JP2009198411A - 太陽電池の検査装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 平らな上面111を備えた暗室110と、該暗室110の上面に設けられ、被測定物200となる太陽電池を載せる透明板112と、前記暗室110の内部に設けられ透明板に対して傾斜して設けられた反射板140と、カメラ120と、該カメラを前記暗室内で移動する移動機構130とを有する。
【選択図】 図1
Description
まず本発明の検査装置が扱う対象である被測定物200の例について説明する。図6は、本発明の検査装置にて測定する太陽電池の構成の説明図で、(a)は、太陽電池の内部の太陽電池セルが分かるように記載した平面図で、(b)はその断面図である。
図1は本発明の検査装置の構成を示す図で、(a)は平面図、(b)は正面図、(c)は右側面図である。これらの図に示す本発明の太陽電池の検査装置100は、四角の箱形の暗室110およびその平らな上面111に、アクリル樹脂などの合成樹脂製又はガラス製の透明板112が取り付けられている。暗室内には、側面に被測定物200である太陽電池を検査測定するカメラ120と、その移動機構130が設けられている。ただし、カメラ120の移動機構130については用途に応じて設けない場合もある。
ガイド部材114は、矩形断面の細長いレール状で、本発明の検査装置100の上面に、被測定物200の流れ方向に沿って一対設けられている。各ガイド部材114の内側側面には、複数個のローラ115が配置され被測定物200は、このローラ115上を移動搬送される。したがって被測定物200を搬送中および測定中に下面のカバーガラス21が検査装置100の上面の透明板112に接触することはない。またこのガイド部材114は、装置の被測定物200の搬入側および搬出側に配置された移動用レール116、送りネジ117およびハンドル118により被測定物200の幅寸法に応じて調整が可能な構成となっている。すなわち、送りネジ117は、一方が右ネジで他方が左ネジとなっており、ハンドル118を回転することで、ガイド部材114、114は、中心位置が一定の状態で、相互に接近・離反するようになっている。また、搬入側および搬出側の送りネジ117は、傘歯車を備えたクロスシャフト113により連結され、ハンドル118を回転することで、両方の送りネジ117を傘歯車によって同時に回転することができる。
被測定物200から発するEL発光は、1,000nmから1,300nmの波長の微弱な光であり、暗室内で発光させ、撮影用カメラ120でこの微弱な光を撮影する。このため、撮影用カメラ120としては微弱な光に対する感度の良いCCDカメラを用いる必要がある。
移動機構130は、z軸ガイド部131と、一対のx軸ガイド部132,132とから構成されている。カメラ120はz軸ガイド部131に取り付けられ、z軸方向に昇降可能で、このz軸ガイド部131がx軸ガイド部132によってx軸方向に進退自在になっている。
z軸ガイド部131およびx軸ガイド部132としては、各種のリニアアクチュエータや、モータとボールネジ機構等を使用することができる。
暗室内部には、透明板112に対して傾斜するように設けられたアルミニウム製の反射板140がある。この反射板140の反射面は鏡面状に仕上げられており、透明板112に対して傾斜していることによって、暗室の側面に取り付けられたカメラ120が透明板112の上に載置された被測定物200の像を写すことができる。実施例では、傾斜角はほぼ45゜としているが、この角度に限定されるものではない。
上記の他に、図示を省略するが、図7の従来例で示した電源14やパソコンを利用した画像処理装置15が設けられている。さらに、パソコンを利用して、移動機構130を制御し、被測定物200としての太陽電池パネル全体を1枚の写真に撮影したり、ここの太陽電池セル28毎に撮影したりすることができる。
被測定物200として太陽電池パネルを例にして、本発明の太陽電池の検査装置の使用方法を説明する。
30 太陽電池パネル
100 太陽電池の検査装置
110 暗室
111 上面
112 透明板
114 ガイド部材
115 ローラ
116 移動用レール
117 送りネジ
118 ハンドル
119 位置決め金具
120 カメラ
130 移動機構
140 反射板
150 温湿度調整器
160 自動清掃装置
162 スクレーパ
170 (反射板の)支持具
180 温度調整用の電気式ヒータ(またはペルチェ素子、配管)
200 被測定物
Claims (7)
- 平らな上面を備えた暗室と、該暗室の前記上面に設けられ、被測定物となる太陽電池を載せる透明板と、前記暗室の内部にあって前記透明板に対して傾斜して設けられた反射板と、該反射板に映った被測定物の像を写すカメラとを有することを特徴とする太陽電池の検査装置。
- 前記暗室内に、前記カメラを前記暗室内で、前記透明板と交差する面内で移動する移動機構を設けたことを特徴とする請求項1に記載の太陽電池の検査装置。
- 前記暗室内の温湿度をほぼ一定に保つ温湿度調整装置を設けたことを特徴とする請求項1又は2に記載の太陽電池の検査装置。
- 前記反射板の支持具が、反射板の膨張による伸縮を吸収可能な構成であることを特徴とする請求項1から3のいずれかに記載の太陽電池の検査装置。
- 前記反射板の反射面を清掃する自動清掃装置を設けたことを特徴とする請求項1から4のいずれかに記載の太陽電池の検査装置。
- 前記反射板の裏面に、反射板の温度をほぼ一定に保つために温度調整用の機器を設けたことを特徴とする請求項1から5のいずれかに記載の太陽電池の検査装置。
- 前記反射板の裏面に、反射板の温度をほぼ一定に保つために熱交換用の流体を流す温度調整用管路を設けたことを特徴とする請求項1から5のいずれかに記載の太陽電池の検査装置。
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Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN102955114A (zh) * | 2011-08-21 | 2013-03-06 | 上海汉测试验设备有限公司 | 太阳电池组件温度系数测试台 |
JP2013057393A (ja) * | 2011-09-07 | 2013-03-28 | Alphana Technology Co Ltd | 軸受装置用部品の製造方法及びその軸受装置用部品 |
TWI393202B (zh) * | 2009-12-08 | 2013-04-11 | Ind Tech Res Inst | 薄膜太陽能電池畫線缺陷檢測方法 |
CN104065339A (zh) * | 2014-07-15 | 2014-09-24 | 江苏顺风光电科技有限公司 | 一种太阳能电池组件pid的实验板及其测试方法 |
CN105490643A (zh) * | 2015-12-23 | 2016-04-13 | 普德光伏技术(苏州)有限公司 | 光伏组件el检测用暗房装置 |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003298081A (ja) * | 2002-04-04 | 2003-10-17 | Toyama Kikai Kk | 太陽電池セルの検査方法およびその装置 |
WO2006059615A1 (ja) * | 2004-11-30 | 2006-06-08 | National University Corporation NARA Institute of Science and Technology | 太陽電池の評価方法及び評価装置並びにその利用 |
WO2007125778A1 (ja) * | 2006-04-28 | 2007-11-08 | Sharp Kabushiki Kaisha | 太陽電池モジュール評価装置、太陽電池モジュール評価方法、および太陽電池モジュール製造方法 |
WO2007129585A1 (ja) * | 2006-05-02 | 2007-11-15 | National University Corporation NARA Institute of Science and Technology | 太陽電池の評価方法及び評価装置並びにその利用 |
JP2008026113A (ja) * | 2006-07-20 | 2008-02-07 | Japan Aerospace Exploration Agency | 太陽電池の欠陥検査装置及びその方法 |
JP3143169U (ja) * | 2008-04-30 | 2008-07-10 | 日清紡績株式会社 | 太陽電池の検査装置 |
-
2008
- 2008-02-25 JP JP2008042386A patent/JP5006229B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003298081A (ja) * | 2002-04-04 | 2003-10-17 | Toyama Kikai Kk | 太陽電池セルの検査方法およびその装置 |
WO2006059615A1 (ja) * | 2004-11-30 | 2006-06-08 | National University Corporation NARA Institute of Science and Technology | 太陽電池の評価方法及び評価装置並びにその利用 |
WO2007125778A1 (ja) * | 2006-04-28 | 2007-11-08 | Sharp Kabushiki Kaisha | 太陽電池モジュール評価装置、太陽電池モジュール評価方法、および太陽電池モジュール製造方法 |
WO2007129585A1 (ja) * | 2006-05-02 | 2007-11-15 | National University Corporation NARA Institute of Science and Technology | 太陽電池の評価方法及び評価装置並びにその利用 |
JP2008026113A (ja) * | 2006-07-20 | 2008-02-07 | Japan Aerospace Exploration Agency | 太陽電池の欠陥検査装置及びその方法 |
JP3143169U (ja) * | 2008-04-30 | 2008-07-10 | 日清紡績株式会社 | 太陽電池の検査装置 |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TWI393202B (zh) * | 2009-12-08 | 2013-04-11 | Ind Tech Res Inst | 薄膜太陽能電池畫線缺陷檢測方法 |
CN102955114A (zh) * | 2011-08-21 | 2013-03-06 | 上海汉测试验设备有限公司 | 太阳电池组件温度系数测试台 |
JP2013057393A (ja) * | 2011-09-07 | 2013-03-28 | Alphana Technology Co Ltd | 軸受装置用部品の製造方法及びその軸受装置用部品 |
CN104065339A (zh) * | 2014-07-15 | 2014-09-24 | 江苏顺风光电科技有限公司 | 一种太阳能电池组件pid的实验板及其测试方法 |
CN105490643A (zh) * | 2015-12-23 | 2016-04-13 | 普德光伏技术(苏州)有限公司 | 光伏组件el检测用暗房装置 |
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