JP2009188355A - 太陽電池 - Google Patents

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Abstract

【課題】電子及び正孔の収集効率を向上させた裏面接合型の太陽電池を提供する。
【解決手段】半導体基板11は、裏面側において第1方向に沿って形成されたp型領域16と、裏面側において第1方向に沿って形成されたn型領域17とを含む。裏面に平行な投影面上において、p型領域16は、n型領域17側に向かって張出す張出し領域16bを有する。
【選択図】図6

Description

本発明は、裏面にn型領域とp型領域とを設けた裏面接合型の太陽電池に関する。
太陽電池は、クリーンで無尽蔵に供給される太陽光を直接電気に変換することができるため、新しいエネルギー源として期待されている。
従来、半導体基板の裏面上にn型領域とp型領域の両方が形成された、いわゆる裏面接合型の太陽電池が提案されている(特許文献1参照)。
具体的には、図1に示すように、太陽電池1は、半導体基板2の裏面において、ライン状に交互に形成されたn型領域3とp型領域4とを有する。n型領域3上には、電子を収集するn側収集電極(不図示)が形成される。p型領域4上には、正孔を収集するp側収集電極(不図示)が形成される。このような太陽電池1によれば、半導体基板2の受光面上に収集電極が形成されないため、太陽電池1の受光面積を拡大することができる。
特開昭53−5985号公報
しかしながら、図1に示すように、n型領域3とp型領域4のそれぞれをライン状に形成した場合、次のような問題があった。
なお、太陽電池1が光を吸収することにより半導体基板2内部で生成された電子と正孔は、半導体基板2内部で散乱を繰り返しながら移動する。半導体基板2内部における電子及び正孔の位置を追尾することは難しいが、統計的な考え方を用いることにより、電子及び正孔の挙動を概略的に把握することができる。以下の説明では、半導体基板2内部における少数キャリアの寿命の指標である拡散長を用いて説明する。拡散長の範囲内であれば、少数キャリアは再結合を行うことなく半導体基板2内部を移動できる。
ここで、半導体基板2内部の起点Xで生成された正孔の拡散長がLである場合、生成された正孔は再結合することなく拡散範囲Oまで移動できる。拡散範囲OのうちA〜B方向及びC〜D方向に移動する正孔は、不純物の濃度勾配に従ってp型領域4に到達し、p側収集電極によって収集される。一方、拡散範囲OのうちB〜C方向及びD〜A方向には不純物の濃度勾配がないため、B〜C方向及びD〜A方向に移動する正孔は、p型領域4に到達せず、p側収集電極によって収集されない。このように、起点Xにおいて生成された正孔のうちB〜C方向及びD〜A方向に移動する正孔を収集できないことに起因して、太陽電池1の収集効率の向上が図られないという問題があった。
なお、このような問題は、起点Xにおいて生成された正孔に限らず、半導体基板2内部のあらゆる起点において生成される電子又は正孔について同様に生じる得る。
本発明は、上述の問題に鑑みてなされたものであり、電子及び正孔の収集効率を向上させた裏面接合型の太陽電池を提供することを目的とする。
本発明の一の特徴に係る太陽電池モジュールは、光を受ける受光面と、受光面の反対側に設けられた裏面とを有する半導体基板を備え、半導体基板は、裏面側において第1方向に沿って形成され、一導電型を有する第1領域と、裏面側において第1方向に沿って形成され、一導電型と異なる他導電型を有する第2領域とを含み、裏面に平行な投影面上において、第1領域と第2領域とは、第1方向に略直交する第2方向において隣接しており、第1領域は、第2領域側に向かって張出す張出し領域を有することを要旨とする。
このような太陽電池によれば、第1領域が有する張出し領域が第2領域側に向かって張出しているため、第1領域を第1方向に沿って直線状に形成する場合に比べて、より第2領域側に不純物の濃度勾配を形成できる。従って、半導体基板内部のうち第2領域の受光面側で生成される電子又は正孔の一方は、張出し領域によって形成される不純物の濃度勾配に従って効率的に張出し領域に集められる。その結果、太陽電池の光生成キャリアの収集効率を向上させることができる。
本発明の一の特徴に係る太陽電池において、第2領域の前記第1領域側の外周は、第1領域の外周に沿っていてもよい。
本発明の一の特徴に係る太陽電池において、半導体基板は、他導電型を有していてもよい。
本発明の一の特徴に係る太陽電池において、半導体基板は、第2領域を挟んで第1領域の反対側において、第1方向に沿って形成され、一導電型を有する第3領域を含み、第1領域及び第3領域は、第1方向に沿って直線状に形成された一対の直線領域を有しており、半導体基板内部で生成され、第2領域に集まる光生成キャリアの拡散長は、第2方向における一対の直線領域の中心間隔の半分より大きくてもよい。
本発明によれば、電子及び正孔の収集効率を向上させた裏面接合型の太陽電池を提供することができる。
次に、図面を用いて、本発明の実施形態について説明する。以下の図面の記載において、同一又は類似の部分には、同一又は類似の符号を付している。ただし、図面は模式的なものであり、各寸法の比率等は現実のものとは異なることに留意すべきである。従って、具体的な寸法等は以下の説明を参酌して判断すべきものである。又、図面相互間においても互いの寸法の関係や比率が異なる部分が含まれていることは勿論である。
(太陽電池の構成)
本発明の実施形態に係る太陽電池10の構成について、図面を参照しながら説明する。
図2は、本実施形態に係る太陽電池10の裏面側の平面図である。図3(a)は、図2のE−E線における断面図である。図3(b)は、図2のF−F線における断面図である。
図2及び図3に示すように、太陽電池10は、半導体基板11、絶縁層12、p側電極13、n側電極14及び反射防止層15を備える。
半導体基板11は、太陽光を受ける受光面と、受光面の反対側に設けられた裏面とを有する。半導体基板11は、n型又はp型の導電型を有する単結晶Si、多結晶Si等の結晶系半導体材料、GaAs、InP等の化合物半導体材料などの一般的な半導体材料によって構成される。
半導体基板11は、図3に示すように、裏面側に形成されたp型領域16とn型領域17とを含んでおり、受光面における受光によって内部で光生成キャリアを生成する。光生成キャリアとは、光が半導体基板11に吸収されて生成される正孔と電子とをいう。
p型領域16は、半導体基板11の裏面に不純物(ボロン、アルミニウムなど)をドーピングすることにより形成される高濃度のp型拡散領域である。半導体基板11内部で生成される正孔は、p型領域16に集まる。
また、n型領域17は、半導体基板11の裏面に不純物(リンなど)をドーピングすることにより形成される高濃度のn型拡散領域である。半導体基板11内部で生成される電子は、n型領域17に集まる。p型領域16とn型領域17との構成については、後に詳説する。
絶縁層12は、半導体基板11の裏面における光生成キャリアの再結合を抑制するためのパッシベーション性と絶縁性とを有する。絶縁層12は、i型アモルファスシリコン、窒化ケイ素、酸化ケイ素などの単層膜、又は、これらの積層膜によって構成される。絶縁層12は、CVD法、印刷法、塗布法などによって、半導体基板11の裏面略全面に形成される。図3に示すように、絶縁層12には、p側電極13及びn側電極14が充填される貫通孔12aが複数形成される。
p側電極13は、p型領域16に集まる正孔を収集する収集電極である。図3に示すように、p側電極13は、絶縁層12に形成される貫通孔12a内に充填され、部分的にp型領域16に接する。p側電極13は、例えば、銀のスパッタリングや、樹脂型導電性ペーストや焼結型導電性ペーストの印刷により形成することができる。
n側電極14は、n型領域17に集まる電子を収集する収集電極である。図3に示すように、n側電極14は、絶縁層12に形成される貫通孔12a内に充填され、部分的にn型領域17に接する。n側電極14は、p側電極13と同様に形成することができる。
図2に示すように、p側電極13及びn側電極14は、それぞれ櫛形に形成されており、互いに組み合わされる。p側電極13とn側電極14とは、第1方向に沿って直線状に形成された直線部分を有する。このような直線部分は、第1方向に略直交する第2方向に沿って並ぶ。
反射防止層15は、半導体基板11に入射する光の反射を防止する。反射防止層15は、例えば、窒化ケイ素、酸化ケイ素などを用いて半導体基板11の受光面略全面に形成される。
(絶縁層の構成)
次に、絶縁層12の構成について、図4を用いて説明する。図4は、絶縁層12上にp側電極13及びn側電極14を形成する前の状態を示す平面図である。
図4に示すように、絶縁層12は、p型領域16及びn型領域17上に形成された複数の貫通孔12aを有する。従って、貫通孔12a内には、p型領域16及びn型領域17が露出する。
p型領域16上に形成された4つの貫通孔12aは、第1方向に沿ってノード状に点在する。図2に示すように、これら4つの貫通孔12aに沿ってp側電極13が直線状に形成される。p側電極13は、貫通孔12a内に充填される。
同様に、n型領域17上に形成された4つの貫通孔12aは、第1方向に沿ってノード状に点在する。図2に示すように、これら4つの貫通孔12aに沿ってn側電極14が直線状に形成される。p側電極13は、貫通孔12a内に充填される。
(p型領域及びn型領域の構成)
次に、p型領域16及びn型領域17の構成について、図5及び図6を用いて説明する。図5は、半導体基板11の裏面に平行な投影面上に半導体基板11、p型領域16及びn型領域17を投影した図である。図6は、図5の部分拡大図である。
図5に示すように、本実施形態では、3本のp型領域16と3本のn型領域17とが、半導体基板11の裏面において第1方向に沿って交互に形成される。p型領域16とn型領域17とは相似形状を有しており、第2方向に沿って近接する。従って、p型領域16の外周とn型領域17の外周とは、互いに沿うように形成される。p型領域16とn型領域17との間には、微小な間隙が設けられる。
図5に示すように、p型領域16は、第1方向に沿って直線状に形成されたp型直線領域16aと、n型領域17側に向かって張出す複数のp型張出し領域16bとを有する。
n型領域17は、第1方向に沿って直線状に形成されたn型直線領域17aと、p型領域16側に向かって張出す複数のn型張出し領域17bとを有する。複数のp型張出し領域16bと複数のn型張出し領域17bとは、互いに嵌め合わされるように形成される。
3本のp型直線領域16aそれぞれの第2方向における中心の間隔はT1である。また、3本のn型直線領域17aそれぞれの第2方向における中心の間隔はT2である。
ここで、図6に示すように、半導体基板11内部の起点X´で生成された光生成キャリアの拡散長L´は、間隔T1の半分((T1)/2)よりも大きい。
また、図6に示すように、起点X´で生成される正孔は、再結合することなく拡散範囲O´まで移動できる。拡散範囲O´のうちA´〜B´方向及びC´〜D´方向に移動する正孔は、不純物の濃度勾配に従ってp型領域16に到達する。一方、拡散範囲O´のうちB´〜C´方向及びD´〜A´方向に移動する正孔は、不純物の濃度勾配がないためp型領域16には到達しない。
(作用及び効果)
本実施形態に係る太陽電池10において、半導体基板11は、裏面側において第1方向に沿って形成されたp型領域16と、裏面側において第1方向に沿って形成されたn型領域17とを含む。裏面に平行な投影面上において、p型領域16は、n型領域17側に向かって張出す張出し領域16bを有する。
このように、張出し領域16bがn型領域17側に向かって張出しているため、p型領域16を第1方向に沿って直線状に形成する場合に比べて、よりn型領域17側に不純物の濃度勾配を形成できる。従って、半導体基板11内部のうちn型領域17の受光面側で生成される正孔は、張出し領域16bによって形成される不純物の濃度勾配に従って、張出し領域16bに集められ易くなる。
具体的には、図7(a)に示すように、n型領域3とp型領域4とを第1方向に沿って直線状に形成した場合、B〜C方向及びD〜A方向では不純物の濃度勾配がない。そのため、B〜C方向及びD〜A方向に移動する正孔はp型領域4に集めることができない。
一方、図7(b)に示すように、p型領域16が張出し領域16bを有することにより、A´〜B´方向及びC´〜D´方向において不純物の濃度勾配が形成される。そのため、A´〜B´方向及びC´〜D´方向に移動する正孔をp型領域16に集めることができる。
このような効果は、p型領域16の受光面側で生成される電子についても、n型張出し領域17bを形成することにより同様に得られる。その結果、太陽電池10全体としての光生成キャリア(電子及び正孔)の収集効率を向上させることができる。
また、本実施形態において、p型領域16の外周とn型領域17の外周とは、互いに沿っている。従って、p型領域16とn型領域17とを、より近接させることができる。その結果、急峻な不純物の濃度勾配を形成することができるため、光生成キャリアの収集効率をさらに向上させることができる。
また、本実施形態において、半導体基板11内部で生成される光生成キャリアの拡散長L´は、2本のp型直線領域16aの第2方向における中心の間隔T1の半分よりも大きい。ここで、光生成キャリアの拡散長L´が大きいほど、張出し領域16bに到達する正孔の数は多くなる。そのため、拡散長L´を間隔T1の半分よりも大きく設定することにより、上述の効果を十分に発揮することができる。
また、本実施形態において、絶縁層12は、ノード状に形成される複数の貫通孔12aを有する。p側電極13は、貫通孔12aを介してp型領域16に接する。n側電極14は、貫通孔12aを介してn型領域17に接する。すなわち、不純物拡散層と収集電極との接触面積が小さい。従って、p側電極13とp型領域16との界面、及びn側電極14とn型領域17との界面における光生成キャリアの再結合損失を低減できる。その結果、太陽電池10の発電力を向上させることができる。
(その他の実施形態)
本発明は上記の実施形態によって記載したが、この開示の一部をなす論述及び図面はこの発明を限定するものであると理解すべきではない。この開示から当業者には様々な代替実施形態、実施例及び運用技術が明らかとなろう。
例えば、上記実施形態では、p型領域16及びn型領域17の形状、本数を同じく形成したが、p型領域16及びn型領域17の形状、本数は異なっていても良い。例えば、図8に示すように、p型領域16をn型領域17より大きく形成するとともに、p型領域16の本数をn型領域17の本数よりも多くしても良い。この場合、半導体基板11がn型領域17と同じ導電型であれば、少数キャリア(正孔)をp型領域16によって優先的に集めることにより、太陽電池10全体としての収集効率を向上させることができる。また、半導体基板11がn型領域17と異なる導電型であれば、n型領域17の形状を大きくすればよい。このように、p型領域16及びn型領域17の形状は非相似であっても良い。
また、上記実施形態では、p型直線領域16aの第2方向両側にp型張出し領域16bを形成し、n型直線領域17aの第2方向両側にn型張出し領域17bを形成したが、直線領域の第2方向片側のみに張出し領域を形成してもよい。例えば、図9に示すように、互いに対応する張出し領域が形成された一対のp型領域16とn型領域17とを複数組形成することができる。
また、上記実施形態では、p型領域16とn型領域17とを半導体基板11の裏面側の外周(第1方向)に沿って形成したが、p型領域16とn型領域17とは、半導体基板11の裏面側の外周に沿っていなくても良い。
また、上記実施形態では、p側電極13とn側電極14とを第1方向に沿って直線状に形成したが、p側電極13とn側電極14とは直線状でなくても良い。
また、上記実施形態では、半導体基板11は、受光面における受光により光生成キャリアを生成することとしたが、半導体基板11は、裏面における受光によっても光生成キャリアを生成することができる。
このように、本発明はここでは記載していない様々な実施形態等を含むことは勿論である。従って、本発明の技術的範囲は上記の説明から妥当な特許請求の範囲に係る発明特定事項によってのみ定められるものである。
以下、本発明に係る太陽電池モジュールの実施例について具体的に説明するが、本発明は、下記の実施例に示したものに限定されるものではなく、その要旨を変更しない範囲において、適宜変更して実施することができるものである。
(実施例1)
まず、φ100mmのn型シリコン薄板を用いて、10mm角のn型シリコン基板を10個形成した。n型シリコン基板の受光面上にテクスチャ構造を形成した後、80nm厚の窒化シリコン膜を形成した。
次に、n型シリコン基板の裏面に形成された酸化膜を希フッ酸によって除去した。次に、リン及びガラス成分を含む第1拡散材料と、ボロン及びガラス成分を含む第2拡散材料とを図5に示すパターンで塗布した。次に、第1拡散材料と第2拡散材料とを仮焼成(500℃、20分)した後、熱処理(900℃、30分)を施した。これにより、n型シリコン基板にリン及びボロンが拡散されるとともに、固化されたガラス成分によって絶縁膜が形成された。その後、絶縁膜上に30μm厚の絶縁性樹脂膜を形成した。
次に、図4に示すパターンで、絶縁膜及び絶縁性樹脂膜にφ100μmの貫通孔を形成した。その後、メタルマスクを用いて図2に示すパターンで銀をスパッタリングすることにより、p側電極及びn側電極を形成した。
以上により実施例1に係る10個の太陽電池を作製した。
(実施例2)
次に、実施例2に係る10個の太陽電池を作製した。実施例2と上記実施例1との相違点は、第1拡散材料と第2拡散材料とを図8に示すパターンで塗布した点である。その他の点は上記実施例1と同様である。
(比較例)
次に、比較例に係る10個の太陽電池を作製した。比較例と上記実施例1との相違点は、第1拡散材料と第2拡散材料とを図1に示すパターンで塗布した点である。その他の点は上記実施例1と同様である。
(出力特性の評価)
実施例1,2及び比較例に係る太陽電池の出力特性を、AM1.5の模擬太陽光光源を用いて測定した。出力特性(10個平均)の測定結果を表1に示す。
Figure 2009188355
上表に示すように、実施例1において比較例よりも良好な出力特性を得ることができた。特に、実施例1では、比較例に比べてJsc(短絡電流密度)を向上することができた。これは、p型領域とn型領域との両方に張出し領域を形成することにより、n型シリコン基板内部における光生成キャリアの再結合損失を効果的に低減できたためである。
また、実施例2においても、比較例に比べてJscを向上することができた。これは、p型領域に張出し領域を形成することにより、少数キャリアである正孔の再結合損失を効果的に低減できたためである。
また、実施例1において実施例2よりも良好な出力特性が得られたのは、図5に示すパターンは、図8に示すパターンに比べて、p型領域とn型領域側とが互いに深く入り込んでいるためである。すなわち、不純物の濃度勾配を有する領域を微細に入り組ませることにより、光生成キャリアの再結合損失を効果的に低減できることが判った。
従来の太陽電池1が備える半導体基板2の裏面側平面図である。 本発明の実施形態に係る太陽電池10の裏面側平面図である。 図3(a)は、図2のE−E線における断面図である。図3(b)は、図2のF−F線における断面図である。 本発明の実施形態に係る絶縁層12の平面図である。 本発明の実施形態に係る半導体基板11の裏面に平行な投影面における投影図である。 図5の部分拡大図である。 図7(a)は、従来の太陽電池1における正孔の収集効率を説明するための図である。図7(b)は、本発明の実施形態に係る太陽電池10における正孔の収集効率を説明するための図である。 本発明の実施形態に係るp型領域16及びn型領域17の形成パターンを示す図である(その1)。 本発明の実施形態に係るp型領域16及びn型領域17の形成パターンを示す図である(その2)。
符号の説明
1…太陽電池
2…半導体基板
3…n型領域
4…p型領域
10…太陽電池
11…半導体基板
12…絶縁層
12a…貫通孔
13…p側電極
14…n側電極
15…反射防止層
16…p型領域
16a…p型直線領域
16b…p型張出し領域
17…n型領域
17a…n型直線領域
17b…張出し領域
O,O´…拡散範囲
X,X´…起点
L、L´…拡散長

Claims (4)

  1. 光を受ける受光面と、前記受光面の反対側に設けられた裏面とを有する半導体基板を備え、
    前記半導体基板は、
    前記裏面側において第1方向に沿って形成され、一導電型を有する第1領域と、
    前記裏面側において前記第1方向に沿って形成され、前記一導電型と異なる他導電型を有する第2領域と
    を含み、
    前記裏面に平行な投影面上において、
    前記第1領域と前記第2領域とは、前記第1方向に略直交する第2方向において隣接しており、
    前記第1領域は、前記第2領域側に向かって張出す張出し領域を有する
    ことを特徴とする太陽電池。
  2. 前記第2領域の前記第1領域側の外周は、前記第1領域に沿う
    ことを特徴とする請求項1に記載の太陽電池。
  3. 前記半導体基板は、前記他導電型を有する
    ことを特徴とする請求項1に記載の太陽電池。
  4. 前記半導体基板は、
    前記第2領域を挟んで前記第1領域の反対側において、前記第1方向に沿って形成され、前記一導電型を有する第3領域を含み、
    前記第1領域及び前記第3領域は、前記第1方向に沿って直線状に形成された一対の直線領域を有しており、
    前記半導体基板内部で生成され、前記第2領域に集まる光生成キャリアの拡散長は、前記第2方向における前記一対の直線領域の中心間隔の半分より大きい
    ことを特徴とする請求項1に記載の太陽電池。
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