JP2009262205A - Laser beam machine - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、例えば半導体ウェーハ等の薄板材料にレーザ光線を照射して切断や溝形成といった加工を施すレーザ加工装置に関する。 The present invention relates to a laser processing apparatus that performs processing such as cutting and groove formation by irradiating a thin plate material such as a semiconductor wafer with a laser beam.
半導体デバイスのチップ製造工程においては、略円盤状の半導体ウェーハの表面に、格子状に配列された分割予定ラインによって多数の矩形状のチップ領域を区画し、これらチップ領域にICやLSI等の電子回路を形成した後、ウェーハに対して裏面研削等の必要な処理を行ってから、ウェーハを分割予定ラインに沿って切断して分割する、すなわちダイシングして、各チップ領域を半導体チップとして得ている。このようにして得られた半導体チップは、樹脂封止によりパッケージングされて、携帯電話やPC(パーソナル・コンピュータ)等の各種電気・電子機器に広く用いられている。 In the chip manufacturing process of a semiconductor device, a large number of rectangular chip regions are partitioned on the surface of a substantially disk-shaped semiconductor wafer by division lines arranged in a lattice pattern, and electronic devices such as ICs and LSIs are formed in these chip regions. After forming the circuit, perform necessary processing such as backside grinding on the wafer, then cut the wafer along the planned dividing line and divide it, that is, dicing to obtain each chip area as a semiconductor chip Yes. The semiconductor chip thus obtained is packaged by resin sealing and widely used in various electric / electronic devices such as mobile phones and PCs (personal computers).
ウェーハを半導体チップに個片化するダイシングの手段としては、高速回転させた薄い円盤状のブレードをウェーハに切り込ませるブレードダイシングが、従来より一般的であった。一方、近年では、透過性のレーザ光線を分割予定ラインに沿って照射することによりウェーハをダイシングするレーザダイシングも試みられている。例えば特許文献1には、ウェーハの表面側から分割予定ラインにレーザ光線を照射して溝を形成し、次いで、形成した溝に沿ってウェーハを劈開することで、チップを得る技術が提案されている。レーザダイシングは、ブレードダイシングと比較すると、切断代が格段に小さいことによりウェーハ1枚当たりのチップ生産数においては有利とされている。
As a dicing means for dividing a wafer into semiconductor chips, blade dicing in which a thin disk-shaped blade rotated at a high speed is cut into the wafer has been generally used. On the other hand, in recent years, laser dicing has also been attempted in which a wafer is diced by irradiating a transparent laser beam along a division line. For example,
レーザダイシングを行う装置にあっては、メンテナンスする際にはレーザ光線から眼を守るために、作業員は、レーザ光線を吸収して遮光するレーザ保護メガネを装着している。メンテナンス中においては、レーザ保護メガネを装着した上で、さらに安全のためにレーザ光線が発振されているか否かといった発振状況を視認したい要望があり、そのため、レーザ光線の発振状況を表示する警告灯を設けたものがある。例えば、メンテナンス開始の時に、発振を停止させたはずのレーザ光線が誤って発振されたまままであることを視認することができれば、メンテナンスを中止して、まずレーザ光線の発振を停止させるといった安全策が講じられる。 In an apparatus for performing laser dicing, in order to protect the eyes from the laser beam during maintenance, an operator wears laser protective glasses that absorb and block the laser beam. During maintenance, there is a need to visually check the oscillation status such as whether or not the laser beam is oscillating for safety even after wearing the laser protective glasses. Therefore, a warning light that displays the oscillation status of the laser beam There is something that provided. For example, if it is possible to visually confirm that the laser beam that should have stopped oscillating is erroneously oscillated at the start of maintenance, stop the maintenance and stop the laser beam oscillation first. Is taken.
ところで、レーザ保護メガネは、遮光可能な波長領域が異なっていたり、レーザ光線を可視可能とされたりしたものなど、遮光特性が多様なものが提供されている。ここで、そのレーザ保護メガネの遮光特性がレーザ光線の発振状況を表示する警告灯の灯光と同じ波長であった場合には、その灯光を視認することは不可能になるといった問題が生じる。すなわち、複数種類のレーザ保護メガネのいずれかを装着した場合、レーザ光線の発振状況を視認することができない場合が起こり得る。 By the way, laser protective glasses are provided with various light shielding characteristics such as those in which the wavelength region where light can be shielded is different or the laser beam is visible. Here, when the light shielding characteristic of the laser protective glasses has the same wavelength as that of a warning lamp that indicates the oscillation state of the laser beam, there is a problem that it becomes impossible to visually recognize the lamp. That is, when one of a plurality of types of laser protective glasses is worn, the laser beam oscillation state may not be visually recognized.
本発明は上記事情に鑑みてなされたものであって、遮光する波長がいかなる波長のレーザ保護メガネであってもレーザ光線の発振状況を確実に視認することができ、結果としてより安全な作業環境を達成することができるレーザ加工装置を提供することを目的としている。 The present invention has been made in view of the above circumstances, and the laser beam oscillating state can be surely visually recognized regardless of the wavelength of the laser protective glasses with which the light is shielded, and as a result, a safer working environment. An object of the present invention is to provide a laser processing apparatus capable of achieving the above.
本発明は、ワークを保持する保持手段と、該保持手段に保持されたワークにレーザ光線を用いて加工を施すレーザ加工手段と、該レーザ加工手段から発振されるレーザ光線の発振状況を表示する警告灯とを少なくとも備えるレーザ加工装置において、前記警告灯は、少なくとも350〜850nmの波長領域内の任意の波長を吸収するレーザ保護メガネによって吸収される波長と異なる波長の光を発することを特徴としている。 The present invention displays a holding means for holding a work, a laser processing means for processing a work held by the holding means using a laser beam, and an oscillation state of a laser beam oscillated from the laser processing means. In a laser processing apparatus comprising at least a warning lamp, the warning lamp emits light having a wavelength different from a wavelength absorbed by laser protective glasses that absorbs an arbitrary wavelength in a wavelength region of at least 350 to 850 nm. Yes.
本発明で言うレーザ保護メガネは、少なくとも可視光領域の波長のうちの任意の波長の光を吸収して遮光するものを含むものであり、上記350〜850nmは主に可視光線の波長領域を表している。本発明の警告灯は、そのようなレーザ保護メガネによって吸収される波長とは異なる波長、すなわち吸収されて遮光されはしない波長の光を発する。したがって、該レーザ保護メガネによって本発明の警告灯は遮光されず、該警告灯を確実に視認することができる。その結果、該レーザ保護メガネを装着していてもレーザ光線の発振状況を確実に知ることができ、メンテナンス等の作業を安全に遂行することができる。 The laser protective glasses referred to in the present invention include those that absorb and block light of any wavelength in the visible light region, and the above 350 to 850 nm mainly represents the wavelength region of visible light. ing. The warning lamp of the present invention emits light having a wavelength different from that absorbed by such laser protective glasses, that is, a wavelength that is absorbed but not blocked. Therefore, the warning lamp of the present invention is not shielded by the laser protective glasses, and the warning lamp can be reliably recognized. As a result, even when the laser protective glasses are worn, the laser beam oscillation state can be surely known, and operations such as maintenance can be performed safely.
本発明の警告灯から発せられる光は、具体的には白色光が最適である。白色光の光源としては、LEDや蛍光灯等が挙げられる。白色光は可視光線領域(上記350〜850nmの範囲内)の波長を有する光がバランスよく混合した光である。したがって、装着しているレーザ保護メガネの遮光波長がいかなる波長であっても、遮光波長以外の波長の光が白色光から発せられていることになる。このため、レーザ保護メガネを装着していても、警告灯から光が発せられているか否か、すなわちレーザ光線が発振されているか否かといったレーザ光線発振状況を確実に視認することができる。 Specifically, the light emitted from the warning light of the present invention is optimally white light. Examples of white light sources include LEDs and fluorescent lamps. White light is light in which light having a wavelength in the visible light region (within the above 350 to 850 nm) is mixed in a well-balanced manner. Therefore, even if the light shielding wavelength of the laser protective glasses attached is any wavelength, light having a wavelength other than the light shielding wavelength is emitted from white light. For this reason, even if the laser protective glasses are worn, it is possible to reliably see the laser beam oscillation state such as whether or not light is emitted from the warning lamp, that is, whether or not the laser beam is oscillated.
なお、本発明のレーザ加工装置で加工されるワークは特に限定はされないが、例えば上記半導体ウェーハ等のウェーハや、チップ実装用としてウェーハの裏面に設けられるDAF(Die Attach Film)等の粘着部材、あるいは半導体製品のパッケージ、ガラス系あるいはシリコン系の基板、さらには、ミクロンオーダーの精度が要求される各種加工材料等が挙げられる。 The workpiece to be processed by the laser processing apparatus of the present invention is not particularly limited. For example, an adhesive member such as a wafer such as the semiconductor wafer described above or a DAF (Die Attach Film) provided on the back surface of the wafer for chip mounting, Alternatively, a semiconductor product package, a glass-based or silicon-based substrate, and various processing materials that require micron-order accuracy are included.
本発明によれば、レーザ光線の発振状況を表示する警告灯から発せられる光を、レーザ保護メガネによって遮光されない可視光線を含むものとしたので、レーザ保護メガネを装着している状態であってもレーザ光線の発振状況を確実に視認することができ、結果としてより安全な作業環境を達成することができるといった効果を奏する。 According to the present invention, the light emitted from the warning lamp that displays the oscillation state of the laser beam includes the visible beam that is not shielded by the laser protective glasses, so even if the laser protective glasses are worn The laser beam oscillation state can be confirmed with certainty, and as a result, a safer working environment can be achieved.
以下、図1を参照して本発明に係る一実施形態を説明する。
図1は一実施形態のレーザ加工装置の外観を示している。このレーザ加工装置1は、全体が概ね直方体状の筐体2を備えており、筐体2の内部において、図示せぬワークに対しレーザ光線を照射するレーザ加工が自動制御で行われる。レーザ加工装置1は、例えば半導体ウェーハ(ワーク)をダイシングするレーザダイシング装置である。
Hereinafter, an embodiment according to the present invention will be described with reference to FIG.
FIG. 1 shows the appearance of a laser processing apparatus according to an embodiment. The
レーザダイシング装置は、半導体ウェーハに対して、多数のチップの境界線である分割予定ラインにレーザ光線を照射して、半導体ウェーハを切断したり分割予定ラインに溝加工を施したりする。またこれら以外には、半導体ウェーハ内部に分割予定ラインに沿ってレーザ光線を照射して、材質が脆弱化した変質層を生成するレーザ加工もある。内部に変質層が生成された半導体ウェーハは、拡張する外力を与えられることにより分割予定ラインが割断されて多数のチップに分割される。 The laser dicing apparatus irradiates a semiconductor wafer with a laser beam on a division planned line that is a boundary line between a large number of chips, and cuts the semiconductor wafer or performs groove processing on the division planned line. In addition to these, there is also laser processing that generates a deteriorated layer with a weakened material by irradiating a semiconductor wafer with a laser beam along a division line. A semiconductor wafer in which a deteriorated layer is generated is divided into a large number of chips by dividing the planned dividing line by applying an expanding external force.
筐体2の内部には、半導体ウェーハ等の薄板状のワークを水平に保持する保持手段と、この保持手段に保持されたワークの表面に上方からレーザ光線を照射してレーザ加工を施すレーザ加工手段と、これら保持手段とレーザ加工手段とを水平方向に相対移動させて、ワークに対するレーザ光線照射位置を変位させる移動手段等が配設されている(いずれも図示略)。
Inside the
保持手段は、真空チャック式のチャックテーブル等が好適に用いられる。また、レーザ加工手段としては、YAGレーザ発振器やYVO4レーザ発振器等のレーザ発振器で発振したレーザをレンズで集光して照射する構成を有するもの等が用いられる。また移動手段は、ガイドレールに沿って移動自在に支持したスライダをボールねじ機構で移動させる機構等が用いられる。 As the holding means, a vacuum chuck type chuck table or the like is preferably used. Further, as the laser processing means, one having a configuration in which a laser oscillated by a laser oscillator such as a YAG laser oscillator or a YVO4 laser oscillator is condensed by a lens and irradiated is used. As the moving means, a mechanism for moving a slider supported movably along the guide rail by a ball screw mechanism is used.
レーザ加工装置1の筐体2には、タッチパネル式の操作表示盤3が設けられており、レーザ加工の自動運転に係わる各種設定などは、この操作表示盤3を利用して行われる。また、操作表示盤3には、内部に運転状況を表示する機能なども付加されている。操作表示盤3の上方の、筐体2の天板には、運転状態を表示したり警告を発したりする表示灯5が取り付けられている。
The
さて、本実施形態のレーザ加工装置1においては、操作表示盤3の上方の前面部6に、レーザ警告灯7が設けられている。このレーザ警告灯は、装置1内の上記レーザ加工手段からレーザ光線が照射されているか否かというレーザ発振状況を表示するもので、レーザ光線が発振されている時は点灯し、レーザ光線が発振されていない時には消灯するようになされている。
In the
レーザ警告灯7は、レーザ光線を吸収して遮光するレーザ保護メガネによって吸収される波長とは異なる波長、すなわちレーザ保護メガネによって遮光されない波長の光を発する光源を有する灯光が適用されている。ここで言うレーザ保護メガネは、可視光線の波長の光を吸収して遮光するものであって、遮光する波長領域は、可視光線の波長領域を含む350〜850nm程度とされるものである。レーザ警告灯の灯光としては、具体的には、LEDや蛍光灯等を光源とする白色光が最適とされる。
As the
本実施形態によれば、レーザ加工装置1に対して修理やメンテナンス等の作業を行う際には、作業員はレーザ光線から眼を保護するために上記レーザ保護メガネを装着する。該作業中には、安全のためにレーザ光線の発振は必ず停止され、レーザ光線の発振が停止されていることは、レーザ警告灯7が消灯していることにより確認される。ところが、誤ってレーザ光線が発振された状態となっていると、レーザ警告灯7が点灯していることを作業員が視認することによりレーザ光線が発振中であることが確認される。レーザ光線が発振されていた場合には、作業の開始を回避するとともに、レーザ光線の発振の停止がなされ、この後、作業が開始される。
According to this embodiment, when performing work such as repair or maintenance on the
本実施形態のレーザ警告灯7は白色光を発する灯光であり、白色光とは、可視光線領域(上記350〜850nmの範囲内)の波長を有する光がバランスよく混合した光である。一方、レーザ保護メガネは、レーザ加工装置1の上記レーザ加工手段から発振されるレーザ光線を遮光する特性のものが用いられる。例えばレーザ光線が200〜300nmの波長であった場合、レーザ保護メガネは、200〜300nmの波長の光を吸収する特性を有するものが用いられる。そのようなレーザ保護メガネとしては、遮光可能な波長領域がレーザ光線の波長領域に一致しただけのものではなく、200〜300nmの波長を含み、さらに可視光線領域の高波長まで遮光する比較的広範囲の波長を吸収するもの(例えば、およそ200〜500nmを吸収して遮光する)が用いられる場合がある。
The
ここで、レーザ警告灯7の灯光が500nm前後であった場合、上記広範囲の波長を吸収するレーザ保護メガネを装着していると、レーザ警告灯7の灯光は吸収されて視認不可能か、あるいは明白に視認しにくいといった事態になる。しかしながら本実施形態ではレーザ警告灯7の灯光は白色灯であり、500nmを超える波長の光を含んでいるため、該レーザ保護メガネを装着していても、その500nmを超える波長の光を視認して、レーザ光線が発振されていることを知ることができる。
Here, when the light of the
これは本実施形態の作用効果を明らかにする一具体例であるが、このように本実施形態では、レーザ保護メガネで遮光されない光がレーザ警告灯7から発せられることにより、使用するレーザ保護メガネの遮光波長がいかなる波長であってもレーザ警告灯7の点灯状態を確実に視認することができる。その結果、該レーザ保護メガネを装着していてもレーザ光線の発振状況を確実に知ることができ、メンテナンス等の作業を安全に遂行することができる。
This is one specific example for clarifying the function and effect of the present embodiment. In this embodiment, however, the laser protective glasses to be used are obtained by emitting light from the
1…レーザ加工装置
7…レーザ警告灯
1 ...
Claims (2)
該保持手段に保持されたワークにレーザ光線を用いて加工を施すレーザ加工手段と、
該レーザ加工手段から発振されるレーザ光線の発振状況を表示する警告灯とを少なくとも備えるレーザ加工装置において、
前記警告灯は、少なくとも350〜850nmの波長領域内での任意の波長を吸収するレーザ保護メガネによって吸収される波長と異なる波長の光を発することを特徴とするレーザ加工装置。 Holding means for holding the workpiece;
Laser processing means for processing the workpiece held by the holding means using a laser beam;
In a laser processing apparatus comprising at least a warning lamp for displaying an oscillation state of a laser beam oscillated from the laser processing means,
The laser processing apparatus, wherein the warning lamp emits light having a wavelength different from a wavelength absorbed by laser protective glasses that absorbs an arbitrary wavelength within a wavelength region of at least 350 to 850 nm.
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- 2008-04-25 JP JP2008115720A patent/JP2009262205A/en active Pending
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