JP2009210308A - Measuring device - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、電流や電圧あるいは温度などの物理量を計測する計測装置に関する。 The present invention relates to a measuring apparatus that measures physical quantities such as current, voltage, and temperature.
一般に、物理量を計測する計測装置においては、メーカの工場出荷時に、測定対象の基準となる標準器と対照することによって計測装置の指示値を修正するための校正値を求め、この校正値を、計測装置の内部メモリに保持させる（メーカ校正）。
このような計測装置として、例えば、温度を計測して所要の制御を行う温度調節器は、熱電対や測温抵抗体からのアナログ入力信号を、上述のようにして求めた校正値を用いて演算し、温度として出力する。
ところで、このような温度調節器は、経年変化による電子部品の劣化などによって温度指示値が、保証精度範囲から逸脱し精度試験で不合格になる場合がある。このため温度調節器は、メーカ出荷後においても、定期的に校正を実施する必要がある（ユーザ校正）。
一般的に計測装置は、校正値の更新ができるように計測装置に標準器を接続して基準信号を与えるとともに、計測装置に備えられた所定のスイッチを操作することによって、例えば更新を促すフラグ情報などが計測装置の内部回路に与えられて、その基準信号に対する指示値（Ａ／Ｄ変換値など）が内部メモリに取り込まれるように構成されている。（例えば、特許文献１を参照）。この特許文献１に記載された計測装置は、内部メモリに保持された校正値がユーザの所要の操作によって書き換えられるようにしているとともに、ユーザによる校正が行われたことが表示されるように構成されている。
As such a measuring device, for example, a temperature regulator that measures temperature and performs necessary control uses an analog input signal from a thermocouple or a resistance temperature detector using the calibration value obtained as described above. Calculate and output as temperature.
By the way, in such a temperature controller, the temperature indication value may deviate from the guaranteed accuracy range due to deterioration of electronic components due to aging, and may fail in the accuracy test. For this reason, it is necessary to periodically calibrate the temperature controller even after shipment from the manufacturer (user calibration).
In general, a measurement device connects a standard device to a measurement device so that a calibration value can be updated, gives a reference signal, and operates a predetermined switch provided in the measurement device, for example, a flag that prompts an update. Information or the like is given to an internal circuit of the measuring device, and an instruction value (A / D conversion value or the like) for the reference signal is taken into an internal memory. (For example, see Patent Document 1). The measuring device described in
上述のように求めた校正値は、例えば、入力信号の下限に対しての校正値や、入力信号の上限に対しての校正値などのように複数のデータにて構成されることが多く、この複数のデータを内部メモリ（不揮発性メモリなど）に保持させる必要がある。したがって従来の計測装置は、内部メモリに保持させた一部の校正値が何らかの原因にて破損してしまった場合、全ての校正作業をやり直す必要があった。この作業量は、計測装置の校正項目毎（例えば、熱電対はチャネル毎）に行わなければならず煩雑であった。
また、メーカ校正時に内部メモリに保持させた校正値がユーザ校正にて書き換えられると、メーカ校正時の校正値が消滅してしまい、メーカ校正時の状態に戻すことができないという問題があった。
また、システムの一部としてユーザに納入された計測装置の校正値の更新が異常終了してしまうと、計測装置の計測処理が実行できなくなり、システムを停止する必要がある。この場合、再度計測装置を校正して校正値を更新し、計測処理が実行できるようになるまで計測処理が実行できないためシステムを稼動させることができないという問題もあった。すなわち、システムの連続運転を必要とするユーザにとって、この校正値の更新は大きな障害（失敗した時のリスク）となっていた。
The calibration value obtained as described above is often composed of a plurality of data such as a calibration value for the lower limit of the input signal and a calibration value for the upper limit of the input signal. It is necessary to hold the plurality of data in an internal memory (nonvolatile memory or the like). Therefore, in the conventional measuring apparatus, when a part of calibration values held in the internal memory is damaged for some reason, it is necessary to redo all the calibration operations. This amount of work has to be done for each calibration item of the measuring device (for example, for each thermocouple channel), which is complicated.
Further, when the calibration value held in the internal memory at the time of the manufacturer calibration is rewritten by the user calibration, the calibration value at the time of the manufacturer calibration disappears and there is a problem that it cannot be restored to the state at the time of the manufacturer calibration.
Further, if the update of the calibration value of the measuring device delivered to the user as a part of the system ends abnormally, the measurement processing of the measuring device cannot be executed, and the system needs to be stopped. In this case, there is also a problem that the system cannot be operated because the measurement process cannot be executed until the measurement apparatus can be executed again by calibrating the measurement device again to update the calibration value. That is, for users who require continuous operation of the system, this calibration value update has been a major obstacle (risk of failure).
また、従来の計測装置は、計測装置の所定のスイッチを操作すると、内部メモリ（不揮発性メモリなど）に保持された校正値の更新を促すフラグが内部回路に伝達されるよう構成されている。このようにフラグがセットされたか否かによって更新処理を実行するように構成された従来の計測装置は、校正値そのものが変化したものか否かを判断することができない。もちろん、更新を目的とする校正値が現在保持されている校正値と同一であった場合や、不手際にてフラグがセットされてしまったように校正値の更新処理が不要である場合でも従来の計測装置は、フラグがセットされる度に更新処理を実行しなければならなかった。このため、この種の計測装置は、不揮発性メモリの書き換え頻度が高く、その寿命を大きく短縮させてしまうという問題があった。
一方、前述したような不要な校正値の更新を避けるため、現在保持されている校正値と更新を目的とする校正値そのものを比較し、校正値の変化を検出する方法も考えられる。しかし、このような方法では校正値の量に応じて、その比較時間が増大するという問題もあった。
更に従来の計測装置は、内部メモリに保持された校正値が破損していた場合、誤った校正値にて校正してしまうため、計測装置の誤動作を招く原因となる。これは、計測装置を実際に稼動させてみて初めて異常に気付くことが多い。更にシステムは誤った校正値を基に動作し、それ故システムが異常な挙動をする可能性もある。そして、異常な挙動のみでは、原因究明に多大な時間を要することも否めなかった。
Further, the conventional measuring apparatus is configured such that when a predetermined switch of the measuring apparatus is operated, a flag for prompting the update of the calibration value held in the internal memory (nonvolatile memory or the like) is transmitted to the internal circuit. The conventional measuring apparatus configured to execute the update process depending on whether or not the flag is set in this way cannot determine whether or not the calibration value itself has changed. Of course, even if the calibration value for the purpose of updating is the same as the calibration value that is currently held, or when the updating process of the calibration value is unnecessary as if the flag was accidentally set, The measuring device had to execute an update process every time the flag was set. For this reason, this type of measuring apparatus has a problem that the rewrite frequency of the nonvolatile memory is high, and the life thereof is greatly shortened.
On the other hand, in order to avoid an unnecessary update of the calibration value as described above, a method of detecting a change in the calibration value by comparing the calibration value currently held with the calibration value itself for the update is also conceivable. However, such a method has a problem that the comparison time increases in accordance with the amount of the calibration value.
Furthermore, the conventional measuring apparatus calibrates with an incorrect calibration value when the calibration value held in the internal memory is damaged, which causes a malfunction of the measuring apparatus. This is often noticed only when the measuring device is actually operated. In addition, the system operates based on incorrect calibration values, and therefore the system may behave abnormally. And it was undeniable that the abnormal investigation alone required a great deal of time to investigate the cause.
本発明は、上記のような問題点を鑑みてなされたものであり、その目的は、破損した校正値の修復時間を節約し、不要な校正値の更新を防止する計測装置を提供することにある。
また、本発明は、校正値の更新が異常終了しても、継続して計測処理を実行できる信頼性の高い計測装置を提供することにある。
更に本発明は、破損した校正値を初期起動時に検出したとき、計測装置を稼動せずに（計測を実行しない）、その破損した校正値を的確に通知する信頼性の高い計測装置を提供することにある。
The present invention has been made in view of the above problems, and an object of the present invention is to provide a measuring device that saves time for repairing a damaged calibration value and prevents unnecessary updating of the calibration value. is there.
It is another object of the present invention to provide a highly reliable measurement apparatus that can continuously perform measurement processing even when the calibration value update ends abnormally.
Furthermore, the present invention provides a highly reliable measurement device that accurately notifies the damaged calibration value without operating the measurement device (not performing measurement) when a damaged calibration value is detected at the initial startup. There is.
上述した目的を達成するため本発明の請求項１に係る計測装置は、校正値およびこの校正値の正当性を検証するための第一のチェックコードを保持する第一の記憶部と、校正値を保持する第二の記憶部と、この第二の記憶部に校正値を転送する第一の転送手段と、第二の記憶部に保持された校正値からこの校正値の正当性を検証するための第二のチェックコードを所定の周期で算出するチェックコード算出手段と、この算出された第二のチェックコードと第一のチェックコードとを比較するチェックコード比較手段と、このチェックコード比較手段によって第一のチェックコードと第二のチェックコードとが相違したと判定されたとき、第二の記憶部に保持された校正値および第二のチェックコードを第一の記憶部にそれぞれ転送する第二の転送手段とを備えることを特徴とする。
請求項２に係る計測装置は、校正値およびこの校正値の正当性を検証するための第一のチェックコードを保持する第一の記憶部と、第一の記憶部よりもアクセスタイムが速い第二の記憶部と、第二の記憶部に校正値および第一のチェックコードを転送する第一の転送手段と、第二の記憶部に保持された校正値からこの校正値の正当性を検証するための第二のチェックコードを所定の周期で算出するチェックコード算出手段と、この算出された第二のチェックコードと第二の記憶部に保持された第一のチェックコードとを比較するチェックコード比較手段と、このチェックコード比較手段によって第一のチェックコードと第二のチェックコードとが相違したと判定されたとき、第二の記憶部に保持された校正値および第二のチェックコードを第一の記憶部にそれぞれ転送する第二の転送手段とを備えることを特徴とする。
In order to achieve the above-described object, a measuring apparatus according to
The measuring device according to
請求項３に記載の計測装置は、校正値およびこの校正値の正当性を検証するための第一のチェックコードを複数の所定のグループに予め分類してそれぞれ保持し、計測装置の初期起動時に、予め分類して保持された校正値毎に各校正値の正当性を検証するチェックコードをそれぞれ算出するチェックコード算出手段と、このチェックコード算出手段によって算出された複数のチェックコードとこのチェックコードに対応する第一のチェックコードとをそれぞれ比較するチェックコード比較手段と、このチェックコード比較手段によってチェックコードが相違したと判定されたとき、相違したチェックコードが含まれるグループを通知する通知手段とを備えることを特徴とする。
請求項４に記載の計測装置は、 請求項１または請求項２に記載の計測装置であり、第一の記憶部は、予め複数の所定のグループに分類された校正値および第一のチェックコードをそれぞれ保持し、チェックコード算出手段は、計測装置の初期起動時に、予め分類して保持された校正値毎に各校正値の正当性を検証するためのチェックコードをそれぞれ算出し、チェックコード比較手段は、算出された複数のチェックコードとこのチェックコードに対応する第一のチェックコードとをそれぞれ比較し、このチェックコード比較手段によってチェックコードが相違したと判定されたとき、相違したチェックコードが含まれるグループを通知する通知手段とを備えることを特徴とする。
The measuring apparatus according to claim 3 categorizes and holds the calibration value and the first check code for verifying the validity of the calibration value in advance into a plurality of predetermined groups, respectively, and at the time of initial startup of the measuring apparatus Check code calculation means for calculating a check code for verifying the correctness of each calibration value for each calibration value previously classified and stored, a plurality of check codes calculated by the check code calculation means, and the check code Check code comparison means for comparing the first check code corresponding to each of the check code, and a notification means for notifying a group including the different check code when the check code comparison means determines that the check code is different. It is characterized by providing.
The measuring device according to claim 4 is the measuring device according to
請求項５に記載の計測装置は、最初に計測装置を校正したときの初期校正値を保持する初期校正値記憶部と、校正値およびこの校正値の正当性を検証するための第一のチェックコードを保持する第一の記憶部と、校正値を保持する第二の記憶部と、校正値を第二の記憶部に転送する第一の転送手段と、第二の記憶部に保持された校正値からこの校正値の正当性を検証するための第二のチェックコードを所定の周期で算出するチェックコード算出手段と、この算出された第二のチェックコードと第一のチェックコードとを比較するチェックコード比較手段と、このチェックコード比較手段によって第一のチェックコードと第二のチェックコードとが相違したと判定されたとき、第二の記憶部に保持された校正値および第二のチェックコードを第一の記憶部にそれぞれ転送する第二の転送手段と
を備えることを特徴とする。
請求項６に記載の計測装置は、請求項５に記載の計測装置に加えて第二の転送手段によって第二の記憶部に保持された校正値および第二のチェックコードがそれぞれ第一の記憶部に正常に転送されたか否かを判定する転送判定手段と、この転送判定手段により第二の転送が異常であると判定されたとき、初期校正値にて入力信号を校正する計測処理手段とを備えることを特徴とする。
The measurement apparatus according to claim 5 includes an initial calibration value storage unit that holds an initial calibration value when the measurement apparatus is first calibrated, and a first check for verifying the calibration value and the validity of the calibration value. A first storage unit for holding the code, a second storage unit for holding the calibration value, a first transfer means for transferring the calibration value to the second storage unit, and a second storage unit The check code calculation means for calculating the second check code for verifying the correctness of the calibration value from the calibration value at a predetermined cycle is compared with the calculated second check code and the first check code. Check code comparison means, and when the check code comparison means determines that the first check code and the second check code are different, the calibration value held in the second storage unit and the second check code Code Characterized in that it comprises a second transfer means for transferring the storage unit respectively.
In the measuring device according to claim 6, in addition to the measuring device according to claim 5, the calibration value and the second check code held in the second storage unit by the second transfer unit are respectively stored in the first memory. A transfer determination unit that determines whether or not the transfer has been normally performed, and a measurement processing unit that calibrates the input signal with an initial calibration value when the transfer determination unit determines that the second transfer is abnormal. It is characterized by providing.
請求項７に記載の計測装置は、最初に計測装置を校正したときの初期校正値を保持する初期校正値記憶部と、校正値およびこの校正値の正当性を検証するための第一のチェックコードを保持する第一の記憶部と、この第一の記憶部よりもアクセスタイムが速い第二の記憶部と、校正値および第一のチェックコードを第二の記憶部に転送する第一の転送手段と、第二の記憶部に保持された校正値からこの校正値の正当性を検証するための第二のチェックコードを所定の周期で算出するチェックコード算出手段と、この算出された第二のチェックコードと第二の記憶部に保持された第一のチェックコードとを比較するチェックコード比較手段と、このチェックコード比較手段によって第一のチェックコードと第二のチェックコードとが相違したと判定されたとき、第二の記憶部に保持された校正値および第二のチェックコードを第一の記憶部にそれぞれ転送する第二の転送手段とを備えることを特徴とする。
請求項８に記載の計測装置は、請求項７に記載の計測装置に加えて第二の転送手段によって第二の記憶部に保持された校正値および第二のチェックコードがそれぞれ第一の記憶部に正常に転送されたか否かを判定する転送判定手段と、この転送判定手段により第二の転送が異常であると判定されたとき、初期校正値にて入力信号を校正する計測処理手段とを備えることを特徴とする。
The measuring apparatus according to claim 7 includes an initial calibration value storage unit that holds an initial calibration value when the measuring apparatus is first calibrated, and a first check for verifying the calibration value and the validity of the calibration value. A first storage unit for holding a code, a second storage unit having an access time faster than the first storage unit, and a first storage unit for transferring the calibration value and the first check code to the second storage unit. Transfer means, check code calculation means for calculating a second check code for verifying the correctness of the calibration value from the calibration value held in the second storage unit at a predetermined period, and the calculated first code The check code comparing means for comparing the second check code and the first check code held in the second storage unit, and the first check code and the second check code are different by the check code comparing means. When When a constant, characterized in that it comprises a second transfer means for transferring each calibration value held in the second storage unit and the second check code in the first memory unit.
In the measuring device according to claim 8, in addition to the measuring device according to claim 7, the calibration value and the second check code held in the second storage unit by the second transfer unit are respectively stored in the first memory. A transfer determination unit that determines whether or not the transfer has been normally performed, and a measurement processing unit that calibrates the input signal with an initial calibration value when the transfer determination unit determines that the second transfer is abnormal. It is characterized by providing.
請求項９に記載の計測装置は、請求項１〜８のいずれかに記載の計測装置であり、第一および第二のチェックコードは、校正値を順次加算して合計値とした、ＳＵＭ値であることを特徴とする。
The measuring device according to claim 9 is the measuring device according to any one of
本発明の請求項１に係る構成によれば、校正値およびこの校正値の正当性を検証するための第一のチェックコードを第一の記憶部（例えば、不揮発性メモリ）に保持し、この校正値を第二の記憶部に転送した後、第二の記憶部が保持した校正値の正当性を検証するための第二のチェックコードを所定の周期で算出する計測装置が提供される。
したがって、本発明の請求項１に係る計測装置は、この算出された第二のチェックコードと第一のチェックコードとを比較しそれが相違したとき、第二の記憶部に保持された校正値およびこの校正値から算出されたチェックコードを第一の記憶部にそれぞれ転送する構成としたので、校正値を更新するためのモード変更をすることなく計測装置が稼動状態のまま校正値を更新することができる。更に本発明の計測装置は、不要な校正値の更新を阻止することができるので、不揮発性メモリの劣化を防止することができる。
すなわち、本発明の請求項１に係る計測装置は、モードを変更することなく校正値を更新でき、且つ長寿命な計測装置を提供することができる。
本発明の請求項２に係る構成によれば、校正値およびこの校正値の正当性を検証するための第一のチェックコードを第一の記憶部（例えば、不揮発性メモリ）に保持し、この校正値および第一のチェックコードを第一の記憶部よりもアクセスタイムが速い第二の記憶部（ＳＲＡＭ）に転送した後、第二の記憶部が保持した校正値の正当性を検証するための第二のチェックコードを所定の周期で算出する計測装置が提供される。
According to the configuration of the first aspect of the present invention, the calibration value and the first check code for verifying the validity of the calibration value are held in the first storage unit (for example, a non-volatile memory). After transferring the calibration value to the second storage unit, a measuring device is provided that calculates a second check code for verifying the correctness of the calibration value held in the second storage unit at a predetermined cycle.
Therefore, the measuring device according to
That is, the measurement apparatus according to
According to the configuration of the second aspect of the present invention, the calibration value and the first check code for verifying the validity of the calibration value are held in the first storage unit (for example, a non-volatile memory). In order to verify the correctness of the calibration value held in the second storage unit after transferring the calibration value and the first check code to the second storage unit (SRAM) whose access time is faster than that of the first storage unit. There is provided a measuring device that calculates the second check code at a predetermined cycle.
したがって本発明の請求項２に係る計測装置は、この算出された第二のチェックコードと第二の記憶部に保持された第一のチェックコードとを比較しそれが相違したとき、第二の記憶部に保持された校正値およびこの校正値から算出された第二のチェックコードを第一の記憶部にそれぞれ転送する構成としたので、校正値を更新するためのモード変更をすることなく計測装置が稼動状態のまま校正値を高速に更新することができる。更に本発明の請求項２に係る計測装置は、不要な校正値の更新を阻止することができるので、不揮発性メモリの劣化を防止することができる。
すなわち、本発明の請求項２に係る計測装置は、モードを変更することなく高速に校正値を更新でき、且つ長寿命な計測装置を提供することができる。
また、本発明の請求項３に係る構成によれば、校正値およびこの校正値の正当性を検証するための第一のチェックコードを複数の所定のグループに予め分類してそれぞれを記憶部（例えば、不揮発性メモリ）に保持する計測装置が提供される。したがって本発明の請求項３に係る計測装置は、計測装置の初期起動時に、分類保持された校正値毎に各校正値の正当性を検証するためのチェックコードをそれぞれ算出し、この算出された複数のチェックコードとこの複数のチェックコードに対応する第一のチェックコードとをそれぞれ比較する。そして、本発明の請求項３に係る計測装置は、そのいずれかが相違したとき相違したチェックコードが含まれるグループを通知する構成とした。このためユーザは破損した校正値のグループを容易に知ることができる。
Therefore, the measuring device according to
That is, the measurement apparatus according to
According to the configuration of
また、本発明の請求項４に係る構成によれば、請求項１または請求項２に記載した発明の構成に加えて、記憶部（例えば、不揮発性メモリ）は、校正値およびこの校正値の正当性を検証するための第一のチェックコードを複数の所定のグループに予め分類してそれぞれを保持している。そして本発明の請求項４に係る計測装置は、計測装置の初期起動時に、分類保持された校正値毎に各校正値の正当性を検証するためのチェックコードをそれぞれ算出し、この算出された複数のチェックコードとこの複数のチェックコードに対応する第一のチェックコードとをそれぞれ比較し、そのいずれかが相違したとき、相違したチェックコードが含まれるグループを通知する構成とした。したがってユーザは、破損した校正値のグループを容易に知ることができると共に、破損した校正値のグループに属する校正作業のみを実施し、そのグループの校正値を修復すれば良い。このため本発明の請求項４に係る計測装置は、修復時間を飛躍的に短縮（節約）することができる。
また、本発明の請求項５に係る構成によれば、最初に計測装置を校正したときの初期校正値を初期校正値記憶部（例えば、不揮発性メモリ）に保持し、その後、計測装置を校正したときの校正値およびこの校正値の正当性を検証するための第一のチェックコードを第一の記憶部（例えば、不揮発性メモリ）に保持し、この第一の記憶部（例えば、不揮発性メモリ）に保持された校正値を第二の記憶部に転送した後、第二の記憶部が保持した校正値の正当性を検証するための第二のチェックコードを所定の周期で算出する計測装置が提供される。そして本発明の請求項５に係る計測装置は、この算出された第二のチェックコードと第一のチェックコードとを比較しそれらが相違したとき、第二の記憶部に保持された校正値およびこの校正値から算出された第二のチェックコードを第一の記憶部（不揮発性メモリ）にそれぞれ転送する構成としたので、計測装置が稼動状態（校正値を更新するためのモード変更などなく）のまま校正値を更新することでき、また、不要な校正値の更新を阻止することができるので不揮発性メモリの劣化を防止することができる。
According to the configuration of claim 4 of the present invention, in addition to the configuration of the invention described in
According to the fifth aspect of the present invention, the initial calibration value when the measuring device is first calibrated is held in the initial calibration value storage unit (for example, a non-volatile memory), and then the measuring device is calibrated. The first check code for verifying the calibration value and the correctness of the calibration value in the first storage unit (for example, a non-volatile memory), and the first storage unit (for example, the non-volatile type) Measurement for calculating a second check code for verifying the correctness of the calibration value held in the second storage unit at a predetermined cycle after transferring the calibration value held in the memory) to the second storage unit An apparatus is provided. The measuring device according to claim 5 of the present invention compares the calculated second check code and the first check code, and when they are different, the calibration value held in the second storage unit and Since the second check code calculated from the calibration value is transferred to the first storage unit (non-volatile memory), the measuring device is in an operating state (without changing the mode for updating the calibration value). The calibration value can be updated as it is, and the unnecessary update of the calibration value can be prevented, so that the deterioration of the nonvolatile memory can be prevented.
更に本発明の請求項５に係る計測装置は、校正値の更新が異常終了した場合であっても、最初に校正したときの校正値が残るので、計測装置を初期の校正状態に戻すことができる。
また、本発明の請求項６に係る構成によれば、請求項５に記載の構成に加えて、第二の記憶部に保持された校正値およびこの校正値から算出された第二のチェックコードを第一の記憶部（不揮発性メモリ）にそれぞれ正常に転送されたか否かを判定する計測装置が提供される。本発明の請求項６に係る計測装置は、この転送が異常終了したと判定したとき、最初に計測装置を校正したときの校正値を基に入力信号を校正する構成としたので、第一の記憶部（例えば、不揮発性メモリ）に保持された校正値の更新が異常終了した場合であっても、最初に校正したときの校正値に切り替えて計測処理を継続することができる。
また、本発明の請求項７に係る構成によれば、最初に計測装置を校正したときの初期校正値を初期校正値記憶部（例えば、不揮発性メモリ）に保持し、その後計測装置を校正したときの校正値およびこの校正値の正当性を検証するための第一のチェックコードを第一の記憶部（例えば、不揮発性メモリ）に保持し、この第一の記憶部（例えば、不揮発性メモリ）に保持された校正値および第一のチェックコードを第一の記憶部よりもアクセスタイムが速い第二の記憶部（例えば、ＲＡＭ）に転送した後、第二の記憶部が保持した校正値の正当性を検証するための第二のチェックコードを所定の周期で算出する計測装置が提供される。したがって本発明の請求項７に係る計測装置は、この算出された第二のチェックコードと第二の記憶部に保持された第一のチェックコードとを比較しそれが相違したとき、第二の記憶部に保持された校正値およびこの校正値から算出された第二のチェックコードを第一の記憶部（不揮発性メモリ）にそれぞれ転送する構成としたので、校正値を更新するためのモード変更などをすることなく計測装置が稼動状態のまま高速に校正値を更新することでき、また、不要な校正値の更新を阻止することができるので不揮発性メモリの劣化を防止することができる。
Furthermore, the measurement device according to claim 5 of the present invention can return the measurement device to the initial calibration state because the calibration value at the first calibration remains even when the update of the calibration value is abnormally terminated. it can.
According to the configuration of claim 6 of the present invention, in addition to the configuration of claim 5, the calibration value held in the second storage unit and the second check code calculated from the calibration value Is provided to determine whether or not each has been normally transferred to the first storage unit (nonvolatile memory). Since the measuring device according to claim 6 of the present invention is configured to calibrate the input signal based on the calibration value when the measuring device is first calibrated when it is determined that the transfer has ended abnormally, Even when the update of the calibration value held in the storage unit (for example, the nonvolatile memory) is abnormally terminated, the measurement process can be continued by switching to the calibration value at the time of the first calibration.
According to the configuration of claim 7 of the present invention, the initial calibration value when the measurement device is first calibrated is held in the initial calibration value storage unit (for example, a nonvolatile memory), and then the measurement device is calibrated. Calibration value and a first check code for verifying the correctness of the calibration value are held in a first storage unit (for example, a non-volatile memory), and the first storage unit (for example, a non-volatile memory) ) And the first check code are transferred to the second storage unit (for example, RAM) whose access time is faster than that of the first storage unit, and then the calibration value held by the second storage unit. There is provided a measuring device that calculates a second check code for verifying the validity of the data at a predetermined cycle. Therefore, the measuring device according to claim 7 of the present invention compares the calculated second check code with the first check code held in the second storage unit, and when it is different, Since the calibration value stored in the storage unit and the second check code calculated from this calibration value are transferred to the first storage unit (non-volatile memory), the mode is changed to update the calibration value. The calibration value can be updated at high speed while the measuring apparatus is in an operating state without performing any other operation, and unnecessary update of the calibration value can be prevented, so that the deterioration of the nonvolatile memory can be prevented.
更に本発明の請求項７に係る計測装置は、校正値の更新が異常終了した場合であっても、最初に校正したときの校正値を保持しているので、計測装置を最初に校正した状態に戻すことができる。
また、本発明の請求項８に係る構成によれば、請求項６に記載の構成に加えて、第二の記憶部に保持された校正値およびこの校正値から算出された第二のチェックコードを第一の記憶部（例えば、不揮発性メモリ）にそれぞれ正常に転送されたか否かを判定する計測装置が提供される。したがって本発明の請求項８に係る計測装置は、この転送が異常終了したと判定したとき、最初に計測装置を校正したときの校正値を基に入力信号を校正する構成としたので、第一の記憶部（例えば、不揮発性メモリ）に保持された校正値の更新が異常終了した場合であっても、最初に校正したときの校正値に切り替えて計測処理を継続することができる。
また、本発明の請求項９に係る構成によれば、一般的に広く知られたＳＵＭ値をチェックコード（第一のチェックコード、第二のチェックコード）としたので、特殊な計算を必要としない簡単な加算プログラムでチェックコード算出手段を実現することができる。
Furthermore, the measuring apparatus according to claim 7 of the present invention holds the calibration value when the calibration is first performed even when the update of the calibration value is abnormally ended, so that the measurement apparatus is first calibrated. Can be returned to.
According to the configuration of claim 8 of the present invention, in addition to the configuration of claim 6, the calibration value held in the second storage unit and the second check code calculated from the calibration value Is provided to determine whether or not each has been normally transferred to a first storage unit (for example, a non-volatile memory). Therefore, the measuring device according to claim 8 of the present invention is configured to calibrate the input signal based on the calibration value when the measuring device is first calibrated when it is determined that the transfer has ended abnormally. Even when the update of the calibration value held in the storage unit (for example, a non-volatile memory) ends abnormally, the measurement process can be continued by switching to the calibration value at the time of the first calibration.
According to the configuration of claim 9 of the present invention, since the SUM value that is generally known is used as a check code (first check code, second check code), a special calculation is required. The check code calculation means can be realized with a simple addition program that does not.
以下、本発明の好適な実施形態について図１〜図７の図面を基に説明する。尚、これらの図面は本発明の一実施形態を説明するための図面であって、これらの図面によって本発明が限定されるものではない。
DESCRIPTION OF EXEMPLARY EMBODIMENTS Hereinafter, preferred embodiments of the invention will be described with reference to the drawings of FIGS. These drawings are for explaining an embodiment of the present invention, and the present invention is not limited by these drawings.
図１は、本発明の実施例１に係る計測装置の内部構成図である。図１において、１００は本発明の計測装置であり、１０５は図示しないセンサなどから信号が与えられる入力部（被計測対象の状態に応じて所定の電気信号に変換した信号を生成する）、１０７は測定結果などを表示する表示部、１０８は各種設定操作などをする操作部、１０４は計測装置がネットワーク１１０を介して図示しない他の装置と通信する通信部である。
１０２は、計測装置の校正値を保持するＥ2ＰＲＯＭやフラッシュメモリなどの不揮発性メモリ（第一の記憶部）、１０３はＳＲＡＭ（スタティックＲＡＭ）などの作業メモリ（第二の記憶部）、１０６は図示しない外部機器に制御信号などを与える出力部、１０１は、不揮発性メモリ１０２が保持した校正値により入力部１０５からの信号を校正した出力値を生成する変換部である。
尚、以後に記載の本発明にて扱うＳＵＭ値（チェックコード）は、データの正当性をチェックするためのコードとして広く一般的に知られたチェックコードであり、本発明では複数の校正値を順次加算して得たものである。
変換部１０１は、不揮発性メモリ１０２に保持された校正値およびこの校正値のＳＵＭ値（第一のチェックコード）を作業メモリ１０３に転送する第一の転送手段１０１ａと、校正値を順番に加算していき、その合計値（ＳＵＭ値）を求めるチェックコード算出手段１０１ｂと、作業メモリ１０３に転送され保持されたＳＵＭ値（第一のチェックコード）と作業メモリ１０３に転送され保持された校正値に対して算出したＳＵＭ値（第二のチェックコード）とを比較するチェックコード比較手段１０１ｃと、作業メモリ１０３に保持された校正値とこの校正値から算出したＳＵＭ値（第二のチェックコード）を不揮発性メモリ１０２に転送する第二の転送手段１０１ｄとを備える。
FIG. 1 is an internal configuration diagram of a measuring apparatus according to
The SUM value (check code) handled in the present invention described later is a check code that is widely known as a code for checking the validity of data. In the present invention, a plurality of calibration values are used. It is obtained by sequential addition.
The
これら第一の転送手段１０１ａ、チェックコード算出手段１０１ｂ、チェックコード比較手段１０１ｃおよび第二の転送手段１０１ｄは、いずれも変換部１０１の内部メモリ（不図示）に保持されるプログラムである。
また、本発明の実施例１に係る計測装置は、変換部１０１や入力部１０５、出力部１０６などのそれぞれの構成要素を各々モジュール構成にしても実現可能である。
概略的には上述したように構成された本発明の実施例１に係る計測装置１００が特徴とするところは、不揮発性メモリに保持された計測装置の校正値（オリジナル校正値）を作業メモリに保持しておき、この作業メモリに保持された校正値が更新されると、この更新を検知し、校正値を更新するためのモード変更を行うことなく校正値を更新する点にある。
このような特徴を備えた本発明の実施例１に係る計測装置の動作について、より詳細に説明する。
本発明の実施例１に係る計測装置１００は、変換部１０１が不揮発性メモリ１０２に保持された校正値を参照し、その校正値により入力信号を校正して出力値を生成する。そして、ユーザが校正値を更新するには、計測装置に標準器（不図示）を接続して基準信号を与えるとともに、操作部１０８が備える所定のスイッチ（不図示）を操作する。計測装置１００は、このスイッチが操作されることによって、その基準信号に対する指示値（Ａ／Ｄ変換値など）を不揮発性メモリ１０２に保持するように構成されている。もしくは、ネットワーク１１０を介して、通信部１０４が校正値をダウンロードし、このダウンロードした校正値を変換部１０１が不揮発性メモリ１０２に保持するようにしても良い。或いは不揮発性メモリ１０２を着脱可能な記憶装置（例えば、メモリカード、ハードディスクモジュール等の補助記憶装置）として構成し、所定の校正値をこの記憶装置に予め保持させるように構成してもかまわない。要は、本発明の計測装置に所定の校正値が予め保持されるように構成されれば、校正値の保持形態が限定されるものではない。
The
In addition, the measuring apparatus according to the first embodiment of the present invention can be realized by configuring each component such as the
Schematically, the measuring
The operation of the measuring apparatus according to the first embodiment of the present invention having such features will be described in more detail.
In the measuring
図２は、本発明の実施例１に係る計測装置１００のメモリ情報を示す図である。図２（ａ）は、不揮発性メモリ１０２に割り付けられたメモリ情報を示す図である。ちなみに作業メモリ１０３は、第一の記憶部を構成する不揮発性メモリ１０２よりもアクセスタイムが速いＳＲＡＭなどを用いる。
図２（ａ）において、２００は、不揮発性メモリ１０２の所定のアドレスに割り付けられた校正値領域である。この校正値領域２００には、変換部１０１が入力部１０５からの信号を校正する際に用いる後述（図３の説明）の所定のグループ毎に分類されたＡグループ校正値２０１およびＢグループ校正値２０３が保持される。２０２は、Ａグループ校正値２０１を基に算出されたＡグループＳＵＭ値であり、２０４はＢグループ校正値２０３を基に算出されたＢグループＳＵＭ値である。
図２（ｂ）は、作業メモリ１０３に割り付けられたメモリ情報を示す図である。この図において、２２０は、変換部１０１が、前述した校正値領域２００に保持された校正値（２０１，２０３）およびこれらのＳＵＭ値（２０２，２０４）の退避や更新をするための更新データ領域である。Ａグループ更新データ領域２２１は、変換部１０１が前述したＡグループ校正値２０１を退避したり、校正値の更新時には通信部１０４や操作部１０８によって格納された更新データを保持する領域である。ＡグループＳＵＭ更新領域２２２は、変換部１０１が前述したＡグループＳＵＭ値２０２を退避したり、このＳＵＭ値２０２を更新するためのデータを保持する領域である。
FIG. 2 is a diagram illustrating memory information of the
In FIG. 2A,
FIG. 2B is a diagram illustrating memory information allocated to the
また、Ｂグループ更新データ領域２２３は、変換部１０１が前述したＢグループ校正値２０３を退避したり、校正値更新時には通信部１０４や操作部１０８によって格納された更新データを保持する領域である。ＢグループＳＵＭ更新領域２２４は、変換部１０１が前述したＢグループＳＵＭ値２０４を退避したり、このＳＵＭ値２０４を更新するためのデータを保持する領域である。
さて、図３は、計測装置の校正値を複数の所定のグループに分類した一例を示した図である。
図３（ａ）において、No.１〜No.ｎの分類は、この計測装置の入力部１０５に接続される機器
（センサとして例えば熱電対、測温抵抗体やサーミスタなどの温度測定用センサ）毎に校正値をグループ分けした分類の一例である。この場合、熱電対の校正値が図２に記載のＡグループ校正値２０１に相当し、測温抵抗体の校正値が図２に記載のＢグループ校正値２０３に相当する。更に、サーミスタなどの校正値はｎグループとして図２に記載の校正値領域２００に割付けられる（図２には不図示）。
The B group
FIG. 3 is a diagram showing an example in which the calibration values of the measuring device are classified into a plurality of predetermined groups.
In FIG. 3A, the classification of No. 1 to No. n is equipment connected to the
また、図３（ｂ）は、この計測装置が複数チャネルの熱電対に接続される場合における校正値をグループ分けした一例である。図３（ｂ）において、熱電対のチャネル１の校正値が図２に記載のＡグループ校正値２０１に相当し、熱電対のチャネル２の校正値が図２に記載のＢグループ校正値２０３にそれぞれ相当する。熱電対のチャネルが更に存在する場合、そのチャネル分の校正値がそれぞれグループ分けされ、図２に記載の校正値領域２００に割付けられる（図２には不図示）。
同様、図３において、各校正項目について説明する。オフセット校正値は、計測装置１００の入力部１０５に入力（値）をゼロとした入力信号を与えたときの入力部１０５が次段の変換部１０１へ与える値（Ａ／Ｄ変換値など）を不揮発性メモリ１０２に保持させた値であり、変換部１０１はこの値を入力（値）ゼロとして扱うことにより入力信号（値）を校正して出力値とする。
またゲイン校正値は、計測装置１００の入力部１０５に入力（値）をその装置に定められた仕様の最大（値）としたときの入力部１０５が出力する値（Ａ／Ｄ変換値など）をメモリに保持させた値であり、変換部１０１はこの値を入力（値）の最大値として扱うことにより入力信号（値）を校正して出力値とする。このように、入力部１０５が次段の変換部１０１へ与える信号（値）の誤差を補正し出力値とすることにより、計測装置の保証精度を保つようにする。
FIG. 3B is an example in which calibration values are grouped when this measuring apparatus is connected to a thermocouple of a plurality of channels. In FIG. 3B, the calibration value of the
Similarly, in FIG. 3, each calibration item will be described. The offset calibration value is a value (such as an A / D conversion value) that the
Further, the gain calibration value is a value (A / D conversion value, etc.) output by the
また、冷接点校正値は、熱電対での計測精度を高めるために、計測装置の端子温度（冷接点温度）をより正確に求めることを目的とした校正値である。計測装置はこの冷接点校正値を基に計測装置の端子（冷接点）温度を校正する。
このように、計測装置の校正値は、計測装置に接続される所定の機器（センサ）毎にグループに分類されて不揮発性メモリ１０２にそれぞれ保持されたり、複数のチャネルを備えるセンサのチャネル毎にグループに分類されて不揮発性メモリ１０２にそれぞれ保持される。
図４は、本発明の実施例１に係る、計測装置の動作を説明するフローチャートである。図４を参照しながら本発明の詳細説明をする。ここでは起動後、計測装置の初期化を目的とする状態を初期起動フェーズ（Ｓ３０１〜Ｓ３０３）とし、初期化以降の通常の運用状態を運用フェーズ（Ｓ３０４以降）とし、計測装置を停止する異常状態を異常フェーズ（Ｓ３２０）と定義する。また、本実施例にて説明するＳＵＭ値の算出を行うチェックコード算出手段１０１ｂは、変換部１０１が校正値を順次加算し、合計値とする変換部１０１が実行するプログラムである。
さて、Ｓ３０１において、変換部１０１は、グループ毎に分類保持されたＡグループ校正値２０１およびＢグループ校正値２０３のそれぞれのＳＵＭ値を算出し、変換部１０１内の図示しない退避領域にそれぞれ転送する。
The cold junction calibration value is a calibration value for the purpose of more accurately obtaining the terminal temperature (cold junction temperature) of the measuring device in order to increase the measurement accuracy with the thermocouple. The measuring device calibrates the terminal (cold junction) temperature of the measuring device based on the cold junction calibration value.
As described above, the calibration value of the measuring device is classified into groups for each predetermined device (sensor) connected to the measuring device and held in the
FIG. 4 is a flowchart for explaining the operation of the measuring apparatus according to the first embodiment of the present invention. The present invention will be described in detail with reference to FIG. Here, after startup, the state for the purpose of initializing the measuring device is the initial startup phase (S301 to S303), the normal operating state after initialization is the operating phase (S304 and later), and an abnormal state in which the measuring device is stopped Is defined as an abnormal phase (S320). The check code calculation means 101b for calculating the SUM value described in the present embodiment is a program executed by the
In S301, the
次いで変換部１０１は、Ｓ３０２に進み、Ａグループ校正値２０１に対応する前述したＳ３０１にて算出したＳＵＭ値と不揮発性メモリ１０２に保持されたＡグループＳＵＭ値２０２、およびＢグループ校正値２０３に対応するＳ３０１にて算出したＳＵＭ値と不揮発性メモリ１０２に保持されたＢグループＳＵＭ値２０４とをそれぞれ比較する。これら対に比較したＳＵＭ値がそれぞれ等しい場合、変換部１０１は、校正値が正常であると判定し、Ｓ３０３へと移行する。これら対に比較したＳＵＭ値のいずれか一方が異なる場合は、校正値に異常があったり、不揮発性メモリに異常がある可能性が高い。したがって、このまま計測装置を運用した場合には正常に校正できないことが想定されるので、変換部１０１は、校正値が異常であると判定し、計測装置を稼動せずにＳ３２０（異常フェーズ）へと移行する。
Ｓ３２０に移行した変換部１０１は、異常である校正値を含むグループ名を表示部１０７に通知（表示）すると共に、ネットワーク１１０を経由して本装置に接続される他の機器にその異常（校正値に異常を発見したことと、異常である校正値を含むグループ名）を通知する。
Ｓ３０２にて校正値が正常であると判定した場合、変換部１０１は、Ｓ３０３に進む。Ｓ３０３において変換部１０１は、Ａグループ校正値２０１、ＡグループＳＵＭ値２０２およびＢグループ校正値２０３、ＢグループＳＵＭ値２０４を更新データ領域２２０にそれぞれ転送する。
Next, the
The
If it is determined in S302 that the calibration value is normal, the
すなわち、変換部１０１は初期起動フェーズにおいて、Ａグループ校正値２０１とＢグループ校正値２０３が正常であるか否かを判定し、それぞれの校正値が正常である場合にのみ校正値を更新データ領域に転送して運用フェーズ（Ｓ３０４以降）に移行する。
次いでＳ３０４に移行した変換部１０１は、不揮発性メモリ１０２に保持された校正値を基に、入力部１０５によって所定の電気信号に変換された入力信号を校正して出力値とする計測処理を実行する。
変換部１０１の処理はＳ３０５に進み、変換部１０１は、Ｓ３０５において更新データ領域２２０のＡグループ更新データ領域２２１とＢグループ更新データ領域２２３のデータが更新されたか否かを不図示のデータ更新完了フラグにて確認する。
Ｓ３０５にてデータ更新完了フラグ（不図示）がセットされてない場合、すなわちＡグループ更新データ領域２２１とＢグループ更新データ領域２２３のデータが両方とも更新されてない場合（Ｓ３０５ Ｎｏ）、変換部１０１は、Ｓ３０４へ移行する。
変換部１０１は、Ｓ３０５にて前述したデータ更新完了フラグ（不図示）がセットされた場合、すなわちＡグループ更新データ領域２２１とＢグループ更新データ領域２２３のどちらかのデータが更新されたと判定したとき（Ｓ３０５ Ｙｅｓ）、Ｓ３０６へ移行する。
That is, the
Next, the
The processing of the
If the data update completion flag (not shown) is not set in S305, that is, if both the data in the A group
When the data update completion flag (not shown) described above is set in S305, that is, when the
Ｓ３０６において変換部１０１は、Ａグループ更新データ領域２２１およびＢグループ更新データ領域２２３の各更新データに対してＳＵＭ値をそれぞれ算出する。すなわち、変換部１０１は、Ｓ３０５の判定に基づき更新データ領域２２０が更新される所定の周期にて、Ａグループ更新データ領域２２１とＢグループ更新データ領域２２３の各更新データに対してＳＵＭ値をそれぞれ算出する。
そして変換部１０１は、Ｓ３０７において、上述Ａグループ更新データ領域２２１の更新データから算出されたＳＵＭ値とＡグループＳＵＭ更新領域２２２に保持されたＳＵＭ値とを対に比較すると共に、上述Ｂグループ更新データ領域２２３の更新データから算出されたＳＵＭ値とＢグループＳＵＭ更新領域２２４に保持されたＳＵＭ値とを対に比較する。この対に比較したＳＵＭ値のいずれか一方が異なったとき、変換部１０１は、更新データ領域２２０が以前に保持したデータとは違ったデータに書き換えられたと判定する（Ｓ３０７ Ｙｅｓ）。一方、前述した対に比較したＳＵＭ値がいずれも等しい場合（Ｓ３０７ Ｎｏ）、変換部１０１は、更新データ領域２２０に更新されたデータがこれまで保持していたデータと同じである（不変）と判定し、前述したデータ更新完了フラグ（不図示）をクリアして計測処理Ｓ３０４に移行する。
In S <b> 306, the
In step S307, the
次いで、処理はＳ３０８に進み、Ｓ３０８において変換部１０１は、更新データ領域２２０の更新データを校正値領域２００（不揮発性メモリ１０２）に転送する（書き込む）。
例えば、Ｓ３０７において変換部１０１は、Ｓ３０３にてＡグループＳＵＭ更新領域２２２に転送されたＳＵＭ値とＡグループ更新データ領域２２１に保持された更新データから算出したＳＵＭ値とを比較する。この比較の結果、ＳＵＭ値が相違した場合に変換部１０１は、Ｓ３０８において前述した更新データから算出したＳＵＭ値をＡグループＳＵＭ更新領域２２２に上書きし、Ａグループ更新データ領域２２１に保持された更新データをＡグループ校正値２０１に転送する（書き込む）と共に、上書きされたＡグループＳＵＭ更新領域２２２の値をＡグループＳＵＭ値２０２に転送する（書き込む）。
同様に、Ｓ３０７において変換部１０１は、Ｓ３０３にてＢグループＳＵＭ更新領域２２４に転送されたＳＵＭ値とＢグループ更新データ領域２２３に保持された更新データから算出したＳＵＭ値とを比較する。この比較の結果、ＳＵＭ値が相違した場合に変換部１０１は、Ｓ３０８において前述した更新データから算出したＳＵＭ値をＢグループＳＵＭ更新領域２２４に上書きし、Ｂグループ更新データ領域２２３の更新データをＢグループ校正値２０３に転送する（書き込む）と共に、上書きされたＢグループＳＵＭ更新領域２２４の値をＢグループＳＵＭ値２０４に転送する（書き込む）。もちろん、Ａグループ、ＢグループそれぞれのＳＵＭ値が異なれば両方書き込めば良い。
Next, the process proceeds to S308. In S308, the
For example, in S307, the
Similarly, in S307, the
変換部１０１は、更新データおよびそのＳＵＭ値を不揮発性メモリ１０２に転送した（書き込んだ）後、Ｓ３０９において、不揮発性メモリ１０２の更新された校正値およびＳＵＭと作業メモリ１０３の更新データおよびＳＵＭ値とをそれぞれ比較して正常に更新できたか否かを確認する。変換部１０１は、比較した校正値およびＳＵＭが一致すれば正常に更新できたと判定し、前述したデータ更新完了フラグ（不図示）をクリアしてＳ３０４に移行（Ｓ３０９ Ｙｅｓ）する。Ｓ３０４に移行したら、変換部１０１は、更新された校正値を基に、入力信号を校正する。
同様にＳ３０９において、変換部１０１は、互いに比較した校正値またはＳＵＭのいずれかが相違すれば更新が異常終了したと判定する（Ｓ３０９ Ｎｏ）。この異常終了は、不揮発性メモリの破損など、何らかの異常によって発生したと想定される。このため、変換部１０１は、Ｓ３２０の異常処理（異常フェーズ）に移行する。
そして、Ｓ３２０に移行した変換部１０１は、不揮発性メモリに保持された校正値の更新が異常であったことを通知（表示）すると共に、ネットワーク１１０を経由して本計測装置に接続される他の機器に不揮発性メモリ１０２に保持された校正値の更新が異常終了したことを通知する。
The
Similarly, in S309, the
Then, the
この例では、Ｓ３０３にてＡグループＳＵＭ更新領域２２２にはＡグループＳＵＭ値２０２を転送したデータが保持され、ＢグループＳＵＭ更新領域２２４にはＢグループＳＵＭ値２０４を転送したデータが保持されたものとして説明した。これは、校正値領域２００にＥ2ＰＲＯＭなどの不揮発性メモリを使用した場合に、データの読み出しに時間を費やすことから、高速に読み書きできるアクセスタイムの速いＳＲＡＭなどの作業メモリ１０３に予め退避しておくことで、ＳＵＭ値の比較チェックが高速になる点と、対象とする不揮発性メモリの種類に関係なくＳＵＭ値の比較プログラムを同じ構造にできるメリットがあるためである。
尚、ＳＵＭ値の比較方法は、ＡグループＳＵＭ値２０２とＢグループＳＵＭ値２０４を作業メモリ１０３に転送せずに不揮発性メモリに保持されたオリジナルのＳＵＭ値（２０２，２０４）と、更新データ領域（２２１，２２３）の更新データに対して算出したＳＵＭ値とを比較しても良い。
この場合Ｓ３０７において変換部１０１は、ＡグループＳＵＭ値２０２とＡグループ更新データ領域２２１に保持された更新データから算出したＳＵＭ値とを比較する。この比較の結果、ＳＵＭ値が相違した場合（Ｓ３０７ Ｙｅｓ）に変換部１０１は、Ｓ３０８において、Ａグループ更新データ領域２２１に保持された更新データをＡグループ校正値２０１に転送する（書き込む）と共に、前述した更新データから算出したＳＵＭ値をＡグループＳＵＭ値２０２に書き込む。
In this example, the data transferred to the A group
The SUM value comparison method is based on the original SUM value (202, 204) held in the non-volatile memory without transferring the A
In this case, the
同様Ｓ３０７において、変換部１０１は、ＢグループＳＵＭ値２０４とＢグループ更新データ領域２２３に保持された更新データから算出したＳＵＭ値とを比較する。この比較の結果、ＳＵＭ値が相違した場合（Ｓ３０７ Ｙｅｓ）に変換部１０１は、Ｂグループ更新データ領域２２３に保持された更新データをＢグループ校正値２０３に転送する（書き込む）と共に、前述した更新データから算出したＳＵＭ値をＢグループＳＵＭ値２０４に書き込む。もちろん、それぞれのＳＵＭ値が異なれば両方書き込めば良い。
また、更新データ領域２２０に保持される更新データは、通信部１０４がネットワーク１１０経由にて更新したり、操作部１０８を操作することで、更新することができるようになっている。そして、本発明の計測装置１００は、前述したデータ更新完了フラグ（不図示）がクリア状態のときに変換部１０１以外に更新データ領域２２０の書き換えが許可され、データ更新完了フラグ（不図示）がセット状態のときには、変換部１０１以外に更新データ領域２２０の書き換えが許可されないように制御（排他論理条件）している。また、本発明は、変換部１０１にデータ更新を伝える方法として、フラグのやりとり以外に割込にて行うことも可能である。
また、前述した実施例は、校正値の正当性を検証するためのチェックコードとしてＳＵＭ値を例に説明したが、本発明の計測装置は、ＣＲＣ（Cyclic Redundancy Check）などの巡回計算された符号をチェックコードとしても良い。
Similarly, in step S <b> 307, the
The update data held in the
In the above-described embodiment, the SUM value is described as an example of the check code for verifying the correctness of the calibration value. However, the measurement apparatus of the present invention uses a cyclically calculated code such as CRC (Cyclic Redundancy Check). Can be used as a check code.
以上のように、本発明は、不揮発性メモリに保持された計測装置の校正値（オリジナル校正値）およびそのオリジナル校正値から算出されたチェックコード（オリジナルＳＵＭ値）を、計測装置の初期起動時にＳＲＡＭに退避する。
そして、変換部１０１は、計測装置稼動中に校正値を更新するためのモード変更などすることなく前述したＳＲＡＭに退避されたオリジナル校正値がその更新を目的とする更新データに更新されると、その更新データに対するＳＵＭ値を算出する。
本発明の計測装置は、この算出したＳＵＭ値とＳＲＡＭに退避したオリジナルＳＵＭ値とを比較し、その結果、互いのＳＵＭ値が異なると判定されたとき、不揮発性メモリに保持されたオリジナル校正値とオリジナルＳＵＭ値を書き換えている。そして、本発明の計測装置は、校正値更新後も更新された校正値を基に入力信号を校正するようにしているので、計測装置稼動中に校正値を更新するためのモード変更などをすることなく校正値を更新し、それを計測処理に反映することが可能となった。
また、本発明は、更新データから算出されたＳＵＭ値と不揮発性メモリよりもアクセスタイムの速いＳＲＡＭに保持されたＳＵＭ値（オリジナル校正値のＳＵＭ値コピー）を比較するようにしたので、更新データがオリジナル校正値と違ったデータパターンであることを、短時間に検出することが可能となった。
As described above, according to the present invention, the calibration value (original calibration value) of the measuring device held in the nonvolatile memory and the check code (original SUM value) calculated from the original calibration value are obtained at the initial startup of the measuring device. Save to SRAM.
Then, the
The measuring apparatus according to the present invention compares the calculated SUM value with the original SUM value saved in the SRAM, and as a result, when it is determined that the SUM values are different from each other, the original calibration value held in the nonvolatile memory. The original SUM value is rewritten. Since the measuring apparatus of the present invention calibrates the input signal based on the updated calibration value even after the calibration value is updated, the mode is changed to update the calibration value while the measuring apparatus is in operation. It is now possible to update the calibration value and reflect it in the measurement process.
Further, according to the present invention, since the SUM value calculated from the update data is compared with the SUM value (SUM value copy of the original calibration value) held in the SRAM having a faster access time than the nonvolatile memory, the update data It is possible to detect in a short time that the data pattern is different from the original calibration value.
また、本発明は、ＳＵＭ値の比較結果にて校正値の更新をするようにしたので、不揮発性メモリに対する校正値の更新を抑制すること、すなわち不要な書込みを阻止することができるため、長寿命な計測装置を提供することが可能となった。
また、本発明は、オリジナル校正値およびオリジナルＳＵＭ値を所定の複数のグループに予め分類して不揮発性メモリにそれぞれ保持し、計測装置の初期起動時（初期起動フェーズ）において、各グループ分類されたオリジナル校正値から算出されたそれぞれのＳＵＭ値と、これらのＳＵＭ値に対応する各オリジナルＳＵＭ値とをそれぞれ比較している。この結果、本発明の計測装置は、比較対象としたＳＵＭ値が相違した場合に、計測装置を稼動せずに異常処理（異常フェーズ）に移行する。
また、本発明の計測装置は、異常処理（異常フェーズ）にて、相違した校正値が含まれるグループをユーザに通知するようにした。こうすることで本発明の計測装置は、校正値の破損による計測不良を回避でき、それと共に破損した校正値を容易に特定できるので、不具合の原因究明の時間を大幅に削減することが可能となった。更に本発明の計測装置は、破損した校正値のグループに属する校正作業のみを実施し、そのグループの校正値を修復すれば良いため、校正値の更新に対するユーザの負担や時間を節約することが可能となった。
In the present invention, since the calibration value is updated based on the comparison result of the SUM value, the update of the calibration value to the nonvolatile memory can be suppressed, that is, unnecessary writing can be prevented. It has become possible to provide a long-life measuring device.
Further, according to the present invention, the original calibration value and the original SUM value are classified in advance into a plurality of predetermined groups and held in the nonvolatile memory, respectively, and each group is classified at the initial startup (initial startup phase) of the measuring device. Each SUM value calculated from the original calibration value is compared with each original SUM value corresponding to these SUM values. As a result, when the SUM values to be compared are different, the measuring device of the present invention shifts to an abnormal process (abnormal phase) without operating the measuring device.
In addition, the measurement apparatus of the present invention notifies the user of a group including different calibration values in the abnormality process (abnormal phase). In this way, the measuring device of the present invention can avoid measurement failures due to damage of calibration values, and at the same time, can easily identify damaged calibration values, thereby greatly reducing the time for investigating the cause of the failure. became. Furthermore, since the measuring apparatus of the present invention only needs to perform calibration work belonging to a group of damaged calibration values and repair the calibration values of that group, it is possible to save the user's burden and time for updating the calibration values. It has become possible.
そして本発明は、計測装置の初期起動時（初期起動フェーズ）において、校正値のＳＵＭ値の比較をすることによりオリジナル校正値が正常であるか否かを判定した結果、校正値が正常である場合にのみ運用フェーズに移行するようにしたので、誤計測処理をしない信頼性の高い計測装置を提供することが可能となった。
In the present invention, the calibration value is normal as a result of determining whether or not the original calibration value is normal by comparing the SUM value of the calibration value at the initial startup (initial startup phase) of the measuring device. Since the operation phase is shifted only to the case, it is possible to provide a highly reliable measurement device that does not perform erroneous measurement processing.
次に本発明の実施例２に係る計測装置について図５〜７を参照しながら説明する。
この実施例２が上述した実施例１と異なるところは、図５において、図１に対して転送判定手段１０１ｅと計測処理手段１０１ｆが付加された点、図６において、図２に対して不揮発性メモリ１０２に割付される初期校正値（計測装置を製造初期に校正した値であり、すなわちメーカ出荷時の校正値である）領域が付加された点、図７において、図４に対してプログラムの処理であるＳ３１０が付加された点にある。
また、図５〜７において図１〜４と同様な構成は同符号にて記載し、実施例１と重複する説明は省略する。
図５は、本発明の実施例２に係る計測装置の内部構成図である。図５において図１との相違点は、作業メモリ１０３（第二の記憶部）に保持された校正値およびこの校正値から算出されたチェックコード（第二のチェックコード）がそれぞれ不揮発性メモリ１０２（第一の記憶部）に正常に転送されたか否かを判定する転送判定手段１０１ｅと、この転送判定手段１０１ｅにより作業メモリ１０３から不揮発性メモリ１０２への転送が異常であると判定されたとき、初期校正値にて入力信号を校正する計測処理手段１０１ｆとが付加されている点である。
Next, a measurement apparatus according to
The second embodiment is different from the first embodiment described above in that a
5 to 7, the same components as those in FIGS. 1 to 4 are denoted by the same reference numerals, and a description overlapping that of the first embodiment is omitted.
FIG. 5 is an internal configuration diagram of the measuring apparatus according to the second embodiment of the present invention. 5 differs from FIG. 1 in that the calibration value held in the work memory 103 (second storage unit) and the check code (second check code) calculated from the calibration value are respectively stored in the
すなわち、変換部１０１は、不揮発性メモリ１０２に保持された校正値およびこの校正値のＳＵＭ値（第一のチェックコード）を作業メモリ１０３に転送する第一の転送手段１０１ａと、校正値を順次加算していき合計値（ＳＵＭ値）とするチェックコード算出手段１０１ｂと、作業メモリ１０３に転送され保持されたＳＵＭ値（第一のチェックコード）と作業メモリ１０３に転送され保持された校正値に対して算出したＳＵＭ値（第二のチェックコード）とを比較するチェックコード比較手段１０１ｃと、作業メモリ１０３に保持された校正値と、この校正値から算出したＳＵＭ値（第二のチェックコード）を不揮発性メモリ１０２に転送する第二の転送手段１０１ｄと、この第二の転送手段による転送が正常に転送されたか否かを判定する転送判定手段１０１ｅおよびこの転送判定手段１０１ｅにより作業メモリ１０３から不揮発性メモリ１０２への転送が異常であると判定されたとき、初期校正値にて入力信号を校正する計測処理手段１０１ｆを備える。
これら第一の転送手段１０１ａ、チェックコード算出手段１０１ｂ、チェックコード比較手段１０１ｃ、第二の転送手段１０１ｄ、転送判定手段１０１ｅおよび計測処理手段１０１ｆは、いずれも変換部１０１の内部メモリ（不図示）に保持されるプログラムである。
That is, the
These first transfer means 101a, check code calculation means 101b, check code comparison means 101c, second transfer means 101d, transfer determination means 101e and measurement processing means 101f are all internal memories (not shown) of the
図６は、本発明の実施例２に係る計測装置１００の不揮発性メモリ１０２と作業メモリ１０３に割り付けされたメモリ情報を示す図である。ちなみに作業メモリ１０３は、第一の記憶部を構成する不揮発性メモリ１０２よりもアクセスタイムが速いＳＲＡＭなどを用いる。
概略的には上述したように構成された本発明の実施例２に係る計測装置１００が特徴とするところは、不揮発性メモリ１０２に保持された計測装置の校正値（オリジナル校正値）を作業メモリ１０３に転送しておき、この作業メモリに保持された校正値が更新されると、この更新を検知して不揮発性メモリ１０２の校正値を更新する点であり、更にこの更新が正常に行われなかった場合には、メーカ出荷時の校正値にて入力信号を校正することにある。この発明の計測装置におけるメーカ出荷時の校正値（初期校正値）とは、計測装置を製造するメーカが出荷時に行う校正作業による校正値であり、後に不変の校正値である。
このような特徴を備えた本発明の実施例２に係る計測装置の動作について、より詳細に説明する。
さて図６は、図２と本発明の実施例２に係る計測装置１００のメモリ情報を示す図である。
FIG. 6 is a diagram illustrating memory information allocated to the
Schematically, the measuring
The operation of the measuring apparatus according to the second embodiment of the present invention having such characteristics will be described in more detail.
FIG. 6 is a diagram showing memory information of the
図６（ａ）は図２（ａ）と概略同様であるが、その相違点は、計測装置を製造初期に校正した値、すなわちメーカ出荷時の校正値を保持する初期校正値領域２１０が不揮発性メモリ１０２に割付される点である。この初期校正値領域２１０には、メーカ出荷時の校正値である初期校正値２１１およびこの初期校正値２１１を基に算出したＳＵＭ値（初期校正値ＳＵＭ値）が保持される。
図６（ｂ）は、実施例１の図２（ｂ）と同様であるので、この説明を省略する。
尚、図６において、グループ分類された校正値領域２００の校正値は、図３のように分類されるので、その分類および校正項目の説明は省略する。
図７は、本発明の実施例２に係る計測装置の動作を説明するフローチャートである。この図において、図４との相違点は更新不良処理Ｓ３１０が付加された点である。その他の処理に関しては実施例１における図４の説明と概略同様である。
以降の説明は実施例１と同様の部分を省略し、相違する点を中心に説明する。
まず図７において、Ｓ３０１〜Ｓ３０３（初期起動フェーズ）およびＳ３２０（異常フェーズ）は実施例１の説明と同様であるのでその説明を省略する。
また、運用フェーズであるＳ３０４〜Ｓ３１０において、Ｓ３０５〜Ｓ３０９の説明は実施例１での説明と同様であるのでその説明を省略する。
FIG. 6A is substantially the same as FIG. 2A, but the difference is that the initial
Since FIG. 6B is the same as FIG. 2B of the first embodiment, this description is omitted.
In FIG. 6, the calibration values in the
FIG. 7 is a flowchart for explaining the operation of the measuring apparatus according to the second embodiment of the present invention. In this figure, the difference from FIG. 4 is that an update failure process S310 is added. Other processes are substantially the same as the description of FIG. 4 in the first embodiment.
In the following description, the same parts as those in the first embodiment are omitted, and differences will be mainly described.
First, in FIG. 7, since S301 to S303 (initial start-up phase) and S320 (abnormal phase) are the same as those described in the first embodiment, the description thereof is omitted.
In S304 to S310, which are operation phases, the description of S305 to S309 is the same as the description in the first embodiment, and the description thereof is omitted.
すなわち、実施例２の運用フェーズにおける実施例１との相違点は、Ｓ３０４とＳ３１０の動作にあり、この動作を中心に説明する。
さて、Ｓ３１０の前処理であるＳ３０９で校正値領域２００の校正値が正常に更新できなかったと判定した（Ｓ３０９ Ｎｏ）変換部１０１は、Ｓ３１０において、Ｓ３０８の転送が不良であったことを示す更新不良フラグ（不図示）をセットすると共にＳ３０４に移行する。
Ｓ３０４に移行した変換部１０１は、更新不良フラグ（不図示）を参照し、このフラグがセットされていたとき、初期校正値領域２１０の初期校正値２１１を基に入力信号を校正する。すなわち、Ｓ３０４において変換部１０１は、更新不良フラグ（不図示）がセットされていれば初期校正値領域２１０の校正値（初期校正値２１１）にて入力信号を校正し、更新不良フラグ（不図示）がリセットされていれば校正値領域２００の校正値（Ａグループ校正値、Ｂグループ校正値）を基に入力信号を校正する。
尚、不揮発性メモリ１０２は、揮発性メモリを電池などでバックアップしたバックアップメモリとしても良い。
また、初期起動フェーズにおいて変換部１０１は、初期校正値領域２１０の初期校正値２１１に対してＳＵＭ値を算出して、この算出されたＳＵＭ値と初期校正値ＳＵＭ値２１２とを比較し、互いのＳＵＭが相違したとき、異常処理３２０に移行する処理を付加しても良い。この場合Ｓ３２０に移行した変換部１０１は、初期校正値２１１が異常であることを表示部１０７に表示すると共に、ネットワーク１１０を経由して本装置に接続される他の機器に向けてその異常（初期校正値２１１が異常であること）を通知する。
That is, the difference from the first embodiment in the operation phase of the second embodiment lies in the operations of S304 and S310, and this operation will be mainly described.
Now, in S309, which is the pre-processing of S310, it is determined that the calibration value in the
The
Note that the
In the initial startup phase, the
尚、ここではＡ，Ｂの二つのグループについて説明したが、上述した方法に準じて更にグループを増やすことも勿論可能である。
以上のように、実施例２にて説明した計測装置は、実施例１に記載の計測装置に加えてメーカ出荷時の校正値を更に備え、校正値の更新が正常にできなかった場合、メーカ出荷時の校正値にて入力信号を校正するようにした。このようにすることにより、本発明は、校正値の更新に失敗したとしても、継続して計測処理を実行できる信頼性の高い計測装置を提供することが可能となった。
Although two groups A and B have been described here, it is of course possible to increase the number of groups in accordance with the method described above.
As described above, the measuring apparatus described in the second embodiment further includes a calibration value at the time of shipment from the manufacturer in addition to the measuring apparatus described in the first embodiment. If the calibration value cannot be updated normally, the manufacturer The input signal was calibrated with the calibration value at the time of shipment. By doing so, the present invention can provide a highly reliable measurement apparatus that can continuously perform measurement processing even if calibration value update fails.
１００ 計測装置
１０１ 変換部
１０１ａ 第一の転送手段
１０１ｂ チェックコード算出手段
１０１ｃ チェックコード比較手段
１０１ｄ 第二の転送手段
１０１ｅ 転送判定手段
１０１ｆ 計測処理手段
１０２ 不揮発性メモリ
１０３ 作業メモリ
１０４ 通信部
１０５ 入力部
１０６ 出力部
１０７ 表示部
１０８ 操作部
１１０ ネットワーク
２００ 校正値領域（不揮発性メモリ）
２０１ Ａグループ校正値
２０２ ＡグループＳＵＭ値
２０３ Ｂグループ校正値
２０４ ＢグループＳＵＭ値
２１０ 初期校正値領域（不揮発性メモリ）
２１１ 初期校正値
２１２ 初期校正値ＳＵＭ値
２２０ 更新データ領域（作業メモリ）
２２１ Ａグループ更新データ領域
２２２ ＡグループＳＵＭ更新領域
２２３ Ｂグループ更新データ領域
２２４ ＢグループＳＵＭ更新領域
DESCRIPTION OF
201 A group calibration value 202 A group SUM value 203 B group calibration value 204 B
211
221 A group update data area 222 A group SUM update area 223 B group update data area 224 B group SUM update area
Claims (9)
この入力部が生成した前記入力信号を校正する所定の校正値を保持する記億部と、
この記憶部が保持した前記校正値により前記入力信号を校正した出力値を生成する変換部とを具備した計測装置であって、
前記記憶部は、前記校正値およびこの校正値の正当性を検証するための第一のチェックコードを保持する第一の記憶部と、
前記校正値を保持する第二の記憶部と
を備え、
前記変換部は、前記第二の記憶部に前記校正値を転送する第一の転送手段と、
前記第二の記憶部に保持された前記校正値から該校正値の正当性を検証するための第二のチェックコードを所定の周期で算出するチェックコード算出手段と、
この算出された第二のチェックコードと前記第一のチェックコードとを比較するチェックコード比較手段と、
このチェックコード比較手段によって前記第一のチェックコードと前記第二のチェックコードとが相違したと判定されたとき、前記第二の記憶部に保持された校正値および前記第二のチェックコードを前記第一の記憶部にそれぞれ転送する第二の転送手段と
を備えることを特徴とする計測装置。 An input unit that generates an input signal converted into a predetermined electrical signal according to the state of the measurement target;
A storage unit that holds a predetermined calibration value for calibrating the input signal generated by the input unit,
A measuring unit including a conversion unit that generates an output value obtained by calibrating the input signal using the calibration value held by the storage unit;
The storage unit includes a first storage unit that holds the calibration value and a first check code for verifying the correctness of the calibration value;
A second storage unit for holding the calibration value;
The conversion unit includes first transfer means for transferring the calibration value to the second storage unit;
Check code calculation means for calculating a second check code for verifying the correctness of the calibration value from the calibration value held in the second storage unit at a predetermined period;
Check code comparison means for comparing the calculated second check code with the first check code;
When it is determined by the check code comparison means that the first check code is different from the second check code, the calibration value and the second check code held in the second storage unit are A measuring apparatus comprising: a second transfer unit configured to transfer each to the first storage unit.
この入力部が生成した前記入力信号を校正する所定の校正値を保持する記億部と、
この記憶部が保持した前記校正値により前記入力信号を校正した出力値を生成する変換部とを具備した計測装置であって、
前記記憶部は、前記校正値およびこの校正値の正当性を検証するための第一のチェックコードを保持する第一の記憶部と、
この第一の記憶部よりもアクセスタイムが速い第二の記憶部と
を備え、
前記変換部は、前記第二の記憶部に前記校正値および第一のチェックコードを転送する第一の転送手段と、
前記第二の記憶部に保持された前記校正値から該校正値の正当性を検証するための第二のチェックコードを所定の周期で算出するチェックコード算出手段と、
この算出された第二のチェックコードと前記第二の記憶部に保持された前記第一のチェックコードとを比較するチェックコード比較手段と、
このチェックコード比較手段によって前記第一のチェックコードと前記第二のチェックコードとが相違したと判定されたとき、前記第二の記憶部に保持された校正値および前記第二のチェックコードを前記第一の記憶部にそれぞれ転送する第二の転送手段と
を備えることを特徴とする計測装置。 An input unit that generates an input signal converted into a predetermined electrical signal according to the state of the measurement target;
A storage unit that holds a predetermined calibration value for calibrating the input signal generated by the input unit,
A measuring unit including a conversion unit that generates an output value obtained by calibrating the input signal using the calibration value held by the storage unit;
The storage unit includes a first storage unit that holds the calibration value and a first check code for verifying the correctness of the calibration value;
A second storage unit having a faster access time than the first storage unit,
The conversion unit includes first transfer means for transferring the calibration value and the first check code to the second storage unit;
Check code calculation means for calculating a second check code for verifying the correctness of the calibration value from the calibration value held in the second storage unit at a predetermined period;
Check code comparison means for comparing the calculated second check code with the first check code held in the second storage unit;
When it is determined by the check code comparison means that the first check code is different from the second check code, the calibration value and the second check code held in the second storage unit are A measuring apparatus comprising: a second transfer unit configured to transfer each to the first storage unit.
この入力部が生成した前記入力信号を校正する所定の校正値を保持する記億部と、
この記憶部が保持した前記校正値により前記入力信号を校正した出力値を生成する変換部とを具備した計測装置であって、
前記記憶部は、前記校正値およびこの校正値の正当性を検証するための第一のチェックコードを複数の所定のグループに予め分類してそれぞれ保持し、
前記変換部は、前記計測装置の初期起動時に、予め分類して保持された前記校正値毎に各校正値の正当性を検証するチェックコードをそれぞれ算出するチェックコード算出手段と、
このチェックコード算出手段によって算出された複数の前記チェックコードと該チェックコードに対応する前記第一のチェックコードとをそれぞれ比較するチェックコード比較手段と、
前記チェックコード比較手段によってチェックコードが相違したと判定されたとき、相違した前記チェックコードが含まれる前記グループを通知する通知手段と
を備えることを特徴とする計測装置。 An input unit that generates an input signal converted into a predetermined electrical signal according to the state of the measurement target;
A storage unit that holds a predetermined calibration value for calibrating the input signal generated by the input unit,
A measuring unit including a conversion unit that generates an output value obtained by calibrating the input signal using the calibration value held by the storage unit;
The storage unit preliminarily classifies the calibration value and a first check code for verifying the validity of the calibration value into a plurality of predetermined groups, respectively,
The conversion unit, at the initial startup of the measuring device, check code calculation means for calculating a check code for verifying the correctness of each calibration value for each calibration value that is classified and held in advance,
Check code comparison means for comparing each of the plurality of check codes calculated by the check code calculation means with the first check code corresponding to the check code;
And a notifying unit for notifying the group including the different check code when the check code comparing unit determines that the check code is different.
前記第一の記憶部は、予め複数の所定のグループに分類された前記校正値および前記第一のチェックコードをそれぞれ保持し、
前記チェックコード算出手段は、前記計測装置の初期起動時に、予め分類して保持された前記校正値毎に各校正値の正当性を検証するためのチェックコードをそれぞれ算出し、
前記チェックコード比較手段は、算出された複数の前記チェックコードと該チェックコードに対応する前記第一のチェックコードとをそれぞれ比較すると共に、
前記変換部は、更に前記チェックコード比較手段によってチェックコードが相違したと判定されたとき、相違した前記チェックコードが含まれる前記グループを通知する通知手段と
を備えることを特徴とする計測装置。 The measuring device according to claim 1 or 2,
The first storage unit holds the calibration values and the first check code that are classified in advance into a plurality of predetermined groups,
The check code calculation means calculates a check code for verifying the correctness of each calibration value for each calibration value previously classified and held at the time of initial startup of the measuring device,
The check code comparison means compares the calculated plurality of check codes with the first check code corresponding to the check code, respectively.
The conversion device further includes a notification unit that notifies the group that includes the different check code when the check code comparison unit determines that the check code is different.
この入力部が生成した前記入力信号を校正する所定の校正値を保持する記億部と、
この記憶部が保持した前記校正値により前記入力信号を校正した出力値を生成する変換部とを具備した計測装置であって、
前記記憶部は、最初に前記計測装置を校正したときの初期校正値を保持する初期校正値記憶部と、
前記校正値およびこの校正値の正当性を検証するための第一のチェックコードを保持する第一の記憶部と、
前記校正値を保持する第二の記憶部と
を備え、
前記変換部は、
前記校正値を前記第二の記憶部に転送する第一の転送手段と、
前記第二の記憶部に保持された前記校正値から該校正値の正当性を検証するための第二のチェックコードを所定の周期で算出するチェックコード算出手段と、
この算出された第二のチェックコードと前記第一のチェックコードとを比較するチェックコード比較手段と、
このチェックコード比較手段によって前記第一のチェックコードと前記第二のチェックコードとが相違したと判定されたとき、前記第二の記憶部に保持された校正値および前記第二のチェックコードを前記第一の記憶部にそれぞれ転送する第二の転送手段と
を備えることを特徴とする計測装置。 An input unit that generates an input signal converted into a predetermined electrical signal according to the state of the measurement target;
A storage unit that holds a predetermined calibration value for calibrating the input signal generated by the input unit,
A measuring unit including a conversion unit that generates an output value obtained by calibrating the input signal using the calibration value held by the storage unit;
The storage unit is an initial calibration value storage unit that holds an initial calibration value when the measurement apparatus is first calibrated.
A first storage unit that holds the calibration value and a first check code for verifying the validity of the calibration value;
A second storage unit for holding the calibration value;
The converter is
First transfer means for transferring the calibration value to the second storage unit;
Check code calculation means for calculating a second check code for verifying the correctness of the calibration value from the calibration value held in the second storage unit at a predetermined period;
Check code comparison means for comparing the calculated second check code with the first check code;
When it is determined by the check code comparison means that the first check code is different from the second check code, the calibration value and the second check code held in the second storage unit are A measuring apparatus comprising: a second transfer unit configured to transfer each to the first storage unit.
この転送判定手段により前記転送が異常であると判定されたとき、前記初期校正値にて前記入力信号を校正する計測処理手段と
を備えることを特徴とする請求項５に記載の計測装置。 The conversion unit further determines whether the calibration value and the second check code held in the second storage unit by the second transfer unit have been normally transferred to the first storage unit, respectively. Transfer determination means to perform,
The measurement apparatus according to claim 5, further comprising a measurement processing unit that calibrates the input signal with the initial calibration value when the transfer determination unit determines that the transfer is abnormal.
この入力部が生成した前記入力信号を校正する所定の校正値を保持する記億部と、 この記憶部が保持した前記校正値により前記入力信号を校正した出力値を生成する変換部と
を具備した計測装置であって、
前記記憶部は、最初に前記計測装置を校正したときの初期校正値を保持する初期校正値記憶部と、
前記校正値およびこの校正値の正当性を検証するための第一のチェックコードを保持する第一の記憶部と、
この第一の記憶部よりもアクセスタイムが速い第二の記憶部と
を備え、
前記変換部は、
前記校正値および前記第一のチェックコードを前記第二の記憶部に転送する第一の転送手段と、
前記第二の記憶部に保持された前記校正値から該校正値の正当性を検証するための第二のチェックコードを所定の周期で算出するチェックコード算出手段と、
この算出された第二のチェックコードと前記第二の記憶部に保持された前記第一のチェックコードとを比較するチェックコード比較手段と、
このチェックコード比較手段によって前記第一のチェックコードと前記第二のチェックコードとが相違したと判定されたとき、前記第二の記憶部に保持された校正値および前記第二のチェックコードを前記第一の記憶部にそれぞれ転送する第二の転送手段と
を備えることを特徴とする計測装置。 An input unit that generates an input signal converted into a predetermined electrical signal according to the state of the measurement target;
A storage unit for storing a predetermined calibration value for calibrating the input signal generated by the input unit; and a conversion unit for generating an output value obtained by calibrating the input signal based on the calibration value held by the storage unit. Measuring device,
The storage unit is an initial calibration value storage unit that holds an initial calibration value when the measurement apparatus is first calibrated.
A first storage unit that holds the calibration value and a first check code for verifying the validity of the calibration value;
A second storage unit having a faster access time than the first storage unit,
The converter is
First transfer means for transferring the calibration value and the first check code to the second storage unit;
Check code calculation means for calculating a second check code for verifying the correctness of the calibration value from the calibration value held in the second storage unit at a predetermined period;
Check code comparison means for comparing the calculated second check code with the first check code held in the second storage unit;
When it is determined by the check code comparison means that the first check code is different from the second check code, the calibration value and the second check code held in the second storage unit are A measuring apparatus comprising: a second transfer unit configured to transfer each to the first storage unit.
この転送判定手段により前記転送が異常であると判定されたとき、前記初期校正値にて前記入力信号を校正する計測処理手段と
を備えることを特徴とする請求項７に記載の計測装置。 The conversion unit further determines whether the calibration value and the second check code held in the second storage unit by the second transfer unit have been normally transferred to the first storage unit, respectively. Transfer determination means to perform,
The measurement apparatus according to claim 7, further comprising a measurement processing unit that calibrates the input signal with the initial calibration value when the transfer determination unit determines that the transfer is abnormal.
前記第一および第二のチェックコードは、前記校正値を順次加算して合計値とした、ＳＵＭ値であることを特徴とする計測装置。 A measuring device according to any one of claims 1 to 8,
The first and second check codes are SUM values obtained by sequentially adding the calibration values to obtain a total value.
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