JP2009217996A - Photo-electric cathode, electron tube, and image intensifier - Google Patents

Photo-electric cathode, electron tube, and image intensifier Download PDF

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    • H01J43/00Secondary-emission tubes; Electron-multiplier tubes
    • H01J43/04Electron multipliers
    • H01J43/06Electrode arrangements
    • H01J43/18Electrode arrangements using essentially more than one dynode
    • H01J43/24Dynodes having potential gradient along their surfaces
    • H01J43/246Microchannel plates [MCP]

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a photo-electric cathode with a high stability against temperature changes. <P>SOLUTION: The photo-electric cathode 35 of one embodiment has light transmission performance and includes a first and a second face-plates 31, 32 of which one main faces are opposed to each other, a jointing member 33 for jointing the first face-plate 31 and the second face-plate 32, and a photo-electric face 40 formed on the other main face of the second face-plate 32. An air gap is formed between the one main face of the first face-plate 31 and the one main face of the second face-plate 32. <P>COPYRIGHT: (C)2009,JPO&INPIT

Description

本発明は、光電陰極と、この光電陰極を用いた電子管及びイメージインテンシファイアとに関するものである。   The present invention relates to a photocathode, and an electron tube and an image intensifier using the photocathode.

物体からの発光や透過光及び反射光などの微弱な光を光電面を備えた光電陰極により光電変換する真空管である電子管には、その出力を電気信号で取得する光電管および光電子増倍管等や、増強された光学像を出力として取得するイメージインテンシファイアが知られている。例えば、光電子増倍管は、入射窓を有する真空管から構成され、真空管内に電子増倍部と陽極とを備えている。入射窓には光電面が形成されて光電陰極が構成されている。光電子増倍管においては、入射窓から入射した光に応答して光電面が光電子を放出し、これらの光電子が電子増倍部で増倍される。増倍された電子は陽極に導かれ、陽極によって電気信号として取得することができる。また、イメージインテンシファイアは、入射窓と出射窓とを有する真空管から構成され、入射窓と出射窓との間に電子増倍部(例えば、MCP:マイクロチャンネルプレート)を備えている。上記同様に、入射窓には光電面が形成されて光電陰極が構成されている一方、出射窓には蛍光面が形成されている。このイメージインテンシファイアでは、入射窓から入射した光に応答して光電面が光電子を放出し、これらの光電子が電子増倍部で増倍される。増倍された電子は蛍光面に入射し、蛍光面が蛍光を発することによって物体の光学像を取得することができる。このような電子管として、特許文献1のようなものが知られている。
米国特許第3735139号明細書
An electron tube that is a vacuum tube that photoelectrically converts weak light, such as light emitted from an object, transmitted light, and reflected light, by a photocathode provided with a photocathode, a photoelectric tube, a photomultiplier tube, etc. An image intensifier that acquires an enhanced optical image as an output is known. For example, the photomultiplier tube is composed of a vacuum tube having an incident window, and includes an electron multiplier and an anode in the vacuum tube. A photocathode is formed on the entrance window to constitute a photocathode. In the photomultiplier tube, the photocathode emits photoelectrons in response to light incident from the incident window, and these photoelectrons are multiplied at the electron multiplier. The multiplied electrons are guided to the anode and can be acquired as an electrical signal by the anode. The image intensifier includes a vacuum tube having an entrance window and an exit window, and includes an electron multiplier (for example, MCP: microchannel plate) between the entrance window and the exit window. Similarly to the above, a photocathode is formed on the entrance window to form a photocathode, while a phosphor screen is formed on the exit window. In this image intensifier, the photocathode emits photoelectrons in response to light incident from the incident window, and these photoelectrons are multiplied by the electron multiplier. The multiplied electrons enter the phosphor screen, and the phosphor screen emits fluorescence, whereby an optical image of the object can be acquired. As such an electron tube, the thing like patent document 1 is known.
US Pat. No. 3,735,139

ところで、この種の電子管は、様々な環境で用いられるため、温度に対して高い安定性を有することが好ましい。例えば、石油探査に用いられる場合には、約100℃の環境下で動作させることがある。また、例えば、車両や航空機などに用いられる場合には、環境温度の変化が大きくなることがある。その結果、入射窓に形成された光電面の温度も環境温度に伴って変動し、光電面の実質的な感度が変動してしまう場合がある。例えば、環境温度が高い場合、ダークノイズが増えることによって、ダークノイズと微弱光時の信号との判別が困難となるため、低照度検出限界が上昇してしまう。   By the way, since this kind of electron tube is used in various environments, it is preferable to have high stability with respect to temperature. For example, when used for oil exploration, it may be operated in an environment of about 100 ° C. In addition, for example, when used in a vehicle, an aircraft, or the like, the change in environmental temperature may be large. As a result, the temperature of the photocathode formed on the entrance window also varies with the environmental temperature, and the substantial sensitivity of the photocathode may vary. For example, when the ambient temperature is high, dark noise increases, making it difficult to distinguish between dark noise and a signal at the time of weak light, and thus the low illuminance detection limit increases.

そこで、本発明は、温度変化に対しても安定性の高い光電陰極と、この光電陰極を用いた電子管及びイメージインテンシファイアとを提供することを目的としている。   Accordingly, an object of the present invention is to provide a photocathode having high stability against temperature changes, and an electron tube and an image intensifier using the photocathode.

本発明の光電陰極は、(1)光透過性を有し、一方の主面同士が対向する第1及び第2の面板と、(2)第1の面板と第2の面板とを接合するための接合部材と、(3)第2の面板の他方の主面に形成された光電面と、を備え、(4)第1の面板の一方の主面と第2の面板の一方の主面との間には、空隙が形成されている。   The photocathode of the present invention includes (1) first and second face plates that are light transmissive and facing one main surface, and (2) a first face plate and a second face plate that are joined together. And (3) a photocathode formed on the other main surface of the second face plate, and (4) one main surface of the first face plate and one main face of the second face plate. A gap is formed between the surfaces.

この光電陰極によれば、第1の面板と第2の面板との間に、空隙が形成されているので、第1の面板と第2の面板との間の断熱性を向上することができる。したがって、環境温度の変化によって第1の面板の温度が変化しても、第2の面板及び光電面の温度が変化することを抑制することができ、光電面の感度の変動を抑制することができる。   According to this photocathode, since the air gap is formed between the first face plate and the second face plate, the heat insulation between the first face plate and the second face plate can be improved. . Therefore, even if the temperature of the first face plate changes due to a change in environmental temperature, it is possible to suppress the temperature of the second face plate and the photocathode from changing, and to suppress fluctuations in the sensitivity of the photocathode. it can.

上記した接合部材の材料は金属であることが好ましい。これによれば、光電面が真空に配置された際、接合部材からガスなどが放出されることがなく、真空度の低下による光電面の感度の変動を抑制することができる。   The material of the joining member described above is preferably a metal. According to this, when the photocathode is disposed in a vacuum, gas or the like is not released from the joining member, and fluctuations in the sensitivity of the photocathode due to a decrease in the degree of vacuum can be suppressed.

上記した接合部材の材料はアルミニウムであることが好ましい。これによれば、光電陰極の製造過程のヒートクリーニング等で、高温処理が必要な場合であっても、第1の面板と第2の面板との接合を安定に保持することができる。   The material of the above-described joining member is preferably aluminum. According to this, even when high-temperature processing is necessary, such as heat cleaning in the manufacturing process of the photocathode, it is possible to stably maintain the bonding between the first face plate and the second face plate.

上記した第1の面板は、一方の主面に形成された導電膜を有し、上記した第2の面板は、一方の主面から他方の主面にわたって形成され、光電面に接続された導電膜を有し、接合部材は、導電性材料を含み、第1の面板の導電膜と第2の面板の導電膜とは、接合部材を介して電気的に接続されていることが好ましい。   The first face plate described above has a conductive film formed on one main surface, and the second face plate described above is formed from one main surface to the other main surface and connected to the photocathode. Preferably, the bonding member includes a conductive material, and the conductive film of the first face plate and the conductive film of the second face plate are electrically connected via the bonding member.

この構成によれば、光電面が形成された第2の面板が第1の面板と離間していても、第2の面板に形成された導電膜と接合部材とを介して、第1の面板に形成された導電膜から光電面に容易に高電圧を供給することができる。   According to this configuration, even if the second face plate on which the photocathode is formed is separated from the first face plate, the first face plate is interposed via the conductive film and the bonding member formed on the second face plate. A high voltage can be easily supplied from the conductive film formed on the photocathode.

上記した第2の面板の縁部において、面取りが行われていることが好ましい。これによれば、第2の面板に形成された導電膜が縁部で剥離することを抑制することができ、光電面への高電圧供給を安定に行うことができる。   It is preferable that chamfering is performed at the edge of the second face plate. According to this, it can suppress that the electrically conductive film formed in the 2nd faceplate peels in an edge part, and can supply a high voltage to a photocathode stably.

上記した第1及び第2の面板の材料はサファイアであることが好ましく、さらに上記した光電面の材料は窒化ガリウムであることが好ましい。これによれば、紫外光領域で良好な感度を有する光電陰極を得ることができる。   The material of the first and second face plates described above is preferably sapphire, and the material of the photocathode described above is preferably gallium nitride. According to this, a photocathode having good sensitivity in the ultraviolet region can be obtained.

本発明の電子管は、上記した光電陰極を備え、更にこの電子管は、光電陰極から放出された光電子を増倍するための電子増倍部と、電子増倍部から電子を受けて蛍光を発する蛍光面と、を備えるイメージインテンシファイアであるのが好ましい。   The electron tube of the present invention includes the above-described photocathode, and further includes an electron multiplier for multiplying photoelectrons emitted from the photocathode, and a fluorescence that emits fluorescence upon receiving electrons from the electron multiplier. And an image intensifier comprising a surface.

この電子管及びイメージインテンシファイアによれば、上記した光電陰極を備えているので、温度変化に対しても安定性の高い出力を得ることができる。   According to the electron tube and the image intensifier, since the above-described photocathode is provided, it is possible to obtain a highly stable output against temperature changes.

本発明によれば、温度変化に対しても安定性の高い光電陰極と、この光電陰極を用いた電子管及びイメージインテンシファイアとを得ることができる。   According to the present invention, it is possible to obtain a photocathode having high stability against temperature change, and an electron tube and an image intensifier using the photocathode.

以下、図面を参照して本発明の電子管の具体例としてイメージインテンシファイアの好適な実施形態について詳細に説明する。なお、各図面において同一又は相当の部分に対しては同一の符号を附すこととする。   In the following, a preferred embodiment of an image intensifier will be described in detail as a specific example of the electron tube of the present invention with reference to the drawings. In the drawings, the same or corresponding parts are denoted by the same reference numerals.

まず、本発明の実施形態に係るイメージインテンシファイアについて説明する。図1は、本発明の実施形態に係るイメージインテンシファイアを一部破断して示す平面図であり、図2は、図1に示すイメージインテンシファイアの一部を、II−II線に沿って示す断面図である。図1及び図2に示すイメージインテンシファイア10は、外囲器の内部で光電面、MCP(マイクロチャンネルプレート:電子増倍部)及び蛍光面を近接して設置した近接型イメージインテンシファイアである。   First, an image intensifier according to an embodiment of the present invention will be described. FIG. 1 is a plan view showing a partially broken image intensifier according to an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a partial view of the image intensifier shown in FIG. 1 along the line II-II. FIG. An image intensifier 10 shown in FIGS. 1 and 2 is a proximity type image intensifier in which a photocathode, an MCP (microchannel plate: electron multiplier), and a phosphor screen are installed in close proximity within an envelope. is there.

図1に示すように、イメージインテンシファイア10の内部は、略中空円柱状の外囲器20の両端部を略円板状の入射窓30及び略円柱状の出射窓70によって気密に封止することにより、圧力約1×10-8〜1×10-6Torrを有する高真空に保持されている。外囲器20は、略中空円筒状の側管部材21と、この側管部材21の側部を被覆する略中空円柱状のモールド部材22と、このモールド部材22の側部及び底部を被覆する略中空円筒状のケース部材23とから構成されている。特に、モールド部材22の両端部には2個の開口がそれぞれ形成されている。ケース部材23の一端部は開放して形成され、ケース部材23の他端部にはモールド部材22の一方の開口とその周縁を一致させた開口が形成されている。 As shown in FIG. 1, the inside of the image intensifier 10 is hermetically sealed at both ends of a substantially hollow cylindrical envelope 20 by a substantially disc-shaped entrance window 30 and a substantially cylindrical exit window 70. Thus, a high vacuum having a pressure of about 1 × 10 −8 to 1 × 10 −6 Torr is maintained. The envelope 20 covers a substantially hollow cylindrical side tube member 21, a substantially hollow cylindrical mold member 22 covering a side portion of the side tube member 21, and a side portion and a bottom portion of the mold member 22. A substantially hollow cylindrical case member 23 is included. In particular, two openings are respectively formed at both ends of the mold member 22. One end of the case member 23 is formed open, and the other end of the case member 23 is formed with an opening in which one opening of the mold member 22 is aligned with the periphery thereof.

モールド部材22の一端部側には、入射窓30がモールド部材22の一方の開口周辺の表面と密着して設置されている。この入射窓30の真空側表面の中央領域には、薄膜状の光電面40が形成されている。これらの入射窓30と光電面40とが、本発明の実施形態に係る光電陰極35を構成している。光電陰極35の詳細については後述する。   On one end side of the mold member 22, an incident window 30 is installed in close contact with the surface around one opening of the mold member 22. A thin-film photocathode 40 is formed in the central region of the vacuum side surface of the entrance window 30. The entrance window 30 and the photocathode 40 constitute a photocathode 35 according to an embodiment of the present invention. Details of the photocathode 35 will be described later.

また、モールド部材22の他端部側には、出射窓70がモールド部材22の他方の開口に密着して設置されている。この出射窓70の真空側表面の中央領域には、薄膜状の蛍光面60が形成されている。さらに、光電面40と蛍光面60との間には、円板状のMCP50が光電面40及び蛍光面60に対向して所定の間隙をそれぞれ保持して設置されている。このMCP50は、側管部材21にその一端部を埋没して支持された2種類の導電部材からなる電極81,82の他端部によって挾持されている。   Further, on the other end side of the mold member 22, an emission window 70 is installed in close contact with the other opening of the mold member 22. A thin-film fluorescent screen 60 is formed in the central region of the vacuum side surface of the exit window 70. Further, a disc-shaped MCP 50 is installed between the photocathode 40 and the phosphor screen 60 so as to face the photocathode 40 and the phosphor screen 60 with a predetermined gap therebetween. The MCP 50 is held by the other end portions of the electrodes 81 and 82 made of two kinds of conductive members supported by burying one end portion in the side tube member 21.

入射窓30の真空側表面の周辺領域には、金属製の導電膜(図示しない)が光電面40と接触して形成されている。この導電膜は、側管部材21と入射窓30とを接合するための導電部材からなる電極80と接触している。詳しくは、電極80はその一端部がモールド部材22に埋没されるとともに、その他端部で導電膜と接触している。この入射窓30における導電膜の詳細については後述する。   A metal conductive film (not shown) is formed in contact with the photocathode 40 in the peripheral region on the vacuum side surface of the entrance window 30. This conductive film is in contact with an electrode 80 made of a conductive member for joining the side tube member 21 and the entrance window 30. Specifically, one end of the electrode 80 is buried in the mold member 22 and the other end is in contact with the conductive film. Details of the conductive film in the entrance window 30 will be described later.

出射窓70の真空側表面の周辺領域には、金属製の導電膜(図示しない)が蛍光面60と接触して形成されている。この導電膜に接触するように、電極83が設置されている。詳しくは、電極83はその一端部がモールド部材22に埋没されるとともに、その他端部で導電膜と接触している。   A metal conductive film (not shown) is formed in contact with the phosphor screen 60 in the peripheral region on the vacuum side surface of the emission window 70. An electrode 83 is provided so as to be in contact with the conductive film. Specifically, one end of the electrode 83 is buried in the mold member 22 and the other end is in contact with the conductive film.

4種類の電極80〜83の一端部にその一端部をそれぞれ接触した4種類のリード線90〜93が、モールド部材22及びケース部材23を気密に貫通して外部に突出して設置されている。これらリード線90〜93の他端部は、外部電圧源(図示しない)と電気的にそれぞれ接続されている。そのため、光電面40と、MCP50の光電面側表面及び蛍光面側裏面(ダイノード51の電子入射側表面及び電子出射側表面)と、蛍光面60とに対しては、外部電圧源から高電圧がそれぞれ印加されている。   Four types of lead wires 90 to 93 that are in contact with one end portions of the four types of electrodes 80 to 83 are installed so as to penetrate the mold member 22 and the case member 23 in an airtight manner and protrude to the outside. The other ends of the lead wires 90 to 93 are electrically connected to an external voltage source (not shown). Therefore, a high voltage from an external voltage source is applied to the photocathode 40, the photocathode side surface and the phosphor screen side back surface (electron incident side surface and electron emission side surface of the dynode 51), and the phosphor screen 60 of the MCP 50. Each is applied.

図2に示すように、光電面40とMCP50の光電面側表面との間には、電位差V1 として約200Vが設定されている。MCP50の光電面側表面と蛍光面側表面との間には、電位差V2 として約500V〜約900Vが可変に設定されている。MCP50の蛍光面側表面と蛍光面60との間には、電位差V3 として約6kVが設定されている。 As shown in FIG. 2, about 200 V is set as the potential difference V 1 between the photocathode 40 and the photocathode side surface of the MCP 50. About 500 V to about 900 V is variably set as the potential difference V 2 between the photocathode side surface and the phosphor screen side surface of the MCP 50. About 6 kV is set as the potential difference V 3 between the fluorescent screen side surface of the MCP 50 and the fluorescent screen 60.

なお、側管部材21にその一端部を埋没して支持された電極84が、その他端部を出射窓70と所定の間隙を保持して設置されている。5種類の電極80〜84は、ともにコバール金属で形成されている。4種類のリード線90〜93は、ともにテフロン電線で形成されている。   An electrode 84, which is supported by burying one end portion of the side tube member 21, is installed with the other end portion being kept in a predetermined gap from the emission window 70. The five types of electrodes 80 to 84 are all made of Kovar metal. The four types of lead wires 90 to 93 are all formed of Teflon wires.

より詳細には、側管部材21は、所定の形状にセラミックを加工して形成されている。モールド部材22は、入射窓30、側管部材21及び出射窓70の各周囲にシリコンゴムをモールド成形して形成されている。ケース部材23は、モールド部材22の周囲に対応した形状にプラスチックを加工して形成されている。   More specifically, the side tube member 21 is formed by processing ceramic into a predetermined shape. The mold member 22 is formed by molding silicon rubber around each of the entrance window 30, the side tube member 21, and the exit window 70. The case member 23 is formed by processing plastic into a shape corresponding to the periphery of the mold member 22.

入射窓30は、大気側及び真空側の各表面の中央領域に共に略平面を有する形状にサファイアを加工して形成されたガラス面板である。光電面40は、入射窓30上に窒化ガリウム(GaN)を結晶成長させて形成されている。この光電面40は、外部電圧源からリード線90及び電極80を介して印加された電圧に基づいて、電位約−150V〜約−200Vに保持されている。   The entrance window 30 is a glass face plate formed by processing sapphire into a shape having a substantially flat surface in the central region of each surface on the atmosphere side and the vacuum side. The photocathode 40 is formed on the entrance window 30 by crystal growth of gallium nitride (GaN). The photocathode 40 is held at a potential of about −150 V to about −200 V based on the voltage applied from the external voltage source through the lead wire 90 and the electrode 80.

出射窓70は、多数個の光ファイバをプレート状に集束して構成されたファイバープレートである。蛍光面60は、蛍光体を出射窓70の真空側表面に塗布して形成されており、例えば、(ZnCd)S:Ag等で構成されている。この蛍光面60は、外部電圧源からリード線93及び電極83を介して印加された電圧に基づいて、電位約5000V〜約6000Vに保持されている。   The exit window 70 is a fiber plate configured by converging a large number of optical fibers into a plate shape. The phosphor screen 60 is formed by applying a phosphor to the vacuum side surface of the exit window 70 and is made of, for example, (ZnCd) S: Ag. The phosphor screen 60 is held at a potential of about 5000 V to about 6000 V based on a voltage applied from an external voltage source through the lead wire 93 and the electrode 83.

なお、蛍光面60の真空側表面には、メタルバック層と低電子反射率層とが順次積層して形成されている。メタルバック層は、蛍光面60の表面にAlを蒸着して形成されている。このメタルバック層は、MCP50を通過して入射した光に対して比較的高い反射率を有し、かつ、MCP50から放出されて入射した光電子に対して比較的高い透過率を有する。低電子反射率層は、メタルバック層の表面にC,Be等を蒸着して形成されている。この低電子反射率層は、MCP50から放出されて入射した光電子に対して比較的低い反射率を有する。   Note that a metal back layer and a low electron reflectivity layer are sequentially laminated on the vacuum side surface of the phosphor screen 60. The metal back layer is formed by depositing Al on the surface of the phosphor screen 60. This metal back layer has a relatively high reflectivity with respect to light incident through the MCP 50 and has a relatively high transmittance with respect to photoelectrons emitted from the MCP 50 and incident. The low electron reflectivity layer is formed by evaporating C, Be or the like on the surface of the metal back layer. This low electron reflectivity layer has a relatively low reflectivity for photoelectrons emitted from and incident on the MCP 50.

図3は、図1に示すMCPを一部破断して示す斜視図である。図3に示すように、MCP50は、複数個のチャネル管52をプレート状に集束して構成された少なくとも一つの電子増倍領域51と、この電子増倍領域51を取り囲むガラス製の縁部53とを備えている。この電子増倍領域51の電子入射面及び電子出射面に配列されたチャネル管52のピッチは、隣接するチャネル管52の中心間距離として約7.5μm〜約25μmである。   FIG. 3 is a perspective view showing the MCP shown in FIG. As shown in FIG. 3, the MCP 50 includes at least one electron multiplication region 51 formed by converging a plurality of channel tubes 52 in a plate shape, and a glass edge portion 53 surrounding the electron multiplication region 51. And. The pitch of the channel tubes 52 arranged on the electron incident surface and the electron emission surface of the electron multiplying region 51 is about 7.5 μm to about 25 μm as the distance between the centers of the adjacent channel tubes 52.

この電子増倍領域51は、所定の形状に透明色の鉛ガラスを加工した後に真空炉の内部に設置し、高温の水素ガスを流入することによって鉛ガラスの表面から内部に向かって順次還元して形成されている。これにより、電子増倍領域51の表面領域には、水素還元処理の進行状態に対応して析出した金属鉛で構成された黒色の抵抗層が生成されている。そのため、真空炉の雰囲気温度、水素ガス濃度、還元時間等をパラメータとして抵抗層の生成を制御することにより、MCP50は約1×108 Ω〜約1×1010Ωのストリップ抵抗を有する。 This electron multiplying region 51 is placed inside a vacuum furnace after processing a transparent lead glass into a predetermined shape, and is reduced sequentially from the surface of the lead glass to the inside by flowing high-temperature hydrogen gas. Is formed. As a result, a black resistance layer made of metallic lead deposited in accordance with the progress of the hydrogen reduction treatment is generated on the surface region of the electron multiplying region 51. Therefore, the MCP 50 has a strip resistance of about 1 × 10 8 Ω to about 1 × 10 10 Ω by controlling the generation of the resistance layer by using the vacuum furnace atmosphere temperature, hydrogen gas concentration, reduction time, and the like as parameters.

なお、MCP50の光電面側表面は、外部電圧源からリード線91及び電極81を介して印加された電圧に基づいて、電位約−150V〜約−200Vに保持されている。MCP50の蛍光面側裏面は、外部電圧源からリード線92及び電極82を介して印加された電圧に基づいて、電位約500V〜約900Vに保持されている。   Note that the photocathode side surface of the MCP 50 is held at a potential of about −150 V to about −200 V based on the voltage applied from the external voltage source through the lead wire 91 and the electrode 81. The back surface of the MCP 50 on the phosphor screen side is held at a potential of about 500 V to about 900 V based on the voltage applied from the external voltage source through the lead wire 92 and the electrode 82.

また、MCP50の光電面側表面と光電面40との間隔は、距離約0.05mm〜約0.3mmであり、MCP50の蛍光面側裏面と蛍光面60との間隔は、距離約0.2mm〜約1.5mmである。より望ましくは、MCP50の光電面側表面と光電面40との間隔は、距離約0.1mm〜約0.3mmであることが好適であり、MCP50の蛍光面側裏面と蛍光面60との間隔は、距離約0.5mm〜約1.0mmであることが好適である。   The distance between the photocathode side surface of the MCP 50 and the photocathode 40 is a distance of about 0.05 mm to about 0.3 mm, and the distance between the back side of the phosphor screen of the MCP 50 and the phosphor screen 60 is a distance of about 0.2 mm. ~ About 1.5 mm. More preferably, the distance between the photocathode side surface of the MCP 50 and the photocathode 40 is preferably a distance of about 0.1 mm to about 0.3 mm, and the gap between the back surface of the MCP 50 on the phosphor screen side and the phosphor screen 60. Is preferably about 0.5 mm to about 1.0 mm.

次に、光電陰極35について詳細に説明する。図4及び図5は、図1及び図2に示す本発明の実施形態に係る光電陰極の構成を示す図である。図4及び図5に示す光電陰極35は、入射窓30と光電面40とを備えており、この入射窓30は第1及び第2の面板31,32と接合部材33とを有している。なお、図4(a)には、光電陰極35が分解されて示されており、図4(b)には、光電陰極35の側面図が示されている。また、図5(a)には、図4(a)におけるV−V線に沿う光電陰極35の断面斜視図が示されており、図5(b)には、図5(a)における光電陰極35の一部拡大断面図が示されている。なお、図4では、図5における電極膜が省略されている。   Next, the photocathode 35 will be described in detail. 4 and 5 are diagrams showing the configuration of the photocathode according to the embodiment of the present invention shown in FIGS. 1 and 2. The photocathode 35 shown in FIGS. 4 and 5 includes an incident window 30 and a photocathode 40, and the incident window 30 includes first and second face plates 31 and 32 and a joining member 33. . 4A shows an exploded view of the photocathode 35, and FIG. 4B shows a side view of the photocathode 35. As shown in FIG. FIG. 5A shows a cross-sectional perspective view of the photocathode 35 taken along the line V-V in FIG. 4A, and FIG. 5B shows the photoelectric in FIG. 5A. A partial enlarged cross-sectional view of the cathode 35 is shown. In FIG. 4, the electrode film in FIG. 5 is omitted.

図4に示すように、第1の面板31は、一方の主面側に突出部を有する2段構造の略円板状をなしている。具体的には、第1の面板31は、略円板状のベース部31aと、このベース部31aより径が小さい略円板状の突出部31bとからなる。突出部31bは、ベース部31aから第1の面板31の一方の主面側に突出するように形成されており、その側面は第1の面板31の一方の主面側に向かって縮径するように傾斜している。第1の面板31における突出部31bの一方の主面は、第2の面板32の一方の主面と対向している。   As shown in FIG. 4, the first face plate 31 has a substantially disc shape with a two-stage structure having a protrusion on one main surface side. Specifically, the first face plate 31 includes a substantially disc-shaped base portion 31a and a substantially disc-shaped protruding portion 31b having a diameter smaller than that of the base portion 31a. The protruding portion 31 b is formed so as to protrude from the base portion 31 a to one main surface side of the first face plate 31, and its side surface is reduced in diameter toward one main surface side of the first face plate 31. So as to be inclined. One main surface of the protruding portion 31 b in the first face plate 31 faces one main surface of the second face plate 32.

第2の面板32は、第1の面板31におけるベース部31aより径が小さく、突出部31bの一方の主面とほぼ径の等しい略円板状をなしている。本実施形態では、第2の面板32の縁部は、面取り処理が行われている。第2の面板32の他方の主面には、光電面40が形成されている。   The second face plate 32 has a substantially disk shape having a diameter smaller than that of the base portion 31a of the first face plate 31 and substantially the same diameter as one main surface of the protruding portion 31b. In the present embodiment, the edge portion of the second face plate 32 is chamfered. A photocathode 40 is formed on the other main surface of the second face plate 32.

これらの第1及び第2の面板31,32の材料には、検出したい波長域の光に対して光透過性を有する材料が用いられ、本実施形態では上記したようにサファイアが用いられている。第1の面板31の厚さ、すなわち、ベース部31aと突出部31bとを合わせた厚さは約5mmであり、第2の面板32の厚さは約0.5mmである(光電面40の厚さを含む)。また、光電面40の材料には、上記したようにGaNが用いられている。   As the material of the first and second face plates 31 and 32, a material having optical transparency with respect to light in a wavelength range to be detected is used, and in this embodiment, sapphire is used as described above. . The thickness of the first face plate 31, that is, the combined thickness of the base portion 31a and the protruding portion 31b is about 5 mm, and the thickness of the second face plate 32 is about 0.5 mm (the photocathode 40 has a thickness of about 45 mm). Including thickness). As described above, GaN is used as the material for the photocathode 40.

第1の面板31の一方の主面と第2の面板32の一方の主面とは、接合部材33によって接合されている。より詳しくは、突出部31bの一方の主面の縁部と面板32の一方の主面の縁部との間に、光電面40への入射光が透過する光透過部を囲むように設けられた、互いの縁部形状に沿って円弧状に設けられた線状の接合部材33によって接合されている。接合部材33には導電性材料が含まれており、導電性樹脂などが用いられてもよい。好ましくは、接合部材33の材料には金属が用いられ、更に好ましくは、アルミニウム(Al)が用いられる。このようにして、第1の面板31の一方の主面と第2の面板32の一方の主面との間には、接合部材33の厚さ分だけ空隙が形成されることとなる。また、接合部材33は複数設けられ、互いの接合部材33が独立して隔離されているので、接合部材33間には、開口が形成され、空隙とイメージインテンシファイア10の内部とが連通することとなる。   One main surface of the first face plate 31 and one main surface of the second face plate 32 are joined by a joining member 33. More specifically, it is provided between the edge portion of one main surface of the protruding portion 31b and the edge portion of one main surface of the face plate 32 so as to surround a light transmitting portion through which incident light to the photocathode 40 is transmitted. Further, they are joined together by linear joining members 33 provided in an arc shape along the edge shape of each other. The bonding member 33 includes a conductive material, and a conductive resin or the like may be used. Preferably, a metal is used for the material of the joining member 33, and aluminum (Al) is more preferably used. Thus, a gap corresponding to the thickness of the joining member 33 is formed between one main surface of the first face plate 31 and one main surface of the second face plate 32. In addition, since a plurality of joining members 33 are provided and the joining members 33 are separated from each other independently, an opening is formed between the joining members 33 so that the air gap communicates with the inside of the image intensifier 10. It will be.

また、図5に示すように、第1及び第2の面板31,32の縁部には、それぞれ、導電膜36,37が形成されている。第1及び第2の面板31,32の導電膜36,37は蒸着によって形成される。例えば、第1の面板31では、1回目の蒸着によって突出部31bの一方の主面の縁部及び側面に導電膜36aが形成され、2回目の蒸着によってベース部31aの一方の主面及び側面、並びに突出部31bの側面に導電膜36bが形成される。これらの導電膜36a,36bによって、第1の面板31には、光透過部となる中央部を囲んだ形で、突出部31bの一方の主面の縁部から側面にかけて連続する導電膜36が形成されることとなる。   Also, as shown in FIG. 5, conductive films 36 and 37 are formed on the edge portions of the first and second face plates 31 and 32, respectively. The conductive films 36 and 37 of the first and second face plates 31 and 32 are formed by vapor deposition. For example, in the 1st face plate 31, the electrically conductive film 36a is formed in the edge and side surface of one main surface of the protrusion part 31b by 1st vapor deposition, and one main surface and side surface of the base part 31a are formed by 2nd vapor deposition. In addition, a conductive film 36b is formed on the side surface of the protruding portion 31b. With these conductive films 36a and 36b, the first face plate 31 has a conductive film 36 that is continuous from the edge to the side of one main surface of the protruding portion 31b so as to surround the central portion serving as the light transmission portion. Will be formed.

一方、第2の面板32では、1回目の蒸着によって一方の主面の縁部及び側面に導電膜37aが形成され、2回目の蒸着によって他方の主面の縁部及び側面に導電膜37bが形成される。これらの導電膜37a,37bによって、第2の面板32には、一方の主面の光透過部および他方の主面の光電面形成部を囲んだ形で、一方の主面の縁部から側面及び他方の主面の縁部にかけて連続する断面コの字状をなす導電膜37が形成されることとなる。   On the other hand, in the 2nd face plate 32, the electrically conductive film 37a is formed in the edge part and side surface of one main surface by 1st vapor deposition, and the electrically conductive film 37b is formed in the edge part and side surface of the other main surface by 2nd vapor deposition. It is formed. By these conductive films 37a and 37b, the second face plate 32 surrounds the light transmitting portion of one main surface and the photocathode forming portion of the other main surface, and from the edge of one main surface to the side surface. In addition, a conductive film 37 having a U-shaped cross section continuous to the edge of the other main surface is formed.

第1の面板31に形成された導電膜36は、突出部31bの一方の主面の縁部において接合部材33に接続されており、ベース部31aの一方の主面及び側面において電極80に電気的に接続されている。一方、第2の面板32に形成された導電膜37は、一方の主面の縁部において接合部材33に電気的に接続されており、他方の主面の縁部において光電面40に電気的に接続されている。このようにして、外部電圧源からリード線90及び電極80を介して印加された高電圧が、第1の面板31に形成された導電膜36、接合部材33及び第2の面板32に形成された導電膜37を介して、光電面40に印加されることとなる。   The conductive film 36 formed on the first face plate 31 is connected to the bonding member 33 at the edge of one main surface of the protruding portion 31b, and is electrically connected to the electrode 80 at one main surface and side surface of the base portion 31a. Connected. On the other hand, the conductive film 37 formed on the second face plate 32 is electrically connected to the bonding member 33 at the edge of one main surface and electrically connected to the photocathode 40 at the edge of the other main surface. It is connected to the. In this way, a high voltage applied from the external voltage source via the lead wire 90 and the electrode 80 is formed on the conductive film 36, the bonding member 33, and the second face plate 32 formed on the first face plate 31. It is applied to the photocathode 40 through the conductive film 37.

次に、本実施形態のイメージインテンシファイア10の動作について説明する。図1及び図2に示すように、外部電圧源から光電面40、MCP50及び蛍光面60に所定の電圧をそれぞれ印加することにより、光電面40とMCP50との間隙と、電子増倍領域51の電子入射面と電子出射面との間に配列されたチャネル管の内側と、MCP50と蛍光面60との間隙とには、蛍光面60から光電面40に向かう電界がそれぞれ発生する。   Next, the operation of the image intensifier 10 of this embodiment will be described. As shown in FIGS. 1 and 2, by applying predetermined voltages from the external voltage source to the photocathode 40, the MCP 50 and the phosphor screen 60, the gap between the photocathode 40 and the MCP 50, the electron multiplication region 51, and the like. Electric fields from the phosphor screen 60 toward the photocathode 40 are respectively generated inside the channel tube arranged between the electron incident surface and the electron exit surface and in the gap between the MCP 50 and the phosphor screen 60.

このとき、第1の光学像として微弱な光hν1 が外部から入射窓30を通過して光電面40に入射した場合、光電面40の価電子帯に位置する電子がその伝導帯に励起し、負の電子親和力作用によって光hν1 の二次元位置情報を保持した光電子e- 1 として真空中に放出される。このように光電面40から放出された光電子e- 1 は、光電面40とMCP50との間隙に発生した電界によって加速され、電子増倍領域51の電子入射側表面に入射する。 At this time, when the weak light hν 1 as the first optical image passes through the incident window 30 and enters the photocathode 40 from the outside, the electrons located in the valence band of the photocathode 40 are excited to the conduction band. , photoelectrons e holding the two-dimensional position information of the light hv 1 by the negative electron affinity action - are emitted into the vacuum as 1. Thus emitted from the photocathode 40 photoelectrons e - 1 are accelerated by an electric field generated in the gap between the photocathode 40 and MCP50, incident on the electron incident surface of the electron multiplying region 51.

すると、MCP50に入射した光電子e- 1 は、チャネル管52の内側に発生した電界によって加速され、チャネル管52の壁面に対する衝突を繰り返しながら移動し、エネルギー約3.6eVを失う毎に一対の電子−正孔対を生成する。この電子−正孔対として生成された電子は、二次電子として光電子e- 1 と同様に電子−正孔対を生成する過程を繰り返す。そのため、光電子e- 1 と比較して増倍した光電子e- 2 が、光hν1 の二次元位置情報を保持してMCP50の蛍光面側表面から放出される。このとき、光電子e- 1 に対する光電子e- 2 のゲインは、印加電圧V2 に起因して約1×103 〜約2×104 に達する。このようにMCP50から放出された光電子e- 2 は、MCP50と蛍光面60との間隙に発生した電界によって加速され、蛍光面60に入射する。 Then, photoelectrons e incident to MCP50 - 1 are accelerated by an electric field generated inside the channel tube 52, and moves while repeatedly colliding against the wall surface of the channel tube 52, a pair of electrons for each lose energy about 3.6eV -Create hole pairs. The electron generated as the electron-hole pair repeats the process of generating an electron-hole pair as a secondary electron in the same manner as the photoelectron e - 1 . Therefore, photoelectrons e - photoelectrons e were compared with 1 to multiplication - 2 is released by holding the two-dimensional position information of the light hv 1 from the phosphor surface side surface of the MCP50. At this time, the gain of the photoelectron e - 2 with respect to the photoelectron e - 1 reaches about 1 × 10 3 to about 2 × 10 4 due to the applied voltage V 2 . Thus, the photoelectrons e 2 emitted from the MCP 50 are accelerated by the electric field generated in the gap between the MCP 50 and the phosphor screen 60 and enter the phosphor screen 60.

蛍光面60に入射した光電子e- 2に対応し、蛍光として発生した光hν2 が出射窓70に入射する。このように出射窓70に入射した光hν2 は、光hν1 の二次元位置情報を保持した第2の光学像として外部に出射される。 Light hν 2 generated as fluorescence corresponding to the photoelectron e 2 incident on the phosphor screen 60 enters the emission window 70. The light hν 2 that has entered the exit window 70 in this manner is emitted to the outside as a second optical image holding the two-dimensional position information of the light hν 1 .

ここで、図6に、光電面のダークカウントの温度特性を示す。図6には、GaAs、GaAsP、Ag−O−Cs、マルチアルカリ、赤感度増強マルチアルカリをそれぞれ材料とした光電面のダークカウント特性が示されている。なお、図6では、光電面の直径を18mmとした。図6によれば、光電面の温度が高いほど、ダークノイズが増加することがわかる。   Here, FIG. 6 shows the dark count temperature characteristic of the photocathode. FIG. 6 shows the dark count characteristics of the photocathode using GaAs, GaAsP, Ag—O—Cs, multialkali, and red sensitivity enhanced multialkali as materials. In FIG. 6, the diameter of the photocathode is 18 mm. FIG. 6 shows that dark noise increases as the temperature of the photocathode increases.

次に、図7に、イメージインテンシファイアのEBI(等価背景入力)の温度特性を示す。ここで、EBIとは、光電面への入射光をゼロとしたときの蛍光面の明るさを、光電面への照度に変換したもので、イメージインテンシファイアの低照度検出限界の目安となるものである。すなわち、イメージインテンシファイアでは、光が入射していない状態でも、EBIの値の光量が入射した際と同じ値の信号(ダーク)を出力してしまうこととなる。これより、イメージインテンシファイアの出力がEBIの値以下である場合、信頼性が低いデータであることとなる。よって、EBIの値は、イメージインテンシファイアの低照度検出限界を表すこととなる。図7によれば、イメージインテンシファイアの環境温度が高いほど、EBIの値が大きくなることがわかる。   Next, FIG. 7 shows temperature characteristics of EBI (equivalent background input) of the image intensifier. Here, EBI is obtained by converting the brightness of the phosphor screen when the incident light on the photocathode is zero to the illuminance on the photocathode, and is a measure of the low illuminance detection limit of the image intensifier. Is. That is, the image intensifier outputs a signal (dark) having the same value as when the amount of light having the EBI value is incident even when no light is incident. Thus, when the output of the image intensifier is equal to or less than the EBI value, the data is low in reliability. Therefore, the value of EBI represents the low illuminance detection limit of the image intensifier. As can be seen from FIG. 7, the EBI value increases as the environmental temperature of the image intensifier increases.

これら図6及び図7より、環境温度の変動に伴って光電面の感度にも変動が見られることがわかる。特に環境温度が高くなると光電面の温度も高くなり、ダークノイズが増加したり、低照度検出限界が大きくなる等、光電面の実質的な感度が低下してしまうと考えられる。また、温度が高くなると光電面の劣化も早くなってしまう。   6 and 7 that the sensitivity of the photocathode changes with the environmental temperature. In particular, when the environmental temperature increases, the temperature of the photocathode also rises, and it is considered that the substantial sensitivity of the photocathode is reduced, such as an increase in dark noise and an increase in the detection limit of low illuminance. Further, when the temperature is increased, the deterioration of the photocathode is accelerated.

しかしながら、本実施形態の光電陰極35によれば、第1の面板31と第2の面板32との間に、空隙が形成されているので、空隙が断熱空間として機能することで第1の面板31と第2の面板32との間の断熱性を向上することができる。したがって、環境温度が変動し、第1の面板31の温度が変動しても、第2の面板32及び光電面40の温度変化を抑制することができ、光電面40の感度の変動を抑制することができる。また、環境温度の上昇の際には光電面40の劣化を抑制することができる。   However, according to the photocathode 35 of the present embodiment, since the gap is formed between the first face plate 31 and the second face plate 32, the first face plate is formed by the gap functioning as a heat insulating space. The heat insulation between 31 and the 2nd face plate 32 can be improved. Therefore, even if the environmental temperature fluctuates and the temperature of the first face plate 31 fluctuates, the temperature change of the second face plate 32 and the photocathode 40 can be suppressed, and the fluctuation of the sensitivity of the photocathode 40 can be suppressed. be able to. Further, the deterioration of the photocathode 40 can be suppressed when the environmental temperature rises.

また、本実施形態の光電陰極35によれば、第1及び第2の面板31,32の縁部にはそれぞれ導電膜36,37が形成されており、第1の面板31の導電膜36と第2の面板32の導電膜37とが接合部材33によって接合されると共に、第2の面板32の導電膜37が光電面40に接続されているので、光電面40が形成された第2の面板32が第1の面板31と離間していても、第2の面板32に形成された導電膜37と接合部材33とを介して、第1の面板31に形成された導電膜36から光電面40に容易に高電圧を供給することができる。   Further, according to the photocathode 35 of the present embodiment, the conductive films 36 and 37 are formed on the edges of the first and second face plates 31 and 32, respectively. The conductive film 37 of the second face plate 32 is joined by the joining member 33 and the conductive film 37 of the second face plate 32 is connected to the photocathode 40, so that the second photocathode 40 is formed. Even if the face plate 32 is separated from the first face plate 31, the photoconductive film 36 formed on the first face plate 31 can be photoelectrically connected via the conductive film 37 formed on the second face plate 32 and the bonding member 33. A high voltage can be easily supplied to the surface 40.

また、本実施形態の光電陰極35によれば、第1及び第2の面板31,32の材料がサファイアであり、且つ光電面40の材料がGaNであるので、光電面40の紫外光領域でより良好な感度を得ることができる。   Further, according to the photocathode 35 of the present embodiment, since the material of the first and second face plates 31 and 32 is sapphire and the material of the photocathode 40 is GaN, in the ultraviolet light region of the photocathode 40. Better sensitivity can be obtained.

また、本実施形態の光電陰極35によれば、接合部材33は金属材料、特にAlで形成されているので、イメージインテンシファイア10の内部でガスなどを放出するおそれがなく、真空度の低下を抑制するとともに、イメージインテンシファイア10の製造時の高温処理下でも安定した接合を得ることができる。例えば、光電面40の材料がGaNである場合、約600℃の高温でヒートクリーニングを行う。その際、接合部材33の融点が低いと、第1の面板31と第2の面板32との接合を保持することが困難である。しかしながら、本実施形態の光電陰極35によれば、GaNのヒートクリーニング温度より高い融点を有するAlを接合部材33の材料として用いているので、GaNのヒートクリーニングの際に、第1の面板31と第2の面板32との接合を保持することができる。   Further, according to the photocathode 35 of the present embodiment, since the joining member 33 is formed of a metal material, particularly Al, there is no risk of releasing gas or the like inside the image intensifier 10, and the degree of vacuum is lowered. In addition, it is possible to obtain a stable joint even under high temperature processing during manufacturing of the image intensifier 10. For example, when the material of the photocathode 40 is GaN, heat cleaning is performed at a high temperature of about 600 ° C. At this time, if the melting point of the bonding member 33 is low, it is difficult to maintain the bonding between the first face plate 31 and the second face plate 32. However, according to the photocathode 35 of the present embodiment, since Al having a melting point higher than the heat cleaning temperature of GaN is used as the material of the bonding member 33, the first face plate 31 and the first face plate 31 are used during the heat cleaning of GaN. Bonding with the second face plate 32 can be maintained.

また、本実施形態の光電陰極35によれば、第2の面板32の縁部において面取り処理が行われているので、第2の面板32に形成された導電膜37が縁部で剥離することを抑制することができ、光電面40への高電圧供給を安定に行うことができる。   Further, according to the photocathode 35 of the present embodiment, since the chamfering process is performed at the edge of the second face plate 32, the conductive film 37 formed on the second face plate 32 is peeled off at the edge. And high voltage supply to the photocathode 40 can be performed stably.

また、本実施形態の光電陰極35によれば、第2の面板32に光電面40を形成してから、第1の面板31と接合することによって光電陰極35を生成することができる。したがって、様々な大きさや厚みの第1の面板31および第2の面板32を組み合わせることで、容易に所望の大きさや厚みを有する光電陰極35を得ることが出来る。さらに、第1の面板31と第2の面板32とで異なる材料を用いることもできる。例えば、第1の面板31の透過波長領域と第2の面板32の透過波長領域とを組み合わせて、所望の透過波長領域を有する入射窓30を得ることもできる。そして、その波長領域で良好な感度を有する光電面40と組合わせることで、所望の波長域で良好な感度を有する光電陰極35を得ることができる。   In addition, according to the photocathode 35 of the present embodiment, the photocathode 35 can be generated by forming the photocathode 40 on the second faceplate 32 and then joining the first faceplate 31. Therefore, the photocathode 35 having a desired size and thickness can be easily obtained by combining the first face plate 31 and the second face plate 32 having various sizes and thicknesses. Further, different materials can be used for the first face plate 31 and the second face plate 32. For example, the incident window 30 having a desired transmission wavelength region can be obtained by combining the transmission wavelength region of the first face plate 31 and the transmission wavelength region of the second face plate 32. And the photocathode 35 which has a favorable sensitivity in a desired wavelength range can be obtained by combining with the photocathode 40 which has a favorable sensitivity in the wavelength range.

本実施形態のイメージインテンシファイア10によれば、上記した光電陰極35を備えているので、温度変化に対しても高い安定性を得ることができる。特に、環境温度の上昇による低照度検出限界の上昇を抑制することができると共に、環境温度の変動による低照度検出限界の低下を抑制することができる。   According to the image intensifier 10 of the present embodiment, since the above-described photocathode 35 is provided, high stability can be obtained even with respect to temperature changes. In particular, an increase in the low illuminance detection limit due to an increase in the environmental temperature can be suppressed, and a decrease in the low illuminance detection limit due to a change in the environmental temperature can be suppressed.

なお、本発明は上記した本実施形態に限定されることなく種々の変形が可能である。電子管として、イメージインテンシファイア以外に、光電管や光電子増倍管、ハイブリッドフォトデテクターに用いても良い。また、光電面はGaN以外の半導体光電面や、アルカリアンチモン系の光電面であっても良い。また、入射窓の材料としては、サファイア以外にも石英等の光透過性材料でも良く、異なる材料同士の組合わせでも良い。また、接合部材もAlに限らず、金(Au)等の金属材料でも良い。   The present invention is not limited to the above-described embodiment, and various modifications can be made. As an electron tube, in addition to an image intensifier, it may be used for a photoelectric tube, a photomultiplier tube, or a hybrid photo detector. The photocathode may be a semiconductor photocathode other than GaN or an alkali antimony photocathode. In addition to sapphire, the entrance window may be a light transmissive material such as quartz, or a combination of different materials. Further, the joining member is not limited to Al, and may be a metal material such as gold (Au).

本発明の実施形態に係るイメージインテンシファイアを一部破断して示す平面図である。FIG. 2 is a plan view showing a partially broken image intensifier according to an embodiment of the present invention. 図1に示すイメージインテンシファイアの一部を、II−II線に沿って示す断面図である。It is sectional drawing which shows a part of image intensifier shown in FIG. 1 along the II-II line. 図1に示すMCPを一部破断して示す斜視図である。FIG. 2 is a perspective view showing a partially broken MCP shown in FIG. 1. 図1及び図2に示す本発明の実施形態に係る光電陰極の構成を示す図である。It is a figure which shows the structure of the photocathode which concerns on embodiment of this invention shown in FIG.1 and FIG.2. 図1及び図2に示す本発明の実施形態に係る光電陰極の構成を示す図である。It is a figure which shows the structure of the photocathode which concerns on embodiment of this invention shown in FIG.1 and FIG.2. 光電面のダークカウントの温度特性を示す図である。It is a figure which shows the temperature characteristic of the dark count of a photocathode. イメージインテンシファイアのEBIの温度特性を示す図である。It is a figure which shows the temperature characteristic of EBI of an image intensifier.

符号の説明Explanation of symbols

10…イメージインテンシファイア、20…外囲器、21…側管部材、22…モールド部材、23…ケース部材、30…入射窓、31…第1の面板、31a…ベース部、31b…突出部、32…第2の面板、33…接合部材、35…光電陰極、36,36a,36b,37,37a,37b…導電膜、40…光電面、50…MCP(電子増倍部)、51…電子増倍領域、52…チャネル管、53…縁部、60…蛍光面、70…出射窓、80〜84…電極、90〜93…リード線。   DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 ... Image intensifier, 20 ... Envelope, 21 ... Side pipe member, 22 ... Mold member, 23 ... Case member, 30 ... Incident window, 31 ... 1st faceplate, 31a ... Base part, 31b ... Projection part , 32 ... second face plate, 33 ... bonding member, 35 ... photocathode, 36, 36a, 36b, 37, 37a, 37b ... conductive film, 40 ... photocathode, 50 ... MCP (electron multiplier), 51 ... Electron multiplication region, 52... Channel tube, 53 .. edge portion, 60... Phosphor screen, 70 .. exit window, 80 to 84.

Claims (9)

光透過性を有し、一方の主面同士が対向する第1及び第2の面板と、
前記第1の面板と前記第2の面板とを接合するための接合部材と、
前記第2の面板の他方の主面に形成された光電面と、
を備え、
前記第1の面板の前記一方の主面と前記第2の面板の前記一方の主面との間には、空隙が形成されている、
光電陰極。
A first face plate and a second face plate that are light transmissive and opposite one main surface;
A joining member for joining the first face plate and the second face plate;
A photocathode formed on the other main surface of the second face plate;
With
A gap is formed between the one main surface of the first face plate and the one main surface of the second face plate.
Photocathode.
前記接合部材の材料は金属である、請求項1に記載の光電陰極。   The photocathode according to claim 1, wherein a material of the joining member is a metal. 前記接合部材の材料はアルミニウムである、請求項2に記載の光電陰極。   The photocathode according to claim 2, wherein a material of the joining member is aluminum. 前記第1の面板は、前記一方の主面に形成された導電膜を有し、
前記第2の面板は、前記一方の主面から前記他方の主面にわたって形成され、前記光電面に接続された導電膜を有し、
前記接合部材は、導電性材料を含み、
前記第1の面板の導電膜と前記第2の面板の導電膜とは、前記接合部材を介して電気的に接続されている、
請求項1に記載の光電陰極。
The first face plate has a conductive film formed on the one main surface,
The second face plate has a conductive film formed from the one main surface to the other main surface and connected to the photocathode.
The joining member includes a conductive material,
The conductive film of the first face plate and the conductive film of the second face plate are electrically connected via the bonding member.
The photocathode according to claim 1.
前記第2の面板の縁部において、面取りが行われている、請求項4に記載の光電陰極。   The photocathode according to claim 4, wherein chamfering is performed at an edge portion of the second face plate. 前記第1及び第2の面板の材料はサファイアである、請求項1に記載の光電陰極。   The photocathode according to claim 1, wherein a material of the first and second face plates is sapphire. 前記光電面の材料は窒化ガリウムである、請求項6に記載の光電陰極。   The photocathode according to claim 6, wherein the material of the photocathode is gallium nitride. 請求項1〜7の何れか1項に記載の光電陰極を備えた電子管。   An electron tube comprising the photocathode according to any one of claims 1 to 7. 請求項8に記載の電子管において、
前記光電陰極から放出された光電子を増倍するための電子増倍部と、
前記電子増倍部から電子を受けて蛍光を発する蛍光面と、
を備える、イメージインテンシファイア。
The electron tube according to claim 8, wherein
An electron multiplier for multiplying photoelectrons emitted from the photocathode;
A fluorescent screen that emits fluorescence by receiving electrons from the electron multiplier;
An image intensifier.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2013061815A1 (en) * 2011-10-25 2013-05-02 浜松ホトニクス株式会社 Electron tube
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