する操作キー部５３とを備えている。   The operation panel unit 51 is used for a user to operate the printer 1. The operation panel unit 51 includes a display unit 52 having a touch panel or the like, and an operation key unit 53 having an operation switch or the like.

表示部５２は、例えばタッチパネルとＬＣＤ（Liquid Crystal Display）とを組み合わせた表示可能なタッチパネルユニット等を有し、種々の操作画面を表示し、入力操作を可能にする。操作キー部５３は、例えばユーザによる画像形成実行指示や、各種設定を行うために用いられる。   The display unit 52 includes, for example, a touch panel unit that can display a combination of a touch panel and an LCD (Liquid Crystal Display), displays various operation screens, and enables an input operation. The operation key unit 53 is used, for example, for performing an image formation execution instruction and various settings by a user.

ＨＤＤ１４は、例えば通信Ｉ／Ｆ部７１によって、ネットワーク５に接続された図略の端末装置から受信された印刷ジョブデータを記憶する。また、ＨＤＤ１４には、自己診断用にページ記述言語で表現された第１画像データと、当該第１画像データをラスタ形式に変換した第２画像データとが予め記憶されている。   The HDD 14 stores print job data received from a terminal device (not shown) connected to the network 5 by the communication I / F unit 71, for example. The HDD 14 stores in advance first image data expressed in a page description language for self-diagnosis and second image data obtained by converting the first image data into a raster format.

画像形成部３１は、例えばトナーを用いて画像を形成する電子写真方式の画像形成機構である。なお、画像形成部３１は、電子写真方式に限られず、例えば用紙にインクを吐出して画像を形成するインクジェット方式や、インクフィルムに熱を加えて用紙に画像を転写する熱転写方式等、種々の方式を用いることができる。   The image forming unit 31 is an electrophotographic image forming mechanism that forms an image using toner, for example. Note that the image forming unit 31 is not limited to the electrophotographic system, and may be various systems such as an ink jet system that forms an image by ejecting ink onto a sheet, and a thermal transfer system that transfers an image onto a sheet by applying heat to an ink film. Can be used.

画像処理回路４１は、例えば通信Ｉ／Ｆ部７１によって図略の端末装置から受信された、ページ記述言語で表現された画像データをラスタ形式に変換する画像処理回路である。また、画像処理回路４１は、例えば、ラスタ形式に変換された画像データから、画像形成部３１の露光装置で用いられるレーザ光の制御信号を生成し、画像形成部３１へ出力する。   The image processing circuit 41 is an image processing circuit that converts, for example, image data expressed in a page description language received from a terminal device (not shown) by the communication I / F unit 71 into a raster format. Further, the image processing circuit 41 generates a control signal of laser light used in the exposure device of the image forming unit 31 from the image data converted into, for example, a raster format, and outputs the control signal to the image forming unit 31.

第１制御部２１及び第２制御部２２は、例えば所定の演算処理を実行するＣＰＵ（Central Processing Unit）と、所定の制御プログラムが記憶された不揮発性のＲＯＭ（Read Only Memory）と、データを一時的に記憶するＲＡＭ（Random Access Memory）と、その周辺回路等とをそれぞれ備えて構成されている。   The first control unit 21 and the second control unit 22 are, for example, a CPU (Central Processing Unit) that executes predetermined arithmetic processing, a nonvolatile ROM (Read Only Memory) that stores a predetermined control program, and data A RAM (Random Access Memory) for temporary storage and its peripheral circuits are provided.

そして、第１制御部２１は、例えばＲＯＭに記憶された制御プログラムを実行することにより、画像形成制御部２１１、及び自己診断部２１２として機能する。また、第２制御部２２は、例えばＲＯＭに記憶された制御プログラムを実行することにより、初期化部２２０、動作条件制御部２２１、及び異常動作検出部２２２として機能する。画像形成制御部２１１は、プリンタ機能を実現するために用いられる各部の動作を制御するものである。画像形成制御部２１１は、通信Ｉ／Ｆ部７１によって印刷ジョブデータが受信された場合、当該印刷ジョブデータに基づいて、画像処理回路４１及び画像形成部３１によって用紙に画像を形成させる。   The first control unit 21 functions as the image formation control unit 211 and the self-diagnosis unit 212 by executing a control program stored in the ROM, for example. The second control unit 22 functions as an initialization unit 220, an operation condition control unit 221, and an abnormal operation detection unit 222 by executing a control program stored in a ROM, for example. The image forming control unit 211 controls the operation of each unit used for realizing the printer function. When print job data is received by the communication I / F unit 71, the image formation control unit 211 causes the image processing circuit 41 and the image forming unit 31 to form an image on a sheet based on the print job data.

自己診断部２１２は、動作条件制御部２２１からの制御信号に応じて、機能回路部１０内の各部が正常であるか否かを判定する。具体的には、自己診断部２１２は、例えば第１制御部２１が備えるＲＡＭに、所定のデータパターンを書き込み、読み出し、照合するいわゆるライトリードベリファイチェックを行って、照合結果が一致しなかった場合に異常があると診断する。また、自己診断部２１２は、例えばＨＤＤ１４に記憶されている第１画像データを、画像処理回路４１によってラスタ形式に変換させ、当該変換された画像データをＨＤＤ１４に記憶されている第２画像データと照合することで、照合結果が一致しなかった場合に異常があると診断する。   The self-diagnosis unit 212 determines whether each unit in the functional circuit unit 10 is normal according to the control signal from the operation condition control unit 221. Specifically, the self-diagnostic unit 212 performs a so-called write / read verify check that writes, reads, and collates a predetermined data pattern in, for example, the RAM included in the first control unit 21, and the collation result does not match. Diagnose that there is an abnormality. For example, the self-diagnosis unit 212 converts the first image data stored in the HDD 14 into a raster format by the image processing circuit 41, and converts the converted image data into the second image data stored in the HDD 14. By collating, it is diagnosed that there is an abnormality when the collation results do not match.

初期化部２２０は、例えばプリンタ１が起動されると、第１制御部２１内のＲＡＭや画像処理用の大容量のメモリ等を初期化したり、画像処理回路４１や画像形成部３１を初期状態に設定したりする。   For example, when the printer 1 is activated, the initialization unit 220 initializes the RAM in the first control unit 21, a large-capacity memory for image processing, and the like, and initializes the image processing circuit 41 and the image forming unit 31. Or set to

動作条件制御部２２１は、例えばプリンタ１が起動されると、拡散クロックジェネレータ２におけるスペクトラムの拡散幅を、過酷条件として、通常条件の０．５％より大きい例えば１．５％に設定する。また、動作条件制御部２２１は、例えばプリンタ１が起動されると、電源回路３から機能回路部１０へ供給される電源電圧Ｖａを、過酷条件として第２電圧値Ｖ２に設定する。そして、動作条件制御部２２１は、このように過酷条件に設定された状態で、上述の初期化部２２０による初期化処理や、自己診断部２１２による診断処理を実行させる。   For example, when the printer 1 is activated, the operation condition control unit 221 sets the spread width of the spectrum in the spread clock generator 2 to, for example, 1.5%, which is larger than 0.5% of the normal condition, as a severe condition. For example, when the printer 1 is activated, the operation condition control unit 221 sets the power supply voltage Va supplied from the power supply circuit 3 to the functional circuit unit 10 to the second voltage value V2 as a severe condition. Then, the operating condition control unit 221 executes the initialization process by the initialization unit 220 and the diagnosis process by the self-diagnosis unit 212 in a state where the severe condition is set as described above.

異常動作検出部２２２は、機能回路部１０の異常動作を検出する。具体的には、異常動作検出部２２２は、例えばウォッチドックタイマを用いて構成されており、一定時間内に正常に終了するはずの所定の動作を監視し、これが終了しなかった場合に異常発生を検知する。また、異常動作検出部２２２は、例えば第１制御部２１におけるＣＰＵの出力アドレスを監視して、アクセスしないはずのエリアがアクセスされた場合や、例えば画像処理回路４１で用いられているステートマシンのステートを監視して、なるはずのないステートになった場合等、種々の異常を検出する。   The abnormal operation detection unit 222 detects an abnormal operation of the functional circuit unit 10. Specifically, the abnormal operation detection unit 222 is configured using, for example, a watchdog timer, and monitors a predetermined operation that should normally end within a predetermined time, and if this does not end, an abnormality occurs. Is detected. Also, the abnormal operation detection unit 222 monitors the output address of the CPU in the first control unit 21, for example, when an area that should not be accessed is accessed, or for example, a state machine used in the image processing circuit 41 The state is monitored, and various abnormalities are detected, for example, when a state that cannot be expected is detected.

そして、動作条件制御部２２１は、異常動作検出部２２２によって異常が検出された場合、その異常内容を、ＥＥＰＲＯＭ２３に記憶させたり、表示部５２に表示したり、通信Ｉ／Ｆ部７１によってネットワーク５を介してサービスセンターへ送信したりする。また、動作条件制御部２２１は、プリンタ１の動作を停止させて異常動作によりプリンタ１に故障が生じることを防止するようにしてもよい。   When the abnormal operation detection unit 222 detects an abnormality, the operation condition control unit 221 stores the abnormality content in the EEPROM 23, displays it on the display unit 52, or the communication I / F unit 71 uses the network 5. Or send it to the service center. The operation condition control unit 221 may stop the operation of the printer 1 to prevent the printer 1 from being damaged due to an abnormal operation.

なお、必ずしも第１制御部２１と別に第２制御部２２を設ける例に限らない。第１制御部２１を、さらに初期化部２２０、動作条件制御部２２１、及び異常動作検出部２２２として機能させるようにしてもよい。この場合、初期化部２２０、動作条件制御部２２１、及び異常動作検出部２２２は、例えば第１制御部２１におけるＣＰＵ、ＲＯＭ、ＲＡＭ等、必要最小限の回路で実現するようにし、電源電圧変動やクロック周波数の変動の影響を受けにくい回路ブロックのみで実現されるようにすることが望ましい。   Note that the second control unit 22 is not necessarily provided separately from the first control unit 21. The first control unit 21 may further function as an initialization unit 220, an operation condition control unit 221, and an abnormal operation detection unit 222. In this case, the initialization unit 220, the operation condition control unit 221, and the abnormal operation detection unit 222 are realized by a minimum necessary circuit such as a CPU, a ROM, and a RAM in the first control unit 21, and the power supply voltage fluctuation It is desirable that the circuit be realized only with circuit blocks that are not easily affected by fluctuations in clock frequency.

クロック周波数の変動の影響を受けにくくするには、ＰＬＬ（Phase Locked Loop）やＤＬＬ（Delay-Locked Loop）等、スペクトラム拡散クロックジェネレータ２によるクロック信号ＣＫのスペクトラム拡散の影響を受けやすい回路を用いずに、初期化部２２０、動作条件制御部２２１、及び異常動作検出部２２２を実現することが望ましい。   In order to make it less susceptible to fluctuations in the clock frequency, a circuit that is susceptible to the spread spectrum of the clock signal CK by the spread spectrum clock generator 2 such as PLL (Phase Locked Loop) or DLL (Delay-Locked Loop) is not used. In addition, it is desirable to realize the initialization unit 220, the operation condition control unit 221, and the abnormal operation detection unit 222.

次に、図１に示すプリンタ１の動作について、説明する。図２、図３、図４は、図１に示すプリンタ１の動作の一例を示すフローチャートである。まず、プリンタ１が起動されると、動作条件制御部２２１によって、拡散クロックジェネレータ２のスペクトラムの拡散幅が、過酷条件である１．５％に設定され、クロック信号ＣＫの周波数変動幅が１．５％になる（ステップＳ１）。そうすると、機能回路部１０においてクロック信号ＣＫと同期する回路のタイミングマージンが減少し、機能回路部１０の動作余裕度が減少する。   Next, the operation of the printer 1 shown in FIG. 1 will be described. 2, 3, and 4 are flowcharts illustrating an example of the operation of the printer 1 illustrated in FIG. 1. First, when the printer 1 is activated, the operating condition control unit 221 sets the spread width of the spectrum of the spread clock generator 2 to 1.5%, which is a severe condition, and the frequency fluctuation width of the clock signal CK is 1. 5% (step S1). As a result, the timing margin of the circuit synchronized with the clock signal CK in the functional circuit unit 10 is reduced, and the operation margin of the functional circuit unit 10 is reduced.

次に、動作条件制御部２２１によって、電源回路３の電源電圧Ｖａが、過酷条件の第２電圧値Ｖ２に設定され、機能回路部１０の動作用電源電圧が第２電圧値Ｖ２となる（ステップＳ２）。第２電圧値Ｖ２が、機能回路部１０の定格電圧より低い電圧に設定されている場合、機能回路部１０における信号遅延時間が増大し、機能回路部１０の動作速度が遅くなる。この場合、プリンタ１が高温環境下に置かれたのと同様の動作条件となって、機能回路部１０の動作余裕度が減少する。   Next, the operating condition control unit 221 sets the power supply voltage Va of the power supply circuit 3 to the second voltage value V2 under severe conditions, and the power supply voltage for operation of the functional circuit unit 10 becomes the second voltage value V2 (step) S2). When the second voltage value V2 is set to a voltage lower than the rated voltage of the functional circuit unit 10, the signal delay time in the functional circuit unit 10 increases, and the operation speed of the functional circuit unit 10 decreases. In this case, the operating condition is the same as when the printer 1 is placed in a high temperature environment, and the operating margin of the functional circuit unit 10 decreases.

一方、第２電圧値Ｖ２が、機能回路部１０の定格電圧より高い電圧に設定されている場合、機能回路部１０の動作速度が早くなったり、信号のオーバーシュートやアンダーシュートが増大して信号波形が乱れたりする。この場合、プリンタ１が低温環境下に置かれたのと同様の動作条件となって、機能回路部１０の動作余裕度が減少する。   On the other hand, when the second voltage value V2 is set to a voltage higher than the rated voltage of the functional circuit unit 10, the operation speed of the functional circuit unit 10 is increased, or the signal overshoot or undershoot increases, and the signal is increased. The waveform is distorted. In this case, the operating condition is the same as when the printer 1 is placed in a low temperature environment, and the operating margin of the functional circuit unit 10 is reduced.

次に、動作条件制御部２２１からの制御信号に応じて、初期化部２２０によって、プリンタ１内の各部が初期化され、プリンタ１が動作可能な状態にされる（ステップＳ３）。   Next, in response to a control signal from the operation condition control unit 221, the initialization unit 220 initializes each unit in the printer 1 so that the printer 1 can operate (step S3).

次に、動作条件制御部２２１からの制御信号に応じて、自己診断部２１２によって、機能回路部１０の自己診断が実行される（ステップＳ４）。具体的には、自己診断部２１２によって、例えばＲＡＭのライトリードベリファイチェックが実行され、その診断結果がＥＥＰＲＯＭ２３に記憶される。   Next, the self-diagnosis unit 212 performs a self-diagnosis of the functional circuit unit 10 in accordance with a control signal from the operating condition control unit 221 (step S4). Specifically, for example, a RAM write / read verify check is executed by the self-diagnosis unit 212, and the diagnosis result is stored in the EEPROM 23.

また、自己診断部２１２からの制御信号に応じて、例えばＨＤＤ１４に記憶されている第１画像データが、画像処理回路４１によってラスタ形式に変換される。そして、自己診断部２１２によって、当該変換された画像データがＨＤＤ１４に記憶されている第２画像データと照合される。そして、照合結果がＥＥＰＲＯＭ２３に記憶される。   Further, according to a control signal from the self-diagnosis unit 212, for example, first image data stored in the HDD 14 is converted into a raster format by the image processing circuit 41. Then, the self-diagnosis unit 212 collates the converted image data with the second image data stored in the HDD 14. The collation result is stored in the EEPROM 23.

これにより、過酷条件における動作余裕度が減少された状態での機能回路部１０の検査が実行される。このとき、ステップＳ１〜Ｓ４と並行して、異常動作検出部２２２による異常検出動作が実行されている。なお、異常動作検出部２２２は、ステップＳ５〜Ｓ２７についても、常時並行して異常検出動作を実行している。   Thereby, the inspection of the functional circuit unit 10 is executed in a state where the operation margin under the severe condition is reduced. At this time, the abnormality detection operation by the abnormal operation detection unit 222 is performed in parallel with steps S1 to S4. Note that the abnormal operation detection unit 222 always performs the abnormality detection operation in parallel in steps S5 to S27.

そして、自己診断部２１２や異常動作検出部２２２によって、異常が検出された場合ステップＳ１１へ移行し（ステップＳ５でＹＥＳ）、異常が検出されなかった場合ステップＳ６へ移行する（ステップＳ５でＮＯ）。   If an abnormality is detected by the self-diagnosis unit 212 or the abnormal operation detection unit 222, the process proceeds to step S11 (YES in step S5), and if no abnormality is detected, the process proceeds to step S6 (NO in step S5). .

次に、ステップＳ１１において、異常動作検出部２２２によって、異常内容がＥＥＰＲＯＭ２３に記憶される（ステップＳ１１）。これにより、ＥＥＰＲＯＭ２３に異常内容の詳細情報が記憶されるので、後からＥＥＰＲＯＭ２３の記憶情報に基づき、綿密な検査を行うことが容易となる。なお、ＥＥＰＲＯＭ２３を備えず、検査結果をＨＤＤ１４に記憶させてもよい。   Next, in step S11, the abnormal content is stored in the EEPROM 23 by the abnormal operation detector 222 (step S11). As a result, the detailed information of the abnormality content is stored in the EEPROM 23, so that it becomes easy to perform a detailed inspection later based on the stored information in the EEPROM 23. The inspection result may be stored in the HDD 14 without providing the EEPROM 23.

そして、動作条件制御部２２１によって、拡散クロックジェネレータ２のスペクトラムの拡散幅が、通常条件である０．５％に設定され、クロック信号ＣＫの周波数変動幅が０．５％になる（ステップＳ１２）。   Then, the operating condition control unit 221 sets the spread width of the spectrum of the spread clock generator 2 to 0.5%, which is a normal condition, and the frequency fluctuation width of the clock signal CK becomes 0.5% (step S12). .

次に、動作条件制御部２２１によって、電源回路３の電源電圧Ｖａが、通常条件の第１電圧値Ｖ１に設定され、機能回路部１０の動作用電源電圧が第１電圧値Ｖ１となる（ステップＳ１３）。   Next, the operation condition control unit 221 sets the power supply voltage Va of the power supply circuit 3 to the first voltage value V1 of the normal condition, and the operation power supply voltage of the functional circuit unit 10 becomes the first voltage value V1 (step). S13).

そして、自己診断部２１２や異常動作検出部２２２によって過酷条件下で得られた自己診断結果や異常内容が、動作条件制御部２２１によって、ＥＥＰＲＯＭ２３から読み出される。そして、通信Ｉ／Ｆ部７１によって、その自己診断結果や異常内容がネットワーク５を介して例えばサービスセンターへ送信される（ステップＳ１４）。   Then, the self-diagnosis result and the abnormality content obtained under severe conditions by the self-diagnosis unit 212 and the abnormal operation detection unit 222 are read from the EEPROM 23 by the operation condition control unit 221. Then, the communication I / F unit 71 transmits the self-diagnosis result and the abnormality content to the service center, for example, via the network 5 (step S14).

これにより、過酷条件下で異常が検出された場合、その異常内容が例えばサービスセンター等の保守管理者へ報知されるので、保守管理者は、プリンタ１の動作余裕度が減少していることを知ることができ、例えば通常条件下で不具合が発生する前に、予防的にプリンタ１のメンテナンスを行うことが可能となる。   As a result, when an abnormality is detected under severe conditions, the content of the abnormality is notified to a maintenance manager such as a service center, so that the maintenance manager confirms that the operating margin of the printer 1 has decreased. For example, it is possible to preventively maintain the printer 1 before a problem occurs under normal conditions.

一方、過酷条件下での異常発生は、必ずしも故障ではなく、通常条件下では正常に動作する場合があるので、ステップＳ１４においては、表示部５２には異常発生が表示されず、ユーザへの報知がされないようになっている。   On the other hand, the occurrence of an abnormality under severe conditions is not necessarily a failure, and may operate normally under normal conditions. Therefore, in step S14, the occurrence of abnormality is not displayed on the display unit 52, and notification to the user is made. Is not to be done.

図２に戻って、ステップＳ６において、動作条件制御部２２１によって、拡散クロックジェネレータ２のスペクトラムの拡散幅が、通常条件である０．５％に設定され、クロック信号ＣＫの周波数変動幅が０．５％になる（ステップＳ６）。   Returning to FIG. 2, in step S6, the operating condition control unit 221 sets the spread width of the spectrum of the spread clock generator 2 to 0.5%, which is a normal condition, and the frequency fluctuation width of the clock signal CK is 0. 0. 5% (step S6).

次に、動作条件制御部２２１によって、電源回路３の電源電圧Ｖａが、通常条件の第１電圧値Ｖ１に設定され、機能回路部１０の動作用電源電圧が第１電圧値Ｖ１となる（ステップＳ７）。   Next, the operation condition control unit 221 sets the power supply voltage Va of the power supply circuit 3 to the first voltage value V1 of the normal condition, and the operation power supply voltage of the functional circuit unit 10 becomes the first voltage value V1 (step). S7).

次に、ステップＳ２１において、自己診断部２１２によって、ステップＳ４と同様の自己診断が、通常条件下で実行され、その診断結果がＥＥＰＲＯＭ２３に記憶される（ステップＳ２１）。そして、自己診断部２１２や異常動作検出部２２２によって、異常が検出された場合ステップＳ２３へ移行し（ステップＳ２２でＹＥＳ）、異常が検出されなかった場合ステップＳ２６へ移行する（ステップＳ２２でＮＯ）。   Next, in step S21, the self-diagnosis unit 212 executes self-diagnosis similar to step S4 under normal conditions, and the diagnosis result is stored in the EEPROM 23 (step S21). If an abnormality is detected by the self-diagnosis unit 212 or the abnormal operation detection unit 222, the process proceeds to step S23 (YES in step S22), and if no abnormality is detected, the process proceeds to step S26 (NO in step S22). .

ステップＳ２３において、異常動作検出部２２２によって、異常内容がＥＥＰＲＯＭ２３に記憶される（ステップＳ２３）。そして、自己診断部２１２や異常動作検出部２２２によって通常条件下で得られた自己診断結果や異常内容が、動作条件制御部２２１によって、ＥＥＰＲＯＭ２３から読み出される。さらに通信Ｉ／Ｆ部７１によって、その自己診断結果や異常内容がネットワーク５を介して例えばサービスセンターへ送信される（ステップＳ２４）。   In step S23, the abnormal content is stored in the EEPROM 23 by the abnormal operation detector 222 (step S23). Then, the self-diagnosis result and the abnormality content obtained under normal conditions by the self-diagnosis unit 212 and the abnormal operation detection unit 222 are read from the EEPROM 23 by the operation condition control unit 221. Further, the communication I / F unit 71 transmits the self-diagnosis result and the abnormality content to the service center, for example, via the network 5 (step S24).

また、動作条件制御部２２１からの制御信号に応じて、その自己診断結果や異常内容が表示部５２に表示される（ステップＳ２５）。この場合、通常条件下での異常発生は、プリンタ１の通常使用に支障があるので、サービスセンターとユーザの両方に、報知が行われるようになっている。   Further, according to the control signal from the operation condition control unit 221, the self-diagnosis result and the abnormality content are displayed on the display unit 52 (step S25). In this case, the occurrence of an abnormality under normal conditions hinders normal use of the printer 1, so that both the service center and the user are notified.

次に、ステップＳ２６において、ステップＳ３と同様の初期化処理が実行される。過酷条件で一度動作させた機能回路部１０は、定格条件とは異なる動作条件で駆動されているため、表面上は正常に見えても一部の内部状態が異常になっている可能性があり、長期的な動作で問題が発現する可能性がある。そこで、通常の画像形成処理の実行を開始する前に、ステップＳ２６において機能回路部１０を初期化することで、機能回路部１０の信頼性を確保するようにしている。   Next, in step S26, initialization processing similar to that in step S3 is executed. Since the functional circuit unit 10 that has been operated once under severe conditions is driven under operating conditions different from the rated conditions, there is a possibility that some internal states may be abnormal even though they appear normal on the surface. Problems with long-term operation may occur. Therefore, the reliability of the functional circuit unit 10 is ensured by initializing the functional circuit unit 10 in step S26 before starting execution of normal image forming processing.

次に、画像形成制御部２１１による画像形成処理が実行される（ステップＳ２７）。   Next, image formation processing by the image formation control unit 211 is executed (step S27).

以上、ステップＳ１〜Ｓ２７の処理により、動作余裕度を減少させて検査を行うことが容易となるので、この検査によって動作余裕度が減少していることが判明した場合、予防的にメンテナンスを行ったり、再現性の低い不具合の再現性を高めたりすることが容易となる。   As described above, the processing in steps S1 to S27 makes it easy to perform the inspection while reducing the operation margin. When it is found that the operation margin is decreased by this inspection, preventive maintenance is performed. Or improving the reproducibility of defects with low reproducibility.

なお、自己診断部２１２や異常動作検出部２２２を備えず、過酷条件で動作させることにより、画像形成等の機能動作が正常に実行できるか否かで、ユーザや保守作業者が動作余裕度を判断するようにしてもよい。また、スペクトラム拡散クロックジェネレータ２の拡散率や電源回路３の出力電圧を操作スイッチやジャンパピン等の切換手段で切換可能としてもよい。この場合、操作スイッチやジャンパピン等の切換手段が動作条件制御部の一例に相当する。   It should be noted that the user and the maintenance worker have a margin of operation depending on whether or not the functional operation such as image formation can be normally executed by operating under severe conditions without including the self-diagnosis unit 212 and the abnormal operation detection unit 222. You may make it judge. Further, the spreading factor of the spread spectrum clock generator 2 and the output voltage of the power supply circuit 3 may be switched by switching means such as operation switches and jumper pins. In this case, switching means such as operation switches and jumper pins correspond to an example of the operating condition control unit.

また、ステップＳ１〜Ｓ５の過酷条件での検査終了後、プリンタ１に再起動をかけるようにしてもよい。そして、起動時に、ＥＥＰＲＯＭ２３に記憶されている内容を確認し、全ての検査項目が正常であった旨記録されていれば、ステップＳ２６，Ｓ２７で通常の起動処理に移行し、ＥＥＰＲＯＭ２３の記憶内容に一つでも異常の項目や未実行の項目が有れば、ステップＳ２４，Ｓ２５と同様の報知処理を実行するようにしてもよい。   Alternatively, the printer 1 may be restarted after the inspection under the severe conditions in steps S1 to S5. Then, at startup, the contents stored in the EEPROM 23 are confirmed. If it is recorded that all the inspection items are normal, the process proceeds to normal startup processing in steps S26 and S27, and the stored contents of the EEPROM 23 are stored. If there is at least one abnormal item or an unexecuted item, the notification process similar to steps S24 and S25 may be executed.

なお、クロック信号発生部として、拡散クロックジェネレータ２の代わりにクロック周波数が可変の発振回路を用いてもよい。この場合、発振回路により、過酷条件では通常条件よりクロック周波数を増大させることで、動作余裕度を減少させることができる。   As the clock signal generator, an oscillation circuit with a variable clock frequency may be used instead of the diffusion clock generator 2. In this case, the operating margin can be reduced by increasing the clock frequency from the normal condition under severe conditions by the oscillation circuit.

本発明の一実施形態に係る電子機器の一例であるプリンタの構成の一例を示すブロック図である。1 is a block diagram illustrating an example of a configuration of a printer that is an example of an electronic apparatus according to an embodiment of the invention. 図１に示すプリンタの動作の一例を示すフローチャートである。3 is a flowchart illustrating an example of an operation of the printer illustrated in FIG. 1. 図１に示すプリンタの動作の一例を示すフローチャートである。3 is a flowchart illustrating an example of an operation of the printer illustrated in FIG. 1. 図１に示すプリンタの動作の一例を示すフローチャートである。3 is a flowchart illustrating an example of an operation of the printer illustrated in FIG. 1.

符号の説明Explanation of symbols

１ プリンタ
２ スペクトラム拡散クロックジェネレータ
３ 電源回路
１０ 機能回路部
１４ ＨＤＤ
２１ 第１制御部
２２ 第２制御部
２３ ＥＥＰＲＯＭ
３１ 画像形成部
４１ 画像処理回路
５１ 操作パネル部
５２ 表示部
７１ 通信Ｉ／Ｆ部
２１１ 画像形成制御部
２１２ 自己診断部
２２０ 初期化部
２２１ 動作条件制御部
２２２ 異常動作検出部 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Printer 2 Spread spectrum clock generator 3 Power supply circuit 10 Functional circuit part 14 HDD
21 1st control part 22 2nd control part 23 EEPROM
DESCRIPTION OF SYMBOLS 31 Image formation part 41 Image processing circuit 51 Operation panel part 52 Display part 71 Communication I / F part 211 Image formation control part 212 Self-diagnosis part 220 Initialization part 221 Operating condition control part 222 Abnormal operation detection part

Claims (9)

予め設定された機能を実現するための機能動作を行う機能回路部と、
前記機能回路部を動作させるために必要な動作条件を、前記機能動作を行うために予め設定された通常条件及び当該通常条件より機能回路部の動作が難しくなる過酷条件のうちいずれかの条件に設定する動作条件設定部と、
前記機能回路部を正常動作させるべきときは、前記動作条件設定部によって前記通常条件を設定させ、前記機能回路部の動作を検査するときは、前記動作条件設定部によって前記過酷条件を設定させる動作条件制御部と
を備えることを特徴とする電子機器。 A functional circuit unit that performs a functional operation for realizing a preset function;
The operating condition necessary for operating the functional circuit unit is set to any one of a normal condition set in advance for performing the functional operation and a severe condition that makes the operation of the functional circuit unit more difficult than the normal condition. An operating condition setting section to be set;
When the functional circuit unit should operate normally, the normal condition is set by the operation condition setting unit, and when the operation of the functional circuit unit is inspected, the severe condition is set by the operation condition setting unit. An electronic device comprising: a condition control unit. 前記動作条件は、前記機能回路部の動作用電源電圧を含み、
前記動作条件設定部は、
前記動作用電源電圧を生成し、当該機能回路部へ供給する電源部を含み、
前記動作条件制御部は、
前記通常条件として前記電源部によって当該動作用電源電圧を当該機能回路部の動作に適した第１電圧に設定させ、前記過酷条件として前記電源部によって当該動作用電源電圧を前記第１電圧とは異なる第２電圧に設定させること
を特徴とする請求項１記載の電子機器。 The operating condition includes a power supply voltage for operation of the functional circuit unit,
The operating condition setting unit
A power supply unit that generates the power supply voltage for operation and supplies it to the functional circuit unit;
The operating condition control unit
As the normal condition, the power supply unit sets the operation power supply voltage to a first voltage suitable for the operation of the functional circuit unit. As the severe condition, the power supply unit sets the operation power supply voltage to the first voltage. The electronic device according to claim 1, wherein the second voltage is set differently. 前記機能回路部は、所定のクロック信号と同期して動作するデジタル回路であり、
前記動作条件は、前記クロック信号の周波数を含み、
前記動作条件設定部は、前記機能回路部へ前記クロック信号を供給すると共に当該クロック信号のスペクトラム拡散可能なクロック信号発生部を含み、
前記クロック信号発生部は、前記スペクトラムの拡散幅を変更可能にされており、
前記動作条件制御部は、
前記クロック信号発生部によって、前記通常条件よりも前記スペクトラムの拡散幅を増大させることによって、前記動作条件を前記過酷条件に設定すること
を特徴とする請求項１又は２記載の電子機器。 The functional circuit unit is a digital circuit that operates in synchronization with a predetermined clock signal,
The operating condition includes a frequency of the clock signal,
The operating condition setting unit includes a clock signal generation unit that supplies the clock signal to the functional circuit unit and can spread spectrum of the clock signal,
The clock signal generator is configured to change the spread width of the spectrum,
The operating condition control unit
The electronic device according to claim 1, wherein the operating condition is set to the severe condition by increasing the spread width of the spectrum with respect to the normal condition by the clock signal generation unit. 前記機能回路部は、所定のクロック信号と同期して動作するデジタル回路であり、
前記動作条件は、前記クロック信号の周波数を含み、
前記動作条件設定部は、前記機能回路部へ前記クロック信号を供給すると共に当該クロック信号の周波数を変更可能なクロック信号発生部を含み、
前記動作条件制御部は、
前記クロック信号発生部によって、前記クロック信号の周波数を前記通常条件よりも増大させることによって、前記動作条件を、前記過酷条件に設定すること
を特徴とする請求項１又は２記載の電子機器。 The functional circuit unit is a digital circuit that operates in synchronization with a predetermined clock signal,
The operating condition includes a frequency of the clock signal,
The operating condition setting unit includes a clock signal generation unit capable of supplying the clock signal to the functional circuit unit and changing a frequency of the clock signal,
The operating condition control unit
The electronic device according to claim 1, wherein the operating condition is set to the severe condition by increasing the frequency of the clock signal from the normal condition by the clock signal generating unit. 前記機能回路部の異常動作を検出する異常動作検出部と、
前記異常動作検出部によって前記機能回路部の異常動作が検出された場合、異常発生を報知する報知部とをさらに備えること
を特徴とする請求項１〜４のいずれか１項に記載の電子機器。 An abnormal operation detecting unit for detecting an abnormal operation of the functional circuit unit;
5. The electronic device according to claim 1, further comprising: a notifying unit that notifies the occurrence of an abnormality when the abnormal operation of the functional circuit unit is detected by the abnormal operation detecting unit. . 前記機能回路部が正常であるか否かを判定する自己診断を実行する自己診断部をさらに備え、
前記動作条件制御部は、
前記機能回路部の動作を検査するときは、前記動作条件設定部により前記動作条件を前記過酷条件に設定させた状態で、前記自己診断部による自己診断を実行させること
を特徴とする請求項１〜５のいずれか１項に記載の電子機器。 A self-diagnosis unit that performs a self-diagnosis to determine whether or not the functional circuit unit is normal;
The operating condition control unit
The self-diagnosis by the self-diagnosis unit is executed when the operation condition is set to the severe condition by the operation condition setting unit when the operation of the functional circuit unit is inspected. The electronic device of any one of -5. 前記機能回路部を初期化する初期化部をさらに備え、
前記動作条件制御部は、
前記自己診断部による前記過酷条件における自己診断の終了後に前記初期化部により前記機能回路部を初期化させた後、前記動作条件設定部によって、前記動作条件を前記通常条件に設定させてから、前記機能回路部による機能動作を実行させること
を特徴とする請求項６に記載の電子機器。 An initialization unit for initializing the functional circuit unit;
The operating condition control unit
After the functional circuit unit is initialized by the initialization unit after completion of the self-diagnosis in the severe condition by the self-diagnosis unit, after the operation condition setting unit sets the operation condition to the normal condition, The electronic device according to claim 6, wherein a functional operation by the functional circuit unit is executed. 互いに異なる報知先に異常の検出を報知する第１及び第２報知部をさらに備え、
前記動作条件制御部は、
さらに、前記動作条件設定部によって、前記動作条件を前記通常条件に設定させた状態で、前記自己診断部による自己診断を実行させ、
前記自己診断部による前記通常条件における自己診断によって異常が検出された場合、前記第１報知部によって当該異常が検出されたことを報知させ、
前記自己診断部による前記過酷条件における自己診断によって異常が検出された場合、前記第２報知部によって当該異常が検出されたことを報知させること
を特徴とする請求項６又は７に記載の電子機器。 It further includes first and second notification units that notify the detection of abnormality to different notification destinations,
The operating condition control unit
Further, in the state where the operation condition is set to the normal condition by the operation condition setting unit, the self diagnosis by the self diagnosis unit is executed,
When an abnormality is detected by the self-diagnosis under the normal condition by the self-diagnosis unit, the first notification unit notifies that the abnormality is detected,
The electronic device according to claim 6 or 7, wherein when an abnormality is detected by the self-diagnosis under the severe condition by the self-diagnosis unit, the second notification unit notifies that the abnormality is detected. . ページ記述言語で表現された第１画像データと、当該第１画像データをラスタ形式に変換した第２画像データとを予め記憶する画像データ記憶部をさらに備え、
前記機能回路部は、ページ記述言語で表現された画像データをラスタ形式に変換する処理を前記機能動作として実行する画像処理回路であり、
前記自己診断部は、
前記画像処理回路によって前記画像データ記憶部に記憶されている第１画像データをラスタ形式に変換させ、当該変換された画像データを前記画像データ記憶部に記憶されている第２画像データと比較することにより、前記自己診断を実行すること
を特徴とする請求項１〜８のいずれか１項に記載の電子機器。 An image data storage unit that preliminarily stores first image data expressed in a page description language and second image data obtained by converting the first image data into a raster format;
The functional circuit unit is an image processing circuit that executes, as the functional operation, a process of converting image data expressed in a page description language into a raster format.
The self-diagnosis unit
The image processing circuit converts the first image data stored in the image data storage unit into a raster format, and compares the converted image data with the second image data stored in the image data storage unit. The electronic device according to claim 1, wherein the self-diagnosis is executed.

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