JP2009262344A - 画像形成装置、及び画像補正方法 - Google Patents

Abstract

【課題】シェーディング補正後の印刷物を目視した際に認識される濃度ムラを低減する画像形成装置、及び画像補正方法を提供する。
【解決手段】画像形成装置１００は、像担持体１０７における被走査面の主走査ラインを複数領域に分割し、各領域に対応した光量補正データ７１に基づき光源１５の出力光量を調整し、主走査方向のシェーディング特性を補正する装置であって、補正データ７１を基に領域ごとのパルス変調信号のデューティ値を変化させ、変化させたデューティ値に従って光量調整用のパルス変調信号８１を出力する出力手段４６と、出力手段４６により出力した光量調整用のパルス変調信号８１を基に前記出力光量を調整するときに、前記主走査ラインにおける各領域の分割位置Ｐを変更する変更手段５１と、を有することを特徴とする。
【選択図】図１１

Description

本発明は、レーザプリンタ、デジタル複写機、ファクシミリ装置などのビーム走査型画像形成装置に係り、特に、シェーディング補正技術に関するものである。

レーザプリンタ、デジタル複写機、ファクシミリ装置などの画像形成装置には、光束を被走査面に照射するとともに、被走査面を光束で走査することにより画像を形成する構成の装置がある。例えば、このような構成の装置として、ポリゴンミラーなどの走査手段によりレーザ光を感光体などの被走査面で主走査方向に走査するとともに、被走査面を副走査方向に移動させて有効画像領域（画像書き込み領域）に１ライン分ずつ画像を書き込むビーム走査型画像形成装置がある。

ビーム走査型画像形成装置では、レーザ光は、ポリゴンミラーにより等角速度で偏向されるとともに、ｆθレンズやｆθミラーにより被走査面における走査速度の一定化が図られる。ｆθレンズやｆθミラーを透過したレーザ光は、被走査面での走査速度はほぼ一定になるが、レーザ光強度については像高によって強弱が生じる。これは、レーザ光がレーザダイオードなどの光源から出射されて感光体などの被走査面に到達するまでの間に通過する、ガラス、レンズ、ミラーなどの光学素子の光利用効率（具体的には反射率や透過率など）がレーザ光の入射角によって異なることや、ｆθレンズなどの厚みが像高によって異なることなどによるものである。

このような像高によるビーム強度の強弱を、シェーディング特性と呼ぶ。シェーディング特性は、各画像形成装置間におけるばらつきや、温度や湿度などの動作環境による変動がわずかであって、主に、光学素子の特性や配置などにより決まる。シェーディング特性は、光学系によって異なるものの通常は１０（％）程度であり、形成画像の濃度に影響を与えることから、ビーム走査型画像形成装置ではシェーディング特性を補正することが要求される。

シェーディング特性を補正する方法（以下、「シェーディング補正方法」という。）として、例えば、感光体に半導体レーザ（ＬＤ）によりレーザ光を照射し、感光体表面に形成された潜像を現像剤によって現像し、転写紙に画像を転写する方式のデジタル複写機において、画像の濃度ムラの原因となる感度ムラなどのデータ、すなわちシェーディングデータを装置内に備えた記憶装置に記憶しておき、その結果を書き込み制御においてＰＷＭ（Pulse Width Modulation）変調回路や平滑化回路などを用いて、半導体レーザ発光パワーの基準信号を変化させることで、シェーディング補正を行うという方法が既に知られており、その中で、半導体レーザ発光パワーの基準信号の変化タイミングについては、有効画像領域を所定数に分割し、各分割領域に対応し予め設定しておいたシェーディング補正データに基づいて変化させる方法が提案されている。

例えば、特許文献１には、有効画像領域の分割位置における濃度ムラを低減させる目的で、シェーディング補正データラインの周期上の任意のポイントを選択し、選択したポイント位置で必要な光量に対応するＰＷＭ幅の値を設定し、書き込み制御用ＡＳＩＣ（Application Specific Integrated Circuit）を用いて、隣接するポイントの差分を算出し、次のポイント位置へ移動するときに差分を減らす方向へＰＷＭ幅をわずかずつ（１画素単位で）可変させる構成が開示されている。
特開２００５−２６２５０９号公報

しかしながら、上記従来のシェーディング補正方法には、有効画像領域の分割位置における半導体レーザ発光パワーの光量調整信号の変化量が大きくなることに起因して、形成画像に濃度ムラが発生するという問題点がある。

例えば、上記特許文献１に開示されている方法では、濃度ムラを低減させることを目的としているが、隣接するポイントの差分を減らす方向へＰＷＭ幅をわずかずつ可変させるという方法であり、光量調整信号の変化量が大きくなる分割位置、すなわち隣接するポイントの差分が大きい位置では、発生する濃度ムラに十分に対応できているとは言えない。

本発明では、上記従来技術の問題点を鑑み、シェーディング補正後の印刷物を目視した際に認識される濃度ムラを低減する画像形成装置及び画像補正方法を提供することを目的とする。

上記目的を達成するため、本発明の画像形成装置は、像担持体における被走査面の主走査ラインを複数領域に分割し、各領域に対応した光量補正データに基づき光源の出力光量を調整し、主走査方向のシェーディング特性を補正する画像形成装置であって、前記光量補正データを基に領域ごとのパルス変調信号のデューティ値を変化させ、変化させたデューティ値に従って光量調整用のパルス変調信号を出力する出力手段と、前記出力手段により出力した前記光量調整用のパルス変調信号を基に前記出力光量を調整するときに、前記主走査ラインにおける各領域の分割位置を変更する変更手段と、を有することを特徴とする。

また、上記目的を達成するため、本発明の画像形成装置は、前記変更手段が、隣接する主走査ラインで各領域の分割位置が異なるように、前記主走査ラインごとの前記分割位置を変更することを特徴とする。

また、上記目的を達成するため、本発明の画像形成装置は、前記変更手段が、前記主走査ラインを構成する画素配列において各領域の分割位置を相対的に表す画素数に、所定の値を加算し、各領域の分割位置を変更することを特徴とする。

また、上記目的を達成するため、本発明の画像形成装置は、前記主走査ライン上において、前記分割位置を移動させる方向と移動量とを表すずらし量を所定の記憶領域に格納し保持する保持手段を有し、前記変更手段が、前記画素数に、前記保持手段により保持されている前記ずらし量を加算し、各領域の分割位置を複数の主走査ラインごとに周期的に変更することを特徴とする。

また、上記目的を達成するため、本発明の画像形成装置は、所定範囲の数値を周期的に生成し、前記分割位置の変更を制御する制御手段を有し、前記変更手段が、前記画素数に、前記制御手段により生成した所定範囲の数値に対応付けられた前記ずらし量を加算することを特徴とする。

また、上記目的を達成するため、本発明の画像形成装置は、副走査ラインをカウントしライン数を取得する副走査ライン数取得手段と、前記副走査ライン数取得手段により取得した前記副走査ライン数を、所定のライン数で除算し、算出結果として剰余値を取得する剰余値取得手段と、を有し、前記変更手段が、前記画素数に、前記剰余値取得手段により取得した剰余値に対応付けられた前記ずらし量を加算することを特徴とする。

また、上記目的を達成するため、本発明の画像形成装置は、所定範囲の乱数を生成する乱数生成手段を有し、前記変更手段が、前記画素数に、前記乱数生成手段により生成した乱数の値を前記ずらし量として加算することを特徴とする。

また、上記目的を達成するため、本発明の画像形成装置は、前記変更手段が、各領域に対し同じ値のずらし量によって、前記分割位置を変更することを特徴とする。

また、上記目的を達成するため、本発明の画像形成装置は、前記変更手段が、各領域に対し異なる値のずらし量によって、前記分割位置を変更することを特徴とする。

上記目的を達成するため、本発明の画像補正方法は、像担持体における被走査面の主走査ラインを複数領域に分割し、各領域に対応した光量補正データに基づき光源の出力光量を調整し、主走査方向のシェーディング特性を補正する画像形成装置における画像補正方法であって、前記光量補正データを基に領域ごとのパルス変調信号のデューティ値を変化させ、変化させたデューティ値に従って光量調整用のパルス変調信号を出力し、前記光源の出力光量を調整する調整手順と、前記調整手順により前記出力光量を調整するときに、前記主走査ラインにおける各領域の分割位置を変更する変更手順と、を有することを特徴とする。

本発明によれば、シェーディング補正において、有効画像領域内の濃度ムラの発生位置を拡散することで、目視にて認識される濃度ムラを低減することができる。

以下、本発明の好適な実施の形態（以下、「実施形態」という。）について、図面を用いて詳細に説明する。

［第１の実施形態］
＜シェーディング補正機能を有する画像形成動作＞
本実施形態に係る画像形成装置は、レーザダイオード（ＬＤ）を光源として使用し、感光体表面上にレーザビームを照射し、静電潜像を形成する光学装置を備え、光学装置は、単色のモノクロ画像形成装置や、複数色のフルカラー画像形成装置に適応可能である。

まず、本実施形態に係る画像形成装置１００の画像形成動作について、当該装置の概略図を用いて説明する。図１は、本発明の第１の実施形態に係る画像形成装置１００の概略図である。

本実施形態に係る画像形成装置１００は、まず帯電器１０１によってドラム状の感光体１０７の表面を帯電させる。帯電した感光体１０７の表面には、光学装置１０２によって画像データに応じたレーザビームが照射され、潜像形成される。形成された潜像は、現像器１０３によってトナー像が形成され（現像され）、形成されたトナー像は、転写装置１０５によって給紙ローラ１０４から搬送された印刷用紙に転写される。その後、印刷用紙は、定着部（非図示）へ搬送され、トナー像が加圧と熱によって印刷用紙上に定着され、排紙ローラ１０６によって排紙される。最後に、クリーニング装置１０８が、感光体１０７の表面をクリーニングし、表面に余分に付着しているトナーを除去する。

フルカラー画像を形成する場合には、カラー構成色ごと（例えば、シアン（Ｃ）、マゼンタ（Ｍ）、イエロー（Ｙ）、及びブラック（Ｂｋ）などの色ごと）に潜像形成し、各構成色のトナー像を印刷用紙に重畳させて転写する。

次に、上記画像形成動作を制御するハードウェア構成について説明する。図２は、本発明の第１の実施形態に係る画像形成装置１００のハードウェア構成例を示す図である。

本実施形態に係る画像形成装置１００は、原稿画像を読み取る画像読み取り装置１０９と、帯電した感光体１０７の表面に画像データを基にした潜像を形成する光学装置１０２と、当該装置全体の制御を行うＣＰＵ（Central Processing Unit）１６と、制御プログラムが格納されているＲＯＭ（Read Only Memory）１７と、制御プログラムの実行時に一時的に読み出されるＲＡＭ（Random Access Memory）１８と、画像読み取り装置１０９によって読み取った画像データを記憶する画像メモリ１９と、外部装置（非図示）とのデータ通信を行う各種インタフェース（以下、「Ｉ／Ｆ」と言う。）を備えたコントローラ２０と、ユーザからの動作指示や動作条件設定などを受け付ける操作パネル１１０と、を備え、これらのハードウェアは、内部システムバス１によって接続され所定のデータを双方向で送受信可能となっている。また、上記画像読み取り装置１０９と光学装置１０２とは、各ハードウェアを内部システムバス１に接続するためのＩ／ＦであるローカルＩ／Ｆ２を備えている。

上記画像読み取り装置１０９は、読み取った信号をＡ（Analog）／Ｄ（Digital）変換して黒オフセット補正や、シェーディング補正及び画素位置補正などを行うＶＰＵ（Visual Processing Unit）１１と、所定の画像処理を行うＩＰＵ（Image Processing Unit）１２とを備えており、光学装置１０２は、レーザビームによる書き込み制御を行う書き込み制御用ＡＳＩＣ１３と、レーザダイオードの制御を行うＬＤ制御部１４と、感光体１０７の表面に静電潜像データの結像を行うレーザダイオード（ＬＤ）１５とを備えている。

最後に、コントローラ２０は、例えばＬＡＮ（ＩＥＥＥ８０２．３及び８０２．１１の標準規格に準拠したLocal Area Network）、ＵＳＢ（Universal Serial Bus）、ＩＥＥＥ１３９４（FireWire（i.LINK））、ＩＥＥＥ１２８４（プリンタポート規格）などの各種データ通信規格で送受信された画像データに対して、画像回転、画像合成、画像変倍などの所定の画像処理を行ったり、ＰＤＬパーサ（Page Description Language Parser）などにより、ＰＣ（Personal Computer）から受信した印刷データ（ＰＤＬデータ）を解釈し、光学装置１０２によって解釈可能なデータへの変換などを行ったりする。

次に、上記光学装置１０２によって行う静電潜像動作について説明する。図３は、本発明の第１の実施形態に係る光学装置１０２とその周辺部材との構成例を示す図である。

本実施形態に係る画像形成装置１００は、上記に説明を行ったように光学装置１０２とともに、レーザダイオード１５から出射された発散光を平行光にするコリメートレンズ２１と、複数の反射鏡（多面鏡）を有し、モータ（非図示）により駆動され、反射鏡に入射したレーザビームを回転しながら反射し偏向するポリゴンミラー２２と、ポリゴンミラー２２から反射され、感光体１０７の表面を軸方向（主走査方向）に走査されるレーザビームの走査速度を一定に補正するｆθレンズ２３と、ｆθレンズ２３を通過し、感光体１０７の表面を主走査方向に一定速度で走査されるレーザビームを検知する光検知器２４とを備えている。

このように、画像形成装置１００では、レーザダイオード１５より出射されたレーザビームが、コリメートレンズ２１によってコリメートされた後にポリゴンミラー２２で偏向されて、ｆθレンズ２３により感光体１０７の表面（一様に帯電された被走査面）に結像される。その結果、結像スポットがポリゴンミラー２２の回転で感光体１０７の主走査方向に反復して移動するのと同時に感光体１０７が回転される。

このとき、光検知器２４は、感光体１０７の主走査方向における潜像可能な領域（以下、「有効画像領域」と言う。）の外に設けられ、ポリゴンミラー２２で偏向されたレーザビームを検知して同期検知信号を発生する。

書き込み制御用ＡＳＩＣ１３は、画像読み取り装置１０９からのＤＡＴＡ信号（情報信号）をＬＤ制御部１４の駆動部２８に供給するが、そのタイミングを光検知器２４からの同期検知信号により制御する。駆動部２８は、書き込み制御用ＡＳＩＣ１３からの情報信号により、レーザダイオード１５の発光部２５に発光指示し、その結果、発光部２５により発光されたレーザビームが帯電された感光体１０７の表面に照射されることで、静電潜像が形成させる。

また、レーザダイオード１５の発光部２５から出射されるレーザビームは、受光部２６に入射し、受光部２６からの出力信号がＬＤ制御部１４のＡＰＣ（Automatic Power Control）制御部（光量調整制御部）２７に供給される。

ＡＰＣ制御部２７は、受光部２６の出力信号と、書き込み制御用ＡＳＩＣ１３からのＡＰＣ信号及び光量調整信号とに応じてＬＤ制御部１４の駆動部２８を制御し、レーザダイオード１５の出力光量を一定に制御する（これを「ＡＰＣ動作」と称す）。具体的には、レーザダイオード１５の発光部２５の出力光量が一定になるように調整し保持する（ライン周期間隔）。

上記ＤＡＴＡ信号、ＡＰＣ信号、光量調整信号などの各種制御信号をＬＤ制御部１４へ供給し、感光体１０７の表面に照射されるレーザビームの出力を制御する書き込み制御用ＡＳＩＣ１３は、図４に示す構成となっている。図４は、本発明の第１の実施形態に係る書き込み制御用ＡＳＩＣ１３の構成例を示す図である。

書き込み制御用ＡＳＩＣ１３は、メモリブロック３１と、画像処理部３２と、出力データコントロール部３３とから構成され、画像読み取り装置１０９のＩＰＵ１２やコントローラ２０からの入力データである画像データに対して、メモリブロック３１によって速度変換やフォーマット変換などを行い、変換後のデータが、画像処理部３２によって所定の画像処理が施される。その結果、画像処理後のデータは、画像処理部３２から出力データコントローラ部３３へ渡され、ＬＤ制御部１４にＤＡＴＡ信号として供給される。

また、上記出力データコントロール部３３は、画素クロックをカウントし、同期検知信号を基準に主走査位置を管理する主走査カウンタ３３ａと、副走査方向（感光体１０７の駆動方向）のライン数をカウントする副走査カウンタ３３ｂと、光検知器２４から供給される同期検知信号に基づき、ライン周期の間隔を検知する周期検知部３３ｃとの各機能を有しており、その中で、主走査カウンタ３３ａは、周期検知部３３ｃによる検知結果を基にカウントリセットされる（主走査方向１ラインごとにオンされる同期検知信号に同期してカウントリセットされる）。

更に、上記出力データコントロール部３３は、図５に示す構成となっている。図５は、本発明の第１の実施形態に係る出力データコントロール部３３の構成例を示す図である。

出力データコントロール部３３は、Ｐパターンブロック４１と、γ変換ブロック４２と、ＡＰＣブロック４３と、ＬＤオン／オフブロック４４と、ゲート信号生成部４５と、ＰＷＭ信号生成部４６とから構成される。

出力データコントロール部３３は、Ｐパターンブロック４１によって、プロセス条件を決定するデータ取得のために、感光体１０７の表面に形成するＰセンサパターン（所定濃度のトナー像）のデータが、画像処理部３２から入力されたデータに付与され、付与されたデータがγ変換ブロック４２へ渡される。

γ変換ブロック４２では、データの重みを変化させることでγ変換が行われ、γ変換後のデータがＡＰＣブロック４３へ渡され、ＡＰＣブロック４３によって、レーザダイオード１５からの出力光量を一定に保つために、ＡＰＣ動作のタイミングに同期してγ変換後のデータがＡＰＣブロック４３からＬＤオン／オフブロック４４に渡される。

最後に、ＬＤオン／オフブロック４４が、γ変換後のデータを基に同期検知用の発光データをＬＤ制御部１４へ供給する。

また、ゲート信号生成部４５では、上記主走査カウンタ３３ａに従った主走査方向のゲート信号が生成され、ＰＷＭ信号生成部４６では、ゲート信号生成部４５から有効画像領域を所定数に分割した分割エリア情報を受け取り、受け取った分割エリア情報に基づき、各分割エリアに対応する出力光量を一定に保つために調整を行う光量調整用のＰＷＭ信号が生成される。

このとき生成されるＰＷＭ信号は、ＰＷＭ信号生成部４６から出力された後に、例えば図６に示すローパスフィルタＬＰＦを介して平滑化され、最終的に出力データコントロール３３からＬＤ制御部１４へ渡る。図６は、本発明の第１の実施形態に係るＰＷＭ信号を平滑化する回路の一例を示す図である。

図６に示す回路は、ローパスフィルタＬＰＦを構成するローパスフィルタ回路であって、抵抗Ｒ１〜Ｒ４と、コンデンサＣ１と、オペアンプＩＣ１とから構成され、ＰＷＭ信号生成部４６から供給されたＰＷＭ信号を、抵抗ＲとコンデンサＣとで平滑化してＤＣ電圧に変換し、オペアンプＩＣでインピーダンス整合が行われる（ＰＷＭ信号の高周波成分を除去して平滑化する）。また、ローパスフィルタ回路において、電圧Ｖ１ならびに抵抗Ｒ１〜Ｒ３の各値は、ＬＤ制御部１４のＬＤ光量制御アナログ電圧の仕様に合わせて設定される。

また、上記ローパスフィルタＬＰＦには、例えば図７に示すようなＰＷＭ信号が供給される。図７は、本発明の第１の実施形態に係るＰＷＭ信号生成部４６からの出力波形の一例を示す図である。

ＰＷＭ信号生成部４６は、有効画像領域の各分割エリアの光強度に対応したＰＷＭ出力を行う。より具体的には、有効画像領域の各分割エリアに対応付けて指定されるデューティ（duty）を基に、図に示すようなＰＷＭ信号を生成する。

図７（Ａ）には、デューティ５０（％）と指定されたときの出力波形の例が示されており、（Ｂ）には、デューティ７０（％）と指定されたときの出力波形の例が示されている。指定するデューティの値（％）は、例えば、ある分割エリアにおいて、１．５（ｖ）の光量調整信号の出力を得たい場合には、ＰＷＭ信号生成部４６の出力ポートの出力３．０（ｖ）とすると、分割エリアに対応付けて指定するデューティは、「１．５／３．０＝５０（％）」となる。このように、分割エリアごとに得たい光量調整信号の出力が予め分かれば、分割エリアごとに指定するデューティを予め決定しておく。また、この分割エリアごとに指定するデューティの値は、例えば機器管理者が操作パネル１１０を介して設定可能であり、このようにして設定されたデューティの値は、所定の記憶領域（例えば画像形成装置１００が備える不揮発性の記憶装置など）に保持される。

図８は、一般的なシェーディング補正データを示す図である。有効画像領域における複数の分割エリアｎと、感光体１０７の表面におけるシェーディング特性（光強度分布）に対して逆特性となるような分割エリアごとの補正データ（以下、「シェーディング補正データ」と言う。）との関係を、電圧（ｖ）を縦軸、各分割エリアを横軸として表すと、図８に示すような波形７１となる。すなわち、この波形７１がシェーディング補正データである。

図８に示す有効画像領域は、主走査ラインに沿って１０個のエリアに分割（主走査ライン全体としては、非有効画像領域を含む１０個以上のエリアに分割）されており、主走査ライン上の各分割エリアの位置は、同期検知信号によってリセットされる主走査カウンタ３３ａにて認識される。

ゲート信号生成部４５は、主走査カウンタ３３ａのカウント動作を行い、分割エリア０から分割エリアｎまでの各分割エリアを認識し、認識した分割エリアに関する情報を分割エリア情報としてＰＷＭ信号生成部４６に渡す。

その結果、ＰＷＭ信号生成部４６では、受け取った分割エリア情報に基づき、対応付けられたデューティにより出力光量の調整を行うためのＰＷＭ信号が生成される。また、分割エリア０では、有効画像領域外のエリアであることから、ＡＰＣ動作が行われる。

このように、本実施形態に係る画像形成装置１００では、ＬＤ制御部１４の駆動部２８へ書き込み制御用ＡＳＩＣ１３のＰＷＭ信号生成部４６から供給される光量調整用のＰＷＭ信号の電圧レベルを、主走査ライン上で認識された分割エリア（主走査ライン上の走査位置）に対応するデューティに基づき変化させることで、レーザダイオード１５の出力光量を調整し、シェーディング補正を行う。

＜シェーディング補正と濃度ムラとの関係＞
ここでは、本実施形態に係る画像形成装置１００が行うシェーディング補正と濃度ムラとの関係について、図を用いて簡単に説明する。

図９は、一般的なシェーディング特性に対する出力光量の調整特性を示す図である。この例では、分割エリア１から分割エリア５へ主走査ラインに沿って分割エリアを移動し、各分割エリアで指定するデューティの値を順に小さくし、一方で分割エリア６から分割エリア１０へ移動し、指定するデューティの値を大きくすることで、各分割エリアに対応したシェーディング補正データ７１に近似するような出力光量の調整特性が得られる。すなわち、シェーディング補正データ７１に近似する光量調整用のＰＷＭ信号（以下、「光量調整信号」と言う。）８１ｎが分割エリアごとに得られる（図中の参照符号８１_１から８１_１０）。

その中で、分割エリアが変わる分割位置Ｐ（例えば図中の破線円）において、デューティの切り替えが発生することにより光量調整信号８１が大きく変化することから、出力される光量調整信号８１のレベルに大きな段差が発生し、画像形成後の出力画像（印刷画像）において、図１０に示すような濃度ムラが発生する（有効画像領域の分割エリアを移動する際に生じる光強度の切り替わりに起因した画像濃度の段差が発生する）。

図１０は、分割位置Ｐと濃度ムラの発生位置９１との関係を示す図である。濃度ムラは、上記に説明を行った原因によって発生することから、有効画像領域の分割位置Ｐと濃度ムラの発生位置（以下、「濃度ムラ発生位置」と言う。）９１とが一致し、主走査ライン上の決まった位置で必ず発生する。そのため、画像形成後の出力画像では、副走査ラインに対してスジ状のムラ（図中の斜線領域）となって視覚的に認識（知覚）されてしまう。

＜シェーディング補正時の濃度ムラ拡散機能＞
そこで、本実施形態に係る画像形成装置１００では、シェーディング補正において、有効画像領域内の濃度ムラ発生位置９１を拡散することで、シェーディング補正後の出力画像を目視した際に認識される濃度ムラを低減する「濃度ムラ拡散機能」を有している。

＜＜構成＞＞
図１１は、本発明の第１の実施形態に係る濃度ムラ拡散機能の構成例を示す図である。本実施形態に係る画像形成装置１００は、濃度ムラ拡散機能を実現するために、書き込み制御用ＡＳＩＣ１３が、分割位置変更部５１と、変更周期制御部５２と、分割エリア画素数保持部５３とを有する構成となっている。上記各機能部について簡単に説明を行う。

分割位置変更部５１は、分割エリアの分割位置Ｐを主走査ラインに沿って所定の画素数だけずらし、各主走査ラインの分割位置Ｐを変更する機能である。

変更周期制御部５２は、複数の主走査ラインにおいて上記分割位置変更部５１が行う分割位置Ｐの変更パターン（ずらしパターン）の周期（以下、「変更周期」と言う。）をカウンタ値で制御する機能であって、所定ビット数のカウンタ回路により実現する。

分割エリア画素数保持部５３は、分割エリアの分割位置Ｐが主走査ライン上における相対的な画素位置として設定された画素数（以下、「分割エリア画素数」と言う。）を、所定の記憶領域に保持する機能であって、レジスタによって実現する。

画像形成装置１００は、上記各機能部において必要なデータを所定のタイミングでやり取りし、濃度ムラ拡散機能を実現している。以降に、上記各機能部の動作について詳しく説明する。

＜＜動作＞＞
まず、本実施形態に係る画像形成装置１００では、有効画像領域の分割数と、各分割エリアの分割エリア画素数と、各分割エリアにおける各色の光量調整用のＰＷＭ信号の出力値とを設定可能となっている。これらの値は、例えば機器管理者などが操作パネル１１０を介して管理者モードの操作画面上で指定することができる。このようにして指定された分割数、画像数、信号出力値の各値は、書き込み制御用ＡＳＩＣが備えるレジスタに設定される。

レーザダイオード１５によって、帯電された感光体１０７の表面に、主走査ラインの１ライン目の画像が潜像され（書き込まれ）、２ライン目のＡＰＣ動作が実行されるときに、分割位置変更部５１が、分割エリアの分割位置Ｐを変更する。

このとき、分割位置変更部５１は、変更周期制御部５２によって制御された変更周期に従って、有効画像領域外である分割エリア０の分割エリア画素数を変更し、分割エリア０と分割エリア１との間の分割位置Ｐ_０をずらす。

すなわち、分割位置変更部５１は、分割エリア画素数保持部５３が保持している有効画像領域外の分割エリア０の分割エリア画素数に、方向と画素数とからなるずらし量を加算し、分割エリア１との間の分割位置Ｐ_０を、加算した所定の画素数だけ主走査方向またはその逆方向のいずれかの方向にずらして変更する。

分割位置変更部５１では、分割エリア画素数が主走査ライン上における相対的な画素位置を示す値であることから、例えば分割エリア０の分割位置Ｐ_０を主走査方向に３画素分ずらしたい場合には'＋３'、またその逆方向に３画素分ずらしたい場合には'―３'のように、ずらす方向とずれる画素数とからなるずらし量を、分割エリア０の分割エリア画素数に加算し、分割エリア０の分割位置Ｐ_０を変更する。

以下に、分割位置変更部５１が行う分割位置Ｐの変更動作（所定の画素数だけずらす動作）について、図１２を用いて具体的に説明する。図１２は、本発明の第１の実施形態に係る分割位置Ｐを変更する動作例を示す図である。図１２は、分割エリア０と分割エリア１とを部分的に拡大したもので、図中の参照符号Ｎが分割エリア０の分割エリア画素数、すなわち分割エリア１との間の分割位置Ｐ_０に対応する主走査ライン上の画素位置を表し、図中の斜線箇所が濃度ムラを表している。また、図１２（Ａ）には濃度ムラが発生した従来の出力画像の例が示され、図１２（Ｂ）には濃度ムラが発生した本実施形態の出力画像の例が示されている。

図１２（Ａ）からも分かるように、従来の出力画像に発生した各主走査ライン上の濃度ムラは、主走査ライン全てにおいて濃度ムラ発生位置９１が同じであることから、濃度ムラが発生した画素位置が並び、副走査に沿ってスジ状の濃度ムラを形成している。このことから、ユーザが印刷用紙上に形成された出力画像を目視した際に、発生した濃度ムラを視覚的に認識しやすい（ユーザから濃度ムラが認識されやすい）。

それと比べて、本実施形態に係る出力画像に発生した各主走査ライン上の濃度ムラは、図１２（Ｂ）からも分かるように、各主走査ラインで濃度ムラ発生位置９１が異なっており、濃度ムラが発生した画素位置が、副走査に沿って隣接する主走査ラインにおいて所定の画素数だけずれている。すなわち、本実施形態では、印刷用紙上に形成される出力画像において、濃度ムラが発生した画素位置が副走査に沿って並ぶことなく、所定の範囲内に拡散される。

本実施形態に係る画像形成装置１００では、上記濃度ムラ発生位置９１の拡散を以下の方法によって実現している。

（分割エリア０の分割位置Ｐ_０の変更）
例えば、画像形成装置１００において、操作パネル１１０を介して機器管理者などから、有効画像領域の分割数が１０で、分割エリア０の分割エリア画素数（分割位置Ｐ_０を表す画素位置）が［Ｎ］と設定されているとする。

この設定状態で、画像形成装置１００が画像形成動作を開始すると、分割エリア画素数保持部５３には、主走査ラインの１ライン目の画像が潜像され（書き込まれ）、２ライン目のＡＰＣ動作が実行されるとき、設定された分割エリア画素数［Ｎ］を保持している。また、変更周期制御部５２からは、初期化されたカウント値が出力される。

変更周期制御部５２は、例えば本実施形態の場合、２ビットのカウンタ回路であり、初期化されたカウント値とは、２ビットの値が'００'という意味である。変更周期制御部５２は、ＡＰＣ動作と同期しており、ＡＰＣ動作が実行されるときにカウントアップする。すなわち、２ライン目のＡＰＣ動作が完了すると、２ビットの値が'００'から'０１'となり、カウント値としてカウンタ回路から出力される。

このように、変更周期制御部５２を２ビットのカウンタ回路を用いて実現した場合には、２ビットの値が'１１'となる４ライン目までカウントされ、５ライン目からは２ビットの値が１ライン目のときと同じ'００'に戻る（カウント値がクリアされる）。

分割位置変更部５１は、２ライン目のＡＰＣ動作が実行されるときに、変更周期制御部５２から得たカウント値'０１'に対応したずらし量［＋３］を、分割エリア画素数保持部５３が保持している分割エリア画素数［Ｎ］に加算する［Ｎ＋３］。これによって、２ライン目の分割位置Ｐが３画素分主走査方向にずれる。その結果、分割エリア０以外の各分割エリアについては、分割エリアの分割位置Ｐが主走査ライン上における相対的な画素位置として設定された画素数（分割エリア画素数）を変更していないことから、２ライン目の主走査ライン上に位置する各分割エリアの分割位置Ｐｎが、主走査ライン上で全て３画素分主走査方向にずれる。すなわち、分割エリア０以降の各分割エリアの分割位置Ｐｎが、３画素分主走査方向にシフトする。

その後、画像形成装置１００は、上記各分割エリアの分割位置Ｐｎが変更された２ライン目の画像を潜像形成し、３ライン目のＡＰＣ動作を実行するときに、変更周期制御部５２によってカウントされ、カウント値が'０１'から'１０'となる。

上記に説明を行ったように、本実施形態に係る画像形成装置１００では、分割位置変更部５１によって、分割エリア画素数保持部５３が保持する分割エリア０の分割エリア画素数に、変更周期制御部５２のカウント値に対応するずらし量を加算し、分割エリア０の分割位置Ｐ_０である主走査ライン上における相対的な画素位置を変更することで、主走査ライン上の各分割エリアの分割位置Ｐｎを変更する。

更に上記ずらし量は、変更周期制御部５２のカウント値に対応付けて、予め設定され所定の記憶領域（例えば画像形成装置１００が備える不揮発性の記憶装置など）に保持されている。本実施形態の場合には、変更周期制御部５２から４つのカウント値（'０１'、'１０'、'１１'、'００'の４つのカウント値）が得られることから、それら４つに対応するずらし量（［＋３］、［―６］、［＋５］、［―２］）を予め保持している構成になる。

このことから、本実施形態に係る画像形成装置１００では、分割位置変更部５１が、変更周期制御部５２のカウント値に基づき、変更周期内の各主走査ラインで異なるずらし量を用いて分割エリア０の分割位置Ｐ_０を変更する。

例えば、分割位置変更部５１は、３ライン目のＡＰＣ動作が実行さたときに、変更周期制御部５２から得たカウント値'１０'に対応したずらし量［―６］を、先の２ライン目のときにずらし量が加算され、分割エリア画素数保持部５３が保持している画素数（Ｎ＋３）に加算する（（Ｎ＋３）―６＝（Ｎ−３））。これによって、３ライン目の分割位置Ｐが３画素分主走査方向と逆方向にずれる。

同様に、４ライン目の場合には、３ライン目のときにずらし量が加算され、分割エリア画素数保持部５３が保持している画素数（Ｎ−３）に、カウント値'１１'に対応したずらし量［＋５］を加算する（（Ｎ―３）＋５＝（Ｎ＋２））。これによって、４ライン目の分割位置Ｐが２画素分主走査方向にずれる。

５ライン目の場合には、４ライン目のときにずらし量が加算され、分割エリア画素数保持部５３が保持している画素数（Ｎ＋２）に、カウント値'００'に対応したずらし量［―２］を加算する（（Ｎ＋２）―２＝（Ｎ））。これによって、５ライン目の分割位置Ｐが２画素分主走査方向と逆方向にずれ、１ライン目と同じ位置となる。

本実施形態に係る画像形成装置１００は、上記に説明を行ったような変更パターンを、変更周期制御部５２のカウント値により制御された変更周期に従って繰り返し行う。その結果、画像形成装置１００は、図１３に示すような濃度ムラ発生位置９１が拡散された出力画像を形成する。

図１３は、本発明の第１の実施形態に係る濃度ムラ発生位置９１が拡散された結果の一例を示す図である。このように、各分割エリアの分割位置Ｐｎと一致する各濃度ムラ発生位置９１ｎが拡散されると、出力画像全体を通して濃度ムラが視覚的に認識されにくくなることから、結果的に濃度ムラを低減することができる。

＜＜処理手順＞＞
図１４は、本発明の第１の実施形態に係る画像形成処理の一例を示すフローチャートである。図１４では、上記に説明を行った各機能部（分割位置変更部５１、変更周期制御部５２、分割エリア画素数保持部５３）の動作を含む画像形成動作の処理手順例が示されている。

本実施形態に係る画像形成装置１００は、操作パネル１１０を介して受け付けた有効画像領域の分割数と、各分割エリアの分割エリア画素数と、各分割エリアにおける各色の光量調整用のＰＷＭ信号の出力値とを、ＣＰＵ１６が書き込み制御用ＡＳＩＣ１３のレジスタに設定する（ステップＳ１０１、Ｓ１０２、及びＳ１０３）。

続いて画像形成装置１００は、画像読み取り装置１０９のＩＰＵ１２またはコントローラ２０から書き込み制御用ＡＳＩＣ１３に画像形成対象となる画像データが入力され、画素クロックがオンになる（所定の周波数に移行する）（ステップＳ１０４）。

画像形成装置１００は、ＡＰＣ制御部２７が、受光部２６の出力信号と、書き込み制御用ＡＳＩＣ１３からのＡＰＣ信号及び光量調整信号とに応じてＬＤ制御部１４の駆動部２８を制御し、レーザダイオード１５の出力光量を一定に制御するＡＰＣ動作時に、書き込み制御用ＡＳＩＣ１３の出力データコントロール部３３に同期検知信号を供給し、主走査カウンタ３３ａをリセットする（ステップＳ１０５）。

続いて画像形成装置１００は、光量調整用のＰＷＭ信号に基づき、ＬＤ制御部１４により駆動されたレーザダイオード１５が所定出力のレーザビームを、帯電された感光体１０７の表面に照射し、主走査ラインの１ライン分の画像を潜像形成する（ステップＳ１０６）。

続いて画像形成装置１００は、分割位置変更部５１が、レジスタである分割エリア画素数保持部５３によって保持される分割エリア０の画素数に、所定ビットのカウンタ回路である変更周期制御部５２のカウント値に対応するずらし量を加算し、分割エリア０の分割位置Ｐ_０である主走査ライン上における相対的な画素位置を変更することで、主走査ラインごとに分割エリアの分割位置Ｐを変更する（ステップＳ１０７）。

画像形成装置１００は、出力データコントロール部３３が、副走査カウンタ３３ｂのカウント値に基づき、潜像形成動作（書き込み動作）が終了したか否かを判断する（ステップＳ１０８）。

潜像形成動作（書き込み動作）が終了したと判断された場合には（ステップＳ１０８がＹＥＳの場合には）、処理を終了する。

また、潜像形成動作（書き込み動作）が終了していないと判断された場合には（ステップＳ１０９がＮＯの場合には）、副走査カウンタ３３ｂと変更周期制御部５２であるカウンタとをそれぞれカウントアップし（ステップＳ１０９）、ステップＳ１０５へ移行する。

＜まとめ＞
以上のように、本発明の第１の実施形態によれば、本実施形態に係る画像形成装置１００は、分割位置変更部５１によって、分割エリア画素数保持部５３が保持する分割エリア０の分割エリア画素数に、変更周期制御部５２のカウント値に対応するずらし量を加算し、分割エリア０の分割位置Ｐ_０である主走査ライン上における相対的な画素位置を変更することで、主走査ライン上の各分割エリアの分割位置Ｐｎを変更する。

また、画像形成装置１００は、変更周期制御部５２のカウント値に対応付けて異なるずらし量を所定の記憶領域に保持している構成から、これらのずらし量による分割位置変更パターンを、変更周期制御部５２のカウント値により制御された変更周期に従って繰り返し行う。

これによって、画像形成装置１００では、シェーディング補正において、有効画像領域内の濃度ムラ発生位置９１を拡散することで、シェーディング補正後の印刷物を目視した際に認識される濃度ムラを低減することができる。

また、ＰＷＭ幅をわずかずつ可変する従来の構成では、シェーディング補正における濃度ムラを制御する処理工程が複雑となり、かつ回路規模が多大になってしまう上、感光体１０７へ露光する速度（書き込み速度）に追従して処理する必要があるため、高速になるにしたがって実現が困難となるという問題点があったが、本実施形態に係る画像形成装置１００では、濃度ムラを制御する処理工程が複雑でなく、回路規模を大きくすることもないので、従来より容易に実現可能である。

＜変形例：その１＞
上記に説明を行った画像形成装置１００では、分割位置変更部５１が、主走査ラインごとにカウントアップする変更周期制御部５２（２ビットのカウンタ回路）のカウンタ値を基に、カウンタ値に対応するずらし量を、分割エリア画素数保持部５３が保持している分割エリア画素数に加算し、主走査ラインにおける分割エリアの分割位置Ｐを変更することで、シェーディング補正において、有効画像領域内の濃度ムラ発生位置９１を拡散する構成であったが、この濃度ムラ拡散機能の構成に本発明が限定されるものではない。

図１５は、本発明の第１の実施形態に係る濃度ムラ拡散機能の変形例（その１）を示す図である。本変形例では、変更周期制御部５２の代わりに、書き込み制御用ＡＳＩＣ１３の出力データコントロール部３３が有する副走査カウンタ３３ｂのカウント値を、主走査ラインの所定のライン数で除算し、その剰余値を演算する剰余値演算部５４を含む構成となっている。剰余値演算部５４により演算された剰余値は、分割位置変更部５１に渡され、分割エリア画素数保持部５３が保持している分割エリア画素数に加算するずらし量の特定に用いられる。

例えば、２ビットのカウンタ回路である変更周期制御部５２と同じ制御を行う場合には、剰余値演算部５４は、副走査カウンタ３３ｂのカウンタ値を、主走査ラインのライン数である'４'で除算し、その剰余値を演算する。このようにして演算された剰余値は、'０'から'３'までの値となり、副走査カウンタ３３ｂのカウンタ値が副走査方向に順にカウントアップされることにともない周期的に得られる。このことから、これらの４つの剰余値から、それぞれの値に対応したずらし量が特定でき、分割エリアの分割位置Ｐを変更することができる。

図１６は、本発明の第１の実施形態に係る変形例（その１）による画素数変更処理の一例を示すフローチャートである。図１６には、剰余値演算部５４によって行われる図１４のステップＳ１０７の処理手順の一例が示されている。

剰余値演算部５４は、副走査カウンタ３３ｂからカウント値を受け取り、受け取ったカウント値を主走査ラインの所定のライン数で除算し、演算されて得た剰余値を分割位置変更部５１に渡す（Ｓ２０１）。

分割位置変更部５１は、レジスタである分割エリア画素数保持部５３によって保持される分割エリア０の画素数に、受け取った剰余値に対応するずらし量を加算し、分割エリア０の分割位置Ｐ_０である主走査ライン上における相対的な画素位置を変更することで、主走査ラインごとに分割エリアの分割位置Ｐを変更する（ステップＳ２０２）。

＜変形例：その２＞
図１７は、本発明の第１の実施形態に係る濃度ムラ拡散機能の変形例（その２）を示す図である。図１７には、他の濃度ムラ拡散機能の変形例として、乱数を生成する乱数回路である乱数生成部５５を有する構成例が示されており、上記変形例（その１）以外にも、このような機能構成であってもよい。

本変形例では、変更周期制御部５２のカウンタ値に従って、乱数生成部５５により生成された乱数値を、分割位置変更部５１が、ずらし量として、分割エリア画素数保持部５３が保持している分割エリア画素数に加算し、分割エリア０の分割位置Ｐ_０である主走査ライン上における相対的な画素位置を変更することで、主走査ラインごとに分割エリアの分割位置Ｐを変更する。

上記に説明を行ってきた各変形例においても、第１の実施形態と同様の効果を奏することができる。

ここまで、上記実施形態に基づき本発明の説明を行ってきた。その中で、上記実施形態では、主走査ラインにおける分割エリアの分割位置Ｐを変更する際に、主走査ライン全体における各分割エリアの分割位置Ｐを同じずらし量を基に変更するシェーディング補正時の濃度ムラ拡散機能について説明を行ったが、この方法に、本発明が限定されるものではない。例えば、主走査ラインにおける分割エリアごとに、それぞれの分割エリア画素数に異なるずらし量を加算し、分割エリアの分割位置Ｐを変更してもよく、出力画像において濃度ムラ発生位置９１が所定の範囲内で拡散すればよい。

また、上記実施形態では、主走査１ラインごとの分割エリアの分割位置Ｐを変更するシェーディング補正時の濃度ムラ拡散機能について説明を行ってきたが、この方法に、本発明が限定されるものではない。例えば１ラインごとでなく、２ラインと言ったように複数ラインの分割位置Ｐをまとめて変更するパターンなどであってもよく、シェーディング補正において、有効画像領域内の濃度ムラの発生位置を拡散し、目視で確認できない程度に濃度ムラが低減されればよい。このように、複数ラインの分割位置Ｐをまとめて変更する方法の場合には、主走査１ラインごとに分割位置Ｐを変更するより、変更するためのずらし量などの演算が少ない分、処理速度を向上させることができる。

また、上記実施形態では、単色の潜像動作におけるシェーディング補正時の濃度ムラ拡散機能について説明を行ったが、この動作に、本発明が限定されるものではない。複数の構成色を用いて画像形成動作を行うフルカラー画像形成装置であれば、各構成色に対応したずらし量を基に濃度ムラ拡散機能を実施すればよい。

最後に、上記実施形態に挙げた形状・構成に、その他の要素との組み合わせなど、ここで示した要件に、本発明が限定されるものではない。これらの点に関しては、本発明の主旨をそこなわない範囲で変更することが可能であり、その応用形態に応じて適切に定めることができる。

本発明の第１の実施形態に係る画像形成装置の概略図である。 本発明の第１の実施形態に係る画像形成装置のハードウェア構成例を示す図である。 本発明の第１の実施形態に係る光学装置とその周辺部材との構成例を示す図である。 本発明の第１の実施形態に係る書き込み制御用ＡＳＩＣの構成例を示す図である。 本発明の第１の実施形態に係る出力データコントロール部の構成例を示す図である。 本発明の第１の実施形態に係るＰＷＭ信号を平滑化する回路の一例を示す図である。 本発明の第１の実施形態に係るＰＷＭ信号生成部からの出力波形の一例を示す図である。 一般的なシェーディング補正データを示す図である。 一般的なシェーディング特性に対する出力光量の調整特性を示す図である。 分割位置と濃度ムラの発生位置との関係を示す図である。 本発明の第１の実施形態に係る濃度ムラ拡散機能の構成例を示す図である。 本発明の第１の実施形態に係る分割位置を変更する動作例を示す図である。 本発明の第１の実施形態に係る濃度ムラ発生位置が拡散された結果の一例を示す図である。 本発明の第１の実施形態に係る画像形成処理の一例を示すフローチャートである。 本発明の第１の実施形態に係る濃度ムラ拡散機能の変形例（その１）を示す図である。 本発明の第１の実施形態に係る変形例（その１）による画素数変更処理の一例を示すフローチャートである。 本発明の第１の実施形態に係る濃度ムラ拡散機能の変形例（その２）を示す図である。

符号の説明

１ 内部システムバス
２ ローカルＩ／Ｆ
１１ ＶＰＵ
１２ ＩＰＵ
１３ 書き込み制御用ＡＳＩＣ
１４ ＬＤ制御部
１５ レーザダイオード
１６ ＣＰＵ
１７ ＲＯＭ
１８ ＲＡＭ
１９ 画像メモリ
２０ コントローラ
２１ コリメートレンズ
２２ ポリゴンミラー
２３ ｆθレンズ
２４ 光検知器
２５ 発光部
２６ 受光部
２７ ＡＰＣ制御部
２８ 駆動部
３１ メモリブロック
３２ 画像処理部
３３ 出力データコントロール部
３３ａ：主走査カウンタ，３３ｂ：副走査カウンタ，３３ｃ：周期検知部
４１ Ｐパターンブロック
４２ γ変換ブロック
４３ ＡＰＣブロック
４４ ＬＤオン／オフブロック
４５ ゲート信号生成部
４６ ＰＷＭ信号生成部
５１ 分割位置変更部
５２ 変更周期制御部（カウンタ回路）
５３ 分割エリア画素数保持部（レジスタ）
５４ 剰余値演算部
５５ 乱数生成部
６１ レジスタ
７１ シェーディング補正データ
８１ 光量調整信号（光量調整用のＰＷＭ信号）
９１ 濃度ムラ発生位置
１００ 画像形成装置
１０１ 帯電器
１０２ 光学装置
１０３ 現像器
１０４ 給紙ローラ
１０５ 転写装置
１０６ 排紙ローラ
１０７ 感光体
１０８ クリーニング装置
１０９ 画像読み取り装置
１１０ 操作パネル
ＬＰＦ：ローパスフィルタ，Ｐ：分割位置，Ｎ：分割エリアの画素数

Claims (10)

1. 像担持体における被走査面の主走査ラインを複数領域に分割し、各領域に対応した光量補正データに基づき光源の出力光量を調整し、主走査方向のシェーディング特性を補正する画像形成装置であって、
   前記光量補正データを基に領域ごとのパルス変調信号のデューティ値を変化させ、変化させたデューティ値に従って光量調整用のパルス変調信号を出力する出力手段と、
   前記出力手段により出力した前記光量調整用のパルス変調信号を基に前記出力光量を調整するときに、前記主走査ラインにおける各領域の分割位置を変更する変更手段と、を有することを特徴とする画像形成装置。
2. 前記変更手段は、
   隣接する主走査ラインで各領域の分割位置が異なるように、前記主走査ラインごとの前記分割位置を変更することを特徴とする請求項１に記載の画像形成装置。
3. 前記変更手段は、
   前記主走査ラインを構成する画素配列において各領域の分割位置を相対的に表す画素数に、所定の値を加算し、各領域の分割位置を変更することを特徴とする請求項１又は２に記載の画像形成装置。
4. 当該画像形成装置が、
   前記主走査ライン上において、前記分割位置を移動させる方向と移動量とを表すずらし量を所定の記憶領域に格納し保持する保持手段を有し、
   前記変更手段は、
   前記画素数に、前記保持手段により保持されている前記ずらし量を加算し、各領域の分割位置を複数の主走査ラインごとに周期的に変更することを特徴とする請求項３に記載の画像形成装置。
5. 当該画像形成装置が、
   所定範囲の数値を周期的に生成し、前記分割位置の変更を制御する制御手段を有し、
   前記変更手段は、
   前記画素数に、前記制御手段により生成した所定範囲の数値に対応付けられた前記ずらし量を加算することを特徴とする請求項４に記載の画像形成装置。
6. 当該画像形成装置が、
   副走査ラインをカウントしライン数を取得する副走査ライン数取得手段と、
   前記副走査ライン数取得手段により取得した前記副走査ライン数を、所定のライン数で除算し、算出結果として剰余値を取得する剰余値取得手段と、を有し、
   前記変更手段は、
   前記画素数に、前記剰余値取得手段により取得した剰余値に対応付けられた前記ずらし量を加算することを特徴とする請求項４に記載の画像形成装置。
7. 当該画像形成装置が、
   所定範囲の乱数を生成する乱数生成手段を有し、
   前記変更手段は、
   前記画素数に、前記乱数生成手段により生成した乱数の値を前記ずらし量として加算することを特徴とする請求項３に記載の画像形成装置。
8. 前記変更手段は、
   各領域に対し同じ値のずらし量によって、前記分割位置を変更することを特徴とする請求項１ないし７のいずれか一項に記載の画像形成装置。
9. 前記変更手段は、
   各領域に対し異なる値のずらし量によって、前記分割位置を変更することを特徴とする請求項１ないし７のいずれか一項に記載の画像形成装置。
10. 像担持体における被走査面の主走査ラインを複数領域に分割し、各領域に対応した光量補正データに基づき光源の出力光量を調整し、主走査方向のシェーディング特性を補正する画像形成装置における画像補正方法であって、
    前記光量補正データを基に領域ごとのパルス変調信号のデューティ値を変化させ、変化させたデューティ値に従って光量調整用のパルス変調信号を出力し、前記光源の出力光量を調整する調整手順と、
    前記調整手順により前記出力光量を調整するときに、前記主走査ラインにおける各領域の分割位置を変更する変更手順と、を有することを特徴とする画像補正方法。

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